无损薄膜太阳池析器

薄膜太阳电池QE测试专用系统 SCS10-Film适用范围： 非晶硅薄膜电池、CIGS 薄膜电池、CdTe 薄膜电池、非晶/ 微晶双结薄膜电池、非晶/ 微晶/微晶锗硅三结薄膜电池等光谱范围：300~1700nm电池结构：单结、多结太阳电池可测参数：光谱响应度、外量子效率、反射率、透射率、内量子效率、短路电流密度可测样品面积：300mm×300mm● 集成一体化turnkey系统● 大面积薄膜电池测试专用● 超大样品室，光纤传导● 背面电极快速连接● 反射率、内外量子效率同步测试● 快速高效售后服务 SCS10-Film系统规格 光源150W高稳定性氙灯，光学稳定度≤0.4%，光纤传导测试光斑尺寸2mm~10mm可调单色仪三光栅DSP扫描单色仪波长范围300nm~1700nm波长准确度±0.2nm（@1200g/mm,500nm)扫描间隔最小可达0.1nm，默认设置10nm输出波长带宽0.1nm~10nm可调，默认设置5nm多级光谱滤除装置根据波长自动切换，消除多级光谱的影响光调制频率4~400Hz标准探测器进口Si光电探测器，含校正测试报告数据采集装置灵敏度直流模式：100nA；交流模式：2nV测量重复精度0.6%( 400~1000nm范围0.3%)测量速度单次光谱响应扫描 1min 完整流程扫描 5min(扫描间隔10nm）样品加持探针样品台，156mm×156mm，特殊样品台可定制*Mapping扫描速度：20点/s（@0.5mm step）分辨率：0.5mm仪器尺寸主机：；样品室：控制机柜：800mm×600mm×1300mm计算机及软件系统含工控计算机、显示器、鼠标、键盘，正版windows 7操作系统，系统软件安装光盘

太阳能电池量子效率测试系统——SolarCellScan100系列系统功能系统可以实现测试太阳电池的：光谱响应度、外量子效率、内量子效率、反射率、透射率、短路电流密度、量子效率Mapping、反射率Mapping。系统适用范围1、适用于各种材料的太阳电池包括：单晶硅Si、多晶硅mc-Si、非晶硅α-Si、砷化镓GaAs、镓铟磷GaInP、磷化铟InP、锗Ge、碲化镉CdTe、铜铟硒CIS、铜铟镓硒CIGS、染料敏化DSSC、有机太阳电池Organic Solar Cell、聚合物太阳电池Polymer Solar Cell 等2、适用于多种结构的太阳电池包括：单结Single junction、多结multi junction、异质结HIT、薄膜thin film、高聚光HPV 等不同材料或不同结构的太阳电池，在测试过程中会有细节上的差异。比如说：有机太阳电池的测试范围主要集中在可见光波段，而GaAs 太阳电池的测试范围则很可能扩展到红外1.4um 甚至更长波段；单晶硅电池通常需要测内量子效率，而染料敏化太阳电池通常只需要测外量子效率；有机太阳电池测试通常不需要加偏置光，而多结非晶硅薄膜电池则需要加偏置光……SolarCellScan100 通过主机与各种附件的搭配，可以实现几乎所有种类电池的测试。这种模块化搭配的方式，适合科研用户建立测试平台。 选型列表：型号名称和说明主机SCS1011太阳能电池量子效率测量系统，含直流、交流测量模式，氙灯光源SCS1012太阳能电池量子效率测量系统，含直流测量模式，氙灯光源SCS1013太阳能电池量子效率测量系统，含直流、交流测量模式，溴钨灯光源SCS1014太阳能电池量子效率测量系统，含直流测量模式，溴钨灯光源SCS1015太阳能电池量子效率测量系统，含直流、交流测量模式，氙灯溴钨灯双光源SCS1016太阳能电池量子效率测量系统，含直流测量模式，氙灯溴钨灯双光源附件QE-A1偏置光附件，150W氙灯QE-A2偏置光附件，50W溴钨灯QE-B1标准太阳电池（单晶硅）QE-B1-SP标准太阳电池QE-B2标准铟镓砷探测器(800-1700nm，含标定证书）QE-B3标准硅探测器(300-1100nm，含标定证书)QE-B4标准铟镓砷探测器(800-2500nm，含标定证书）QE-B7透过率测试附件(300-1100nm)QE-B8透过率测试附件(800-1700nm)QE-BVS偏置电压源（±10V可调）QE-C2漫反射率测试附件（300-1700nm）QE-C7标准漫反射板QE-D1二维电动调整台QE-D2手动三维调整台QE-IV-Convertor短路电流放大器专用机型介绍系统功能部分太阳能应用方向的研究人员需要测量量子效率，但本身却不是光电测量方面的行家，卓立汉光在测量平台SolarCellScan100的基础上，进一步开发出以下几套极具针对性的专用机型配置，方便客户使用。以下的专用配置也适合产业化的工业客户使用。1、通用型太阳电池QE测试系统SCS100-Std系统特点符合IEC60904-8国际标准；测量结果高重复性；内外量子效率测量功能；快速导入参数功能；适用于科研级别小样品测试适用范围： 晶体硅电池、非晶硅薄膜电池、染料敏化电池、CdTe薄膜电池、CIGS薄膜电池等； 光谱范围： 300~1100nm； 电池结构： 单结太阳电池； 可测参数： 光谱响应度、外量子效率、内量子效率、反射率、短路电流密度； 可测样品面积： 30mm×30mm 2.通用型太阳电池QE测试系统SCS100-Exp系统特点符合IEC60904-8国际标准；测量结果高重复性；高度自动化测量；双光源设计；红外光谱范围扩展；薄膜透过率测试功能；小面积、大面积样品测试均适用；适用范围： 晶体硅电池、非晶硅薄膜电池、染料敏化电池、有机薄膜电池、CdTe薄膜电池、CIGS薄膜电池、三结砷化镓GaAs电池、非晶/微晶薄膜电池等； 光谱范围： 300~1700nm； 电池结构： 单结、多结太阳电池； 可测参数： 光谱响应度、外量子效率、内量子效率、反射率、透射率、短路电流密度； 可测样品面积： 156mm×156mm以下 3.晶体硅太阳电池测试专用系统 SCS100-Silicon系统特点集成一体化turnkey系统晶体硅电池测试专用内外量子效率测试快速Mapping扫描功能快速高效售后服务适用范围： 单晶硅电池、多晶硅电池 光谱范围： 300~1100nm 电池结构： 单结太阳电池 可测参数： 光谱响应度、外量子效率、反射率、内量子效率、短路电流密度、*量子效率Mapping、*反射率mapping 可测样品面积： 156mm×156mm 4.薄膜太阳电池QE测试专用系统 SCS100-Film系统特点集成一体化turnkey系统；大面积薄膜电池测试专用；超大样品室，光纤传导；背面电极快速连接；反射率、内外量子效率同步测试；快速高效售后服务。适用范围： 非晶硅薄膜电池、CIGS薄膜电池、CdTe薄膜电池、非晶/微晶双结薄膜电池、非晶/微晶/微晶锗硅三结薄膜电池等； 光谱范围： 300~1700nm ； 电池结构： 单结、多结太阳电池； 可测参数： 光谱响应度、外量子效率、反射率、透射率、内量子效率、短路电流密度； 可测样品面积： 300mm×300mm 5.光电化学太阳电池测试专用系统 SCS100-PEC系统特点光电化学类太阳电池专用配置方案；直流测量模式；低杂散光暗箱；电解池样品测试附件；经济型价格适用范围： 染料敏化太阳电池； 光谱范围： 300~1100nm； 电池结构： 光电化学相关的纳米晶太阳电池； 可测参数： IPCE； 可测样品面积： 50mm×50mm

薄膜无损检测系统/半导体无损检测系统姓名：田工(Allen)电话：（微信同号）邮箱：薄膜无损检测仪产品特点：系统使用获得专利的光声技术设计无损测量系统。源自 CNRS 和波尔多大学的技术转让，它依靠激光、材料和声波之间的相互作用实验超精密材料物性，薄膜厚度检测系统使用无接触，无损光学测量。运用激光产生100GHz以上超高频段超声波，以此检测获得材料诸如厚度，附着力，界面热阻，热导率等。产品尤其适测量从几纳米到几微米的薄层，无论是不透明的（金属、金属氧化物和陶瓷），还是半透明和透明的。 这种全光学无损检测技术（without contact, no damage, no water, no Xray）不受样品形状的影响。产品适用精度可以达 1nm to 30 microns , Z轴分辨率为亚纳米于此同时，系统提供附着力、热性能（纳米结构界面热阻）测量分析 多种材料适用性广泛的材料至关重要。我们的技术已证明其能够测量许多金属材料以及陶瓷和金属氧化物，并且不受外形因素的影响。 薄膜无损检测仪广泛的应用中发挥作用半导体行业半导体行业为我们周围遇到的大多数电子设备提供了基本组件。它的制造需要在硅晶片上进行多次薄膜沉积，。工业过程中厚度测量和界面表征都是确保质量的关键。尤其是半导体行业中多层/单层不透明薄膜沉积对于以上问题，我们针对提供：-高速控制检测-无损无接触测量-单层/多层测量显示行业今天，不同的技术竞争主导显示器的生产，而显示器在我们的日常使用中无处不在。事实上，由于未来 UHD-8K 标准以及新兴柔性显示器的制造工艺，这不断扩大的行业存在技术限制单个像素仍然是一堆薄层有机墨水、银、ITO… … 在这方面，控制薄层厚度的问题仍然存在。这些问题可能会导致产品出现质量缺陷。对此我们可提供：- 对此类层级样品的独特检查。- 提取厚度的可能性。- 非破坏性和非接触式厚度测量。薄层沉积无论是在航空工业还是医疗器械制造领域，技术涂层都可用于增强高附加值部件中的某些功能。这些涂层的厚度随后成为确保目标性能的关键因素。接触式破坏测量对于此领域会带来特定问题，且受限于待测样品形状因素、曲率等原因，很难控制样品特性。 对此我们可以提供：不改变样品形貌无损检测（Form factor postage）快速厚度测量在线测量控制 部分合作单位

太阳能电池量子效率测试系统——SolarCellScan100系列系统功能系统可以实现测试太阳电池的：光谱响应度、外量子效率、内量子效率、反射率、透射率、短路电流密度、量子效率Mapping、反射率Mapping。系统适用范围1、适用于各种材料的太阳电池包括：单晶硅Si、多晶硅mc-Si、非晶硅α-Si、砷化镓GaAs、镓铟磷GaInP、磷化铟InP、锗Ge、碲化镉CdTe、铜铟硒CIS、铜铟镓硒CIGS、染料敏化DSSC、有机太阳电池Organic Solar Cell、聚合物太阳电池Polymer Solar Cell 等2、适用于多种结构的太阳电池包括：单结Single junction、多结multi junction、异质结HIT、薄膜thin film、高聚光HPV 等不同材料或不同结构的太阳电池，在测试过程中会有细节上的差异。比如说：有机太阳电池的测试范围主要集中在可见光波段，而GaAs 太阳电池的测试范围则很可能扩展到红外1.4um 甚至更长波段；单晶硅电池通常需要测内量子效率，而染料敏化太阳电池通常只需要测外量子效率；有机太阳电池测试通常不需要加偏置光，而多结非晶硅薄膜电池则需要加偏置光……SolarCellScan100 通过主机与各种附件的搭配，可以实现几乎所有种类电池的测试。这种模块化搭配的方式，适合科研用户建立测试平台。 选型列表：型号名称和说明主机SCS1011太阳能电池量子效率测量系统，含直流、交流测量模式，氙灯光源SCS1012太阳能电池量子效率测量系统，含直流测量模式，氙灯光源SCS1013太阳能电池量子效率测量系统，含直流、交流测量模式，溴钨灯光源SCS1014太阳能电池量子效率测量系统，含直流测量模式，溴钨灯光源SCS1015太阳能电池量子效率测量系统，含直流、交流测量模式，氙灯溴钨灯双光源SCS1016太阳能电池量子效率测量系统，含直流测量模式，氙灯溴钨灯双光源附件QE-A1偏置光附件，150W氙灯QE-A2偏置光附件，50W溴钨灯QE-B1标准太阳电池（单晶硅）QE-B1-SP标准太阳电池QE-B2标准铟镓砷探测器(800-1700nm，含标定证书）QE-B3标准硅探测器(300-1100nm，含标定证书)QE-B4标准铟镓砷探测器(800-2500nm，含标定证书）QE-B7透过率测试附件(300-1100nm)QE-B8透过率测试附件(800-1700nm)QE-BVS偏置电压源（±10V可调）QE-C2漫反射率测试附件（300-1700nm）QE-C7标准漫反射板QE-D1二维电动调整台QE-D2手动三维调整台QE-IV-Convertor短路电流放大器专用机型介绍系统功能部分太阳能应用方向的研究人员需要测量量子效率，但本身却不是光电测量方面的行家，卓立汉光在测量平台SolarCellScan100的基础上，进一步开发出以下几套极具针对性的专用机型配置，方便客户使用。以下的专用配置也适合产业化的工业客户使用。1、通用型太阳电池QE测试系统SCS100-Std系统特点符合IEC60904-8国际标准；测量结果高重复性；内外量子效率测量功能；快速导入参数功能；适用于科研级别小样品测试适用范围： 晶体硅电池、非晶硅薄膜电池、染料敏化电池、CdTe薄膜电池、CIGS薄膜电池等； 光谱范围： 300~1100nm； 电池结构： 单结太阳电池； 可测参数： 光谱响应度、外量子效率、内量子效率、反射率、短路电流密度； 可测样品面积： 30mm×30mm 2.通用型太阳电池QE测试系统SCS100-Exp系统特点符合IEC60904-8国际标准；测量结果高重复性；高度自动化测量；双光源设计；红外光谱范围扩展；薄膜透过率测试功能；小面积、大面积样品测试均适用；适用范围： 晶体硅电池、非晶硅薄膜电池、染料敏化电池、有机薄膜电池、CdTe薄膜电池、CIGS薄膜电池、三结砷化镓GaAs电池、非晶/微晶薄膜电池等； 光谱范围： 300~1700nm； 电池结构： 单结、多结太阳电池； 可测参数： 光谱响应度、外量子效率、内量子效率、反射率、透射率、短路电流密度； 可测样品面积： 156mm×156mm以下 3.晶体硅太阳电池测试专用系统 SCS100-Silicon系统特点集成一体化turnkey系统晶体硅电池测试专用内外量子效率测试快速Mapping扫描功能快速高效售后服务适用范围： 单晶硅电池、多晶硅电池 光谱范围： 300~1100nm 电池结构： 单结太阳电池 可测参数： 光谱响应度、外量子效率、反射率、内量子效率、短路电流密度、*量子效率Mapping、*反射率mapping 可测样品面积： 156mm×156mm 4.薄膜太阳电池QE测试专用系统 SCS100-Film系统特点集成一体化turnkey系统；大面积薄膜电池测试专用；超大样品室，光纤传导；背面电极快速连接；反射率、内外量子效率同步测试；快速高效售后服务。适用范围： 非晶硅薄膜电池、CIGS薄膜电池、CdTe薄膜电池、非晶/微晶双结薄膜电池、非晶/微晶/微晶锗硅三结薄膜电池等； 光谱范围： 300~1700nm ； 电池结构： 单结、多结太阳电池； 可测参数： 光谱响应度、外量子效率、反射率、透射率、内量子效率、短路电流密度； 可测样品面积： 300mm×300mm 5.光电化学太阳电池测试专用系统 SCS100-PEC系统特点光电化学类太阳电池专用配置方案；直流测量模式；低杂散光暗箱；电解池样品测试附件；经济型价格适用范围： 染料敏化太阳电池； 光谱范围： 300~1100nm； 电池结构： 光电化学相关的纳米晶太阳电池； 可测参数： IPCE； 可测样品面积： 50mm×50mm

太阳能电池的光谱响应和量子效率对分析太阳能电池的工艺问题以及研究电池片的性能有重要的参考价值。CEL-QPCE2030多结薄膜太阳能电池光谱性能测试系统可以将多结薄膜太阳能电池各节的绝对光谱响应（Spectral Response）和量子效率(Quantum Efficiency)分别测出来，并计算得到整个电池片的绝对光谱响应和量子效率。同时还可以分别计算顶电池和底电池的电流密度，以及电池总的电流密度（AM1.5G 条件下）。 系统优势：1)大功率连续光源，输出光谱平缓无尖峰，保证测量重复性；2)配备偏置光源和偏置滤光片；3)专利分光系统，保证良好的波长准确度和重复性，消除多级谱的影响，杂散光小；4)相关检测法处理弱信号，有效提高信噪比，保证测量精度；5)独特样品夹具设计，适合各种规格的薄膜电池，夹持方便，电极接触好，对弱信号测试干扰小；6)完整的全自动化专用系统软件。 光偏置技术：对于多结电池，在测量其中一节电池时，需要对其它节电池进行偏置光照射，使其处于完全导通的状态，一般来讲，需要根据电池光谱响应的范围来选择偏置光的波段，在哪个波段电池有响应，就选哪个波段的光来导通电池，这样被测节电池所产生的电流才可以顺利输出。标准配置只含一个偏置光源，用户可以根据需要选配两个偏置光源，每个偏置光源可以独立工作，对于三结以上的太阳能电池可以采用分别偏置的方法来测量，解决了免某些波段的滤光片很难配套的问题，这在目前市场上的太阳能测试系统中属于比较独特的设计。主要技术指标：指标参数适用电池单结、双结、三结, 多结薄膜太阳能电池控制模式软件控制、全自动扫描、自动消除误差、自动扣除背景光谱范围200-1700nm扫描间隔≥1nm连续可调光谱扫描全自动、连续测试结果重复性0.3%（短路电流）工作模式直流模式DC、交流模式AC斩波频率5-1000Hz温控台：温控范围5-40℃（±0.5℃），选配偏置光源可选配2路,氙灯/卤素灯单色仪焦距300mm、150mm可选偏置电压±3V，设置精度：±1mV偏置滤光片短波通 3 片（进口），长波通 4 片

太阳能薄膜电池水汽透过率测定仪 电解法透湿率试验机厂家C330H水蒸气透过率测试系统——本产品基于电解法水分分析传感器的测试原理，参照ISO 15106-3标准设计制造，为中、高水蒸气阻隔性材料提供宽范围、高效率的水蒸气透过率检测试验。适用于食品、药品、医疗器械、日用化学、光伏电子等领域的薄膜、片材、纸张、包装件及相关材料的水蒸气透过性能测试。产品优势：只为精准——新型电解法水分分析传感器；先进流体力学和热力学设计的专利测试集成块；空间立体恒温技术；独立监测各腔测试情况的温湿度传感器；高效合规——同时测试3个相同试样，符合平行试验的标准要求；支持同一条件下3个不同试样测试；节省人力——自动温度、湿度控制；简便易用——搭载Windows10系统的12寸触控平板操作；快速自动测试；自动数据管理的DataShieldTM数据盾系统；产品特点：1、专利的传感器技术——Labthink自主研制的新型电解法水分分析传感器，具有卓越的精准性、重复性和寿命，作为一种库仑电量式传感器，传感器信号遵循法拉第原理，拥有非常高的灵敏度。2、新一代先进测试集成块——先进热力学和流体力学分析设计的专利三腔一体测试集成块结构。支持三个相同或不同试样的同步测试。3、自动温度、湿度控制——设备内部温度、湿度自动调节。测试腔各自安装温湿度传感器监测温湿度情况，控制测试过程更加精准。4、易用高效的系统功能——搭载高性能处理器和Windows10操作系统，通用各种软件和设备；自动测试模式，不需人工调整快速获得精确结果；专业测试模式，提供了灵活丰富的仪器控制功能，满足个性化科研需要；独有DataShieldTM数据盾系统，对接用户数据集中管理要求，支持多种数据格式导出；采用可靠安全算法，防止数据泄露；支持通用有线和无线局域网，选配专用无线网，支持接入第三方软件。5、先进的用户服务意识——坚持以用户为中心的服务理念使Labthink造就了成熟的产品定制系统流程，可以提供灵活周到的个性化定制服务。测试原理：将预先处理好的试样夹紧于测试腔之间，具有稳定相对湿度的氮气在薄膜的一侧流动，干燥氮气在薄膜的另一侧流动；由于湿度差的存在，水蒸气会从高湿侧穿过薄膜扩散到低湿侧；在低湿侧，透过的水蒸气被流动的干燥氮气携带至电解水分传感器，不同的水蒸气浓度产生不同的电量，通过分析计算得出浓度数值，进而计算试样的水蒸气透过率。对于包装件而言，干燥氮气则在包装件内流动，包装件外侧处于高湿状态。参照标准：ISO 15106-3、ASTM F3299、GB/T 21529、YBB 00092003-2015技术参数：测试范围：0.005～50 g/(m2day) (标准)；0.0003～3.223 g/(100in2day)；0.000025～0.25 g/(pkgday)(包装件)分辨率：0.001 g/(m2day)重复性：0.005 g/(m2&bull day)或2%，取大者测试温度：10～55℃ ±0.2℃测试湿度：5%RH～90%RH±1%RH，100%RH附加功能：包装件测试(最大3L)：可选DataShieldTM数据盾：可选GMP计算机系统要求：可选CFR21 Part11：可选技术规格：测试腔：3样品尺寸：108mm×108mm样品厚度：≤3mm标准测试面积：50cm2载气规格：99.999%高纯氮气（气源用户自备）气源压力：≥0.28MPa/40.6psi接口尺寸：1/8 英寸金属管

太阳能电池背板水汽透过率测试仪 薄膜片材透湿率试验仪厂家C330H水蒸气透过率测试系统——本产品基于电解法水分分析传感器的测试原理，参照ISO 15106-3标准设计制造，为中、高水蒸气阻隔性材料提供宽范围、高效率的水蒸气透过率检测试验。适用于食品、药品、医疗器械、日用化学、光伏电子等领域的薄膜、片材、纸张、包装件及相关材料的水蒸气透过性能测试。产品优势：只为精准——新型电解法水分分析传感器；先进流体力学和热力学设计的专利测试集成块；空间立体恒温技术；独立监测各腔测试情况的温湿度传感器；高效合规——同时测试3个相同试样，符合平行试验的标准要求；支持同一条件下3个不同试样测试；节省人力——自动温度、湿度控制；简便易用——搭载Windows10系统的12寸触控平板操作；快速自动测试；自动数据管理的DataShieldTM数据盾系统；C330H水蒸气透过率测试系统产品特点：1、专利的传感器技术——Labthink自主研制的新型电解法水分分析传感器，具有卓越的精准性、重复性和寿命，作为一种库仑电量式传感器，传感器信号遵循法拉第原理，拥有非常高的灵敏度。2、新一代先进测试集成块——先进热力学和流体力学分析设计的专利三腔一体测试集成块结构。支持三个相同或不同试样的同步测试。3、自动温度、湿度控制——设备内部温度、湿度自动调节。测试腔各自安装温湿度传感器监测温湿度情况，控制测试过程更加精准。4、易用高效的系统功能——搭载高性能处理器和Windows10操作系统，通用各种软件和设备；自动测试模式，不需人工调整快速获得精确结果；专业测试模式，提供了灵活丰富的仪器控制功能，满足个性化科研需要；独有DataShieldTM数据盾系统，对接用户数据集中管理要求，支持多种数据格式导出；采用可靠安全算法，防止数据泄露；支持通用有线和无线局域网，选配专用无线网，支持接入第三方软件。5、先进的用户服务意识——坚持以用户为中心的服务理念使Labthink造就了成熟的产品定制系统流程，可以提供灵活周到的个性化定制服务。测试原理：将预先处理好的试样夹紧于测试腔之间，具有稳定相对湿度的氮气在薄膜的一侧流动，干燥氮气在薄膜的另一侧流动；由于湿度差的存在，水蒸气会从高湿侧穿过薄膜扩散到低湿侧；在低湿侧，透过的水蒸气被流动的干燥氮气携带至电解水分传感器，不同的水蒸气浓度产生不同的电量，通过分析计算得出浓度数值，进而计算试样的水蒸气透过率。对于包装件而言，干燥氮气则在包装件内流动，包装件外侧处于高湿状态。参照标准：ISO 15106-3、ASTM F3299、GB/T 21529、YBB 00092003-2015C330H水蒸气透过率测试系统技术参数：测试范围：0.005～50 g/(m2day) (标准)；0.0003～3.223 g/(100in2day)；0.000025～0.25 g/(pkgday)(包装件)分辨率：0.001 g/(m2day)重复性：0.005 g/(m2&bull day)或2%，取大者测试温度：10～55℃ ±0.2℃测试湿度：5%RH～90%RH±1%RH，100%RH附加功能：包装件测试(最大3L)：可选DataShieldTM数据盾：可选GMP计算机系统要求：可选CFR21 Part11：可选技术规格：测试腔：3样品尺寸：108mm×108mm样品厚度：≤3mm标准测试面积：50cm2载气规格：99.999%高纯氮气（气源用户自备）气源压力：≥0.28MPa/40.6psi接口尺寸：1/8 英寸金属管

LAwave是一种测量设备，通过发射一束激光脉冲，在样品表面激发表面声波，对薄膜或者材料表面进行检测。表面声波是沿着材料表面传播的弹性震动波，弹性形变的范围在纳米范围，因而检测过程不会对材料本身造成损伤。声波的穿透深度与其波长相对应，波的能量主要集中在表面，因此它能检测厚度远小于波长的薄膜。对于频率较高的声波，其波长更短，穿透深度也更小，所以表层薄膜对他的影响也更大。该设备测量不同频率的声波的传播速率与频率的关系，测量结果以“色散曲线”的形式表现出来。“色散曲线”的形状取决于薄膜与衬底材料的弹性模量（杨氏模量）、密度，以及薄膜的厚度。通过对测量曲线的与理论曲线的拟合对比，可以得到这些参数中的一个或者几个。样品表面微结构的梯度变化，例如加工层，也可以被检测。 该设备具有广泛的应用领域。被测量薄膜的厚度可以低至几纳米，薄膜的材料可以是超硬的，如类金刚石镀膜，也可以是软质的，如聚合物。通过调节表面声波的频率范围，还可以检测表面粗糙的热涂层薄膜。 材料的弹性模量（杨氏模量）是一个很重要的参数，它反映了材料内部原子间相互作用的强弱。材料的原子间键合越强，弹性模量越高，其机械性能也越好。同时，材料内部的微结构对弹性模量也有很大的影响，微缺陷和孔隙都会降低材料的弹性模量，因而可以通过测量弹性模量来评估材料的缺陷密度和孔隙率。 主要特性： 无损测量薄膜的厚度可以从几纳米到几百微米检测材料范围广，从聚合物到金刚石都可以测量时间小于一分钟重复性好操作方便结构简单检测区域：最小5x5mm对测试样品几何结构要求不高表面粗糙度的影响小

LAwave是一种测量设备，通过发射一束激光脉冲，在样品表面激发表面声波，对薄膜或者材料表面进行检测。表面声波是沿着材料表面传播的弹性震动波，弹性形变的范围在纳米范围，因而检测过程不会对材料本身造成损伤。声波的穿透深度与其波长相对应，波的能量主要集中在表面，因此它能检测厚度远小于波长的薄膜。对于频率较高的声波，其波长更短，穿透深度也更小，所以表层薄膜对他的影响也更大。该设备测量不同频率的声波的传播速率与频率的关系，测量结果以“色散曲线”的形式表现出来。“色散曲线”的形状取决于薄膜与衬底材料的弹性模量（杨氏模量）、密度，以及薄膜的厚度。通过对测量曲线的与理论曲线的拟合对比，可以得到这些参数中的一个或者几个。样品表面微结构的梯度变化，例如加工层，也可以被检测。 该设备具有广泛的应用领域。被测量薄膜的厚度可以低至几纳米，薄膜的材料可以是超硬的，如类金刚石镀膜，也可以是软质的，如聚合物。通过调节表面声波的频率范围，还可以检测表面粗糙的热涂层薄膜。 材料的弹性模量（杨氏模量）是一个很重要的参数，它反映了材料内部原子间相互作用的强弱。材料的原子间键合越强，弹性模量越高，其机械性能也越好。同时，材料内部的微结构对弹性模量也有很大的影响，微缺陷和孔隙都会降低材料的弹性模量，因而可以通过测量弹性模量来评估材料的缺陷密度和孔隙率。 主要特性： 无损测量薄膜的厚度可以从几纳米到几百微米检测材料范围广，从聚合物到金刚石都可以测量时间小于一分钟重复性好操作方便结构简单检测区域：最小5x5mm对测试样品几何结构要求不高表面粗糙度的影响小

一.机型称号：薄膜锂电池研磨混合机，药物研磨混合机，毫微米研磨混合机，超飞快研磨混合机，水管式研磨混合机，3级研磨混合机，高剪切研磨混合机。二.研磨机：机型19款，处理量50到8*10000KG/小时，旋转1100到1.4*10000转/分钟，线速度23到44m/秒，电滚功耗1.5到160kW，磨头胶体磨&锥体磨。三.研磨分散机：机型6款，处理量50到6*1000KG/小时，旋转1100到9*1000转/分钟，线速度23m/秒，电滚功耗2.2到150kW，磨头胶体磨。四.小型分散乳化机：机型30款，处理量0.2克到10KG/小时，旋转50到3*10000转/分钟，线速度3到33m/秒，电滚功耗0.3到0.8kW。五.真空分散乳化机：机型32款，处理量5到2*10000KG/小时，旋转14到1.4*10000转/分钟，线速度44m/秒，电滚功耗0.18到120kW。六.均质匀浆机：机型4款，处理量0.2到150克/小时，旋转3500到8*1000转/分钟，线速度3到10m/秒，电滚功耗0.145到0.18kW。七.多效用分散乳化均质机：机型27款，处理量150到12.5*10000KG/小时，旋转960到1.4*10000转/分钟，线速度10到44m/秒，电滚功耗1.5到160kW。八.混合机：机型I6款，处理量300到12.5*10000KG/小时，旋转1100到9*1000转/分钟，线速度20到23m/秒，电滚功耗1.5到160kW。九.实用物料种类：胶粘溶胶，巨粒子固态液体悬空液乳剂，不包溶等。十.终级粒径：主腔内有叁组定转子，每组粗齿、中齿、细齿、超细齿。调动定转子间隙，加工后地终级粒径在10微纳米之下。十一.胚料配件：百分之八十以上进ロ海内外公司。十二.技艺出处：引荐德国技艺，立发明加工，备有专利。十三.工作方式：有在线式，批次式，内外循环式，水管式，可倒式，若干效用式。十四.机型合成：靠预加工锅、搅动锅、泵、液压系统、倒料系统、电力调动系统、主腔等部件合成。十五.智力化：CIP冲洗系统，液压升降松盖，包括配料给料吸料安装。十六.磨头好处：研磨头可调5款模版，6款分散头，20多款工作头。十七.锥磨好处：锥磨转子外层包含金属碳化物跟不一样粒子地陶瓷镀层等高上材料，提防毁伤腐蚀。十八.机型材料：统统接碰物料地材料皆是进口耐酸钢，主腔跟管路内乃亮面抛光三百EMSH（卫生级），无死角。十九.密封好处：博格曼双机械密封，液压平稳系统（可以担当16atm重压），软密封。?.翻搅形式：可定刮壁式/锚杆式/熔解式/页片式。?.产品特点：产品采取上边同轴3重装翻搅器，回路管路，出口阀。?.操控柜长处：不单可以控制电动调速，气温减温加温（经过电力，热气，油水回路，可承担负40—250度），压强，酸碱值，黏度。更可以设定不相同功用模板，表现互相配得各个参量，可线性变大大量出产。?.可抉选：参观窗，硅氟酸玻璃参观，电导率计，二层绝缘保护，稳定夹，作业台，底盘，图案解析多功用显微硬度仪（测量界线1—4千维氏硬度），管路式测量电炉（测量界线zui高1350度），传送泵/转子泵/气动隔膜泵/锚杆泵/离心泵（产量850—4.3万升/H），反应翻搅单罐/多罐（500—3千升/H），反渗入/全自动纯净装备（0.5—3千升/H)，超氧产生器，过流式紫外光灭菌器等。?.别的特长：整体立方小，电耗低，分贝低，可每日不断出产。?.访客垂访：按照访客实况必要恰当抉选！别的可订制非标和生产线！假若是非常情况，比方超温，超压，易烧易炸，侵蚀性，可产品升级！?.物料测量：得到访客物料后当即投入测量，瞧可否到达要求&答复测量进程&成果。?.方案价格：断定好产品功用后当即策画方案，包含2D部署图，总安装出产线表示图，立体成果图，&呈上本该得价格单子！?.结语：我们是出产厂家，详尽信息可以企业查看，因此分外恭候访客去垂访&更深一步长谈！以上信息不容坊造，非常道谢！扩展内容可不看：薄膜电池，顾名思义，就是将一层薄膜制备成太阳能电池。它使用的硅极少，因此更容易降低成本。 同时，它不仅是一种能源产品，还是一种新型建筑材料，更容易与建筑融合。在国际市场硅原料持续紧缺的背景下，薄膜太阳能电池已成为国际光伏市场发展的新趋势、新热点。可以大规模工业化生产的薄膜电池主要有三种：硅基薄膜太阳能电池、铜铟镓硒薄膜太阳能电池（CIGS）和碲化镉薄膜太阳能电池。薄膜太阳能电池 (CdTe)。薄膜电池是一种使用薄层材料并利用电子半导体和光学原理的技术。考虑到成本效益，薄膜光伏电池被用于二代和三代太阳能光伏发电技术。同时，它也被认为是一种可用于构建综合应用的有效产品。薄膜电池的发电原理与晶体硅类似。当阳光照射在电池上时，电池吸收光能产生光生电子-空穴对。 在电池内置电场的作用下，光生电子与空穴分离，空穴漂移。到P侧，电子漂移到N侧，形成光电动势，当外电路导通时，产生电流。

代替酸洗法齿轮磨削烧伤检无损检测仪采用了巴克豪森噪声法，快速检测和评估齿轮精磨工艺后表面磨削的状况，可对回火烧伤和二次淬火烧伤做出灵敏的判断。代替酸洗法齿轮磨削烧伤检无损检测仪实现了对直齿、斜齿、伞齿等磨削损伤及热处理缺陷检测以及硬度分拣。主要特点：全面检测，包括齿面、齿根、端面、齿孔完全无损，替代酸洗法可设置报警临界点各种探头可选，适合不同类型齿轮数采软件，记录和统计测量结果，显示烧伤位置、大小磨削烧伤检测仪有手动及自动操作方式。通过操作键，可编程建立运动参数、选择测量齿、设定报警限及存储参数。在10～20秒之内，就可手动完成待检与检测后齿轮的更换。技术规格测量方式：巴克豪森噪声法直径范围：5～2000㎜模数范围：1～70测量时间：2～30秒/齿，与尺寸及表面状态有关运动控制：计算机控制精密直流伺服电机探头由线性轴承驱动代替酸洗法齿轮磨削烧伤检无损检测仪主要应用在航天、航空、船舶、电力、石油化工、锅炉压力容器、冶金、机械制造、核工业、石油、科研机构、大学等。北京华欧世纪光电技术有限公司主要代理各类残余应力分析仪，磨削烧伤检测仪，齿轮-轴承-曲轴-凸轮轴表面烧伤质量检测仪，便携式应力检测仪，巴克豪森噪声法磨削烧伤检测仪，磁弹仪等无损检测设备。用户主要面向航天、航空，石化、电力，核工业、3D打印、锅炉压力容器，机械加工与制造，汽车制造，科研机构，高校等。

无损巴克豪森噪声分析仪器利用巴克豪森噪声原理，测量轴承等工件的表面磨削缺陷和热处理烧伤，对于工件无损伤，替代过去的酸洗法，采用单通道/多通道，可以同时测量轴承的各个难以测量的部位，如轴颈、侧边和弯角等。测量探头多种可供用户自主选择，可在短时间(约几秒)内精确量测物体的数据无损巴克豪森噪声分析仪器产品功能：（1）软点分析（各种尺寸）（2）Viewscan数采软件，电脑显示烧伤位置（3）磁弹效应，无损检测，替代酸洗法（4）磨损分析，缺陷检测和烧伤分析Stresstech Oy是便携式X射线应力分析仪和无损巴克豪森噪声分析仪器生产厂。无损巴克豪森噪声分析仪器主要应用在航天、航空、船舶、电力、石油化工、锅炉压力容器、冶金、机械制造、核工业、石油、科研机构、大学等。

【ITO薄膜测厚仪 电池薄膜厚度测定仪 接触式薄膜厚度测试仪】ITO薄膜是一种n型半导体材料，具有高的导电率、高的可见光透过率、高的机械硬度和良好的化学稳定性。它是液晶显示器（LCD）、等离子显示器（PDP）、电致发光显示器（EL/OLED）、触摸屏（TouchPanel）、太阳能电池以及其他电子仪表的透明电极最常用的薄膜材料。ITO薄膜是一种很薄的金属薄膜，在透明导电薄膜方面得到普遍的应用，具有广阔的前景。但薄膜的厚度是否均匀直接关系到企业的生产成本控制，所以对ITO薄膜厚度的高精度测量，是企业必须重视的检测项目之一。Labthink兰光研发生产的CHY-C2A测厚仪，采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。设备分辨率高达0.1微米，配置的自动进样系统，使用户可自行设置进样步距、测量点数和进样速度，大大提高了薄膜厚度测试效率。 ITO薄膜测厚仪技术特征：负荷量程：0～2 mm（常规）　　　　　0～6 mm；12 mm （可选）分辨率：0.1 μm测量速度：10 次/min （可调）测量压力：17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（纸张）接触面积：50 mm2（薄膜）；200 mm2（纸张）　　　　　注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制电源：220VAC 50Hz / 120VAC 60Hz外形尺寸：461mm(L)×334mm(W)×357mm(H)净重：32kg 以上【ITO薄膜测厚仪 电池薄膜厚度测定仪 接触式薄膜厚度测试仪】信息由济南兰光机电技术有限公司发布，如欲了解更详细信息，欢迎致电0531-85068566垂询！

薄膜介电常数介质损耗因数测试仪液体置换方法——当浸泡介质为一种液体，同时没有使用保护时，应平行板系统结构，以使得绝缘高电位板可以在两个平行低电位或接地板之间平行和等距离进行固定，其中接地板用试验池的相对内壁设计成容纳液体。该结构使得电极系统基本为自我屏蔽，但是通常要求双份试验样本。液体的精确温度测量必须作出规定（9,10）。试验池应为镀黄铜和金结构。高电位电极应可以移动来进行清洗。面必须接近为光学平面，同时尽可能平行。在≤1MHz频率下测量用合适液体池见试验方法D1531的图4所示。该试验池的尺寸变化是有必要的，以提供用于不同厚度或尺寸的薄板样本测试，但是这种变化应不能让充满标准液体的试验池电容降低到小于100pF.。在1~约50MHz频率下进行测量时，试验池尺寸必须大大地减小，同时导线必须尽可能短且直。当在50MHz频率下进行测量时，带液体的试验池电容应不超过30或40pF。受保护平行板电极优点是单个样本可以进行*准确地测量。另外液体电容率的先前知识不作要求，因此其可以直接测量得出（11）。如果试验池结构带一个测微计电极，厚度差异很大的样本可以进行*准确地测量，因为电极可以调节至某一只比样本厚度稍微大一点的间距。如果液体电容率接近样本电容率，样本厚度测定误差影响可以降至小。在测量极其薄的膜层时，使用一种接近匹配液体和一种微米试验池，则将允许获得很高的准确度 如果在两种已知电容率的液体上进行足够的测量，则排除了样本厚度和电极间距测定的必要性（12,13,18）。本方法对任何频率范围都不作限制；然而，限制液体浸泡方法用于液体耗散因子小于0.01（对于低损耗样本，小于0.0001）的频率场合。当使用两种液体方法时，在样本相同样本进行测量是非常重要的，因为厚度将不总是在所有点都是相同的。为确保相同区域被测试两次，同时帮助薄膜的搬运，样本固定架是非常方便的。固定架可为一个V形件，其将能滑入电极池中的沟槽中。同时也有必要控制温度小为0.1℃。这可以通过配备带冷却线圈的试验池来达到效果（13）。装置选择和电容和交流损耗测量方法 频率范围——电容和交流损耗测量方法可分成三种：零值法，共振法和偏转法。任何特殊场合的某一方法选择将主要取决于工作频率。当频率范围为从小于1Hz直到几兆赫兹时，可以使用许多形式的电阻或电感比值臂电容桥。当频率低于1Hz时，要求采用特殊的方法和仪器。在500kHz~30MHz的较高频率下，可使用平行T形网络，因为它们采用了共振电路的一些特征。而当频率从500kHz到几百兆赫兹时，可使用共振法。偏转法只能在从25到60Hz的电源线频率下使用，使用时采用商用指示仪表，此时可以很容易获得要求的较高电压。 直接和替代方法——在任何直接法中，电容和交流损耗值采用该方法所用所有电路元件形式来表示，因此受到所有误差的影响。通过替代方法可以获得更加大的精度，在此方法中可采用连接和断开的未知电容器进行读数。在这些不能改变的电路元件中的误差通常可以排除；然而，仍然保留了连接误差（注4）。两终端和三终端测量——两终端和三终端测量选择通常是在精度和便利性之间作出一个选择。在电介质样本上使用一个保护电极时，则几乎可排除边缘和接地电容的影响，如6.2的解释。规定采用一个保护终端，则可排除电路元件引入的一些误差。在另一方面，补充的电流元件和护罩通常要求提供相当多的保护终端到测量设备上，这可能增加好几倍的调节次数来获得要求的后结果。电阻比值臂电容桥用保护电路很少被用于1MHz以上的频率。电导比值臂桥提供了一个保护终端，而不要求额外的电路或调节。平行T形网络和共振电路不提供保护电路。在偏转方法中，可以仅仅通过额外护罩来提供一个保护。一个两终端测微计电极系统的使用提供了许多三终端测量的优点，即几乎排除了边缘和接地电容的影响，但是可能增加观测或平衡调节的次数。其使用也可以排除在较高频率下连接导线的串联电感和电阻导致的误差，其可以在整个频率范围内使用，直至几百兆赫兹。当使用一个保护时，存在耗散因子测量值将小于真实值的可能性。这可能是由于在测量电路保护点和保护电极之间的任何点位置的保护电路的电阻导致的。这还可能来自高接触电阻，导线电阻，或者来自保护电极自身的高电阻。在场合，耗散因子将显示为负值。当没有保护的耗散因子高于由于表面泄漏导致的标准值时，该情况可能存在。电容耦合到测量电极以及电阻耦合连接到保护点的任何点可成为困难的来源。常见保护电阻产生一个与ChClRg成比例的等效负值耗散因子，其中Ch和Cl为电极保护电容，Rg为保护电阻（14）。液体置换方法——液体置换方法使用时可以采用三终端或自屏蔽两终端试验池。采用三终端试验池，可能直接测定所用液体的电容率。自屏蔽两终端试验池提供了三终端试验池的许多优点，即几乎排除了边缘和接地电容的影响，同时还可以与没有规定一个保护的测量电路一起使用。如果其配有一个完整的测微计电极，在较高频率下连接导线的串联电导电容的影响将可以排除。 精度——8.1所列方法精密考虑了电容率测定精度为±1%，而耗散因子测定精度为±(5%+0.0005)。这些精度取决于至少三个因素：电容和耗散因子观测的精度，所用电极布置导致的这些参量的修正值的精度以及电极之间真空静电容计算的精度。在好的条件以及较低频率下，电容测量可具有±(0.1%+0.02pF)的精度，而耗散因子可具有±(2%+0.00005)的精度。在较高频率下，当电容达到±(0.5%+0.1pF)，耗散因子达到±(2%+0.0002)时，这些极限值可能增大。配有一个保护电极的电介质样本测量只具有电容误差和电极之间真空静电容计算的误差。受保护电极和保护电极之间间隙太宽导致的误差将通常为几十个百分比，同时修正值可以计算为几个百分比。当平均厚度为2mm时，样本厚度测量误差可为几十个百分比，此时假设可以测量至±0.005mm。圆形样本直径可以测量至具有±0.1%的精度，但是输入作为平方值。将这些误差合并，电极之间真空静电容可以测量至具有±0.5%的精度。与电极之间静电容不同的是，采用测微计电极进行测量的带接触式电极的样本不需要进行修正，假如样本直径足够小于测微计电极直径的话。当两终端样本以任何其它方式进行测量时，边缘电容计算和接地电容测定将涉及相当大的误差，因为每一种误差都可能为2~40%的样本电容。采用目前的这些电容知识，在计算边缘电容时，可能的误差为10%，而在评估接地电容时，其可能的误差为25%。因此涉及的总误差范围可为几十分之一的1%到10%或者更大。然而，当没有电极接地时，接地电容误差降至小（6.1）。采用测微计电极，0.03阶的耗散因子可以测量精确到±0.0003的真实值，而0.0002阶的耗散因子可以测量精确到±0.00005的真实值。耗散因子范围通常为0.0001到0.1，但是其也可以超过0.1。在10~20MHz的频率下，可以推测0.0002阶的耗散因子。从2到5的电容率值可以测定精确到±2%。该精度受到电极之间真空静电容计算要求测量精度以及测微计电极系统误差的限制。抽样抽样说明见材料规范。薄膜介电常数介质损耗因数测试仪程序样本制备概述——裁剪或模压试验样本至一个合适的形状和厚度，以能按照材料规范进行测试或者按照要求的测量精度，试验方法，和将执行的测量频率来进行测试。按照被测材料要求的标准方法来测量厚度。如果某一特殊材料没有标准，然后按照试验方法D374测量厚度。实际测量点应在材料电极覆盖区域上均匀分布。然后合适的测量电极应用到样本上（第7章）（除非将使用液体置换方法），尺寸和数量选择主要取决于是否将执行三终端或两终端测量，如果执行后者的两终端测量，是否将使用一个测微计电极系统（7.3）。样本电极材料选择将取决于应用的便利性和是否样本必须在高温和高相对湿度下进行调节（第7章）。通过一个移动显微镜来获得电极尺寸（如果电极不等效，则是指较小的电极），或者通过刻度为0.25mm的钢尺和一个允许放大至读数精确到0.05mm的放大镜来进行测量。在几个点上测量圆形电极的直径，或者矩形电极的尺寸，以获得一个平均值。测微计电极——样本面积等于或小于电极面积是可以接受的，但是样本的任何部分应不能延伸越过电极边缘。样本边缘应是光滑的，且垂直于薄板平面，同时也应具有清晰的边界，以使得薄板平面尺寸能够测量精确到0.025mm。厚度≤0.025直到≥6mm的厚度值都是可以接受的，这取决于平行板电极系统的大可用板间距。样本应是扁平的，同时厚度尽可能均匀，且无空隙，外来物质夹杂物，皱纹或任何其它缺陷。已经发现采用一个几个厚度或很多厚度的组合，能更方便和准确得测试极其薄样本。每个样本的平均厚度应尽可能测量精确到±0.0025mm之内。在一些场合，特别是对于薄膜等材料，但通常不包括多孔材料，将通过由已知或测量的材料密度，样本面的面积以及在分析天平上通过精确测量获得的样本（或者组合样本，当在多个厚度薄板上进行测试时）质量来计算得出平均厚度。液体置换——当浸泡介质为一种液体时，如果标准液体电容率在样本电容率的大约1%之内（见试验方法D1531），样本大于电极是可以接受的。另外，对于7.3.3所示类型的试验池，将通常要求双份样本，尽管可以在这类试验池中每次测试单个样本。在任何场合，样本厚度应不小于大约80%的电极间距，当被测材料耗散因子小于大约0.001时，这变得特别重要。 清洗——因为已经发现在某些材料场合，当不带电极进行测试时，样本表面上存在的导电污染物可对结果产生无规律的影响，因此需要采用一种合适的溶剂或其它方式（按照材料规范所述）来清洗试验样本，同时允许在试验之前*干燥样本（15）。当将在空气中在低频率（60~10000Hz）下进行测试时，清洗变得特别重要，但是如在无线电频率下进行测量时，清洗变得不那么重要。在采用一种液体介质进行试验的场合，样本清洗也将降低污染浸泡介质的趋势。被测材料适用的清洗方法参阅ASTM标准或其它规定本试验的文件。在清洗之后，只用镊子转移样本，然后储存在单独的信封套中，以防止在试验之前被进一步污染测量——将带附着电极的试验样本放入一个合适的测量试验池中，然后采用具有要求灵敏度和精度的方法来测量样本的电容和直流损耗。对于日常工作，当高精度不作要求时，或当样本终端都不用接地时，则没有必要将固体样本放入一个试验池中。 警告——本试验执行期间，致命电压是一种潜在的危险。所有试验装置及电连接到其上的所有相关设备需进行适当的设计和安装以便能安全运行，这是非常重要的。试验期间个人可能接触的所有导电连接进行牢固接地。在执行任何试验时，提供方式来对试验期间处于高电压的所有零件进行接地，或者对试验期间获得一个感应电荷而具有电位的所有零件进行接地，或者对甚至在电压源断开之后还保持带电荷而具有电位的所有零件进行接地。认真指导所有操作者，以使得其能采用正确的程序来安全执行试验。当执行高电压试验时，特别是在压缩气体或在油中测试时，在击穿时释放的能量可能足够导致试验箱发生火灾，爆炸，或者破裂。设计试验设备，试验箱和试验样本，以使得这类情况的发生可能性降至小，同时排除人身伤害的可能性。如果存在火灾风险，则需配置灭火设备。注2：将样本连接到测量电路所用的方法是非常重要的，特别是对于两终端测量。对于平行替代测量，试验方法D150先前*的临界间距连接方法可导致0.5pF的负误差。当两终端样本作为一个保护在一个试验池中进行测量时，可产生一个类似的误差。因为目前已知没有方法能用于评估该误差，当必须避免该数值的误差时，必须使用一种替代方法，也就是说，使用测微计电极，液体浸泡池，或者带受保护导线的三终端样本。注3：为获得电容和耗散因子而执行的测量细节说明以及由于测量电路而执行的任何必要的修正细节说明见商用设备提供的说明书所述。以下章节拟用于提供所需的补充说明。固定电极——精确地调节板间距至一个适合被测样本的值。特别对于低损耗材料，板间距和样本厚度应使得样本将占据不少于大约80%的电极间隙。对于在空气中的试验，不建议板间距小于大约0.1mm。当电极间距没有调节到一个合适值时，必须制备具有合适厚度的样本。测量试验池的电容和耗散因子，然后嵌入样本，同时使得样本位于测微计电极的电极或试验池之间的中心位置。重复测量。为获得大的精度，如果可以使用测量设备，直接测定△C和△D。记录试验温度。测微计电极——测微计电极常与那些接触样本或其附着电极的电极一起使用。为执行一次测量，首先将样本夹紧在测微计电极之间，然后平衡或调整测量用网络。接着取出样本，重新设置电极，通过移动测微计电极使得更近地靠在一起，使得电路或桥臂中的总电容重新恢复至其原始值。 液体置换方法——当使用单种液体时，充满试验池中，然后测量电容和耗散因子。小心插入样本（或组合样本，如果使用了两个样本池），然后将其置于中心位置。重复测量。为获得大的精度，如果可以使用测量设备，直接测定△C和△D。从液体中迅速地取出样本，以防止发生膨胀，然后在继续测试另一样本之前重新充满试验池至适当的液位。结果计算公式见表2给出。试验方法D1531详细描述了采用了本方法测量聚乙烯的应用。当受保护试验池为耐震结构时，按照精确温度控制条款，例如试验方法D1531中方法B的建议，则可通过在两种液体中测量样本来获得更大的精度。本方法也排除了已知样本尺寸的需要。该程序与以前的程序相同，除了使用两种不同电容率的流体之外（12,13,18）。使用空气作为*种流体是很方便的，因为这能避免测量期间清洗样本的必要性。受保护试验池的使用能允许测定所用液体或流体电容率测定。当采用一种或两种流体方法时，可能获得大的精度，此时一种液体的电容率较接近匹配样本的电容率。注4：当采用两种流体方法时，可由任一组读数获得耗散因子（其中采用具有较高Kf'的那组数据可获得较精确的耗散因子）。薄膜介电常数介质损耗因数测试仪电容率，耗散因子和损耗指数的计算——对于在某一给定频率下测量的样本，所用测量电路将给出电容值，交流损耗值（用Q表示），耗散因子，或串联或并联电阻。当由观测电容值计算得出电容率时，这些值必须转换为并联电容，如果不是如此来表示，则使用公式5。当使用测微计电极时，表3给出的公式可用于计算样本的电容。对于不同的电极系统，表2给出的公式可用于计算电容率和耗散因子。当使用平行替代方法时，耗散因子读数必须乘以总电路电容与样本或试验池电容的比值。Q和串联或并联电阻也要求由观测值计算得出。电容率为：Kx'=Cp/Cv （11） 平坦平行板和共轴圆柱的真空电容表达（6.4）见表1给出。当交流损耗采用串联电阻或并联电阻或电导来表示时，使用公式3和4给出的关系式来计算耗散因子（见3.1.2.1）。损耗指数等于耗散因子和电容率的乘积（见3.4）。10.4 修正——将样本连接到测量电路所用的导线具有电导和电阻，在高频率下，它们能大测量的电容和耗散因子。当测量中已包括额外电容时，例如边缘电容和接地电容，这些电容在两终端测量时可产生电位，此时观测并联电容将增大，同时观测耗散因子将减小。这些影响的修正值在附录X1和表1中给出。薄膜介电常数介质损耗因数测试仪报告11.1 报告以下信息：11.1.1 描述被测试的材料，也就是指名称，等级，颜色，制造商和其它相关数据，11.1.2 试验样本形状和尺寸，11.1.3 电极和测量池的类型和尺寸，11.1.4 样本调节，和试验条件，11.1.5 测量方法和测量电路，11.1.6 施加电压，有效电压梯度和频率，11.1.7 并联电容值，耗散因子值或功率因子值，电容率值，损耗指数值以及评估的精度值。精度和偏差精度——本规范提出的任一种试验方法的精度相关说明都不可能制定，因为精度受到被测材料和测量所用装置选择的影响。对于特定材料，鼓励这些试验方法用户探寻适用于特定材料的标准精度说明（也可见第8章）。 偏差——任一种或所有这些试验方法未能制定偏差相关的说明。关键字 直流损耗；电容；并联，串联，边缘现象，杂散；电导；接触式电极；电介质；介电常数；耗散因子；电绝缘材料；电极；液体置换；频率；边缘现象电容；受保护电极；Hz；损耗角；损耗因子；损耗正切值；非接触式电极；电容率；相位角；缺相角；功率因子；Q；品质因子；电抗；并联，串联；相对电容率；电阻；平行，串联；tan(Δ)；厚度表3 电容计算—测微计电极并联电容符号定义Cp=C'-Cr+CvrC'=在电极重置间距处的测微计电极的校准电容，Cv=由表2计算得出的，在测微计电极之间被样本占据区域的真空电容，Cr=在间距r处的测微计电极的校准电容，r=样本和附着电极的厚度。样本真实厚度和面积必须用于计算电容率。当样本具有与电极相同的直径，通过使用以下程序和公式，可以避免边缘真空电容的双重计算，计算只具有小误差（由于在电极边缘的边缘现象导致的误差，值为0.2~0.5%）。Cp=C'-Cv+CvtCv=在间距t处的测微计电极的校准电容，Cvt=在样本区域的真空电容，t=样本厚度。 附录（非强制性信息）X1.串联电感和电阻和杂散电容的计算X1.1 由于导线电感导致的电容增加和由于导线电阻导致的耗散因子增加按下式计算：式中：Cp=被测量电容器的真实电容，Ls=导线的串联电感，Rs=导线的串联电阻，ω=2π×频率，Hz。注X1.1：对于所用导线，可以由物理尺寸非常小的电容器测量值来计算得出L和R，电容器在测量设备终端和导线很远的末端上进行测量。C是指终端处测量的电容，△C是指两个电容读数的差值，而R为由测量值C和D计算得出的数值。X1.2 当要求这些导线尽可能短时，则难于在1MHz下将其电感和电阻降低到0.1μH和0.05Ω以下。高频率电阻随着频率的平方根而增大。因此当频率大于1MHz时，这些修正变得越来越重要。当测量中已包括额外电容时，例如边缘电容Ce和接地电容Cg，这可能在两终端测量中产生，观测的并联电容将增大，同时观测的耗散因子也将减小。这些观测参量的下标为m，则按下式可计算得出修正值：X1.3 耗散因子表达式假设额外电容没有损耗。这对于接地电容来说是基本真实的，除非在低频率下，同时当电极延伸到样本边缘时，边缘电容也基本无损耗，因为几乎所有的通量线都是在空气中。电容率和损耗指数按下式进行计算：4 当有一个或两个电极小于电极时，边缘电容具有两部分。穿过环境电介质的通量线相关的的电容具有一个耗散因子，对于各项同性材料，该耗散因子与电介质主体的耗散因子相同。穿过空气的、通量线相关的电容没有损耗，因此不可能分隔电容，通常惯例是将测量的耗散因子视为真实的耗散因子。保护电极的有效面积受保护电极在测量电极和保护电极之间具有一个间隙。该间隙具有明确的尺寸来定义间隙面积。受保护电极有效面积大于其实际面积。在多数受保护电极系统中，增加值大约为50%的保护间隙面积。为获得某一采用受保护电极的电极系统的有效面积，通过空气间隙宽度来增大以下每一个尺寸，同时在公式中使用这些增大后的尺寸来计算面积：（a）圆形测量电极的直径，（b）矩形测量电极的每个尺寸，（c）圆柱形测量电极的长度。 在那些间隙宽度g与电极间隔距离t（大约为该样本的厚度）的比值适当的场合，受保护电极尺寸的增大值小于间隙宽度，该数量值识别为保护间隙修正值。保护间隙修正值符号为：2δ。 保护间隙修正值符号受到保护间隙宽度g；电极间隔距离t（该值大约为该样本的厚度）；受保护测量电极厚度a；高电压和低电压电极之间介质电容率1/K'；和间隙中介质电容率Kg'的影响。有效因子为：X2.1.4.1 比值g/tX2.1.4.2 比值a/gX2.1.4.3 比值K'/Kg'X2.2 对于某些K'/Kg'和a/g比值，2δ/g计算的完整公式见公式X2.1-X2.3所示。X2.3 在计算有效电极面积之前，保护间隙分数加上整体电极尺寸则得B=1-2δ/g。考虑X2.1.2（16）中的（b）和（c），B可以依据公式X2.4的经验公式计算得出。A为比值a/g的函数。当a/g=0（薄电极）时，A=1。当a/g为1或大于1（厚电极）时，A接近极限值0.8106（准确为8/π2）。从图X2.1可得出的A的中间值。X2.4 当g/t≤10时，从公式X2.2得出的lnB与从公式X2.1得出的lnB的比值非常接近1.23。因此，通过写入公式X2.4，可以排除评估公式X2.2的必要性，如公式X2.5所示。X2.5 由公式X2.5计算的B值将不同于准确值，两者差值大为0.01。对于0.25mm保护间隙，该大误差将产生一个0.0025mm的电极直径或电极尺寸误差。而对于25mm电极，这将产生一个0.02%的面积误差。式中.电容率和损耗特征的影响因素频率绝缘材料能在整个电磁波频谱上使用，这些频谱包括从直流电到至少3×1010Hz的无线电频率。仅存在非常少数的材料，如聚苯乙烯，聚乙烯，熔融二氧化硅，它们的电容率和损耗指数在该频率范围内是近似恒定的。有必要在材料将采用的频率下测量电容率和损耗指数，同时有必要在放置时的几个合适频率下测量电容率和损耗指数，如果该材料将在某个频率范围使用的话 当材料存在电介质极化时，则可导致电容率和损耗指数随着频率的变化。两种重要的极化是由于极性分子导致的偶极极化，以及材料不均匀性导致的界面极化。图X3.1显示了电容率和损耗指数随着频率的变化（17）。在高频率下开始，此时电容率通过一种原子或电子的极化来进行测定，每次成功的极化，不管是偶极极化还是界面极化，都促进电容率结果在零频率时具有大值。每一次极化都提供了一个大的损耗指数和耗散因子。在损耗指数为大值时的频率成为该极化的松弛频率。它也是电容率以大速率大的频率以及发生一半的该极化变化的频率。这些极化影响相关的知识将常常有助于确定应在哪个频率下执行测量。X3.1.3 自由离子或电子导致的电介质的任何直流电导不会对电容率产生直接影响，但将产生一个耗散因子，该耗散因子随着频率发生相反得变化，同时在零频率时变得无限大（图X3.1的虚线）。X3.2 温度X3.2.1 温度对某*缘材料的主要电学影响是将增大其极化时的松弛频率。它们随着温度以一定速率成倍大，该速率使得当温度在6~50℃范围内增大时，可导致松弛频率出现十倍的增大。在较低频率下的电容率的温度系数将总是为正值，除了许多原子和电子极化导致电容率温度系数为负值的事实之外。然而在高频率下，温度系数将为负值，在某些中间频率时可变为零，而在偶极或截面极化的松弛频率下该温度系数为负值。X3.2.2 损耗指数和耗散因子的温度系数可为正值或负值，这取决于松弛频率的测量关系式。当频率高于松弛频率时，该值为正值，而对于较低频率，该值为负值。因为界面极化的松弛频率通常低于1Hz，损耗指数和耗散因子的相应温度系数将在所有通用测量频率下为正值。因为某一电介质的直流电导通常随着温度的倒数减小而成倍增大，由此导致损耗指数和耗散因子值将以一种类似的方式增大，同时将产生一个较大的正值温度系数。X3.3 电压X3.3.1 所有电介质极化，除了界面极化几乎与存在的电位梯度无关，直到该梯度值达到在材料空隙或材料表面上发生电离，或者发生击穿的数值。在界面极化中，自由离子数量可能随着电压而增大，同时可能改变极化和其松弛频率的大小。直流电导也会受到类似的影响。X3.4 湿度X3.4.1 湿度对某*缘材料的主要电学影响是将*得增加其界面极化的大小，因此增大其电容率，损耗指数和其直流电导。这些湿度影响是由水吸入材料体积，以及在材料表面形成离子化水膜而导致的。后者在几分钟之内形成，然而前者可能需要几天，有时甚至是几个月来达到平衡，特别是对于较厚和相对不透水材料（15）。X3.5 水浸泡X3.5.1 水浸泡对某*缘材料的影响近似为*相对湿度暴露的影响。水被吸入材料体积中，通常其吸水速率大于*相对湿度下的吸水速率。然而，当终达到平衡时，在两种条件下的吸水的总量基本是相同的。如果材料存在水溶性物质，水浸泡下的滤出将显著快于在*相对湿度且不冷凝前提下的滤出。如果浸泡所用水不纯，其杂质可能进入材料中。当材料去除水进行测量时，与在*相对湿度且不冷凝前提下产生的效果相比，其表面形成的水膜将变得更厚，同时导电性更好，同时这将要求一些时间来达到平衡。X3.6 气候X3.6.1 气候作为一种自然现象，其包括温度和湿度改变，降雨，飓风，大气杂质和太阳紫外线和热量的影响。在这些条件下，某*缘材料表面可能发生*性变化，如物理上的粗糙化和裂解，化学上的更多易溶成分的损失以及表面沉积的盐，酸和其它杂质的反应。表面上形成的任何水膜将变得更厚和更容易导电，同时水将更容易渗入材料体积中。X3.7 损失X3.7.1 在电压和温度的工作条件下，由于吸收湿分，材料表面物理变化，材料成分化学变化，以及材料表面和内部空隙表面的电离影响，某*缘材料可能损失电学强度。通常来说，材料电容率和耗散因子将增大，同时它们的增大值将随着测量频率降低而变得更大。在充分理解X3.1-X3.6列出的影响之后，任何电学性能的观测变化，特别是耗散因子，可作为损失的一种度量方式，也就是指电介质强度减小的一种度量方式。X3.8 调节X3.8.1 许多绝缘材料的电学特征取决于温度，湿度和水浸泡性，正如以上章节所述，因此通常有必要规定某一样本的过去历史以及其与这些因素相关的试验条件。除非将在室温（20-30℃）下执行测量，同时未规定相对湿度，样本应按规程D618进行调节。所选程序应能接近匹配工作条件。当数据要求包含宽范围的温度和相对湿度时，将有必要使用中间值，同时可调节至平衡。X3.8.2 保持规定相对湿度的方法见规程D5032和E104所述。X3.8.3 部件调节规范见规范E197所述。备注：Polarizations：极化；Interfacial：界面；Dipole：偶极Permittivity：电容率；Loss index：损耗指数；Log Frequency：对数频率图X3.1 典型极化（17）典型测量电路的电路图显示的简化电路和方程式仅作为一般参考信息。完整的图形，方程式和所用测量方法应参阅某一特定设备附带的说明书。 备注：GUARD：保护方程式Cx=(R1/R2)CsDx=ωR1C1平衡方法在位置M采用S1来改变C1和R2，以使得探测器D获得小的偏转。通过改变CF和RF在位置G采用S1来重复操作。重复以上程序直到当S1转换到M或G时探测器显示没有变化达到平衡。注1：该电桥类型对在电源频率下的高电压测量特别有用，因为几乎所有的施加电压显示穿过标准电容器Cs和样本Cx。平衡电路和探测器的接地电位都非常接近。图X4.1 高电压西林电桥方程式Cx=(R1/R2)CsDx=ωR1C1平衡方法设置R1和R2的比值（范围），然后改变Cs和C1，以获得平衡。图X4.2 低电压西林电桥，直接法方程式Cx=△Cs△Cs=Cs'-CsDx=(Cs'/△Cs)△C1ωR1△C1=C1-C1'平衡方法改变C1和Cs，可以连接或不连接样本，以获得平衡。不接地导线的未知断开的初始平衡所用符号都是基本符号。图X4.3 低电压西林电桥，平行替代法方程式Cx=(L1/L2)CsGx=(L1/L2)GsDx=(Gs/ω Cs)平衡方法设置L1和L2的比值（范围），然后改变Cs和Gs，以获得平衡。图X4.4 电感比值臂（变压器）电路方程式Cx=Cs'-Cs=△CsGx=(R5ω2C1C2/Cs)(C4-C4')=△GxDx=Gx/ωCx=△Gx/ωCs平衡方法没有连接的平衡，以及带未知连接的重新平衡，采用Cs和C4。初始平衡所用符号都是基本符号。图X4.5 平行T形网络，平行替代法

产品介绍：无损检测系统LSNT-300：可在不直接接触待测样品的前提下，对导体薄膜及金属板件等导体待测样品进行厚度、导电率、导磁率等相关物理特性的检测，并同时可对样品表面进行缺陷扫描。可广泛应用于导体薄膜及金属板件等导体待测样品进行厚度、导电率和导磁率等物理特性进行检测。无损检测系统LSNT-300特点：检测精度高、操作方法简单、不损坏待测样品；可对样品表面进行缺陷扫描；对导体薄膜及金属板件等导体待测样品进行厚度、导电率和导磁率等物理特性进行检测。无损检测系统LSNT-300参数：材料范围导体薄膜及金属板件等导体样品测量模式精确定位扫描最大扫描面积尺寸300 mm* 300 mm定位精度5μm检测最小线宽或间距0.5 mm检测最大深度30 mm尺寸85 cm*55 cm*30 cm应用案列：对具有不同深度（即缺陷）的铝板样品凹槽进行表面缺陷测量，如下图所示。缺陷从左到右依次为：（a）为深度1mm表面凹槽；（b）为深度3mm表面凹槽；（c）为距表面4mm厚度的内部凹槽；（d）为距表面1mm厚度的内部凹槽；（e）为贯穿通孔槽；各孔槽宽度皆为10mm。铝的电导率为3.78X107(S.m-1)，磁导率为1.2566X10-6(H.m-1)。利用LabVIEW程式控制自动扫描系统对试样表面依照图中设定的红色蛇形路径进行扫描，并设定Z轴每次步进距离为1.25mm（可依情况自行设定具体值），扫描面积为70×118mm，经计算测量点总数为56×94共5264个点。由于考虑趋肤效应影响以及更好地获得样品表面形貌，分别测试在200、500、1500及5000 Hz不同频率下的检测情况，先通过高频判断其缺陷位置，再调至低频进一步获取缺陷的具体尺寸及深度，并通过对高低不同频率测量结果的对比，最终得到样品表面及近表面形貌。

提升精度的实验室利器 _ AM1.5G太阳光模拟器搭光伏太阳能电池效率-损失分析解决方案搭载 SPOT-V 光斑观测器光斑观测器 为何能助您科研精进？清晰观察： 在暗室或光线有限的实验环境中，也能清晰观测光斑，确保样品处于最佳受光区域。简便易用： 即插即用，无需繁琐设置，适用于各种光谱系统，让您轻松掌握光斑位置。多功能应用： 无论是微小样品还是复杂的光谱实验，都能提供可靠的观测支持，帮助您进行精准的实验设计和数据分析。提升效率： 光斑观测器能有效避免光斑偏移或样品偏移问题，保障每次测量的准确性，提升实验效率，降低误差。太阳能电池效率-损失分析解决方案QE-RX PERC / HJT / TOP-Con 光伏太阳能电池效率-损失分析解决方案（Jsc、Voc和FF损失)QE-RX 是一款用于高效太阳能电池研发的光伏电池效率损失分析仪。自 2015 年以来，损耗机制是提高 PERC、HJT、TOP-Con 和其他高效太阳能电池转换效率的关键信息。转换效率损失可归结为三个因素，包括短路电流密度（Jsc）、开路电压（Voc）和填充因子（FF）损失。QE-RX 不仅可以测量 PV-EQE、反射率和 PV-IQE 数据，还可以通过结合分析软件 SQ-JVFLA 分析 Jsc、Voc 和FF 损失。Enlitech 在 QE-RX 内整合了三种不同的测试功能，并开发了 SQ-JVFLA 软件，帮助用户通过使用 Shockley-Queisser 热极限理论分析三种不同的损失。QE-RX 是您提高光伏效率的最佳合作伙伴。太阳能电池效率-损失分析解决方案QE-RX功能高度准确且低不确定性QE-RX 的校准是NIST 可追溯的，这使得 QE-RX 的测试数据的不确定性低于任何其他 EQE 测试系统。同时，QE-RX 是由Enlitech 开发的，Enlitech 拥有 10 年的ISO / IEC 17025 认证的校准实验室。这使得 QE-RX 对 Si 太阳能电池的测试结果高度准确。依靠 QE-RX，它将为您提供可靠的结果。结构紧凑但功能多样QE-RX 将所有光学和机械部件集成在 80cm x 80cm x 60cm 的主体内，其中包括电信号采集锁相放大器。不限于其紧凑的尺寸，QE-RX 仍然提供各种测试数据，包括太阳能电池的 EQE、光谱响应、反射率和 IQE。紧凑而多功能是 QE-RX 的优势。功率损耗分析QE-RX 结合 SQ-JVFL 软件，可以提供最完整的分析功能，包括 Jsc-loss、Voc-loss、FF-loss 和带隙计算。这些参数是生产产量控制和效率建议的关键因素，这使得 QE-RX 成为光伏行业的最佳合作伙伴。用于 PESC、PERC、PERL、HJT、背接触、双面和 TOP-Con 硅太阳能电池提供 QE（量子效率）、PV-EQE（外部量子效率）、IPCE（入射光子-电子转换效率）、SR（光谱响应）、IQE（内部量子效率）和反射率方面的数据。结构紧凑且重复性高超过 99.5%。波长范围：300~1200 nmJsc损失分析和报告（使用SQ-JVFLA软件）。职业损失分析和报告（使用SQ-JVFLA软件）。FF损失分析和报告（使用SQ-JVFLA软件）。独家的EQE不确定度评估报告和经ISO/IEC 17025认证的质量控制，可用于期刊论文投稿。多样化和定制化的样品测试装置。太阳能电池效率-损失分析解决方案QE-RX系统设计 太阳能电池效率-损失分析解决方案QE-RX规格IPCE / 量子效率测试ModelQE-RXLamp Wavelength Range250nm~2500nmMeasuring Wavelength Range300nm~1200nmUn-Repeatability≦ 0.3% 300nm~400nm≦ 0.2% 400nm~1000nm≦ 0.3% 1000nm~1100nmJsc Un-Repeatability≦ 0.1%Jsc Uncertainty≦ 0.2%Light Instability (long time)≦ 0.2% (3hr)Lamp lifetimeOver 2500hrBeam Spot0.7mm x 6mmBeam Incident Angle8°Effective Working Distance 10 cmDSP Lock-in Amplifiera. Two sets of dual-phase lock-in amplifiersb. 25 us Max acquisition speedc. 1 us delay time between two channelsc. RXYθe. Gainf. 10 V Max input volategg. Noise filtersh. 4-channel multiplexer for signal switchingLight Intensity Monitora. 1 monitoring cell b. for light intensity measuring simultaneouslySoftwarea. Absolute light intensity calibrationb. SR, EQE measuringc. Auto in-situ Jsc(EQE) calculationd. Auto Jsc(EQE) calculation at each wavelengthe. IQE calculationf. Bandgap analysisg. Data collecting and analyzingh. Mismatch factor (MMF) calculationi. Signal monitoring functionj. txt data formatSignal Oscilloscopea. Oscilloscope displayb. Time-domain and frequency-domain analyzing capabilityc. Signal monitoring function photo-current signal monitoring on DUTFunctionsIPCEEQESRIQE (option)Reflectance (option)Dark box800mm x 800mm x 920mm太阳能电池效率-损失分析解决方案QE-RX应用PERC / HJT / TOP-Con 光伏太阳能电池效率-损失分析IEC-60904-8 光谱响应测量IEC-60904-7 失配系数计算IEC-60904-1 MMF 校正矽太阳能电池加工质量控制矽太阳能电池带隙测定

WTKX-IRNDT-1001红外热波无损检测仪 是一款便携式红外热波无损检测设备，该设备可以应用于航空、航天、能源、汽车、船舶、压力容器、管道、军工、核工业和材料研究、文物修复等领域。WTKX-IRNDT-1001红外无损检测仪先进的设计理念使之具备（1）适用面广：可用于所有金属和非金属材料。（2）速度快：每个测量一般只需几秒到几十秒钟。（3）观测面积大：可对大型试件的分区检测结果进行自动拼图处理。（4）直观：测量结果用图像显示、直观易懂，特别是动态视频显示可提供更多有用信息。（5）定量：可以测量缺陷的位置、大小和深度。（6）单向、非接触：加热和探测在被检试件同侧，且通常情况下不污染也不需接触试件。（7）设备便于携带：适合外场、现场应用和在线、在役检测。（8）可以采用多种激励方式。红外无损检测设备是基于windows 7 平台的操作软件：友好的人机界面，功能强大；鼠标悬停都有详细功能提示，便于上手；加热、采集、处理流程功能一次完成，操作方便；算法优化，处理结果更能凸显热异常区域与正常区域差别，便于判断；文件视图便于多次采集整理与查看；状态及属性显示详细，情况一目了然； 电话：传真：手机：何先生红外无损检测设备、主动式红外无损检测设备、红外无损检测设备、复合材料无损检测设备、蜂窝材料无损检测设备、无损探伤仪。

用途W401型水汽透过率测定仪用于测定薄膜或薄片材料的水汽透过率(量)。适用于：1）塑料薄膜、复合薄膜、铝箔、镀铝膜等；2）各种片材、板材、橡胶、陶瓷等；3）包装容器，如瓶、袋、碗等；4）扩展应用，如太阳能背板、液晶显示屏膜、医疗贴剂等。应用于质检、药检、科研、包装、薄膜、食品、药品、日化、电子等行业。执行标准：GB/T 26253-2010、 YBB 00092003-2015、 BS EN ISO 15106-2-2005、ASTM F1249-2013、 JIS K7129-2008 产品规格项目技术参数测试范围0.001~100g/（m224h）分辨率0.001g/(m224h)（薄膜及片材）控温范围15～45℃（15～60℃可选）控温精度±0.1℃控湿范围30~90%RH控湿精度±1%RH透过面积50.24 cm2（加装适配件支持最小至0.785 cm2）试样尺寸Φ100 mm试样厚度≤3mm试样数量1件载气99.999%氮气（用户自备）载气压力≥0.1MPa载气流量5~120 mL/min气源接口1/8英寸金属管外形尺寸600×400×330mm重量80kg功率750W电源AC 220V，50Hz 产品特点? 数据准确可靠u 我司具备由《国家质量监督检验检疫总局》批准及颁发的：水汽透过率测定仪《国家标准物质定级证书》和《国制标物》制造计量器具许可证（GBW(E)130543/4）。采用国家标准物质对仪器进行校正、检定，保证检测数据的准确性、通用性、权威性。? 操作简便u 专业软件支持，软件界面简单明了，容易操作，测试流程可灵活设置。u 全自动操作，一键测试，自动判断，自动停机。u 旁通、冲洗、测试、做基线程序全自动控制，实验状态实时显示。u 温度、湿度、水汽浓度、透过量四组曲线实时显示，曲线支持预览隐藏功能，支持后台数据库查询功能。u 主机配置彩色触摸屏，无需外置电脑，可实时观察温度、湿度、透过量。u 专业测试报告，报告自动生成，可导出Office、PDF等格式的文件。? 技术先进性u 温度控制：电磁程序步进控温技术，自动升温、降温；测量精度高，精确到0.1℃。u 湿度控制：采用双气流(干气和湿气)湿度法控湿，精确到1%RH，湿度稳定。u 搭载科技前沿的ARM控制系统，可脱离计算机独立运行检测。? 测试效率高u 具有高、中、低阻隔三种测量模式，适应不同阻隔性的薄膜测试。u 测量精度达0.001 g/m224h，可以测铝箔等高阻隔性材料。u 加装适配附件，可测瓶、袋、碗等容器的水汽透过量。? 权限管理和数据追踪u 软件根据新版GMP附录计算机化系统的要求进行设计。u 需要用户名密码登录工作站。u 用户分为操作者和管理员等多种级别（如管理员，操作员，观察者等但不限于这些级别）。u 管理员可对各种级别进行权限调整；如增加和减少某一级别的系统控制项目。u 具有审计追踪功能（系统审计追踪、项目运行审计追踪、方法审计追踪），每次数据更改都有记录；保证了测试数据的安全性和完整性。? 计量和检定u 本仪器支持标准物质检定和校正校准；操作简单，用户只需使用标准物质进行常规测试操作，然后将测得的数据输入仪器界面即可。? 仪器稳定可靠、易于维修u 红外传感器，精度高，稳定性好，可长时间运行u 传感器超范围自动保护功能，避免仪器故障时重要传感器的损坏u 功能模块化设计，便于维护。产品清单（一）备件部分序号名称备注数量1电源线3*0.75 10A 1.8米1根2通讯线RS232九针数据线1根3 裁样器裁样直径100mm(Tly-0.01)1个4密封脂HFV-GS(HFV-GS 70g)1支5卡套接头1个MC-01-01NPT 1/81个MC-01-02 NPT 1/42个6标准膜125μm1盒7内六角板手M3/M102个8注射器医用一次性1毫升1个9密封圈 注射器密封圈φ126个 1个10叉口板手12mm1把11十字镙丝刀6-10mm1把12鼠标雷柏M101个13木箱1个14金属气管5米1根（二）选配部分序号名称单位数量备注1电脑选配2计量选配3空压机选配（三）客户自备1附件不能有振动源，实验台要求不能有振，且要水平。2标准实验室环境，有空调，温度在23°±2 3电源要求：220V 稳压电源 三孔三位带开关插座一只 4计算机要求：标准配置（Windows7,带一个九针串口.） 5其他配件：用来标定：40升氮气一瓶（纯度99.999%以上），其他气体自定。6干燥皿（所有样品需脱水脱气24小时） 7蒸溜水或者纯净水8空压机

OpTech-O2 Model P顶空氧、溶解氧分析仪多功能与创新 多功能光学氧测量 OpTech-O2对于任何需要在封闭包装或容器内测量氧气的实验室而言都是简单而有效的工具。Optech使用户能够通过透明的箔片以非侵入的方式测量氧气，使其适用于易氧化产品的保质期测定。 OpTech针头和ImPULSE™ 等附加配件传感器使OpTech能够在有限的顶空范围内测量氧气，并通过不透明的包装材料测量氧气。 OpTech使用光学原理测量氧气，意味着不从样品中提取任何气体，从而使其成为长期测试相同包装的理想方法。 优点l 无需气体提取l 氧气的快速读取l 保质期测试l 顶空测量 特性l 非侵入式测量l 重量轻l 包含PC软件l 刺针 如何操作？OpTech-O2铂金传感器能以三种方式有效使用1：铂金传感器能以贴片形式使用；可重复使用的传感器用于透明包装中的顶空应用。使用便捷的真空笔将这些传感器放置在包装内。将包装密封并在包装材料无损的情况下测量氧气。这种传感器类型是包装保质期研究和分配研究的理想选择。 2：ImPULSE™ 铂金传感器测量不透明和蒸馏包装中的氧气，这种传感器可用于长期保质期和呼吸研究。 3：一种刺入式针头包含铂金传感器，用于顶空有限的应用中进行破坏性顶空测量，如咖啡包和吸塑包装。 OpTech带有可选针头(p/n 320191)和ImPULSE™ 传感器(p/n 320193) 技术参数探测器和基座预热时间20分钟探头尺寸4.83x3.30x22.86 cm带针头(高x宽x深)4.83x3.30x15.24 cm带针头（高x宽x深)测量原理荧光共焦光学系统电源和通讯标准功率 USB端口 (2.5 瓦)操作环境10-35℃执行CE/CSA/UL压力补偿针头传感器重复性(0 to 150 mmHg)(150 to 1000 mmHg) ±0.100 %（1000 ppm）氧气或5%的读数，以较大者为准±0.015%（150ppm）氧气或2%的读数，以较大者为准范围0.050% (500 ppm) to 25%操作环境5-40℃传感器:黏合剂ImPULSE测试重复性(已鉴定)±0.015%（150ppm）氧气或3%的读数，以较大者为准黏合剂范围0.001% (10 ppm) to 25% 氧气渗透模式0.015% (150 ppm) 25%顶空模式操作环境5-40℃

仪器简介：全球专业的薄膜沉积生长速率监控系统，采用无损的激光技术实时原位检测薄膜沉积速率、薄膜厚度以及光学常量（n&k），可广泛的应用于金属有机化学气象沉积MOCVD、分子束外延MBE、溅射系统Sputtering和蒸发系统等薄膜沉积过程的实时原位监控。主要特点：*实时薄膜沉积速率、薄膜厚度和光学常数（n&k）分析，同时标准偏差统计分析；*自动程序化校准；*实时反馈系统；*程序控制，可实时多层薄膜沉积监控和控制；*多Wafer监控功能；*Wafer基底旋转监控和控制功能；*所有参量原位实时检测；*操作装配简单便捷；

本源量子无损探针台NDPT-100产品介绍 无损探针台是一款应用于超导量子芯片常温电参数精密测量的半自动化设备，最小测量范围至微米级。 该设 备最大的特点是可以在不影响量子比特性能的情况下，实现量子比特常温电参数的测量。该设备同样适用于半导 体行业的晶圆精密电参数测试。无损探针台NDPT-100产品特点 高稳定性、高运动精度、多自由度可控的芯片吸附载台 显微镜倍率可变，测试最小区域达微米级 探针造成的薄膜伤痕直径最小在1μm以内 半自动化控制，人机交互便捷无损探针台NDPT-100产品参数：测量样品：12 寸及以下；真空吸附XY 方向运动定位精度: 3μm XY 方向重复定位精度：0.5μm Z 向重复定位精度：1μm Z 向分辨率：FULL/HALF STEP 0.5um/0.25μm 显微镜放大倍数：1.25X-15X，分辨率 11.18-1.68μm

1、红外热波无损检测服务公司与首都师范大学、北京航空材料研究院共同在首都师范大学物理系建立了一个红外热波无损检测联合实验室，该实验室拥有可以工程应用的红外热波无损检测设备、技术、企业标准、各种试件，已经开展了大量基础研究和应用实验，获得了多项应用成果。2、专属设备定制公司可以根据不同客户的不同要求和需求定制专属设备，通过定制设计更契合客户的生产应用。a.热像仪选型（进口、国产）b.热激励选型（闪光灯、卤素灯、LED灯、激光）c.数据处理软件（根据用户需求）d.其他我们将以专业的团队为您提供专属的服务，定制专属的产品。公司在客户提出需求后，根据需求快速响应、快速制定方案。您如果愿意了解我们更多的信息，欢迎您来电来函与我们取得联系，随时恭听垂询。

薄膜拉力试验专用裁样器用于各种塑料薄膜、纸张等材料在拉伸，剥离、热封等实验前的裁样。本产品结构紧凑，操作简便，被裁样品光滑无毛刺，有避免因裁样不佳而产生的测量差。产品规格项目技术参数裁样尺寸15mm×210mm（宽度可选）裁样数量10个（单层）样品厚度≤300μm产品尺寸420×310×250mm重量14.8kg 产品特点u 全部由优质钢材制成，结构紧凑，容易组装和拆卸。u 坚固耐用，省力，操作简单。u 裁出的样品尺寸精确，无损伤，边缘光滑无毛刺。u 可根据各户要求订制不同的裁样宽度

德国计量家SURAGUS GmbH，是德国注于薄膜电阻非接触测量(Non-Contact Sheet Resistance Measurement)的公司，总部位于德国德累斯顿。SURAGUS GmbH的技术可广泛应用于多种导电涂层、薄膜、衬底或多层结构的非接触检测。在不损坏、不污染样品的提下，实现对于样品均匀性、缺陷分布、涂层厚度的线上与线下的检测和分析。设备不仅可以保证快速以及高精度测量，而且兼容于真空与非真空两种环境。目，SURAGUS GmbH的产品在多个域都有布局，例如太阳能光伏、玻璃产业、显示域和半导体域等，检测对象包括金属涂层、电、ITO/AZO层，纳米银线膜/碳纳米管薄膜、金属网格、电磁屏蔽薄膜等。技术基于涡流的测试解决方案 (SURAGUS)SURface ArGUS = 表面防护（表面和薄膜上的 100 眼）其他光学计量（OEM）集成商导电功能? 燃料电池组件? 电池芯和电池组? 触摸屏传感器 (TPS)、显示器和平板显示器? 太阳能、半导体行业? LED / OLED 照明其他功能? 医疗传感器（化学）? 包装箔（阻隔）? 建筑玻璃行业（发射率）? 镜子（反射） 医疗（抗菌）设备用途1、在线检测薄层电阻2、在线检测薄膜电导率3、在线检测薄膜表面缺陷、同质性4、在线检测薄膜厚度、面积重量5、在线检测薄膜干燥状态等

仪器简介：高级薄膜测定系统 NKD-8000系统综合了光学、电子学和高级分析软件，是目前测定多层薄膜和基片的折射率、吸收系数和厚度最精确、最易用的系统。NKD-8000系列产品具有全自动、可同时测定透过光谱和反射光谱，入射光角度从0° 到90° 连续改变。对分光光谱仪而言，这是一项前所未有的新功能，使得NKD-8000适用于最具挑战性的光学测量。对多层薄膜和基片的n、k和d的测定变得准确、快捷。技术参数：光谱范围 NKD-8000 350nm&mdash 1000nm ( 标准模式 ) NKD-8000v 280nm&mdash 1000nm ( 紫外增强型) NKD-8000r 800nm&mdash 1700nm ( 红 外 型 ) NKD-8000w 350nm&mdash 1700nm (宽光谱 型 ) NKD-8000e 350nm&mdash 2200nm (超宽光谱 型 ) 注：宽光谱型提供两个检测器，可以覆盖350nm到1000nm和800nm到1700nm或2200nm (仅适用nkd-8000e)，但二者不能同时用。 获得数据时间 2&mdash 10分钟，这取决于光谱范围和不同选件 数据分析时间 5秒&mdash 5分钟，取决于数据的复杂程度 光谱分辨率 1nm或2nm （可选） 光源 NKD-8000v 150W 氙弧灯 其他 高稳态100W石英钨卤灯 样品尺寸 10× 10mm到200× 250mm标准系统,100mm 直径样品的扫描台 层数 至多5层，两个未知参数 薄膜厚度范围 1nm到25um，取决于角度、偏振和波长 1nm 需要增加椭偏模块 基片 透明、半透明或半吸收或半导体 材料 电介质、高聚物、半导体和金属 精确度 对于半吸收薄膜 典型 最大 薄膜厚度 ＜1% ＜3% 折射率 ＜0.1% ＜1% 消光系数 ＜1% ＜3% 对于金属薄膜 薄膜厚度 ＜1% ＜3% 折射率 ＜1% ＜3% 消光系数 ＜1% ＜3% 重现性 透射率 ＜0.01% ＜0.1% 反射率 ＜0.01% ＜1% 折射系数 ＜0.01% ＜0.1% 入射光角度 30° 、50° 或70° （标准单元）或由客户指定的从 20° 到70° 连续可变（可变角版本）或3个位置角度 样品上的光斑尺寸 5mm(标准系统)，250um（选件） 电源 220V，50Hz，2A 或110V，60Hz，3A 外观尺寸 890× 540× 720mm 重量 105Kg 选件 多角度，可变角度，X-Y样品扫描台，多种标准尺寸品架。样品观测显微镜。手动或全软件控制的偏振选件（s-、p-或非偏振）。样品加热台。台式机或工业PC。主要特点：主要特点 ◆ 可测定波长范围从280nm到2300nm的透射和反射光谱 ◆ 在同一区域可同时测定T和R值 ◆ 可对折射率(n)，吸收系数(k) 和厚度(d)进行准确测定 ◆ 样品可在X-Y扫描台上进行扫描 ◆ 入射光角度可以是固定角度、多角度和从0° 到90° 的连续变化的角度 ◆ 可用s-、p-或非偏振光作为入射光对T和R进行测定 ◆ 可对透明基片进行测定且不需要对样品进行前处理 ◆ 内建的材料数据库 ◆ 密封的样品室 ◆ 可选择散射模式 ◆ 具有在线或离线分析功能 对T和R同时测定 KD-8000系统在同一个光斑处，同时对透过光谱和发射光谱进行测定，保证了两套数据具有直接的相关性。通过测定这些光谱，全自动的控制和分析软件系统可以从中得到n、k和d值。而且所有这些都源自同一次测定。不同散射模式的选择使得对宽广范围材料的分析成为可能，而且用户可以选择缺省模式或者高级分析模式。 功能强大的Pro-OptixTM控制和分析软件系统包括一个可编辑的数据库，它允许对材料进行预先定义，以提高分析速度。该软件的其他特点包括颜色的匹配和太阳光的计算以及金属薄膜的算法。样品可以是透明的、不透明的或者半吸收的而无需对它们特殊处理。 NKD-8000是唯一一款能全部提供上述功能的分光型光学薄膜分析系统，它为薄膜表征设立了一个标准。 可变的入射光角度 ①反射光检测 ②光束管 ③Y轴坐标 ④透射光检测器 ⑤Z轴坐标 ⑥X轴坐标 ⑦样品台 ⑧马达驱动的可变角度选择装置 NKD-8000系统提供可变的角度选择装置，它提供完全马达驱动的，可由PC机控制入射光的角度，入射角度从从0° 到90° 可自由选择。 通过使用分析软件中的集成工具就可实现对T和R的s-偏振光谱和p-偏振光谱进行独立分析或二者一起分析。 通过作为选件的X-Y扫描台可以对大尺寸样品进行扫描，样品在X、Y两个方向上的最大行程是100mm，同时保持入射光斑始终位于行程的中间。 在测定时有许多样品架备选，它们可以夹持不同类型尺寸的样品。全PC控制使这种方法对整个样品的数据收集和分析变得简单、准确和快捷。 多个角度 如果在应用中只需一些不连续的入射光角度，那么多角度选件可以提供一个满意的解决方案。从0° 到90° ，用户可自定义三个入射光角度。 附件 热台：可控制样品温度至150度，测定变温下的T和R，对测定光学涂层和基体的光谱位移十分有用。 显微镜/相机：对样品进行显微分析。 微光斑附件：将入射光斑聚焦至200微米，特别适合表征微小样品和局部区域。

薄膜塑料介电常数介质损耗测试仪依据国标GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美标ASTM D150以及国际电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)自动测量的解决方案。本仪器中测试装置是由平板电容器组成，平板电容器一般用来夹被测样品，配用Q表作为指示仪器。绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的Q值变化和厚度的刻度读数通过公式计算得到。使用QBG-3E或AS2853A数字Q表具有自动计算介电常数（ε）和介质损耗（tanδ）。薄膜塑料介电常数介质损耗测试仪信号源范围DDS数字合成信号10KHZ-70MHz10KHZ-110MHz100KHZ-160MHz信号源频率覆盖比7000:111000:116000:1信号源频率精度 6位有效数3×10-5 ±1个字 3×10-5 ±1个字 3×10-5 ±1个字 采样精度11BIT11BIT12BIT高精度的AD采样，了Q值的稳定性，以及低介质损耗材料测试时候的稳定性Q测量范围1-1000自动/手动量程1-1000自动/手动量程1-1000自动/手动量程Q分辨率4位有效数,分辨率0.14位有效数,分辨率0.14位有效数,分辨率0.1Q测量工作误差5%5%5%电感测量范围 4位有效数,分辨率0.1nH1nH-8.4H ,分辨率0.1nH1nH-8.4H 分辨率0.1nH1nH-140mH分辨率0.1nH电感测量误差3%3%3%调谐电容主电容30-540pF主电容30-540pF主电容17-240pF电容直接测量范围1pF～2.5uF1pF～2.5uF1pF～25nF调谐电容误差分辨率±1pF或1%0.1pF±1pF或1%0.1pF±1pF或1%0.1pF谐振点搜索自动扫描自动扫描自动扫描Q合格预置范围 5-1000声光提示5-1000声光提示5-1000声光提示Q量程切换自动/手动自动/手动自动/手动LCD显示参数F，L，C，Q，Lt，Ct波段等F，L，C，Q，Lt，Ct波段等F，L，C，Q，Lt，Ct波段等自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能()有有有大电容值直接测量显示功能()测量值可达2.5uF测量值可达2.5uF测量值可达25nF介质损耗系数精度 万分之三精度 万分之三精度 万分之一介损系数万分之一万分之一万分之一介电常数精度 千分之一精度 千分之一精度 千分之一材料测试厚度0.1mm-10mm0.1mm-10mm0.1mm-10mm薄膜塑料介电常数介质损耗测试仪固体：材料测量直径Φ50mm/Φ38mm/Φ6mm 可选；厚度可调≥ 15mm （二选一） 液体：测量极片直径Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）薄膜塑料介电常数介质损耗测试仪特点：　　1、自动Q值保持技术，使测Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005 。　　2、能对固体绝缘材料在10kHz～120MHz介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。　　3、调谐回路残余电感值低至8nH，保证100MHz的(tanδ)和(ε)的误差较小。　　4、LCD屏菜单式显示多参数：Q值、测试频率、调谐状态等。　　5、Q值量程自动/手动量程控制。　　6、DPLL合成发生1kHz～60MHz, 50kHz～160MHz测试信号。信号源输出口，所以本机又是一台合成信号源。　　7、测试装置符合国标GB/T 1409-2006，美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。薄膜塑料介电常数介质损耗测试仪介电常数测试仪按测试频率要求，需要配置不同量的电感器。　　例如：在1MHz测试频率时，要配250μH电感器，在50MHz测试频率时，要配0.1μH电感器等。　　高频介质样品(选购件)：　　在现行高频介质材料检定系统中，检定部门为高频介质损耗测量仪提供的测量标准是高频标准介质样品。　　该样品由人工蓝宝石、石英玻璃、氧化铝陶瓷、聚四氟乙烯、环氧板等材料做成Φ50mm，厚1～2mm测试样品。用户可按需订购，以保证测试装置的重复性和准确性。

光焱科技REPS新型太阳能电池Voc损耗分析仪簡介光焱科技REPS新型太阳能电池Voc损耗分析仪是一个完整的系统，可以帮助科学家测量、计算和分析工作中的太阳能电池中的 Voc-loss，并为下一步的工艺改进提供思路。REPS可以检测极低的 EL-EQE 信号（低至 10-5%，即 7 个数量级），还可以计算热力学 Voc、辐射复合 Voc 和非辐射复合 Voc（通过其软件SQ-VLA）。此外，也可以在一个柱状图中分析不同类型设备之间的ΔE1、ΔE2和ΔE3损耗。重要的是，分析软件可以帮助用户将计算出的Voc-loss与设备IV曲线的真实Voc-loss进行匹配，从而促进研究进展和期刊发表。特色 *它可以测量：absolute EL-EQE、EL spectra(V)、JV curve、EQE-J。*该软件可以显示的图表包括。EL-EQE(J)、EL-EQE(V) 、multi-EL-spectra、 JVL曲线、ΔE1、 ΔE2、和ΔE3直方图。*该系统可以计算和分析热力学Voc、辐射复合Voc和非辐射复合Voc。*波长检测范围:300~1100纳米；并可扩展到1700纳米（选项）。* NIST-traceable absolute radiometric calibration（瓦特，从300~1100纳米）。*EL-EQE检测范围：10-5%到极大值（动态范围7阶）。* EL-EQE un-repeatability 1%。* EL-EQE un-reproducibility 1.5%。*EL低光检测SN比：50:1 @5×10-5%（REPS Pro）。*Glove Box 整合工具包。*客制的测试夹具。规格我们提供三种不同类型的REPS系统来满足你的要求，它们具有不同的检测能力和速度。*REPS Pro*REPS Plus*REPS SE应用范围光焱科技REPS新型太阳能电池Voc损耗分析仪可用于：– 改善OPV的Voc-loss– 改善钙钛矿 Voc-loss– 电荷传输状态识别

测试应用基础应用薄膜适用于各种塑料薄膜、塑料复合薄膜、纸塑复合膜、共挤膜、镀铝膜、铝箔、铝箔复合膜、玻纤铝箔纸复合膜等膜状材料的水蒸气透过率测试片材适用于各种工程塑料、橡胶、建材等片状材料的水蒸气透过率测试。如PP片材、PVC片材、PVDC片材等纸张、纸板及其复合材料适用于纸张、纸板的水蒸气透过率测试，如烟包镀铝纸、纸铝塑复合片材等容器用于塑料、橡胶、纸、纸塑复合、玻璃、金属等材料做成的瓶、袋、罐、盒、桶的水蒸气透过率测试，如可乐瓶、花生油桶、利乐包装、真空包装袋、金属三片罐、塑料化妆品包装、牙膏软管、果冻杯等 扩展应用容器封盖用于各种容器封盖的密封性能测试液晶显示屏膜适用于液晶显示屏膜的水蒸气透过率测试太阳能背板适用于太阳能背板的氧气透过率测试药品塑料瓶、保健品瓶用于药品瓶、保健品塑料瓶的水蒸气透过率测试，如眼药水瓶，输液袋及保健品塑料瓶等塑料管材用于各种材料管子的水蒸气透过率试验，如PPR管材医药泡罩用于医药泡罩整体水蒸气透过率的测试无菌护创膜、医用膏药贴剂用于无菌护创膜、医用膏药贴剂等材料的水蒸气透过率测试汽车油箱塑料油箱以其质量轻、缓冲震动、易于成型等优点在汽车上大量应用，但其对燃油的阻隔性能至关重要，本设备可提供塑料燃油箱的阻隔性测试电池塑料外壳电瓶内装有电解液，电瓶的塑料外壳的阻隔性能直接影响电瓶的寿命，本设备可用于电瓶的塑料外壳的阻隔性试验方便面、纸杯、纸碗用于方便面纸碗、一次性纸杯等材料的整体性水蒸气透过性测试工作原理采用国际流行测试方法库仑电量法原理，测试腔分上下两部分，薄膜固定在中间，高纯氧气在薄膜的上腔流动，高纯氮气在薄膜的下腔流动，氧分子透过薄膜扩散到另一侧的氮气中，被流动的氮气携带至传感器，通过对传感器测量到的氧气浓度进行分析，从而计算出氧气透过量。对于包装容器而言，氮气则在容器内流动，空气或高纯氧气包围在容器的外侧。被测薄膜的氧气渗透率可以显示单位为OTR（cm3/m2.24h）和 ppm。符合标准GB/T19789-2005、ASTM D3985、ASTM F1927、ASTM F1307、ASTM F2622 、ISO 15105-2、YBB00082003-2015、DIN 53380-3、JIS K-7126-B等标准产品规格项目技术参数测试范围0.02～16500 cm3/（㎡24h0.1Mpa）（薄膜）薄膜透过面罩zui大可测试260000 cm3/（㎡24h0.1Mpa）测氧分辨率0.001 cm3/（㎡24h0.1Mpa）控温范围15～45℃（5～50℃选装）控温精度±0.1℃控湿范围0%～90%RH控湿精度±1%RH透过面积50.24 cm2试样尺寸Φ100 mm试样厚度≤3mm试样数量1～3件载气压力0.1MPa~0.2MPa气源接口1/8英寸金属管外形尺寸610×550×400mm重量57.1kg功率1000W电源AC 220V，50Hz产品特点1、数据准确可靠 我司具备由《国家质量监督检验检疫总局》批准及颁发的：水汽透过率测定仪《国家标准物质定级证书》和《国制标物》制造计量器具许可证（GBW(E)130543/4）。采用国家标准物质对仪器进行校正、检定，保证检测数据的准确性、通用性、权威性。 2、操作简便专业软件支持，软件界面简单明了，容易操作，测试流程可灵活设置。全自动操作，一键测试，自动判断，自动停机。旁通、冲洗、测试、做基线程序全自动控制，实验状态实时显示。 温度、湿度、水汽浓度、透过量四组曲线实时显示，曲线支持预览隐藏功能，支持后台数据库查询功能。主机配置彩色触摸屏，无需外置电脑，可实时观察温度、湿度、透过量。专业测试报告，报告自动生成，可导出Office、PDF等格式的文件。 3、技术先进性温度控制：电磁程序步进控温技术，自动升温、降温；测量精度高，精确到0.1℃。湿度控制：采用双气流(干气和湿气)湿度法控湿，精确到1%RH，湿度稳定。搭载科技前沿的ARM控制系统，可脱离计算机独立运行检测。 4、测试效率高三腔独立，配置三套温湿度传感器。每腔独立测试，独立停机换样，可测三个相同或不同的样品，出三份独立的测试报告，提高有效测试效率。具有高、中、低阻隔三种测量模式，适应不同阻隔性的薄膜测试。测量精度达0.001 g/m224h，可以测铝箔等高阻隔性材料。加装适配附件，可测瓶、袋、碗等容器的水汽透过量。 5、权限管理和数据追踪软件根据新版GMP附录计算机化系统的要求进行设计。需要用户名密码登录工作站。用户分为操作者和管理员等多种级别（如管理员，操作员，观察者等但不限于这些级别）。管理员可对各种级别进行权限调整；如增加和减少某一级别的系统控制项目。具有审计追踪功能（系统审计追踪、项目运行审计追踪、方法审计追踪），每次数据更改都有记录；保证了测试数据的安全性和完整性。 6、计量和检定本仪器支持标准物质检定和校正校准；操作简单，用户只需使用标准物质进行常规测试操作，然后将测得的数据输入仪器界面即可。 7、仪器稳定可靠、易于维修进口电解传感器，精度高，稳定性好，可长时间运行传感器超范围自动保护功能，避免仪器故障时重要传感器的损坏功能模块化设计，便于维护。

ATAGO（爱拓）无损非破坏（红外）糖度计 ——PAL-HIKARi 7（蓝莓）ATAGO（爱拓）无损非破坏（红外）糖度计—— PAL-HIKARi 7（蓝莓），又称为蓝莓无损糖度计，蓝莓无损测糖仪无需采摘果实 无需破坏果皮 无需切取果肉 无需榨汁取样【产品参数】型号PAL-HIKARi 7（蓝莓）适用水果蓝莓货号5457测量范围Brix 8.0 ～ 20.0%测量精度Brix ±2.0% *保证精度温度范围10.0 ～ 35.0°C，视测量品种及测量环境而定分辨率Brix 0.1%重复性Brix ±1%自动温度补偿范围15.0 ～ 30.0°C *先让蓝莓适应环境温度片刻国际防护等级IP64电池寿命约4,000次（使用碱性电池）电源AAA 碱性电池×2尺寸和重量6.1×6.4×11.5cm，153g（仅主机）ATAGO（爱拓）水果无损测糖仪 PAL-HIKARi系列【关于 ATAGO】ATAGO（爱拓）专注折光仪超80年，每年超过20000台折光仪服务于中国客户。主要产品有：折光仪、旋光仪、糖度计、盐度计、粘度计、浓度计、pH计等等。ATAGO（爱拓）产品应用行业覆盖：食品饮料、果蔬种植、制糖行业、日用化工、生物医药、石油化工、液晶薄膜、新材料、半导体、光伏光电、汽车制造、金属机械加工、质检机构、高校科研等多种领域。更多产品咨询，敬请致电：400-860-5586，谢谢！

薄膜介电常数介质损耗测试仪HRJD-A如果不用保护环，而且试样上下的两个电极难以对齐时，其中一个电极应比另一个电极大些。已经加有电极的试样应放置在两个金属电极之间，这两个金属电极要比试样上的电极稍小些。对于平板形和圆柱形这两种不同电极结构的电容计算公式以及边缘电容近似计算的经验公式由表1给出。当需要高精度测定液体电介质的相对电容率时，应首先用一种已知相对电容率的校正液体（如苯）来测定“电极常数'。采用上述方法测定液体电介质的相对电容率时，可保证其测得结果有足够的精度，因为它消除了由于寄生电容或电极间隙数值的不准确测量所引起的误差。对于介质损耗因数的测量，这种类型的电极在高频下不能满足要求，除非试样的表面和金属板都非常平整。图1所示的电极系统也要求试样厚度均匀。薄膜介电常数介质损耗测试仪HRJD-A当试样插入和不插人时，电容都能调节到同一个值，不需进行测量系统的电气校正就能测定电容率。电极系统中可包括保护电极。薄膜介电常数介质损耗测试仪HRJD-A介电常数测试仪按测试频率要求，需要配置不同量的电感器。　　例如：在1MHz测试频率时，要配250μH电感器，在50MHz测试频率时，要配0.1μH电感器等。　　高频介质样品(选购件)：　　在现行高频介质材料检定系统中，检定部门为高频介质损耗测量仪提供的测量标准是高频标准介质样品。　　该样品由人工蓝宝石、石英玻璃、氧化铝陶瓷、聚四氟乙烯、环氧板等材料做成Φ50mm，厚1～2mm测试样品。用户可按需订购，以保证测试装置的重复性和准确性。板状试样考虑下面两点很重要：a）不加电极，测量时快而方便，并可避免由于试样和电极间的不良接触而引起的误差。b）若试样上是加电极的，由测量试样厚度h时的相对误差△h/h所引起的相对电容率的相对误差△εr/εr可由下式得到：……………………………（12）式中：△εr——相对电容率的偏差；εr——相对电容率；h——试样厚度； Ah——试样厚度的偏差。若试样上加电极，且试样放在有固定距离Sh的两个电极之间，这时 ……………………………（13）式中：△εr、εr、h同式（12）。εr——试样浸入所用流体的相对电容率，对于在空气中的测量则εr等于1。对于相对电容率为10以上的无孔材料，可采用沉积金属电极。对于这些材料，电极应覆盖在试样的整个表面上，并且不用保护电极。对于相对电容率在3〜 10之间的材料，能给出高精度的电极是金属箔、汞或沉积金属，选择这些电极时要注意适合材料的性能。若厚度的测量能达到足够精度时，试样上不加电极的方法方便而更可取。假如有一种合适的流体，它的相对电容率已知或者能很准确地测出，则采用流体排出法是的。薄膜介电常数介质损耗测试仪HRJD-A可以用于科研机关，例如一些科研院所，大专院校或计量测试部门的实验室需要用介电常数测试仪对绝缘材料的介电常数进行测试；同时也适用于工厂或单位，例如一些工厂对无机非金属新材料性能的应用进行研究，另外在电力、电工、化工等领域，如：电厂、电业局实验所、变压器厂、电容器厂、绝缘材料厂、炼油厂等单位对固体及液体绝缘材料的介质损耗和相对介电常数ε的质量检测等。　　薄膜介电常数介质损耗测试仪HRJD-A我们公司的原则是:“ 诚实守信，服务至上，互惠互利，共谋发展”我们将以与您携手发展、共创辉煌！竭诚欢迎新老用户光临！真诚希望与各界朋友精诚合作，共创美好未来！