无损薄膜太阳池析器

- 太阳能电池薄膜测试.- 太阳能电池I-V测试.- 太阳能电池EL成像.Product Example联系方式：025-84615783

红外 (IR) 薄膜分束器Ø3 - 5µm 的平均 R/T 比为 45/55Ø没有来自第二表面反射的重影Ø消除光束位移Ø还提供用于 VIS-NIR 的薄膜分束器红外 (IR) 薄膜分束器采用安装在铝制框架中的薄硝化纤维素分束膜，设计为具有 3 - 5µm 的 45R/55T 分束比。 薄硝酸纤维素膜消除了第二表面反射和光束位移，同时最大限度地减少了光路长度的变化。 铝制框架在框架下侧具有安装孔，便于安装和集成到 OEM 系统中。红外 (IR) 薄膜分束器是 MWIR 应用的理想选择，包括 MWIR 成像、红外光谱、火焰检测和红外探测器的一般用途。注意：这些分束器的硝化纤维膜非常薄且易碎。 不得接触膜，只能使用空气进行清洁。 我们建议使用鼓风机，因为来自压缩空气的力可能会损坏膜。通用规格基材:Nitrocellulose反射/透射比 (R/T):45/55波长范围 (nm):3000 - 5000镀膜:Dielectric镀膜规格:45/55 @ 3000 - 5000nm构造 :Pellicle外壳:Black Anodized Aluminum折射率 nd:1.5表面质量:40-20厚度 (μm):2 +0.3/-0.2产品型号Dia. (mm)CA (mm)产品编码19.0512.7#19-28034.9025.4#19-28163.5050.8#19-28288.9076.2#19-283114.30101.6#19-284165.10152.4#19-285技术数据低损耗 IBS 镀膜激光偏振器Ø1064nm Nd:YAG 设计波长Ø在 45° AOI 具有 10,000:1 的高消光比Ø低损耗离子束溅射 (IBS) 镀膜Ø采用 10-5 表面质量的 UV 熔融石英基片低损耗 IBS 镀膜激光偏振器用于传输 p 偏振光，同时反射 s 偏振光，消光比高达 10000:1。这些偏振器具有离子束溅射 (IBS) 镀膜，设计用于在 45° 入射角下实现最佳的低损耗性能。它们由紫外熔融石英基片制成，与高功率激光器一起使用时可将热效应降至低，并且具有 10-5 的激光级表面质量。低损耗 IBS 涂层薄膜激光偏振器非常适合与 1064nm Nd:YAG 激光器一起使用，以分离或组合 s 偏振和 p 偏振激光。如果您的应用需要具有定制尺寸、镀膜或其他激光应用要求的低损耗 IBS镀膜激光偏振器，请与我们联系。注意：这些光学元件边缘上的箭头指向薄膜偏振片镀膜。产品型号DWL (nm)消光比CA (mm)表面质量Dia. (mm)厚度 (mm)产品编码106410,000:12010-525.406.35#16-747爱特蒙特光学® F-Theta 透镜Ø激光扫描应用的理想选择Ø扫描场上的衍射受限，波前误差低Ø长工作距离和大扫描区域Ø还提供振镜、扩束器和激光源Edmund Optics® F-Theta 透镜旨在在扫描系统的图像平面提供平场，并与检流计、扩束器和激光源结合使用。 这些 F-Theta 透镜具有紧凑的外形，提供高达 273 毫米的各种焦距和高达 164 毫米 (X) x 164 毫米 (Y) 的大扫描场。 这些透镜针对常见的光纤激光源和 Nd:YAG 基波或二次谐波进行了优化，设计波长为 532nm 和 1064nm，具有通用安装螺纹，可轻松集成到振镜系统中。 爱特蒙特光学® F-Theta 透镜是用于激光扫描和激光加工应用（包括激光打标、雕刻、切割、钻孔和 3D 建模）的经济高效的解决方案。产品型号DWL (nm)扫描角 (°)扫描场 (mm)类型WD (mm)产品编码532±22.6856.5 x 56.5F-Theta Lens94.5#15-185532±25.00101.8 x 101.8F-Theta Lens193.5#15-1861064±18.6035.4 x 35.4F-Theta Lens72.1#15-1781064±22.6856.5 x 56.5F-Theta Lens107.9#15-1791064±22.6286.0 x 86.0F-Theta Lens171.2#15-1801064±28.50116.2 x 116.2F-Theta Lens188.1#15-1811064±25.00157.0 x 157.0F-Theta Lens304.6#15-1821064±24.10164.0 x 164.0F-Theta Lens313.0#15-183光散射膜Ø散射 UV 到 NIR 范围的照明光线Ø柔性聚合物基片Ø易于根据尺寸进行切割Ø另外提供玻璃散射片L光散射膜由 TAC 聚合物材料制成，可对 UV 到 NIR 范围的照明光线提供散射。可以轻松地根据尺寸对这种薄膜进行切割，以满足应用要求，可以使用轻松地根据尺寸对这种薄膜进行切割，以满足应用要求，可以使用光学胶粘剂将其粘附到玻璃表面。光散射膜非常适用于机器视觉、视觉检测和自动检测应用，以散射LED 光源，从而产生无热点的均匀照明。若您的应用需要自定义尺寸的光散射膜，或需要将光散射膜层压到光学组件（例如光学窗口片、有色玻璃和聚合物偏振片）上，请联系我们。通用规格涂层:Uncoated厚度 (mm):0.13 ±0.005波长范围 (nm):300 - 1100注意:Protective film on both surfaces should be removed before use产品型号涂层尺寸 (mm)产品编码Uncoated100 x 100#17-683Uncoated300 x 300#17-682技术数据E 系列无边缘运动光学反射镜安装座Ø用于安装分光镜和透射式光学元件的 120° 无边缘Ø价格实惠Ø对实验和 OEM 系统不可或缺的安装座E 系列无边缘运动光学反射镜安装座可提供许多对于研发、原型制造和系统集成领域的应用而言不可或缺的功能。这些安装座具有 120° 切口，非常适用于安装分光镜和透射式光学元件，若以 45° 角安装，还能容纳更宽的光束路径。两个 M6 x 0.25 (101.6 TPI) 调节螺丝可提供平稳的移动，可以通过手或内六角扳手（扳手大小 2mm）驱动，以实现翻转和倾斜的光学调整与对齐 (±3.5°)。可以拆卸调节螺丝旋钮，从而使外形更紧凑。E 系列无边缘运动光学反射镜安装座具有安装孔，这些孔是埋头孔（设计目的为容纳 M4 或 8-32 安装硬件）和 M6 x 1.0 内螺纹孔（用于提高安装的多用性，以及与TECHSPEC® 公制不锈钢安装接杆和底座接杆的直接兼容性）。通用规格光学类型:Circular调节螺丝数目:2构造 :Aluminum Plates, Stainless Steel Screws, and Brass Thread BushingsMin. Thickness of Compatible Optics (mm):2微倾斜角度 (°) :±3.5微翻转角度 (°) :±3.5调节螺丝螺距 (mm):0.25Compatible Post:M6 x 1.0, M4 x 0.7, 8-32产品型号兼容光学大小 (mm)Optical Axis Height产品编码12.5/12.725.40#17-27825/25.425.40#17-27950/50.838.10#17-280

太阳能电池硅片清洗花篮 品牌：瑞尼克型号：RNKHL加工定制：是用途：清洗别名：花篮、承载篮用于半导体硅片,晶片,玻璃,液晶屏等清洗、腐蚀设备的承载花篮，太阳能电池片花蓝、太阳能硅片花蓝_太阳能硅片承载器、光伏电池片花蓝、光伏硅片花蓝，用于太阳能电池硅片清洗设备中,用于承载方形太阳能电池硅片，材质为PTFE，本产品即在100℃以下的NaOH溶液、HCl溶液、HF等溶液中对硅片进行清洗、转换，且长期使用不变形、不污染硅片.特点：1.外观纯白色。2.耐高低温：可使用温度-200℃～＋250℃。3.耐腐蚀：耐强酸、强碱、王水和有机溶剂，且无溶出、吸附和析出现象。4.防污染：金属元素空白值低。5.绝缘性：不受环境及频率的影响，介质损耗小，击穿电压高。6.耐大气老化，耐辐照和较低的渗透性。7.自润滑性：具有塑料中小的摩擦系数。8.表面不粘性：是一种表面能小的固体材料。9.机械性质较软，具有非常低的表面能。聚四氟乙烯（PTFE）系列产品：培养皿、坩埚、试剂瓶、试管、镊子、药匙、烧瓶、烧杯、漏斗、容量瓶、蒸发皿、表面皿、阀门、接头、离心管等。

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微泄漏无损密封测试仪MLT-V100（T）产品介绍：MLT系列微泄漏无损密封测试仪依据《ASTM F2338-2013 包装泄漏的标准检测方法-真空衰减法》 标准研发。专业适用于各种空的/预充式 注射器、水针及粉针瓶（玻璃/塑料）、灌装压盖瓶、奶粉罐、其他硬质包装容器、电器元件等试样的无损正、负压的微泄漏测试。本产品采用先 进的设计和严谨、科学的计算方法保证了其快速测试和高准确度及高稳定性。亦可满足用户的非标准（软件或测试夹具）定制。执行标准：《ASTM F2338-13 包装泄漏的标准检测方法-真空衰减法》 《USP1207美国药典标准 》 《药品GMP指南——无菌药品》11.1密封完整性测试 《中国药典》2020年版四部 微生物检查法 《化学药品注射剂包装系统密封性研究技术指南（试行）》《YYT 0681.18-2020 无菌医疗器械包装试验方法第18部分：用真空衰减法无损检验包装泄漏》技术优势：● 内置10吋触摸屏电脑 与外置电脑可选； ● 单样检测过程用时在15S内（管路、腔体的抽真空，保压和样品测试时间）； ● 可精确显示泄漏孔径（≥1μm）及泄漏量 ； ● 测试腔与主机为分体布局，一套测试腔适用5种以上规格试样； ● 测试腔为铝合金或不锈钢制造，气动夹持； ● 内置流量计，一键完成流量校准； ● 具备零点、漏孔、流量3种校准方式； ● 测试结果具备压力衰减、泄漏孔径、泄漏流量三种判断模式 ● 测试结果流量误差≤0.1sccm ● 真空分辨率≤1pa/0.01mbar/0.0001psi ● 具备（kpa/mbar/pa/psi）等测试单位转换 ● 可检测西林瓶，输液袋，隐形眼镜、奶粉罐，电子配件等各种软、硬试样的正负压力衰减测试； 微泄漏无损密封测试仪MLT-V100（T） 微泄漏无损密封测试仪MLT-V100（T）

这是一个量身定做的石墨烯产品。将您的基板发送到我们的实验室（包括您的订购ID和您的电子邮件地址作为参考），我们使用我们创新的方法把单层石墨烯转移在它的上面并发送到您指定的地址。我们已经成功地转移石墨烯到以下物质：设备、太阳能电池、发光二极管、黄金。氧化铝、眼镜和蓝宝石。石墨烯薄膜：增长方法：CVD合成、转移方法：清洁转印方法、质量控制：光学显微镜、拉曼光谱、扫描电镜和透射电镜批签，外观（颜色）：透明，透明度97%,外观：膜。覆盖范围95%、石墨烯层数量1，厚度0.345nm，场效应管电子流动率AI2O3 2,800cm2/VS，对二氧化硅来说流动率为3,500cm2/VS，表面电阻：170 Ohms/sq,尺寸10μm。

目标应用： 半导体薄膜（光刻胶） 玻璃减反膜测量 蓝宝石薄膜（光刻胶） ITO薄膜 太阳能薄膜玻璃 各种衬底上的各种膜厚 卷对卷柔性涂布 颜色测量 车灯镀膜厚度 其他需要测量膜厚的场合 阳极氧化厚度产品型号A3-SR-100 产品尺寸 W270*D217*（H90+H140）测试支架（配手动150X150毫米测量平台和硅片托盘）测试方式可见光,反射 波长范围380-1050纳米光源钨卤素灯(寿命10000小时) 光路和传感器光纤式(FILBER )+进口光谱仪 入射角0 度 (垂直入射) (0 DEGREE) 参考光样品硅片光斑大小LIGHT SPOTAbout 1 mm（标配，可以根据用户要求配置）样品大小SAMPLE SIZE150mm,配150X150毫米行程的工作台和6英寸硅片托盘 膜厚测量性能指标（THICKNESS SPECIFICATION）：产品型号A3-SR-100厚度测量 1Thickness15 nm - 100 um 折射率 1（厚度要求）N 100nm and up准确性 2 Accuracy 2 nm 或0. 5%精度 3precision0.1 nm1表内为典型数值, 实际上材料和待测结构也会影响性能2 使用硅片上的二氧化硅测量，实际上材料和待测结构也会影响性能3 使用硅片上的二氧化硅（500纳米）测量30次得出的1阶标准均方差,每次测量小于1秒.

有需求请联系上海昭沅仪器设备有限公司！ 021-35359028/29 氧化硅薄膜窗氧化硅薄膜窗RISUN推出新型二氧化硅薄膜窗系列产品。与氮化硅相比，氧化硅更易遭受化学侵蚀，且坚固性更差。但在X-射线显微镜中，由于没有N原子存在而倍受青睐。氧化硅与氮化硅薄膜窗比较：相比氮化硅薄膜，氧化硅薄膜更适合用于含氮样本。在EDS研究中，如基片薄膜含氮，则会与样本造成混淆。RISUN氧化硅薄膜窗特点许多研究纳米微粒，特别是含氮纳米微粒的人员发现此种薄膜窗格在他们实验中不可缺少。气凝胶和干凝胶的基本组成微粒尺寸极小，此项研究人员也同样会发现SPI氧化硅薄膜窗格的价值。 SEM应用中，薄膜背景不呈现任何结构和特点。 X射线显微镜中，装载多个分析样的唯一方法。 无氮RISUN氧化硅薄膜窗规格薄膜厚度窗口尺寸框架尺寸型号50nm1.5X1.5mm5.0X5.0mmRISUN100nm1.5X1.5mm5.0X5.0mm200nm1.5X1.5mm5.0X5.0mm硅片厚度：200um、381um、525um；定制系列RISUN也可以根据用户需求定制不同膜厚的氧化硅窗口。本产品为一次性产品，不建议用户重复使用；本产品不能进行超声清洗，适合化学清洗、辉光放电和等离子体清洗。应用简介实际上，RISUN氧化硅薄膜应用范围非常广，但所有应用都有无氮要求（因样本中有氮存在）：1. 惰性基片可用于高温环境下，通过TEM、SEM或AFM（某些情况下）对反应进行动态观察。2. 作为耐用（如“强力”）基片，首先在TEM下，然后在SEM下对同一区域进行“匹配”。3. 作为耐用匹配基片，对AFM和TEM图像进行比较。4. 聚焦离子束（FIB）样本的装载。5．用作Ti、V、Mo等滤光器基质；用于X-射线光学设备中，如分光器定制服务：本公司接受特殊规格的产品预订，价格从优。详情请咨询：admin@instsun.com

蓝色LED光源， 广泛用于核酸或蛋白质凝胶染色的观察。与传统的紫外透射仪相比:-蓝光光源，使实验人员的易暴露部位，如：眼睛、脸、手等部位免受紫外线伤害-对核酸片段无损伤，不会因照射导致片段断裂、交联、替换等损害-环保节能长效冷光源，无需经常更换灯管，省钱免维护产品优势:紧凑– 节省实验室空间小巧 - 方便移动安全 - 对人和样品无损伤精确 - 灵敏度高均一 - 可以观察胶的任何位置人性化 - 方便观察和切胶通用技术参数1. 蓝色LED激发光源：470nm，无需蓝色滤光片2. 光强比普通的透射光强3倍3. 光强从100%到50%可以调节4. 黄色滤光屏：可以屏蔽蓝光，让发射光透过，滤光屏可以自由翻转，在任意位置固定，方便切胶5. 检 测的灵敏度0.1ng6. 变异系数：7. 观察面积：16×20cm8. LED光源的寿命：5万个小时9. 体积：28×34×8cm（D×W×H），占用空间少10. 重量：3kg11.用途：用于EB替代荧光染料的激发，如SYBR? Safe, SYBR Gold, SYBR? Green I & II, SYPRO? Ruby, SYPRO? Orange, Coomassie Fluor? Orange stains, GelGreen, GelRed 和 Lumitein? Protein Gel Stain等，凝胶观察和切胶操作

多孔氮化硅薄膜窗口特点 ● 相对大的实验区域；● 增加了薄膜的弹性；● 孔的尺寸适合实验要求；● 薄膜边缘有25μm宽度是无孔的；多孔氮化硅薄膜窗参数：框架大小：Φ3mm； 框架厚度：200μm；薄膜厚度：50/100nm；窗口大小：0.5x0.5mm；孔径：2.5μm；孔间距：4.5μm；孔排列：100x100；详细资料请咨询：上海昭沅仪器设备有限公司 021-35359028/29 admin@instsun.com

透射电镜（TEM）用氧化硅薄膜窗格 氧化硅与氮化硅薄膜窗格比较： 相比氮化硅薄膜，氧化硅薄膜更适合用于含氮样本。在EDS研究中，如基片薄膜含氮，则会与样本造成混淆。 样本安置面：对多数用户来说，样本应安置在薄膜窗格的&ldquo 覆膜面&rdquo 而非&ldquo 蚀坑面&rdquo 。但我们也知道在一些特殊情况下，蚀坑面也可安置样本。除对样本进行原子力显微镜（AFM）观测外，蚀坑面本质上并非不可用于放置样本。实际上，没有一个显微镜的悬臂可以伸至蚀坑内&ldquo 看清&rdquo 薄膜表面。 产品规格： 氧化硅薄膜窗特点： 清洗：采用等离子清洗，无有机物残留，改善成像质量； 均匀性：减少了不同区域的不均匀性； 稳定性： 耐高温，1000℃； 良好的化学稳定性：图像分辨率和机械强度达到理想的平衡； 化学计量比的SiO2：可用于氮气环境下的EDX分析； 氧化硅薄膜窗规格窗口类型薄膜厚度窗口尺寸框架尺寸框架厚度20nm2x1阵列，100X1500μmΦ3mm200μm40nm2x1阵列，100X1500μmΦ3mm200μm20nm3x3阵列，窗口100X100μmΦ3mm200μm40nm3x3阵列，窗口100X100μmΦ3mm200μm8nm窗口0.5x0.5mm，氮化硅薄膜200nm；24个网格，网格大小70x70μmΦ3mm200μm18nm窗口0.5x0.5mm，氮化硅薄膜200nm；24个网格，网格大小60x60μmΦ3mm200μm40nm窗口0.5x0.5mm，氮化硅薄膜200nm；24个网格，网格大小50x50μmΦ3mm200μm优点： SEM应用中，薄膜背景不呈现任何结构和特点。 x-射线显微镜中，装载多个分析样的唯一方法。 无氮 应用： 氧化硅薄膜应用范围非常广，甚至有时使不可能变为可能，但所有应用都有无氮要求（因样本中有氮存在）： ● 惰性基片可用于高温环境下，通过TEM、SEM或AFM（某些情况下）对反应进行动态观察。 ● 作为耐用（如&ldquo 强力&rdquo ）基片，首先在TEM下，然后在SEM下对同一区域进行&ldquo 匹配&rdquo 。 ● 作为耐用匹配基片，对AFM和TEM图像进行比较。 ● 聚焦离子束（FIB）样本的装载，我们推荐使用多孔薄膜，而非不间断薄膜。 氧化硅薄膜TEM网格操作使用： 如果正确操作，氧化硅薄膜将会拥有非常好的性能。相反，若用工具直接接触薄膜，则会即刻损坏薄膜。为防损坏，可用尖嘴镊子小心夹取，就像夹取其他TEM网格一样。 使用前清洁： 氧化硅薄膜窗格在使用前不需进行额外清洁。有时薄膜表面边角处会散落个别氧化物或氮化物碎片。由于单片网格需要从整个硅片中分离，并对外框进行打磨，因此这些微小碎片不可避免。尽管如此，我们相信这些碎片微粒不会对您的实验产生任何影响。 如果用户确实需要对这些碎片进行清理，我们建议用H2SO4 : H2O2 (1:1)溶液清洁有机物，用H2O:HCl: H2O2 (5:3:3)溶液清洁金属。 通常不能用超声波清洗器清洁薄膜，因超声波可能使其粉碎性破裂。详细请咨询：021-35359028/admin@instsun.com

透明度：97%,外观（形状）：薄，覆盖率：95%，石墨烯层数：1，厚度（原理上）：0.345毫微米，场效应管电子AI203迁移率：2,000cm2/Vs,场效应管SIO2/SI的电子迁移率：4,000cm2/Vs,表面电阻：170欧姆平方米，晶粒尺寸：约10μm，石英片厚度：500μm，平整度：弓：20μm，弯：30μm，粗糙度：6埃（在圆滑边），圆滑：双面，应用：太阳能电池、触摸显示器。光电探测器、聚光设备。

论坛主题：硅太阳电池研发及生产的量测与检验方案 时间地点： SNEC 2011-2-22,下午2点--5点，上海会议室编号: E3-M21 主持人：Ronald A. Sinton Sinton Instruments公司创办人及总经理 特定题目包括: -针对SEMI最新制订载子合复寿命量测标准的内含意义及讨论。 -利用载子合复寿命及电阻率量测针对硅锭，硅块进行合格检验及优化分析。 -如何对原生硅片进行生产前合格检验。 -如何优化掺杂扩散制程。 -如何评估并优化选择性射极技术。 -如何利用Suns-Voc进行浆料与烧结技术优化 -硅太阳电池片与组件的电流-电压曲线量测。 -如何针对新的生产设备进行合格检验。 Ron Sinton于1992年创办Sinton Instruments，具备30年在硅太阳电池片宝贵检验，包括在1987证实28%高效率的聚光型硅太阳电池，1989年达到一个太阳23%电池转换效率并以Sunpower 公司研发部经理身份移转这些技术成量产制程。自从1992年，Sinton Instruments公司已经成为一个提供创先性量测及检验技术，并用于单晶，多晶硅太阳电池生产优化的领导供应商 座位有限，请发送您的姓名，职位，公司名称和邮件地址到saleschina@rayscience.com mike@rayscience.com或 margaret@sintoninstruments.com （英文），我们会发送邀请函给您。 Seminar: Test and measurement solutions for silicon solar cell R&D and manufacture Time and Location: SNEC 2011-2-22 pm 2--5, Shanghai Room: E3-M21 Ronald A. Sinton: Founder and President, Sinton Instruments. Specific topics include： -A discussion of the implications of the new SEMI standards for carrier recombination measurements lifetime in silicon. -The optimization and qualification of ingots and bricks using carrier recombination and resistivity measurements. -Qualifying bare wafers prior to processing. -Optimizing dopant diffusion processes. -Evaluating and optimizing selective emitter technology. -Paste-firing optimization using Suns-Voc. -Cell and module test. -Qualifying new production equipment. Ron Sinton founded Sinton Instruments in 1992. He has 30 years of experience in silicon solar cells, including the demonstration of 28% silicon concentrator solar cells in 1987, 23% one-sun cells in 1989, and the transfer of these processes to SunPower Corp. as Manager of R&D. Since 1992, his company has been a leading supplier for innovative test instruments and measurement strategies for use in the optimization and production of both multi-crystalline and mono-crystalline silicon solar cells. Seating is limited. For an invitation please send your name, position, company name and email to saleschina@rayscience.com mike@rayscience.com (Chinese) or margaret@sintoninstruments.com (English) ,so that we can send you a personal invitation.

土壤样品杯膜、XRF測試用的麥拉膜材質、美国Premier样品膜TF-260#（SKY-260）permier新产品SKY-260: 裁剪更方便catalong NoFilm TypeSKY-115TF-115SKY-125TF-125SKY-130TF-130SKY-135TF-135SKY-160TF-160SKY-240TF-240SKY-260TF-260迈拉膜、样品薄膜、麦拉膜、XRF样品膜、XRF测试薄膜、EDX样品薄膜、EDX薄膜、样品薄膜、ROHS测试膜、X荧光光谱仪用样品膜、光谱仪样品薄膜本公司供应美国premier所有型号产品，欢迎采购，卷：(直径：3.0" (76mm)；91.4m卷/盒)序号CAT.No薄膜材料厚度1TF-260#Polypropylene膜6.0μ(0.24mil) 品名：XRF样品膜Sample Film 型号： CAT. NO TF-260# 品牌：美国Premier Lab (原装进口） 货期：现货 起订量：1盒以上。一、美国Premier XRF样品膜：美国Premier Lab Supply公司专注于X射线光谱分析XRF的样品制备领域，以高质量和全面的X射线的样品制备产品线享誉。美国Premier X-ray样品膜(X-ray Film）以其极低的（几乎不含）杂质和厚度均匀而严格生产，极好的柔韧性和抗化学腐蚀性，保证检测结果的可靠性和重现性，被广泛应用于XRF样品制备、检测过程，适用于各类X-ray光谱仪（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。X-ray Film能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测，适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。二、Premier 样品膜特点： 有卷状和片状，多种规格、尺寸、数量可供选择； 柔韧性强、方便、耐用； 的X-ray射线穿透性，适合各类XRF光谱仪； 的抗化学腐蚀性能，不溶于有机溶剂，不污染待测样品； （几乎不含）痕量杂质，特别适合于轻质元素的限量检测。三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF：日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。四、XRF样品膜目录：美国Premier X-ray样品膜种类：（1）、Hostaphan膜；（2）、Kapton膜：聚酰亚胺膜，卡普顿膜；（3）、Mylar膜：聚酯薄膜，迈拉膜，麦拉膜；（4）、Polypropylene膜：聚丙烯膜。目录编号：CAT. NO 薄膜材料 厚度 长度 数量 描述TF-260 Polypropylene膜 6.0μ(0.24mil) 76mm x 91.4m 1卷/盒 Polypropylene Rolls连续卷轴

透射电镜（TEM）用氮化硅薄膜窗口产品概述： 与X射线用氮化硅窗口类似，透射电镜（TEM）用氮化硅薄膜窗口也使用低应力氮化硅薄膜基底。但整体尺度更小，适合TEM装样的要求。窗口有单窗口和多窗口阵列等不同规格。同时NTI也定制多孔氮化硅薄膜窗口。 现在可以提供透射电镜（TEM）用氮化硅薄膜窗系列产品，规格如下： 外框尺寸: &bull 3 mm x 3 mm (窗口尺寸：0.5 mm，薄膜厚度：30 nm) &bull 3 mm x 3 mm (窗口尺寸：1.0 mm，薄膜厚度：50 nm) 边框厚度： 200µ m、381µ m。 Si3N4薄膜厚度： 50nm、100nm 可以为用户定制产品(30-200nm)，但要100片起订。 本产品为一次性产品，不建议用户重复使用，本产品不能进行超声清洗，适合化学清洗、辉光放电和等离子体清洗。技术指标：表面平整度： 我们认为薄膜与其下的硅片同样平整， TEM用氮化硅薄膜窗口的表面粗糙度为：0.6-2nm。完全适用于TEM表征。 亲水性：该窗格呈疏水性，如果样品取自水悬浮液，悬浮微粒则不能均匀地分布在薄膜上。用等离子蚀刻机对薄膜进行亲水处理，可暂时获得亲水效果。虽然没有对其使用寿命进行过测试，但预期可以获得与同样处理的镀碳TEM网格相当的寿命。我们可以生产此种蚀刻窗格，但无法保证其使用寿命。如果实验室有蚀刻工具也可对其进行相应的处理提高其亲水性能。 温度特性： 氮化硅薄膜窗口产品是耐高温产品，能够承受1000度高温，非常适合在其表面利用CVD方法生长各种纳米材料。 化学特性： 氮化硅薄膜窗口是惰性衬底。 应用简介和优点： 1、 适合TEM、SEM、AFM、XPS、EDX等的对同一区域的交叉配对表征。 2、 大窗口尺寸，适合TEM大角度转动观察。 3、 无碳、无杂质的清洁TEM观测平台。 4、 背景氮化硅无定形、无特征。 5、 耐高温、惰性衬底，适应各种聚合物、纳米材料、半导体材料、光学晶体材料和功能薄膜材料的制备环境，（薄膜直接沉积在窗口上）。 6、 生物和湿细胞样本的理想承载体。特别是在等离子体处理后，窗口具有很好的亲水性。。 7、 耐高温、惰性衬底，也可以用于化学反应和退火效应的原位表征。 8、 适合做为胶体、气凝胶、有机材料和纳米颗粒等的表征实验承载体。 详细请咨询：021-35359028/admin@instsun.com

薄膜分光镜Pellicle Beamsplitters第二表面反射不产生鬼像汇聚光束无色差光程长度无变化薄膜厚度 0.002mm通用规格基底:Nitrocellulose构造 :PellicleHousing:Black Anodized Aluminum折射率 nd:1.5表面质量:40-20薄膜分光器是非常纤薄的硝化纤维薄膜，胶合到重叠的铝质外框上，其特点是第二表面反射不产生鬼影。为方便系统集成，薄膜分光器在外框的反面提供安装孔。薄膜分光镜可抵御机械冲击或气候变化，但必须保护其不受灰尘和液体飞溅的影响，以免对薄膜造成损坏。备注：在处理时须额外小心。产品信息Dia. (mm)反射/透射比(R/T)波长范围(nm)DWL(nm)产品编码34.9033/67400 - 700-#39-48034.9040/40400 - 700-#39-47934.9050/50-632.8#39-48134.908/92400 - 2200-#39-47863.5033/67400 - 700-#39-48463.5040/40400 - 700-#39-48363.5050/50-632.8#39-48563.508/92400 - 2200-#39-48288.9033/67400 - 700-#39-48888.9040/40400 - 700-#39-48788.9050/50-632.8#39-48988.908/92400 - 2200-#39-486114.3033/67400 - 700-#39-492114.3040/40400 - 700-#39-491114.3050/50-632.8#39-493114.308/92400 - 2200-#39-490165.1033/67400 - 700-#39-500165.1040/40400 - 700-#39-499165.1050/50-632.8#39-501165.108/92400 - 2200-#39-498技术数据

超快薄膜偏振片1.适用于钛：蓝宝石和镱掺杂激光器2.高达0.3 J / cm2 @ 200 fs @ 800nm损伤阈值3.优化分散S和P的最小色散超快薄膜偏振片采用薄膜涂层技术，可在近红外波长范围内实现zui佳性能。这些偏振器具有高损伤阈值，非常适用于高功率激光器，包括Ti：蓝宝石和掺镱激光源。透射偏振器可在偏振器的两侧具有偏振涂层，而反射偏振器由输入面上的偏振涂层和输出面上的抗反射涂层组成。订购信息消声系数对比度波长范围 (nm)透射率 (%)20:1Tp:Ts20:1750 - 850Tp85 / Ts#88-23560:1Rs:Rp60:1750 - 850-#88-23620:1Tp:Ts20:1980 - 1090Tp85 / Ts#88-23760:1Rs:Rp60:1980 - 1090-#88-238技术数据

透明度：97%,外观（形状）：薄，覆盖率：95%，石墨烯层数：1，厚度（原理上）：0.345毫微米，场效应管电子AI203迁移率：2,000cm2/Vs,场效应管SIO2/SI的电子迁移率：4,000cm2/Vs,表面电阻：170欧姆平方米，晶粒尺寸：约10μm，正电子发射断层显像板厚度：175μm，应用：有机太阳能电池、氧化铟锡更换、石墨烯研究柔性显示器。

XRF样品膜、迈拉膜、麦拉膜、样品薄膜、ROHS测试膜、X射线荧光膜、土壤样品杯膜、mylar膜--美国Chemplex 256# 现货供应：XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO：106、CAT.NO：150、CAT.NO：250、CAT.NO：256、CAT.NO：257、CAT.NO：416、CAT.NO：426、CAT.NO：3014样品膜、Sample Film。品名：XRF样品膜Sample Film目录编号CAT.NO：256产品信息：Mylar膜(迈拉膜、麦拉膜），厚度6.0 μm，直径63.5mm，500片/盒品牌：美国Chemplex Industries.Inc.（原装进口）货期：现货起订量：1盒以上。产品详细信息：SpectroCertified® Thin-Film Sampel SupportsMYLAR® POLYESTERPRE-CUT CIRCLES(6.0” Diameter x 63.5mm)CAT. NO：256Gauge：0.00024”，6.0 μm；0.24mil，60,960ATypical Impurities，PPM：Ca, P, Sb, Fe, ZnChemplex® INDUSTRIES，INC.Contents：500Circles； Lot No：100673。现货供应：XRF样品膜、XRF测试薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO：106、CAT.NO：150、CAT.NO：250、CAT.NO：256、CAT.NO：257、CAT.NO：416、CAT.NO：426、CAT.NO：3014样品膜、Sample Film。

超快型薄膜偏振片适用于Ti:Sapphire和掺镱激光器200 fs、800nm 下的损伤阈值高达 0.3 J/cm2经过优化，适合以最小分散分离 S 和 P通用规格有效孔径 CA（mm）:22.86表面质量:20-10直径 (mm):25.40有效孔径 (%):90.00尺寸容差 (mm):+0.00/-0.10厚度 (mm):3.00厚度容差 (mm):±0.1平行度（弧分）:入射角 (°):72 ±2Damage Threshold, Pulsed:Typical: 5 J/cm2@ 1064nm, 10ns表面平整度:λ/6传输波前，P-V (λ):构造 :Thin Film Dielectric基底:UV Grade Fused Silica超快薄膜偏光镜采用薄膜镀膜技术，能够在近红外 (NIR) 波长范围中提供最佳性能。超快薄膜偏光镜具有高损伤阈值，使其成为高功率激光器 — 包括Ti: Sapphire 和掺镱激光来源的理想之选。透射偏光镜的两面均镀有偏振膜，而放射偏光镜的入射面和出射面则分别镀有偏振膜和增透膜。产品信息类型DWL(nm)消光比对比度波长范围(nm)透射率(%)产品编码Linear Polarizer80020:1Tp:Ts20:1750 - 850Tp85 / Ts#88-235Linear Polarizer80060:1Rs:Rp60:1750 - 850-#88-236Linear Polarizer103020:1Tp:Ts20:1980 - 1090Tp85 / Ts#88-237Linear Polarizer103060:1Rs:Rp60:1980 - 1090-#88-238技术数据

- C-Si太阳能电池测试.- Bus-Bar接触.- 太阳能电池I-V测试.- 太阳能电池EL成像.联系方式：025-84615783

太阳能模拟器氙灯介绍：太阳能模拟器氙灯是可以进行太阳光辐射模拟的氙灯，其克服了太阳光辐射受时间和气候影响。贺利氏可以提供多种类型的脉冲氙灯，具有高稳定性，高输出，长寿命等特点，同时可以应用于多种领域，满足不同客户的需求。

薄膜偏振片英文名Thin film polarizer，薄膜偏振片是一种介质镀膜偏振片把s光和p光分开，适合高功率激光或高能量激光应用，适合内腔和外腔应用。布儒斯特型薄膜偏振片又叫Thin film polarizer,布儒斯特角偏振片，是一种适合高能激光应用的偏振片，损伤阈值高达10J/cm2 @1064nm 8ns. 薄膜偏振片常常作为格兰泰勒棱镜和偏振立方分束器（偏振立方体）的替代用品使用。常用的基质材料是BK7和紫外熔炉石英。56度入射角（布儒斯特角）情况下的 偏振比值Tp/Ts=200：1.特点：1）薄膜偏振片,Thin film polarizer有效地分开s光和p光 2）薄膜偏振片,Thin film polarizer配备有库存，可以立刻发货。薄膜偏振片标准参数 材料：BK7, UVFS直径公差：+0.0/-0.12mm厚度公差：+/-0.2mm净孔径：90%表面质量： 20-10 scratch&dig表面平整度：Lambda/10 @633nm平行度：消光比Tp/Ts：200:1典型透过率： Tp90%典型反射率：Ts99.5%激光损伤阈值： 5J/cm2 10ns 1064nm现有产品：266nm,343nm, 355nm, 400nm, 515nm, 532nm,780nm, 780-820nm, 795-805nm,940nm980nm, 1020-1040nm, 1064nm, 1550nm偏振片中国领先的进口精密激光光学器件旗舰型服务商--孚光精仪！

多联不锈钢溶液过滤器/六联不锈钢全自动溶液过滤器/悬浮物抽滤装置/不锈钢过滤器/实验室薄膜过滤器 型号：BGZGLC-6BGZGLC系列多联不锈钢溶液过滤器是一种应用于化学实验室中的溶液过滤装置。目前，国内实验室在对溶液进行过滤时，一般采用玻璃材质砂芯过滤装置，这种方法每次只能过滤一个样品。过滤速度慢，效率低．人工劳动强度大。同时玻璃材质易碎不易高温消毒。本发明的目的是为了一次同时对多个样品进行过滤。提高实验工作效率。同时316L卫生级不锈钢材质耐酸碱，耐腐蚀．易于高温消毒，使分析结果更加稳定可靠。并授予国家专利本产品由316L卫生级不锈钢滤杯、卫生级不锈钢滤头、卫生级不锈钢过滤支架，卫生级不锈钢气嘴．卫生级不锈钢碟阀，不锈钢卡箍，集液室和真空动力组成。当需要溶液过滤时，在滤头上放上水系滤膜把不锈钢滤杯与滤头通过卡箍固定在一起，气嘴与真空动力相连，打开各个碟阀，把溶液注入滤杯，打开真空动力．溶液通过滤头上的滤膜在动力作用下溶液迅速通过过滤支架流入集液室．待滤杯中溶液全部流入集液室．只须取下待分析滤膜即可。本产品可根据操作者需要．选用不同材质的滤膜．对不同样品进行过滤．如样品中悬浮物．细菌类，叶绿素等．适合于所有溶液过滤工作。仪器特点：316L卫生级不锈钢。替代玻璃材质，经久耐用。大大减少人为损坏。降低经费开支。 易于高温消毒，耐酸碱，耐腐蚀。 一次可同时对2、4、6个样品进行过滤大大提高了工作效率。 适台于所有样品过滤工作。 说明书过滤器说明书.doc

产品信息：固相萃取薄膜片【固相萃取薄膜片是指】固相萃取薄膜片是将填充剂固定于纤维状的PTFE（特氟隆）中，制成厚0.5mm 的薄膜滤片的薄膜片型固相。其中约90％为填充剂，而剩下的10％则为PTFE纤维。固相中的溶液的流动保持均一，且与试剂的接触表面积也加大了，因此在短时间内流经大量试剂的情况下，也同样能够获得很高的回收率。特长* 可获得较高的萃取效率。由于粒径均等的填充剂被均一固定，因此，液体的流动是均一的，从而提高了萃取效率。* 即使1分钟内达到100mL以上的流速，还是能够进行固相萃取。（使用47mm 尺寸：1L检水的处理时间约为10 分钟）* 固相萃取薄膜片有着11种填充剂，2种尺寸（47mm、90mm）。* 其对于各种有机溶媒都是稳定的。【适应固相萃取薄膜片的应用】固相萃取薄膜片是作为日本国内的日本工业规格（JIS）、自来水试验法、环境省告示法下的固相萃取法而被采用的。其对海水、河水、废水、自来水等环境试样是有效的。是一种适合对二英、农药、PCB、环境激素、重金属、己烷萃取物实施分离精制的固相萃取薄膜片。订货信息：采用固相萃取薄膜片的公定法的例子公 定 法应 用使用固相萃取薄膜片JIS试验法JIS K0312 用水、排水中的二恶英分析固相萃取薄膜片C18 FFJIS K0128 用水、排水中的农药类分析固相萃取薄膜片SDB-XDJIS K0093 用水、排水中的PCB分析固相萃取薄膜片C18 FFJIS K0450-10-10 用水、排水中的双酚A固相萃取薄膜片SDB-XDJIS K0450-20-10 用水、排水中的烷基苯酚固相萃取薄膜片SDB-XDJIS K0450-30-10 用水、排水中的邻苯二甲酸酯类固相萃取薄膜片C18卫生试验法水中微囊藻的分析法固相萃取薄膜片SDB-XD自来水试验法2001年自来水中铀的测定（ICP发光）固相萃取薄膜片螯合物环境省告示法2004年环境省告示第123号《全锌》基准值的测定法固相萃取薄膜片螯合物无机元素分析用固相萃取薄膜片种 类使 用 用 途直径（mm）枚／箱Cat.No.螯合物小柱淡化Na、K，2价以上阳离子专用 100mL以下1030根5010-30157螯合物淡化Na、K，2价以上阳离子专用 5L以下47205010-30055螯合物淡化Na、K，2价以上阳离子专用 5L以上90105010-30056Anion-SR阴离子专用薄膜片 As、Se、Cr（6价） 1L以下47205010-30021Anion-SR阴离子专用薄膜片 As、Se、Cr（6价） 1L以上90105010-30022Cation-SR阳离子专用薄膜片 Cr（3价）其他 1L以下47205010-30031Cation-SR阳离子专用薄膜片 Cr（3价）其他 1L以上90105010-30032

X射线荧光膜、土壤样品杯膜、X-RAY样品膜、Polypropylene聚丙烯膜、ROHS测试膜--美国Chemplex-3024#现货供应：XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO：106、CAT.NO：150、CAT.NO：250、CAT.NO：256、CAT.NO：257、CAT.NO：416、CAT.NO：426、CAT.NO：3014样品膜、Sample Film。品名：XRF样品膜Sample Film目录编号CAT. NO：3024产品信息：Polypropylene聚丙烯，厚度12.0μm，直径76.2mm，100片/盒品牌：美国Chemplex Industries.Inc.（原装进口）货期：现货起订量：1盒以上。3024 Polypropylene聚丙烯 12.0 μ 0.00050” 0.50mil 0.0127 mm 3.0”(76.2mm) 100片

土壤样品杯膜、XRF測試用的麥拉膜材質、美国Premier样品膜TF-260#（SKY-260）permier新产品SKY-260: 裁剪更方便catalong NoFilm TypeSKY-115TF-115SKY-125TF-125SKY-130TF-130SKY-135TF-135SKY-160TF-160SKY-240TF-240SKY-260TF-260迈拉膜、样品薄膜、麦拉膜、XRF样品膜、XRF测试薄膜、EDX样品薄膜、EDX薄膜、样品薄膜、ROHS测试膜、X荧光光谱仪用样品膜、光谱仪样品薄膜本公司供应美国premier所有型号产品，欢迎采购，卷：(直径：3.0" (76mm)；91.4m卷/盒)序号CAT.No薄膜材料厚度1TF-260#Polypropylene膜6.0μ(0.24mil) 品名：XRF样品膜Sample Film 型号： CAT. NO TF-260# 品牌：美国Premier Lab (原装进口） 货期：现货 起订量：1盒以上。一、美国Premier XRF样品膜：美国Premier Lab Supply公司专注于X射线光谱分析XRF的样品制备领域，以高质量和全面的X射线的样品制备产品线享誉。美国Premier X-ray样品膜(X-ray Film）以其极低的（几乎不含）杂质和厚度均匀而严格生产，极好的柔韧性和抗化学腐蚀性，保证检测结果的可靠性和重现性，被广泛应用于XRF样品制备、检测过程，适用于各类X-ray光谱仪（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。X-ray Film能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测，适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。二、Premier 样品膜特点： 有卷状和片状，多种规格、尺寸、数量可供选择； 柔韧性强、方便、耐用； 的X-ray射线穿透性，适合各类XRF光谱仪； 的抗化学腐蚀性能，不溶于有机溶剂，不污染待测样品； （几乎不含）痕量杂质，特别适合于轻质元素的限量检测。三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF：日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。四、XRF样品膜目录：美国Premier X-ray样品膜种类：（1）、Hostaphan膜；（2）、Kapton膜：聚酰亚胺膜，卡普顿膜；（3）、Mylar膜：聚酯薄膜，迈拉膜，麦拉膜；（4）、Polypropylene膜：聚丙烯膜。目录编号：CAT. NO 薄膜材料 厚度 长度 数量 描述TF-260 Polypropylene膜 6.0μ(0.24mil) 76mm x 91.4m 1卷/盒 Polypropylene Rolls连续卷轴

产品信息：固相萃取薄膜片【固相萃取薄膜片是指】固相萃取薄膜片是将填充剂固定于纤维状的PTFE（特氟隆）中，制成厚0.5mm 的薄膜滤片的薄膜片型固相。其中约90％为填充剂，而剩下的10％则为PTFE纤维。固相中的溶液的流动保持均一，且与试剂的接触表面积也加大了，因此在短时间内流经大量试剂的情况下，也同样能够获得很高的回收率。特长* 可获得较高的萃取效率。由于粒径均等的填充剂被均一固定，因此，液体的流动是均一的，从而提高了萃取效率。* 即使1分钟内达到100mL以上的流速，还是能够进行固相萃取。（使用47mm 尺寸：1L检水的处理时间约为10 分钟）* 固相萃取薄膜片有着11种填充剂，2种尺寸（47mm、90mm）。* 其对于各种有机溶媒都是稳定的。【适应固相萃取薄膜片的应用】固相萃取薄膜片是作为日本国内的日本工业规格（JIS）、自来水试验法、环境省告示法下的固相萃取法而被采用的。其对海水、河水、废水、自来水等环境试样是有效的。是一种适合对二英、农药、PCB、环境激素、重金属、己烷萃取物实施分离精制的固相萃取薄膜片。订货信息：采用固相萃取薄膜片的公定法的例子公 定 法应 用使用固相萃取薄膜片JIS试验法JIS K0312 用水、排水中的二恶英分析固相萃取薄膜片C18 FFJIS K0128 用水、排水中的农药类分析固相萃取薄膜片SDB-XDJIS K0093 用水、排水中的PCB分析固相萃取薄膜片C18 FFJIS K0450-10-10 用水、排水中的双酚A固相萃取薄膜片SDB-XDJIS K0450-20-10 用水、排水中的烷基苯酚固相萃取薄膜片SDB-XDJIS K0450-30-10 用水、排水中的邻苯二甲酸酯类固相萃取薄膜片C18卫生试验法水中微囊藻的分析法固相萃取薄膜片SDB-XD自来水试验法2001年自来水中铀的测定（ICP发光）固相萃取薄膜片螯合物环境省告示法2004年环境省告示第123号《全锌》基准值的测定法固相萃取薄膜片螯合物有机物分析用固相萃取薄膜片种 类使 用 用 途直径（mm）枚／箱Cat.No.C18 FF用水、排水、自来水中二恶英、PCB 1L以下浓缩用47205010-30010C18 FF用水、排水、自来水中二恶英、PCB 5L以上浓缩用90105010-30011C18水中、大气一般分析用GC／MS分析 1L以下浓缩用47205010-30006C18水中、大气一般分析用GC／MS分析 5L以上浓缩用90105010-30008C8疏水性高的有机物GC／MS分析 1L以下浓缩用47205010-30002C8疏水性高的有机物GC／MS分析 5L以上浓缩用90105010-30003SDB-XC一般分析用HPLC分析 1L以下浓缩用47205010-30015SDB-XC一般分析用HPLC分析 2L以下浓缩用90105010-30016SDB-XD极性化合物、农药、HPLC分析用 日本专用模式47205010-30046SDB-RPS多酚等苯酚性化合物专用模式 1L以下47205010-30041SDB-RPS多酚等苯酚性化合物专用模式 5L以上90105010-30042Carbon大气捕集、乙酰甲胺磷、甲胺磷高极性47205010-30060

增长方法：CVD合成、转移方法：清洁迁移取样法、质量控制：光学显微镜、拉曼光谱、扫描电镜和投射电镜批签，外观（颜色）：透明，透明度：97%,外观（形状）：薄，覆盖率：95%，石墨烯层数：1，厚度（原理上）：0.345毫微米，场效应管电子AI203迁移率：2,000cm2/Vs,场效应管SIO2/SI的电子迁移率：4,000cm2/Vs,表面电阻：170欧姆平方米，晶粒尺寸：约10μm，正电子发射断层显像板厚度：175μm，应用：有机太阳能电池、有机发光二极管、正电子发射断层显像板、氧化铟锡更换、石墨烯研究柔性显示器。

TEM用纯Si薄膜窗 纯硅薄膜窗特点 纳米级厚度：薄膜厚度为5-15nm，比目前无定形碳薄膜窗口还薄，为高倍成像减少了背景干扰； 清洗：采用等离子清洗，无有机物残留，改善成像质量； 均匀性：减少了不同区域的不均匀性； 稳定性：高电子束电流和退火温度下具有很好的稳定性(600℃ for non-porous, 1000℃ for nanoporous)； 减少污染：彩色污染仅为C膜的一半； 纳米孔：为纳米尺寸材料提供稳定的成像，无背景干扰； Si成分：溅镀沉积、纯的Si； 最小的背景信号：可对含Ni或C样品进行元素分析； 纯硅薄膜窗规格 单窗口系列窗口类型薄膜厚度窗口尺寸框架尺寸框架厚度5nm25x25μmΦ3mm100μm30nm500x500μm纳米孔10-60nmΦ3mm100μm多窗口系列窗口类型薄膜厚度窗口尺寸框架尺寸框架厚度5nm2x1阵列，50X1500μmΦ3mm100μm9nm/15nm2x1阵列，100X1500μmΦ3mm100μm5nm2x1阵列，100X100μmΦ3mm200μm9nm/15nm2x1阵列，100X1500μmΦ3mm200μm5nm3x3阵列，8个窗口50X50μm，1个窗口50X100μmΦ3mm100μm5nm/9nm3x3阵列，8个窗口100X100μm，1个窗口100X350μmΦ3mm100μm9nm3x3阵列，8个窗口100X100μm，1个窗口100X350μmΦ3mm200μm15nm3x3阵列，8个窗口100X100μm，1个窗口100X350μmΦ3mm100μm30nm3x3阵列，8个窗口100X100μm，1个窗口100X350μm；纳米孔10-60nmΦ3mm100μm15nm3x3阵列，窗口100X100μmΦ3mm200μm详细资料请咨询：021-35359028/admin@instsun.com