三维激光轮廓测量仪

中图仪器SuperViewW光学表面三维形貌轮廓测量仪以白光干涉技术原理，用于对各种精密器件表面进行纳米级测量。通过测量干涉条纹的变化来测量表面三维形貌，专用于精密零部件之重点部位表面粗糙度、微小形貌轮廓及尺寸的非接触式快速测量。典型结果包括：表面形貌（粗糙度，平面度，平行度，台阶高度，锥角等等）；几何特征（关键孔径尺寸，曲率半径，特征区域的面积和体积，特征图形的位置和数量等等）；SuperViewW光学表面三维形貌轮廓测量仪可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。产品功能(1)设备提供表征微观形貌的粗糙度和台阶高、角度等轮廓尺寸测量功能；(2)测量中提供自动对焦、自动找条纹、自动调亮度等自动化辅助功能；(3)测量中提供自动拼接测量、定位自动多区域测量功能；(4)分析中提供校平、图像修描、去噪和滤波、区域提取等四大模块的数据处理功能；(5)分析中提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；(6)分析中同时提供一键分析和多文件分析等辅助分析功能。性能特色1、高精度、高重复性1）采用光学干涉技术、精密Z向扫描模块和3D重建算法组成测量系统，保证测量精度高；2）隔振系统，能够有效隔离频率2Hz以上绝大部分振动，消除地面振动噪声和空气中声波振动噪声，保障仪器在大部分的生产车间环境中能稳定使用，获得高测量重复性；2、环境噪声检测功能具备的环境噪声检测模块能够定量评估出外界环境对仪器扫描轴的震动干扰，在设备调试、日常监测、故障排查中能够提供定量的环境噪声数据作为支撑。3、精密操纵手柄集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦、找条纹等测量前工作。4、双重防撞保护措施在初级的软件ZSTOP设置Z向位移下限位进行防撞保护外，另在Z轴上设计有机械电子传感器，当镜头触碰到样品表面时，仪器自动进入紧急停止状态，最大限度的保护仪器，降低人为操作风险。5、双通道气浮隔振系统既可以接入客户现场的稳定气源也可以接入标配静音空压机，在无外接气源的条件下也可稳定工作。针对完成样品超光滑凹面弧形扫描所需同时满足的高精度、大扫描范围的需求，中图仪器SuperViewW光学表面三维形貌轮廓测量仪的复合型EPSI重建算法，解决了传统相移法PSI扫描范围小、垂直法VSI精度低的双重缺点。在自动拼接模块下，只需要确定起点和终点，即可自动扫描，重建其超光滑的表面区域，不见一丝重叠缝隙。具有的特殊光源模式，可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。应用领域对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例：部分技术指标型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配：10×选配：2.5× 5× 20× 50× 100×光学ZOOM标配：0.5×选配：0.375× 0.75× 1×物镜塔台标配：3孔手动选配：5孔电动XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式电动Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动Z向扫描范围10 ㎜主机尺寸（长×宽×高）700×606×920㎜恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

仪器简介：是二维表面粗糙度测量仪、三维表面粗糙度测量仪和轮廓形状测量仪最高水平的组合，一体化的合理的测量仪器状解析记录模式三种功能，技术参数：二维粗糙度：测量参数：Ra、Rq、Ry、Rmax、Rt、Rz、Rz5、Rz3、R3z、R3zmax、RzmaxD、RzD、Sk、Ku、Pc、HSC、PPI、Rpm、Sl、Sm、S、Rp、Rv、 a、 q、 a、 q、 a、 q、K、tp、BC、ADC、FFT、Rk、Rpk、Rvk、Mr1、Mr2、WcA、WCM、WEA、WEM、真直度、离差、坐标放大倍率：竖直50 ~500,000 水平1~5000测量范围：竖直 600 m 水平100mm评价长度：0.25, 0.8, 2.5, 8, 25, 80mm / 任意(0.2mm以上) /  C x1, x2, x3, x4, x5自动水平调整：最小二乘法, 二点法, R曲线修正, 二次曲线修正,辅助功能：自由画面设计记录, 图表模版, 平均处理, 统计处理, 去除缺陷后测量, 再计算,探测器登记,留言记录, 自动灵敏度校正, 公制/英制变换, 自动测量, 去除处理, 轮廓图放大缩小。三维粗糙度分析项目：平面图、等高线图 / 微分浓淡图 / 标高表示图鸟瞰图(水平, 俯角可变): 扫描图 / 细格图 / 等高线图 / 微分浓淡图三维分析值: SRp / SRv / SRmax / SRa / SGr / SSr / SRe / SRq / SRsK / S a / S a / Spc / 标高粒子分析: 山(或谷)粒子的密度, 平均面积, 平均体积, 平均直径图形: FFT/ BC测量范围：Z 600 m X 100mm Y 100mm辅助功能：分析和数据采集同时进行 / 部分选取 / 水平调整 / 三维数据的任意方向的二维分析传送速度：0.05, 0.1, 0.2, 0.5, 1, 2mm/S高速移动速度5, 10mm/S以及手动截止值：粗糙度  C 0.025, 0.08, 0.25, 0.8, 2.5, 8 mm,无截止，起伏fl 0.8, 2.5, 8, 25mm, fh 0.08, 0.25, 0.8, 2.5mm过滤方式：高斯型, 2CR, 特殊高斯型探测器上下移动：探测器上下移动范围250mm, 自动下降/上升精度 0.2 m/100mm以内(使用制动时)真直度测量精度：0.2 m / 100mm探测器：触针: R2m金刚石, 测量力0.7mN 制动: R40(测量方向) R2 m 蓝宝石轮廓形状测量分析项目对中 : 原点移动, 旋转, 反转, 移动要素分析: 点, 线, 圆, 山, 谷, 交点, 中点, 接点 / 定标器量: 座标差, 距离, 交角测量范围：竖直50mm 水平100mm传送速度：0.02, 0.05, 0.1, 0.2, 0.5, 1.2 mm / S 高速移动速度2, 10mm/S 以及手动辅助功能：自由画面设计记录, 图表模版, 宏观功能, 轮廓放大缩小, 数字式圆弧修正, 防止过载 震动器, 上下正反两方向测量 探测器上下移动范围：200mm真直度测量精度：1 m / 100mm探测器：R25 m 10~30mN超硬， 追踪角度： 上攀77度， 下移87度尺寸/ 质量、测量部600  395  593mm / 80Kg 计算部900  600  520mm / 30Kg电源：AC 100V 800VA 50/60Hz主要特点：三维粗糙度测量 数据采集和分析同时进行数据的采集和以前采集的数据的分析可以同时进行. 能节约测量时间.三维粗糙的形状记录能改变鸟瞰图的视角、高低并进行记录.对于平面图能得到浓淡图和等高线图, 当然, 可以取出感兴趣的部分放大或记录.三维粗糙度参数能进行面平均算术平均粗糙度SRa等各种三维粗糙度参数, ”山” , “谷” 粒子的平均面积、平均体积等的分析. 二维粗糙度测量 参数能对应于ISO、JIS、DIN、ANSI、BS等国际标准和各国的新旧标准进行测量自动测量功能从探测器的测量到数据图表的打印一连串的动作都能自动进行.去除处理可以避开测量形状中伤痕等不适和的部分,指定计算的区域进行分析.轮廓形状测量 多断面形状分析能对多到32个断面的数据同时处理. 而且, 能对n次分开测量的数据合在一起进行分析. 对中调整备有必要的充分对中的功能, 而且能进行极细微的调整.宏观功能利用很强的宏观功能,可以使同一类测量物体的测量、分析和打印变得很简单. 操作的宏观化是除了通常的操作外只要增加单键操作就可以了,使整个测量简单化.公差判定对于半径、距离、角度等的分析数据, 每次都要设定公差,并能进行对错的判断.二维粗糙度、轮廓形状测量的共同特点 数据图表能自由的对数据图表进行画面设计, 可以自由选择画面设计的数据, 其中, 有各种测量的数据, 名称等原始数据, 公司标记等图形数据, 进行画面设计, 作成图表.

中图仪器SuperViewW光学三维表面轮廓粗糙度形貌测量仪能以3D非接触方式，测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸。它是以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析，并获取反映器件表面质量的2D、3D参数，从而实现器件表面形貌3D测量的光学检测仪器。典型结果包括：表面形貌（粗糙度，平面度，平行度，台阶高度，锥角等等）；几何特征（关键孔径尺寸，曲率半径，特征区域的面积和体积，特征图形的位置和数量等等）。SuperViewW光学三维表面轮廓粗糙度形貌测量仪可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等，提供依据ISO/ASME/EUR/GBT四大国内外标准共计300余种2D、3D参数作为评价标准。产品功能(1)SuperViewW光学三维表面轮廓粗糙度形貌测量仪设备提供表征微观形貌的粗糙度和台阶高、角度等轮廓尺寸测量功能；(2)测量中提供自动对焦、自动找条纹、自动调亮度等自动化辅助功能；(3)测量中提供自动拼接测量、定位自动多区域测量功能；(4)分析中提供校平、图像修描、去噪和滤波、区域提取等四大模块的数据处理功能；(5)分析中提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；(6)分析中同时提供一键分析和多文件分析等辅助分析功能。应用领域对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例：针对完成样品超光滑凹面弧形扫描所需同时满足的高精度、大扫描范围的需求，中图仪器SuperView W的复合型EPSI重建算法，解决了传统相移法PSI扫描范围小、垂直法VSI精度低的双重缺点。在自动拼接模块下，只需要确定起点和终点，即可自动扫描，重建其超光滑的表面区域，不见一丝重叠缝隙。特殊光源模式，可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。性能特色1、高精度、高重复性1）采用光学干涉技术、精密Z向扫描模块和3D重建算法组成测量系统，保证测量精度高；2）隔振系统，能够有效隔离频率2Hz以上绝大部分振动，消除地面振动噪声和空气中声波振动噪声，保障仪器在大部分的生产车间环境中能稳定使用，获得高测量重复性；2、环境噪声检测功能具备的环境噪声检测模块能够定量评估出外界环境对仪器扫描轴的震动干扰，在设备调试、日常监测、故障排查中能够提供定量的环境噪声数据作为支撑。3、精密操纵手柄集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦、找条纹等测量前工作。4、双重防撞保护措施在初级的软件ZSTOP设置Z向位移下限位进行防撞保护外，另在Z轴上设计有机械电子传感器，当镜头触碰到样品表面时，仪器自动进入紧急停止状态，最大限度的保护仪器，降低人为操作风险。5、双通道气浮隔振系统既可以接入客户现场的稳定气源也可以接入标配静音空压机，在无外接气源的条件下也可稳定工作。部分技术指标型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配：10×选配：2.5× 5× 20× 50× 100×光学ZOOM标配：0.5×选配：0.375× 0.75× 1×物镜塔台标配：3孔手动选配：5孔电动XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式电动Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动Z向扫描范围10 ㎜主机尺寸（长×宽×高）700×606×920㎜恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

SICK 3D线激光轮廓传感器北方区域负责人姓名：李工(Mark）电话：（微信同号）邮箱：南方区域负责人姓名：张工(logen)电话：（微信同号）邮箱：SICK Ruler X系列3D线激光轮廓传感器一体式3D线激光轮廓传感器，是专为微小零部件如消费类电子产品及医疗产品等行业的质量检测而设计。SICK 3D线激光轮廓传感器采用较新的2.5K像素cmos传感器及ROCC技术，扫描速率高达46KHz，重复性精度达微米级别。此外，专有的蓝色激光设计在扫描反光物体表面时可以获得更清晰更可靠的数据。符合沙姆定律的镜头设计，可以获得更大的景深。3D线激光轮廓传感器结构稳定、分辨率高、测量精度高，可用于产品的尺寸检测、焊缝跟踪、工件轮廓测量、部件检测、机器人轨迹引导、激光3D扫描系统等多种高精密测量系统中。SICK 3D线激光轮廓传感器特点：采用405nm蓝色激光通过极限聚焦405nm短波长激光， 在受光元件上清晰成像。提高了激光的受光密度，生成稳定的高精度轮廓， 可稳定测量所有材料， 通过清晰的线光束， 可实现高精度的测量。RulerX系列相机集高性能3d相机、高精度蓝色激光和镜头于一体，IP65等级坚固外壳设计，体积小巧，可广泛应用于电于太阳能等行业。该产品已完成出厂标定，微米级别的测量精度且安装简单，深受广大机器视觉用户喜爱。Super Speed and HDR Enhanced简称SSHE-CMOSSSHE-CMOS茉具高速性和高动态范围， 是3D激光测量仪的专用元件。 针对混有反射率不同的材料、 色调也无需调整！均可稳定测量所有目标物， 实现了高感光度和大动态范围， 即使曝光时间极短(10μs) , 也可准确测星黑色（反射量少）乃至光泽面（反射量大）。SICK 3D线激光轮廓传感器 技术参数：型号RulerXR100-SRulerXR150RulerXR150-SRulerXR200RulerXR330RulerXR600订购号P/N//////上市日期201920192019201920192020性能（可自由搭配）Pro / Prime /CoreX像素点数（可自由搭配）256025602560256025602560基准安装高度190mm125mm200mm182mm335mm575mmX轴测量范围近92mm105mm140mm140mm250mm385mm基准距离101mm125mm146mm180mm320mm572mm远110mm145mm153mm240mm390mm760mmZ轴测量范围50mm60mm20mm115mm170mm430mmX轴分辨率36μm~43μm41μm~57μm55μm~60μm55μm~94μm98μm-152μm150μm~297μmZ轴分辨率4μm~5μm4μm~7μm7μm（mid FOV）7μm~12μm11μm~18μm22μm~44μm激光（可更换）660nm660nm660nm660nm660nm660nm扫描帧率/全幅（可更换）7kHz7kHz7kHz7kHz7kHz7kHz扫描帧率/最快（可更换）46kHz46kHz46kHz46kHz46kHz46kHzSICK 分体式线激光轮廓传感器型号Ranger3-60Ranger3-40Ranger3-30订购号P/N109156011057571109564上市日期201820192020性能ProPrimeCoreX像素点数256025601536基准安装高度灵活配置灵活配置灵活配置X轴测量范围近灵活配置灵活配置灵活配置基准距离灵活配置灵活配置灵活配置远灵活配置灵活配置灵活配置Z轴测量范围灵活配置灵活配置灵活配置X轴分辨率灵活配置灵活配置灵活配置Z轴分辨率灵活配置灵活配置灵活配置激光灵活配置灵活配置灵活配置扫描帧率/全幅7kHz2.5kHz1.5kHz扫描帧率/最快46kHz20kHz20kHzSICK 3D线激光轮廓传感器 应用：手机壳检测智能手机特征高度，平面度检测RulerX70专为智能手机定制，大幅优化CT视野宽度: 65-84mm单次扫描，无需拼接，1s完成检测。电路板检测电路板高度检测， 包含器件超高或接插件焊脚超高等检测。动力电池全尺寸检测?不需要额外光源：消除光源安装的影响?段差测量：可检测焊接面和周边的高度差?准确测量：可结合2D灰度图像计算?快速检测：—次扫描可计算任意点的平整度SICK独有的分体式系列自由定制照射角度调整激光和相机夹角约20°，在满足精度的条件下，最大程度地减少了四角安装孔位的遮挡X方向像素数2560轻松实现超高精度在350mm宽度视野下，平面度检测时高度值量测的重复性结果约15um电池极柱平面度和极性正反检测Ranger3系列定制视野实现最佳检测检测视野宽度: ~200mm无需图像拼接，单次扫描完成所有检测。像素数2560轻松实现超高精度X分辨率: 0.08mm高度分辨率： 0.008mm电芯壳体表面凹坑检测Ranger3系列可定制视野实现最佳检测电芯检测视野宽度: 20-200mm；根据各种电芯种类和检测内容，设计最适合的视野，优化方案。电芯侧面、极柱面、盖板焊缝、棱边3D图像高反光金属表面、不平整区域成像真实且无毛刺可检测：表面平整度，表面凹坑、棱边缺陷，焊缝缺陷等电池焊接质量检测高反光金属表面、焊接不平整区域成像真实且无毛刺电池焊接质量检测X方向像素数2560轻松实现超高精度(RulerX70)X分辨率: 0.03mmZ轴高度分辨率：0.003mm轮廓扫描：剖面或尺寸测量：宽度，厚度，高度，角度焊缝检测：焊缝位置和宽度测量，缺陷测量高精度焊缝粘合剂液珠追踪：追踪缝隙，接头，焊锡带测量。木材平整度测量

中图仪器Novator表面轮廓尺寸全自动影像测量仪采用大理石主体机台和精密伺服控制系统，将传统影像测量与激光测量扫描技术相结合，充分发挥了光学电动变倍镜头的高精度优势，智能化和自动化程度高，使测量变得简单。它可以自动抓取数据点，测量点、线、圆、弧、椭圆、矩形等几何特征，自动分析测量特征的各种参数，如宽度、直径、位置、直线度、圆锥度、圆柱度等各种几何尺寸。Novator表面轮廓尺寸全自动影像测量仪特点是可以自动抓取产品的边界和表面，尤其是在测量一些弱边缘特征(如过渡曲线、圆角加工等)时能完成自动抓取。结合专用测量软件对测绘要素数据进行处理、评价和输出。在保证精度的前提下，测量效率更高。测量功能1.量测工具：扫描提取边缘点、多段提取边缘点、圆形提取边缘点、椭圆提取、框选提取轮廓线、聚焦点、最近点等。2.可测几何量： 点、线、圆（圆心坐标、半径、直径）、圆弧、中心、角度、距、线宽、孔位、孔径、孔数、孔到孔的距离、孔到边的距离、弧线中心到孔的距离、弧线中心到边的距离、弧线高点到弧线高点的距离、交叉点到交叉点的距离等。3.构建特征：交点、中心点、极值点、端点、两点连线、平行线、垂线、切线、平分线、中心线、线段融合、半径画圆、三线内切圆、两线半径内切圆等。4.形位公差：直线度、圆度、轮廓度、位置度、平面度、对称度、垂直度、同心度、平行度等形位公差评定。5.坐标系：仪器坐标系、点线、两点 X、两线等工件坐标系；图像配准坐标系；可平移、旋转、手工调整坐标系。6.快速工具：R角、水平节距、圆周节距、筛网、槽孔、轮廓比对、弹簧、O型圈等特殊工具快速测量。7.支持公差批量设置、比例等级划分、颜色自定义管理。测量界面Novator表面轮廓尺寸全自动影像测量仪具备多种测量功能，包括表面尺寸、轮廓、角度与位置、形位公差、3D空间形貌与尺寸结构等的精密测量。其线激光3D扫描功能，可实现3D扫描成像和空间测量；点激光线扫描功能，可输出断面高度、距离等二维尺寸做分析。Novator还支持频闪照明和飞拍功能，可进行高速测量，大幅提升测量效率；具有可独立升降和可更换RGB光源，可适应更多复杂工件表面。产品优势稳固移动平台、高测量精度1.精密大理石机台，稳定性好，精度高。2.精密线性滑轨和伺服控制系统，超低分贝静音级运动。3.三轴全自动可编程检测，实现复杂特征批量检测。激光扫描成像、3D复合测量1.支持点激光轮廓扫描测量，进行高度方向上的轮廓测量。2.支持线激光3D扫描成像，可实现3D扫描成像和空间测量。3.VisionX测量软件支持多种轮廓测量和3D空间测量，无缝连接2D/3D混合测量。频闪照明光源、高速硬件飞拍1.具备频闪照明光源，支持频闪和普通双模式。2.支持飞拍模式测量，测量效率提升5~10倍。3.融入中图闪测仪的拼接测量功能，发挥综合优势。可更换RGB表光、独立升降表光1.可更换RGB表光和白色表光，适应多种复杂颜色和材料表面。2.表光可独立升降，更好的观察样品表面。3.支持六环八分区表面光、透射光、同轴光分段编程控制。自动测量，批量更快1.程序匹配工件坐标系，自动执行测量流程。2.支持CAD图纸和Gerber图纸导入，坐标系匹配测量。3、CNC固定坐标系模式下，可快速精确地进行批量测量。操作简单，轻松无忧1.具备大幅面导航相机，快速实现工件定位。2.具有镜头防撞功能，轻松无忧。3.一体化操作界面，任何人都能轻松设定和测量。应用领域Novator可实现各种复杂零件的表面尺寸、轮廓、角度与位置、形位公差、3D空间形貌与尺寸结构等精密测量。Novator可用于机械、电子、模具、注塑、五金、橡胶、低压电器、磁性材料、精密冲压、接插件、连接器、端子、手机、家电、印刷电路板、钟表、刀具、计量检测等领域。部分技术指标型号Novator432行程范围X(mm)400Y(mm)300Z(mm)200图像传感器高清彩色工业摄像机显示器24英寸 LCD显示器（1920×1080）放大倍率光学放大0.6~8.0X 影像放大17~232X照明系统透射光远心透射照明（绿色）表面光6环8分区分割照明（白光）；选配，可更换RGB光源同轴光LED光3D扫描成像测量Z向测量范围5mm扫描宽度30mm支持飞拍测量模式支持支持导航相机支持传感器配置选配，(1)接触式探针；(2)白光共焦；(3)三角激光外形尺寸(mm)860*1350*1670仪器重量(Kg)650恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

影像测量仪也叫二次元，适用于以二坐标测量为目的的一切领域。以二维平面测量为主，也能作简单三维辅助测量，升级产业为2.5次元。影像测量仪利用光学非接触式测量是小、薄、软、零部件的Z好的测量解决方案，是计量检测不可缺少的精密型实验设备之一。那么轮廓投影仪和影像测量仪的主要区别在于哪些地方？接下来妙机小编和大家简单讲解一下：　　1、工作原理不同　　影像测量仪是通过CCD获取数位图像，利用计算机软件运算，以满足复杂测量需要的精密仪器。　　投影仪是利用光学投影的原理，将被测工作的轮廓或表面投影到观察幕(投影屏)上，作测量的一种测量仪器。　　2、机台结构不同　　影像测量仪：花岗岩石（硬度高，稳定性强，保证精度）　　轮廓投影仪：钣金（受环境影响较大，易生锈等，影响精度）　　3、镜头　　影像测量仪：镜头，连续变倍镜头（20X-120X）　　投影仪：标配单一变倍物镜（固定倍率）　　4、光源　　影像测量仪：LED（冷光源）　　轮廓投影仪：卤素光（热光源，热澎胀原理对机台精度产生影响　　5、显示　　影像测量仪：工件的彩色影像　　轮廓投影仪：工件的单色轮廓　　6、测量　　影像测量仪：十字线产生器，自动寻边　　轮廓投影仪：十字线肉眼观察取点　　以上就是我们影像测量仪厂家的内容介绍了，相信大家对此会有更深入的了解了，如有朋友需要购买的或者想了解更多关于这方面的知识，可以随时联系妙机科技咨询或者关注妙机科技了解更多。广东妙机精密科技股份有限公司（以下简称妙机科技）致力于为高科技领域提供完整的微米、奈米测量解决方案。妙机科技拥有完全自主品牌体系，从研发、生产、销售等关键环节，提供上、中、下游完整的产品供应及售后服务。

Thorlabs 光束轮廓仪，BC207UV光学测量仪特性连续或脉冲激光轮廓的完整二维分析高分辨率：2448 x 2048像素低噪声：SNR ≤ 71 dB12位CMOS相机探测面积大(8.45 mm x 7.07 mm)，均匀性和线性度好可拆卸的保护窗口片，防止传感器落尘用户可校准功率读数自动曝光时间从27 µ s至1 s，增益控制从0到12 dB暗电平和环境光补偿外部快门触发输入可选用的M² 扩展装置，用于自动分析M² Thorlabs的相机式光束轮廓仪可在优化激光系统的同时分析复杂的模式图案(如平顶和环形光)。与扫描狭缝式光束轮廓仪相比，相机式光束轮廓仪能拍摄更加详细的光束轮廓，并提供光束功率密度分布的真实二维分析。这些光束轮廓仪适用于连续光和脉冲光源。多种触发模式可以灵活地拍摄单脉冲，比如使用TTL输入探测重频高达37 kHz的单脉冲信号。每个光束轮廓仪包含一个高质量的12位CMOS相机，有效探测面积8.45 mm x 7.07 mm，分辨率500万像素，最短曝光时间27 µ s。自动暗电平校准提供非常稳定的暗电流，与器件设置无关，因此用户每次进行设置时不用重新校准暗电平。集成的滤光片转轮带有6个高质量中性密度(ND)滤光片，使光束轮廓仪能够适应强度从纳瓦级到1 W的光束。滤光片转轮上刻有标签，可指示每个插槽中预安装的ND滤光片，如果需要拆卸或更换滤光片，可以使用一字螺丝刀打开转轮。

OGP 出品的SmartScope Flash CNC 500影像测量仪给您的生产检测带来不可评估的价值和高精度的测量保障。为了获得测量的稳定性，该影像测量仪在桥式支撑结构上安装了一套性能卓越的光学系统，并可将多种传感器配置在一个系统中，如接触式探针，Feather Probe™ 羽毛探针，激光传感器及 Rainbow Probe™ 彩虹激光扫描器，拓展测量性能和加大测量范围。 自动校准的变焦镜 专利的12:1 AccuCentricTM变焦镜在每次放大倍率变更后都会自动进行校准，确保在整个测量过程中维持很好的精度。 定位精度 影像测量仪由直流伺服马达驱动的精密机械轴承操控XYZ平台，加上坚固的桥式架构，保证了测量平台移动的快速流畅与高效。即使当平台快速移动时仍可保证测量时具备很好的定位精度。 多功能的照明系统 OGP影像测量仪所独有的照明技术具有程控能力，可显示复杂的工件影像，包括棱镜形或圆柱形工件。LED绿光轮廓灯与TTL同轴白光灯，甚至是可编程的专利SmartRing™ LED环光，都为OGP SmartScope CNC 500的标准配置。 可延伸的测量行程 SmartScope Flash CNC 500可配置加长的Y轴和/或Z轴行程以配合大工件或夹具的安放。 易用的测量软件 OGP Meausre-X测量软件利用“指向-点击”工具简化了复杂的测量过程，并提供了一套通用的多功能测量软件包。SmartScope Flash CNC 500影像测量仪也可以使用MeasureMind 3D多元传感测量软件，实现真正的三维影像测量。标准配置■测量范围(XYZ)：500x 450x 200 mm■测量系统尺寸(LWH)：114 x 120 x 153 cm，960kg(木箱包装尺寸和重量请联系OGP)■光栅尺分辨率：0.5μm■马达驱动：直流伺服马达驱动，四轴操纵杆控制((X, Y, Z, 变焦)■工作台：有夹具孔的镀镍平台，可拆卸平板玻璃,，65kg承载力■变焦镜：专利的12:1 AccuCentric 自动校准变焦镜, 校准位置可高达25个■摄像机：1/2″ 高分辨率彩色CCD，768x 494象素阵列■照明：平台下LED背光(绿光), 同轴LED表面光(白光)，??专利的8扇区 SmartRing™ LED环光(白光)■影像处理：10:1次象素分辨率，256灰色级■电力要求: 115/230vac，50/60Hz，1Ф , 700W■额定温度: 18-22℃ + 1℃/小时,30-80%湿度(无冷凝水),振动0.001克,低于15HZ■操作环镜: 15-30℃■测量软件: Measure-X■电脑配置: 双核处理器@ 2.8 GHz，2GB随机存储器，160GB硬盘(最低配置)，DVD/RW光盘驱动器，平行及串行接口，USB2.0接口，主板集成10/100网卡■操作系统: Microsoft WindowsTM 7■保修期：1年

产品概述GY3000是一款利用利用柱面物镜将激光扩散为线激光后投射在目标物表面形成漫反射，使反射光在CMOS上成像后通过检测位置和形状的变化测量位移和形状的一款测仪。 GY3000 3D轮廓测量仪主要由3D高精度相机、控制器、连接电缆及上位机软件搭建而成，核心器件采用精度高达3200points/profile的相机、高精度的XY移动平台，结合奥谱天成独有的算法技术，为用户提供的全新一代领先的3D线激光测量仪。工作原理：其核心零部件，激光传感器使用的是奥普天成自研的ATI3000系列。它利用激光发射器发出的激光束通过柱面物镜处理变成平行光，平行光垂直入射到被测物体表面产生漫反射，激光传感器就能根据漫反射回来的光在感光元件CMOS上形成图像，光点在在感光元件上的位置根据目标的距离而变化，系统自动把该变化转换为目标位置的测量结果。型号ATI3000-20ATI3000-50ATI3000-50ATI3000-50ATI3000-50ATI3000-50测量距离20mm5080200400800mm测量高度范围±2.2 mm（F.S.=4.4 mm）±7.3 mm（F.S.=14.6 mm）±20.5 mm（F.S.=41 mm）±34 mm（F.S.=68 mm）±60 mm（+95 ～ -220 mm *11 ）（F.S.=315 mm）±400 mm（F.S.=800 mm）产品特征l 超高精度的精细测量；l 可支持各种表面材质；l 软件界面直观，操作方便省时；l 支持客户软件二次开发功能；l 支持绘制样品2D/3D形状测量；l 历史数据存储，帮助用户更好掌握结果；l 设备小巧、便于携带；l 维护成本低，保养方便。产品应用领域：智能制造领域的3D检测对象主要是工业制造品为主，行业分类例如汽车、3C智能、焊接、家具等行业，具体检测对象例如手机壳、电路板、锂电池等一.汽车行业：轮胎的外型检测、车体的间隙段差检测、制动盘的碰痕检测；典型案例一：轮胎外轮廓，厚度，高度，深度，边沿，凹槽，角度，圆度，平整度，变形等典型应用二：车体的高度差/ 间隙测量，以微米为单位测量和管理间隙量、 高度差量。将传感器配备在多轴机器人上， 实现在线全数检测。典型应用三：制动盘的碰痕／OCR 检测，即使是表面状态粗糙的工件，也能稳定地进行碰痕的确认、OCR 检测。通过 3200 点 / 轮廓，实现微小的碰痕、 字符的全数检测。二.3C智能行业：手机装配精度检测、封装部件形状检测等典型案例一：智能手机的装配精度确认，玻璃和外壳各自的反射率不同的目标物也能同时测量。典型案例二：平整度检测，可去除因反射率、形状不同而发生的干扰部分。依据稳定的形状进行检测。典型案例三：封装部件的形状检测典型案例四：相机模块的装配精度检测三.家具行业：板材宽度和缺陷检查、木材的分级典型案例一：板材宽度测量和缺陷检查典型案例二：木材的分级四.其他行业：铸件表面的字符识别（OCR）电缆的凹凸检测包装完整性检测

实现『简便准确快速』测量的轮廓形状测量仪参见ContracerCV-2100系列(C15020)产品样本形状测量仪产品样本No.C15020(3)轮廓测量系统卓越的操作性和多功能性掀起轮廓测量系统的新境界！一切为了“快速准确简便”的测量。ContracerCV-2100系列操作面板集中设置于主机前侧飞梭轮快速垂直移动台架●与测量操作相关的配置集中设置在主机前面，大幅缩短了操作流程。●对X轴位置定位时，可在全测量范围内通过电动飞梭轮粗微调整，轻松进行。●装配了新开发的可以简便快速垂直移动的台架(仅CV-2100M4装配)，Z轴方向的测量高度可以轻松快速的接近或退避。●可根据用途选择CV-2100M4/N4主机，选配数据处理装置(笔记本或台式电脑)。CV-2100M4CV-2100N4测量范围X轴100mmZ1轴（检出器）50mm上下移动量（Z轴立柱）350mmX轴倾角范围±45°指示精度

NS3600 激光三维表面轮廓仪NS-3600是一款高速共聚焦激光扫描显微镜（CLSM），可用于精确可靠的3维（3D）测量。 通过快速光学扫描模块和信号处理算法可实现实时共聚焦显微图像。这是测量和检查微观3D结构有前途的解决方案，例如半导体晶圆，FPD产品，MEMS器件，玻璃基板和材料表面。Features & Benefits（性能及优势）：高分辨无损伤光学3D测量 自动倾斜补偿实时共焦成像 简单的数据分析模式多种光学变焦 双Z扫描大范围拼接 半透明基材的特征检测实时CCD明场和共聚焦成像 无样品准备自动聚焦Software (软件）：Application field（应用领域）：NS-3600是测量低维材料的有前途的解决方案。可测量微米和亚微米结构的高度，宽度，角度，面积和体积，例如-半导体:IC图形，凹凸高度，线圈高度，缺陷检测，CMP工艺- FPD产品:触摸屏屏幕检测，ITO图案，LCD柱间距高度- MEMS器件:结构三维轮廓，表面粗糙度，MEMS图形-玻璃表面:薄膜太阳能电池，太阳能电池纹理，激光图案-材料研究:模具表面检测，粗糙度，裂纹分析Specifications（规格）：ModelMicroscope NS-3600备注物镜倍率10x20x50x100x观察/ 测量范围 水平 (H): μm1400700280140垂直 (V): μm1050525210105WD: mm16.53.10.540.3数值孔径(N.A.)0.300.460.800.95观察/测量光学系统 针孔共聚焦光学系统高度测量测量扫描范围10mm显示分辨率0.001 μm重复率 σ0.02 μm注1宽度测量显示分辨率0.001 μm重复率 3σ0.03 μm注 2帧记忆像素1024x1024, 1024x768, 1024x384, 1024x192, 1024x96单色图像12 bit彩色图像8-bit for RGB each高度测量16 bit帧速率表面扫描20 Hz to 160 Hz线扫描~8 kHz激光接收元件PMT (光电倍增管)激光波长638nm (2mW)光学观察照相机成像元件彩色图像 CCD 传感器记录分辨率1296x966数据处理单元专用 PC电源电源电压100 to 240 VAC, 50/60 Hz电流消耗500 VA max.重量显微镜大约. ~50 kg(测量头大约: ~12 kg)控制器~8 kg隔振系统气浮隔振Option注1:100次测量标准样品(1μm高度) 100 x/ 0.9物镜。注2:100次测量标准样品(5μm 间距) 100 ×/ 0.9物镜。Nanoscope system NS3600 三维激光共聚焦显微镜信息由上海巨纳科技有限公司为您提供，如您想了解更多关于Nanoscope system NS3600 三维激光共聚焦显微镜报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。

白光干涉仪是一种精密测量仪器，能对物体表面的粗糙度/光洁度/洁净度、轮廓、微观三维形貌、PV值、台阶、高度、平面度、盲孔等进行高精度测量。白光干涉仪的测量精度很高，精度可以达到亚纳米级别。以大量程、高精度的高速压电陶瓷单元驱动的白光干涉仪精度高达0.03nm，扫描速度高达400μm/s。它应用的行业很广泛，可应用于新能源、半导体、精密加工、精密光学、航空航天、3C产品、材料、液晶等领域。

完善的高精度轮廓测量仪●CV-3200系列是在Z1轴(检出器)上配有高精度弧形光栅尺和新型测臂的轮廓测量仪。高精度弧形光栅尺能直接读取测针的弧形轨迹，以实现高精度和高分辨力。与传统型号相比，新测臂使Z1轴测量范围增大了10mm同时减少了工件的干扰。测臂安装部采用了磁性链接件，单此接触就能完成测臂的装卸，提高了易用性。货号CV-3200S4|CV-3200H4|CV-3200W41CV-3200L4CV-3200S8|CV-3200H8|CV-3200W81CV-3200L8测量范围X轴100mm200mmZ1轴（检出器）60mm(水平位置±30mm)Z2轴（立柱）移动范围

英国真尚有_大量程线激光传感器|大范围激光轮廓扫描传感器|ZLDS210ZLDS210激光二维传感器是一款非接触式的大范围高精度激光二维扫描传感器，它具有结构坚固、测量精度高等特点，在二维测量与轮廓测量方面拥有大量成功应用。ZLDS210二维传感器利用三角测量法进行测量：激光以50°夹角范围在被测物表面进行来回扫描测量。而根据漫反射聚焦成像原理，它几乎可以测任何材料或液体的表面，因此该产品特别适用于测量高温和高亮度被测体。同时ZLDS210还有一个配套的DLL库，它可以为窗口程序提供频率为2K或6KHz的数字信号。主要特点：二维非接触式精确测量；适应各种被测体表面，几乎可以测量所有材料或液体表面；可以测量高温被测体和高亮度被测体；集成度高，ZLDS210测量系统集成了激光发生器，CCD-摄像机和数字信号处理器；配套软件支持，有一个DLL和测试程序，这些都支持在PC机中进行操作；模块程度高，4种不同量程的扫描仪可供选择，便于您的选型；可根据客户需求进行定制。应用领域：专门为二维或轮廓测量而设计的，可以用于任何类型的工业应用，特别适用于测量高温和高亮度被测体。如：钢铁、铁轨等相关测量，也可以用Y坐标的测量结果进行宽度或高度测量。技术规格:

●CV-4500系列是在Z1轴(检出器)上配有高精度弧形光栅尺和新型测臂的轮廓测量仪。高精度弧形光栅尺能直接读取测针的弧形轨迹，以实现高精度和高分辨力。与传统型号相比，新测臂使Z1轴测量范围增大了10mm同时减少了工件的干扰。测臂安装部采用了磁性链接件，单此接触就能完成测臂的装卸，提高了易用性。完善的高精度轮廓测量仪、●专为CV-4500系列增加了以下两大特性：(1)装配双面测针，实现垂直方向(上/下)连续测量，所获取的数据实现简单分析以往难以测量的内螺纹有效直径。(2)测力可在FORMTRACEPAK软件中设置。无需调整配重位置。货号CV4500S4CV-4500H4CV-4500W4CV-4500L4CV-4500S8CV-4500H8CV-4500W8CV-4500L8量围测范X轴100mm200mmZ1轴（检出器）60mm(水平位置

SJ5700S二维粗糙度轮廓测量仪可测量各种精密机械零件的轮廓/粗糙度形状参数。广泛应用于精密机械五金加工、汽车零部件、轴承、机床零部件、模具、光学零部件加工等行业。产品简介SJ5700S二维粗糙度轮廓测量仪采用高精度光栅测量系统、高精度研磨导轨、高性能非接触直线电机、音圈电机测力系统、高性能计算机控制系统技术，实现对各种工件表面轮廓进行测量和分析。通过高精度研磨导轨、高性能直线电机保证测量的高稳定性及直线度，采用进口高精度光栅测量系统建立工件表面轮廓的二维坐标，计算机通过修正算法对光栅数据进行修正，最终还原出工件轮廓信息并以曲线图显示出来，通过软件提供的分析工具可对轮廓/粗糙度进行各种参数分析。产品优势操作灵活、智能、简单1.SJ5700S二维粗糙度轮廓测量仪PR型号共用主体，只需切换不同模块，可对产品进行轮廓形状测量和微观粗糙度测量。2.轮廓测针种类共有50种，可广泛应用于多种行业工件测量。3.粗糙度测针种类共有9种，不同规格传感器和针长适用于多种应用场景.4.组合调节控制手柄可快速完成载物台平移，X轴和Z轴定位，测杆上下摆动及速度分级调节功能。5.各个运动轴都有进行硬件及软件保护，降低人员因操作失误带来的测针及仪器损伤。6.轮廓模块带舵机结构，可防止扫描陡坡时的快速下坠。7.粗糙度根据GB/T、ISO、JIS等标准，自动评价粗糙度。8.软件操作界面简洁直观，任何人都能轻松设定和测量。大量程、高稳定、高精密1.轮廓模块具有X轴200mm的大量程轮廓测量范围，分辨率最高达到0.1nm，系统残差小于5nm。2.自主研发高精度研磨导轨系统，导轨材料耐磨性好、保证系统稳定可靠工作。3.轮廓模块采用音圈电机测力系统，测力可实现从10～150mN档位可调，测力分辨力可达0.2mN；避免了因周围环境振动带来的测力误差，降低了测力变化引起的测量误差。4.粗糙度模块高精度电感测量系统，粗糙度测量精度高。5.粗糙度模块测力固定1mN，微测力对工件表面损伤小，利于粗糙度精准测量。6.高性能直线电机驱动系统，保证测量稳定性高、重复性好。7.专用标定器能对仪器的参数和测针针尖磨损进行修正补偿，使其满足高精度轮廓/粗糙度测量。自动、批量、快速测量1.轮廓测量时：对于简单的工件只需要设置测量起点、终点即可一键测量；对于复杂的工件，工件的任意位置进行分段测量，并做成模板便于轮廓批量测量。2.粗糙度测量时：工件只需要设置测量长度即可一键测量，重复测量记录到一条数据便于统计。3.轮廓测量在CNC固定坐标系模式下，可快速精确地进行轮廓批量测量。4.自动保存测量结果，测量完成后可输出测量报告，形式多样。典型应用技术参数型号SJ5700S轮廓参数测量范围X轴0~200mmZ轴0~450mmZ1轴±25mm测量精度X轴±(0.6+0.015L)μm，（L，mm）曲率误差（直径）≤±（1+R/15）μm角度误差≤±1′爬坡能力上坡77º ，下坡88º 测力10-150mN可调粗糙度参数直线度（X扫描轴）≤0.4μm/100mm，≤0.8μm/200mm测量范围Z0轴±20µ m ±100µ m ±400µ m(可选±1000µ m特殊量程)传感器类型无轨式适用测量范围Ra0.1μm~Ra64μm测量精度示值误差≤±（5nm+2.5%A）μm重复性≤1nm（0.1-0.2μm方波粗糙度样块、标准台阶块)≤1%（≥0.4μm方波粗糙度样块、标准台阶块)测量参数R粗糙度：Ra,Rq,Rz,Rmax,RPc,Rz-JIS,Rt,Rp,Rv,RSm,Sm,S,Rsk,Rku,Rdq,Rdc,Rmr等核心粗糙度: Rk,Rpk,Rvk,Rpkx,Rvkx,Mr1,Mr2,A1,A2,Vo等P轮廓参数：Pa,Pq,Pt,Pz,Pp,Pv,PSm,Psk,Pku,Pdq, Pdc, PPc,Pmr, 等W波度轮廓参数：Wa,Wq,Wt,Wz,Wp,Wv,WSm,Wsk,Wku,Wdq,Wdc,Wmr等Motif参数：R,AR,W,AW,Rx,Wx,Wte,Nr,Ncrx,Nw,Cpm,CR,CF,CL等仪器尺寸800×450×1000（mm）仪器重量约115Kg

中图W系列高精密非接触光学轮廓测量仪以白光干涉技术原理，对各种精密器件表面进行纳米级测量。它通过测量干涉条纹的变化来测量表面三维形貌，专用于精密零部件之重点部位表面粗糙度、微小形貌轮廓及尺寸的非接触式快速测量。中图W系列高精密非接触光学轮廓测量仪可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等参数，针对完成样品超光滑凹面弧形扫描所需同时满足的高精度、大扫描范围的需求，SuperView W1的复合型EPSI重建算法，解决了传统相移法PSI扫描范围小、垂直法VSI精度低的双重缺点。在自动拼接模块下，只需要确定起点和终点，即可自动扫描，重建其超光滑的表面区域，不见一丝重叠缝隙。产品功能1)样件测量能力：单一扫描模式即可满足从超光滑到粗糙、镜面到全透明或黑色材质等所有类型样件表面的测量；2)单区域自动测量：单片平面样品或批量样品切换测量点位时，可一键实现自动条纹搜索、扫描等功能；3)多区域自动测量：可设置方形或圆形的阵列形式的多区域测量点位，一键实现自动条纹搜索、扫描等功能；4)自动拼接测量；支持方形、圆形、环形和螺旋形式的自动拼接测量功能，配合影像导航功能，可自定义测量区域，支持数千张图像的无缝拼接测量；5)编程测量功能：支持测量和分析同界面操作的软件模块，可预先配置数据处理和分析步骤，结合自动单测量功能，实现一键测量；6)数据处理功能：提供位置调整、去噪、滤波、提取四大模块的数据处理功能；7)数据分析功能：提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能。8)批量分析功能：可根据需求参数定制数据处理和分析模板，针对同类型参数实现一键批量分析；9)数据报表导出：支持word、excel、pdf格式的数据报表导出功能，支持图像、数值结果的导出；10)故障排查功能：配置诊断模块，可保存扫描过程中的干涉条纹图像；11)便捷操作功能：设备配备操纵杆，支持操纵杆进行所有位置轴的操作及速度调节、光源亮度调节、急停等；12)环境噪声评价：具备0.1nm分辨率的环境噪声评价功能，定量检测出仪器受到外界环境干扰的噪声振幅和频率，为设备调试和故障排查提供定量依据；13)气浮隔振功能：采用气浮式隔振底座，可有效隔离地面传导的振动噪声，确保测量数据的高精度；14)光源安全功能：光源设置无人值守下的自动熄灯功能，当检测到鼠标轨迹长时间未变动后会自主降低熄灭光源，防止光源高亮过热损坏，并有效延长光源使用寿命；15)镜头安全功能：双重防撞保护，软件ZSTOP防撞保护，设置后即以当前位置为位移下限位，不再下移且伴有报警声；设备配备压力传感器，并在镜头处进行了弹簧结构设计，确保当镜头碰撞后弹性回缩，进入急停状态，大幅减小碰撞冲击力，有效保护镜头和扫描轴，消除人为操作的安全风险。应用领域中图W系列高精密非接触光学轮廓测量仪具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点，测量单个精细器件的过程用时短，确保了高款率检测。特殊光源模式可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精细器件表面的测量。部分技术指标型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配:10×选配:2.5×、5×、20×、50×、100×光学ZOOM标配:0.5×选配:0.375×、0.75×、1×标准视场0.98×0.98㎜（10×）XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式手动和电动兼容型Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动台阶测量可测样品反射率0.05%~100主机尺寸700×600×900㎜恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

一、公司介绍日本三丰Mitutoyo公司自一九三四年创业以来，以“质量第一”为宗旨，向全球范围的广大市场提供千分尺、卡尺等量具以及三坐标测量机、形状测量系统、视像测量系统及光学仪器等系统精密测量仪，长期以来深受广大用户的喜爱和支持。现今，更有幸作为精密测量仪的综合制造商和世界知名品牌的拥有者向社会作出贡献。二、完善的高精度轮廓测量仪• CV-3200/4500 系列是在Z1 轴(检出器) 上配有高精度弧形光栅尺和新型测臂的轮廓测量仪。高精度弧形光栅尺能直接读取测针的弧形轨迹，以实现高精度和高分辨力。与传统型号相比，新测臂使Z1轴测量范围增大了10mm 同时减少了工件的干扰。测臂安装部采用了磁性链接件，单此接触就能完成测臂的装卸，提高了易用性。• 专为CV-4500 系列增加了以下两大特性：(1) 装配双面测针，实现垂直方向(上/下) 连续测量，所获取的数据实现简单分析以往难以测量的内螺纹有效直径。(2) 测力可在FORMTRACEPAK 软件中设置。无需调整配重位置。三、技术参数货号CV-3200S4CV-3200H4CV-3200W4CV-3200S8CV-3200H8CV-3200W8CV-4500S4CV-4500H4CV-4500W4CV-4500S8CV-4500H8CV-4500W8测量范围X 轴100mm200mmZ1 轴(检出器)60mm (水平位置±30mm)Z2 轴 (立柱) 移动范围300mm500mm300mm500mm Z1 轴(检出器)光栅尺类型弧形分辨力CV-3200 系列: 0.04μm, CV-4500 系列: 0.02μm测针上/ 下运作弧形移动测量方向向前/ 向后测针方向CV-3200 系列: 垂直方向 (向上/ 向下单独测量)CV-4500 系列: 垂直方向 (向上/ 向下根据配重调整)测力CV-3200 系列: 30mN (上下可连续测量)CV-4500 系列: 10, 20, 30, 40, 50mN (根据软件转换)跟踪角度向上: 77o, 向下: 83o(根据表面粗糙度，使用标准单切面测针*1) 驱动部长度基准X 轴激光全息光栅尺Z2 轴 (立柱)ABS 光栅尺分辨力X 轴0.05 μmZ2 轴 (立柱)1 μm驱动速度X 轴0 - 80mm/s 外加手动Z2 轴 (立柱)0 - 30mm/s 外加手动测量速度X 轴0.02 - 5mm/s直线度*2X 轴0.8μm/100mm2μm/200mm倾角范围X 轴±45o 精度(20oC) CV-3200 系列 X 轴±(0.8+0.01L)μm L = 驱动长度 (mm)宽范围: 1.8μm/100mm窄范围: 1.05μm/25mm±(0.8+0.02L)μm L = 驱动长度 (mm)宽范围: 4.8μm/200mm窄范围: 1.3μm/25mmZ1 轴(检出器)±(1.6+|2H|/100)μm H = 水平位置上的测量高度 (mm) CV-4500 系列 X 轴±(0.8+0.01L)μm L = 驱动长度 (mm)宽范围: 1.8μm/100mm窄范围: 1.05μm/25mm±(0.8+0.02L)μm L = 驱动长度 (mm)宽范围: 4.8μm/200mm窄范围: 1.3μm/25mmZ1 轴(检出器)±(0.8+|2H|/100)μm H = 水平位置上的测量高度 (mm)外形尺寸 (W×D×H)主机*3756×482x966mm756×482x1166mm1156×482x1176mm766×482x966mm766×482x1166mm1166×482x1176mm重量主机140kg150kg220kg140kg150kg220kg*1: SPH-71 (No.354884)*2: X 轴水平位置时*3: 主机材料为花岗岩注: 虽然天然石材测量桌的外观各有不同，但材料的稳定性是值得信赖的。

NANOMAP D光学探针双模式轮廓仪/三维形貌仪美国AEP Technology公司主要从事半导体检测设备, MEMS检测设备, 光学检测设备的生产制造，是表面测量解决方案行业的领先供应者,专门致力于材料表面形貌测量与检测。NANOMAP D光学双模式轮廓仪/三维形貌仪集白光干涉非接触测量法和大面积SPM扫描探针接触式高精度扫描成像于一个测量平台。是目前功能最全面，技术最先进的表面三维轮廓测量显微镜。既有高精密度和准确度的局部（Local）SPM扫描，又具备大尺度和高测量速度；既可用来获得样品表面垂直分辨率高达0.05nm的三维形态和形貌，又可以定量地测量表面粗糙度及关键尺寸，诸如晶粒、膜厚、孔洞深度、长宽、线粗糙度、面粗糙度等，并计算关键部位的面积和体积等参数。样件无须专门处理，在高速扫描状态下测量轮廓范围可以从1nm 到10mm。由于采用独特的缝合技术，无论怎样的表面形态、粗糙程度以及样品尺寸，一组m× n图像可以被缝合放大任何倍率，在高分辨率下创造一个大的视场，并获得所有的被测参数。该仪器的应用领域覆盖了薄膜/涂层、光学，工业轧钢和铝、纸、聚合物、生物材料、陶瓷、磁介质和半导体等几乎所有的材料领域。随着微细加工技术的不断进步,微电路、微光学元件、微机械以及其它各种微结构不断出现，对微结构表面形貌测量系统的需求越发迫切, NanoMap-D所具备的双模式组合，结合了白光干涉非接触测量及SPM扫描探针高精度扫描成像于一体，克服了光学测量及扫描探针接触式的局限性，并具有操作方便等优点成功地保证了其在半导体器件，光学加工以及MEMS/MOEMS技术以及材料分析领域的领先地位。NANOMAP D光学双模式轮廓仪/三维形貌仪经过广泛严格的检测，确保其作为测量仪器的标准性和权威性，并保证设备的各种功能完好，各个部件发挥出色。用NIST标准可以方便快捷地校验系统的精度，所校准用的标样为获得美国国家标准局( NIST) 的计量单位的认可。NanoMap-D配备的软件提供了二维分析、三维分析、表面纹理分析、粗糙度分析、波度分析、PSD分析、体积、角度计算、曲率计算、模拟一维分析、数据输出、数据自动动态存储、自定义数据显示格式等。综合绘图软件可以采集、分析、处理和可视化数据。表面统计的计算包括峰值和谷值分析。基于傅立叶变换的空间过滤工具使得高通、低通、通频带和带阻能滤波器变的容易。多项式配置、数据配置、扫描、屏蔽和插值。交互缩放。X-Y和线段剖面。三维线路、混合和固定绘图。用于阶越高度测量的地区差异绘图。NANOMAP D光学双模式轮廓仪/三维形貌仪主要功能及应用:多种测量功能精确定量的面积（空隙率，缺陷密度，磨损轮廓截面积等）、体积（孔深，点蚀，图案化表面，材料表面磨损体积以及球状和环状工件表面磨损体积等）、台阶高度、线与面粗糙度,透明膜厚、薄膜曲率半径以及其它几何参数等测量数据。薄/厚膜材料薄/厚膜沉积后测量其表面粗糙度和台阶高度,表面结构形貌, 例如太阳能电池产品的银导电胶线蚀刻沟槽深度, 光刻胶/软膜亚微米针尖半径选件和埃级别高度灵敏度结合，可测量沟槽深度形貌。材料表面粗糙度、波纹度和台阶高度特性分析软件可轻易计算40多种的表面参数，包括表面粗糙度和波纹度。计算涵盖二维或三维扫描模式。表面光滑度和曲率可从测量结果中计算曲率或区域曲率薄膜二维应力测量薄膜应力，能帮助优化工艺，防止破裂和黏附问题表面结构和尺寸分析无论是二维面积中的坡度和光滑度，波纹度和粗糙度，还是三维体积中的峰值数分布和承载比，本仪器都提供相应的多功能的计算分析方法。缺陷分析和评价先进的功能性检测表面特征，表面特征可由用户自定义。一旦检测到甚至细微特征，能在扫描的中心被定位和居中，从而优化缺陷评价和分析。其他仪器选择请点击亿诚恒达官方网站：

超快的速度 64,000 个轮廓／秒 - 瞬时测量所有形状 所谓真正实用的激光测量仪是指？&ldquo 提高质量&rdquo 、&ldquo 防止不良流出&rdquo 、&ldquo 提高成品率&rdquo ，客户提出的制造课题日益增加， 要求水平也越来越高。 基恩士最新提出了&ldquo 对所有产品的所有形状进行&lsquo 精细&rsquo 测量&rdquo 的终级质量管理方案&mdash &mdash 超高速轮廓测量仪 LJ-V7000 系列。性能： &bull 每秒 64000 个轮廓。对间距 0.1mm 、移动速度高达 6.4 米/秒的工件进行轮廓测量 &bull 稳定测量黑橡胶和金属工件，或是有倾斜表面的工件。 &bull 74 种测量模式/16 块区域同时测量 &bull 以 64 kHz 的速率输出原始轮廓数据应用：

详细信息一、产品描述SJ5760轮廓测量仪采用进口高精度光栅测量系统、高精度研磨导轨、高性能非接触直线电机、音圈电机测力系统、高性能计算机控制系统技术，实现对各种工件表面轮廓进行测量和分析。通过高精度研磨导轨、高性能直线电机保证测量的高稳定性及直线度，采用进口高精度光栅测量系统建立工件表面轮廓的二维坐标，计算机通过修正算法对光栅数据进行修正，最终还原出工件轮廓信息并以曲线图显示出来，通过软件提供的分析工具可对轮廓进行各种参数分析。轮廓仪为全自动测量设备，操作者只需装好被测工件，在检定软件上设定扫描的开始、结束位置，点击“开始”按钮，测针会自动接触工件表面,并按设定的位置扫描；在进行轮廓扫描的过程中，软件界面会实时描绘轮廓曲线；扫描结束后，操作者可通过轮廓分析工具对生成的轮廓曲线进行分析，得到如直线度、圆度、角度、距离、间距等轮廓参数。系统软件为简体中文操作系统，操作方便。、二、产品功能1.表面轮廓评定：评定任何两点间的距离，两线夹角，圆弧半径，并可对轮廓进行直线度、圆度分析等，重新分析和重新测量的操作简单，提高效率；2.尺寸标注：半径、两圆心中心距离、X方向尺寸、Z方向尺寸、斜边尺寸、两直线之间的夹角、圆弧最高或最低点、直线与直线相交、直线与圆弧相交、圆弧与圆弧相交、尺寸标注线大小修改、在数据图形某点上加标记等。3.局部轮廓放大和调平；4.界面友好，卓越的操作性，更符合中国用户操作习惯；5.测量记录采用集中式数据库管理，可按被测件类型、生产单位、出厂编号、检测员、送检单位、设备编号、检定日期和有效日期等查询和管理测量记录；6.可从数据库中选定多条记录成批打印测量记录，可将检定数据输出到Word、Excel、AutoCAD（选配）文档，具有数据备份和还原数据库功能；7.输出多种Word格式报表，并支持完全的自定义报表，定制测量记录报表；8.具有强大的CNC功能，能进行一系列的自动化，高效率的测量作业；9.成熟简单的标定，对仪器的精度和测针磨损进行精确的补偿。三、标准配置1)SJ5760轮廓测量仪主机1台；2)标定台1套；3)30mm单切面测针1支；4)平口虎钳1套；5)万向工作台1套；6)测量软件1套；7)品牌计算机1套1）主机配置：双核以上CPU，500GB硬盘，2G内存，Win7系统；2）显示器：24寸液晶显示器。8)铝合金仪器配件箱1个；9)产品使用说明书1套；10)产品合格证、保修卡1套；11)免费保修1年。三、应用案例齿形测量压铸件测量铁路轮毂检测模具检测

布鲁克三维光学轮廓仪ContourX-1000落 地 式 ContourX-1000 白 光 干 涉（WLI） 系 统 集 成 了Bruker 在 硬 件 和 软 件 上 的 最 新 技 术， 可 用 于 全 自 动 三维表面纹理和粗糙度测量。全新的一键式高级寻找表面（Advanced Find Surface ）功能结合自动聚焦和自动照明功能，无需每次测量前手动查找样品表面，极大提升了用户体验且缩短测量时间。结合自适应测量模式 USI 和简洁的引导式VisionXpress操作界面，ContourX-1000 在任何表面，任何操作人员，甚至多用户高负荷的生产设备下都可提供不打折扣的精确测量。特点：可倾斜 / 俯仰光学头、双光源和先进的自动化功能可提供快速、灵活的生产车间内测量。自校准激光和集成的防震台可确保极高的测量准确性和可靠性。提供的测量和分析软件带有简洁且有引导性的程序和模式，更大程度的方便用户使用。光学轮廓分析设备硬件设计的巅峰ContourX-1000 集成有 Bruker 专利的倾斜 / 俯仰光学头，特有的双光源、自动化的物镜转盘和样品台，以及可选配的晶圆卡盘。这些创新可为几乎所有的在研发和生产中的应用提供快速且最优的解决方案，包括有难度的表面和深沟槽结构。 技术参数强大的自动化测量和分析的典范全局扫描干涉 (USI) 自适应测量模式可自动确定最优的测量参数，即使在几十微米尺度内也可确保纳米级分辨率。 简洁的且带有引导性的 VisionXpress交互界面可去除操作人员经验水平的影响，快速得到最佳测试结果。即使在多用户环境中，每个使用者都可通过高级查找表面功能，自动聚焦功能和自动照明调整功能获取高 质 量 的 结 果。 使 用 全 套 兼 容 的软件包，从SureVison和多区域分析 到 Vision64 Map 和 膜 测 量，ContourX-1000 都 可 提 供 全 方 位 的测量来满足您特定的应用需求。 测量准确性与鲁棒性的基准除 拥 有 Bruker 独 有 干 涉 技 术 无与 伦 比 的 测 量 和 成 像 能 力 之 外，ContourX-1000 还 配 备 了 专 属 的 内部参考激光和防震台以获取最大的稳定性和与其他工具的匹配能力。即使在嘈杂的环境中，该系统也能确保测量性能。 布鲁克 NPFLEX-1000三维光学轮廓仪 落地式 NPFLEX-1000 白光干涉（WLI）测量系统为精密制造业带来了前所未有的灵活性、测量能力和性能，从而理解和控制制造过程。该系统采用开放式龙门架设计，具有300mm 的样品台与目镜间距，因此能够在各种形状和尺寸的样品上轻松测量微观及宏观特征。全新的一键高级查找表面&trade 通过结合自动对焦和自动照明，消除了在每次测量之前手动聚焦表面的需要，从而提升用户体验，并减少测量时间。解决专业应用的表面独立计量方案具有大尺寸龙门架结构的 NPFLEX-1000 让非专业用户也能快速获得高质量结果。开放式坚固的桥梁结构、旋转测头和多功能物镜选项结合，提供了最大的样本尺寸自由度和测量大坡度表面的能力。NPFLEX-1000 的灵活性旨在解决汽车、医疗和大型增材制造等领域精密加工中 QA/QC 部门的粗糙度和表面纹理测量问题。其中一些 QA/QC 研究包括：腐蚀监测鉴别并统计腐蚀斑定量可视化测量宽度、深度、体积监测表面形貌变化微导程角测量确定密封件的泄露行为测量全局导程角，导程角的大小、方向，频率，柱面角等确保密封件在高温环境下的耐久性磨损与寿命预测定量材料体积损失随时间的变化测量峰、谷比例理解磨损方向气缸表面纹理分析侧壁粗糙度，理解活塞运动实现内壁缝合测量内壁织构的角度齿轮法兰粗糙度分析接触区域定量分析磨损体积检查处理表面行为表面光洁度质量控制测量表面纹理与表面特性相关联支持加工过程的控制凸轮印迹分析检查凸轮轴凸角是否有颤动测量凸轮印迹的周期理解界面表面纹理与零件性能或者失效的关系特点超大尺寸和表面斜率兼容性简化了样品准备过程，并增加了每个部件可测量表面的范围卓越的易用性使任何经验级别的操作员都能获得专家级的结果超快的自动化测量和分析程序缩短了结果时间高度坚固的桥梁结构和集成的隔振系统可提供生产环境下的长期精度和可靠性实际使用的优势开放式样品加载和直观的分析软件能够以亚微米分辨率表征表面纹理、光洁度、粗糙度、曲率、斜率和许多其他参数。材料宽容―― 反射率从 0.05% 到 100%，表面纹理从平坦到粗糙高度自动―― 就绪、完全可定制的测量和分析流程自校准―― 最高精度和再现性

布鲁克三维光学轮廓仪ContourX-1000落 地 式 ContourX-1000 白 光 干 涉（WLI） 系 统 集 成 了Bruker 在 硬 件 和 软 件 上 的 最 新 技 术， 可 用 于 全 自 动 三维表面纹理和粗糙度测量。全新的一键式高级寻找表面（Advanced Find Surface ）功能结合自动聚焦和自动照明功能，无需每次测量前手动查找样品表面，极大提升了用户体验且缩短测量时间。结合自适应测量模式 USI 和简洁的引导式VisionXpress操作界面，ContourX-1000 在任何表面，任何操作人员，甚至多用户高负荷的生产设备下都可提供不打折扣的精确测量。特点：可倾斜 / 俯仰光学头、双光源和先进的自动化功能可提供快速、灵活的生产车间内测量。自校准激光和集成的防震台可确保极高的测量准确性和可靠性。提供的测量和分析软件带有简洁且有引导性的程序和模式，更大程度的方便用户使用。光学轮廓分析设备硬件设计的巅峰ContourX-1000 集成有 Bruker 专利的倾斜 / 俯仰光学头，特有的双光源、自动化的物镜转盘和样品台，以及可选配的晶圆卡盘。这些创新可为几乎所有的在研发和生产中的应用提供快速且最优的解决方案，包括有难度的表面和深沟槽结构。 技术参数强大的自动化测量和分析的典范全局扫描干涉 (USI) 自适应测量模式可自动确定最优的测量参数，即使在几十微米尺度内也可确保纳米级分辨率。 简洁的且带有引导性的 VisionXpress交互界面可去除操作人员经验水平的影响，快速得到最佳测试结果。即使在多用户环境中，每个使用者都可通过高级查找表面功能，自动聚焦功能和自动照明调整功能获取高 质 量 的 结 果。 使 用 全 套 兼 容 的软件包，从SureVison和多区域分析 到 Vision64 Map 和 膜 测 量，ContourX-1000 都 可 提 供 全 方 位 的测量来满足您特定的应用需求。 测量准确性与鲁棒性的基准除 拥 有 Bruker 独 有 干 涉 技 术 无与 伦 比 的 测 量 和 成 像 能 力 之 外，ContourX-1000 还 配 备 了 专 属 的 内部参考激光和防震台以获取最大的稳定性和与其他工具的匹配能力。即使在嘈杂的环境中，该系统也能确保测量性能。 布鲁克 NPFLEX-1000三维光学轮廓仪 落地式 NPFLEX-1000 白光干涉（WLI）测量系统为精密制造业带来了前所未有的灵活性、测量能力和性能，从而理解和控制制造过程。该系统采用开放式龙门架设计，具有300mm 的样品台与目镜间距，因此能够在各种形状和尺寸的样品上轻松测量微观及宏观特征。全新的一键高级查找表面&trade 通过结合自动对焦和自动照明，消除了在每次测量之前手动聚焦表面的需要，从而提升用户体验，并减少测量时间。解决专业应用的表面独立计量方案具有大尺寸龙门架结构的 NPFLEX-1000 让非专业用户也能快速获得高质量结果。开放式坚固的桥梁结构、旋转测头和多功能物镜选项结合，提供了最大的样本尺寸自由度和测量大坡度表面的能力。NPFLEX-1000 的灵活性旨在解决汽车、医疗和大型增材制造等领域精密加工中 QA/QC 部门的粗糙度和表面纹理测量问题。其中一些 QA/QC 研究包括：腐蚀监测鉴别并统计腐蚀斑定量可视化测量宽度、深度、体积监测表面形貌变化微导程角测量确定密封件的泄露行为测量全局导程角，导程角的大小、方向，频率，柱面角等确保密封件在高温环境下的耐久性磨损与寿命预测定量材料体积损失随时间的变化测量峰、谷比例理解磨损方向气缸表面纹理分析侧壁粗糙度，理解活塞运动实现内壁缝合测量内壁织构的角度齿轮法兰粗糙度分析接触区域定量分析磨损体积检查处理表面行为表面光洁度质量控制测量表面纹理与表面特性相关联支持加工过程的控制凸轮印迹分析检查凸轮轴凸角是否有颤动测量凸轮印迹的周期理解界面表面纹理与零件性能或者失效的关系特点超大尺寸和表面斜率兼容性简化了样品准备过程，并增加了每个部件可测量表面的范围卓越的易用性使任何经验级别的操作员都能获得专家级的结果超快的自动化测量和分析程序缩短了结果时间高度坚固的桥梁结构和集成的隔振系统可提供生产环境下的长期精度和可靠性实际使用的优势开放式样品加载和直观的分析软件能够以亚微米分辨率表征表面纹理、光洁度、粗糙度、曲率、斜率和许多其他参数。材料宽容―― 反射率从 0.05% 到 100%，表面纹理从平坦到粗糙高度自动―― 就绪、完全可定制的测量和分析流程自校准―― 最高精度和再现性

德国BMT 孔和圆柱形工件表面轮廓光学测量仪 本仪器由一测量头和一转向棱镜组成，用于圆柱形工件的非接触测量三维表面轮廓和微观结构测量，适合在研究，开发和生产中使用。测量头设计简单精巧，可以提供最佳的长向和横向分辨率。它相对免维护和方便自动测量的功能使其适合在生产过程使用。适于在很短时间间隔内高精度和定量测量表面粗糙度特征、气孔、划伤、涂层缺陷等，即可在孔内部，也可在小的圆柱工件外表面进行。有自动瞄准功能的测量头安装在一固定位置，而工件或偏光镜移动至与光学轴共线。测量区的长度决定了工件或偏光镜的驱动长度。这种运动是通过用一个单独的提升台实现的。所有部件包括测量头，提升台和数据采集都是由电脑控制的，可以自动进行重复测量。测量数据根据工件直径修正后可以以笛卡儿和极坐标显示，并以用户选定的程序评估。主要用途：◆ 小的圆拄和衬套工件内外表面三维轮廓测量◆ 涂层质量控制◆ 探测识别孔的外表面主要特点：◆ 非接触高精度测量◆ 在生产现场和线上使用◆ 相对免维护◆ 适合产品研究开发的理想仪器◆ 垂向（对被测物而言是径向）分辨率可达1nm ◆ 横向（对被测物而言是轴向）分辨率可达10µ m◆ 结构紧凑、耐用主要优点◆ 快速，非接触精密测量小孔和圆柱形工件的微观结构，粗糙度，加工标记，缺陷，划伤和圆柱形工件的外表面三维特征数据◆ 笛卡儿坐标或者极坐标◆ 测量和评估物体特定表面特征，包括涂层和磨损技术数据：测量孔直径mm5-50垂向驱动长度沿工件轴线 可按用户要求定制测量范围祄约50分辨率祄最大1Y向分辨率祄约1尺寸mm约320 x 320 x 380重量kg约5测量时间s1-20

产品介绍：CV120/CV300轮廓测量仪是一款经典的轮廓测量仪器，具有智能功能和合理的自动化功能。它提供了强大而可靠的轮廓测量系统所需要的所有功能。CV120/CV300轮廓测量仪最初是为了监测工业制造过程而开发的，由于其强大的机械性能和强大的软件，CV120/CV300轮廓测量仪在计量室也做得很好。工件可以在整个测量范围内自动测量。整个驱动单元的校准是全自动的。测量精度高，详细评估，操作简单，价格优惠，使CV120/CV300轮廓测量仪特别具有吸引力。我们还提供大理石台面和铝合金台面（为移动使用）。技术参数：通过标准USB 接口进行外部控制测量范围：30×120 毫米（CV130），100×300 毫米（CV300）Z 柱的定位范围：380 mm（CV130），400 毫米（可选 600 毫米）（CV300）软件控制的测量臂提升可软件编程自动测量即使是大型和重型零件也可以测量所有轴的运动都可以自动进行快捷更换测量臂软件可兼容：Win10/64Bit 或Win7/64Bit每次测量结果及分析报告均自动生成自动测量仅需三个步骤：测量、评估、保存

精确、快速、便携应用领域：金属，复合材料，织物等材质表面的划痕，裂纹，磨损，刮擦、凹坑、凿击、腐蚀等表面缺陷的现场检测和分析；铆接，焊接，接缝等阶差和凹凸量的三维检测；三维面粗糙度测量分析；划窝孔，槽深，圆弧，倒角等几何尺寸测量； 测量原理：德国GFM公司基于激光条纹相位投影技术和DSP高速图像处理芯片研制的便携式三维光学表面划痕测量仪，用于现场表面质量特性的检测，具有测量速度快，测量准确，便携性等优点。 仪器特点：便携式现场检测大型零件表面划痕缺陷,阶差等表面几何特性参数；三维测量表面划痕缺陷，通过拓扑色差图直观检测出划痕缺陷最深的部位；专业的划痕测量分析软件，多种滤波方式：包含了多项式滤波，高斯滤波，均值滤波等，有效消除曲面轮廓，倾斜，噪音信号，毛刺，灰尘等因素对测量结果的影响；大倾角光路设计，以及蓝光LED光源，测量不受高反光曲面的影响；SDK软件包，开放仪器接口，可二次开发；仪器附件 测量范围X/Y/Z：13X8X5 mm测量示值误差： (2+L/1000)μm L单位μm深度方向分辨力：1um聚焦距离： 107mm测量扫描时间: 3秒；扫描点云：36万点/幅使用环境温度：5-40°C符合国标校准规范的计量校准溯源

详细信息一、产品简介VJ系列3D轮廓测量仪，搭配高精度线激光测头，结合高精度图像分析算法，无接触扫描3D轮廓成像，实现尺寸的快速精确测量。CNC模式下，只需按下启动键，仪器即可根据工件的形状自动定位测量对象、匹配模板、测量评价、报表生成，真正实现一键式快速精准测量。二、产品优势高精测量，稳定可靠1．高精度线激光测头，无接触高精度3D扫描成像；2．抑制多重反射、漫反射等影响，测量稳定；3．自动识别测量部位，每次都能获得统一稳定的测量结果。一键闪测，批量更快1．轻松建立模板，一劳永逸；2．任意摆放产品，无需夹具定位，自动匹配工件坐标系，一键测量；3．CNC模式下，可快速精确地进行批量测量。操作简单，轻松无忧1．任何人都能很快上手，无需复杂培训；2．简洁的操作界面，任何人都能轻松设定和测量；3．测量现场立即评价测量尺寸偏差，一键生成统计分析、检测结果报告等。功能丰富，自动报表1．软件分为测量设定、CNC测量、记录管理、统计分析四大功能模块；2．提供滤波、矫正等图像处理工具；高度差、平面度、面角度、球半径、圆柱半径等3D测量工具，测量线、2点高度、台阶距离、线角度、圆弧半径、圆弧直径等2D测量工具；3．自动输出SPC分析报告，可输出统计值（如CA、PPK、CPK、PP等）及控制图（如均值与极差图、均值与标准差图、中位数与极差图、单值与移动极差图）。三、应用领域VJ系列3D轮廓测量仪可用于机械、电子、手机、模具、注塑、五金、橡胶、低压电器、磁性材料、精密冲压、接插件、连接器、端子、家电、印刷电路板、医疗器械、钟表、刀具、计量检测等领域。四、技术规格表1型号VJ1010VJ2010视野范围XY(mm)100×100200×100行程范围XYZ(mm)100×100×75200×100×75

CALIPRI C42 非接触手持式轮轨外形轮廓测量仪作为铁路检测领域第一款完全非接触、手持式轮廓测量仪，采用激光光切技术。其独特的三条激光线相互配合可以自动补偿人为操作造成的倾斜与偏转——即获得了专利的Calipri技术。在测量时，操作者手持传感器围绕被测物体旋转，传感器通过多角度拍摄最终拟合出一条完整的轮廓线，测量软件会基于得到的轮廓线对尺寸参数进行评估，最终在平板电脑以及传感器液晶屏上显示测量数据。更重要的是CALIPRI C42 非接触手持式轮轨外形轮廓测量仪真正做到了一种解决方案解决众多铁路测量任务。从生产商的生产制造再到运营商的日常维护，针对目前国内所有型号的轮对与钢轨，CALIPRI C42已支持所有重要的轮轨测量模块，包括：车轮外形轮廓模块、车轮直径模块、车轮轮辋厚度模块、轮对内距模块、制动盘磨耗模块、车轮跳动度多边形模块，等效锥度模块；钢轨磨耗与打磨指导模块、道岔模块、轨道几何模块、磨损剥离测量模块，以及任意轮廓测量模块等。CALIPRI C42真正做到了一台测量仪器完成多种应用。技术特点01可靠的测量流程专利的、非接触式测量原理02测量结果与操作者无关03轮廓精度 +/- 15 µ m*04通过测量模块/附加组件实现多种功能05可自定义的测量报告06强大的服务团队提供支持和维修07校准板确保了精度和可用性08独立实验室对测量仪器/模块的适用性测试

SJ5700S标准型粗糙度轮廓测量仪可测量各种精密机械零件的轮廓/粗糙度形状参数。广泛应用于精密机械五金加工、汽车零部件、轴承、机床零部件、模具、光学零部件加工等行业。产品简介SJ5700S标准型粗糙度轮廓测量仪采用高精度光栅测量系统、高精度研磨导轨、高性能非接触直线电机、音圈电机测力系统、高性能计算机控制系统技术，实现对各种工件表面轮廓进行测量和分析。通过高精度研磨导轨、高性能直线电机保证测量的高稳定性及直线度，采用进口高精度光栅测量系统建立工件表面轮廓的二维坐标，计算机通过修正算法对光栅数据进行修正，最终还原出工件轮廓信息并以曲线图显示出来，通过软件提供的分析工具可对轮廓/粗糙度进行各种参数分析。产品优势操作灵活、智能、简单1.SJ5700S标准型粗糙度轮廓测量仪只需切换不同模块，可对产品进行轮廓形状测量和微观粗糙度测量。2.轮廓测针种类共有50种，可广泛应用于多种行业工件测量。3.粗糙度测针种类共有9种，不同规格传感器和针长适用于多种应用场景.4.组合调节控制手柄可快速完成载物台平移，X轴和Z轴定位，测杆上下摆动及速度分级调节功能。5.各个运动轴都有进行硬件及软件保护，降低人员因操作失误带来的测针及仪器损伤。6.轮廓模块带舵机结构，可防止扫描陡坡时的快速下坠。7.粗糙度根据GB/T、ISO、JIS等标准，自动评价粗糙度。8.软件操作界面简洁直观，任何人都能轻松设定和测量。大量程、高稳定、高精密1.轮廓模块具有X轴200mm的大量程轮廓测量范围，分辨率最高达到0.1nm，系统残差小于5nm。2.自主研发高精度研磨导轨系统，导轨材料耐磨性好、保证系统稳定可靠工作。3.轮廓模块采用音圈电机测力系统，测力可实现从10～150mN档位可调，测力分辨力可达0.2mN；避免了因周围环境振动带来的测力误差，降低了测力变化引起的测量误差。4.粗糙度模块高精度电感测量系统，粗糙度测量精度高。5.粗糙度模块测力固定1mN，微测力对工件表面损伤小，利于粗糙度精准测量。6.高性能直线电机驱动系统，保证测量稳定性高、重复性好。7.专用标定器能对仪器的参数和测针针尖磨损进行修正补偿，使其满足高精度轮廓/粗糙度测量。自动、批量、快速测量1.轮廓测量时：对于简单的工件只需要设置测量起点、终点即可一键测量；对于复杂的工件，工件的任意位置进行分段测量，并做成模板便于轮廓批量测量。2.粗糙度测量时：工件只需要设置测量长度即可一键测量，重复测量记录到一条数据便于统计。3.轮廓测量在CNC固定坐标系模式下，可快速精确地进行轮廓批量测量。4.自动保存测量结果，测量完成后可输出测量报告，形式多样。典型应用技术参数型号SJ5760-PR轮廓参数测量范围X轴0~200mmZ轴0~450mmZ1轴±25mm测量精度X轴±(0.6+0.015L)μm，（L，mm）曲率误差（直径）≤±（1+R/15）μm角度误差≤±1′爬坡能力上坡77º ，下坡88º 测力10-150mN可调粗糙度参数直线度（X扫描轴）≤0.4μm/100mm，≤0.8μm/200mm测量范围Z0轴±20µ m ±100µ m ±400µ m(可选±1000µ m特殊量程)传感器类型无轨式适用测量范围Ra0.1μm~Ra64μm测量精度示值误差≤±（5nm+2.5%A）μm重复性≤1nm（0.1-0.2μm方波粗糙度样块、标准台阶块)≤1%（≥0.4μm方波粗糙度样块、标准台阶块)测量参数R粗糙度：Ra,Rq,Rz,Rmax,RPc,Rz-JIS,Rt,Rp,Rv,RSm,Sm,S,Rsk,Rku,Rdq,Rdc,Rmr等核心粗糙度: Rk,Rpk,Rvk,Rpkx,Rvkx,Mr1,Mr2,A1,A2,Vo等P轮廓参数：Pa,Pq,Pt,Pz,Pp,Pv,PSm,Psk,Pku,Pdq, Pdc, PPc,Pmr, 等W波度轮廓参数：Wa,Wq,Wt,Wz,Wp,Wv,WSm,Wsk,Wku,Wdq,Wdc,Wmr等Motif参数：R,AR,W,AW,Rx,Wx,Wte,Nr,Ncrx,Nw,Cpm,CR,CF,CL等仪器尺寸800×450×1000（mm）仪器重量约115Kg如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

中图仪器SJ5800系列粗糙度轮廓测量仪的产品功能及高精度测量能力可以满足发动机关键零部件的轮廓尺寸测量需求。它采用超高精度纳米衍射光学测量系统、超高直线度研磨级摩擦导轨、高性能直流伺服驱动系统、高性能计算机控制系统技术，能实现对轴承及工件表面粗糙度和轮廓的高精度测量和分析。SJ5800系列粗糙度轮廓测量仪可广泛应用于精密机械加工、汽车、轴承、机床、模具、精密五金等行业, 该仪器可以对零件表面，尤其是大范围曲面，如圆弧面和球面、异型曲面等进行检测，是大曲面测量（轴承、人工关节、精密模具、齿轮、叶片、轴承滚子）领域精细粗糙度测量的利器。产品优势1、轴承测量、高稳定、高精密(1)SJ5800系列粗糙度轮廓测量仪具有12mm~24mm的大量程粗糙度测量范围，测试轴承内外侧。可选轴承夹具和滚子分析，方便测试。(2)分辨率高达0.1nm，系统残差小于3nm。(3)超高直线度研磨级摩擦导轨、特殊红宝石转轴系统提供转动的超高灵敏度及测量精度。(4)高稳定的驱动设计，确保了驱动运行过程中不产生任何的振动及干扰，保障了系统扫描运动精度。(5)精度标定台能对仪器的参数和测针针尖磨损进行修正补偿，使其满足高精度轮廓测量。2、操作灵活、智能、简单(1)轮廓和粗糙度一体测量，无需切换模块。(2)测针一键拔插，设计的高刚性拔插结构，无需锁螺钉，方便快捷、稳定可靠。(3)各个运动轴都有进行硬件及软件保护，降低人员因操作失误带来的测针及仪器损伤。(4)带舵机结构，可防止扫描陡坡时的快速下坠。(5)智能恒测力系统，0.5-3mN 测力档位可调，降低了测力变化引起的测量误差，适合测量各类软、硬性工件。(6)组合调节控制手柄可快速完成载物台平移，X轴和Z轴定位，测杆上下摆动及速度分级调节功能。(7)根据GB/T、ISO、JIS等标准，自动评价粗糙度。(8)软件操作界面简洁直观，任何人都能轻松设定和测量。3、自动、批量、快速测量(1)对于简单的工件只需要设置测量长度即可一键测量；对于复杂的工件，可以定工件的任意位置进行分段测量，并做成模板便于轮廓批量测量。(2)CNC固定坐标系模式下，可快速精确地进行轮廓批量测量。(3)自动保存测量结果，测量完成后可输出测量报告，形式多样。产品特点1.纳米级光学传感器，可大量程(24mm)测量轴承圆弧沟槽表面粗糙度；2.拔插式测杆、0.5mN超低测力保护工件测量面；3.多方向运动轴保护措施，确保测针、保护仪器关键部位；4.具备轴承沟道测量功能：桃形沟尺寸、圆弧沟道、油沟形状、角度及对称度、套圈越程槽、成品轴承外圈凹槽距离、轴承滚道与挡边角度测量、倒角Ｒ及倒角尺寸，对称、非对称、对数曲线滚子凸度及滚子球基面测量功能；5.具备轴承沟道，内孔及端面表面粗糙度测量功能；6.分离式操作控制台，控制X、Z轴移动，使得测针顺利进入工件测量位置7.可将数据扫描点输出到CAD、ASCII格式文件，方便细节观察工件表面缺陷。分别对发动机关键零部件节温器内筒、气门摇臂及凸轮轴进行高精度轮廓参数检测：1)节温器内筒轮廓粗糙度检测 2)气门摇臂内孔粗糙度检测3)发动机凸轮轴轮廓尺寸及粗糙度检测部分技术参数型号SJ5800-100轮廓参数测量范围X轴0~100mm立柱轴0~300mmZ轴±6mm（标准测杆）（±12mm：两倍标准测杆）粗糙度参数粗糙度测量参数R粗糙度：Rp,Rv,Rz,Rc,Rt,Ra,Rq,Rsk,Rku,RSm,Rdq,Rdc,Rmr,Rmax,Rpm,tp,Htp,Pc,Rda,Ry,Sm,S,RzJ；Ra,Rq,Rz,Rmax,RPc,Rz-JIS,Rt,Rp,Rv,RSm,Sm,S,Rsk,Rku,Rdq,Rdc,Rmr；核心粗糙度Rcore: Rk,Rpk,Rvk,Rpkx,Rvkx,Mr1,Mr2,A1,A2,Vo；P轮廓参数：Pa,Pq,Pt,Pz,Pp,Pv,PSm,Psk,Pku,Pdq,Pdc,Pc,PPc,Pmr,Rad,PzJ,Pmax；W波纹度轮廓参数：Wa,Wq,Wt,Wz,Wp,Wv,WSm,Wsk,Wku,Wdq,Wdc,Wmr,Wpc,Wc；Motif参数：仪器尺寸（长×宽×高）600×350×850mm仪器总重量约95Kg恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。