反光标线反射系量仪

3M V01S0免保养安全背心V领黄色带反光条由上海书培实验设备有限公司提供 3MV01S0免保养安全背心，反光科技 耐用反光条 反光面积大更耀眼，魔术粘扣，穿脱方便，耐用粘扣，荧光布料，柔和亲肤，聚酯纤维材质。提高夜间作业的安全性，欢迎新老客户来电咨询选购!产品介绍：根据高折射率玻璃微珠形成的微透镜回归反射原理或透明树脂构成的微晶格形成的立方角回归反射原理而制成，能将光线反射回其光源处，产生极佳的反光效果。回归反射的过程，使接近光源的观察者感觉到反光材料特别明亮，加强行动人体在夜间视线不良和危急境况中的可视性，增强安全性而避免发生意外。产品细节：3M全球著名品牌先进技术 、超高标准；执行标准：GB18401-2010【国家纺织产品基本安全技术范围】；GB20653-2006【职业用高可视性警示服】；魔术贴-穿戴方便，V领-简洁大方，秋冬款-柔软厚实；100%聚酯纤维，典型反光强度500CPL；3M反光材料：210米外被驾驶者看见，产生危机意识开始行动；精选高档布料：密实针织布，柔软亲肤无刺激，低碳绿色环保；高反光材料：反光可视角度及大，耐老化，耐磨损；

雾度测量仪配件能够精确测量在玻璃或硅晶圆衬底上薄膜的总透过率和漫透过率，根据公式Haze(λ)=DT(λ)/TT(λ)从而获得雾度值，测量光谱范围为400-900nm。薄膜的总透过率，总反射率，漫透过率对于太阳能光伏制造非常重要，雾度测量仪配件通过三个光谱仪测量400-900nm范围内的光谱，不需要移动或改变任何部件，保证测量精度和使用寿命。雾度测量仪配件采用模块化设计，具有高度的可拓展性，充分满足不同客户的多种需要。例如，自动光学窗口可更换，简化操作，减少用户的人工干预操作。还有厚度和反射率测量模块可集成，从而满足客户测量薄膜厚度和折射率的需求。除此之外，还可以根据用户的预算情况配备自动扫描或手动扫描的机制，可以适合任何尺寸的样品，包括面积大于1平方米的玻璃板。

多功能翘曲度测量仪配件是孚光精仪公司进口的全球领先的翘曲度检测仪器，一套翘曲度测试仪器可以测量：热沉,晶圆(wafer),太阳能电池和硅片翘曲度,应力以及表面形貌。多功能翘曲度测量仪配件是特别为半导体晶圆（wafer)和太阳能电池（solar cell)的翘曲度（warp) 和弯曲度(bow)以及表面形貌(topography)的测量而设计，可以测量晶圆翘曲度（wafer warpage) 和晶圆表面形貌, 晶圆应力,硅片张力,太阳能电池量子效率，既适合科研单位使用，也适合工业客户大产品、高效率的晶圆翘曲度和表面形貌的检测的需要。我们还根据不同晶圆类型提供如下两种硅片翘曲度测量仪：1. 非反射型：适合晶圆表面覆盖晶圆保护膜/胶带（wafer tape)，图案化晶圆 /图样化晶圆（patterned wafer)，粗糙的晶圆的应用；2. 高反射型： 适合晶圆表面光滑 / 镜反射的应用。多功能翘曲度测量仪配件特点：× 适合不同尺寸的晶圆检测，从0.5’‘到12' ' 的直径；* 标准检测能力为： 每小时可检测2000个晶圆或更多太阳能电池；× 同时测量多个晶圆或太阳能电池；× 测量镀膜后的晶圆或solar cell * 分析太阳能电池或晶圆应力和张力；* 对晶圆表面进行图像分析；* 测量图案化晶圆或非图案化的晶圆；* 具有太阳能电池的量子效率测量选项供选择多功能翘曲度测量仪配件参数：× 翘曲度测量范围：1-20微米；* 重复精度： 百分之0.5 （1 sigma) * 给出结果：曲率半径,晶圆弯曲高度，翘曲度，测量日期和时间；* RMS粗糙度mapping: 0.5-20A （可选项）；* 光源：根据用户的应用而配备不同光源；* 探测器：高分辨率探测器阵列并配备亚像素软件；

公司主营：美国PE、戴安DIONEX离子色谱耗材，PE元素灯/PE石墨管/PE氘灯/PE钨灯/PE基体改进剂/PE样品杯/PE GCMS灯丝/PE ICP火炬/PE氧化铝注入管/PE雾化器大量现货！美国Perkinelmer（珀金埃尔默）耗材常备现货：元素灯、石墨管、样瓶杯、取样毛细管、进样针、雾化器、矩管、中心管、泵管、顶空瓶、隔垫、瓶盖、色谱瓶、热脱附管、干燥剂、钨灯、氘灯、铝制等全自动通用反射附件（URA）珀金埃尔默独一无二的通用反射附件（URA）是当今市面上唯一的全自动、多角度绝对镜面反射附件。本品适用于λ（Lambda）650/850/950/1050。只需将样品放在水平取样板上并通过鼠标点击几次而选择所需的测定角度后就可开始扫描。不同于传统方法，URA可自动高效地改变测量角度，从而不需要手动进行耗时的反光镜调整和附件更换。这种方法可降低运行成本并提高工作效率。URA可扣入适当的次级取样位置内并能与积分球和其他检测器模块进行快速互换。特点和优势：测量范围：190-3100 nm（UV/Vis/NIR）、190-900nm（UV/Vis）角度范围：入射角8-68°消偏振建议角度15°使用双重消偏振驱动器（B0505530）分别测定S&P偏振能够进行绝对和相对测定典型应用包括测定抗反射涂层、高反射器、涂层厚度和金属反射器全自动通用反射附件（URA）订货信息：产品描述部件编号URA*（仅限UV/Vis）L6020208URA*（UV/Vis/NIR）L6020202仅用于λ（Lambda）1050的URA（UV/Vis/NIR）L6020358

显微薄膜测量仪配件是一款超级紧凑而功能多样的薄膜测试仪系统，可以结合显微镜测量薄膜的吸收率，透过率，反射率以及测量点的荧光。薄膜测试仪通过反射率的测量，测量点处的薄膜厚度，薄膜光学常量（n &k)以及thick film stacks都能在瞬间测量出来。整套显微薄膜测量仪的组成是：光栅光谱仪（200-1100nm)+显微镜目镜 适配器+软件+显微镜（可选）。其中目镜适配器包含镜头，可增加光的收集。标准的40X物镜可做到测量点直径约200微米。更高倍数的物镜的测量点更小。整套薄膜测量仪和薄膜测试仪到货即可使用，仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可，操作非常方便。 安装到显微镜上的薄膜测量仪照片 薄膜测试仪SiO2薄膜测量结果（20X物镜）薄膜厚度测试仪配件软件这款薄膜测试仪配备专业的仪器控制，光谱测量和薄膜测量功能的软件，具有广阔的应用范围。该薄膜厚度测试仪软件能够实时采集吸收率，透过率，反射率和荧光光谱，并且能够能够快速计算出结果。对于吸收率/透过率模式的配置，所有的典型参数如 A, T可快速计算出来。其他的非标准参数，如signal integration也能测量出来。对于反射率测量，该薄膜厚度测试仪软件能够精确测量膜层小于10层薄膜厚度（《10nm到100微米）， 光学常量（n & k)。薄膜厚度测试仪配件参数 可测膜厚： 10nm-150微米；波长范围：200-1100nm精度：0.5%分辨率：0.02nm光源：使用显微镜光源光斑大小：由显微镜物镜决定计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：120x120x120mm重量：1.2kg薄膜厚度测试仪配件应用测量薄膜吸收率,透过率测量化学薄膜和生物薄膜测量光电子薄膜结构测量半导体制造聚合物测量在线测量光学镀膜测量

薄膜溶解测量仪用于实时监测薄膜在液体过程中的薄膜厚度和光学常量（n, k)的变化，是全球领先的薄膜溶解测量仪和薄膜溶解测试仪。为了这种特色的测量，孚光精仪公司特意为薄膜溶解测量仪研发了Teflon样品池用于测量薄膜样品，使用一种岔头探针水平安装在Teflon 样品池的外部，距离玻璃窗口非常接近，使用白光反射光谱技术（WLRS)，实时测量薄膜厚度和折射率，并通过专业软件记录下这些数据。另外，根据需要，我们还能够在测量区域下安装搅拌装置stirrer，提供力学激励振动。孚光精仪还特意为薄膜溶解测量仪提供垂直的样品夹具，以固定小尺寸的硅样品或3' ' ，4' ' 直径的Si 晶圆。根据溶解过程的不同，如溶解速度的不同，它能够以实时或离线的方式测量，反射率数据都能够存储下来以便后续处理使用。还能够测量几十个纳米厚度的光致抗蚀剂和聚合物薄膜堆的溶解过程，而且还可以测量薄膜的膨胀等特殊现象。对于薄膜厚度的测量，薄膜溶解测厚仪需要光滑，具有反射性的衬底，对于光学常数测量，平整的反射衬底即可满足测量需要。如果衬底是透明的，衬底的背面不能具有反射性。能够给出两个参数：例如两个薄膜的厚度或一个薄膜的厚度和光学常量，已经成功应用于测量反射衬底（Si晶圆）上各种光滑，透明或轻度吸收薄膜的溶解过程，可研究的薄膜包括SiO2薄膜,SiNx薄膜,光致抗蚀剂薄膜，聚合物薄膜层等。薄膜溶解测量仪参数 可测膜厚： 5nm-150微米；波长范围：200-1100nm 精度：0.5% 分辨率：0.02nm 测量点光斑大小：0.5mm可测样品大小：10-100mm计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：360x400x180mm重量：15kg 电力要求：110/230VAC薄膜溶解测量仪应用：聚合物薄膜光致抗蚀剂薄膜测量化学和生物薄膜测量，传感测量光电子薄膜结构测量 在线测量光学镀膜测量能够以实时或离线的方式测量，反射率数据都能够存储下来以便后续处理使用。

扩散反射型光纤转速传感器M18的DIN尺寸壳体螺纹安装或螺栓安装，耐振性好有灵敏度调节。 电源电压：DC:10-30V± 10% 消耗电流：30mA以下检测物体：半透明体、不透明体响应频率：1000Hz控制输出:集电极开路，DC:100mA Max 接线方式:棕色：10-30V DC, 蓝色：0V, 黑色：信号输出,白色：模式控制(接+12V/ 0V)。环境温度:工作时-25～+50℃ 保存时-40℃～+70℃防护等级:IP67注意： 测量转速时，在被测轴上粘贴普通白纸作为反射标签时，反射标签应大于3× 2mm,被测物体本身反光，标签应涂成黑色。反射感应距离与反射物的反射率和反射面积有关，反射距离可调。如果在光洁的轴上，粘贴5× 10（mm）的无光黑纸，通过调整光电传感器上的电位器，使光轴亮，黑纸暗，一般距离在5-50mm。在高速测量时，只需粘贴一块反射纸。考虑到光电传感器的响应频率，当速度越高，反射纸应按旋转方向加宽（不得超过被测轴的半周）。1、调大光电传感器灵敏度，感应距离变远；调小光电传感器灵敏度，感应距离变近。2、灵敏度过大会受背景的干扰，因此当反光点与背景反光能力比较大时（贴定向反光标签或锡箔），灵敏度可以小一点，且抗干扰能力较强。

非反射中性密度滤光片• 防止对光源的不必要的反思• 光谱平坦• VIS和NIR范围可用我们的非反射中性密度滤光片设计用于均匀衰减光源，同时防止不必要的反射反射。 专有的涂层设计将反射最小化到小于2％，同时在整个设计光谱范围内保持非常高的中立性。 可用于700-1200nm 400-700nm或NIR应用的可见应用，该滤波器非常适用于限制宽带卤素，荧光和钨源以及低功率激光器的传输。非反光中性密度滤芯套件每个试剂盒包括10个滤光片，光密度值为0.3,0.5,0.6,0.9,1.0,1.3,1.5,2.0,2.5和3.0。 该套件是确定精确的系统光密度要求的理想选择。自定义密度可用于OEM应用。Common Specifications表面质量:60-40基底:B270订购信息：直径 (mm)光密度 OD厚度 (mm)透射率 (%)产品号12.50.31.5±0.150#63-396250.31.5±0.150#63-40612.50.31.5±0.150#63-376250.31.5±0.150#63-38612.50.51.5±0.132#63-397250.51.5±0.132#63-40712.50.51.5±0.132#63-377250.51.5±0.132#63-38712.50.61.5±0.125#63-398250.61.5±0.125#63-40812.50.61.5±0.125#63-378250.61.5±0.125#63-38812.50.91.5±0.112.5#63-399250.91.5±0.112.5#63-40912.50.91.5±0.112.5#63-379250.91.5±0.112.5#63-38912.511.5±0.110#63-4002511.5±0.110#63-41012.511.5±0.110#63-3802511.5±0.110#63-39012.51.31.5±0.15#63-401251.31.5±0.15#63-41112.51.31.5±0.15#63-381251.31.5±0.15#63-39112.51.51.5±0.13.2#63-402251.51.5±0.13.2#63-41212.51.51.5±0.13.2#63-382251.51.5±0.13.2#63-39212.521.5±0.11#63-4032521.5±0.11#63-41312.521.5±0.11#63-3832521.5±0.11#63-39312.52.51.5±0.10.3#63-404252.51.5±0.10.3#63-41412.52.51.5±0.10.3#63-384252.51.5±0.10.3#63-39412.531.5±0.10.1#63-4052531.5±0.10.1#63-41512.531.5±0.10.1#63-3852531.5±0.10.1#63-395附件标题产品号NIR, 12.5mm Dia, Non-Reflective ND Filter Kit#64-473NIR, 25mm Dia, Non-Reflective ND Filter Kit#64-474VIS, 12.5mm Dia, Non-Reflective ND Filter Kit#64-351VIS, 25mm Dia, Non-Reflective ND Filter Kit#64-352

在线水分测量仪配件是德国高灵敏度水分测定仪，它采用德国高灵敏度光学水分传感器，非常适合测量粉末，颗粒，浆料,糊状物，膏剂等多种材料在内的多种样品的水分含量。在线水分测量仪配件特色直接测量样品，测量速度快，测量精度高，测量可靠性强，全面超越目前现存的NIR光谱或微波传感水分含量传感器产品，具有德国专利的光学水分传感器清洗技术，完全清洁光学传感器探头，解决了直接测量的光学传感器污染难题。在线水分测量仪配件特点直接深入样品非接触式光学测量LED显示技术确保长寿命高精度光学探头在线测量德国全固态设计结构，超级耐用无需耗材，使用成本低无需样品准备，直接测量，节省时间无需售后服务在线水分测量仪配件参数测量原理：近红外反射测量范围：0-90%水分含量测量精度：+/-0.1%测量时间：2秒测量距离：10-300mm 或者侵入式测量测量点尺寸：高达10cm光源：红外LED光源收集器：光电二极管工作温度要求：5-45摄氏度工作电力要求：24VDC， 0.2A，信号输出：0...10V或4...20mA外壳材料：IP65外形尺寸：300x200x160mm重量：2.8kg

公司主营：美国PE、戴安DIONEX离子色谱耗材，PE元素灯/PE石墨管/PE氘灯/PE钨灯/PE基体改进剂/PE样品杯/PE GCMS灯丝/PE ICP火炬/PE氧化铝注入管/PE雾化器大量现货！美国Perkinelmer（珀金埃尔默）耗材常备现货：元素灯、石墨管、样瓶杯、取样毛细管、进样针、雾化器、矩管、中心管、泵管、顶空瓶、隔垫、瓶盖、色谱瓶、热脱附管、干燥剂、钨灯、氘灯、铝制等全自动通用反射附件（URA）珀金埃尔默独一无二的通用反射附件（URA）是当今市面上唯一的全自动、多角度绝对镜面反射附件。本品适用于λ（Lambda）650/850/950/1050。只需将样品放在水平取样板上并通过鼠标点击几次而选择所需的测定角度后就可开始扫描。不同于传统方法，URA可自动高效地改变测量角度，从而不需要手动进行耗时的反光镜调整和附件更换。这种方法可降低运行成本并提高工作效率。URA可扣入适当的次级取样位置内并能与积分球和其他检测器模块进行快速互换。特点和优势：测量范围：190-3100 nm（UV/Vis/NIR）、190-900nm（UV/Vis）角度范围：入射角8-68°消偏振建议角度15°使用双重消偏振驱动器（B0505530）分别测定S&P偏振能够进行绝对和相对测定典型应用包括测定抗反射涂层、高反射器、涂层厚度和金属反射器全自动通用反射附件（URA）订货信息：产品描述部件编号URA*（仅限UV/Vis）L6020208URA*（UV/Vis/NIR）L6020202仅用于λ（Lambda）1050的URA（UV/Vis/NIR）L6020358

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损耗极低的激光光学器件，对于要求极低损耗的镀膜光学器件应用, 筱晓光子可提供R 99.995 %、总损失小于10 ppm的反射镜。此类超级反射镜片可用于环形激光器陀螺仪组件或光腔衰荡应用。对超抛光基材加工低吸收、低散射镀膜时，我们会采用改进型IBS镀膜机。而为了保证清洁度，此类机器会存放在专用的超清洁室内，并且与生产相关的基材预处理和后期处理流程全部在此清洁室内完成。 此外，超清洁室内还配置有多种测量设备，如检测流程所使用的白光表面光度仪和高分辨率显微镜。利用定制光腔衰荡设置可以确定反射量（精度可达小数点后四位）以及损耗。 而测定以上数值必须使用表面粗糙度小于 1 ? rms的超抛光基材。为了保证反射镜成品的品质，还会使用白光表面光度仪进行质量检测中心波长1572nm技术参数产品特点：低损耗可定制不同尺寸入射角：0deg/45deg可选 应用领域：TDLAS光腔衰荡基材以及镀膜参数：材质红外级熔融石英 Infrasil形状圆形直径(?)12.7，25.4 mm ,50.8(-0.1 mm)厚度(t)6.35 mm (±0.1 mm)边缘厚度6.35 mm平行度5? 光学参数 正面(S2)光学参数 背面(S1)形状凹面形状平面曲率半径1,000 mm (±1 %)倒角0.3 mm (±0.1 mm)倒角0.3 mm (±0.1 mm)测试区 ?e20测试区 ?e20曲面容差3/0.2(0.2) [L/10 @546.1nm]曲面容差3/-(0.2) [L/10 reg. @546.1nm]清洁度5/2x0.04 L1x0.004清洁度5/2x0.04 L1x0.004 内部测试区?e 10清洁度 5/2x0.0161st 工作范围 高反射(45°,15572nm)99.995%1st 工作范围 减反射(0°,1450-1650nm)0.2%类别：高反射率偏振：unpol.入射角 45°波长范围:1572 nm高反射 99.995 %类别 减反射偏振 unpol.入射角 0°波长范围 1450 - 1650 nm AR / HT 0.2 %2nd 工作范围 T(0°,1550nm)~0.005%类别：透射率偏振： unpol.入射角 45°波长范围：1550 nmHT ~ 0.005 % 镀膜曲线：HRs,p(45°,1570-1580nm)99.995%

一 、技术参数探 测 器：GM计数管　 量 程：0.1&mu Sv～1MSv 剂量率 ：0.01&mu Sv/h～1MSv/h 相对误差：± 20%（137Cs） 欠压指示：当电池电力不足时仪器停止工作，缺电指标灯亮 体 积：121mm × 71mm × 21mm 重 量：110克。二、 主要特点： BH3084个人射线剂量仪主要技术指标符合国家标准和国际标准，广泛适用于辐照站、海关、工业无损探伤、核电站、核潜艇、同位素应用和医疗钴治疗等领域。BH3084个人射线剂量仪是采用新型单片机技术制作而成的智能型仪器，主要用来监测X、&gamma 射线照射人体后人体的吸收剂量。同时个人射线剂量仪声光报警频率与剂量率成正比，所以也可定性监测剂量率大小

光斑入射型短焦距反光镜套件这种套件包括安装在可调式基座上的1个短焦距（20-30mm）凹镜及其磁性支架，以允许对弯曲样品进行小光斑入射。订货信息：产品描述部件编号光斑入射型短焦距反光镜套件PELA1013

SA-Stage-RT透反射测量支架 关键词：反射/透射/漫反射光谱 1 产品简介SA-Stage-RT透反射测量支架是一个新型的，能满足透射和反射测量的采样支架。适用于分析如硅、金属、玻璃和塑料等一类的材料。SA-Stage-RT与如海光电的光纤光谱仪、光源、积分球有多种组合方式。可以同时满足客户对于反射光谱测量和透射光谱测量的需求。 2 产品功能示意图3 产品参数产品参数SA-Stage-RT底座尺寸φ150mm样品区域尺寸宽度＜100mm样品通光口径（透射测量）直径10mm调节高度~150mm（其他长度可以定制）准直镜波长范围200~2500nm台体材料阳极氧化铝反射积分球用于连接38毫米积分球（另外选配）用途专为透反射光纤测量而设计，能有效固定光纤，防止因抖动等人为因素影响检测效果

Andover热反射镜热反射镜以它们的名字来表现:它们反射热量，传递可见光。所有的涂层都是坚硬的，di一表面的介质，并且将达到或超过规定的湿度和磨损规范。为了防止高温应用的开裂或龟裂，所有涂层都沉积在低膨胀材料上，如硼硅酸盐玻璃。热反射镜通用规格：厚度：3.0mm ±0.5mm尺寸公差：+0.0mm/-0.5mmzui小通光孔径：95% of outside dimension基底材质：Borosilicate glass平坦度：5–10 waves per 25mm平行度：3 arc minutes or better表面质量：80/50 per MIL-O-13830湿度与磨损：Per MIL-C-675Azui大工作温度：+200°C机械：Unmounted订购信息：描述型号Hot Mirror, 12.5mm diameter x 3mm thick775FW82-12.5Hot Mirror, 25mm diameter x 3mm thick775FW82-25Hot Mirror, 50mm diameter x 3mm thick775FW82-50Hot Mirror, 50mm x 50mm x 3mm thick775FW82-50S

透射反射探头是最新的单程透射探头和双程透射反射光纤探头，与任何光谱仪和光度计兼容使用，透射反射探头用于工业和实验室的反应监测。透射反射探头功能应用可以在从紫外到中红外光谱范围内使用，用于液体中的远距离透射光谱。灵活强大，可应用在恶劣环境下的工业应用，如反应监测，PAT，结晶生成和筛选，用于生物制药分析和生物燃料的开发和生产。

单次反射ATR附件是一个高价值低价格预准直矫正的单次衰减全反射附件，与较为高价的单次反射附件相比，该单次反射ATR附件的灵敏度足够定量和定性分析。单次衰减全反射附件特点采用独特的45度ZnSe内部反射元件结合两个镜片用于光束导入到样品中并返回到仪器探测器中。这种设计最大可能地减少能量损失，透过的光能量可达百分之八十五。单次反射ATR附件还具有其它很多特色，它非常方便地从安装机构上装卸、清洗和更换ATR晶体尽管这些安装架都有顶板。这种方便性就可以使得其与其他ATR晶体互换而不需要购买完整的顶盖板.单次反射ATR附件可选FTIR光谱仪反射组件 （PartNo. #9000 ）单次衰减全反射附件该反射组件包括镜ATR附件、镜面反射和漫反射所有组件, 用于FTIR光谱仪的反射配件.组成如下:货号1075水平ATR系统配备45度ZnSe顶板,顶板夹,挥发物盖子和粉末压片.货号6000高性能漫反射系统带有大小品杯、KBr粉末、样品漏洞、玛瑙砂浆/碓、骆驼毛画笔等.货号7200 30度镜面反射系统.组合型HATR Part No #9110 单次衰减全反射附件组合化学已经成为制药,生物科技,高分子科学和有机合成的必备技术. 傅立叶变换红外光谱仪FTIR由于可以给出固态反应衬底的结构性信息而成为分析过程的重要工具. 我们推出的MIRacle 组合型水平单次反射ATR附件可以让用户免于样品准备的繁琐而在一秒钟之内获得结果. 单次衰减全反射附件提供了一个1.6mm的样品接口，配备了专门设计的组合秘诀珠，冠和别针专门装备的组合珠冠和别针.

WR-D97系列 漫反射白板WR系列漫反射白板采用PTFE制成，其表面为朗伯漫反射表面。WR系列外壳材料为阳极氧化铝，具有防水、稳定性好的特性，在深紫外线应用下也没问题。? 在250-1500nm波长范围，反射率大于97%；? 在800-2200nm波长范围，反射率大于95%。WR系列的反射面直径分别为30mm、50mm、100mm。反射材料封装在一个小盒内，并有带螺纹的盖子以作保护。产品特点稳 定：中性好，对各波长都有同样的高光谱反射比；平整均匀的反射表面，各点的反射比相同实 用：优质的金属保护外壳，减少漫反射白板边缘损耗绝 配：高密度反射探头的最佳搭档，随时随地校正反射精准度规 格WR-30-DWR-30-D-STD保护壳材质金属铝盒金属铝盒外壳直径(mm)4040内部直径(mm)3030厚度(mm)1717波段范围(nm)350~2000350~2000反射率97%97%校准文件——CNAS

IR衰减全反射和漫反射附件的详细资料：详情请联系吴小姐：15080317079衰减全反射和漫反射附件满足您所有采样需要通用衰减全反射 (UATR) 附件适用于Spectrum 400/100/One/65 分光计通用ATR是一款优秀的附件，可用于固体和液体的分析。UATR的压力臂通过让金刚石晶体与样品良好接触来产生高质量谱图。压力臂使指示器保证结果的高度可重复性。特色和优势Ø 自动识别&mdash &mdash 旦附件放置到样品仓中，通用ATR模块及其序列号和ATR晶体类型(1, 3, 或9反射)就能立即被识别出来，并且系统适应性检查会随即启动。仅限于Spectrum 400/100/OneØ 自动优化&mdash &mdash 根据顶板的不同自动优化光学器件。仅限于Spectrum 400/100/OneØ 零校正，零设置&mdash &mdash 旦Spectrum 100样品仓锁住，该附件即随时可用，无需任何校正操作Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件一旦安装完毕就成为了设备的组成部分Ø 标准情况下配备有带压力传感器的压力臂挥发物盖(仅限于9反射UATR)金刚石/硒化 UATR配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250050配备3反射 顶 板 和压力臂 L1250051配备9反射 顶 板 和压力臂 L1250052金刚石/KRS-5 UATR配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250053Ge/Ge UATR配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250054注意:UATR附件需.Spectrum v.6及以上版本支持UATR附件用备用/替换件顶板和耗材UATR &ndash 1反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250240UATR &ndash 3反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250241UATR &ndash 9反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250242UATR &ndash 1反射 金刚石顶板&ndash KRS-5 1 L1250046UATR &ndash 1反射Ge/Ge顶板 1 L1250048UATR 0.5mm套管 1 L1202049UATR 6.0mm ATR套管 1 L1202050UATR 锥形套管 1 L1201980UATR 3.0mm样品定位板 1 L1202023UATR 7.0mm样品定位板 1 L1202024Miracle ATR附件单反射ATR附件用来分析高吸收固体，半流体，和液体样品。小型圆形晶体是采样板构造的最大特点，它能实现对微量(5&mu L及以上)样品的可靠分析。固体材料能够和晶体接触良好，从而保证了高质量、可重复的谱图。附件还配备有千分尺控制的压缩钳，挥发物品盖，清洁工具和一系列的晶体材料。Miracle单反射ATR金刚石适用于Spectrum RX/BX L1272239ZNSE适用于Spectrum RX/BX L1272107ZNSE适用于Spectrum 400/100/One/65 L1272126GE适用于Spectrum 400/100/One/65 L1272127ZNSE适用于Spectrum GX L1272103GE适用于Spectrum GX L1272104漫反射附件是不透明样品和强散射样品测量的理想选择。该漫反射附件为药品、食品、肥皂粉末、煤炭、泥土、纸片、镀有涂层的表面、泡沫塑料和催化剂等不透明和强散射固体样品的分析提供了方便灵敏的方法。特色和优势Ø 自动识别&mdash &mdash 当附件放入样品仓时，漫反射附件及其序列号就能立即被识别出来Ø 系统适应性检查&mdash &mdash 包括噪声，通量和污染情况的检查，当附件插入时或得到指令时，系统就会随即启动进行检查Ø 自动优化&mdash &mdash 对于粉末、硅碳板或金刚石杵等的所有采样方法，样品位置都能被自动优化Ø 零校正，零设置&mdash &mdash 旦样品仓锁住，该附件就随时可用，无需任何校正操作。Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件安装之后就成为了设备的一个组成部分配备多功能样品支架，2个大容量样品杯和2个微量样品杯，25个金属镀层研磨垫，25个金属镀层带支架的研磨杵，和一瓶30g KBr粉末。用于 Spectrum 400/100/One L1200351漫反射附件耗材大容量杯 1 L1201654微量杯 1 L1201655多功能样品支架 1 L1201865金属镀层研磨垫 100 L1275106金属镀层研磨杵 100 L1275105硅碳磨研磨垫 100 L1271021金刚石研磨杵 100 L1275102水平ATR附件PerkinElmer水平ATR (HATR)附件基于衰减全反射原理，能为各种常规透射技术难以检测的固体、液体和糊剂样品的分析提供快速可靠的方法。特色和优势Ø 自动识别&mdash &mdash 当附件放入样品仓时，HATR附件及其序列号就能立即被识别出来，并且系统适应性检查会随即启动Ø 自动优化&mdash &mdash 无论是何种种类的晶体，光路都能够被自动优化Ø 零校正，零设置&mdash &mdash 旦样品仓锁住，该附件就随时可用，无需任何校正操作Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件安装之后就成为了设备的一个组成部分Ø 标准情况下配备有带压力传感器的压力臂(仅限于平顶板型)与配备ZnSe 45° 晶体、粉末压片机和挥发物盖的平顶板一起提供。适用于 Spectrum 400/100/One L1200351HATR附件配备有 ZnSe平顶板和压力臂 L1200311HATR附件配备有 ZnSe槽型顶板 L1200312HATR附件用备用/替换件顶板和耗材HATR ZnSe 45° 平板 1 L1200313HATR ZnSe 45° 槽形板 1 L1200314HATR Ge 45° 平板 1 L1200333HATR Ge 45° 槽形板 1 L1200334HATR 压力臂套件 1 L1200321粉末压片机 1 L1201944挥发物盖 1 L1205436

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镜面反射组件（7201#）为FTIR红外光谱仪提供80度的镜面反射角,是理想的红外镜面反射附件.镜面反射组件功能特点镜面反射是分析透明薄膜的一种主要技术, 使用常见的透射光谱技术测量透明薄膜,透明薄膜常常发出微弱的光谱。主要应用是反射衬底上的表面镀膜,薄膜厚度测量,反射系数测量。实际应用决定入射角的选择. 30度的入射角用于测量比较常见的样品, 而且这些样品的薄膜厚度在微米量级。对于纳米厚度量级的薄膜,80度的入射角比较合理。如果待测薄膜的厚度未知, 那么比较适合选用, 它的可变角度范围为30-85度, 适合全部镜面反射的分析。这些附件都配有参考镜片,帮助用户获取背景光谱。,这些附件的设计都注意消除杂散光保证最小的能力损失。如果使用线网型偏振片,灵敏度还能进一步提高.本镜面反射组件和红外镜面反射附件仅仅提供80度的镜面反射角,. 30度和可变角度的附件可以另外购买.Specular Reflectance is a technique for analyzing transparent films which usually yield weak spectra by ordinary transmission techniques. Applications include surface coatings on reflecting substrates film thickness measurements by interference fringes and reflectivity coefficient determinations of metals. The application is the determining factor when deciding which angle of incidence should be selected. A 30 degree angle of incidence is normally chosen for more routine samples which have coating thicknesses in the micrometer range.镜面反射组件可选附件: 镜面反射附件反射组件 （PartNo. #9000 ）该红外镜面反射附件包括镜ATR附件、镜面反射和漫反射所有组件, 用于FTIR光谱仪的反射配件.组成如下:货号1075水平ATR系统配备45度ZnSe顶板,顶板夹,挥发物盖子和粉末压片. 镜面反射附件,镜面反射组件,镜面反射光谱仪,红外光谱镜面反射,货号6000高性能漫反射系统带有大小品杯、KBr粉末、样品漏洞、玛瑙砂浆/碓、骆驼毛画笔等.货号7200 30度镜面反射系统镜面反射组件组合型HATR Part No #9110 组合化学已经成为制药,生物科技,高分子科学和有机合成的必备技术. 红外镜面反射附件由于可以给出固态反应衬底的结构性信息而成为分析过程的重要工具.我们推出的MIRacle 组合型水平ATR可以让用户免于样品准备的繁琐而在一秒钟之内获得结果. 红外镜面反射附件提供了一个1.6mm的样品接口，配备了专门设计的组合秘诀珠，冠和别针专门装备的组合珠冠和别针.

型号规格：P042-1000品牌：PIKEEasiDiff&trade 漫反射附件是一款完全胜任常规测试、产品质量分析的产品。采用基座安装，适用于Varian、Shimadzu、Bruker、PE等公司的红外光谱仪。反射镜采用整体材料加工而成。千分尺精确微调样品杯的位置和优化调整的红外光路，使TM漫反射附件具有很好的光通量和信噪比。我们还提供镀金高级漫反射附件、近红外漫反射附件、仓外大样品漫反射附件、可加热漫反射附件和自动测量多样品漫反射附件。

变角镜面反射附件是一款适合各种镜面反射分析的变角镜面反射附件，变角镜面反射附件是分析透明薄膜的一种主要技术, 使用常见的透射光谱技术测量透明薄膜，透明薄膜常常发出微弱的光谱。变角镜面反射附件功能特点主要应用是反射衬底上的表面镀膜，薄膜厚度测量，反射系数测量。实际应用决定入射角的选择，30度的入射角用于测量比较常见的样品，而且这些样品的薄膜厚度在微米量级。对于纳米厚度量级的薄膜，80度的入射角比较合理。如果待测薄膜的厚度未知，那么比较适合选用变角镜面反射附件VEEMAXII，它的可变角度范围为30-85度，适合全部镜面反射的分析。配有自动化附件，这些自动化的附件可以协助用户同时或单独编程控制地高精度选择入射角，并配有控制软件采集数据。具有30-85度的可变角度范围, 30度和80度固定角度的附件可以一起订购。变角镜面反射附件可选项变角镜面反射附件反射组件 （PartNo. #9000 ）该反射组件包括镜ATR附件、镜面反射和漫反射所有组件, 用于FTIR光谱仪的反射配件.组成如下:货号1075水平ATR系统配备45度ZnSe顶板,顶板夹,挥发物盖子和粉末压片.货号6000高性能漫反射系统带有大小品杯、KBr粉末、样品漏洞、玛瑙砂浆/碓、骆驼毛画笔等.货号7200 30度镜面反射系统.变角镜面反射附件组合型HATR Part No #9110 组合化学已经成为制药,生物科技,高分子科学和有机合成的必备技术. 傅立叶变换红外光谱仪FTIR由于可以给出固态反应衬底的结构性信息而成为分析过程的重要工具.我们推出的MIRacle 组合型水平ATR可以让用户免于样品准备的繁琐而在一秒钟之内获得结果. 单反射附件提供了一个1.6mm的样品接口，配备了专门设计的组合秘诀珠，冠和别针专门装备的组合珠冠和别针.

高斯反射镜是一种可变反射率反射镜,也是一种梯度反射率镜,Gaussian mirror, 这种高斯反射镜可以有效改善激光光束质量。高斯反射镜和变反射率镜的反射率是位置的函数，镜片反射率随着镜片上位置不同而不同。高斯反射镜能够在不稳腔中提供更加的激光模式，控制实现基模振荡而消除高阶模。高斯反射镜和梯度反射率镜能够改善输出激光的光束质量，特别是在低放大倍率情况下这种光束质量的改变更为明显。高斯反射镜提供的锥形反射率分布可以减少光场分布中的振荡，从而减少高功率激光应用中的光学损伤。高斯反射镜和变反射率镜典型的反射率分布是镜片中心的反射率最大，反射率从镜片中心到边缘依次按函数关系减低。 高斯反射镜和梯度反射率镜参数变反射率镜材料：熔炉石英，UVFS或BK7梯度反射率镜类型：平/平镜片, PCV, PCX高斯反射镜直径：19.05mm +0.0, -0.15 mm变反射率镜厚度：6 mm +/-0.1 mm梯度反射率镜平整度：&lambda /10高斯反射镜光洁度：20-10 scratch & dig变反射率镜平行度：梯度反射率镜净孔径：90%变反射率镜镀膜损伤阈值：10 J/cm2 @ 1064 nm for 10 ns pulses高斯反射镜,变反射率镜,梯度反射率镜询问服务：请直接在如下的询问栏里填写您的要求，然后复制后Email给我们，您会收到及时的报价回复。Material 材料Dimensions, mm尺寸Thickness, mm厚度Type类型PCXPCVFlat/FlatMeniscusRadius of Curvature, mm曲率半径Center wavelength, nm中心波长Wedge 倒角Ro, % 中心反射率Wm, mmGaussian order, k高斯级数Quantity

30°镜面反射附件特点30°固定入射角便捷的水平样品台(20.8mm 小孔总直径)适用于粉末样品适用于色散光及高光强FT-IR最小对齐网格30°镜面反射附件镜面反射是通过检测光滑或平坦样品表面类似镜面的反射光的一种无损分析技术。当入射光和反射光角度相同时认为是镜面反射。反射光强度和入射光角度、样品折射率、表面粗糙程度及样品吸光能力相关。固定角镜面反射附件P/N GS19820提供固定的30°角射向固体表面的入射光以得到任何平坦样品表面上的光谱信息。(此方法不能用于液体或凝胶的分析)固体样品由附件顶部的小孔加入。入射光由一片固定的镜片反射到样品表面，通过镜面反射到镜片上，最后到达检测器。使用参比镜片(推荐)收集参比光谱随后得到样品的光谱。我们提供两种不同直径的小孔塞(5/10mm)减小样品表面的研究面积。样品在小孔塞及样品室大小的限制下保持平整，适宜集中研究。应用：表面涂层分析(光学高分子材料) 缺陷及杂质局部分析 易碎样品订购信息GS1982030°角镜面反射附件包含以下配件：光学元件，镜面反射镜片，样品小孔塞(直径5/10mm)

我们提供的部分反射镜系原装欧洲进口，不仅能够有效分离激光，而且还能适合高功率激光使用。这种高功率部分反射镜在规定的入射角而言，能够在单波长或宽波段上提供：按照用户要求比例的反射率和透射率。孚光精仪公司专卖进口部分反射镜,高功率部分反射镜,激光部分反射镜,Partial reflecting mirrors，最大的进口光学器件提供商！激光部分反射镜主要指标：基片尺寸公差：+0/-0.1mm基片波前畸变：基片表面质量：20/10 SD 40/20SD(曲面）镀膜粘附性和耐久性：Per MIL-C-675A净孔径： 90%激光损伤阈值:5-6J/cm2 for 10 ns pulses @1064nmThe measured transmission curve for PR coating (R = 10% @ 1000-1070 nm垂询格式： 如下是镜片的标准参数格式，请阁下仿照如下格式把您对镜片及其镀膜的要求发邮件给我们，我们会及时回复报价。Substrate material 基片材料 CaF2, FS, ZnSe, UVFS, IRFSShape 形状Rectangular Round （方形还是圆形）Dimensions 尺寸 mm Thickness 厚度 mm Type 类型Other Flat/Flat Plano-Concave Plano-Convex Radius of Curvature (ROC) 曲率半径（对曲面镜而言） for curved substrates only eg ROC1=-50mm ROC2=+1000mm Surface figure Surface quality 表面质量20/10 40/20 60/40 Parallelism error 平行误差Wedge No wedge 30arcmin 1deg 2deg 3deg Coatings on Side1 S1面镀膜例如. PR(R=80+/-2%)@1064nmCoatings on Side2S2 面镀膜例如. AR(RAngle of incidence (AOI) 入射角Comments 评论订购数量