反光标线反射系量仪

GB+23254-2009+货车及挂车车身反光标识

激光标线仪通俗点讲就是和平时我们所见过的拉线是一个作用，确保施工面或线平直。使用光源为635nm红色激光，650nm红色激光下对点，广泛应用于建筑和装修业。在钢铁冶金行业中，为钢板切边提供高亮度准直线，对冷热钢板的单边剪切和双边剪切起到关键作用避免人工划线工作强度。在木材、纸张加工行业：在预切木材前提供准直指示线。激光标线仪在大理石加工行业：大理石强度高，在切割过程中指示线不明确会切割不齐，且刀具冷却液会覆盖人工标示线，采用激光标示线有效避免了这个缺点。

用于样品表面、金属板上涂层薄膜的红外光谱测定。甚至用于单分子层的解析。入射光经反射镜照射到样品表面，其反射光再经另一反射镜进入仪器。反射吸收测定的原理是，只有与基板垂直的偶极矩变化可以被选择性地检测。

我想测量絮体结构的一些变化特性，请教目前国内有哪些单位有聚焦光束反射这种仪器的啊

转录 请自己 google 搜索 便携全反射X射线荧光分析仪 全反射X射线荧光分析仪 等文章全反射X荧儿（TXRF）分析技术是十多年前才发展起来的多元素同时分析技术，它突出的优点是检出限低（pg、ng/mL 级以下）、用样量少（Μl、ng级）、准确高度（可用内标法）、简便、快速，而且要进行无损分析，成为一种不可替代的全亲的元素分析方法。国际上每两年召开一次TXRF分析技术国际讨论会。该技术被誉为在分析领域是最具有竞争力的分析手段，在原子谱仪领域内处于领先地位。从整个分析领域看，与质谱仪中的ICP-MS和GDMS、原子吸收谱仪中的ETAAS和EAAS以及中子活化分析NAA等方法相比较，TXRF分析在检出限低、定量性好、用样量少、快速、简便、经济、多元素同时分析等方面有着综合优势。在X荧光谱仪范围内，能谱仪（XRF）和波谱仪（WXRF）在最低检出限、定量性、简便性、准确性、经济性等方面，都明显比TXRF差。在表面分析领域内，尤其在微电子工业的大面积硅片表面质量控制中，TXRF已在国际上得到广泛应用。1. TXRF分析仪工作原理：TXRF利用全反射技术，会使样品荧光的杂散本底比XRF降低约四个量级，从而大大提高了能量分辨率和灵敏率，避免了XRF和WXRF测量中通常遇到的木底增强或减北效应，大大缩减了定量分析的工作量和工作时间，同时提高了测量的精确度。测量系统的最低探测限（MDL）可由公式计算： (2)这里， 是木底计数率，t为测量计数时间，M为被测量元素质量，l代表被测量元素产生的特征峰净计数率，S=I/M就是系统灵敏度，由公式可以看出，提高灵敏底、降低木底计数率、增加计数时间是降低MDL的有效办法。木氏低、灵敏度高正是TXRF方法的长处，因而MDL很低。

请问红外光谱仪，吸收光谱很容易理解透射， 反射 呢？他们各自的原理是什么？谢谢

反光偏光显微镜的应用及原理反光偏光显微镜也叫矿相显微镜。在一般大型显微镜光路中，只要加入两偏振片即可，即在入射光路中加入一个起偏振片，在观察镜中加入一个检偏振片，就可以实 　 现偏振光照明。除了起[url=http://www.gengxu.cn]偏振镜[/url]和检偏振镜外，有时还加入一个灵敏色片，用来检验椭圆偏振光，并获得色偏振 一、 起偏振镜位置的调整　　起偏镜一般安装在可以转动的圆框内，借助手柄转动调节，调节的目的是为了使起偏振镜出来的偏振光动面水平，以保证垂直照明器平面玻璃反射进入物镜的偏振光强度最大，且仍为直线偏振光。　　调整方法，是将经过抛光而未经腐蚀的不锈钢试样(光性均质体)放在载物台上，除去检偏振镜，只装起偏振镜，从目镜内观察聚焦后试样磨面上反射光的强度，转动起偏振镜，反射光强度发生明暗变化，当反射光最强时，就是起偏振镜振动轴的正确位置。　　二、检偏振镜位置的调整　　起偏振镜位置调整好后，装入检偏振镜，调节检偏振镜的位置，当在目镜中观察到最暗的消光现象时，就是检偏振镜与偏振镜正交的位置。在实际观察中，常将检偏振镜作一个小角度的偏转，以增加显微组织的衬度。其偏转的角度由刻度盘上的刻度指示出来。若将检偏振镜在正交位置转动90°，则两偏振镜振动轴平行，这时和一般光线下照明的效果相同。　　许多金相显微镜在出厂时已经把起偏振镜或偏振镜的振动轴的方向固定好，只要调节另一个偏振镜的位置就可以了。　　三、 物台中心位置的调整　　利用偏振光鉴别物相时，经常需要将载物台作360°旋转，为使观察目标在载物台旋围时不离开视域，在使用前必须调节载物台的机械中心与显微镜的光学系统主轴重合。一般是通过载物台上的对中螺钉进行调整。　　四、 偏振光照明下的色彩(色偏振)　　以上都是讨论在单色偏振光照明下的情况，如果考虑到偏振光波长的影响，即用白色偏振光照明，会产生色彩。　　在金相显微镜中进行正交偏振光的观察时，在光程中插入灵敏色片(目前多用λ=5760nm的全波片)后，各向异性的金属不同晶粒会出现不同的颜色。观察各向同性金属时，不加入灵敏色片，也会有不同颜色，但色彩不丰富。加入全波片后，色彩变得鲜艳。　　转动载物台或灵敏色片，晶粒的颜色随之变化，这主要是由于偏振光干涉的结果。　　偏光显微镜也和一般显微镜照明一样，分为明场照明和暗场照明两种照明方式。　　4 应用举例　　一、材料显微组织的显示　　1.各向异性材料组织的显示　　根据偏振光的反射原理，在各向异性的金属内部由于各晶粒的位向不同，干涉后的偏振光的振动方向的偏转角度不同，在正交的偏振光下则可以显示出不同的亮度。具有同样亮度的晶粒光轴一席话同接近，所以根据晶粒的明暗程度还可以判断晶粒的位向。对各向异性的金属磨面经抛光后不腐蚀就可以看到明暗不同的晶粒，这一点对难腐蚀出清晰组织的材料来说，是十分有利的分析途径。　　例如，球墨铸铁的组织中的石墨属于六方点阵，是各向异性的物质，在同一石墨球中具有许多不同位向的石墨晶粒，这些石墨晶粒在偏振光下可显示不同的亮度，从而分辨出石墨晶粒的方位、球状和大小。如图7(a)所示。在一般光照射下只能看到黑暗的石墨球，不能分辨石墨的晶粒。

看到红外光谱仪的反射镜表面发雾，能不能清洗，如何清洗？

【讲座预告】基于反射技术的红外光谱分析方法对红外光谱来说，常规的透射分析分析方法已经远远不能满足现在样品多样化的要求。针对没的的样品要设计与之相适应的分析方法，不仅可以得到更加准确的结果，而且可能有效地节省分析时间，简化分析过程。但同时，在分析方法的完善及相关资料的全面性上来说，其它的分析方法还无法与透射法相比，但随着反射法硬件及分析方法的完善，反射分析方法正越来越多地受到重视，本讲座就对利用反射原理来进行样品分析的衰减全反射技术、漫反射技术及镜面反射技术做一个简单的介绍。本讲座分衰减全反射技术、漫反射技术及镜面反射技术三部分。讲座即将上线，大家猜猜：主讲专家会是论坛里何方人物？ ——下周一揭晓。

欢迎大家前来与tianzhen老师一起就ATR衰减反射光谱技术知识的相关问题进行探讨~！活动时间：2013年09月09日——2013年09月18日【线上讲座232期】基于反射技术的红外光谱分析方法（之一：ATR衰减全反射光谱法） 主讲人：tianzhen--XRF & 颗粒度测量版面专家 活动时间：2013年09月09日——2013年09月18日 热烈欢迎tianzhen老师光临红外光谱版面进行讲座！http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191656_647674_1766615_3.gif引言对红外光谱来说，常规的透射分析分析方法已经远远不能满足现在样品多样化的要求。针对没的的样品要设计与之相适应的分析方法，不仅可以得到更加准确的结果，而且可能有效地节省分析时间，简化分析过程。但同时，在分析方法的完善及相关资料的全面性上来说，其它的分析方法还无法与透射法相比，但随着反射法硬件及分析方法的完善，反射分析方法正越来越多地受到重视，本讲座就对利用反射原理来进行样品分析的衰减全反射技术、漫反射技术及镜面反射技术做一个简单的介绍。本讨论共分三部分，每一部分分别关注前面提到的三种技术。由于内容比较多，讲座拟定分三期进行，第一期为衰减全反射技术、第二期漫反射技术及第三期镜面反射技术。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191656_647674_1766615_3.gif提要一、红外光的特点及红外光谱分析方法二、衰减全反射的原理及特点三、衰减全反射光谱的应用http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191656_647674_1766615_3.gif欢迎大家前来与tianzhen老师一起就ATR衰减反射光谱技术相关的内容进行探讨交流~！以上资料为tianzhen老师所著,未经tianzhen老师和仪器信息网同意任何个人和单位禁止转载!!!提问时间：2013年09月09日--09月18日答疑时间: 2013年09月09日--09月18日特邀佳宾：IR / NIR版面版主、专家以及从事红外光谱分析的同行们参与人员：仪器论坛全体注册用户活动细则：1、请大家就ATR技术知识的相关问题进行提问，直接回复本帖子即可，自即日起提问截至日期2013年09月18日2、凡积极参与且有自己的观点或言论的都有积分奖励（1-50分不等），提问的也有奖励3、提问格式：为了规范大家的提问格式，请按下面的规则来提问 ：tianzhen老师您好！我有以下问题想请教，请问：……http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191656_647674_1766615_3.gif说明：本讲座内容仅用于个人学习，请勿用于商业用途，由此引发的法律纠纷本人概不负责。虽然讲座的内容主要是对知识与经验的讲解、整理和总结，但是也凝聚着笔者大量心血，版权归tianzhen老师和仪器信息网所有。本讲座是根据笔者对资料的理解写的，理解片面、错误之处肯定是有，欢迎大家指正。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191656_647674_1766615_3.gif

用过 TXRF8全反射X射线荧光分析仪 （北京普析）的盆友说说他的仪器怎么样呀？

最近纠结漫反射的问题，查了好些资料，昨晚终于在一本名叫《近代傅里叶变换红外光谱技术及应用》上卷中看到了一点关于漫反射的介绍，个人觉得不错，就把其中的一些知识誊抄上来，希望有更多信息的版友继续跟进。漫反射原理：当光线照射到样品上，一部分光在样品表面产生镜面反射，另一部分光经折射进入样品内部，在样品内部与样品分子作用而发生反射、折射、散射和吸收现象，最后光线由样品表面辐射出来，辐射出来的光由于散向空间各个方向而被称为漫反射。由于漫反射光曾进入样品内部与样品分子发生作用，因此漫反射光将载有样品分子的结构信息，这是漫反射光谱技术工作的基础。漫反射特点：漫反射与镜面反射共存；漫反射光强度弱；漫反射吸收光谱图与透射法测得吸收光谱图形状基本一致。漫反射光谱的测量：漫反射技术主要用于测量粉末样品和混浊的液体。对粉末样品几乎不需要样品制备，由于上述优点，在煤、矿等难于用压片法测量的样品的IR研究中得到广泛应用。将待测样品在合适的基质中稀释，能够有效地消除镜面反射和避免产生吸收峰饱和现象，从而获得较高质量的漫反射谱。稀释基质常用KCl和KBr等，比例在1：20至1：10之间。漫反射的定量分析：利用K-M方程可以实现漫反射的定量研究，具体公式为：f(R∞)=（1-R∞）2/2R∞=K/S；R∞代表样品层无限厚时的反射率（实际上几个毫米就能满足），K为样品的吸光系数，S为样品的散射系数，由于K与粉末样品浓度C呈正比，由此有f(R∞)与C呈正比，可以进行定量分析。大家对于K-M方程有何看法，此处为什么不用Beer-Lamber定律，他们有何关联呢？http://simg.instrument.com.cn/bbs/images/brow/em09511.gif

欢迎大家前来与tianzhen老师一起就镜面反射光谱技术知识的相关问题进行探讨！活动时间：2014年05月09日——2014年05月18日【线上讲座240期】基于反射技术的红外光谱分析方法（之三：镜面反射技术光谱法） 主讲人：tianzhen--XRF & 颗粒度测量版面专家 活动时间：2014年05月09日——2014年05月18日 热烈欢迎tianzhen老师光临红外光谱版面进行讲座！http://img3.17img.cn/bbs/upfile/2009226105115.gif引言对红外光谱来说，常规的透射分析分析方法已经远远不能满足现在样品多样化的要求。针对没的的样品要设计与之相适应的分析方法，不仅可以得到更加准确的结果，而且可能有效地节省分析时间，简化分析过程。但同时，在分析方法的完善及相关资料的全面性上来说，其它的分析方法还无法与透射法相比，但随着反射法硬件及分析方法的完善，反射分析方法正越来越多地受到重视，本讲座就对利用反射原理来进行样品分析的衰减全反射技术、漫反射技术及镜面反射技术做一个简单的介绍。本讨论共分三部分，每一部分分别关注前面提到的三种技术。由于内容比较多，讲座拟定分三期进行，第一期为衰减全反射技术http://bbs.instrument.com.cn/shtml/20130908/4954048/、第二期漫反射技术http://bbs.instrument.com.cn/shtml/20131204/5092349/、第三期镜面反射技术。http://img3.17img.cn/bbs/upfile/2009226105115.gif提要一、镜面发射技术应用领域二、镜面反射技术的类型、原理三、镜面反射技术光谱的应用http://img3.17img.cn/bbs/upfile/2009226105115.gif欢迎大家前来与tianzhen老师一起就镜面反射光谱技术相关的内容进行探讨交流！以上资料为tianzhen老师所著,未经tianzhen老师和仪器信息网同意任何个人和单位禁止转载!!!提问时间：2014年05月09日--05月18日答疑时间: 2014年05月09日--05月18日特邀佳宾：IR / NIR版面版主、专家以及从事红外光谱分析的同行们参与人员：仪器论坛全体注册用户活动细则：1、请大家就镜面反射技术知识的相关问题进行提问，直接回复本帖子即可，自即日起提问截至日期2014年05月18日2、凡积极参与且有自己的观点或言论的都有积分奖励（1-50分不等），提问的也有奖励3、提问格式：为了规范大家的提问格式，请按下面的规则来提问 ：tianzhen老师您好！我有以下问题想请教，请问：……http://img3.17img.cn/bbs/upfile/2009226105115.gif说明：本讲座内容仅用于个人学习，请勿用于商业用途，由此引发的法律纠纷本人概不负责。虽然讲座的内容主要是对知识与经验的讲解、整理和总结，但是也凝聚着笔者大量心血，版权归tianzhen老师和仪器信息网所有。本讲座是根据笔者对资料的理解写的，理解片面、错误之处肯定是有，欢迎大家指正。http://img3.17img.cn/bbs/upfile/2009226105115.gif

欢迎大家前来与tianzhen老师一起就漫反射光谱技术知识的相关问题进行探讨！活动时间：2013年12月05日——2013年12月14日【线上讲座236期】基于反射技术的红外光谱分析方法（之二：漫反射技术光谱法） 主讲人：tianzhen--XRF & 颗粒度测量版面专家 活动时间：2013年12月05日——2013年12月14日 热烈欢迎tianzhen老师光临红外光谱版面进行讲座！http://img3.17img.cn/bbs/upfile/2009226105115.gif引言对红外光谱来说，常规的透射分析分析方法已经远远不能满足现在样品多样化的要求。针对没的的样品要设计与之相适应的分析方法，不仅可以得到更加准确的结果，而且可能有效地节省分析时间，简化分析过程。但同时，在分析方法的完善及相关资料的全面性上来说，其它的分析方法还无法与透射法相比，但随着反射法硬件及分析方法的完善，反射分析方法正越来越多地受到重视，本讲座就对利用反射原理来进行样品分析的衰减全反射技术、漫反射技术及镜面反射技术做一个简单的介绍。本讨论共分三部分，每一部分分别关注前面提到的三种技术。由于内容比较多，讲座拟定分三期进行，第一期为衰减全反射技术http://bbs.instrument.com.cn/shtml/20130908/4954048/、第二期漫反射技术及第三期镜面反射技术。http://img3.17img.cn/bbs/upfile/2009226105115.gif提要一、红外光的特点及红外光谱分析方法二、漫反射的原理及特点三、漫反射光谱的应用http://img3.17img.cn/bbs/upfile/2009226105115.gif欢迎大家前来与tianzhen老师一起就漫反射光谱技术相关的内容进行探讨交流！以上资料为tianzhen老师所著,未经tianzhen老师和仪器信息网同意任何个人和单位禁止转载!!!提问时间：2013年12月05日--12月14日答疑时间: 2013年12月05日--12月14日特邀佳宾：IR / NIR版面版主、专家以及从事红外光谱分析的同行们参与人员：仪器论坛全体注册用户活动细则：1、请大家就漫反射技术知识的相关问题进行提问，直接回复本帖子即可，自即日起提问截至日期2013年12月14日2、凡积极参与且有自己的观点或言论的都有积分奖励（1-50分不等），提问的也有奖励3、提问格式：为了规范大家的提问格式，请按下面的规则来提问 ：tianzhen老师您好！我有以下问题想请教，请问：……http://img3.17img.cn/bbs/upfile/2009226105115.gif说明：本讲座内容仅用于个人学习，请勿用于商业用途，由此引发的法律纠纷本人概不负责。虽然讲座的内容主要是对知识与经验的讲解、整理和总结，但是也凝聚着笔者大量心血，版权归tianzhen老师和仪器信息网所有。本讲座是根据笔者对资料的理解写的，理解片面、错误之处肯定是有，欢迎大家指正。http://img3.17img.cn/bbs/upfile/2009226105115.gif

我前一段时间做了ATR反射红外光谱，纵坐标是反射度，能不能定量分析？如果可以要怎么才能定量？ 还有，在红外软件中透过、反射、吸光度都可以转化，转化后误差有多大？是不是效果都是一样的呢？

在线水份测量仪简介：（在线、非接触、实时测量固态物料的含水率） 在烟草、木材（纤维板、刨花板）、化工（洗涤剂、肥皂粉、化肥）、造纸、化纤、粮食（油菜籽、谷物）、饲料、茶叶、食品（面粉、淀粉、奶粉、大豆粉）、冶金（烧结料、石英沙、水泥）等工业部门的生产过程中，需要快速而连续地在线测定和控制固体物料的含水量，物料水分是一个十分普遍而又相当重要的监测和控制参数之一。例如，在烟草生产过程中，烟丝或烟叶含水量是最重要的一个工艺参数，在线连续测定和控制烟丝或烟叶的含水量，对于提高卷烟成品的质量，降低能耗和提高生产效率均有显著的经济效益。 “数字化在线水份测量仪”将传感器和数字信号处理两部分集成在一起，使用发光二级管数字面板直接显示固体物料的百分比含水量。利用光谱吸收原理制成的水份仪，与其它测定水份的仪器相比较，它具有如下特点：1、非接触测定，对传送线没有影响，对操作也不带来麻烦。2、可连续测定行进中的和静止的物料含水量，特别适用于在线监测。3、既可独立测定水份，也可输出信号，可供记录，并可组成自动反馈控制系统。4、仪器采用密封结构，能在粉尘较大的环境下工作，安装简单，使用方便。5、采用数字电路进行信号处理，可长期稳定地工作。 技术特性水份测试范围： 0∽50%1、安 全 性 ： 绝缘电阻500MΩ2、精 确 度 ： ±0.2%3、重 复 性 ： ±0.1% 4、稳 定 性 ： 每180天校准一次5、使用温度范围： 0∽+40℃6、阻 尼 ： 采样次数用户可自调7、输 出 信 号 ： RS485 8、电 源 ： 220V±10% 50Hz9、功 耗 ： 50W工作原理水份仪的工作原理是基于比耳—朗伯定律，即光线经过固体物料反射后的强度与固体物料中的水份浓度之间存在着一定的关系，水分子吸收的能量随着水份浓度含量的增加而增加，而从固体物料反射的光辐射能量则随着吸收的增加而减少。水份仪可在化验室中测定固体物料的含水量（静态测量），也可用在车间在线测定固体物料的含水量（动态测量）。

基本概念： 物位是指物料相对于某一基准的位量，是液位、料位和相界而的总称。 (1)液位。储存在各种容器中的液体液面的相对高度或自然界的江、河、湖、海以及水库中液体表面的相对高度。 (2)料位。容器、堆场、仓库等所储存的固体颗粒、粉料等的相对高度或表面位置o (3)相界面位置。同一容器中储存的两种密度不同旦互不相溶的介质之间的分界面位置。通常指液—液相界面、液—固相界面。物位的测量即是指以上三种位置的测量，其结果常用绝对长度单位或百分数表示。测量固体料位的仪表称为料位计，测量液位的仪表称为液位计，测量相界面位置的仪表称界面计。根据我国生产的物位测量仪表系列和工厂实际应用情况，液位测量占有相当大的比例，故在此主要介绍工厂常用的液位测量仪表，其原理也适应其他物位测量。物位测量仪表的分类：物位测量方法很多，测量范围较广，可从儿毫米到几十米，甚至更高，且生产I艺对物位测量的要求也各不相同。因此，工业上所采用的物位测量仪友种类繁多，技其工作原理可分为：(1)直读式物位测量仪表。它利用连通器原理，通过与被测容器连通的玻璃管或玻璃板来直接显示容器中的液位高度，是最原始但仍应用较多的液位计。(2)静压式物仪测量仪表。它是利用液校或物料堆积对某定点产生压力，测量该点压力或测量该点与另一参考点的压差而间接测量物位的仪表。这类仪表共有压力计式物位计、差压式液位计和吹气式液位计3种。(3)浮力式物位测量仪表。这是一种依据力平衡原理，利用浮于一类悬浮物的位置随液面的变化而变化来反映液他的仪表。它又分为浮子式、浮筒式和杠杆浮球式3种。它们均可测量液位，且后两种还可测量液—液相界面。 (4)电气式物位测量仪表。它是将物位的变化转换为电量的变化，进行间接测量物位的仪表。根据电量参数的不同，可分为电容式、电阻式和电感式3种，其中电感式只能测量液位。(5)声学式物位测量仪表。利用超声波在介质中的传播速度及在不同相界面之间的反射特性来检测物位。它可分为气介式、液介式和固介式3种，其中气介式可测液位和料位；液介式可测液位和液—液相界面；固介式只能测液位，比如：防爆型超声波液位计(6)光学式物位测量仪表。它是利用物位对光波的遮断和反射原理来测量物位的。有激光式物位计，可测液位和料位，： (7)核辐射式物位测量仪表。放射性同位素所放出的射线穿过被测介质时．被吸收而减弱，其衰减的程度与被测介质的厚度(物位)有关。利用这种方法可实现液位和料位的非接触式检测。 除此以外，还有重锤式、音叉式和旋翼式3种机械式物位测量仪表，以及微波式、热电式、称重式、防爆型超声波液位计、射流式等多种类型，且新原理、新品种仍在不断发展之中。物位测量仪表按仪表的功能不同又可分为连续测量和位式测量两种．前者可实现物位连续测量、控制、指示、记录、远传、调节等，后者比较简单价廉，主要用于定点报警和自动进出物料的自动化系统。 返回——仪器仪表网

做薄膜样品的漫反射，为什么测出的吸光度值是负值？反射率超过100？另外漫反射光谱标准图中纵坐标应为吸光度还是反射率？谢谢！

请问反射仪和光泽仪有什么不同。光泽仪是以折射率为1.567的黑玻璃定义为各种测试角度光泽100，带测试样品的反射光光强和标准的比值即为光泽测定结果。测试角有20度、60度、85度。反射仪是以光谱漫反射比均为100%的理想表面的白度定义为反射率100，光谱漫反射比为零的绝对黑表面定义为反射率零，也是计算待测样品和标准的比值来表示反射测量结果。测试角一般为45度。那这样且不是可以这样理解：反射仪就是一种有着特殊标准板、特殊测试角度的光泽仪？如果能这样理解，且不是反射仪可以用光泽仪来替代？学得很肤浅，请大家不吝赐教！

红外分析中，散射、反射和折射都会对样品的分析结果产生影响，给谱的解析和定量带来困难和误差，而消除这些因素对测量结果的影响就要在制样阶段做很多的工作，大家讨论一下如何通过制样来消除这三方面的影响吧。

有用过全反射的用户吗？他可以测低含量的，但是他很容易测试高含量的吗？比如1~99%，测试高含量的准确度、重现性怎样？

[b]抑菌圈测量仪的历史背景 [/b]在没有抑菌圈测量仪出现之前，首先是手工测量也就是用左手拿着带有抑菌圈的培养皿右手拿着游标卡尺进行测量，大概在上世纪七十年代江苏南京一家电影器材厂生产的一种幻灯机，在用户中逐渐兴起，到八十年代随着世界上第一台扫描仪在中国台湾的诞生中国的科学家们密切关注这项技术的发展及应用领域，1988年左右时任中国药品生物制品检定所简称中检所抗生素室主任的金少鸿和胡昌勤老师带领全科室的药检工作人员战略性地提出用扫描仪拍摄培养皿中抑菌圈图像，再用电脑进行图像积分面积导出直径代入生物统计公式计算的科研方向，在全国药检系统掀起了技术创新高潮。上世纪90年代的北京中关村电子一条街上四通、康华、惠普、联想等等都在快速的崛起，大街上涌动着一大批从高校、科研院所、国企大厂的工科男、技术女们，当时也没有规范的市场，大家都在寻找适合自己的项目。就那么巧合有一些人聚合在一起开始研究制造抑菌圈测量仪了，失败，一点点的进步，喜悦，分离、坚持、再坚持、融合、利益、再分离、又一次的分离、转折、流血流汗的一批人、机遇、壮大、缩小、被超越、迷茫、抉择、一颗永恒的种子、疯魔的几年、强大的内心、技术的再次提高、标准化的方向、优良服务、诚信公正。总之抑菌圈测量仪这项技术是中国人的原创。[b]抑菌圈测量仪属性 [/b]抑菌圈测量仪是一种成像设备，特性是放大倍数低，成像面积大，光线均匀的亚显微成像设备，抑菌圈测量只是微生物测量中的一种功能。目前这种亚显微成像的市场很大，只是还没有开发出来。比如：微生物科目中的抑菌圈直径测量、菌落计数、细菌浊度测量、光密度检测；机械行业中洁净度检测，精密配件的形态差异；环保领域：藻类检测、各种水生动植物的物理尺寸测量和记数；农林业：种子的测量和分类、叶面积比例计算、根颈测量等等；医药行业中用到成像的地方就更多了，我们已成功的开发出Elispot酶联免疫斑点统计计算、液体颜色对比（R/G/B法）。[b]抑菌圈测量仪的组成 [/b]抑菌圈测量仪是由硬件部分和软件部分组成硬件部分：现市场中有逐行扫描式和面阵工业相机式，作用是把微生物培养出可计算的物质后，扫描出高质量电子图片，有透射光、反射光、紫外荧光成像，（抑菌圈测量用的是透射光扫描拍摄；菌落计数用的是反射光扫描；凝胶光密度用的是紫外光激发荧光反射扫描）逐行扫描的成像质量要大大优于面阵工业相机，一个直径90mm培养皿图像很轻松地就可以扫描出2-3G的高分辨率的大图，而面阵工业相机是很难达到如此大的图片。（电脑的内存要大）逐行扫描因是移动扫描，所以光线是一条直线光源，扫描出图像光很均匀；成像面积200*300mm可同时盛放6个90mm的培养皿。软件部分： 1.药品检验所和药厂用的是中国药典抗生素效价测量分析版，此版软件是经典之作也是我们大家20多年销售了上千台仪器积累了大量用户的使用经验和药检所的老师们心血之作。2.美国Image Pro-Plus是享誉世界全功能综合版分析软件，可完成面积百分比、颗粒计数、各种形态参数测量、位置参数测量、灰度光密度测量、数学形态学分析、图象的校准与校正、彩色图象的分割与分析。测量功能：随意对图象切割、测量、计数、分类；HE等染色方法的阳性灰度、阳性比例计算；电泳条带分析；荧光强度分析等，可以选择面积、周长、直径、半径、角度等50多种测量方式。[b]抑菌圈测量仪的前景 [/b]中国药典和兽药典中规定中应用抑菌圈方法的药品品种逐渐在减少，抑菌圈测量仪在制药行业中只是一种保留项目，以后重点是在食品和环保领域中找到销售市场。从技术分析来说，抑菌圈测量仪是计算机的外部设备，是随着计算机的技术进步而进步，十几年前计算机的内存最高才128M、硬盘也小的可怜、CPU慢的要命，现在计算机是什么速度、内存和硬盘多么的强大，所以现在的高端抑菌圈测量仪，这种亚显微成像的仪器设备有一部分已进入到显微成像技术中。（显微镜最大缺点是成像面积小）目前这个技术方向研究的人很少，国外的设备也不多，国内就北京和杭州有几个老师在研究，各有长短。所以说高端抑菌圈测量仪是有很大发展空间的。[b]抑菌圈应用方法：[/b]抑菌圈法的分类：1.KB法（纸片法）；2.管碟法；3.打孔法首先要了解用户是用什么方法，药品检验所、药厂原、料药厂用的都是管碟法用中国药典抗生素效价测量版软件分析；疾控中心、医院用的是KB法用IPP综合版软件分析；各大学工业、农业、食品微生物检测菌种筛选和抗生素残留检测用的是打孔法用IPP综合版软件分析。菌落计数主要用在食品和疾控中心有手动记数和自动记数用IPP综合版软件分析微生物菌悬液的浊度测量用积分光密度法用IPP综合版软件分析。

压片法适用或不适用的样品都可以用粉末反射法测定其红外光谱，也用于微小样品、色谱馏分的红外光谱定性、吸着在粉末表面样品的红外光谱分析。该法的原理是，照射到粉末样品上的光首先在其表面反射，一部分直接进入检测器，另一部分进入样品内部多次透过、散射后再从表面射出，后者称为扩散反射光。粉末反射法就是利用扩散散射光获取红外光谱的方法。与压片法相比，该法由于测定的是多次经过样品的光，因此两者的光谱强度比不同，压片法中的弱峰有时会增强