射线工业扫描测量仪

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射线工业扫描测量仪相关的厂商

  • 东莞忠仪测量仪器有限公司是一家集自主研发,代理销售,技术培训,信息咨询及维修服务於一体的高科技企业。公司与多家零售商和代理商建立了长期稳定的合作关系。為国内的生產加工企业和厂家提供质量可靠的各类仪器设备和专业维修服务,自成立以来凭著良好的信誉、优良的產品品质、热情周到的售后服务赢得了广泛客户的信赖与支持。经长期努力以来,公司集累了一批具有良好素质和专业技术丰富的维修及销售工程师,能及时為您提供最优惠快捷的专业服务。公司主要经营项目如下:1.日本东京光电子(TOE)激光镭射测径仪。2.日本尼康(Nikon)工业测量仪器:投影仪、工具显微镜、工业自动影像仪、高度计,3.日本三丰(Mitutoyo)系列:三坐标、投影仪、工具显微镜、表面粗糙度仪、真圆度测定机、轮廓度测量仪,三丰镭射测定机系列,。4.日本三丰(Mitutoyo)小量具系列:表盘、数显及游标卡尺、分厘卡、厚薄计、杠桿量表、深度规、高度规、高度仪、伸缩规、形状类测针等。5.日本东京精密(ACCRETECH)表面粗糙度仪、真圆度测定机、轮廓度测量仪、形状类测针等。6.瑞士(Trimos)/(TESR)系列各类精密量具,一维/二维精密测高仪,精密长度测长仪. 三维三坐标测量仪,投影仪等等及其它种类精密量测仪器。7.日本AIKOR数显推拉力计系列、手动荷重仪系列(HF-2S)、自动曲线荷重仪系列(1305VR)、硬度计系列的销售和维修、荷重元换新及维修。8.万濠(Rational)万濠投影机、万濠影像量测仪、金像显微镜。9.专业研发量具数据采集管理软件。10.各类进口/国产仪器升级,年度保养,专业维修服务。 本公司销售仪器广泛应用於电子、航空、五金、塑胶、橡胶、模具、硅橡胶按键、油墨涂料等行业,我们不但為客户提供优质的仪器设备,还将通过做好从销售到售后服务的每一个环节来让客户感受到我们细致入微的服务。 公司宗旨:诚信 协作 务实 迅速.
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  • 德国温泽集团是世界领先的计量解决方案制造商,产品涵盖三坐标测量机,齿轮测量中心,工业CT,设计,模具制造以及逆向工程等领域。客户主要分布在汽车,航空,机械工程,机电制造及其配套领域。温泽今天已经发展成为包括WENZEL Praezision GmbH (温泽德国精密有限公司); WENZEL GearTec Product line(温泽德国齿轮技术产品线);WENZEL Metromec AG(温泽瑞士软件测量研发中心);WENZEL Steintechnik GmbH (温泽德国花岗岩加工中心);WENZEL Volumetrik GmbH (温泽德国电脑断层扫描技术有限公司);WENZEL ScanTec GmbH (温泽德国三维光学扫描技术有限公司);WENZEL Knotenpunkt GmbH (温泽德国逆向工程技术公司)等的跨国集团公司;除德国本土外在中国和美国已建立生产工厂;在法国、荷兰、英格兰、新加坡、印度和日本等都设立了分公司,温泽在全球范围内拥有16家子公司,销售及服务伙伴遍及50多个国家和地区。温泽全球雇员达到800人。
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  • 依科视朗国际有限公司(YXLON)是一个具有创新精神的高科技公司,专业从事工业X射线检测设备的开发制造,具有超过百年的丰富而悠久的历史,是目前世界上规模最大、系列最齐全的工业X射线检测设备制造商。YXLON的前身可追溯到1895年。当伦琴于1895年11月发现了X射线后,谬勒先生(C.H.F.Muller)吹制了世界上第一只X射线管,几周后使用这只X射线管拍出了第一张人体X光片。1896年Muller在德国汉堡开始了X光管的生产。1899年Muller申请了世界上第一只水冷X光管的专利,并于同年获得伦琴学会的金奖。1927年飞利浦全面收购了C.H.F.Muller公司,同年飞利浦研制出金属X射线管和旋转阳极X射线管。1930年推出首台为无损探伤而制做的X射线设备,亦标志着飞利浦工业X射线设备走向了新时代。1973年研制出第一只金属陶瓷X射线管(160KV/19mA),此后,逐步取代工业用玻璃X射线管。1983年把高稳定/中频高压发生器引进市场,1990年首只真正450KV金属陶瓷X射线管面世(450KV/10mA),1992年飞利浦研制出ComScan层析扫描系统而荣获德国工业部颁授的最有创意奖。1993年飞利浦工业X射线汉堡工厂荣获ISO9001品质证书,1994年飞利浦工业X射线部成员荣获“伦琴奖”。1997年飞利浦工业X射线部与丹麦ANDREX合并,1998年并购了Lumenx(美国),成为一个多国的工业X射线检测设备专业公司。为塑造一个新的专业形象,于1999年启用新的公司名称“YXLON International X-ray GmbH”和商标,总部设在汉堡,从此开创了一个新的时代。依科视朗公司作为全球性的公司,在世界各地都设有销售和服务机构,可以在世界范围内为用户提供以射线为基础的无损检测解决方案。 在航空航天、汽车制造、铁路机车、造船、压力容器、铸造等行业中,依科视朗公司以其丰富的经验提供最佳的解决方案,能够与任何现有的生产过程紧密结合,生产出符合最高级别质量和安全标准的工业产品。其产品线从最基本的X射线部件,图像处理单元,包括固定式和便携式射线机,直到标准化或客户定制的X射线系统以及CT系统。 依科视朗公司设在汉堡总部的应用实验室,拥有一支高素质的工程师和科学家组成的专家队伍,配备了最新技术的X射线装置、测试设备和图像处理系统。具有丰富经验的技术人员会对客户的检验要求进行详尽的分析,以确定射线无损检测在最大程度上满足其要求,为客户确定最佳的解决方案。 由于依科视朗的产品质量、性能、公司规模、产品门类等一直处于世界领先地位,因此享有很高声誉,在世界各地均占有较大市场份额。在中国,依科视朗的X射线系统遍及工业X射线检测应用的各个领域和行业,特别是在汽车及零部件制造行业,国内主要的汽车公司及其配套厂家等都大量使用依科视朗公司的产品。 依科视朗公司提供在工业无损检测领域里最为深入的客户支持计划,由于有来自世界各地训练有素的技术人员从最近的地点为用户服务,响应时间也可以减到最短。在中国,依科视朗公司在北京、上海、青岛、西安、贵州等地设有的办事处及维修站,配备有专业的技术工程师和零备件库存,可为国内用户提供高质量、直接快速的本地化技术咨询和售后服务。YXLON,助您发现质量背后的奥秘!
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  • EPM-100型β射线粉尘浓度测量仪,采用符合国家标准的β射线吸收法原理对粉尘(颗粒物)浓度进行监测,重点解决建设现场无组织扬尘排放污染源精准监测的难题。仪器具备动态加热系统,消除湿度对粉尘测量的影响。设备采用防水防尘设计,适用于户外复杂条件下的长期在线监测。内置无线数据传输模块,传输协议符合HJ212-2017标准,将监测数据上传至中心监控平台。性能特点1.仪器采用符合国家标准方法的β射线吸收原理,测量更加准确可靠2.选配不同规格的颗粒物切割器(TSP、PM10、PM2.5),实现不同粒径颗粒物的测量3.动态加热系统(DHS)既能消除空气湿度干扰又同时保留颗粒物中挥发性成分4.以低辐射C-14为β射线源,全面防辐射处理,安全可靠5.仪器采用防水防尘设计,适应于各种户外复杂工作条件6.测量结果可本地保存一年,数据自动保存,支持来电自启功能7.支持GPRS远程数据传输8.可选配气象传感器、噪音计、摄像头、LED屏等配件应用领域1.建设工地、水泥搅拌站、矿山码头、煤电厂扬尘监管2.城市主干道路周围扬尘声监管3.工业园区内扬尘监管4.居民区周边扬尘监测5.环境评价、许可6.污染预测预警
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  • RadEye系列便携式辐射测量仪,体型较小、便于携带、操作简单、仪器有自检功能、维护量小,不同的型号采用不同的探测器适合不同场合的辐射监测,可用于α,β,γ,X射线,中子等辐射探测,γ剂量率测量和区域监测。RadEye 系列有RadEye PRD、 RadEye G-10、RadEye G20、RadEye NBR、RadEye G-10-Ex、RadEye AB100、RadEye B20、RadEye N、RadEye NL、RadEye GN和RadEye Area monitor等几种型号。性能优异,可用在工业,边防,海关,核应急,反恐,安全保卫,消防,医院和制药等诸多领域。 主要特点: -先进的辐射测量性能-出色的辐射响应-全自动自检-可设置声音、震动及耳机方式报警-小巧、轻质、便于携带-符合人体工程学的凸出按键设计-先进的低功耗技术-强大的数据存储能力 技术参数: 型号: RadEye PRD/PRD-ER便携式γ辐射测量仪采用NBR天然本底扣除技术 探测器NaI(TI) 测量类型X、γ测量范围PRD:0.01μSv/h-250μSv/hPRD-ER:0.01 μSv/h-100 mSv/h 能量范围60keV-1.3MeV 灵敏度(Cs-137)150 cps (1 μSv/h) 灵敏度(Am-241)2000 cps(1 μSv/h) 型号: RadEye G-10便携式γ辐射测量仪 探测器带能量补偿的GM管测量类型X、γ测量范围0.5μSv/h-100m Sv/h 能量范围45 keV-3 MeV 灵敏度(Cs-137)1.7 cps (1 μSv/h) 灵敏度(Am-241)2.0 cps(1 μSv/h) 型号: RadEye G-10-Ex便携式防爆型γ辐射测量仪适用于有潜在爆炸物危险的环境中 测量类型X、γ测量范围0.5μSv/h-100m Sv/h 能量范围45 keV-3 MeV 灵敏度(Cs-137)1.7 cps (1 μSv/h) ATEX等级II 2GEx ia IIB T4 IBExU10ATEX1096 型号: RadEye NBR便携式高灵敏度γ辐射测量仪RadEye NBR由RadEye SX多功能测量仪及FHZ 674探头组成采用NBR天然本底扣除技术,可探测微量人工γ放射性,特别适用于屏蔽放射源的搜索。 测量范围(Cs-137)0.01 μSv/h-100 μSv/h灵敏度(Cs-137)1500 cps/μSv/h 从30 keV剂量率响应±30% (Am-241, Cs-137, Co-60), 根据IEC 62533, -30%, +90% (60 keV-4 MeV) 型号: RadEye B20/B20-ER便携式α/β表面污染测量仪 探测器GM管测量类型α、β、γ、X辐射窗直径44mm 测量范围5 μSv/h-10 m Sv/h 能量范围17 keV-1.3 MeV 尺寸325px×175px×150px 重量300 g型号: RadEye AB100便携式α/β表面污染测量仪 探测器涂锌塑料闪烁体 灵敏面积100 cm2 探测效率36%(Am-241)23%(Co-60) 49% (Sr/Y-90) Gamma响应40 s-1/( μSv/h) (Cs-137) 测量单位Bq,Bq/cm2,dpm尺寸35.5 cm×10 cm×18 cm 重量900 g 型号: RadEye N/NL便携式中子测量 探测器He-3计数管 灵敏度0.3 cps/( μSv/h) (Cf-252) 本底海拔300 m,0.005 cps 测量单位cps 尺寸2400px×1525px×775px 重量160 g 型号: RadEye GN/GN+系列便携式γ/中子测量 测量类型γ、中子主要特点高γ、中子灵敏度实时γ源分类能量补偿γ剂量率双通道γ/中子显示 探测能力γ能量范围:30 keV-1.3 MeV能量补偿γ剂量率:45 keV-1.3 MeV (H*(10)) 1 μRem/h - 25 mRem/h (0.01 μSv/h-250 μSv/h)中子计数率:0.1-1000 cpsγ效率RadEye GN: 1000 cps / μSv/h (Am-241) 110 cps / μSv/h (Cs-137) 65 cps / μSv/h (Co-60) RadEye GN+: 2000 cps / μSv/h (Am-241) 110 cps / μSv/h (Cs-137) 55 cps / μSv/h (Co-60)中子探测能力符合ANSI 42.32和IEC 62401型号: RadEye Area Monitor区域辐射监测器 特点监测γ和中子放射源具有当地和远程报警RS-232接口
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  • 德国ZEISS公司生产的METROTOM系列工业CT,高精度工业CT断层测量机,先进的技术,工业CT价格咨询,工业CT技术服务都可以联系越联公司基于 ZEISS METROTOM 的工业计算机断层扫描(CT)工业CT,X射线工业CT断层扫描测量仪利用蔡司的工业计算机断层扫描系统,仅需一次X射线扫描,即可顺利完成工件的测量和检验。标准的验收检测、精密工程和完善的校准程序可确保系统的追踪性。配备线性导轨及转台,满足客户对精度的高要求。 测量与检验整体部件ZEISS METROTOM是一种用于测量和检验塑料或轻金属部件的工业计算机断层扫描测量系统。而在利用传统测量机测量时,此类隐藏性的结构信息只有将零件通过费时的层层破坏方能获得。 轻松且精准地进行多样化特征检测利用ZEISS METROTOM计算机断层扫描系统可一次扫描海量的零部件特征。这些测量结果非常精准,且具可追溯性。和接触式测量方法不同,ZEISS METROTOM 获取海量测量点时,时间显著缩短。 直观简易的软件操作仅需通过短时间的ZEISS METROTOM OS软件培训课程,操作人员即可对零件进行扫描,透视零件的内部。利用ZEISS CALYPSO可评估CT数据,再利用ZEISS PiWeb即可快速地将两者融合于同一份测量报告中。
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射线工业扫描测量仪相关的资讯

  • CIMT2023直击|蔡司重磅发布工业CT、影像测量仪、3D扫描仪等新品
    2023年4月10日,第十八届中国国际机床展览会(CIMT2023)在中国国际展览中心(顺义馆)盛大开幕。CIMT是中国知名度最高、规模最大、影响力最强的机床工具专业展览会,被国际业界公认为“全球四大国际机床名展之一”。本届展会主题为“融合创新 数智未来”,吸引来自28个国家和地区的约1600家制造商参展。CIMT2023开幕式展会首日,蔡司携多款全新产品技术亮相W3-A211展位,聚焦七大行业应用,全方位集中展示前沿“黑科技”。蔡司展位当天下午,蔡司隆重举办“蔡司重点行业应用专题研讨会-暨蔡司2023新品发布会”,覆盖蔡司医疗行业、电子行业、新能源汽车行业及电力与能源行业质量解决方案,发布VoluMax 9 titan计算机断层扫描系统、O-DETECT光学影像测量仪 、T-SCAN hawk 2三维激光扫描仪、ATOS LRX三维扫描系统四款新品。活动吸引了众多业界同仁出席,与蔡司专家零距离交流互动。VoluMax 9 titan VoluMax 9 titan是一款450 kV的计算机断层扫描系统,其集紧凑型设计和稳定性能于一体。该机器易于使用,可对电池模组等结构紧密的大型部件进行清晰的X射线扫描,从而实现快速、精确的质量控制。O-DETECTO-DETECT传承德国蔡司顶尖的光学技术,操作简便,是一款快速精准的影像测量仪。在需要使用接触式测头测量的情况下,O-DETECT可以选配蔡司XDT触发测头,升级为复合式测量设备。高品质的XDT探头,全面支持大长度多角度探针,具备高稳定性且同时满足多种测力。T-SCAN hawk 2T-SCAN hawk 2是首款由蔡司德国研发和制造的新一代轻量级手持式高精度三维激光扫描仪,在扫描速度和流畅度上带来非凡体验。首次加入卫星模式,颠覆扫描定位方式,提供计量级精度和便携易用的双重加持。您在哪里,测量室就在哪里。ATOS LRXATOS LRX是一款拥有超大测量体积的三维扫描系统,采用全新光源,捕捉高精度可追溯的测量结果,结合易用强大的一体化软件,确保安全、快速、高分辨率地获取大型零件的表面数据,适合航空航天、汽车、造船、模具及风电等多行业应用。在接受媒体采访时,蔡司中国工业质量解决方案总负责人平颉先生表示:“‘制造业高质量发展’标志着中国这个‘世界制造中心’真正意义上从量向质的转型。蔡司素来以‘质量’赋能制造业闻名业界,并且在近年的发展中,不断夯实整体实力,可以提供从研发到生产制造的全流程质量解决方案。除了大家耳熟能详的蔡司优势技术(三坐标接触式测量等),光学扫描检测也正受到越来越多的用户关注。今天,我们推出的两款全新光学扫描设备T-SCAN hawk 2和ATOS LRX,以重磅设计结合领先技术,让各项检测任务更加得心应手,精准高效,无论是轻便手持,还是大型零件扫描,均可按需配置。将国际领先的技术及产品引入中国,蔡司必将得以帮助本土企业解决技术难点,突破创新瓶颈,实现生产流程和产品质量的长期稳定可控,帮助企业降本增效,将更多的精力投入新品研发和市场推广,在提升品牌声誉的同时,实现良性可持续发展的目标。”
  • 日本精工电子X射线荧光镀层厚度测量仪全新上市
    日本精工电子纳米科技有限公司最新推出X射线荧光镀层厚度测量仪的新机型[SFT-110]  通过自动定位功能,可简单迅速地测量镀层厚度。     日本精工电子有限公司的子公司精工电子纳米科技有限公司将在5月初推出配备自动定位功能的[X射线荧光镀层厚度测量仪SFT-110],使操作性进一步提高。  对半导体材料、电子元器件、汽车部件等的电镀、蒸镀等的金属薄膜和组成进行测量管理,可保证产品的功能及品质,降低成本。精工从1971年首次推出非接触、短时间内可进行高精度测量的X射线荧光镀层厚度测量仪以来,已经累计销售6000多台,得到了国内外镀层厚度、金属薄膜测量领域的高度关注和支持。  为了适应日益提高的镀层厚度测量需求,精工开发了配备有自动定位功能的X射线荧光镀层厚度测量仪SFT-110。通过自动定位功能,仅需把样品放置到样品台上,就可在数秒内对样品进行自动对焦。由此,无需进行以往的手动逐次对焦的操作,大大提高了样品测量的操作性。  近年来,随着检测零件的微小化,对微区的高精度测量的需求日益增多。SFT-110实现微区下的高灵敏度,即使在微小准直器(0.1、0.2mm)下,也能够大幅度提高膜厚测量的精度。并且,配备有新开发的薄膜FP法软件,即使没有厚度标准物质也可进行多达5层10元素的多镀层和合金膜的测量,可对应更广泛的应用需求。  精工今后还会通过X射线技术产品的开发,更多地支持制造业的品质管理及环境管制对应。[SFT-110的主要特征] 1. 通过自动定位功能提高操作性 测量样品时,以往需花费约10秒的样品对焦,现在3秒内即可完成,大大提高样品定位的操作性。 2. 微区膜厚测量精度提高 通过缩小与样品间的距离等,致使在微小准直器(0.1、0.2mm)下,也能够大幅度提高膜厚测量的精度。 3. 多达5层的多镀层测量 使用薄膜FP法软件,即使没有厚度标准片也可进行多达5层10元素的多镀层测量。 4. 广域观察系统(选配) 可从最大250×200mm的样品整体图像指定测量位置。 5. 对应大型印刷线路板(选配) 可对600×600mm的大型印刷线路板进行测量。 6. 低价位 与以往机型相比,既提高了功能性又降低20%以上的价格。[主要产品规格] 检测器: 比例计数管 X射线源: 空冷式小型X射线管 准直器: 0.1、0.2mmφ2种 样品观察: CCD摄像头 样品台移动量:250(X)×200(Y)mm 样品最大高度:150mm
  • 精工盈司推出高性能X射线荧光镀层厚度测量仪SFT9500X系列
    高精度测量极微小部位的金属薄膜厚度 精工电子纳米科技有限公司(简称:SIINT,社长:川崎贤司,总公司:千叶县千叶市)是精工电子有限公司(简称:SII,社长:新保雅文,总公司:千叶县千叶市)的全资子公司,其主要业务是测量分析仪器的生产与销售。本公司于12月19日开始销售可高精度测量电镀・ 蒸镀等极微小部位的纳米级别的镀层厚度测量仪「SFT9500X系列」。出货时间预定为2012年2月上旬。 高性能X射线荧光镀层厚度测量仪 「SFT9550X」 要对半导体、电子部件、印刷电路板中所使用的电镀・ 蒸镀等金属薄膜的膜厚・ 组成进行测量管理,就必须确保功能、品质及成本。特别是近年来随着电子仪器的高功能化、小型化的发展,连接器和导线架等电子部件也逐渐微细化了。与此同时,电镀・ 蒸镀等金属薄膜厚度的测量也要求达到几十微米的极微小部位测量以及达到纳米等级的精度。 「SFT9500X系列」通过新型X射线聚光系统(毛细管)和X射线源的组合,可达到照射直径30μmφ的高能量X射线束照射。以往的X射线荧光膜厚仪由于照射强度不足而无法获得足够的精度,而「SFT9500X系列」则可以对导线架、连接器、柔性线路板等的极微小部位进行准确、迅速的测量。 SIINT于1978年在世界上率先推出了台式X射线膜厚仪,而后在日本国内及世界各地进行广泛销售,得到了顾客很高的评价。此次推出的「SFT9500X系列」是一款凝聚了长期积累起来的X射线微小部位测量技术的高性能X射线荧光膜厚仪。今后将在电子零部件、金属材料、镀层加工等领域进行销售,对电子仪器的性能・ 品质的提高作出贡献。 【SFT9500X系列的主要特征】1. 极微小部位的薄膜・ 多层膜测量通过采用新型的毛细管(X射线聚光系统)和X射线源,把与以往机型(SFT9500)同等强度的X射线聚集在30μmφ的极微小范围。因此,不会改变测量精度即可测量几十微米等级的微小范围。同时,也可对几十纳米等级的Au/Pd/Ni/Cu多镀层的各层膜厚进行高精度测量。 2.扫描测量通过微小光束对样品进行XY扫描,可把样品的镀层厚度分布和特定元素的含量分布输出为二维扫描图像数据,更方便进行简单快速的观察。 3. 异物分析通过高能量微小光束和高计数率检测器的组合,可进行微小异物的定性分析。利用CCD摄像头选定样品的异物部分并照射X射线,通过与正常部分的能谱差进行异物的定性分析(Al~U)。 【SFT9500X系列的主要产品规格】 SFT9500XSFT9550X样品台尺寸(宽)×(长) 175×240 mm330×420 mm样品台移动量(X)×(Y)×(Z) 150×220×150 mm300×400×50 mm被测样品尺寸(最大)(宽)×(长)×(厚度) 500×400×145 mm820×630×45 mmX 射 线 源空冷式小型X射线管(最大50kV,1mA)检 测 器Vortex半导体检测器(无需液氮)照 射 直 径最小30μmφ样 口 观 察CCD摄像头(附变焦功能)样 品 对 焦激光点滤 波 器Au极薄膜测量用滤波器操 作 部电脑、19英寸液晶显示器测 量 软 件薄膜FP法、薄膜検量線法选 配能谱匹配软件、红色显示灯、打印机测 量 功 能自动测量、中心搜索数 据 处 理Microsoft Excel、Microsoft Word(配备统计处理;测量数据、平均值、最大・ 最小值、CV值、Cpk值等测量结果报告制作(包含样品图像))安 全 功 能样品室门安全锁、仪器诊断功能 【价格】 1,650万日元~(不含税) 【出货开始时间】 2012年2月上旬 【销售目标台数】 50台(2012年度)    Microsoft是美国 Microsoft Corporation在美国及其它国家的登记商标或者商标。 以上本产品的咨询方式中国:精工盈司电子科技(上海)有限公司TEL:021-50273533FAX:021-50273733MAIL:sales@siint.com.cn日本:【媒体宣传】精工电子有限公司综合企划本部 秘书广告部 井尾、森TEL:043-211-1185【客户】精工电子纳米科技有限公司分析营业部 营业三科TEL: 052-935-8595MAIL:info@siint.co.jp

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  • 如何帮助客户选择抑菌圈测量仪

    [b]抑菌圈测量仪的历史背景 [/b]在没有抑菌圈测量仪出现之前,首先是手工测量也就是用左手拿着带有抑菌圈的培养皿右手拿着游标卡尺进行测量,大概在上世纪七十年代江苏南京一家电影器材厂生产的一种幻灯机,在用户中逐渐兴起,到八十年代随着世界上第一台扫描仪在中国台湾的诞生中国的科学家们密切关注这项技术的发展及应用领域,1988年左右时任中国药品生物制品检定所简称中检所抗生素室主任的金少鸿和胡昌勤老师带领全科室的药检工作人员战略性地提出用扫描仪拍摄培养皿中抑菌圈图像,再用电脑进行图像积分面积导出直径代入生物统计公式计算的科研方向,在全国药检系统掀起了技术创新高潮。上世纪90年代的北京中关村电子一条街上四通、康华、惠普、联想等等都在快速的崛起,大街上涌动着一大批从高校、科研院所、国企大厂的工科男、技术女们,当时也没有规范的市场,大家都在寻找适合自己的项目。就那么巧合有一些人聚合在一起开始研究制造抑菌圈测量仪了,失败,一点点的进步,喜悦,分离、坚持、再坚持、融合、利益、再分离、又一次的分离、转折、流血流汗的一批人、机遇、壮大、缩小、被超越、迷茫、抉择、一颗永恒的种子、疯魔的几年、强大的内心、技术的再次提高、标准化的方向、优良服务、诚信公正。总之抑菌圈测量仪这项技术是中国人的原创。[b]抑菌圈测量仪属性 [/b]抑菌圈测量仪是一种成像设备,特性是放大倍数低,成像面积大,光线均匀的亚显微成像设备,抑菌圈测量只是微生物测量中的一种功能。目前这种亚显微成像的市场很大,只是还没有开发出来。比如:微生物科目中的抑菌圈直径测量、菌落计数、细菌浊度测量、光密度检测;机械行业中洁净度检测,精密配件的形态差异;环保领域:藻类检测、各种水生动植物的物理尺寸测量和记数;农林业:种子的测量和分类、叶面积比例计算、根颈测量等等;医药行业中用到成像的地方就更多了,我们已成功的开发出Elispot酶联免疫斑点统计计算、液体颜色对比(R/G/B法)。[b]抑菌圈测量仪的组成 [/b]抑菌圈测量仪是由硬件部分和软件部分组成硬件部分:现市场中有逐行扫描式和面阵工业相机式,作用是把微生物培养出可计算的物质后,扫描出高质量电子图片,有透射光、反射光、紫外荧光成像,(抑菌圈测量用的是透射光扫描拍摄;菌落计数用的是反射光扫描;凝胶光密度用的是紫外光激发荧光反射扫描)逐行扫描的成像质量要大大优于面阵工业相机,一个直径90mm培养皿图像很轻松地就可以扫描出2-3G的高分辨率的大图,而面阵工业相机是很难达到如此大的图片。(电脑的内存要大)逐行扫描因是移动扫描,所以光线是一条直线光源,扫描出图像光很均匀;成像面积200*300mm可同时盛放6个90mm的培养皿。软件部分: 1.药品检验所和药厂用的是中国药典抗生素效价测量分析版,此版软件是经典之作也是我们大家20多年销售了上千台仪器积累了大量用户的使用经验和药检所的老师们心血之作。2.美国Image Pro-Plus是享誉世界全功能综合版分析软件,可完成面积百分比、颗粒计数、各种形态参数测量、位置参数测量、灰度光密度测量、数学形态学分析、图象的校准与校正、彩色图象的分割与分析。测量功能:随意对图象切割、测量、计数、分类;HE等染色方法的阳性灰度、阳性比例计算;电泳条带分析;荧光强度分析等,可以选择面积、周长、直径、半径、角度等50多种测量方式。[b]抑菌圈测量仪的前景 [/b]中国药典和兽药典中规定中应用抑菌圈方法的药品品种逐渐在减少,抑菌圈测量仪在制药行业中只是一种保留项目,以后重点是在食品和环保领域中找到销售市场。从技术分析来说,抑菌圈测量仪是计算机的外部设备,是随着计算机的技术进步而进步,十几年前计算机的内存最高才128M、硬盘也小的可怜、CPU慢的要命,现在计算机是什么速度、内存和硬盘多么的强大,所以现在的高端抑菌圈测量仪,这种亚显微成像的仪器设备有一部分已进入到显微成像技术中。(显微镜最大缺点是成像面积小)目前这个技术方向研究的人很少,国外的设备也不多,国内就北京和杭州有几个老师在研究,各有长短。所以说高端抑菌圈测量仪是有很大发展空间的。[b]抑菌圈应用方法:[/b]抑菌圈法的分类:1.KB法(纸片法);2.管碟法;3.打孔法首先要了解用户是用什么方法,药品检验所、药厂原、料药厂用的都是管碟法用中国药典抗生素效价测量版软件分析;疾控中心、医院用的是KB法用IPP综合版软件分析;各大学工业、农业、食品微生物检测菌种筛选和抗生素残留检测用的是打孔法用IPP综合版软件分析。菌落计数主要用在食品和疾控中心有手动记数和自动记数用IPP综合版软件分析微生物菌悬液的浊度测量用积分光密度法用IPP综合版软件分析。

  • 【资料】温度测量仪

    温度测量仪表是测量物体冷热程度的工业自动化仪表。最早的温度测量仪表,是意大利人伽利略于1592年创造的。它是一个带细长颈的大玻璃泡,倒置在一个盛有葡萄酒的容器中,从其中抽出一部分空气,酒面就上升到细颈内。当外界温度改变时,细颈内的酒面因玻璃泡内的空气热胀冷缩而随之升降,因而酒面的高低就可以表示温度的高低,实际上这是一个没有刻度的指示器。1709年,德国的华伦海特于荷兰首次创立温标,随后他又经过多年的分度研究,到1714年制成了以水的冰点为32度、沸点为212度、中间分为180度的水银温度计,即至今仍沿用的华氏温度计。1742年,瑞典的摄尔西乌斯制成另一种水银温度计,它以水的冰点为100度、沸点作为 0度。到1745年,瑞典的林奈将这两个固定点颠倒过来,这种温度计就是至今仍沿用的摄氏温度计。早在1735年,就有人尝试利用金属棒受热膨胀的原理,制造温度计,到18世纪末,出现了双金属温度计;1802年,查理斯定律确立之后,气体温度计也随之得到改进和发展,其精确度和测温范围都超过了水银温度计。1821年,德国的塞贝克发现热电效应;同年,英国的戴维发现金属电阻随温度变化的规律,这以后就出现了热电偶温度计和热电阻温度计。1876年,德国的西门子制造出第一支铂电阻温度计。很早以前,人们在烧窑和冶锻时,通常是凭借火焰和被加热物体的颜色来判断温度的高低。据记载,1780年韦奇伍德根据瓷珠在高温下颜色的变化,来识别烧制陶瓷的温度,后来又有人根据陶土制的熔锥在高温下弯曲变形的程度,来识别温度。辐射温度计和光学高温计是20世纪初,维思定律和普朗克定律出现以后,才真正得到实用。从60年代开始,由于红外技术和电子技术的发展,出现了利用各种新型光敏或热敏检测元件的辐射温度计(包括红外辐射温度计),从而扩大了它的应用领域。各种温度计产生的同时就规定了各自的分度方法,也就出现了各种温标,如原始的摄氏温标、华氏温标、气体温度计温标和铂电阻温标等 。为了统一温度的量值,以达到国际通用的目的,国际权度局最早规定以玻璃水银温度计为基准仪表,统一用摄氏温标。后经数次改革,到1927年改用以热力学温度为基础、以纯物质的相变点为定义固定点的国际温标 ,以后又经多次修改完善。国际现代通用的温标是1967年第13次国际权度大会通过的 ,1968年国际实用温标。它以13个纯物质的相变点,如氢三相点,即氢的固、液、气三态共存点(-259.34℃);水三相点(0.01℃)和金凝固点(1064.43℃)等,作为定义固定点来复现热力学温度的。中间插值在-259.34~630.74℃之间 ,用基准铂电阻;在630.74~1064.43℃之间,用基准铂铑-铂热电偶;在1064.43℃以上用普朗克公式复现。一般的温度测量仪表都有检测和显示两个部分。在简单的温度测量仪表中,这两部分是连成一体的,如水银温度计;在较复杂的仪表中则分成两个独立的部分,中间用导线联接,如热电偶或热电阻是检测部分,而与之相配的指示和记录仪表是显示部分。按测量方式,温度测量仪表可分为接触式和非接触式两大类。测量时,其检测部分直接与被测介质相接触的为接触式温度测量仪表;非接触温度测量仪表在测量时,温度测量仪表的检测部分不必与被测介质直接接触,因此可测运动物体的温度。例如常用的光学高温计、辐射温度计和比色温度计,都是利用物体发射的热辐射能随温度变化的原理制成的辐射式温度计。由于电子器件的发展,便携式数字温度计已逐渐得到应用。它配有各种样式的热电偶和热电阻探头,使用比较方便灵活。便携式红外辐射温度计的发展也很迅速,装有微处理器的便携式红外辐射温度计具有存贮计算功能,能显示一个被测表面的多处温度 ,或一个点温度的多次测量的平均温度、最高温度和最低温度等。此外,现代还研制出多种其他类型的温度测量仪表,如用晶体管测温元件和光导纤维测温元件构成的仪表;采用热象扫描方式的热象仪,可直接显示和拍摄被测物体温度场的热象图, 可用于检查大型炉体、发动机等的表面温度分布,对于节能非常有益;另外还有利用激光,测量物体温度分布的温度测量仪器等。

  • 如何帮助客户选择抑菌圈测量仪

    如何帮助客户选择抑菌圈测量仪

    [b]如何帮助客户选择抑菌圈测量仪抑菌圈测量仪的历史背景 [/b]在没有抑菌圈测量仪出现之前,首先是手工测量也就是用左手拿着带有抑菌圈的培养皿右手拿着游标卡尺进行测量,大概在上世纪七十年代江苏南京一家电影器材厂生产的一种幻灯机,在用户中逐渐兴起,到八十年代随着世界上第一台扫描仪在中国台湾的诞生中国的科学家们密切关注这项技术的发展及应用领域,1988年左右时任中国药品生物制品检定所简称中检所抗生素室主任的金少鸿和胡昌勤老师带领全科室的药检工作人员战略性地提出用扫描仪拍摄培养皿中抑菌圈图像,再用电脑进行图像积分面积导出直径代入生物统计公式计算的科研方向,在全国药检系统掀起了技术创新高潮。上世纪90年代的北京中关村电子一条街上四通、康华、惠普、联想等等都在快速的崛起,大街上涌动着一大批从高校、科研院所、国企大厂的工科男、技术女们,当时也没有规范的市场,大家都在寻找适合自己的项目。就那么巧合有一些人聚合在一起开始研究制造抑菌圈测量仪了,失败,一点点的进步,喜悦,分离、坚持、再坚持、融合、利益、再分离、又一次的分离、转折、流血流汗的一批人、机遇、壮大、缩小、被超越、迷茫、抉择、一颗永恒的种子、疯魔的几年、强大的内心、技术的再次提高、标准化的方向、优良服务、诚信公正。总之抑菌圈测量仪这项技术是中国人的原创。[b]抑菌圈测量仪属性 [/b]抑菌圈测量仪是一种成像设备,特性是放大倍数低,成像面积大,光线均匀的亚显微成像设备,抑菌圈测量只是微生物测量中的一种功能。目前这种亚显微成像的市场很大,只是还没有开发出来。比如:微生物科目中的抑菌圈直径测量、菌落计数、细菌浊度测量、光密度检测;机械行业中洁净度检测,精密配件的形态差异;环保领域:藻类检测、各种水生动植物的物理尺寸测量和记数;农林业:种子的测量和分类、叶面积比例计算、根颈测量等等;医药行业中用到成像的地方就更多了,我们已成功的开发出Elispot酶联免疫斑点统计计算、液体颜色对比(R/G/B法)。[b]抑菌圈测量仪的组成 [/b]抑菌圈测量仪是由硬件部分和软件部分组成硬件部分:现市场中有逐行扫描式和面阵工业相机式,作用是把微生物培养出可计算的物质后,扫描出高质量电子图片,有透射光、反射光、紫外荧光成像,(抑菌圈测量用的是透射光扫描拍摄;菌落计数用的是反射光扫描;凝胶光密度用的是紫外光激发荧光反射扫描)逐行扫描的成像质量要大大优于面阵工业相机,一个直径90mm培养皿图像很轻松地就可以扫描出2-3G的高分辨率的大图,而面阵工业相机是很难达到如此大的图片。(电脑的内存要大)逐行扫描因是移动扫描,所以光线是一条直线光源,扫描出图像光很均匀;成像面积200*300mm可同时盛放6个90mm的培养皿。软件部分: 1.药品检验所和药厂用的是中国药典抗生素效价测量分析版,此版软件是经典之作也是我们大家20多年销售了上千台仪器积累了大量用户的使用经验和药检所的老师们心血之作。2.美国Image Pro-Plus是享誉世界全功能综合版分析软件,可完成面积百分比、颗粒计数、各种形态参数测量、位置参数测量、灰度光密度测量、数学形态学分析、图象的校准与校正、彩色图象的分割与分析。测量功能:随意对图象切割、测量、计数、分类;HE等染色方法的阳性灰度、阳性比例计算;电泳条带分析;荧光强度分析等,可以选择面积、周长、直径、半径、角度等50多种测量方式。[b]抑菌圈测量仪的前景 [/b]中国药典和兽药典中规定中应用抑菌圈方法的药品品种逐渐在减少,抑菌圈测量仪在制药行业中只是一种保留项目,以后重点是在食品和环保领域中找到销售市场。从技术分析来说,抑菌圈测量仪是计算机的外部设备,是随着计算机的技术进步而进步,十几年前计算机的内存最高才128M、硬盘也小的可怜、CPU慢的要命,现在计算机是什么速度、内存和硬盘多么的强大,所以现在的高端抑菌圈测量仪,这种亚显微成像的仪器设备有一部分已进入到显微成像技术中。(显微镜最大缺点是成像面积小)目前这个技术方向研究的人很少,国外的设备也不多,国内就北京和杭州有几个老师在研究,各有长短。所以说高端抑菌圈测量仪是有很大发展空间的。[b]抑菌圈应用方法:[/b]抑菌圈法的分类:1.KB法(纸片法);2.管碟法;3.打孔法[img=,300,300]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/02/201802221344578195_16_3024149_3.png!w640x640.jpg[/img] KB法(纸片法)[img=,300,216]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/02/201802221346082625_926_3024149_3.png!w690x499.jpg[/img]管碟法[img=,300,192]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/02/201802221407561403_6888_3024149_3.png!w690x443.jpg[/img] 打孔法首先要了解用户是用什么方法,药品检验所、药厂原、料药厂用的都是管碟法用中国药典抗生素效价测量版软件分析;疾控中心、医院用的是KB法用IPP综合版软件分析;各大学工业、农业、食品微生物检测菌种筛选和抗生素残留检测用的是打孔法用IPP综合版软件分析。菌落计数主要用在食品和疾控中心有手动记数和自动记数用IPP综合版软件分析微生物菌悬液的浊度测量用积分光密度法用IPP综合版软件分析。[img=,300,317]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/02/201802221415445145_6044_3024149_3.png!w567x600.jpg[/img][img=,300,305]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/02/201802221416053042_9439_3024149_3.png!w567x578.jpg[/img][img=,300,319]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/02/201802221416151402_1665_3024149_3.png!w567x603.jpg[/img][img=,300,303]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/02/201802221416221799_5693_3024149_3.png!w567x574.jpg[/img][img=,300,316]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/02/201802221416272475_7288_3024149_3.png!w567x599.jpg[/img][img=,300,335]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/02/201802221416325285_7439_3024149_3.png!w567x634.jpg[/img]

射线工业扫描测量仪相关的耗材

  • 雾度测量仪配件
    雾度测量仪配件能够精确测量在玻璃或硅晶圆衬底上薄膜的总透过率和漫透过率,根据公式Haze(λ)=DT(λ)/TT(λ)从而获得雾度值,测量光谱范围为400-900nm。薄膜的总透过率,总反射率,漫透过率对于太阳能光伏制造非常重要,雾度测量仪配件通过三个光谱仪测量400-900nm范围内的光谱,不需要移动或改变任何部件,保证测量精度和使用寿命。雾度测量仪配件采用模块化设计,具有高度的可拓展性,充分满足不同客户的多种需要。例如,自动光学窗口可更换,简化操作,减少用户的人工干预操作。还有厚度和反射率测量模块可集成,从而满足客户测量薄膜厚度和折射率的需求。除此之外,还可以根据用户的预算情况配备自动扫描或手动扫描的机制,可以适合任何尺寸的样品,包括面积大于1平方米的玻璃板。
  • XH-2010高灵敏环境级χ 、γ 测量仪
    XH-2010高灵敏环境级χ、γ测量仪,简介,办事处,操作说明书,规格,现货:销售热线:15300030867,13718811058,张经理,欢迎您的来电咨询! XH-2010高灵敏环境级χ、γ测量仪采用大体积(NaI)闪烁晶体,配用高灵敏光电倍增管,对χ、γ射线具有极高的探测灵敏度,仪器能量响应宽、能量探测下限低,具有宇宙射线反符合功能,可用于专门测量人工放射性。仪器具有数据存储功能、数据传输功能。特别适用于环保部对环境中放射性微小变化的测定及卫生疾控部门用于评估χ光机开机时对周围环境的影响。XH-2010高灵敏环境级χ、γ测量仪,简介,办事处,操作说明书,特点 1、大体积闪烁晶体,配用高灵敏光电倍增管,确保仪器量程下限达1nSv/h(0.001μSv/h)。2、采用薄壁晶体,使仪器的能量响应下限可达25Kev。3、大屏幕液晶显示,自动量程转换,自动报警,自动背光。4、可存储100组测量数据,并具有数据下载功能。5、仪器配备铝合金手提箱,方便携带。XH-2010高灵敏环境级χ、γ测量仪,简介,办事处,操作说明书,性能指标测量范围:剂量率: 1n Sv/h~150μSv/h 累计剂量:0.01~108μSv/h相对固有误差: ±10%稳定性:连续工作8h误差≤7%角响应:0~90° <±25% 90°~180° ≤±35%灵 敏 度:1μSv/h ≥1000 Cps能量响应:25Kev ~ 7Mev ±15%报 警:声音报警报警阈:0.1~150μSv/h,测量范围内连续可调。背 光:仪器有背光灯,方便在较暗环境中读数。数据下载:可通过专用软件下载数据。供 电:充电电池供电,可连续工作24h。工作环境:环境温度:-20℃~50℃ 环境湿度:≤ 90%(40±2℃)重 量:1.2kg(含电池)
  • 多功能翘曲度测量仪配件
    多功能翘曲度测量仪配件是孚光精仪公司进口的全球领先的翘曲度检测仪器,一套翘曲度测试仪器可以测量:热沉,晶圆(wafer),太阳能电池和硅片翘曲度,应力以及表面形貌。多功能翘曲度测量仪配件是特别为半导体晶圆(wafer)和太阳能电池(solar cell)的翘曲度(warp) 和弯曲度(bow)以及表面形貌(topography)的测量而设计,可以测量晶圆翘曲度(wafer warpage) 和晶圆表面形貌, 晶圆应力,硅片张力,太阳能电池量子效率,既适合科研单位使用,也适合工业客户大产品、高效率的晶圆翘曲度和表面形貌的检测的需要。 我们还根据不同晶圆类型提供如下两种硅片翘曲度测量仪: 1. 非反射型:适合晶圆表面覆盖晶圆保护膜/胶带(wafer tape),图案化晶圆 /图样化晶圆(patterned wafer),粗糙的晶圆的应用; 2. 高反射型: 适合晶圆表面光滑 / 镜反射的应用。 多功能翘曲度测量仪配件特点: × 适合不同尺寸的晶圆检测,从0.5’‘到12' ' 的直径; * 标准检测能力为: 每小时可检测2000个晶圆或更多太阳能电池; × 同时测量多个晶圆或太阳能电池; × 测量镀膜后的晶圆或solar cell * 分析太阳能电池或晶圆应力和张力; * 对晶圆表面进行图像分析; * 测量图案化晶圆或非图案化的晶圆; * 具有太阳能电池的量子效率测量选项供选择 多功能翘曲度测量仪配件参数: × 翘曲度测量范围:1-20微米; * 重复精度: 百分之0.5 (1 sigma) * 给出结果:曲率半径,晶圆弯曲高度,翘曲度,测量日期和时间; * RMS粗糙度mapping: 0.5-20A (可选项); * 光源:根据用户的应用而配备不同光源; * 探测器:高分辨率探测器阵列并配备亚像素软件;
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