射线光电子能谱分析

用于监控X射线探头的性能。含5个直径3mm的锰圆盘，可像载网一样放于TEM样品座内。圆盘对电子束不透明，但可通过镁峰检查能谱仪的分辨率。

用于监控X射线探头的性能。含5个直径3mm的锰圆盘，可像载网一样放于TEM样品座内。圆盘对电子束不透明，但可通过镁峰检查能谱仪的分辨率。

针对计算机硬件的更新换代，一些旧版本操作系统，已不能满足 客户需要。针对这种情况，我公司可根据现有的X射线能谱仪，进 行系统升级或更新。必要时也可更新探头构成新能谱系统。 改造工作采用新的设计思想，在使用原有探测器并保持原有能 谱分辨率的基础上研制了除探测器和前置放大器以外的所有部 件。同原仪器相比，改造后的系统充利用了当今已高度发展了 的计算机技术和电子技术。系统整体性能有所提高，运算速度 快，操作方式简单。而且因采用通用机系列，使你再无难维修 的烦恼。主要软件功能 1、谱数据的实时采集与显示。实时计数率显示。 2、自动背底扣除，任意多点手动扣背底及背底拟合等多种背底扣 除方法。 3、全自动定性分析。 4、全标样、部分标样和无标样定量分析。 5、厚样品和薄样品分析。 6、由元素周期表接口设置感兴趣区域、氧化物表达式，操作 方便。 7、方便的增益、零点校正。 8、返送到电镜观察屏上的面分布和线扫描功能。 9、同时一次收集多个元素面分布或线扫描图到计算机内并精确叠 加到二次电子图象上(须配电镜联机图象处理系统)。 10、可与电镜联机图象处理系统共用一台计算机构成能谱图象 系统。

53种矿物该载物台包含53种精选的矿物和化合物（可提供分析数据），每种材料的晶粒内部和晶粒间具有高度的同质性，并且在真空、大气环境和电子束中性能稳定。有些人工合成的材料同质性更高。标准样矿物载物台都内置有法拉第筒（FC）。所有53种矿物材料均装在一个直径25mm、厚4mm的无磁不锈钢盘上，其具有理想的最大导电率和高真空兼容性。 1.钠长石NaAlSi3O828.硬玉NaAlSi2O62.贵榴石Fe3Al2Si3O1229.羟钛角闪石Ca2Na(MgFe)4Ti,Si6Al2O22(OH)23.硬石膏CaSO430.白铁矿FeS24.磷灰石Ca5(PO4)3F31.辉钼矿MoS25.重晶石BaSO432.独居石(Ce,La,Y,Th)PO46.蓝锥矿BaTiSi3O933.黑曜石Na,K,Al,Fe silicate glass7.黑云母K(Fe,Mg)3AlSi3O10(OH)234.橄榄石(MgFe)2SiO48.铯榴石CsSi2AlO635.斜长岩(Ca,Na)Al(Al,Si)Si2O89.溴碘化铊TlBr 42%, TlI 58%36.镍黄铁矿(Fe,Ni)9S810.钙蔷薇辉石(Mn,Ca)SiO337.红榴石Mg3Al2Si3O1211.方解石CaCO338.石英SiO212.锡石SnO239.蔷薇辉石MnSiO313.天青石SrSO440.金红石TiO214.赤铜矿Cu2O41.透长石KAlSi3O815.绿泥石Mg6AlSi3O10(OH)842.闪锌矿ZnS16.铬透辉石(Mg,Cr)CaSi2O643.锂辉石LiAlSi2O617.氧化铬FeCr2O444.辉锑矿Sb2S318.辰砂HgS45.紫钠闪石Na4AlBeSi4O12Cl19.方钴矿CoAs346.硅锌矿(ZnMn)2SiO420.赤铅矿PbCrO447.方晶锆石ZrO221.透辉石MgCaSi2O648.砷化镓GaAs22.白云石MgCa(CO3)249.氮化硼BN23.萤石CaF250.硒化铋Bi2Se324.方铅矿PbS51.钇铝石榴石Y3Al5O1225.赤铁矿Fe2O352.硅化镍Ni2Si26.磁铁矿Fe3O453.碲化锑Sb2Te327.方镁石MgO44种金属1.铍Be12.铁Fe23.钌Ru34.钨W2.氮化硼BN13.钴Co24.铑Rh35.铼Re3.碳C14.镍Ni25.钯Pd36.锇Os4.镁Mg15.铜Cu26.银Ag37.铱Ir5.铝Al16.锌Zn27.镉Cd38.铂Pt6.硅Si17.锗Ge28.铟In39.金Au7.钪Sc18.砷化镓GaAs29.锡Sn40.溴碘化铊Tl(Br,I)8.钛Ti19.硒Se30.锑Sb41.铅Pb9.钒V20.锆Zr31.碲Te42.铋Bi10.铬Cr21.铌Nb32.铪Hf43.钍Th11.锰Mn22.钼Mo33.钽Ta44.铀U该载物台包含41种金属元素标准样和3种硬度超过金属的化合物，共计44种不同元素材料，适用于WDS、EDS和微探针仪器等。最初标准样是44种纯金属，后来由于硼、镓、铊在稳定性和制备方面的问题，我们开发了这几种金属的化合物。我们没有将这几种材料从载物台上去掉，而是保留了"44种金属"的特征。多年来，一直受到广大显微分析人士的赞赏和认可。 所有元素纯度不低于99％，多数甚至超过“99.99％”。我们可以为您提供具体的纯度列表。那些可用于现代“无窗”EDS系统和未被列入微量分析标准样的轻质元素，也包含在此产品中并内置法拉第筒。所有44种元素均装在一个直径25mm、厚4mm的不锈钢载物台上。该产品还可分割为3个直径12.5mm的不锈钢载物台，每个也内置有法拉第筒，适于连接到SEM载台。能谱检测标样X射线能谱仪标样的主要功能：1.便于用户可以更好地对比和检验各个能譜厂家产品的优劣，有利于用户的订货和仪器的验收。2.有利于用户对正在使用中的能谱仪进行统一的仪器自检，及时了解仪器的状态，有利于分析测试参数的及时调整。因此，每个实验室自备一套能谱仪性能检验的标样十分必要。为满足这一需求，我们特研制了这一组合。15种稀土金属及氟化物晶体1.钇金属Y6.钐金属Sm11.钬金属Ho2.氟化镧LaF37.氟化铕EuF312.铒金属Er3.氟化铈CeF38.钆金属Gd13.铥金属Tm4.氟化镨PrF39.铽金属Tb14.镱金属Yb5.氟化钕NdF310.镝金属Dy15.氟化镥LuF3SPI Supplies的十五种稀土元素标准样装载于一个直径1" (25mm)、高6mm的圆盘中，此载物台是UHV兼容的，并且可以适用于任何UHV系统。载物台经过碳镀覆，保证了金属或氟化物晶粒与导电地面之间的导电性。就象其它SPI标准样载物台一样，其也具有一个用于精确测量射束电流的法拉第杯(FC)。 该产品有直径0.5"(12.5mm)的型号。15种稀土“五磷酸盐”晶体我们现为X射线能谱仪（EDS）及波谱仪（WDS）微量分析系统提供一种独特的新型载物台，它是SPI现有优质微量分析标准样中又一个“专利”产品。该载物台含有15种稀土“五磷酸盐”，化学式均为ReP5O14，其使此15种不同的稀土元素都适用于EDS、WDS及备用的微探针仪器中。正如其他微量分析标准样一样，该标准材料也被装载于不锈钢载物台上与超高真空环境相兼容，且其表面镀有轻度碳层可以导电。我们也提供未经镀碳的载物台，但此时单独的标准样本就要装载于填充有导电树脂的铜块儿中。 特征：与其他替代产品一样, 这些稀土标准样也具有同样的化学式ReP5O14，其中稀土元素处于标准样常用浓度范围。如同其他精致标准样一样，在干燥环境中其抛光表面非常稳定，可以防止退化。组成该标准样的15种晶体化合物均获得中国微量分析协会（CMAS）的认证，作为一种有证参考物质（CRM）也达到了CMAS参考物质的标准。每一稀土(ReP5O14) 的实际尺寸都在0.5mm级，个别制造难度较大的稀土其尺寸可能只有0.2mm。尽管如此，他们均匀性相当好，而且CRM级别的经特殊合成用于微量分析应用。该标准样采用其他SPI微量分析标准样常用的格式：为便于识别和方便用于显微镜和微探针，每个有证参考物质（CRM）都内置法拉第筒并在背面用电子束刻有标识。该标识可是“普通”模式，也可是“镜像”标签模式。我们认为这种形式的标准样比纯金属、氧化物粉末、一些稀土元素（REE）或某些稀土（REE）卤化物在性能上要好很多。而个别纯稀土（REE）金属甚至根本不能使用，因为正常实验室中的水分就会使其迅速氧化，即使储藏于干燥器中也无法避免。稀土（REE）氧化物通常以微粒粉末形式存在，即使很短时间内其熔融物也不稳定。一些含量较低的稀土元素（REE）不能满足现实中样本分析的要求。这就是ReP5O14系列中15种样本受到多数EPMA实验室青睐的原因，也是我们相信该系列是客户最佳选择的理由。曾经使用过这种最新SPI微量分析标准样的客户告诉我们，此种标准样使分析师的分析过程更快捷、全面。因此，尽管这一新型稀土标准载物台在价格上高于最初稀土标准样，但综合考虑ReP5O14标准晶体化合物提供的卓越品质，我们相信它绝对物有所值。所购买的产品均附送一份详尽的手册，列明各种成分。每个标准样都附带一张照片及该物质的X射线光谱。查看每个标准样文件时，请注意一下我们更新的Spiffy Manuals?，即由我们制作的15稀土“五磷酸盐”标准样。我们保存了每个标准样的Acrobat PDF文档，以便您随时需要随时拷贝。 15种标准ReP5O14晶体化合物及其化学式组成如下：稀土化合物组成元素ReP5O14Re2O3P2O5RePO1.镧LaP5O1431.3168.5226.7029.9043.232.铈CeP5O1431.6268.2927.0029.8043.113.鐠PrP5O1431.7368.2827.1029.8043.114.钕NdP5O1432.1967.8327.6029.6042.825.钐SmP5O1432.9367.1428.4029.3042.376.铕EuP5O1433.2366.9128.7029.2042.247.钆GdP5O1433.7066.9129.3029.2042.188.铽TbP5O1433.9666.0029.5028.8041.669.镝DyP5O1434.4365.5430.0028.6041.3710.钬HoP5O1434.5965.3130.2028.5041.2011.铒ErP5O1434.7665.0830.4028.4041.0412.铥TmP5O1434.7264.8530.4028.3040.8713.镱YbP5O1435.0764.3930.8028.1040.5614.镥LuP5O1436.0564.1631.7028.0040.5115.钇YP5O1424.1375.8519.0033.1047.88贮藏条件 W我们建议将所有暂时不用的SPI Supplies人造微量分析标准样保存在干燥器中。随着时间的推移，有些元素会被侵蚀或氧化，虽然被侵蚀或氧化的过程会渐渐变缓。59种金属/矿物组合1.铍Be16.锌Zn31.碲Te45.橄榄石(MgFe)2SiO42.氮化硼B17.锗Ge32.氟化钡BaF246.透辉石MgCaSi2O63.碳C18.砷化镓GaAs33.铪Hf47.羟钛角闪石Ca2Na(MgFe)4Ti9Si6Al2O22(OH)24.镁Mg19.硒Se34.钽Ta48.黑云母K(Mg,Fe)3AlSi3O10(OH)25.铝Al20.锆Zr35.钨W49.硬玉NaAlSi2O66.硅Si21.铌Nb36.铼Re50.透长石KAlSi3O87.钪Sc22.钼Mo37.锇Os51.黑曜石Na, K, Al, Fe silicate glass8.钛Ti23.钌Ru38.铱Ir52.锂辉石LiAlSi2O69.钒V24.铑Rh39.铂Pt53.紫钠闪石Na4AlBeSi4O12Cl10.铬Cr25.钯Pd40.金Au54.天青石SrSO411.锰Mn26.银Ag41.方铅矿PbS55.铯榴石CsAlSi2O612.铁Fe27.镉Cd42.铋Bi56.独居石(Ce,La,Th)PO413.钴Co28.磷化铟InP43.钍Th57.辰砂HgS14.镍Ni29.锡Sn44.铀U58.方解石CaCO315.铜Cu30.锑Sb59.磷灰石Ca5(PO4)3F内含59种惰性或高稳定性金属、矿物或化合物，既有合成物，也有纯品。每个载物台都附有一张简明图表，指明各标准样和套件的具体位置。通过电子束蚀刻的独有标签既方便用户识别，又方便样本批量生产。载物台高4mm，直径25mm，台体为不锈钢框架结构，内置标准法拉第筒。有时用户要求我们提供不含法拉第筒的载物台，为了降低一下产品的价格。其实，由于该产品已实现批量生产，其成本较低。如果我们单独制做一个特殊的、不含法拉第筒的载物台，其成本反而会更高。当然，我们愿意满足每一位用户的需求，但如果订量少于10个的话，不含法拉第筒的载物台绝对不会比含法拉第筒的价格低。 注意：目前也有带12.52mm中心孔的25mm圆盘载物台，以满足扫描电镜载台的需要。

土壤样品杯膜、XRF測試用的麥拉膜材質、X射线荧光光谱分析、美国Premier样品膜TF-160#（SKY-160） 品名：XRF样品膜Sample Film 型号： CAT. NO TF-160# 品牌：美国Premier Lab (原装进口） 货期：现货 起订量：1盒以上。一、美国Premier XRF样品膜：美国Premier Lab Supply公司专注于X射线光谱分析XRF的样品制备领域，以高质量和全面的X射线的样品制备产品线享誉。美国Premier X-ray样品膜(X-ray Film）以其极低的（几乎不含）杂质和厚度均匀而严格生产，极好的柔韧性和抗化学腐蚀性，保证检测结果的可靠性和重现性，被广泛应用于XRF样品制备、检测过程，适用于各类X-ray光谱仪（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。X-ray Film能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测，适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。二、Premier 样品膜特点： 有卷状和片状，多种规格、尺寸、数量可供选择； 柔韧性强、方便、耐用； 的X-ray射线穿透性，适合各类XRF光谱仪； 的抗化学腐蚀性能，不溶于有机溶剂，不污染待测样品； （几乎不含）痕量杂质，特别适合于轻质元素的限量检测。三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF：日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。四、XRF样品膜目录：美国Premier X-ray样品膜种类：（1）、Hostaphan膜；（2）、Kapton膜：聚酰亚胺膜，卡普顿膜；（3）、Mylar膜：聚酯薄膜，迈拉膜，麦拉膜；（4）、Polypropylene膜：聚丙烯膜。目录编号：CAT. NO 薄膜材料 厚度 长度 数量 描述TF-160 Mylar迈拉膜 6.0μ(0.24mil) 76mm x 91.4m 1卷/盒 Mylar® Rolls连续卷轴

泰州石墨烯研究检测平台是泰州市政府与泰州巨纳新能源有限公司共同成立的国内 石墨烯性能测试与结构表征的综合性研究及检测机构。平台目前建有近千平方米的检测洁净室，拥有高分辨拉曼光谱仪、原子力显微镜、三维共聚焦显微镜、电子束曝光系统、近场光学显微镜等国际先进的新材料性能检测及结构表征设备。平台致力于在石墨烯等高新碳材料以及新型低维材料（如各类二维材料、量子点）等领域提供全面专业的检测及表征服务。泰州石墨烯研究检测平台相关检测服务：微区形貌表征：表面洁净度、平整性、层数或厚度判定、均匀性分析等原子结构表征：原子缺陷、层间堆垛方式、电子能带结构等光学性能表征：紫外到红外波段透射、反射、吸收性能等成分检测及分析：元素含量与比率、官能团分析等电学、力学、热学、电化学性能表征等各种定制研究检测服务（如二维材料的光电响应测试）等检测项目检测内容描述二维材料光电响应测试二维材料的光电响应测试定制化分析实验方案协助制定、数据分析整体解决方案原子力显微镜（AFM）检测石墨烯层数/厚度，尺寸，AFM图像光学显微分析石墨烯层数/厚度，尺寸，对比度分析，光学显微图片荧光显微分析发光样品显微图片3D显微分析石墨烯均匀性，表面起伏度，表面残余物检测拉曼（Raman）光谱分析（单谱）石墨烯洁净度，层数，掺杂浓度，缺陷含量等拉曼（Raman）光谱分析（单谱+成像）石墨烯洁净度，层数，掺杂浓度，缺陷含量等扫描电子显微镜（SEM）检测样品微观形貌（分辨率）超高分辨场发射扫描电镜检测获取显微形貌、元素组成及分布信息生物型透射电镜获取显微形貌，适合对分辨率不高但是衬度要求高的高分子、生物型样品透射电子显微镜（TEM）检测获取显微形貌截面离子束抛光用离子束抛光，去除表面应力层，适合复杂样品的EBSD的采集，以及截面样品的SEM观察离子束平面研磨高分辨透射电子显微镜（TEM）检测样品高分辨形貌（分辨率）,衍射图（结晶度，晶格取向等）低真空场超高分辨场发射扫描电镜检测获取显微形貌、元素组成及分布信息变温光学显微镜获取样品的显微形貌，具有明场、暗场、偏光、微分干涉等模式电子背散射衍射—STEM检测获取微观取向信息，可用于晶粒度、晶界、织构、应力等分析X射线光电子能谱（XPS）表面元素含量及化学价态(氧含量分析，成键态),结晶性能等紫外可见吸收光谱分析200-3300nm薄膜、溶液的透射率，吸收率等红外光谱分析（FTIR）红外波段透射（350-7800cm-1），有机物官能团分析等X射线荧光光谱分析元素的定量和半定量分析直读光谱分析获取样品的成分灰分测试获取样品的灰分能谱仪分析获取样品的元素成分和分布，微区域元素的定性和半定量分析等离子体发射光谱元素分析分析样品中无机元素的准确成分及定量辉光放电质谱分析H以外的所有元素，包括常用分析方法难以测定的C，N，O，P，S等轻元素超低检测限，大多数元素的检测限为0.1～0.001ug/G碳硫元素分析C和S的比例元素分析C H O N S的比例元素分析同位素质谱元素分析：C、N、S百分含量同位素质谱：13C、15N含量离子色谱-阴离子阴离子含量分析电感耦合等离子体质谱痕迹量元素测定电子探针元素定性分析、定量分析X射线衍射分析结晶度、晶粒大小、层间距等显微红外分析微区样品红外光谱采集液相色谱分析样品有机物质的含量圆二色光谱分析液相色谱质谱联用分析样品有机物质的含量及具体成分气相色谱易挥发的有机物质的含量气相色谱-质谱联用易挥发的有机物质的具体成分核磁共振分析氢谱、碳谱石墨烯薄膜热传导性能测试石墨烯热导率热重分析测试材料的质量随温度的变化，可用于分析构成的比例热差分析测定样品在程序控制温度下产生的热效应，可分析融点、成分构成、热性能、相转变、结晶动力学等信息同步热分析测量样品的热流、转变温度和重量变化三种信息力学性能测试（氧化石墨烯纸/薄膜等）拉伸应力、拉伸强度、扯断强度、剪切剥离力、杨氏模量等电阻测试（薄膜样品）薄膜面电阻等比表面积测试(BET)测试样品比表面积椭圆偏振分析平板材料或者薄膜的折射率、反射率、膜厚、吸收系数测定电学性能测试（Transport）迁移率，掺杂浓度等纳米粒度分析纳米粒径的分布微米粒度分析微米粒度的分布PH值测试测量PH值

XRF样品测试杯规格、射线荧光样品器、土壤样品杯、美国Premier样品杯SC-3345 一、美国Premier XRF样品杯： 美国Premier Lab Supply公司专注于X射线光谱分析XRF的样品制备领域，以高质量和全面的X射线的样品制备产品线享誉。 Premier XRF样品杯能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测，适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。被广泛应用于XRF样品制备、检测过程，适用于各类X-ray光谱仪（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。 为了对样品杯与XRF仪器提供的样品夹持设备（金属样本杯、旋转盘、滑动平台、固定台等）进行匹配，购买样品杯前请告知您使用过的样品杯型号(CAT. NO)，或X荧光光谱仪品牌和型号，或请直接测量仪器样品夹持设备的内径、高度和孔径。　　品名：XRF样品杯Sample Cups 型号： CAT. NO SC-3345 品牌：美国Premier Lab （原装进口） 货期：现货 起订量：1包以上（100个/包）。二、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF：日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 CAT. NO 高 内径 外径 容积 数量SC-3345 40mm 37mm 45mm 40mL 100个/包

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产品及型号：编号直径× 高（mm）数 量价格1-9467-01&phi 90× 15.01箱（10个/包× 50包）¥ 740.001-9467-03&phi 86× 13.51箱（10个/包× 60包）¥ 880.00规格：1. 材质：PS（聚苯乙烯）2. 已进行电子射线灭菌处理

X射线样品台配件是X射线衍射仪高温附件适合多种应用，温度范围高达-196度（液氮）到1500摄氏度，是X射线高温样品台。X射线样品台配件特点结构紧凑，温度可变，温度可选范围高达零下196摄氏度到1500摄氏度，适合所有类型的显微镜，材料科学，光谱测量和电子研究。尺寸仅为13x13x2cm，可用于真空环境或空气以及其他气体环境。温度控制精度高达0.1摄氏度，可编程控制所有类型的时间和温 度。我们还能给X射线衍射仪高温附件提供窗口（包括光学窗口和X射线窗口），用于真空环境，从而使得样品台用于任何显微镜，傅立叶变换红外光谱仪FTIR,烂漫和X射线衍射仪装置。X射线样品台配件应用X射线衍射，拉曼光谱，材料科学，张力测量，热分析，SEM,TEM， FTIR，SAXS。X射线高温样品台配件温度范围范围1： 室温-60摄氏度范围2： -5到99摄氏度范围3：-25到120摄氏度范围4：-40到120摄氏度范围5：-196到420摄氏度范围6：-196到600摄氏度类型7：室温到1000摄氏度类型8：室温到1200摄氏度类型9：室温到1200摄氏度类型10：室温到1400摄氏度类型11：室温到1500摄氏度X射线样品台配件参数尺寸：13x13x2cm电源：115-220V, AC重量： 约800g温度分辨率：0.1摄氏度材料：铝质Felles公司专卖X射线样品台,X射线衍射仪高温附件,X射线高温样品台。

这款电镜X射线发生器是专门为电子显微镜设计的X射线发生器，广泛用于电子显微镜的X射线荧光光谱分析，是理想X射线荧光光谱X射线发生器。电镜X射线发生器紧凑的设计和滑动安装允许与样品非常接近。 专利的多毛细管光学聚焦x射线激发下降到10μ的样品斑点尺寸。 Xb提供10μm和40μm的斑点尺寸。 集成的高压电源最大功率为50瓦（35-50千伏，取决于阳极材料为1.0毫安）。 紧密耦合提供与传统“桌面”或“独立”单元相当的XRF分析结果。 Xb被设计成不干扰电子显微镜的正常操作，包括在同一样品上使用电子束，同时收集所有元素。不需要特殊的冷却电子束（来自扫描电子显微镜）产生非常高的背景隐藏样品中的微量元素。 来自真正的“X射线”源的X射线没有这种效果。 使用Xb低ppm级别的元素可以轻松识别，量化，甚至产生痕量X射线图，以查看样品中微量元素的元素分布。电镜X射线发生器应用：艺术与考古 石油EDXRF化学 药物应用涂料和薄膜 塑料，聚合物和橡胶化妆品 电镀和电镀浴环境 木材处理应用食品应用 其他应用取证金属和矿石矿产和矿产品电镜X射线发生器规格?X 规格阳极类型侧窗目标材料Ag，Cu，Mo，Rh＆W加速电压0-50kV光束电流最大1mA阳极点尺寸10，20，40μm准直器尺寸专利聚毛发聚焦光学源过滤器可应要求提供冷却要求风机冷却功率 100瓦控制/安全可变控制kV /μA，X射线开/关按钮，kV /μA显示，内部互锁快门。 联锁到SEM，键控上电开关，HV-On灯，警示灯

XRF样品杯、X荧光光谱仪样品杯、射线荧光样品器、美国Chemplex样品杯1850# 品名：XRF样品杯Sample Cups 型号：CAT. NO：1850 品牌：美国Chemplex（原装进口） 货期：现货 起订量：1包以上（100个/包）。一、美国Chemplex XRF样品杯： 美国Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司，是X射线光谱仪（XRF）配件耗材领域的知名厂商。 Chemplex XRF样品杯用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体，粉末，液体，适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex的许多XRF样本杯被列为新颖独特的设计和应用，并被美国商标局授予知识产权地位。二、Chemplex 样品杯特点： Chemplex样本杯由专为该应用配制的专用高密度聚乙烯注模制成。该材料的特点有：1、符合RoHS指令；2、不含有可能影响X射线数据的“白化”因子；3、光滑，能够促进薄膜样本支撑窗口的光滑和稳固附着；4、耐热和抗辐射的物理性能特点；5、能抵抗与无法确定的样本材料物质接触时产生的化学污染；6、低微量元素杂质。　　三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF：日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 CAT.NO： 外部直径 外部直径 高度 孔径 容量 个/包 1850 ： 1.69”(42.9mm) 1.87”(47.5mm) 0.77”(19.6mm) 1.41”(35.8mm) 13mL 100

XRF样品测试杯规格、射线荧光样品器、X荧光光谱仪样品杯、美国Chemplex样品杯1430# 品名：XRF样品杯Sample Cups 型号： CAT. NO1430# 品牌：美国Chemplex（原装进口） 货期：现货 起订量：1包以上（100个/包）。一、美国Chemplex XRF样品杯： 美国Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司，是X射线光谱仪（XRF）配件耗材领域的知名厂商。 Chemplex XRF样品杯用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体，粉末，液体，适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex的许多XRF样本杯被列为新颖独特的设计和应用，并被美国商标局授予知识产权地位。二、Chemplex 样品杯特点： Chemplex样本杯由专为该应用配制的专用高密度聚乙烯注模制成。该材料的特点有：1、符合RoHS指令；2、不含有可能影响X射线数据的“白化”因子；3、光滑，能够促进薄膜样本支撑窗口的光滑和稳固附着；4、耐热和抗辐射的物理性能特点；5、能抵抗与无法确定的样本材料物质接触时产生的化学污染；6、低微量元素杂质。　　三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF：日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 1400系列：带有排气和小样品管的单开口32和40mm样品杯； CAT.NO： 外部直径 外部直径 高度 孔径 容量 个/包 1430 ： 1.22”(31.0m) / 0.88”(22.4mm) 0.97”(24.6mm) 9mL 100

X射线荧光光谱分析专用标准物质制造商：美国ARMI公司主要分析方法：X射线荧光法用途：校准仪器和装置、评价方法、工作标准、质量保证/质量控制、其他。美国ARMI公司提供的这套重金属检测标准物质，是封装在PE或PVC材料中，用于校准仪器和装置、评价方法、工作标准、质量保证/质量控制等工作。直径31mm, 厚度13mm.PE MaterialsBrHgCrPbCdPE-H-04A-ppm1100110010011200300PE-L-04A- ppm502201400400100PE-02A- ppm00000PACK-High - ppm-100-100-100-100PACK-Low - ppm-30-30-30-60SAC305 & SAC405 Check SetSnPbCuBiAgHgPSAC305- % wt11001100100112003000.00160.004SAC405- % wt5022014004001000.00020.006PVC MaterialsBrHgCrPbCdPVC-H-03A- ppm1101110110011201300PVC-L-04A- ppm500200400400100PVC-01A- ppm00000XRF Glasses*BrHgCrPbCdBR-ROHS 1/3- ppm00000BR-ROHS 2/3- ppm1000010001000100BR ROHS 3/3- ppm50000500050001000*Matrix: SiO2=53%, Na2O=17%, CaO=10%, Al2O3=7%, MgO=6%, B2O3=4%, Sb2O3=1%

纯铍加工品/铍封装一、成分 Be98%、及以上二、He泄露率 5×10-9以下[Pa・m3/s]三、标准尺寸 圆形φ10mm～φ90mm公差±0.2mm正方形宽度：0～120mm，长度～120mm公差±0.2mm，（75mm以上尺寸±0.5mm）各种形状及尺寸定制板厚板厚公差t0.03～0.10mm±0.01mmt0.10～0.30mm±0.05mmt0.30～2.0mm±0.1mm四、铍（Be) 材料在X射线中的优势 ※ 优异的X线穿透性，硬X射线：波长较短为0.05-0.1Å ，软X-射线：波长较长为0.1-10Å 。波长在0.001-2.5Å范围的为X射线，波长较短，难以穿透高密度物质，低密度的铍（Be）可以实现极强的穿透能力。吸收系数约低，意味着穿透能力越强。故：在波长为0.1-数Å的X-射线中 Be元素的穿透力大大强于Al元素※ X线照射所产生的二次放射线较少。※ 软X射线产生高密度离子，高效快速消除静电。五、铍元素的特征※ 重量轻，刚性大是铝密度的2/3，弹性系数是其3~4倍。※ 耐热性优异，在轻量金属中，融点最高。※ 声音传播速度快，音色通透明亮，“纯铍振膜”多被顶级音响及耳机采用。※ X射线的穿透率高，系数说明。铍元素 Be铝元素 Al鉄 Fe原子号41326原子量9.01326.9855.85结晶构造六方最密充填面心立方α,δ:体心立方γ:面心立方密度 [g/cm3]1.842.697.86弾性係数 [kN/mm2]27575205融点 [℃]1,2856601,530比热 [J/(kg・K)]1,779921461热传导率 [W/(m・K)]18022275线性膨胀系数 [/K]11.6×10-623.6×10-611.7×10-6声音的传播速度 [m/s]12,6006,4205,950抗拉强度[N/mm2]275-635100-490600-650屈服强度 [N/mm2]205-410100-410205-235延伸率 [%]1-203050-60六、应用领域※ 医疗行业※ 光电离 ※ X线分析设备 ※ X线安检设备 ※ 电子显微镜※ 同步辐射实验室※ 伽马射线探测

SLFA-2100/2800荧光X射线硫分析仪日本堀场SLFA-2100/2800荧光X射线硫分析仪备件样品杯样品膜油中硫分析仪SLFA imageHORIBA的SLFA系列油中硫分析仪多年来一直是石油工业中的多数选择。我们不断的改进仪器性能，拓展仪器的适用性，来满足用户的要求。我们的X射线荧光硫分析仪符合美国ASTM D4294和ISO 8754 ，同时提供最符合成本效益的石油中的硫测量。SLFA - UV21系列操作简便，具有无与伦比的精度和准确性，符合ASTM标准D5453紫外荧光技术和ISO 20846 ，具有极佳的灵敏度，提供了更低水平级别的硫元素的测定。荧光X射线油中硫分析仪SLFA-60SLFA-60 X-ray Fluorescence Sulfur-in-Oil AnalyzerHORIBA introduces the new standard of transportable sulfur-in-oil analyzers, the SLFA-60. This instrument introduces new software and hardware features to meet the growing changes in the petroleum industry. The instrument has expanded storage of calibration curves and data can be exported using USB output.SLFA-2100/2800SLFA-2100/2800荧光X射线硫分析仪SLFA-2100/2800荧光X射线硫分析仪是专为满足近期低硫燃料，柴油和RFG中硫元素新的检测要求。

这款X射线转换屏是欧洲进口的优质闪烁体转换屏,X射线荧光屏,具有全球最高的转换效率和最薄的厚度，非常适合X射线探测,电子成像、X射线成像和紫外成像应用.我们可根据用户要求提供全球领先的Al、ITO或C(铝、氧化铟锡、炭）等传导性和反射或者增透镀膜。这种X射线转换屏使用YAG:Ce晶体和LuAG:Ce晶体作为衬底，具有超薄和超高分辨率的优点（最薄可达5微米以下）。这两种闪烁体材料（YAG:Ce晶体 LuAG:Ce晶体）具有具有良好的化学、力学和温度性能，非常适合光电二极管和雪崩二极管读取。这X射线转换屏特意为电子成像、X射线成像和紫外成像应用而设计，并可以提供Al、ITO或C(铝、氧化铟锡、炭）等传导性和反射或者增透镀膜。确定成像显示屏的厚度需要考虑到合适的探测效率和高分辨率两种因素。根据多年的经验可以确定的是对于耦合在精密光学衬底上的超薄成像荧光屏而言，如果使用高灵敏度的CCD探测器照相，就X射线应用而言可以给出大约1微米的分辨率。光学衬底上的X射线转换屏,高分辨率的X射线荧光屏实际上是高效率成像系统的主要元件.我们提供基于YAG：Ce或LuAG:Ce 单晶闪烁探测器的超薄显示屏. 超薄YAG:Ce闪烁屏(左图) 和 超薄LuAG:Ce超薄闪烁屏(右图)使用这种镀在光学衬底上的X射线转换屏,X射线荧光屏,闪烁体转换屏,结合光学系统和CCD相机,可以获得优于1微米(X射线应用)和2纳米(电镜)的分辨率.光纤光学上的成像屏X射线转换屏,X射线荧光屏,闪烁体转换屏）我们可以提供耦合到FOP上的YAG:Ce和LuAG:Ce成像屏，也可与CCD耦合一起。FOP上的薄YAG:Ce闪烁屏(左图）和锥形FO上的YAG:Ce闪烁屏(右图） 我们提供的这种用成像系统获取的X射线图像的分辨率大约是20微米。我们也可以根据用户需求把成像屏耦合到光纤元件和CCD上。超薄独立成像屏： 这种超薄荧光转换屏,X射线转换屏,X射线荧光屏,闪烁体转换屏不需要与衬底耦合或其他支持物，不需要胶合在玻璃或FOP上。直径为10mm厚度为0.030mm。也可以提供更大直径的荧光转换屏,X射线转换屏,X射线荧光屏,闪烁体转换屏，但是厚度需要增加到0.050mm左右。

XRF样品杯、X荧光光谱仪样品杯、射线荧光样品器、美国Chemplex样品杯1850# 品名：XRF样品杯Sample Cups 型号： CAT. NO1850 品牌：美国Chemplex（原装进口） 货期：现货 起订量：1包以上（100个/包）。一、美国Chemplex XRF样品杯： 美国Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司，是X射线光谱仪（XRF）配件耗材领域的知名厂商。 Chemplex XRF样品杯用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体，粉末，液体，适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex的许多XRF样本杯被列为新颖独特的设计和应用，并被美国商标局授予知识产权地位。二、Chemplex 样品杯特点： Chemplex样本杯由专为该应用配制的专用高密度聚乙烯注模制成。该材料的特点有：1、符合RoHS指令；2、不含有可能影响X射线数据的“白化”因子；3、光滑，能够促进薄膜样本支撑窗口的光滑和稳固附着；4、耐热和抗辐射的物理性能特点；5、能抵抗与无法确定的样本材料物质接触时产生的化学污染；6、低微量元素杂质。　　三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF：日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 1800系列：带有排气装置和排气室的单开口32和40mm样品杯； CAT.NO： 外部直径 外部直径 高度 孔径 容量 个/包 1850 ： 1.69”(42.9mm) 1.87”(47.5mm) 0.77”(19.6mm) 1.41”(35.8mm) 13mL 100

这款X射线荧光屏是欧洲进口的优质闪烁体转换屏,X射线荧光屏,具有全球最高的转换效率和最薄的厚度，非常适合X射线探测,电子成像、X射线成像和紫外成像应用.我们可根据用户要求提供全球领先的Al、ITO或C(铝、氧化铟锡、炭）等传导性和反射或者增透镀膜。这种X射线荧光屏使用YAG:Ce晶体和LuAG:Ce晶体作为衬底，具有超薄和超高分辨率的优点（最薄可达5微米以下）。这两种闪烁体材料（YAG:Ce晶体 LuAG:Ce晶体）具有具有良好的化学、力学和温度性能，非常适合光电二极管和雪崩二极管读取。中国领先的进口X射线成像系统旗舰型服务商--孚光精仪！这X射线荧光屏特意为电子成像、X射线成像和紫外成像应用而设计，并可以提供Al、ITO或C(铝、氧化铟锡、炭）等传导性和反射或者增透镀膜。确定成像显示屏的厚度需要考虑到合适的探测效率和高分辨率两种因素。根据多年的经验可以确定的是对于耦合在精密光学衬底上的超薄成像荧光屏而言，如果使用高灵敏度的CCD探测器照相，就X射线应用而言可以给出大约1微米的分辨率。光学衬底上的X射线荧光屏,高分辨率的X射线荧光屏实际上是高效率成像系统的主要元件.我们提供基于YAG：Ce或LuAG:Ce 单晶闪烁探测器的超薄显示屏. 超薄YAG:Ce闪烁屏(左图) 和 超薄LuAG:Ce超薄闪烁屏(右图)使用这种镀在光学衬底上的X射线转换屏,X射线荧光屏,闪烁体转换屏,结合光学系统和CCD相机,可以获得优于1微米(X射线应用)和2纳米(电镜)的分辨率.光纤光学上的成像屏X射线转换屏,X射线荧光屏,闪烁体转换屏）我们可以提供耦合到FOP上的YAG:Ce和LuAG:Ce成像屏，也可与CCD耦合一起。FOP上的薄YAG:Ce闪烁屏(左图）和锥形FO上的YAG:Ce闪烁屏(右图） 我们提供的这种用成像系统获取的X射线图像的分辨率大约是20微米。我们也可以根据用户需求把成像屏耦合到光纤元件和CCD上。超薄独立成像屏： 这种超薄荧光转换屏,X射线转换屏,X射线荧光屏,闪烁体转换屏不需要与衬底耦合或其他支持物，不需要胶合在玻璃或FOP上。直径为10mm厚度为0.030mm。也可以提供更大直径的荧光转换屏,X射线转换屏,X射线荧光屏,闪烁体转换屏，但是厚度需要增加到0.050mm左右。

美国Chemplex样品杯XRF样品杯，又名X荧光光谱仪样品杯、XRF样品杯、X-ray光谱仪样本杯、ROHS专用样品杯、高纯度聚脂测试杯，是应用于X荧光光谱仪XRF上的一次性量杯，广泛应用于牛津、斯派克、岛津、热电、帕纳科、日本理学等各种品牌的XRF光谱仪。产品类型：XRF样品杯Sample Cups品牌：美国Chemplex型 号：所有型号（欢迎来电索取产品目录）产 地：美国一、产品介绍： Chemplex XRF样品杯用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体，粉末，液体，适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。对特别配制的塑料和保持其物理和化学属性一致性的特别关注，使得Chemplex XRF样本杯在XRF物质成分分析应用范围和性能上无与伦比。Chemplex的许多XRF样本杯被列为新颖独特的设计和应用，并被美国专利商标局授予知识产权地位。 Chemplex独有的SpectroCertified? X荧光光谱仪（XRF）样本杯的质量始于一种特别配置的聚乙烯！ Chemplex样本杯由专为该应用配制的专用高密度聚乙烯注模制成。该材料的特点有：1、符合RoHS指令；2、不含有可能影响X射线数据的“白化”因子；3、光滑，能够促进薄膜样本支撑窗口的光滑和稳固附着；4、耐热和抗辐射的物理性能特点；5、能抵抗与无法确定的样本材料物质接触时产生的化学污染；6、低微量元素杂质。 Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司，是X射线光谱仪（XRF）配件耗材领域的全球知名厂商。从产品研发和设计新概念，在内部生产，Chemplex工业公司是形成了样品制备方法的基础的重大贡献。样本杯的设计始于一个开发一种用于承装和处理X射线分析的液体和粉末状样本物质的方法的创意。 谱飞科技作为美国Chemplex公司的中国代理商，提供Chemplex所有系列用于对应欧盟ROHS和WEEE环保检测仪器——X射线荧光光谱仪（XRF）的检测实验消耗产品！主要有：高纯度聚脂样品杯，铝制样品杯，样品薄膜等。我们不仅提供各种尺寸和属性的XRF样本杯、样品薄膜，还能根据您的样品类型和仪器品牌/型号为您选择合适的样品杯、样品薄膜。二、XRF样品杯尺寸、属性和仪器兼容性： 为了对样本杯与仪器提供的样本夹持设备（金属样本杯、旋转盘、滑动平台、固定台等）进行匹配，购买样本杯前请告知您使用的X荧光光谱仪品牌和型号，或请直接测量仪器样本夹持设备的内径、高度和孔径。 我们列出了各种类型的样本杯的属性以更好地服务于应用，有需要的客户请联系本公司。本公司免费为客户提供包括样品杯的式样、尺寸、价格、编号、适用仪器型号等信息的产品目录。适用仪器： 德国斯派克Spectro、英国牛津Oxford、日本堀场Horiba、飞利浦/帕纳科Philips/Panalytical、德国布鲁克Bruker、美国赛默飞世尔科技（热电）Thermo，瑞士ARL及日本理学Rigaku, Siemens, Spectrace,Jordan, Kevex, Metorex,Fisons, Asoma，Venus 200,Valley等生产的X荧光光谱仪(XRF)。 （适用X射线荧光光谱仪品牌型号：所有X射线荧光光谱仪包括：尼通(NITON)：Xlt797z、Xlt794、Xlt898；伊诺斯(Innov-X)：AlPHA6000；牛津(Oxford)：Met-5000；帕纳科(Panalytical)：Minipal4、Minipal2；精工(Seiko)：SEA1000A；斯派克（Spectro）：XEPOS、MIDEX M；热电(Thermo)：ARL Quant’X；日本电子（JEOL）JSX－3400R；Horriba等。）三、Chemplex产品系列： 注册商标有：Chemplex、SpectroCertified、SpectroSulfur?、SpectroMicro?、TrimLessTM、ThermoPlasticTM、TrimLessTM、FunnelShapeTM等XRF样品杯。四、产品系列：1000系列带有紧固套的单和双开口32和40mm薄膜支撑样品杯,和带有紧固盖和排气室的45mm样品杯 1300系列带有旋转咬合盖和咬合圈的双开口32和40mm样品杯 1400系列带有排气和小样品管的单开口32和40mm样品杯 1500系列带有多孔薄膜和咬合附件的双开口32和40mm样品杯 1545系列适用于样品表面水平和样品表面倾斜的XRF系统的样品杯 1700系列带有咬合排气和排气室的单开口32和40mm样品杯 1800系列带有排气装置和排气室的单开口32和40mm样品杯 1080,1085,1850系列带有排气装置和排气室的单和双开口47mm样品杯。1、1000系列：TRIMLESS?套筒样本杯与SPECTROSULFUR?分析仪杯，TRIMLESS?套筒能套住薄膜样本支撑窗并清除过量剪屑。适用仪器：适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix，Panalytical Venus与Rigaku（日本理学株式会社）仪器。产品编号：10601双开端、1065单开端、1070双开端、1075单开端、1080双开端、1083单开端、1085单开端、1095双开端带通风盖与球形柄。2、1300系列：可重复密封的可通风式XRF样本杯，集成外部溢流储液槽，并可选择使用集成的薄膜样本支撑窗修剪器。适用仪器：适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器。产品编号：1330双开端、1330-SE直接固定环拥有集成的薄膜修整器、1340双开端。3、1400系列：单开端可通风XRF样本杯。适用仪器：适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器。产品编号：1430单开口端ThermoPlastic?密封排气、1430-SE、1440单开口端密封排气、1440L*特长单开口端。4、1500系列：双开口端XRF样本杯。适用仪器：适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix等仪器。产品编号：1530 双开口端、1530-SE直接固定环带有集成的薄膜修整器、1540 双开口端。5、1600系列：狭缝通风样本杯盖，适用于1500系列XRF样本杯。样品编号：1630样本杯盖、1640样本杯盖。6、1700系列：集成的咬合式通风XRF样本杯。适用仪器：适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器。产品编号：1730 咬合式通风、1730-SE直接固定环拥有集成的薄膜修整器、1740Snap-Post通风。7、1800系列：单开口端XRF样本杯，集成的外部溢流储液槽，通风装置；与可选用的集成薄膜样本支撑窗修整器。适用仪器：适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器。产品编号：1830 ThermoPlastic?密封通风、1830-SE直接固定环拥有集成的薄膜修整器、1840ThermoPlastic?密封通风。8、1850系列：单开口端SPECTROSULFUR?分析仪样本杯，Thermoplastic Seal?通风，集成外部溢流储液槽和排泄装置，适用于X射线光学系统“SINDIE?”仪器与其它硫分析仪。9、1900系列：双开口端XRF样本杯，顶部样本注入与可选用的集成薄膜样本支撑窗修剪器。适用仪器：适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器；适应于Oxford Lab-X仪器。产品编号：19301双开口端、1930-SE1直接固定拥有集成的薄膜修整器、19401双开口端、1940L2 双开口端。10、1935-OX系列：双开口端XRF样本杯与通风盖，适用于牛津分析仪。用作替换的腔室和盖子，适用于牛津CK-100，耗材元件，零件编号54-CK-100。11、2100系列：双开口端TRIMLESS?套筒XRF样本杯、内部溢流储液槽，通风的直接固定盖，TRIMLESS?套筒薄膜样本支撑窗附着。产品编号：2132、2135、2140、2143、2144、2145、2146、2195。12、3100系列：SPECTROMICRO?样本杯，采用“FUNNELSHAPE?”（漏斗形）样本杯技术。产品编号：3106、3110、3115、3120。

X射线透射显微成像/能谱（同步辐射）用氮化硅薄膜窗口 产品概述： X-射线薄膜窗能够实现软X-射线(如真空紫外线)的最大透射率。主要用于同步辐射X射线透射显微成像时承载样品。 X-射线越软(能量越低)，穿透能力越差，所需氮化硅薄膜窗越薄。特别在&ldquo 离轴&rdquo 状态工作（即薄膜与光束成一定角度）时，也需要较薄的薄膜窗口，便于X射线更好地穿透。 氮化硅薄膜窗口是利用现代MEMS技术制备而成，由于此种氮化硅窗口选用低应力氮化硅（0-250MP）薄膜，因此比计量式和ST氮化硅薄膜更坚固耐用。提供的氮化硅薄膜窗口非常适合应用于透射成像和透射能谱等广泛的科学研究领域，例如，X-射线（上海光源透射成像/能谱线站）、TEM、SEM、IR、UV等。 现在提供X-射线显微成像/能谱（同步辐射）用氮化硅薄膜窗系列产品，规格如下： 外框尺寸 (4种标准规格): &bull 5 mm x 5 mm (窗口尺寸：1.0 mm 或和 1.5 mm 方形) &bull 7.5 mm x 7.5 mm (窗口尺寸：2.0 mm 或 2.5 mm) &bull 10 mm x 10 mm (窗口尺寸：3.0 mm 或 5 mm 方形) 边框厚度： 200µ m、381µ m、525µ m。 Si3N4薄膜厚度：50、100、150和200nm 我们也可以为用户定制产品（30-500nm），但要100片起订。 本产品为一次性产品，不建议用户重复使用，本产品不能进行超声清洗，适合化学清洗、辉光放电和等离子体清洗。 技术指标： 透光度： 对于X射线用窗口，500nm厚的氮化硅薄膜有很好的X光穿透效果，对于软X射线（例如碳边吸收谱），100-200nm厚的氮化硅薄膜窗口是用户首选。 真空适用性： 真空适用性数据如下： 　 薄膜厚度 窗口面积 压力差 &ge 50 nm &le 1.0 x 1.0 mm 1 atm &ge 100 nm &le 1.5 x 1.5 mm 1 atm &ge 200 nm &le 2.5 x 2.5 mm 1 atm 表面平整度： 氮化硅薄膜窗口产品的表面平整性很稳定（粗糙度小于1nm），对于X射线应用没有任何影响。 温度特性： 氮化硅薄膜窗口产品是耐高温产品，能够承受1000度高温，非常适合在其表面利用CVD方法生长各种纳米材料。 化学特性： 氮化硅薄膜窗口是惰性衬底。 应用简介和优点： 1、 同步辐射X射线（紫外或极紫外）透射成像或透射能谱应用中是不可或缺的样品承载体。 2、 耐高温、惰性衬底，适应各种聚合物、纳米材料、半导体材料、光学晶体材料和功能薄膜材料的制备环境，利于制备理想的用于X射线表征用的自组装单层薄膜或薄膜（薄膜直接沉积在窗口上）。 3、 生物和湿细胞样本的理想承载体。特别是在等离子体处理后，窗口具有很好的亲水性。 4、 耐高温、惰性衬底，也可以用于化学反应和退火效应的原位表征。 5、 适合做为胶体、气凝胶、有机材料和纳米颗粒等的表征实验承载体。 同步辐射X射线应用参考文献：PRL

高品质的光阑，专为扫描电镜和透射电镜、电子探针、聚焦离子束和X-射线仪而设计。高精密的钻孔和形状，可以避免电子散射。孔径符合制造商预先设计的严格的公差。材质有铂合金（Pt / Ir ，95:5 ％ ）、钼（Mo），金（Au）。每种孔径厚度的光阑又有A、B、C、D四种不同规格和形状，孔径可用于目前所有品牌的EM系统制造商： FEI /飞利浦，日本电子，日立，蔡司/ LEO ， CAMECA ，拓普康，TESCAN， CamScan等 。用户也可根据自己的实际需要设计加工新的光阑。产品包装实拍图：产品编号产品名称规格产地OZ63400黄金光阑直径：3mm 20um,AU中国

XRF样品测试杯规格、射线荧光样品器、X荧光光谱仪样品杯、美国Chemplex样品杯--3120# 品名：XRF样品杯Sample Cups 型号： CAT. NO:3120 品牌：美国Chemplex（原装进口） 货期：现货 起订量：1包以上（100个/包）。一、美国Chemplex XRF样品杯： 美国Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司，是X射线光谱仪（XRF）配件耗材领域的知名厂商。 Chemplex XRF样品杯用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体，粉末，液体，适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex的许多XRF样本杯被列为新颖独特的设计和应用，并被美国商标局授予知识产权地位。二、Chemplex 样品杯特点： Chemplex样本杯由专为该应用配制的专用高密度聚乙烯注模制成。该材料的特点有：1、符合RoHS指令；2、不含有可能影响X射线数据的“白化”因子；3、光滑，能够促进薄膜样本支撑窗口的光滑和稳固附着；4、耐热和抗辐射的物理性能特点；5、能抵抗与无法确定的样本材料物质接触时产生的化学污染；6、低微量元素杂质。　　三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF：日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 CAT.NO： 外部直径 外部直径 高度 孔径 容量 个/包 3120 ： 1.20”(30.5mm) / 0.91”(23.1mm ) / 5.5mL 100

XRF样品测试杯规格、射线荧光样品器、X荧光光谱仪样品杯、美国Chemplex样品杯--3115# 品名：XRF样品杯Sample Cups 型号： CAT. NO:3115 品牌：美国Chemplex（原装进口） 货期：现货 起订量：1包以上（100个/包）。一、美国Chemplex XRF样品杯： 美国Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司，是X射线光谱仪（XRF）配件耗材领域的知名厂商。 Chemplex XRF样品杯用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体，粉末，液体，适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex的许多XRF样本杯被列为新颖独特的设计和应用，并被美国商标局授予知识产权地位。二、Chemplex 样品杯特点： Chemplex样本杯由专为该应用配制的专用高密度聚乙烯注模制成。该材料的特点有：1、符合RoHS指令；2、不含有可能影响X射线数据的“白化”因子；3、光滑，能够促进薄膜样本支撑窗口的光滑和稳固附着；4、耐热和抗辐射的物理性能特点；5、能抵抗与无法确定的样本材料物质接触时产生的化学污染；6、低微量元素杂质。　　三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF：日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 CAT.NO： 外部直径 外部直径 高度 孔径 容量 个/包 3115 ： 1.20”(30.5mm) / 0.99”(25.1mm) / 1.0mL 100

XRF样品测试杯规格、射线荧光样品器、X荧光光谱仪样品杯、美国Chemplex样品杯--1330# 品名：XRF样品杯Sample Cups 型号： CAT. NO:1330 品牌：美国Chemplex（原装进口） 货期：现货 起订量：1包以上（100个/包）。一、美国Chemplex XRF样品杯： 美国Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司，是X射线光谱仪（XRF）配件耗材领域的知名厂商。 Chemplex XRF样品杯用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体，粉末，液体，适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex的许多XRF样本杯被列为新颖独特的设计和应用，并被美国商标局授予知识产权地位。二、Chemplex 样品杯特点： Chemplex样本杯由专为该应用配制的专用高密度聚乙烯注模制成。该材料的特点有：1、符合RoHS指令；2、不含有可能影响X射线数据的“白化”因子；3、光滑，能够促进薄膜样本支撑窗口的光滑和稳固附着；4、耐热和抗辐射的物理性能特点；5、能抵抗与无法确定的样本材料物质接触时产生的化学污染；6、低微量元素杂质。　　三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF：日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 1400系列：带有排气和小样品管的单开口32和40mm样品杯； CAT.NO： 外部直径 外部直径 高度 孔径 容量 个/包 1330 ： 1.21”(30.7mm) / 0.90”(22.9mm) 0.97”(24.6mm) 7mL 100

X射线荧光分析 Internal Standards for XRF Analysis美国Vhg Labs佰汇兴业（北京）科技有限公司地址：北京市海淀区西八里庄路69号 西楼201室美国VHG Labs标准物质&mdash 佰汇兴业（北京）独家供应 佰汇兴业（北京）科技有限公司是美国VHG Labs中国区独家服务机构，是专业从事检验检测设备和消耗材料的高新技术企业。公司主要提供国际先进的科学试验检测设备和国际知名品牌的标准样品、化学制剂及消耗品。产品服务于各类科研院所，各大学实验室，中石油、中石化以及相关行业的研发中心、实验室等。VHG Labs 是世界最大的生产金属油基和水基标准样品的公司，为分析化学领域提供高质量的产品和服务。VHG Labs 的金属有机标样通过 ICP、AA、RDE、DC、XRF 等仪器来分析测定油和有机溶剂中的金属。另外，还提供符合 ASTM 标准的含硫、氯和金属标样用于石油类产品的检测。VHG Labs符合ASTM、NIST 等国际标准,通过ISO9001:2000和ISO/IEC17025:2005认证,所有产品配有全面分析证明书（Certificate Of Analysis，COA）美国VHG Labs主要产品如下：石油类标准样品 Pertoleum Standards标准废油分析 Standards for Used Oil Analysis废油分析 PTP Program for Used Oil Analysis单元素磨损金属有机标准 Single-Element, Wear Metal Metallo-Organic Standards多元素金属磨损标准 Multi-Element Wear Metal Standards内部标准 Internal Standards金属添加剂标准 Metal Additive Standards基体空白和溶剂 Matrix Blanks and Solvents稳定磨损金属标准 Stabilizer for Wear Metal Standards多元素冷却剂标准 Multi-Element Coolant Standard燃料稀释标准 Fuel Dilution Standards裂纹检测的参考标准 Crackle Test References卡尔费休滴定认证参考标准 Karl Fischer Titration Certified Reference Standards烟尘含量标准 Soot Content Standards氮、硫、氯金属标准 Standards for S, N, Cl and Metals单元素无硫金属有机标准 Single Element Sulfur-Free Metallo-Organic Standards金属有机标准 Metallo-Organic ConcentratesX射线荧光分析 Internal Standards for XRF Analysis喷雾抑爆剂AA分析 Ionization Suppressant for AA Analysis氮标准 Nitrogen Standards硫和金属油标 Sulfur and Metals in Oil Standards聚硫石油标准 Polysulfide Oil StandardsSulfur in Mineral Oil StandardsSulfur in Diesel Fuel StandardsSulfur in Isooctane StandardsSulfur in Kerosene StandardsSulfur in Crude Oil StandardsSulfur in Residual Oil Standards基体油和溶剂 Matrix Oils and Solvents硫和氯的标准 Sulfur and Nitrogen Standards紫外荧光硫标准 Sulfur Standards for UV Fluorescence标准比色法硫标准 Sulfur Standards for Ratiometric Colorimetry硫醇和硫化氢标准 Mercaptan and Hydrogen Sulfide Standards含硫化合物的选择性检测 Sulfur Compounds by Selective Detection氯油标准 Chlorine in Oil Standards标准汽油中的含铅量分析 Standards for Lead in Gasoline Analysis油品物理测试标准 Petroleum Physical Test Standards闪点参考资料 Flash Point Reference Materials粘度参考资料 Viscosity Reference Standards倾点参考资料 Pour Point Reference Materials浊点参考资料 Cloud Point Reference Materials冰点参考资料 Freezing Point Reference Materials蒸馏标准 Distillation StandardsTAN和TBN参考资料 TAN and TBN Reference Materials水/酸基标准样品 Aqueous Standards单元素标准 Single Element StandardsA+单元素标准 A+ Single Element StandardsNIST的高性能ICP-AES标定 NIST High Performance ICP-AES ProtocolSpeciation Standards同位素标准 Isotopic Standards原子吸收标准 Atomic Absorption Standards基体改进制、电离缓冲器和释放剂 Matrix Modifiers, Ionization Buffers and Releasing Agents离子色谱法和湿化学标准 Ion Chromatography and Wet Chemistry Standards阴离子标准 Anion Standards阳离子标准 Cation Standards洗脱液Eluents多离子标准 Multi-Ion Standards湿化学标准水质分析 Wet Chemistry Standards for Water Analysis水质量检验样品 QC Check Samples for Water Supply (WS)水污染质量检验样品 QC Check Samples for Water Pollution (WP)多元素标准的 ICP-AES 和 ICP-MS 分析 Multi-Element Standards for ICP-AES and ICP-MS 多元素标准 Multi-Element StandardsICP-MS调节、优化和内部标准 ICP-MS Tuning, Optimization and Internal Standards普通环境标准 General Use Environmental Standards微量金属元素检验样品 QC Check Samples for Trace Metals国际环境标准 International Environmental Standards饮用水，TCLP和污水标准 Drinking Water, TCLP and Water Pollution StandardsSecond Source Standards Pair-MatchedSpiking SolutionsEPA Method Standards Cross Reference ChartEPA Methods 200.7 & 6010 for ICP-AESEPA Methods 6010 & CLP for ICP-AESEPA Method 200.8 for ICP-MSEPA Method 6020 and CLP for ICP-MS固体标准样品 Solid StandarsX射线荧光光谱法标准，符合RoHS/WEEE XRF Standards for RoHS/WEEESolid Standards (S & N)Binder和成型材料，研磨添加剂 Binder and Briquetting Materials, Grinding AdditivesSoils for QC & Reference分析仪器配件及耗材 Instruments Consumables自动杯和管 Autosampler Cups and TubesICP 和 ICP-MS 耗材 ICP and ICP-MS Consumables蠕动泵管 Tubing for Peristaltic PumpsFlaring Tool for Peri-Pump TubingMixing Tees for Sample IntroductionNebulizers and Sample DeliveryTorches, Spray Chambers & AccessoriesICP-MS法锥 ICP-MS ConesICP-MS法锥维修工具包 ICP-MS Maintenance KitAA 和 GFAA 消耗品 Consumables for AA and GFAAGFAA管及耗材 GFAA Tubes & Parts氢化物和汞冷蒸汽用品 Hydride and Hg Cold Vapor Supplies空心阴极灯 Hollow Cathode LampsX 射线荧光光谱消耗品 Consumables for XRFXRF样品杯 XRF Sample CupsXRF样品杯薄膜 Thin Film for XRF Sample CupsXRF配件 Accessories & Tools for XRF气相分析消耗品 Consumables for Gas Analysis石墨坩埚 Graphite Crucibles

XRF样品测试杯规格、射线荧光样品器、XRF样品杯、X-ray样品杯、美国Premier样品杯-SC-4231 品名：XRF样品杯Sample Cups 型号：CAT. NO4231 品牌：美国Premier Lab （原装进口） 货期：现货 起订量：1包以上（100个/包）。 一、美国Premier XRF样品杯： 美国Premier Lab Supply公司专注于X射线光谱分析XRF的样品制备领域，以高质量和全面的X射线的样品制备产品线享誉。 Premier XRF样品杯能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测，适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。被广泛应用于XRF样品制备、检测过程，适用于各类X-ray光谱仪（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。 为了对样品杯与XRF仪器提供的样品夹持设备（金属样本杯、旋转盘、滑动平台、固定台等）进行匹配，购买样品杯前请告知您使用过的样品杯型号(CAT. NO)，或X荧光光谱仪品牌和型号，或请直接测量仪器样品夹持设备的内径、高度和孔径。　　二、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF：日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 四、XRF样品杯目录：目录编号CAT. NO高内径外径容积数量SC-423124mm25mm32mm12mL100个/包

chemplex样品杯耗材删除美国ChemplexX射线光谱仪配件耗材删除XRF样品膜Chemplex 106耗材删除美国Chemplex XRF薄膜样本支撑窗CAT. No.3014（美国XOS适用）耗材删除美国Chemplex XRF样品杯（适用布鲁克s8）耗材删除详细说明【产品描述】　　1、产品名称：X射线荧光分析专用薄膜(麦拉膜)　　2、品牌：牛津　　3、产品规格：100mx75mm/卷　　4、适用于台式荧光分析仪，试用型号：LabX3000、LabX3500、X-Supreme8000、MDX1000　　5、其他说明：适用于测量液体里元素含量应用【产品描述】　　1、产品名称：手持式荧光分析仪专用XMET样品膜，麦拉膜　　2、品牌：牛津仪器　　3、产品规格：100mx75mm/卷　　4、适用于手持式荧光分析仪，试用型号：XMET5000、XMET5100、XMET7000、XMET7500、XMET7000e　　5、其他说明：Rohs有毒有害物质测试、土壤分析

XRF样品测试杯规格、射线荧光样品器、土壤样品杯、美国Premier样品杯SC-3345 一、美国Premier XRF样品杯： 美国Premier Lab Supply公司专注于X射线光谱分析XRF的样品制备领域，以高质量和全面的X射线的样品制备产品线享誉。 Premier XRF样品杯能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测，适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。被广泛应用于XRF样品制备、检测过程，适用于各类X-ray光谱仪（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。 为了对样品杯与XRF仪器提供的样品夹持设备（金属样本杯、旋转盘、滑动平台、固定台等）进行匹配，购买样品杯前请告知您使用过的样品杯型号(CAT. NO)，或X荧光光谱仪品牌和型号，或请直接测量仪器样品夹持设备的内径、高度和孔径。　　品名：XRF样品杯Sample Cups 型号： CAT. NO SC-3345 品牌：美国Premier Lab （原装进口） 货期：现货 起订量：1包以上（100个/包）。二、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF：日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 CAT. NO 高 内径 外径 容积 数量SC-3345 40mm 37mm 45mm 40mL 100个/包

XRF样品测试杯规格、射线荧光样品器、XRF样品杯、X-ray样品杯、美国Premier样品杯--SC-3332 品名：XRF样品杯Sample Cups 型号：所有型号CAT. NO（欢迎来电索取产品目录） 品牌：美国Premier Lab （原装进口） 货期：现货 起订量：1包以上（100个/包）。 一、美国Premier XRF样品杯： 美国Premier Lab Supply公司专注于X射线光谱分析XRF的样品制备领域，以高质量和全面的X射线的样品制备产品线享誉。 Premier XRF样品杯能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测，适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。被广泛应用于XRF样品制备、检测过程，适用于各类X-ray光谱仪（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。 为了对样品杯与XRF仪器提供的样品夹持设备（金属样本杯、旋转盘、滑动平台、固定台等）进行匹配，购买样品杯前请告知您使用过的样品杯型号(CAT. NO)，或X荧光光谱仪品牌和型号，或请直接测量仪器样品夹持设备的内径、高度和孔径。　　二、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF：日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 四、XRF样品杯目录：目录编号CAT. NO高内径外径容积数量SC-333223mm25mm32mm10mL100个/包