TESCAN发布双束FIB-SEM新品AMBER和AMBER X
p strong 仪器信息网讯 /strong 2019年10月15日,合肥市,在2019全国电子显微学学术年会期间,泰思肯(中国)有限公司(TESCAN)发布了双束FIB-SEM新品。2018年,TESCAN先后发布了S9000G超高分辨型Ga离子FIB-SEM和S9000X超高分辨型Xe Plasma FIB-SEM 1年后,TESCAN再次发布双束FIB-SEM新品——TESCAN AMBER和TESCAN AMBER X,这两款新品都是基于S8000平台的升级版。发布会上,TESCAN为来宾准备了捷克风情的啤酒、红酒以及点心,让来宾在轻松愉快的气氛下品尝美食的同时,了解TESCAN的历史和最新产品。 /p p 本次活动,TESCAN特别邀请到中国科学院院士、浙江大学学术委员会主任张泽出席并致辞,并与泰思肯(中国)有限公司总经理冯骏一起为TESCAN AMBER揭幕。 /p p style=" text-align: center " img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/201910/uepic/cdf6afae-c3b5-44e7-bb1d-5185f75ef2b2.jpg" title=" 揭幕.jpg" alt=" 揭幕.jpg" / /p p style=" text-align: center " 张泽院士和冯骏总经理共同为新品TESCAN AMBER揭幕 /p p TESCAN AMBER作为基于S8000平台的升级版,是一款结合了高分辨分析型FIB和超高分辨扫描电镜的综合分析平台。从现场获取的产品展示页上看到,TESCAN AMBER与S9000系列相比较,配置电子镜筒有很大不同,S9000系列配置的是Triglav& #8482 超高分辨SEM 镜筒,TESCAN AMBER系列则是无漏磁动态加速BrightBeam& #8482 型超高分辨SEM镜筒,对于分析磁性样品、电子束敏感样品以及不导电材料等有较大优势。TESCAN AMBER 配置了2套镜筒内探测器系统,具有多种SE和BSE探测模式。TESCAN AMBER X的FIB使用了Xe等离子源,相较使用Ga离子的FIB-SEM, 在同样工作条件下,Xe离子的作用速度为Ga离子的50~60倍 另一方面,Ga离子可以获得比Xe更小的束斑:Ga 离子分辨率约为2.5nm, Xe等离子约为15nm。Ga离子FIB是要要求高精度刻蚀的首选方案,而Xe 等离子FIB对于需要高效率、大体积加工的样品,则具有更大的吸引力! /p p 产品经理Ondrej Nezhyba在《Background, Current Business and Product Overview》报告中把TESCAN AMBER系列具有的特点归纳为以下几个方面: /p p span style=" font-family: 楷体, 楷体_GB2312, SimKai " 超高分辨聚焦离子束扫描电镜 /span /p p span style=" font-family: 楷体, 楷体_GB2312, SimKai " BrightBeam& #8482 扫描电子镜筒提供无磁场的超高分辨成像 /span /p p span style=" font-family: 楷体, 楷体_GB2312, SimKai " 高效率、截面宽度达到1mm大面积FIB样品加工 /span /p p span style=" font-family: 楷体, 楷体_GB2312, SimKai " 可灵活选择镜筒内SE和BSE探测器 /span /p p span style=" font-family: 楷体, 楷体_GB2312, SimKai " 自动优化电子束,实现高通量、多模态FIB-SEM断层扫描 /span /p p span style=" font-family: 楷体, 楷体_GB2312, SimKai " 超大视野、便捷的导航 /span /p p style=" text-align: center " img style=" max-width: 100% max-height: 100% width: 600px height: 364px " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/201910/uepic/73a56733-7bdc-4c0b-ba4c-f52cb2847c30.jpg" title=" TESCAN AMBER.jpg" alt=" TESCAN AMBER.jpg" width=" 600" vspace=" 0" height=" 364" border=" 0" / /p p style=" text-align: center " 双束FIB-SEM新品TESCAN AMBER /p p style=" text-align: center " img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/201910/uepic/e47faf46-c68f-4c83-a623-6570550800c5.jpg" title=" 现场.jpg" alt=" 现场.jpg" / /p p style=" text-align: center " 新品发布会现场 /p p 自称从2014年开始被公司内部“封杀”——不许公开发言的冯骏,在今天的新品发布会上出人意料地并未有多少笔墨言及新产品TESCAN AMBER,却从2014年那一场风波开始讲起,分享这5年来带领泰思肯(中国)有限公司深入思考用户的需求并制定、践行“聚焦TESCAN客户,创新服务内容,提升服务品质”发展战略的历程。在实践中,TESCAN采取了调整维修工程师的管理制度、加强用户应用支持、增加零备件库存、电话回访售后现场服务、建立用户群等措施,在用户和厂家之间建立良好互动。冯骏表示,TESCAN中国的特色服务已经广受TESCAN中国用户的赞誉。5年,冯骏终于被“解封”了!仪器信息网也见证了兰州大学等TESCAN用户“解封”的点点滴滴! /p p style=" text-align: center " img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/201910/uepic/b64d8ddd-6b80-442f-a86c-8cc4c8d9dc6c.jpg" title=" 现场1.jpg" alt=" 现场1.jpg" / /p p 本次新品发布会简短而隆重,并未对仪器的各项参数指标、具体应用案例展开详细介绍。仪器信息网编辑从现场了解到,16-18日,TESCAN将连续3天开展现场Demo演示和技术交流会(合肥丰国际大酒店1楼百合厅),内容包括:原位高温拉伸成像演示、TESCAN新一代通用型 FIB -SEM 演示。TESCAN AMBER产品的详细内容和产品亮点,在3天的现场演示和交流中,等待着用户去亲身体会! /p p strong span style=" color: rgb(0, 112, 192) " 了解更多会议同期报道,点击下图进入会议报道专题! /span /strong br/ /p p a href=" https://www.instrument.com.cn/zt/CEMS2019" target=" _blank" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/201910/uepic/e99648a8-d873-45af-8e0e-47d22ef36aa0.jpg" title=" 专题logo.png" alt=" 专题logo.png" / /a /p