颗粒荧光电位分析仪

5020i 型硫酸盐颗粒分析仪应用脉冲紫外荧光技术的连续实时分析仪 特点： l 增强的光学性能保证了卓越的技术指标 l 响应速度快 l 直接自动地测量背景零气 l 符合行业标准的采样头和切割器 l i系列的基础平台使仪器能方便可靠地被使用技术参数： 预置量程0-5,10,25,50,100 μg/m3零点噪音0.20 μg/m3（15分钟周期）最低检测限0.5 μg/m3（15分钟周期）跨度漂移（24h）±1%响应时间90秒采样流量0.4-0.5 L/分钟工作温度20-30℃溶蚀器寿命30天（可更换）转换器寿命大于6个月（可更换）尺寸分析仪/转换器：426 mm(W)X219 mm(H)X584 mm(D)重量分析仪：约20 kg（检测器模块）；转换器：约17 kg（样品调整模块）

仪器简介： 作为领先将背向光散射技术（Back-Scattering）引入高浓度粒度分析的厂家，布鲁克海文公司应用全新的光纤技术将背向光散射技术与传统动态光散射技术进行了完美结合，突破性地推出了结合13°、90°与173°三个散射角度的Omni多角度粒度及高灵敏Zeta电位分析仪，实现在同一台粒度分析仪中，即可以同时兼顾大、小颗粒的散射光信号，又可以有效地提高了测量浓度上限，可达40%w/v。此外，Omni采用全新的硬件PALS技术测量Zeta电位，与传统基于频移技术的光散射方法相比，灵敏度可提高1000倍，可适用于诸如低介电常数、 高粘度、 高盐度以及等电点附近这些测量条件下的样品测量。 技术参数： 1.粒度范围：0.3nm～15μm（与折射率，浓度，散射角有关）； 2.浓度范围：0.1ppm至40%w/v； 3.典型精度：1％； 4.样品类型：任何胶体范围大小的颗粒(悬浮于清液中)；5.样品体积：0.01～3ml，50μL微量样品池，10μL微量样品池（最新）； 6.分子量测定范围：342～2*107Dalton； 7.温控范围：-5℃～120℃,±0.1℃； 8.pH值测量范围：1-14； 9.激光源：40mW固体激光器（可选5mW He-Ne激光器）； 10.检测器：APD；11.相关器：4*1011线性通道；4通道输入；支持两路互相关； 12.自动趋势分析：对时间、温度及其他参数； 13.散射角：13°、90°与173°；14.电泳测量适用粒度范围：0.001-100μm；15.电导率范围：0-30S/m；16.电泳迁移率范围：10 -11-10 -7 m2 /V.s；17.pH测量范围：1-14； 选件： 1.微流变：检测弱结构溶液的粘弹性信息；2.表面膜电位：固体表面膜电位测量；3.实时在线测量：粒度及Zeta电位实时在线测量；4.自动滴定仪：可对PH值、电导率和添加剂浓度作图；5.介电常数仪：直接测最溶剂的介电常数值；6.粘度计：用于测量溶剂及溶液的粘度； 7.21CFR软件 符合FDA要求的21CFR part II操作模式软件和仪器材料； 主要特点： 1.高灵敏性，粒度测量范围：0.3nm～15μm； 2.突破性的三检测角度设计，测量角度：15°、90°和173°；3.硬件PALS技术，灵敏度高1000倍，适用于高盐浓度、有机溶剂、油相体系； 4.浓度范围：0.1ppm至40%w/v； 5.可作为在线检测器与GPC/SEC连接，并通过SLS、DLS、光强和粒径监测聚集过程； 5.综合全新的粒度分析方法和模型Particle Solution 粒度测量软件； 6.强大的数据分析功能，可自动研究粒度随时间、温度(蛋白熔点)以及其他参数变化的趋势分析. 典型应用：1.蛋白、缩氨酸、胶束、多糖、药物制备、脂质体、外切酶体；2.聚合物胶乳、微乳液、油包水、水包油体系；3.涂料、颜料、油漆、食品、化妆品配方；4.陶瓷、耐火材料、炭黑、废水处理。

新一代纳米颗粒跟踪分析仪 NanoSight Pro —— 纳米和生物材料的表征从未如此快速、简单和精确新一代 NanoSight Pro 的推出，马尔文帕纳科为纳米和生物材料的表征提供了简单且快速的 NTA 解决方案。先进的工程设计和众多智能功能的组合确保了 NTA 测量高效、快速。NS Xplorer 软件由机器学习提供支持，实现了自动测量，消除了主观影响，并为光散射和荧光分析提供了高质量的颗粒大小和浓度数据。 可互换的激光器让应用更灵活，Smart Manager 连接确保了仪器稳定，无需担心数据质量问题或宕机问题。 特点与优势：快速安装和分析NanoSight Pro 可供各种规模的实验室中的各类人员使用。智能安装功能支持您快速启动并运行设备。得益于测量前只需要简单的设置、便捷的操作和直观的 NS Xplorer 软件，您可以在数分钟内完成样品测量。智能化和自动化NanoSight Pro 以机器学习和智能功能为后盾，可以自动处理样品测量任务并有效消除人为错误，从而实现精确的颗粒识别和颗粒跟踪，以获得高质量和可重复性高的测量数据。高分辨率全新 NanoSight Pro 可测量 10 nm - 1000 nm 范围内的纳米颗粒，包括低散射和生物颗粒。逐粒分析技术可提供高分辨率的粒度和浓度数据，并可通过视觉途径进行确认。强大的荧光功能除了光散射外，系统还可以从荧光标记的生物样本或合成颗粒中检测荧光信号，从而助您更深入地了解样品。可互换的激光模块可以选择四种激发波长。与对应的长通滤光片配合使用，可以实现流动分析支持的最佳设置，从而更好地对样品（甚至是光漂白样品）进行采样和跟踪。 更高的荧光灵敏度可以实现检测特定亚群，例如表面标记物、内部货物检测或污染物。主要应用：马尔文帕纳科 NanoSight Pro 可用于诸多重要应用领域，包括：细胞外囊泡 (EV)虽然对细胞外囊泡的产生和功能的研究仍在不断发展，但监测和控制其分离和纯化仍然很重要。NanoSight NTA 可以快速、方便地表征水性缓冲液中囊泡的大小和浓度，使人们对下游实验中所用样品的质量充满信心，同时荧光功能有助于清楚识别细胞外囊泡 (EV) 的亚群来源。病毒和疫苗疫苗的生产需要严格控制生产过程，以确保组分剂量适当并被免疫系统识别。NTA可助力稳定疫苗的粒度分布从而帮助优化生产流程。NTA 还能够确定病毒计数和粒度，因此可以作为滴度测定的更快替代方案。药物递送和基因治疗对于药物递送和基因治疗产品，为了确保临床上的有效疾病靶向，所需的颗粒大小为 70-150 nm。从早期药物研究到候选物筛选、制剂开发和临床批次监测，NTA 非常适合用于测量这些环节中的颗粒粒度，同时借助其浓度测量功能，可用于确定最终产品的剂量并用于体外和体内测定。生物治疗药物温度、pH 值变化、搅拌、剪切和时间都会影响生物治疗药物蛋白的稳定性，造成变性和聚集，进而可能导致丧失疗效和潜在的不良免疫反应。NTA 能够提供制剂中亚可见聚集体的高分辨率粒度分布信息，用于安全性和质量确认。纳米材料/胶体/毒理学随着纳米材料融入日常用品中，它们正引起监管机构的注意。因此需要充分表征这些颗粒，分析颗粒的性质以及其对最终产品的影响。NanoSight 可以针对这些纳米材料提供基于数量的浓度信息，并为那些在工业、环境和毒理学领域从事纳米级研究工作的人员提供高分辨率的粒度分布信息。超细气泡近年来，微细气泡在工业清洁和水处理、农业和食品、医疗应用等领域中的应用场景越来越多。鉴于相对较低的浓度和较小的粒度，超细气泡对许多传统的纳米颗粒表征技术提出了严峻的挑战，而 NTA 特别擅长检测和分析这类气泡。概述：技术类型纳米颗粒跟踪分析技术粒度检测范围（直径）110 nm - 1000 nm颗粒浓度2106 至 109 个/毫升最小样品量：250 μL高级浓度算法浓度提升系统：产品合规性一类激光产品 (BS EN 60825-1:2014)EMC 指令 (EN IEC61326-1:2021)低电压指令 (IEC 61010-1:2010IEC 61010-1:2010/AMD 1:2016)摄像头高灵敏度 sCMOS (USB-3)激光信息光束波长（最大功率输出）：405 nm，最大功率 70 mW488 nm，最大功率 55 mW（蓝）532 nm，最大功率 60 mW（绿）642 nm，最大功率 50 mW（红）温度控制范围低于环境温度 5°C 至最高 70°C温度读数自动注射泵1 mL 注射器连续进样尺寸 （宽, 长, 高）：34 x 35 x 25 cm仪器重量11 kg激光模块重量1.6 kg电源要求AC 110 – 240 V，50-60 Hz，4.0A工作环境条件最高 80% 相对湿度（31°C 时），然后线性下降至 50%（40°C 时）其他选项荧光 - 自动选择3适用于最多 5 个滤光片注：1 取决于样品和仪器配置2 取决于样品3 可选功能。不同激光波长的长通滤光片

BeNano Zeta电位分析仪是丹东百特仪器公司开发的测量颗粒体系Zeta电位的光学检测系统。BeNano Zeta 系统基于电泳光散射原理，样品分散在样品池中，在样品池两端施加一个电场，通过激光照射到电场中的样品上，光电检测器在 12°角检测样品颗粒电泳运动造成的散射光的多普勒频移，进而得到体系的 Zeta 电位信息。基本性能指标Zeta电位测试技术相位分析光散射检测角度12°Zeta范围无实际限制电泳迁移率范围±20um.cm/v.s电导率范围0-260mS/cm最小样品量0.75mL-1.0mLZeta测试粒径范围2nm-110μm系统参数温控范围-15°C-110°C，精度±0.1°C激光光源50mW高性能固体激光器，671nm相关器最多4000通道，1011动态线性检测器APD，高性能雪崩光电二极管光强控制0.0001%-100%，手动或自动软件中文和英文符合21CFR Part 11★取决于样品和选件检测参数● Zeta电位● Zeta电位分布检测技术● 电泳光散射● 相位分析光散射相关技术相关应用

Litesizer™ 500 纳米颗粒及Zeta 电位分析仪 Litesizer™ 500 是用于表征分散型样品和溶液中纳米颗粒以及微颗粒的仪器。它可通过测量动态光散射 (DLS)、电泳光散射 (ELS) 和静态光散射 (SLS) 来测定颗粒尺寸、zeta电位和分子质量。Litesizer™ 500 的一大亮点是其简单而巧妙的软件。我们已创建了可将输入参数、结果和分析集中到单个页面上的一页式工作流程：您可以在数秒内完成试验设置，只需简单按键即可得出所需的分析结果和报告。DLS 测量颗粒1. 测量范围：0.3nm到10μm2. 灵敏度：0.1mg/ml(溶菌酶)3. 最大样品浓度：40%w/v4. 准确度：优于认证参考材料标准的±2%5. 重复性：优于认证参考材料标准的±2%6. 最少样品用量：12μL7. 测量角度：15°，90°，175° ELS测量Zeta电位l 测量范围：-600mV到+600mVl 尺寸范围：3.8nm到100μml 灵敏度：0.1mg/ml(溶菌酶)l 最大样品浓度：40%w/vl 样品量：350μLl 最大样品电导率：200mS/cml 测量角度：15°，90°，175°优点：Litesizer™ 500 采用cmPALS专利（欧洲专利2 735 870）技术，能让调制器做出较大移动幅度为您缩短测量时间，并且可以使用更低电场，从而降低电极污染和蚀除的影响SLS测量分子量l 测量范围：1KDa到20MDal 灵敏度：0.1mg/ml(溶菌酶)l 重复性：±5%l 测量角度： 90°优点： SLS测量简单，快速，且为非侵入式，这些测量会提供反应蛋白质溶解的第二个维里系数。

纳米颗粒跟踪分析仪 ZetaView公司简介德国ParticleMetrix公司德国 Matric公司一直致力于研发和生产颗粒表征的仪器，其总部和销售及技术支持中心位于德国的梅尔布施；生产和研发中心位于德国的慕尼黑。自公司成立以来，PMX一直致力于生命科学方面仪器的研究，终于在2006年研发出纳米颗粒跟踪分析仪ZetaView，其主要应用于细胞外囊泡，蛋白质聚集以及纳米气泡等的大小、浓度以及Zeta电位测量。仪器简介：Zetaview所具备的单一颗粒跟踪技术，结合经典微电泳技术和布朗运动成为现代的分析手段。自动校准和自动聚焦功能，让用户眼见为实，更加直观人性化。通过子体积的扫描，来自于数以千计的颗粒的zeta电位和粒径柱状图的结果就可以计算出来。此外，颗粒浓度也可以通过视频计数分析得到。平移扩散常数可通过直接观测待测颗粒的布朗运动计算得到。通过测试电泳迁移率，可以得到zeta电位。纳米粒子跟踪分析（NTA）和动态光散射（DLS）所有的光散射仪器，包括粒子跟踪技术，都存在一个问题：当颗粒大小低于100nm时，灵敏度会迅速的降低。动态光散射技术的检测限是0.5nm，对于纳米颗粒跟踪分析，其检测限是10nm。通常，DLS和NTA的主要区别就在于浓度范围。对于DLS，当样品浓度太低时，zetaview可以非常圆满的完成检测任务。相反，对于高浓度的样品，DLS方法会非常的适合。测量范围测量范围依赖于样品和仪器。对于金样品，颗粒跟踪技术的检测下限为10nm；相应的，如果样品的散射能力较弱，则检测下限会变得更大。假如样品稳定，不会沉淀或漂浮，zeta电位测量的粒径上限为50微米，对于粒径测量为3微米。源于视频分析的颗粒计数颗粒浓度可通过视频分析得到，并归一化处理，散射体积对粒径。可检测的最小浓度为/cm3，大为/cm3。对于200nm的颗粒，大体积浓度为1000ppm。准确度和精度Zeta电位：准确度5mv，精度4mv，重现性5mv；粒度测试（对于100纳米的标准乳胶颗粒）：准确度6nm，精度4nm，重现性4nm；浓度测试（100纳米的颗粒，浓度10Mio粒子/ml）：准确度0.8 Mio/ml，精度0.5Mio/ml，重现性1Mio/ml；只要相机设置正确，样品处理适当，则以上所有的数据均有效。方法Zetaview激光散射显微镜对于低于1微米衍射极限100倍的纳米粒子是非常敏感的。技术优势&bull 功能一体化：可一次性完成样品的粒径、浓度、Zeta电位和荧光测试；&bull 扫描式NTA：无需额外配件，即可自动在样品池内的11个检测位置依次完成测试，并自动评估样品和数据质量；&bull 全新的固定式样品池模块设计，插入式样品池设计，无需拆卸，易清洗。&bull 直观的软件：红绿信号指示可以帮用户直接判断当前浓度的样品是否可以测试。&bull 快速测试：1min即可分析1000个左右的样品颗粒。&bull 自动校准&自动聚焦：光学部件可通过仪器软件实现自动校准与优化，节省了用户的实验准备时间，完全避免了可能产生的用户主观偏差。&bull 荧光分析：仪器配备了超灵敏的CMOS相机和更多的荧光滤光片，具有更高的荧光检测灵敏度，进一步增强了仪器的荧光检测与分析能力。&bull 仪器的防震动设计提高了视频图像的稳定性。多荧光NTA（F-NTA）Particle Metrix提供从单激光到多激光的一系列PMX-X30设备，新增加了12位的荧光检测通道，各设备均可实现不同激光波长之间、散射光模式与荧光模式之间的一键切换。PMX-X30系列设备的固定式样品池模块设计，既进一步增强了仪器的稳定性和测试的可靠性，又进一步简化了仪器清洗过程，提高了测试效主要应用生物纳米颗粒：&bull 细胞外囊泡&bull 外泌体&bull 脂质体&胶束&bull 蛋白质聚集体&bull 病毒&类病毒颗粒（VLPs）&bull 药物载体&bull 荧光标记的纳米颗粒低浓度样品：&bull 纳米气泡&bull 纳米金属&bull 微量样品&bull 量子点技术参数

JCJ04型沉降颗粒分析仪的详细资料：JCJ04型沉降颗粒分析仪介绍 沉降分析是物理化学中的一项基本实验，在科研和工业上有着广泛的应用，目前颜料工业、硅酸盐工业、陶瓷工业等对原料及成品质量进行检验的重要手段。环境科学中研究泥沙沉降、生物化学中也可研究分析大分子的组装、拆卸，大体构型和构型改变，大分子-大分子、大分子-小分子相互作用，缔合特性等。JCJ04型沉降颗粒分析仪特点 我公司采用日本进口传感器测量样品颗粒的沉降量，传感器灵敏度高，线形和稳定性好，采用单片机采集数据，电脑直接跟踪记录数据，直接绘制沉降曲线，并保存数据，减少手动记录的误差。专业软件可进行数据处理，分析颗粒沉降体系情况。JCJ04型沉降颗粒分析仪技术参数1、量程： 0－100g（量程可以选择）2、粒度范围：1～60um 3、灵敏度：0.1mg4、采样周期：0.5s5、容器：500ml量筒6、砝码：0.5g、10g、50g、100g7、清零、去皮、自校、报警8、沉降曲线采集、存储、调用；颗粒大小、中位径、平均粒径；平均误差计算；颗粒分布分析；计算结果、图表打印。JCJ04型沉降颗粒分析仪标配组件1、托盘、搅棒、量筒（2套）2、砝码：0.5g、10g、50g、100g3、实验操作软件1 4、说明书1 5、操作手册电子版1JCJ04型沉降颗粒分析仪含税价格：RMB 31800.00，价格不含配套电脑，含仪器主机、实验操作软件、标配组件、免费送货上门安装调试培训（大陆以外及大陆个别边远地区需收取上门费）、一年保修服务。JCJ04型沉降颗粒分析仪配套电脑：JCJ04型沉降颗粒分析仪，必须有配套电脑方能使用，如选择由供方提供配套电脑，需向供方另付4000元/台，品牌电脑原厂三年上门保修。如用户自配或利用原有电脑，要求：WinXP操作系统或Win7/10操作系统，一个USB口，一个空的COM口（RS232串口），笔记本、台式机、一体机均可。上海中晨简介 上海中晨数字技术设备有限公司获2019年度国家科技进步二等奖。公司依托国内高校和科研单位，广泛采用国内外有关专家的新科技成果，着重胶体与界面、粉体技术、纺织纤维等性能测量技术产品的开发。本公司产品可广泛用于化妆品、选矿、造纸、医疗卫生、建筑材料、超细材料、环境保护、海洋、化工、石油、喷涂、油漆油墨、印染、纺织、集成光学、液晶显示器等行业。公司的客户群不仅包括国内各大高等院校和科研院所，而且还包括苹果、3M、西部数据WD、富士康、三星电子、日月光、HOYA光学、友达光电、飞利浦、LG化学等一大批跨国企业，以及中石油、中石化、中海油、华为、比亚迪、宁德时代、京东方、隆基股份、欣旺达、德赛电池、合力泰、长电科技、华天科技、天合光能、长信科技、OPPO、VIVO、宁夏东方、水晶光电、彩虹控股、威远生化等上市公司，及国内的海关、防疫检验、质量监督检验所、博物馆、医疗机构等政府事业单位，产品远销美国、日本、韩国、巴西、马来西亚、泰国、印度、印度尼西亚、新加坡、智利和我国香港、澳门、台湾地区等。 公司研发和生产接触角测量、表界面张力测量、Zeta电位测量、LB膜界面测量、单纤维测量、束纤维测量、织物测量、显微测量、试验机定制等八大系列60多种专业仪器，拥有其软、硬件自主知识产权，能够保障用户的售后维护、升级、服务的权利。 中晨的注册商标“powereach”意为“力量源于每个人”，体现了上海中晨“以人为本、员工和用户是公司很大的财富”的核心价值观和企业文化。

仪器简介：TH-&beta 25型空气颗粒物浓度监测仪是针对国内环监部门，工矿企业及大专院校科研所等部门需求而研制开发的新一代环境监测仪。该仪器由颗粒物采集和颗粒物浓度检测及分析、打印等系统组成，利用低能&beta 射线的辐射吸收原理，对空气总悬浮颗粒物（TSP）、飘尘（PM10）、呼吸性颗粒物（PM5和PM2.5）进行浓度监测分析。监测结果由微电脑直接处理，监测全过程由微电脑监控，与传统的采样称重法相比，减小了监测人员的劳动强度，携带方便、监测数据准确。主要特点：主要特点及功能操作简便：中文界面显示，人机对话操作，监测结果微电脑处理，监测全过程微机监控。数据安全：测量结果可直接由仪器贮存，也可现场打印。掉电保护：具有掉电后对监测数据作废样处理，来电后安全复位，自动恢复监测功能。一机多用：配上我厂生产的不同采样头，可对TSP、PM10、PM5或PM2.5大气颗粒物分别监测分析。测量方式：测量前标准膜自动进入测定程序一次，便于与颗粒物测量结果作对比修正，克服仪器的系统误差滤纸传送方式：采样滤纸传动采用多位光电位移检测系统，确保走纸精度，以保证测量精度并克服了颗粒物浓度监测仪普遍存在的卡纸、打滑现象。

颗粒表征分析颗粒表征分析从纳米至微米范围通过动态光散射在三个不同的测量角度下测量粒径大小利用获得zhuan利的 cmPALS 测定 zeta 电位分子量和折光率测量Litesizer 可为样品选择较理想的测量角度，以确保zui高的数据质量Litesizer 500 有三个用于 DLS 测量的检测角度（侧散射、向后散射或向前散射），允许zui优参数设置。仪器带有自动角度选择功能，可以为您的样品确定zui合适的角度。Litesizer 100 使用通用的后向散射角，这对于浊度样品较理想，因为它减少了多个散射事件，实现zui佳的数据质量。您可以对样品进行完整的分析，因为 Litesizer 系列能够在一次测量中溶解多达三种不同的粒度等级。zeta 电位测量降至 0.1 mg/mL，实现zui高的灵敏度利用 Litesizer 500，您可以通过电泳光散射法执行 zeta 电位测量。cmPALS专li技术（欧洲zhuan利 2 735 870）允许在样品浓度zui低的情况下进行高灵敏度测量，获得有意义的结果，测量时间显著缩短，样品降解程度zui大程度降低。这对肽溶液特别有帮助。此外,独特的安东帕 Ω 型毛细管 zeta 电位的比色皿在测量位置创建一个完全稳定的电场,促使 zeta 电位测量具有高度可重复性。用于样品监测的持续的透光率测量持续测量的透射率可以给您提供样品的即时反馈。它进一步允许自动优化测量参数，如测量角度、焦点位置和持续时间。透光率也提供在一系列测量中有关沉积或聚集开始的数据。一体机-测量折光率样品溶剂的折光率是 DLS 和 ELS 测量所需的输入参数。 对于大多数粒度分析仪来说，这些指数必须由外部来源确定，Litesizer 500 可以在 DLS 或 ELS 测量的精确波长和温度下测量折光率（欧洲zhuan利 3 023 770）。这确保了在所有试验条件下，获得zui高精确度的粒径和 zeta 电位值。Litesizer 500 确定的折光率的误差在 ±0.5% 之内，符合 ISO 22412:2017 规定的 DLS 所需折光率精度。使用 Kalliope 软件可以清楚地了解您的测量结果Litesizer 系列的测量软件，Kalliope, 提供直观的单页工作流.输入参数、测量信号和结果都触手可及。单页工作流还允许您只需单击三次就可以开始测量。 预定义的标准报告和结构化的结果概览对测量结果提供快速访问路径。 您还可以通过分析功能、Excel 导出和定制化报表模板来更深入地查看数据。Kalliope 完全符合 FDA 的 21 CFR Part 11 法规要求技术规格Litesizer 500Litesizer 100粒度测试规格测量原理动态光散射 (DLS)测量范围0.3 nm 至 10 μm（颗粒直径）测量角度15°、90°、175°175°zui小浓度0.1 mg/mL（溶菌酶）zui大浓度50 %w/v（取决于样品）zui少样品用量12 μL准确度优于溯源标准的 +/-2 %重复性优于溯源标准的 +/-2 %Zeta 电位规格测量原理电泳光散射 (ELS)/cmPALS-测量范围= +/ -1000 mV-运动范围10-11 m2/V.s 至 2 x 10-7 m2/V.s-尺寸范围3.8 nm 至 100 μm（直径）-zui小样品浓度0.1 mg/mL（溶菌酶）-zui大样品浓度70 %w/v（取决于样品）-zui大样品电导率200 mS/cm-zui少样品用量50 μL（取决-于样品-黏度）-准确度优于 +/-10 %-重复性+/-3 %-分子量规格测量原理静态光散射 (SLS)-测量范围（质量）980 Da 至 20 MDa-测量范围（颗粒尺寸）可达 40 nm（颗粒直径）-测量角度90°-zui小样品浓度0.1 mg/mL（溶菌酶）-准确度+/-10 %-重复性+/-5 %-透光率规格测量范围0 % 至 100 %zui少样品用量15 μL准确度优于 +/-1 %折光率规格测量范围1.28 到 1.50-zui少样品用量1 mL-准确度+/-0.5 %-基本信息光源半导体激光器二极管/ 40 mW，658 nm激光预热时间6 min温控范围0 °C 至 90 °C使用环境温度10 °C 至 35 °C湿度高达 80 %，无冷凝尺寸（宽、深、高）460 mm、485 mm、135 mm重量大约 18 kg（40 磅）大约 16.3 kg (36 lb)

颗粒表面特性分析仪MagnoMeter XRS---有效避免测量颗粒表征错误在分析复杂固-液和液-液配方时，传统的粒度测量方法是基于2个假设，第一个假设是所有颗粒都是球形和光滑的，但球形和光滑的颗粒在大多数工业材料中很少出现；第二个假设是粒子总是均匀一致的，这也并不准确。由于这些错误的假设，测量粒径和颗粒表面积可能会产生误导，从而导致后续工艺和使用过程中的出现误差。德国ORONTEC公司研发的颗粒表面特性分析仪MagnoMeter XRS使用核磁共振NMR技术直接测量颗粒大小和形状，避免高成本的错误，具有以下的功能：●轻松区分大小相同但表面或形状不同的产品；●可以显示相同材料表面化学成分的差异得益于这些功能，MagnoMeter XRS能够为任何行业在配方或者制造过程的任何阶段提供一流的功能和分析性能。颗粒表面特性分析仪MagnoMeter XRS操作简单?无需样品制备：所有技术相关和行业相关的浓度均可直接测量，无需稀释?占用空间小：具有许多MagnoPod和控制模块的配置选项?测量实时进行：根据不同的样品，测量结果在1s内或最迟2min后得出?颗粒测量新技术：MagnoMeter XRS 为传统粒度测量、zeta 电位、BET 气体吸附和汞孔隙率测定分析提供了一种补充技术。颗粒表面特性分析仪MagnoMeter XRS优点?颗粒表面特性分析仪MagnoMeter XRS没有移动部件，不需要光学校准，通过简单的插件设置即可开始测量?温度控制MagnoPod与控制模块隔离，消除电子和热干扰?一个控制模块可以操作多个磁控振荡器，是隔离危险样品的理想选择?允许在空浓度范围内进行直接样品测量，具有出色的信噪比?可以用标准核磁共振管操作颗粒表面特性分析仪MagnoMeter XRS适用领域颗粒表面特性分析仪MagnoMeter XRS的用途非常广泛，无论是在研发、质量控制和保证方面，还是在过程控制实验室测量速度和可靠性方面，颗粒表面特性分析仪MagnoMeter XRS都是一种高效的工具，广泛运用在以下的领域：?来料的质量控制?中间制造过程监控?成品质量保证?产品保质期确定客户举例欧洲分散技术中心The European Center for Dispersion Technologies（EZD）使用颗粒表面特性分析仪MagnoMeter XRS进行颗粒表征分析。翁开尔是德国ORONTEC中国总代理，欢迎致电【400-6808-138】咨询更多关于颗粒表面特性分析仪MagnoMeter XRS产品信息，技术应用和客户案例。

动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪原理当激光照射到分散于液体介质中的微小颗粒时，由于颗粒的布朗运动引起散射光的频率偏移，导致散射光信号随时间发生动态变化，该变化的大小与颗粒的布朗运动速度有关，而颗粒的布朗运动速度又取决于颗粒粒径的大小，颗粒大布朗运动速度低，反之颗粒小布朗运动速度高，因此动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪技术是分析样品颗粒的散射光强随时间的涨落规律，使用光子探测器在固定的角度采集散射光，通过相关器进行自相关运算得到相关函数，再经过数学反演获得颗粒粒径信息。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点1、高效的光路系统：采用固体激光器和一体化光纤技术集成的光路，充分满足空间相干性的要求，极大地提高了散射光信号的信噪比。2、高灵敏度光子探测器：采用计数型光电倍增管或雪崩光电二极管，对光子信号具有极高的灵敏度和信噪比； 采用边沿触发模式对光子进行计数，瞬间捕捉光子脉冲的变化。3、大动态范围高速光子相关器：采用高、低速通道搭配的结构设计光子相关器，有效解决了硬件资源与通道数量之间的矛盾，实现了大的动态范围，并保证了相关函数基线的稳定性。4、高精度温控系统：基于半导体制冷技术，采用自适应PID控制算法，使样品池温度控制精度达±0.1℃。5、数据筛选功能：引入分位数检测异常值的方法，鉴别受灰尘干扰的散射光数据，并剔除异常值，提高粒度测量结果的准确度。6、优化的反演算法：采用优拟合累积反演算法计算平均粒径及多分散系数，基于非负约束正则化算法反演颗粒粒度分布，测量结果的准确度和重复性都优于1%。纳米粒度及zeta电位分析仪测量纳米粒度及zeta电位分析仪是表征分散体系稳定性的重要指标zeta电位愈高，颗粒间的相互排斥力越大，胶体体系愈稳定， 因此通过电泳光散射法测量zeta电位可以预测胶体的稳定性。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪原理带电颗粒在电场力作用下向电极反方向做电泳运动，单位电场强度下的电泳速度定义为电泳迁移率。颗粒在电泳迁移时，会带着紧密吸附层和部分扩散层一起移动，与液体之间形成滑动面，滑动面与液体内部的电位差即为zeta电位。Zeta电位与电泳迁移率的关系遵循 Henry方程，通过测量颗粒在电场中的电泳迁移率就能得出颗粒的zeta电位。纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点1.利用光纤技术集成发射光路和接收光路，替代传统电泳光散射的分立光路，使参考光和散射光信号的传输不受灰尘和外界杂散光的干扰，有效地提高了信噪比和抗干扰能力。2.先对散射光信号进行频谱预分析，获取需要细化分析的频谱范围，然后在窄带范围内进行高分辨率的频谱细化分析，从而获得准确的散射光频移。3.基于双电层理论模型，求解颗粒的双电层厚度，获得准确的颗粒半径与双电层厚度的比值，再利用小二乘拟合算法获得精确的Henry函数表达式，进而有效提高了纳米粒度及zeta电位分析仪的计算精度。Henry函数的取值：当双电层厚度远远小于颗粒的半径，即ka1，Henry函数近似为1.5。双电层厚度远远大于颗粒半径时，即ka1，Henry函数近似为1.0。使用小二乘曲线拟合算法对Wiersema计算的精确Henry函数值进行拟合， 得到优化Henry函数表达式.强大易用的控制软件ZS-920系列纳米粒度及zeta电位分析仪的控制软件具有纳米颗粒粒度和zeta电位测量功能，一键式测量，自动调整散射光强， 无需用户干涉，自动优化光子相关器参数，以适应不同样品，让测量变得如此轻松。控制软件更具有标准化操作(SOP)功能，让不同实验室、不同实验员间的测量按照同一标准进行，测量结果更具有可比性。测量完成自动生成报表，以可视化的方式展示测量结果，让测量结果一目了然。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪的技术指标

ZetaView适用于各类生物纳米颗粒0 x 耗材5 x 更快的切换10 x 更快的清洗12 x 荧光通道∞ x 统计学数据生物纳米颗粒（比如细胞外囊泡、外泌体、病毒或类病毒颗粒）在生命科学和纳米药物研究中的作用越来越重要。NTA技术可以帮助用户检测生理缓冲液条件下的单个颗粒，并让用户真实地看到他们所测的样品颗粒。ZetaView系列产品以其更方便的操作、更快的检测速度，又将进一步助力客户对EV-抗体偶联物的荧光检测。 主要特点&bull 扫描式NTA：无需额外配件，即可自动在样品池内的11个检测位置依次完成测试，并自动评估样品和数据质量；&bull 直观的软件：红绿信号指示可以帮用户直接判断当前浓度的样品是否可以测试。&bull 全新的固定式样品池模块设计：进一步增强了仪器稳定性，进一步保障仪器高效稳定地测试。&bull 功能一体化：可一次性完成样品的粒径、浓度、zeta电位和荧光测试。&bull 自动校准&自动聚焦：光学部件可通过仪器软件实现自动校准与优化，节省了用户的实验准备时间，完全避免了可能产生的用户主观偏差。&bull 荧光分析：仪器配备了超灵敏的CMOS相机和更多的荧光滤光片，具有更高的荧光检测灵敏度，进一步增强了仪器的荧光检测与分析能力。&bull 快速测试：60秒即可分析2000多个样品颗粒。&bull 无需高成本耗材：除进样所需的注射器之外，无其他耗材。&bull 易于维护：新的固定式样品池模块使仪器清洗更加简单便捷。&bull 无需校准：测试方法是客观的，仪器无需再校准多荧光NTA（F-NTA）Particle Metrix提供从单激光到多激光的一系列PMX设备，新增加了12位的荧光检测通道，各设备均可实现不同激光波长之间、散射光模式与荧光模式之间的一键切换。PMX系列设备的固定式样品池模块设计，既进一步增强了仪器的稳定性和测试的可靠性，又进一步简化了仪器清洗过程，提高了测试效率。新增加的共定位分析功能（C-NTA）ZetaView 配备了高精度的激光器，还可以实现仪器部件的快速切换。这也是它能完成生物标志物共定位检测这一极具挑战性工作的必要条件。例如一种细胞外囊泡，用不同浓度的两种膜染料Cell MaskTM Green和Cell MaskTM Red进行染色，通过ZetaView TWIN的动画视频可以看到不同荧光通道之间的快速切换。主要应用生物纳米颗粒：&bull 细胞外囊泡&bull 外泌体&bull 脂质体&胶束&bull 蛋白质聚集体&bull 病毒&类病毒颗粒（VLPs）&bull 药物载体&bull 荧光标记的纳米颗粒 低浓度样品：&bull 纳米气泡&bull 纳米金属&bull 微量样品&bull 量子点

生产厂家：美国 ThermoFisher Scientific 产品简介：5020i型分析仪是一台采用脉冲荧光技术和热还原技术的连续实时硫酸盐颗粒分析仪，这台仪器能准确地采集样品，并完成样品中颗粒物数据的分析。当样品被吸入5020iSPA通过采样头经过一个应用热还原技术的转换器，在转换器中硫酸盐（SO4）被转换成二氧化硫（SO2），随后二氧化硫被Thermo Scientific的脉冲荧光技术测量。 特点：增强的光学设计使仪器具备优异的特性响应速度快直接和自动测量背景零气性能指标：量程0-5,10,25,50和100μg/m3零点噪声0.20μg/m3（15分钟周期）最低检测限0.5μg/m3（15分钟周期）跨漂（24小时）±1%（24小时）响应时间90秒

NTA纳米颗粒跟踪分析仪ZetaView仪器简介：NTA纳米颗粒跟踪分析仪ZetaView所具备的单一颗粒跟踪技术，结合经典微电泳技术和布朗运动成为现代的分析手段。自动校准和自动聚焦功能，让用户眼见为实，更加直观人性化。通过子体积的扫描，来自于数以千计的颗粒的zeta电位和粒径柱状图的结果就可以计算出来。此外，颗粒浓度也可以通过视频计数分析得到。 NTA纳米颗粒跟踪分析仪ZetaView的特点 - 全自动和无源稳定性自动校准程序会持续工作，即便是样品池被取出后。防震动设计提高了视频图像的稳定性。通过扫描多个子体积并进行平均，就可以得到可靠的统计结果。有3种测量模式可供选择：粒径，zeta电位和浓度。样品池通道集成在一个插入式的盒子中，盒子可提供温度控制以及同管理单元的耦合。自动扫描，可达100个子体积；自动聚焦；小巧，便于携带；防震动；光源从紫外线到红光；插入式样品池； 理论平移扩散常数可通过直接观测待测颗粒的布朗运动计算得到。通过测试电泳迁移率，可以得到zeta电位。 纳米粒子跟踪分析（NTA）和动态光散射（DLS）所有的光散射仪器，包括粒子跟踪技术，都存在一个问题：当颗粒大小低于100nm时，灵敏度会迅速的降低。动态光散射技术的MIN检测限是0.5nm，对于纳米颗粒跟踪分析，其MIN检测限是10nm。通常，DLS和NTA的主要区别就在于浓度范围。对于DLS，当样品浓度太低时，普迈精医NTA纳米颗粒跟踪分析仪ZetaView可以非常圆满的完成检测任务。相反，对于高浓度的样品，DLS方法会非常的适合。 测量范围测量范围依赖于样品和仪器。对于金样品，颗粒跟踪技术的检测下限为10nm；相应的，如果样品的散射能力较弱，则检测下限会变得更大。假如样品稳定，不会沉淀或漂浮，zeta电位测量的粒径上限为50微米，对于粒径测量为3微米。 源于视频分析的颗粒计数颗粒浓度可通过视频分析得到，并归一化处理，散射体积对粒径。可检测的MIN浓度为105粒子/cm3，MAX为109粒子/cm3。对于200nm的颗粒，MAX体积浓度为1000ppm。 准确度和精度Zeta电位：准确度5mv，精度4mv，重现性5mv；粒度测试（对于100纳米的标准乳胶颗粒）：准确度6nm，精度4nm，重现性4nm；浓度测试（100纳米的颗粒，浓度10Mio粒子/ml）：准确度0.8 Mio/ml，精度0.5Mio/ml，重现性1Mio/ml；只要相机设置正确，样品处理适当，则以上所有的数据均有效。 方法NTA纳米颗粒跟踪分析仪ZetaView激光散射显微镜对于低于1微米衍射极限100倍的纳米粒子是非常敏感的。 技术参数测量原理zeta电位（微电泳），粒径（布朗运动），颗粒浓度（视频评价）光学设计具有单个粒子跟踪功能的激光散射视频显微镜自动校准，自动聚焦测量池石英玻璃通道，插入式盒子，配有2个接口，用于流动冲洗和小体积传输施加电压Zeta电位：-24V，+24V粒径：0V光学系统显微镜物镜10倍变焦，数字相机，640×480px，30和60帧每秒激光类型依赖于应用Zeta电位测试范围-500~500mv可测的粒径范围Zeta电位：0.01-100微米粒径：0.01-3微米下限和上限依赖于样品和激光PH范围1-13温度范围温度控制5-45℃（环境温度）RT-5℃，MAX45℃电导率范围0-15ms/cm内部控制-输出温度，电导率，电场，漂移准确度Zeta电位：±4mv；粒径：±6nm（100nm的乳胶粒子标准品）重现性Zeta电位：±4mv；粒径：±5nm（100nm的乳胶粒子标准品）

动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪原理当激光照射到分散于液体介质中的微小颗粒时，由于颗粒的布朗运动引起散射光的频率偏移，导致散射光信号随时间发生动态变化，该变化的大小与颗粒的布朗运动速度有关，而颗粒的布朗运动速度又取决于颗粒粒径的大小，颗粒大布朗运动速度低，反之颗粒小布朗运动速度高，因此动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪技术是分析样品颗粒的散射光强随时间的涨落规律，使用光子探测器在固定的角度采集散射光，通过相关器进行自相关运算得到相关函数，再经过数学反演获得颗粒粒径信息。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点1、高效的光路系统：采用固体激光器和一体化光纤技术集成的光路，充分满足空间相干性的要求，极大地提高了散射光信号的信噪比。2、高灵敏度光子探测器：采用计数型光电倍增管或雪崩光电二极管，对光子信号具有极高的灵敏度和信噪比； 采用边沿触发模式对光子进行计数，瞬间捕捉光子脉冲的变化。3、大动态范围高速光子相关器：采用高、低速通道搭配的结构设计光子相关器，有效解决了硬件资源与通道数量之间的矛盾，实现了大的动态范围，并保证了相关函数基线的稳定性。4、高精度温控系统：基于半导体制冷技术，采用自适应PID控制算法，使样品池温度控制精度达±0.1℃。5、数据筛选功能：引入分位数检测异常值的方法，鉴别受灰尘干扰的散射光数据，并剔除异常值，提高粒度测量结果的准确度。6、优化的反演算法：采用zui优拟合累积反演算法计算平均粒径及多分散系数，基于非负约束正则化算法反演颗粒粒度分布，测量结果的准确度和重复性都优于1%。纳米粒度及zeta电位分析仪测量纳米粒度及zeta电位分析仪是表征分散体系稳定性的重要指标zeta电位愈高，颗粒间的相互排斥力越大，胶体体系愈稳定， 因此通过电泳光散射法测量zeta电位可以预测胶体的稳定性。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪原理带电颗粒在电场力作用下向电极反方向做电泳运动，单位电场强度下的电泳速度定义为电泳迁移率。颗粒在电泳迁移时，会带着紧密吸附层和部分扩散层一起移动，与液体之间形成滑动面，滑动面与液体内部的电位差即为zeta电位。Zeta电位与电泳迁移率的关系遵循 Henry方程，通过测量颗粒在电场中的电泳迁移率就能得出颗粒的zeta电位。纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点1.利用光纤技术集成发射光路和接收光路，替代传统电泳光散射的分立光路，使参考光和散射光信号的传输不受灰尘和外界杂散光的干扰，有效地提高了信噪比和抗干扰能力。2.先对散射光信号进行频谱预分析，获取需要细化分析的频谱范围，然后在窄带范围内进行高分辨率的频谱细化分析，从而获得准确的散射光频移。3.基于双电层理论模型，求解颗粒的双电层厚度，获得准确的颗粒半径与双电层厚度的比值，再利用最小二乘拟合算法获得精确的Henry函数表达式，进而有效提高了纳米粒度及zeta电位分析仪的计算精度。Henry函数的取值：当双电层厚度远远小于颗粒的半径，即ka1，Henry函数近似为1.5。双电层厚度远远大于颗粒半径时，即ka1，Henry函数近似为1.0。使用最小二乘曲线拟合算法对Wiersema计算的精确Henry函数值进行拟合， 得到优化Henry函数表达式.强大易用的控制软件ZS-920系列纳米粒度及zeta电位分析仪的控制软件具有纳米颗粒粒度和zeta电位测量功能，一键式测量，自动调整散射光强， 无需用户干涉，自动优化光子相关器参数，以适应不同样品，让测量变得如此轻松。控制软件更具有标准化操作(SOP)功能，让不同实验室、不同实验员间的测量按照同一标准进行，测量结果更具有可比性。测量完成自动生成报表，以可视化的方式展示测量结果，让测量结果一目了然。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪的技术指标

产品介绍：NS-90Z 纳米粒度及电位分析仪是珠海欧美克仪器有限公司在成功引进和吸收马尔文帕纳科公司（Malvern Panalytical）纳米颗粒表征技术后，在NS-90纳米粒度分析仪基础上进一步增加zeta电位测试功能而推出的新一款产品。NS-90Z具有优越的粒度和电位分析功能，能满足广大纳米材料、制剂开发和生产用户的颗粒粒度和表面电位的测试需求。该仪器使用电泳光散射技术测定zeta电位，动态光散射技术测量粒子和分子粒度，以及静态光散射技术测定蛋白质与聚合物的分子量。NS-90Z融合马尔文帕纳科M3-PALS相位分析检测技术，并广泛采用全球化供应链的优质光电部件，例如进口雪崩式光电二极管（APD）检测器和He-Ne气体激光器等，加上精确的内部温控技术、密闭光纤光路以及先进软件算法，保障了数据的高重复性、准确性和灵敏度，使该型号仪器可以分析宽广的粒径、浓度及电位范围的样品。NS-90Z同时支持SOP标准操作，以及测量数据智能评估，方便用户使用。工作原理：NS-90Z 纳米粒度及电位分析仪在一种紧凑型装置仪器中集成了三种技术：动态光散射技术： NS-90Z 纳米粒度及电位分析仪主要使用90度角动态光散射技术 (Dynamic Light Scattering/DLS) 来测量粒子颗粒和分子粒度。动态光散射技术也称为光子相关光谱 (Photon Correlation Spectroscopy/PCS) 技术。该技术利用光电检测器测量样品中粒子发生布朗运动所产生的散射光强波动信号，再通过数字相关器得到相关函数 (Correlation Function)，最后使用斯托克斯-爱因斯坦 (Stokes-Einstein) 方程计算出粒子的粒径与分布。通过本技术所测量的粒径是和被测量粒子以相同速度扩散的等效硬球的流体动力学直径。 静态光散射技术： NS-90Z纳米粒度及电位分析仪使用静态光散射技术 (Static Light Scattering/SLS) 测量蛋白质与聚合物的分子量。静态光散射是一种非侵入技术，用于表征溶液中的分子。因粒子产生的散射光强度正比于重均分子量的平方以及粒子浓度，使用静态光散射法可以确定蛋白质与聚合物的分子量。与动态光散射工作方式类似，当激光照射样品中的粒子时，粒子在各个方向上发生散射。与动态光散射技术不同的是，静态光散射技术是测量一段时间内散射光的时间平均强度。因这个时间平均光强不能反应信号随时间的动态变化，故称为 “静态光散射”。分子量单位为 Da（Dalton） 或g/mol。 电泳光散射技术： NS-90Z纳米粒度及电位分析仪使用激光多普勒微量电泳法（Electrophoretic Light Scattering/ELS）测量zeta电位。分子和粒子在施加的电场作用下做电泳运动，其运动速度和zeta电位直接相关。NS-90Z使用相位分析光散射法 (Mixed mode measurement, phase analysis light scattering/M3-PALS），成功解决了毛细管电渗对测试的影响，并且在一次测试过程中同时得到zeta电位平均值和分布曲线。用途： NS-90Z纳米粒度及电位分析仪是一种极高性价比的纳米颗粒表征仪器，适合需要较高粒度测量灵敏度，或者需要与使用90?散射角系统结果相同的应用。该仪器适用于对乳液、悬浮液、蛋白质等样品的分析。典型应用：&bull 胶体和乳液表征&bull 药物分散体和乳液&bull 脂质体和囊泡&bull 粒子和表面的 Zeta 电位&bull 墨水、碳粉和颜料性能改进&bull 优化水处理中絮凝剂的用量以降低水处理成本&bull 缩短稳定分散体和蛋白质溶液的开发时间&bull 了解产品稳定或不稳定的原因，提高产品保质期&bull 防止形成蛋白质聚集体&bull 增加蛋白质浓度时保持稳定性 技术参数：【粒径】1.测量范围：0.3nm – 5000nm（以样品为准）2.测量原理：动态光散射法3.重复性误差：＜1%（NIST可追溯胶乳标样）4.最小样品容积：20μL5.最小样品浓度0.1mg/mL （以样品为准）【分子量】6.分子量测量范围：342 Da – 2×107 Da , 由流体动力学直径估算（动态光散射）7.分子量测量范围：9800 Da – 2×107 Da , 由德拜图计算 （静态光散射）8.测量原理：动态光散射，静态光散射9.最小样品容积：20μL（需要3-5种样品浓度）【Zeta电位】10. 测量原理：电泳光散射11. 灵敏度：10mg/mL 66kDa 蛋白质12. Zeta 电位范围：不限于-500mV~+500mV13. 最高样品浓度：40% w/v (以样品为准)14. 最小样品容积：20μL15. 最高电导率：200mS/cm16. 检测技术：M3-PALS【系统硬件】17.检测角度：90°＋13°18.激光光源：高稳定He-Ne 激光器，波长633nm，功率 4mW。19.激光安全：1类，符合CDRH 和 CE 标准20.检测器：雪崩式光电二极管（APD）检测器，QE50%21.相关器：采样时间25ns – 8000s，4000通道，1011动态线性范围22.冷凝控制方式：干燥空气吹扫*23.温度控制范围：0 °– 90°C 24.温度控制精度：± 0.1°C25.电源： AC 90 – 240V, 50 – 60Hz26.功率：50W【重量与尺寸】27.尺寸：320mm×600mm×260mm（W×D×H）28.重量：19 kg【运行环境】29.计算机配置：Intel Core 2 Duo，4GB内存，160G硬盘，显示分辨率1440×900 32bit及以上 30.计算机接口： USB 2.031.操作系统：Windows 7, Windows 10 32.温度范围：15°C – 40°C33.环境湿度：20% – 70%， 无冷凝34.需外接气源性能特点：【先进的光学系统设计】 NS-90Z纳米粒度及电位分析仪在一台仪器中集成了电泳光散射、动态光散射和静态光散射三两种技术。使用电泳光散射技术测量zeta电位，使用动态光散射技术测量粒度及分子大小，使用静态光散射技术确定蛋白质与聚合物的分子量。这种技术对整个系统的稳定性的要求极高，要求每个设计元素都必须实现优化，以确保高准确性和重现性。 NS-90Z采用光路密闭设计，防止污染。算法上使用全范围米氏理论（Mie Theory）。【功能丰富的软件优化用户体验】 提供标准操作程序（SOP）简化常规测量；自动调节各种样品的设置；操作简单，无须准直、校正或保养；智能化，可自动判断数据报告的质量。【高性能检测器】 使高效率的雪崩式光电二极管（APD）检测器，灵敏度远高于光电倍增管（PMT）。成本高但保障优化的测试性能。【研究级数字相关器】 使用高速数字相关器，4000通道，采样时间低至25ns。【稳定的激光光源和光路系统】 采用高稳定He-Ne 气体激光器确保数据的重复性，波长633nm，功率 4mW。可在300000:1的动态范围内自动调节激光衰减器。【精确的内部控温系统】 独立的循环温控槽可在0 – 90℃ 范围内任意设定，其控制精度达0.1℃，保障高重现性。软件功能：1.使用先进软件技术和界面，操作简单。2.全自动设置和测量：只需简单的培训即可设置仪器，包括样品池位置、数据记录、分析和结果显示。3.支持SOP标准操作程序，确保操作的一致性和数据重复性。 4.测量数据的完全评估：仪器软件可根据测试条件自动判断数据报告的质量。 5.打印或屏幕显示报告使用简单；含报表设计器，只需在指定的位置选择图形和输入参数，就可根据不同的需要定制不同的报告。6.样品数据和结果存储在测量文件中，方便进行数据的比较。 7.数据分析：数据以图形或表格的形式给出，分布算法适合各种样品包括单分散样品，宽分布样品以及多种模式样品。8.具有完善的介质粒度数据库

SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪是准确测量小颗粒物理性质的分析工具，如颗粒粒径、zeta电位的检测，分子量（Mw）以及第二维利系数（A2）的测定；还可以用于检测蛋白质、聚合物及其他大分子的分子量和第二维利系数。SZ-100 V2纳米颗粒分析仪典型应用包括：纳米颗粒，胶体，乳液以及亚微米悬浮液。产品特点 同台仪器可测三种参数——粒度、zeta电位、分子量及第二维利系数 宽检测范围，宽浓度范围——样品浓度可达40% 自动滴定仪——可用于zeta电位测量过程中pH值的自动滴定 软件操作简单功能强大，一键测量 双光路双角度粒径测量（90° 和173°） 采用微量样品池技术参数粒径测量原理：动态光散射法（光子相关光谱法）粒径测定范围：0.3nm ～10μm粒径测量精度：±2%（NIST 可溯源标准粒子100nm）Zeta 电位测量原理：激光多普勒电泳法Zeta 电位测量范围：-500 mV ～ +500 mV分子量测量原理：Debye plot分子量测量范围：1000 ～ 2×107 Da测量角度：90° 和173°（可自动或手动选择）样品量：12μL ～ 1000μL

气溶胶颗粒图像分析仪BST-01A是北京碧水精仪科技有限责任公司开发的一款动态气溶胶图像分析仪器。该仪器既用于气溶胶颗粒的形状，结构，外貌等形态学观察。也可用于气溶胶颗粒的荧光图像分析。气溶胶图像分析仪BS-01A采用高分辨率SCMOS模块配合高精度光学镜头，观测粒径范围0.5~1500um，可实时测量包括粒径、圆度和长径等气溶胶形态特征。工作原理 气溶胶颗粒图像分析仪BST-01A采用干法进样，启动仪器后，空气气溶胶颗粒会在仪器进样口进入内部采集模块捕捉至观察板。BST-01A中各部件经过科学设计，包含可靠的采集模块、成像装置和图像传输技术。当气溶胶颗粒吸附至观察板时，仪器可以实时获取样品的图像并即时输出样品的形态学特征。本仪器不仅可动态显示颗粒物形态学特征，也可进行气溶胶颗粒的偏光，荧光等特征观察，实现了动态和在线气溶胶颗粒图像分析。 参数粒度范围（可测量的）1-1000μm 像素:800万 尺寸:260mm x 180mm x 160mm（长x宽x高）重量:3kg电源电压:12V能耗:8W储存温度范围:-40°C 至 +50°C使用温度范围:-10°C 至 +60°C湿度:10% 至80% USB接口: USB 3.0接口操作系统:Windows 7(32/64位) 或 Windows 10(64位) 性能特点1，体积小安装方便操作简单，常规操作期间无需用户对焦或校准。2，软件界面设计直观简便，提供图像捕获和尺寸测量。可选择手动或按照事件自动保存图像和结果。3，设计为全天候监测，使用期间仅需基本的维护。故而在常规运行期间不再需要另外的清洁。

NS-90Z Plus纳米粒度及电位分析仪产品介绍：NS-90Z Plus纳米粒度及电位分析仪是珠海欧美克仪器有限公司在成功引进和吸收马尔文帕纳科 (Malvern Panalytical)纳米颗粒表征技术后，在上一代NS-90Z的基础上进一步优化了光学电子测量技术和分析性能的一款新产品。NS-90Z Plus具有更优越的粒度和电位分析功能，能满足广大纳米材料、制剂开发和生产用户的颗粒粒度和Zeta电位的测试需求。NS-90Z Plus纳米粒度及电位分析仪采用动态光散射技术测量粒子和颗粒的粒度，采用电泳光散射技术测定颗粒Zeta电位和电位分布，同时兼有静态光散射技术用于测定蛋白质与聚合物等的分子量。NS-90Z Plus融合马尔文帕纳科恒流模式下的M3-PALS快慢场混合相位检测分析技术，提升了仪器的电位分析性能，升级了兼容多种样品池 (选配) 功能，可分析样品浓度和粒度范围也得到了明显提升。与此同时，仪器广泛采用全球化供应链的优质光电部件及Scrum软件迭代升级开发模式，使其具有高品质并能随用户需求变化升级管理和报表功能。进口雪崩式光电二极管(APD)检测器、He-Ne气体激光器光源和高性能相关器等优质硬件，加上精确的内部温控装置、密闭光纤光路设计以及先进的软件算法，共同保障了数据的高重现性、准确性和灵敏度。NS-90Z Plus支持SOP标准化操作，具有兼容CFDA GMP《计算机化系统和确认与验证》要求的审计、权限管理及电子签名功能以及具有测试数据质量智能反馈和优化建议，方便用户使用。工作原理：NS-90Z Plus纳米粒度及电位分析仪在一种紧凑型仪器中集成了三种测试技术：动态光散射技术NS-90Z Plus 纳米粒度及电位分析仪使用经典的90°角动态光散射(Dynamic Light Scattering/DLS)技术来测量粒子和颗粒的粒度。该技术利用光电检测器测量样品中粒子由布朗运动所产生的散射光强涨落信号，通过数字相关器计算得到相关函数(Correlation Function)以分析颗粒的扩散速率，再以斯托克斯-爱因斯坦(Stokes-Einstein)方程计算出颗粒的粒径与分布。本技术所测量的粒径为流体动力学等效直径，通过相同扩散速率的硬球进行等效直径计算而得。动态光散射法也称为光子相关光谱法(Photon Correlation Spectroscopy/PCS)。NS-90Z Plus动态光散射光路图电泳光散射技术 NS-90Z Plus使用电泳光散射(Electrophoretic Light Scattering/ELS)技术测量颗粒滑移层的Zeta电位。颗粒在人为施加的电场作用下做电泳运动，其电泳运动速率和Zeta电位直接相关，以亨利方程进行表述。NS-90Z Plus使用恒流模式下的快慢场混合激光多普勒相位分析法(Mixed mode measurement, phase analysis light scattering/M3-PALS)，成功解决了毛细管电渗对测试的影响，并且在一次测试过程中同时得到Zeta电位平均值和电位分布曲线。电泳光散射技术可测量最大粒径至100μm左右的样品的Zeta电位 (取决于样品属性及制备) 。Zeta电位的概念图NS-90Z Plus电泳光散射光路图静态光散射技术 NS-90Z Plus纳米粒度及电位分析仪使用静态光散射(Static Light Scattering/SLS) 技术以非侵入式表征溶液及胶体中的蛋白质单体、聚集体或聚合物等粒子的摩尔质量，即分子量。在德拜法分子量计算的描述中，粒子产生的散射光强度正比于重均分子量的平方以及粒子浓度。通过使用德拜法测量一组浓度梯度的样品静态散射光强度，可以计算蛋白质与聚合物的分子量。与动态光散射技术不同的是，静态光散射技术是测量一段时间内散射光的平均强度。分子量单位为 Da(Dalton) 或g/mol。NS-90Z Plus静态光散射德拜图法分析纳米粒子分子量用途： NS-90Z Plus纳米粒度及电位分析仪是一款高性价比的纳米颗粒粒径和纳微米颗粒Zeta电位的表征仪器，适用于对粒度和电位分布表征有较高灵敏度需求的材料分析，以及需要与使用90散射角粒径测试系统结果相同的应用。该仪器适用于对分子、蛋白质、聚合物、胶体、乳液、悬浮液及各种复杂配方制剂体系等样品的测试分析。典型应用：&bull 胶体和乳液表征&bull 药物分散体系、乳液和疫苗等制剂配方和工艺开发&bull 脂质体和囊泡的开发&bull 蛋白质及其聚集体的评价&bull 电极浆料及助剂的粒径、分散和稳定性表征&bull 涂覆材料分散性能预测&bull 纳米金等高电导率溶胶的改性&bull 墨水、碳粉、染料和颜料性能改进&bull 优化水处理中絮凝剂的使用&bull 胶体、乳液、浆料稳定性评价&bull 确定多种复杂制剂的混合、均质等加工工艺参数性能特点：【先进的高信噪比光学设计】 NS-90Z Plus纳米粒度及电位分析仪在一台紧凑仪器中集成了电泳光散射、动态光散射和静态光散射三种光学原理技术。通过优化的光学设计、光纤光路传输设计及高性能光源、信号采集和处理硬件，提高了散射光信号识别能力并减少了杂散光干扰，确保了仪器测试结果的高准确性、灵敏度和重现性，拓展了适宜的样品测试范围。动态光散射粒径测量示意图【易使用、免维护的系统设计】 NS-90Z Plus采用密闭式光路设计防止污染，日常使用主机无需维护。采用可替换的多种类可选的比色皿样品池，使用简便，可同时制备多个样品依次检测，效率更高。亦可清洗样品池重复使用，无需复杂的仪器或探测装置的维护。比色皿样品池【高光学性能、稳定且长寿命的气体激光光源】 采用进口高稳定He-Ne气体激光器确保数据的重现性，波长632.8nm，功率4mW。He-Ne气体激光器的光束发散角、单色性、温度电压波动稳定性、相干性皆远优于半导体固体激光器。NS-90Z Plus所使用的气体激光管采用硬封装工艺确保激光管中氦氖气体惰性工作物质终身无损失，激光管寿命达到10年以上，且在生命周期内其光学品质几乎没有变化，确保了测试数据始终可信，且无需用户校准。由于He-Ne气体激光器相干性能显著优于半导体固体激光器，仅需较低的功率即可产生满足测量需求的散射光信号，同时具有更低的杂散光噪声使样品分析灵敏度更高。仪器可在330000:1的动态范围内通过衰减器自适应调节激光强度。【报告可自定义多种参数输出】 NS-90Z Plus具有完备的纳米粒度和Zeta电位分析功能。可以输出Z平均直径、多分散指数PI、各粒径分布峰的峰值粒径和含量等参数，同时可输出体积和数量分布 (使用全范围米氏理论(Mie Theory)计算) 。可输出Zeta电位、电位分布等参数。可自定义报告【高性能检测器】 使用高量子效率(QE)的雪崩式光电二极管(APD)检测器，QE≥80%@632.8nm，灵敏度远高于光电倍增管(PMT)且噪音更低。高成本的优质APD部件保障了仪器卓越的测试性能。APD性能图【研究级数字相关器】 使用高速数字相关器，多于4000通道， 1011动态线性范围，最短采样时间间隔可低至25ns，结合先进的相关算法，最短子测量时间可缩短至1.68s。典型相关曲线示意图【精确的内部控温系统】 独立的帕尔贴循环温控装置可在0-120℃范围内任意设定，升温降温速度快，控制精度最高可达0.1℃，保障测试结果高重现性。【恒流模式的M3-PALS快慢场混合相位检测技术】 NS-90Z Plus融合马尔文帕纳科的M3-PALS技术除了可消除电渗影响外，新升级的恒流模式下还实现了更高电导率样品测试的可能。恒流模式能有效缓解电极极化的影响，与可切换的高频、低频混合分析模式一起，使得结果重现性更好，准确性更高，且可获得电位分布的信息。相比上一代产品，NS-90Z Plus能满足具有更高电导率的样品的Zeta电位和电泳迁移率测试，同时可以提高电位样品池的使用次数。快慢场混合相位检测Zeta电位分布、相位、频移及电压和电流图【升级的专家指导功能提升测试水平】 NS-90Z Plus测试后会在数据质量指南模块下自动生成智能化专家指导意见，为如何进一步优化测试或样品处理提供可行方案建议。该技术可以同时协助用户快速判读更准确的粒度、Zeta电位和电位分布结果，有利于减少测试数据的错误，及时发现和改善因方法或环境发生变化而引起的测试质量变化。数据质量指南【具有符合CFDA GMP《计算机化系统和确认与验证》要求的审计、权限管理与电子签名等功能】用户权限配置和管理功能示意图审计追踪功能示意图【功能丰富的软件优化用户体验】 提供标准化操作程序(SOP)简化常规测量；自动配置各种样品的最佳硬件和算法设置，亦可手动设置；操作简单，无须准直、校正或额外保养；智能化，可自动判断数据报告的质量并给出优化建议。1. 使用先进SCRUM软件迭代 开发模式，基于当前主流软件开发技术的新颖界面设计，操作简单易用，可根据行业应用和法规变化不断升级软件以与之匹配。2. 全自动硬件设置和测量：只需最简单的培训即可设置仪器，包括样品池位置、数据记录、分析和结果显示。电位测试的设置界面（部分）及分析模型选择示意图3. 支持SOP标准化操作程序，避免了测试操作和参数设置的不一致，从而提高数据的重现性。 SOP标准化操作程序4. 智能化测量数据的系统评估：仪器分析软件可根据测试条件和结果自动智能判断数据报告的质量，并针对质量不佳的测试给出改善建议。包含测试报告的质量评价、问题产生的原因、如何使用这些数据、如何改进这些数据等等。5. 打印或屏幕显示报告使用简单；含报表设计器，只需在指定的位置选择所需的结果图表，就可根据不同的需要定制不同的报告。自定义报表功能演示6. 样品数据和结果存储在测量文件中，方便进行数据的比较。7. 数据分析：数据以图形或表格的形式呈现且可一键导出；多种分析模式可供选择，以适合包括单分散样品、宽分布样品在内的多种样品测试；具有多种数据分类、分组、排序、筛选、统计和趋势分析功能。Z-均粒径值趋势图8. 具有完善的介质粘度数据库，并可根据给定的温度自动计算常见缓冲体系的粘度。介质粘度数据库典型测试结果：1. NS-90Z Plus良好的重现性——60nm标号乳胶微球标样 (Thermal，标称值：62±3nm)2. NS-90Z Plus提升了粒径上限分析性能——10μm标号标样的测试**：采用微毛细管样品池进行粒度分析。3. NS-90Z Plus卓越的分辨力——60nm、200nm双标样混合样品4. NS-90Z Plus电位和电位分布的测量——ZTS1240电位标样 可用于粒径测试 可用于Zeta电位测试 可用于分子量测试标配附件：12mm方形聚苯乙烯样品池(DTS0012) 可替换型，无污染最少样品量1mL适用于水或乙醇作为分散介质的粒度测试可搭配可选的通用“插入式”样品池套件(ZEN1002)用于Zeta电位测试折叠毛细管样品池(DTS1070)可替换型，无污染使用扩散障碍法时，可实现最少样品量20μL的测试适用于水或乙醇作为分散介质的Zeta电位测试可使用标准化的微量无渗鲁尔接头，搭配MPT-3自动滴定仪(ZSU1001)使用恒流模式下可用于测试数百次低电导率样品12mm方形玻璃样品池(PCS8501) 最少样品量1mL玻璃材质，适用于绝大多数水性或非水性溶剂或介质的测试可选配附件：微毛细管样品池(ZSU1002)由样品池基座和可替换型方形微毛细管组成最少样品量3μL可更准确地测试1μm以上的颗粒粒径测量上限最高可拓展至15μm通用“插入式”样品池套件(ZEN1002)最少样品量0.7mL可搭配12mm方形聚苯乙烯样品池(DTS0012)用于水性样品的测试可搭配12mm玻璃样品池(PCS1115)用于水性或非水性样品的测试便于多样品同时制样，加快测试流程高浓度Zeta电位样品池套件(ZEN1010)适用于无法稀释或高浓度的水性样品的测试可搭配MPT-3自动滴定仪(ZSU1001)使用技术参数：【粒径】1. 测量范围*：0.3nm - 10μm (取决于样品)2. 测量原理：动态光散射法(DLS)3. 重复性误差：≤ 1% (NIST可追溯胶乳标样)4. 最小样品容积*：20µ L5. 最小样品浓度：≤ 1mg/mL (取决于样品)6. 最高样品浓度：40% w/v (取决于样品)7. 最小子测试时间：1.68s【分子量】8. 分子量测量范围： 980 - 2×107 Da (取决于样品)，静态光散射德拜法342 - 2×107 Da (取决于样品)， 动态光散射计算【Zeta电位】9. Zeta 电位范围：无实际限制10. 适用测试的粒径上限：不小于100μm (取决于样品)11. 最大电泳速率：＞+20μ.cm/V.s / ＜-20μ.cm/V.s12. 测量原理：电泳光散射法(ELS)13. 最高样品浓度：40% w/v (取决于样品)14. 最小样品容积：20μL15. 最高样品电导率：260mS/cm16. 检测技术：快慢场混合模式相位分析(M3-PALS)，恒流模式【系统】17. 激光光源：高稳定He-Ne气体 激光器，波长632.8nm，功率 4mW。18. 整机激光安全：I类19. 检测角度： 90，1320. 检测器：雪崩式光电二极管(APD)检测器，QE80%@632.8nm21. 相关器：采样时间 25ns - 8000s，多于4000通道，1011动态线性范围22. 冷凝控制：干燥氮气或空气吹扫 (需外接气源)23. 温度控制范围：0 - 120 ℃24. 温度控制最高精度：± 0.1 ℃25. 具有兼容CFDA GMP《计算机化系统和确认与验证》的审计、权限管理及电子签名功能【重量与尺寸】26. 主机尺寸：322×565×245 mm (W×D×H)27. 主机净重：19 kg【运行环境】28. 电源要求： AC 100 - 240V, 50 - 60Hz，4.0A29. 功率：最大值100W，典型值45W30. 推荐计算机最低配置： Intel Core i5 2.5Ghz及以上，4GB内存，250G硬盘，显示分辨率1440×900 32bit及以上31. 计算机接口： USB 2.0或更高32. 推荐操作系统： Windows 10或Windows 11专业版33. 环境要求：温度10 - 35℃，湿度：35 - 80%， 无冷凝*可选微毛细管样品池扩展粒度分析上限至15μm的样品，最小样品量仅需3μL.**尽管我们已竭力确保本材料中信息的正确性和完整性，仍保留随时更改本材料中任何内容的权利。

美国MAS超声粒度仪超声电位分析仪产品特点：1)采用专门的电动声波振荡技术，该仪器可完成非凡的电动测量结果，从而避免了传统的微电泳技术的许多限制和局限。2)提供数据快速准确而不需要稀释样品，从而避免了稀释器材的使用和错误(样品稀释，Zeta电位将彻底改变) 3)该仪器可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标。样品在测量时甚至可以进行滴定操作；4)坚固的、多功能的、镀金的Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中；5)自动滴定法用于简单的IEP测量；6)样品可被强烈搅拌或混合，因此不会产生沉淀物；7)高频电场采用非常短的脉冲，因此样品测量时不会产生错误；8)可实时测量实际样品；9)不使用光学技术，因此可以在任何pH值下分析固体、不透明或半透明样品；10)可测量水溶液、非水溶液分散系，分散系浓度范围从0.1% ~60%。非常轻松就可测量1nm到50um的样品颗粒；11)该仪器操作非常简单。它提供电脑控制、自动测量，不须特别的样品池，样品可随时从任何现场或实验中获取，可直接实时获得理想的数据美国MAS超声粒度仪超声电位分析仪技术参数：1)测量样品不需要稀释或样品准备，从而消除了操作失误和数据的不确定性，同时节省了时间；2)物有所值的谐振硬件设计；3)宽粒径测量范围：从1nm到30um；4)自动电位和容积测量用于简单快速的等电位（IEP）测定、表面活性剂的吸附效果和许多其他动态测定；5)由于机载样品混合和/或测量时的泵送能力，没有粒子沉降的不利影响；6)Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中，测量精确、重复性好，方便使用；7)可测量高粘度的样品，样品浓度可从0.1%到60%；8)可在0-14的pH值范围内进行测定；9)可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标；10)小样品容量10ml，没有大容量限制；11)微软支持的软件界面，带强大的数据管理功能；12)12个月的保质期和免费的技术咨询

Omni多角度粒度与高灵敏度Zeta电位分析仪 产品简介： Omni多角度粒度与高灵敏度Zeta电位分析仪完美结合了背向光散射技术与传统动态光散射技术以及硬件PALS（Phase Analysis Scattering，相位分析光散射）技术，拥有15°、90°与173°三个散射角度，突破了传统单角度光散射仪测量的局限性，硬件PALS技术彻底解决了低电泳迁移率体系Zeta电位的精确测量，是目前市场上功能最强大的粒度与Zeta电位分析仪。详细说明： 作为最先将背向光散射技术（Back-Scattering）引入高浓度粒度分析的厂家，Brookhaven公司应用全新的光纤技术将背向光散射技术与传统动态光散射技术进行了完美结合，突破性地推出了结合15°、90°与173°三个散射角度与硬件PALS（相位分析光散射）技术的Omni多角度粒与高灵敏度Zeta电位分析仪。随着Omni的出现，突破了传统单角度光散射仪测量的局限性，实现在同一台粒度分析仪中，既可以同时兼顾大、小颗粒的散射光信号，又可以有效地提高了测量浓度上限，最高可达40%wt；硬件PALS技术（与传统基于频移技术的光散射方法相比，灵敏度可提高1000倍）的应用，彻底解决了长期以来无法对诸如在低介电常数、高粘度、高盐度以及等电点附近这些测量条件下（电泳迁移率比通常水相条件下低10－1000倍，传统方法没有足够的分辨率进行测量）的样品进行分析的难题。Omni是目前市场上功能最强大的粒度与Zeta电位分析仪。NanoBrook产品系列 项目173173PlusOmniZetaPALS功 能粒度测量功能●●●○分子量测量功能●●●○Zeta电位测量功能○○●● 技 术 参 数散射角15°与173°15°、90°与173°○粒度范围0.3nm-10μm○分子量测定范围342～2×107Dalton○相关器4×522个物理通道，4×1011个线性通道○Zeta电位适用粒度范围○1nm～100μmZeta电位范围○－500mV～500mV电导率范围○0-30S/m电泳迁移率范围○10-11～10-7m2/V.s电极○开放式永久型电极系统参数温控范围与精度－5～110℃，±0.1℃激光源35mW光泵半导体激光器检测器PMT或APD分析软件Particle Solution粒度与Zeta电位分析软件大小及重量233mm（H）×427mm（W）×481mm（D），15kg选 件BI-ZTU自动滴定仪可对PH值、电导率和添加剂浓度作图BI-870介电常数仪直接测量溶剂的介电常数值BI-SV10粘度计用于测量溶剂及溶液的粘度 ●代表“有” ○代表“无”典型应用 1.蛋白、免疫球蛋白、缩氨酸、DNA、RNA、胶束2.脂质体、外切酶体及其他生物胶体3.多糖、药物制备4.纳米颗粒、聚合物胶乳、微乳液5.油包水、水包油体系6.涂料、颜料、油漆、油墨、调色剂7.食品、化妆品配方8.陶瓷、耐火材料、废水处理、炭黑 通过调整颗粒的粒径或正负电荷官能团的比例，混合电荷修饰的纳米金颗粒其等电点可以在4～7之间明显的变化，不同比例的官能团和颗粒的静电荷对动物细胞吸收度有着重大影响技术参数1.粒度测量范围：0.3nm～10μm2.Zeta电位测量适用粒度范围：1nm～100μm3.样品浓度范围：0.1ppm至40%w/v(与颗粒大小和折射率有关)4.典型精度：1％5.样品类型：蛋白、纳米粒子、聚合物及分散于水或其他溶剂中的胶体样品6.样品体积：1～3ml7.分子量测定范围：342～2×107Dalton8.Zeta电位范围：-500mV～500mV9.电导率范围：0～30S/m10.电泳迁移率范围：10-11 ～ 10-7 m2 /V.s11.电场强度：0 ～ 60 kV/m12.电极：永久性开放式电极，电极材料纯钯；耐腐蚀电极（选件）；微量电极（选件）13.温控范围与精度：-5℃～110℃，±0.1℃。14.pH测量范围：1-1415.激光源：35mW光泵半导体激光器（可选5mW He-Ne激光器）16.检测器：高灵敏雪崩型二极管（APD）17.相关器：4×522个物理通道，4×1011个线性通道，采用动态采样时间及动态延迟时间分配18.自动趋势分析：对时间、温度及其他参数19.散射角：15°、90°与173°20.室温操作情况：10°C ～ 75°C，湿度 0% ～95%, 无冷凝21.大小及重量：233mm (H) x 427 mm (W) x 481 mm (D)，15 kg22.电源：100/115/220/240 VAC, 50/60 Hz, 300 W23.计算机（选件）：商用计算机，包括WindowTM软件24.自动滴定仪（选件）：独立四泵驱动，可对pH值、电导率和添加剂浓度作图

仪器简介： 作为领先将背向光散射技术（Back-Scattering）引入高浓度粒度分析的厂家，布鲁克海文公司应用全新的光纤技术将背向光散射技术与传统动态光散射技术进行了完美结合，突破性地推出了结合13°、90°与173°三个散射角度的Omni多角度粒度及高灵敏Zeta电位分析仪，实现在同一台粒度分析仪中，即可以同时兼顾大、小颗粒的散射光信号，又可以有效地提高了测量浓度上限，可达40%w/v。此外，Omni采用全新的硬件PALS技术测量Zeta电位，与传统基于频移技术的光散射方法相比，灵敏度可提高1000倍，可适用于诸如低介电常数、 高粘度、 高盐度以及等电点附近这些测量条件下的样品测量。 技术参数： 1.粒度范围：0.3nm～15μm（与折射率，浓度，散射角有关）； 2.浓度范围：0.1ppm至40%w/v； 3.典型精度：1％； 4.样品类型：任何胶体范围大小的颗粒(悬浮于清液中)；5.样品体积：0.01～3ml，50μL微量样品池，10μL微量样品池（最新）； 6.分子量测定范围：342～2*107Dalton； 7.温控范围：-5℃～120℃,±0.1℃； 8.pH值测量范围：1-14； 9.激光源：40mW固体激光器（可选5mW He-Ne激光器）； 10.检测器：APD；11.相关器：4*1011线性通道；4通道输入；支持两路互相关； 12.自动趋势分析：对时间、温度及其他参数； 13.散射角：13°、90°与173°；14.电泳测量适用粒度范围：0.001-100μm；15.电导率范围：0-30S/m；16.电泳迁移率范围：10 -11-10 -7 m2 /V.s；17.pH测量范围：1-14； 选件： 1.微流变：检测弱结构溶液的粘弹性信息；2.表面膜电位：固体表面膜电位测量；3.实时在线测量：粒度及Zeta电位实时在线测量；4.自动滴定仪：可对PH值、电导率和添加剂浓度作图；5.介电常数仪：直接测最溶剂的介电常数值；6.粘度计：用于测量溶剂及溶液的粘度； 7.21CFR软件 符合FDA要求的21CFR part II操作模式软件和仪器材料； 主要特点： 1.高灵敏性，粒度测量范围：0.3nm～15μm； 2.突破性的三检测角度设计，测量角度：15°、90°和173°；3.硬件PALS技术，灵敏度高1000倍，适用于高盐浓度、有机溶剂、油相体系； 4.浓度范围：0.1ppm至40%w/v； 5.可作为在线检测器与GPC/SEC连接，并通过SLS、DLS、光强和粒径监测聚集过程； 5.综合全新的粒度分析方法和模型Particle Solution 粒度测量软件； 6.强大的数据分析功能，可自动研究粒度随时间、温度(蛋白熔点)以及其他参数变化的趋势分析. 典型应用：1.蛋白、缩氨酸、胶束、多糖、药物制备、脂质体、外切酶体；2.聚合物胶乳、微乳液、油包水、水包油体系；3.涂料、颜料、油漆、食品、化妆品配方；4.陶瓷、耐火材料、炭黑、废水处理。

SZ901纳米粒度及Zeta电位分析仪产品介绍： SZ901纳米粒度及Zeta电位分析仪是在SZ900基础上基于多年的科研成果开发的新一代纳米粒度和Zeta电位分析系统，采用动态光散射(DLS)和电泳光散射(ELS)原理分别进行纳米粒度测量和Zeta电位分析，被广泛应用于有机或无机纳米颗粒、乳液、高分子聚合物、胶束、病毒抗体及蛋白质等样品的颗粒表征及样品体系稳定性及颗粒团聚倾向性的检测和分析。 SZ901的性能和主要特点包括：◆经典90°动态光散射技术测量粒径，测量范围覆盖0.3nm – 15μm◆激光多普勒电泳技术用于Zeta电位分析，可预知分散体系的稳定性及颗粒团聚的倾向性◆加持自动恒温技术的功率可达50mW, 波长638nm的固体激光光源，仪器即开即用◆激光光源与照明光及参考光的一体化及光纤分束技术◆ 信号光与参考光的光纤合束及干涉技术◆ 集成光纤技术的高灵敏度和极低暗电流(20cps)的光子检测器◆ 常规温度控制范围可达0°C - 90°C, 可选120°C, 精度±0.1°C◆新一代高速数字相关器，动态范围大于10¹ ¹ ◆冷凝控制–干燥气体吹扫技术技术指标：测量原理动态光散射（DLS）、静态光散射（SLS）、电泳光散射（ELS）粒径测量角度90°粒径测量范围0.3nm -15μm*粒径度优于±1% （平均粒径，NIST可溯源标准样品）粒径重复性优于±1% （平均粒径，NIST可溯源标准样品）粒径测量小样品浓度0.1mg/ml粒径测量小样品量3ul*Zeta电位测量范围-600mV - +600mV电导率270mS/cm适用Zeta电位测量的粒径3nm – 100μm*电导率度±10%分子量范围340Da-2 x 107Da温度控制范围0°C - 90°C (120°C可选)温度控制精度±0.1°C光源集成恒温系统及光纤耦合的功率50mW, 波长638nm固体激光器相关器高速数字相关器，自适应通道配置检测器高灵敏度APD系统重量17kg外形尺寸365mm x 475mm x 180mm（LxWxH）

PCA粒子电荷分析仪|颗粒电荷分析仪|Particle Charge Analyzer PCA颗粒电荷分析仪基于流动电流（Streaming Current）测量技术，可以快速精确地测量水溶液样品里的离子和胶体电荷。PCA可以快速确定电荷需求量和最佳化学品添加量。仪器可以直接显示样品的极性和电荷（流动电荷值），常用于水处理和工业过程控制。颗粒电荷分析仪应用行业造纸 化工水处理 医药饮料 陶瓷涂料 酿酒颗粒电荷分析仪优势※ 确定Z佳的化学品用量※ 评估添加剂的性能※ 优化工艺性能※ 质量控制※ 减少化学品的成本颗粒电荷分析仪技术参数型号： PCA测量原理： 流动电流电源： 110 / 230VAC测量范围： -1000 ~ +1000mV显示方式： 数字LED样品体积： 10 - 100ml输出连接： BNC接头响应时间： 1秒诊断： 传感器LEDCell材质： 聚四氟乙烯输出： -1000 ~ +1000mV控制： 灵敏度增益自动滴定： 可选外置自动滴定仪重量： 4.5Kg尺寸（mm）：380Hx178Wx178D颗粒电荷分析仪测量原理流动电流测量室（SC Cell）决定样品电荷和滴定终点。测量室包括一个高精度气缸和2个电极（一个在底部，一个在上面）。电极连接到仪器外壳延伸的前端部分。测量室允许样品从顶端注入，标准样品体积是100ml。聚合电解质（聚合物）或絮凝剂作为滴定标准液，胶体颗粒会暂时吸附在活塞和测量室壁上。通过电机的驱动，精密的活塞在气缸内以大约4Hz的频率上下移动，产生强的液流，这时电解质的抗衡离子（即反离子）会在两个电极间产生电流，然后通过整流和放大，使得具有极性的流动电流直接显示在仪器显示屏上。 更多PCA颗粒电荷分析仪详细产品资料，请来电咨询！

HORIBA SZ-100系列纳米颗粒分析仪在描述小颗粒物理性质方面是灵活的分析工具。根据不同的配置和应用程序可以完成颗粒度的分析，zeta电位的检测，分子量（Mw）以及第二维利系数（A2）的测定。SZ-100的典型应用包括：纳米颗粒，胶体，乳液以及亚微米悬浮液。 颗粒分析仪采用动态光散射原理（DLS）。根据样品的物理性质，动态测量范围为0.3 nm &ndash 8 µ m。检测范围的下限受到以下因素的影响：样品浓度、样品对光的散射强度以及大的杂质颗粒的存在。检测上限受样品浓度影响，因为DLS原理是颗粒的布朗运动而不是重力沉降。SZ-100以颗粒表面电荷特性来检测悬浮液的zeta电位。将样品注入一次性样品池，通过颗粒电泳迁移率的结果计算zeta电位。 zeta电位通常是样品分散稳定性的一个指标。Zeta电位的数值较大表明颗粒带电较多，斥力较大，较难发生团聚，溶液保持稳定。通常根据pH值或其他化学参数的改变检测zeta电位以便于设计可长时间保存的产品。相反地，发现zeta电位为零时（就是说，样品处于等电点），就要考虑选择最佳条件将颗粒进行絮凝和分离。SZ-100还可以用于检测蛋白质、聚合物及其他大分子的分子量和第二维利系数。用户准备几个已知浓度的溶液，然后使用系统的静态光散射模式绘制Debye曲线，从而计算出Mw和A2。特征将粒度、zeta电位、分子量及第二维利系数的检测集于一身宽检测范围，宽浓度范围双光路双角度粒径测量（90° 和173° ）多重粒径测量模式用于小颗粒和微弱散射光用于粒径和zeta电位检测的微量样品池自动滴定仪：可用于zeta电位测量过程中pH值的自动滴定

zeta-aps原液高浓度纳米粒度仪-zeta电位分析仪美国MAS（Mass Applied Sciences）公司成立至今有30余年历史，是一家专注于超声电声法原理粒度及Zeta电位分析仪的研发和生产型企业。 公司研发的纳米粒度及Zeta电位仪系列产品，完美的解决了目前市面上光学方法无法克服的纳米粒度检测难题，如光学方法必须要对样品进行稀释 后测试其粒径和zeta电位以及对于复杂体系无法给出真实的粒度分布等 。产品特点：1)采用专门的电动声波振荡技术，该仪器可完成非凡的电动测量结果，从而避免了传统的微电泳技术的许多限制和局限。2)提供数据快速准确而不需要稀释样品，从而避免了稀释器材的使用和错误(样品稀释，Zeta电位将彻底改变) 3)该仪器可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标。样品在测量时甚至可以进行滴定操作；4)坚固的、多功能的、镀金的Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中；5)自动滴定法用于简单的IEP测量；6)样品可被强烈搅拌或混合，因此不会产生沉淀物；7)高频电场采用非常短的脉冲，因此样品测量时不会产生错误；8)可实时测量实际样品；9)不使用光学技术，因此可以在任何pH值下分析固体、不透明或半透明样品；10)可测量水溶液、非水溶液分散系，分散系浓度范围从0.1% ~60%。非常轻松就可测量1nm到50um的样品颗粒；11)该仪器操作非常简单。它提供电脑控制、自动测量，不须特别的样品池，样品可随时从任何现场或实验中获取，可直接实时获得理想的数据美国MAS Zeta电位分析仪技术参数：1)测量样品不需要稀释或样品准备，从而消除了操作失误和数据的不确定性，同时节省了时间；2)物有所值的谐振硬件设计；3)宽粒径测量范围：从1nm到30um；4)自动电位和容积测量用于简单快速的等电位（IEP）测定、表面活性剂的吸附效果和许多其他动态测定；5)由于机载样品混合和/或测量时的泵送能力，没有粒子沉降的不利影响；6)Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中，测量精确、重复性好，方便使用；7)可测量高粘度的样品，样品浓度可从0.1%到60%；8)可在0-14的pH值范围内进行测定；9)可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标；10)最小样品容量10ml，没有较大容量限制；11)微软支持的软件界面，带强大的数据管理功能；12)12个月的保质期和免费的技术咨询

zeta-aps原液高浓度纳米粒度仪-zeta电位分析仪美国MAS（Mass Applied Sciences）公司成立至今有30余年历史，是一家专注于超声电声法原理粒度及Zeta电位分析仪的研发和生产型企业。 公司研发的纳米粒度及Zeta电位仪系列产品，完美的解决了目前市面上光学方法无法克服的纳米粒度检测难题，如光学方法必须要对样品进行稀释 后测试其粒径和zeta电位以及对于复杂体系无法给出真实的粒度分布等 。产品特点：1)采用专门的电动声波振荡技术，该仪器可完成非凡的电动测量结果，从而避免了传统的微电泳技术的许多限制和局限。2)提供数据快速准确而不需要稀释样品，从而避免了稀释器材的使用和错误(样品稀释，Zeta电位将彻底改变) 3)该仪器可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标。样品在测量时甚至可以进行滴定操作；4)坚固的、多功能的、镀金的Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中；5)自动滴定法用于简单的IEP测量；6)样品可被强烈搅拌或混合，因此不会产生沉淀物；7)高频电场采用非常短的脉冲，因此样品测量时不会产生错误；8)可实时测量实际样品；9)不使用光学技术，因此可以在任何pH值下分析固体、不透明或半透明样品；10)可测量水溶液、非水溶液分散系，分散系浓度范围从0.1% ~60%。非常轻松就可测量1nm到50um的样品颗粒；11)该仪器操作非常简单。它提供电脑控制、自动测量，不须特别的样品池，样品可随时从任何现场或实验中获取，可直接实时获得理想的数据美国MAS Zeta电位分析仪技术参数：1)测量样品不需要稀释或样品准备，从而消除了操作失误和数据的不确定性，同时节省了时间；2)物有所值的谐振硬件设计；3)宽粒径测量范围：从1nm到30um；4)自动电位和容积测量用于简单快速的等电位（IEP）测定、表面活性剂的吸附效果和许多其他动态测定；5)由于机载样品混合和/或测量时的泵送能力，没有粒子沉降的不利影响；6)Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中，测量精确、重复性好，方便使用；7)可测量高粘度的样品，样品浓度可从0.1%到60%；8)可在0-14的pH值范围内进行测定；9)可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标；10)最小样品容量10ml，没有较大容量限制；11)微软支持的软件界面，带强大的数据管理功能；12)12个月的保质期和免费的技术咨询

仪器简介：德国Fritsch公司是实验室样品预处理（研磨机、破碎机）和颗粒度分析（粒度仪）的专家。新的动态颗粒图像分析仪Analysette 28借助于500万像素的工业级双向远心镜头以及强大的分析软件，可快速对待测颗粒进行粒形分析，广泛应用于质量控制、研发部门以及实验室，可替换筛分分析。应用领域：玻璃、陶瓷、碳素制品、催化剂、食品、金属粉末、药剂、肥料等。 技术参数1. 分析方法：动态图像分析。2. 测试类型：干法测试流体粉末及粗糙颗粒。3. 测量范围：20μm-20mm。4. 测量时间：＜5min。5. 典型测试样品量：10-100g6. 测量值：颗粒粒形及粒度。7. 4种远心镜头：150μm-20mm、52μm-6.7mm、28μm-3.5mm、20μm-2.7mm。8. 软件：采用FRITSCH ISS控制软件，用于控制，记录和评估测量结果9. 符合国际ISO13322-2标准10. 外形尺寸（W x D x H）：90 x 30 x 50 cm 主要特点1. 动态颗粒图像分析仪Analysette 28配有500万双向远心高性能镜头，可快速有效的进行粒径分析，可替代传统的筛分设备。2. U-型自动进样槽确保了进样速度，自动检测功能可显示颗粒浓度及自动进样器的进样速度。3. 镜头自动拍照并保存颗粒图片，每秒钟可得30张。4. 宽的测试量程20μm-20mm，可单独调节。5. 通过SOP控制软件进行简单、快速操作。6. 根据需求个性化定制测试报告。7. 对颗粒粒形及粒径进行可视化分析，破损颗粒、团聚颗粒及过大或过小的颗粒都可快速准确的识别出。8. FRITSCH云技术，可直观的对颗粒进行形态分析。

公司概况 法国CORDOUAN 技术公司成立于2007年，致力于纳米颗粒复合介质的尺寸表征。经过短短四年时间，CORDOUAN已成为N3（纳米粒子，纳米材料，纳米技术）的全球参考，为纳米颗粒和纳米材料的表面特征提供创新解决案。 CORDOUAN为客户提供的颗粒度，屈光计，电泳，电子显微镜和样品制备仪和器配件解决方案的连贯和广泛的产品组合。法国CORDOUAN仪器广发应用于：合成的聚合物和官能化的金属纳米颗粒、 原油萃取，改善化妆品凝胶的质量的，胶体形式的特殊油墨，生物学研究和细胞分析等的开发。 产品简介 高分辨纳米粒度和zeta电位分析仪Amerigo 是创新型纳米粒度Zeta电位分析系统，通过远程光学探头，进行原位在线测量和反应动力学，用于监测纳米颗粒的合成、团聚或悬浮液稳定性的研究或监测。动态光散射（DLS）和激光多普勒电泳（LDE） 技术，可提供高分辨率，准确和快速的粒度、ZETA电位测 以及远程原位测量。 工作原理 高分辨纳米粒度和zeta电位分析仪Amerigo是基于增强型动态光散射（DLS）技术的纳米级悬浮和胶体特性的独特表征仪器。Zeta电位部分是基于重新审视的现代版激光多普勒电泳 （LDE）技术，提供独特且无与伦比的测量分辨率。它是CORDOUAN的粒度分析仪VASCO的补充，用于研究胶体溶液的稳定性质。 技术创新 高分辨纳米粒度和zeta电位分析仪Amerigo独特的样品池，双厚度控制系统，可实现精确测量，通过远程光学探头，进行原位非接触测量和反应动力学，用于监测纳米颗粒的合成、团聚或悬浮液稳定性的研究或监测。 ● 二氧化硅棱镜制成的嵌入式样品池 ● 独特的双厚度控制器系统 ● 直接测量原油等深色/浓缩样品，不需要稀释。 性能参数 ● 粒径范围：0.5nm-10μm ● zeta电位范围：±500mV ● 结合Wallis和Vasco Kin的功能，具有高分辨测量能力 ● 非接触远程测量纳米粒度的动力学分析 ● zeta电位的可编程动力学实验（zeta 对 温度/pH/时间） ● 动态时间切片功能，可进行数据后处理 ● 可选高浓度Flex探头 典型案例 应用范围 ◆ 纳米颗粒的合成和功能研究 ◆ 药物输送系统优化 ◆ 制造过程中的质量控制 ◆ 电泳物理学的基础研究 ◆ 化妆品和工业乳液稳定性研究 ◆ 纳米颗粒制备和合成工艺优化 ◆ 先进的胶体稳定性分析和优化 ◆ 油墨/颜料的分散性和聚合物的表征

简单介绍： ZetaPlus是简单、方便而且准确的电泳迁移率测量仪器，其独特的开放式样品槽设计与频谱漂移分析技术相结合，使其具有极高的分辨率，足以分辨等电点附近的多峰电泳分布情况。它的革新之处是从根本上消除了传统Zeta电位测量仪器中固有的电渗误差的影响，从而使测量变得准确而方便。详细说明：NanoBrook产品系列项目90Plus90Plus ZetaZetaPlus功能粒度测量功能●●○分子量测量功能●●○Zeta电位测量功能○●●技术参数粒度测量范围0.3nm-6μm○分子量测定范围342～2×107Dalton○散射角15°与90°○相关器4×522个物理通道，4×1011个线性通道○适用粒度范围○1nm～100μmZeta电位测量范围○－500mV～500mV电导率范围○0-20S/m电泳迁移率范围○10-10～10-7m2/V.s电极○开放式永久型电极系统参数温控范围与精度－5～110℃，±0.1℃激光源35mW固体激光器检测器PMT或APD分析软件Particle Solution粒度与Zeta电位分析软件大小及重量233mm（H）×427mm（W）×481mm（D），15kg选件BI-ZTU自动滴定仪可对PH值、电导率和添加剂浓度作图BI-870介电常数仪直接测量溶剂的介电常数值BI-SV10粘度计用于测量溶剂及溶液的粘度●代表“有” ○代表“无”工作原理ZetaPlus采用的是电泳光散射原理：带电颗粒在外加电场作用下进行运动，电荷运动使散射光产生频率漂移（多普勒频移）,采用频谱漂移分析技术,从而可计算出颗粒的电泳迁移率和Zeta电位。典型应用1.脂质体、生物胶体、医药2.陶瓷、胶乳、乳剂（食品、化妆品）3.颜料、油墨、炭黑技术参数1.Zeta电位部分：1）Zeta电位测量适用粒度范围：0.001-100μm2）样品体积：0.18～1.5ml3）pH值测量范围：1-144）电导率范围：0-20 S/m5）电泳迁移率范围：10-10～10-7m2 /V.s6）温度控制：-5～110℃, ±0.1℃7）电场强度：0～3.2 kV/m8）电极：永久性开放式电极，电极材料纯钯2.粒度及分子量测量部分：1）粒度范围：0.3nm～6μm（与折射率，浓度，散射角有关）2）典型精度：1％3）样品类型：任何胶体范围大小的颗粒（悬浮于清液中）4）样品体积：1～3ml5）分子量测定范围：1×103～2×1076）激光源：35mW固体激光器（可选5mW He-Ne激光器）7）检测器：PMT或APD8）相关器：1011线性通道；动态可变采样时间、延迟时间、通道分配等技术；4通道输入；支持两路互相关。