射线能量分析光谱仪

能量色散X射线荧光光谱仪主要用途包括两个方面，元素成分定性及定量分析、涂覆层厚度分析。 ELIO是一款紧凑式的便携式能量色散X射线荧光光谱仪，针对一些珍贵的材质，可进行非接触式和无损性的元素分析。ELIO利用CUBE技术可获得准确的元素分布图，实现测量点的准确定位，拥有直观的硬件和分析软件，加快了XRF分析仪器的现代化进程。 1、ELIO设计简单精美，具有1毫米的激光定位分析点，内置相机和新型电子元件 2、测量头安装在带有两个电动平台的三脚架上，完成元素分布图的采集 3、设计狭窄的鼻部能够进入测量点 4、ELIO基于激发强度大，样品台可以快速移动的设计，从而检测速度fei常快，此外，控制软件还可进一步优化采集时间 5、采用先进CUBE技术的大面积硅漂移探测器（SDD） 6、采用先进的探测器技术，能量分辨率140eV（MnKα），并具有高输出计数率（OCR），可实现快速分析，同时保持能量分辨率 7、高电压50kV的X射线激发源与近距离检测的几何结构，可在数秒内实现非接触式检测 8、灵活更换X射线管阳，滤波片和准直器，为不同领域的应用提供更加优化的检测条件。 能量色散X射线荧光光谱仪携带便携 1、测量头安装在紧凑轻量的铝质三脚架上，使ELIOfei常适合移动使用 2、测量头的总重量为2.1千克 3、样本大小如何，三脚架上的ELIO都可以轻松地对其元素进行检测 4、多种三脚架可供选择，满足不同的用户要求 5、可选的电动XY平台，完成现场便携式的元素分布绘图 6、文物遗产研究---ELIO可以对考古研究，艺术 鉴定和保护的物体进行原位扫描，使用户免于运输，避免样品收到损害。 一、地质科学 分析大型钻芯部分或其他矿物样品，拥有先进的元素分布图和光谱解析功能，可帮助科学家了解岩土材料中元素含量以及分布信息。 二、材料科学 针对一些先进材料，可以通过移动扫描获得元素分布，从而扩展了这些材料的应用，从空间科学走向消费产品。 三、食品科学 植物中的元素分布图可以准确识别营养物富集的位置，直观地展示加工食品中强化剂的分布。 四、科学教育和研究 可作为教学和研究工具来分析田野，教室或实验室中的物体和材料.

仪器简介：EDX-LE是一款专用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 配备无需液氮型电子制冷（Si-PIN检测器）检测器，因此在实现降低运作成本和更易维护的同时，以维持高可信性分析和进一步提高操作性达到自动化分析为目标。 根据不同样品从开始测试到得到结果所需测试时间基本上可在1分钟内完成，所以完全可以应对RoHS法规中所限制的有害元素的筛选分析。另外，最近几年在众多企业中实施的自行检测有害元素Cl的检测分析，该款装置也可以通过筛选分析简单的检测出来。同时推荐该装置作为中国版RoHS第二阶段应对手段。现面向全国 诚招代理商 详情请点击：http://www.instrument.com.cn/show/news/045392.shtml技术参数：1. 测定原理 X射线荧光分析法2. 测定方法 能量色散型3. 测定对象 固体、液体、粉状4. 测定范围 13Al -92U5.样品室尺寸 最大W370mm× D320mm× H155mm6. 制冷方式 电子制冷7. 一次滤光片 5种+OPEN自动交换8. 软件 筛选分析、定性分析、定量分析主要特点：●利用&ldquo 筛选分析&rdquo 画面，操作简单方便●从主成分判定到条件选择全部实现自动处理●标准配备了RoHS/ELV分析所需要的必要功能●拥有大容量样品室，可以直接测定大型样品●配备电子制冷检测器，将日常维护量控制到最小程度●配备保护功能，限制条件或数据的变更●配备筛选轻松设定功能，能够根据管理方法轻松自定义

仪器简介：EDX-LE Plus是一款专用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 配备无需液氮型电子制冷（SDD检测器）检测器，因此在实现降低运作成本和更易维护的同时，以维持高可信性分析和进一步提高操作性达到自动化分析为目标。根据不同样品从开始测试到得到结果所需测试时间基本上可在1分钟内完成，所以完全可以应对RoHS法规中所限制的有害元素的筛选分析。另外，针对检测有害元素Cl和无卤素要求、以及Sb的检测分析，该款装置也可以通过筛选分析简单的检测出来。同时推荐该装置作为欧盟和中国RoHS2.0筛选分析手段。技术参数：1. 测定原理 X射线荧光分析法2. 测定方法 能量色散型3. 测定对象 固体、液体、粉状4. 测定范围 13Al -92U5.样品室尺寸 最大W370mm× D320mm× H155mm6. 制冷方式 电子制冷7. 一次滤光片 5种+OPEN自动交换8. 软件 筛选分析、定性分析、定量分析主要特点：●利用&ldquo 筛选分析&rdquo 画面，操作简单方便●从主成分判定到条件选择全部实现自动处理●标准配备了RoHS/ELV分析所需要的必要功能●提升筛选效率，高精度?高速分析●拥有大容量样品室，可以直接测定大型样品●配备高能量分辨率电子制冷SDD检测器，将日常维护量控制到最小程度●配备保护功能，限制条件或数据的变更●配备筛选轻松设定功能，能够根据管理方法轻松自定义

超高性能X射线荧光光谱仪，无语伦比的通用性——EDX-8100 致元素分析的您 无需液态氮！ 使用电子冷却方式的高性能SDD检测器 高灵敏度！高速！高分辨率！ 大幅提升传统产品的分析性能 软件使用简便！ 同时配备简易型分析软件PCEDX-Navi与专业型软件PCEDX-Pro 彻底追求通用性的硬件！ 检测元素范围C~U、可开展真空分析及氦气置换分析 元素检测范围氦气置换分析优势可测试不适用真空、适用氦气置换分析的样品：液体，潮湿固体和粉末，微细粉末（小于微孔膜孔径），多孔且内含较多气体的固体1、3、5、10mmΦ的4种准直器自动切换根据样品尺寸的不同，照射直径可有4种不同的选择。微小异物分析和失效解析时采用1mmΦ，少量样品时采用3mmΦ或5mmΦ，根据样品的形状可以选择最适合的照射直径。自动切换5种一次滤光片使用一次滤光片降低X射线管产生的特性X射线和连续X射线，从而提升检测灵敏度。尤其分析微量元素时有效。EDX－8100搭载5种（含OPEN共6种）一次滤光片，可以实现软件操控自动切换准直器和一次滤光片独立驱动，无限制自由组合。可以选择6种×4种=24种组合。同时，所有组合均可对应FP法进行定量分析。

JSX-1000S是日本电子在2014年3月在全世界同步推出的最新一款能量色散X射线荧光元素分析仪，软件设计简单，操作极为方便；灵敏度高、效率好；还未不同的应用专门设计的特色软件应对，实现了准确、高效的元素分析，应用范围极为广泛。 JSX-1000S由设计顶级设计团队设计外观，洋溢现代美感，充分体现了该仪器的高端气质。 主要技术指标：探测范围:标准配置Mg～U 选配Na～U X-射线发生装置：5～50　kV , 1mA靶材：Rh过滤器（最大九种）：标准配置OPEN, ND, Cr, Pb, Cd　；选配Cl, Cu, Mo, Sb检测器：硅漂移探头样品室尺寸：300mmφ×80mmH样品室真空：标准配置（大气）；选配真空样品室内观察系统：彩色相机分析软件：定性分析、定量分析、RoHS对应软件（Cd,Pb,Hg,Br,Cr)、简易分析软件、报告书软件、日常检查软件等

Thermo Scientific ESCALAB QXi X 射线光电子能谱仪（XPS）是ESCALAB 系列的最新产品。作为可扩展的多技术表面分析平台，ESCALAB QXi有着空前的灵活性和完备的专业配置选项。汇聚前沿技术，打造出高效便捷的软件系统和高性能的硬件配置，带来世界一流的测试体验和高效的生产力。强大的Thermo Scientific&trade AvantageTM 软件系统集系统控制、设备状态实时监控与调节、数据采集、数据处理、报告生成等多功能于一身，操作便捷，快速高效。世界领先的分析性能●定量光谱成像 世界一流的能量分析器设计和双晶微聚焦单色化X射线源结合，实现了卓越的能量分辨率●快速高分辨平行成像 化学成像: 空间分辨率优于1um 回溯成谱: 回溯区域优于6um●无需背底修正探测器 电子倍增器和电阻阳极探测器的双探测器设计，可实现高性能的XPS采谱和高空间分辨的XPS成 像的需求 空间连续的电阻阳极探测器创新技术，使得XPI成像分辨率达1um，所得数据无探测器背底特征，无需背底校正 直接得到微米尺度分辨的定量元素分布成像结果●微聚焦单色源 分析尺寸在20μm～900μm之间连续可调 卓越的灵敏度和能量分辨率 提供不少于20个靶材工作点，确保仪器终身使用过程中阳极靶无需更换●自动化高效离子剖析源 新型Ar离子团簇与传统单粒子离子源相结合，用于各类材料的深度剖析研究●高精确度角分辨XPS 软件控制分析位置和角度，确保数据的精确性和重复性 全套的ARXPS数据处理工具，可对纳米尺度的多层结构器件进行层厚计算●一键式荷电补偿 配有双束电荷中和系统，可以根据实际样品的需要独立控制开启。 适用于所有不导电样品及粗糙表面的精准荷电中和●强大的Avantage分析软件 全数字化仪器控制 系统软件可视化操作 全套XPS标准数据图库以及化合物结构鉴定数据库 自定义数据采集到报告生成模式操作简便●高度自动化 分析区域和角度分辨可选 自动化气体调节和真空控制●随时校准 能量标尺和仪器功函数的校准 离子枪定位和离子束聚焦●鼠标点击式样品导航 实时显示分析位置 高照明强度、强度可调设计灵活●ISS、ARXPS与REELS为标准配置●多功能进样室为标准配置●UPS和EDS/AES/SEM/SAM/可选●可选的样品预处理附件，包括： 样品制备台、晶体清洁器、样品刮片器 样品加热/冷却装置 溅射清洁离子枪 蒸发器 高压反应室如您想了解更多关于EscaLab QXi X射线光电子能谱仪报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。

追求高速高灵敏度高精度新型能量色散X射线荧光光谱仪EDX-7200 ü无损分析，保持固体/粉末/液体原始状态 ü宽广的元素定量浓度范围 (Na-U/ppm-%) ü可进行无标样定量更高灵敏度———检出下限最大提高6倍————l显著提升金属中微量元素的分析效果 l铜合金、焊锡、铝合金中的检测下限相比于以往机型大幅降低更高速———处理能力最大提高30倍 ————l无铅锡焊分析案例新功能———磷(P)的筛选分析————l应对美国TSCA对磷的管控要求l选配真空附件可进一步提高P的灵敏度l同时新增锡(Sn)筛选分析套件(含标样)新升级———降低分析成本————l阈值算法优化，有效减少法规相关(如RoHS)分析时间 l氦气置换系统升级，降低氦气消耗量 l新增防潮X射线光管，有效提高高湿度地区光管使用寿命

能量色散X射线荧光（EDXRF）是一种常规的分析技术，广泛用于各种样品类型中主要元素及微量元素的半定量和精确定量分析。其广泛的实用性源于：快速、准确、无损的多元素分析；元素分析范围涵盖从钠（Na）至铀（U）；含量分析范围从低的PPM级到高的百分含量（wt%）。 日本理学NEX CG功能多样，可以实现各种类型样品的常规分析。从均匀、低粘性的液态样品，到固态、金属、泥浆、粉末和胶状样品。特别适用于对成分完全未知的样品进行半定量分析。NEX CG欠打的分析能力，灵活、方便的使用性，使其在科研、工业及现场检测领域有着广泛的需求。 独立的2次靶光学系统、能为范围广泛的元素提供很好分析。钠 (Na) 、镁(Mg)、氯(Cl)等用EDX分析比较困难的元素也能用NEX CG进行分析。能量色散X射线荧光（EDXRF）分析的特点*检测样品完全无损*元素分析从钠（Na）至铀（U）*适用于固态、液态、粉末及稀薄样品*偏振式激发使检出限（LOD）更低*无需标准样品即可进行半定量分析*使用RPE-SQX软件减少对标样需求*独特的光谱重叠处理方法使误差降低*EZ分析程序用户界面简单

单色能量色散Ｘ射线荧光元素分析仪产品介绍： 单色能量色散Ｘ射线荧光元素分析仪能在更短的时间内检测更多的样品，能进行更为che底的分析 ， 提高现场修复土地和土地分级。适用浓度范围宽，从20μg/kg至100％均适用；食品、药品、植物、 地下水、地表水以及工业污水中重金属的检测；可快速准确定量分析土壤及农作物中镉等重金属元素。应用方向：可提供针对农作物中多种重金属污染物定量分析，可直接测量＞15种无机污染物， 是食品和农作物快检抽查工作的筛选综合工具；快速准确定量分析土壤及污水中镉等重金属元素以及快速准确定量分析污水中铅、砷、汞等重金属元素。适用于As、Ba、Cd、Co、Cr、Cu、Fe、Hg、Mn、Ni、Pb、Pd、Sb、Se、Sn、Ti、Tl、V、Zn等40余种元素快速检测；技术参数：测试时间（单位：S）：30s-1200s检测元素范围：Al-U之间的40种元素探测器：Fast SDD 探测器应用方向：食品、药品、水质、土壤等电源：110-240 VAC工作温度：-5℃-50℃重量：＜9 kg尺寸：30ｃｍW*23ｃｍL*26ｃｍH

能量色散X射线荧光光谱仪 X射线荧光光谱(XRF)分析法是对各种各样材料进行元素测定的一种现代化的通用分析方法。不管是块状样品、粉末样品还是液体样品，位于元素周期表上从4号元素铍（Be）到92号元素铀（U）之间的几乎所有元素都可以进行精确的定性、定量和无标样分析。根据不同的应用要求，其分析浓度范围可从0.1ppm到100%，而且即使高至100%的元素浓度也能直接进行测量而无须进行稀释。XRF分析法具有样品制备简单、测定元素范围广、测定精度高、重现性好、测量速度快（30s-900s）、无环境污染、不破坏样品等特点。 XRF法广泛应用于环保、地质、矿物、冶金、水泥、电子、石化、高分子、食品、药物以及高科技材料等领域，在产品研究开发、生产过程监控与质量管理等方面起着重要的作用。具体应用见以下说明： ●电子、塑胶、五金材料：各种电子元件、五金件、塑胶原料及制品、线路板等。●纸张及纸原料：纸原料、各种纸张、调色剂、油墨等。●石油、煤炭：石油、润滑油、重油、高分子聚合物、煤炭、焦炭等。●陶瓷、水泥：陶瓷、耐火材料、岩石、玻璃、水泥、水泥原料和生料、熟料、石灰石、高岭土、粘土等。●农业、食品：土壤、农药残留物、肥料、植物、各种食品等。●有色金属：铜合金、铝合金、铅合金、锌合金、镁合金、钛合金、贵金属等。●钢铁：生铁、铸铁、不锈钢、低合金钢、高合金钢、特种钢、铁合金、铁矿石、炉渣、电镀液、铸造砂等。●化学工业：无机有机物及制品、化妆品、洗涤剂、橡胶、调色剂、催化剂、涂料、颜料、药品、化学纤维等。●环境：各种废弃物、工业废物、大气粉尘、工业废水、海水、河水等。●生物科学：有机体、辅助物等。 X射线荧光分析基本原理各种元素的核外电子轨道位能互不相同，因此，受激发后发出的X射线光子能量互不相同，即每种元素发射该元素原子所特有能量的X射线，代表了该元素的特征，因此称作该元素的特征X射线。每种元素的特征X射线具有其特定的能量，检测到此种能量的X射线，即可以确定物质样品中有该元素存在。 能量色散X射线荧光仪器原理X光管加高压产生的原级X射线经过滤光片适当过滤后照射到样品上，激发样品中所含元素的特征X射线(称为X射线荧光)，使用具有高能量分辨率的X射线探测器，得到X射线荧光能谱，不同的元素在谱图上形成不同的谱峰。谱峰的强度与样品中元素的含量成正比关系，通过计算机对探测器检测到的能谱进行解析，以谱峰位置和形状对样品中含有的元素种类进行定性，用谱峰强度对元素成分进行定量分析。 能谱仪简介：能量色散X射线荧光光谱仪是采用能量色散X荧光分析技术，同时测量多种元素的分析仪器，根据用户应用要求可配置为从Na到U的任意多种元素的分析测定。该仪器可广泛应用于环保、考古、建材、RoHS指令等各种行业。是企业质量控制的理想选择。 整机性能：●Si(PIN)或SDD半导体制冷探测器探测器的分辨率是评价能量色散X荧光光谱仪性能的主要指标之一 分 辨 率 145eV (分辨率越低则灵敏度越高)计 数 率 1000/S晶体面积 15平方毫米铍窗厚度 = 0.025mm探测功率 1.2W ●多道脉冲幅度分析器（俗称谱仪能量刻度）通道数：2048道 ●电源控制器系统电源控制+5 VDC at 250 mA (1.2 W)恒定制冷控制 400 VDC ●低功率小型侧窗X射线发生器（俗称X光管）经过内部嵌铅特殊处理的X光管进行全范围屏蔽,只留侧窗X射线出口区。 罐绝缘油用于高压绝缘和冷却，0.005英寸铍窗标准窗口，额定功耗为50瓦、额定电压为50千伏。设计使用寿命15000小时。 ●高压发生器输 入：85～265Vac,47～63Hz,功率因数校正。 1kV～5kV的型号符合UL85～250Vac输入标准电压变动率：无负载到满负载，输出电压的0.01%电流变动率：0～额定电压，输出电流的0.01%纹 波：输出电压的0.25%峰-峰 温度系数：电压或电流调定，0.01%/℃ 稳 定 性：预热半小时后，0.05%/8小时 ●滤光片自动转换系统滤光片自动转换系统：6种滤光片自动选择并自动转换（滤光片作用：改善激发源的谱线能谱成分，在进行多元素分析时，用来抑制高含量组分的强X射线荧光，提高待测元素的测量精度）。 ●安全防辐射系统1、重新设计的低辐射X射线管经过特殊处理（从源头做起）2、全封闭铅板双层防辐设计（从设计结构做起）3、全自动铅板滤光片自动屏蔽装置4、样品盖意外开启X射线强制中断装置 5、延时测试与X射线警示系统 ●针对ROHS指令限制使用有害元素Cd、Pb、Cr、Hg、Br的检出限Cd、Pb、Cr、Hg、Br的检出限为2ppm ●强大的分析软件工作站1．一键式的操作软件，简单易用，无需专业知识。2．人性化的人机界面3．各种测试参数无需操作人员设定，强大定制报告功能。4．测试数据自动存储，具有历史查询功能。5．最前沿的定性定量分析方法。6．可同时分析几十种元素。7．元素分析快速，分析时间从30秒到900秒可调。8．长时间待机不用，自动降低管压、管流，延长X光管寿命。9．对X射线管进行温度管控，保护X射线管并延长它寿命。10．实时监测仪器运行状态，轻易维护仪器。11.防止在测试样品时打开样品盖的误操作，软件有警示操作提示，同时关闭高压电源。

真空X射线荧光光谱仪A-550能够分析的元素范围从Na到U之间。通过配置了真空测试系统，增加了元素测试范围。同时配备了SDD探测器，对于各元素进行检测，减少元素间干扰。XRF光谱仪在对应不同的领域，又被称为：合金分析仪，矿石分析仪，水泥分析仪，土壤分析仪，贵金属分析仪，镀层分析仪，rohs分析仪等名字。应用领域：1.ROHS\无卤检测指令2.合金分析领域 （特别是轻元素） 锌铝合金成分分析、铝合金成分分析、铜合金牌号判定、成分分析、不锈钢成分分析。3 .镀层成分分析4.包装指令检测标准（94/62/EC) CD+PB+Hg+ Cr6 ＜1005.玩具指令检测标准6.矿石元素含量分析7.土壤及固废元素分析8.煤灰、石灰石、水泥、有色金属分析工作条件：● 工作温度：15-30℃ ● 相对湿度：40%～70% ● 电 源：AC :220V ±5V、技术性能及指标:1. 元素分析范围从钠(Na)到铀(U)；2. 元素含量分析范围为1PPm到99.99%；3. 测量时间：100-300秒(可调)；4. RoHS指令规定的有害元素（限Cd/Pb/Cr/Hg/Br/Cl）其检测限度达1PPM； 5. 能量分辨率为129±5电子伏特；6. 温度适应范围为15℃至30℃；7.电源：交流220V±5V（建议配置交流净化稳压电源）；产品特点1.A-550，配置了真空测试系统，增加了元素测试范围，探测器配备SDD的测试系统，对于矿石间各元素进行检测，减少元素间干扰2.整体结构化设计，仪器美观大方。3.采用美国最新型的SDD硅飘移探测器，电致冷而非液氮制冷，体积小、数据分析准确且维护成本低。4.采用自主研发的SES信号处理系统（数字多道），有效提高峰背比，让测量更精准。5.一键式自动测试，使用更简单，更方便，界面更人性化。6.七种光路校正准直系统，根据不同样品自动切换。7.多重防辐射泄露设计，辐射防护级别属于同类产品Highest。8.优化一体化散热设计，使整机散热性能得到更大提高，确保X射线源的运行安全。9.独有的机芯温度监控技术，确保射线源的安全可靠运行，有效延长其使用寿命，降低使用成本。10.多重仪器配件保护系统，并可通过软件进行全程监控, 让仪器工作更稳定、更安全。11.专用真空测试软件，是否抽真空可自由选择，真空度实时显示，标准视窗设计，界面友好，操作简便，所有控制均在轻点鼠标之间。12.本机采用USB2.0接口，有效保证数据准确高速有效的传输。13.独有的全自动真空系统,彻底屏蔽空气对轻元素测试的影响,极大提高了轻元素的检出限，同时也扩大了检测范围。14.一体化真空腔体设计，有效地保证了符合测试要求的真空度，同时提高了设备的可维性。15.抽真空测试和不抽真空测试转换简单，方便客户使用；同时开盖即解除真空，安全、简单实用。 仪器硬件部分主要配置SDD电制冷探测器分辨率：145±5e电子伏特放大电路模块:对样品特征X射线进行探测，把探测采集的信息,进一步放大X射线激发装置: 灯丝电流输出MAX：1mA；属于半损耗型部件，使用寿命大于5000小时高压发射装置:电压输出MAX： 50KV；电压输出MIN: 5KV，可控调节自带电压过载保护一体化真空系统：具有低震动、低噪音、自保护及抽速快等优良性能的真空泵系统；几何抽速：60 L/min（50Hz）压力：6.7×10-2 Pa数字多道分析器: 将采集的模拟信号转换成数字信号,并将处理结果提供给上位机软件；道数MAX： 4096；包含信号增强处理功能；光路过滤模块降低X射线光路发送过程中的干扰，保证探测器接收信号准确；将准直器与滤光处整合；准直器自动切换模块多达7种选择，口径分别为8-1＃, 8-2＃, 8-3＃, 8-4＃，6＃, 4＃, 2＃。滤光片自动切换模块五种滤光片的自由选择和切换。准直器和滤光片的自由组合模块多达几十种的准直器和滤光片的自由组合。工作曲线自动选择模块自动选择工作曲线，摒弃手动选择，避免人为操作失误，将自动化和智能化。演绎得更完美，使操作更人性，更方便。 专用软件针对金属材料元素成份检测而开发（含真空控制功能），对采集的光谱信号进行数据处理、计算并报告显示测量结果。功能介绍※应对不同矿产材料可调式数据，测量时间为100-300秒（可调）※操作界面简洁直观，使用方便，无需专业人士操作软件界面如下图所示：※可自动选择适合的校准曲线，测量更方便，更准确※中英文界面自动切换，并具有第三方语言订制功能※自动校准仪器※自带样品材质定性分析，防止手动用户选择错误曲线※多种报告形式打印※可同时显示多个光谱图※仪器测试参数及真空度实时显示，所有掌控一目了然※独有的机芯温度监控技术，保证X射线源的安全可靠运行，有效延长其使用寿命，降低使用成本。 样品配置 标准样品用于制作工作曲线样品腔 开放式大样品腔：610mm×320mm×100×半封闭样品腔（抽真空时）：Φ100mm×h75mm 产品保修及售后服务 1 对客户方操作人员免费进行培训。2 国内客户安装、调试、验收、培训及技术服务均为免费在用户方现场对操作人员进行培训。（国外客户可协商解决）3正常使用，经本公司售后服务部技术人员确认属工艺或材质缺陷引起的故障，且未经拆修，仪器主机自验收合格之日起保修壹年。4产品终身维修（客户必须有填写详细、真实的有效购买凭证和保修卡等）。5免费提供软件升级。6提供有效的技术服务，在接到用户故障信息后，2小时内响应，如有需要，48小时内派人上门维修和排除故障。

XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪采用三重射线防护系统（软件联锁、硬件联锁、整机迷宫式设计），彻底杜绝各种工作情况下的辐射泄露。XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪采用独创设计的组合式短光路光路盘，显著提高检测灵敏度，降低检测限。XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪采用大型样品室，无需破坏和前期处理即可测量比较大的样品。XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪软件工作站一键式操作，简单易用，使用方便，人机交互友好，无需专业知识。XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪从S到U的快速元素分析，测量时间可调。XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪多达15组复合滤光片，X射线照射径从1mm到7mm可选。强大的自主定制分析报告格式功能，分析报告可保存为 PDF 和 Excel 两种格式，分析结果自动保存，可方便对历史数据进行查询及统计，只需一次点击即可输出数据。软件可视频观察样品的位置，并且对样品进行拍照，样品图片显示在测试报告中。可进行谱图比对，对不同元素含量的谱图进行比对，进行材料识别。采用经典的定性定量分析方法，全面保证测试数据的准确性。开放式校准曲线平台，可为客户量身定做有害物质检测方案。

X射线荧光分析法的原理特点X射线荧光的产生原理X射线管发出X射线照射样品，样品中所含的原子则向外发射原子特有的X射线。这种X射线被称为荧光X射线，各元素具有特定的波长（能量）。因此，通过检测X射线的波长就能够进行定性分析。另外，荧光X射线的强度与浓度具有函数关系，检测每个元素X射线特征波长的X射线量就能进行定量分析。图为用波尔模型说明电子轨道和荧光X射线产生的原理满足所有领域不同的应用■ 电子电气 RoHS指令、无卤素等筛选分析半导体、存储装置、液晶、太阳能电池等各种薄膜分析■ 汽车机械 应对ELV指令的筛选分析 各种机械零部件结构分析及镀层厚度、化学合成外膜附着量的检测■ 钢铁非金属 原材料、合金、焊锡、贵金属的主要成分、残余成分的分析 炉渣的组成分析■ 矿业 选矿工艺的成色鉴别分析■ 窑业 陶瓷、水泥、玻璃、砖、粘土的分析■ 石油石油化学 油中硫元素的分析 润滑油中各种添加元素及混入元素的分析■ 化学工业无机有机原料和产品分析催化剂、颜料、涂料、橡胶、塑胶的分析■ 环境 土壤、排水、焚烧灰、过滤、PM2.5等成分分析■ 医药 合成时的残留催化剂分析 原药中不纯物分析、异物分析■ 农业食品 土壤、肥料、植物的分析 食品的原料分析、添加元素管理、混入异物的分析■ 其它 考古学样品及宝石成分分析玩具日用品中有害重金属元素测定等

超高性能X射线荧光光谱仪，无语伦比的通用性——EDX-8100 致元素分析的您 无需液态氮！ 使用电子冷却方式的高性能SDD检测器 高灵敏度！高速！高分辨率！ 大幅提升传统产品的分析性能 软件使用简便！ 同时配备简易型分析软件PCEDX-Navi与专业型软件PCEDX-Pro 彻底追求通用性的硬件！ 检测元素范围C~U、可开展真空分析及氦气置换分析 元素检测范围氦气置换分析优势可测试不适用真空、适用氦气置换分析的样品：液体，潮湿固体和粉末，微细粉末（小于微孔膜孔径），多孔且内含较多气体的固体1、3、5、10mmΦ的4种准直器自动切换根据样品尺寸的不同，照射直径可有4种不同的选择。微小异物分析和失效解析时采用1mmΦ，少量样品时采用3mmΦ或5mmΦ，根据样品的形状可以选择最适合的照射直径。自动切换5种一次滤光片使用一次滤光片降低X射线管产生的特性X射线和连续X射线，从而提升检测灵敏度。尤其分析微量元素时有效。EDX－8100搭载5种（含OPEN共6种）一次滤光片，可以实现软件操控自动切换准直器和一次滤光片独立驱动，无限制自由组合。可以选择6种×4种=24种组合。同时，所有组合均可对应FP法进行定量分析。 能量色散型X射线荧光分析装置EDX-8100信息由岛津企业管理（中国）有限公司/岛津（香港）有限公司为您提供，如您想了解更多关于能量色散型X射线荧光分析装置EDX-8100报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。

仪器简介： 在工业及科研领域，经常需要对样品进行非破坏性的元素分析，同时对分析面积及灵敏度具有苛刻的要求，如RoHS分析，贵金属检测等。 黄金珠宝、牙科合金材料及其他稀有金属的分析要求高精度，非破坏性而且测量点小。德国斯派克分析仪器公司最新推出的SPECTRO MIDEX　X 射线荧光能谱仪正是满足了这一要求，可最迅速、准确地提供分析数据。根据市场要求，德国斯派克分析仪器公司对仪器进行了扩展而优化，使SPECTRO MIDEX 仪器在分析性能和使用灵活性方面独树一帜。 　　SPECTRO MIDEX 采用空冷、低能量X射线管和高分辨率的检测系统，集准直、聚焦、样品激发于一体，是功能强大的金属分析仪SPECTRO MIDEX　适合分析体积很小的稀有金属或面积较小的样品。样品室配有易于调节的样品台。通过20倍变焦摄像机可精确地确定测量位置。仪器配有计算机和专业化的软件，使操作极为简便。测量点直径为0.7mm,样品的总测量时间不超过100秒。在测定稀有金属合金中的金含量时,样品的测量精度为0.15%。SPECTRO MIDEX　也可满足快速分析的需要，在2分钟内可完成从铝到铀的所有数十种元素的分析。 　　SPECTRO MIDEX 不仅仅适用于珠宝行业、贵金属检验机构，海关商检、造币工业等，还可完成其它分析任务如：非破坏性检查，贵金属分选，电子线路及电气元件的分析等。技术参数：&bull 激发 - Mo 靶X光管 最大功率：30W,最大电压：48kV - 测量点尺寸 Midex SD: 1 mm, Midex LD: 1.2 mm 样品室 - 可显示样品的摄像系统(可调焦) - 手动调节样品台，样品定位简便 - 马达驱动精确移动的XYZ样品台， 最大行程240x178x160 mm/9.4x7.0x5.3&rsquo &rsquo (宽x深x高)， 最大样品重量：3kg/6.6 lbs 计算机 - 外置式计算机系统，Windows 操作系统， - 键盘，鼠标，显示器，打印机 - 菜单式软件，光谱仪参数调整和 数据评估及计算，元素成分及分布显示 检测器 - Peltier 冷却的Si 漂移检测器: Midex SD: 10 mm2, Midex LD: 30 mm2 - 以Mn K&alpha 线，在测量计数率为 10，000脉冲计数时， 能量分辨率：FWHM 160 eV - 微处理器控制的检测器和读出电路 - 脉冲计数率可达250，000 cps 光谱仪数据 - 电压：95-120V/200-240V,50/60 Hz, - 光谱仪能耗：200W - 仪器尺寸 宽x 深 x 高，单位mm 580x670x740 mm/22.8x26.4x29.1&rdquo - 底座尺寸宽x 深:500x550 mm/19.7x21.6 &rdquo - 重量55-70kg/121.3-154.3 lbs,根据不同配置 分析 - 用于合金元素分析的基本参数程序FP + - 塑料及复合材料的RoHS指令检测 环境条件 - 周围环境温度：5-30° C （41-85° F） 在20-25° C （68-77° F）下，可达到标定仪器性能 - 在 25° C (77° F)下相对湿度: 10-80 %，无冷凝，无蒸气腐蚀，防尘主要特点： SPECTRO MIDEX X射线荧光能谱仪是最新推出的第三代专利产品，不仅可对样品的微小区域进行快速无损的检定，还可对超大样品的表面（面积可达EC标准线路板规格的2倍， 233x160 mm）进行元素分布分析。 1 超大样品室● 长：520 mm(20.5 '')● 宽：310mm(12'') 2 微聚焦分析，不需要破坏 3 自由样品台. &bull 创新点 &bull 1.附带FP实际金属、贵金属、RoHS分析、无卤化塑胶回归的检测曲线，集多种应用于一身。该曲线采用大量金属及贵金属标准样品绘制，代表性强，实用性强，准确度高。分析数据可同时显示K金值及含量。 2.采用高分辨，高计数率，电制冷的SDD检测器，实际分辨率160eV，计数率高达250,000cps，非常适合高含量样品的分析。该计数器具有先进性及维护简单，无需繁琐而危险的液氮添加过程。 3.激光配合CCD摄像机双定位，样品分析点可视，可调。定位精度高。分析点的照片可截屏，出具报告时可以粘贴在报告中。 4.分析速度快，可在180秒内完成各类样品的分析任务 5.可选配狭缝交换器，测试点的尺寸可调，由0.2毫米至3.3毫米。可同时分析同一样品的各个部分，一般分析点的尺寸为1毫米。 6.可选配XYZ微米级精度全自动样品台，完成点，线，面扫描。一次测量过程可同时分别完成多个样品的分析。 7.超大样品室，可完成超大样品的分析，样品的尺寸可以达到300*200*150mm（长*宽*高）。同时可完成超小样品1mm样品的分析

主要特点： . 准确测定黄金、铂金、银饰品中的金、银、铂、钯、铜、锌、镍、铱等元素含量，根据定义 给出符合国标 GB/T18043 要求的测试结果； . 自动识别样品类型，自动切换不同类型首饰样品的测试模式； . 仪器内置标准样品，具备自动校正功能，开机自动完成能量刻度、标准曲线校正、预热一系 列动作，免除人为操作带来的误差和错误； . 一键式测试操作，开启软件并放入样品后，按下一键即可完成测试获得结果，免除所有繁琐 复杂的手工设置和操作； . 具备高级自定义测试功能，开放各种参数调试调整，可建立自定义标准曲线，可保存或导入 导出自定义的数据库和测试模式。1.XRF6C能量射线荧光分析仪特点 （注）：X射线荧光（XRF）分析法是测定有初级X射线激发样品时所产生的二次特征X射线（X射线荧光），它是一种非破坏性分析方法，可以对试样进行多元素快速分析。先进多光束可调系统；高分辨率SDD 硅漂移探测器；快速定性分析；完善的辐射安全防护；RoHS/WEEE 指令元素快速分析； 内标法与基本参数法组成强大定量分析方法群； 内置各类标准样品曲线数据库。2.XRF6C能量射线荧光分析仪参数元素分析范围：AI-U 含量分析范围：1ppm~99.99%重复性：＜5%测量时间：一般60~300s 测量对象：块状物体、粉末、液体 激发功率：50W探测器分辨率：149gev输入电源：AC110V/220V 高压电源：0~50kv/0~1mAX射线辐射剂量：≤1Sv/h3.XRF6C能量射线荧光分析仪部分元素 在低数值中可检出代表性元素120s可检出限LOD(mg/kg)性能指标塑料基体CrBrCdHgPbLOD82445

仪器简介：EDX-LE是一款专用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 配备无需液氮型电子制冷（Si-PIN检测器）检测器，因此在实现降低运作成本和更易维护的同时，以维持高可信性分析和进一步提高操作性达到自动化分析为目标。 根据不同样品从开始测试到得到结果所需测试时间基本上可在1分钟内完成，所以完全可以应对RoHS法规中所限制的有害元素的筛选分析。另外，最近几年在众多企业中实施的自行检测有害元素Cl的检测分析，该款装置也可以通过筛选分析简单的检测出来。同时推荐该装置作为中国版RoHS第二阶段应对手段。现面向全国 诚招代理商 详情请点击：http://www.instrument.com.cn/show/news/045392.shtml技术参数：1. 测定原理 X射线荧光分析法2. 测定方法 能量色散型3. 测定对象 固体、液体、粉状4. 测定范围 13Al -92U5.样品室尺寸 最大W370mm×D320mm×H155mm6. 制冷方式 电子制冷7. 一次滤光片 5种+OPEN自动交换8. 软件 筛选分析、定性分析、定量分析主要特点：●利用“筛选分析”画面，操作简单方便●从主成分判定到条件选择全部实现自动处理●标准配备了RoHS/ELV分析所需要的必要功能●拥有大容量样品室，可以直接测定大型样品●配备电子制冷检测器，将日常维护量控制到最小程度●配备保护功能，限制条件或数据的变更●配备筛选轻松设定功能，能够根据管理方法轻松自定义

仪器简介：EDX-LE是一款专用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 配备无需液氮型电子制冷（Si-PIN检测器）检测器，因此在实现降低运作成本和更易维护的同时，以维持高可信性分析和进一步提高操作性达到自动化分析为目标。 根据不同样品从开始测试到得到结果所需测试时间基本上可在1分钟内完成，所以完全可以应对RoHS法规中所限制的有害元素的筛选分析。另外，最近几年在众多企业中实施的自行检测有害元素Cl的检测分析，该款装置也可以通过筛选分析简单的检测出来。同时推荐该装置作为中国版RoHS第二阶段应对手段。现面向全国 诚招代理商 详情请点击：http://www.instrument.com.cn/show/news/045392.shtml技术参数：1. 测定原理 X射线荧光分析法2. 测定方法 能量色散型3. 测定对象 固体、液体、粉状4. 测定范围 13Al -92U5.样品室尺寸 最大W370mm× D320mm× H155mm6. 制冷方式 电子制冷7. 一次滤光片 5种+OPEN自动交换8. 软件 筛选分析、定性分析、定量分析主要特点：●利用&ldquo 筛选分析&rdquo 画面，操作简单方便●从主成分判定到条件选择全部实现自动处理●标准配备了RoHS/ELV分析所需要的必要功能●拥有大容量样品室，可以直接测定大型样品●配备电子制冷检测器，将日常维护量控制到最小程度●配备保护功能，限制条件或数据的变更●配备筛选轻松设定功能，能够根据管理方法轻松自定义

仪器简介：EDX-LE Plus是一款专用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 配备无需液氮型电子制冷（SDD检测器）检测器，因此在实现降低运作成本和更易维护的同时，以维持高可信性分析和进一步提高操作性达到自动化分析为目标。根据不同样品从开始测试到得到结果所需测试时间基本上可在1分钟内完成，所以完全可以应对RoHS法规中所限制的有害元素的筛选分析。另外，针对检测有害元素Cl和无卤素要求、以及Sb的检测分析，该款装置也可以通过筛选分析简单的检测出来。同时推荐该装置作为欧盟和中国RoHS2.0筛选分析手段。技术参数：1. 测定原理 X射线荧光分析法2. 测定方法 能量色散型3. 测定对象 固体、液体、粉状4. 测定范围 13Al -92U5.样品室尺寸 最大W370mm× D320mm× H155mm6. 制冷方式 电子制冷7. 一次滤光片 5种+OPEN自动交换8. 软件 筛选分析、定性分析、定量分析主要特点：●利用&ldquo 筛选分析&rdquo 画面，操作简单方便●从主成分判定到条件选择全部实现自动处理●标准配备了RoHS/ELV分析所需要的必要功能●提升筛选效率，高精度?高速分析●拥有大容量样品室，可以直接测定大型样品●配备高能量分辨率电子制冷SDD检测器，将日常维护量控制到最小程度●配备保护功能，限制条件或数据的变更●配备筛选轻松设定功能，能够根据管理方法轻松自定义

原理特点玻尔模型所描述的电子轨道和X射线荧光产生的原理X射线荧光的产生原理X射线管发出X射线照射样品，样品中所含的原子被激 发而产生原子特有的X射线。这种X射线被称为X射线 荧光。不同的元素波长（能量）不同。通过检测X射 线的波长，能够进行定性分析。X射线荧光的强度与 含量呈函数关系，检测元素特有的X射线的量值能够 进行定量分析。满足不同领域的应用■ 电子电气RoHS指令、无卤素等筛选分析半导体、存储装置、液晶、太阳能电池等的各种薄膜分析■ 汽车机械 应对ELV指令的筛选分析 各种机械零部件成分分析及镀层厚度、涂层附着量的检测■ 钢铁有色金属 原材料、合金、锡焊、贵金属的主要成分、残余成分的分析 炉渣的组成分析■ 矿业 选矿工艺的成色鉴别分析■ 窑业 陶瓷、水泥、玻璃、砖、粘土的分析■ 石油石油化学 油中硫的分析 润滑油中各种添加元素及混入元素的分析■ 化学工业无机有机原料和产品分析催化剂、颜料、涂料、橡胶、塑胶的分析■ 环境 土壤、排水、焚烧灰、过滤、PM2.5等成分分析■ 医药 合成时的残留催化剂分析 原药中不纯物分析、异物分析■ 农业食品 土壤、肥料、植物的分析 食品的原料分析、添加元素管理、溶入异物的分析■ 其它 考古学样品及宝石成分分析 玩具日用品中有害重金属元素测定等追求高速・ 高灵敏度・ 高精度的机型高速 — 计数量高达到30倍 —搭载高速电路，计数量高达以往型号（EDX-720）的30倍。通过改良算法和升级基本性能，缩短了测定时间， 进一步提高了操作便捷性。铜合金中的铅（Pb）的谱图比较铜合金中的铬（Cr）的谱图比较实际样品的比较分别用以往型号（EDX-720）和EDX-7200对无铅锡焊中所含的铅（Pb）进行分析，比较其重现性。测定时间与标准偏差（定量值的偏差）的关系满足目标分析精度所需的测定时间X射线荧光分析可以通过延长测定时间增加X射线荧光的计数来提高精度（重现性）。 搭载高计数率SDD检测器和高速电路的EDX-7200与以往型号（EDX-720）相比，能够在更短的时间内达到目标分 析精度。高灵敏度 — 检测下限提高6倍 —提高了金属分析中微量元素的检测下限。金属中的铅的检测下限基准（300秒）※ 检测下限值仅为示例，并非保证值。高分辨率能量分辨率的比较（样品：PPS树脂） 与搭载Si(Li)半导体检测器的以往型号（EDX-720）相比， 能量分辨率更胜一筹。不同元素峰值重叠的影响减少，分析结果更加可靠。无需液氮SDD检测器为电子制冷方式，无需液氮冷却。不仅可以免去繁琐的液氮补充作业，还可以降低运行成本。检测元素范围 ・ 用EDX-7200进行12Mg以下的轻元素分析时，推荐使用真空检测单元或者氦气置换检测单元(均为选购件）。・ 检测下限因样品基材和共存元素不同而有差异。・ 使用样品容器分析20Ca以下的轻元素时，由于薄膜吸收的原因，难以达到上述检测下限基准。卓越的通用性从微小样品到大型样品，从粉末样品到液体样品，灵活应对各类样品。可配备进行轻元素高灵敏度分析时所需的真空检测单元、氦气置换检测单元以及可实现自动连续测定的12位样品 转台（选购件）。4种准直器以及样品观察装置ø 1、3、5、10mm 四级自动切换根据样品尺寸的不同，照射直径可进行4级切换。微小异 物分析和不良分析时采用ø 1mm，少量样品时采用ø 3mm和 ø 5mm，可以根据样品的形状选择适合的照射直径。标配样品观察装置通过样品观察装置，可以确认X射线的照射位置。适用于 检测微小样品、检测由多个测样点组成的样品、使用微量 样品容器检测等情况。 自动切换5种一次滤光片使用一次滤光片降低X射线管产生的特性X射线和连续X射 线，从而提升检测灵敏度，尤其于分析微量元素时有效。 EDX-7200搭载5种（含OPEN共6种）一次滤光片，可以实 现软件操控自动切换。 准直器和一次滤光片自由组合准直器和一次滤光片独立驱动，可自由组合，共6×4种=24种组合可选。 同时，所有组合均可对应FP法进行定量分析。 真空检测单元（选购件）由于轻元素产生的X射线荧光在大气环境下易被吸收，所以需要在真空环境下提高轻元素的检测灵敏度。真空环境为100时，氦气置换和大气环境下的相对灵敏度真空环境和大气环境的分析结果比较（样品：钠钙玻璃）氦气置换检测单元（选购件）对于无法在真空环境下进行分析的样品（如液体、会产生气体等），可以通过氦气置换实现轻元素分析。升级了岛津特有的氦气置换系统（日本专利：「特许」No.5962855），且配备可实现短时间检测并减少氦气 消耗量的功能。氦气置换和大气环境下的谱图比较（EDX-7200/油中硫） 12位样品转台（选购件）配备样品转台可实现自动连续测定。特别是在真空氦气 环境下可实现高通量，从而显著提高检测效率。丰富的分析功能校准曲线法校准曲线法是指通过对标准样品的测定，依据X射线 荧光强度与标准样品的含量关系制作校准曲线，是对未知样品进行定量的方法。 校准曲线法需要选择与未知样品类型相近的标准样品 且需要制作各元素的校准曲线，从而实现准确度高的分析。可以进行吸收/激发校正、重叠校正等各种共存元素校正。 FP法根据理论计算而得出X射线强度的定量方法。对于难 以找到标准样品对应的未知样品，FP法是有效的定量 分析方法。配置自动设定平衡功能样品主要成分为C,H,O等时，FP法需要进行平衡（残 余成分）设定。如根据特征形状判定需要平衡设定时， 软件将自动进行。 背景FP法背景FP法指在仅计算X射线荧光（净峰）强度的传统FP法基 础上，增加计算散射X射线（背景）强度的方法。（日本 专利：「特许」No.5975181）在提升少量有机物样品的定量准确度、异型镀层样品的膜厚 测定、有机膜的膜厚测定方面效果显著。 薄膜FP法标配薄膜FP法。可检测多层膜的膜厚,同时对膜的组成进行 定量分析。薄膜FP法可对基板等基材、镀层结果、元素信息 进行设定。 匹配功能匹配功能是指将某种样品的分析结果与所保存的谱库 比较，按由高到低的顺序自动排列出接近的物质。谱库分为含量数据和强度数据两类，用户均可登录。 同时，含量数据更可手动直接录入。匹配结果具有设计感的外观460MM宽的紧凑机身，配置大型样品室460mm宽的紧凑机身，与以往型号（EDX-720）相比，宽度减少了20%。虽然机身紧凑，但却拥有可放置300（W）×275（D）×约100（H）mm样品（相当于A4大小）的大型样品室。识别度高的LED显示灯产生X射线时，分析仪器后面的X射线显示灯和前面的X-RAYS ON显示灯会点亮。分析时X射线显示灯的两侧亮起 蓝灯。操作人员不在分析现场也可对分析仪器的状态一目了然。“初次见面”也可轻松上手的软件PCEDX Navi为了使X射线荧光分析贴近每一个实验室，深入浅出的软件PCEDX Navi应运而生。 仅凭直觉即可操作的简洁界面，无论是初学者还是专家，都可以体验到便捷的操作环境。简洁的界面在一个界面内可以同时显示样品图像、选择分析条件、输入样品名称。在测定界面上可以直接切换准直器可以一边观察样品图像,一边切换准直器直径。 同时,选定的直径用黄色圆圈表示。自动保存样品图像测定开始时自动读取样品图像，与数据文件夹关联保存。

仪器简介：尊敬的新老客户你们好！在地球环境日益恶化的今天，欧盟率先推出了相应的RoHS&WEEE指令以及ELV指令。RoHS指令中明确规定2006年7月1日起，在电气电子设备中限制使用某些有害物质——Pd,Hg,Cr6+,PBB, PBDE1000ppm Cd100ppm。中国信息产业部也出台的中国版的RoHS——《电子信息产品污染防治管理办法》。这些指令规定中所涵盖的行业包括大小型家用电器、IT及通讯仪器、明用装置、照明器具、电动工具等，也就是说几乎所有的生产制造商都受到了制约。 针对这些指令，各生产厂家都需要在进货和出货的时候对产品进行有害物质的测量。菲希尔测试仪器有限公司利用50多年来在X射线测量仪器领域中的丰富经验，新开发了利用X射线对产品中有害物质进行无损检测的仪器——XAN-DPP。技术参数：1.测量箱有效内部尺寸：包含测量门斜面部分的尺寸：宽 = 318mm 深 = 307mm 高 = 29 至 86mm仅包含完整高度部分的尺寸(高：86 mm):宽 = 318mm 深 = 203mm 高 = 86mm2.视准器:可编程的,电机控制的4个视准器尺寸:ø 0.2mm ø 0.6mm ø 1mm ø 2mm 3.探测器:Si-PIN-二极管 Peltier-冷却 (约 -30°C). 无须液氮冷却4.能量分辨率:180 eV5.元素范围:铝 (Z=13) to 铀 (Z=92)6.测量距离修正方法:专利的DCM-方法 (Distance Controlled Measurement距离控制测量) 允许工件表面凹陷处的测量主要特点：1.针对欧盟的RoHS指令最新开发的有害物质测量设备。2.完全电子制冷，无需要液态氮进行冷却，经济安全。3.XAN拥有四个视准器可供选择，最小的视准器面积为0.2mm。专门针对小样品的测量。4.XDAL拥有四个视准器可供选择，最小的视准器面积为0.1mm；该仪器为全自动的仪器，可以针对复杂样品中的有害物质，进行编程扫描测量。5.利用镀层测厚的专业知识，可针对电镀层中的有害物质进行测量。6.唯一不需要标准片进行校准就可以直接进行测量的仪器。7.可以在测量有害物质含量的同时显示样品的厚度。

便携式EDXRF光谱仪P-Metrix为快速现场检测提供实验室级结果质量 P-Metrix是一台基于能量色散X射线荧光（EDXRF）技术，用于定性及定量分析的便携式实验室级光谱仪。其作为一款高性能的分析仪器，结合了台式EDXRF分析仪器的性能和安全性，同时具备了便携式设备在现场的机动性和性价比优势。无损元素分析通过使用标样或无标样方法（基本参数）进行定性及定量分析。硅漂移探测器（SDD）高计数率及分辨率的SDD探测器，分辨率可达125eV，探测范围C（6）- Fm（100）。X射线源激发性能达50kV，10W，400μA，Rh靶材料，分析浓度探测限范围可达ppm至100%，为现场应用提供实验室级别的性能。滤光片配备多达6种可切换滤光片以提供更高的精度和性能。自动刻度根据周围环境系统自动进行刻度。超大测量腔室目前便携式EDXRF仪器中最大测量腔室。用户界面友好工业级触摸屏和集成的完整PC功能及易用的图形化界面。样品摄像机集成的摄像机能够覆盖感兴趣的区域。Analytix专用软件基于Analytix专用软件,可在现场快速、方便的采取行动并得到结果。电池供电现场移动式提供4小时电池供电及外配充电器。自助式维护设计采用低维修成本的自助式维护，诸如探测器、多道分析器（MCA），控制器及PC板等均可轻松替换。P-Metrix优秀的机动性P-Metrix的重量仅为16kg，其设计符合人体工程学，是现场实验室使用的完美选择。P-Metrix可选配密封加固人体工学便携箱以安全舒适的运输到现场。P-Metrix在现场可独立通过电池供电(长达4小时)。续航方式可以通过车载充电器充电、也可以通过额外的电池和可选的外部充电器充电。多种选择支持系统在现场持续工作。 P-Metrix强大的性能重量轻：仅16kg。超大测量腔室尺寸：30.4 X 26.45 X 10 cm。X射线管性能：50kV，10W，400μA。硅漂移探测器（SDD）能够提供高计数率应用，低至125eV的出色能量分辨率，元素分析范围可达C（6）-Fm（100）。多达7种初级滤光片可降低噪声，对元素周期表中的元素提供最佳的检测性能。触摸屏配合内置电脑支持在各种环境中对P-Matrix全方位操作，配置包括SSD硬盘，GPS，GPRS，WiFi，Mini HDMI和USB接口等。微光斑尺寸可达至~0.3mm。样品摄像机聚焦于小部件及特定感兴趣区域。样品滞留传感器检测系统关闭后样品是否滞留在腔室内，并提供报警。系统支持氦气和真空环境检测以提高对轻元素的探测能力。可选密封加固人体工学便携箱。P-Metrix安全和保障仅当测量腔室闭合后系统才可启动。测量过程中系统被移动则终止测量。内置X射线屏蔽装置。自带密码保护功能。样品滞留传感器。P-Metrix应用领域石油及化工元素分析 P-Metrix可准确测定燃料，油品和润滑剂中痕量元素的含量。我们卓越的解决方案涵盖了从研发阶段到加工及质量控制的整个生产过程。 P-Metrix广泛应用于石油及化工领域，识别元素并确定各种基质（固体，粉末和液体样品）中存在的实际元素浓度。P-Metrix能够为此提供一种低成本的定量分析方法，可以快速得到结果，而不需要进行样品制备，并且符合多个ASTM标准和法规。主要应用及法规：ASTM D7212, D7220, D7039, D7751, D5453；ISO 8754, 13032, 20846, 20884, 13032, 20847, IP531。ASTM D4294 (S元素分析)。Mo, Ba, Mn元素检测。ASTM D6481 (未使用的润滑油): Ca, P, Zn, S。金属磨削中元素检测: Sb, Sn, Mo, Ti, Ni, Cd,Fe, V, Pb, Cr, Cu。润滑油中P, S, Ca和Zn元素分析。矿业与地球化学元素分析 P-Metrix提供采矿和矿物材料的现场定量分析。便携式系统将调整接收结果的频率从几天减少到几秒，这也使它成为勘探行业的理想设备，为临界测量(包括低LOD)提供了卓越的精度和精度等级。专业应用：铁、铀矿。煤炭、钻石、石灰石。油页岩，岩盐和钾。贵金属-金(Au)、银(Ag)、铂(Pt)、钯(Pd)。L线,稀土元素。锡石、Sb、Cd、S元素。轻元素，如Mg、Al、Si、P、S和Cl元素。金属及合金元素分析 P-Metrix可在多种金属工业过程和质量控制中起着关键性作用。无损元素分析可应用于从矿石到成品合金过程的每一步中。 该系统可方便、快速地对不同等级的刚才进行排序，并可形成方便的QA处理工具，提供即时的测量结果。 使用基于复杂的分析库支持的P-Metrix进行合金分析，已成为当前标准做法。P-Metrix可识别大多数合金并在几秒钟内完成化学分析，可快速轻松地分类以及识别不同等级的合金。合金等级：铁和钢。低合金和碳钢。不锈钢。铜，黄铜\铅，青铜，铝、青铜\铅，铝。镍合金，锌合金，钴合金，钛合金。焊锡-锡，铅和银。 食品与农业元素分析 在农业食品部门，土壤组成和肥料的使用，以及在植物和作物内养分的吸收和潜在有毒元素的水平都是至关重要的。EDXRF是业界公认的分析技术。P-Metrix提供快速、准确和精确的定性和定量分析结果。 为了获得额外的营养价值，食品生产过程中添加各种矿物质和金属，这些物质必须受到密切监测，以符合美国食品药品监督管理局(FDA)和欧洲药物管理局(EMA)等食品管理规定。这一分析还可以发现在生食品和加工食品中可能产生的不良添加剂和污染物质。几种常见的应用：面粉，大米和其他谷物中的铁元素测量。橙汁、奶酪和其他食物中的钙元素测量。奶粉中的铁元素测量。生面团中的铝和磷元素测量。P-Metrix专业分析软件：Analytix准确、全面、易于理解的测量结果。广泛的应用，适用于在短时间内简单配置完成的多项测试工作。简单易用的GUI，具有高度直观的界面，可以由不同级别的用户操作，完成各种基本的分析任务。客户-服务器操作员模式，通过Wi-Fi或GPRS进行实时数据传输，可以全局轻松管理多个系统。可在现场轻松完成分析过程，相应结果可以传输到其他分布式客户端。软件特点基本参数发分析基本参数方法根据X射线物理特性和ED-XRD图谱区域中基本参数的测量值，实现无标样刻度，测量X射线强度与样品中元素浓度之间的关系。元素库定义合金等级、元素组成，提供合金材料的定性定量分析和其他属性。定性及定量分析用户预设定性及定量图谱分析。快速分析快速准确的图谱采集和自动峰识别定性分析。深度分析高级图谱采集设置和定性分析，包含6中不同的顺序采集和预设定义程序。自动能量刻度自动能量偏移修正刻度。Analytix工作流程高端ED-XRF实时数据收集分析解决方案满足您的分析需求轻松建立分析流程

产品详情X射线荧光分析法的原理特点 图为用波尔模型说明电子轨道和荧光X射线产生的原理 X射线荧光的产生原理X射线管发出X射线照射样品，样品中所含的原子则向外发射原子的X射线。这种X射线被称为荧光X射线，各元素具有特定的波长（能量）。因此，通过检测X射线的波长就能够进行定性分析。另外，荧光X射线的强度与浓度具有函数关系，检测每个元素X射线特征波长的X射线量就能进行定量分析。 满足所有领域不同的应用■ 电子电气 RoHS指令、无卤素等筛选分析半导体、存储装置、液晶、太阳能电池等各种薄膜分析■ 汽车机械 应对ELV指令的筛选分析 各种机械零部件结构分析及镀层厚度、化学合成外膜附着量的检测■ 钢铁非金属 原材料、合金、焊锡、贵金属的主要成分、残余成分的分析 炉渣的组成分析■ 矿业 选矿工艺的成色鉴别分析■ 窑业 陶瓷、水泥、玻璃、砖、粘土的分析■ 石油石油化学 油中硫元素的分析 润滑油中各种添加元素及混入元素的分析■ 化学工业无机有机原料和产品分析催化剂、颜料、涂料、橡胶、塑胶的分析■ 环境 土壤、排水、焚烧灰、过滤、PM2.5等成分分析■ 医药 合成时的残留催化剂分析 原药中不纯物分析、异物分析■ 农业食品 土壤、肥料、植物的分析 食品的原料分析、添加元素管理、混入异物的分析■ 其它 考古学样品及宝石成分分析玩具日用品中有害重金属元素测定等有设计感的外观460mm宽的紧凑身材，配备大容量的样品室460mm宽的紧凑身材，与我公司以往机型相比尺寸减少20%。而紧凑的机身，拥有可放置200（W）×275（D）×约100（H）mm样品的大型样品室。 识别度高的LED显示灯产生X射线时，分析仪器后面的X射线显示灯和前面的X-RAYS ON显示灯将会点亮。分析时X射线显示灯的两侧亮起蓝灯。操作人员不在分析现场也可对分析仪器的状态一目了然。 “初次见面”也可轻松上手的软件PCEDX Navi 为了使X射线荧光分析贴近每一个实验室，深入浅出的软件PCEDX Navi应运而生。凭直觉操作的浅显简单画面，使从初学者到专家的每一位用户都可以体验到便捷的操作环境。 简洁的界面 在一个界面内可以同时显示样品图像、选择分析条件、输入样品名称。在测定界面上可以直接切换准直器 可以一边观察样品图像，一边切换准直器直径。同时，选定的直径用黄色圆圈表示。自动保存样品图像 测定开始时自动读取样品图像，与数据文件夹关联保存。 测定结束后，与样品画面一起，元素名、浓度、3δ（测定的标准偏差）均会在同一界面清楚显示。轻松点击鼠标，即可看到《分析结果一览》或《报告》。 使用转台时的测定准备画面（样品位置确认时）同样适用于连续分析PCEDX Navi同样可应对使用转台（选购件）的分析。可以轻松切换样品图像确认界面和样品位置确认界面。良好的分析性能采用高性能的SDD检测器，确保硬件良好，具有高灵敏度高速分析和高分辨率。可以检测出6C～的机型正式上线（EDX-8000/8100）。高灵敏度 –提高检测下限1.5～5倍-高性能的SDD检测器与光学系统和一次滤光片的组合，实现高灵敏度。从轻元素到重元素，全范围轻松应对。与采用传统Si（Li）半导体检测器的分析装置相比，灵敏度也更胜一筹。高速 –分析速度可提高10倍-SDD检测器在单位时间内X射线荧光的计数率高，因此能够在更短的检测时间内进行高精度分析。特别是对金属材料的分析，这个特点可以得到较大限度的发挥。测定时间与标准偏差（定量值偏差）的关系实际样品的比较分别用以往型号和EDX-7000/8000/8100对无铅焊锡中所含的铅（Pb）进行分析，比较重现性。 满足分析精度所需的检测时间 X射线荧光分析可以通过延长测定时间增加X射线荧光的计数从而提高精度（重现性）。搭载高计数率SDD检测器的EDX-7000/8000/8100与以往型号相比，能够在更短的时间内保证分析精度。高分辨率 能量分辨率的比较（样品：PPS树脂） 与配置以往Si（Li）半导体检测器的型号相比，能量分辨率更胜一筹。不同元素峰值重叠的影响减小，提升可靠性。无需液氮SDD检测器为电子制冷方式，无需液氮冷却。不仅可以从繁琐的液氮补充作业中解放出来，更可以降低仪器的维护成本。检测元素范围 用EDX-7000/8100进行15P以下的轻元素分析时，需要真空检测单元或者氦气置换检测单元（均为选购件）。 用EDX-8000进行15P以下的轻元素分析时，需要真空检测单元（选购件）。 用EDX-8100检测氟元素的分析结果 EDX-8000/8100进行超轻元素分析EDX-8000/8100搭载的SDD检测器窗口采用薄膜特殊材料，能够检测碳（C）、氧（O）、氟（F）超轻元素。 优良的通用性从微小样品到大型样品，从粉末样品到液体样品，灵活应对各类样品。配备进行轻元素的高灵敏度分析时所需的真空检测单元、氦气置换检测单元，以及可实现自动连续测定的12位样品转台(选购件)。4种准直器以及CCD样品观察装置 选择1mmΦ准直器 1、3、5、10mmΦ的4种准直器自动切换 根据样品尺寸的不同，照射直径可有4种不同的选择。微小异物分析和失效解析时采用1mmΦ，少量样品时采用3mmΦ或5mmΦ，根据样品的形状可以选择适合的照射直径。 标配CCD样品观察装置 通过样品观察装置可以确认X射线的照射位置。适用于检测微小样品、检测由多个测样点组成的样品、使用微量样品容器检测等情况。 选择5mmΦ准直器时，使用微量样品容器 自动切换5种一次滤光片使用一次滤光片降低X射线管产生的特性X射线和连续X射线，从而提升检测灵敏度。尤其分析微量元素时有效。EDX-7000/8000/8100搭载5种（含OPEN共6种）一次滤光片，可以实现软件操控自动切换。滤光片有效能量(KeV)对应元素示例#1 15～24 Zr, Mo, Ru, Rh, Cd#2 2～5 Cl, Cr#3 5～7 Cr#4 5～13 Hg, Pb, Br#5 21～24（5～13）* Cd (Hg, Pb, Br)*使用滤光片后，（）中能量范围的背景降低。 准直器和一次滤光片自由组合准直器和一次滤光片独立驱动，无限制自由组合。可以选择6种×4种=24种组合。同时，所有组合均可对应FP法进行定量分析。样品无损且无需前处理，通过X射线荧光，即可简单轻松实现对医药品中杂质的管理 &bull 分析只需4 Step！&bull 遵照制药界的FDA 21CFR Part11标准&bull 以提升效率为目标，使用LabSolutions CS进行数据管理&bull 通过X射线荧光可以实现对杂质的分析 分析只需4 Step！主要特长遵照制药界的FDA 21CFR Part11标准遵照FDA 21CFR Part11具有如下功能。&bull 安全功能&bull 用户管理功能&bull 操作日志，逐位跟踪日志的生成功能&bull PDF生成功能&bull 验证功能安全功能通过ID/密码进行用户认证，对具有权限的用户开放操作履历记录、界面锁定等功能。逐位跟踪日志的生成功能可以生成分析装置设定更改履历和用户的操作履历等跟踪日志。以提升效率为目标，使用LabSolutions CS进行数据管理包括其它分析装置的的全部分析数据都可以通过服务器电脑的数据库进行管理，因此联网后任何电脑都可读取数据。不论何处都可实现数据管理统合化。使用EDX-7000/8000/8100，轻松实现对医药品中的金属进行分析 如图所示，制成添加了Pt的纤维素粉末标准样品，在0～20ppm的范围内形成6点工作曲线。样品量仅为100mg，平均1样品测定20分钟，就可如下表得到良好的标准偏差（RMS）和直线性，从而实现高正确度的分析。元素濃度範囲(ppm)RMS(ppm)相関係数Pt0-200.250.9993 混入Pt和As的纤维素粉末样品的EDX光谱

XRF9能量色散X射线荧光分析仪n XRF9能量色散X射线荧光分析仪器是基于X射线荧光分析法对样品进行定性和定量分析、检测构成元素类别和含量的仪器。n XRF9可以无损分析块状固体、粉末、液体样品，广泛应用于质检、电子、医药、食品、冶金、化工、地矿、考古等领域的研究开发和品质管理。（注）：X射线荧光（XRF）分析法是测定有初级X射线激发样品时所产生的二次特征X射线（X射线荧光），它是一种非破坏性分析方法，可以对试样进行多元素快速分析。 产品特点n 先进的多光束可调系统n 具有高分辨率的探测器n 采用XYZ三维样品台n 大型样品分析室n CCD摄像及自动定位系统n 自动调节双层六通道滤光系统n 完善的辐射安全防护n 强大功能的软件操作系统n 短时间多元素同时分析n 无损分析和先进的薄样分析技术相组合n 多种定量分析方法n 无需液氮和水循环冷却n 种类齐全的选配标准样品n RoHS/WEEE指令快速分析 仪器配置n 外形尺寸：750（L）×590(W)×715(H)mm3n 样品室尺寸：400（L）×100(W)×100(H)mm3n 主机质量：约45Kgn 工作环境温度：0~40oCn 工作环境相对湿度：≤80%n 元素分析范围：AI-Un 含量分析范围：1ppm~99.99%n 重复性：＜5%n 测量时间：一般60~300sn 测量对象：块状物体、粉末、液体n 激发功率：50Wn 探测器分辨率：149gevn 输入电源：AC110V/220Vn 高压电源：0~50kv/0~1mAn X射线辐射剂量：≤1μSv/h代表性元素120s最低检出限LOD(mg/kg) 性能指标塑料基体CrBrCdHgPb LOD82 4 4 5

EDX-7000/8000/8100 能量色散型X射线荧光分析装置采用高性能的SDD检测器，确保硬件优化，具有前所未有的高灵敏度高速分析和高分辨率。可以进行超轻元素分析（EDX-8000/8100)。采用电子制冷，无需液氮冷却。具有X射线管自动老化功能。 范围 测定对象：固体、液体、粉末 测定范围：11Na-92U(EDX-7000) 6C-92U(EDX-8000/8100) 一次滤光片：5种+OPEN自动交换 分析气氛：大气、真空、氮气 软件：定性、定量分析、FP法、薄膜FP法、背景FP法 样品室尺寸：可达W300mm x D275mm x H100mm(不包括R部分）

双源单波长激发 能量色散X射线荧光光谱仪采用双曲面弯晶技术对双激发源进行单色化，从而大幅降低X射线管出射X射线经样品所产生的散射线背景干扰，提升样品中元素荧光射线强度，降低对多元素的检出限，尤其对重金属元素检出限可降低至0.05mg/kg水平。该仪器可实现对硼元素之后的全元素检测。此外该仪器在定量方面采用快速基本参数法，可实现在无标样或少标样的情况下对未知样品进行定性和定量分析。

产 品 说 明Epsilon3 是一个台式能量色散X射线荧光光谱仪（EDXRF）Epsilon3 可以处理:固体、压制和松散粉末、液体和滤膜样品。Epsilon3 从钠到铀元素的非破坏定量分析。

产品名称：CIT-3000SYB能量色散X荧光分析仪 产品说明、技术参数及配置 CIT-3000SYB 能量色散X荧光分析仪，是公司专门应对欧盟ROHS、WEEE指令和卤素测试要求而量身定做的一款高灵敏度、高精度的分析测试设备。 适用范围 适用于电子产品、工具、玩具等RoHS/WEEE有害元素（Pb、Hg、Br、Cd、Cr）和卤素检测； 型号：CIT-3000SYB 性能特点 采用数字化谱分析技术，计数率高，无漏计，稳定性好； 采用美国航天技术的Si (PIN)半导体探测器计数，配合专利的数字脉冲处理技术，能量分辨率优于150eV； 40KV-钨靶微型X射线管； 采用2048道多道分析器，分析精度更高； 一体化设计，性能稳定，运行可靠，性价比高；操作简单，测量时间短，同时配备PC机； 测量物质状态：固体、粉末、液体均可测，制样简单； 校正方式：采用欧盟RoHS标样校准数据。 技术指标 分析元素范围：Na-U 元素含量分析范围：1ppm -99.99% 探测器能量分辨率优于150eV 最低检出限：Cd/Cr/Hg/Br≤1ppm, Pb≤2ppm,Cl≤20PPm 校正方式：采用欧盟RoHS标样校准数据 测量范围：1－40KeV 高压：0kV-40kV 管流：0μA-100μA 专业的稳定电源：AC 220V±1%，50HZ（采用国内最先进的高品质稳压电源1000VA） 检测时间：120S～600S（时间随样品而调整） 圆形样品真空腔：直径14cm，高5cm； 工作环境温度：温度0-35℃；样品温度＜70℃ 工作环境相对湿度：≤99%（不结露） 额定功率：50W 仪器重量：25Kg 仪器尺寸：500（W）X500（D）X450（H）mm 仪器配置 仪器主机一台 进口电制冷半导体探测器 X光管（0-40KV） 高压电源 品牌计算机一台 激光打印机一台 真空泵一台 压片机一台 制样模具一套 稳压电源一台 测试软件一套

EDX-LE Plus 能量色散型X射线荧光分析仪配备高分辨率、高灵敏度SDD检测器，轻松应对复杂基体下的有害元素筛选分析，效率更高。具有X射线管自动老化功能。装置如长期不运行，该装置可自动运行该功能。 范围 测定对象：固体、液体、粉末 测定范围：13AI-92U 一次滤光片：5种+OPEN自动交换 软件：筛选分析、镀层测厚分析、成分定量分析、解析软件定性分析，具有 自动校正功能（能量校正、半峰宽校正） 样品室尺寸：较大W370mm x D320mm x H155mm

RX-620SA 荧光X射线硫含量分析仪RX-620SA主要是应用能量射散方式荧光X射线分析法（JIS K2541-4. ISO 8754以及ASTM D4294所规定的非破坏性的快速、正确、经济的方法）对重油、原油以及石脑油等石油产品中的硫分含量进行测定。试样一旦安装，就会在300秒后（代表值）显示并打印硫分含量。RX-620SA型可以测试12个试样。采用32bit CPU能够更加迅速准确地测定。仪器特点：■　高精度：为了调整系统，在各项测定前会自动进行波高分析（PHA）。这种创新的系统设计进一步提高了精度。■　广阔的测定范围：菱形参数方式（专利）会对各个试样的不同碳/氢比所引发的测定错误进行正确补正。这种独有的技术可以使高精度、大范围C/H比的试样测定成为可能。■　温度及气压的自动补正：对X射线槽的气压和温度进行实时测定，自动补正空气密度差引起的X线吸收差，使高温试样以及海拔高的地方也能正确测定。■　自动校正：检测标准试样，只需启动自动校正程序就可轻而易举地进行检量线的校正。具有多达12点的多点校正以及2点或3点的日常校正程序。另外，当未知试样和标准试样一起检测时，校正后会自动移动到未知试样测定。■　转盘式试样更换器和丙烯盖：通过使装载试样管的试样管支座上下移动，押盖就可以完全密封以防止X射线泄漏。另外，即使进行单个试样测定时，还可以对其他试样进行取放。丙烯盖是防止灰尘用，即使开着也不会中断测定。仪器规格：■　型号 RA-620SA■　石油产品专用能源分散型硫磺成分测定装置■　标准规格：JIS K2541-4、ISO 8754、ASTM D4294等■　试样更换：转盘可连续测定12个试样，测定之外的试样可以随时取放■　试样量：3～5ml■　测定范围：0～6.00wt%■　C/H比补正：自动1wt%水平的油为0.003wt%以下。■　测定时间：10～990秒、1-99相同 可以更改■　连续测定误差：测定透镜标准偏差测定时间0.008wt%以下10ppm 300sec*3次0.05wt%以下20ppm 100sec*3次0.05-0.50wt% 40Ppm 100sec*3次0.51-1.50wt% 60Ppm 100sec*3次1.51-2.00wt% 100Ppm 100sec*3次2.01-4.00wt% 200Ppm 100sec*3次4.01-6.00wt% 400ppm 100sec*3次■　校正：*自动2（3）点校正～未知试样连续测定　*手动2（3）点校正　*自动多点校正（12点以内）　*手动多点校正（12点以内）■　X射线源：小型X 射线管7kV■　试样管：2分割特氟龙试样管以及一次性聚酯薄膜■　打印机：主机内置型、点式矩阵打印机 纸宽57mm■　显示器：带背景灯液晶显示（20个字X4行）■　数据传送：RS-232C 单通道■　X线泄漏量：试验器表面0.6uSv/Hr以下■　操作温度/湿度：10～30℃（一天的温度变化在10℃以内），湿度80%以下■　电源：AC 100～240V+/-10%， 45～66Hz， 200VA■　安全机构：对于因事故引发的X射线泄漏可以通过互锁机构切断X射线管电源供应。■　尺寸/重量：宽680mm X 深515mm X 高 245mm、29kg标准附件：■　电源线 1根■　试样管支座 12个■　试样管支座弹簧 12个■　特氟龙试样管 12个■　试样管安装组件 1套■　试样管分解组件 1个■　聚脂薄膜（200mm X 1km） 1箱■　试样管台 1个■　打印纸 1个■　打印色带 1个■　打印纸轴 1根■　玻璃管保险丝 2个特别附件（用户选购件）：■　硫磺成分标准试验材料（设置时需要）（0.0wt%,100ppm, 200ppm, 500ppm, 800ppm, 0.1wt%, 0.2wt%, 0.5wt%, 1wt%, 2wt%, 3wt%, 4wt%）■　根据需要，公司可未经预告对仪器的规格和外形进行更改，望予以谅解为盼。