荧光射线矿石分析

S1TITAN手持式X荧光光谱仪重量轻（1.23kg，测量范围Mg-U）、是基于X射线管技术的手持式XRF分析仪。快速的分析速度和准确性是S1TITAN 的两大特性。其他功能包括集成的彩色触摸屏、50kVX射线管、SMARTGrade 计时、SharpBeam优化X射线几何形状、硅漂移探测器，以及坚固的外壳，该外壳经过密封，可以防潮防尘。 S1TITAN系列都采用了布鲁克公司的SharpBeam技术，并配置了布鲁克技术X-FlashSDD探测器，向您提供快速分析时间。S1TITAN可以配备各种校准装置，这些装置经过优化，适用于各种样品材料—包括各种合金、不同的采矿与环境样品，以及受限制材料。 SharpBeam技术对探测器和放射管几何图形进行了优化。经优化的几何体具有许多理想的效果，包括：1、降低功率要求 2、减轻重量 3、提高测量度 4、提高探测限制 5、延长电池寿命手持式荧光光谱仪应用领域 QA/QC分析，材质识别(PMI) 1、工厂/精炼厂PMI检测；2、废金属回收 3、航空航天用合金；4、金及贵金属检测 5、矿山；6、矿石品位控制 7、岩芯分析；8、探矿；9、地质图 10、土壤分析；11、金属回收；12、玩具中的铅 13、ASTM-F963；14、RoHS 15、包装中的有害元素分析 16、儿童服装中的铅筛查

手持式X光荧光分析仪(HHXRF)的X-MET8000系列提供进行快速的合金等级鉴定及多种材料（固体和粉末金属、聚合物、木材、溶液、土壤、矿石、矿物等）的准确化学结构分析所需的性能。 X-MET方便、耐用且使用简单，可为您提供可靠的结果。我们提供多种型号的产品，符合您不同应用的所有分析需要和预算。为什么选择 X-MET 光谱仪卓越性能X-MET提供极好的轻元素 （镁、铝、硅、磷、硫、氯）分析，检测限度低，且可每天提供准确可靠结果。通过灵活的基本参数法(FP)法进行分析，从而测试多种材料；或若需结果可追溯和高度准确，则使用实证校准。操作简单大触摸屏和基于图标的用户界面，使用户只需要极少的培训便可开始操作。符合人体工学X-MET轻便（仅1.5公斤）、简洁、平衡性好，可供长时间使用，而疲劳度非常低。坚固耐用而拥有成本低符合IP54要求（等同于NEMA 3）、防水、防尘的X-MET可供室内外使用。通过MIL-STD-810G军用耐用标准测试。其可选的防扎窗口膜可预防在粗糙表面上测量导致探测器损坏而出现的高昂维修费用。高级数据管理完全灵活：可将多达100,000条结果保存在X-MET上，将报告输出到U盘或个人计算机，或自动将X-MET数据存储在LiveData云端。应 用X-MET8000 SmartX-MET8000 OptimumX-MET8000 Expert废金属回收√√√材料可靠性鉴定(PMI)检查√√制造与 PMI QA/QC√√√贵金属 √√√监管机构合规筛查（消费品、包装、原材料…）√√ X-MET8000 Expert CG环境土壤筛查√ X-MET8000 Optimum Geo√ X-MET8000 Expert Geo矿石和矿物√ X-MET8000 Optimum Geo√ X-MET8000 Expert Geo金属镀层厚度测量√√√ X-MET8000 Expert / Expert CG科技考古√√ X-MET8000 Expert / Expert CG / Expert Geo比较型号X-MET8000 SmartX射线管：40kV滤光片：单一检测器：大面积 SDD最高样本温度：400oC符合 IP54 等级Thick Kapton窗口：保护以预防探测器的窗户损坏校准：基本参数法(FP)内置摄像头 （可选）X-MET8000 OptimumX射线管：40kV or 50kV滤光片：6位滤光转换器检测器：大面积 SDD最高样本温度：100oC 或通过 HERO&trade 耐热窗户400oC（可选)符合 IP54 等级可选窗口防护罩：预防检测器的窗口损坏进行保护校准：基本参数法 （包括轻元素分析）内置摄像头（可选）小光班准直器（可选）针对所有元素（从镁到铀）进行优先分析的六位滤光片X-MET8000 ExpertX射线管：50kV滤光片：6位滤光转换器检测器：大面积 SDD最高样本温度：100oC 或通过 HERO&trade 耐热窗户400oC（可选)符合 IP54 等级可选窗口防护罩：预防检测器的窗口损坏进行保护校准方法：自动跳转的经验系数法（可进行追溯）内置摄像头小光班准直器 （可选) 针对所有元素，从镁到铀，的优先分析的六位滤光片

在几秒钟内完成多元素化学成分分析由于时间关键型过程控制或运行样品高处理量，您是否需要在几秒钟内对化学成分进行无损分析？ 同时测量多达 28 种元素，浓度范围为从 ppm 至 100％，马尔文帕纳科Axios FAST 同步 WDXRF 光谱仪是理想的解决方案。 准确而强大的分析，即使经验不足的员工也可方便地操作，同时正常运行时间长，拥有成本低。快速获得时间关键型应用的结果Axios FAST 元素分析仪只需几秒钟即可获得分析结果，是时间关键型应用和高样品处理量分析环境的理想工具。 主要应用领域包括钢与金属合金生产以及每天需要分析数百样品的地质或商业实验室。 特点高样品处理量凭借高速样品处理和操作可靠性，Axios FAST 同步 XRF 光谱仪是高速分析控制的理想产品。通过转盘结构实现的连续进样168 位 VRC 进样器，带有灵活的托盘装载功能，可实现无人值守的批量分析直接进样可实现快速无错样品装载和数据自动录入的样品条形码读取器增强的性能可同时测量多达 28 种元素，每个样品的测量时间低至 2 秒用于轻元素分析的高灵敏度 HiPer 通道最多可选 4 台测角仪所带来的分析灵活性X 射线阳极材料的范围（Rh、Cr、Mo、Au）为特定应用实现了高性能增强的仪器正常运行时间Axios FAST 专为关键型过程分析而设计，按照高质量标准而制造，运用了大量技术来预防和很大程度减少停机。带有 ZETA 技术的 SST-mAX - 可消除 X 射线管强度漂移并减少校准维护CHI-BLUE X 射线管窗涂层提高了 X 射线管的耐用性和耐腐蚀性主动除尘装置可在测量前将灰尘从样品上去除，从而尽可能防止灰尘进入系统，提升正常运行时间外部装有通道的紧凑型测量室 - 无需影响系统真空环境即可接触关键组件 - 从而可在维护后让系统迅速稳定只需用户进行有限干预的专用软件Axios FAST 使用马尔文帕纳科可靠的 SuperQ XRF 软件的新版本， 即使是欠缺经验的员工，也可以在接受低程度指导的情况下开展例行分析，与此同时软件仍可发挥出足以令用户满意的分析性能和功能。自动化Axios FAST 专门的软硬件接口允许灵活地连接样品传送设备和主机以实现全自动的分析。 Axios FAST 还是结合了直读光谱和 X 射线荧光光谱的 TEAMworks（全元素分析系统）解决方案的基础。 应用用于时间关键型的分析Axios FAST 通过在服务实验室等高处理量环境中进行采矿样品（如铁矿石，镍矿石）的分析，以及在钢铁行业所涉及的各种生产和质量控制应用中进行需要即时开展的样品分析，展现了强大的分析能力。 典型应用包括：低合金钢、铁素体钢和奥氏体钢的宽范围校准，铝合金的宽范围校准，钛合金的宽范围校准，低合金钢分析，不锈钢分析，工具钢分析，铸铁分析和制备为熔片的铁矿石样品分析。

X荧光矿石重金属分析仪产品型号 F8-7000 X荧光矿石重金属分析仪产品应用 1.适用于矿业相关的整条产业链，可以帮助科研及技术人员快速识别贫矿、富矿，在矿山勘查、品位控制、岩心检测、矿石贸易、矿石分拣、矿脉勘探等领域有非常广泛的应用性 2.快速分析从镁（Mg）到钚(Pu)之间的三十种以上元素的含量。 产品特点 1.一键式防呆操作，去除复杂的操作选项，有效防止人为误操作； 2.软件退出并自动关机；（用户可自定义关机时间） 3.自动校准仪器，无需手动操作； 4.移动windows的专用分析软件； 5.更便捷的人机交互体验； 6.1秒即显示结果； 7.实时查看光谱图；（手机、仪器均可） 8.通过手机4G、共享热点、WiFi与手机APP进行数据传输； 9.输出客户自定义格式的测试报表。 技术参数 重量：基本重量不超过1.4kg； 尺寸：300mmx90mmx220mm；(长宽高) 激发源：大功率高性能X射线管； 靶材：5种可选择金（Au）、银（Ag）、钨（W）、钽（Ta），钯（Pb）； 电压：50kv；（可变电压） 滤波器：多种滤波器可选择，根据不同的被检测物自动调节； 探测器：大面积高灵敏度SDD探测器；（解析度≦135eV） 探测器制冷温度：Peltier效应半导体制冷,制冷温度-35℃； 标准片：外置316标准片/窗口保护盖； 处理器：SAMSUNG800MHz高性能处理器； 操作系统：MicrosoftWindowsCE系统； 数据处理：8G大容量数据存储卡：≥40000组数据及光谱图； 数据分析：搭载专业智能分析软件，具有智能化、速度快、操作简单等优点。整个分析过程仅需数秒便可完成； 数据显示：精确到百分比（％）显示，光谱或峰强度（计数率）或用户定的单位； 数据传输：手机4G、共享热点、WiFi与手机APP进行数据传输； 显示屏：彩色，高分辨率3.5寸TFT工业级触摸屏，任何光线条件下清晰可见；大图标图形界面； 外形设计：一体化机身设计，坚固、防水防尘及防冻，有效防振，适应潮湿或低温等野外环境使用； 安全操作：一触式“扳机”，软件具有自锁和防空测等保护功能； 分析元素：Mg、Al、Si、P、S、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Hf、Ta、W、Hg、Se、Au、Br、Pb、Bi、Zr、Nb、Mo、Ag、Cd、Sn、Sb、Re、Ir、Pt、Hg、Ru、Rh、Pd等元素。 测试环境条件：温度-20～+40℃，湿度＜80%RH。 售后服务 1．24/7服务热线； 2．两小时内响应回复； 3．远程在线故障诊断排除； 4．长期备品备件保有库存； 5．新机免费安装及培训； 6．新机15天内包换；（除人为毁坏外） 7．可根据客户需求定制保修期限； 8．新机保修一年，终身免费维护。（含软件升级）

高精度X射线荧光元素分析仪矿产重金属元素PRODUCT INFORMATION产品介绍◆ E-find仪器可以针对各种类型的矿物及矿物中多种元素进行高精度分析，可高效快速进行原料或矿样品质评价。◆ 对各种类型的矿物通过基本参数法对基体进行校正，且只需简单制样就可以得到高精度的测试结果，与实验室测试结果高度一致。◆ 快速分析矿物中铁、钙、铜、锰等金属元素和磷、硫、硅等非金属元素含量。◆ 针对材料中微量元素、主量元素进行准确定量分析；应用于不同形态的硫酸钴、硫酸锰、硫酸镍等样品分析，如液体、固体、粉末等。E-find型便携高精度X射线荧光矿物分析仪专门针对钢铁冶金行业的材料快速准确检测，例如矿石、炉渣、萤石、焦炭、石灰石、耐火材料等，对重点关注的铁、铜等具有非常优异的分析检测性能，适用于企业和工厂在矿物采选、物流、贸易、冶炼加工过程中的各个环节。产品特点◆ 采用独立风道散热方式，避免长时间的工作，导致元件温度升高进而导致数据偏差；◆ 进样与采样简单化，进样量少，简化现场制样流程。◆ 先进的单波长激发技术及软件算法，大幅提高检测精度、减少测试误差。◆ 体积小，方便室外工作，随时随地进行现场分析。◆ 采用嵌入式系统，高分辨率液晶显示触摸屏，结合数字多道技术，有效提升数据传输和运算能力。◆ 数据导出专业、全面、可进行Excel编辑。◆ 强大的数据存储能力，能够连续存储至少10000次检测记录。◆ 支持蓝牙打印功能。◆ 支持4G、5G远程数据传输。分析曲线图E-find在矿物中铁、硅、钙、铜等元素应用分析（单位：%）重复性测试技术参数测量方式 压片法、袋装分析、样品杯旋转分析等检材 固体、粉末、液体等测量方法高精度X射线荧光光谱法HDXRF测量范围 铁、锰、铜、锌、硅、磷等40余种元素工作曲线 矿产、食品、水质等曲线激发源 X射线管，50kV,1mA探测器 高性能Fast SDD 探测器光学系统 HDXRF技术构架下的单色聚焦系统测量时间 30秒-1200秒工作温度 -5 °C~50 °C电源 110-240 VAC，50-60 Hz重量 约13Kg尺寸 32.5ｃｍW*32.2ｃｍL*26ｃｍH

产品简介A-650型X荧光分析仪是佳谱仪器多年研发，专为有色金属、黑色金属、选矿及冶炼、地质行业定制的一款高端分析仪器。技术规格测量元素范围从钠（Na）到铀（U）测量浓度范围ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同）测量对象状态粉末、固体、液体元素分析能力一次性可测从钠（Na）到铀（U）之间几十种元素分辨率129eV±5eV分析精度RSD≤0.1%（国标标样）分析时间单次测试时间可调制冷方式电制冷，无需任何耗材大样品腔尺寸400mm x 340mm x 80mm抽真空样品腔尺寸φ100mm×h75mm外观尺寸700mmx510 mmx336mm工作电源AC 220V ±5V、50Hz工作环境室内温度 15～30℃；相对湿度 ≤80% （不结露）整机重量56KG性能特点分析效率速度快、精度好、效率高，采用自主研发的分析软件能在1-120秒内同时完成从11钠（Na）至92铀（U）之间几十种元素的同步准确分析功能优势1. 外形设计：大方美观、坚固耐用、多重安全防护模式。2. 准直滤光系统：准直器+多组合滤光片，软体自动切换，满足各种测试应用。3. 采用自主研发的SES信号处理系统（数字多道），有效提高峰背比，让测量更准。4. 多维散热系统：优化一体化散热设计，使整机散热性能得到更大提高，确保X射线源的运行安全5. 辐射安全系统：多重防辐射泄露设计，辐射防护级别属于同类产品高级别6. 真空系统：选择抽真空系统，优化测试环境，提高镁铝硅磷硫等轻元素的分析精度，大大扩展A-650型分析仪的分析能力。7. 独有的机芯温度监控技术，确保射线源的安全可靠运行，有效延长其使用寿命，降低使用成本硬件优势核心部件整套进口1. 探测器：原装美国Amptek硅漂移SDD探头，分辨率低至129eV±5eV，能量线性和能量分辨率俱佳，高峰背比。2. X射线管：功率50W、管电压5-50KV 、管电流0-1000uA；长寿命X射线管。3. 高压电源：功率50 W、电压0 -50 KV、电流0-1000uA。8小时稳定性≤0.05%。4. 信号处理器：采用进口信号处理器，适应高分辨率和高计数率，自调放大倍数，道数： 4096。软件优势美国丹纳赫和我司共同研发的X荧光分析软件中文版，该软件融合经验系数法、理论α系数法、线性拟合、二次曲线、强度校正、含量校正等多种分析方法，全面保证测试数据的准确性。仪器配置系统标配1. 数字多道型SDD探测器2. X射线源3. 高压电源4. 性噪比电子线路系统5. 光路增强系统6. 8准直+5滤光片7. 数字多道分析器8. 抽真空系统9. 品牌喷墨打印机10. 品牌计算机11. X荧光全元素分析软件12. 样品杯、保险丝13. 光谱专用稳压电源（选配）系统选配1. 光谱专用研磨机（选配）2. 光谱专用熔样机（选配）3. 光谱专用制粉机（选配）4. 熔样铂金坩埚（选配）5. 光谱仪专用压片机（选配）产品应用A-650光谱仪可分析以下样品及元素（氧化物）：样品类别元素类别烧结矿/球团矿TFe 、Si、Ca、Mg、Al、Mn、Ti、P、S、K、V等高炉渣/转炉渣TFe 、Si、Ca、Mg、Al、Mn、Ti、P、S、K、V等精炼渣Al、Ca、Si、Mg、Fe、Ti等预熔渣Ca、Mg、Al、Si、Fe、P、S等铝酸钙Si、Al、Fe、Ca、Mg等铁酸钙Fe、Al、Ca、Si、S、P等富锰渣Mn、Fe、P、S、Si、Al、Ca等元素铁精粉/铁矿石TFe 、Si、Ca、Mg、Al、Mn、Ti、P、S、K、V等赤铁矿/磁铁矿TFe、K、Na、S、P、Al、Si、Mg、Ca、Mn、Zn、Cu、Ti等铅锌矿Pb、Zn、Ag、Cu、Sn、Fe、S、Cd、Mo、As等锰矿Mn、Si、P、S、Al、Ti、K、Zn、Ca、Mg等钛矿Ti、Mn、Fe、Si、P、S、Al、K、Zn、Ca、V、Cu、Mg等铜矿Mn、Fe、S、Cu、Pb、As、Au、Cd、Zn、Ag、Mg等铬铁矿Fe、P、S、Al、Cr、Ca、Mg、Si等耐火材料高硅质粘土Si、Al、Fe、Ca、Mg、K、Na、S、P等高铝质矾土Al、Fe、Ti、Na、K、Mn、Ca、Mg、Si、P等高镁质镁砂Mg、Ca、Si、Al、Fe等刚玉白刚玉Al、Na、Si、Ca、Fe等棕刚玉Al、Si、Ti、Fe等黑刚玉Al、Si、Ti、Fe等铬刚玉Al、Na、Cr、Fe等锆刚玉Zr、Si、Al、Na、Fe、Ti、Ca、Mg、K等水泥生料/熟料Si、Al、Fe、Ca、Mg、K、Na、 S、Cl-等石灰石S、P、Al、Si、Fe、Ti、Mn、Sr、Ca、Mg等白云石S、P、Al、Si、K、Na、Fe、Ti、Mn、Sr、Ca、Mg等硅灰石Si、Ca、Fe、Al、Ti、Mg等蛇纹石Mg、Si、K、Na、Ca、Fe、Ti、Mn、Al、S、P等莫来石Al、Si、Fe、Ti、Ca、Mg、K、Na等镁铝尖晶石Al、Mg、Ca、Si、Na、Fe等萤石Ca、P、S、Si、Al、Fe、

EDX-8800M MAX XRF Spectrometer立式X荧光光谱仪材料分析专家Simply the Best 立式一体化设计，内置真空泵及氦气充气系统真空测试环境提供最优轻元素检测效果。可增配氦气充气系统，提高液体及粉末轻元素测试效果分析涵盖范围11Na钠 到 92U铀（元素周期表），可分析氧化物。适应各种材料成分分析，包括固体，液体，合金，粉末和泥浆等超大铍窗高分辨探测器配合多组合滤光片系统，有效提高微量元素检出限坚固的设计适用于于各种复杂而严苛的现场工作环境EDX8800M MAX能量色散荧光光谱仪-矿产分析专家作为一款高性能的台式高分辨率X射线荧光（EDXRF）元素分析仪，新款EDX8800M MAX配置了最先进的基于Windows基本参数算法的FP（Fundamental parameter）软件，同时配备了最优的高性能硬件，来满足客户对于复杂矿石样品的元素分析需求。无论客户的样品是是固体，合金，粉末，液体或者浆液，EDX8800M MAX都可以轻松实现从钠（Na）到铀（U）元素的无损定性和定量分析。更快的分析速度，更精确的测试结果，更稳定的仪器性能， 使得EDX8800M MAX成为了客户进行元素分析的最佳工具之一。ESI英飞思EDX8800M MAX光谱仪主要应用于在第三方实验室及各种需要进行高精度材料成分分析的场所。作为一款全新研发的光谱仪，EDX8800M MAX具有出色的灵活性，分析性能和稳定性。EDX8800M MAX专注于对各种材料的主量，微量和痕量元素或化合物进行定性和定量分析，其中包括：• 铁矿• 铜矿• 铝土矿• 贵金属矿产• 稀土矿• 原料• 磷酸盐• 煤炭• 铅锌矿• 锰矿• 镍矿• 石灰石• 粘土• 石膏• 玻璃• 土壤• 水泥• 耐火材料及其他等EDX8800M MAX操作简单，分析性能出色，同时还可拓展到以下应用塑胶及有机物：塑料材料PE，PVC，添加剂等元素分析合金成分分析，牌号鉴定，贵金属测定，三元催化分析石油化工：燃料，润滑油监测，添加剂，磨损金属等中的硫元素分析环境：废水，空气污染，土壤和地面，排放控制等涂层厚度和薄膜：分析多层涂层，钢涂层，杂质等刑侦及公安：证据分析，材料匹配，爆炸物等食品，化妆品和药品：添加剂控制，原材料，有害金属，包装材料等产品特点作为一款专业为材料成分分析而设计和生产的光谱仪，EDX-8800M MAX兼顾了耐用性，易于操作和高性价比。其显著优势主要有：• 无需或者很少的样品制备，全程无损分析，一到三分钟即可出结果• 原装进口高功率光管和电制冷的FSDD硅漂移检测器不仅具有出色的短期重复性和长期重现性，而且具有出色的元素峰分辨率• 能同时进行元素和氧化物成分分析• 多重仪器硬件保护系统，并可通过软件进行全程实时监控, 让仪器工作更稳定、更安全• 特别设计的光路和真空系统大大提高了轻元素(Na, Mg, Al, Si, P）的测试灵敏度和准确性，同时可选配氦气充气系统• 友好的用户界面，可定制的分析报告，可一键打印测试报告，包括分析结果，样品信息，光谱信息和样品图像• 八种光路准直系统，根据不同样品大小自动切换，亦可测试样品不同位置再求平均值，降低样品不均匀性造成的误差• 高清内置摄像头，清晰地显示仪器所检测的样品部位矿产元素检测专家EDX8800M MAX仪器参数仪器外观尺寸: 650mm*600mm*900mm仪器重量: 105Kg元素分析范围：Na11-U92钠到铀可分析含量范围：1ppm- 99.99%探测器：原装进口高分辨率电制冷FSDD硅漂移检测器高通量计数率线性动态范围：1000-1000000cps ，包括信号增强处理模块SNE多道分析器: 4096道DPP analyzer分析器，峰飘小于0.5道（24小时）X光管：原装进口高功率铍窗光管（可选配高功率复合靶材光管）高压发生装置：电压最大输出100kV，自带电压过载保护样品观察系统：1000万像素高清CCD摄像头，包括样品光斑图像定位功能数据处理系统MCA：控制响应时间小于100毫秒，可同时采集9路反馈信号，实时监测包括管压，管流，基线，死时间，温度，计数率，真空度，准直器，滤光片状态信号样品腔：空气，真空，充氦气（选配）。内置高功率真空泵 ，全自动软件控制调节真空系统，双真空抽速机构，标配真空度自动稳定系统电压：220ACV 50/60HZ环境温度：-10 °C 到35 °C 可增选配置：1样品自旋系统，增加样品测试面积，提升粉末样品测试精度。2可充氦气微型样品腔，提高液体，粉末轻元素测试性能。仪器配置标准配置可选配置-样品前处理系统纯Ag初始化标样磨样机真空泵（内置）手动压片机：ESI30T粉末及矿样专用样品杯自动压片机：ESI30SUSB数据线液体专用样品杯电源线烘干箱光谱仪专用超薄测试薄膜ESI-900型光谱分析专用全自动熔样机仪器出厂和标定报告电子秤保修卡矿石标准样交流净化稳压电源150目筛子功能强大而界面友好的测试软件界面清晰易用。选择方法并输入样品识别信息后即可开始测量软件内核-软件核心算法包括FP基本参数法，Sherman方程EC经验系数法，阿尔法α理论参数法，可以实现元素间增强吸收效应的校正EDX8800M MAX已在工厂预安装了软件并进行了数据标定，客户运行软件即可立刻开始测试。无需每天重复标定。强大的软件功能还提供了一键初始化仪器，基体自动匹配自动定性，半定量和定量分析，不同样品测试谱图可实时对比光谱处理和校正，去除双倍峰和逃逸峰干扰，降低元素吸收增强效应影响光谱背景扣除，有效提高微量元素检测精度可实时刷新测量结果简单的流程栏向导可帮助用户创建新的自定义标定曲线可定制化测试报告，一键打印铝土矿样品10次测试稳定性报告样片MgOAl2O3SiO2K2OCaOTiO2MnOFe2O3样片10.438 84.577 8.754 0.196 0.502 3.753 0.049 1.966 样片20.442 84.653 8.880 0.197 0.522 3.799 0.052 1.962 样片30.424 84.508 8.810 0.197 0.509 3.852 0.051 1.983 样片40.427 84.537 8.636 0.196 0.513 3.777 0.051 1.963 样片50.424 84.501 8.709 0.197 0.503 3.791 0.050 1.973 样片60.415 84.496 8.737 0.200 0.513 3.861 0.051 2.013 样片70.450 84.618 8.917 0.197 0.511 3.854 0.051 1.966 样片80.423 84.577 8.689 0.201 0.501 3.838 0.050 1.971 样片90.447 84.481 8.740 0.199 0.495 3.853 0.050 1.971 样片100.453 84.753 8.893 0.201 0.517 3.793 0.052 1.981 平均值0.434 84.600 8.776 0.198 0.509 3.817 0.051 1.975 标准偏差0.013 0.155 0.094 0.002 0.008 0.039 0.001 0.015 相对标准偏差3.10%0.18%1.08%0.97%1.63%1.02%1.91%0.76%

X荧光光谱仪矿石检测仪 应用于合金矿石元素分析 矿粉检测：元素检测仪 ：合金矿石成分检测仪1.产品图片及机型指标介绍:1.1工作条件：● 工作温度：15-30℃● 相对湿度：40%～70%● 电 源：AC :220V ±5V1.2. 技术性能及指标:1.2.1 元素分析范围从钠(Na)到铀(U)；1.2.2 元素含量分析范围为1PPm到99.99%；1.2.3 测量时间：100-300秒(可调)；1.2.4 RoHS指令规定的有害元素（限Cd/Pb/Cr/Hg/Br/Cl）其检测限度达1PPM；1.2.5 能量分辨率为125±5电子伏特；1.2.6 温度适应范围为15℃至30℃；1.2.7 电源：交流220V±5V（建议配置交流净化稳压电源）；1.3.产品特点1.3.1 EDX8600H是新款升级版，更好地应对RoHS、无卤等环保指令，配置了真空测试系统，增加了元素测试范围，探测器配备SDD的测试系统，特别是提高了Na、Mg、Al、Si等轻元素的检出限，精确度提高了，同时在测试Cd/Pb/Cr/Hg/Br/Cl等其他元素的重复性稳定性有了明显的提高。1.3.2 整体结构化设计，仪器美观大方。1.3.3 采用美国新型的探测器，电致冷而非液氮制冷，体积小、数据分析准确且维护成本低。1.3.4 采用自主研发的SES信号处理系统，有效提高峰背比，让测量更精确。1.3.5 一键式自动测试，使用更简单，更方便，界面更人性化。1.3.6 七种光路校正准直系统，根据不同样品自动切换。1.3.7 多重防辐射泄露设计，辐射防护级别属于同类产品标准。1.3.8 优化一体化散热设计，使整机散热性能得到更大提高，确保X射线源的运行安全。1.3.9 独有的机芯温度监控技术，确保射线源的安全可靠运行，有效延长其使用寿命，降低使用成本。1.3.10 多重仪器配件保护系统，并可通过软件进行全程监控, 让仪器工作更稳定、更安全。1.3.11 专用真空测试软件，是否抽真空可自由选择，真空度实时显示，标准视窗设计，界面友好，操作简便，所有控制均在轻点鼠标之间。1.3.12 本机采用USB2.0接口，有效保证数据准确高速有效的传输。1.3.13 独有的全自动真空系统,彻底屏蔽空气对轻元素测试的影响,极大提高了轻元素的检出限，同时也扩大了检测范围。1.3.14 一体化真空腔体设计，有效地保证了符合测试要求的真空度，同时提高了设备的可维性。1.3.15 抽真空测试和不抽真空测试转换简单，方便客户使用；同时开盖即解除真空，安全、简单实用。2.仪器硬件部分主要配置 2.1 FAST-SDD电制冷探测器:（超精度探测器探测器） 2.1.1. FAST-SDD电制冷探测器；分辨率：125±5e电子伏特 2.1.2. 放大电路模块:对样品特征X射线进行探测；把探测采集的信息,进一步放大。 2.2 X射线激发装置(薄铍窗光管）: 2.2.1. 灯丝电流输出：1mA；2.2.2 .属于半损耗型部件，使用寿命大于20000小时 2.3 高压发射装置:2.3.1. 电压输出： 50kV；2.3.2. 5kv可控调节2.3.3. 自带电压过载保护 2.4　一体化真空系统2.4.1　具有低震动、低噪音、自保护及抽速快等优良性能的真空泵系统；2.4.2　几何抽速：60 L/min（50Hz）2.4.3　极限压力：6.7×10-2 Pa 2.5 多道分析器: 2.5.1. 将采集的模拟信号转换成数字信号,并将处理结果提供给上位机软件；2.5.2 通道数： 4096；2.5.3 包含信号增强处理功能； 2.6光路过滤模块2.6.1 降低X射线光路发送过程中的干扰，保证探测器接收信号准确；2.6.2 将准直器与滤光处整合； 2.7 准直器自动切换模块2.7.1 多达7种选择，口径分别为8-1＃, 8-2＃, 8-3＃, 8-4＃，6＃, 4＃, 2＃。 2.8 滤光片自动切换模块2.8.1五种滤光片的自由选择和切换。 2.9 准直器和滤光片的自由组合模块2.9.1 多达几十种的准直器和滤光片的自由组合。 2.10 工作曲线自动选择模块2.10.1 自动选择工作曲线，摒弃手动选择，避免人为操作失误，将自动化和智能化演绎得更完美，使操作更人性，更方便。3. 专用软件MeaRohs3.1.1软件简介专门针对RoHS(含卤素元素)检测而开发（含真空控制功能），对采集的光谱信号进行数据处理、计算并报告显示测量结果。3.1.2功能介绍※专门应对欧盟RoHS指令中六种物质涉及的五种元素 Cd, Pb, Hg, Br, Cr和卤素元素Cl测试，测量时间为100-300秒（可调）※操作界面简洁直观，使用方便，无需专业人士操作3.2软件界面如下图所示：※可自动选择适合的校准曲线，测量更方便，更准确※中英文界面自动切换，并具有第三方语言订制功能※自动校准仪器※自带样品材质定性分析，防止手动用户选择错误曲线※多种报告形式打印※可同时显示多个光谱图※仪器测试参数及真空度实时显示，所有掌控一目了然※独有的机芯温度监控技术，保证X射线源的安全可靠运行，有效延长其使用寿命，降低使用成本。4. 样品配置 标准样品用于制作工作曲线4.1 样品腔 开放式大样品腔：610mm×320mm×100×半封闭样品腔（抽真空时）：Φ100mm×h75mm 4.2 标样 欧盟标样EC681M银校正片 5．标准附件低噪音快抽速真空泵※体积小、重量轻、结构简单，易于保养和维修※抽速快，20S即可达到真空测试要求※极限压力可达6.7×10-2Pa※单相AC220V供电，无须外接三相电6. 产品保修及售后服务 6.1 对客户方操作人员免费进行培训。6.2 安装、调试、验收、培训及技术服务均为免费在用户方现场对操作人员进行培训。6.3正常使用，经本公司售后服务部技术人员确认属工艺或材质缺陷引起的故障，且未经拆修，仪器主机自验收合格之日起保修壹年。6.4产品终身维修（客户必须有填写详细、真实的有效购买凭证和保修卡等）。6.5免费提供软件升级。6.6提供最有效的技术服务，在接到用户故障信息后，3小时内响应，如有需要，48小时内派人上门维修和排除故障。荧光光谱仪苏州制造厂商：合金矿石元素分析仪：矿粉成分检测仪：重金属元素快速无损检测分析EDX8600H 操作视频

S1 TITAN手持式矿石分析仪是Bruker公司新推出的手持式XRF矿石分析仪，它以巨人般的威力，走在检测技术的前沿。 S1 TITAN手持式矿石分析仪打破了实验室环境的限制，无需真空盒氦气保护就能分析Mg、Al、Si、S、P等轻元素。实现现场实时多重样式，快速分析矿石品位，进行矿石评定，品位控制，岩芯检测，矿脉分析，回执矿石分布图等，是地质勘查、矿山开采、矿产贸易、环境监测的工具。 手持式矿石分析仪测量矿种:各种金属、非金属、贵重金属和金属矿主要特点：1、简体中文界面，同时提供17种语言备选； 2、自动校准功能，开机后无需等待即可测量；3、分析元素小从Mg开始，达40多种； 4、可分析低级含量（ppm级）至高百分比含量（）；5、实时分析数据和图谱显示； 6、内置CCD摄像头，具有小点聚焦检测功能（选件）；7、自动存储数据和图谱，无需人工干预； 8、整机一体化设计，密封，防水、防尘，抗冲击；9、 一键式定时测量，操作简单； 10、防扎检测器（选件），坚固、耐用、无人能比；11、内置Bruker专业操作软件，计算和显示速度快； 12、仪器适应高温，低温，潮湿，雨天、沙尘等恶劣环境；13、长时间不测量时，仪器会自动待机，节电和环保； 14、X射线管耐用性强，采用Peltier半导体恒温制冷技。采矿和勘探-现地址化学分析：勘探：手持式矿石分析仪S1 TITAN轻质化、易携带的设计，方便了在勘探现场直接探测并定位有潜在矿产的区域，测量钻孔岩心，判定矿床的深度和分布情况矿石分析：一旦发现矿产地点，手持式矿石分析仪S1 TITAN可快速分析矿床矿石质量控制：矿产定位且开始开采后，手持式矿石分析仪S1 TITAN可对每辆货车内的矿石进行检测，提供矿石的详细品级信息，为即将流入加工厂的矿石进行筛选，提高原料矿石的质量加工和浓度分析：矿石加工过程中，手持式矿石分析仪S1 TITAN可测定样品的浓度复原和整治：当采矿作业进入尾声，手持式矿石分析仪S1 TITAN可用于末了分析，并协助完成土地复原主要应用：主要分析矿体、矿块、矿粉、矿渣、精矿、粗矿、尾矿；还可分析沉淀物、填料、土壤、泥土、泥浆；粉尘、灰尘、过滤物、薄膜层等。领域：勘查、岩心检测、开采过程控、品位控制、环境分析地质化学痕量测定：痕量元素、矿石探途元素土壤或沉积层中的污染物、修复检查、催化转化器地质化学常量测定：主要和微量元素、含金属矿石、工业矿物、精矿、铝土矿手持式矿石分析仪测量范围(Mg-U)：Mg，Al，Si，P，S，Cl，K，Ca，Sc，Ti，V，Cr，Mn，Fe，Co，Ni，Cu，Zn，As，Se，Rb，Sr，Zr，Nb，Mo，Pd，Ag，Cd，Sn，Sb，Te，Cs，Ba，Hf，Ta，W，Re，Pt，Au，Hg，Pb，Bi，Th，U等。铂悦仪器（上海）有限公司主要代理各类布鲁克布鲁克手持式矿石分析仪，布鲁克矿石元素分析仪，矿石分析仪，便携式矿石分析仪，进口手持式矿石分析仪，德国手持XRF矿石元素分析仪，美国手持矿石元素分析仪，布鲁克手持式矿石分析仪，手持矿石光谱仪，手持光谱仪，布鲁克手持荧光光谱仪，德国手持式合金元素分析仪，手持ROHS分析仪，手持式贵金属分析仪，手持X射线荧光光谱仪，便携式光谱合金分析仪，布鲁克手持式X荧光光谱仪，S1 TITAN手持式荧光光谱仪，S1 TITAN手持式合金分析仪，德国进口S1 TTIAN手持式荧光光谱仪，布鲁克S1 TITAN合金分析仪，布鲁克S1 TITAN手持式光谱仪，布鲁克手持式合金元素分析仪，布鲁克手持合金分析仪，布鲁克手持式合金分析仪，布鲁克合金分析，布鲁克不锈钢分析仪，布鲁克合金分析仪，布鲁克手持贵金属分析仪。

艾克F2-7000手持式矿石分析仪艾克F2-7000手持式矿石分析仪技术参数：重 量主机:1.27kg，配电池后:1.46kg尺寸(长x宽x高)233mm x 84mm x 261mm激发源大功率高性能X射线微型管靶 材射线管靶材5种可选择 金（Au）、银（Ag）、钨（W）、钽（Ta），钯（Pd）电 压50kv电压（电压可变）滤波器多种可选择的滤波器，根据不同的被测物自动调节探测器高分辨率SDD探测器探测器制冷温度Peltier效应半导体制冷系统标准片合金校验片电 源标配2块锂电池（单块6800mAh）处理器高性能脉冲处理器操作系统Windows CE系统（全新版本）数据传输USB，蓝牙，WiFi 共享热点功能软件标准模式Alloy Plus 3.0数据处理SD海量存储卡，可存储数十万条数据（内存可扩）显示屏高分辨率TFT工业级彩色高清触摸屏，具备人体工学，坚固、防尘、防水，任何光线条件下清晰可见外形设计一体化机身设计，坚固，防水、防尘、防冻、防振，在恶劣的环境中均可正常使用。安全操作“一键式”检测，软件自动定时锁、自动停止测试功能；判断测试窗前无样品时2秒内自动关闭X射线（具有防呆功能）校 正仪器出厂前已经校正；仪器具备建立针对性的校正曲线功能，适用于特定样品的精确测试结果报告仪器配有标准USB，蓝牙，WiFi 共享热点传输功能，可直接定制报告格式和EXCEL格式下载检测数据及其X射线谱图。（用户可根据应用自定义报告）分析元素Mg、Al、Si、P、S、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、W、Hf、Ta、Re、Pb、Bi、Zr、Nb、Mo、Ag、Sn、Sb、Pd、Cd Ti和Th等元素。智能系统智能识别大气压并进行校正1. “一键式”开机并检测2. 重量轻、体积小，独特尖嘴设计适用于狭小部位。3. 性能卓越，现场无损检测，可直接接土壤样品表面测试，现场确定元素种类。4. 只需开机一次，超长待机无需关闭电源，无检测操作时自动待机，同时光管及探测器断电停止工作。5. 1/3机身为轻质铝合金结构，具有优良的防辐射和散热效果。6. 快速开机优于同类仪器；测试速度快，1-3秒内身份等级鉴定。7. 坚固的构造、密封超大屏幕彩色TFT显示，无LCD高原反应，防湿防尘。8. 稳定先进的操作系统、先进的智能软件，反应迅速。9. 丰富的智能牌号库。（客户可自建牌号库）10. 一体式供电，海量存储、待机时间长。 软件说明仪器工作原理说明 l XRF就是X射线荧光光谱分析仪(X Ray Fluorescence Spectrometer) 。 人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光 ，而把用来照射的X射线叫原级X射线。l 当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时，驱逐一个内层电子而出现一个空穴，使整个原子体系处于不稳定的激发态，激发态原子寿命约为10-12~10-14S，然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。l 当较外层的电子跃入内层空穴所释放的能量不在原子内被吸收，而是以辐射形式放出，便产生X射线荧光(特征X射线)，其能量等于两能级之间的能量差。l 特征X射线荧光产生： 碰撞→跃迁↑(高) →空穴→跃迁↓(低)l 不同元素发出的特征X射线荧光能量和波长各不相同，因此通过对其的能量或者波长的测量即可知道它是何种元素发出的，进行元素的定性分析。线强度跟这元素在样品中的含量有关，因此测出它的强度就能进行元素的定量分析。 软件工作光谱仪采用了目前国际上先进的软件算法，基本参数法（FP）。公司经过近10年的开发和完善，使软件已经具备了完善的使用内容外，还具备强大的教学和科研开发功能。光谱仪软件算法的主要处理方法1) Smoothing谱线光滑处理2) Escape Peak Removal 逃逸峰去除3) Sum Peak Removal 叠加峰去除4) Background Removal 背景勾出5) Blank Removal 空峰位去除6) Intensity Extraction 强度提取7) Peak Integration 图谱整合8) Peak Overlap Factor Method 波峰叠加因素方法 四、产品保修及售后服务24小时/7天不间断服务4小时内响应回复远程在线故障诊断排除长期备品备件保有库存新机免费安装培训新机15天内包换可根据客户要求定新机保修一年 终身免费维护 产品配置：(1) X荧光光谱分析仪主机一台；(2) 矿石分析专用测试软件一套；(3) 锂电池(两块) ；(4) 锂电池充电器一套；(5) 专用数据下载USB数据线一套；(6) 316标准帽一块；(7) 用户手册一份；(8) 仪器出厂检验合格证书 ；(9）窗口保护膜二片；(10) 防水主机保护箱一个；

Vanta系列矿石分析仪 产品简介用于采矿业和地球化学领域的Vanta手持式XRF分析仪可以在现场立即进行元素分析，完成地球化学勘探、矿石品位控制、矿石处理及环境治理工作。技术优势Vanta系列：坚固耐用、 改进创新、 高效多产 Vanta分析仪是奥林巴斯迄今为止为用户提供的最先进的手持式X射线荧光（XRF）设备，可以为那些要求在野外环境获得精准分析水平的用户，进行快速精确的元素分析和合金辨别。 Vanta手持式XRF分析仪是一款坚固耐用的设备。 Vanta分析仪坚固耐用的机身结构设计使其不会轻易受到损伤，因此可以工作更长的时间，并降低用户的拥有成本。 Vanta系列分析仪的界面浏览简单直观，而且用户可以对其软件自行配置，所以操作人员只需接受简单的基础培训，就可以轻松地使用分析仪，用户也因此会获得非常高的分析量，并迅速获得投资回报。 Vanta分析仪使用其特有的创新型Axon技术，在更多样复杂的环境中或工作条件下，都可以为用户提供精确的结果，并有助于生产率的提高。 在高温、雨淋等恶劣的条件下具有超乎寻常的耐用性能。卓越的分析性能。可选的Wi-Fi和蓝牙功能，可使用户实时进行数据分享。 可以应用云技术。简单直观的用户界面。 技术参数Vanta的技术规格外型尺寸（宽 × 高 × 厚）8.3 × 28.9 × 24.2 cm重量带电池时1.70公斤；不带电池时1.48公斤。激励源4瓦特X射线管，其根据不同应用而优化的阳极材料包括铑（Rh）、银（Ag）和钨（W）。 M系列（Rh和W）和C系列（Ag）：8 ～ 50 kV C系列（Rh和W）：8 ～ 40 kV主光束过滤每个模式每条光束有8个位置的自动选择过滤器。探测器M系列：大区域硅漂移探测器 C系列：硅漂移探测器电源可拆装的14.4 V锂离子电池或 18 V电源变压器，100 ～ 240 VAC，50 ～ 60 Hz, 最大70 W显示800 × 480 (WVGA)液晶电容式触摸屏，可使用手指进行控制操作环境温度：–10 °C ～　50 °C（带可选风扇时，可连续工作）。 湿度：相对湿度为10 % ～ 90 %，无冷凝。坠落测试通过了美军标准810-G的1.3米高坠落测试。IP评级IP65*：防尘，而且可防止来自各个方向的水喷。压力校正内置气压计，用于海拔和空气密度的自动校正。GPS嵌入式GPS/GLONASS接收器操作系统Linux数据存储4 GB嵌入存储，带有microSD卡插槽，可扩展存储容量。USB两个USB 2.0 A型主端口，用于诸如Wi-Fi、蓝牙和USB闪存驱动盘等配件。 一个USB 2.0袖珍B型端口，用于连接计算机。Wi-Fi通过可选购USB适配器，支持802.11 b/g/n（2.4 GHz）。蓝牙通过可选购USB适配器，支持蓝牙和蓝牙低能功能。瞄准摄像头全VGA CMOS摄像头全景摄像头5百万像素CMOS摄像头，带自动聚焦透镜。 应用领域矿物勘探Vanta分析仪的机身设计坚固耐用，且性能可靠，这就意味着在边远地区工作的地质学家们可以对这款设备充满信心，因为它可以在各种艰苦条件下正常操作。 Vanta分析仪可在以下情况下有效测量元素的含量： 在获得资产的过程中，帮助用户做出适当审慎的决定。在早期的地区勘察和绘制地图阶段，可对岩石、碎片、土壤、沉积物等样本进行化学成份的定性分析。在勘探早期的转移地区性土壤、沉积物和冰碛，以及挖沟的阶段中，采集定量性数据。辨别矿化趋向及异常现象，定义钻孔目标，扩展土壤样本的勘察边界。实时调整采样和绘图项目，以最佳方式调配勘探的预算经费。对样本进行预筛选，以最大程度地提高在现场以外的实验室内进行检测的效率。在极具开发前途的地区提高采样的密度。在钻孔阶段从土地中取出样本时，可以对空气钻井样本、RAB（爆破样本）、RC（逆循环钻进样本）和钻石岩芯等样本进行分析。

OLYMPUS 手持式矿石分析仪型号:VANTA系列赢洲科技（上海）有限公司仪景通（原奥林巴斯）中国区授权一级代理商，仪景通（原奥林巴斯）中国区指定售服中心地址：上海市闵行区春东路508号2幢408室仪景通（原奥林巴斯）-手持式矿石光谱仪（手持式矿石分析仪）用于矿石的勘探、矿石品位控制和选矿的手持式XRF分析仪仪景通（原奥林巴斯）的手持式X射线荧光分析仪具有很高的分析性能，可以实时提供地球化学数据，从而有助于快速确定土壤、岩石和矿石的多元素特性。当前在XRF技术上的重大进展，不仅可以大大降低分析时间，而且还可大幅降低检出限，并增加了可测元素的数量。如今便携式XRF分析仪已经被用作一种勘探和开采红土镍矿的有效方法。这款分析仪经常用于勘察、钻孔、挖沟、表面采样、堆料核查和精矿产品验证的过程中。使用便携式Vanta分析仪完成X射线荧光地质测井仪景通（原奥林巴斯）的手持式X射线荧光分析仪具有很高的分析性能，可以实时提供地球化学数据，从而有助于快速确定土壤、岩石 和矿石的多元素特征。当前在便携式XRF技术上的重大进展，大幅降低了检测时间，优化了检出限，并增加了可测元素 的数量。如今地质工作者通常会使用来自Vanta分析仪的岩石地球化学信息识别岩石的类型。Vanta分析仪还可以参与完 成一些标准的地质测井工作（如：分析土壤、钻屑和岩芯），因为Vanta分析仪可以在采样地点即时提供客观的化学成分 数据。在进行常规视觉测井的同时甚至之前，可以使用这些数据对岩石进行分类，并解读岩石蚀变和矿化的原因。地质信息管理系统（GIMS）正在显示来自奥林巴斯便携式XRF分析仪的实时地球化学数据。通过便携式XRF分析仪获得的数据完成地质测井在地质测井工作中，地球科学家通过肉眼观察，将包含土壤、钻屑、石块和钻芯在内的不同样本的岩石类型、蚀变情况、结构、构造及其它特征记录下来。地球科学家一般使用测井图表（地质编录）将所观察到的特征或顺磁特性记录下来，其中包括：颜色、粒径大小、结构、构造走向、层理、蚀变、质变和横切。地质测井能力是地球科学家经过对岩石和矿床的采集样本进行多年的理论研究后，再经过多年在原地或使用钻屑样本对岩石的地质特性进行野外观察而获得的一项基本技能。只有这样，地球科学家才可以具备开展详细深入的野外测井工作的资格，以在全球范围内研究地质方面的复杂性和多样性。因此，在矿产勘探业中人们经常会说：“见到最多岩石的地质学家，为胜者！”便携式XRF技术以及其它分析技术正在改变我们日常从事的现代化测井的方式。向地理信息系统（GIS）、地质信息管理系统（GIMS），以及3维可视化和建模软件包实时传送客观测井信息的技术，使采矿行业获得了收货性的发展。视觉测井具有主观性视觉地质测井的主要问题是每个地球科学家对于所看到的岩石都有他们自己的经验、观点和想法。如果把多个地球科学家针对某个特定项目得到的数据综合在一起，则会使情况变得非常复杂。图1说明了视觉观察的主观性，图中显示了8个地球科学家针对同一个岩石层序所提供的测井数据。图中有7个不同的结果（第6个或第7个地球科学家复制了对方的结果）。图1.拥有不同经验的8个地质学家观察同一个岩石层序所获得的结果。

OLYMPUS 手持式矿石分析仪型号:VANTA系列赢洲科技（上海）有限公司仪景通（原奥林巴斯）中国区授权一级代理商，仪景通（原奥林巴斯）中国区指定售服中心地址：上海市闵行区春东路508号2幢408室仪景通（原奥林巴斯）-手持式矿石光谱仪（手持式矿石分析仪）用于矿石的勘探、矿石品位控制和选矿的手持式XRF分析仪仪景通（原奥林巴斯）的手持式X射线荧光分析仪具有很高的分析性能，可以实时提供地球化学数据，从而有助于快速确定土壤、岩石和矿石的多元素特性。当前在XRF技术上的重大进展，不仅可以大大降低分析时间，而且还可大幅降低检出限，并增加了可测元素的数量。如今便携式XRF分析仪已经被用作一种勘探和开采红土镍矿的有效方法。这款分析仪经常用于勘察、钻孔、挖沟、表面采样、堆料核查和精矿产品验证的过程中。使用便携式Vanta分析仪完成X射线荧光地质测井仪景通（原奥林巴斯）的手持式X射线荧光分析仪具有很高的分析性能，可以实时提供地球化学数据，从而有助于快速确定土壤、岩石 和矿石的多元素特征。当前在便携式XRF技术上的重大进展，大幅降低了检测时间，优化了检出限，并增加了可测元素 的数量。如今地质工作者通常会使用来自Vanta分析仪的岩石地球化学信息识别岩石的类型。Vanta分析仪还可以参与完 成一些标准的地质测井工作（如：分析土壤、钻屑和岩芯），因为Vanta分析仪可以在采样地点即时提供客观的化学成分 数据。在进行常规视觉测井的同时甚至之前，可以使用这些数据对岩石进行分类，并解读岩石蚀变和矿化的原因。地质信息管理系统（GIMS）正在显示来自奥林巴斯便携式XRF分析仪的实时地球化学数据。通过便携式XRF分析仪获得的数据完成地质测井在地质测井工作中，地球科学家通过肉眼观察，将包含土壤、钻屑、石块和钻芯在内的不同样本的岩石类型、蚀变情况、结构、构造及其它特征记录下来。地球科学家一般使用测井图表（地质编录）将所观察到的特征或顺磁特性记录下来，其中包括：颜色、粒径大小、结构、构造走向、层理、蚀变、质变和横切。地质测井能力是地球科学家经过对岩石和矿床的采集样本进行多年的理论研究后，再经过多年在原地或使用钻屑样本对岩石的地质特性进行野外观察而获得的一项基本技能。只有这样，地球科学家才可以具备开展详细深入的野外测井工作的资格，以在全球范围内研究地质方面的复杂性和多样性。因此，在矿产勘探业中人们经常会说：“见到最多岩石的地质学家，为胜者！”便携式XRF技术以及其它分析技术正在改变我们日常从事的现代化测井的方式。向地理信息系统（GIS）、地质信息管理系统（GIMS），以及3维可视化和建模软件包实时传送客观测井信息的技术，使采矿行业获得了收货性的发展。视觉测井具有主观性视觉地质测井的主要问题是每个地球科学家对于所看到的岩石都有他们自己的经验、观点和想法。如果把多个地球科学家针对某个特定项目得到的数据综合在一起，则会使情况变得非常复杂。图1说明了视觉观察的主观性，图中显示了8个地球科学家针对同一个岩石层序所提供的测井数据。图中有7个不同的结果（第6个或第7个地球科学家复制了对方的结果）。图1.拥有不同经验的8个地质学家观察同一个岩石层序所获得的结果。

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浪声TrueX 矿石分析仪能够在很少或者没有样品准备的情况下，在采矿活动的各个阶段，包含从基层勘探开发，到矿石品位控制，甚至环境调查等情况下，提供快速、准确的元素分析结果，与传统的实验室方法相比，更为省时省心省力。使用优势轻便易携仪器体积更小、重量更轻，方便携带。工业电阻触摸屏4.3英寸工业电阻触摸屏，相比电容屏具有更优异的背光性能，在野外强光下依然清晰可见，同时免除野外特殊环境脱手套操作的危险性。用户自定义用户可自定义创建专业报告：包括公司标志、公司地址、检测结果、光谱谱图及其他样品信息(如产品描述、产地、批号等)。高精准度选用进口高性能X光射线发射管和高分辨率探测器，结合数字多道处理技术， 使得TrueX手持式矿石分析仪具有更高的分析精度。GPS系统可结合内置的GPS经纬度数据及海拔高度数据，通过导入第三方GIS分析软件，构建元素含量地理三维分布图，快速评估出矿产储量或地质环境灾害区域。应用场景地质勘探/探矿选矿/品位分析矿物研究尾矿处理矿渣再利用规格参数重量 1.5KG尺寸254 x 79 x 280 mm(L x W x H)激发源50KV/200μA上限，管压管流可自由调节，W/Ag/Rh靶材（可选配）探测器Si-Pin探测器/SDD探测器 (可选配)检测范围Mg(镁)—U(铀)显示系统4.3英寸工业级电阻触摸屏自动根据外部环境亮度调节显示器亮度数据处理内置32G存储器USB，蓝牙，WIFI，可将设备联入互联网，可远程对仪器进行设置及检修安全性内置DoubleBeam&trade 技术自动感知前方有无样品，提高射线的安全性和防护等级防水、防尘、防震手提箱LANScientific专用安全绳电源系统配备MSBUS总线智能电池2块单电池可持续工作8H左右，可直接查看电池剩余容量符合航空危险品运输条例语言中文、英语等

XF-M5矿石粉末检测仪是西凡仪器针对矿石、粉末等检测的一款高端X射线荧光光谱仪，可广泛应用于矿厂、冶金和三元催化剂回收等行业和单位。该产品采用先进的进口定制FastSDD探测器，内置四核CPU工控电脑，采用X射线与可见光共焦点光路以及全新的SmartFP算法。检测速度快，测试稳定性好、准确性高。西凡矿石粉末检测仪XF-M5产品特点元素检测范围：铝(No.13)～铀(No.92)可支持最多30个元素同时计算分析范围：10ppm～99.999%检测精度：相对误差选装10工位转盘，自动连续测试10个样品西凡矿石粉末检测仪XF-M5测试案例

Vanta手持式X射线荧光分析仪　　大幅提高现场和实验室的检测效率　　使用Vanta手持式X射线荧光分析仪可在任何地点立即识别材料及其化学成份。Vanta系列利用智能云连接技术提供快速、准确的元素分析和材料辨别。我们的下一代Vanta手持式XRF分析仪(Vanta Max和Vanta Core)将Vanta系列的精度、速度和耐用性与改进的人体工程学设计、精简的界面和增强的连接性相结合，提高了工作效率。使用舒适且坚固耐用，可进行全天测试Vanta分析仪采用增强型人体工程学设计，是一种可在现场和实验室长时使用的高效工具。这些分析仪坚固耐用、易于操作，能够在恶劣环境中正常运行更长的时间。　　❯ 平衡式手柄可减轻手部疲劳　　❯ 握持安全舒适，适合全天时检测　　❯ 通过了4英尺坠落测试(MIL-STD-810G)　　❯ 符合IP54评级标准，防水防尘　　❯ 标准的3年质保，可保护您的投资　　高效的工作流程　　Vanta分析仪现在更加易于使用。使用现代、直观的界面和基于浏览器的软件选项，提高了工作效率。　　❯ 可通过可选配无线连接实现无缝数据集成，在PC机、平板电脑或智能手机上查看、共享和管理XRF结果　　❯ 通过自动软件更新，可即时享受新添功能　　❯ 可添加自定义分析功能的选项，提高了应用支持的水平　　❯ 可访问Evident Connect(Evident连接)云，无缝获取数据并使用多设备管理功能　　Vanta分析仪的现代化界面易于使用和操控。　　值得信赖的XRF技术　　Vanta分析仪被全球数以千计的客户用于各种各样的应用中。以久经考验的性能为基础而打造的Vanta Max和Vanta Core分析仪，可进行精确度和准确度都很高的便携式XRF分析。　　❯ Vanta系列分析仪所Axon技术，使用超低噪声电子元件，可实现更高的X射线计数率，从而可以快速获得精确、可重复的结果。　　❯ Axon技术可使不同Vanta分析仪的各次检测都具有非同一般的高重复性能，因此无论您使用的是哪台分析仪，其开始检测与末次检测的准确性都别无二致。　　X射线荧光的工作原理　　X射线荧光(XRF)是一种利用X射线测量样件元素组成的无损检测技术。X射线荧光通过四个步骤发挥作用：　　1. 发射：分析仪发射X射线。　　2. 激发：X射线照射样件，后者发出荧光，将X射线反射回分析仪。　　3. 测量：探测器对返回的X射线进行计数。探测器测量每条X射线的能量，从而形成频谱。频谱可以告诉我们存在哪些元素以及每种元素的含量。　　4. 结果：能谱通过软件进行处理，并显示为样件的元素组成。在检测金属时，我们将得到的元素组成与某个特定的合金牌号相匹配。　　Vanta手持式X射线荧光分析仪的应用领域　　Vanta分析仪可为从合金辨别到考古遗址评估等各种各样的应用迅速提供分析结果。我们的Vanta分析仪可针对特定应用为用户提供一系列软件功能，从而可使操作员充分利用分析仪的性能。此外，其报告创建过程也得到简化，而且其分析结果还具有可追溯性。　　金属废料和汽车催化剂回收　　用于废料分拣的Vanta分析仪带有一个SmartSort功能，可以基于被测材料简单直观地延长或缩短检测时间，从而既节省了时间，又尽可能为用户提供了优质匹配结果。软件会将获得的结果与合金成分库中的数据进行自动比较，以将未知材料和已知合金进行快速匹配。用户使用牌号匹配信息功能，可为每个牌号编制信息，这些信息会在适当的情况下作为警告或指示出现在屏幕上。这些消息使操作员只需稍加培训即可轻松使用分析仪。在汽车催化剂回收方面，Vanta分析仪可快速分析贵金属含量，以进行准确的价格评估。　　环境评估　　Vanta分析仪可以方便地对土壤和其他材料进行筛查，以探测出污染金属。分析结果可以与GPS数据配对进行结果勘察，然后以无线方式被传输到地理信息系统(GIS)，以绘制出污染性金属的位置图。这款分析仪可在场地定性、环境评估、房产评估及污染物跟踪方面快速得到具有决策性的结果。　　材料可靠性鉴定(PMI)与制造工业质量控制/质量保证　　Vanta分析仪可以根据美国石油学会推荐规程578(API-RP-578)验证是否在关键位置上安装了正确的合金，从而有助于确保精炼厂、石化工厂以及其他处理厂的安全。贵重或关键部件及机械的制造商和安装人员在了解了这些部件和机械装置使用了正确牌号的合金的情况下，就会放下心来，不用担心安全问题，尽管可能不知道材料的来源。Vanta分析仪可以测量任何样件基质上的镀 层、电涂层和其他涂层的厚度。Vanta系列分析 仪的可选全景摄像头、条形码读取器、可由用户定义的输入字段、连通性能以及丰富的数据报告功能，都可使检测人员充满信心，并提高分析仪追溯数据到野外现场的性能。　　珠宝分析和贵金属辨别　　Vanta分析仪可对包含金(Au)、银(Ag)、铂(Pt)和钯(Pd)在内的各种首饰和贵金属进行现场鉴定。该分析仪可对黄金合金(0-24K)的纯度进行准确分类，并可探测到镀金。　　科研与教育　　Vanta分析仪可提供定量元素信息，以指导研究实验，并辨别未知或复杂的材料。快速的结果使研究人员能够在适用的基于科学的项目中获得相关数据。　　地球化学、勘探和采矿　　Vanta分析仪是矿产勘探和采矿公司、地质顾问以及以地质为重点的学术、政府和研究机构的工具。它在任何环境下都能提供具有再现性的精确结果，以可靠性和坚固耐用作为设计的核心思想，以尽量缩短停工期。我们以地质中心型全球支持和培训为后盾，在协助客户开发适用的工作流程方面积累了丰富的经验，可以尽量发挥Vanta分析仪的效用。Vanta分析仪配有机载摄像头、准直器、GPS* 、探测器快门闸保护以及一系列以地质为重点的配件，将继续成为地球化学应用领域的优质选择。　　合规和安全筛查　　Vanta系列可筛查消费产品(如玩具、服装和鞋类)和电子设备中的铅(Pb)、镉(Cd)、砷(As)、汞(Hg)和铬(Cr)等有毒金属和危险物质，以遵守电气电子设备有害物质限制规定。安装了可选摄像头的Vanta分析仪可以自动归档样品图像和结果，从而成为一款完成合理测试方案的理想工具。出色的灵敏度使其能够达到较低的管制元素检出限，直观的界面可提供简单的通过/失败测定。　　*仅限Vanta Max型号。　　适合于各种预算的便携式X射线荧光分析仪型号　　无论型号如何，每台Vanta手持式X射线荧光分析仪都经过精心设计，具有耐用性和分析性能。Evident生产的Vanta分析仪可以满足各种应用和预算需求。　　Vanta Max　　Vanta Max型号具有该系列强大的分析能力，适用于包括矿产勘探、学术研究、土壤测试和环境分析在内的各种强大应用。　　Vanta Core　　Vanta Core型号兼具高速度、低检出限(LOD)和宽元素范围等特性，是快速完成合金辨别的标准选择。　　我们的承诺　　Evident是XRF技术领域中的企业，在检测质量和分析结果的准确性方面久负盛名。我们致力于通过我们的全球销售网和消费者服务团队，在产品、应用、培训和技术方面，为我们的用户提供上乘的技术支持和售后服务。　　用途广泛的X射线荧光分析仪配件　　Vanta Max和Core型号可与可选配的X射线荧光分析仪附件配套使用，包括重新设计的土壤支架、野外台座和机套，以提高野外工作的效率。　　土壤支架　　Vanta土壤支架为Vanta分析仪提供了稳固的三点支撑。使用这个配件，您无需手持分析仪，就可以完成检测。在需要进行长时检测时，这个配件有助于轻松方便地完成检测。　　野外台座　　在检测较小的物件时，如放在杯中或袋中的样品，Vanta野外台座为分析仪提供了一个轻便、移动式检测台和一个屏蔽式样品舱。在需要离开办公室到较远的地方完成检测任务时，野外台座携带简单，使用方便。　　机套　　将Vanta分析仪放在Vanta机套中，不仅可使分析仪得到安全妥善的保护，而且还可方便地携带分析仪。　　工作站　　便携式Vanta工作站由电池供电，可以随时随地进行检测。 工作站有一个连锁的盖子，并提供360度屏蔽功能，可方便地对袋装样品、预先制备的样品、液体样品或包含珠宝和电路板在内的细小物件进行检测。在这种封闭式光束设置中，用户使用Vanta基于浏览器的软件操作分析仪。　　Vanta的规格

Vanta手持式X射线荧光分析仪　　大幅提高现场和实验室的检测效率　　使用Vanta手持式X射线荧光分析仪可在任何地点立即识别材料及其化学成份。Vanta系列利用智能云连接技术提供快速、准确的元素分析和材料辨别。我们的下一代Vanta手持式XRF分析仪(Vanta Max和Vanta Core)将Vanta系列的精度、速度和耐用性与改进的人体工程学设计、精简的界面和增强的连接性相结合，提高了工作效率。使用舒适且坚固耐用，可进行全天测试Vanta分析仪采用增强型人体工程学设计，是一种可在现场和实验室长时使用的高效工具。这些分析仪坚固耐用、易于操作，能够在恶劣环境中正常运行更长的时间。　　❯ 平衡式手柄可减轻手部疲劳　　❯ 握持安全舒适，适合全天时检测　　❯ 通过了4英尺坠落测试(MIL-STD-810G)　　❯ 符合IP54评级标准，防水防尘　　❯ 标准的3年质保，可保护您的投资　　高效的工作流程　　Vanta分析仪现在更加易于使用。使用现代、直观的界面和基于浏览器的软件选项，提高了工作效率。　　❯ 可通过可选配无线连接实现无缝数据集成，在PC机、平板电脑或智能手机上查看、共享和管理XRF结果　　❯ 通过自动软件更新，可即时享受新添功能　　❯ 可添加自定义分析功能的选项，提高了应用支持的水平　　❯ 可访问Evident Connect(Evident连接)云，无缝获取数据并使用多设备管理功能　　Vanta分析仪的现代化界面易于使用和操控。　　值得信赖的XRF技术　　Vanta分析仪被全球数以千计的客户用于各种各样的应用中。以久经考验的性能为基础而打造的Vanta Max和Vanta Core分析仪，可进行精确度和准确度都很高的便携式XRF分析。　　❯ Vanta系列分析仪所Axon技术，使用超低噪声电子元件，可实现更高的X射线计数率，从而可以快速获得精确、可重复的结果。　　❯ Axon技术可使不同Vanta分析仪的各次检测都具有非同一般的高重复性能，因此无论您使用的是哪台分析仪，其开始检测与末次检测的准确性都别无二致。　　X射线荧光的工作原理　　X射线荧光(XRF)是一种利用X射线测量样件元素组成的无损检测技术。X射线荧光通过四个步骤发挥作用：　　1. 发射：分析仪发射X射线。　　2. 激发：X射线照射样件，后者发出荧光，将X射线反射回分析仪。　　3. 测量：探测器对返回的X射线进行计数。探测器测量每条X射线的能量，从而形成频谱。频谱可以告诉我们存在哪些元素以及每种元素的含量。　　4. 结果：能谱通过软件进行处理，并显示为样件的元素组成。在检测金属时，我们将得到的元素组成与某个特定的合金牌号相匹配。　　Vanta手持式X射线荧光分析仪的应用领域　　Vanta分析仪可为从合金辨别到考古遗址评估等各种各样的应用迅速提供分析结果。我们的Vanta分析仪可针对特定应用为用户提供一系列软件功能，从而可使操作员充分利用分析仪的性能。此外，其报告创建过程也得到简化，而且其分析结果还具有可追溯性。　　金属废料和汽车催化剂回收　　用于废料分拣的Vanta分析仪带有一个SmartSort功能，可以基于被测材料简单直观地延长或缩短检测时间，从而既节省了时间，又尽可能为用户提供了优质匹配结果。软件会将获得的结果与合金成分库中的数据进行自动比较，以将未知材料和已知合金进行快速匹配。用户使用牌号匹配信息功能，可为每个牌号编制信息，这些信息会在适当的情况下作为警告或指示出现在屏幕上。这些消息使操作员只需稍加培训即可轻松使用分析仪。在汽车催化剂回收方面，Vanta分析仪可快速分析贵金属含量，以进行准确的价格评估。　　环境评估　　Vanta分析仪可以方便地对土壤和其他材料进行筛查，以探测出污染金属。分析结果可以与GPS数据配对进行结果勘察，然后以无线方式被传输到地理信息系统(GIS)，以绘制出污染性金属的位置图。这款分析仪可在场地定性、环境评估、房产评估及污染物跟踪方面快速得到具有决策性的结果。　　材料可靠性鉴定(PMI)与制造工业质量控制/质量保证　　Vanta分析仪可以根据美国石油学会推荐规程578(API-RP-578)验证是否在关键位置上安装了正确的合金，从而有助于确保精炼厂、石化工厂以及其他处理厂的安全。贵重或关键部件及机械的制造商和安装人员在了解了这些部件和机械装置使用了正确牌号的合金的情况下，就会放下心来，不用担心安全问题，尽管可能不知道材料的来源。Vanta分析仪可以测量任何样件基质上的镀 层、电涂层和其他涂层的厚度。Vanta系列分析 仪的可选全景摄像头、条形码读取器、可由用户定义的输入字段、连通性能以及丰富的数据报告功能，都可使检测人员充满信心，并提高分析仪追溯数据到野外现场的性能。　　珠宝分析和贵金属辨别　　Vanta分析仪可对包含金(Au)、银(Ag)、铂(Pt)和钯(Pd)在内的各种首饰和贵金属进行现场鉴定。该分析仪可对黄金合金(0-24K)的纯度进行准确分类，并可探测到镀金。　　科研与教育　　Vanta分析仪可提供定量元素信息，以指导研究实验，并辨别未知或复杂的材料。快速的结果使研究人员能够在适用的基于科学的项目中获得相关数据。　　地球化学、勘探和采矿　　Vanta分析仪是矿产勘探和采矿公司、地质顾问以及以地质为重点的学术、政府和研究机构的工具。它在任何环境下都能提供具有再现性的精确结果，以可靠性和坚固耐用作为设计的核心思想，以尽量缩短停工期。我们以地质中心型全球支持和培训为后盾，在协助客户开发适用的工作流程方面积累了丰富的经验，可以尽量发挥Vanta分析仪的效用。Vanta分析仪配有机载摄像头、准直器、GPS* 、探测器快门闸保护以及一系列以地质为重点的配件，将继续成为地球化学应用领域的优质选择。　　合规和安全筛查　　Vanta系列可筛查消费产品(如玩具、服装和鞋类)和电子设备中的铅(Pb)、镉(Cd)、砷(As)、汞(Hg)和铬(Cr)等有毒金属和危险物质，以遵守电气电子设备有害物质限制规定。安装了可选摄像头的Vanta分析仪可以自动归档样品图像和结果，从而成为一款完成合理测试方案的理想工具。出色的灵敏度使其能够达到较低的管制元素检出限，直观的界面可提供简单的通过/失败测定。　　*仅限Vanta Max型号。　　适合于各种预算的便携式X射线荧光分析仪型号　　无论型号如何，每台Vanta手持式X射线荧光分析仪都经过精心设计，具有耐用性和分析性能。Evident生产的Vanta分析仪可以满足各种应用和预算需求。　　Vanta Max　　Vanta Max型号具有该系列强大的分析能力，适用于包括矿产勘探、学术研究、土壤测试和环境分析在内的各种强大应用。　　Vanta Core　　Vanta Core型号兼具高速度、低检出限(LOD)和宽元素范围等特性，是快速完成合金辨别的标准选择。　　我们的承诺　　Evident是XRF技术领域中的企业，在检测质量和分析结果的准确性方面久负盛名。我们致力于通过我们的全球销售网和消费者服务团队，在产品、应用、培训和技术方面，为我们的用户提供上乘的技术支持和售后服务。　　用途广泛的X射线荧光分析仪配件　　Vanta Max和Core型号可与可选配的X射线荧光分析仪附件配套使用，包括重新设计的土壤支架、野外台座和机套，以提高野外工作的效率。　　土壤支架　　Vanta土壤支架为Vanta分析仪提供了稳固的三点支撑。使用这个配件，您无需手持分析仪，就可以完成检测。在需要进行长时检测时，这个配件有助于轻松方便地完成检测。　　野外台座　　在检测较小的物件时，如放在杯中或袋中的样品，Vanta野外台座为分析仪提供了一个轻便、移动式检测台和一个屏蔽式样品舱。在需要离开办公室到较远的地方完成检测任务时，野外台座携带简单，使用方便。　　机套　　将Vanta分析仪放在Vanta机套中，不仅可使分析仪得到安全妥善的保护，而且还可方便地携带分析仪。　　工作站　　便携式Vanta工作站由电池供电，可以随时随地进行检测。 工作站有一个连锁的盖子，并提供360度屏蔽功能，可方便地对袋装样品、预先制备的样品、液体样品或包含珠宝和电路板在内的细小物件进行检测。在这种封闭式光束设置中，用户使用Vanta基于浏览器的软件操作分析仪。　　Vanta的规格

浪声TrueX 矿石分析仪能够在很少或者没有样品准备的情况下，在采矿活动的各个阶段，包含从基层勘探开发，到矿石品位控制，甚至环境调查等情况下，提供快速、准确的元素分析结果，与传统的实验室方法相比，更为省时省心省力。使用优势轻便易携仪器体积更小、重量更轻，方便携带。工业电阻触摸屏4.3英寸工业电阻触摸屏，相比电容屏具有更优异的背光性能，在野外强光下依然清晰可见，同时免除野外特殊环境脱手套操作的危险性。用户自定义用户可自定义创建专业报告：包括公司标志、公司地址、检测结果、光谱谱图及其他样品信息(如产品描述、产地、批号等)。高精准度选用进口高性能X光射线发射管和高分辨率探测器，结合数字多道处理技术， 使得TrueX手持式矿石分析仪具有更高的分析精度。GPS系统可结合内置的GPS经纬度数据及海拔高度数据，通过导入第三方GIS分析软件，构建元素含量地理三维分布图，快速评估出矿产储量或地质环境灾害区域。应用场景地质勘探/探矿选矿/品位分析矿物研究尾矿处理矿渣再利用规格参数重量 1.5KG尺寸254 x 79 x 280 mm(L x W x H)激发源50KV/200μA上限，管压管流可自由调节，W/Ag/Rh靶材（可选配）探测器Si-Pin探测器/SDD探测器 (可选配)检测范围Mg(镁)—U(铀)显示系统4.3英寸工业级电阻触摸屏自动根据外部环境亮度调节显示器亮度数据处理内置32G存储器USB，蓝牙，WIFI，可将设备联入互联网，可远程对仪器进行设置及检修安全性内置DoubleBeam&trade 技术自动感知前方有无样品，提高射线的安全性和防护等级防水、防尘、防震手提箱LANScientific专用安全绳电源系统配备MSBUS总线智能电池2块单电池可持续工作8H左右，可直接查看电池剩余容量符合航空危险品运输条例语言中文、英语等

X射线荧光分析法的原理特点X射线荧光的产生原理X射线管发出X射线照射样品，样品中所含的原子则向外发射原子特有的X射线。这种X射线被称为荧光X射线，各元素具有特定的波长（能量）。因此，通过检测X射线的波长就能够进行定性分析。另外，荧光X射线的强度与浓度具有函数关系，检测每个元素X射线特征波长的X射线量就能进行定量分析。图为用波尔模型说明电子轨道和荧光X射线产生的原理满足所有领域不同的应用■ 电子电气 RoHS指令、无卤素等筛选分析半导体、存储装置、液晶、太阳能电池等各种薄膜分析■ 汽车机械 应对ELV指令的筛选分析 各种机械零部件结构分析及镀层厚度、化学合成外膜附着量的检测■ 钢铁非金属 原材料、合金、焊锡、贵金属的主要成分、残余成分的分析 炉渣的组成分析■ 矿业 选矿工艺的成色鉴别分析■ 窑业 陶瓷、水泥、玻璃、砖、粘土的分析■ 石油石油化学 油中硫元素的分析 润滑油中各种添加元素及混入元素的分析■ 化学工业无机有机原料和产品分析催化剂、颜料、涂料、橡胶、塑胶的分析■ 环境 土壤、排水、焚烧灰、过滤、PM2.5等成分分析■ 医药 合成时的残留催化剂分析 原药中不纯物分析、异物分析■ 农业食品 土壤、肥料、植物的分析 食品的原料分析、添加元素管理、混入异物的分析■ 其它 考古学样品及宝石成分分析玩具日用品中有害重金属元素测定等

多元素分析高灵敏度X射线荧光光谱仪(HS XRF)高性能XRF台式机PHECDA-HE&HES1.概述高灵敏度X射线荧光光谱仪（HS XRF） 型号：PHECDA-HES型号：PHECDA-HE核心技术： 硬件：单色化聚焦技术HS XRF 软件：快速基本参数法Fast FP&bull 硬件核心技术：单色化聚焦激发技术 全聚焦双曲面弯晶将X射线管出射谱某一特定波长单色化并聚焦衍射至样品点，因此从样品出射的X射线除了样品中的元素被激发产生的荧光X射线和单色化入射谱线的散射线外，不存在连续散射背景，从而保证待测元素特征线具有极低的背景干扰。 &bull 软件核心技术：快速基本参数法快速基本参数法Fast FP2.0 XRF法面临的难题是基体效应、元素间吸收-增强效应、标准样品欠缺等问题，对于不同类型样品的定量分析带来挑战。 基本参数法是当前X射线荧光领域的研究前沿， 快速基本参数法（Fast FP）通过对X射线荧光光谱从产生到探测的各个环节进行计算，将物理学明确的物理现象建立相应的数学模型，基本参数法充分计算X射线光产生的各种效应，减少分析误差，通过少量标准物质（或定值样品）的校正得到更为精确的元素定量结果。&bull 高灵敏度X射线荧光光谱仪PHECDA与快速基本参数法联用提供行业解决方案：解决方案解决问题应用特点应用领域土壤无机元素分析 &bull 满足《GB15618-2018土壤环境质量农用地土壤环境污染风险管控标准》中重金属限量值检测要求 &bull 满足《GB36600-2018土壤环境质量建设用地土壤污染风险管控标准》中重金属限量值检测要求 &bull 各类土壤与沉积物中50多种无机元素含量分析 &bull 优化镉的检出能力，土壤镉的检出限达到0.06mg/kg &bull Fast FP算法消除土壤基体差异，达到土壤无机元素精确定量分析环境监测、地质地矿、土壤检测、大学科研水质重金属检测 &bull 满足地表水、地下水、生活饮用水、企业排污水等重金属限值含量检测 &bull 环境水质污染事件重金属含量现场快速检测 &bull 重金属富集膜片技术（HMET）与HS XRF联用，将水质重金属检出限降低至1-3ug/L环境水质应急监测、环境水质现场检测固废重金属检测 &bull 满足固废中27种毒性元素和7种氧化物快速定量分析 &bull 危废鉴别-毒性元素含量分析 &bull Fast FP对各类固体废物的基体自适应 &bull 样品处理简单，快速定量分析环境监测、环境司法鉴定、科学研究、固废处理企业PM2.5无机元素分析 &bull 满足《HJ 829-2017 环境空气 颗粒物中无机元素的测定 能量色散X射线荧光光谱法》 &bull 提供从PM2.5无机元素分析到污染源溯源数据分析 &bull PM2.5膜片中三十几种无机元素含量快速含量分析 &bull Fast FP完成无标样（或少标样）情况下PM2.5膜片元素含量分析 环境监测、空气污染源调查、科学研究食品重金属快速检测 &bull 满足《GB2762-2017食品安全国家标准 食品中污染物限量》中部分食品重金属限量值检测要求 &bull 水产品、肉类、调味品、水果蔬菜、粮食、茶叶等食品及其制品中铅、镉、砷、铬、镍、锡等重金属含量检测 &bull 提供全套食品前处理设备与方案，样品处理简单，检测速度快 &bull Fast FP软件对各类食品基体的自适应 &bull 与实验室参比方法高度一致性食品安全领域、公安系统食品安防、海关食品监管矿石全元素分析 &bull 铁矿石、铅矿石、铜精矿、锰矿石等无机元素含量分析 &bull 矿石中有害元素（铅、砷、汞、镉等）含量分析 &bull 稀土元素含量分析 &bull 提供现场矿石元素含量整体解决方案 &bull Fast FP算法对各类矿石产品的精确定量分析能力地质、矿产、有色、海关中药重金属含量检测 &bull 满足中国药典规定的中药重金属（铅、镉、砷、铜）限量值含量检测要求 &bull Fast FP算法对各类中药基体的适应与背景扣除 &bull 快速、简单、精确中药行业石化产品中金属元素含量分析 &bull 满足汽柴油产品中铁、锰、铅限量值含量检测 &bull 润滑油、机油、汽柴油等各类油品中金属元素含量分析 &bull 对石化产品中金属元素检出限达到0.1mg/kg水平 &bull 二十多种金属元素同步分析石油化工水泥窑协同处置 &bull 满足环保和建材行业对水泥窑协同处置中规定的从生料、熟料到水泥及水泥浸出物的重金属元素含量检测 &bull 水泥工业全元素（钠、镁、铝、硅、铁、钙、氯等）含量分析，分析添加材对水泥质量影响的判断 &bull Fast FP算法对各类样品基体的自适应 &bull 重金属膜片富集技术（HMET）满足水泥熟料浸出物中重金属含量检测建材工业、水泥企业 2.特点 高灵敏度X射线荧光光谱仪具备重金属痕量检测能力，快速基本参数法（Fast FP）提升元素精确定量水平，两项核心技术的结合，为XRF元素检测带来新的应用前景。 2.1 单色化聚集激发技术 高灵敏度XRF重金属分析仪采用双曲面弯晶单色化器，优化元素的激发效率与减少X射线管连续散射线背景，提升元素荧光射线的信噪比。 2.2采用高性能SDD探测器 硅漂移探测器（SDD）是能量色散X射线荧光光谱仪的核心部件，其性能取决于晶体面积、窗口材料、计数率、分辨率等，PHECDA 系列采用当今高性能的SDD探测器，确保元素分析性能。 2.3 Fast FP算法 （1）XRF分析的困难点是元素荧光强度不仅与样品中元素含量相关，也与其它元素含量有关，这就是所谓的基体吸收-增强效应，而这种物理效应，使得选择合适的标准样品成为困难，若选择的标准样品基体不一致、不能含盖待测样品的各元素含量范围，就会对实际样品分析带来误差。 （2）基本参数法（Fundamental parameters method）通过对X射线荧光光谱从产生到探测的各个环节进行计算，建立相应的数学模型，基本参数法消除了由于不同类型样品基体差异所产生的背景差异，减少分析误差，通过少数标准品的校正即可得到更为精确的元素定量结果。 2.4 优化镉元素检出能力 镉是有毒重金属，在环境保护和食品安全等领域备受关注，常规XRF对镉（Kα：23.1KeV）的激发和探测存在挑战，高灵敏度X射线荧光光谱仪通过对镉的单色化聚焦激发，对镉的检出限达到的0.06mg/kg水平。 2.5 高通量 PHECDA-HES 配置30位以上自动进样单元； 无需气体、真空等辅助设备3.规格 指标参数说明原理 单波长激发-能量色散X射线荧光光谱法元素范围 Mg-U检出限(mg/kg) Cd：0.06mg/kg Pb：0.4mg/kg Cr:1.0mg/kg 土壤基体，元素扫描时间300秒重复性 Cd:0.3mg/kg RSD＜15% 土壤基体，元素扫描时间300秒样品种类 固体样品、液体样品、粉末样品、粘稠样品 提供不同样品的制备方案自动进样 PHECDA-HES配置30位自动进样单元，可条形码扫描软件 Fast FP软件系统，支持各种样品应用开发、谱图显示对比、无标定量、标样校正、元素定量分析、数据存储、网络传输富集技术 重金属富集膜片（HMET）与HS XRF联用技术，水质重金属检出限达到1~3ug/L详细技术参数与应用方案请咨询安科慧生工作人员！ 4.应用4.1 痕量元素检出能力 单波长激发-能量色散X射线荧光光谱仪基于全聚焦性双曲面弯晶的单色化聚焦技术，提升元素信号强度的同时大幅降低散射线背景，大幅提升样品元素信噪比，从而将XRF对元素分析延伸至微量和痕量应用领域。 4.2 软件准确定量能力 安科慧生科研人员历时十几年成功开发先进的快速基本参数法（Fast FP），其通过对X射线荧光光谱从产生到探测的各个环节进行计算，建立相应的数学模型，快速基本参数法消除了由于不同类型样品基体差异所产生的背景差异，减少分析误差，通过少数标准品的校正即可得到元素定量分析结果。 高灵敏度X射线荧光光谱仪PHECDA系列与快速基本参数法（Fast FP）的强强联合，为以下行业提供完整的解决方案：应用领域解决方案编号编号环境保护 农用地和建设用地土壤无机元素含量分析 HMET+HS XRF联用应对环境水质重金属应急监测 固体废物重金属含量检测 PM2.5无机元素含量分析与数据溯源食品安全 食品中重金属含量快速测定-X射线荧光基本参数法 中药中重金属含量检测-HS XRF with Fast FP 化妆品中重金属含量检测-高灵敏度XRF重金属分析仪地质矿产 HS XRF与Fast FP对各类矿石元素含量分析 稀土元素含量快速检测高纯金属（合金）分析（铜）精矿元素含量分析其它 水泥窑协同处置重金属含量分析 石化产品中金属元素含量分析

产品简介----------------------------------------------------------------------手持式矿石分析仪可分析的矿石种类铁矿(赤铁矿、钛铁矿、菱铁矿等)铜矿(黄铜矿、赤铜矿、孔雀石等)铬矿(铬铁尖晶石、铬铁矿、铬铋矿等)钼矿(辉钼矿、铜钼矿、钨钼矿等)钨矿(白钨矿、黑钨矿、锡钨矿等)钽矿(钽铁矿、铌铁矿、烧绿石等)铅锌矿(方铅矿、闪锌矿、白铅矿等)镍矿(红土镍矿、硫化铜镍矿等)其它矿类分析元素及模式标准配置模式分析范围，如有特殊元素，可额外添加TrueX 900可分析K，Ca，Ti，V，Cr，Mn，Fe，Co，Ni，Cu，Zn，As，Se，Rb，Sr，Y，Zr，Nb，Mo，Ag，Cd，Sn，Sb，Hf，Ta，W，Au，Hg, Pb，Bi，共30种标准元素TrueX 960可分析Mg，Al，Si，P，S，Cl，K，Ca，Ti，V，Cr，Mn，Fe，Co，Ni，Cu，Zn，As，Se，Rb，Sr，Y，Zr，Nb，Mo，Ag，Cd，Sn，Sb，Hf，Ta，W，Au，Hg, Pb，Bi，共36种标准元素应用范围1、对精矿、矿渣、尾矿等矿物品位进行精确快速分析，为矿物贸易、加工以及再利用提供价值判定依据 2、 矿渣、尾矿中残存的矿石元素进行分析，再次判定其价值 3、在矿石开采过程，搪孔过程，研磨、浓缩和熔炼过程中进行品检，确定品位，对滤熔池、存储塘和钢槽溶液进行分析 4、快速普查超大范围的矿区，有效地测定地带模式，绘制矿山图、实时勘察 5、现场快速追踪矿化异常，有效地寻找“热点”地带，圈定矿体边界 6、手持式矿石分析仪对铣头、精矿和矿渣快速、精确的分析，以建立高效开采和富集的过程 7、通过对输送料、精矿、矿渣进行现场分析以确定/跟踪提炼或者浓缩过程的有效性。矿场描绘以及品位控制 8、通过实时就地分析多个样本，实现对开采计划进行指导，有效地管理挖掘、爆破工作 9、与 GIS/GPS 一起使用,制定更为周密的决策，同时可节约大量的时间和劳动力成本 10、多元素现场快速分析，可广泛应用于普查、详查的各过程，追踪矿化异常，扩展勘查范围。可大大减少送回实验室样品检测的数量，从而节约运输和分析费用 11、矿体边界圈定，矿脉走向判定，对开采过程进行精确管理和控制，对矿石品位进行随时检测 12、快速分析岩芯和其他钻探样品，建立矿山三维图，分析储量，可大大提高钻探现场即时决策效率 13、快速对矿山周围环境，尾矿，粉尘，土壤污染物等进行 分析与检测，评估矿山环境修复效果 技术参数及规格重量1.6Kg(配置电池)尺寸254 x 79 x 280 mm(L x W x H)激发源50KV/200uA最大，管压管流可自由调节，Ag靶材(标准)，Au、W、Rh靶(可选配)探测器TureX 900配置BOOST型Si-pin探测器TureX 960配置高灵敏度硅漂移探测器检测范围镁(Mg)到铀(U)之间的所有元素显示系统工业级电阻触摸屏，屏幕尺寸：5英寸，显示区域：4.3英寸专用操作系统及分析软件操作语言包括中文、英语在内的多国语言自动根据外部环境亮度调节显示器亮度数据处理内置32G存储器。USB, 蓝牙，WIFI，可将设备联入互联网，可远程对仪器进行设置及检修数据可采用EXCEL，PDF格式输出，用户可自定义创建专业报告：包括公司标志、公司地址、检测结果、光谱谱图及其他样品信息(如产品描述、产地、批号等)散热性仪器配有专用的T型槽式散热装置，提高仪器散热性能，无需频繁等待探测器冷却安全性内置DoubleBeam(TM)技术自动感知前方有无样品，提高射线的安全性和防护等级防水、防尘、防震手提箱LANScientific专用安全绳电源系统具有MSBUS总线的智能电池、实时监控电池、备用电池可直接查看电池剩余容量，电池符合航空危险品运输条例单个电池可持续工作8小时左右

用途：X-MET8000系列手持式X射线荧光分析仪，操作灵活简单，是各个行业元素分析的理想工具。基于行业认可的能量色散X射线荧光（EDXRF）技术，X-MET8000 系列性能强大、可靠性高，只需要一个按键就能保证快速、无损材料分析。 应用广泛：废旧金属分拣，材料可靠性鉴定，无损金属检测，矿物勘探，符合性检测，土壤分析等。 测量原理：X射线是指波长为0.001-50nm的电磁辐射，由于X射线的能量较高，原子的内层电子吸收X射线的能量后会激发成为自由电子。然后，外层的电子会填补内层电子的空位，这就是电子迁跃，电子跃迁的同时会放射X射线荧光。电子跃迁的能量等于两电子能级之间的能量差，因此，X射线荧光的能量或波长是具有特征性的，与元素有一一对应的关系。只要测出荧光X射线的波长，就可以知道元素的种类。此外，荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此可以进行元素的定量分析。 特点： “一键”分析：操作简单，只需简单培训 大图标触摸屏界面易于操作，尺寸大的彩色触摸屏，采用图标操作的用户界面在任何天气条件下都能呈现很好的可视度 简单强大的安全数据下载系统，灵活的报告导出格式，并具有wifi功能 强大数据下载功能，灵活的报告格式 经久耐用的设计 广泛的金属牌号库 快速准确的分析 长达10-12小时的电池量，充电一次可以使用一整天 技术规格：探测器采用硅漂移(SDD)高分辨率探测器，分辨率优于150eV靶材采用Rh靶材X射线光管，电压40KV，电流50uA测试窗口9毫米重量1.5公斤（含电池）认证CE防护通过IP54（NAME3）防水防尘测试，提供SGS认证书工作温度-10~+50℃供电电池持续使用时间10~12小时，110/230V，50/60HZ直流电源充电器显示屏4.3英寸Ban view Anti 彩色防反光触摸屏操作系统采用更稳定简洁的Linux操作系统，用户可建立数据库操作语言提供两块可充电可显示电量的锂电池，可12种语言操作界面包括：英文、简体和繁体中文、韩语、日语、德语、法语、波兰语、意大利语、西班牙语、葡萄牙语和俄语通讯可通过USB传输数据，无需特殊软件在浏览器页面即可运行设备 也可通过U盘导出数据和谱图并提供专用U盘；或使用wifi或蓝牙在线网络共享报告编辑器报告编辑器用于生成客户自定义模板和报告。检测结果和报告可生成CSV格式或防篡改PDF格式，确保原始数据的安全性测试方法提供土壤样品基本参数法（FP法）：可测试土壤及矿物样品中的 Ag， As， Au， Ba， Ca， Cd， Cr， Co， Cu， Fe， Hg， K， Mn， Mo， Ni， Pb， Pt， Rb， Se， Sr， Sn， Sb， Ta， Th， Ti， Tl， V， W， Zn， Zr Br.等28种元素；提供由中国国标GSS土壤标样校准的符合中国土壤样品测试的检量线法，符合EPA 6200方法要求

日立手持X射线荧光光谱仪分析仪设备，采用高精度 XRF 技术，可为很多行业提供简单、快速和无损的合金分析，包括PMI材料鉴定、合规元素分析、土壤分析、矿物分析、镀层厚度、废旧金属分拣和金属品级筛选。日立手持X射线荧光光谱仪X-MET8000系列提供进行快速的合金等级鉴定及多种材料（固体和粉末金属、聚合物、木材、溶液、土壤、矿石、矿物等）的准确化学结构分析所需的性能。X-MET方便、耐用且使用简单，可为您提供可靠的结果。我们提供多种型号的产品，符合您不同应用的所有分析需要和预算。日立手持X射线荧光光谱仪X-MET8000系列提供进行快速的合金等级鉴定及多种材料（固体和粉末金属、聚合物、木材、溶液、土壤、矿石、矿物等）的准确化学结构分析所需的性能。X-MET方便、耐用且使用简单，可为您提供可靠的结果。我们提供多种型号的产品，符合您不同应用的所有分析需要和预算。为什么选择日立手持X射线荧光光谱仪X-MET8000性能优异lX-MET提供轻元素 （镁、铝、硅、磷、硫、氯）分析，检测限度低，且可每天提供准确可靠结果。l通过灵活的基本参数法(FP)法进行分析，从而测试多种材料；或若需结果可追溯和高度准确，则使用实证校准。操作简单l大触摸屏和基于图标的用户界面，使用户只需要极少的培训便可开始操作。符合人体工学lX-MET轻便（仅1.5公斤）、简洁、平衡性好，可供长时间使用，而疲劳度低。坚固耐用而拥有成本低l符合IP54要求（等同于NEMA 3）、防水、防尘的X-MET可供室内外使用。l通过MIL-STD-810G耐用标准测试。l其可选的防扎窗口膜可预防在粗糙表面上测量导致探测器损坏而出现的高昂维修费用。高级数据管理l完全灵活：可将多达100,000条结果保存在X-MET上，将报告输出到U盘或个人计算机，或自动将X-MET数据存储在LiveData云端。日立手持X射线荧光光谱仪X-MET8000提供快速、可靠的现场检测： 快速验证关键工艺环节中使用的合金材料； 管道、阀门及反应釜材料的品质管控； 测定轻元素、微量元素及杂质元素（如由HF酸烷基化和硫化装置以及FAC建模过程中所产生）； 优化的仪器前端设计，可对拐角和焊缝处进行检测分析； 为材料可靠性鉴定应用所设计 快速分析和准确的牌号鉴定：包括可选型AISI DIN、JIS、和GB牌号库； 提供备选集成相机，有助于准确定位测量； 提供的轻元素分析（从Mg 到 S）； 重量轻（1.5公斤）、外形小，符合人体工学设计，电池续航能力长达 10至12小时； 快速开机： 数秒内完成开机并进行检测； X射线荧光光谱是现场合金分析的无损方式； 河北沧辰科技有限公司为您提供日立直读光谱仪的参数、价格、型号、原理等信息，价格为面议，更多相关信息可咨询，公司客服电话7*24小时为您服务。

S1 TITAN手持式矿石分析仪是Bruker公司新推出的手持式XRF矿石分析仪，它以巨人般的威力，走在检测技术的前沿。 S1 TITAN手持式矿石分析仪打破了实验室环境的限制，无需真空盒氦气保护就能分析Mg、Al、Si、S、P等轻元素。实现现场实时多重样式，快速分析矿石品位，进行矿石评定，品位控制，岩芯检测，矿脉分析，回执矿石分布图等，是地质勘查、矿山开采、矿产贸易、环境监测的工具。 手持式矿石分析仪测量矿种:各种金属、非金属、贵重金属和金属矿主要特点：1、简体中文界面，同时提供17种语言备选； 2、自动校准功能，开机后无需等待即可测量；3、分析元素小从Mg开始，达40多种； 4、可分析低级含量（ppm级）至高百分比含量（）；5、实时分析数据和图谱显示； 6、内置CCD摄像头，具有小点聚焦检测功能（选件）；7、自动存储数据和图谱，无需人工干预； 8、整机一体化设计，密封，防水、防尘，抗冲击；9、 一键式定时测量，操作简单； 10、防扎检测器（选件），坚固、耐用、无人能比；11、内置Bruker专业操作软件，计算和显示速度快； 12、仪器适应高温，低温，潮湿，雨天、沙尘等恶劣环境；13、长时间不测量时，仪器会自动待机，节电和环保； 14、X射线管耐用性强，采用Peltier半导体恒温制冷技。采矿和勘探-现地址化学分析：勘探：手持式矿石分析仪S1 TITAN轻质化、易携带的设计，方便了在勘探现场直接探测并定位有潜在矿产的区域，测量钻孔岩心，判定矿床的深度和分布情况矿石分析：一旦发现矿产地点，手持式矿石分析仪S1 TITAN可快速分析矿床矿石质量控制：矿产定位且开始开采后，手持式矿石分析仪S1 TITAN可对每辆货车内的矿石进行检测，提供矿石的详细品级信息，为即将流入加工厂的矿石进行筛选，提高原料矿石的质量加工和浓度分析：矿石加工过程中，手持式矿石分析仪S1 TITAN可测定样品的浓度复原和整治：当采矿作业进入尾声，手持式矿石分析仪S1 TITAN可用于末了分析，并协助完成土地复原主要应用：主要分析矿体、矿块、矿粉、矿渣、精矿、粗矿、尾矿；还可分析沉淀物、填料、土壤、泥土、泥浆；粉尘、灰尘、过滤物、薄膜层等。领域：勘查、岩心检测、开采过程控、品位控制、环境分析地质化学痕量测定：痕量元素、矿石探途元素土壤或沉积层中的污染物、修复检查、催化转化器地质化学常量测定：主要和微量元素、含金属矿石、工业矿物、精矿、铝土矿手持式矿石分析仪测量范围(Mg-U)：Mg，Al，Si，P，S，Cl，K，Ca，Sc，Ti，V，Cr，Mn，Fe，Co，Ni，Cu，Zn，As，Se，Rb，Sr，Zr，Nb，Mo，Pd，Ag，Cd，Sn，Sb，Te，Cs，Ba，Hf，Ta，W，Re，Pt，Au，Hg，Pb，Bi，Th，U等。铂悦仪器（上海）有限公司主要代理各类手持式光谱仪，布鲁克手持式矿石分析仪，BRUKER布鲁克矿石元素分析仪，矿石分析仪，便携式矿石分析仪，进口手持式矿石分析仪，德国手持XRF矿石元素分析仪，美国手持矿石元素分析仪，布鲁克手持式矿石分析仪，手持矿石光谱仪，布鲁克德国便携式XRF分析仪，便携式XRF检测仪，手持光谱仪，布鲁克手持荧光光谱仪，手提式S1 TITAN荧光光谱元素分析仪，手持式矿石品位分析仪，手持式XRF矿石分析仪。

XRF9能量色散X射线荧光分析仪n XRF9能量色散X射线荧光分析仪器是基于X射线荧光分析法对样品进行定性和定量分析、检测构成元素类别和含量的仪器。n XRF9可以无损分析块状固体、粉末、液体样品，广泛应用于质检、电子、医药、食品、冶金、化工、地矿、考古等领域的研究开发和品质管理。（注）：X射线荧光（XRF）分析法是测定有初级X射线激发样品时所产生的二次特征X射线（X射线荧光），它是一种非破坏性分析方法，可以对试样进行多元素快速分析。 产品特点n 先进的多光束可调系统n 具有高分辨率的探测器n 采用XYZ三维样品台n 大型样品分析室n CCD摄像及自动定位系统n 自动调节双层六通道滤光系统n 完善的辐射安全防护n 强大功能的软件操作系统n 短时间多元素同时分析n 无损分析和先进的薄样分析技术相组合n 多种定量分析方法n 无需液氮和水循环冷却n 种类齐全的选配标准样品n RoHS/WEEE指令快速分析 仪器配置n 外形尺寸：750（L）×590(W)×715(H)mm3n 样品室尺寸：400（L）×100(W)×100(H)mm3n 主机质量：约45Kgn 工作环境温度：0~40oCn 工作环境相对湿度：≤80%n 元素分析范围：AI-Un 含量分析范围：1ppm~99.99%n 重复性：＜5%n 测量时间：一般60~300sn 测量对象：块状物体、粉末、液体n 激发功率：50Wn 探测器分辨率：149gevn 输入电源：AC110V/220Vn 高压电源：0~50kv/0~1mAn X射线辐射剂量：≤1μSv/h代表性元素120s最低检出限LOD(mg/kg) 性能指标塑料基体CrBrCdHgPb LOD82 4 4 5

产品简介 对于矿产勘探开采行业来说，矿业公司进行决策时很多时候要依赖于已有的矿体模型、公司经验与技术。但要充分挖掘矿山价值、制定好的开采决策，这些是远远不够的。　　对矿山价值的利用，有一个关键前提：即需要即时获取可靠的地球化学数据，以快速描绘出矿体边界。此外，精确的矿山图绘制及矿石品位控制也需要对矿样的元素含量作定量分析。　　将矿样送至远离现场的实验室检测，不但费时费力、成本昂贵，对于偏远的地方，这样做也是不切实际的。现在，有了尼通手持式矿石分析仪，您的矿物元素分析工作就可以变得格外简单。对于矿业公司来说，赛默飞世尔尼通都可以为您提供一款既节省成本又非常快速的现场XRF分析仪器，它重量轻、精度高，性能可靠，可广泛应用于勘探开采过程中各阶段的矿样成分分析。　　赛默飞世尔（Thermo Fisher Scientific），原称美国热电集团，尼通(Niton)是其旗下品牌。作为手持式X射线荧光（XRF）分析仪器制造行业的佼佼者。尼通产品曾于1995年、2003年和2008年三次荣获美国R&D 100大奖。一直被业界作为工业现场合金、矿物、土壤、考古、RoHS、消费品等领域的材料分析标准。技术优势◆　速度快，操作简单　　仅需“瞄准—测试”，数秒内便可检出矿石中约30多种元素的含量，并可实时显示分析数据、谱图；操作简单，即使非技术人员也可轻松掌握◆　精度高，分析范围广　　检测精度接近实验室级的分析水平，可分析极低含量(ppm级)至高百分比含量(%)◆　简体中文显示　　简体中文菜单操作，并具有英、日、德等多种操作语言选项◆　特殊构造　　采用坚韧的LEXAN.塑料密封外壳，重量轻，坚固耐用封式一体化设计，防尘、防水、防腐蚀，抗冲击，可在任何地方安全使用◆　抗病毒能力强　　内置一体化专用操作系统，无需外接PDA，运算速度快，具有病毒免疫功能◆　无损检测　　与破坏性检测方法不同，样品在整个测试过程中无任何损坏◆　优化应用　　高性能X射线探测器选项，可为矿产勘探、开采等不同过程中的分析应用，提供专业的、具有针对性的解决方案◆　NDT软件　　Niton专有数据管理软件可以让您轻松设置用户登录口令，生成定制报告，打印个性化的附有公司LOGO的分析报告，通过PC机可实现对仪器的远程操控；仪器具有自动校准、诊断和故障报告功能，可通过Internet实现软件升级◆　灵活的通讯功能　　蓝牙、USB等多种仪器连接方式，通讯方式灵活。数据上传下载，编辑、输出PMI报告方便◆　荣获奖项　　尼通产品曾三次荣获素有“产品研发诺贝尔奖”之称的R&D 100大奖；2006年获得reddot design红点设计奖；2005年荣获工业设计优秀奖应用领域　　野外勘查(Exploration & Prospection)　　多元素现场快速分析，可广泛应用于普查、详查的各过程，追踪矿化异常，扩展勘查范围。可大大减少送回实验室样品检测的数量，从而节约运输和分析费用　　岩芯检测(DrillingExploration)　　快速分析岩芯和其他钻探样品，建立矿山三维图，分析储量，可大大提高钻探现场即时决策效率　　开采过程控制(MiningMapping & Ore analysis)　　矿体边界圈定，矿脉走向判定，对开采过程进行精确管理和控制，对矿石品位进行随时检测 　　品位控制(Grade Control)　　对精矿、矿渣、尾矿等矿物品位进行精确快速分析，为矿物贸易、加工以及再利用提供价值判定依据

手持式X光荧光分析仪(HHXRF)的X-MET8000系列提供进行快速的合金等级鉴定及多种材料（固体和粉末金属、聚合物、木材、溶液、土壤、矿石、矿物等）的准确化学结构分析所需的性能。 X-MET方便、耐用且使用简单，可为您提供可靠的结果。我们提供多种型号的产品，符合您不同应用的所有分析需要和预算。为什么选择 X-MET 光谱仪卓越性能X-MET提供极好的轻元素 （镁、铝、硅、磷、硫、氯）分析，检测限度低，且可每天提供准确可靠结果。通过灵活的基本参数法(FP)法进行分析，从而测试多种材料；或若需结果可追溯和高度准确，则使用实证校准。操作简单大触摸屏和基于图标的用户界面，使用户只需要极少的培训便可开始操作。符合人体工学X-MET轻便（仅1.5公斤）、简洁、平衡性好，可供长时间使用，而疲劳度非常低。坚固耐用而拥有成本低符合IP54要求（等同于NEMA 3）、防水、防尘的X-MET可供室内外使用。通过MIL-STD-810G军用耐用标准测试。其可选的防扎窗口膜可预防在粗糙表面上测量导致探测器损坏而出现的高昂维修费用。高级数据管理完全灵活：可将多达100,000条结果保存在X-MET上，将报告输出到U盘或个人计算机，或自动将X-MET数据存储在LiveData云端。应 用X-MET8000 SmartX-MET8000 OptimumX-MET8000 Expert废金属回收√√√材料可靠性鉴定(PMI)检查√√制造与 PMI QA/QC√√√贵金属 √√√监管机构合规筛查（消费品、包装、原材料…）√√ X-MET8000 Expert CG环境土壤筛查√ X-MET8000 Optimum Geo√ X-MET8000 Expert Geo矿石和矿物√ X-MET8000 Optimum Geo√ X-MET8000 Expert Geo金属镀层厚度测量√√√ X-MET8000 Expert / Expert CG科技考古√√ X-MET8000 Expert / Expert CG / Expert Geo比较型号X-MET8000 SmartX射线管：40kV滤光片：单一检测器：大面积 SDD最高样本温度：400oC符合 IP54 等级Thick Kapton窗口：保护以预防探测器的窗户损坏校准：基本参数法(FP)内置摄像头 （可选）X-MET8000 OptimumX射线管：40kV or 50kV滤光片：6位滤光转换器检测器：大面积 SDD最高样本温度：100oC 或通过 HERO&trade 耐热窗户400oC（可选)符合 IP54 等级可选窗口防护罩：预防检测器的窗口损坏进行保护校准：基本参数法 （包括轻元素分析）内置摄像头（可选）小光班准直器（可选）针对所有元素（从镁到铀）进行优先分析的六位滤光片X-MET8000 ExpertX射线管：50kV滤光片：6位滤光转换器检测器：大面积 SDD最高样本温度：100oC 或通过 HERO&trade 耐热窗户400oC（可选)符合 IP54 等级可选窗口防护罩：预防检测器的窗口损坏进行保护校准方法：自动跳转的经验系数法（可进行追溯）内置摄像头小光班准直器 （可选) 针对所有元素，从镁到铀，的优先分析的六位滤光片

仪器简介：德国斯派克分析仪器公司是现场金属检测的先驱者之一，凭借着先进的专业技术、丰富的经验, 及数十年来在X射线荧光光谱技术方面的领先优势， 斯派克公司推出了手持式X荧光分析仪―SPECTRO xSORT。仪器可在没有外接电源、没有空调的现场, 在数秒钟内, 获得以往只有实验室光谱仪才能达到的分析结果。 SPECTRO xSORT手持式X荧光光谱仪是紧凑型仪器，坚固耐用，符合人体工程学设计。小型化，高性能X射线管，保证了仪器对待测元素的高效的激发。特殊开发的SDD检测器，数据采集速度10倍于传统的检测器，具有独特的适应性及灵活性。仪器符合严格的德国X射线辐射标准，为用户提供一流的安全防护。其强大的数据传输及处理功能，可在现场打印，储存数据。GPS可将数据与大地坐标绑定，为数据回溯提供可靠的依据。 SPECTRO xSORT可用于地质，矿物，环境，RoHS，玩具等样品中各种元素的检测，及现场分析。技术参数：SPECTRO xSORT：技术参数 检测器  SDD  Mn Ką 分辨率：FWHM半峰宽170eV  输入计数率最大至250kcps 激发源  X射线管i  W阳极  最大40kV，50µ A 控制  集成，可拆卸的PDA Windows Mobile 操作系统  SD存储卡，蓝牙，无线LAN，USB口 光谱仪数据  长：314mm  宽：84mm  高：333mm  重量：1.45kg 电池重：290g  可充电锂电池  2-3小时连续工作时间  100-240V，+/-10%，50/60Hz充电器/变压器 软件  ICAL（智能逻辑标准化校准）  数据管理：存储数据的后处理和协议  分析模式： -从聚合物到合金等多种材料的RoHS检测和Pb的快速分析 -多次分析结果显示 -自动计平均值 -计算标准偏差和相对标准偏差  RoHS指令分选模式 -显示分析结果是否满足要求 -快速分析环保样品，如污染土壤及沉积物 -矿石，精矿及尾矿的鉴别主要特点：仪器采用与斯派克公司高性能实验室用台式荧光光谱仪相同的小型低能量的X射线管，保证了准确的离子激发效果。特殊开发的SDD检测器，数据采集速度10倍于传统的检测器，提高了仪器的分析灵活性。 所有重要元素可在几秒钟测定 SPECTRO xSORT可获得实验室级别的分析结果，只需几秒钟即可完成元素周期表S 到 U所有元素的分析。RoHS指令快速检测仅需30秒。污染土壤和沉积物分析仅需数秒钟。适用于采矿业，可鉴别矿石、精矿和尾矿。即使在现场，也可通过可选的GPS包将现场分析结果与实际的分析点准确对应。 特殊开发的SDD检测器，数据采集速度10倍于传统的检测器:  - 从S 到 U的所有相关元素可一次测定  - 全面校准：测定简单无需操作人员决策  - 在几秒钟可获得实验室级别的分析结果  - 元素分析速度极快