表面光洁度测量仪

1、窗口材料特性1、窗口材料特性材料特性应用K9(BK7)透射范围：330－2100nm折射率：1.5164@588nm可见和近红外光谱范围内适宜大多数应用石英透射范围：185－2500nm折射率：1.4858@308nm低热膨胀系数：0.54*10-6K从紫外到红外有更好性能；有更好的抗热性能； 激光窗口（Windows）及毛玻璃产品说明 产品说明：产品类别产品编号窗口定义指标光学窗口OGW11-直径K9标准精度平面窗口(Optic Windows:K9 Normal precision)材料：精退火K9光学玻璃表面面型：&lambda /2 @633nm窗口表面平行差：小于1分表面光洁度：3－4级OGW12-直径K9高精度平面窗口(Optic Windows:K9 High precision)材料：精退火K9光学玻璃表面面型：&lambda /10 @633nm窗口表面平行差：小于10秒表面光洁度：1－2级OGW21-直径石英标准精度平面窗口(Optic Windows:Fused Silica Normal precision)材料：紫外熔融石英表面面型：&lambda /2 @633nm窗口表面平行差：小于1分表面光洁度：3－4级OGW22-直径石英高精度平面窗口(Optic Windows:Fused Silica High precision)材料：紫外熔融石英表面面型：&lambda /10 @633nm窗口表面平行差：小于10秒表面光洁度：1－2级毛玻璃OMDxx-厚度(圆形)OMDxxxx-厚度(方形)正面是毛面；另一面是光面.毛玻璃毛面的粗糙度,一般用粒度值标称(1平方英寸内的颗粒数),常用的毛玻璃粒度值为几百. 3、产品一览表：选型表：OGW11系列，K9玻璃，标准精度，平面窗口(1)产品编号产品说明直径（mm）厚度（mm）OGW11-020K9标准精度平面窗口202OGW11-025K9标准精度平面窗口252OGW11-25.4K9标准精度平面窗口25.42OGW11系列，K9玻璃，标准精度，平面窗口(2)产品编号产品说明直径（mm）厚度（mm）OGW11-030K9标准精度平面窗口303OGW11-038K9标准精度平面窗口384OGW11-050K9标准精度平面窗口504OGW12系列，K9玻璃，高精度，平面窗口产品编号产品说明直径（mm）厚度（mm）OGW12-020K9高精度平面窗口206OGW12-025K9高精度平面窗口256OGW12-030K9高精度平面窗口3010OGW12-038K9高精度平面窗口3810OGW12-050K9高精度平面窗口5010OGW21系列，紫外熔融石英，标准精度，平面窗口产品编号产品说明直径（mm）厚度（mm）OGW21-020石英标准精度平面窗口202OGW21-025石英标准精度平面窗口252OGW21-030石英标准精度平面窗口303OGW21-038石英标准精度平面窗口384OGW21-050石英标准精度平面窗口504OGW22系列，紫外熔融石英，高精度，平面窗口产品编号产品说明直径（mm）厚度（mm）OGW22-020石英高精度平面窗口206OGW22-025石英高精度平面窗口256OMD系列,毛玻璃产品编号产品说明尺寸（mm）厚度（mm）OMD25-2毛玻璃&phi 252OMD30-2毛玻璃&phi 302OMD50-2毛玻璃&phi 502OMD5050-2毛玻璃50× 502OMD100100-2毛玻璃100× 1002.4OMD120120-2毛玻璃120× 1202.4

粗糙度仪又叫表面粗糙度仪、表面光洁度仪、表面粗糙度检测仪、粗糙度测量仪、粗糙度计、粗糙度测试仪等多种名称。它具有测量精度高、测量范围宽、操作简便、便于携带、工作稳定等特点，可以广泛应用于各种金属与非金属的加工表面的检测，该仪器是传感器主机一体化的袖珍式仪器，具有手持式特点，更适宜在生产现场使用。笃挚仪器代理的PocketSurf粗糙度仪制作牢固，外壳采用耐磨的铸铝，即使使用数年，对表面的测量仍然、可靠。Pocket Surf便携式粗糙度仪具有坚固的结构，采用铝合金浇注的架构用以保证长久的稳定性和可靠性。仪器功能：在SPC-处理装置上的集成数据输出，能兼容大多数常用的数据处理系统。容易辨认的LCD读数显示，对于以微英寸或微米为单位的粗糙度测量值，在横移过表面半秒后就可显示。碰到“超出范围”或“电压低”的情况，在屏幕上也将提示。口袋般大小，价格经济，能对各种表面进行粗糙度测量的便携式粗糙度仪，一般在生产线、车间、实验室里使用。制作牢固，外壳采用耐磨的铸铝，即使使用数年，对表面的测量仍然、可靠。能测量下列四个参数任意一个：Ra,Rmax/Ry,Rz,且可选择相互替换。在0.8mm/0.03in范围内，可选择横移长度为1，3或5个截止。可以在水平，垂直或倒置位置上进行测量。探头有四个切换位置-轴向（与X轴重叠），900，1800，2700。即便是较难触及的表面诸如内外径，照样也可测量主要特点： 制作牢固，外壳采用耐磨的铸铝，即使使用数年，测量仍然精确、可靠。 能测量下列四个参数任意一个:Ra, Rmax/Ry, Rz,且可选择相互替换。 测量完成后检查所有参数 在0.8mm/0.3in范围内，可选择横移长度为1，3或5个截止。 可以在水平，垂直或倒置位置上进行测量。 探头有四个切换位置一轴向(与X轴重叠)，90°， 180°，270°。 即便是较难触及的表面诸如 内外径，照样可以测量。 在SPC处理装置上的集成数据输出，能兼容大多数常用的数据处理系统。 容易辨认的LCD读数显示，对于以微英寸或微米为单位的粗糙度测量值，在横移过表面半秒后就可显示。技术参数尺寸 140x76x25mm//5.5"x3"x1"重量435g /14Oz测量范围Ra 0.03μm to 6.35μm /1μinch to 250μinchRy 0.2μm to 25.3μm /8μinch to 999μinchRmax 0.2μm to 25.3μm /8μinch to 999μinchRZ 0.2μm to 25.3μm/8μinch to 999μinch显示分辨力 0.01μm/μin测量精度 满足ASME-B46.1,ISO,DIN标准and MIL要求数显 LCD还显示,"Battery low" 电池低 信号 "H" 和"L”(测量值超出范围)探测和检测长度：参数检测长度 (名义)评估范围截止/转换位置数*Ra/ Ry2.0 mm/ .075"3.5 mm/.135"0.8mm/ .030"2.4 mm/ .090"13Ra/ RZ/ Rmax5.0 mm/.195"4.0 mm/ .150"5检测移动速度5.08 mm/ .2"每秒截止0.8 mm/ .030" ASM E 2 RC-filte测头类型压电式探针z大力15.0 mN/1500 mgf电源电池容量大约2500次测量，但取决于使用频率和输出次数电源一次性碱性电池9V工作温度10° to 45℃/50° to 113℉储存温度-20° to 65℃/-4° to 149℉

汽车行业用BYK品牌光泽仪，汽车油漆光泽度测量仪，汽车板金，汽车皮革等三角度光泽测量仪BYK 4563 光泽度仪 光泽度计 BYK光泽度仪 BYK光泽度仪 三角度20°, 60°, 85°新型智能的光泽仪测量与智能通讯多年来，BYK微型光泽已经成为光泽测量不可超越的工业。它是集高精度、使用简便和多功能于一体的光泽仪——为当今品质管理的标准而设计。此外，smart-chart软件是智能通讯的理想工具，拥有专业的文档处理和高校的数据分析 BYK光泽度仪绚丽的色彩显示：易于阅读-便于使用 BYK光泽度仪 三角度20°, 60°, 85° 符合人体工学和操作简单是设计的主要焦点。微型光泽仪的体积不大也不小-刚好合适握在手中。滚轮操作、新的色彩显示和简易导航菜单使光泽测量从未变得如此简单 BYK光泽度仪自动诊断功能：标准板OK-校准OK的读数要求有可信赖的校准。光泽仪和校标底座是一对的组合：光泽仪的标准板被安置在校标底座内始终受到很好的保护。独特之处在于：智能的自动诊断功能确保长时间稳定的校准，告诉您何时需要校准，甚至还能检查板是否干净。易于操作，安全可靠测量涂料或者金属的光泽-没问题用微型光泽仪，您可以对任何材料进行光泽测量-涂料、塑料或高光泽的金属。它的测量范围被扩展到了2000个光泽单位，保证了始终可靠的结果。BYK光泽度仪 三角度20°, 60°, 85°微型三角度光泽仪在合适的角度下察觉偏离高-中-低光泽：哪一种是您的应用？ 微型三角度光泽仪20°，60°，85°三种角度于一体-如同单角度仪器一样便携。三个角度在一台仪器上使您能按准迅速觉察到质量的变化微型三角度光泽仪μ光泽和厚度集于一身高效的涂装过程应使用尽可能少的涂料并完全符合客户所要求的质量。光泽和厚度是评估涂层质量的重要参数。微型三角度光泽仪可咋数秒内在同一个测量点同时测量这两个参数。不仅节省时间而且在现场使用也十分理想-仅携带一台仪器 标准光泽厚度ISO2813,76682178,2360，2808ASTMD523B499,D1400DIN67530同时显示20°，60°，85°-用于高、中、低光泽涂料 两用磁性/非磁性探头-在钢或铝基材上测量涂层厚度 微型光泽仪S-系列亚光处理不仅是一种新的设计趋势，而且对于那些注重无反射或者低反射的应用-如汽车内饰。通常，各种不同的材料被使用，从皮革到塑料，要使它们看起来和谐一致。另外，材质表面结构从粗糙的粒子到精细的条纹各不相同，多为低光泽表面。为了确保多种材料之间外观的一致性，必须规定严格的允差范围只有其准的测试仪器才能客观地控制生产。新型光泽仪S系列产品提升了在60°gloss角度下对测量技术要求苛刻的低光泽区域（0-20GU）的测量精度。通过认证的校准程序，保证较好的重复性。技术指标测量范围0-20GU20-100GU100-2000GU重复性±0.1GU±0.2GU±0.2%重现性±0.2GU±0.5GU±0.5% 微型光泽仪XS适用于小部件的小口径今天，许多产品不但包括不同部件，而且由表面外观相似的部件组成。对于产品的成功，一个有吸引力的设计是非常重要的，如智能、电脑和家电用器。通常小部件是集成在大部件上或连接部件如框架，按钮或镶边装饰件。因为他们的尺寸和设计，传统光泽仪很难评估。微型光泽仪XS是60°的光泽仪，他的测量区域小到2X4mm，是测量小部件的理想解决方案，同时保证他们适合于大部件另一个版本，微型光泽仪60°XS-S，使用了更强的技术性能适用于测量非常亚光的表面 特殊应用的光泽测量特殊的应用要求特殊的测量角度。陶瓷材料、塑料薄膜和固体塑料、纸张和纸板不是用标准角度20°、60°、85°测试，就是用行业特殊角度45°或75°。 微型光泽仪45°塑料薄膜和固定塑料，包括不透明的和透明的，通常都使用45°角测量中光泽和低光泽。微型光泽仪45°：特别应用在陶瓷，塑料和薄膜的光泽测量标准的测量方法要求在每个样品上至少三个位置读数，以得到光泽均匀性的指标。微型光泽仪的统计模式将显示平均值和范围或标准偏差来衡量样本的均匀性。陶瓷、搪瓷等饰面使用45°角测试并经常通过测量失光率来得出其对酸、碱或其他环境因素的抵抗力对比。失光率%=100×为了评估光泽的变化，在整个样品表面取多个读书是必不可少的，并评估平均值以保证代表性的结果。标准技术指标ASTMC346,D2457角度应用测量范围JISZ874145°陶瓷、塑料、薄膜10-180GU特殊应用的光泽测量微型光泽仪75°尤其是涂布纸，也有各种未涂布纸要求控制光泽。75°角适用于在纸张和纸板上的大多数油墨。测量光泽是颜色差异的影响可以忽略不计。白色表面的测量值会高于其它方面相同的黑色表面不到一个光泽单位。德国BYK光泽度仪4563非常高光泽的纸张（铸涂纸、上光纸或蜡光纸）应使用20°角测量。如在TAPPI标准中对QC批组的定义，至少10个试样都要检查没有折痕、皱纹或其他缺陷。Smart-lab Gloss来记录和通讯测量结果，是理想的软件。其项目管理可以用来记录随着时间推移材料质量的变化，并通过PDF或Excel发送数据给各方使用75°角测试镜面光泽的另一个典型材料是乙烯基壁板，主要有硬质PVC组成，并用于建筑物的外墙板。为了评估在大面积上的均匀性，微型光泽仪的连续模式在表面上移动仪器时以预设的测量间隔显示光泽值。 德国BYK光泽度仪4563 标准技术指标ASTMD 2457,D 3679角度应用测量范围JISZ 874175°纸张、聚乙烯10-140GUTappiT 480德国BYK光泽度仪4563订购信息型号 名称角度 应用 测量面积4560新微型光泽仪20°20° 高光泽 10x10mm4561新微型光泽仪60°60° 中光泽 9x15mm4562新微型光泽仪85°85° 低光泽 5x38mm4563新微型三角度光泽仪20°60°85° 各种光泽 参见各角度4564新微型三角度光泽仪μ20°60°85° 各种光泽 参见各角度4565新微型光泽仪60°S60° 中光泽 9x15mm4566新微型三角度光泽仪S20°60°85° 各种光泽 参见各种角度4567新微型光泽仪45°45° 陶瓷，塑料，薄膜 9x13mm4568新微型光泽仪75°75° 纸张，聚乙烯 7x24mm4569新微型光泽仪60°XS60° 中光泽 2x4mm4570新微型光泽仪60°XS-S60° 中光泽 2x4mm

一、产品介绍： 椭圆标准器组\标准椭圆柱\圆度/圆柱度标准块主要用于检定、校准系列圆度仪仪器的放大倍数。我公司在生产过程中采用了特殊工艺，结构简单合理，形状为正椭圆柱，尺寸测量带稳定，表面光洁度高，只需一次调心找正后即可多次重复测量。 国家质量技术监督局在2000年8月发布的《国家计量检定规程JJG429-2000圆度、圆柱度测量仪》中，将其列为主要检定工具之一。二、产品特点：1、正椭圆柱；2、长短轴之差公称尺寸为：1μm、2μm、4μm、8μm、10μm、20μm；3、热处理HRC60-64，冷处理，时效，尺寸稳定；4、椭圆柱工作面三、结构图：标准椭圆柱别名：椭圆标准器组\标准椭圆柱\圆度/圆柱度标准块

系统简介：表面光电压测试系统主要用于半导体粉末材料的光生电压性能的测试分析，可开展光催化等方面的机理研究，主要应用于测量光电功能材料的表面光伏、表面光电流、估算光电转换效率、研究光催化机理、光解水制氢、太阳能电池、光电气敏传感器等。表面光电压谱与普通的通透射光谱不同,它是作用光谱,是利用调制光激发而产生光伏信号。因此所检测的信号包括两方面信息：一个是常见的光电压强度谱,它正比于样品的吸收光谱 另一个是相位角谱。 SPV信号的实质是对样品施加在强度上正弦调制的光脉冲,将会导致一个相同频率调制的,而且是正弦波的表面电势的变化。影响表面电势值的是少数载流子平均扩散距离内的光生电子或空穴,即Vspv在比少数载流子平均寿命更长的时间后才出现极值。因此,在人射光脉冲和 Vspv.的极值之间有一个时间延迟，也即相位差。系统特点：1. 模组化设计，紧扣用户需求，经济灵活，适用面广，升级、改造、维护均很方便；2. 可选大功率卤钨灯或大功率氙灯光源，也可使用用户已有或指定的光源；3. 独特的分光系统，保证良好的波长准确度和重复性，消除多级谱的影响，杂散光小；4. 具有弱信号处理能力，可有效提高信噪比，保证测量精度；5. 光路设计一体化、所有光路均在暗室中或封闭光路中进行，无外界杂光干扰6. 自主研发高性能弱信号处理器，可配置进口直流信号隔离前置放大器，有效隔离偏光照射样品产生的直流分量，并可进行所有控制信号的自动切换。 7. 配套完整的全自动化专用系统软件测试项目：表面光电压SPV、表面光电流SPC、相位角。测试样品：粉末状材料（主要代表有TiO2、ZnO、CdS、GaAs、CdTe、CdSe等）技术背景：表面光电压是固体表面的光生伏特效应,是光致电子跃迁的结果。1876年,W.GAdam就发现了这一光致电子跃迁现象 1948年才将这一光生伏特效应作为光谱检测技术应用于半导体材料的特征参数和表面特性研究上,这种光谱技术称为表面电压技术(Surface Photovoltaic Technique,简称SPV)或表面光电压谱(Surface Photovoltaic Spectroscopy,简称SPS)。表面光电压技术是一种研究半导体特征参数的极佳途径,这种方法是通过对材料光致表面电压的改变进行分析来获得相关信息的。1970年，表面光伏研究获得重大突破，美国麻省理工学院Gates教授的研究小组在用低于禁带宽度能量的光照射CdS表面时,历史性的第一次获得入射光波长与表面光电压的谱图，以此来确定表面态的能级,从而形成了表面光电压这一新的研究测试手段。SPV技术是最灵敏的固体表面性质研究的方法之一,其特点是操作简单、再现性好、不污染样品，不破坏样品形貌,因而被广泛应用于解析光电材料光生电荷行为的研究中。SPV技术所检测的信息主要是样品表层(一般为几十纳米)的性质，因此不受基底或本体的影响，这对光敏表面的性质及界面电子转移过程的研究显然很重要。由于表面电压技术的原理是基于检测由入射光诱导的表面电荷的变化,其检测灵敏度很高，而借助场诱导表面光电压谱技术可以用来测定半导体的导电类型(特别是有机半导体的导电类型)、半导体表面参数研究纳米晶体材料的光电特性，了解半导体光激发电荷分离和电荷转移过程,实现半导体的谱带解释,并为研究符合体系的光敏过程和光致界面电荷转移过程提供可行性方法。由于SPV技术的诸多优点,SPV技术得到了广泛的应用，尤其是今年来随着微弱信号检测水平的提高和计算机技术的进展,SPV技术应用的范围得到了很大的扩展。系统特点如下：技术参数：光电压谱测量最小电压10nV；功能材料的光电性质，可开展光催化等方面的机理研究光电流谱测量最小电流10 pA；研究功能材料光电流性质，可应用于太阳能电池、光解水制氢等方面的研究光伏相位谱分析相检测范围：-180°至+180°；可用于研究光生电荷的性质，如：光生电荷扩散方向；解析光生电荷属性等表面光电压、光电流、相位谱分析的光谱波长范围200-1600nm，可以全光谱连续扫描，光谱分辨率0.1nm，波长准确度±0.1nm光源配置氙灯光源（200/300-1100nm，标配）；卤素灯光源（400-1600nm，选配）；氘灯光源（190-400nm，选配）标配配件光学平台、机箱机柜、工业电脑、标准屏蔽插排等测试系统暗箱内部：测试系统样品室采用暗箱避光设计结构；样品室内上方为主光光源出光口，出光口角度出厂前已调整好，可准确照射在样品上；粉末状测试样品置于样品盒内进行测试，样品盒外侧有电流/电压测试切换按钮，方便切换测试功能软件系统：软件可实现对样品的全自动控制测试，自动扫描、信号放大、A/D、数据采集和数据处理，图表文件自动生成与显示；支持多种格式的数据和图片备份及打印输出功能，可导出为Excel、TXT 、XLS等格式的文件和数据；支持多组数据对比功能；粗大误差的自动去除，系统误差、线性误差、周期误差、T误差的自动校验。测量系统示意图： 1. 氙灯光源；2.单色仪；3.斩波器；4.汇聚透镜；5.反射镜；6频率调制光；7锁相放大器；8计算机含控制软件SPV表面光电压谱样品池结构及数据分析SPC表面光电流谱样品池结构及数据分析相关组件：氘灯光源氘灯光源主要用于紫外，可到真空紫外界限195nm，并且波长越短，亮度越高，在360nm以下比一般卤钨灯的辐亮度高。氘灯光源室内置长寿命氘灯灯泡，用户可自行更换。可用作独立的紫外光源，荧光光源的激发光源，或与我公司生产的单色仪、光谱仪、样品室、滤光片轮等配套使用组成各种应用系统。卤钨灯光源卤钨灯光源室内置德国OSRAM原装进口灯泡及灯座，使用寿命长，用户可自行更换灯泡。光源具有色温高，光效高，光通稳定的特点，灯泡寿命终止时的光通量为开始时的95~98%，可基本保持恒定。输出光通量波动仅为0.12%~0.2%。该光源可与我公司生产的单色仪、样品室、滤光片轮等配套使用组成各种应用系统，也可单独作为照明光源使用。氙灯光源氙灯光源室内置德国OSRAM原装进口高压短弧氙灯，亮度高于国产灯源数倍，寿命长，更换方便。光源室的F/#连续可调，且高压触发器置于光源室内部，避免光源室与电源之间传递高压造成安全隐患。关闭电源后，风冷系统继续工作保证光源室和电源充分冷却以延长各零组件寿命。500W氙灯光源（Xenon Lamp）光源寿命(Bulb Life)1000h光源型号(Bulb Model)XHA500/H（国产）光谱范围(Spectral Range)0.2mm－2.5mm光源色温(Color Temperature)6000K光源光通量(Bulb Luminous Flux)14500lm光源光强度(Bulb Luminous Intensity)1450cd光源亮度(Bulb Luminance)40000cd/cm2显色指数(Ra)94F/#F/2－F/∞光学元件(Optic Elements)金属反射镜+双石英透镜(Metal-Reflector & Fused UV Silica Lens)冷却形式(Cooling)风冷(自下而上)；Fan(From bottom to Top)氙灯开关电源（Xenon Lamp Power Supply）供电电压(Supply)AC220V±10%/50Hz额定功率(Lamp Power)500W输出电流(Current Out )22A~30A触发电压(Ignition Voltage)30kV±10%输出电流稳定度(Current Stability)0.5％输出电流漂移(Current Drift)±0.3%/h光栅扫描单色仪光栅扫描单色仪，配置滤光片轮，消除二次色散设计，有效抑制杂散光；单色仪采用多光栅塔台式分光结构，可根据需求灵活配置多块光栅；集成式软件可自动控制光栅转换、滤光片更换和波长扫描，实现全自动宽光谱测试；单色仪产品可与我公司光源、探测器等产品灵活组合搭建，广泛应用于我公司各光谱测试系统。焦距 (Focal Length)300 mmF/#F/4.8杂散光 (Stray Light)5×10-4波长准确性(Spectral Accuracy)0.2nm(1200g/mm)最小步距 (Minimum Step)0.0023 nm光栅有效面积(Grating Size)55x55光栅配置（根据光谱范围选择）7OG1200-300 (1200g/mm,λp=300nm) 7OG600-750 (600g/mm,λp=750nm)7OG300-1250 (300g/mm,λp=1250nm)光谱带宽(Spectral Bandwidth)0.027-16.2nm可调光出口手动双出口光学斩波器光学斩波器是一种高精密的光学设备，主要作用是将连续光调制成为有固定频率的光，同时输出调制频率；通常是与锁相放大器配合使用；光学斩波器一般由如下几个部件构成：控制单元、斩波装置、斩波片和连接线等。频率范围4~102.4 kHz动态保留100 dB稳定性为5 ppm/°C相位分辨率0.01°时间常数10 us到30 ks（最大24 dB/倍频程衰减速率）具有自动获取，自动定相，自动存储，自动补偿功能锁相放大器锁相放大器是用来检测极微弱的AC信号（可低至nV级）的高灵敏数据采集器，即使在噪声高于信号数千倍的情况下，也可得到精确的测量；锁相放大器是使用PSD相位敏感检测器的技术，只有存在于特定参考频率的信号可被挑选出来，而其他频率的噪声则不会被检出。主要性能如下：1) 输入端没有跟踪带通滤波器因为它的数字信号处理设计使它本身就具有很大的动态存储。2) 高动态存储，数字化滤波3) 数字相位移动,相位测量的分辨率为0.01°，并且X输出与Y输出正交，分辨率为0.001°。4) 频率合成器，内置的直接数字合成源能够产生失真极小（0.80 dBc）的参考信号。当使用外部参考信号时，合成源则根据参考信号进行相位锁定。5) 实用特点，自动功能允许仪器对参数进行频繁、自动的调整。只需按一键就可以对增益、相位、补偿和动态存储进行快速优化。6) 模拟输入和输出，标准的RS-232和GPIB(IEEE-488.2)接口，操作简便

表面光电压(SPV)谱是研究固体表面性质的最灵敏的方法之一 (大约 l08 q／cm2，q为单位电荷)．其灵敏度高于 XPS和 Auger电子能谱几个数量级，操作简单，再现性好，测试中不破坏样品，不改变样品的形貌。表面光电压谱测量中一个关键的测量不确定因素是光源的稳定性，为此，我公司特别提供的光源为高稳定度 500W氙灯，极大的提高了测量的精准度。系列表面光电压谱测量系统主要有氙灯光源、自动扫描单色仪、光纤束、锁相放大器、光学斩波器、暗室和数据采集软件等部分组成。主要技术参数：◆ 光源类型：氙灯◆ 光源功率： 500W◆ 光源稳定度：优于 1%(可达到 0.5%)◆ 单色仪焦距： 300mm(型)，500mm焦距(型)◆ 单色仪相对孔径： f/3.9(型)，f/6.5(型)◆ 单色仪输出带宽： 0.1-16nm(型)， 0.05-8nm(型)◆ 光谱覆盖范围： 200-1100nm(最佳光谱范围： 330-1000nm)◆ 单色仪数据接口： USB2.0◆ 锁相放大器品牌型号：美国 SRS公司 SR510型◆ 斩波器品牌型号：美国 SRS公司 SR540型◆ 出光口类型：光纤输出◆ 光纤束长度： 1◆ 光纤束直径： 1mm◆ 暗箱水平或垂直方向均可操作，方便放置不同类型的固体、粉末或溶液◆ 数据采集软件可直接控制单色仪进行波长与表面光电压信号采集，可选型号：规格描述500W氙灯，300mm焦距单色仪，光纤束输出至暗箱， SR510+SR540，软件500W氙灯，500mm焦距单色仪，光纤束输出至暗箱， SR510+SR540，软件型号规格描述WAD-SPV530500W氙灯，300mm焦距单色仪，光纤束输出至暗箱， SR510+SR540，软件WAD-SPV550500W氙灯，500mm焦距单色仪，光纤束输出至暗箱， SR510+SR540，软件【注】单色仪和锁相放大器配置可根据客户需要进行配置选择，但随机软件并非适用于所有品牌的锁相放大器，详情请咨询公司销售部。

用于缺陷分析和大型样品研究的领先纳米计量工具作为一款缺陷形貌分析的精密测量仪器，其主要目的是对样品进行缺陷检测。而仪器所提供的数据不能允许任何错误的存在。Park NX20，这款全球最精密的大型样品原子力显微镜，凭借着出色的数据准确性，在半导体和超平样品行业中大受赞扬。概述最强大全面的分析功能Park NX20具备独一无二的功能，可快速帮助客户找到产品失效的原因，并帮助客户制定出更多具有创意的解决方案。无与伦比的精密度为您带来高分辨率数据，让您能够更加专注于工作。与此同时，真正非接触扫描模式让探针尖端更锋利、更耐用，无需为频繁更换探针而耗费大量的时间和金钱。。即便是第一次接触原子显微镜的工程师也易于操作ParkNX20拥有业界最为便捷的设计和自动界面，让你在使用时无需花费大量的时间和精力，也不用为此而时时不停的指导初学者。借助这一系列特点，您可以更加专注于解决更为重大的问题，并为客户提供及时且富有洞察力的失效分析报告。技术特点为FA和研究实验室提供精确的形貌测量解决方案样品侧壁三维结构测量NX20的创新架构让您可以检测样品的侧壁和表面，并测量它们的角度。众多的功能和用途正是您的创新性研究和敏锐洞察力所必备的。对样品和基片进行表面光洁度测量表面光洁度测量是Park NX20的关键应用之一，能够带来精确的失效分析和质量保证。高分辨率电子扫描模式QuickStep SCM最快的扫描式电容显微镜PinPoint AFM无摩擦导电原子力显微镜多种独有的专利技术帮助顾客减少测试时间CrN样品所做的针尖磨损实验最佳AFM测量低噪声Z探测器测量准确的样品表面形貌没有压电蠕变误差的真正样品表面形貌超低噪声Z探测器，噪音水平低于0.02 nm,从而达到非常精准样品形貌成像，没有边沿过冲无需校准。Park NX20在为您提供好的数据的同时也为您节省了宝贵的时间。使用低噪声Z探测器信号进行台阶形貌测量。在大范围扫描过程中系统Z向噪音小于0.02 nm。没有前沿或后沿过冲现象终身无需校准，减少设备维护成本Park NX系列原子力显微镜传统的原子力显微镜Park NX20特点低噪声XYZ位置传感器行业领先的低噪声Z轴探测器代替Z电压作为形貌信号。低噪声XY闭环扫描可将正向扫描和反向扫描间隙降至扫描范围的0.15%以下。自动多点扫描 借助驱动样品台，步进扫描可编程步进扫描,多区域成像，以下是它的工作流程：扫描成像抬起悬臂移动驱动平台到设定位置进针重复扫描该自动化功能可大大减少扫描过程中人工移动样品所需时间，从而缩短测试时间，提高生产率。滑动嵌入SLD镜头的自主固定方式您只需滑动嵌入燕尾导轨便可轻松更换原子力显微镜镜头。该设计可将镜头自动锁定至预对准的位置，同时与复位精度为几微米的电路系统相连接。借助于相关性低的SLD，显微镜可精确成像并可准确测定力-距离曲线。高级扫描探针显微镜模式和选项的扩展槽只需将可选模块插入扩展槽便可激活高级扫描探针显微镜模式。得益于NX系列原子力显微镜的模块设计，其生产线设备兼容性得到大大提高高速24位数字控制器所有NX系列的原子力显微镜都是由相同的NX电子控制器进行控制和处理。 该控制器是个全数字，24位高速控制器，可确保True Non-Contact™ 模式下的成像精度和速度。凭借着低噪声设计和高速处理单元，该控制器也是纳米成像和精确电压电流测量的绝佳选择。嵌入式数字信号处理为原子力显微镜带来更为丰富的功能，更好的解决方案，是高级研究员的最佳选择。XY和Z轴检测器的24位信号分辨率XY轴（50 μm）的分辨率为0.003nmZ轴（15 μm ）的分辨率为0.001 μm嵌入式数字信号处理功能三通道数码锁相放大器弹簧系数校准（热方法）数据Q控制集成式信号端口专用可编程信号输入/输出端口7个输入端口和3个输出端口

优势特点表面光电压是固体表面的光生伏特效应，是光致电子跃迁的结果。1876年，W.GAdam就发现了这一光致电子跃迁现象 1948年才将这一光生伏特效应作为光谱检测技术应用于半导体材料的特征参数和表面特性研究上，这种光谱技术称为表面电压技术（Surface Photovoltaic Technique，简称SPV）或表面光电压谱（Surface Photovoltaic Spectroscopy，简称SPS）。表面光电压技术是一种研究半导体特征参数的极佳途径，这种方法是通过对材料光致表面电压的改变进行分析来获得相关信息的。1970年，表面光伏研究获得重大突破，美国麻省理工学院Gates教授的研究小组在用低于禁带宽度能量的光照射CdS表面时，历史性的第一次获得入射光波长与表面光电压的谱图，以此来确定表面态的能级，从而形成了表面光电压这一新的研究测试手段。SPV技术是最灵敏的固体表面性质研究的方法之一，其特点是操作简单、再现性好、不污染样品，不破坏样品形貌，因而被广泛应用于解析光电材料光生电荷行为的研究中。SPV技术所检测的信息主要是样品表层（一般为几十纳米）的性质，因此不受基底或本体的影响，这对光敏表面的性质及界面电子转移过程的研究显然很重要。由于表面电压技术的原理是基于检测由入射光诱导的表面电荷的变化，其检测灵敏度很高，而借助场诱导表面光电压谱技术可以用来测定半导体的导电类型（特别是有机半导体的导电类型）、半导体表面参数，研究纳米晶体材料的光电特性，了解半导体光激发电荷分离和电荷转移过程，实现半导体的谱带解释，并为研究符合体系的光敏过程和光致界面电荷转移过程提供可行性方法。 半导体激光器从某一稳定工作状态过渡到另一稳定工作状态的过程中所出现的瞬态现象，或对阶跃电流的响应。主要有激射延迟、张弛振荡和自脉动。这些现象限制着半导体激光器振幅调制或频率调制的性能，特别是最高调制速率。 瞬态表面光电压谱给出了不同样品光生电荷分离的动力学信息, 正向光伏信号代表光生电子由表面向内部转移。 通常半导体材料的瞬态光伏分为漂移和扩散过程，分别对应短时间范围和长时间范围的光伏信号。产品应用光生载流子动力学主要测试技术，载流子动力学测试技术主要有电学和谱学两类.电学方法主要是光电化学，测量方式又分时间域和频率域.时间域方法主要有瞬态光电压（TPV）和瞬态光电流（TPC）,频率域方法主要有电化学阻抗谱（EIS）和光强度调制光电压谱（IPVS）和光强度调制光电流谱（IMPS）等.谱学方法主要是瞬态吸收光谱和瞬态荧光光谱。这里主要介绍时间域的光电化学测量方法（以TPV为例）。瞬态吸收光谱是研究半导体光生载流子动力学过程和反应历程的强有力手段之一,它可以获得半导体体内光生载流子产生、俘获、复合、分离过程的重要微观信息。半导体激光器从某一稳定工作状态过渡到另一稳定工作状态的过程中所出现的瞬态现象，或对阶跃电流的响应。主要有激射延迟、张弛振荡和自脉动。这些现象限制着半导体激光器振幅调制或频率调制的性能，特别是最高调制速率。瞬态表面光电压谱给出了不同样品光生电荷分离的动力学信息, 正向光伏信号代表光生电子由表面向内部转移。 通常半导体材料的瞬态光伏分为漂移和扩散过程，分别对应短时间范围和长时间范围的光伏信号。详细介绍瞬态表面光电压实验光源为激光器, 激光脉冲半宽为5 ns, 激光波长为355 nm. 脉冲激光经棱镜分光后被分别射入光电倍增管和样品池中，激光强度通过渐变圆形中性滤光片进行调节. 光电倍增管记录参比信号, 样品信号经放大器(100 MΩ的输入阻抗, 1 kΩ输出阻抗的放大器)放大进入500MHz 的数字示波器(Tektronix)进行记录。 样品池由具有良好屏蔽电磁噪音的材料制成。样品池内部结构由上至下分别为: 铂网电极(直径为5 mm, 透光率为70%), 云母(厚度约10 μm), 被测样品, FTO电极。瞬态光电压研究光生电子的传输行为，其光电压响应包括上升和衰退两部分，光电压上升部分在物理上对应于Ti O?电极导电基底电子浓度增加（类似于电容充电过程），此过程由光生电子扩散到达基底引起，光电压下降部分主要对应于电子离开导电基底的复合过程（类似于电容放电过程）。规格参数1) 瞬态表面光电压谱光生载流子动力学；瞬态光电压研究光生电子的传输行为 2)可分析样品为催化剂粉末材料,采用三明治结构样品池3) ※可分析样品为光电器件，在溶液状态下分析TPV信号，测试样品的表面光电压信号和电子扩散长度；4)※Nd:YAG激光器：脉冲宽度：8ns @1064 nm, 7ns@532 nm, 6nm@355 nm，6nm@266 nm；光斑尺寸：7 mm 激光输出能量：200 mJ@1064 nm, 100 mJ@532 nm, 40 mJ@355 nm，20mJ@266 nm 频率1~20Hz；稳定性3%，RMS1ns 5)前置放大器，2通道，DC~350MHZ带宽，升降时间1ns，噪音6.4nv/HZ；6)数字荧光示波器，500 MHz 带宽，2 条模拟通道，所有通道上实时采样率高达 5 GS/s，所有通道记 10k 记录长度，3,600 wfms/s 连续波形捕获速率，高级触发套件，前面板 USB 主机端口，可以简便地存储和传送测量数据25 种自动测量标配 FFT，多语言用户界面，自动检测异常波形， 接口支持有源探头、差分探头和电流探头，自动定标和确定单位，配备 USB 主控端口，可以轻松将测量信息存储和传输到个人计算机中，个人计算机通信软件使您能够轻松将屏幕图像和波形数据拖入独立桌面应用程序或直接拖入 Microsoft Word 和 Excel。7)※光功率计，测试波长范围190-11000nm，功率范围0-2000mw，四挡量程自动分辨，可切换光功率密度，配合软件实时数据采集，软件还内置了量子效率计算功能，可以根据参数自动计算出光源强度和产氢效率，计算输出：光催化反应产氢速率mol/s ，入射光子数，平均产氢量子产率百分比，平均光-氢能量转化效率百分比。8)配置不锈钢粉末样品池，石英溶液样品池各一套，分别用于粉末样品和器件样品分析。9)所有光路均置于封闭暗箱内，无外届光源影响分析测试，内部配有导轨、反射镜、精密升降台平台，可以实现水平光路，也可以实现垂直光路。10)系统包含光学平台（900*1200mm）、暗箱、品牌电脑、控制及数据采集软件。11)※专用瞬态定制软件，专用的硬件、软件降噪算法，实时采集并分析数据出谱图，分别完成粉末样品和溶液样品的分析。12)安装、调试及技术培训，培训内容包括仪器的技术原理、操作、数据处理、基本维护等。

仪器简介与特点：泰勒霍普森公司最新产品。全世界范围内彻底颠覆单纯的圆度测量观念，第一次在圆度测量领域中引入圆度、粗糙度、轮廓的同时测量功能，荣誉体现英国泰勒霍普森公司在表面计量领域的领导者地位。完美的制造流程仿真测量，全面再现生产过程，从而实现最真实的数据采集。无与伦比的测量能力与强大的分析软件相结合，打造全方位的自动程序测量，同时实现圆度、粗糙度轮廓与三维形貌的全自动测量与分析。专利的校准程序和校准球，可校正轮廓测量中的测针弧形误差。 主要技术参数：最大测量重量： 75kg最大测量高度：300mm，500mm，900mm可选。最大测量直径：Ø 400 mm [可扩展至 485 mm]径向极限误差：+/- (0.015 µ m + 0.0003 x H µ m) （H为工作台上方的高度。单位mm，1-50UPR Filter）最高分辨率：0.5nm数据点数（可选择）：最多 18,000 个多个选项功能备选：活塞测量、盘厚、壁厚、速率、谐波、轮廓软件、3D 分析软件、环形表面光洁度、表面光洁度、RTA 分析、凹槽分析等

产品介绍： 表面光电压谱仪用途广泛，可以测量光电功能材料的表面光伏、测量光电功能材料的表面光电流、估算光电功能材料的光电转换效率、研究开发光电气敏传感器、研究光催化机理、研究开发太阳能电池、研究开发光解水制氢等。MC镁瑞臣公司在不断优化改进的基础上推出 MC-SPS1000系统。MC-SPS1000目前在国内众多实验室均得到应用，相对于进口产品，其主要优势体现在：超高的性价比；完善的售后和服务；对测试图谱的专业解读，对用户的研究工作带来极有价值的帮助。

背景技术及优势 表面光电压是固体表面的光生伏特效应，是光致电子跃迁的结果。 1876年，W.GAdam就发现了这一光致电子跃迁现象 1948年才将这一光生伏特效应作为光谱检测技术应用于半导体材料的特征参数和表面特性研究上，这种光谱技术称为表面电压技术（Surface Photovoltaic Technique，简称SPV）或表面光电压谱（Surface Photovoltaic Spectroscopy，简称SPS）。表面光电压技术是一种研究 半导体特征参数的极佳途径，这种方法是通过对材料光致表面电压的改变进行分析来获得相关信息的。 1970年，表面光伏研究获得重大突破，美国麻省理工学院Gates教授的研究小组在用低于禁带宽度能量的光照射CdS表面时，历史性的第一次获得入射光波长与表面光电压的谱图，以此来确定表面态的能级，从而形成了表面光电压这一新的研究测试手段。 SPV技术是最灵敏的固体表面性质研究的方法之一，其特点是操作简单、再现性好、不污染样品，不破坏样品形貌，因而被广泛应用于解析光电材料光生电荷行为的研究中。 SPV技术所检测的信息主要是样品表层（一般为几十纳米）的性质，因此不受基底或本体的影响，这对光敏表面的性质及界面电子转移过程的研究显然很重要。由于表面电压技术的原理是基于检测由入射光诱导的表面电荷的变化，其检测灵敏度很高，而借助场诱导表面光电压谱技术可以用来测定半导体的导电类型（特别是有机半导体的导电类型）、半导体表面参数，研究纳米晶体材料的光电特性，了解半导体光激发电荷分离和电荷转移过程，实现半导体的谱带解释，并为研究符合体系的光敏过程和光致界面电荷转移过程提供可行性方法。 由于SPV技术的诸多优点，SPV技术得到了广泛的应用，尤其是今年来随着激光光源的应用、微弱信号检测水平的提高和计算机技术的进展，SPV技术应用的范围得到了很大的扩展。主要应用：半导体材料的光生电压性能的测试分析、可开展光催化等方面的机理研究，应用于太阳能电池、光解水制氢等方面的研究，可用于研究光生电荷的性质，如：光生电荷扩散方向；解析光生电荷属性等。主要代表材料有TiO2、ZnO、CdS、GaAs、CdTe、CdSe等。表面光电压谱的技术参数1)光电压谱测量：最小电压10nV；功能材料的光电性质，可开展光催化等方面的机理研究；2)光电流谱测量：最小电流10 pA；研究功能材料光电流性质，可应用于太阳能电池、光解水制氢等方面的研究；3)光伏相位谱分析：相检测范围：-180°至+180°；可用于研究光生电荷的性质，如：光生电荷扩散方向；解析光生电荷属性等；4)表面光电压、光电流、相位谱分析的光谱波长范围：200-1600nm，可以全光谱连续扫描，光谱分辨率0.1nm，波长准确度±0.1nm；5)可以实现任意定波长下，不同强度光照下的表面光电压、光电流、相位谱分析，实现光谱分析的多元化；6)光路设计一体化、所有光路均在暗室中或封闭光路中进行，无外界杂光干扰；7)光源配置：氙灯光源（200/300-1100nm）；卤素灯光源（400-1600nm）；氘灯光源（190-400nm）；8)氙灯光源500W，点光源（2-6mm），可以实现变焦，实现软件反控调节光的输入功率，可以实现250W-500W连续可调，USB接口控制，完成5）的测试分析；9)单色仪：出入口可平行或垂直，焦距300mm，相对孔径：F/4.8，光学结构：非对称水平Czerny-Tuner光路，光栅面积55*55mm，最小步距0.0023nm，光谱范围200-1600nm；10)配置全自动6档滤光片轮，消除各种杂散光尤其600nm,标配滤光片3片，范围185-1600nm；11)锁相放大器（斯坦福）： a.mHz-102.4kHz频率范围； b.大于100dB动态存储； c.5ppm/oC的稳定性； d.0.01度相位分辨率； e.时间常数10us-30ks； f.同步参考源信号； g.GPIB及RS232接口； h.9转25串口线； i.USB转232串口线12)斩波器（斯坦福）: a.具有电压控制输入，四位数字频率显示，十段频率控制，和两种可选工作模式的参考输出； b.4Hz—3.7kHz斩波频率； c.单光束和双光束调制； d.低相位抖动频和差频参考信号输出； e.USB转232串口线；13)专用控制软件，数据记载，数据保存，应用于表面光电压谱的数据反馈，可以反控单色仪、锁相放大器（SR810、SR830、7265、7225）、斩波器、光源，根据需求自行修改参数，可根据需求进行源数据导出；14)主要配件： a.光学导轨及滑块； b.封闭的光学光路系统； c.标准的光学暗室； d.光电压及光电流池； e.外电场调系统； f.电流-电压转换器； g.计算机（选配）； h.光学平台（选配）。 表面光电压谱的测量方法示意图（1.氙灯光源；2.单色仪；3.斩波器（斯坦福）；4.汇聚透镜；5.反射镜；6频率调制光；7锁相放大器（斯坦福）；8计算机含控制软件） SPV表面光电压谱 样品池结构及数据分析 SPC表面光电流谱 样品池结构及数据分析 Scheme of thesurface photovoltage (SPV) setup applied for the measurements on multilayered sample of CdTe and CdSe NCs. Excitons are created upon light excitation, which diffuse through the structure and may reach andbecome separated at the type II CdTe/CdSe interface. The random diffusionof separated charges creates an electric field measured as the SPV signal U by two transparent outer FTO electrodes in a capacitor arrangement.

中图仪器Novator表面轮廓尺寸全自动影像测量仪采用大理石主体机台和精密伺服控制系统，将传统影像测量与激光测量扫描技术相结合，充分发挥了光学电动变倍镜头的高精度优势，智能化和自动化程度高，使测量变得简单。它可以自动抓取数据点，测量点、线、圆、弧、椭圆、矩形等几何特征，自动分析测量特征的各种参数，如宽度、直径、位置、直线度、圆锥度、圆柱度等各种几何尺寸。Novator表面轮廓尺寸全自动影像测量仪特点是可以自动抓取产品的边界和表面，尤其是在测量一些弱边缘特征(如过渡曲线、圆角加工等)时能完成自动抓取。结合专用测量软件对测绘要素数据进行处理、评价和输出。在保证精度的前提下，测量效率更高。测量功能1.量测工具：扫描提取边缘点、多段提取边缘点、圆形提取边缘点、椭圆提取、框选提取轮廓线、聚焦点、最近点等。2.可测几何量： 点、线、圆（圆心坐标、半径、直径）、圆弧、中心、角度、距、线宽、孔位、孔径、孔数、孔到孔的距离、孔到边的距离、弧线中心到孔的距离、弧线中心到边的距离、弧线高点到弧线高点的距离、交叉点到交叉点的距离等。3.构建特征：交点、中心点、极值点、端点、两点连线、平行线、垂线、切线、平分线、中心线、线段融合、半径画圆、三线内切圆、两线半径内切圆等。4.形位公差：直线度、圆度、轮廓度、位置度、平面度、对称度、垂直度、同心度、平行度等形位公差评定。5.坐标系：仪器坐标系、点线、两点 X、两线等工件坐标系；图像配准坐标系；可平移、旋转、手工调整坐标系。6.快速工具：R角、水平节距、圆周节距、筛网、槽孔、轮廓比对、弹簧、O型圈等特殊工具快速测量。7.支持公差批量设置、比例等级划分、颜色自定义管理。测量界面Novator表面轮廓尺寸全自动影像测量仪具备多种测量功能，包括表面尺寸、轮廓、角度与位置、形位公差、3D空间形貌与尺寸结构等的精密测量。其线激光3D扫描功能，可实现3D扫描成像和空间测量；点激光线扫描功能，可输出断面高度、距离等二维尺寸做分析。Novator还支持频闪照明和飞拍功能，可进行高速测量，大幅提升测量效率；具有可独立升降和可更换RGB光源，可适应更多复杂工件表面。产品优势稳固移动平台、高测量精度1.精密大理石机台，稳定性好，精度高。2.精密线性滑轨和伺服控制系统，超低分贝静音级运动。3.三轴全自动可编程检测，实现复杂特征批量检测。激光扫描成像、3D复合测量1.支持点激光轮廓扫描测量，进行高度方向上的轮廓测量。2.支持线激光3D扫描成像，可实现3D扫描成像和空间测量。3.VisionX测量软件支持多种轮廓测量和3D空间测量，无缝连接2D/3D混合测量。频闪照明光源、高速硬件飞拍1.具备频闪照明光源，支持频闪和普通双模式。2.支持飞拍模式测量，测量效率提升5~10倍。3.融入中图闪测仪的拼接测量功能，发挥综合优势。可更换RGB表光、独立升降表光1.可更换RGB表光和白色表光，适应多种复杂颜色和材料表面。2.表光可独立升降，更好的观察样品表面。3.支持六环八分区表面光、透射光、同轴光分段编程控制。自动测量，批量更快1.程序匹配工件坐标系，自动执行测量流程。2.支持CAD图纸和Gerber图纸导入，坐标系匹配测量。3、CNC固定坐标系模式下，可快速精确地进行批量测量。操作简单，轻松无忧1.具备大幅面导航相机，快速实现工件定位。2.具有镜头防撞功能，轻松无忧。3.一体化操作界面，任何人都能轻松设定和测量。应用领域Novator可实现各种复杂零件的表面尺寸、轮廓、角度与位置、形位公差、3D空间形貌与尺寸结构等精密测量。Novator可用于机械、电子、模具、注塑、五金、橡胶、低压电器、磁性材料、精密冲压、接插件、连接器、端子、手机、家电、印刷电路板、钟表、刀具、计量检测等领域。部分技术指标型号Novator432行程范围X(mm)400Y(mm)300Z(mm)200图像传感器高清彩色工业摄像机显示器24英寸 LCD显示器（1920×1080）放大倍率光学放大0.6~8.0X 影像放大17~232X照明系统透射光远心透射照明（绿色）表面光6环8分区分割照明（白光）；选配，可更换RGB光源同轴光LED光3D扫描成像测量Z向测量范围5mm扫描宽度30mm支持飞拍测量模式支持支持导航相机支持传感器配置选配，(1)接触式探针；(2)白光共焦；(3)三角激光外形尺寸(mm)860*1350*1670仪器重量(Kg)650恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

MicroSense PV-6060是一款高精度计量模块，为太阳能晶圆厚度、晶圆总厚度变化(TTV)和晶圆电阻率的测量提供了无与伦比的吞吐量和稳定性。所有测量都是完全非接触的实时模拟输出，具有高吞吐量，无晶圆破损。PV-6060旨在简单地集成到自动化晶圆运输中，用于制造在线太阳能晶圆检测和分拣系统的OEM。 非接触式太阳能晶圆测量 太阳能晶圆厚度和TTV - 1或3测量轨道 太阳能晶圆电阻率 太阳能晶圆P或N导电类型(可选) 优点 先进的高稳定性，低噪声电容传感器设计亚微米分辨率和非常可重复的厚度测量 非接触电容传感器提供真正的晶圆表面测量 - 晶圆表面光洁度对厚度测量精度没有影响 5毫米直径传感器用于厚度测量，提供高空间分辨率和接近晶圆边缘的测量 模块化设计 - OEM的灵活配置，设计用于简单

6.3.4保持电极表面的清洁和光滑，清除先前测试所留下的杂物。如果电极表面粗糙，则应及时更换电极。6.3.5对电极的初次生产和随后的表面重修应维持电极的特定结构以及光洁度，这是非常重要的。电极表面的平整度和表面光洁度应保证电极的整个区域都能与测试样紧密接触。在测试非常薄的材料时，表面光洁度将尤为重要，这是由于电极不恰当的表面会对测试材料产生物理损坏。表面重修时，不能改变电极表面与特定边缘半径之间的过渡。6.3.6无论在大小或形状上有多大的差别，位于最低应力集中处的电极，通常是比较大的且具有最大半径的那一个，应具有接地电位。6.3.7在一些特定的液相金属电极中，将使用电极箔，金属球，水或导电涂层电极。应该认识到这造成了所得结果与其他类型电极所获得的结果之间存在很大的不同。6.3.8由于电极对测试结果的影响，常常会得到一些额外的信息，以至于需要对多种电极进行测试才能了解一个材料（或一组材料）的绝缘性能。这对于研究测试尤为具有价值。6.4环境介质—有关本测试法的文件应说明环境介质和测试温度。为了避免闪络以及使击穿前局部放电的影响最小化，即使是对于快速测试，应更倾向于甚至是必须在绝缘液中进行测试（参见6.4.1）。绝缘液中获得的击穿值不能与空气中获得的值进行比较。绝缘液的性质和前次使用的程度也会影响测试的结果。在某些场合，在空气中进行测试，需要大量的测试样，或者会在击穿前，造成严重的表面放电以及烧蚀。一些在空气中测试的电极系统应在电极周围包上压力垫片以防止闪络。电极周围垫片或封条的材料将影响击穿电压值。6.4.1如果在绝缘油中进行测试，应提供适当大小的油池。（注意—在测试电压高于10kV时，并不推荐使用玻璃容器，因为击穿所释放出来的能量足以击碎容器。而金属池必须进行接地）。推荐使用满足标准D3487中I型或II型的矿物油。根据测试法D877所测定的结果，其击穿电压至少为26kV。如果另有说明，也可以将其他绝缘液用作环境介质。这些绝缘油包括硅油和其他用于变压器，断路器，电容或电缆的液体，但不限于此。6.4.1.1绝缘油的性质对测试结果具有一定的影响。如上所述，除了击穿电压，在测试较薄（小于25μm（千分之一寸）的测试样）时，污染物尤其重要。根据油和测试材料的性质，其他的特性如溶解气体含量，水含量以及油

表面光电压模块SPV020SPV020 模块是开尔文探针系统的理想升级选件，任何人对光敏材料研究感兴趣的，如太阳能电池、半导体、光敏染料等，来检测样品缺陷，用脉冲光简单的测量瞬态电压，每分钟约1000个表面电势电； 光强度变化通过对150W DC石英卤钨灯调制来获得开路电位或检测 你最新推出的太阳能电池的质量 ● 150W DC QTH光源带光纤照明或高强度Luxeon LED ● 数字可变强度光源控制(0-100%)● SPV软件包 SPS030SPS030是一个完善的光敏材料研究集成式解决方案，如太阳能电池、半导体、光敏染料等，系统提供一个综合测量范围的模块，包括DC和内置光学斩波器AC表面光电压研究，所有参数数字控制，包括光强度和波长(400-700 or 400-1000nm)，以此来检测样品的质量、表面性能和缺陷状况，灵活的光纤照明，通过特制的样品支架，很容易定位光源在样品上或下，适合大的硅晶片 ● 150W DC QTH光源具有光纤照明波长范围: 400-700nm (25nm FWHM) 400-1000nm (45nm FWHM)● 应用模块数字控制单元 ● 光学斩波器或KP触发测试模块 ● SPS S软件包

产品概述：材料：光学级蓝宝石材料表面面型：1~2波长 @ 633 nm平行差：小于3分表面光洁度：5级直径误差：+0.0/-0.1mm厚度公差：±0.1mm倒边：0.1mmX45°镀膜：无 产品规格：图纸直径Dia (mm) 12.5厚度（mm）1更多不同尺寸蓝宝石标准精度平面窗口，请移步KEWLAB中国。

产品概述：材料:光学级蓝宝石材料表面面型:波长/4 @ 633 nm平行差:小于30秒表面光洁度:3级直径误差:+0.0/-0.1mm厚度公差：±0.1mm倒边:0.1mmX45°镀膜:无 产品规格：图纸直径Dia (mm) 6.3厚度（mm）1更多不同尺寸蓝宝石高精度平面窗口，请移步KEWLAB中国。

产品概述：材料：精退火K9光学玻璃表面面型：波长/10 @ 633 nm平行差：小于10秒表面光洁度：1~2级直径误差：+0.0/-0.1mm厚度公差：±0.2mm倒边：0.2mmX45°镀膜：无 产品规格：图纸直径Dia (mm) 75厚度（mm）14更多不同尺寸高精度平面窗口，请移步KEWLAB中国。

一、 光泽度仪参数 1.测量角度：60° 2.测量光斑：9mm*15 mm 3.测量范围：0-1000GU 4.分辨率：0.1GU 5.重复性：0-100：±0.2GU，100-1000：±0.2% 6.重现性：0-100：±0.5GU，100-1000: ±0.5% 7.仪器尺寸：长104mm * 宽35mm * 高60mm 8.仪器重量：332 g二、 光泽度计特点 1.仪器具有温度补偿，数值稳定，允许长周期校准。 2.仪器实时测量，即放即测，无需按键操作。 3.全铝设计，超好质感。 4.超小型设计，可以放在口袋里，便于携带。 5.仪器同时显示实时值、上线值、下线值、平均值、均方差值，统计次数1-99可设。 6.仪器支持USB传输，自带操作软件，可与电脑联机操作并完成测试报告。 7.内置可充电电池。充电一次可持续开机使用48小时以上。光泽度仪仪器，做为测试材料表面光泽度仪器，应用到油漆涂料、装潢材料、建筑材料、塑胶材料、陶瓷制品、石材制品、竹木制品、皮革制品、薄膜纸张、印刷油墨等等众多的行业。对于选用仪器的用户，估计会患上“选择恐惧症”，因为光泽度仪器品牌众多，国产的，进口的，大的，小的，贵的几万，便宜的几百元，而且都宣称测试准确，使用方便等等优点。选择起来，确实难度非常大。从光泽度仪原理上我们来分析一下光泽度仪，也许有助于您在购买时的选择。首先，我们看一看光泽度仪原理　　在规定光源和接收器张角条件下，样品在镜面反射方向的反射光光通量与玻璃标样在该镜面反射方向的反射光光通量之比。折射率为1.567的抛光黑色玻璃在几何角度为60度下，设定其镜面光泽度值为100（光泽单位）。　　从光泽度仪原理我们可以看出，光泽度仪是一个需要和标准板作为参考的对比测试量。标准板不准确，其他测量数据就免谈。标准板容易受到划伤及灰尘的影响，仪器在设计上，需要考虑标准板得到很好的保护。其次，光泽度仪器的测量数据的线性度　　从光泽度仪器的原理，我们可以推断出，仪器测量数据的线性度是关系到仪器好坏的重要因素。如果光泽度标准板准确，例如标准板的光泽度是95.5，那么测量光泽度在95.5附近的材料，一般测量数据是比较准确的，但测量远离标准板的光泽度的材料，测量数据是否准确，就需要仪器测量系统的线性度是否优良来保证。仪器测量采集系统的线性度是光泽度仪器设计的一个难点。　　第三，恒流源及温度补偿　　仪器的光源的稳定性及是否有温度补偿功能，也是仪器是否稳定的一种重要因素。我们知道，光源不同温度和不同供电电流的情况下，发光效率是不一样的。所以一般光泽度仪器的光源，都需要采用恒流源及温度补偿电路，才能保证光源的稳定性。恒流源一般的光泽度仪器都能做到，只是在恒流源的精度上有差别。但是温度补偿功能，只有少数的光泽度仪器具有该功能。　　第四： 光泽度仪常见问题列表　　1：问： 光泽度仪器用什么电源？　　答：锂充电电池14500,一次充满电，可连续使用50小时以上。　　2：问： 光泽度仪可以自动校准吗？　　答：仪器放入底座，开机具有自动校准功能。　　3：问： 光泽度仪自动校准过程中，是否能判断标准板出现问题？　　答：仪器具有自检功能，仪器自诊断到故障，如标准板污损，划伤。　　4：问： 光泽度仪器测试是否准确？　　答：每台仪器都可以通过国家一级计量标准，可以和BYK AG4446直接比较数据。　　5：问： 光泽度仪具有误差补偿功能吗？　　答：恒流源及温度补偿电路，仪器的光源稳定性是仪器测量稳定性的一个重要保证。　　6：问： 光泽度仪器的统计功能怎样实现？　　答：仪器具有LCD显示界面直接智能统计功能和PC端软件统计功能　　７：问：标准板是否可用普通纸巾布料清洁？　　答：不行，标准板是光泽度仪器准确的基础，必须用专用的镜头布擦拭清洁。　　８：问：是否每次测量前必须要用标准板校准仪器？　　答：不是必须，仪器具有补偿功能保证长期稳定性。　　９：问： 光泽度仪器不用时，怎样保管？　　答：放入“底座”中，即保护标准板，也保护光学镜片免受粉尘及划伤影响。光泽度仪维修及光泽度仪常见问题光泽度是在规定光源和接收器张角条件下对材料表面反射光的能力进行评价的物理量。我们通常说的光泽指的是“镜向光泽”，所以光泽度仪有时也叫”镜面光泽度仪“，可以用于测量各种材料的光泽度，如汽车油漆，陶瓷，油墨，塑料，大理石，纸张，皮革等各种材料，在工业民用中的众多行业中都有用到。光泽度仪一种精密的光学设备，在使用过程中，经常会遇到各种问题。现在以深圳市林上科技有限公司的 光泽度仪为例，来详细讲解光泽度仪使用过程中的常见问题和常见使用错误。　　一：光泽度仪常见问题列表　　1：问：光泽度仪器用什么电源？　　答：锂充电电池14500,一次充满电，可连续使用50小时以上。　　2：问：光泽度仪可以自动校准吗？　　答：仪器放入底座，开机具有自动校准功能。　　3：问：光泽度仪自动校准过程中，是否能判断标准板出现问题？　　答：仪器具有自检功能，仪器自诊断到故障，如标准板污损，划伤。　　4：问：光泽度仪器测试是否准确？　　答：每台仪器都可以通过国家一级计量标准，可以和BYK AG4446直接比较数据。　　5：问：光泽度仪具有误差补偿功能吗？　　答：恒流源及温度补偿电路，仪器的光源稳定性是仪器测量稳定性的一个重要保证。　　6：问：光泽度仪的统计功能怎样实现？　　答：仪器具有LCD显示界面直接智能统计功能和PC端软件统计功能　　7：问：光泽度仪的标准板是否可用普通纸巾布料清洁？　　答：不行，标准板是光泽度仪器准确的基础，必须用专用的镜头布擦拭清洁。　　8：问：光泽度仪是否每次测量前必须要用标准板校准仪器？　　答：不是必须，仪器具有补偿功能保证长期稳定性。　　9：问：光泽度仪不用时，怎样保管？　　答：放入“底座”中，即保护标准板，也保护光学镜片免受粉尘及划伤影响。　　二：光泽度仪维修常见问题　　1：测量物体漏光导致测量偏差。　　测量时被测样品表面必须覆盖住光泽度仪测量孔， 光泽度仪器的测量光斑为9mm*15mm.被测样品必须大于测量光斑的面积并且在测试面上是平面。　　2：用普通的纸巾和布料用于清洁标准板。　　标准板的清洁程度要求很高，一般的纸巾和布料达不到标准板洁净度要求。必须用随机配专用镜头布擦拭标准板，或者使用高级的镜头纸亦可。　　3：温度急剧变化的环境中，立即测量。　　从温度较低的地方到温度较高的地方（如冬天室外到室内），或从高温到低温环境，请放置一段时间再进行测量。一是因为光学镜片从温度低的地方到温度高的地方镜片表面会结雾，二是因为仪器的温度补偿功能，需要仪器的内部于环境温度基本均衡时，补偿效果最好。　　4：在强光照射下测量。　　所有的光学仪器，都需要尽可能避免外界光线的影响，当杂散光通过光泽度仪与被测样品的接触面进入光泽度仪后，杂散光就会影响仪器的测量精度。　　5：如果排除以上问题，请将仪器寄回厂家维修。

产品简介　　粗糙度仪又叫表面光洁度仪、表面粗糙度检测仪、粗糙度测量仪、粗糙度计、粗糙度测试仪等多种名称。它具有测量精度高、测量范围宽、操作简便、便于携带、工作稳定等特点，可以广泛应用于各种金属与非金属的加工表面的检测，该仪器是传感器主机一体化的袖珍式仪器，具有手持式特点，更适宜在生产现场使用。外形设计，坚固耐用，抗电磁干扰能力显著，符合当今设计新趋势。　　粗糙度仪的应用领域有：一、机械加工制造业，主要是金属加工制造。仪器最初的产生就是为了检测机械加工零件表面粗糙度而生的。尤其是触针式粗糙度测量仪比较适用于质地比较坚硬的金属表面的检测。如：汽车零配件加工制造业、机械零部件加工制造业等等。这些加工制造行业只要涉及到工件表面质量的，对于仪器的检测应用是必-不可少的。二、非金属加工制造业，随着科技的进步与发展，越来越多的新型材料应用到加工工艺上，如陶瓷、塑料、聚乙烯，等等，现有些轴承就是用特殊陶瓷材料加工制作的，还有泵阀等是利用聚乙烯材料加工制成的。这些材料质地坚硬，某些应用可以替代金属材料制作工件，在生产加工过程中也需要检测其表面粗糙度。三、随着仪器的技术和功能不断加强和完善，以及深入的推广和应用，越来越多的行业被发现会需求粗糙度的检测，除机械加工制造外，电力、通讯、电子、，如交换机上联轴器、集成电路半导体等生产加工过程中也需粗糙度的评定，甚至人们生活中使用的文具、餐具、人的牙齿表面都要用到表面粗糙度的检验。　　针描法又称触针法。当触针直接在工件被测表面上轻轻划过时，由于被测表面轮廓峰谷起伏， 触针将在垂直于被测轮廓表面方向上产生上下移动，把这种移动通过电子装置把信号加以放大， 然后通过指零表或其它输出装置将有关粗糙度的数据或图形输出来。　　采用针描法原理的表面粗糙度测量仪由传感器、驱动器、指零表、记录器和电感传感器是轮廓仪的主要部件之一，在传感器测杆的一端装有金刚石触针，触针尖-端曲率半径r很小，测量时将触针搭在工件上，与被测表面垂直接触，利用驱动器以一定的 速度拖动传感器。由于被测表面轮廓峰谷起伏，触针在被测表面滑行时，将产生上下移动。此运动经支点使磁芯同步地上下运动，从而使包围在磁芯外面的两个差动电感线圈的电感量发生变化。传感器的线圈与测量线路是直接接入平衡电桥的，线圈电感量的变化使电桥失 去平衡，于是就输出一个和触针上下的位移量成正比的信号，经电子装置将这一微弱电量的变化放大、 相敏检波后，获得能表示触针位移量大小和方向的信号。此后，将信号分成三路：一路加到指零表上， 以表示触针的位置，一路输至直流功率放大器，放大后推动记录器进行记录 另一路经滤波和平均表放大 器放大之后，进入积分计算器，进行积分计算，即可由指示表直接读出表面粗糙度Ra值。　　当铁芯处于差动电感线圈的中间位置时，指零表指针指示出零位，即保证处于电感变化的线性范围之内。所以，在测量之前，必须调整指零表，使其处于零位。经过噪声滤波和波度滤波以后，剩下来的就是与被测表面粗糙度成比例的信号，再经平均表放大器后，所输出的电流I与被测表面轮廓各点偏离中线的高度y的绝对值成正比，然后经积分器完成的积计算，得出Ra值，由指零表显示出来。这种仪器适用于测定0.02-10μm的Ra值，其中有少数型号的仪器还可测定更小的参数值，仪器配有各种附件，以适应平面、内外圆柱面、圆锥面、球面、曲面、以及小孔、沟槽等形状的工件表面测量。测量迅速方便，测值精度高。　　传统表面粗糙度测量仪存在以下几个方面的不足：(1)测量参数较少，一般仅能测出Ra、Rz、Ry等少量参数 (2)测量精度较低，测量范围较小，Ra值的范围一般为0.02-10μm左右 (3)测量方式不灵活，例如：评定长度的选取，滤波器的选择等 (4)测量结果的输出不直观。造成上述几个方面不足的主要原因是：系统的可靠性不高，模拟信号的误差较大且不便于处理等。

KP表面光电压模块SPS030/SPV020SPV020SPV020 模块是开尔文探针系统的理想升级选件，任何人对光敏材料研究感兴趣的，如太阳能电池、半导体、光敏染料等，来检测样品缺陷，用脉冲光简单的测量瞬态电压，每分钟约1000个表面电势电； 光强度变化通过对150W DC石英卤钨灯调制来获得开路电位或检测 你最新推出的太阳能电池的质量● 150W DC QTH光源带光纤照明或高强度Luxeon LED● 数字可变强度光源控制(0-100%)● SPV软件包 SPS030SPS030是一个完善的光敏材料研究集成式解决方案，如太阳能电池、半导体、光敏染料等，系统提供一个综合测量范围的模块，包括DC和内置光学斩波器AC表面光电压研究，所有参数数字控制，包括光强度和波长(400-700 or 400-1000nm)，以此来检测样品的质量、表面性能和缺陷状况，灵活的光纤照明，通过特制的样品支架，很容易定位光源在样品上或下，适合大的硅晶片● 150W DC QTH光源具有光纤照明波长范围: 400-700nm (25nm FWHM) 400-1000nm (45nm FWHM)● 应用模块数字控制单元● 光学斩波器或KP触发测试模块 ● SPS S软件包

KEWLAB旗下标准精度平面窗口均可根据您的需求添加镀膜，镀膜方式可选：1. VIS增透膜@350~700nm2. NIR增透膜@600~1100nm3. SWIR增透膜@900~1700nm 产品概述：材料：精退火K9光学玻璃表面面型：波长/ 2 @ 633 nm平行差：小于1分表面光洁度：3~4级直径误差：+0.0/-0.2mm厚度公差：±0.2mm倒边：0.2mmX45°镀膜：详见KEWLAB产品列表 产品规格：图纸直径Dia (mm) 50厚度（mm）4更多不同尺寸标准精度平面窗口，请移步KEWLAB中国。

关键特征● 关键部件均采用原装进口设备（包括：Nd: YAG激光器，前置放大器，光电倍增管，能量计等）；● 能够直观反映出光生电荷的分离方向、分离效率以及电荷寿命等动力学信息；● 研究纳秒尺度上光生电荷行为的一种有效手段，具有非接触，无损等优点；● 我公司与吉林大学王德军教授拥有着长期深入的合作，可提供仪器使用、谱图解析与数据分析等技瞬态表面光电压谱仪PL-TPV（物料表征设备）关键特征● 关键部件均采用原装进口设备（包括：Nd: YAG激光器，前置放大器，光电倍增管，能量计等）；● 能够直观反映出光生电荷的分离方向、分离效率以及电荷寿命等动力学信息；● 研究纳秒尺度上光生电荷行为的一种有效手段，具有非接触，无损等优点；● 我公司与吉林大学王德军教授拥有着长期深入的合作，可提供仪器使用、谱图解析与数据分析等技术服务。应用领域 ▲特别适用 ●较为适用 ○可以使用▲研究光生电荷分离的动力学信息● 光生电荷分离过程中的漂移● 光生电荷分离过程中的扩散▲ 研究光生电荷分离和复合过程信息● 速度快慢● 分离方向● 分离模式瞬态表面光电压谱仪PL-TPV（物料表征设备）

KEWLAB旗下紫外熔融石英标准精度平面窗口均可根据您的需求添加镀膜，镀膜方式可选：1. UV增透膜@250~425nm2. VIS增透膜@350~700nm3. NIR增透膜@600~1100nm4. SWIR增透膜@900~1700nm 产品概述：材料：紫外熔融石英表面面型：波长/2 @ 633 nm平行差：小于1分表面光洁度：3~4级直径误差：+0.0/-0.1mm厚度公差：±0.2mm倒边：0.2mmX45°镀膜：详见KEWLAB产品列表产品规格：图纸直径Dia (mm) 30厚度（mm）3更多不同尺寸紫外熔融石英标准精度平面窗口，请移步KEWLAB中国。

KEWLAB旗下紫外熔融石英高精度平面窗口均可根据您的需求添加镀膜，镀膜方式可选：1. UV增透膜@250~425nm2. VIS增透膜@350~700nm3. NIR增透膜@600~1100nm4. SWIR增透膜@900~1700nm 产品概述：材料：紫外熔融石英表面面型：波长/10 @ 633 nm平行差：小于10秒表面光洁度：1~2级直径误差：+0.0/-0.1mm厚度公差：±0.2mm倒边：0.2mmX45° 产品规格：图纸直径Dia (mm) 25厚度（mm）6

仪器简介：YG-2000型圆筒式过滤器,采用304或316L不锈钢材料制成,是一种结构合理、外形美观的加压除菌过滤器。具有耐酸碱、表面光洁度高、易清洗、滤速快、久经耐用、使用方便等特点。可供大专院校、科研单位、药厂、医院等作培养基、血液制品、药液的除菌或澄清过滤用。技术参数：YG-1000型圆筒式过滤器,采用304或316L不锈钢材料制成,是一种结构合理、外形美观的加压除菌过滤器。具有耐酸碱、表面光洁度高、易清洗、滤速快、久经耐用、使用方便等特点。可供大专院校、科研单位、药厂、医院等作培养基、血液制品、药液的除菌或澄清过滤用。 容 量 适配滤纸规 格 进气口 直　径 出液口 直　径 出液口与工作 台的垂直高度 总高 水流量 1000ml &Phi 100mm 6mm 7.8mm 18cm、27cm 45cm 0.7L/min 注：１、过滤器能承受最大压力为0.6MPa ２、水流量测试时，选用的压力是0.2MPa，选用的微孔滤膜孔径是0.22&mu m主要特点：YG-2000型圆筒式过滤器,采用304或316L不锈钢材料制成,是一种结构合理、外形美观的加压除菌过滤器。具有耐酸碱、表面光洁度高、易清洗、滤速快、久经耐用、使用方便等特点。可供大专院校、科研单位、药厂、医院等作培养基、血液制品、药液的除菌或澄清过滤用。

背景技术及优势 表面光电压是固体表面的光生伏特效应，是光致电子跃迁的结果。1876年，W.GAdam就发现了这一光致电子跃迁现象 1948年才将这一光生伏特效应作为光谱检测技术应用于半导体材料的特征参数和表面特性研究上，这种光谱技术称为表面电压技术（Surface Photovoltaic Technique，简称SPV）或表面光电压谱（Surface Photovoltaic Spectroscopy，简称SPS）。表面光电压技术是一种研究半导体特征参数的好途径，这种方法是通过对材料光致表面电压的改变进行分析来获得相关信息的。1970年，表面光伏研究获得重大突破，美国麻省理工学院Gates教授的研究小组在用低于禁带宽度能量的光照射CdS表面时，历史性的获得入射光波长与表面光电压的谱图，以此来确定表面态的能级，从而形成了表面光电压这一新的研究测试手段。SPV技术是灵敏的固体表面性质研究的方法之一，其特点是操作简单、再现性好、不污染样品，不破坏样品形貌，因而被广泛应用于解析光电材料光生电荷行为的研究中。SPV技术所检测的信息主要是样品表层（一般为几十纳米）的性质，因此不受基底或本体的影响，这对光敏表面的性质及界面电子转移过程的研究显然很重要。由于表面电压技术的原理是基于检测由入射光诱导的表面电荷的变化，其检测灵敏度很高，而借助场诱导表面光电压谱技术可以用来测定半导体的导电类型（特别是有机半导体的导电类型）、半导体表面参数，研究纳米晶体材料的光电特性，了解半导体光激发电荷分离和电荷转移过程，实现半导体的谱带解释，并为研究符合体系的光敏过程和光致界面电荷转移过程提供可行性方法。瞬态吸收光谱研究光生载流子反应动力学，半导体受激光激发后产生载流子，在其衰减过程中可发生一系列的变化和反应.时间分辨紫外可见吸收光谱可监测其随时间变化。首先应需确定载流子的检测波长，光生电子和空穴的特征吸收波长可调控电极一种载流子浓度而测量另一种载流子的瞬态光吸收与波长的关系。 l 瞬态表面光电压谱的应用 瞬态光电压主要应用于半导体材料或者器件的TPV测试和机理分析，光催化材料TiO2、C3N4、CdS、磷化物等、催化材料、分子筛、太阳能电池（单晶、多晶、染料敏化、钙钛矿）、光电化学的TPV、电化学材料的TPV等。产品优势：采用白光偏置光路激发材料；大功率原装进口脉冲激光器；采用专有技术的电磁屏蔽，无任何外界干扰；测试光路，水平与垂直可任意在线切换，实现固体样品和液体样品均可测试分析。光生载流子动力学主要测试技术，载流子动力学测试技术主要有电学和谱学两类.电学方法主要是光电化学，测量方式又分时间域和频率域.时间域方法主要有瞬态光电压（TPV）和瞬态光电流（TPC）,频率域方法主要有电化学阻抗谱（EIS）和光强度调制光电压谱（IPVS）和光强度调制光电流谱（IMPS）等.谱学方法主要是瞬态吸收光谱和瞬态荧光光谱。这里主要介绍时间域的光电化学测量方法（以TPV为例）。瞬态吸收光谱是研究半导体光生载流子动力学过程和反应历程的强有力手段之一,它可以获得半导体体内光生载流子产生、俘获、复合、分离过程的重要微观信息。半导体激光器从某一稳定工作状态过渡到另一稳定工作状态的过程中所出现的瞬态现象，或对阶跃电流的响应。主要有激射延迟、张弛振荡和自脉动。这些现象限制着半导体激光器振幅调制或频率调制的性能，特别是高调制速率。 瞬态光电压谱(Transient photovoltage spectrum)给出了不同样品光生电荷分离的动力学信息, 正向光伏信号代表光生电子由表面向内部转移。 通常半导体材料的瞬态光伏分为漂移和扩散过程，分别对应短时间范围和长时间范围的光伏信号。 l 瞬态表面光电压工作原理瞬态表面光电压实验光源为激光器, 脉冲纳秒激光经棱镜分光后被分别射入光电倍增管和样品池中，激光强度通过渐变圆形中性滤光片进行调节. 光电倍增管记录参比信号, 样品信号经放大器的数字示波器进行记录。 样品池由具有良好屏蔽电磁噪音的材料制成。样品池内部结构由上至下分别为: 铂网电极, 云母片, 被测样品, FTO电极。瞬态光电压研究光生电子的传输行为，其光电压响应包括上升和衰退两部分，光电压上升部分在物理上对应于TiO电极导电基底电子浓度增加（类似于电容充电过程），此过程由光生电子扩散到达基底引起，光电压下降部分主要对应于电子离开导电基底的复合过程（类似于电容放电过程）。瞬态表面光电压谱光生载流子动力学；瞬态光电压研究光生电子的传输行为。 技术参数 项目参数激光器Nd:YAG脉冲纳秒激光器（整机原装进口）激光器参数波长1064nm@320mJ；532nm@180mJ；355nm@60mJ；266nm@40mJ；脉冲宽度 (1064 nm) 10 - 14 ns；控温精度0.05℃；内部预热器，可快速预热OPO激光器(选配)波长范围：210-2200nm连续可调，计算机控制波长调节，峰值能量输出20mJ，重复频率20HZ系统时间分辨率5ns探测灵敏度0.1mOD数据采集12bit/16bit高分辨率数字示波器光路采用全封闭结构设计，无任何外部环境干扰样品室激光耦合装置；激光光斑聚焦调整；水平及垂直光路切换；可调光阑；匹配固体粉末及液体样品池的光路结构标配三明治结构样品池，可根据要求定制样品空间，允许进行更多实验环境的光路定制，如支持低温样品环境、显微镜微区光谱、强磁场环境等。光功率计测试波长范围190-11000nm，功率范围0-2000mw 配合软件实时数据采集，软件还内置了量子效率计算功能软件软件集成控制脉冲激光器、OPO激光器、数据同步、数据采集、数据放大、数据分析、全自动处理、数据导出等功能。支持单次采集，多次积分平均，本底扣除等；2D瞬态光电压谱，寿命曲线拟合；支持3D变波长瞬态光电压谱显示。太阳能电池光电压谱

关键特征● 研究纳秒尺度上光生电荷行为的一种有效手段，具有非接触，无损等优点；● 能够直观反映出光生电荷的分离方向、分离效率以及电荷寿命等动力学信息；● 我公司与吉林大学王德军教授拥有着长期深入的合作，可提供仪器使用、谱图解析与数据分析等技术服务。应用领域 ▲特别适用●较为适用 ○可以使用▲ 测量光电功能材料的表面光电压▲ 测量光电功能材料的表面光电流▲ 计算光电功能材料的光电转化效率▲ 研究开发光电气敏传感器▲ 研究光催化反应机理▲ 研究太阳能电池技术参数● 光电压测量：可测光电压＞ 100 nV 光谱波长范围：300~1000 nm 光谱分辨率：2 nm ● 光电压测量：可测光电流＞ 100 pA 光谱波长范围：300~1000 nm 光谱分辨率：2 nm ● 光伏相位谱：相检测范围：±180° 光谱波长范围：300~1000 nm ● 光电转化效率（IPCE):光谱波长范围：300~1000 nm 典型客户

仪器简介：我公司自主研发并生产光学滤光片，覆盖从紫外~红外的宽光谱范围，类型涵盖窄带滤光片、中性滤光片、长波通滤光片、短波通滤光片及冷镜和热镜等，品种多，寿命长。另外自2007年开始我公司代理美国Intor公司生产的各种光学滤光片。技术参数：窄带干涉滤光片 注意： 对于窄带干涉滤光片，其峰值透过率通常不在中心波长处 规格： 直径公差： +0.0 /-0.1mm 厚度公差： ± 0.2mm　　 表面面型： 1.5波长~2.5波长 @632.8nm 表面光洁度: 4级 中心波长偏差 : ± 2nm 半带宽偏差: ± 2nm 截止区截止深度（或背景）: T10-4 @X射线~1200nm 使用温度： - 400 C~ + 600 C 波长：紫外~红外 中性滤光片 规格： 材料： 精退火K9光学玻璃或紫外熔融石英 直径公差： +0.0 /-0.1mm 厚度公差： ± 0.2mm 平行： 3分　　 表面面型： 1波长 @632.8nm 表面光洁度: 4级 净通光口径： 90% 透过率公差： ± 3% 波长：可见~红外主要特点：用于标定仪、生化仪、酶标仪、激光应用谱线分析、显微镜等