表面光洁度测量仪

维氏硬度对试样表面光洁度有什么要求？粗磨一下可以吗，还是要抛光态才可以

哪位知道:表面粗糙度与老的表面光洁度的大约对应关系是怎样的?谢谢!

直读光谱样品表面光洁度要到什么程度才合适？大家谈谈自己的实际经验吧！

现在公司需要买油漆干层测试和表面光洁度（Dry film thickness / Gloss meter)测试仪各一台。我们的设计部门提出要TQC的。请问各位国内有TQC这个公司的代理吗？怎么联系？谢谢

最近收到一个客户样品，是铝合金的，铝合金本身硬度也就是70HV的样子，它表面做了硬化处理，现在要测硬化层的硬度，按道理说，应该用显微维氏硬度计来测，但是硬化后的表面光洁度达不到要求，显微维氏根本测不了，如果用磨抛机抛光的话，肯定会对其表面硬度有影响，像这种镀层硬度到底应该怎么测呢？请各位大神指点，谢谢！

粗糙度仪又叫表面粗糙度仪、表面光洁度仪、表面粗糙度检测仪、粗糙度测量仪、粗糙度计、粗糙度测试仪等多种名称，国外先研发生产后来才引进国内。粗糙度仪测量工件表面粗糙度时，将传感器放在工件被测表面上，由仪器内部的驱动机构带动传感器沿被测表面做等速滑行，传感器通过内置的锐利触针感受被测表面的粗糙度，此时工件被测表面的粗糙度引起触针产生位移，该位移使传感器电感线圈的电感量发生变化，从而在相敏整流器的输出端产生与被测表面粗糙度成比例的模拟信号，该信号经过放大及电平转换之后进入数据采集系统。 产品特点：· 清晰的大型易进行读数字符显示· 便携式设计，可用于任何场所· 检测器/驱动部可拆卸，可在很小的空间内进行测量· 探针行程达 350mm（-200mm～+150mm）· 粗糙度参数与 ISO,DIN,ANSI 和 JIS 兼容· 提供包括基础参数 Ra,Rq,Rz,Ry 在内的 19 个分析参数。· 用户自定义功能可屏蔽不需要的参数。· 对所需参数进行 GO/NG 判断。· 通过简单的增益调整进行自动校准。· 自动休眠功能可有效节约能源。· 断电后仍可在存槠器中存10组不同的测量条件。· 可为 SPC 操作输出数据。· 外部设备可通过RS-232C端口与电脑或其它装置进行数据传输· 双电源系统 （AC适配器/内置充电电池 ）· 带有专用便携式仪器箱，可安全传输· 可提供高精度粗糙度标准片· 可通过打印机选件打印输出测量数据

粗糙度仪又叫表面粗糙度仪、表面光洁度仪、表面粗糙度检测仪、粗糙度测量仪、粗糙度计、粗糙度测试仪等多种名称。该仪器是传感器主机一体化的袖珍式仪器，具有手持式特点。1、工作原理当传感器在驱动机构的驱动下沿被测表面作匀速直线运动时，其内部垂直于工作表面的触针随工作表面的微观不平轮廓产生垂直方向的位移，再通过传感器将位移变化量转换成电量的变化，将该电信号进行放大，滤波，经A/D转换为数字信号，再经DSP处理，计算出Ra、Rz、Rq、Rt值并显示。2、产品用途本产品属于便携式表面粗糙度仪，具有测量精度高、测量范围宽、操作简便、便于携带、工作稳定等特点，可以广泛应用于各种金属与非金属的加工表面的检测，该仪器是传感器主机一体化的袖珍式仪器，具有手持式特点，更适宜在生产现场使用。3、产品特点◇机电一体化设计，体积小，重量轻，使用方便；◇采用 DSP 芯片进行控制和数据处理，速度快，功耗低；◇大量程，多参数 Ra,Rz,Rq,Rt。◇高端机器增加 Rp,Rv,R3z,R3y,RzJIS,Rs,Rsk,Rsm,Rku,Rmr 等参数；◇128×64 OLED 点阵显示器，数字/图形显示；高亮无视角；◇显示信息丰富、直观、可显示全部参数及图形；◇兼容 ISO、DIN、ANSI、JIS 多个国家标准；◇内置锂离子充电电池及充电控制电路，容量高、无记忆效应；◇有剩余电量指示图标，提示用户及时充电；◇可显示充电过程指示，操作者可随时了解充电程度◇连续工作时间大于 20 小时◇超大容量数据存储，可存储 100 组原始数据及波形。◇实时时钟设置及显示，方便数据记录及存储。◇具有自动休眠、自动关机等节电功能◇可靠防电机走死电路及软件设计◇显示测量信息、菜单提示信息、错误信息及开关机等各种提示说明信息；◇全金属壳体设计，坚固、小巧、便携、可靠性高。◇中/英文语言选择 ◇可连接电脑和打印机；◇可打印全部参数或打印用户设定的任意参数。◇可选配曲面传感器、小孔传感器、测量平台、传感器护套、接长杆等附件。[img=,300,463]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/11/202211241622452810_7413_5568994_3.png!w489x756.jpg[/img]【英徕铂】英徕铂ENLAB，物性检测仪器品牌，为国内市场提供数百种物性检测仪器，为科研工作者提供检测仪器解决方案与服务

粗糙度∶以前一般叫表面光洁度，是用来评定工件表面质量的专业术语，最早一般用对比样板来评定工件表面粗糙度，从▲1到▲14一共分为14个等级，随着科技的发展使用者对工件表面质量要求也越来越高，原来的检测手段已经不能满足我们的需求，这也就加快了表面粗糙度仪的诞生。粗糙度仪是检测工件表面粗糙度的数字化电子仪器，由于准确度高、稳定性好、便于操作等优点迅速普及开来。　　粗糙度仪分类：　　粗糙度仪又叫表面粗糙度仪、表面光洁度仪、表面粗糙度检测仪、粗糙度测量仪、粗糙度计、粗糙度测试仪等多种名称，国外先研发生产后来才引进国内，目前市场上粗糙度仪品牌主要有：英国泰勒粗糙度仪、德国马尔粗糙度仪、德国霍梅尔表面粗糙度仪、日本三丰粗糙度仪、东京精密粗糙度、瑞士泰萨粗糙度仪、英国易高粗糙度这些都是国外生产厂商品牌；国内生产厂家品牌主要有：北京时代粗糙度仪、哈量粗糙度仪、宁波联合、上海泰明、304、威尔逊、兰泰等。其中时代集团生产的粗糙度仪（时代粗糙度仪）在国内占有80%左右的市场份额。粗糙度仪从测量原理上主要分为两大类：接触式和非接触式，接触式粗糙度仪主要是主机和传感器的形式，非接触式粗糙度仪主要是光学原理例如激光表面粗糙度仪。从测量使用的方便性上说又可分为：袖珍式表面粗糙度仪（代表性产品主要有：时代TR100、TR101、TR110、TR150袖珍式表面粗糙度仪和现已停产的英国泰勒DUO袖珍式表面粗糙度仪）、手持式粗糙度仪（代表性产品主要有TR200/220手持式粗糙度仪、泰勒25粗糙度仪、M1/M2粗糙度仪等品牌型号，不一一列举）、便携式粗糙度仪（代表性产品主要有TR240便携式粗糙度仪和TR300粗糙度形状测量仪等）、台式粗糙度仪（品牌型号较多一一列举，有些手持式粗糙度仪和便携式粗糙度仪配上相应的测量平台即可以当台式粗糙度仪使用）。粗糙度仪从功能又可划分为：表面粗糙度仪、粗糙度形状测量仪（TR300粗糙度形状测量仪是界于表面粗糙度仪和表面粗糙度轮廓仪之间的一款测量表面粗糙度的仪器，也可说是微观表面粗糙度轮廓仪）和表面粗糙度轮廓仪（代表性产品主要有英国泰勒表面粗糙度轮廓仪、德国马尔粗糙度轮廓仪、德国霍梅尔表面粗糙度轮廓仪、日本三丰表面粗糙度轮廓仪）。 粗糙度仪测量原理　　测量工件表面粗糙度时，将传感器放在工件被测表面上，由仪器内部的驱动机构带动传感器沿被测表面做等速滑行，传感器通过内置的锐利触针感受被测表面的粗糙度，此时工件被测表面的粗糙度引起触针产生位移，该位移使传感器电感线圈的电感量发生变化，从而在相敏整流器的输出端产生与被测表面粗糙度成比例的模拟信号，该信号经过放大及电平转换之后进入数据采集系统，DSP芯片将采集的数据进行数字滤波和参数计算，测量结果在液晶显示器上读出，也可在打印机上输出，还可以与PC机进行通讯。

表面粗糙度仪(光洁度)的国家标准主要术语及定义 本资料给出的参数符合GB/T3505-2000《产品几何技术规范表面结构轮廓法表面结构的述语、定义及参数》、符合GB/T6062-2002《产品几何量技术规范（GPS）表面结构轮廓法接触（触针）式仪器的标称特性》。 图一：放大n倍后的工件截面/表面粗糙度及轮廓： /uppic/11-08/30/30121811.jpg图二：各种加工方法能得到的表面光度： /uppic/11-08/30/30121920.jpg图三：常见的表面粗糙度仪的工件测量： /uppic/11-08/30/30122201.jpg表面粗糙度关键技术术语： (1)表面粗糙度：取样长度L 取样长度是用于判断和测量表面粗糙度时所规定的一段基准线长度，它在轮廓总的走向上取样。 (2)表面粗糙度：评定长度Ln 由于加工表面有着不同程度的不均匀性，为了充分合理地反映某一表面的粗糙度特性，规定在评定时所必须的一段表面长度，它包括一个或数个取样长度，称为评定长度Ln。 (3)表面粗糙度：轮廓中线（也有叫曲线平均线）M /uppic/11-08/30/30122607.jpg 轮廓中线M是评定表面粗糙度数值的基准线。 评定参数及数值: 国家规定表面粗糙度的参数由高度参数、间距参数和综合参数组成。 表面粗糙度高度参数共有三个: (1)轮廓算术平均偏差Ra ： /uppic/11-08/30/30122654.jpg 在取样长度L内，轮廓偏距绝对值的算术平均值。 (2)微观不平度十点高度Rz /uppic/11-08/30/30122743.jpg 在取样长度L内最大的轮廓峰高的平均值与五个最大的轮廓谷深的平均值之和。 (3)轮廓最大高度Ry /uppic/11-08/30/30122822.jpg 在取样长度内，轮廓峰顶线和轮廓谷底线之间的距离。 表面粗糙度间距参数共有两个： (4)轮廓单峰平均间距S 两相邻轮廓单峰的最高点在中线上的投影长度Si，称为轮廓单峰间距，在取样长度L内，轮廓单峰间距的平均值，就是轮廓单峰平均间距。 (5)轮廓微观不平度的平均间距Sm 含有一个轮廓峰和相邻轮廓谷的一段中线长度Smi，称轮廓微观不平间距。 表面粗糙度综合参数： (6)轮廓支承长度率tp [align=lef

塑料基体上镀铜镍铬表面光泽度测量，（20度）用哪个厂家的仪器好？谢谢

微分干涉显微镜对表面光洁度的测定：　　电解抛光，化学抛光时，表面质量可用微分干涉金相显微镜加以鉴定。根据干涉条纹的形状可知表面光洁度的好坏，如条纹弯曲不大说明抛光或表面较平整。　　微分干涉显微镜对金属塑性变形的研究：　　用微分干涉显微镜可以精确地测定滑移带高度及多晶体试样内各处的变形程度等。　　微分干涉显微镜对金相试样因共格相变发生浮凸的研究：　　在金属里面的马氏体，贝氏体及魏氏体组织，用微分干涉金相显微镜能有效地鉴定表面浮的形状。用它进行观察可以使表面的肉眼无法观察到的浮凸体明显地程现出来。　　微分干涉显微镜对LCD行业的检察应用：　　在目前市场上供不应求的LCD行业来说，这是最适合不过的了，LCD属于一种精密型的产品，生产过程中许多部件都要用到显微镜。微分干涉金相显微镜主要用于在导电粒子方面的观察，这种粒子小到四五微米，肉眼根本玩法看见。用该类显微镜则方便许多。

光谱仪分析的准确性是靠结果的重现性和稳定性做保证的,要得到好的准确结果应该做好以下几点: 1.光谱仪的选择,ARL、OBLF、SPECTRO LAB、岛津比较好。 2.使用高纯氩气,含量99.999%以上,O含量小于2ppm 3.仪器真空度要好. 4.火花室密封要好. 5.制作曲线要选取含量从低到高分布均匀40块以上比较好的标样,国外标样往往成线性不好,删除不良点、及干扰点，采用校正效果未必很好，有了一条好的工作曲线，可以不必分段截取曲线及控样校正6.标准化样品要均匀,激发时重现性要好. 7.电极表面光洁度要好,最好使用1000目砂纸处理. 8.分析样品表面光洁度,不要太光,使用80目砂纸或砂轮处理比较好.

一、人为误差。 (1)操作人员技术熟练程度不够，实践经验较差，应由熟悉硬度计的人员使用； (2)加荷过快，持荷时间短，低硬度的零件硬度偏高，而加荷过慢，持荷时间长，硬度偏低，操作时加荷应平整，保持一定加荷时间。 二、被测零件影响的因素。 (1)不同的表面光洁度在洛氏硬度测试时，表现出不同的影响。表面光洁度愈低，高硬度测试时其硬度愈高，反之硬度越低，有刀痕的粗糙表面，淬火时首先最快冷却，或很坚硬的表层，硬度值就高。反之，调质件高温回火时，有刀痕的表层组织先转变，抗回火的能力小，硬度值就低。在测试表面光洁度Δ7以下的零件时，必须使用废砂轮精磨，再用锉刀锉磨光滑，或用细的手砂轮磨光，然后揩擦干净。 (2)热处理零件表面有盐渍、沙子等物，当加负荷时，零件会产生滑移，若有油腻存在，金刚头压入时起润滑作用，减小磨擦，增加压深。这两项原因使所测硬度值偏低。零件测试的部位氧化皮蔬松层薄的硬度值降低，氧化皮致密层厚的硬度值增高。对欲测硬度的零件必须去除氧化皮，揩擦干净，不得有脏物。 (3)斜面(或锥度)、球面及圆柱体零件对硬度测试的误差较平面大。当压头压入这种零件表面时，压入处四周的抗力比平面小，甚至有偏离、滑移的现象，压深增大，硬度降低。曲率半径愈小，斜度愈大，硬度数值的降低愈显著。金刚石压头也容易损坏。对这类零件要设计专用工作台，使工作台和压头同心。

目前，检测表面粗糙度比较常用的方法是比较法、光切法、干涉法、触针法和印模法等，而其中触针法因其测量迅速方便、测量精度高、使用成本较低等良好特性而得到广泛使用。当采用触针法对加工工件表面进行表面粗糙度测量时，探测头上的触针在被测表面轻轻划过。由于存在轮廓峰谷的起伏，所以触针将在垂直与被测轮廓表面方向上产生上下起伏的移动。这种移动量虽然非常微细，但足以被敏感的电子装置捕捉并加以放大。放大之后的信息则通过指示表或其他输出装置以数据或图形的方式输出。这就是触针式表面粗糙度测量仪的工作方式。其中，按其传感器类型可以分：电感式、压电式、光电式等；按其指示方式又可分为：积分式、连续移动式。触针式表面粗糙度测量仪由传感器、驱动箱、指示表、记录器和工作台等主要部件组织。其中电感传感器的工作原理为：传感器测杆一端装有触针（由于金刚石耐磨、硬度高的特点，触针多选用金刚石材质），触针的尖端要求曲率半径很小，以便于全面的反映表面情况。测量时将触针尖端搭在加工工件的被测表面上，并使针尖与被测面保持垂直接触，利用驱动装置以缓慢、均匀的速度拖动，当触针在被测表面拖动滑行时，将随着被测面的轮廓峰谷表面作反向上下运动，并将运动幅度放大，从而使包围在磁芯外面的两个差动电感线圈的电感量发生变化，并将触针微笑的垂直位移转化为同步成比例的电信号。

二次元影像测量仪在工业生产中，有着广泛的应用，对很多行业的工件都可以进行测量，同时，在影像测量仪的测量中，也有着许多的测量方式，通过这些方式，影像测量仪才能顺利的完成测量的任务。 以下介绍精密检测仪器二次元影像测量仪的两个测量方式，他们分别是轮廓测量和表面测量。　　1、轮廓测量　　顾名思义就是影像测量仪测量工件的轮廓边缘，一般采用底部的轮廓光源，需要时也可加表面光做辅助照明，让被测边线更加清晰，有利于测量。　　2、表面测量　　表面测量可以说是二次元影像测量仪的主要功能，凡是能看到的物体表面图形尺寸，在表面光源照明下，影像测量仪几乎全部能测量，电路板上的线路铜箔尺寸、IC电路等，当被测物件是黑色塑料、橡胶时，影像测量仪也能轻易测量尺寸。http://www.zhengyekeji.net/include/upload/ckeditor/images/1319709450197084656155029.jpg　　二次元影像测量仪(又名影像式测绘仪)是建立在CCD数位影像的基础上,依托于计算机屏幕测量技术和空间几何运算的强大软件能力而产生的。计算机在安装上专用控制与图形测量软件后,变成了具有软件灵魂的测量大脑,是整个PCB实验室解决方案设备的主体。

本资料给出的参数符合GB/T3505-2000《产品几何技术规范表面结构 轮廓法 表面结构的述语、定义及参数》 、符合GB/T6062-2002《产品几何量技术规范（GPS）表面结构 轮廓法接触（触针）式仪器的标称特性》。表面粗糙度关键技术术语： (1)表面粗糙度： 取样长度L 取样长度是用于判断和测量表面粗糙度时所规定的一段基准线长度，它在轮廓总的走向上取样。 (2)表面粗糙度： 评定长度Ln 由于加工表面有着不同程度的不均匀性，为了充分合理地反映某一表面的粗糙度特性，规定在评定时所必须的一段表面长度，它包括一个或数个取样长度，称为评定长度Ln。 (3)表面粗糙度： 轮廓中线（也有叫曲线平均线）M 轮廓中线M是评定表面粗糙度数值的基准线。 评定参数及数值: 国家规定表面粗糙度的参数由高度参数、间距参数和综合参数组成。 表面粗糙度高度参数共有三个: (1)轮廓算术平均偏差Ra ： 在取样长度L内，轮廓偏距绝对值的算术平均值。 (2)微观不平度十点高度Rz 在取样长度L内最大的轮廓峰高的平均值与五个最大的轮廓谷深的平均值之和。 (3)轮廓最大高度Ry 在取样长度内，轮廓峰顶线和轮廓谷底线之间的距离。 表面粗糙度间距参数共有两个： (4)轮廓单峰平均间距S 两相邻轮廓单峰的最高点在中线上的投影长度Si，称为轮廓单峰间距，在取样长度L内，轮廓单峰间距的平均值，就是轮廓单峰平均间距。 (5)轮廓微观不平度的平均间距Sm 含有一个轮廓峰和相邻轮廓谷的一段中线长度Smi，称轮廓微观不平间距。 表面粗糙度综合参数： (6)轮廓支承长度率tp 轮廓支承长度率就是轮廓支承长度np与取样长度L之比。 另附： 中美表面粗糙度对照表中国旧标准( 光洁度)中国新标准( 粗糙度)Ra美国标准(微米 )Ra美国标准( 微英寸)，Ra▽46.38.003206.30250▽53.25.002004.001603.20125▽61.62.501002.00801.6063▽70.81.25501.00400.8032▽80.40.6325[/al

刀具测量仪器具有水平及垂直两种光学测量系统，可以在一台仪器上实现刀具的全部测量，是测量复杂刀具的理想工具。刀具测量仪是由花岗石台面作为底座和立柱、精密滚珠丝杆传动、精密线性导轨导向等部件组成，采用独立的工程学设计工作台，配有完整的配电箱，可有效降低温度变化对测量仪器的影响。 刀具测量仪具有使用简捷，高度精确的优点，整个对刀过程不需要在CNC机床上进行，有效避免对工件的损坏以及机订对刀的困难和危险，仪器采用稳定的整体式花岗岩制造，气浮导轨，坚实、抗振动的花岗岩结构和集成的温度补偿器使测量结果能保持可靠的长期稳定性。刀具测量仪采用高分辨率CCD B/W相机，能够用于对刀具边缘进行无接触表面光及透射光测量，和对刀头几何图形进行表面光测量，采用CNC导轨控制以及4个控制轴。确保了仪器完整的精度，确保了刀具测件能够快速、准确的定位。 刀具测量仪主要适用于测量数控机床、加工中心和柔性制造单元上所使用的镗铣类刀具切削刃的精确坐标位置，并能检查刀尖的角度，圆角及刃口精况。刀具测量仪还可用于钻孔、铣削刀具或是极度复杂的切削刀具以及切削钢的制造或精磨。

影像测量仪应用在各个不同的精密产品的行业中，是院校、研究所和计量检定部门的计量室、试验室以及生产车间不可缺少的计量检测设备之一。　　影像测量仪的性能：　　1、影像测量仪具备基本的点、线、圆、两点距离、角度等基本测量功能及坐标平移的功能，能满足基本的二次元测量要求。　　2、花岗石底座与立柱，机构稳定可靠　　3、影像测量仪的X、Y轴装有光栅尺，定位精确。　　4、Z轴采用交叉导轨加配重块的全新设计，镜头上下升降受力均衡，确保精度。　　5、LED冷光源(表面光合轮廓光)避免工件受热变形。　　6、激光定位指示器，精确制定当前测量位置，方便测量。　　7、影像测量仪可以使用OVMLite软件。　　8、影像测量仪的镜头：3DFAMILY-S型0.7X-4.5X连续变倍镜头，影像放大倍率：28X-180X。

用作内插消化罐(或一体消解罐)的材质一般有4种，PTFE、TFM™ PTFE、PFA、石英。前三种都属于氟塑料类型。　　1、PTFE：聚四氟乙烯，熔点320-340℃。　　2、TFM™ PTFE(简称TFM)：由PTFE添加不到1%的添加物制成，属于改性PTFE。熔点320-340℃。除了PTFE的所有优点外，还有一些值得注意的特性改进：高温高压下形变性更小、渗透性更小、高温下重压恢复性更好、很高的表面光洁度。　　3、PFA：即全氟代烷氧乙烯，半透明，熔点约308℃，表面光洁度高。　　4、石英：很好的热稳定性，熔点很高，但是在高压下易碎，也不能在使用HF制样的情况下。石英消化罐不能单独使用，要加护套。　　对于最高实用使用温度，TFM和PTFE一样为260℃。PFA比前两者低10-20℃。石英的使用温度尽管可以很高，但受到密封件、托架等材料的限制，一般石英消解容器的最高使用温度为300℃。最高使用温度一般都是在使用硫酸时才能达到，通常的消解温度为170-220℃。　　三种氟塑料相比，无疑[font='

X1.1 拉伸试验强度和延性测量的精确度和偏差取决于是否严格遵守指定试验方法并受设备和材料因素、试样制备和试验、测量误差的影响。　　X1.2 对于相同材料的复验协商一致取决于材料的均匀性、试样制备的重复性、试验条件和拉伸试验参数的测定。　　X1.3 可影响试验结果的设备因素包括：拉伸试验机的刚性、减震能力、固有的频率和运动部件重量 力的指针精确度和试验机不同范围内力的使用 适当的加力速度、用合适的力使试样对中、夹具的平行度、夹持力、控制力的大小、引伸计的适用性和标定、热的消散(通过夹具、引伸计或辅助装置)等等。　　X1.4 能影响试验结果的材料因素包括：试验材料的代表性和均匀性、试样型式、试样制备(表面光洁度，尺寸精确度，标距端部过渡圆弧，标距内锥度，弯曲试样，螺纹质量等等)。　　X1.4.1 有些材料对试样表面光洁度非常敏感(见注8) 必须研磨至理想光洁度，或者抛光至得到正确结果。　　X1.4.2 对于铸造的、轧制的、锻造的或其他非加工表面状态的试样，试验结果可能受表面特性影响(见注14)。　　X1.4.3 取自部件或构件附属部位的试样，像外延部分或冒口，或者独立生产的铸件(例如, 脊形试块)可能产生不具部件或构件代表性的试验结果。　　X1.4.4 试样尺寸可能影响试验结果。对于圆柱形的或矩形的试样，改变试样尺寸一般对屈服强度和抗拉强度影响很小，但如果出现改变，则可影响上屈服强度、伸长率和断面收缩率。用下式比较不同试样测定的伸长率值：　　L0/(A0)1 / 2 (X1.1)　　其中：　　L0 = 试样的原始标距　　A0 = 试样的原始横截面积　　X1.4.4.1 具有较小的L0/(A0)1 / 2 比值的试样一般会得出较大的伸长率和断面收缩率，例如矩形拉伸试样的宽度或厚度增加后，情况即如此。　　X1.4.4.2 保持L0/(A0)1 / 2r比值固定最小值，但影响不大。因为增加图8比例试样的尺寸可发现伸长率和面积收缩有所增加或减少，这取决于材料和试验条件。　　X1.4.5 标距内有一个允许的1 %的锥度可导致伸长率值降低。1 %的锥度会使伸长率降低15 % 。　　X1.4.6 应变速度的改变可影响屈服强度、抗拉强度和伸长率值，尤其对于应变速度敏感性高的材料。通常屈服强度和抗拉强度会随应变速度增加而增加，虽然对抗拉强度的影响不显著，伸长率值一般随应变速度增加而降低。　　X1.4.7 脆性材料要求小心制备试样、要有高质量的表面光洁度、标距端部大的过渡圆弧、夹持部分大尺寸螺纹，不允许较深的打点或划痕作标距标记。　　X1.4.8 用压扁管产品做试验能改变材料的特性，通常，在被压扁区域的不均匀性可能影响试验结果。　　X1.5 影响试验结果的测量误差包括：试验力、引伸计、千分尺、分规及其他测量装置的校准，图表记录装置的调整和调零等等。

我用的是德国斯派克的直读光谱，测量的锌锭样品表面要求用车床进行刨光，主要是为了表面光洁不露光，还有就是把表面金属氧化层去掉。我一直不明白如果表面有氧化层，用电火花激发时会对测量造成什么影响？为什么会这样？按理说，金属虽然被氧化，但该元素还在，我们激发的是金属元素啊！希望有大侠指点，谢谢。[em52]

干涉显微镜是将光波的干涉技术与显微镜结合起来,利用光的干涉可以精确测量试样表面上高度的微小差别.干涉显微镜主要应用在:1)表面光洁度的测定.精密加工过的试样表面粗糙度常用干涉显微镜进行测量.电解抛光、化学抛光过的试样表面质量也可以用干涉显微镜进行鉴定。2）相变浮凸的研究。材料中的马氏体、贝氏体转变的浮凸现象产生了微小高度差，在相衬显微镜下可以得到很好的衬度差别，易于观察，但不能测量浮凸的高度。利用干涉显微镜，可以根据干涉条纹测得浮凸的高度。3）用干涉显微镜可以研究材料塑性变形的程度。金属在应力作用下超过弹性极限要发生塑性变形。塑性变形过程中晶体要沿一定晶面发生滑移,利用干涉显微镜可以测量滑移台阶高度。干涉显微镜现主要用于高等教学实验中！

国产不锈钢316L材质管道通过高精密冷轧、冷轧技术，实现内表面光洁度Ra0.4微米以下的超高精细表面，有助于液相、气相色谱中各种流体的无杂质流动。不锈钢管道的规格有外径8mm、内径4.6mm，外径14mm、内径10mm，外径30mm、内径20mm。1/16"、1/8"、1/4"、5/16"等精密不锈钢SS316L材质的管道

洛氏硬度计检定中常见各种误差及处理方法 洛氏硬度计虽然结构简单，操作方便，但如果长期操作不当，检验硬度失准，将使产品质量受到很大影响，带来不良后果。现将我们在检定中常见的几种误差及处理方法介绍如下： 一、人为误差。 （1）操作人员技术熟练程度不够，实践经验较差，应由熟悉硬度计的人员使用； （2）加荷过快，持荷时间短，低硬度的零件硬度偏高，而加荷过慢，持荷时间长，硬度偏低，操作时加荷应平整，保持一定加荷时间。 二、被测零件影响的因素。 （1）不同的表面光洁度在洛氏硬度测试时，表现出不同的影响。表面光洁度愈低，高硬度测试时其硬度愈高，反之硬度越低，有刀痕的粗糙表面，淬火时首先最快冷却，或很坚硬的表层，硬度值就高。反之，调质件高温回火时，有刀痕的表层组织先转变，抗回火的能力小，硬度值就低。在测试表面光洁度Δ7以下的零件时，必须使用废砂轮精磨，再用锉刀锉磨光滑，或用细的手砂轮磨光，然后揩擦干净。 （2）热处理零件表面有盐渍、沙子等物，当加负荷时，零件会产生滑移，若有油腻存在，金刚头压入时起润滑作用，减小磨擦，增加压深。这两项原因使所测硬度值偏低。零件测试的部位氧化皮蔬松层薄的硬度值降低，氧化皮致密层厚的硬度值增高。对欲测硬度的零件必须去除氧化皮，揩擦干净，不得有脏物。 （3）斜面（或锥度）、球面及圆柱体零件对硬度测试的误差较平面大。当压头压入这种零件表面时，压入处四周的抗力比平面小，甚至有偏离、滑移的现象，压深增大，硬度降低。曲率半径愈小，斜度愈大，硬度数值的降低愈显著。金刚石压头也容易损坏。对这类零件要设计专用工作台，使工作台和压头同心。 三、压头的影响。 （1）金刚石压头不符合技术要求或是使用一段时间后有磨损，操作者如不能判断金刚石的好坏，可由计量测试机构进行检定。 （2）钢球压头强度和硬度不够，容易产生变形。钢球扳压扁产生永久变形后呈椭圆，短轴垂直于零件表面时，压痕浅，示值高；长轴垂直于零件表面时，压痕加深，示值降低，钢球允差小0.002mm。 四、载荷方面。 （1）初负荷：弹簧和主轴、杠杆和百分表之间有摩擦，造成100N的增大或减小。调整螺丝松旷、调整块移动，顶杆位置不当。起始线有差异，引起初负荷不对。如果初负荷不对，应调整弹簧、主轴、杠杆、百分表等处的配合。调整块的位置移动合适以后，紧固调整螺丝，同时要紧固顶杆位置，初负荷的允差应小于±2%。 （2）主负荷：杠杆比例不对，吊杆和砝码的配重有误差；主轴、杠杆和砝码有偏斜，均会使主负荷产生误差。杠杆比不对，应进行调整。刀口有磨损应修复或更换，主轴变形要进行校直。主轴、杠杆和砝码偏斜应拨正。各种标尺主负荷的允差小于±0.5%。 五、硬度计安置不正。 硬度计不处于水平位置，测试硬度时，其值偏低。用水平仪测量水平度，然后垫平硬度计。 六、零件某一测试部位的表面与工作台接触不良，或支承点不稳固。 这将会产生滑移、滚动、翘起等现象，这不仅使所得结果不准，还会损坏仪器。应根据零件的几何形状设计合适的工作台。 七、周围环境的影响。 工厂生产用硬度计常会因周围环境受震动的影响，致使仪器结构产生松动，示值不稳定。硬度计应安装在无震动或离震源较远的地方。

里氏硬度计的工作原理是反弹速度与冲击速度的比值通过电磁感应线圈来转换成数字信号的方式来反映出硬度值。当冲击工件时，由于工件小或者工件不太稳定时，弹性模量会发生变化，可能会造成无法显示或者硬度值偏低，就证明了弹性已经损耗，反弹的力被工件吸收了一部分。主要发生在测量镂空件、薄板以及较软金属材料上，下面提供几个减小误差的方法：　　1. 对于镂空材料如管材，尽量不打横面，冲击端面，或者在管壁内加入支承，这样难度大但是很有效。测量曲面直径20mm-100mm需要选配曲面支撑环;　　2. 对于薄板厚度应该在5mm以上(5mm以下的工件，尽量不要选择里氏硬度计)，测量时应该在测量背面均匀涂抹黄油在与平台密实耦合把中间空气压出，不可移动。黄油不要涂抹太多;　　3. 保证金属材料光洁度，应该在RA小于7um,表面光洁度越好，从而硬度值精确度越高;　　4. 实芯圆柱体保证工件的稳定，小点的圆柱体最好加V型台;　　5. 测量布氏硬度时，应该努力提高工件表面粗糙度、重量、耦合程度。如果表面粗糙度较差不易处理，在工件较大的情况下，最好选择G型冲击装置。本文来自硬度计网转载请注明出处，谢谢合作

视频光学表面接触角测量仪有哪些日常维护，要注意什么事项呢

αβ表面污染测量仪LB124一、配置：1. 大面积表面污染探测器2. 活度窗二、技术要求：l 显示：单色LCD 192×64像素，电子荧光照明l 探测器：ZnS:Ag闪烁体探测器l 测量模式：α、β同时、分别测量l 探测器尺寸：118mm×145mml 灵敏域：170cm2l 入射窗：金属处理过的塑料、6μm（0.4mg/ cm2）l 保护栅格透射率：80%l 尺寸：240mm×140mm×110mml 重量（带电池）：1300gl 数据记录：1000个测量值l 串行接口：RS232灵敏度l 效率（涉及的放射源面积100 cm2）C-14 11% β通道Cl-36 50% β通道Co-60 34% β通道Cs-137 49% β通道Pu-239 23% α通道Am-241 22% α通道l 本底： 约0.1 cps α通道 约15 cps β通道l γ灵敏度（外场Cs-137）：1μSv/hl β通道：100cpsl 溢出：20% (Po-210) α→β2×10-5 (Sr-90) β→αl 测量范围：(死时间10%)0～5000cps(α通道)0～50000cps(β通道)环境条件l 工作温度：-20℃～+40℃l 储存温度：-40℃～+60℃l 相对湿度：0%～95% （无冷凝）l 防护等级：IP53校准依据ISO 7503-1 或 DIN 44801

⑴冶金分析的特点冶金分析是指冶金生产过程中各物料的化学组成及其含量的分析。它对原料的选择，在冶炼前的炉料计算，冶炼工艺流程的控制中，产品的检验，新产品的试制，以及冶金工厂中环保分析都是必不可少的。特点是：①在保证生产质量的前提下，分析速度要快，特别是分析；②冶金分析物料种类繁多，有固体、粉末和液体等，因此要求分析方法适应性强；③分析数量大，任务重，并且要求日夜连续不断进行。　　X射线荧光分析技术正好能满足冶金分析的特殊要求，一台多道X射线荧光光谱仪能在一分钟之内分析20~30个元素，而其分析精密度完全可以和湿法化学分析相媲美，分析范围又很宽，从几个ppm到100%。这样可以节省大量人力，提高工作效率，它又很少使用酸和特种化学试剂，不会污染环境。　　然而X射线光谱分析法并不是一种绝对法，而是依靠用标准试样相比较来作分析。以钢铁分析为例，标准试样国际的、国内的都有，但是如果对表面效应不重视，那末最好的标准试样，分析出来结果也会是错误的。金属试样一般可以直接从炉中取样冷凝而成，或者从大块金属或原料上切取试片，这样能用固体状态进行分析，有速度快、方法简便和分析精密度高的特点，缺点是不能加入内标或者进行稀释，在痕量元素分析时，又不能采用化学分离，不容易得到合适的标准试样，又很难人工合成。　　⑵固体样品的制备　一般切割或直接浇铸的试样表面比较粗糙，通常需要进一步研磨。磨可以在磨片机上研磨，也可以在磨床上加工光洁度较高的表面。通常使用的磨料有各种颗粒度的氧化铝（即刚玉）或碳化硅即（金钢砂）。一般不抛光或化学腐蚀等特殊处理，在测量短波谱线如钼、镍、铬等元素时，大约80~120粒度砂纸的光洁度即可满足要求，但测量长波谱线要求试样表面光洁度要高，特别重要的是分析试样和标准样品的表面一定要有一致的光洁度。　　样品在测量时，最好能自转，以减少表面效应、颗粒度和不均匀性的影响。如果样品没有自转装置，则样品放置位置必须使样品的表面磨痕和入射、出射X射线所构成的平面平行，这样吸收最小，如果相互垂直时吸收最大。　　样品在研磨过程中，有可能把样品中夹杂物磨掉，造成某些元素分析结果偏低，或者也可能发生表面沾污。分析低铝时，如果使用氧化铝作磨料，表面就可能被沾污，这时最好采用碳化硅磨料，反之如果分析低硅时，应采须知氧化铝佬磨料。对有色金属如铝合金、铜合金等，它们远比钢铁试样要软，不能用砂纸研磨，而应该用车床，以保证样品表面光洁度。　　检验这种表面沾污的方法测量沾污元素谱线的强度比。对于原子序数60以下的元素，可测量其La1Ka强度比，对于原子序数60以上的重元素，应测量Ma/La1 强度比。试验可以用有沾污的样品和已知未沾污的同种合金样品作比较，甚至还可以作为一种消除沾污的检验方法。　　⑶生铁X射线荧光分析生铁中碳是以元素状态存在。灰口铁中的碳有的呈球状石墨，有的呈片状石墨，在研磨过程中表面上脱落的石墨孔也会引起其他分析元素的污染，造成分析错误。浇铸的试样是不均匀的，不适合作X射线荧光分析。而急冷试样的晶粒很细，分布，碳生成渗碳体(Fe3C)，它是一种很脆而硬的中间化合物，表面可以利用研磨办法加工。　　⑷中低合金钢分析　用X射线荧光分析中低合金钢有足够灵敏度，多道X射线萤光光谱仪一般测量时间只需要20秒，最好用铑靶X射线管，监控试样测量为60秒，以提高分析精度，必要时要扣除重迭谱线，用标准钢样NBS116-1165,和BAS50-60,401-410,431-435,451-460。　　⑸不锈钢的分析　不锈钢X射线荧光分析是比较困难的，因为镍、铬、铁三者存在着严重的增强和吸收效应，必须采用数学分析，校正后铬、镍分析结果是非常令人满意的。　　⑹非金属材料分析　非金属材料分析包括炉渣、矿石等原材料分析。它的分析方法大致可分成二大类，一种是把试样振动磨粉碎，然后压制成直径为40毫米的圆片，直接放在X射线荧光光谱仪上分析。这样方法特点是速度快，一般五分钟左右就能报出结果，适合作快速分析，但是有“颗粒度效应”和“矿物效应”，所以一定要严格控制试样颗粒度大小。特别对轻元素分析，尤为严重，可以适当加入稀释剂、粘结剂、重吸收剂，如硼酸、淀粉、硫酸钒等，来减少基体效应并可压成圆片。另一种方法为熔融法，可以在试样中加入熔剂如四硼酸锂等，在高温下溶融成玻璃熔珠，熔融时间一般为10~20分钟，中间要摇动以除去气泡，对某些试剂还要加入氧化剂，如硝酸钠等，为了防止试片破裂，可适当加入溴化物使其容易脱模。如在铂-黄金（5%)坩埚中熔融，冷却脱模以后，试样就可以直接使用。这种方法准确度高，并且能消除“颗粒度效应”和“矿物效应”，但是分析速度慢，对某些元素灵敏度差。