移动号场强测试仪

介质损耗因数测试仪低频信号源频率覆盖范围 AC频率范围10kHz～60MHz0.1～160MHzCH110～99.9999kHz0.1～0.999999MHzCH2100～999.999kHz1～9.99999MHzCH31～9.99999MHz10～99.9999MHzCH410～60MHz100～160MHz频率指示误差3×10-5±1个字介质损耗因数测试仪低频1. Q合格指示预置功能：预置范围：5～10002. Q表正常工作条件a. 环境温度：0℃～+40℃；b．相对湿度：80％；c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。7．其他a．消耗功率：约25W； b．净重：约7kg；c. 外型尺寸：（宽×高×深）mm：380×132×280。介质损耗因数测试仪低频A/C 型 Q 表的工作原理框图如图二所示。它以ATM128 单片机作为控制核心，实现对各种功能的控制。DDS 数字直接合成信号源为 Q 值测量提供了一个优质的高频信号。信号源输出一路送到程控衰减器和自动稳幅放大控制单元，该单元根据 CPU 的指令对信号衰减后送往信号激励放大器，同时对信号检波后送出一直流控制信号到压控信号源实现自动稳幅。信号激励部分输出送到一个宽带分压器， 由分压器馈给测试调谐回路一个恒定幅度的信号。当测试回路处于谐振状态时，在调谐电容 CT 两端的信号幅度将是分压器提供的信号幅度 Q 倍。在 CT 两端取得的调谐信号被信号放大单元适当放大后送到检波和数字取样单元，检波后送到控制中心 CPU 去进行数据处理。介质损耗因数测试仪低频特点：优化的测试电路设计使残值更小◆ 高频信号采用数码调谐器和频率锁定技术◆ LED 数字读出品质因数，手动/自动量程切换◆ 自动扫描被测件谐振点，标频单键设置和锁定，大大提高测试速度作为新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前国内高的160MHz。1 双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。2 双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。3 双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。4 自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。5 全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。6 DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。7 计算机自动修正技术和测试回路优化 —使测试回路 残余电感减至低，彻底 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。标准配置：高配Q表 一只 试验电极 一只 （c类）电感 一套（9只）电源线 一条说明书 一份合格证 一份保修卡 一份为什么介电常数越大，绝缘能力越强？因为物质的介电常数和频率相关，通常称为介电系数。介电常数又叫介质常数，介电系数或电容率，它是表示绝缘能力特性的一个系数。所以理论上来说，介电常数越大，绝缘性能就越好。注：这个性质不是绝对成立的。对于绝缘性不太好的材料(就是说不击穿的情况下,也可以有一定的导电性)和绝缘性很好的材料比较,这个结论是成立的。但对于两个绝缘体就不一定了。介电常数反映的是材料中电子的局域(local)特性,导电性是电子的全局(global)特征.不是一回事情的。补充：电介质经常是绝缘体。其例子包括瓷器(陶器)，云母，玻璃，塑料，和各种金属氧化物。有些液体和气体可以作为好的电介质材料。干空气是良好的电介质，并被用在可变电容器以及某些类型的传输线。蒸馏水如果保持没有杂质的话是好的电介质，其相对介电常数约为80。介质损耗因数测试仪低频电介质在外电场作用下，其内部会有发热现象，这说明有部分电能已转化为热能耗散掉，电介质在电场作用下，在单位时间内因发热而消耗的能量称为电介质的损耗功率，或简称介质损耗（diclectric loss）。介质损耗是应用于交流电场中电介质的重要品质指标之一。介质损耗不但消耗了电能，而且使元件发热影响其正常工作。如果介电损耗较大，甚至会引起介质的过热而绝缘破坏，所以从这种意义上讲，介质损耗越小越好。形式各种不同形式的损耗是综合起作用的。由于介质损耗的原因是多方面的，所以介质损耗的形式也是多种多样的。介电损耗主要有以下形式：1）漏导损耗实际使用中的绝缘材料都不是完善的理想的电介质，在外电场的作用下，总有一些带电粒子会发生移动而引起微弱的电流，这种微小电流称为漏导电流，漏导电流流经介质时使介质发热而损耗了电能。这种因电导而引起的介质损耗称为“漏导损耗”。由于实阿的电介质总存在一些缺陷，或多或少存在一些带电粒子或空位，因此介质不论在直流电场或交变电场作用下都会发生漏导损耗。在介质发生缓慢极化时（松弛极化、空间电荷极化等），带电粒子在电场力的影响下因克服热运动而引起的能量损耗。　　一些介质在电场极化时也会产生损耗，这种损耗一般称极化损耗。位移极化从建立极化到其稳定所需时间很短（约为10-16～10-12s），这在无线电频率（5×1012Hz 以下）范围均可认为是极短的，因此基本上不消耗能量。其他缓慢极化（例如松弛极化、空间电荷极化等）在外电场作用下，需经过较长时间（10-10s或更长）才达到稳定状态，因此会引起能量的损耗。若外加频率较低，介质中所有的极化都能完全跟上外电场变化，则不产生极化损耗。若外加频率较高时，介质中的极化跟不上外电场变化，于是产生极化损耗。 [2]3）电离损耗　　电离损耗（又称游离损耗）是由气体引起的，含有气孔的固体介质在外加电场强度超过气孔气体电离所需要的电场强度时，由于气体的电离吸收能量而造成指耗，这种损耗称为电离损耗。4）结构损耗在高频电场和低温下，有一类与介质内邻结构的紧密度密切相关的介质损耗称为结构损耗。这类损耗与温度关系不大，耗功随频率升高而增大。试验表明结构紧密的晶体成玻璃体的结构损耗都很小，但是当某此原因（如杂质的掺入、试样经淬火急冷的热处理等）使它的内部结构松散后。其结构耗就会大大升高。5）宏观结构不均勾性的介质损耗工程介质材料大多数是不均匀介质。例如陶瓷材料就是如此，它通常包含有晶相、玻璃相和气相，各相在介质中是统计分布口。由于各相的介电性不同，有可能在两相间积聚了较多的自由电荷使介质的电场分布不均匀，造成局部有较高的电场强度而引起了较高的损耗。但作为电介质整体来看，整个电介质的介质损耗必然介于损耗大的一相和损耗小的一相之间。表征：电介质在恒定电场作用下，介质损耗的功率为　　W=U2/R=（Ed）2S/ρd=σE2Sd定义单位体积的介质损耗为介质损耗率为ω=σE2在交变电场作用下，电位移D与电场强度E均变为复数矢量，此时介电常数也变成复数，其虚部就表示了电介质中能量损耗的大小。D，E，J之间的相位关系图D，E，J之间的相位关系图如图所示，从电路观点来看，电介质中的电流密度为J=dD/dt=d（εE）/dt=Jτ+iJe式中Jτ与E同相位。称为有功电流密度，导致能量损耗；Je，相比较E超前90°，称为无功电流密度。

ESM100场强仪低频三维电磁辐射测试仪产品介绍： ESM100场强仪低频三维电磁辐射测试仪是一款H/E 低频三维电磁辐射测试仪，并已获得国家。可容易测量交流电场和磁场同时可方向独立单点测量。有了这样一台设备后我们便可以迅速，专业并准确的测量。小传感器可短距离测量干扰源并计算平均值。比一般侧电磁场测量仪器的测量时间减半。例如：我们现在只需要进行测量磁场，当以后我们需要电场的测量数据时只需轻轻按键便可查看数据，无需单独再测量。5Hz-400kHz 的频率范围涵盖了电力行业主要产生电磁场干扰的范围。即使在非常低或者非常高的强度范围使用ESM-100可以很快测量干扰避免环境收到污染。ESM-100软件用于ESM-100于计算机之间的通信, 以及远程控制。测试仪器理想选择. 专门用于ESM-100校正以符合标准。我们只需要点击鼠标便可以轻松察看测量结果并可绘制磁场波形分布图.字体可放大 .通过简单的按键操作可以让仪器显示数字或直接显示图形在屏幕上。产品应用：工频(5Hz-100KHz)：高压输变电系统，配电室、感应炉、地铁、电车等作业场所。射频(100KHz-40GHz)：各种长波、中波、短波和微波辐射，包括：手机机站、医疗设备、雷达、卫星通讯、电视天线、寻呼机站、热合机、烘干设备、电视、电脑等具有电磁辐射的作业场所。技术参数：仅重560克三维电磁场探头同时测量频率范围：5Hz - 400kHz测量范围：磁场1nT - 20mT ，电场 0.1V/m - 100kV/m简单直观的直观操作，较少测量误差高精度±5% ，长时间测量标准化测量符合德国 e.g.: DIN VDE 0848标准长期记录可达24小时, 独立电源供电。大容量记忆，可记录1800笔数据四种可选过滤器可切换为一维测量可编程控制背光液晶显示30小时长时间工作使用三角架固定测量探头防护等级 IP65可扩展连接16个探头进行布点监测(可选)

LZT-1000 电磁辐射测试仪,电磁场强度检测仪应用范围：1.室外环境电磁辐射测试应用：变电站、高压线、变压器、配电室、电缆、手机信号塔、电视信号塔、广播信号塔等在仪器测试技术指标内的所有电磁辐射源。2.室内环境电磁辐射测试应用：电脑、电视机、复印机、传真机、空调、冰箱、音响、洗衣机、电线、电源、手机、无线路由器等在仪器测试技术指标内的所有电磁辐射源。技术指标：尺 寸： 132mm（长）×69mm（宽）×31mm（厚）重 量： 140克读数显示： 3-1/2位液晶显示器档 位： 电场—V/m（伏/米）；磁场—μT（微特斯拉）精 度： 电场：1V/m；磁场：0.01μT量 程： 电场：1V/m—1999V/m；磁场：0.01μT—19.99μT报警阈值： 电场：10V/m；磁场：0.4μT测试频宽： 5Hz—3500MHz取样时间： 约0.4秒感 测 头： 单轴（仪器顶端）过载提示： LCD显示“1”操作温度： -15℃—— +60℃操作湿度： 相对湿度80%以下工作电压： 9V（6F22 9V电池）

一、产品概述：介电常数测试仪采用数字液晶显示，是通过GB1409中的Q表法测试固体/液体绝缘材料介电常数及介质损耗因数的分析仪器。它以单片计算机控制仪器，测量核心采用了频率数字锁定、标准频率测试点自动设定、谐振点自动搜索、Q值量程自动转换、数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至低值，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量时更为精确。可直读介电常数及介质损耗结果，免去人工计算的繁琐。经过新升级可通过上位机软件查看测试曲线，北京航天纵横检测仪器是代替进口设备的北京航天纵横仪器产品。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。产地北京房山。二、技术特性：DDS数字合成信号：50KHz-160MHz；信号源频率覆盖比：1600:1；信号源频率精度：6位有效数3×10-5 ±1个字；Q测量范围/Q分辨率：1-1000自动/手动量程；4位有效数,分辨率0.1；Q测量工作误差：5%；电感测量范围/分辨率：1nH-140mH 4位有效数,分辨率0.1nH；电感测量误差：5%；调谐电容：主电容17-240pF；电容直接测量范围：1pF～25nF；调谐电容误差/分辨率：±1pF或1% / 0.1pF；谐振点搜索：自动扫描；Q合格预置范围：5-1000声光提示；Q量程切换：自动/手动；LCD显示参数：F，L，C，Q，Lt，Ct波段等；新增功能：自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能；新增功能：大电容值直接测量显示功能，测量值可达25nF；消耗功率：约25W；净重：约7kg；外型尺寸：（宽×高×深）mm：380×132×280。二、符合标准：GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法；GB/T1693-2007硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定方法；ASTM D150-11实心电绝缘材料的交流损耗特性和电容率（介电常数）的标准试验方法；GBT5594.4-2015电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法； 三、产品特点：1、双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。2、双测试要素输入 - 北京航天纵横检测仪器测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。3、双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。4、自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。5、全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。6、DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。7、计算机自动修正技术和测试回路优化—使测试回路 残余电感减至低值，彻底根除 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。8、新增功能：电感测试时，仪器自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能。大大提高了在电感值（特别是小电感值）测量时的精度。此技术只有北京航天纵横仪器生产的Q表有。9、新增功能：大电容值直接测量显示功能，电容值直接测量值可达25nF（配100uH电感时）。大电容值测量一个按键搞定。此技术只有北京航天纵横检测仪器生产的Q表有。四、工作环境：1、环境温度：0℃～+40℃；2、相对湿度：80％；3、电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。五、配置清单：主机一台电感九只夹具一套液体杯一个电源线一根数据线一根说明书一份合格证一份保修卡一张六、适用单位：可以用于科研机关，学校，例如一些科研院所，大专院校或计量测试部门的实验室需要用介电常数仪对绝缘材料的介质损耗角正切tanδ及介电常数进行测试；北京航天纵横检测仪器同时也适用于工厂或单位，例如一些工厂对无机非金属新材料性能的应用进行研究，另外在电力、电工、化工等领域，如：电厂、电业局实验所、变压器厂、电容器厂、绝缘材料厂、炼油厂等单位对固体及液体绝缘材料的介质损耗和相对介电常数ε的质量检测等等。七、试验步骤：1、按照Q表的操作规程调整仪器，选定测量频率，测定C1和Q1的值。2、将试样放入测试电极中，并调节电容器C，使电路谐振，达到最大Q值记下调谐电容量C2和Q2的值。3、将试样从测试电极中取出，调节C或测试电极的距离，使电路重新谐振，记下C、或测试电极的校正电容值与Q值，北京航天纵横检测仪器并根据测试值计算出损耗角tanδ与介电常数ε。4、其他高频测试仪器按其说明书进行操作，北京航天纵横检测仪器通过测试值计算出损耗角tanδ和介电常数ε。八、试验条件：1、试样表面应清洁、平滑，无裂纹、气泡和杂质等，试样表面应用蘸有无水乙醇的布擦洗。2、试样应在标准实验室温度及湿度下至少调节24h。3、当试样处理有特殊要求时，可按其产品标准规定的进行。九、测试意义：1、介电常数——北京航天纵横检测仪器绝缘材料通常以两种不同方式来使用，即（1）用于固定电学网络部件，同时让其彼此以及与地面绝缘；（2）用于起到某一电容器的电介质作用。在第一种应用中，通常要求固定的电容尽可能小，同时具有可接受且一致的机械，化学和耐热性能。因此要求电容率具有一个低值。在第二种应用中，要求电容率具有一个高值，以使得电容器能够在外型上能尽可能小。有时使用电容率的中间值来评估在导体边缘或末端的应力，以将交流电晕降至最小。2、交流损耗——对于这两种场合（作为电学绝缘材料和作为电容器电介质），交流损耗通常必须是比较小的，以减小材料的加热，同时将其对网络剩余部分的影响降至最小。在高频率应用场合，特别要求损耗指数具有一个低值，因为对于某一给定的损耗指数，电介质损耗直接随着频率而增大。在某些电介质结构中，例如试验用终止衬套和电缆所用的电介质，通常电导增加可获得损耗增大，这有时引入其来控制电压梯度。在比较具有近似相同电容率的材料时或者在材料电容率基本保持恒定的条件下使用任何材料时，这可能有助于考虑耗散因子，功率因子，相位角或损耗角。3、相关性——北京航天纵横检测仪器当获得适当的相关性数据时，耗散因子或功率因子有助于显示某一材料在其它方面的特征，例如电介质击穿，湿分含量，固化程度和任何原因导致的破坏。然而，由于热老化导致的破坏将不会影响耗散因子，除非材料随后暴露在湿分中。当耗散因子的初始值非常重要的，耗散因子随着老化发生的变化通常是及其显著的。十、典型用户：沧州大化集团中国计量大学河南平煤神马聚碳材料有限责任公司温州市鹿城区科学技术局东莞初创应用材料有限公司北京航空航天大学中国科学技术大学惠州市杜科新材料有限公司宁波东烁新材料科技有限公司云南能投硅材科技发展有限公司天津科技大学十一、相关产品：ZJC-50kV电压击穿试验仪ZST-212体积表面电阻率测试仪ZJD-C介电常数介质损耗测试仪ZDH-20KV耐电弧试验仪LDQ-5漏电起痕试验仪XRW-300HB热变形维卡温度测定仪XNR-400H熔体流动速率测定仪JF-6氧指数测定仪CZF-5水平垂直燃烧试验机WDW-50KN材料电子拉力试验机一、介质损耗的基本概念1.介质损耗电介质在电场作用下(加电压后)，要发生极化过程和电导过程。有损极化过程有能量损耗；电导过程中，电学性泄漏电流流过绝缘电阻当然也有能量损耗。损耗程度一般用单位时间内损耗的能量，即损耗功率表示。这种电介质出现功率损耗的过程称为介质损耗。显然，介质损耗过程随极化过程和电导过程同时进行。介质损耗掉的能量(电能)变成了热能，使电介质温度升高。若介质损耗过大，则电介质温度将升得过高，这将加速电介质的热分解与老化，最终可能导致绝缘性能的完全失去，所以研究介质损耗有十分重要的意义。2.介质损耗的基本形式(1)电导损耗。电导损耗为电场作用下由泄漏电流引起的那部分损耗。泄漏电流与电场频率无关，故这部分损耗在直流交流下都存在。气体电介质以及绝缘良好的液、固体电介质，电导损耗都不大。液、固体电介质的电导损耗随温度升高而按指数规律增大。(2)极化损耗。极化损耗为偶极子与空间电荷极化引起的损耗。在直流电压作用下，由于极化过程仅在电压施加后很短时间内存在，与电导损耗相比可忽路。而在交流电压作用下，由于电介质随交流电压极性的周期性改变而作周期性的正向极化和反向极化，极化始终存在于整个加压过程之中。极化损耗在频率不太高时随频率升高而增大。但频率过高时，极化过程反而减弱，损耗减小。极化损耗与温度也有关，在某一温度下极化损耗达最大。(3)游离损耗，游离损耗主要是指气体间隙的电晕放电以及液、固体介质内部气泡中局部放电所造成的损耗。这是因为放电时，产生带电粒子需要游离能，放电时出现光、声、热、化学效应也要消耗能量。游离能随电场强度的增大而增大。二、介质损失角正切tanδ由上可见，在直流电压作用下，介质损耗主要为电导损耗，因此，电导率γ或电阻率ρ既表示介质电导的特性，同时也表征了介质损耗的特性。但在交流电压作用下，三种形式的损耗都存在，为此需引入一个新的物理量来表征介质损耗的特性，这个物理量就是tanδ。1.并联等值电路及损耗功率的计算公式电介质两端施加一交流电压时，就有电流流过介质。有三个电流分量组成式中 ——电导过程的电流，为阻性电流，与同相位；——无损极化和有损极化时的电流。对应的等值电路如图2-9(a)所示，此等值电路可进一步简化成如图2-9(b)所示的由R和Cp相并联的等值电路。此并联等值电路的相量图如图2-9(c)所示。我们定义功率因数角θ的余角为δ角。由相量图可见，介质损耗功率越大，IR越大，δ角也越大，因此δ角称为介质损失角。对此并联等值电路，可写出介质损耗功率P的计算公式当然，图2-9(b)的电路也可以简化成由r和Cs相串联的等值电路，可以证明当tanδ 很小时， Cs≈C对于串联等值电路，同样可以推出损耗功率的计算公式2.tanδ值的意义从介质损耗功率P的计算公式看，我们若用P来表征介质损耗的程度是不方便的，因为P值与试验电压U的高低、试验电压的角频率ω(ω=2Πf)、电介质等值电容量Cp (或Cs)以及tanδ值有关。而若在试验电压、频率、电介质尺寸一定的情况下，那么介质损耗功率仅取决于 tanδ，换句话说，也就是tanδ是与电压、频率、绝缘尺寸无关的量，它仪取决于电介质的损耗特性。所以 tanδ是表征介质损耗程度的物理量，与εr、γ相当。这样,我们可以通过试验测量电介质的tanδ值，并以此来判断介质损耗的程度。各种结构固体电介质的tanδ如表2-2所示。表2-2 各种结构固体电介质的tanδ值(1MHz，20℃时)电介质结构名称tanδ分子结构非极性分子石 蜡 聚苯乙烯 聚四氟乙烯小于0.0002极性分子纤维素 有机玻璃0.01~0.015离子结构晶格结构紧密岩 盐 刚 玉小于0.0002 小于0.0002晶格结构不紧密多铝红柱石0.015晶格畸变的晶体锆英石0.02无定形结构硅酸铅玻璃 硅碱玻璃0.001 0.01不均匀结构　绝缘子瓷 浸渍纸绝缘0.01 0.01三、影响 tanδ 的因素影响tanδ 值的因素主要有温度、频率和电压。1.温度对tanδ值的影响随电介质分子结构的不同有显著的差异中性或弱极性介质的损耗主要由电导引起，故温度对tanδ的影响与温度对电导的影响相似，即tanδ随温度的升高而按指数规律增大，且tanδ较小。极性介质中，极化损耗不能忽略，tanδ值与温度的关系如图2-10所示。当温度在t1时，由于温度较低，电导损耗与极化损耗都小，电导损耗随温度升高而略有增大，而极化损耗随温度升高也增大(黏滞性减小，偶极子转向容易)，所以tanδ随温度升高而增大。当温度在t1＜t＜t2时，温度已不太低，此时分子的热运动反而妨碍偶极子沿电场方向作有规则的排列，极化损耗随温度升高而降低，而且降低的程度又要超过电导损耗随温度升高的程度，因此tanδ随温度升高而减小。当温度在t＞t2时，温度已很高，电导损耗已占主导地位，tanδ又随温度升高而增大。2.频率对tanδ的影响主要体现于频率对极化损耗的影响tanδ与频率的关系如图2-11所示。在频率不太高的一定范围内，随频率的升高，偶极子往复转向频率加快，极化程度加强，介质损耗增大，tanδ值增大。当频率超过某一数值后，由于偶极子质量的惯性及相互间的摩擦作用，来不及随电压极性的改变而转向，极化作用减弱，极化损耗下降，tanδ值降低。3.电压对tanδ的影响主要表现为电场强度对tanδ值的影响在电场强度不很高的一定范围内，电场强度增大(由于电压升高)，介质损耗功率变大，但tanδ几乎不变。当电场强度达到某一较高数值时，随着介质内部不可避免存在的弱点或气泡发生局部放电，tanδ随电场强度升高而迅速增大。因此，在较高电压下测tanδ值，可以检查出介质中夹杂的气隙、分层、龟裂等缺陷来。此外，湿度对暴露于空气中电介质的tanδ影响也很大。介质受潮后，电导损耗增大，tanδ也增大，例如绝缘纸中水分含量从4%增加到10%，tanδ值可增大100倍。然而，假如tanδ值的测试是在温度低于0～5℃时进行，含水量增加tanδ反而不会增大，这是因为此时介质中的水分已凝结成冰，导电性又变差，电导损耗变小的缘故。为此，在进行绝缘试验时规定被试品温度不低于+5℃，这对tanδ的测试尤为重要，在工程实际中，通过tanδ以及tanδ=f(u)曲线的测量及判断，对监督绝缘的工作状况以及老化的进程有非常重要的意义。

聚合物材料介电常数介质损耗测试仪宏观结构不均勾性的介质损耗工程介质材料大多数是不均匀介质。例如陶瓷材料就是如此，它通常包含有晶相、玻璃相和气相，各相在介质中是统计分布口。由于各相的介电性不同，有可能在两相间积聚了较多的自由电荷使介质的电场分布不均匀，造成局部有较高的电场强度而引起了较高的损耗。但作为电介质整体来看，整个电介质的介质损耗必然介于损耗大的一相和损耗小的一相之间。表征：电介质在恒定电场作用下，介质损耗的功率为　　W=U2/R=（Ed）2S/ρd=σE2Sd定义单位体积的介质损耗为介质损耗率为ω=σE2在交变电场作用下，电位移D与电场强度E均变为复数矢量，此时介电常数也变成复数，其虚部就表示了电介质中能量损耗的大小。D，E，J之间的相位关系图D，E，J之间的相位关系图聚合物材料介电常数介质损耗测试仪从电路观点来看，电介质中的电流密度为J=dD/dt=d（εE）/dt=Jτ+iJe式中Jτ与E同相位。称为有功电流密度，导致能量损耗；Je，相比较E超前90°，称为无功电流密度。定义tanδ=Jτ/Je=ε〞/εˊ式中，δ称为损耗角，tanδ称为损耗角正切值。损耗角正切表示为获得给定的存储电荷要消耗的能量的大小，是电介质作为绝缘材料使用时的重要评价参数。为了减少介质损耗，希望材料具有较小的介电常数和更小的损耗角正切。损耗因素的倒数Q=（tanδ）-1在高频绝缘应用条件下称为电介质的品质因素，希望它的值要高。工程材料：离子晶体的损耗，离子晶体的介质损耗与其结构的紧密程度有关。紧密结构的晶体离子都排列很有规则，键强度比较大，如α-Al2O3、镁橄榄石晶体等，在外电场作用下很难发生离子松弛极化，只有电子式和离子式的位移极化，所以无极化损耗，仅有的一点损耗是由漏导引起的（包括本质电导和少量杂质引起的杂质电导）。这类晶体的介质损耗功率与频率无关，损耗角正切随频率的升高而降低。因此，以这类晶体为主晶相的陶瓷往往用在高频场合。如刚玉瓷、滑石瓷、金红石瓷、镁橄榄石瓷等聚合物材料介电常数介质损耗测试仪陶瓷材料的介质损耗主要来源于电导损耗、松弛质点的极化损耗和结构损耗。此外，表面气孔吸附水分、油污及灰尘等造成的表面电导也会引起较大的损耗。在结构紧密的陶瓷中，介质损耗主要来源于玻璃相。为了改善某些陶瓷的工艺性能，往往在配方中引人此易熔物质（如黏土），形成玻璃相，这样就使损耗增大。如滑石瓷、尖晶石瓷随黏土含量增大，介质损耗也增大。因面一般高频瓷，如氧化铝瓷、金红石等很少含有玻璃相。大多数电陶瓷的离子松弛极化损耗较大，主要的原因是：主晶相结构松散，生成了缺固济体、多品型转变等。 [3]高分子材料的损耗高分子聚合物电介质按单体单元偶极矩的大小可分为极性和非极性两类。一般地，偶极矩在0~0.5D（德拜）范围内的是非极性高聚物；偶极矩在0.5D以上的是极性高聚物。非极性高聚物具有较低的介电常数和介质损耗，其介电常数约为2，介质损耗小于10-4；极性高聚物则具有较高的介电常数和介质损耗，并且极性愈大，这两个值愈高。高聚物的交联通常能阻碍极性基团的取向，因此热固性高聚物的介电常数和介质损耗均随交联度的提高而下降。酚醛树脂就是典型的例子，虽然这种高聚物的极性很强，但只要固化比较完全，它的介质损耗就不高。相反，支化使分子链间作用力减弱，分子链活动能力增强，介电常数和介质损耗均增大。高聚物的凝聚态结构及力学状态对介电性景响也很大。结品能抑制链段上偶极矩的取向极化，因此高聚物的介质损耗随结晶度升高而下降。当高聚物结晶度大于70%时，链段上的偶极的极化有时完全被抑制，介电性能可降至低值，同样的道理，非晶态高聚物在玻璃态下比在高弹态下具有更低的介质损耗。此外，高聚物中的增塑利、杂质等对介电性能也有很大景响。介质损耗（dielectric loss ）指的是绝缘材料在电场作用下，由于介质电导和介质极化的滞后效应，在其内部引起的能量损耗。也叫介质损失，简称介损。介质损耗因数（dielectric loss factor）指的是衡量介质损耗程度的参数。【依据标准】GB/T 16491、GB/T 1040、GB/T 8808、GB/T 13022、GB/T 2790、GB/T 2791、GB/T 2792、GB/T 16825、GB/T 17200、GB/T 3923.1、GB/T 528、GB/T 2611、GB/T 6344、GB/T 20310、GB/T 3690、GB/T 4944、GB/T 3686、GB/T 529、GB/T 6344、GB/T 10654、HG/T 2580、JC/T 777、QB/T 2171、HG/T 2538、CNS 11888、JIS K6854、PSTC-7、ISO 37、AS 1180.2、BS EN 1979、BSEN ISO 1421、BS EN ISO 1798、BS EN ISO 9163、DIN EN ISO 1798、GOST 18299、DIN 53357、ISO 2285、ISO 34-1、ISO 34-2、BS 903、BS 5131、DIN EN 12803、DIN EN 12995、DIN53507-A、DIN53339、ASTM D3574、ASTM D6644、ASTM D5035、ASTM D2061、ASTM D1445、ASTM D2290、ASTM D412、ASTM D3759/D3759M功能介绍1.自动停机：试样破坏后，移动横梁自动停止移动（或自动返回初始位置、2.自动换档：根据试验力大小自动切换到适当的量程，以确保测量数据的准确性3.条件模块：试验条件和试样原始数据可以建立自己的标准模块的形式存储；方便用户的调用和查看，节省试验时间4.自动变速：试验过程的位移速度或加载速度可按预先编制、设定的程序自动完成也可手动改变5.自动程制：根据试验要求，用户可方便的建立自己的试验模板（方法、，便于二次调用，可实现试验加载速度、应力、应变的闭环试验控制6.自动保存：试验结束，试验数据和曲线计算机自动保存，杜绝因忘记存盘而引起的数据丢失7.测试过程：试验过程及测量、显示、分析等均由微机完成8.批量试验：对相同参数的试样，一次设定后可顺次完成一批试验9.试验软件：中文Windows用户界面，操作简便10.显示方式：数据与曲线随试验过程动态显示11.曲线遍历：试验完成后，可对曲线进行放大再分析，用鼠标查到试验曲线上各点对应的数据12.试验报告：可根据用户要求进行编辑打印13.限位保护：具有程控和机械两级限位保护14.过载保护：当负荷超过额定值3～5%时，自动停机15.报告显示：自动和人工两种模式求取各种试验结果，自动形成报表，使数据分析过程变的简单，便于用户16.添加试验方法：用户可跟据试验要求，添加试验方法聚合物材料介电常数介质损耗测试仪软件说明a.软件系统：中英文Windows2000/XP/Win7平台下软件包b.自动储存：试验条件、试验结果、计算参数、标距位置自动储存。c.自动返回：试验结束后，试验机横梁会自动返回到试验初始位置。d.连续试验：一批试验参数设定完成后，可连续进行测试。e.多种曲线：同一图形上可显示多种不同的曲线：荷重--位移、荷重-时间、位移--时间、应力—应变、荷重—两点延伸等到多种曲线。f.曲线对比：同组试样的曲线可在同一张图上叠加对比。g.报告编辑：可按用户要求输出不同的报告形式。h.动态显示：测试过程中，负荷、伸长、位移及选中的试验曲线随着测试的进行，实时动态显示在主控屏幕上。i.自动变标：试验中负荷、伸长等曲线坐标，如果选择不当，可根据实测值的大小，自动变换座标。保证在任何情况下 曲线以大的形式显示在屏幕上。j.峰值保持：在测试的整个过程中，测试项目的大值始终随着试验的进行，在屏幕窗口上显示。k.执行标准：满足GB、ISO、JIS、ASTM、DIN等多种试验方法和标准。试验机仪表：本仪表采用国际比较先进的放大器，A/D、微处理器、高性能高清晰的液晶显示屏构成，整个系统采用类似手机PDA键盘，光标导航，全中文显示，浮点数数据处理，结构简单操作方便，自动计算存储，适合于企业，质检单位材料力学仪表。工作环境条件1 在室温100C～350C范围内，相对湿度不大于80%；2 在稳固的基础或工作台上正确安装，水平度为0.2/1000；3 在无震动、无腐蚀性介质和无较强电磁场干扰的环境中；4 电源电压的波动范围不应超出额定电压的±10%。结构特征及工作原理本机由机械、电气二大部分组成。1机械部分结构及工作原理：本机采用电动加载方式，底部是整机结构承载支架，内部包含有电机驱动器、加载电机、减速机构、动力传动机构等部件；上部是试样夹持及力值、位移测量机构，包含有试样拉伸夹具、测力传感器、位移传感器等主要部件。聚合物材料介电常数介质损耗测试仪本机采用机电一体化设计 ，主要由测力传感器、变送器、微处理器、负荷驱动机构、计算机及彩色喷墨打印机构成。它具有宽广准确的加载速度和测力范围，对载荷、位移的测量和控制有较高的精度和灵敏度，还可以进行等速加载、等速位移的自动控制试验。落地式机型 ，造型涂装均充分考量了现代工业设计，人体工程学之相关原则。主要特点:采用进口光电编码器进行位移测量，控制器采用嵌入式单片微机结构，内置功能强大的测控软件，集测量、控制、计算、存储功能于一体。具有自动计算应力、延伸率（需加配引伸计）、抗拉强度、弹性模量的功能，自动统计结果；自动记录大点、断裂点、点的力值或伸长量；采用计算机进行试验过程及试验曲线的动态显示，并进行数据处理，试验结束后可通过图形处理模块对曲线放大进行数据再分析编辑，并可打印报表。品质保证：3年保修，终身维护！注意事项1、该仪器初始的包装材料需小心保存，安装需由本公司的专业技术人员进行操作。2、若仪器由于任何原因必须返修，必须将其装入原纸箱中以防运输途中损坏。3、在开机前，操作者要首先熟悉操作方法。使用本机之前，请认真阅读使用说明书，充分理解之后，再开机使用。请爱护本机，正确使用，以便使该机永远保持较高的精度和良好的运行状态。技术参数：Q值测量a．Q值测量范围：2～1023。b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。c．标称误差频率范围（100kHz～10MHz）： 频率范围（10MHz～160MHz）：固有误差：≤5％±满度值的2% 固有误差：≤6％±满度值的2%工作误差：≤7％±满度值的2% 工作误差：≤8％±满度值的2%2．电感测量范围：4.5nH~7.9mH3．电容测量：1~205主电容调节范围：18～220pF准确度：150pF以下±1.5pF； 150pF以上±1%注：大于直接测量范围的电容测量见后页使用说明4. 信号源频率覆盖范围频率范围CH1:0.1～0.999999MHz, CH2: 1～9.99999MHz,CH3:10～99.9999MHz, CH1 :100～160MHz

材料介电常数介质损耗测试仪HRJD技术参数：1．Q值测量a．Q值测量范围：2～1023。b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。c．标称误差 频率范围（100kHz～10MHz）： 频率范围（10MHz～160MHz）： 固有误差：≤5％±满度值的2% 固有误差：≤6％±满度值的2% 工作误差：≤7％±满度值的2% 工作误差：≤8％±满度值的2%2．电感测量范围：4.5nH~7.9mH3．电容测量：1~205 主电容调节范围：18～220pF 准确度：150pF以下±1.5pF； 150pF以上±1% 注：大于直接测量范围的电容测量见后页使用说明4. 信号源频率覆盖范围 频率范围CH1:0.1～0.999999MHz, CH2: 1～9.99999MHz, CH3:10～99.9999MHz, CH1 :100～160MHz,5．Q合格指示预置功能: 预置范围：5～1000。6．B-测试仪正常工作条件a. 环境温度：0℃～+40℃；b．相对湿度：80％；c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。存在界面极化时，自由离子的数目随电场下，只要电介质中不出现局部放电，电容率和介质损耗因数与电场强度无关.电容器安装运行海拔不超过1000米 使用周围空气温度于±3%电容器温度系数 ≤ 3×10-5 /℃电容器压力系数 ≤ 3×10-3Mpa电容器的损耗角正切值不大于 1×10-5 、2×10-5 、5×10-5 三档。电容器内充SF6气体。在20℃时 压力为0.4±0.1MpaRY2电极材料介电常数介质损耗测试仪HRJD电桥测量灵敏度 电桥在使用过程中，灵敏度直接影响电桥平稳衡的分辨程度，为保证测量准确度，希望电桥灵敏度达到一定的水平。通常情况下电桥灵敏度与测量电压，标准电容量成正比。 在下面的计算公式中，用户可根据实际情况估算出电桥灵敏度水平，在这个水平上的电容与介质损耗因数的微小变化都能够反应出来。 ΔC/C或Δtgδ=Ig/UωCn(1+Rg/R4+Cn/Cx)式中: U 为测量电压 伏特 (V) ω为角频率2πf=314(50Hz) Cn标准电容器容量 法拉(F) Ig通用指零仪的电流5×10-10 安培(A) Rg平衡指零仪内阻约1500 欧姆(Ω) R4桥臂R4阻值3183 欧姆(Ω) Cx被测试品电容值 法拉(pF)材料介电常数介质损耗测试仪HRJD特点：1 优化的测试电路设计使残值更小2 高频信号采用数码调谐器和频率锁定技术3 LED 数字读出品质因数，手动/自动量程切换4 自动扫描被测件谐振点，标频单键设置和锁定，大大提高测试速度材料介电常数介质损耗测试仪HRJD使用方法高频Q表是多用途的阻抗测量仪器，为了提高测量精度，除了使Q表测试回路本身残余参量尽可能地小，使耦合回路的频响尽可能地好之外，还要掌握正确的测试方法和残余参数修正方法。1．测试注意事项a．本仪器应水平安放；b．如果你需要较准确地测量，请接通电源后，预热30分钟；c．调节主调电容或主调电容数码开关时，当接近谐振点时请缓调；d．被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短，足够粗，并应接触良好、可靠，以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差；e．被测件不要直接搁在面板顶部，离顶部一公分以上，必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫；f．手不得靠近试件，以免人体感应影响造成测量误差，有屏蔽的试件，屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。计算公式Cx=R4× Cn / R3 R4[Ω] R3[Ω] Cn[pF] Cx[pF]tgδ=ωR4C4 R4[Ω] C4[F]当R4=10K/πtgδ=C4当R4=1K/πtgδ=0.1C4我们采取相对固定R4电阻，分别调节R3和C4使桥跟平衡，从而测得试品的电容值Cx和介质损耗tg。本电桥为了直读出损耗值，取电阻R4的阻值为角频率（f=50Hz）若干倍。正常工作条件a. 环境温度：0℃～+40℃；b．相对湿度：80％；c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。d．消耗功率：约25W；e．净重：约7kg；f. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。材料介电常数介质损耗测试仪HRJD特点：1 优化的测试电路设计使残值更小2 高频信号采用数码调谐器和频率锁定技术3 LED 数字读出品质因数，手动/自动量程切换4 自动扫描被测件谐振点，标频单键设置和锁定，大大提高测试速度使用方法高频Q表是多用途的阻抗测量仪器，为了提高测量精度，除了使Q表测试回路本身残余参量尽可能地小，使耦合回路的频响尽可能地好之外，还要掌握正确的测试方法和残余参数修正方法。1．测试注意事项a．本仪器应水平安放；b．如果你需要较精确地测量，请接通电源后，预热30分钟；c．调节主调电容或主调电容数码开关时，当接近谐振点时请缓调；d．被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短，足够粗，并应接触良好、可靠，以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差；e．被测件不要直接搁在面板顶部，离顶部一公分以上，必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫；f．手不得靠近试件，以免人体感应影响造成测量误差，有屏蔽的试件，屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。2．高频线圈的Q值测量（基本测量法）电感：线圈号 测试频率 Q值 分布电容p 电感值 9 100KHz 98 9.4 25mH 8 400KHz 138 11.4 4.87mH 7 400KHz 202 16 0.99mH 6 1MHz 196 13 252μH 5 2MHz 198 8.7 49.8μH 4 4.5MHz 231 7 10μH 3 12MHz 193 6.9 2.49μH 2 12MHz 229 6.4 0.508μH 1 25MHz，50MHz 233，211 0.9 0.125μH陶瓷材料的介质损耗主要来源于电导损耗、松弛质点的极化损耗和结构损耗。此外，表面气孔吸附水分、油污及灰尘等造成的表面电导也会引起较大的损耗。在结构紧密的陶瓷中，介质损耗主要来源于玻璃相。为了改善某些陶瓷的工艺性能，往往在配方中引人此易熔物质（如黏土），形成玻璃相，这样就使损耗增大。如滑石瓷、尖晶石瓷随黏土含量增大，介质损耗也增大。因面一般高频瓷，如氧化铝瓷、金红石等很少含有玻璃相。大多数电陶瓷的离子松弛极化损耗较大，主要的原因是：主晶相结构松散，生成了缺固济体、多品型转变等。漏导损耗实际使用中的绝缘材料都不是完善的理想的电介质，在外电场的作用下，总有一些带电粒子会发生移动而引起微弱的电流，这种微小电流称为漏导电流，漏导电流流经介质时使介质发热而损耗了电能。这种因电导而引起的介质损耗称为“漏导损耗”。由于实阿的电介质总存在一些缺陷，或多或少存在一些带电粒子或空位，因此介质不论在直流电场或交变电场作用下都会发生漏导损耗。介质损耗：绝缘材料在电场作用下，由于介质电导和介质极化的滞后效应，在其内部引起的能量损耗。也叫介质损失，简称介损。在交变电场作用下，电介质内流过的电流相量和电压相量之间的夹角（功率因数角Φ）的余角δ称为介质损耗角。

介质损耗缘油电阻率测试仪本怀推等同采用IEC 602T:2004(搜体范像材料相对电容车,介质担托四数和直德电阻率的侧量》(英文版)。为便于使用,本标准做了下列编辑性修改。a)用小数点符号*.”代替小数点符号*”b)“本国际标准”一词改为“本标准” 本标准代替GB/T5654-19854液体绝缘材料工照相对介电常数.介质损耗因数和体积电阻率的测量)本标准与GB/T5654-1985相比主要变化如下。a)本标准增加了“引言"及"规范性引用文件"章节 b)在直流电阻车测量中,将“试验电压使液体承受200V~300 V/mm……”改为"试验电压应使液体承受 250V/mm……” 将电化时间“60s”改为“60 s±2 s” 将“注试样 15min后开始测量"齿为"不超过10min开始测量",c)本标准增加了图2.图3.图4.图 5。本部准的附录∧.附录B.附录C为资料性附录。本标准由中国电器工业协会提出。本标准由全国绝缘材料标准化技术委员会(SAC/TC 51)归D，木标准起草单位,桂林电器科学研究所。本标准主要起草人:王先锋。本标准历次版本发布情况为:-GB/T5654-1985。介质损耗缘油电阻率测试仪液体绝缘材料相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量1范围本标准规定了在试验温度下液体绝缘材料的介质损耗因数,相对电容率和直流电阻率的测量方法。本标准主要是对未使用过的液体做参考性试验,但也适用于在运行中的变压器、电缆和其他电工设备中的液体。然而,本标准只适用于单相液体,当做例行测量时可以采用简化方法和附录C所述的方法。对于非碳氢化合物绝缘液体,则要求采用其他请洗方法。2规范性引用文件下列文件中的条款通过本标准的引用面成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本，凡是不挂日期的引用文件,其最新版木适用于本标准，GB/T 1409-2006固体绝缘材料在工频,音频,高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方集(U 60B50 1969,MUD)GB/T 1410-2006固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率试验方法(IEC 60093,1980,IDT)GB/T 21216-2007绝缘液体测量电导和电容确定介质损耗因数的试验方法(IEC61620,1998。IDT)IEC60475液体电介质取样方法3术语和定义下列术语和定义适用于本标准。3.1(相对)电容率permittivity(relative)绝缘材料的相对电容率是一电容器的两电极周围和两电极之间均充满该绝缘材料时所具有的电容量C.与同样电极结构在真空中的电容量C.之比。用该电极在空气中的电容量C.代替C,对于测量相对电容率具有足够的精确度。3.2介质损耗因数(tan8)dielectric disipation facter (tanh)绝缘材料的介质损耗因数(tan2)是损耗角的正切。当电容器的介质仅由一种绝缘材料组成时,损耗角是指外施电压与由此引起的电流之间的相位差偏离π/2的弧度。注:实际应用中,tan8测得值低于0.005时,uJ和功率因数(PF)基本上相同。可用一个简单的换算公式将两者进料稳靠。功率因数是图耗鱼的正载,动率因救和合感相鲜因着之加的委系可害选为下式。PF--tanl√1+(ta) --------.---------------(1)介质损耗缘油电阻率测试仪GB/T5654-2007/IEC 60247:2004式中:PF-一功率因数:tan 介质损耗四数。3.3直流电阻率(体积)dc. resistivity (rolome)绝缘材料的体积电阻率是在材料内的直流电场强度与稳态电流密度的比值。排，由阻率的单位是欧的米(Ω*m).4概述电容率、tan8和电阻率,无论是单一还是全部,都是绝缘液体的固有质量和污染程度的重要指标。这些参数都可用于解释所要求的介电特性发生偏离的原因,也可解释其对于使用该液体的设备所产生的潜在影响。4.1电容率和介质损耗周数(tan)电气吧缘液体的电容率和分质报秏因数(tan8)在相当大程度上取决于试验条件,特别是温度和施加电压的频率,电容率和介质损耗因数都是介质根化和材料电导的度量。在工频和足够高的温度下,与本方法中推荐的一样,损耗可仅归因于液体的电导,即归因于液体中自由载流子的存在。因此,测量高纯净绝缘液体的介电特性,对判别电离杂质的存在很有价值。介质损耗与测量频率成反比,且随介质粘度的变化而变化。试验电压值对测量担耗因数影响不大，它道常只是受电桥的灵敏度所限制。但是,应考虑到高的电场强度会引起电极的二次效应,介质发热。放电等影响。较大的杂质所引起的电容率的变化相对较小,而其介质损耗则强烈地受极小量的可电离溶解杂质或胶体微粒的影响。某些液体有控大的极性,所以对未质的敏感性较之猫氢化音物液体要漏得多。极性还导致它有较高的溶解和电离的能力,因此在操作时要比对碳氢化合物液体更应小心。通常认为初始值能较好地代表液体的实际状态,所以更希望能在一达到温度平衡时就测量介质损耗因数.介质洪耗国数对温度的变化很敏感,通常晶随温度的增加成指数式的增大.因此需要在足够精确的温度条件下进行测量。下面所述的方法使试样温度在很短的时间内达到与试验池平衡。4.2电阻率用本标准的方法测得的电阻率通常并不是真正的电阻率。当施加直流电压后,由于电荷迁移,将使液体的起始特性发生随时间面变化。真正的电阻率只有在低电压下且在刚施加电压后才可得到。本标准使用比较高的电压且经校长时间,因此,其结果通常是与CB/T 21216--2007所得到的不同。本标准中液体的电阻率测量结果与试验条件有关,主要有。a)温度电阻率对温度的变化特别敏感,是按1/K指数变化。因此需要在足够精确的温度条件下进行测量。D)电场强度的值给定试样的电阻率可受施加电场强度的影响。为了获得可比的结果,应在近似相等的电压梯度下进行测量,并应在相同极性下进行,此时应注明其梯度值和极性。e)电化时间当施加直流电压时,由于电荷向两电板迁移,流经试样的电流将逐渐减少到一极限值。一般规定电化时间为1min,不同的电化时间可导欧试验坫果明显不同[某些高精度的液体可能需要相当长的电化时间(见 14.2)]。4.3测量次序将直流电压施加在试样上,合改变其随后到量的工频tun子的结果。介质损耗缘油电阻率测试仪GB/T5054--2007/TEC 60247:2004当在同一试样上相继测量电容率、提耗四数和电阻率时,上频下圆量应在对试样跑加直流电压以前进行，工频试验后,应将两电极短路1min后再开始测量电阻率，4.4导致错误结果的因素虽然只有严重污染才会影响电容丰。但俄量的行染却胞很烈地膨响umð 和电阻率。不可靠的结果通常是由于不适当的取样或处理试样所造成的污染,由未洗净试验池或吸收了水份，特别是存在不溶解的水份所引起。在贮藏期间长久暴露在强光线下会导致电介质劣化,采用所推荐液体样品贮存和运输以及试验池的结构和净化的标准化程序,可使由污染引起的误差减至最小。5 仪器5.1试验池同一试验池可用来测量电容率、介质损耗因数和直流电阻率。适合于这些用途的试验池应符合如下要求。5.1.1试验池应设计成能容易拆洗所有的部件,并易于重新装配而不致明显地改变空池的电容量。同时试验施还应能在所要求的恒定程度下使用,并提供以厨圃档确皮米测量和控制被体温度的力法。外加热的炉(或浴)或内部电加热的试验池都可以使用。5.1.2用来制造试验池的材料应是无气孔的,并能经受所要求的温度,电极的中心对推应不受温度变化的影响。5.1.3与被试液体接触的电极表面应抛光如镜而,以便清洗容易。液体和电极之同应没有相互的化学作用,它们也不应受清洗材料的影响。用不锈钢制造的试验池(电极)对试验所有类型的绝缘液体都是适用的,不应使用倡和铝合全做电极,因为它们合被碱性的洗净剂腐蚀。注:通常在表面上电镀不如一种金属制成的电极好。但表面镀金,镰或铑,只要值得好并保持完好无损也可满意地使用。股钢镀储电极较妤且具有较低热膨胀的优点，也可采用在黄钢上镀俊或金和在不锈钢上镀镍的电极。5.1.4用来支撑电极的固体绝缘材料应具有较低的介质损耗因数和较高的电阻率,这些固体绝缘材料不应吸收参照液体,被试液体以及清洗材料,也不应受它们的影响，拉:透常认为熔融石类是用份试渲感合适的范缘材料,自于普递金属和石美的线膨恭系数不同,它们挂合国之间俑要具有充分的经向间除，但应注意到这间胞会减小电极闰距的精度。5.1.5保护电极和测量电极之间横跨液面及固体绝缘材料的距离应足够大,以便能承受施加的试验电压，5.1.6符合5.1.1到5.1.5要求的任何试验池均可使用,用于低黏度液体和施加电压不超过2000V的试验池见图1~图5。三端试验池提供了足以屏蔽测量电极的有效保护电极系统。当进行极精密的电容率测量时应选择三端试验池，在这种测量中,如有必要,还要求加上一个可拆卸的特殊屏蔽环,并与连接测量电极和电桥的网轴电缆的外层导体(屏蔽)相逢接(见图 2)。在用两端试验池时,引线屏蔽层通常是接到保护电极的。为了防止屏蔽层同任何其他表而接触,应将它牢牢地夹在电缆的绝缘层上。当用这样的试验池测量电阻率时,空池的绝缘撑环的电阻至少是被测液体电阻的100倍。同样,在文流下测量介质损耗因数也应有相应的比值。对于较好的绝缘液体,可能由于绝缘撑环附加的投耗而改变测量值。为此,建议使用在两电极间无任何固体绝缘材料支撑的试验池,这样的空试验池的报耗因数在50Hz时应低于10°。为了使与液休接触表面的污热影响减到最小,建议采用具有电极表面面积与液休林积之比小的试验池,例如小于5/cm。介质损耗缘油电阻率测试仪GB/T5654--2097/1EC 60247:200412.2测量试验池非自动加热,当其温度达到所要求试验温度的±1℃时,应于10min内开始测量提耗因数.在测量时施加电压，完成初次测量后(如果需要,也包括测量电容率和电阻率时),倒出试验液体，再用第二份试样充满试验池,操作程序和第一次相同,但省去涮洗。重复测呈,两次测得的an值之差应不大于0.0001加两个值中较大的25%。注 只有鉴定und值较小的产品时才需要重复测量,例行试验不需要重复测量。如果不满足上述要求,剧继缝充埴试样测量,直到相邻两次tan8别量值之差不超过0.0001加两个值中较大的25%为止,此时认为测量是有效的。12.3推告报告两次有效测量值的平均值作为试样的损耗因数(tand)。报告应包括:)电场强度b)施加电压的频率 e)试验掘度。13相对电容率的测量13.1测量首先测量以干燥空气为介质的干净试验池的电容量,然后测量装有已知相对电容率为e的液体的电容量。按下式计算电极常数C和修止电容Cc,5-C.-.--- --- -=s =.=--- --- --- --- ---(3)C,-C-C.**.* ..*..* .** ..* .…* ..*…** **=( 4)式中C一电极常数:C一一充有已知相对电容率为。的校准溶液的试验池的电容量:C.一一以空气作为介质的试验池的电容量:C.一一修正电容，测量装有被试液体的试验池的电容量C,并按下式计算相对电容率e------------------(5)式中，。一被试液体的相对电容率 C.一一被试液体的电容量:C.一--以空气作为介质的试验池的电容量，C,一修正电容。重复试验，直至相邻两次测试值的差不大于较大值的5%,则认为测量是有效的。注1:如果在测定C.值时已知C、C.和c。值,则可获得最高的精度。注2,当用设计很好并预先校正过的三端试验池时或当精度要求较低时,可以忽略G项,而相对电容率可按简化公建计算CB/T5654-2007/UEC 60247.2004当需要预热试样时,在倒出足够的样品用作其他试验时,应尽可能将杀下的样品在原米的样品容器里预热,此时,应考虑液体的热膨胀而留有足够的空间,以避免容器破裂，当试样必须移到其他容器内时,这些容器应是带盖烧杯或带塞子的锥形玻璃烧瓶,并按第7章要求进行请洗。如果必须在室温下进行试验,则应将原来样品容器放在将要进行试验的室内,直至样品达到室温当需在高温下进行试验而试样又不能在试验池内加热时,试样容卷或辅助的容器委用基子基住,并保证在此容器内有合造的体积足以满足液体的热膨胀,在烘箱里把它加热到高于要求的试验温度5℃~10℃,由丁液体易氧化,因此加热时间应不超过1h。若必须在一个单独的烘箱内加热液体,为防止污染影响,最好保证一个烘箱只用于一种类型的液体。为了取到有代表性的试样,在取样之前.应将容器倾斜并缓慢地旋转液体几次,以使试样均匀，用干净的无绒布擦洗容器口,并倒出一部分液体样品擦洗容器的外表面。10条件处理及试验池充填试样10.1试验池的条件处理在选净并干燥完电极后,注意不要用裸手接触它们的表面,也应注意放置试验池部件的表面要很请洁,试验池上面不要有水蒸汽或灰尘。为了使试验池的清洗程序对随后试验的影响减到最小,很重要的一点是要对于燥清洁的试验池进行预处理,即用下次的被试渣体充瞒试验池两次。对于高粘度液体,可能需要更长时间的预处理。10.2试验池充填试样用一部分掖体试样剧冼试验池三次,然后倒出并倒掉液体。在刷洗试验池时,若需要取出内电板，应注意防止在任何表面剩留液体,并防止尘粒聚集在试验池的浸液表面。重新充满试样,注意防止夹带气泡。将装有试样的试验池加热到所需试验温度,每个试验温度所需的时间取决于加热方法,通常可能在10 min~60 min范围。在达到所需试验温度的±1℃时,10min内必须开始测试。应特别注意防止液体成试验他的各那件与任何污染煞相搂触。在一种液体内不呈活性的杂质可能在另一种液体内会因杂质的迁移面呈现活性,因此最好限制一试验池只用于一种类型的液体。应尽可能地保证周围大气中不存在影响液体质量的水蒸汽或气体。11试验温度这些试验方法适合于在一个很宽的温度范雨内试验绝缘液体,除非在特定液体的规范中另有规宗，一般试验应在90℃下进行。测量温度的分辨率应在U.25℃以内。12介质模耗固数(tau8)的测量

液体介电常数介质损耗测试仪 HRJD- A电介质经常是绝缘体。其例子包括瓷器(陶器)，云母，玻璃，塑料，和各种金属氧化物。有些液体和气体可以作为好的电介质材料。干空气是良好的电介质，并被用在可变电容器以及某些类型的传输线。蒸馏水如果保持没有杂质的话是好的电介质，其相对介电常数约为80。术语和定义下列术语和定义适用于本标准。液体介电常数介质损耗测试仪 HRJD- A相对电容率relative permittivityε r电容器的电极之间及电极周围的空间全部充以绝缘材料时，其电容Cx与同样电极构形的真空电容Co之比； ……………………………（1）式中；εr——相对电容率 Cx——充有绝缘材料时电容器的电极电容；Co——真空中电容器的电极电容。在标准大气压下，不含二氧化碳的干燥空气的相对电容率ε r等于1.00053，因此，用这种电极构形在空气中的电容Cx来代替Co测量相对电容率εr时，也有足够的度。在一个测量系统中，绝缘材料的电容率是在该系统中绝缘材料的相对电容率εr与真空电气常数εr的乘积。在SI制中，电容率用法/米（F/m）表示。而且，在SI单位中，电气常数εr，为： ……………………………（2）在本标准中，用皮法和厘米来计算电容，真空电气常数为:ε0=0.088 54 pF/cm液体介电常数介质损耗测试仪 HRJD- A介质损耗角dielectric loss angleδ由绝缘材料作为介质的电容器上所施加的电压与由此而产生的电流之间的相位差的余角。液体介电常数介质损耗测试仪 HRJD- A介质损耗因数1） dielectric dissipation factortanδ损耗角δ的正切。液体介电常数介质损耗测试仪 HRJD- A[介质]损耗指数 [dielectric] loss indexε''r该材料的损耗因数tanδ与相对电容率εr的乘积。复相对电容率 complex relative permittivityεr由相对电容率和损耗指数结合而得到的：式中：εr——复相对电容率；ε''r——损耗指数；ε'r、εr——相对电容率；tanδ——介质损耗因数。注：有损耗的电容器在任何给定的频率下能用电容Cs和电阻Rs的串联电路表示，或用电容CP和电阻RP（或电导CP）并联电路表示。 并联等值电路 串联等值电路 式中：Cs——串联电容；Rs——串联电阻； 1）有些国家用“损耗角正切”来表示“介质损耗因数”，因为损耗的测量结果是用损耗角的正切来报告的。CP——并联电容；RP——并联电阻。虽然以并联电路表示一个具有介质损耗的绝缘材料通常是合适的，但在单一频率下，有时也需要以电容Cs和电阻Rs的串联电路来表示。串联元件与并联元件之间，成立下列关系： 式（9）、（10）、（11）中：Cs、Rs、CP、RP、tanδ同式（7）、（8）。无论串联表示法还是并联表示法，其介质损耗因数tanδ是相等的。假如测量电路依据串联元件来产生结果，且tanδ太大而在式（9）中不能被忽略，则在计算电容率前必须先计算并联电容。本标准中的计算和测量是根据电流（ω=πf）正弦波形作出的。 电气绝缘材料的性能和用途电介质的用途电介质一般被用在两个不同的方面：用作电气回路元件的支撑，并且使元件对地绝缘及元件之间相互绝缘；用作电容器介质。影响介电性能的因素下面分别讨论频率、温度、湿度和电气强度对介电性能的影响。频率因为只有少数材料如石英玻璃、聚苯乙烯或聚乙烯在很宽的频率范围内它们的εr和tanδ几乎是恒定的，且被用作工程电介质材料，然而一般的电介质材料必须在所使用的频率下测量其介质损耗因数和电容率。电容率和介质损耗因数的变化是由于介质极化和电导而产生，重要的变化是极性分子引起的偶极子极化和材料的不均匀性导致的界面极化所引起的。温度损耗指数在一个频率下可以出现一个大值，这个频率值与电介质材料的温度有关。介质损耗因数和电容率的温度系数可以是正的或负的，这取决于在测量温度下的介质损耗指数大值位置。湿度极化的程度随水分的吸收量或电介质材料表面水膜的形成而增加，其结果使电容率、介质损耗因数和直流电导率增大。因此试验前和试验时对环境湿度进行控制是*的。注：湿度的显著影响常常发生在1MHz以下及微波频率范围内。电场强度存在界面极化时，自由离子的数目随电场强度增大而增加，其损耗指数大值的大小和位置也随此而变。在较高的频率下，只要电介质中不出现局部放电，电容率和介质损耗因数与电场强度无关。

聚合物绝缘材料介质损耗测试仪作为新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前国内高的160MHz。 聚合物绝缘材料介质损耗测试仪技术参数：1．Q值测量a．Q值测量范围：2～1023。b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。c．标称误差 频率范围（100kHz～10MHz）： 频率范围（10MHz～160MHz）： 固有误差：≤5％±满度值的2% 固有误差：≤6％±满度值的2% 工作误差：≤7％±满度值的2% 工作误差：≤8％±满度值的2%2．电感测量范围：4.5nH~7.9mH3．电容测量：1~205 主电容调节范围：18～220pF 准确度：150pF以下±1.5pF； 150pF以上±1% 注：大于直接测量范围的电容测量见后页使用说明4. 信号源频率覆盖范围 频率范围CH1:0.1～0.999999MHz, CH2: 1～9.99999MHz, CH3:10～99.9999MHz, CH1 :100～160MHz,5．Q合格指示预置功能: 预置范围：5～1000。6．B-测试仪正常工作条件a. 环境温度：0℃～+40℃；b．相对湿度：80％；c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。7．其他a．消耗功率：约25W；b．净重：约7kg；c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。高频/音频介电常数测试仪GDAT-A测试注意事项a．本仪器应水平安放；b．如果你需要较精确地测量，请接通电源后，预热30分钟；c．调节主调电容或主调电容数码开关时，当接近谐振点时请缓调；d．被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短，足够粗，并应接触良好、可靠，以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差；e．被测件不要直接搁在面板顶部，离顶部一公分以上，必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫；f．手不得靠近试件，以免人体感应影响造成测量误差，有屏蔽的试件，屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。影响介电性能的因素 下面分别讨论频率、温度、湿度和电气强度对介电性能的影响。1频率 因为只有少数材料如石英玻璃、聚苯乙烯或聚乙烯在很宽的频率范围内它们的 。r和 tans几乎是恒定的，且被用作工程电介质材料，然而一般的电介质材料必须在所使用的频率下测量其介质损耗因数和电容率。 电容率和介质损耗因数的变化是由于介质极化和电导而产生，重要的变化是极性分子引起的偶极子极化和材料的不均匀性导致的界面极化所引起的.2温度 损耗指数在一个频率下可以出现一个大值，这个频率值与电介质材料的温度有关。介质损耗因数和电容率的温度系数可以是正的或负的，这取决于在测量温度下的介质损耗指数大值位置。3湿度 极化的程度随水分的吸收量或电介质材料表面水膜的形成而增加，其结果使电容率、介质损耗因数和直流电导率增大。因此试验前和试验时对环境湿度进行控制是必不可少的. 注:湿度的显著影响常常发生在 1MHz以下及微波频率范围内4电场强度 存在界面极化时，自由离子的数目随电场强度增大而增加，其损耗指数大值的大小和位置也随此而变。 在较高的频率下，只要电介质中不出现局部放电，电容率和介质损耗因数与电场强度无关测量方法的选择： 高频/音频介电常数测试仪GDAT-A测量电容率和介质损耗因数的方法可分成两种:零点指示法和谐振法。1 零点指示法适用于频率不超过50 MHz时的测量。测量电容率和介质损耗因数可用替代法 也就是在接人试样和不接试样两种状态下，调节回路的一个臂使电桥平衡。通常回路采用西林电桥、变压器电桥(也就是互感藕合比例臂电桥)和并联 T型网络。变压器电桥的优点:采用保护电极不需任何外加附件或过多操作，就可采用保护电极 它没有其他网络的缺点。2 谐振法适用于10 kHz一几百MHz的频率范围内的测量。该方法为替代法测量，常用的是变电抗法。但该方法不适合采用保护电极。 注:典型的电桥和电路示例见附录。附录中所举的例子自然是不全面的，叙述电桥和侧量方法报导见有关文献和该种仪器的原理说明书。试验报告 试验报告中应给出下列相关内容: 绝缘材料的型号名称及种类、供货形式、取样方法、试样的形状及尺寸和取样 日期(并注明试样厚度和试样在与电极接触的表面进行处理的情况) 试样条件处理的方法和处理时间 电极装置类型，若有加在试样上的电极应注明其类型 测量仪器 试验时的温度和相对湿度以及试样的温度 施加的电压 施加的频率 相对电容率ε(平均值) 介质损耗因数 tans(平均值) 试验 日期 相对电容率和介质损耗因数值以及由它们计算得到的值如损耗指数和损耗角，必要时，应给出与温度和频率的关系。特点： ◎ 本公司创新的自动Q值保持技术，使测Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005 。◎ 能对固体绝缘材料在10kHz～120MHz介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。◎ 调谐回路残余电感值低至8nH，保证100MHz的(tanδ)和(ε)的误差较小。◎ 特制LCD屏菜单式显示多参数：Q值，测试频率，调谐状态等。◎ Q值量程自动/手动量程控制。◎ DPLL合成发生1kHz～60MHz, 50kHz～160MHz测试信号。独立信号 源输出口，所以本机又是一台合成信号源。◎ 测试装置符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。介质损耗：绝缘材料在电场作用下，由于介质电导和介质极化的滞后效应，在其内部引起的能量损耗。也叫介质损失，简称介损。在交变电场作用下，电介质内流过的电流相量和电压相量之间的夹角（功率因数角Φ）的余角δ称为介质损耗角。损耗因子也指耗损正切，是交流电被转化为热能的介电损耗（耗散的能量）的量度，一般情况下都期望耗损因子低些好概念：电介质在外电场作用下，其内部会有发热现象，这说明有部分电能已转化为热能耗散掉，电介质在电场作用下，在单位时间内因发热而消耗的能量称为电介质的损耗功率，或简称介质损耗（diclectric loss）。介质损耗是应用于交流电场中电介质的重要品质指标之一。介质损耗不但消耗了电能，而且使元件发热影响其正常工作。如果介电损耗较大，甚至会引起介质的过热而绝缘破坏，所以从这种意义上讲，介质损耗越小越好。主要技术特性：介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε)，可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。使用方法高频Q表是多用途的阻抗测量仪器，为了提高测量精度，除了使Q表测试回路本身残余参量尽可能地小，使耦合回路的频响尽可能地好之外，还要掌握正确的测试方法和残余参数修正方法。1．测试注意事项a．本仪器应水平安放；b．如果你需要较精确地测量，请接通电源后，预热30分钟；c．调节主调电容或主调电容数码开关时，当接近谐振点时请缓调；d．被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短，足够粗，并应接触良好、可靠，以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差；e．被测件不要直接搁在面板顶部，离顶部一公分以上，必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫；f．手不得靠近试件，以免人体感应影响造成测量误差，有屏蔽的试件，屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。2．高频线圈的Q值测量（基本测量法）介电常数介质损耗测试仪 VFD显示 采用新颖的大屏幕VFD点阵显示器，在严冬和盛夏都能清晰显示。全中文操作菜单，操作提示各种警告信息，直观明了，不需查阅说明书即可操作。打印 仪器附有微型打印机，以中文方式打印输出测量结果及状态。RS232 仪器具有RS232接口，与计算机连接便于数据的统计和处理及保存。可选购与计算机通信应用程序。硫化橡胶介电常数介质损耗测试仪 电介质的用途 电介质一般被用在两个不同的方面:用作电气回路元件的支撑，并且使元件对地绝缘及元件之间相互绝缘 用作电容器介质。 低频电桥 一般为高压电桥，这不仅是由于灵敏度的缘故，也因为在低频下正是高电压技术特别对电介质损耗关注的问题。电容臂和测量臂两者的阻抗大小在数量级上相差很多，结果，绝大部分电压都施加在电容Cx和 C}上，使电压分配不平衡 上面给出的电桥平衡条件只是当低压元件对高压元件屏蔽时才成立。同时，屏蔽必须接地，以保证平衡稳定。如图A. 2所示。屏蔽与使用被保护的电容 C、和 C、是一致的，这个保护对于Ch来说是必不可少的。 由于选择不同的接地方法，实际上形成了两类电桥。电极系统 1 加到试样上的电极 电极可选用 5.1.3中任意一种。如果不用保护环。而且试样上下的两个电极难以对齐时，其中一个电极应比另一个电极大些。已经加有电极的试样应放置在两个金属电极之间，这两个金属电极要比试样上的电极稍小些。对于平板形和圆柱形这两种不同电极结构的电容计算公式以及边缘电容近似计算的经验公式由表1给出. 对于介质损耗因数的测量，这种类型的电极在高频下不能满足要求，除非试样的表面和金属板都非常平整。图 1所示的电极系统也要求试样厚度均匀2 试样上不加电极 表面电导率很低的试样可以不加电极而将试样插人电极系统中测量，在这个电极系统中，试样的一侧或两侧有一个充满空气或液体的间隙。 平板电极或圆柱形电极结构的电容计算公式由表 3给出。 下面两种型式的电极装置特别合适2.1 空气填充测微计电极 当试样插人和不插人时，电容都能调节到同一个值 ，不需进行测量系统的电气校正就能测定电容率。电极系统中可包括保护电极.2.2 流体排出法 在电容率近似等于试样的电容率，而介质损耗因数可以忽略的一种液体内进行测量，这种测量与试样厚度测量的精度关系不大。当相继采用两种流体时，试样厚度和电极系统的尺寸可以从计算公式中消去 试样为与试验池电极直径相同的圆片，或对测微计电极来说，试样可以比电极小到足以使边缘效应忽略不计 在测微计电极中，为了忽略边缘效应，试样直径约比测微计电极直径小两倍的试样厚度。 原始包装：请保留所有的原始包装材料，如果机器必须回厂维修，请用原来的包装材料包装。并请先与制造厂的维修中心联络。送修时，请务必将全部的附件一起送回，请注明故障现象和原因。另外，请在包装上注明“易碎品”请小心搬运。安全注意事项：开机之前，敬请仔细阅读本 使用指南，以防止出现对操作人员的意外伤害或对仪器的损坏等的事件。操作前，请阅读“安装与设置”，保证对仪器各部件的正确安装与连接。在*次操作前，务必请有操作经验的人员进行指导，防止误操作造成意外事件的发生。电击危险： 确保在安装或维修该仪器之前使所有导线断电，防止在带电情况下，对人员或设备造成伤害。注意事项: 1、该仪器初始的包装材料需小心保存，安装需由本公司的专业技术人员进行操作。2、若仪器由于任何原因必须返修，必须将其装入原纸箱中以防运输途中损坏。3、在开机前，操作者要首先熟悉操作方法。电性能检测仪器：介电强度测试仪、体积表面电阻率测试仪、介电常数介质损耗测试仪、漏电起痕试验仪、耐电弧试验仪；塑料橡胶性能检测仪器：无转子硫化仪、门尼粘度试验机、热变形维卡温度测定仪、简支梁冲击试验机、毛细管流变仪、橡胶塑料滑动摩擦试验机物理性能检测仪器：氧指数测定仪、水平垂直燃烧试验机、熔体流动速率测定仪、低温脆性测试仪力学性能试验机：试验机北广其他检测海绵仪器：海绵泡沫压陷硬度测试仪、海绵泡沫落球回弹测试仪、海绵泡沫压缩变形试验仪另外我公司其他产品有：环境测试仪器、生物制药测试仪器、动物行为测试仪、环境监测试验仪

介电常数和介质损耗有什么区别 介电特性是电介质材料极其重要的性质。在实际应用中，电介质材料的介电系数和介质损耗是非常重要的参数。例如，制造电容器的材料要求介电系数尽量大，而介质损耗尽量小。相反地，制造仪表绝缘器件的材料则要求介电系数和介质损耗都尽量小。而在某些特殊情况下，则要求材料的介质损耗较大。所以，通过测定介电常数（ε)及介质损耗角正切（tgδ),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据1、介电常数（ε):某一电介质（如硅酸盐、高分子材料）组成的电容器在一定电压作用下所得到的电容量Cx与同样大小的介质为真空的电容器的电容量Co之比值，被称为该电介质材料的相对介电常数ε=Cx/Co式中：Cx一电容器两极板充满介质时的电容Co一电容器两极板为真空时的电容ε一电容器两极板为真空时的电容电容量增加的倍数，即相对介电常数 介电常数的大小表示该介质中空间电荷互相作用减弱的程度。作为高频绝缘材料，要小，特别是用于高压绝缘时。在制造高电容器时，则要求要大，特别是小型电容器。 在绝缘技术中，特别是选择绝缘材料或介质贮能材料时，都需要考虑电介质的介电常数。此外，由于介电常数取決于极化，而极化又取决于电介质的分子结构和分子运动的形式。所以，通过介电常数随电场强度、频率和温度变化规律的研究，还可以推断绝缘材料的分子结构。2、介电损耗（tgδ):指电介质材料在外电场作用下发热而损耗的那部分能量。在直流电场作用下，介质没有周期性损耗，基本上是稳态电流造成的损耗在交流电场作用下，介质损耗除了稳态电流损耗外，还有各种交流损耗。由于电场的频繁转向，电介质中的损耗要比直流电场作用时大许多（有时达到几千倍），因此介质损耗通常是指交流损耗。 在工程中，常将介电损耗用介质损耗角正切tgδ来表示。tgδ是绝缘体的无效消耗的能量对有效输入的比例，它表示材料在一周期内热功率损耗与贮存之比，是衠量材料损耗程度的物理量tgδ=1/ωRC 式中：ω一电源角频率；R一并联等效交流电阻；C 一并联等效交流电容器 凡是体积电阻率小的，其介电损耗就大。介质损耗对于用在高压装置高频设备，特别是用在高压、高频等地方的材料和器件具有特别重要的意义，介质损耗过大，不仅降低整机的性能，甚至会造成绝缘材料的热击穿3、Q值：tgδ的倒数称为品质因素，或称Q值。Q值大，介电损失小，说明品质好。所以在选用电介质前，必须先测定它们的和tgδ.而这两者的测定是分不开的。通常测量材料介电常数和介质损耗角正切的方法有二种：交流电桥法和Q表测量法，其中Q表测量法在测量时由于操作与计算比较简便而广泛采用。北京中航鼎力设备科技有限公司 可选 介电常数和介质损耗测试仪LJD-A型介电常数及介质损耗测试仪 10kHz～70MHz LJD-B型介电常数及介质损耗测试仪 10kHz～110MHz LJD-C型介电常数及介质损耗测试仪 100kHz～160MHz

介电击穿强度测试仪-ZJC-50kV主要技术要求：1、设备输入电压： 220V (普通试验室电源均可兼容)；2、试验电压方式： 交流 0--50 KV；直流 0--50 KV；3、电器容量：5KVA；4、试验方法：0-50KV全量程可调(采用高精度电压采样器）5、击穿及耐压试验升压速率：0.1 KV/S 0.2 KV/S0.5 KV/S1.5 KV/S2 KV/S2.5 KV/S3.0 KV/S(此项满足0新标准里面极快速升压试验要求)；6、试验方式：直流试验：1、匀速升压 2、阶梯升压 3、耐压试验交流试验：1、匀速升压 2、阶梯升压 3、耐压试验注：根据不同行业的标准，我们可以根据用户的要求，依据贵行业标准，为您定制行业标准所需的特殊测试功能。7、过电流保护装置应有足够灵敏度以保证试样击穿时在0.1S内切断电源。8、本仪器采用无触点原件匀速调压方式09、支持短时间内短路试验要求。10、电压测量误差： 1%。11、试验电压连续可调：0-50 KV12、耐压时间设定：0-6小时(可通过软件连续设定)。13、主机尺寸：约800mm*700mm*1300mm（长宽高）。14、主机重量：约100KG。15、九级安全防护措施： (1) 超压保护(2)试验过流保护 (3)试验短路保护(4)安全门开启保护(5)软件误操作保护(6)零电压复位保护(7)试验结束放电保护(8)独立保护接地(9)试验完成后电磁放电深入了解介电击穿强度测试仪-ZJC-50kV1、概述：?特点：所有的绝缘材料都只能在一定的电场强度下保持其绝缘特性，当电场强度超过一定限度时，绝缘材料便会瞬时失去绝缘特性，使整个设备破坏。?特征：介电强度是最基本的绝缘特性参数。?应用：不管是在电气产品的生产中，还是在使用中，都要经常做介电强度的试验。 1.1定义；1.1.1电气击穿；绝缘材料或结构，在电场作用下瞬间失去绝缘特性，造成电极间短路，称为电气击穿。1.1.2击穿电压、击穿场强；在试验或使用中，绝缘材料或结构发生击穿时所施加的电压，称为击穿电压；击穿点的场强称为击穿场强。 1.1.3介电强度；绝缘材料的介电强度是指材料能承受而不致遭到破坏的最高电场场强，对于平板试样1.1.4闪络、闪络电压；在气体或液体中，电极之间发生放电，当放电至少有一部分是沿着固体材料表面时，称为闪络。通常试样表面闪络后，还可以恢复绝缘特性。闪络时试样上施加的电压称为闪络电压。1.1.5击穿或闪络的判别：?试样上电压突然降落；?通过试样上的电流突然增大；?有时会发出光或声；?试样上有贯穿的小孔、裂纹以及碳化的痕迹； 1.2介电强度试验分类；1.2.1击穿试验： 在一定试验条件下，升高电压直到试样发生击穿为止，测得击穿场强或击穿电压，测量试样的介电强度，用来测量绝缘材料的介电强度。不能作为选定应用于工作场强的依据，而只能作为选用材料的参考。1.2.2耐电压试验： 在一定试验条件下，对试样施加一定电压，经历一定时间，若在此时间内试样不发生击穿，即认为试样是合格的。只能说明试样的介电强度不低于该试验电压的水平，但不能说明究竟有多高。对于电气设备使用，施加电压略高于工作电压，经历时间1min、5min或更长 1.3影响介电强度的因素；1.3.1电压波形：?直流、工频正弦以及冲击电压下击穿机理不同，击穿场强也不同?工频交流电压下的击穿场强低的多?根据使用条件及试验目的，选择电压或叠加电压1.3.2电压作用时间?电击穿所需时间短，小于微秒级?热击穿需要较长时间的热的积累，在直流或工频电压下，随着施加电压的时间增长，击穿电压明显下降。?施加电压时间很长时，由于试样内存在局部放电或其他原因，试样老化，降低击穿电压?有机材料，一般在小于几微秒和大于几秒时，击穿电压随时间增长而明显下降，在几微秒至几秒范围内，击穿电压变化不大 1.3.3电场的均匀性及电压的极性?材料的本征击穿场强是在均匀电场下测得的。但不均匀电场中，如电极边缘电场强度比较高，会首先出现局部放电，扩展到试样击穿，测得的击穿电压偏低?在不均匀电场下，直流和冲击电压的极性对击穿电压有明显的影响。由于空间电荷的效应改变了电极间介质的电场分布，从而影响了击穿电压。1.3.4试样的厚度与不均匀性?试样厚度增加，电极边缘电场就更不均匀，试样内部的热量更不容易散发，试样内部含有缺陷的几率增大，使得击穿场强下降?薄膜试样，厚度减小，电子碰撞电离的几率减小，也会使击穿场强提高?工业上绝缘材料含有杂质和缺陷，使得试样击穿场强降低?材料中残留的机械应力，使得击穿场强降低 1.3.5环境条件?温度升高，会使击穿场强下降。在材料的玻化温度范围，击穿场强下降明显，对于某些材料，在低温区可能出现相反的温度效应。?湿度增大，会使击穿场强下降。材料吸湿后会增大电导和介质损耗，会改变电场分布，从而影响击穿场强。?气压对击穿场强的影响，主要是对气体而言。气压高，电子在碰撞过程的自由行程就短，击穿场强会升高。但在接近真空时，由于碰撞的几率减少，也会使击穿场强升高，可用巴申曲线阐明 二、试样与电极：2.1均匀电场下击穿试验用的试样与电极?材料的本征介电强度，是以均匀电场下的击穿场强来表征的?为了能使试样的击穿发生在均匀的电场中，必须把试样做成各种型材。 2.1.1例行试验中用的试样与电极例行试验，不能要求试样击穿都发生在均匀电场中，试样的形状决定与材料原有的形状，试样的厚度，一般也决定于试样本身；?试样太厚，击穿电压超过试验变压器的额定电压，或表面闪络无法解决，可将试样削薄，并保持试样表面光洁；?试样太薄，如纸或薄膜材料，可多层叠加在一起，施加一定压力压紧；2.1.2试样厚度测量?均匀的厚度，沿通过击穿点的直径上测三点取平均值。?如果厚度不均匀，以击穿点的厚度计算击穿场强。2.1.3试样的面积试样的面积要比电极面积大，使之在击穿前不会发生闪络；?为节省材料，电极面积不能太大；?为暴露材料中存在的缺点，电极不能太小；?一般直径取25mm或50mm； 2.2试样要求：2.2.1试样的个数?击穿场强分散性较大，要多用一些试样；?工程材料的击穿场强很大程度上决定于存在的弱点；?击穿场强受很多因素的影响；2.2.2一般最少取5个?取平均值作为实验结果；?若有一个数值偏离平均值15%以上，必须再取5个试样； 2.3电极要求： 试样的正常化处理电极的要求?良好的导电、导热性能，由铜或不锈钢制成；?表面要平整光滑，使之与试样表面接触良好；?对称电极：电极边缘电场较均匀，但上下电极必须对准中心线； 2.4电极效应：电极边缘效应?空气a击穿场强比固体材料x低，场强 ?总是在电极边缘的空气中先出现局部放电，这种放电会腐蚀试样，会使试样的温度升高，最终导致试样在较低的电压下发生击穿电极效应消除措施消除办法：?电极的边缘要做成圆角；?将试样和电极浸入相对介电常数大、击穿场强比较高的液体媒质中，如变压器油，硅油；?采用的媒质若具有很高的相对介电常数或电导，必须注意由此而引起的测试回路电流增大、试验变压器过载、保护电阻上电压降增大以及媒质本身严重发热等问题。液体材料用的电极结构：?直径25mm、间距2.5mm、边缘曲率半径2mm；?电极表面应光滑，液面离电极的最高点距离不少于22mm，电极距容器的内壁最近处不少于13mm，两个电极的轴心要对准并保持在同一水平线上，两个电极的表面要保持平行；?容器与液体材料不会相互破坏，容器可使用电瓷或玻璃，电极用铜或不锈钢； 使用：?清洗、烘干，再用被测液体洗涤两次；?注入被测液体，不要混入杂质与水分；?注入被测液体后静止片刻，避免电极间有气泡； 三、工频电压下的介电强度试验?工频电源应用最广，且材料的工频击穿场强比直流和冲击电压下的都低，对于绝缘材料，通常都是做工频下的击穿试验。?绝缘材料的介电强度，一般都是指在工频下的介电强度。?电工设备的例行试验中，一般也是做工频耐压试验。 3.1工频耐压试验： 3.2升压方式定义： ?电压从零按照一定方式和速度上升到规定的试验电压或击穿电压；升压方式 ?快速升压、20s逐渐升压、 慢速升压、60s逐级升压、极慢速升压；快速升压?电压从零上升到击穿电压所经历的时间约为10~20s，常用500V/s；20s逐渐升压?电压逐级升高，每级停留20s；?第一级电压约为快速升压击穿值的40%的电压，在此电压下，经受20s，若试样不击穿，再加高一级，直至试样击穿为止；?升压过程要尽量快，升压的时间计算在下一级的20s之内；?击穿应发生在第级或更高的电压等级上，否则应降低第一级电压重新进行试验；?逐级加压比快速加压作用的时间长，测得的击穿电压比较低；慢速升压?从快速升压的击穿电压的20%开始，以较慢的速度升压，使击穿发生在120~240s内；60s逐级升压?与20s逐级升压类似，只是每级停留的时间为60s；极慢速升压?从快速升压击穿电压的40%开始，以极慢速的速度升压，使击穿发生在300~600s内。?升压速度慢，电压作用时间更长，测得的击穿电压更低，试验结果比较可靠。 3.3试验设备与装置试验系统：包括高压试验变压器、调压器，以及控制和保 护装置等。高压试验变压器?工频高电压一般都通过试验变压器升压获得。试验变压器要求；?具有足够的额定电压和容量；?输出的电压波形没有畸变；试验变压器的电压电压等级，根据试样的试验电压等级来选定：?绝缘材料50~100kV?绝缘结构1000kV试验变压器单台容量：?国内：750kV?国外：1000kV超过单台变压器额定电压，采用多台变压器串接以获得更高的试验电压。 高压试验变压器 调压器 测控卡3.3.1试验变压器的串接?串接的级数增加，输出的电压增高，但设备的利用率降低，而且内阻抗增大，因此也不宜采用过多的级数，目前最多的是采用三级串接。?对于电容较大的试样，可以通过串联谐振回路获得比试验变压器更高的电压。 3.3.2串联谐振?谐振回路中，电抗器上的电压与试样上的电压大小相等，相位相反；?当试验电压很高时，要制作单台高压调谐电抗器是不经济的，可将调谐电感接在调谐变压器的低压侧，组成一台高压调谐电抗器，并可将多台这样的电抗器串接起来，使之能够承受超高压试验电压；?串联谐振回路，不但能提高试验电压，而且电压波形好，又比较安全。 3.3.3变压器的容量试样都是容性阻抗。试验变压器的容量，可以根据试样在试验电压下通过的容性电流来计算 ?一般试样电容为几十到几百pF，击穿电压不超过100kV，选择容量为10kVA；?电工设备耐压试验变压器容量一般要大一些，高压侧电流为1A或更大；?对于电容量特别大的试样，必须采用电抗器与试样并联，补偿容性电流，以减小变压器的容量；?采用超低频正弦电压对大容量试样做耐压试验，可以大大降低变压器的容量。3.3.4电压波形工频电压的波形应为正弦波，正弦波的峰值与有效值之比称为波形因数。要求波形因数不超过 波形畸变会影响介电强度的试验结果?高次谐波会降低击穿场强；?试样的击穿是决定于电压的峰值，而一般测量电压的仪表都是测量有效值；?波形畸变，同一峰值的电压测得有效值不同；产生波形畸变的原因?电源本身有3次或5次高次谐波；?变压器的非线性激磁电流：激磁电流决定于磁化曲线（非线性）； 改善电压波形?在调压器和试验变压器之间接入滤波器，电感与电容根据滤波频率选择电容不宜太小，以免调压器过载。?电网中常为3次谐波，线电压不含3次谐波，调压器一次侧接线电压。 3.3.5调压器自耦调压器结构?铁心上只绕一个线圈?线圈的两端为一次侧，接电源?一次侧与二次侧有一个公共连接端头，必须接中线或接地?二次侧另一头为滑动触点，触点与公共端距离增大时，电压升高优缺点?结构简单、体积小、漏抗小、价格便宜?输出电流较大时，触点在移动过程中会因接触不好而出现火花。适用?容量为几千伏安以下，油浸式的容量可达几十千伏安。3.3.6移圈调压器(容量大的调压器均采用)结构?由三个线圈套在一个铁心上组成?I和II匝数相等，绕向相反，串接?III为短路线圈，紧套在I、II外边原理?靠移动短路线圈改变其他两个线圈的漏磁通?改变I、II上的电压分配实现调节输出电压?III从低位置向高位置移动，输出电压逐步升高特点?靠电磁耦合而不用机械触点，因此调压过程?不会出现火花，容量可以做的很大?漏抗比较大，使用中应注意畸变 3.3.7控制线路应满足要求?只有在实验人员撤离高压试验区，并关好安全门(S1限位开关)，才能加上电压进行试验?升压必须从零开始(S2零限位)，以一定方式和速度上升?在试样发生击穿时，能自动切断电源(KA1过载释放器)。在自动控制线路中，能自动使电压下降到0。 3.3.8保护球隙 4.1保护和接地?在控制回路中采用过载释放器、安全门开关、调压器限位开关?低压部分可能出现高电压的各点，都要接上放电间隙?高压测试回路中接保护电阻，限制试样击穿或闪络时流过变压器的电流并使变压器高压端点位变化缓慢，以改善由此产生的脉冲在高压绕组间的分布和消除可能出现的振荡，并保护测量铜球和电极在击穿时不会烧坏。?试样击穿或间隙放电，将有很大的电流流过接地线。接地电阻过大会显著升高接地线的电位。各接地点与接地体的连接线应采用尽量短的多股线，以减小电阻和电感。?高压试验区应装有保护围栏，围栏的入口处应装有联锁开关和信号灯，并备有接地棒。4.1.2工频高电压的测量测量方法直接测量试样两端的电压；?静电电压表、球隙放电测量法等；把高电压变换为低电压进行测量；?分压器、电压互感器等；通过测量变压器低压绕组或特别绕制的测量绕组的电压换算高压端的电压；要求?测量误差不超过3%；?测量用仪表一般要求为0.5级；4.1.3静电电压表?由两个极板组成，一个极板固定，一个由弹簧连接，可以移动；?通过极板间受力的大小，可以测定极板间的电压，但分度是非线性的； ?内阻很大，决定于电极间的绝缘电阻；?电容很小，约5~50pF；?交流电压下测得的是有效值；?目前最高电压等级为500kV；?依靠电场力工作，因此空间电场、电荷对它的影响很明显，在使用中应予以注意； 4.1.4球隙测量法◆在确定条件下，球隙间空气的放电电压与球隙的距离有一定的关系，◆利用球隙放电时的距离来测量电压需满足条件?保证球隙间电场均匀?球隙中的空气要符合规定的标准状态◆测量时，先让球隙放电几次，当放电比较稳定后重复测3次，每次间隔不少于1min，取3次试验平均值◆GB311-64规定：在工频下测得的是电压峰值◆测量结果可靠，但装置占地面积较大，测量比较麻烦，一般只用于校准其他测试仪器。4.1.5互感器测量法◆电压互感器是变比和角差都很精确的降压变压器，它将高电压变换为低电压进行测量。◆电压互感器的电压比k为已知，则在二次侧测得的电压乘以k就得到一次侧的高电压值◆测量方法非常方便、可靠，在电网上普遍应用，但造价比较高电压互感器 4.1.6分压器法◆分压器由一个高阻抗与低阻抗串接而成。◆被测的高电压绝大部分降落在高阻抗上，可以从低阻抗两端测得低电压，通过分压比换算得到被测的高电压◆对于工频交流电压?电压较低时，用电阻分压器?电压很高时，电阻分压器功率损耗大，发热严重，同时体积大、分布电容的影响严重，采用电容分压器更合适。分压器测量原理图 4.1.7测量绕组法◆试验变压器本身带有测量绕组?测量绕组与高压绕组匝数比为k1，则高压端电压U2=此绕组电压U1*k1◆试验变压器的低压绕组?低压侧电压*高低压绕组匝数比?高低压侧电压不完全决定于匝数比，准确度比测量绕组的低测量线路图 测量误差◆绕组法测得高压端开路电压◆试验回路接试样，试样两端电压由试样电容，保护电阻及变压器内阻抗决定。?UL较大，Ur较小时，可能使测量值小于实际试样上承受电压值?UL很小，Ur较大时，可能出现测量值偏大?测量误差随着试样电容量的改变而变化

产品综述 4957B/D/E/F射频/微波综合测试仪频率范围可达6.5GHz/18GHz/26.5GHz/40GHz，集双端口矢量网络分析、电缆和天馈线测试、矢量电压测量、频谱分析（通道功率、邻道功率、占用带宽、干扰分析、频率计数）、场强测量、功率测量等多项功能于一体，为您提供强大的综合测试能力！双端口矢量网络分析：可快速准确地对射频微波网络参数进行测量，提供对数、线性、相位、群延时、Smith圆图、极坐标、驻波比等多种显示格式，且提供时域测量选件。电缆和天馈线测试：可实现对天馈线、传输线、电缆等射频微波网络的驻波比、回波损耗、阻抗、电缆损耗等参数进行测量，具有不连续点定位（DTF）功能，可方便地测量馈线、电缆中的阻抗不连续点。矢量电压测量：采用一体化方案代替传统的矢量电压计，可对电缆及其他一些被测件的电长度进行测试。频谱分析：可对电磁环境下频谱特性进行测量，是一台标准功能的频谱分析仪。 场强测量：用户界面友好、测试灵敏度高，配合相应的测试天线，可有效监视电磁波谱，广泛应用于空间电磁环境监测和无线电管理。 功率测量：配置USB功率探头，可实现大动态范围、高精度功率测量，也可通过频谱输入口进行功率监测。主要特点测试功能丰富：天馈线测试、矢量网络分析、频谱分析、场强测量、功率监测、矢量电压测量、USB功率测量等体积小、重量轻、三级环境适应性，便于机动携带和特殊场合测试8.4寸液晶触摸屏，操作简便，人机界面友好，结果显示直观测试数据可存储调用，提供三种存储介质：内部存储器、USB外部存储器、SD外部存储器可电池供电，适合野外使用，智能电源管理，具有剩余电量指示和低电量告警功能，具有休眠节能功能具有八个独立光标显示功能，光标位置可随手指滑动具有数据存储、回放和比较功能具有USB、LAN等接口，可实现程控和数据传输网络分析：4957B/D/E/F射频/微波综合测试仪系列网络分析频率范围为30kHz~6.5GHz/18GHz/26.5GHz、50MHz~40GHz，提供标准的S参数矢量网络分析测量能力，可进行放大器、滤波器、衰减器、双工器等器部件S参数测试，显示格式包括对数、线性、相位、群延时、Smith圆图、极坐标、驻波比等。频谱分析：4957B/D/E/F射频/微波综合测试仪系列频谱分析功能（频谱分析、通道功率、占用带宽、邻道功率比、频率计数）频率范围为9kHz~6.5GHz、100kHz~18GHz/26.5GHz/40GHz，具有频率范围覆盖宽、灵敏度高、动态范围大、相位噪声好等特点，可实现快速、高效的信号侦测和测量。可同时显示3条迹线，并且有标准、取样、正峰值、负峰值、均值等不同的检波器模式选择。具有干扰分析、频谱图、瀑布图、数据记录和回放功能。电缆和天馈线测试（选件）：4957B/D/E/F射频/微波综合测试仪作为电缆和天馈线测试仪能够对电缆、馈线等被测件的回波损耗、电压驻波比、阻抗、电缆损耗、故障点距离进行测量，回波损耗和故障点距离测量将帮助您确定天馈线系统中导致系统性能下降的具体原因。内置一些常用电缆、馈线参数，方便使用。矢量电压测量（选件）：4957B/D/E/F射频/微波综合测试仪系列矢量电压测量频率范围为30kHz~6.5GHz/18GHz/26.5GHz、50MHz~40GHz，可对被测件的电长度和相移进行匹配测量，可进行反射和传输测试。USB功率测量(选件)：4957B/D/E/F射频/微波综合测试仪系列可通过选用电科思仪872XX系列USB连续波/峰值功率探头进行功率测量，可以测试频率高达40GHz的射频/微波功率。功率监测(选件)：4957B/D/E/F射频/微波综合测试仪也可通过频谱输入口进行功率监测测量，频率范围10MHz~6.5GHz/18GHz/26.5GHz/40GHz。场强测量（选件）：4957B/D/E/F射频/微波综合测试仪系列配合相应的测试天线还可进行场强测量，广泛应用于空间电磁环境监测和无线电管理。支持用户天线，允许用户定义自己的天线。支持列表扫描频谱分析、天馈线测试、网络分析等除频率扫描外，还都支持列表扫描方式，各个段内参数相互独立。支持上下极限线频谱分析、天馈线测试、网络分析都支持极限线测试。极限线可以作为一个可视的参考，也可作为PASS/FAIL判断的依据，如果测试数据超过上极限线或者低于下极限线，扬声器将发出“滴”的声音来提醒用户数据已经超差。中英文菜单，易使用机内提供中英文两种菜单，一键切换，非常方便。休眠节能功能具有休眠节电功能，休眠时间可设置，休眠功能开启时，若在一定时间没有操作，会自动关闭显示或关机，节省电能，有效延长电池工作时间和电池使用寿命。更多的光标数提供多达8个独立的光标，可显示光标所在位置的参数，也可进行最大、最小或峰值的搜索，每个光标都提供△模式，使测试读数更加容易。另外显示屏左侧的标尺可方便对测试结果的好坏进行判断。U盘自动软件升级4957B/D/E/F提供可用于软件升级及数据备份的USB接口，您可以方便地利用U盘对仪器进行软件升级及维护，只需几步操作，简单快捷，升级完毕重启仪器即可。典型应用 4957B/D/E/F射频/微波综合测试仪系列体积小、重量轻、携带方便，测试参数多，测试功能全面，非常适合多参数测试场合，可电池供电，是各种微波电子设备现场工程安装、调试、日常维护维修的有力工具，可广泛运用于雷达、通信、广播电视、无线电管理等各领域，也是高校教学的选择。雷达主要性能参数测试作为功能齐全的综合测试仪，4957B/D/E/F在高达6.5GHz/18GHz/26.5GHz/40GHz频率可完成雷达天馈、发射和接收等分系统的主要性能参数测试，包括天馈分系统的驻波比、反射系数、插入损耗、回波损耗和阻抗特性等，发射分系统的发射信号频率、频谱特性等，接收分系统的中心频率、增益、差损、带宽、动态范围等。有线电视、无线通信等领域多参数测试有线电视、蜂窝电话系统、数字移动通信运营商和设备制造商等利用4957B/D/E/F在现场对频谱分布、天馈线接触性能、器部件的S参数、馈通功率等进行一体化测试。

在交变电场作用下，电位移D与电场强度E均变为复数矢量，此时介电常数也变成复数，其虚部就表示了电介质中能量损耗的大小。D，E，J之间的相位关系图D，E，J之间的相位关系图如图所示，从电路观点来看，电介质中的电流密度为J=dD/dt=d（εE）/dt=Jτ+iJe式中Jτ与E同相位。称为有功电流密度，导致能量损耗；Je，相比较E超前90°，称为无功电流密度。定义tanδ=Jτ/Je=ε〞/εˊ式中，δ称为损耗角，tanδ称为损耗角正切值。损耗角正切表示为获得给定的存储电荷要消耗的能量的大小，是电介质作为绝缘材料使用时的重要评价参数。为了减少介质损耗，希望材料具有较小的介电常数和更小的损耗角正切。损耗因素的倒数Q=（tanδ）-1在高频绝缘应用条件下称为电介质的品质因素，希望它的值要高。工程材料：离子晶体的损耗，离子晶体的介质损耗与其结构的紧密程度有关。紧密结构的晶体离子都排列很有规则，键强度比较大，如α-Al2O3、镁橄榄石晶体等，在外电场作用下很难发生离子松弛极化，只有电子式和离子式的位移极化，所以无极化损耗，仅有的一点损耗是由漏导引起的（包括本质电导和少量杂质引起的杂质电导）。这类晶体的介质损耗功率与频率无关，损耗角正切随频率的升高而降低。因此，以这类晶体为主晶相的陶瓷往往用在高频场合。如刚玉瓷、滑石瓷、金红石瓷、镁橄榄石瓷等结构松散的离子晶体，如莫来石（3Al2O32SiO2）、董青石（2MgO2Al2O35SiO2）等，其内部有较大的空隙或晶格畸变，含有缺陷和较多的杂质，离子的活动范围扩大。在外电场作用下，晶体中的弱联系离子有可能贯穿电极运动，产生电导打耗。弱联系离子也可能在一定范围内来回运动，形成热离子松弛，出现极化损耗。所以这类晶体的介质损耗较大，由这类品体作主晶相的陶瓷材料不适用于高频，只能应用于低频场合。玻璃的损耗复杂玻璃中的介质损耗主要包括三个部分：电导耗、松弛损耗和结构损耗。哪一种损耗占优势，取决于外界因素温度和电场频率。高频和高温下，电导损耗占优势：在高频下，主要的是由弱联系离子在有限范围内移动造成的松弛损耗：在高频和低温下，主要是结构损耗，其损耗机理目前还不清楚，可能与结构的紧密程度有关。般来说，简单玻璃的损耗是很小的，这是因为简单玻璃中的“分子”接近规则的排列，结构紧密，没有弱联系的松弛离子。在纯玻璃中加人碱金属化物后。介质损耗大大增加，并且随着加人量的增大按指数规律增大。这是因为碱性氧化物进人玻璃的点阵结构后，使离子所在处点阵受到破坏，结构变得松散，离子活动性增大，造成电导损耗和松弛损耗增加。

移动通信恒温恒湿测试设备 移动电话恒温恒湿试验箱主要用于对电工、电子产品，元器件、零部件、金属材料及其材料在模拟高温、低温、湿热的气候条件下，对产品的物理以及其它相关性能进行测试。测试后，通过鉴定来判断产品的性能是否能够达到要求，以便供产品的设计、改进、鉴定及出厂检验使用。型 号AP-HX-100AP-HX-150AP-HX-2250AP-HX-400AP-HX-500AP-HX-800AP-HX-1000工作室尺寸（mm）深4005005006007008001000宽50060060080080010001000高50050075085090010001000外形尺寸（mm）深900100011001200135013001500宽1000110012001350140015001500高16501650180019002000021002100温度范围0~+150℃-20~+150℃-40~+150℃-65~+150℃降温速率1~5℃/min湿度范围20~98%RH温度偏差±2℃温度波动度±0.5℃湿度偏差≤±3%R.H(相对湿度＞75%R.H时) ；≤±5%R.H(相对湿度≤75%R.H时)湿度均匀度±2%RH箱体外箱材质SUS304发纹不锈钢板箱体内箱材质SUS304镜面不锈钢板观察窗350*280mm，导电，自动除雾除霜引线孔￠50mm，1个控制器进口温湿度控制器，LED显示感应器PT100，白金感应储水箱内置式水箱保护装置超压、漏电、缺水、缺相、超温电源(V)380总功率(KW)视低温而定符合标准GB2423.1-2008、GB2423.2-2008、GB2423.3-2006、GB2423.4-2008、GB105861、GJB150.3-1986、GJB150.4-1986、GJB150.9-1986

概述：ZJD-B介质损耗因数测试仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机控制仪器，测量核心采用了频率数字锁定、标准频率测试点自动设定、谐振点自动搜索、Q值量程自动转换、数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至0低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量时更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。 ZJD-B介质损耗因数测试仪是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据。适用领域： ZJD-B介质损耗因数测试仪器可以用于科研机关，学校，例如一些科研院所，大专院校或计量测试部门的实验室需要用介电常数测试仪对绝缘材料的介电常数进行测试；同时也适用于工厂或单位，例如一些工厂对无机非金属新材料性能的应用进行研究，另外在电力、电工、化工等领域，如：电厂、电业局实验所、变压器厂、电容器厂、绝缘材料厂、炼油厂等单位对固体及液体绝缘材料的介质损耗和相对介电常数ε的质量检测等等。技术参数：信号源频率范围：DDS数字合成 10KHz-70MHzQ测量范围：1-1000自动/手动量程信号源频率覆盖比：6000:1Q分辨率： 4位有效数,分辨率0.1信号源频率精度：3×10-5 ±1个字,6位有效数Q测量工作误差：5%电感测量范围：15nH-8.4H,4位有效数,分辨率0.1nH调谐电容：主电容30-500PF电感测量误差：5%调谐电容误差和分辨率：±1.5P或1%标准测量频点：全波段任意频率下均可测试Q合格预置范围：5-1000声光提示谐振点搜索：自动扫描Q量程切换：自动/手动谐振指针：LCD显示LCD显示参数：F,L,C,Q,波段等夹具工作特性1.平板电容器：极片尺寸：Φ50mm/Φ38mm可选极片间距可调范围：≥15mm2. 夹具插头间距：25mm±0.01mm3. 夹具损耗正切值：≤4×10－4 （1MHz）4．测微杆分辨率：0.001mm介电常数与耗散因数间的关系 介电常数又称电容率或相对电容率， 是表征电介质或绝缘材料电 性能的一个重要数据，常用 ε 表示。 介质在外加电场时会产生感应 电荷而削弱电场，原外加电场(真空中)与最终介质中电场比值即为介 电常数。其表示电介质在电场中贮存静电能的相对能力， 例如一个电 容板中充入介电常数为 ε 的物质后可使其电容变大 ε 倍。介电常数愈 小绝缘性愈好。如果有高介电常数的材料放在电场中， 场的强度会在 电介质内有可观的下降。介电常数还用来表示介质的极化程度， 宏观 的介电常数的大小， 反应了微观的极化现象的强弱。气体电介质的极 化现象比较弱，各种气体的相对介电常数都接近1 ，液体、固体的介 电常数则各不相同，而且介电常数还与温度、电源频率有关有些物质介电常数具有复数形式， 其实部即为介电常数， 虚数部 分常称为耗散因数。通常将耗散因数与介电常数之比称作耗散角正切， 其可表示材料 与微波的耦合能力， 耗散角正切值越大， 材料与微波的耦合能力就越 强。例如当电磁波穿过电解质时，波的速度被减小，波长也变短了。介质损耗是指置于交流电场中的介质， 以内部发热的形式表现出 来的能量损耗。介质损耗角是指对介质施加交流电压时， 介质内部流 过的电流相量与电压向量之间的夹角的余角。介质损耗角正切是对电 介质施加正弦波电压时， 外施电压与相同频率的电流之间相角的余角 δ 的正切值--tg δ. 其物理意义是：每个周期内介质损耗的能量//每个周期内介质存储的能量。介电损耗角正切常用来表征介质的介电损耗。介电损耗是指电 介质在交变电场中, 由于消耗部分电能而使电介质本身发热的现象。 原因是电介质中含有能导电的载流子,在外加电场作用下,产生导电电 流,消耗掉一部分电能,转为热能。任何电介质在电场作用下都有能量损耗，包括由电导引起的损耗和由某些极化过程引起的损耗。用 tg δ作为综合反应介质损耗特性优劣的指标， 其是一个仅仅取 决于材料本身的损耗特征而与其他因素无关的物理量， tgδ的增大意 味着介质绝缘性能变差， 实践中通常通过测量 tgδ来判断设备绝缘性 能的好坏。由于介电损耗的作用电解质在交变电场作用下将长生热量， 这些 热会使电介质升温并可能引起热击穿， 因此， 在绝缘技术中， 特别是 当绝缘材料用于高电场强度或高频的场合，应尽量采用介质损耗因 数， 即电介质损耗角正切 tgδ较低的材料。但是， 电介质损耗也可用 作一种电加热手段，即利用高频电场（一般为0.3--300兆赫兹）对介 电常数大的材料（如木材、纸张、陶瓷等） 进行加热。这种加热由于 热量产生在介质内部， 比外部加热速度更快、热效率更高， 而且热均 匀。频率高于300兆赫时，达到微波波段，即为微波加热（家用微波 炉即据此原理）。在绝缘设计时， 必须注意材料的 tgδ值。若 tgδ过大则会引起严 重发热，使绝缘材料加速老化，甚至导致热击穿。一下例举一些材料的 ε 值：石英-----3.8绝缘陶瓷-----6.0纸------70有机玻璃------2.63 PE-------2.3PVC--------3.8高分子材料的 ε 由主链中的键的性能和排列决定分子结构极性越强， ε 和 tg δ越大。非极性材料的极化程度较小， ε 和 tg δ都较小。当电介质用在不同场合时对介电常数与耗散因素的大小有不同 的要求。做电容介质时 ε 大、 tg δ小；对航空航天材料而言， ε 要小 tg δ要大。另外要注意材料的极性越强受湿度的影响越明显。主要原因是高 湿的作用使水分子扩散到高分子的分子之间， 使其极性增强； 同时潮 湿的空气作用于塑料表面， 几乎在几分钟内就使介质的表面形成一层 水膜， 它具有离子性质， 能增加表面电导， 因此使材料的介电常数和 介质损耗角正切 tgδ都随之增大。故在具体应用时应注意电介质的周 围环境。电介质在现代生活中经常被用到， 而介电常数与耗散因素是电介 质的两个重要参数， 根据不同的要求， 应当选用具有不用介电常数与 耗散因数的材料， 以达到最佳的效果。同时还应当注意外界因素对介 电常数与耗散因数的影响。

适用范围：註射器滑动性能测试仪完全满足 GB 15810-2019“一次性使用wu菌註射器" 新标准中附录 F 滑动性能测试方法，YBB00152004-2015《笔式註射器用氯化丁基橡胶活塞和垫片》YBB00162004-2015 《笔式註射器用溴化丁基橡胶活塞和垫片》 YBB00112004-2015《预灌封註射器组合件(带符合ISO7886《一次性使用wu菌註射器》等相关标准试验要求。本仪器可通过更换工装进行 GB 15811-2016 附录 B 注射针刺穿力试验和评价方法。测试原理将样品安装在连接有测量装置的驱动机构上，选择註射器的公称容量、实时显示启始力、平均力、回推zui大力、回推zui小力及芯杆移动和力的纪录图，设备自动获得测试结果，并判别合格与否。技术特点：仪器操作简单，连接方便，连接被测件后只需一键操作便能完成测试，提高检测效率。操作系统选用工业级 PLC，数据处理高效准确，能够支持灵活自由的参数设置和实验数据存储。控制终端采用高亮度彩色中文触摸屏操作，操作界面友好，简洁易懂。仪器配备註射器专用固定组件，使被测件连接更加方便，能够配套连接绝大多数被测件样品，使设备适用范围更加广泛。核心部件全部选用zhi名品牌yuan装进口部件，检测精度和重复精度更高。仪器有良好的保护功能，在检测数据超限时自动启动保护功能，防止误操作给设备造成损伤，同时降低了检验人员的操作难度。註射器滑动性能测试仪主要技术参数测试范围：1N~500N可预设 误差不大于±0.1N；测试速度：1~500mm/min，精度±5mm/min；公称容量：1mL~60mL 任意选择。

5G移动通信基站电磁辐射环境监测综合解决方案产品特征：专 业的5G基站环境智能监测方案，一键即达测试面向标准《HJ1151-2020 5G移动通信基站电磁辐射环境监测方法(试行)》的测试应用内置GB8702、ICNIRP等诸多国内外标准限值，满足国内、国际标准，测量结果可以直接通过标准限值的百分比进行显示探 头采用全球公认的计量标准用于场强测量，测量不确定性指标是针对整个测量系统（包括天线、线缆和主机）支持自定义编辑、设置服务表可以将测量结果与运营商服务自动进行匹配开展一键测量（自动记忆频段如广播、TD-LTE、Wifi、5G… ）快速可靠的测量及结果显示，支持预定义测量任务、测量参数设置，自动进行测量适用于室外使用：人体工学设计，坚固耐用，防尘、防水，可更换充电锂电池，内置G P S 和语 音记录器探 头延长线内置专 业芯片用于补偿由于线缆带来的信号衰减，保证测试结果*确。特制探 头延长线缆、可替换备用电池、探 头支架、绝缘三脚架等丰富配件一应俱全，提供完善的规范测试服务方案配置方案：

北广精仪公司是一家专业从事检测仪器，自动化设备生产的高新科技企业公司“精细其表，精湛于内”是北广精仪一惯秉承的原则。其先进的设计风格，卓越的制造技术和完善的服务体系，为科研机构、大专院校，企业和质量检测机构提供1流的产品和优质的服务。北广精仪公司集软件设计、机械、力学、汽压、电子、电机以及研发、品保、生管、检测等专业人才，获取即时资讯，发展*的产品与服务。产品严格贯彻：ISO、AATCC、ASTM、DIN、EN、GB、BS、JIS、ANSI、UL、TAPPI、IEC、VDE等标准，广泛适用于：科研单位、质检机构、大专院校以及家具，纺织、玩具、橡胶、塑料、制鞋、皮革、包装、航空等产业，为材料开发、物性试验、教学研究、品质管理、进料检验等提供的数据。北广公司核心技术由北广公司严格组建 并有专业的仪器美工专注外观设计 从仪器的研发、生产、销售、售后等 完全承建高新企业体系 。并且研发更高端的试验控制仪器 控制方式完全升级 现研发的击穿仪、控制方式采用无线蓝牙shoufa技术 并且可选用 232 / USB/亚太局域网络端口现公司总资产达数千万元。拥有现代化设计开发技术和先进的生产设备。积力于多种高性能检测设备及非标自动化设备的生产和研制，其中本公司产品：绝缘材料检测仪器，海绵泡沫检测仪器，力学设备等质量已*国际进水平，并成功申请中国国家zhuan利。无需和任何大学合作 完全有自主研发的能力并多次参加世界仪器展览会与讨论会聚结精华注于研发北广精仪仪器设备有限公司，同时在香港、上海、广东、福建、重庆、北京、长沙等地为客户提供实验室整体解决方案，包括实验室的设计规划、仪器选型、安装、培训、保养、校正、对比测试、管理体系、认证等一站式技术服务。北广公司保持以发展与中国测试产业相适应的应用技术为主线，通过与产业界协调发展的方式提高本公司的竞争实力和技术含量。与此同时，本公司自成立以来，坚持走"研发生产"相结合的道路，借助国家工业研究院的理论知识和强劲的科研实力，在消化、吸收国际进生产技术的基础上，大胆创新、锐意改革、努力创造，开发出具有中国特色的新产品，为提高中国的科研及产品质量作出了应有的贡献。经营理念： 一、诚信待户 顾客至上 全心全意为顾客考虑，使顾客能切身感受到人性化的仪器。 二、检测 保质保量 检测是我们的责任 保质保量是我们对客户的郑重承诺 三、技术* 创新理念 储备1流的开发人才，引进技术，采用先进的设计理念，打造***精良的检测仪器。 北广产品广泛应用于国防、大专院校以及检测所等行业，本公司以技术的创新为企业的发展方向，以新型实用的产品引导客户的需求北广公司所供产品严格按照国家标准生产制造，严谨的制造环节确保每一台出厂仪器质量和性能的卓越，服务优质，质优价廉 橡胶击穿场强试验仪产品名称：橡胶击穿场强试验仪控制方式：PC/EPC可选满足标准：GB1408-2006 绝缘材料电气强度试验方法 GB/T1695-2005 硫化橡胶工频电压击穿强度和耐电压强度试验 GB/T3333 电缆纸工频电压击穿试验方法 HG/T 3330绝缘漆漆膜击穿强度测定法 GB12656 电容器纸工频电压击穿试验方法 ASTM D149 固体电绝缘材料在工业电源频率下的介电击穿电压和介电强度的试验方法.主要适用于固体绝缘材料，同时可测得 液体、粉体和不规则物体的击穿强度。自动整形 测试精度与固体一样***。同时测得工频交流电压与直流电压的击穿强度和耐压强度的测试 可设定梯度耐压的试验 使梯度时间自由调整。本仪器由pc控制，通过我公司自主研发的全新智能数字精密嵌入式西门子中央单元cpu系统与上位机软件控制两部分来完成，通过pc USB 串口获得数据传送数据可高达 3M/S是RS232串口无法比拟的 让上位机与下位机通讯无延迟使升压速率真正做到匀速、准确，并能够准确测出漏电电流的数据，电流实时采集。可实时绘制试验曲线，显示试验数据，判断准确，并可保存，分析，打印，修改试验数据。并且提取试验数据分色对比。人性化明显试验软件简介：此设备软件外观由专业的美工设计：人员管理：可添加多人同时使用此软件 不同人员设定不同密码 交叉使用互不干扰 （如一人使用可删除设定密码 直接进入软件）参数管理：高压保护可选、 耐压时间可选、 梯度步进可选 、漏电流和过压可选、灵敏的漏电压可选、漏电可选 、升压速度可自由设定（0-5kv 无极环入）试验结果可选 异地操作选定 、人机分离选定等结果调取：试验结果保存调取 、人员选定调去 、试验结果可根据客户要求操作整理 、支持5次以上彩线对比、自动整取添加试验数据。 产品优势西门子cpu中央单元处理器是目前采集精度高稳定的采集系统无线蓝牙控制摆脱距离困扰人机分离使用更加方便。双向电压电流干扰抑制技术 升级新软件 带自检功能 和预警提示功能 更增加电流电压双向判断支持无线安全控制！全新试验软件界面：试验平台：二、技术要求：01、输入电压： 交流 220 V02、输出电压： 交流 0--100 KV 直流 0—100 KV （全波型）03、电器容量： 10KVA04、高压分级： 0-10KV，0--50KV，0-100KV05、升压速率：0.1-10kv （备注：满足标准要求并可以根据用户需求设定不同的升压速率）06、试验方式： 直流试验：1、匀速升压 2、梯度升压 3、耐压试验 交流试验：1、匀速升压 2、梯度升压 3、耐压试验07、试验介质：空气，试验油08、安装灵敏度较高的过电流保护装置保证试样击穿时在0.05S内切断电源。09、仪器配备先进的故障报警系统 避免用户操作故障仪器发生危险。（上位机报警和下位机报警）10、支持短时间内短路试验要求。11、电压试验精度： ≤ 1％。12、试验电压连续可调： 0--100 KV。13、电流可采集到mA级 并且实现 实时采集。14、出具国家一级计量单位校准证书或出具客户指定计量单位的证书15、电源：220v±10%的单相交流电压和50Hz±1%的频率16、电流电压稳定度：外界电压波动10% （可选配我司配到电压保护器 额定波动电压30%）17、升压装置：采用先进的无触点原件匀速升压淘汰前款机械调压18、耐压时间：0-6H保持相对电压 （软件设定）19、击穿试样：试样击穿点 大小可调一般为1-5mm左右20、带有方便拆装的油浴槽（可根据客户需要，也可不要油浴槽）21、机箱材质：优质SUS304 不锈钢22、支持人机分离异地操作 开创国内控制机器新篇章23、控制方式：可选 PC /EPC24、通讯方式：采用全国****技术无线蓝牙控制，支持 232/USB/亚太区域网络端口三、安全保护：本机具有完善的安全防护措施：本实验仪电路保护控制：跳闸后电压自动回零1、超压保护2、试验过流保护3、试验短路保护4、安全试验门保护5、软件误操作保护6、零电压复位保护7、试验漏点保护8、独立接地保护9、试验结束放电保护10、设备故障报警保护四、设备主要配置设备标准配置01 试验主机 一台 （含滤波器）02 控制装置 一套03 试验电极 二套(国标1408.1)04 试验油箱 二只05 放电系统 一套06 控制系统 一套07 数据采集系统 一套08 试验软件 一套 光盘09 计算机 一套 品牌 可选 PC/EPC10 喷墨打印机 一台 品牌11 产品使用说明书 一份12 计量证书 一份13 产品合格证 一份此设备可分选：10kv 20kv 50kv 80kv 100kv 150kv BDJC-10KV-200KV电压击穿试验仪（介电击穿强度，固体绝缘材料电气介电强度试验机）BEST-121体积表面电阻率测定仪（可测试固体液体膏体粉末材料）BEST-19碳素材料电阻率测试仪BEST-300C电线电缆导体半导体材料电阻率测试仪M-200橡胶塑料滑动摩擦试验机（国标，非国标，可定制）GDAT-A介电常数介质损耗测试仪（可测试固体液体）GDAT-B学校专用介电常数介质损耗测试仪GDAT-C高频介电常数介质损耗测试仪GDAT-50HZ-100HZ工频介电常数介质损耗测试仪BDH-20KV绝缘材料耐电弧性能试验仪BRT-400Z熔体流动速率测定仪/熔融指数仪BMD-A计算机控制马丁耐热试验仪BDH-20KV 耐电弧测试仪BLD-600V 低压漏电起痕试验仪（可根据客户需要定制）

1.恒奥德仪器手持式场强仪 电视信号电平仪配件 HAD-110 HAD-110/110D场强仪是款用于模拟电视/数字电视建设和维护，测量电视信号电平和率电平的仪器，在CATV系统日常维护中有广泛应用。HAD-110/110D场强仪兼容模拟/数字频道，综合性能强；采用亮度背光作模式，液晶显示清晰明了，双频道测量显示，方便实用；设置数字键盘输入，应用操作简单； 是款体积小、重量轻便携式信号电平测量仪器，方便在不同的作坏境下测试。 场强仪能特点 1、适用于CATV系统维护测试的仪器 2、体积小、重量轻，方便携带 3、采用大容量锂电池，使用时间长 4、双频道测量显示，方便实用 5、C/N、V/A、斜率、干线电压测量 注意事项 1. 仪器使用电池为7.4V/800mAh锂电池，请在次使用前，对电池行充电，充电时间应不小于2小时。 对本机电池行充电，请使用本公司提供的充电器，否则，有可能成用户不要的损失。 仪器请勿在强电磁场环境中作，否则会成测量数值不准确。仪器的RF输入插座，输入电压（交流或直流）应不大于100V，否则会成仪器的损坏。 仪器设有自动关机能，如果三分钟无何按键操作将自动关闭电源。 1. 术标频率/频道标 频率范围：MHY-110 47MHz~870MHz MHY-110D 5MHz~870MHz 频道范围：中标准频道 DS1~DS56 中增补频道 Z1~Z43 中数字标准频道 DS1~DS56 中数字增补频道 Z1~Z43 频率度：±50*10E-6（20℃±5℃） 分辨率： 50KHz测量带宽：280KHz±50KHz 2.北京厂 新品自动停滴定仪/停滴定仪 型号：ZYT-2 、概述自动停滴定仪系按中药典2010版所要求的用作重氨化法则定标准而设计的新代自动停滴定仪,通过滴定分析，在检测药品含量时能准确示终点，本仪器特制的密计量泵，三通转换阀等液路份均采用特殊材料制成，可保证长期连续作。本仪器系统密封性良好，具有自动吸液，自动注液，自动测定能。容量滴定值有LED 数直接显示。仪器术，结构新颖，读数可靠，操作方便，测量准确性能可靠，是目前各化学实验室,药品检验所、院、制药厂行容量分析的种十分理想的测定仪器。 二、1.仪器滴定管容量:25ml2.仪器测量容量度:±0.2%3.化电压:50mV -100mV两 4.灵敏度1.5x10&A 1.5x10-A两档 5.门限值:60~80可调6.分辨率:0.01ml 3.新货供应浮游微生物采样器 型号：HAD-KM3 HAD-KM3手机小程序：可通过手机蓝牙远距离控制采样器，设置采样量采样点等参数，随时切换动、静态采样。 3.5寸清液晶触控屏幕，显示内容丰富，人性化菜单设置，操作界面简洁易懂。 程序循环采样：可实现100 小时内多99 次连续采样，满足多种采样要求 口电机组，流量准确稳定 内置效锂电池，9小时长使用时间,采样90000L 中文显示菜单，大屏幕LCD显示 误差范围：± 2% 等速采样设计：采集口风速与洁净室内风速基本致，能更准确地反映洁净室内的微生物浓度。优化了撞击速度(19.66m/s)，使假阳性结果得到控制，从而保证了微生物采集效率； 流 量：100L/分钟 度：33厘米 直 径：11厘米 重 量：2.6公斤 采样头：亮蓝色阳氧化铝合金，Φ0.6×300孔 适用培养皿直径：90mm 设定体积范围：10-6000升 充 电 器：110-240V,50-60Hz 4.经济型手持电阻真空计 真空计 手持式真空计 型号：HAD-ZKJ概述：采用皮拉尼专业真空传感器，可以测量真空度，实时监控真空系统的真空度。安操作说明：1. 在行测量时，应遵循使用操作说明，在说明书参数范围内使用本仪器。2. 3. 当电量不足时，应及时更换新电池，新旧电池，不同的电池不能混合使用，长时间不用时，应取出电池。4. 5. 不要使用腐蚀性清洁剂或溶剂清洁本仪器。6. 7. 戴好护目镜和防护手套8. 9. 干燥处存放10. 按键介绍：1. 开关 ：开机/关机2. 3. UNIT ：单位选择按键/设置模式时增加数值4. 5. SET: 长按入设定警报值模式6. 7. SAVE/CAL:设置模式时保存报警值/满度校准/8. 术参数：过载压力0.1M帕量程0-10000帕、0-100毫巴、0-75毫米汞柱、0-75000Micron分辨率0.01帕（小于10帕）测量度2-100帕（读数的±5%）操作温度0-50度电池寿命45小时（3节AA电池）单位帕、 毫巴、托、微米响应时间0.5秒接口KF16、M20X1.5、15.5直管传感器特制皮拉尼规自动关机时间10分钟背光时间20秒蜂鸣器90分贝重量约125克使用范围大气 5.新货供应手持式氨水数显浓度仪 氨水浓度仪 型号 HAD-AS3 手持式氨水数显浓度仪是基于折光原理开发的款便携式、性价比的浓度测量仪器。该产品与传统的滴定法相比测量更快速、更准确、结果更清晰，成本更低，并且能自动行温度补偿，可以非常方便地帮助各种类型终端用户检测出氨水浓度是否合格，以确保确稳定地控制好氨水浓度，达到使用艺要求，保证产品质量。 测量原理：从LED 发出的光线经过光导纤维从测试棱镜的侧入测试棱镜，并到达棱镜与氨水的接触面上，根据接触面处氨水折射率的不同，份光被反射到棱镜的另侧， 反射光的位置会因为临界角改变而改变（临界角会因为液体折射率不同而不同），线性阵列 CCD 用于确检测反射回来的光的位置，而每个位置对应着折射率。 参数 量程范围：0.0-30.0％ 测量度：±0.3％ 分辨率：0.1％ 测量温度范围：0-40℃（自带温度补偿） 测量时间：2 秒 样品量：＞0.2 毫升 外形尺寸：120*58*26mm 仪器净重：125g(包含电池） 供电方式：可充电锂电池 6.在线式氦气检测仪/固定式氦气测定仪 型号：HAD-17899HAD-17899业在线式氦气浓度分析仪，产品的主要能是将现场监测到的氦气气体浓度转换成标准信号然后集成到主机系统中。产品支持在线免停车数字自由组态。业在线式氦气浓度分析仪采用了的口大规模集成电路术、标准智能化术水准设计术及专有数字模拟混合通讯术而设计的智能化的气体检测仪。仪器主要从使用的传感器元器件，利用公司特地开发的多点校正的术，-30～+50℃温度补偿三管其下来达到提其度。，在防潮防的同时，又可以达到快速检测的优点。输出信号可选：模拟（ 4-20mA、0-5V）、数字信号（RS485、频率信号（频率范围可调）），多信号的选择方便客户搭配不同的主机系统。电路按本安型要求设计，外壳符合家防要求。仪器可以通过自我诊断得出当前设备运行状态，客户可远程对设备状态寄存器行读取，，及时行设备维修与维护。即插即用标准智能化传感器，现场维护方便。术参数产品名称：业在线式氦气浓度分析仪检测气体：氦气(He)检测原理：热导式原理检测方式：管道式，扩散式量程选择：0-5、10、20、50、99、100VOL检测分辨率：0.01%VOL（0-5、10%VOL） 0.1%VOL（0-50、99、100）测量度：±2%F.S温度补偿：带温度补偿（可选）。显示方式：清LCD液晶背光显示 。输出信号（可选如下种）：a、数字信号RS485+1继电器。b、模拟信号4～20mA+1继电器c、模拟信号0～5/10V+1继电器。d、频率信号+1继电器e、模拟信号+数字信号+1个继电器 7.经济型便携式悬浮物（污泥）浓度仪 便携式污泥浓度检测仪 型号：HAD-WN测量原理Principle： 便携式悬浮物（污泥）浓度仪由便携式主机以及传感器组成。该传感器基于激光散射光线法，可以连续确测定悬浮物（污泥浓度）。该散射光线术不受色度影响测定悬浮物（污泥浓度）值。 典型应用 Application广泛应用于污水处理、地表水、校、科研单位等域水质悬浮物的现场便携式监测主要特点 Features 便携式主机IP66防护等 人体学曲线设计，带有橡胶垫圈，适于手握操作，在潮湿环境中容易掌握 出厂标定，年无需校准，可现场标定； 数字化传感器，现场使用方便、快捷，和便携式主机实现即插即用。 带有USB接口，可以实现对内置电池充电. 测量范围0.1-20000 mg/L、0.1-45000 mg/L 、0.1-120000 mg/L（量程可选）测量度小于测量值的±5%（取决于污泥同质性）分辨率0.1mg/L校 准标液校准、水样校准外壳材料传感器：314L便携式主机外壳：ABS+PC作温度1到45℃尺 寸/重量手持主机：204*100*36mm 传感器D38*400 mm 4.0kg装箱尺寸355*255*100 mm 电缆长度标配3米电缆（可延长）数据存储8G数据存储空间 8.水中臭氧测定仪 型号：HAD-3260 产品介绍： 仪器采用单色冷光源，利用微电脑自动处理数据，直接显示水样的臭氧浓度值。广泛适用于饮用水、地表水、地面水、污水和业废水的测定。 术参数 1.测量范围：0.01-25mg/L 2..示值误差： ≤±5% 3.重复性 ：≤3% 4.光学稳定性：仪器吸光值在20min内漂移小于0.002A 5.外形尺寸：主机 266mm×200mm×130mm 6.重量： 1kg 7.正常使用条件： ⑴ 环境温度:5～40℃ ⑵ 相对湿度: ≤85% ⑶ 供电电源: AC(220±22)V；（50±0.5）Hz ⑷ 无显著的振动及电磁干扰，避免阳光直射。 9.石墨消解仪 型号：HAD-U20 商品简介：具有消解快速、效、节能、方便等优点，数字串口。用于环保、化、食品、药、生化等行业样品前处理，同时可用于微波消解的预处理和赶酸处理，是原子吸收、原子荧光、ICP-AES等分析仪器的理想配套产品。 温度范围：室温～400℃ 加热方式：纯石墨+PFA涂层监测度：±0.5℃ 率：1.6KW标准孔位配置：Ф30mm 深度50mm×20孔控制度：≤1℃ 温度显示：LED液晶，显示度0.1℃ 10便携式彩屏三合气体检测仪 型号HAD-3S ?便携式彩屏三合气体检测仪是款专注于检测空气中二氧化氮、氧化氮，氧气气体的便携式检测报警设备。它多可安装四种气体传感器它具有清晰的液晶显示屏及声、光、震动报警提示等能，可保证在恶劣的作环境下检测出气体的含量，并及时提示操作人员行预防。 小巧、轻便、坚固，三防包胶外壳 分辨率彩屏，数值实时显示 中文菜单，操作简单方便 26条大容量数据存储空间,数据分析处理电脑软件。 开机时可以对显示、电池、传感器、声光报警能行自检 出众的声、光报警提示能 可带数据存储（选配）： 1、大容量可存储数据空间，可存储26条数据 2、方便的连续、分段存储切换操作 3、数据分析上位软件 显示方式：彩色液晶屏显示 报警方式：声、光、震动报警 防标志：Ex ibdIICT3 检测方式：扩散式 电池：3.7V锂离子充电电池 直接读数：实时值、报警状态、电池电压 作温度：10~55°C 作湿度：5~90%RH 检测气体 量 程 度 小读数 响应时间 二氧化氮(NO2) 0-1000ppm ＜±5%(F.S) 1ppm ≤25秒 氧化氮（NO） 0-5000PPM ＜±5%(F.S) 1PPM ≤30秒 氧气（O2） 0-21%vol ＜±5%(F.S) 0.1%vol ≤15秒 　本公司主营 不锈钢采水器，弯曲测量装置，鼓风干燥箱，色度计，化学试剂沸点测试仪，提取仪，线缆探测仪，溶解氧测定仪，活性炭测定仪，磁导率仪，比浊仪，暗适应仪，旋转仪，酸度计，硅酸根测定仪，过氧化值测定仪，腐蚀率仪，电阻率测定仪，耐压测定仪，污泥比组测试仪，粉体密度测试仪，机械杂质测定仪，运动粘度测试仪，过氧化值酸价测定仪，噪声源，土壤腐蚀率仪，直流电阻测试仪，厌氧消化装置，耐压测试仪，甲醛检测仪，硅酸根测试仪，PH酸度计，测振仪，消解仪，读数仪，空气微生物采样器，，双波长扫描仪，涂层测厚仪，土壤粉碎机，钢化玻璃表面平整度测试仪，腐蚀率仪，凝固点测试仪，水质检测仪，涂层测厚仪，土壤粉碎机，气体采样泵，自动结晶点测试仪，凝固点测试仪，干簧管测试仪，恒温水浴箱，汽油根转，气体采样泵，钢化玻璃测试仪，水质检测仪，PM2.5测试仪，牛奶体细胞检测仪，氦气浓度检测仪，土壤水分电导率测试仪，场强仪，采集箱，透色比测定仪，毛细吸水时间测定仪，氧化还原电位计 测振仪，二氧化碳检测仪，CO2分析仪，示波谱仪，黏泥含量测试仪，汽车启动电源，自动电位滴定仪，，干簧管测试仪，电导率仪，TOC水质分析仪，微电脑可塑性测定仪，风向站，自动点样仪，便携式总磷测试仪，腐蚀率仪，恒温水浴箱，余氯检测仪，自由膨胀率仪，离心杯，混凝土饱和蒸汽压装置，颗粒强度测试仪，斯计，自动涂膜机，，气象站，动觉方位仪，，气味采集器，雨量计，四合气体分析仪，乳化液浓度计，溶解氧仪，温度测量仪，薄层铺板器，温度记录仪，老化仪，噪音检测仪，恒温恒湿箱，分体电阻率测试仪，初粘性和持粘性测试仪，红外二氧化碳分析仪，氢灯，动觉方位仪，冷却风机，油脂酸价检测仪，粘数测定仪，菌落计数器，气象站，雨量计，凯氏定氮仪，荧光增白剂，啤酒泡沫检测仪，发气性测试仪，低频信号发生器，油液质量检测仪，计数器，漏电流测试仪，标准测力仪，毛细吸水时间测定仪，大气采样器，流速仪，继电器保护测试仪，体积电阻率测试仪，侧面光检测仪，照度计，体化蒸馏仪，涂布机，恒温加热器，老化仪，烟气分析仪 注：页面价格只是配件价格或产品库存数量，并非产品价格 具体价格面议 以上参数资料与图片相对应

产品描述戴维斯电磁管测试仪The Davis Magnetic Tube Tester戴维斯电磁管测试仪适用于：测定从重介质过程中获得的产品中的磁性含量。测定从铁矿铁矿石工艺获得的产品中的磁性含量。该测试仪还用于从勘探计划中确定矿石样品中的磁性含量。戴维斯电磁管测试仪包括一个功能强大的电磁体，一个玻璃分离管和一个电机驱动的搅拌机构，该电磁体可产生高达4,000高斯的磁场强度。该管以大约45度的角度（角度可调）放置在磁体的磁极之间。产品描述在小型电动机运行期间，驱动搅拌机构，该搅拌机构支撑着装满水的玻璃管。管在同时旋转的同时向前和向后移动。管内产品样品中存在的任何磁性颗粒都被收集在强磁场区域。通过搅拌将强烈的洗涤作用施加到这些磁性体上。最终所有非磁性物质都从管中冲洗掉。然后可以使用干净的磁性浓缩物来确定百分比。Tube Tester不能像化学分析那样显示矿石的总铁含量。化学分析显示总铁含量，无论是磁性的还是非磁性的；因此无法真实反映出磁集中可以完成的工作。目录编号描述伏/相重量060A-001标准占空比测试仪，容量为10 gm，功率为230瓦115 V / 1相250磅060A-002标准占空比测试仪，容量为10 gm，功率为230瓦220 V / 1相/ 50Hz250磅标准设备：调速器控制的变速电动机，115 VDC变速电动机，控制箱，115 VAC输入，115 VDC输出磁铁开关10英尺的橡胶软管4挤压型软管夹2不锈钢锅1橡胶软管 1.将三英寸的挠性软管连接到管的排放端。这可以通过使用胶带来实现。2.夹紧软管的排放端。3.给管子注满水，使磁极被覆盖。4.打开磁铁。5.引入准确称量的粉碎样品（标准职责为10克）。6.用水洗涤，使整个样品呈浆状。7.将橡胶塞放在管子顶部。6.用水洗涤，使整个样品呈浆状。7.将橡胶塞放在管子顶部。8.松开排放软管的夹子，并调节水通过管的稳定流量。9.搅拌管。10.以恒定的速度搅拌，直到从管中冲洗出粘液或浑浊为止。磁性材料被吸引并固定在两个磁极之间的磁性区域中。建议记录搅拌时间和速度，以便如果要不断测试一种样品的质量，可以建立标准程序。11.停止搅拌。12.从管子顶部卸下橡胶塞。13.关闭水。14.将干净的锅放在管的排放端下方。15.关闭磁铁。16.将磁性物质清洗到锅中。17.干磁。18.称重并确定磁性百分比。

技术参数---------------------------------------------------------------------型号：BK-Y-800适用体积：≤80m3循环消毒风量：≥800m3/h 外形：移动式*外形尺寸：540mm*420mm*900mm 包装尺寸：580mm*490mm*960mm（纸壳）净重（kg）：19.5 毛重（kg）：22.5（纸箱）额定电压：AC 220V±22V 额定频率：50Hz±1Hz功率：≤350W 噪音：≤55dB(A) 紫外线灯管寿命：≥5000h*紫外线辐照强度（机内）：≥20000μW/cm2紫外线泄漏量：≤5μW/cm2动态消毒时空气中臭氧浓度：≤0.1mg/m3*负离子发生量：≥3×107个/cm3*过滤器：过滤 5μm 以上尘埃粒子适用环境：人在动态环境及静态环境（医院病区）*消毒后空气自然菌菌落数≤150cfu/m3 *白色葡萄球菌杀灭率≥99.95%安全防护分类：按电击防护分类本产品属于：II类、B型、普通设备技术参数---------------------------------------------------------------------型号：BK-Y-800适用体积：≤80m3循环消毒风量：≥800m3/h 外形：移动式*外形尺寸：540mm*420mm*900mm 包装尺寸：580mm*490mm*960mm（纸壳）净重（kg）：19.5 毛重（kg）：22.5（纸箱）额定电压：AC 220V±22V 额定频率：50Hz±1Hz功率：≤350W 噪音：≤55dB(A) 紫外线灯管寿命：≥5000h*紫外线辐照强度（机内）：≥20000μW/cm2紫外线泄漏量：≤5μW/cm2动态消毒时空气中臭氧浓度：≤0.1mg/m3*负离子发生量：≥3×107个/cm3*过滤器：过滤 5μm 以上尘埃粒子适用环境：人在动态环境及静态环境（医院病区）*消毒后空气自然菌菌落数≤150cfu/m3 *白色葡萄球菌杀灭率≥99.95%安全防护分类：按电击防护分类本产品属于：II类、B型、普通设备技术参数---------------------------------------------------------------------型号：BK-Y-1000-D适用体积：≤100m3循环消毒风量：≥1000m3/h 外形：移动式*外形尺寸：540mm*410mm*900mm 包装尺寸：580mm*490mm*960mm（纸壳）净重（kg）：26kg 毛重（kg）：28kg（纸箱）额定电压：AC 220V±22V 额定频率：50Hz±1Hz输入功率：≤170W等离子体密度：1.68x1016m-3-2.14x1016m-3臭氧残留量：≤0.033mg/m3负离子发生量：≥3×107个/cm3等离子发生器寿命：≥8000小时杀菌区电场强度：8000V，积尘区电场强度：4000V。气雾室细菌的杀灭率均大于99.9%，提供权威机构检测报告。自然菌平均消亡率大于90.00%，提供权威机构检测报告。杀菌净化原理：等离子体杀菌净化模块由等离子体杀菌区和等离子体积尘区组成，等离子体杀菌区富含电子、离子、激发态的原子、分子以及活性自由基等粒子，可有效杀灭空气中的各种细菌、病毒、真菌等病原微生物；等离子体积尘区可有效吸附经过杀菌区带上电荷的尘埃粒子。适用范围：适用与普通手术室、产房、血液病区、烧伤病区、保护性隔离病区、重症监护病区；消毒供应中心检查包装灭菌区和无菌物品存放区、重症透析中心；检查室、治疗室、感染性疾病诊室等。性能参数：可在有人状态下进行连续动态消毒。*采用单片微型计算机构成控制核心，人机交换更方便，附带时钟计时芯片，工作稳定可靠；*触感式超强红外线接受装置，可远距离控制遥控，任意45°轻松操作，内置隐藏式遥控器放置盒，防止遥控器丢失；控制面板，液晶中文显示屏。采用新型多功能等离子体模块，上下各有一个等离子体发生器，杀菌效率高，积尘效果好。实时监测室内空气温度。三挡可调风速供用户选择。手动、定时、临时工作模式方便用户操作。程控数量（定时消毒）6组。模块化设计，方便用户维护保养。运行时间自动累计功能。

HI-3604配件测量任何ELF磁场源所产生的磁场，包括单、多相电气电路，视频显示终端，家用电线，设施和输电线等。响应频率范围5-2000Hz磁场强度范围0.2mG-20 gauss全向探头，真有效值读数满足国际标准和瑞典测试标准

塑料材料介电常数测试仪介电系数增大，导电介质或极性杂质的存在，会增加高聚物的导电电流和极化率，因而使介电损耗增大，特别是对于非极性高聚物来说，杂质成了引起介电损耗的主要原因。3．实验环境条件如温度、湿度对测定结果的影响。塑料材料介电常数测试仪测试注意事项 a．本仪器应水平安放； b．如果你需要较精确地测量，请接通电源后，预热30分钟； c．调节主调电容或主调电容数码开关时，当接近谐振点时请缓调； d．被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短，足够粗，并应接触良好、可靠，以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差； e．被测件不要直接搁在面板顶部，离顶部一公分以上，必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫； f．手不得靠近试件，以免人体感应影响造成测量误差，有屏蔽的试件，屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。塑料材料介电常数测试仪试样的厚度如果大于3mm，为了测得他的介电常数，需要一个很高的电压，这样使得设备条件更加苛刻，实验环境也不安全。塑料材料介电常数测试仪使用方法高频Q表是多用途的阻抗测量仪器，为了提高测量精度，除了使Q表测试回路本身残余参量尽可能地小，使耦合回路的频响尽可能地好之外，还要掌握正确的测试方法和残余参数修正方法。1．测试注意事项a．本仪器应水平安放；b．如果你需要较精确地测量，请接通电源后，预热30分钟；c．调节主调电容或主调电容数码开关时，当接近谐振点时请缓调；d．被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短，足够粗，并应接触良好、可靠，以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差；e．被测件不要直接搁在面板顶部，离顶部一公分以上，必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫；f．手不得靠近试件，以免人体感应影响造成测量误差，有屏蔽的试件，屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。2．高频线圈的Q值测量（基本测量法）塑料材料介电常数测试仪温度的影响温度对松弛极化产生影响，因而P，ε和tgδ与温度关系很大。松弛极化随温度升高而增加，离子间易发生移动，松弛时间常数τ减小。（1）当温度很低时,τ较大,由德拜关系式可知,εr较小，tgδ也较小在此温度范围内，随温度上升，τ减小，εr、tgδ和PW上升。(2)当温度较高时，大于Tm，τ较小，此时在此温度范围内，随温度上升，τ减小，tgδ减小。PW主要决定于极化过程， PW也随温度上升而减小。（3）当温度继续升高，达到很大值时，离子热运动能量很大，离子在电场作用下的定向迁移受到热运动的阻碍，因而极化减弱，εr下降。电导损耗剧烈上升，tgδ也随温度上升急剧上升。湿度的影响介质吸潮后，介电常数会增加，但比电导的增加要慢，由于电导损耗增大以及松驰极化损耗增加，而使tgδ增大。对于极性电介质或多孔材料来说，这种影响特别突出，如，纸内水分含量从4％增加到10％时，其tgδ可增加100倍。 介电损耗的应用当绝缘材料用于高电场强度或高频的场合，应尽量采用介质损耗因数（即电介质损耗角正切tgδ，它是电介质损耗与该电介质无功功率之比）较低的材料。电介质损耗用作一种电加热手段，即利用高频电场（一般为0.3～300兆赫） 对电介质损耗大的材料（如木材、纸、陶瓷等）进行加热。频率高于 300兆赫时 ，达到微波波段 ，即为微波加热（ 家用微波炉即据此原理）。主要因素（1）与施加的电压和频率有关。一般在电压较低的情况下,进行介质损耗因数测量时电压对介质损耗因数没有明显的影响。但当试验电压提高时,因介质在高电压作用下产生了偶极转移,而引起电能的损失,则介质损耗因数值会有明显的增加。故介质损耗因数随电压的升高而增加,因此在测定时应按规定加到额定电压。介质损耗因数与施加电压的频率也有关,因为介质损失角正切值(tan 6 )的变化是频率的函数,即介质损失角随频率的改变而变化,故一般规定测量介质损耗因数时,采用50HZ的交流电压,这样规定也符合电气设备的实际使用情况。（2）温度对介质损耗因数的测量结果影响较大。因为介质的电导是随温度变化而改变的,所以当温度升高时,介质的电导随之增大,泄漏电流也会增大，故介质损耗因数也增大。(3)水分对介质损耗因数的影响,水分的极性较强,受电场作用很容易发生极化,而增大油的电导电流,促使油的介质损耗因数明显增大,同时与测量时的湿度也有关,通常湿度的增大,会使油样溶解水增加(油吸潮引起的),而增大了介质损耗因数。(4)与油的净化程度和老化深度有关油的介质损耗因数的大小,与油品的化学组成无关,但与油的净化程度有关。如油在精制或再生后,由于净化的不*,而使油中留有残存的有机酸类.金属皂类等极性物质,在电场的作用下容易极化,增大油的电导电流,而使油的介质损耗因数增大。油的介质损耗因数还与油的老化深度有关,因油的老化程度越深,油中所含的有机酸和其他老化产物就越多,这些老化产物在电场的作用下,会增大油的电导电流,从而增大了油的介质损耗因数值。

漆膜介电常数介质损耗因数测试仪δ称为损耗角，tanδ称为损耗角正切值。损耗角正切表示为获得给定的存储电荷要消耗的能量的大小，是电介质作为绝缘材料使用时的重要评价参数。为了减少介质损耗，希望材料具有较小的介电常数和更小的损耗角正切。损耗因素的倒数Q=（tanδ）-1在高频绝缘应用条件下称为电介质的品质因素，希望它的值要高。工程材料：离子晶体的损耗，离子晶体的介质损耗与其结构的紧密程度有关。紧密结构的晶体离子都排列很有规则，键强度比较大，如α-Al2O3、镁橄榄石晶体等，在外电场作用下很难发生离子松弛极化，只有电子式和离子式的位移极化，所以无极化损耗，仅有的一点损耗是由漏导引起的（包括本质电导和少量杂质引起的杂质电导）。这类晶体的介质损耗功率与频率无关，损耗角正切随频率的升高而降低。因此，以这类晶体为主晶相的陶瓷往往用在高频场合。如刚玉瓷、滑石瓷、金红石瓷、镁橄榄石瓷等漆膜介电常数介质损耗因数测试仪结构松散的离子晶体，如莫来石（3Al2O32SiO2）、董青石（2MgO2Al2O35SiO2）等，其内部有较大的空隙或晶格畸变，含有缺陷和较多的杂质，离子的活动范围扩大。在外电场作用下，晶体中的弱联系离子有可能贯穿电极运动，产生电导打耗。弱联系离子也可能在一定范围内来回运动，形成热离子松弛，出现极化损耗。所以这类晶体的介质损耗较大，由这类品体作主晶相的陶瓷材料不适用于高频，只能应用于低频场合。玻璃的损耗复杂玻璃中的介质损耗主要包括三个部分：电导耗、松弛损耗和结构损耗。哪一种损耗占优势，取决于外界因素温度和电场频率。高频和高温下，电导损耗占优势：在高频下，主要的是由弱联系离子在有限范围内移动造成的松弛损耗：在高频和低温下，主要是结构损耗，其损耗机理目前还不清楚，可能与结构的紧密程度有关。般来说，简单玻璃的损耗是很小的，这是因为简单玻璃中的“分子”接近规则的排列，结构紧密，没有弱联系的松弛离子。在纯玻璃中加人碱金属化物后。介质损耗大大增加，并且随着加人量的增大按指数规律增大。这是因为碱性氧化物进人玻璃的点阵结构后，使离子所在处点阵受到破坏，结构变得松散，离子活动性增大，造成电导损耗和松弛损耗增加。陶瓷材料的损耗漆膜介电常数介质损耗因数测试仪介质损耗（dielectric loss ）指的是绝缘材料在电场作用下，由于介质电导和介质极化的滞后效应，在其内部引起的能量损耗。也叫介质损失，简称介损。介质损耗因数（dielectric loss factor）指的是衡量介质损耗程度的参数。【依据标准】GB/T 16491、GB/T 1040、GB/T 8808、GB/T 13022、GB/T 2790、GB/T 2791、GB/T 2792、GB/T 16825、GB/T 17200、GB/T 3923.1、GB/T 528、GB/T 2611、GB/T 6344、GB/T 20310、GB/T 3690、GB/T 4944、GB/T 3686、GB/T 529、GB/T 6344、GB/T 10654、HG/T 2580、JC/T 777、QB/T 2171、HG/T 2538、CNS 11888、JIS K6854、PSTC-7、ISO 37、AS 1180.2、BS EN 1979、BSEN ISO 1421、BS EN ISO 1798、BS EN ISO 9163、DIN EN ISO 1798、GOST 18299、DIN 53357、ISO 2285、ISO 34-1、ISO 34-2、BS 903、BS 5131、DIN EN 12803、DIN EN 12995、DIN53507-A、DIN53339、ASTM D3574、ASTM D6644、ASTM D5035、ASTM D2061、ASTM D1445、ASTM D2290、ASTM D412、ASTM D3759/D3759M功能介绍1.自动停机：试样破坏后，移动横梁自动停止移动（或自动返回初始位置、2.自动换档：根据试验力大小自动切换到适当的量程，以确保测量数据的准确性3.条件模块：试验条件和试样原始数据可以建立自己的标准模块的形式存储；方便用户的调用和查看，节省试验时间4.自动变速：试验过程的位移速度或加载速度可按预先编制、设定的程序自动完成也可手动改变5.自动程制：根据试验要求，用户可方便的建立自己的试验模板（方法、，便于二次调用，可实现试验加载速度、应力、应变的闭环试验控制6.自动保存：试验结束，试验数据和曲线计算机自动保存，杜绝因忘记存盘而引起的数据丢失漆膜介电常数介质损耗因数测试仪若取不同C1进行多次测量后取一个平均值，则测试结果将较为准确。B．自然频率法（此法可获得较准确的结果） a．将被测线圈接在“Lx”接线柱上；b．将微调电容器度盘调至零，调谐电容器度盘调到最大电容值C1； c．调讯号源频率，使回路谐振，该频率为f1；d．取下被测线圈，换上一个能在调谐电容器调节范围内和十倍于f1频率谐振的电感； e．讯号源调到10 f1位置，调节调谐电容器到谐振点；f. 将被测线圈接在“Cx”两端，调节调谐电容器达谐振，此时视电容读数是增加还是减小。若增加，则应将振荡器频率调高些，若减小，则频率调低些；g. 再取下被测线圈，调节主调电容达到谐振；漆膜介电常数介质损耗因数测试仪a．选择要求的测试频率；b. 用一只合格元件或一只辅助线圈调谐主调电容，使Q值读数指示在所需预置Q值位置上；例150，按一下Q值设置键，使显示屏第三行显示“COMP OK”，同时仪器发出鸣叫声，Q值大于150值，液晶屏第三行显示“COMP 150”；再调谐主调电容，使Q值读数指示在所需预置Q值位置上；例170，再按一下Q值设置键，液晶屏第三行显示“COMP 170150”，此时Q合格范围预置功能的设置就结束了；产品的交收检验1. 检验环境要求a．环境温度：20℃±2℃，相对湿度50％； b．供电电源：220V±10V，50Hz±1Hz； c．被检设备要预热30分钟以上。2. 检验设备要求a. 设备应在计量后的有效使用期内；b. 检验设备应按仪器规定预热。3. Q值指示检验a. 检验设备：BQG-2标准线圈一套；b. 把标准Q值线圈接入A/C表电感接线柱上； c．选择标准Q值线圈所规定的检定频率；d．A/C Q表的Q值读数的相对误差应符合二.1.C条中的固有误差之规定。4．调谐电容器准确度检验a. 测试时如发现干扰，应断开内部信号源；b. 设备连接如图六所示，连接线应尽量短，尽可能减小分布电容；1. 谐振点频率自动搜索功能的使用如果你对电感元件无法确定它的数值时，你就可用该功能来帮你寻找出它的谐振频率点。步骤如下：a. 把元件接以接线柱上；b. 主调电容调到约中间位上；c. 按一下频率搜索按键，显示屏左下部显示“SWEEP””，仪器就进入搜索状态。仪器从最低工作频率一直搜索到最高工作频率，如果你的元件谐振点在频率覆盖区间内，搜索结束后，将会自动停在元件的谐振频率点附近。如果临时要退出搜索状态，可再按一次搜索键，仪器会退出搜索操作。 8．谐振点电容自动搜索功能的使用如果你想在已知的频率找出被测量器件的谐振频率点时，你就可用该功能来帮你寻找出它的谐振 点。步骤如下：a．把元件接以接线柱上； b．频率设置为所需的频率；c．按一下电容搜索按键，仪器就进入电容搜索状态，仪器从最小电容一直搜索到最大电容，如果你的元件谐振点在电容覆盖区间内，搜索结束后，主电容将会自动停在元件的谐振频率点附近。如果临时要退出搜索状态，可再按一次搜索键，仪器会退出搜索操作。a. 频率计数器技术要求测量范围：10Hz-1000MHz； 测量误差：1×10-6；测量灵敏度：30mV。d. 测试线要求：高频电缆SYV-50-3；9．频率调谐开关的使用。A/C的频率调谐采用了数码开关，它能辨别使用者的要求，来调节频率变化的速率(频率变化值／ 档)。在你快速调节该开关时，频率变化速率也加快，当你缓慢调节开关时，频率变化速率也慢下来。 因此在调谐时接近所需的频率时，应放缓调节速度，当你调节的频率超出工作频段的频率时，仪器会自动选择低一个或高一个频段工作。

系统介绍OS-6型可移动式电磁环境在线监测系统的设计主要考虑到用户在对电磁辐射投诉等事件的应急处理。方便客户携带和现场安装，并且配合监测车显示屏，对敏感地点的电磁环境进行监测以及监测数据公示。OS-6系统可进行现场的5×24小时连续监测，并作统计分析，多用于公众投诉监测。系统特点● 便携式现场连续监测● 测值准确● 性能稳定● 携带方便、架设简单，适合多种环境● 支持多种无线通信方式● 对公众进行科普宣传● 具有自主知识产权● 全球同行业的最高水平系统功能OS-6型可移动式电磁环境在线监测系统是一套集现场监测、现场显示及现场科普宣传等多项功能于一体的电磁环境监测及公示整体解决方案。● 现场数据采集● 数据实时上传监控平台● 配合监测车实时数据发布● 配合监测车进行科普宣传● 监测数据的网页发布独特的技术应用● 电磁辐射抗干扰测量技术● 监测数据的实时显示及网页发布● GIS信息技术，实时监测地图● 电磁环境科普宣传● 实时自动监测和报警依据标准● 通信行业标准《电磁辐射在线监测系统的技术要求》（YD/T 2390-2013）● 环保行业标准 《移动通信基站电磁辐射环境监测方法》 （环发[2007]114号）● 环保行业标准《辐射环境保护管理导则 电磁辐射监测仪器和方法》(HJ/T 10.2-1996)OS-6在线监测系统技术参数系统平台场强统计统计E95、E80、E50、E5场强告警超限值、通信中断报警、电量过低、探头故障报警。将告警信息下发到指定手机数据发布网页及户外显示屏地图显示动态地图显示监测点位置及周边地图，监测轨迹监测数据显示实时数据动态曲线显示，科普宣传为变电站、移动通信基站、广播电视发射塔及家用电器制定的电磁科普宣传方案数据报表数据统计报表，包括最大值、最小值、平均值、6分钟均值、占标准的百分比数据查询及下载支持数据查询、数据下载报告自动生成报告系统管理监控监测子站的状态，远程控制监测子站及参数配置监测仪主机频率范围1Hz～60GHz测量单位V/m, kV/m, μT, mT, A/m, μW/cm2, mW/cm2, W/m2测量值实时值、最大值、平均值连续工作时长不少于5天数据采集速率1s主机供电内置12V、13.6Ah锂离子电池探头供电太阳能供电，10W，内置4.2V、18Ah锂离子电池 传输方式无线通信，支持GPRS、CDMA、4G等无线通信模式工作温度-20℃～70℃工作相对湿度95%定位GPS定位及授时存储实时数据存储及6分钟平均数据存储，8GB存储空间，满足1年的存储需求工频探头OS-LF-1频率范围20Hz～1kHz探头类型三轴全向，电磁场一体探头量程电场：0.8V/m～100kV/m； 磁场：20nT～3mT各向同性±0.3dB测量误差5%分辨率0.1V/m；1nT最大过载120kV/m；6mT动态范围102dB射频电场探头OS-RF-06频率范围100kHz～6GHz传感器类型三轴全向，电场，偶极子量程0.08V/m～320V/m各向同性±0.6dB线性误差±0.8dB典型频响频响：±2.9dB @ 500kHz ±1.2dB（1MHz～1GHz） ±1.5dB（1GHz～2.8GHz） ±1.8dB（2.8GHz～5.2GHz）分辨率0.01V/m最大过载600V/m工射频一体探头OS-RL-1工频磁场参数同OS-LF-1的磁场参数射频电场参数同OS-RF-06的射频电场参数

双电测电四探针方阻电阻率测试仪环境要求环境温度为23℃±1℃,相对湿度不大于65%。干扰因素光照可能严重影响观察电阻率,特别是近似本征材料。因此,所有测试应在暗室进行,除非是待测样品对周围的光不敏感。3.2当仪器放置在高频于扰源附近时,测试回路中会引入虚假电流，因此仪器要有电磁屏蔽。3.3试样中电场强度不能过大,以避免少数载流子注入。如果使用的电流适当,则用该电流的两倍或一半时,引起电阻率的变化应小于0.5%。3.4由于电阻率受温度影响,一般测试适用温度为23℃±1 ℃.3.5对于厚度对测试的影响,仲裁测量要求厚度按本方法的6.3规定测量,一般测量用户可以根据实际需要确定厚度的要求偏差。3.6由于探针压力对测量结果有影响,测量时应选择合适的探针压力。3.7仲裁测量时选择探针间距为1.59mm,非仲裁测量可选择其他探针间距。4方法提要直排四探针测量示意图5测量仪器5.1探针装置由以下几部分组成。5.1.1探针用钨,碳化钨或高速钢等金属制成,针尖呈尽可能使用非导电的工作桌工作台。操作人员和待测物之间不得使用任何金属。操作人员的位置不得有跨越待测物去操作或调整测试仪器的现象。测试场所必须随时保持整齐、干净，不得杂乱无章。测试站及其周边之空气中不能含有可燃气体或在易燃物质。4.3.4人员资格本仪器为精密仪器，必须由训练合格的人员使用和操作。4.3.5安全守则操作人员必须随时给予教育和训练，使其了解各种操作规则的重要性，并依安全规则操作。圆锥型,夹角为45°~150*,尖端初始标称半径为25 μm~50 μm。5.1.2探针压力,每根探针压力为1.75 N士0.25 N或4.0N±0.5N,分别用于硅单晶棒的电阻率测量,也可选择其他合适的探针压力。5.1.3绝缘性,一探针(包括连接弹簧和外部引线)与任何其他探针或装置任一部分之间绝缘电阻大于10’Ω.5.1.4探针排列和间距,四根探针的尖端应成等间距直线排列。仲裁测量时,探针间距(相邻探针之间的距离)标称值应为1.59mm。其他标称间距如1.00mm和0.6mm用于非仲裁测量,探针间距按7.2测定。5.1.5探针架,能在针尖几乎无横向移动的情况下使探针下降到试样表面.双电测电四探针方阻电阻率测试仪技术参数：1.电阻率：10-5～2×106Ω-cm2.电 阻：10-5～2×106Ω3.电导率：5×10-6～105ms/cm4.分辨率： 小0.1μΩ测量误差±（0.05%读数±5字）5.测量电压量程： 2mV 20mV 200mV 2V 测量精度±（0.1%读数）6.分辨率： 0.1uV 1uV 10uV 100uV7.电流输出：直流电流 0～1000mA 连续可调，由交流电源供电。量程：1μA，10μA，100µ A，1mA，10mA，1000mA, 误差：±0.2%读数±2字8.显示方式：液晶显示电阻值、电阻率、电导率值、温度、压强值、单位自动换算9.传感器压力：200kg (其他规格可以定制)10.粉末测量装置 模具：内径10mm；高：25mm；加压方式：手动液压加压/自动加压方式11.电源：220±10% 50HZ/60HZ12.主机外形尺寸：330mm*350mm*120mm双电测电四探针方阻电阻率测试仪安全要点● 非合格的操作人员和不相关的人员应远离测试区。● 万一发生问题，请立即关闭电源并及时处理故障原因。双电测电四探针方阻电阻率测试仪衣着规定操作人员不可穿有金属装饰的衣服或戴金属手饰和手表等，这些金属饰物很容易造成意外的感电。4.3.7医学规定绝对不能让有心脏病或配戴心律调整器的人员操作。4.4测试安全程序规定 一定要按照规定程序操作。操作人员必须确定能够完全自主掌控各部位的控制开关和功能。双电测电四探针方阻电阻率测试仪操作流程和测试步骤1.使用前期准备--测试前准备工作：1.1.开机预热：将220V电源插头插入电源插座，打开电源开关，让仪器预热15分钟，保证测试数据稳定。若测试仪无法正常启动，请按以下步骤检查：①检查电源线是否接触良好；②检查后面板上的电源开关是否已经打开③检查保险丝是否熔断，如有必要，请更换保险丝④_x0001_ 如经上述检查无误后，测试仪仍未正常启动，请联系本公司进行解决。

导管滑动性能测试仪适用于dao尿管、气管cha管、球囊dao管、导丝等介入类导管、导丝表面摩擦力、滑动性能的测试，也称为导管滑动性试验机，导管滑动性检测仪，非血管内导管表面滑动性能测试仪。导管滑动性能测试仪主要技术参数：试验力量程：10N（标配）, 5N,30N, 50N（可选）；试验力分辨率：1/300000FS；试验力准确度：0.5级；试验动速度：0.05-500 mm/min(连续可调，软件设置)；中横梁移动速度准确度：±1%；拉伸压缩z大行程：600mm；单次试验试样数量：1件；导管夹片：0-50mm（标配）；导管试验距离：大于150mm；夹持形式：手动；输入电源：AC 220V 50Hz/120V 60Hz。技术特征：1.自动夹持力装置，力值随意可调，保证了测试的稳定性；2.水浴控温装置，实现不同温度条件下的测试；3.符合标准硬度的硅胶垫以及手术mp片，提供接近人体组织的测试环境；4.小量程设计，保证测试过程的精确性；5.高精度进口滚珠螺母丝杠搭配全新三导柱导套的传动结构，使得系统运行更加平稳；6.0.5级精度力值传感器，有效保证测试结果准确性、重复性；7.配备先进的位移控制系统，位移精度可达0.1mm；8.搭配先进伺服驱动系统，可实现无极变速，更宽的试验速度范围，满足用户不同试验条件的测试需求；9.速度支持500mm/min，实现高速测试要求；10.设备带有手持式控制盒辅助操作，使试验更加方便；11.仪器具有限位保护、过载保护、自动回位、以及掉电记忆等智能配置，有效保证用户的操作安全12.系统状态适时监测，保证设备时刻处于z佳的运行状态；13.提供历史数据备份管理功能，可对历史试验数据进行多样化分析；14.用户多级权限管理，方便实验室管理人员规范设备使用；15.配置标准串行通信口，可连接电脑端软件，方便数据处理与传输；16.软件可选配数据可溯源性，可实现多级权限管理、审计审计追踪、电子签名等功能，符合GMP的要求。符合标准：YY/T 1536-2017、ISO 37、GB 8808、GB/T 1040.1-2006、GB/T 1040.2-2006、GB/T 1040.3-2006、 GB/T 1040.4-2006、GB/T 1040.5-2008、GB/T 4850-2002、GB/T 12914-2008、GB/T 17200、GB/T 16578.1-2008、GB/T 7122、GB/T 2790、GB/T 2791、GB/T 2792、GB/T 17590、ASTM E4、ASTM D882、ASTM D1938、ASTM D3330、ASTM F88、ASTM F904、JIS P8113、QB/T 2358、QB/T 1130等试验要求。

薄膜塑料介电常数测试仪Q合格指示预置功能: 预置范围：5～1000。测试仪正常工作条件a. 环境温度：0℃～+40℃；b．相对湿度：80％；c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。薄膜塑料介电常数测试仪1．a．消耗功率：约25W；b．净重：约7kg；c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。1 测量范围及误差 本电桥的环境温度为20±5℃，相对湿度为30％－80％条件下，应满足下列表中的技术指示要求。 在Cn＝100pF R4＝3183.2（W）（即10K/π）时 测量项目 测量范围 测量误差 电容量Cx 40pF--20000pF ±0.5% Cx±2pF 介质损耗tgd 0～1 ±1.5％tgdx±0.0001 在Cn＝100pF R4＝318.3（W）（即1K/π）时 测量项目 测量范围 测量误差 电容量Cx 4pF--2000pF ±0.5% Cx±3pF 介质损耗tgd 0～0.1 ±1.5％tgdx±0.0001薄膜塑料介电常数测试仪　一些介质在电场极化时也会产生损耗，这种损耗一般称极化损耗。位移极化从建立极化到其稳定所需时间很短（约为10-16～10-12s），这在无线电频率（5×1012Hz 以下）范围均可认为是极短的，因此基本上不消耗能量。其他缓慢极化（例如松弛极化、空间电荷极化等）在外电场作用下，需经过较长时间（10-10s或更长）才达到稳定状态，因此会引起能量的损耗。若外加频率较低，介质中所有的极化都能完全跟上外电场变化，则不产生极化损耗。若外加频率较高时，介质中的极化跟不上外电场变化，于是产生极化损耗。 [2]3）电离损耗　　电离损耗（又称游离损耗）是由气体引起的，含有气孔的固体介质在外加电场强度超过气孔气体电离所需要的电场强度时，由于气体的电离吸收能量而造成指耗，这种损耗称为电离损耗。4）结构损耗在高频电场和低温下，有一类与介质内邻结构的紧密度密切相关的介质损耗称为结构损耗。这类损耗与温度关系不大，耗功随频率升高而增大。试验表明结构紧密的晶体成玻璃体的结构损耗都很小，但是当某此原因（如杂质的掺入、试样经淬火急冷的热处理等）使它的内部结构松散后。其结构耗就会大大升高。薄膜塑料介电常数测试仪在交变电场作用下，电位移D与电场强度E均变为复数矢量，此时介电常数也变成复数，其虚部就表示了电介质中能量损耗的大小。D，E，J之间的相位关系图D，E，J之间的相位关系图如图所示，从电路观点来看，电介质中的电流密度为J=dD/dt=d（εE）/dt=Jτ+iJe式中Jτ与E同相位。称为有功电流密度，导致能量损耗；Je，相比较E超前90°，称为无功电流密度。定义tanδ=Jτ/Je=ε〞/εˊ式中，δ称为损耗角，tanδ称为损耗角正切值。损耗角正切表示为获得给定的存储电荷要消耗的能量的大小，是电介质作为绝缘材料使用时的重要评价参数。为了减少介质损耗，希望材料具有较小的介电常数和更小的损耗角正切。损耗因素的倒数Q=（tanδ）-1在高频绝缘应用条件下称为电介质的品质因素，希望它的值要高。 薄膜塑料介电常数测试仪紧密结构的晶体离子都排列很有规则，键强度比较大，如α-Al2O3、镁橄榄石晶体等，在外电场作用下很难发生离子松弛极化，只有电子式和离子式的位移极化，所以无极化损耗，仅有的一点损耗是由漏导引起的（包括本质电导和少量杂质引起的杂质电导）。这类晶体的介质损耗功率与频率无关，损耗角正切随频率的升高而降低。因此，以这类晶体为主晶相的陶瓷往往用在高频场合。如刚玉瓷、滑石瓷、金红石瓷、镁橄榄石瓷等结构松散的离子晶体，如莫来石（3Al2O32SiO2）、董青石（2MgO2Al2O35SiO2）等，其内部有较大的空隙或晶格畸变，含有缺陷和较多的杂质，离子的活动范围扩大。在外电场作用下，晶体中的弱联系离子有可能贯穿电极运动，产生电导打耗。弱联系离子也可能在一定范围内来回运动，形成热离子松弛，出现极化损耗。所以这类晶体的介质损耗较大，由这类品体作主晶相的陶瓷材料不适用于高频，只能应用于低频场合。整个显示屏共分为四行第一行：左边 信号源频率指示，共6位；右边 信号源虚拟频段指示（1-4）。第二行：左边 调谐电容指示值，4位；右边 电感指示值，4位。第三行：左边 Q值指示值；右边 Q值合格比较状态 。第四行：左边 Q值量程，手动/自动切换指示/调谐点自动搜索指示； 右边上部 Q值量程范围指示；右边下部 Q值调谐光带指示。

医用注射器滑动性能测试仪技术指标：操作界面：简体中文/英文测试标准：GB15810-2019《一次性使用无菌注射器》ISO7886-1-2017《一次性使用无菌注射器》显示：采用7英寸K600+内核/点阵式65色 800*480分辨率触摸屏显示，PLC控制系统动态显示加载力值；操作界面可选：中文/英文/中英文切换；数字闭环控制，AD采集速度为500KHz，内码50万；高精度时钟芯片，断电存储；过载报警停机保护；触控显示屏菜单进行选择注射器的公称容量、实时显示启始力、平均力、回推力、回推最小力及芯杆移动和力的纪录图等。可编程控制器：PLC+ARM推力范围：定制0～40N， 力值误差不大于±1%；分辨率0.01N测试时间：定制999s； 误差不大于±0.5s试验的速率:定制100mm/min 误差不大于±5mm/min公称容量：定制1ml～60 ml 任意选择。传感器：高精度力值传感器具有软硬件保护功能打印方式：机载微型针式打印机整机功率：70W电源：AC90V-240V/50Hz净重：10.5kg 外形尺寸：400×290×275（mm）医用注射器滑动性能测试仪厂家介绍：上海迎乐仪器仪表有限公司是一家拥有着30年专业生产、研发仪器仪表的高新技术企业，产品涵盖了多个领域，包括工业自动化、实验室仪器、环境监测、医疗设备等。公司的产品种类丰富，包括医用注射针测试仪、注射器测试仪、输液针测试仪、输液器测试仪、缝合针测试仪、缝合线测试仪、6%鲁尔圆锥接头综合测试仪、留置针测试仪、采血针测试仪、针灸针测试仪、针管刚性测试仪、韧性测试仪、牢固度测试仪,密合性正负压测试仪,密封泄漏测试仪,等仪器，满足了不同行业的需求。公司一直以来注重产品质量和客户服务。我们拥有严格的质量控制体系，确保产品的稳定性和可靠性。同时，我们还提供专业的售前咨询和售后服务，以满足客户的需求和解决问题。

产品名称：交直流电击穿仪/击穿电压测试仪产品型号：LJC-20KV、LJC-50KV、LJC-100KV、LJC-150KV产品品牌：纵横金鼎控制方式：计算机控制符合标准：GB/T1408、ASTM D149等适用材料：橡胶、塑料、薄膜、陶瓷、玻璃、漆膜、树脂、电线电缆、绝缘油等绝缘材料测试项目：击穿电压测试、介电强度测试、电气强度测试、耐电压击穿强度测试等试验电压：20KV、50KV、100KV、150KV等电压精度：≤1%适用材料：绝缘材料升压速率：10V/S-5KV/S试验方式：交流/直流、耐压、击穿、梯度升压控制系统：PLC控制升压核心部件：采用进口配件试验介质：绝缘油、空气显示方式：曲线显示、数据打印其它特点：无线蓝牙控制设备组成：主机、计算机、电极电极规格：25mm、75mm、6mm电器容量：5KVA、10KVA耐压时间：0-8H安全保护：九级安全保护质保日期：三年、终身维护。培训方式：工程师上门培训安装出据证书：514所、304所、科学研究院等单位均可主机尺寸：700*800*1300mm、1900*1300*1700mm主机重量：100KG、200KG一、满足标准：LJC-50KV固体材料电压击穿测试仪/电压击穿强度测试仪/介电击穿强度测试仪/HG/T3330绝缘漆漆膜击穿强度测试仪/电气强度测试仪/电气介电强度测试仪//GB/T1408.1-2016固体绝缘材料电气强度测试仪/耐电压击穿强度测试仪/GB/T12656高电压击穿场强测试仪/介质击穿测试仪/耐压高电压测试仪/GB/T1695-2005工频击穿电压测试仪/耐电压介电强度测试仪/GB/T3333介电击穿测试仪/耐电压强度测试仪/交直流耐电压击穿测试仪/电气击穿测试仪/自动电压测试仪/耐电压测试仪/介电性能测试仪/电气绝缘强度测试仪/抗电压强度测试仪/电气测试设备/ASTM D149介电击穿电压和介电强度的试验仪适用于连续均匀升压或逐级升压的方式，对试样施加交流/或直流，电压直至击穿，测量击穿电压值，计算试样的击穿强度；用迅速升压的方法，将电压升到规定值，保持一定的时间试样不击穿，定此时规定值为试样的耐电压值。满足GB1408.1-2006《绝缘材料电气强度试验方法，第1部分；工频下试验》 第2部分：对应用直流电压试验的附加要求》、GB/T1695-2005《 硫化橡胶工频击穿电压强度和耐电压的测定方法》、GB/T 3333-1999《电缆纸工频击穿电压试验方法》、HG/T 3330绝缘漆漆膜击穿强度测定法、GB/T 12656-1990《电容器纸工频击穿电压测定法》、GB/T1981及ASTM D149、ASTM D 3755标准要求设计制造。二、适用材料：主要适用于固体绝缘材料如：电线套管、树脂和胶、浸渍纤维制品、云母及其制品、塑料薄膜、陶瓷、玻璃、绝缘漆、硫化橡胶、电缆纸、绝缘漆漆膜、硬质橡胶、纸板等绝缘介质在空气或液体介质中，测量工频（48~62Hz）或对应直流电压下击穿强度和耐电压时间。三、基本功能：可以根据自己的需要进行升压速率调节，使升压速率真正做到匀速、准确，并能够准确测出漏电电流的数据。可实时绘制试验曲线，显示试验数据，判断准确，并可保存，分析，打印试验数据。并且能够自动判别试样击穿并采集击穿电压数据及泄露电流，同时能够在击穿的瞬间电压迅速降低自动归零。软件系统操作方便，性能稳定，安全可靠。由电脑控制，数据采集方式通过光电隔离，有效解决试验过程中的抗干扰问题，软件操作使用方便，能够实时显示动态曲线，同时升压速率无级可调。四、结构特点：本产品采用直流伺服电机加载减速机构，保证了0新标准里面关于极慢速试验和极快速试验的0新要求，保证用户可以自由选择升压速率。采用立式箱体结构，极大的节省试验室内占地空间，地脚采用滑轮结构，方便移动和摆放，避免同类厂家生产的卧式设备，安放时需要另配安装台的情况，占地空间大，移动不方便等缺点。五、主要技术要求：1、设备输入电压： 220V (普通试验室电源均可兼容)；2、试验电压方式： 交流 0--50 KV；直流 0--70 KV；3、电器容量：5KVA；4、试验方法：0-50KV全量程可调(采用高精度电压采样器件)；5、击穿及耐压试验升压速率：0.1KV/S-3KV/S(此项满足0新标准里面极快速升压试验要求)；6、试验方式：直流试验：1、匀速升压 2、阶梯升压 3、耐压试验交流试验：1、匀速升压 2、阶梯升压 3、耐压试验注：根据不同行业的标准，我们可以根据用户的要求，依据贵行业标准，为您定制行业标准所需的特殊测试功能。7、过电流保护装置应有足够灵敏度以保证试样击穿时在0.1S内切断电源。8、本仪器采用无触点原件匀速调压方式09、支持短时间内短路试验要求。10、电压测量误差： ≤1%。11、试验电压连续可调：0-50 KV12、耐压时间设定：0-6小时(可通过软件连续设定)。13、主机尺寸：约700mm*800mm*1300mm（长宽高）。14、主机重量：约150KG。15、九级安全防护措施： (1) 超压保护(2)试验过流保护 (3)试验短路保护(4)安全门开启保护(5)软件误操作保护(6)零电压复位保护(7)试验结束放电保护(8)独立保护接地(9)试验完成后电磁放电六、试验方式：1、绝缘试样空气中击穿、耐压试验或阶梯试验；2、绝缘试样浸油中击穿、耐压试验或阶梯试验；七、试验软件：1、试验软件是我公司0新研发的功能强大、操作简单、显示直观的试验软件系统；2、采用计算机控制通过人机对话方式，完成对绝缘介质工频电压击穿，工频耐压试验；3、本仪器在试验过程中可对升压击穿过程绘制实时曲线，每次试验的升压曲线都由不同颜色构成，试验结束后可叠加对比材料的试验数据重复性；4、可以随时调取当前及历史试验数据进行查看，编辑及修改参数；5、试验过程中可以随时修改试验条件及存储路径及自动存储试验结果；6、试验过程中，可随时通过软件决定本次试验是否有效，方便筛选试验结果；7、可设置操作口令，做到专机专人操作，避免无关人员误操作；8、试验报告格式灵活可变，适用于不同用户的不同需求；9、可对一组试验中曲线数据的有效与否进行人为选定；10、试验结果数据可导入EXECL,WORD文档编辑；11、过电流保护装置有足够的灵敏度，能够保证试样击穿时在0.1S内切断电源；12、仪器运行的持久性: 仪器可连续运行使用，不需为保护仪器而定期停机；八、配置清单：序号名称单价（万元）数量/单位厂家1主机3.81台纵横金鼎 包含变压器1台武高所调压器1台华通传感器2个德国图尔克步进电机1台松下PLC控制模块1套德国西门子放电系统1套纵横金鼎电流模块1套日本松野电压模块1套日本松野无线接收器1个纵横金鼎2数据处理系统0.31套 包含计算机1台联想启天打印机1台惠普试验软件1套 纵横金鼎无线接收器1个A/D转换器1个3配件0.21套 包含电极支架1套25mm电极2只75mm电极1只油槽1只绝缘手套1双绝缘胶垫2*1米随机文件1套4 选购配件 选购计量证书绝缘油6mm电极球形电极板材电极漆包线电极线材电极管材电极其它电极