全反射荧光光谱仪

合适的食品质量检测方法十分重要，科学家利用众多方法来测试不同的污染物。最近一种红外衰减全反射（IR-ATR）仪器在食品检测领域流行起来，它可以在几乎不需要样品制备的情况下获取倏逝场吸收，同时促进对任何聚集状态中的分析物的无损分析。食品安全控制概念 | 图片来源：© Alexander Raths - stock.adobe.com最近发表在《应用光谱学》杂志上的一项研究介绍了一种便携式的红外衰减全反射（IR-ATR）食品分析设备，可用于分析食品行业中有重要意义的物质。该系统的核心是了解脂质中脂肪酸（FAs）的组成；由于正常的脂质成分是表征鱼类等食品的质量的特征指标，但易受环境因素如水质、捕捞季节和温度的影响，因此跟踪脂肪酸是理解脂质的真实特征以及它们如何影响食物质量的关键。该系统还使用了霉菌毒素和有机溶剂作为代表进行了测试。霉菌毒素是与真菌污染相关的有害次生代谢物，它们的存在可能对人体和家畜的健康产生有害影响，因此检测它们对于食品安全至关重要。至于有机溶剂，食品行业主要将其用于从食品基质中提取成分，但由于传统方法性能优越，导致绿色提取方法不太受欢迎。这两种物质对于食品加工都是必不可少的，这也解释了为什么除了脂肪酸之外，IR-ATR 系统还主要针对它们进行测试。用傅立叶变换红外光谱仪（FT-IR）对便携式IR-ATR设备与传统实验室IR-ATR设备进行了对比测试，以展示前者系统的潜在优势。使用了三种类型的模型系统，每种系统内都含有不同的样品：溶解在水中的N，N-二甲基甲酰胺（(CH3)2NCH）（DMF）、溶解于乙醇中的硬脂酸（C17H35CO2H）以及溶解于甲醇中的DON（C15H20O6）。这些分析物作为典型的化合物类别，在中红外（MIR）光谱图中具有特征波段。通过两种系统的比较证实了的两者的多个因素，包括霉菌毒素的检测、FAs的分析以及有机溶剂的定量。值得注意的是，便携型系统的分析性能与标准型系统分析能力一致。然而，在该系统投入大规模使用之前仍需要进一步的工作要做。科学家在研究中指出：“未来研究旨在分析更复杂的系统，包括真正的鱼类样品和各种含有真菌污染物/霉菌毒素的谷类作物提取物，并采用先进的数据分析方法来开发无需标记的快速筛查方法。”

p　　作为一种快速、准无损的分析技术——a href="http://www.instrument.com.cn/zc/75.html" target="_self" title=""strongX射线荧光光谱(XRF)/strong/a得到了广泛的应用。为了了解当前XRF的使用范围和新领域的增长潜力，我们请一些专家对于XRF的最重要的应用领域、以及面临的挑战、与其他技术的竞争优势等问题进行了评论。/pp　　XRF在地质相关领域的应用不断在增长，“地质学家、地质工程师、实验室技术人员、钻井地质学家、钻井液录入工和地球化学家都使用XRF，”陶氏化学的研究科学家Lora Brehm指出。例如，使用便携XRF系统配合井下采矿和能源勘探，以及化学地层研究是进行核心扫描。“由于电感耦合等离子体发射光谱 (ICP-OES)和原子吸收光谱(AAS)需要使用酸分解样品，以至于不适于现场分析，但XRF完全可以，特别是小型化的仪器。”/pp　　芝加哥洛约拉大学副教授Martina Schmeling也表达了同样的意见，“便携性和现场易用性显然是XRF的发展趋势，”并称XRF在天然气勘探等领域也可以应用，而且该方法具有非常出色的稳定性和易用性。“与质谱(MS)方法相比，XRF有很多优势，其中最主要的一点是不需要载气和其他消耗品，”她说到。“需要重点记住的一件事是，火星上有XRF，而没有ICP-MS。”/pp　　华盛顿州立大学的分析化学助理教授Ursula Fittschen，从更广泛的角度看待XRF与其他技术的竞争。他指出，XRF的使用取决于分析物的含量水平和其他因素。“传统XRF仪器最具吸引力的是在耐火材料分析等应用中具有ppm级水平，”但是，她指出，对于ppb级的微量元素分析， ICP-OES是主力，只要样品量不受限制、消解又很简单。对于有限的样本，微观分析工具如全反射XRF或石墨炉原子吸收光谱可能是一个更好的选择。“对于ppt水平的检测，需要ICP-MS，”她补充道。/pp　　几个专家都提到了如钢铁行业的质量控制过程中的应用，“钢铁产品的精度非常高，波散XRF是必要的，”京都大学教授Jun Kawai说，“一台有40块晶体的XRF仪器能够同时测量40个元素。”/pp　　XRF在工业领域的应用不只是用于质量控制，CTL集团的首席科学家Don Broton指出。“物相鉴定和无标分析的XRF增强了制造工厂迅速评估替代材料和配方的能力，以及不同制造过程的副产品，”他说。“更好地表征这些‘废品’使其能够得到更多的循环使用，会加快带来一个绿色的未来。”/pp　　维也纳大学教授Christina Streli表示，“未来，XRF在文物、环境、医学和其他领域的应用价值，将会被越来越多的人看到。”/pp　　洛萨拉摩斯国家实验室的George Havrilla同意这一观点，并称，在文物研究领域XRF已经证明了它的价值。“micro XRF对艺术品的快速成像分析将给艺术起源带来新见解，”他说。“这些技术揭示了色素是在不断降解的，使我们明白，我们今天看到的一些艺术品的颜色与当初艺术家画上去时是不一样的。”/pp　　Havrilla还指出，光学镊子的最新进展使得用XRF能够检测到单个细胞的“mechanical manipulation”，进而使活体细胞内容物的元素成像成为可能，这可以让我们对生物机制有新的理解。/pp　　日本筑波国家材料科学研究所教授、团体领袖Kenji Sakurai，也看到了XRF进行化学状态分析的进展，包括X射线吸收精细结构(XAFS)和X射线近边吸收(XANES) 技术的XRF检测在同步加速器中应用取得的重要成就。“我相信，在科学和许多工程领域XRF化学状态分析将带来新的机遇。”/pp style="text-align: right "编译：刘丰秋/pp　　span style="color: rgb(0, 0, 0) "strong更多X射线荧光光谱(XRF)仪器，请见仪器信息网仪器专场：/strong/span/ppspan style="color: rgb(192, 0, 0) "strong　　/strong/spana href="http://www.instrument.com.cn/zc/75.html" target="_blank" title="" style="color: rgb(192, 0, 0) text-decoration: underline "span style="color: rgb(192, 0, 0) "strongX荧光光谱、XRF(能量色散型X荧光光谱仪)/strong/span/a/ppbr//p

前言LED灯具有长寿命、安全可靠、节能环保等优点，在家用照明设备、显示屏、公共设施场所以及景观装饰等方面应用广泛，如汽车上的照明设备、景区内各种图案的装饰灯。LED灯通常由光源、外壳组成，光源装有反射板可以有效利用光源的能量，因此反射板的反射率会直接决定LED灯的光利用效率。而评价反射板的反射率，常用的检测仪器是紫外分光光度计。检测实例我们选取了生活中常见的一种LED灯，拆开发现反射板的四周是弧形表面，为获得准确的反射率，要对中间的平整表面进行测定，如图中红色圆圈标注的位置。但这个位置的直经只有5mm,如此小的测量位点，要使仪器光源的光斑中心完全照射到测定位置非常困难。图1 LED灯的反射板为了解决这类微小样品的测定难题，日立特别研发了微小样品全反射/漫反射测量系统定制附件，确保光源的光斑中心完全照射到测定位置。而且日立UH4150紫外-可见-近红外分光光度计的样品仓空间足够大，可以轻松安装这个附件。 测定时使用铝制平面镜作为标准参考，利用铝制平面镜的绝 对反射率将LED灯反射板的反射率的相对值转换为绝 对值，得到的反射板的全反射光谱如图所示。图2 LED灯反射板的反射光谱测定结果表明该反射板的反射率高达90%，可以有效利用LED灯光源的光通量，提高照明效率。 想获取更多信息，请拨打电话：400-630-5821。

随着机器的小型化趋势，光学部件也在不断微小化，如摄像镜头中的透镜、传感器部件、光盘中的拾音器组件等。因此微小样品的准确测量十分必要。要准确获得这些微小样品的测定，需要缩小入射光束，以使光斑照射到样品上。日立开发了各种微小样品测量附件，为光电领域提高解决方案。1. 微小样品的透过率测量使用日立UH4150选配微小样品透过率测定附件和全积分球，利用φ1 mm 掩光膜即可测定透镜的透射率。图1 小尺寸透镜的外观 图2 两种透镜的透过光谱 微小样品透过率测定附件由聚光透镜、参比光束光阑以及微小样品支架构成，可准确测定微小样品和任意微小零配件的透射率。微小样品支架可搭载最大直径为φ20mm的样品，标配φ3mm的掩光膜，用户也可选配φ1mm的掩光膜等。图3 微小样品透过率测定附件 2. 微小样品镜面反射率的测定手机镜头和车载摄像头中图像传感器的红外截止滤光片尺寸微小，使用UH4150选配微小样品5度绝对反射附件即可测定滤光片的反射率。图4 红外滤光片的镜面反射光谱 可以看到滤光片在可见区的反射率低，在近红外区的反射率较高。微小5 °镜面绝对反射附件由反射附件、聚光透镜、参比光束光阑以及微小样品支架构成。与5 °镜面反射附件（标准）相比，样品位置的光束较小，支持微小样品反射光谱的测定。图5 微小样品反射率测定附件3. 微小样品的全反射率测定使用日立UH4150 搭配微小样品全反射/漫反射测量附件，测量了LED灯反射板的全反射率。图6 LED灯的反射板测定时使用铝制平面镜作为标准参考，利用铝制平面镜的绝 对反射率将LED灯反射板的反射率的相对值转换为绝对值，得到全反射光谱如图所示。图7 LED 灯反射板的全反射光谱测定结果表明该反射板的反射率高达90%，可以有效利用LED灯光源的光通量，提高照明效率。综上案例，使用具有大型样品室的日立紫外可见近红外分光光度计UH4150，容易构建不同样品的光学测量系统，可搭配多种附件，实现低噪音测定微小样品。拨打 4006305821，获取更多信息

p style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="text-indent: 2em "能量色散X-射线荧光光谱仪（ED-XRF）以其快速、对试样无损、多种元素同时分析、分析成本低等优点，在许多领域中发挥着巨大的作用/spanbr//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "为了更系统地了解近年来我国ED-XRF的技术与应用进展、未来发展趋势及市场情况等，strong仪器信息网特组织了“能量色散X-射线荧光光谱仪（ED-XRF）”市场调研。/strong通过对业内专家、ED-XRF相关主流厂商技术负责人当面或电话咨询，对广大ED-XRF用户进行线上问卷调研、线下咨询交流，对政府采购网ED-XRF的中标信息、ED-XRF相关标准及仪器信息网相关专场信息进行统计分析等多种形式展开调研，并对相应信息进行统计分析。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "基于上述的调研结果，strong仪器信息网撰写完成了《中国能量色散X-射线荧光光谱仪（ED-XRF）市场调研报告（2019）》。报告介绍了ED-XRF技术的基本情况、主流产品、近两年发布的新产品等，同时详细分析了我国ED-XRF用户的地区分布、专业类别、单位性质等信息，另外还对2018年我国ED-XRF市场的总体情况及热点应用进行了分析，报告还分析了国产和进口ED-XRF用户对产品的满意度、售后的评价，以及用户购买购买ED-XRF的途径等信息。/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "本次调研活动得到了广大用户、企业以及业内专家的大力支持，共有两百余位ED-XRF的专家和用户参与了此次调研。在此，谨对他们表示最衷心的感谢。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "a href="https://www.instrument.com.cn/survey/Report_Census.aspx?id=192" target="_blank"span style="color: rgb(84, 141, 212) "strong报告链接：https://www.instrument.com.cn/survey/Report_Census.aspx?id=192/strong/span/a/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "如对本报告感兴趣，也可通过邮箱（wuyou@instrument.com.cn）联系我司相关人员，咨询报告相关细节。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em " /pp style="text-align: center text-indent: 0em "strong中国能量色散X-射线荧光光谱仪（ED-XRF）市场调研报告 （2019）/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong报告目录/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong第一章 ED-XRF技术概述 1/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "1.1 ED-XRF技术简介 1/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "1.2 ED-XRF技术发展趋势 1/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "1.2.1 仪器小型化、专用化 2/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "1.2.2多功能化、智能化 2/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "1.2.3 一机多用 2/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "1.3 ED-XRF近年受关注技术 2/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "1.3.1 全反射X-射线荧光光谱（TXRF） 2/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "1.3.2 微束X-射线荧光光谱（μ-XRF） 3/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong第二章 ED-XRF产品概况 4/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "2.1 ED-XRF主流产品概况 4/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "2.2 2018-2019年ED-XRF新产品概况 5/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "2.2.1 HORIBA XGT-9000 X射线显微分析仪 5/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "2.2.2 四川新先达 CIT-3000SY X-荧光元素录井仪 6/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "2.2.3 SciAps X-50土壤分析仪 7/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "2.2.4 赛默飞（尼通）Niton XL5手持式矿石分析仪 8/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "2.2.5 朗铎科技FAS 2100手持式X射线荧光光谱仪 9/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "2.2.6 奥林巴斯Vanta Element手持式X射线荧光光谱仪 10/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong第三章 ED-XRF用户调研分析 11/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "3.1 ED-XRF用户单位性质分布 11/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "3.2 ED-XRF用户地域分布 11/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "3.3 ED-XRF类型分析 12/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "3.4 用户拥有ED-XRF数量分析 13/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "3.5 ED-XRF主要用途分析 14/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "3.6 ED-XRF使用频率分析 14/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong第四章 ED-XRF市场概况分析 16/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "4.1 2018年中国ED-XRF市场情况分析 16/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "4.2 ED-XRF热点应用或市场需求分析 18/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong第五章 ED-XRF政府采购招中标分析 19/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "5.1 2018年ED-XRF政府采购招中标情况分析 19/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "5.1.1采购单位性质分布 19/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "5.1.2 ED-XRF中标类型分布 20/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "5.1.3 ED-XRF中标品牌分布 20/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "5.1.4 ED-XRF中标价格区间分布 21/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "5.2 各类单位采购ED-XRF品牌及品类交叉分析 21/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "5.2.1 各单位采购ED-XRF品类分析 21/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "5.2.2 各类型ED-XRF不同品牌出货量分析 22/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong第六章 用户对ED-XRF评价分析 24/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "6.1 用户采购ED-XRF的关注因素分析 24/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "6.2 国产与进口ED-XRF故障率对比分析 24/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "6.3 国产与进口ED-XRF用户满意度对比分析 26/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "6.3.1 售前服务满意度 26/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "6.3.2 产品性能满意度 27/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "6.3.3产品价格满意度 28/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "6.3.4售后技术支持满意度 30/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "6.3.5售后维修满意度 31/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "6.4 ED-XRF售后服务问题分析 32/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "6.5 用户获取ED-XRF信息及采购渠道方式分析 34/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong结论 35/strong/p

毛细管聚焦的微束X射线荧光谱仪及其应用研究邵金发，侯禹存，程琳*（北京师范大学核科学与技术学院，射线束技术教育部重点实验室 100875）摘要随着科技的发展，人们对物质的分析慢慢深入到微区领域。而微束能量色散X射线荧光作为一种高灵敏、高精度的元素分析技术，已然成为物质微区分析的有利工具。本实验室将毛细管X射线聚焦技术与能量色散X射线荧光分析技术相结合，自行设计研发了一种新型毛细管聚焦的微束X射线荧光谱仪。该谱仪在利用毛细管X光透镜的特点将X射线源发出的X射线束会聚到微米量级的同时，基于激光位移传感器开发了自动调整样品测量点到透镜出口端距离的闭环控制系统，有效的减少由于样品表面不平整或弧度带来的测量误差，弥补了现有微束Ｘ射线荧光谱仪在此方面的不足。因此，该微束Ｘ射线荧光谱仪为表面不平整文物样品的无损微区元素分析提供了解决方案。1. 引言微束能量色散X射线荧光光谱（Micro-energy dispersive X-ray fluorescence， µ-EDXRF）分析技术因其快速、准确、无损分析等优点，被广泛应用在考古、地质、环境、材料、生物等科学领域[1-8]。目前，基于实验室光源以获得微束入射X射线的方法主要有准直器限束和X射线光学器件聚焦两种。通过准直器限束获得微束入射X射线是最早在微束X射线荧光谱仪中使用的方法，具体为采用准直狭缝或小孔作为光阑放置在入射光路上，用以减小入射X射线的发散度。但与此同时，入射光束的强度会因为物理阻挡而降低，从而导致获得的特征X射线信息减弱。而多毛细管X光透镜利用X射线全反射原理，可将在空心毛细管内表面上的多次全反射的X射线会聚于焦点。因此可以实现以较大的角度收集从X射线源产生的X射线，且会聚后X射线的束斑大小可低至几十微米。同时，毛细管X光透镜对Cu-Kα的能量有高达2-3个数量级的放大倍数[9]，且具有低的发散度。同时，可以将基于毛细管聚焦的微束能量色散X射线荧光分析技术与大面积扫描相结合，实现微米级表面结构和元素分布的分析测定。目前国内外存在部分商业化的微束X射线荧光谱仪，其中美国EDAX公司生产的Orbis系列微束X射线荧光谱仪，适用于部分地质和考古样品测试的[10]；德国Bruker公司生产的M4 Tornado可移动式微束X射线荧光谱仪，适用于实验室或博物馆内各类样品的研究[11]。但由于部分文物样品表面并不平整或存在较大的弧度，若不对相对位置进行修正，这将使得样品测量点与毛细管Ｘ光透镜出口端的距离在测量过程中发生改变，从而影响测量结果的准确性和元素区域扫描的分辨率[12]。为解决上述问题，本实验室自行设计和开发一种新型的微束X射线荧光谱仪以及相应的计算机控制程序，并且开展了相关分析方法学的研究。2. 仪器组成本实验室设计的毛细管聚焦的微束X射线荧光谱仪结构示意图如图1所示，其主要由微焦斑X射线管（Mo靶，焦斑大小50μm×50μm，德国Röntgen公司）、毛细管X光透镜（Mo-Kα能量处束斑大小为31µm）、SDD X射线探测器（5.9keV时能量分辨率为145eV，铍窗有效面积25mm2）和PX5多道分析器、精度为20µm的激光位移传感器、激光笔、具有20倍放大功能的1400万像素固定焦距CCD摄像头、高精度XYZ三维样品台，以及在LabVIEW语言环境下开发的仪器控制程序等部分组成。仪器控制软件主要包括探测系统控制界面、X射线源高压控制界面、机械运动系统控制界面、CCD图像采集控制界面和氦气控制界面构成。其中主界面包含了各个控制功能系统的一些主要控制命令及输出，如图2所示。谱图显示区域在探测过程中实时显示X射线探测器探测到的谱图。此外，该仪器使用的高精度自动化三维运动平台可以满足微区的二维μ-EDXRFF分析的需求，以便实现对感兴趣区域内元素分布的分析。图1 微束X射线荧光谱仪的结构示意图图2 微束X射线荧光谱仪控制程序主界面3. 实验分析3.1 清代红绿彩瓷的分析为了评估本仪器对样品微区进行元素二维扫描分析的能力，选取一片清代红绿彩瓷的残片作为研究对象（图3）。选取图3中A（白釉）、B（红彩）、C（绿彩）进行微区的元素组成分析。实验测量时，X射线管电压40 kV，电流0.6 mA，探测活时间300 s。样品A（白釉）、B（红彩）、C（绿彩）三点的微束X射线荧光分析的能谱如图4所示，彩料中各元素化学成分采用基本参数法进行定量分析，所得的数据如表1所示。图3 清代红绿彩瓷残片与感兴趣区域图片图4 红绿彩中白釉、红彩和绿彩的μ-EDXRF光谱表1 白釉、红彩和绿彩的化学成分（质量分数，%）此外，选择如图3中2mm×2mm的感兴趣区域，使用微束X射线荧光谱仪进行µ-EDXRF二维扫描分析。进行µ-EDXRF二维扫描分析时，X射线管电压为40 kV，电流为0.6 mA，扫描步距为30 µm，每个点探测时间为1.5 s，扫描数据经软件处理得到如图5所示的元素分布图。图5 扫描区域内Pb、K、Fe、Ca、Cu、Al、Mn、Si元素的分布3.2 吉州窑古陶瓷的分析为评估本仪器对表面存在大弧度的样品进行微区元素二维扫描分析的能力，选取一片吉州窑古陶瓷的残片作为研究对象（图6）。实验开始前调节平移台使样品表面感兴趣区域清晰呈现在CCD图像中，并通过鼠标在控制界面的CCD视野中选择具体的目标扫描区域。选取图6中大小为10mm×10mm的区域进行元素二维扫描分析。µ-EDXRF二维扫描分析的测量条件与上文相同。同时，为验证本仪器“源-样”距离自动控制系统对测量结果的影响，分别在开启和关闭“源-样”距离自动控制系统的条件下进行元素二维扫描分析，扫描数据经软件处理得到如图7所示的元素分布图。图6 吉州窑古陶瓷样品与扫描区域图片图7 扫描区域内K、Ca、Zn、Fe元素分布图。a）关闭“源-样”距离自动控制系统，b）开启“源-样”距离自动控制系统通过图7与图6的比较可知，在关闭“源-样”距离自动控制系统的情况下进行µ-EDXRF二维扫描时，由于样品表面的弯曲，样品测量点与毛细管X光透镜出口端之间的距离发生变化，使得X射线光束的焦点无法与样品测量点重合。这导致测得元素分布图空间分辨率变差，同时生成的图像发生了扭曲。相反，当打开“源-样”距离自动控制系统进行测量时，由于该系统可实时调整平移台使X射线束准确照射在样品测量点上，显著降低由于样品表面弯曲带来的偏差。极大的改善了测量结果，表明该仪器在不平整样品的µ-EDXRF二维扫描中具有重要的应用价值。4. 结论本实验室将毛细管X射线聚焦技术与能量色散X射线荧光分析技术相结合，设计和研发了一种新型毛细管聚焦的微束X射线荧光谱仪。该微束X射线荧光谱仪在具备无损分析微小样品和样品微区的元素分布能力的同时，其基于激光位移传感器开发的“源-样”距离自动控制系统可实时调整样品测量点到透镜出口端距离，显著降低了由样品表面不平整或弧度带来的测量偏差，弥补了现有微束Ｘ射线荧光谱仪在此方面的不足。因此，其在材料科学、地球科学和文物保护等领域有着广泛的应用前景。参考文献[1] 戴珏,吴奕阳,张元璋,等.能量色散X射线荧光光谱法在检测仿真饰品中有害元素的应用[J].上海计量测试,2018,45(04):34-35.[2] 陈吉文,倪子月,程大伟,等.基于EDXRF的土壤中痕量镉的快速检测方法研究[J].光谱学与光谱分析,2018,38(08):2600-2605.[3] 陈曦,周明慧,伍燕湘,等.能量色散X射线荧光光谱仪在稻米中镉含量测定的应用研究[J].食品安全质量检测学报,2018,9(10):2331-2338.[4] 蒯丽君. 化学前处理—能量色散X射线荧光光谱法应用于矿石及水体现场分析[D].中国地质科学院,2013.[5] Rathod T, Tiwari M, Maity S , et al. 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p style="white-space: normal "strong /strongstrong仪器信息网讯 /strong2018年5月11日，受廊坊开元高技术开发公司委托，中国分析测试协会组织召开了“XGY-2020A型气体发生-原子荧光光谱仪”技术鉴定会。br//pp style="text-align: center"img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201805/insimg/4cea267a-686e-4713-b79a-4a89ab8a9d55.jpg" title="现场.jpg"//pp style="white-space: normal text-align: center "img class="qi_image" src="http://qi.mofangyu.com/qi/core/static/ueditor/themes/default/images/spacer.gif" alt="" title=""/strong技术鉴定会现场/strongbr//pp style="white-space: normal "strong /strong经过30多年的发展，我国具有自主知识产权的原子荧光光谱仪取得了很多进步和发展，相比其他分析仪器在测试Hg、As、Sb、Se、Bi、Ge等元素灵敏度方面具有优势。但是，也存在一些亟待解决的问题，如，各厂家仪器不同程度存在管路多、接口多、易漏液、转动部件易磨损变形等缺点从而影响分析测试结果；目前市场上原子荧光光谱仪器在Hg元素测量上普遍存在易沾污、稳定性差等问题，尤其是仪器的长期稳定性、重现性、现场应用能力较弱；另一个目前市场上原子荧光光谱仪器普遍存在的问题就是记忆效应严重，在反应器（管）、传输管、气液分离器、原子化器等部分极易留下记忆，需要大量的清洗工作；等等问题成为制约原子荧光光谱仪进一步发展的瓶颈。/pp style="text-align: center"img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201805/insimg/a62fb925-edea-40d2-99f8-832a036d2c76.jpg" title="领导.jpg"//pp style="white-space: normal text-align: center "img class="qi_image" src="http://qi.mofangyu.com/qi/core/static/ueditor/themes/default/images/spacer.gif" alt="" title=""/strong中国地质科学院地球物理地球化学勘查研究所/strongstrong副所长郝国杰/strongstrong致辞/strongbr//pp style="white-space: normal "strong /strong廊坊开元高技术开发公司成立于1992年，隶属于中国地质科学院地球物理地球化学勘查研究所，是我国早期研制原子荧光光谱仪的单位之一。廊坊开元高技术开发公司同时也是国家现代地质勘察工程技术研究中心仪器生产线和仪器研制中心。公司的主要产品包括XGY系列气体发生-原子荧光光谱仪，并且一直不断地进行着原子荧光光谱仪器技术的研制工作。/pp style="text-align: center"img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201805/insimg/792d8ac9-742a-4f41-a5cc-ff22e7bf3726.jpg" title="仪器.jpg"//pp style="white-space: normal text-align: center "img class="qi_image" src="http://qi.mofangyu.com/qi/core/static/ueditor/themes/default/images/spacer.gif" alt="" title=""/strongXGY-2020A/strongstrong型气体发生-原子荧光光谱仪/strongbr//pp style="white-space: normal " XGY-2020A型气体发生-原子荧光光谱仪的研发基于XGY-1011A型气体发生-原子荧光光谱仪。1995年，由于采用了独创的气动间歇式氢化物发生装置和专利的氩氢火焰低温点燃技术，XGY-1011A获得了BCEIA金奖。不过，20多年过去了，如今看来XGY-1011A也存在着一些局限性，如只是单通道测量、还需手动进样、整体的自动化程度较低。有鉴于此，廊坊开元高技术开发公司研发团队提出了保持XGY-1011A间歇式氢化物发生系统优势基础上，开发研制精度高、稳定性更好、操作更方便实用的全自动双通道气体发生-原子荧光光谱仪。该双通道气体发生-原子荧光光谱仪研制项目得到了中国地质调查局和中央级公益性科研院所基本科研业务费用等的支持。/pp style="text-align: center"img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201805/insimg/7f9b6233-1bb4-4969-85f3-db094ade39aa.jpg" title="李可.jpg"//pp style="white-space: normal text-align: center "strong廊坊开元高技术开发公司研发与生产经理、XGY-2020A型气体发生-原子荧光光谱仪主研人 李可/strongstrongimg class="qi_image" src="http://qi.mofangyu.com/qi/core/static/ueditor/themes/default/images/spacer.gif" alt="" title=""//strong/pp style="white-space: normal "strong /strong李可介绍了XGY-2020A的主要创新点及重要进展。XGY-2020A采用了全自动间歇式气体发生系统、外供氢气系统、高精度液体气体控制系统，实现了大体积进样及氢火焰低温自动点燃，具有火焰噪声低、无排放、无记忆、灵敏度高的特点；XGY-2020A实现了双光源四通道测量，可自动扣除背景；采用新型无色散已平面光路、惰性气体光路保护系统和全反射降噪装置，具有无反射和散射干扰、“荧光淬灭”效应小、测定背景低、灵敏度高的特点；XGY-2020A还探索研究了数字控制的高强度空心阴极灯供电方式，实现了不同元素可采用不同脉冲调制技术，具有高灵敏度、稳定性强的特点。/pp style="text-align: center"img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201805/insimg/3458aaa4-8da9-43b3-9ab2-9d4991f32c41.jpg" title="张勤.jpg"//pp style="white-space: normal text-align: center "img class="qi_image" src="http://qi.mofangyu.com/qi/core/static/ueditor/themes/default/images/spacer.gif" alt="" title=""/strong中国地质科学院地球物理地球化学勘查研究所中心实验室主任兼任廊坊开元高技术开发公司的总经理 张勤/strongbr//pp style="white-space: normal " 张勤介绍到，在双通道气体发生-原子荧光光谱仪的研发与产品化过程中申请并已经获得了国家实用新型专利21项，形成了多项原创性技术。同时，张勤指出，如今有很多分析仪器测试时都会采用高浓度的酸碱溶液以及其他化学试剂，不但对仪器、操作人员都有极大的危害，而且产生的环境污染也极为严重。所以，张勤团队在研发GY-2020A之初就确定了“绿色、高效、节能、安全、友好”仪器新理念。而GY-2020A中实现的外供氢气技术这是这一理念的很好诠释——碱性还原剂和反应介质的酸浓度大为减低。/pp style="white-space: normal " 在对GY-2020A型气体发生-原子荧光光谱仪进行技术鉴定的同时，相关产品技术的研制工作已经在进行中了，如落地一体式GY-2020和XY轴自动反应进样器新品即将研制完成。而且为了实现将原子荧光光谱仪推向世界的目标，张勤团队已经在计划开发全英文的软件系统等。/pp style="white-space: normal " 清华大学教授张新荣任此次鉴定会专家组组长、国家地质实验测试中心副主任罗立强任副组长。中国分析测试协会负责人张渝英、中国分析测试协会汪正范、中国地震台网中心副主任陈华静、中国计量科学研究院化学所副所长马联弟、国家地质实验测试中心杨啸涛、中国地质科学院地球物理地球化学勘查研究所张锦茂、中国科学院地质与地球物理研究所李禾、北京矿冶研究总院冯先进等组成鉴定专家组。/pp style="white-space: normal " 专家组认真听取了《XGY-2020A型气体发生-原子荧光光谱仪研制报告》、《样机测试报告》，观看了仪器现场演示，进行了质询和答疑，最后一致认为：廊坊开元高技术开发公司成功研制了具有自主知识产权的XGY-2020A型气体发生-原子荧光光谱仪，并具备多项创新点，该技术达到了国内外领先水平。/pp style="white-space: normal " 此次技术鉴定会还由10多位来自地矿系统各地方测试中心的主任或总工组成咨询专家组，站在用户的角度对新产品XGY-2020A提出实际应用中的需求。用户最为关心的就是仪器最终检测结果的准确度、精密度和仪器的长期稳定性。同时，原子荧光光谱仪是痕量元素分析仪器，所以，其检出限也是仪器测试性能的关键技术指标。XGY-2020A由于采用了大体积进样发生装置，样品量可达5ml，特别适合超低含量的样品检测。而且，XGY-2020A采用的全自动间歇式气体发生系统，无交叉污染、无沾污、无残留，即无记忆效应，极大改进了通常原子荧光光谱仪存在的记忆效应严重的问题。/pp style="text-align: center"img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201805/insimg/5d76633b-69e9-4c4f-bd7a-dd0dc7d1844f.jpg" style="" title="参观.jpg"//pp style="text-align: center"img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201805/insimg/f05c2485-5c5e-4252-91f3-e2da2c16e67c.jpg" title="演示.jpg"//pp style="white-space: normal text-align: center "img class="qi_image" src="http://qi.mofangyu.com/qi/core/static/ueditor/themes/default/images/spacer.gif" alt="" title=""/strong专家观看仪器现场工作状况/strongbr//pp style="text-align: center"img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201805/insimg/70c1744a-fd08-47ef-95c1-22e1d667cb76.jpg" title="合影.jpg"//pp style="white-space: normal text-align: center "img class="qi_image" src="http://qi.mofangyu.com/qi/core/static/ueditor/themes/default/images/spacer.gif" alt="" title=""/strong“XGY-2020A型气体发生-原子荧光光谱仪”技术鉴定专家组与研制负责人合影/strongbr//ppbr//p

关于举办《紫外可见分光光度计、原子吸收光谱仪、X射线荧光分析仪》学术交流会邀请函随着加入WTO与国际接轨，新的要求、新的标准给仪器应用带来了更广泛的领域，同时，随着科技的发展、市场的繁荣给分析工作带来了新的仪器、新的技术。为更进一步了解仪器的原理性能，使现有的资金——购置最适用的设备；使现有的设备——发挥最出色的作用，北京普析通用仪器有限责任公司特举办此交流会，并邀请专家授课。现将有关事宜通知如下：一、日期：2006年4月26日二、讲课内容及时间安排：l上午8：45－11：45介绍讲解 李昌厚教授专程主讲紫外可见分光光度计部分1．目前国内、外紫外可见分光光度计仪器及应用的最新进展。2．紫外可见分光光度计的主要性能指标（定义、测试方法、对分析误差的影响、应用上的重要性）。3．如何评价（挑选）紫外可见分光光度计使之适用于本职的分析工作。4．如何使用好紫外可见分光光度计的关键问题。l下午1：00－2：30介绍讲解 李昌厚教授专程主讲原子吸收分光光度计部分1．目前国内、外原子吸收分光光度计仪器及应用的最新进展。2．原子吸收光谱仪的主要性能指标（定义、测试方法、对分析误差的影响、应用上的重要性。）3．如何比较一台原子吸收光谱仪的功能，它给分析工作带来的优越性是什么？4．如何选择原子吸收光谱仪的最佳分析条件，及提高灵敏度的方法。l下午2：30－4：00介绍讲解 田宇纮教授专程主讲X射线荧光分析仪部分全反射X射线荧光(TXRF)分析技术是近年才发展起来的多元素同时分析技术。TXRF可以大大提高能量分辨率和灵敏度。该技术被誉为在分析领域是最具有竞争力的分析手段、在原子谱仪领域内处于领先地位。本讲座将要介绍的就是X射线荧光分析仪在材料分析中的应用技术与最新的发展情况。三、原吸紫外主讲人： 李昌厚教授中国分析仪器学会副理事长中国光学仪器学会　物理光学仪器专业委员会　副主任中国国家技术监督局　国家级计量认证评审员中国科学院上海生物工程研究中心仪器分析室主任、研究员、博士生导师：李昌厚教授专程主讲X射线荧光分析仪主讲人： 田宇纮教授中国科学院近代物理研究所 教授X射线荧光分析仪设计与制造 专家四、会议地点：唐山饭店 多功能厅唐山市建设南路46号(唐山市百货大楼对面)报名联系人：孟令红 田凤电话：13383059598 0311-86050158 五、本次研讨会免费听取，并提供中午工作餐。六、到场请认真填写《会议信息反馈表》，及时交到会务组，凭此领取礼品。七、为提高听课质量，敬请与会者在主讲人授课时间保持手机安静。八、乘车路线：唐山市火车站汽车站坐车到唐山市百货大楼对面。车程十五分钟。 注：具体讲课时间以4月26日当天的研讨会现场安排为准，如有变动不另行通知。北京普析通用仪器有限责任公司河北联络处 2006年4月12日 参　会　回　执单位全称：部门（科、室）：通讯地址：邮　　　　编：参会人数：电　　　　话：参会人员姓名：联 系 电 话：其他要求：注：因会场空间有限，名额仅限150人。请参会人员及时准确填写回执。并请传真至0311-86050158-810。凭此回执参加研讨会。另：如不方便发传真，也可电话及邮件报名报名联系人：田凤 联系电话：0311-86050158E-mail:hebeioffice@pgeneral.com

手持式能量色散X射线荧光光谱仪及其应用研究(李福生，电子科技大学教授、博士生导师）摘要光谱分析及信息科学被广泛应用于工业检测、污染防治等领域。X射线荧光光谱（X-Ray Fluorescence spectrometry, XRF）由于具有快速、无损、精确等优点，在环境污染监测、中草药鉴别、金属回收等方面具有十足的研究潜力和广阔的应用前景。人工智能及高端装备研究团队立足于自主研发的手持式X射线荧光光谱元素分析仪（TS-XH4000），利用X射线荧光光谱分析技术结合先进的人工智能算法开展土壤污染监测、土壤质量综合评价、铁粉元素测量等研究工作。团队研发的新一代手持式X射线荧光光谱仪采用具有可实现盲测，检出限低，可测微量元素等优势。1.引言能量色散X射线荧光光谱分析技术由于其快速、无损和精确的检测优点，目前已经被广泛应用于煤质分析、安检过程、资源勘采、货物通关、环境检测和中草药检测等领域[1][2][3]。能量色散X射线荧光光谱采用脉冲高度分析器将不同能量的脉冲分开并测量。能量色散X射线荧光光谱仪可分为具有高分辨率的光谱仪，分辨率较低的便携式光谱仪，和介于两者之间的台式光谱仪[4]。目前国内外同类手持式X射线荧光光谱分析仪主要包括美国品牌Niton生产的分析仪[5]，日本生产的Olymbus光谱仪[6]和日立光谱仪[7]等。这些光谱仪普遍存在精准度一般、采购成本较高、难以单独定制等问题。而本团队设计的X射线荧光光谱仪历经几代研发，采用智能AI算法，可实现盲测，检出限低，可测微量元素；采用全球首创9mm*5mm腰形窗口，保护探头、便于测细小物品及不规则物品；安全性高，所有仪器均配有已申请专利的探头保护盖，自检安全保护；且工作状态有灯带提示，配有物料感应功能，利于物体识别，很好保护操作者的安全。本团队光谱仪的所有核心技术都归自己所有，不受国外任何技术限制。本团队所设计和研发的型号为TS-XH4000-SOIL的手持式能量色散XRF光谱仪（基于 AMPTEK INC.的 SDD 探测器）利用智能能量色散荧光分析法可以同时得到检测样品的X荧光光谱图及样品中所含元素种类和含量，测量元素范围为Na(11)-U(92)。此外，团队结合新型人工智能算法，例如BP神经网络[8]、支持向量回归[9]、贝叶斯优化算法等[10]，设计了计算机校正软件，实现了基于X射线荧光光谱的中草药真伪鉴别，基于X射线荧光光谱的土壤重金属元素含量和铁粉含量的精确定量分析。2. 仪器组成本团队自主研发的手持式X射线荧光光谱仪集成先进智能算法、人体学设计外观结构、各型接口等，可在合金回收、土壤污染检测、中草药鉴别等众多领域应用。该光谱仪主要由激发源（X射线光管）、探测器、滤光片、多道脉冲幅度分析器等部分组成，结构示意图如图1所示。X射线管配有电源（最大电压50kV，最大电流200mA）。在仪器测量之前，需要先根据死时间、光谱信号噪声、光谱分辨率等指标将仪器的相关参数调整至最佳，然后通过检测纯元素的X射线光谱，完成能量刻度的定标，实现从通道数到能量刻度数的转换。接着，将定量模型算法需要的变量、算法参数、补偿系数、预处理流程等设定到主控内存中，完成采集完信号后并解析信号，最终反演物质的元素含量等信息，并通过WIFI或蓝牙将仪器所测量的精度显示到PC端。图1 手持式X射线荧光光谱仪的结构示意图本团队还设计了谱图预处理及模拟谱图生成的软件，其软件界面如图2所示。其主要功能包括：能量刻度转换、初级光源预处理、初级光源生成、Sigma计算、 XRF光谱模拟等功能。该程序可以生成多元素样本的 XRF光谱图及光谱大数据，为人工智能对样品的定性和定量分析提供数据支持，旨在实现元素的无标样的定性定量分析。图2 X射线荧光光谱分析仪控制程序主界面3. 土壤元素实验分析土壤质量综合评价与土壤中各种元素的含量有着密切的联系。因此本实验研究了XRF技术结合SVR算法定量分析土壤中铜（Cu）元素含量的可行性。如图3所示，本实验使用的设备是由课题组研究生产制造的手持式ED-XRF光谱仪，型号为TS-XH4000-SOIL，该设备的X射线管在45KV和25uA下正常工作。实验中采用了55个国标样品作为土壤标准样品，样本中每个待测元素都具有足够宽的含量范围和适当的含量梯度。图3 土壤样本与XRF光谱仪在验证中，将实验样品分为训练集和测试集两个集合，分别用于外部验证和内部验证。然后，基于灵敏度分析得出Cu元素主要受到Fe、Co、Ni、Cu等组分信息的影响，选择最优输入特征为该4种元素。使用最优输入特征和全部特征作为输入，基于贝叶斯优化算法找到最优模型参数，分别建立了预测土壤样品Cu元素含量的SVR定量预测模型。同时以全部特征作为输入建立了单参数PLS模型，通过5倍交叉验证(CV)选择单参数PLS模型的最优主成分个数为9。基于校准集数据分别建立了三种模型，利用这些模型对13个测试集和42个训练集数据中的Cu元素含量进行预测，结果如图4所示。图4 Cu元素的预测结果 (a):经过特征降维的SVR模型 (b):全部特征作为输入的SVR模型 (c):PLS模型可以看到，对训练集数据进行直接预测时，采用全部特征作为输入的SVR模型取得了最好的效果，其预测结果和原数据几乎一致(R2C= 0.9988, RMSEC = 6.9356)，然而，对于测试集数据采用全部特征作为输入的SVR模型获得了非常差的结果(R2P= 0.9146, RMSEP = 73.8296)。基于4个高灵敏度特征的SVR在预测测试集时获得了非常好的效果(R2P= 0.9918, RMSEP = 22.8803)，预测数据的一致性较好。在XRF技术结合SVR定量分析中，变量选择对于测试集的预测精度有关键作用。4. 中草药元素实验分析本实验采用30份金银花样品主要选择产地为山西、河南、湖南与广西省，其中每个产地各选择5份，共20份，并将样本命名为JYH-01~JYH-30。7份外观相似的山银花样品，产地为湖南省，样本命名为SYH01~SYH-07。3份粉末相似的商陆、多穗金粟兰、宽叶金粟兰样本，命名为DB-01~DB-03。三类真伪中药材的XRF数据集各有其特有的性质，本文使用t-SNE算法可以提取出三组XRF数据集的前350 维特征，将这些特征降维映射至二维图片中进行可视化分析，如图5所示。可以明显的看出这三组真伪中药材的 XRF数据集在图片二维空间中位于三簇不同的位置。从而三组样本在含有以上5种元素重要相关信息的350维数据在映射至二维中有了明显的区分，比原始XRF光谱图更容易理解与分析。图5 基于金银花、外观相似伪样本、粉末相似伪样本三组XRF样本集的t-SNE特征降维可视化图为更直观地了解这土壤和中草药XRF数据集的固有特性，利用t-SNE算法将350维的XRF特征映射到二维空间并在同一幅图中进行可视化分析。如图6所示，两个数据集在二维空间聚集成了两个分布位置不同的簇。首先，两组样本在含有重要相关信息的350维数据在二维图中有了明显的区分，比原始XRF反射光谱图更易于分辨。图6 两组XRF样本集的t-SNE特征降维可视化图5. 铁粉元素测量及实验分析针对手持式X射线荧光分析技术在铁粉行业的应用，本团队开展X射线荧光背景散射内标法用于铁粉元素测量的应用研究。首先，通过低电压高电流、高电压低电流、不同采集板的增益，选择合适的设备参数获取较优的特征X射线信号。接着，分别采用SiPIN、SDD类型探测器的手持式X射线荧光分析仪建模，Si-Kα峰、Fe-Kβ峰加背景散射线内标对铁粉中的元素含量进行建模。最后，根据含量已知的铁粉样品对所建立模型的确定度系数R2和均方根误差RMSE进行评估，选出不同场景情况下合适的应用模型。表1 SiPIN探测器时铁粉中Fe元素预测结果表2 SiPIN探测器时铁粉中Si元素预测结果表3 SDD探测器时Fe元素预测结果表4 SDD探测器时Si元素预测结果如表1和表2所示，为采用SiPIN探测器的建模结果。Si-Kα峰加背景散射线内标的结果，R2为0.9070， RMSE为0.0007； Fe-Kβ峰加背景散射线内标法的结果，R2为0.88，RMSE为0.0037。如表3和表4所示，为采用SDD探测器的建模结果。Si-Kα峰加背景散射线内标的结果，R2为0.9869，RMSE为0.0002； Fe-Kβ峰加背景散射线内标的结果，SDD探测器Fe建模结果，R2为0.9099，RMSE为0.0033。采用SDD探测器定量结果验证结果更好，这与SDD探测器性能良好有关。6. 总结本团队基于自主设计和研发的手持式ED-XRF光谱仪，结合人工智能算法对土壤重金属元素含量、中草药成分和铁粉元素含量进行准确定性、定量分析。所设计的TS-XH4000-SOIL光谱仪具有高精度和高可靠性，提出的先进人工智能算法框架可以有效校正土壤和铁粉XRF光谱和待测元素含量的复杂映射关系。因此，本团队研发的光谱仪和相应的人工智能算法软件在环境监测和保护、冶金行业及其他分析化学领域都有着广泛重要的应用。参考文献[1] 甘婷婷, 赵南京, 殷高方, et al. 水体中铬,镉和铅的X射线荧光光谱同时快速分析方法研究简[J]. 光谱学与光谱分析, 2017, 37(6):7.[2] 王袆亚, 詹秀春, 袁继海,等. 偏振能量色散X射线荧光光谱测定地质样品中铷锶钇锆元素不确定度的评估[C]// 第八届全国X射线荧光光谱学术报告会. 0.[3] 张辉, 刘召贵, 殷月霞,等. 能量色散X射线荧光光谱法测定中草药中的Cd元素[J]. 分析测试技术与仪器, 2019, 25(3):5.[4] 张颖, 汪虹敏, 张辉,等. 小型台式EDXRF现场快速测定深海沉积物中稀土元素[J]. 海洋科学进展, 2019, 37(1):11.[5] Ene A, Bosneaga A, Georgescu L. 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Quantitative analysis of heavy metals in soil by X-ray fluorescence with improved variable selection strategy and bayesian optimized support vector regression[J]. Chemometrics and Intelligent Laboratory Systems, 2023, 238: 104842.作者简介李福生，电子科技大学教授，博士生导师。在核粒子能谱分析、蒙特卡洛模拟、人工智能与云计算技术、模式识别及智能系统、控制科学及多智能体、智能制造及智慧工厂等方面的研究与应用成果斐然，具有丰富的理论研究基础和工程应用经验。曾就职于美国GE-贝克休斯公司、荷兰皇家壳牌集团等国际 500强企业的科研院，并兼任美国北卡罗莱纳州立大学客座教授。近年来在国际权威杂志发表高水平论文30多篇，拥有2项国际发明专利和50多个国内专利，出版学术专著1册，参与多个国际重大研发项目。在仪器研制方面，成功研发了多代高精度手持式X射线光谱成分分析仪，且已经过上海市计量测算技术研究中心的专业鉴定，具有高灵敏度、高准确度、快速无损等特性，可广泛应用于石油、天然气煤层气勘探与开采，铀矿探测以及金属、食物、植物、土壤的检测等，对实现我国在地质考古、公共安全、环境保护、食品安全等领域的探测设备核心部件的升级及市场国产化产生了重大影响。e-mail：lifusheng@uestc.edu.cn

在现代科学研究和工业应用中，精确的物质性质测量是至关重要的。特别是在材料科学、光学工程以及生物医学领域，透射测量与反射测量技术的应用日益增多，它们在各自的领域内发挥着不可替代的作用。透射测量是指测量光线通过物质后的强度变化，以此来分析物质的特性；而反射测量则是基于光线打到物质表面后反射回来的光强变化进行分析。这两种测量技术虽然操作原理不同，但都旨在通过光与物质的相互作用来揭示物质的内在属性。一、透射测量与反射测量的比较分析透射式和反射式分光光度计均能利用光源的闪烁特性，覆盖360至750纳米范围内的全部波长光线进行照射。通过对透射光或反射光的测量，这些设备能够创建出色彩的量化图谱（即色彩“指纹”）。在反射光谱中，主要波长决定了颜色的属性。紫色、靛蓝及蓝色属于短波段，波长介于400至550纳米之间；绿色处于中波段，波长在550至600纳米；而黄色、橙色及红色表示长波段光。对于光亮增白剂（OBA）和荧光剂这类特殊物质，它们的反射率甚至可以超过100%。反射式分光光度仪通过照射光源至样本表面并记录以10纳米步长测得的反射光比例，以此来分析颜色。这种方法适用于完全不透明的物质，通过反射光的量化，可以准确测量其色彩。而配备透射功能的分光光度仪则是通过让光穿透样本，使用对面的探测器来捕获透过的光。这一过程中，探测器会测量透射光的波长及其强度，并把它们转换成平均透射率的百分比，以量化样本的特性。尽管反射模式能够用于分析半透明表面，但准确了解样本的透明度是必须的，因为这直接关系到最终数据的准确性。二、样品确实不允许光线穿透吗？测量透射率与评估不透明度并不总是等同的，因为不透明度涉及两个方面：是否能遮挡视线穿过的表面或基质，以及材料允许光线通过的程度。通常，您可能会认为您的手是不透光的，从某种角度来看，这是正确的。然而，当您把手电筒紧贴手掌并开启时，会发现光线能够从手的另一侧透射出来。半透明与透明材质的本质区别半透明材料允许光线穿透，却不允许清晰的视线通过。举个例子，经过蚀刻处理的浴室塑料门便是半透明的。相比之下，透明材料，如普通的玻璃板，可以让人从一侧清楚地观察到另一侧的物体。三、实际应用及解决方案考虑到涂料，当其涂布于墙面时，其不透明性足以覆盖下层材料，阻止透视效果。但要准确评估涂料的不透明度，我们需采用对比度分析法。一旦应用于基底，涂料通常表现出高不透明度，使得Ci7500台式色差仪成为其测量的理想工具。至于塑料，虽然肉眼看来我们可能无法通过塑料样本看穿，但它们可能具备一定的光透过性。比如，外观不透明的塑料瓶，在未经测试前其真实透光性难以判断。以过氧化氢瓶为例，其内容物若暴露于阳光下会迅速分解，因此这类瓶子通常呈棕色，以屏蔽阳光。然而，置于强烈光源下，这些瓶子是能透光的。鉴于成本考虑，过氧化氢瓶的制造尽量保持不透明。在纺织品的应用上，选择分光光度仪时需考虑具体的使用场景。美国纺织化学师与印染师协会（AATCC）推荐将样品折叠至四层以确保不透明度的测量。这一方法对于测量厚实的织物如灯芯绒裤或棉质卷料足够有效，但对于透明或薄的半透明尼龙材料，采用其他量化技术可能更为合适。请记住，在测量特定允许一定光线透过的纺织品时，按照ASTM的203%遮光测试标准，必须使用具备透射功能的分光光度仪进行测量。Ci7600台式分光光度仪、Ci7800台式分光色差仪和Ci7860台式色差仪均支持透射和反射模式测量，它们为需要同时评估不透明与半透明样本的应用场景提供了理想解决方案。这些设备能够执行三种主要测量方式：①直接透射测量：针对完全透明的样本设计，如塑料拉链袋和清晰的玻璃板。②全透射测量：适合那些允许光线穿透但视线模糊的半透明样本，比如橙汁、洗涤液以及2升容量的塑料瓶。③雾度测量：针对那些能够散射光线的半透明样本，如汽车尾灯的塑料覆盖件，这类样本散射红色光线，而不直接显露灯泡和灯丝。若您的需求仅限于测量完全不透明的表面，Ci7500台式色差仪或许更符合您的需求。然而，如果您的主要测量对象为不透明表面，偶尔也需测量一些允许光线透过的物体，那么具备透射测量功能的设备，如Ci7600台式测色仪或更高端的型号，将是更合适的选择。四、关于爱色丽“爱色丽彩通 ”总部位于美国密歇根州，成立于1958年。作为全球知名的色彩趋势、科学和技术公司，爱色丽彩通提供服务和解决方案，帮助品牌、制造商和供应商管理从设计到最终产品的色彩。如果您需要更多信息，请关注官方微信公众号：爱色丽彩通

手持式X射线荧光光谱仪是通过内部高压发生器产生X射线激发被测物体表面电子，电子在跃迁时发生能量释放从而获得各种元素的特征谱线。在设计手持式X射线荧光光谱仪时，优先考虑的就是使用安全。手持式X射线荧光光谱仪的辐射几乎可以忽略不计，只要操作得当，不会对人体造成伤害。尽管如此，我们在使用仪器时依然要注意安全，这样才能保证操作者和其周围人员的人身安全。辐射在我们的生活中无处不在数据显示，人类每时每刻都生活在各种辐射中。来自天然辐射的个人年有效剂量全球平均约为2.4毫西弗，其中，来自宇宙射线的为0.4毫西弗，来自地面γ射线的为0.5毫西弗，吸入（主要是室内氡）产生的为1.2毫西弗，食入为0.3毫西弗。人每年摄入的空气、食物、水中的辐射照射剂量约为0.25毫西弗。戴夜光表每年有0.02毫西弗；乘飞机旅行2000公里约0.01毫西弗；每天抽20支烟，一年有0.5至1毫西弗；一次X光检查0.02毫西弗。手持式X射线荧光光谱仪辐射安全常识在设计上，赛默飞世尔尼通手持式X射线荧光光谱仪在不进入测试界面测试时，不会发出任何电离辐射（即X射线）。对于一个给定的辐射源，三个因素决定了人体所接受的辐射剂量：1受照射时间受照射的时间越长，人体所接受的辐射剂量也就越大。辐射量与受照射时间成正比。2与辐射源的距离离辐射源越近，所受的辐射剂量就越大。所接受的辐射剂量与辐射源的距离的平方成反比。例如，距离辐射源1英尺所接受到的辐射量是距离辐射源3英尺所接受到的辐射量的9倍。因此，当仪器快门打开时，应保证手和身体的各个部位远离仪器的前端，以使所受的辐射量减至最小。3辐射屏蔽屏蔽指的是任何介于操作者和辐射源之间的材料。屏蔽材料越多，材质密度越大，所受到的辐射就越少。可选购测试架作为测试样品过程中一种附加的屏蔽装置，反向散射屏蔽附件也十分有效，对于某些应用特别适合。孕妇使用时应该注意：错误操作与使用会导致辐射暴露。操作人员对设备安全需负责：使用时，设备应该始终由受过正规培训的操作人员负责。不使用时，应放到安全地方存放。测量时，不要将手部接近设备头部。当检测窗口被物体覆盖时，安全指示灯亮。如果探测器未检测到物体时，不会产生出X射线。关于X射线设备仪器的辐射安全标准对人体伤害可以参照关于X射线设备仪器的辐射安全标准。在我国国家标准GB 15208。GB15208：1-2005《微剂量X射线安全检查设备第1部分：通用技术要求》中，对微剂量X射线安全检查设备提出的辐射安全指标是：设备的单次检查剂量不应大于5μGy；在距设备外表面5cm的任意处（包括设备的入口、出口处），X射线泄漏剂量率应小于5μGy/h。Gy（戈瑞）：吸收剂量，指人体受到电离辐射后吸收了多少能量。1千克被照射物吸收电离辐射的能量为1J（焦耳）时称为1Gy。即：1Gy=1J/kg。Sv（毫西弗）：有效剂量，是反映各种射线或粒子被吸收后引起的生物效应强弱的电离辐射量。它不仅与吸收剂量有关，而且与射线种类、能量有关。（1Sv=1J/kg，1mSv=10-3 Sv）首先设备本身应带有射线的屏蔽装置，比如说防护铅板和铅玻璃。其次，管头有光闸或者防护罩，主要照射面应该是密不透风的。至于漏散的部分，计量相对于要照射面更小，且波长变长，对人体的危害可以认为就更小了。X射线是直线不会拐弯。综上所述，只要正确操作手持式X射线荧光光谱仪，是不会对人体造成伤害的，手持式X射线荧光光谱仪的用户们可以放心地使用。操作手持式X射线荧光光谱仪注意事项扣动扳机之前请注意X射线穿越方位。检测过程中不要将身体任何部分接近检测区域，尤其是眼睛和手部。不要手拿样品至检测窗口进行测量分析，而是要将设备测试窗口抵住样品来进行测量。在检测小且薄的样品或低密度材料，例如：塑料，木材，纸或陶瓷时，请使用配选件安全遮挡或台式样品架进行检测。操作设备时，如果有需要，可以配备有正规机构认证的剂量计。

一般来讲仪器的电气参数随温度变化而漂移，致使测量结果会受到一定影响。尽管我们采用的是电制冷全数字脉冲型处理技术和用软件的办法来消除漂移，但其测量结果还是会受到一定的影响。接下来和一六仪器一起了解X射线荧光光谱仪仪器常规保养与维护。　　X射线荧光光谱仪仪器常规保养与维护：　　一、光管老化　　本公司采用业内一流的X射线光管，很少有坏的例子。但X射线光管的寿命不仅取决于光管的质量，而且很大程度上依靠使用者的保养和维护。光管的保护主要来自二个方面：　　1、当仪器在测量时，不要突然断电，应先关闭软件，再关闭光谱仪 　　2、光管老化。当仪器在初次使用或放置3天以上不用的情况下，测试前务必先做光管老化。光管老化工作由仪器根据设定的条件自动进行。　　二、清理样品室　　X射线荧光光谱仪是比较精密的仪器，不仅实验室要求保持干净，仪器内部也要求干净。特别是对于经常测量粉末压片样品的用户，要定期清洁载物台和样品室，保证样品和仪器内部不受污染，保证测试的数据准确可靠。样品室的清洁方法：　　1、打开样品腔的上盖，套上探测器保护盖。　　2、用吸尘器的吸管伸入样品腔吸取灰尘。　　3、保证吸尘器的吸管远离探测器的头部位置，以免损坏探测器端面的脆弱薄膜。　　三、开机和关机　　严格按《手册》要求的顺序开机和关机。在仪器开机后，预热5~10分钟后，使电路工作在稳定的状态后，才开始进行正常测试。如果短时间内不需测试时，不用关闭仪器。　　四、软件的日常维护　　将测试数据和测试用的相关文件定期备份，可备份到D盘或光盘。　　由于仪器配置的不同和软件版本的变化，X射线荧光光谱仪维护所提到的操作步骤可能会有一些变化。如果在仪器的使用过程中有任何不清楚的地方，请与仪器供应商或相关服务人员联系，我们将竭诚做好售后服务工作，保证您的光谱仪工作在最佳状态。　　以上就是一六整理分享的关于X射线荧光光谱仪仪器常规保养与维护，希望可以帮助到大家。想了解更多相关资讯，欢迎持续关注。

X射线荧光光谱仪在我们生产的各个领域都有广泛的应用，对于企业生产质量的保障都有重要作用。X射线荧光光谱仪也经历了长时间的发展过程，在发展的过程中不断突破技术瓶颈，变得越来越好。那关于X射线荧光光谱仪的发展历史，你了解多少呢?跟着X射线荧光光谱仪生产厂家一六仪器来了解一下吧。　　1895年德国物理学家伦琴发现X射线 　　1969年美国海军实验室研制出第一台EDXRF 　　1990年北京中产电子、上海硅酸盐研究所、成都地质学院、西安262厂、西安海通原子能研究所、重庆地质仪器厂研制EDXRF 　　1997年德国菲希尔在中国注册公司销售EDXRF测厚仪 　　2000年英国牛津仪器在定型自有FP算法 　　2001年英国牛津在中国注册公司销售EDXRF测厚仪 　　2003年德国费希尔仪器在定型自有FP算法 　　2005年日本精工仪器在中国注册公司销售EDXRF测厚仪 　　2009年国内仪器厂商海外购买FP算法推出EDXRF测厚仪 　　2017年一六仪器全新EFP算法成熟，推出新一代EDXRF测厚仪 　　一六仪器发展历程：　　2009年一六仪器团队成员根据多年的EDXRF研发及应用经验，重新搭建更新一代算法、结构、部件及控制总成系统。　　2012年算法模型和新型搭建成功，部件开始投入市场。　　2015年EFP核心算法的软件进行整机测试其最小测量面积、变焦、及复杂多层的能力。　　2017年12月正式发布新型测厚仪XTU系列及EFP算法软件。　　至今相继推出了XTU、XAU、XTD、XAD等系列的多种仪器型号，功能包括涂镀层分析、Rohs检测、地质地矿全元素分析、古董珠宝贵金属检测。　　以上就是X射线荧光光谱仪生产厂家一六仪器给大家整理的全部内容，如果大家想要了解更多关于X射线荧光光谱仪的内容，欢迎咨询我们。一六仪器专注于光谱分析仪器研发、生产、销售和服务。公司产品广泛的应用于环保、涂镀层、粮食、地质地矿、电子元器件、LED和照明、家用电器、通讯、汽车电子、航空航天等制造领域。

仪器信息网讯 2010年12月20日，内蒙古地矿局与帕纳科公司在呼和浩特市内蒙古地矿局会议室举行了“内蒙古自治区地质矿产勘查开发局购买帕纳科移动式X射线荧光光谱仪货物到货交付仪式”。内蒙古地矿局副局长郑翻身、内蒙古地质矿产(集团)公司副总经理张峰、副总工葛昌宝、生产技术部长赵士宝、计划财务处处长顾旭东，帕纳科亚太区执行总裁Anant Bhide先生、中国区总经理薛石雷等出席交付仪式。交付仪式现场　　交付仪式上，内蒙古地矿局副局长郑翻身、帕纳科亚太区执行总裁Anant Bhide先生分别代表仪器交付双方讲话。内蒙古地矿局副局长郑翻身　　郑翻身局长讲话中说道，随着国家、内蒙古自治区经济建设的快速发展，经过过去几十年的探测、开采，我国尤其内蒙古境内的地表矿产正在逐渐减少，地质勘查、矿业开发已经向深部找矿发展，深部找矿、探测工作迫在眉睫，是今后找矿新突破的重要方向。相应的对于高品质的测试设备的需求也在逐步增加。　　内蒙古地矿局始建于1956年，是自治区境内从事地质勘查、矿业开发、工程勘察施工以及岩矿化学分析与测试鉴定、国土资源测量、水文地质和环境地质勘察工作的一支最大的专业地质勘查队伍。但作为一个成立50多年的地质勘查单位，内蒙古地矿局的找矿、测试等仪器设备已经有些陈旧、落后。大规模更换矿产探测、检测仪器设备已经势在必行，所以从本世纪初开始，内蒙古地矿局开始逐步更换仪器设备，这次交付的12台帕纳科X射线光谱仪器就是其中的一部分。　　最后郑翻身局长说道，在内蒙古地矿局这次大规模采购探测、测试仪器设备过程中，帕纳科公司是第一个举办仪器到货交付仪式的公司，体现了帕纳科公司对这次合作的重视。郑翻身局长代表内蒙古地矿局对帕纳科公司表示感谢。并希望今天交接的12台帕纳科X射线光谱仪器运作良好，为内蒙古自治区的地矿事业做出贡献，也为帕纳科公司打开地矿行业市场。帕纳科亚太区执行总裁Anant Bhide先生　　Anant Bhide先生首先代表帕纳科公司向内蒙古地矿局对帕纳科公司给予的信任表示感谢，很高兴能和内蒙古地矿局合作。　　Anant Bhide先生讲话中说道，帕纳科公司是世界上最大的X-射线光谱仪和相关软件及服务的供应商之一，具有70多年的行业经验。这次内蒙古地矿局采购帕纳科12台移动式X射线荧光光谱仪Minipal 4，对于内蒙古地矿局来说可能只是一件小事情，但对于帕纳科公司来说确是迈出了一大步，地矿行业一次性购买这么大数量的帕纳科仪器，对于帕纳科公司来说还是第一次。　　Minipal的含义是“小朋友”，帕纳科希望这个“小朋友”能够帮助内蒙古地矿局找到想找的矿产，而帕纳科公司将全力负责让“小朋友”更好的运转。Anant Bhide先生将象征12台X射线荧光光谱仪的12把钥匙、仪器证明文件交付郑翻身局长双方开香槟庆祝交付完成　　据了解，内蒙古地矿局此次购买的帕纳科12台移动式X射线荧光光谱仪Minipal 4为台式能量色散式X射线荧光光谱仪。其外形小巧，并且光管的最大功率仅为9W；具有世界上无需液氮冷却且能量分辨率最高的探测器—硅漂移探测器；可对固体、液体、油漆类样品直接进行分析，12个样品自动进样系统，节省人力和时间，适合企业大批量样品分析。　　这12台移动式X射线荧光光谱仪将配备给内蒙古地矿局下属的矿产勘查单位，作为车载或移动实验室的检测仪器。

仪器信息网讯 2012年5月9日-12日，由中国钢铁工业协会、中国铸造协会、中国国际贸易促进委员会冶金行业分会、中国机械工程学会工业炉分会、中国耐火材料行业协会、中展集团北京华港展览有限公司主办的第十三届中国国际冶金工业展览会、第十一届中国国际铸造博览会、第五届中国铸造零部件展览会、第九届中国国际耐火材料及工业陶瓷展览会、第十一届中国国际工业炉展览会同期在中国国际展览中心(北京顺义新馆)隆重举行。江苏天瑞仪器股份有限公司展位　　江苏天瑞仪器股份有限公司参加了本届展会，并在现场特别展出了Genius 5000 X射线荧光光谱仪、EDX4500 X射线荧光光谱仪。Genius 5000 X射线荧光光谱仪　　Genius 5000 X射线荧光光谱仪是天瑞于2011年7月推出的一款新产品，是天瑞手持式四代X荧光分析仪(该产品为“2011年科学仪器优秀新产品”获奖产品)系列产品之一。该仪器采用了小功率端窗一体化微型光管、大面积铍窗SDD硅漂移探测器及微型数字信号多道处理器三大核心技术提升仪器性能。较三代手持式X荧光分析仪，增加了可充气系统，可采用常压充氦气系统对设备充气，从而实现检测从Mg开始的元素，大大扩展测试元素范围，满足特定客户轻元素检测需求。仪器自身具备防水防尘功能，并可在高温高湿环境下连续使用，其保护箱采用高强度军工用品，有良好的防潮防震防压三防功能。主要用于钢铁、废旧金属回收、机械制造与加工、锅炉压力容器等领域。

1. 前言光照射到物体上，由于物体的表面不同，通常会发生两种反射，镜面反射和漫反射，如图所示。图1 光在物体表面的反射示意图对于玻璃、镀膜基板、滤光片等表面光滑的零部件，镜面反射率是评价其光学特性的重要参数，测定反射率最常用的仪器是紫外可见近红外分光光度计。日立紫外产品线丰富，波长测试范围涵盖紫外可见区域到近红外区域，可以满足样品不同波长下的测量需求。2. 应用数据镜面反射根据测量方式的不同，分为相对反射率和绝对反射率。客户需要根据样品特征，选择不同的测量方式。日立具有5°到75°固定入射光角度的镜面反射附件，适用于多种样品的镜面反射测量。图2 绝对反射测量图3 相对反射测量绝对反射率通常使用V-N法进行测量，直接获得样品的反射特性，应用广泛。但是对于低反射率的样品，使用相对反射测量，可以有效扩大动态范围。 2.1 石英基板的相对反射率测量 • 测量附件图4 5o 相对反射附件• 测量结果 使用紫外可见分光光度计U-3900 的5o相对反射附件，以BK7玻璃为参考标准品测定石英基板的相对反射光谱。结果表明石英基板的相对反射率约为80%。 图5 石英基板的相对反射率通过日立U-3900的选配程序包，使用相对反射率得到转换后的绝对反射率，如下图所示。如果直接测定石英基板的绝对反射率，光谱易受噪声影响。图6 石英基板转换后的绝对反射率2.2 铝平面镜和金平面镜的绝对反射率金平面镜表面涂有金膜，该金膜在红外区域具有高反射率。铝平面镜是表面涂有铝膜，在可见光区到近红外区有较高的反射率和较小的角度依赖性。两者常作为相对反射测量时的标准面。• 测量附件图7 5 o绝对反射附件• 测量结果 使用紫外可见近红外分光光度计UH4150的5°绝对反射附件分析了金平面镜和铝平面镜的绝对反射率。 图8 金平面镜和铝平面镜的绝对反射率 结果表明，在可见光区域，铝平面镜的反射率超过80％。金平面镜的反射率在可见光区域较低，但其在近红外区域的反射率较高。因此在测量样品的相对反射率时，如果需要关注近红外区域，可以使用在近红外区具有高反射率的金平面镜作为标准面。 3. 结论样品的镜面反射率有两种测量方式，相对反射率和绝对反射率。对于低反射性样品，使用相对反射附件测量其相对反射率，可以获得信噪比良好的光谱，如玻璃基板上薄膜的反射率。对于通常的样品，可以直接使用绝对反射附件测量其绝对反射率。日立提供多种镜面反射测量附件，还可根据客户需求量身定制，满足各种样品的镜面反射率测量。

p style="text-indent: 2em "span style="text-indent: 2em font-family: 楷体, 楷体_GB2312, SimKai "常用的元素分析方法包括原子吸收光谱、原子发射光谱、X射线荧光光谱、能谱分析、等离子体发射光谱、电感耦合等离子体质谱、有机元素分析等。其中，X射线荧光光谱技术（XRF），因其非破坏性、快速和廉价分析等特点，工程、品质管理等领域得到广泛的应用。那么XRF广泛应用性背后的原理如何？经历了哪些技术发展历程？又有哪些新技术出现？接下来，拥有17年 X射线荧光技术工作经验的日立分析仪器公司镀层分析产品的产品经理Matt Kreiner为我们做了解答。/span/pp style="text-indent: 2em "strongX射线荧光光谱仪（XRF）技术原理？/strong /pp style="text-indent: 2em "何为X射线？类似可见光线，X射线也是电磁波的一种，不同的是它的波长较之可见光为短，在100埃米到0.1埃米之间。同时，与一般的电磁波相比，X射线能够比较容易穿透物质，且物质原子序数越高，穿透能力越强。下图为X射线荧光产生的示意图。由于X射线荧光是元素所固有的能量，依据Moslay法则可对荧光X射线的能量做定性分析，同时，利用X射线荧光强度（光子数）则可做定量分析。/pp style="text-align: center"img style="max-width: 100% max-height: 100% width: 400px height: 446px " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202005/uepic/99857032-fd94-4c20-8db0-d2a04b822e98.jpg" title="1.png" alt="1.png" width="400" height="446" border="0" vspace="0"//pp style="text-align: center "span style="color: rgb(0, 176, 240) text-indent: 0em "X射线荧光产生示意图/span/pp style="text-indent: 0em "span style="color: rgb(127, 127, 127) "（运作流程：主X射线对准样品；X射线与原子碰撞时，电子从其轨道中弹出；来自高能轨道的电子填充这些空隙，释放出元素和特定跃迁所特有的X射线；X射线由探测器收集和处理。）/span/pp style="text-align: center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202005/noimg/6ebff279-9b2a-4b77-a8af-eccc2ab70f8f.gif" title="2.gif" alt="2.gif"//pp style="text-indent: 0em text-align: center "span style="color: rgb(0, 176, 240) text-align: center text-indent: 0em "波长分散型和能量分散型/span/pp style="text-indent: 0em text-align: center "span style="color: rgb(127, 127, 127) "（检出器收集的数据用于识别哪些元素存在，以及每个元素在测量部分中有多少）/span/pp style="text-indent: 2em "通常，X射线荧光分析装置大致分为两大类，即波散型（Wave Length-dispersive X-ray Spectroscopy WDX）和能散型（Energy-dispersive X-ray Spectroscopy EDX）。/pp style="text-indent: 2em "strong相对其他“元素分析”技术手段，XRF主要技术优势？/strong/pp style="text-indent: 2em "XRF是一种对多种材料中的一系列元素进行非破坏性、快速和廉价分析的重要技术。尤其台式和手持式XRF分析仪操作简单，通常不需要任何特殊工具或消耗品。/pp style="text-indent: 2em "这使得在生产线附近操作XRF分析仪成为可能，并提高了效率。常见应用如无机元素的元素分析，分析范围通常在Na（11）和U（92）之间；汽车零部件领域应用，经过优化的XRF，可分析常见镀层中的元素，分析范围通常在Al（13）和U（92）之间。/pp style="text-align: center"img style="max-width: 100% max-height: 100% width: 450px height: 292px " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202005/uepic/aa1ef22d-46c2-4864-af44-0ec100009049.jpg" title="3.png" alt="3.png" width="450" height="292" border="0" vspace="0"//pp style="text-align: center "span style="color: rgb(0, 176, 240) text-indent: 0em "XRF光谱谱图示例/span/pp style="text-indent: 2em "strongXRF能“快速”检测的原因？/strong /pp style="text-indent: 2em "XRF检测快速的一个原因是测量是用X射线进行的，而X射线是以光速进行传播的。被测试的样品被与样品相互作用的初级X射线“激发”，并产生次级X射线，由精密的探测器进行信号转换，整个流程花费的时间很短暂的。/pp style="text-indent: 2em "然而 “快速”检测与 “精准”两个方面往往是此消彼长的矛盾关系，所以保证XRF“精准”性也是很重要的。一般可以通过一些优化技术、软件控制、减少操作中时间、减少间隙停机时间等技术手段来实现。例如，日立分析仪器公司FT160的创新多毛细管体系结构技术，这是一个聚焦光学元件，由一组弯曲为锥形的细小玻璃管组成，X射线通过反射引导穿过管道，类似于光纤技术中的光引导方式。毛细聚焦管光学元件与微束X射线管匹配将比传统系统更多的信号引导到样品，收集更多的X射线管输出。其焦斑小区域上的X射线强度比传统机械准直系统高出几个数量级。从而实现“快速”与“精准”的优化。/pp style="text-align: center"img style="width: 600px height: 185px " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202005/uepic/98196092-7da2-4885-85f7-86b63b42abef.jpg" title="4.png" width="600" height="185" border="0" vspace="0" alt="4.png"//pp style="text-align: center"img style="width: 400px height: 267px " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202005/uepic/c2ee2177-8ad6-4258-b867-553e8bfd1d1a.jpg" title="5.png" width="400" height="267" border="0" vspace="0" alt="5.png"//pp style="text-align: center "span style="color: rgb(0, 176, 240) text-align: center text-indent: 0em "X射线荧光镀层厚度测量仪 FT160系列/span/pp style="text-indent: 2em "而传统传统XRF为测量较小尺寸样品（如镀层样品），使用机械准直装置将X射线管的光束尺寸减小到几分之一毫米，达到减小光束尺寸的目的。但这一过程通过在X射线管前方放置一块钻有小孔的金属块实现，仅允许与孔对准的X射线穿过并到达样品。绝大多数X射线输出因被准直器块阻挡而不能用于分析，削弱了检测效率。/pp style="text-indent: 2em "strongXRF主要应用领域有哪些？/strong/pp style="text-indent: 2em "以镀层厚度测量为例，当涉及到镀层及相关测试需求时，一般都会用到XRF，而汽车行业就是应用最密集的行业之一。由于XRF允许快速和现场测试，因此它适合制造生产线。原始的设备制造商都需要依赖XRF，因为每辆汽车平均有约15000个部件，上面涂有各种金属和其他镀层，以确保导电性或绝缘性。然而，汽车组装是需要快速流水线进行的，这些部件需要在现场进行测试，XRF便发挥了重要作用。总之，XRF允许在不干扰生产制造过程的情况下进行质量控制，这成为其广泛被应用的重要原因之一。/pp style="text-indent: 2em "strongXRF产品技术发展历程？/strong/pp style="text-indent: 2em "以日立分析仪器公司产品为例。镀层分析方面，日立分析仪器公司提供一系列用于镀层分析的台式XRF测试解决方案，是该领域的先驱。日立在1978年便推出了SFT155/156，这是第一台使用X射线管的台式XRF镀层分析仪。2011年推出FT110，随后2012年推出X-Strata920，2015年推出FT150。/pp style="text-align: center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202005/uepic/4a486c78-ef23-45f9-9912-e85db756f0c4.jpg" title="6.png" alt="6.png"//pp style="text-align: center "span style="color: rgb(0, 176, 240) text-indent: 0em "X射线荧光镀层厚度测量仪系列/span/pp style="text-align: center"img style="max-width: 100% max-height: 100% width: 600px height: 277px " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202005/uepic/fb177589-3235-4725-ba51-a62ada2b7608.jpg" title="7.png" alt="7.png" width="600" height="277" border="0" vspace="0"//pp style="text-align: center "span style="color: rgb(0, 176, 240) text-indent: 0em "X射线荧光分析仪系列/span/pp style="text-indent: 2em "目前日立分析仪器公司的产品范围包括具有半导体检测器的X-Strata920、具有用于大容量测试的高级功能的FT110A和新推出的FT160等。如上所述，FT160将SSD检测器与多毛细管光学器件结合使用，以精确测量纳米级镀层的更小特征。多毛细管光学器件与微点X射线管匹配，以收集更多的管输出。这将其聚焦在通量比机械准直系统大几个数量级的较小区域上。这意味着可以更快，更高精度地测量更小和更薄的特征，从而更容易符合规格。/pp style="text-indent: 2em "strong集透视CT、显微成像、XRF技术于一身的EA8000/strong/pp style="text-indent: 2em "除了常规XRF产品，日立分析仪器公司还有一款比较特殊的产品EA8000，其集合透视CT、显微成像、XRF技术于一身。EA8000A的推出是为了满足电动汽车用电池日益增长的质量控制需求。它能快速检测锂离子电池内的金属颗粒污染物，有助于防止这些颗粒存在时发生的灾难性故障。/pp style="text-align: center"img style="max-width: 100% max-height: 100% width: 280px height: 300px " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202005/uepic/db78fcfc-5183-420d-89e3-05de37cc7fa8.jpg" title="8.png" alt="8.png" width="280" height="300" border="0" vspace="0"//pp style="text-align: center "span style="text-indent: 0em color: rgb(0, 176, 240) "锂离子电池· 燃料电池用X射线异物分析仪 EA8000/span/pp style="text-indent: 2em "EA8000是一体式设计，从而实现更高的效率。将X射线成像单元、荧光X射线分析仪和光学显微镜被集成到一个系统中并链接以自动提供结果。与传统仪器相比，检测速度和金属污染物识别的时间要短得多。操作员可以简单地放置样品并进行测量，从而实现高效的工作和生产力。/pp style="text-indent: 2em "三项技术的结合，使EA8000可以定位和识别电池内的破坏性金属颗粒，提供对大小、分布和颗粒类型的全面分析，这在控制电池质量时是非常关键的，快速分析、易用性和自动化支持大批量生产等性能帮助电池企业顺利实现交付目标。/pp style="text-indent: 2em "这些技术的结合不仅提供了锂离子电池关键区域内金属颗粒的大小、分布和类型的独特综合图像，而且极大地缩短了成像时间。检测时间可缩短至3至10分钟，比常规时间缩短100多倍。这一点非常重要，电极材料、燃料电池隔板和锂离子充电电池中的金属颗粒污染会产生热量，降低电池容量和寿命；一些情况下，杂质还会导致火灾。因此，电池制造商需要对直径约20µ m的金属颗粒进行快速检测和元素识别。而EA8000A设置测量参数后，可自动捕获X射线图像，检测和识别金属颗粒，提高故障分析和测试的效率。/pp style="text-indent: 2em "span style="color: rgb(0, 112, 192) "strongMatt Kreiner简介/strong/span/pp style="text-align: left text-indent: 2em "img style="max-width: 100% max-height: 100% width: 113px height: 150px " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202005/uepic/47231b47-e116-4abb-9d58-e749c0f16363.jpg" title="9.jpg" alt="9.jpg" width="113" height="150" border="0" vspace="0"//pp style="text-indent: 2em "马特· 克林纳 （Matt Kreiner）是日立分析仪器公司镀层分析产品的产品经理。他有17年的X射线荧光技术工作经验，职业生涯始于应用工程师。Matt居住在芝加哥，拥有美国西北大学（Northwestern University）化学工程学士学位。/p

从即日开始至2015年9月30日止，日本电子针对旧机型老客户,Elementeye将提供特殊优惠价格。优惠机型为日本电子最新X射线荧光光谱仪JSX-1000S，具有易操作、高灵敏度及高通量、解决方案丰富等特点。更多仪器详细信息，请浏览JEOL官方网站：http://www.jeol.co.jp/en/products/detail/JSX-1000S.html

由国家地质实验测试中心牵头，钢研纳克检测技术有限公司等8家单位共同申报的2012年国家重大科学仪器设备开发专项项目“波谱-能谱复合型X射线荧光光谱仪的研发与产业化”已获科技部批准，项目实施周期为五年。　　X射线荧光光谱仪已成为国内、外各实验室必备的测试仪器，大功率(3KW)波长色散XRF分析仪的制造技术多年来被5家外国公司所垄断，国内年销量达200多台套。测试中心邓赛文研究员及其团队紧密结合国家中长期科学和技术发展规划，根据波长色散(WD)和能量色散(ED)的技术特点，提出将两种技术有机结合，自主研发高性能大功率(4KW)波谱/能谱一体化的(WED-XRF)分析仪器，并建立与之配套、实用的定性、定量以及元素分布分析专家系统和应用方法体系，有很好的应用前景。对促进X射线荧光分析技术的发展，打破国际制约，提高我国分析仪器技术装备制造水平，具有重要意义。

玻璃作为一种常见的材料，广泛应用于建筑、汽车、家具等领域。在玻璃行业中，透射和反射是两个重要的性质。透射涉及玻璃对可见光的透明程度和色彩表现，而反射关乎玻璃表面镀膜的效果。本文将介绍如何使用在线ERX55分光光度仪和ColorXRAG3色度分析仪来监控色彩质量和测量玻璃镀膜的反射率。透射是玻璃行业中最重要的光学性质之一，它决定了玻璃对可见光的透明程度和色彩表现。当光穿过玻璃时，会受到折射现象的影响。折射是光在从一种介质传播到另一种介质时改变方向的现象。这种折射现象使得玻璃能够将光有效地传播到玻璃的另一侧，使我们能够透过玻璃看到外面的世界。在玻璃行业中，透射率是一个重要的参数。透射率定义为通过玻璃的光强与入射光强的比值。透射率越高，玻璃对光的透明度就越好。而对于特定波长的光，其透过玻璃的能量与光谱分布有关，因此，不同类型的玻璃可能对不同波长的光具有不同的透射率。透射率的测量通常使用分光光度计来完成。在线ERX55分光光度仪是高精度的测量仪器，可以用于测量透明薄膜的色彩、可见光透射和雾度，持续监控色彩质量。通过持续监控透明薄膜的色彩质量，生产厂家可以确保产品的一致性和稳定性。反射是另一个在玻璃行业中需要关注的光学现象。反射率是一个指标，用于衡量光线在物体表面反射的程度。在玻璃制造过程中，常常会在玻璃表面进行涂层处理，这些涂层能够改变玻璃的反射性能。通过合理设计涂层，可以实现特定的反射率，使玻璃在特定波长范围内表现出所需的特殊光学效果，如防紫外线、隐私保护等。玻璃作为非散射性物体，在传统的直接照明测量设备中无法准确提供色彩数据。为解决这一问题，ColorXRAG3色度分析仪成为了一种重要工具。该设备具备宽波长范围（330nm到1,000nm）和高光学分辨率（1nm），可在实验室中安装在支架上，对放置在样品支架上的玻璃板进行测量。同时，它也可用于在线测量，安装在玻璃板上方的横梁用于测量低辐射玻璃，或安装在玻璃板下方用于测量遮阳镀膜。ColorXRAG3色度分析仪具有紧凑型设计，可从距离玻璃板10mm处捕获非散射性样品的光谱数据和色彩反射值，甚至能鉴定多银层镀膜。该仪器采用氙气闪光灯，同时采用+15°:-15°、+45°:-45°和+60°:-60°三种光学结构，每秒进行一次测量，以实现全方位的色彩数据获取。其中，±15°的测量值与传统实验室测量的积分球光学结构结果相同，而±45°和±60°的测量值则可以显示不同观察角度下的色彩变化。ColorXRAG3色度分析仪的应用为玻璃行业提供了一种高效、准确的色彩测量解决方案，使生产厂家能够更好地控制透射与反射性能，提高产品质量，并满足不同市场需求，推动玻璃行业的持续发展。透射和反射是玻璃行业中非常重要的光学现象。透射性能决定了玻璃的透明度和色彩表现，而反射率则与玻璃表面的涂层处理密切相关。使用在线ERX55分光光度仪和ColorXRAG3色度分析仪，可以对玻璃产品的透射性能和反射性能进行精确测量和监控，从而保证玻璃产品的质量和性能达到预期要求。“爱色丽彩通”是丹纳赫公司旗下的品牌，总部位于美国密歇根州，成立于1958年。作为全球领先的色彩趋势、科学和技术公司，爱色丽彩通提供服务和解决方案，帮助品牌、制造商和供应商管理从设计到最终产品的色彩。

近日，国家标准《铁矿石 波长色散X射线荧光光谱仪 精度的测定》完成草案编制并公开征求意见，截止时间为2021年10月12日。该标准由广州海关技术中心、钢研纳克检测技术股份有限公司、宁波海关技术中心等单位起草，使用翻译法等同采用ISO/TR 18231:2016(E)《铁矿石 波长色散X射线荧光光谱仪 精度测定》。 波长色散X射线荧光光谱仪是X射线光谱仪的两大分类之一，适用于各种固体材料或液体，如金属、玻璃、陶瓷、岩石、矿物、燃油、水质及沉积物的定量分析及未知样品的无标样半定量分析，广泛应用于钢铁、冶金、石化、地质、环保、材料、电子等领域。　　与只需激发源和探测器和相关电子与控制部件能量色散X射线荧光光谱仪相比，波长色散X射线荧光光谱仪的主要部件还包括分光晶体和测角仪，虽然灵敏度更高，但是结构更复杂，在测定时对精度的影响因素更多。　　为保证检测结果的精度，波长色散型光谱仪的各个部件都需要符合要求正常运行。与仪器各种功能相关的误差都会改变检测结果的精度。不同领域的应用对于波长色散型光谱仪的精度要求有很大区别，因此为了确定光谱仪能否提供符合要求的精度，需要测量与仪器某些部件操作相关的误差。　　《铁矿石 波长色散X射线荧光光谱仪 精度的测定》的制订就是建立这样的测试方法。这些试验方法不是用于检查光谱仪的每个部件，而是只检查那些可能带来常见误差源的部件。该标准以国际标准ISO/TR 18231:2016(E)《铁矿石 波长色散X射线荧光光谱仪 精度测定》为蓝本进行编制，技术内容与ISO/TR 18231:2016(E)基本相同。　　标准明确了波长色散X射线荧光光谱仪精度领域所涉及的测试项目，包括计数器的分辨率(流气式正比计数器、烁计数器和封闭式正比计数器)、流气式正比计数器窗膜电导率、脉冲漂移校正、光谱仪([精密度、测试样品、仪器条件、稳定性、样品旋 转测试、转盘再现性试验等)设备静止时间和最大可用计数率等。同时对测试频率和测试方法确定了统一的规范。　　该标准的制定建立了我国在铁矿石和直接还原铁领域使用的波长色散X 射线荧光光谱仪精度所涉及的测试项目标准，为铁矿石贸易依据的检验方法奠定基础。同时为我国铁矿石和直接还原铁各类标准的更好应用提供了技术保证。

荧光分光光度计是用于扫描荧光标记物所发出的荧光光谱的一种仪器，由高压汞灯或氙灯发出的紫外光和蓝紫光经滤光片照射到样品池中，激发样品中的荧光物质发出荧光，荧光经过滤过和反射后，被光电倍增管所接受，然后以图或数字的形式显示出来，当样品中的荧光物质的浓度较低时，其荧光强度与该物质的浓度通常有良好的正比关系，利用这种关系可以进行荧光物质的定量分析。荧光分光光度计可用于药品、食品、生物、化学材料等领域的样品检测，是光谱检测手段中重要的一个分支。中华人民共和国黄埔海关是海关总署垂直领导的正厅级直属海关，是广东省内7个直属海关之一，总关设在黄埔。关区范围包括广州市黄埔区、增城区和东莞市，面积约4658平方公里。黄埔海关管辖区域既是华南地区重要的海上对外贸易口岸，也是我国加工贸易开展最早、密度最大的地区之一。黄埔关区所辖“两区一市”外向型经济发达，监管业务涵盖了除空运以外的所有运输方式，业务门类相对齐全，既有口岸通关，也有属地监管。狭小的关区范围内密布着57个海关监管作业场所、27个集中作业场地、4个海关特殊监管区域、69个保税监管场所，注册企业总数6万多家。广州黄埔海关技术中心，负责为出入境检验检疫提供综合技术支持与后勤服务，出入境检验检疫实验室检测，检验检疫标准拟订，检验检疫技术研究开发、技术与业务培训和咨询服务等。作为拥有强大检测能力和方案开发能力的使用者，不仅要求所选择的科学分析仪器具有参数高、使用稳定可靠、适用范围广等特点，还要求具有国产自主知识产权，技术安全可控，经过多方比较和测试，客户最终认定港东科技的F-380型荧光分光光度计产品性能、主要技术指标和稳定可靠性均已达到国际同类产品先进水平，且具有国产自主知识产权，故选择港东科技的F-380型荧光分光光度计作为实验室检测用仪器，应用于日常检验检疫工作。 近日，港东科技的F-380型荧光分光光度计已在广州黄埔海关技术中心完成安装和验收，现场实际使用效果，以及港东科技售后服务的专业水准，得到客户的高度赞扬和认可。作为国产光谱分析仪器的一线品牌，港东科技不仅在红外光谱仪领域始终保持国产行业领先，在荧光分光光度计领域同样做到国产顶流，产品覆盖高等院校、科研院所、政府机构、第三方检测、制造型企业等众多客户，作为国产自主品牌，拥有高性价比、更完善的售前售后服务等优势，可对进口同档次产品进行替代。

土壤作为农业生产活动的主要载体和环境污染物的主要受体，其污染程度与人们的生活息息相关。近年来，随着城镇化、工业化的快速推进，大量固体废物不断向土壤表面堆放和倾倒，有害废水不断向土壤中渗透，导致土壤酸化面积扩大、程度增加，土壤中重金属活性增强，土壤污染趋势加重，已经严重破坏生态平衡。以习近平新时代中国特色社会主义思想为指导，贯彻坚持绿水青山就是金山银山的理念，把生态文明建设作为关系中华名族永续发展的根本大计，国务院决定2022年开展第三次全国土壤普查，涉及41项普查项目，其中重金属元素Cu、Ni、Zn、Cd、Pb、Mo、Cr、Mn等采取X射线荧光光谱技术进行分析。X射线荧光光谱仪原理X射线荧光光谱是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。X射线荧光是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。，这种现象被广泛应用于元素分析和化学分析。根据量子理论，X射线可以看成由一种量子或光子组成的粒子流，每个光具有的能量为：E=hν=hC/λ（E为X射线光子的能量，单位为keV；h为普朗克常数；ν为光波的频率；C为光速）。因此，只要测出荧光X射线荧光的波长或者能量，就可以知道元素的种类，这就是荧光X射线荧光定性分析的基础。此外，荧光X射线荧光的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，可以进行元素定量分析。。X射线荧光光谱仪FD-XRF0100介绍：夏芮X射线荧光光谱仪/土壤重金属检测仪应用于土壤污染物应急监测与修复分析中，可对土壤、污染水、工业废水等进行有害金属和类金属的定量检测，FD-XRF0100具有分析时间短、体积小、重量轻、操作方便等特点，它已广泛应用于各行业，检测样品包括矿渣、岩石、沉积物、土壤、底泥等，特别关注在国家标准中所规定的多种重金属元素，样品形态可以为固体、液体、粉末等。其在土壤污染物应急监测与修复中应用中的用途特点有： 1. 快速监测超大范围的土壤地质污染区，比如紫金矿业事件等。2. 现场快速追踪污染异常，有效地寻找“污点”地带，圈定受污染区域的范围。3. 对土壤重金属元素能快速的现场监测分析，起到快速筛选排查的作用。 4. 快速普查各类农业用地、居住用地和商业用地。 5. 内置DoubleBeamTM技术自动感知仪器前方样品。6. 有针对性、选择性地在野外取样，帮助减少实验室分析的工作量，提高工作效率。7. 测量元素范围：K，Ca,Ti，V，Cr,Mn，Fe,Co,Ni，Cu，Zn，As，Se，Rb,Sr，Y，Zr，Nb，Mo，Ag，Cd，Sn，Sb，W，Re，Pd，Au，Hg，Pb，Bi，Cs，Ba，Th，U，34种元素以上。检出限FD-XRF0100测试环境土壤基体部分元素检出限：（单位mg/kg）元素名称土壤（SiO2基)国标最低限值Pb2.535As3.615Cr7.6890Cu8.535Zn1.8100Ni4.6540V4.7180Hg0.80.15Cd2.20.2

马尔文帕纳科作为X射线荧光光谱仪全球供应商中不得不提的一个名字，与X射线缘起于1919年的第一只商用X射线管。在历经原飞利浦分析仪器和原帕纳科时代的百年嬗变后，马尔文帕纳科已然成为分析仪器领域的重要组成部分。现在，马尔文帕纳科的业务领域虽已不再局限于X射线分析仪器，但其XRF产品仍以卓越的软硬件设计，出色的灵敏度、稳定性和使用寿命，以及领先的分析理念，在元素分析领域独树一帜，在XRF市场占有重要一席。在马尔文帕纳科的众多产品中，于2016年面市的Zetium系列多核X射线荧光光谱仪无疑是一个佼佼者。该产品集成了成熟的波长色散X射线分析技术、进步中的能量色散X射线分析技术和微小区域分析模块，成为XRF分析领域的先行者和难有匹敌的多面手。如今，通过引入最新的远程技术和云服务，Zetium光谱仪变得更加智能。从被动接受样品进行测试，到随时随地主动向用户报告仪器状态，Zetium已然成为了用户的一个智能管家。随着更多新技术的导入，Zetium必将成为实验室中机智可靠的分析助手。大型落地式X射线荧光光谱仪由于其快速响应、高分析性能和高通量等特性，常被应用于勘查、采矿、冶金、建材等制造业中较为上游领域的生产过程控制和质量控制，以及大宗工业产品交易中的属性鉴定。Zetium光谱仪在这些传统行业中取得了不俗的销量和口碑，帮助马尔文帕纳科中国的业绩连创新高。其中一个非常典型的案例是，近两年来马尔文帕纳科在海螺水泥的智能化工厂项目中已经连获逾30台Zetium光谱仪的订单。这些成绩离不开马尔文帕纳科在XRF市场的美誉度，和Zetium继承自前代Axios荧光仪以来的出色光谱仪设计和卓越的稳定性与精密度。近几年，随着我国逐步迈入内外双循环和产业升级的新发展阶段，在双碳目标大环境下，科研高校、锂电等新能源和高科技产业的快速发展，也为Zetium光谱仪在传统目标市场之外开辟了更广阔的新天地。马尔文帕纳科X射线荧光光谱仪Zetium 面对中国快速变化的市场需求，作为XRF分析方案的专业供应商，马尔文帕纳科在丰富产品线和贴近用户的方向上持续发力。产品线上的投入，不仅仅体现在优化现有XRF软硬件平台的性能和使用体验，同时也不断推进对XRF相关产品的迭代更新，例如2023年6月发布的FORJ火蝾全自动熔融产品。作为XRF的前处理设备，在面对着众多全新材料的处理需求时，常规的熔融产品会存在效率、可靠性和样品易污染等局限性，FORJ火蝾熔样机在设计、材料和专利技术上的全面创新，极大地改善了XRF分析过程当中熔融前处理环节，为XRF用户获取更精准的分析结果打下了坚实基础。马尔文帕纳科FORJ火蝾全自动电控熔样机产品的研发创新是基于对用户需求的深入了解。在贴近用户的行动上，马尔文和帕纳科在合并之初，就确认了行业化、专精化的改革基调。通过将市场、销售、应用、服务等职能部门进行行业划分，马尔文帕纳科收获了一个运作自如、专业可靠且不断成长的本地团队，用户也能从中获得更为专业的服务支持。众所周知，当今的中国市场正在发生翻天覆地的变化。经济全球化受阻正逐步改变着传统的合作模式，中国的经济由投资驱动的高速扩张进入优化结构的中速增长区间，随着各行各业的产业升级需求与劳动力供应之间的错配，旧的服务模式是否还能适应持续发展的需求？如何在扩展业务的同时保持与本地客户之间的紧密关系，这是时代给予我们的问卷。对于马尔文帕纳科的支柱业务之一的X射线荧光光谱产品来说，我们相信这些外部市场的变化将会驱动马尔文帕纳科与客户之间合作方式甚至是合作模式的改变。虽然市场存在着如此多的不确定因素，但是对于一个历经百年且具有极其丰富专业经验的XRF供应商来说，我们相信追本溯源，各行各业对于高技术附加值的产品和服务的需求不会变化，对于专业技术服务的需求也会持续增长。虽然很难对未来进行准确的预测，但我们仍将立足根本，通过不断完善产品和产品线组合，不断优化线上、线下支持系统，不断推进产品的智能化、自动化，配套来为XRF客户提供持续增值的产品体验。本文作者：熊佳星，马尔文帕纳科中国区XRF产品经理

相关法规背景 REACH法规即“化学品注册、评估、许可和限制”,是欧盟对进入其市场的所有化学品进行预防性管理的法规,该法规自2007年实施以来,不仅对我国出口化工企业带来了一系列长期的冲击,也对包括纺织、机电、玩具、家具等在内的下游产品企业的生产、管理和出口产生深远影响。近年来,欧盟对于REACH法规的消费品监管内容不断更新,仅2015年就将有(EU)　No　474/2014、(EU)　No　1272/2013等四个修订案生效,涉及十多种消费产品,同时欧盟对消费品符合REACH法规的执行监管也不断强化,出口企业应引起重视和关注。 REACH法规与消费品密切相关的主要是法规附件XVII,附件中对消费品中可能存在的危险化学物质的使用要求和含量要求有严格的限制,中国消费品因不符合欧盟REACH法规被各成员国海关拒绝进口或责令召回的通报近年来不断增长,已成为我国消费品出口的重要技术壁垒。根据欧盟非食用消费品快速通报系统(RAPEX)的公开数据统计,2014年我国出口欧盟的消费品因不符合REACH法规被通报高达301起,同比上年增长91.7%,其中涉及增塑剂的达180起,涉及重金属的97起。从产品类别来看,针对玩具及儿童用品的通报260起,同比增长111.4%,针对一般消费品的41起,同比增长4.9%。通报数据的快速增长一方面表明,欧盟对于REACH法规的执行监管日趋严格,另一方面也说明,我国输欧消费品在DEHP等禁用化学品的控制上存在较大不足,企业的风险防范意识有待进一步强化。 XEPOS如何帮助拉链行业有效应对欧盟REACH法规 拉链作为服装大类，配件分类，REACH法规对其中可能存在的危险化学物质的使用要求和含量要求有严格的限制。一般而言，人们尤其关注里面含有的各种重金属元素，尤其应用于儿童服装类的拉链，拉链中的铅（Pb）含量更是有着更严格要求。随着企业风险防范意识的强化，不少企业都纷纷购置各种精密分析仪器对产品质量进行监控，以应对相关行业法规。但拉链企业对拉链重金属含量的日常监控中往往会遇到如下问题：（1） 检测时间长，效率低下，影响生产（2） 检测人才的培养成本高（3） 检测结果偏差大，达不到内控要求（4） 送检成本高 SPECTRO XEPOS 台式偏振X射线荧光光谱仪是德国斯派克分析仪器公司推出的新一代仪器，能很好有效地解决上述拉链行业质量监控中所遇到的困惑。在日常的重金属检测中，斯派克台式偏振X射线荧光光谱仪XEPOS有着无与伦比的巨大优势。（1）3-5分钟内可以完成一个样品的检测，检测元素范围：Na-U；（2）操作简单，并不需要十分专业的技术人员操作，节约人力成本；（3）无损检测，无须进行样品前处理，轻松解决样品前处理复杂、耗时、危险等问题。（4）检测下限极低，在某些材质检测方面，偏振式X射线荧光光谱仪（简称ED(P)XRF）灵敏度和检测限都是普通X射线荧光光谱仪（EDXRF）的5-10倍；（5）性能大幅度领先于普通X射线荧光光谱仪。无论是对轻元素还是重金属元素，偏振式X射线荧光光谱仪XEPOS皆有优秀的测试能力。普通的EDXRF虽然也能宣称可以达到Na-U的分析能力，如Na的检测限指标一般是3000ppm，常见重金属为10-30ppm，所以对于某些痕量元素的测试应用意义不大。而偏振ED（P）XRF的元素检测限一般为：Na:100ppm Mg:30ppm Al:30ppm Si:2ppm S:0.6ppm等其的重金属元素检测限一般为（以GB15618-1995，和美国EPA标准为例，硅基,300s测试时间）：V:0.6ppm Cr:0.5ppm As:0.7ppm Cu:0.6ppm Cd:0.3ppm Sb:0.7ppm Hg:0.3ppm Pb:0.3ppm La:2.1ppm Ce:2.5ppm Pr:3ppm Nd:4ppm（6）仪器性能认同度高，不少检测单位都有该设备，如中国CQC，TUV实验室，深圳计量院，广州分析测试中心，广东省环保局。企业在有仪器自检的情况下，可以减少甚至无须对样品送第三方检测，降低企业经营成本。 另外，SPECTRO XEPOS可广泛地应用于石油、化工、冶金、矿业、制药、食品、环保、地质、建材、废物处理以及再加工工业等。以油中各种元素的分析为例。使用SPECTO XEPOS，在氦气保护状态下，在300秒钟之内，对于P、S、Cl、Ca、Cu、Zn、Ba的检测下限在1-7μg/g以上。 XEPOS型X射线荧光光谱仪可广泛应用于各种电子材料及塑料中铅、镉、（汞）等元素分析，检出下限低，灵敏度高、稳定性好，可应对欧洲WEEE、RoHS指令以及SONY STM-0083标准。XEPOS型X射线荧光光谱仪真正做到高性能，多功能，一机多用，是企业单位添置精密仪器的，提升自身综合能力的一个不错选择。

成果名称荧光/磷光体系溶液结构测定动静态激光光散射谱仪单位名称中国科学院化学研究所联系人程贺联系邮箱chenghe@iccas.ac.cn成果成熟度□研发阶段 &radic 已有样机 □通过小试 □通过中试 □可以量产合作方式□技术转让 □技术入股 &radic 合作开发 □其他成果简介：荧光/磷光体系溶液结构测定动静态激光光散射谱仪通过引入二向色镜，采取叠光的手段，将785nm、633nm、532nm和457nm的激光作为光源，根据样品不同的吸收谱带选择样品无吸收的激光，解决了商业化动静态激光光散射谱仪无法测量荧光/磷光体系溶液结构的难题。该谱仪可精确测定流体力学半径在1nm-100&mu m，均方旋转半径在20nm-300nm尺寸范围的纳米、胶体、团簇颗粒等的溶液结构。应用前景：本项目可以吸引国内院所同行，尤其是本身已有商业化动静态激光光散射谱仪的同行的注意，吸引他们向我方申请加工、或者直接购买，在市场上有一定的应用前景。近两年来，仅德国ALV公司在中国市场购买就销售了15台左右谱仪，按每台谱仪的改装费80万元计算，我们的潜在市场至少有1200万元。

仪器信息网讯 2011年10月12-15日，第十四届北京分析测试学术报告会及展览会(BCEIA 2011)在北京展览馆隆重举行。为让广大网友及仪器用户深入了解BCEIA 2011仪器新品动态，仪器信息网特别开展了以“盘点行业新品 聚焦最新技术”为主题大型视频采访活动，力争将科学仪器行业最新创新产品、最新技术进展及最具有代表性应用解决方案直观地呈现给业内人士。以下是仪器信息网编辑采访北京东西分析仪器有限公司资深工程师杨东华先生的视频。　　东西分析具有20多年的光谱仪器研制经验，在此次展会上，东西分析首次推出了两款新型的X射线光谱仪，XD-8000能量色散X射线荧光光谱仪和XF-8100波长色散X射线荧光光谱仪。杨东华先生在采访中向广大网友详细介绍了这两款仪器的主要特点、应用情况，以及研发历程。　　杨东华先生介绍说：“东西分析研制这两款X射线荧光光谱仪，前后花了5年多的时间。在研发的过程中东西分析不断吸收目前市场上X射线荧光光谱仪的优点，改正其缺点，因而在产品的精确度、可靠性和稳定性方面都有提高。”　　具体产品展示、技术特点介绍、应用领域分析，请点击查看采访视频。　　　关于北京东西分析　　北京东西分析仪器有限公司，成立于1988年，主要业务包括分析仪器及相关产品的研发、应用服务与生产销售。经十余年艰苦奋斗，已成功自行开发生产了一系列具有高技术含量的分析仪器产品。 荣获中国“十大知名分析仪器品牌”、“分析测试协会BCEIA金奖”、“产品信得过单位”、“煤炭部定点安全仪器生产厂”等荣誉称号。

X射线荧光光谱（XRF），作为一种快速的、非破坏式化学成分分析方法，以其分析元素多、分析浓度范围广、多种元素同时分析等特点被广泛应用。近年来，XRF需求规模不断增长的同时，市场竞争也日趋激烈。在这样的局势下，推出“有实力”的XRF产品成为企业成败的关键，展现XRF产品的“硬实力”是企业争取市场的重要途径之一。基于此，仪器信息网特组织“晒晒XRF明星产品的硬实力”主题活动，发布系列稿件，通过不同渠道进行推广，以帮助仪器企业展现自身实力、争取更多市场，也帮助广大用户了解前沿XRF技术、解决选型难题。本期要“晒”的明星产品是日立X-MET8000手持式X射线荧光光谱仪。日立X-MET8000手持式X射线荧光光谱仪仪器信息网：请介绍贵司概况，当前发展情况如何？日立分析仪器：日立分析仪器是日立高新技术集团旗下的一家全球性公司，总部位于英国牛津，在芬兰、德国和中国有研发和组装业务，在全球多个国家有销售和支持业务。日立分析仪器提供实验室级和高性能现场检测设备，如光电直读光谱仪、X射线荧光光谱仪、X荧光测厚仪、激光诱导击穿光谱仪、热分析仪、锂电池异物分析仪、油品分析仪、土壤分析仪等。近年来，日立分析仪器业绩提升了两倍，为超过10000家客户提供了优质服务。仪器信息网：请介绍一款贵司的XRF“明星产品”，具有哪些核心竞争力？日立分析仪器：X-MET8000手持式X射线荧光光谱仪，可进行快速的合金等级鉴定及多种材料（固体和粉末金属、聚合物、木材、溶液、土壤、矿石、矿物等）的化学成分分析，具有操作简单、续航时间长、适合现场分析等特点。X-MET8000系列标配SDD探测器，与传统的SiPin检测器相比，分析速度更快、检测下限更低。因此，X-MET8000手持式X射线荧光光谱仪得到了广大客户的一致好评。仪器信息网：这款明星产品应用最好（或销售最好）的领域是哪个？用得好（或销售好）的原因是什么？日立分析仪器：X-MET8000主要应用于金属成分分析、资源回收及汽车工业等领域，不仅为客户解决了在现场进行化学成分分析的需求，且相较于其它分析仪器，其使用难度更低，因此具有一定的不可替代性。仪器信息网：贵司针对这款明星产品制定了怎样的售前/售中/售后服务方案？日立分析仪器：日立分析仪器在中国有10家合作伙伴，销售团队可以在24小时内给客户提供上门技术交流和产品演示，并针对客户的具体需求给出选型和配置建议。交货完成后，日立分析仪器将提供三次远程回访，以及超越同行的硬件保质期。仪器信息网：用户是否对XRF提出了更高的技术要求？贵司是否制定了应对之策？日立分析仪器：随着国内制造业升级，对分析仪器也提出了更大的挑战。日立分析仪器将竭诚为广大客户提供基于XRF的全套解决方案，在自动化、智能化、集成化、专业化方面提供更加专业的服务。仪器信息网：请展望XRF市场前景，预测其技术发展方向。日立分析仪器：随着人工智能及半导体技术的发展，XRF在检测器以及核心算法上会迎来明显的提升，这些技术的进步将给XRF市场带来利好，日立分析仪器也会在这些方向持续进行投入。

p style="text-align: justify text-indent: 2em "近日，东南大学化学化工学院发布X射线荧光光谱仪项目中标公告，德国斯派克分析仪器公司中标。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "一、项目编号：066020853870（招标文件编号：066020853870）/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "二、项目名称：东南大学化学化工学院X射线荧光光谱仪项目/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "三、中标（成交）信息/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "供应商名称：南京金海辉智控系统有限公司/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "供应商地址：南京市栖霞区和燕路371号东南大学科技园（栖霞园区）科创楼A408室/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "中标（成交）金额：52.6000000（万元）/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "四、主要标的信息/ptable border="0" cellspacing="0" cellpadding="0" width="648" style="background: white border-collapse: collapse "tbodytr class="firstRow"td valign="bottom" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " width="30"p序号/p/tdtd valign="bottom" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " width="156"pspan style="color:black"供应商名称/span/p/tdtd valign="bottom" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " width="95"pspan style="color:black"货物名称/span/p/tdtd valign="bottom" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " width="133"pspan style="color:black"货物品牌/span/p/tdtd valign="bottom" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " width="106"pspan style="color:black"货物型号/span/p/tdtd valign="bottom" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " width="53"pspan style="color:black"货物数量/span/p/tdtd valign="bottom" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " width="74"pspan style="color:black"货物单价span(/span元span)/span/span/p/td/trtrtd valign="bottom" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " width="30"pspan style="color:black"1/span/p/tdtd valign="bottom" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " width="156"pspan style="color:black"南京金海辉智控系统有限公司/span/p/tdtd valign="bottom" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " width="95"pspan style="color:black"X/spanspan style="color:black"射线荧光光谱仪/span/p/tdtd valign="bottom" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " width="133"pspan style="color:black"德国斯派克分析仪器公司/span/p/tdtd valign="bottom" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " width="106"pspan style="color:black"SPECTRO XEPOS/span/p/tdtd valign="bottom" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " width="53"pspan style="color:black"1/span/p/tdtd valign="bottom" style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " width="74"pspan style="color:black"7.8/spanspan style="color:black"万美元/span/p/td/tr/tbody/tablepbr//p

我国是原子荧光光谱(AFS)技术、生产、应用的大国强国。如今，已有十余家原子荧光光谱仪生产商和上百种不同型号和用途的原子荧光光谱仪，其年销量在2500台以上，颁布的相关国家或行业标准也有百余项。原子荧光光谱方法广泛应用于食品、农产品、环境检测、水质监测等领域，也是众多实验室的常规分析方法，更是进入国家级实验室为数不多的国产仪器！然而，原子荧光光谱仪器仍存在光谱干扰和散射干扰等问题，对其更深入研究开发势在必行，国家也特别关注相关技术的研发工作。2016年，北京博晖创生物电技术集团股份有限公司牵头承担了“重大科学仪器设备开发”重点专项项目——“新型原子荧光光谱仪器开发及产业化”。经过5年的时间，2021年9月24日上午9点，“新型原子荧光光谱仪器开发及产业化”重大科学仪器设备开发项目评估会议在北京博晖创生物电技术集团股份有限（以下简称博晖创新）举办，多位专家参与了项目评估，并给出了专业性修改建议。项目评估会现场中科院生态环境研究中心江桂斌院士、中国农业科学院农产品加工研究所王锋研究员、北京市理化分析测试中心张经华研究员、机械工业仪器仪表综合技术经济研究所欧阳劲松教授级高工、中国疾控中心闫慧芳研究员、北京市食品安全监控和风险评估中心主任黄华高工、中国食品药品检定研究院食品化妆品检定所曹进研究员、中国环境科学研究院王圣瑞研究员等组成了此次评估会的专家组。本次评估会议由项目总负责人博晖创新首席科学家周志恒开场主持，博晖创新运营总裁王玮先生和国家市场监督管理总局谢正文处长分别致辞。北京博晖创新光电技术股份有限公司运营总裁 王玮国家市场监督管理总局 谢正文处长江桂斌院士主持项目及任务介绍环节，期间还由相关人员带领各位专家参观了项目样机和关键部件。分任务负责人分别介绍了该承担任务完成情况、考核指标完成情况、取得的重要成果以及经费执行情况等后，专家质询讨论形成了专家意见，最后由推荐单位总结发言。中国科学院生态环境研究中心 江桂斌院士《新型原子荧光光谱仪器开发及产业化》项目设立了如下目标：研制新型原子荧光光谱仪，克服原子荧光光谱仪光谱干扰、散射干扰，提高仪器长期稳定性；在食品、农产品等领域建立重点样品中重金属元素的新检测方法，形成标准操作规程，开展应用示范；达到小批量试产要求，在项目验收后3年内达到3200万销售额；提升原子荧光产业竞争力，促进国际认可，获得更大市场空间。分任务承担单位、研究内容及负责人任务研究内容承担单位任务负责人一新型原子荧光光谱仪总体设计、系统集成及工程化北京博晖创新光电技术股份有限公司周志恒二新型原子荧光光谱仪系统稳定技术开发北京博晖创新光电技术股份有限公司舒迪三新型原子荧光光谱仪测控系统及软件开发吉林大学田地四新型原子荧光光谱仪光学系统开发中国科学院长春光学精密研究所于宏柱五新型原子荧光光谱仪在进出口高关注食品中重金属监测的应用示范检科院食品所雍炜六新型原子荧光光谱仪在农业领域高风险样品中重金属监测的应用示范农科院质标所毛雪飞左一：北京博晖创新光电技术股份有限公司首席科学家周志恒 右一：北京博晖创新光电技术股份有限公司 舒迪左二：吉林大学 田地 右二：中国科学院长春光学精密研究所 于宏柱左三：中国检验检疫科学研究院食品安全研究所 雍炜 右三：中国农业科学院农业质量标准与检测技术研究所 毛雪飞经过5年的不断努力，项目组开发了预激发及灯泡高能量技术，研制了汞、砷、铅、镉、硒5种无极放电灯及配套的控制器；开发了非损失能力取样技术，研制了激发光源漂移校正部件；开发了摆扫刻蚀技术，研制了高衍射效率凹面光栅；开发了DMD窗口无损更换技术，研制了高紫外反射率DMD器件和配套的专用设备；研制了专用数字微镜控制器、色散信号采集器和测控系统，开发了分析测试软件；研制了工程化样机7台，建设了300m2生产车间，具有年产100台的生产能力；完成了在食品和农业的应用方法6套和标准操作规程6套，并提供8家单位的验证报告，其中异地验证测试报告4份、可靠性测试报告1份。共获得授权发明专利15项、实用新型7项、软件著作权3份；发表论文17篇，培养博士研究生2名、硕士研究生9名。专家组一致认为该项目完成了任务书的研究内容，达到了考核指标。与会者参观新型原子荧光光谱仪关键部件与会者合影