全反射荧光光谱仪

[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=42365]全反射X—射线荧光光谱的原理和应用[/url]

转录 请自己 google 搜索 便携全反射X射线荧光分析仪 全反射X射线荧光分析仪 等文章全反射X荧儿（TXRF）分析技术是十多年前才发展起来的多元素同时分析技术，它突出的优点是检出限低（pg、ng/mL 级以下）、用样量少（Μl、ng级）、准确高度（可用内标法）、简便、快速，而且要进行无损分析，成为一种不可替代的全亲的元素分析方法。国际上每两年召开一次TXRF分析技术国际讨论会。该技术被誉为在分析领域是最具有竞争力的分析手段，在原子谱仪领域内处于领先地位。从整个分析领域看，与质谱仪中的ICP-MS和GDMS、原子吸收谱仪中的ETAAS和EAAS以及中子活化分析NAA等方法相比较，TXRF分析在检出限低、定量性好、用样量少、快速、简便、经济、多元素同时分析等方面有着综合优势。在X荧光谱仪范围内，能谱仪（XRF）和波谱仪（WXRF）在最低检出限、定量性、简便性、准确性、经济性等方面，都明显比TXRF差。在表面分析领域内，尤其在微电子工业的大面积硅片表面质量控制中，TXRF已在国际上得到广泛应用。1. TXRF分析仪工作原理：TXRF利用全反射技术，会使样品荧光的杂散本底比XRF降低约四个量级，从而大大提高了能量分辨率和灵敏率，避免了XRF和WXRF测量中通常遇到的木底增强或减北效应，大大缩减了定量分析的工作量和工作时间，同时提高了测量的精确度。测量系统的最低探测限（MDL）可由公式计算： (2)这里， 是木底计数率，t为测量计数时间，M为被测量元素质量，l代表被测量元素产生的特征峰净计数率，S=I/M就是系统灵敏度，由公式可以看出，提高灵敏底、降低木底计数率、增加计数时间是降低MDL的有效办法。木氏低、灵敏度高正是TXRF方法的长处，因而MDL很低。

用过 TXRF8全反射X射线荧光分析仪 （北京普析）的盆友说说他的仪器怎么样呀？

什么是全反射X射线荧光，他有什么特点，他跟WDXRF和EDXRF有什么区别？

有用过全反射的用户吗？他可以测低含量的，但是他很容易测试高含量的吗？比如1~99%，测试高含量的准确度、重现性怎样？

能量色散X射线荧光光谱开关电源能量色散X射线荧光光谱采取脉冲高度剖析器将不同能量的脉冲离开并测量。能量色散X射线荧光光谱仪可分为具备高分别率的光谱仪，分别率较低的便携式光谱仪，和介于两者之间的台式光谱仪。高分别率光谱仪通常采取液氮冷却的半导体探测器，如Si（Li）和高纯锗探测器等。低分别便携式光谱仪经常采取反比计数器或闪耀计数器为探测器，它们不须要液氮冷却。近年来，采取电致冷的半导体探测器，高分别率谱仪已不必液氮冷却。同步辐射光激起X射线荧光光谱、质子激起X射线荧光光谱、喷射性同位素激起X射线荧光光谱、全反射X射线荧光光谱、微区X射线荧光光谱等较多采取的是能量色散方法。编纂本段非色散谱仪　　非色散谱仪不是采取将不同能量的谱线分别开来，而是通过抉择激起、抉择滤波和抉择探测等方法使测量剖析线而消除其余能量谱线的搅扰，因而个别只实用于测量一些简朴和组成基础固定的样品。假如n1n2，则介质1相关于介质2为光密介质，介质2相关于介质1为光疏介质。关于X射线，个别固体与空气相比都是光疏介质。所以，假如介质1是空气，那么α1α2（图2。20右图），即折射线会倾向界面。假如α1足够小，并使α2=0，此时的掠射角α1称为临界角α临界。当α1α临界时，界面就象镜子一样将入射线整个反射回介质1中，这就是全反射景象。X射线荧光光谱法有如下特征：剖析的元素规模广，从4Be到92U均可测定； 　　荧光X射线谱线简朴，互相搅扰少，样品不必分别，剖析方法对比简便； 　　剖析浓度规模较宽，从常量到微量都可剖析。重元素的检测限可达ppm量级，轻元素稍差。待续。。。。。非色散？不是很理解。楼主，你有示意图来介绍一下吗。

在看完了2005年版中国药典红外图谱集（第三卷）后，发现药品的制样技术新加了一个——衰减全反射！便把该册标准图谱全部翻了一下，但是发现标准图谱并没有使用衰减全反射（ATR）。不知道什么原因。

我要做橡胶表面的衰减全反射红外光谱，我们单位的是PE的红外，用的附件中的衰减全反射的那个晶片的折射率太低了，做不出来，看到有介绍说可以用折射率大的，上次看到过，不知道是尼高的还是那个厂家的，忘了，有那位大哥帮忙推荐一下，并告知可以买到ATR晶片的地方吧，谢谢！

全反射X荧光仪，用的探头SSD是EDAX的，比较老，捆绑个液氮罐做冷却的那种。现在遇到点问题请教：W靶源信号强度正常，28万cps左右。 可检测样品的时候所有元素均无信号，计数全部为0。示波器检测SSD无任何信号，噪音信号都没有啊。。。这是啥情况呢？有明白人不？前置放大器坏了？AM，A/D转化器还是FET。。。要如何确定故障源头，维修有啥建议？另请问哪里接收对外的有偿样品检测？12寸硅片表面的金属定量。pg-ng级的？有谁有老的SSD备件出售意愿的也可联系啊。。。急死我了

欢迎大家前来与tianzhen老师一起就ATR衰减反射光谱技术知识的相关问题进行探讨~！活动时间：2013年09月09日——2013年09月18日【线上讲座232期】基于反射技术的红外光谱分析方法（之一：ATR衰减全反射光谱法） 主讲人：tianzhen--XRF & 颗粒度测量版面专家 活动时间：2013年09月09日——2013年09月18日 热烈欢迎tianzhen老师光临红外光谱版面进行讲座！http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191656_647674_1766615_3.gif引言对红外光谱来说，常规的透射分析分析方法已经远远不能满足现在样品多样化的要求。针对没的的样品要设计与之相适应的分析方法，不仅可以得到更加准确的结果，而且可能有效地节省分析时间，简化分析过程。但同时，在分析方法的完善及相关资料的全面性上来说，其它的分析方法还无法与透射法相比，但随着反射法硬件及分析方法的完善，反射分析方法正越来越多地受到重视，本讲座就对利用反射原理来进行样品分析的衰减全反射技术、漫反射技术及镜面反射技术做一个简单的介绍。本讨论共分三部分，每一部分分别关注前面提到的三种技术。由于内容比较多，讲座拟定分三期进行，第一期为衰减全反射技术、第二期漫反射技术及第三期镜面反射技术。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191656_647674_1766615_3.gif提要一、红外光的特点及红外光谱分析方法二、衰减全反射的原理及特点三、衰减全反射光谱的应用http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191656_647674_1766615_3.gif欢迎大家前来与tianzhen老师一起就ATR衰减反射光谱技术相关的内容进行探讨交流~！以上资料为tianzhen老师所著,未经tianzhen老师和仪器信息网同意任何个人和单位禁止转载!!!提问时间：2013年09月09日--09月18日答疑时间: 2013年09月09日--09月18日特邀佳宾：IR / NIR版面版主、专家以及从事红外光谱分析的同行们参与人员：仪器论坛全体注册用户活动细则：1、请大家就ATR技术知识的相关问题进行提问，直接回复本帖子即可，自即日起提问截至日期2013年09月18日2、凡积极参与且有自己的观点或言论的都有积分奖励（1-50分不等），提问的也有奖励3、提问格式：为了规范大家的提问格式，请按下面的规则来提问 ：tianzhen老师您好！我有以下问题想请教，请问：……http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191656_647674_1766615_3.gif说明：本讲座内容仅用于个人学习，请勿用于商业用途，由此引发的法律纠纷本人概不负责。虽然讲座的内容主要是对知识与经验的讲解、整理和总结，但是也凝聚着笔者大量心血，版权归tianzhen老师和仪器信息网所有。本讲座是根据笔者对资料的理解写的，理解片面、错误之处肯定是有，欢迎大家指正。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191656_647674_1766615_3.gif

[size=3][b]衰减全反射红外光谱（ATR-FTIR）[/b][/size]请问北京哪里可以做衰减全反射红外光谱，谢谢。

请问在全反射x射线荧光分析技术（TXRF）或掠发射x射线荧光分析技术（GEXRF)中，x射线管的光通量最小不得小于多少？谢谢！

关于X射线荧光光谱仪的详细介绍： X射线荧光光谱仪分析的元素范围广，从4Be到92U均可测定；　　X射线荧光光谱仪简单，相互干扰少，样品不必分离，分析方法比较简便，分析浓度范围较宽,从常量到微量都可分析。重元素的检测限可达ppm量级，轻元素稍差，分析样品不被破坏，分析快速，准确，便于自动化。　　X射线荧光光谱仪可分为具有高分辨率的光谱仪，分辨率较低的便携式光谱仪，和介于两者之间的台式光谱仪。高分辨率光谱仪通常采用液氮冷却的半导体探测器，如Si(Li)和高纯锗探测器等。低分辨便携式光谱仪常常采用正比计数器或闪烁计数器为探测器，它们不需要液氮冷却。近年来，采用电致冷的半导体探测器，高分辨率谱仪已不用液氮冷却。同步辐射光激发X射线荧光光谱、质子激发X射线荧光光谱、放射性同位素激发X射线荧光光谱、全反射X射线荧光光谱、微区X射线荧光光谱等较多采用的是能量色散方式。　　X射线荧光光谱仪具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析F(9)～U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果准确度对某些样品可以接近定量水平，分析时间短。

请教下全反射红外光谱 探测深度是多少啊？我是做表面涂层的。非常感谢

荧光光谱仪是一种常用的分析仪器，广泛用于科研、生产等领域。大家在选择荧光光谱仪时需要根据各自的实验的需求进行选择。目前市面上的荧光光谱仪大体可以分为以下几类：1，x射线荧光光谱仪2，紫外可见近红外荧光光谱仪3，红外荧光光谱仪 虽然各种荧光光谱仪从产品应用、仪器设计都各不相同。但大家都有一个共性，就是采用激发源对样品进行激发，然后测量荧光的光谱，从而得到样品的元素成分、能级、缺陷等各种信息。并且可以进行定性和定量的分析。下面对各种荧光光谱仪分别进行介绍。1，x射线荧光光谱仪1）X射线荧光光谱分析的基本原理：当试样受到x射线，高能粒子束，紫外光等照射时，由于高能粒子或光子与试样原子碰撞，将原子内层电子逐出形成空穴，使原子处于激发态，这种激发态离子寿命很短，当外层电子向内层空穴跃迁时，多余的能量即以x射线的形式放出，并在教外层产生新的空穴和产生新的x射线发射，这样便产生一系列的特征x射线。 2）X射线荧光光谱议分光系统是由入射狭缝，分光晶体，晶体旋转机构，样品室和真空系统组成。其作用是将试样受激发产生的二次x射线 （荧光x射线）经入射狭缝准直后，投射到分光晶体上。晶体旋转机构使分光晶体转动，连续改变θ角，使各元素不同波长的x射线按布拉格定律分别发生衍射而分开，经色散产生荧光光谱。3）分析对象主要有各种磁性材料（NdFeB、SmCo合金、FeTbDy）、钛镍记忆合金、混合稀土分量、贵金属饰品和合金等，以及各种形态样品的无标半定量分析，对于均匀的颗粒度较小的粉末或合金，结果接近于定量分析的准确度。X荧光分析快速，某些样品当天就可以得到分析结果。适合课题研究和生产监控。 4）X射线荧光光谱仪分为：波长色散、能量色散、非色散X荧光、全反射X荧光。 a）波长色散X射线荧光光谱 波长色散X射线荧光光谱，采用晶体或人工拟晶体根据Bragg定律将不同能量的谱线分开，然后进行测量。波长色散X射线荧光光谱一般采用X射线管作激发源，可分为顺序式(或称单道式或扫描式)、同时式(或称多道式)谱仪、和顺序式与同时式相结合的谱仪三种类型。顺序式通过扫描方法逐个测量元素，因此测量速度通常比同时式慢，适用于科研及多用途的工作。同时式则适用于相对固定组成，对测量速度要求高和批量试样分析, 顺序式与同时式相结合的谱仪结合了两者的优点。 b）能量色散X射线荧光光谱　 能量色散X射线荧光光谱，采用脉冲高度分析器将不同能量的脉冲分开并测量。能量色散X射线荧光光谱仪可分为具有高分辨率的光谱仪，分辨率较低的便携式光谱仪，和介于两者之间的台式光谱仪。高分辨率光谱仪通常采用液氮冷却的半导体探测器，如Si(Li)和高纯锗探测器等。低分辨便携式光谱仪常常采用正比计数器或闪烁计数器为探测器，它们不需要液氮冷却。近年来，采用电致冷的半导体探测器，高分辨率谱仪已不用液氮冷却。同步辐射光激发X射线荧光光谱、质子激发X射线荧光光谱、放射性同位素激发X射线荧光光谱、全反射X射线荧光光谱、微区X射线荧光光谱等较多采用的是能量色散方式。 c）非色散谱仪　非色散谱仪不是采用将不同能量的谱线分辨开来，而是通过选择激发、选择滤波和选择探测等方法使测量分析线而排除其他能量谱线的干扰，因此一般只适用于测量一些简单和组成基本固定的样品。 d）全反射X射线荧光 　　如果n1n2，则介质1相对于介质2为光密介质，介质2相对于介质1为光疏介质。对于X射线，一般固体与空[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Mp]气相[/url]比都是光疏介质。所以，如果介质1是空气，那么α1α2，即折射线会偏向界面。如果α1足够小，并使α2=0，此时的掠射角α1称为临界角α临界。当α1α临界时，界面就象镜子一样将入射线全部反射回介质1中，这就是全反射现象。 5，X射线荧光光谱法有如下特点：　　分析的元素范围广，从4Be到92U均可测定；　　荧光X射线谱线简单，相互干扰少，样品不必分离，分析方法比较简便；　　分析浓度范围较宽,从常量到微量都可分析。重元素的检测限可达ppm量级，轻元素稍差；　　分析样品不被破坏，分析快速，准确，便于自动化。

[color=#333333]衰减全反射光谱的原理，适用于分析什么样品[/color]

[color=#444444]英文是infra red reflection absorption spectroscopy和傅立叶变换衰减全反射红外光谱一样么？[/color]

我只稍微了解“衰减全反射红外ATR－IR”的原理；而对于“反射红外”的理解是，做液体样品时，将液体滴到金属片（如金片）上，利用金属片为反射面，测得液体样品的红外信号。高手能否比较下两种方法的异同，特别是做水溶液样品，哪种效果会好些。还有，将液体直接滴到KBr片上做透射红外与上面两者比较呢？谢谢啦另外，什么叫“结帖”，怎么结帖啊，呵呵

来源：知网空间。《光谱实验室》 2009年06期 加入收藏 获取最新 衰减全反射红外光谱法无损检验喷墨打印文件的油墨孟朝阳 【摘要】：利用傅里叶红外变换光谱中的衰减全反射(水平-ATR)技术无损测定了喷墨打印文件常用的惠普(Hp)、佳能(Canon)、爱普生(Epson)三大品牌特定油墨及其相应替代油墨,根据其红外光谱的特征吸收,可将这3种油墨及其替代油墨加以区分鉴定,该方法对样品进行无损检验,为喷墨打印油墨的种类识别提供了一种快速、准确、适用的鉴定方法。【作者单位】： 辽宁警官高等专科学校; 【关键词】： 喷墨打印油墨 红外光谱分析 特定油墨 替代油墨 衰减全反射 无损检验 打印文件 不同品牌 傅里叶红外 变换光谱 【基金】：公安部科技创新项目(2005YYCXLNST108) 【分类号】：D918.2【正文快照】： 1前言20世纪70年代末80年代初,喷墨打印技术在世界范围内得到了飞速发展,各种公文、合同、证书及众多文件均以喷墨打印形成,因此,出现了利用伪造相应的喷墨打印文件,进行经济犯罪或牟取暴利,给国家、集体和个人带来了严重的经济损失,给社会安定造成一定的影响。在这类案件中,

想了解一下红外衰减全反射附件的报价等信息，希望了解的人帮忙，非常感谢

红外光谱衰减全反射法（ATR）的原理及其在纺织品定性上的应用，这个谁有电子版的，谢谢分享！

做傅立叶衰减全反射时附件的晶体折射率太小，想要晶体是纯Ge材料的，不知哪个单位有这样的设备，而且是对外开放的。

求助大家，红外光谱仪的ATR，衰减全反射红外怎么使用，如何放样品，我要测的样是石油，目前会使用仪器的人出国了，有仪器可是没有人会用，说明书还找不到，求大家帮忙，ATR附件的使用方法，跪谢大家

单位要买一台红外，关于这个衰减全反射附件，是单次的好还是多次的好呢？用过的朋友轻帮帮忙。咨询了厂家各说各的好，我想听用过的朋友讲讲自己使用的感受。是不是多次的做固体粉末用量大？不方便？只适合做液体？

有哪位老师知道哪里可以定做锂电池原位红外衰减全反射测试装置，求推荐，感谢！

X射线荧光光谱仪主要用途： 仪器是较新型X射线荧光光谱仪，具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析F(9)～U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果准确度对某些样品可以接近定量水平，分析时间短。薄膜分析软件FP-MULT1能作镀层分析，薄膜分析。 测量样品的最大尺寸要求为直径51mm,高40mm. 仪器类别： 0303040903 /仪器仪表 /成份分析仪器 /荧光光度计 指标信息： 1.发射源是Rh靶X光管，最大电流125mA，电压60kV，最大功率3kW2.仪器在真空条件下工作，真空度13pascals 3.5块分析晶体，可以分析元素周期表F～U之间所有元素，含量范围是ppm～100%4.分析软件是Philips公司(现为PANalytical)最新版软件，既可作半定量，也可定量分析。精密度：在计算率N=1483870时，RSD=0.08% 稳定性计算率Nmax=6134524,Nmin=6115920,N平均=6125704,相对误差为0.03% 附件信息： 循环水致冷单元，计算机 P10气体瓶空气压缩机 分析对象主要有各种磁性材料(NdFeB、SmCo合金、FeTbDy)、钛镍记忆合金、混合稀土分量、贵金属饰品和合金等，以及各种形态样品的无标半定量分析，对于均匀的颗粒度较小的粉末或合金，结果接近于定量分析的准确度。X荧光分析快速，某些样品当天就可以得到分析结果。适合课题研究和生产监控。 X射线荧光光谱仪分为波长色散、能量色散、非色散X荧光、全反射X荧光。 波长色散X射线荧光光谱采用晶体或人工拟晶体根据Bragg定律将不同能量的谱线分开，然后进行测量。波长色散X射线荧光光谱一般采用X射线管作激发源，可分为顺序式(或称单道式或扫描式)、同时式(或称多道式)谱仪、和顺序式与同时式相结合的谱仪三种类型。顺序式通过扫描方法逐个测量元素，因此测量速度通常比同时式慢，适用于科研及多用途的工作。同时式则适用于相对固定组成，对测量速度要求高和批量试样分析,顺序式与同时式相结合的谱仪结合了两者的优点。

衰减全反射ATR附件在红外光谱仪中运用越来越广泛，尤其在红外定量方面的研究和运用，在此贴出自己收藏的这方面文献资料，供大家分享，也算是抛砖引玉，借机向大家征集这方面更多的文献资料，形成一个精华贴，以便有此兴趣的朋友在此能获得自已想要的资料，如果大家手上还有类似的文献资料，请跟进贴出，单纯下载的朋友就不要回贴了。[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=77275]傅里叶变换衰减全反射红外光谱法的应用与进展[/url][img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=77278]衰减全反射_傅里叶变换红外光谱技术的发展及应用[/url][img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=77276]FTIR_OMNI采样器的应用进展[/url][img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=77271]中红外光谱无创伤检测血糖新方法[/url][img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=77272]用衰减全反射傅里叶变换红外光谱定量测定PEG_PE共混物的表面组成[/url][img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=77273]衰减全反射红外光谱法直接测定丙三醇的含量[/url][img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=77274]利用衰减全反射傅立叶变换红外光谱方法对乙二醇水溶液定量分析的研究[/url][img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=77277]FTIR_ATR法对人体胆结石中胆固醇和胆红素的定量分析研究[/url][img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=77279]ATR_FTIR光谱技术在聚合物膜研究中的应用[/url]

请教各位:我用ATR做聚合物的全反射红外,信号非常微弱,%T在1以下.这肯定不正常,请问问题会出在什么地方?还有各位做过ATR全反射的战友,你们认为比较好的,常见的透过率在什么范围?请不吝赐教:)