扫描成像射线光仪

M4 TORNADOPLUS - 微区X射线荧光成像的新纪元M4 TORNADO微区X射线荧光成像光谱仪PLUS能够检测出C（6）-Am（95）间元素的微区X射线荧光成像光谱仪。作为微区X射线荧光成像光谱仪M4TORNADO系列的新产品，M4 TORNADOPLUS又增添了功能，例如孔径管理系统，高通量脉冲处理器以及快速灵活更换的样品台。更轻、更快、更深M4 TORNADOPLUS采用轻元素窗口的大面积硅漂移探测器（SDD）实现对轻元素碳的检测，高通量脉冲采样，BRUKER孔径管理系统（AMS）可以获取大景深，对表面不平整样品分析具有优势。轻元素检测M4 TORNADOPLUS能够检测分析轻质元素碳的微区X射线荧光成像光谱仪，具备两个具有轻元素窗口的大面积硅漂移探测器和一个优化的Rh靶X射线光管。与普通微区X射线荧光成像光谱仪不同，M4 TORNADOPLUS在不影响较高能量范围内元素灵敏度的前提下，还可以检测原子数小于11的元素（Z＜11），例如氟（F）、氧（O）、氮（N）和碳（C）。随着功能性的增强，M4 TORNADOPLUS应用也正在开发和拓展中，例如地质学、矿物学、生物学、聚合物研究或半导体行业等方向。应用实例-萤石和方解石的区分萤石（CaF2）和方解石（CaCO3）都是以钙为主要成分的矿物。它们的区别在于分别存在轻质元素氟（F），氧（O），碳（C）；由于普通微区X射线荧光成像光谱仪检测不到Z＜11(Na）的元素，无法区分这两种矿物，所以萤石和方解石的光谱图上都只会显示Ca元素谱线。利用轻元素探测器，M4 TORNADOPLUS可以检测氟（F）、氧(O)和碳(C)，从而鉴别这两种矿物。图：鉴别萤石与方解石 左：方解石（红）和萤石（蓝）的元素分布图；图像尺寸：20×12mm2；扫描分辨率：800×460pixels 右：萤石（蓝）和方解石（红）的轻质元素光谱图。应用实例-电路板由于AMS的场深度深，如图所示电路板的X射线图像获得更多的细节。此外，由于激发X射线光子的入口和出口角度减小，光束能量依赖性变得不那么明显。图：具备AMS与不具备AMS的电路板元素分布图左图: 标准多导毛细管聚焦在电路板上，元件的高点失焦，显得模糊。右图: AMS系统加载下图像显示高景深，组件聚焦在更大的景深范围内。

PSC公司成立于2004年，2年后其首款产品植物根系X-光扫描成像分析系统RootViz FS面世，并于今年6月获得2006年度美国R&D 100大奖。RootViz FS是在美国能源部创新项目资助下研发成功的一套新型、高效率、高精度、非破坏性的测量系统，用于对盆栽植物的根系进行原位成像分析，可以拍摄根系的立体X-光照片。是继根视系统后植物根系研究领域最激动人心的发明。美国R&D 100大奖被称为"发明界的奥斯卡奖"，RootViz FS刚一面世即获此大奖，足见其影响力之大。这套系统是植物根系研究领域继根视（rhizotron）系统（如加拿大Regent WinRHIZO根系分析系统）后最激动人心的发明。根视系统需要将根取出清洗后，借助扫描仪进行分析，这个过程往往会折断植物的根尖等脆弱部分，而且属于离体分析，不能进行动态监测。而植物根系X-光扫描分析系统是非破坏性的原位分析系统，可以全方位分析植物根系所有部分（包括根尖等），并且可以在植物生长的不同阶段对根系的生长进行长期动态监测。这套系统非常适合于研究植物根系对胁迫的动态响应。根系X-光成像的特性* 高分辨率的X-光立体成像* 进行长期动态监测* 获得原位根系角度信息* 完全可控条件下的生理、病理实验* 大规模快速筛选根系突变株根系X-光扫描成像系统的主要技术参数* X-射线发生器: 25KeV@800uA* X-射线数码相机: 2002 x 2054 CMOS；GdOs Scintillator* 精确的三维调节工作台* 速度：平面图25株/h；立体图15株/h* 范围：最大根长0.6 m；最大高度2.1 m* 分辨率：2002× 2054像素

来自英国OPUS INSTRUMENT公司的Apollo(阿波罗）Apollo(阿波罗）是世界上新一代采用红外短波反射扫描成像技术的专业分析仪器，被广泛用于各种材料的鉴定和分析。www.ast-bj.com我们的用户：英国国家美术馆，荷兰国立博物馆，美国大都会博物馆，古根海姆博物馆, 俄罗斯赫米蒂奇博物馆洛杉矶盖蒂博物馆，日耳曼国家博物馆，美国印第安纳波利斯艺术博物馆Infrared Reflectography红外反射成像技术：“一种非破坏性的无损检测技术，它利用红外线穿透研究对象表层（颜料或漆层），对表层下面的详细纹理细节进行成像，从而获得有关这些研究对象的原始信息。用红外反射扫描成像进行检测，通常会发现研究对象一些在损坏、填充和修饰的细节变化，是一种广泛应用的红外成像技术。Apollo(阿波罗)是红外反射成像的新标准。 在世界闻名的Osiris扫描系统的基础上，Apollo（阿波罗）使用先进的内部扫描机构和红外面阵列传感器生成高质量，高对比度，分辨率达到5100×5100的红外反射图像，其图像清晰度和细节展现无与伦比。拍摄大画幅壁画和油画，唐卡作品，图像不需要后期繁琐软件处理。 Apollo红外反射成像扫描系统可以用于研究绘画作品的各个方面。不仅可以研究绘画作品的底稿，素描草图和笔迹变化（经过修改或颜料遮盖的原来笔画再现），识别后期修复及补色的微观变化，并且当使用我们提供的滤光片套装时，可以在不同红外波段对底色和颜料进行透射分析。如果您想采集到用于艺术品保护和修复等应用高对比度和高分辨率的红外图像，Apollo（阿波罗）是非常适合您的红外反射成像系统。Apollo无以伦比的优势在于：1. 可以拍摄高达26 Megapixel的图像图片，分辨率5100×5100，传感器像素间距20um微米2. 新款软件控制系统，提供柱状图分析，可以捕捉更多光线暗处的细节。3. 采用卓越的红外面阵列成像传感器，可进行大画幅作品的扫描，提供成像预览，节省您的分析时间。4. 快速捕捉画面，拍摄整幅画作需要5-15分钟5. 先进的冷却系统，减少了成像噪音，提供更高质量的画面。6. 16位图像输出格式可选TIFF和 PNG格式，方便在任何终端设备上进行对比分析。7. 拍摄图像自动拼接功能，解决研究人员后期图像处理的困扰，非常实用。8. 体积紧凑，方便携带，可装入航空旅行箱。

Sapphire 激光扫描成像系统是新一代基于激光光源的扫描成像系统，通过其无与伦比的灵敏度、超高的分辨率、宽广的动态范围为客户提供高质量数据。仪器可搭载四个固态激光器作为激发光源，国际首创融合PMT、APD和CCD三种检测器于一体，不仅能够进行高灵敏度宽动态范围的RGB荧光成像、近红外NIR荧光成像、磷屏成像（放射性同位素自显影成像），还可进行传统的化学发光成像、凝胶成像和可见光成像等。本产品型号为Sapphire NIR，搭载有685nm和784nm两个固态激光器作为近红外波段激发光源，仪器可选配PI模块用于磷屏成像（放射性同位素自显影成像），也可选配CCD模块，用于传统化学发光成像。同时，仪器还可选配Q模块，加配520nm通道激光器，升级为Sapphire NIR-Q，用于总蛋白染色成像和绿色荧光通道成像。 产品特点● 强大的多重荧光检测，可同时扫描，也可逐通道扫描● 宽广的动态范围，动态范围≥6OD● 高分辨率，分辨率可达10微米● 化学发光成像，fg级检测灵敏度● 直观友好的软件操作界面，易于使用● 强大的分析软件，轻松高效地分析多种实验数据 应用Sapphire NIR激光扫描成像系统广泛适用于多种分子生物学实验的结果分析，如荧光Western、In-Cell Western、In-Gel Western、近红外荧光EMSA、蛋白芯片、核酸芯片、二维电泳、DNA凝胶、考马斯亮蓝染色凝胶、荧光组织切片等等。通过选配CCD模块、PI模块和Q模块，仪器应用范围将拓展到化学发光成像、可见光成像、磷屏成像（放射性同位素自显影成像）以及总蛋白染色成像等。 Sapphire激光扫描成像系统信息由Azure Biosystems（中国）公司为您提供。如您想了解更多Sapphire激光扫描成像系统相关报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。

Sapphire 激光扫描成像系统是新一代基于激光光源的扫描成像系统，通过其无与伦比的灵敏度、超高的分辨率、宽广的动态范围为客户提供高质量数据。仪器可搭载四个固态激光器作为激发光源，国际首创融合PMT、APD和CCD三种检测器于一体，不仅能够进行高灵敏度宽动态范围的RGB荧光成像、近红外NIR荧光成像、磷屏成像（放射性同位素自显影成像），还可进行传统的化学发光成像、凝胶成像和可见光成像等。本产品型号为Sapphire RGB，搭载有488nm、520nm和658nm/685nm（选配）三个固态激光器作为RGB可见荧光波段激发光源，仪器可选配PI模块用于磷屏成像（放射性同位素自显影成像），也可选配CCD模块，用于传统化学发光成像。 产品特点● 强大的多重荧光检测，可同时扫描，也可逐通道扫描● 宽广的动态范围，动态范围≥6OD● 高分辨率，分辨率可达10微米● 化学发光成像，fg级检测灵敏度● 直观友好的软件操作界面，易于使用● 强大的分析软件，轻松高效地分析多种实验数据 应用Sapphire RGB激光扫描成像系统广泛适用于多种分子生物学实验的结果分析，如荧光Western、In-Cell Western、In-Gel Western、蛋白芯片、核酸芯片、二维电泳、DNA凝胶、考马斯亮蓝染色凝胶、荧光组织切片等等。仪器可搭配CCD模块，用于化学发光成像和可见光成像。通过选配PI模块，仪器可用于磷屏成像（放射性同位素自显影成像）。 Sapphire激光扫描成像系统信息由Azure Biosystems（中国）公司为您提供。如您想了解更多Sapphire激光成像系统相关报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。

Sapphire FL 从分子检测到活体成像是专为应用灵活性研发的终极激光扫描成像系统。基于定制化、用户可自主更换的激光器和滤光片模块，Sapphire FL可轻松满足客户多样化、深入的科研需求。Sapphire FL具有定制化的、用户可自主更换的光学模块，5-1000μm的扫描分辨率，-1.0 至+6 mm的Z轴扫描功能，用于活体成像的5个麻醉输出端口以及化学发光检测模块等。 产品特点应用灵活，兼容多种样本类型：高分辨率成像、超大样品仓设计，支持从分子检测到活体成像样品类型。 定制化，可升级，颠覆传统设计理念：可根据需求选择合适的模块。可轻松替换激光器及滤光片，兼容更多种类的荧光染料。可升级化学发光模块配置。 超宽动态范围（EDR）模式分辨细微表达差异：可将动态范围扩展至24bit，在保证强信号不过饱和的前提下，极大提高同时获取强弱信号的能力。 高灵敏荧光检测：支持常规荧光染料的飞克级检测灵度。助力客户获取高质量的定量数据。 应用Sapphire FL激光扫描成像系统广泛适用于多种分子生物学实验的结果分析，如荧光Western、In-Cell Western、In-Gel Western、蛋白芯片、核酸芯片、二维电泳、DNA凝胶、考马斯亮蓝染色凝胶、荧光组织切片，活体成像等等。仪器支持近红外荧光，可见光，磷屏成像（放射性同位素自显影成像），同时可升级化学发光模块。

前言CoreScanner芯体密度X-光扫描成像与元素分析系统结合了X-射线荧光分析(X-ray Fluorescence)、数字X-射线密度成像（digital x-ray micro radiography）和高分辨率数字光学成像技术，实现多种样芯的非接触式测量，用于土壤、土芯、海洋或湖底的沉积物、岩石、洞穴堆积物（如钟乳石），泥炭块、岩芯等的密度和元素分析。可测量的元素有Al、Si、S、Cl、K、Ca、Cr、Mn、Fe、Cu、Zn、As、Hg、Pb等，其中许多可测至痕量水平以下，对灵敏度和分辨率要求较高的研究尤其适合。系统可应用于土壤分析，环境污染调查、地质勘探、海洋研究等领域。 原理土壤元素分析系统采用XRF、数字X-射线密度成像和高分辨率数字光学成像技术，非破坏性测量，获得样品高分辨率的数码图像，然后利用系统软件对所得图像信息进行分析。系统特点l 结合了XRF、数字X-射线密度成像、数字光学成像技术l X射线荧光分析，提供Al以上的多种元素的浓度数据（Al – U）l 数字X射线密度成像用于样品的高级分析l 可扫描分析土芯等样品l 实现多种元素同时检测l XRF灵敏度达PPM级l 检测效率高，10分钟即可完成1米样品的扫描分析l 稳定，可靠，重现性好l 灵敏度和精确度高l 非接触式分析，不破坏样品l 可超负荷工作，每年可工作几千小时系统组成u X-射线发生器u X-射线管u X-射线安全防护系统u X-光束准直仪u X-射线成像检测系统u XRF元素分析仪u 光学摄像头u 机动样品台及样芯固定装置u U-型样品槽u 2台工作站u 软件及驱动u X-光箔u UPS（不间断电源）u 设备冷却装置技术指标1. 测量原理：X-射线荧光分析、数字X-射线成像技术、高分辨率光学成像技术。2. 分辨率：X-射线：2 扁平光管光束0.2x20mm，其中0.2对应沉积物的长度方向。2 X-射线荧光光束：常规分辨率0.2mm，最高分辨率0.1mm（需定制）2 X-射线成像分析，最高分辨率20μm3. X-射线发生器功率：60 kV，55 mA，最大功率3.3 kW4. X-射线管：铬管或钼管，最大功率2.2 kW（铬管）和3.0 kW（钼管），质保寿命为2000h，期望寿命为3000~5000h。5. X-射线检测器：用于X-射线数字密度成像，含有1000个感应元件，每个感应元件拍摄20μm宽的样品图像，动态范围达数十倍，样品最大成像厚度60mm。6. SDD硅漂移检测器：电子冷却，用于XRF检测，可以记录Al – U的任何元素的标识辐射，5.9 keV时，能量分辨率大约140 eV。单次扫描即可完成所有元素的检测。7. 增强型光学成像单元：3x16bit数字RGB彩色CCD光学摄像头和光学图像信息采集软件，采用正交偏振滤光片技术和眩光降低技术，可以获得非常高的图像质量。摄像头光学分辨率为50μm，以两种模式扫描，快速模式（分辨率200μm）和高分辨率模式（分辨率50μm），扫描图像宽约100mm。8. X-射线防护装置：测量过程中，打开仪器时，X-射线自动关闭。9. 样品台：自动样品台长1800mm，最小步进20μm，温度稳定时重现性好。10. 样品槽：样品槽带手动调节装置，可在据样品横截面中心线的五个不同的固定位置调整。五个位置是：中心，距中心10mm (左和右)，距中心20mm (左和右)。11. 样品大小和形状：2 有效测量长度最长1750mm , 宽度120mm2 劈开的、水平放置的沉积物样品，最大外径可达120mm2 厚板状沉积物样品，厚度1-60mm, 宽度120mm2 U形样品槽2 木材生长锥样品、平板样品或圆盘样品，厚度1-60mm, 宽度120mm2 洞穴堆积物（如钟乳石）样品，厚度1-50mm, 宽度120mm12. 工作站：负责扫描控制及数据处理软件。包括Core Scanner Navigator（扫描控制软件）、Qspec（XRF光谱分析和元素浓度计算软件）、ReDiCore（数据显示软件）及所有其他硬件驱动程序。13. 冷却装置：冷却水泵14. 电源：230v/50Hz/三相，建议配UPS（选配）15. 规格：4500×820×1570mm16. 重量：800kg 深海沉积物样芯，从上到下曲线代表元素的浓度变化：Fe, Ca, K, Si, Al 应用案例一英国海洋中心和南安普顿大学地球化学领域科研人员，将土壤元素分析系统应用于东部地中海沉积泥的研究分析。 应用案例二法国格勒诺布尔阿尔卑斯大学的Kévin Jacq等利用SPECIM高光谱成像技术与CoreScanner样芯元素扫描分析技术对法国布尔吉湖底沉积物样芯进行了分析研究，结果发表于2019年《Science of the Total Environment》（High-resolution prediction of organic matter concentration with hyperspectral imaging on a sediment core）。有机物（OM）含量常用于海洋湖泊沉积分析，以重建不同年代的碳通量等，550 °C 烧失量法（Loss on ignition，LOI）被广泛用于古气候相关研究，但LOI具有费时、费力、对样本有损坏、空间分辨率低（0.5-1cm）等缺点。为建立可靠、准确的模型，以进行高通量、快速、无损、高空间分辨率沉积物样芯成分分析，作者综合运用SPECIM高光谱成像技术、XRF CORESCANNER元素扫描分析技术，并以传统LOI550烧失量法作为参照，对54 cm长沉积样芯进行了分析研究。SWIR短波红外高光谱（1000-2500nm）可以在15分钟内完成样品扫描分析，空间分辨率200 μm。XRF CoreScanner分辨率为 200 μm，采用康普顿（非相干，incoherent）和瑞利（相干，coherent）散射数据的比值（inc/coh）作为有机物的表征量。结果表明，LOI550 参考值与XRF inc/coh 比值及高光谱值均具备显著的相关性，高光谱成像技术可以高通量、非损伤、高空间分辨率分析沉积样芯有机物含量分布。该方法还可转用于自然界的其它样芯分析，如钟乳石、土壤、冰芯、树芯，并可用于推断古环境，古气候，土壤健康和污染等。 产地瑞典选配技术方案l SisuCHEMA高光谱成像分析系统l SisuSCS单样芯高光谱成像扫描分析系统l SisuROCK多样芯高通量高光谱成像扫描分析系统l SpectraScan高光谱成像扫描分析系统部分参考文献列表1) Croudace, I. 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B., Patterson, R. T., Reinhardt, E. G. & Galloway, J. M. The iBox-FC: A new containment vessel for Itrax X-ray fluorescence core-scanning of freeze cores. Quaternary International 514, 76–84 (2019).16) Peti, L., Augustinus, P. C., Gadd, P. S. & Davies, S. J. Towards characterising rhyolitic tephra layers from New Zealand with rapid, non-destructive μ-XRF core scanning. Quaternary International 514, 161–172 (2019).17) Profe, J. & Ohlendorf, C. X-ray fluorescence scanning of discrete samples – An economical perspective. Quaternary International 514, 68–75 (2019).

Sapphire RGBNIR激光扫描成像系统是新一代基于激光光源的扫描成像系统，通过其无与伦比的灵敏度、超高的分辨率、宽广的动态范围为客户提供高质量数据。仪器搭载四个固态激光器作为激发光源，国际首创融合PMT、APD和CCD三种检测器于一体，不仅能够进行高灵敏度宽动态范围的RGB荧光成像、近红外NIR荧光成像、磷屏成像（放射性同位素自显影成像），还可进行传统的化学发光成像、凝胶成像和可见光成像等。 产品特点● 强大的多重荧光检测，可同时进行四通道扫描● 宽广的动态范围，动态范围≥6OD● 高分辨率，分辨率可达10微米● 化学发光成像，fg级检测灵敏度● 直观友好的软件操作界面，易于使用● 强大的分析软件，轻松高效地分析多种实验数据 应用Sapphire RGBNIR激光扫描成像系统广泛适用于多种分子生物学实验的结果分析，如荧光Western、In-Cell Western、In-Gel Western、近红外荧光EMSA、蛋白芯片、核酸芯片、二维电泳、DNA凝胶、考马斯亮蓝染色凝胶、荧光组织切片等等。仪器可搭配CCD模块，用于化学发光成像和可见光成像。通过选配PI模块，仪器可用于磷屏成像（放射性同位素自显影成像）。 Sapphire激光扫描成像系统信息由Azure Biosystems（中国）公司为您提供。如您想了解更多Sapphire激光扫描成像系统相关报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。

一、 用途：SpectraScan-R是一套专用于离体（ex-situ）根系VIS-NIR波段光谱扫描成像分析的仪器系统，完整植物根系取土后可直接进行可见光近红外高光谱扫描成像分析，还可以进一步经过洗根后扫描成像然后通过专业软件进行根系分析，可以分析根系长度、直径、面积、体积、根尖记数等，还可以分析新生根系、根系水分分布、根系生化结构二维时空分布成像等，甚至可以通过高光谱技术二维成像分析根系土壤基质有机碳、水分含量等时空动态变化。功能强大，操作简单，软件可分析植物根系的形态，色彩、分级伸展分析及根系的整体结构分布等等。可广泛应用于植物根系动态、植物表型分析、植物胁迫、土壤生态修复、湿地监测等领域。 二、 原理：SpectraScan-R根系分析系统利用高质量RGB图形扫描仪及高光谱成像系统，获取高分辨率植物根系可见光图像及高分辨率光谱数据，然后通过专业分析软件对根系形态结构、光谱特征、生化组成等进行分析。扫描仪在扫描面板下方和上盖中安装有专门的双光源照明系统，并且在扫面板上预留了双光源校准区域。扫描时，扫面板下的光源和上盖板中的光源同时扫过高透明度根盘中的根系样品，这样可以避免根系扫描时容易产生的阴影和不均匀等现象的影响，有效地保证了获取的图像质量。 WinRHIZO软件可以读取TIFF，JPEG标准格式的图像。针对获取的图像，利用插入加密狗解密的软件，同时配合厂家针对扫描仪配置的Scanner.cal校准文件，对扫描获得的高质量根系图像进行分析。采用非统计学方法测量计算出交叉重叠部分根系长度、直径、面积、体积、根尖等基本的形态学参数；利用软件的色彩等级分析功能、高光谱成像分析，还可以对根系RGB、近红外光谱进行分析，从而进行根系存活数量、水分、根系生长和营养状况、土壤基质等方面进行分析研究；利用软件的高级分析功能，还可以对完整的植物根系图像进行根系连接分析（研究根系分支角度、连通性等形态特征）、根系拓扑分析（研究根系连接数量、路径长度）和根系分级伸展分析（记录根系整体等级分布情况）。从而满足研究者针对植物根系不同类别和层次的研究。 三、 组成：1、 图像扑捉系统：经过厂家调试的标准根系扫描设备，匹配专门的光源、具有永久校正特点、根系固定装置等2、 高光谱成像分析单元，对根系及土壤基质进行高光谱成像3、 根系分析系统：基本版 /标准版 /专业版WinRHIZO分析软件4、 电脑（最低配置：Pentium III / 64 MB内存 / 17"显示器）用户自备 光谱扫描设备类型及区别见下表：STD4800LA2400**VIS-NIRNIR描述RGB高质量高速扫描仪RGB多功能、高速扫描面积大的扫描仪400-1000nm波段高光谱扫描成像900-1700nm近红外波段高光谱扫描成像可否在野外使用NNYY是否需要电脑操作YYY分辨率DPI（点/英寸）48002400512x512，或1024x，可选配更高分辨率640x扫描速度较快快330fps670fps最大扫描面积cm21.6x2830x43可局部或任意大小完整根系是否可对土壤基质扫描YY是否适合WinFoliaYY是否适合 WinRHIZOYY是否适合 WinSEEDLEYY是否适合 WinDENDROYY**WinRhizo Pro版本包括蓝色背景板 四、 基本技术指标：1、不同版本WinRhizo主要技术指标：整体参数基本版标准版专业版拟南芥版*总长YesYesYesYes平均直径YesYesYesYes总面积YesYesYesYes总体积YesYesYesYes根尖、分叉和交叠计数YesYesYesYes根直径等级分布参数长度NoYesYesYes面积NoYesYesYes体积NoYesYesYes根尖计数NoYesYesYes* 拟南芥版具有专业版所有功能，另外还可针对拟南芥类植物的细小、交叉根系进行测量 2、VIS-NIR光谱扫描成像分析：1) 高光谱扫描成像分析波段：400-1000nm（标配），可选配900-1700nm或1000-2500nm短波红外波段2) 智能一体式高光谱扫描成像技术（标配），内置自动推扫系统、取景器相机等，高度便携，集光谱成像数据采集、可视化数据处理、触摸屏与控制键等于一体，采用图形用户界面（GUI）3) 高光谱分析软件采用SAM算法及Savitzky-Golay滤波器技术，可创建类别或分级模型并建立App直接导入高光谱成像仪使用，建议同时选配ENVI软件4) 取景器相机分辨率5Mpix，高光谱成像空间分辨率512x512（标配），可选配1024x或其它分辨率高光谱成像分析5) 4.3”触摸屏、13操作键（标配）6) 光谱分辨率7nm（标配），波段数204（标配）7) 标配视野31度，成像距离15cm至无穷远，1m距离成像视野55x55cm8) 具备默认模式、自动筛选模式、客户定义APP模式及自动时间间隔记录模式9) 根系RGB颜色分析（专业版RGB扫描分析软件）：根的长度、面积、体积、根尖计数、根系存活数量等研究（对根系或者根系附着菌种颜色进行分类，如健康根、浅程度受害根、重程度受害根等，软件可计算每种颜色根系的总长、总表面积、总体积、总根尖数量；每种颜色根系的平均长度、平均表面积、平均直径等）10) 根系连接（link）分析（专业版RGB扫描分析软件）：用于根系分支角度、连通性等形态研究（与拓扑和发育分析最大的区别是，link分析可以针对非完整根系！软件给出的结果有分析对象的根系平均直径、平均长度、平均表面积、每个分叉角度的平均值；分叉的总数量；每个分叉的长度、表面积、平均直径、角度、级别等）11) 根系拓扑（Topology）分析（专业版RGB扫描分析软件）：连接数量、路径长度等研究（需要根系完整）（必须是要完整的根系扫描图像。软件可计算主根的长度、所有次级根的总长度、平均长度、平均直径、平均表面积；每一级分叉的下级总分叉数量；每一级分叉的总数量等）12) 根系发育（Development）分析：记录根系整体等级分布情况（可通过专业版分析软件需要要完整的根系扫描图像。软件可计算每一个分级根系总长、总表面积，平均长度、平均直径、平均表面积等） 五、 产地：客户定制集成技术

1、概览：测量小型植物根系的X射线CT系统。可以对植物根系进行透射成像和断层扫描成像。用于对盆栽植物的根系进行原位成像分析，可以拍摄根系的立体X-光照片和断层图像。可以在植物生长的不同阶段对根系的生长进行长期动态监测。PMT-ROOT-XCT非常适合于研究植物根系对胁迫的动态响应。并且拥有世界上最先进的GPU加速算法，使断层重建速度提高3倍。该系统的成像部分与计算机控制部分分离，可以实现远程控制及射线拍摄，并且带有门机安全联锁装置与工作状态警示装置，可以有效保障实验人员的身体辐射要求及误操作。2.规格：【工作条件】l 环境温度：-10～＋45℃；l 相对湿度：0－90％；l 适用电源：220-240 VAC；【技术规格与要求】1.2m系统：l 主机:1.900（高）x 1.000（长）x 0.700（宽）m；l X射线发射器 (50 kVp, 钨靶, 光斑直径~35μm，工作强度25kVp，0.3mA)；l 数码X射线相机 ( 2940 x 2304像素)；l 植物样品定位系统（垂直方向1.2m可调，水平方向42cm可调，可360度旋转）；l X射线防护装置 （内锁和指示灯，中/英/德文标签）；l 主控电脑：Win7 64位英文（中文可选）系统，2000 G数据存储，X射线系统控制及图像获取系统；l 图形图像分析电脑：Windows 64位操作系统，32G内存，图像处理系统；l 速度：平面图≥22株/h；立体图≥16株/h；l 测量范围：最大根长≤1.2 m；最大植物高度≤2.2m；l “R”型固定架，45x200x1200 mm培养盆和相应培养介质；l “Q”型固定架，45x200x600 mm培养盆和相应培养介质；0.6m系统：l 主机: 1.900（高）x 1.000（长）x 0.700（宽）m；l X射线发射器 (50 kVp, 钨靶, 光斑直径~35μm，工作强度25kVp，0.3mA)；l 数码X射线相机 ( 2940 x 2304像素)；l 植物样品定位系统（垂直方向0.6m可调，水平方向42cm可调，可360度旋转）；l X射线防护装置 （内锁和指示灯）；l 主控电脑：Win7 64位英文系统，2000 G数据存储，X射线系统控制及图像获取系统；l 图形图像分析电脑：Windows 64位操作系统，32G内存，图像处理系统；l 速度：平面图≥22株/h；立体图≥16株/h；l 测量范围：最大根长≤0.6 m；最大植物高度≤2.2m；l “Q”型固定架45x200x600 mm培养盆和相应培养介质；3.配置清单l 主机1台；l X射线发射器1台；l 数码X射线相机1台；l 植物样品定位系统1套；l X射线防护装置1套；l 主控电脑1台；l 图形图像分析电脑1台；l “R”型固定架1套；l “Q”型固定架1套；

仪器简介：外延片PL谱扫描成像仪用于快速在线检测发光二极管外延片的质量，主要用于发光二极管外延片和芯片生产线．生成高分辨率的图谱和测定薄膜厚度等。本仪器为外延片生产工艺优化控制提供快速可靠的数据反馈．为高效高质量生产提供可靠保证。本成像仪现已成功应用于多条LED外延片生产线上。逐点扫描检测计算机分析计算外延片的积分光强，主波长，峰值波长，光谱半宽等参数以绘图形式显示分布和数据截面分布囤，显示单点光谱显示各个参数的统计结果显示选择范围的各项统计参数可进行局部扫描，并对扫描结果进行去孤立点和去边处理采用白光反射谱测量薄膜厚度并以绘图形式显示分布和数据配备离线数据处理软件本成像仪可靠。结构紧凑。全部检测和数据处理由计算机自动完成。采用用户友好的窗口界面，操作简便。用户仅需最小的培训就可使用。另外可根据不同外延片，选配不同的激光器。技术参数：1 、光致发光样品腔 10x M-Plan镜头颜色修正，波长范围：350-1800nm 工作距离：30.5mm, 20mm FL, z轴可调 系统空间分辨率：10微米(1微米选配) 镜子带孔洞作为激光束及PL信号的通道 Iris光圈用于激光束的调整 可变ND过滤器用于激光能量的控制(99% to 2%) 10毫米孔洞PL信号校准镜头 马达控制的XY台，最大速度30毫米/秒，1微米扫描分辨率 2 & 4外延晶片样品盘 包括高分辨控制器和电缆 2、IG512近红外光谱仪，900-1700nm, 512像素, InGaAs阵列 25um x 500um像素尺寸，14bits, 2.5MHz数字转换器, f/4, 40mm FL 探测范围：900nm全谱，300gr/mm, 1um blaze grating 包括SMA905, 400um多模光纤，1米长 3、EPP2000-VIS(350-1150nm)用于紫外-可见光，衍射光栅光谱仪 f/4, symX-Czerny-turner类型 分辨率：1.6nm (50um狭缝，@600gr/mm grating) 包括2048像素CCD探测器，12bit数字转换器 600gr/mm grating 接口：USB-2&平行 SMA905光纤光学输入，0.22NA，400um多模光纤，1米长主要特点：仪器特点 高品质及中等价位的PL扫描系统(高性价比)； 波长范围宽广(UV-VIS-NIR, 350nm to 2.2um)； 噪声低，高PL信号探测； 设计紧凑，易于调谐； 各种激发激光源可选； 易于发现峰及FWHM；

工业CT系统，X射线计算机断层扫描技术，X射线成像系统,工业CT断层扫描仪基于 ZEISS METROTOM 的工业计算机断层扫描（CT）利用蔡司的工业计算机断层扫描系统，仅需一次X射线扫描，即可顺利完成工件的测量和检验。标准的验收检测、精密工程和完善的校准程序可确保系统的追踪性。配备线性导轨及转台，满足客户对精度的高要求。 测量与检验整体部件ZEISS METROTOM是一种用于测量和检验塑料或轻金属部件的工业计算机断层扫描测量系统。而在利用传统测量机测量时，此类隐藏性的结构信息只有将零件通过费时的层层破坏方能获得。 轻松且精准地进行多样化特征检测利用ZEISS METROTOM计算机断层扫描系统可一次扫描海量的零部件特征。这些测量结果非常精准，且具可追溯性。和接触式测量方法不同，ZEISS METROTOM 获取海量测量点时，时间显著缩短。 直观简易的软件操作仅需通过短时间的ZEISS METROTOM OS软件培训课程，操作人员即可对零件进行扫描，透视零件的内部。利用ZEISS CALYPSO可评估CT数据，再利用ZEISS PiWeb即可快速地将两者融合于同一份测量报告中。 咨询或索取详细产品资料，请联系越联仪器工作人员。 广东越联仪器有限公司---德国蔡司一级代理商。产品：工业CT系统，X射线计算机断层扫描技术，X射线成像系统,工业CT断层扫描仪

小动物低温荧光断层扫描成像系统适用于各种研究领域：药物传递、神经生物学、癌症生物学、免疫学、纳米医学等领域研究。可以对细胞簇、孤立器官甚至整个动物进行高分辨率可视化。整体动物连续切片且实时荧光成像也是全球首台，它基于带有现成荧光成像、重建和分析的连续切片，可从 2D 图像提供全面的 3D 荧光和 3D 解剖图像。其他常用的成像方式只能聚焦于亚细胞结构或生成全身或特定区域的低分辨率图像。除了生成 3D 图像外，还可以进行选择性地识别和转移高价值样本切片以进行额外的组织学和成像。弥补MRI和CT的分辨率不足，更好的确定肿瘤位置和大小。冷冻成像的过程中，成像的信噪比会大幅度降低，成像质量和分辨率会大大提升，对于荧光探针的示踪可以做一个很好的补充。特点：1. 整体动物连续切片2. 整体动物3D成像及体内器官成像3. 荧光探针体内定位及定量分析4. 肿瘤位置和大小定位

Novator系列影像仪激光扫描3d成像智能化和自动化程度高，使测量变得简单。在测量一些弱边缘特征(如过渡曲线、圆角加工等)时能完成自动抓取，在保证精度的前提下，可以自动抓取产品的边界和表面，测量效率更高。Novator系列影像仪激光扫描3d成像将传统影像测量与激光测量扫描技术相结合，支持频闪照明和飞拍功能，1-2S自动聚焦速度快，处理去毛刺、弱边界等复杂边界提取能力强，可进行高速测量，并融入中图闪测仪的拼接测量功能，结合可独立升降和可更换RGB光源，可适应更多复杂工件表面，同时测量效率提升5~10倍。产品优势稳固移动平台、高测量精度1.精密大理石机台，稳定性好，精度高。2.精密线性滑轨和伺服控制系统，超低分贝静音级运动。3.三轴全自动可编程检测，实现复杂特征批量检测。激光扫描成像、3D复合测量1.支持点激光轮廓扫描测量，进行高度方向上的轮廓测量。2.支持线激光3D扫描成像，可实现3D扫描成像和空间测量。3.VisionX测量软件支持多种轮廓测量和3D空间测量，无缝连接2D/3D混合测量。频闪照明光源、高速硬件飞拍1.具备频闪照明光源，支持频闪和普通双模式。2.支持飞拍模式测量，测量效率提升5~10倍。3.融入中图闪测仪的拼接测量功能，发挥综合优势。可更换RGB表光、独立升降表光1.可更换RGB表光和白色表光，适应多种复杂颜色和材料表面。2.表光可独立升降，更好的观察样品表面。3.支持六环八分区表面光、透射光、同轴光分段编程控制。自动测量，批量更快1.程序匹配工件坐标系，自动执行测量流程。2.支持CAD图纸和Gerber图纸导入，坐标系匹配测量。3、CNC固定坐标系模式下，可快速精确地进行批量测量。操作简单，轻松无忧1.具备大幅面导航相机，快速实现工件定位。2.具有镜头防撞功能，轻松无忧。3.一体化操作界面，任何人都能轻松设定和测量。Novator系列影像仪激光扫描3d成像自动抓取数据点，测量点、线、圆、弧、椭圆、矩形等几何特征，自动分析测量特征的各种参数，如宽度、直径、位置、直线度、圆锥度、圆柱度等各种几何尺寸。结合专用测量软件对测绘要素数据进行处理、评价和输出。在保证精度的前提下，测量效率更高。高度尺寸测量Novator系列影像测量仪配备（1）触发式测头；（2）点激光(激光同轴位移计)；（3）三角激光三种传感器配置，能精准测量零件高度尺寸。1、接触式测量影像测量仪+触发式测头组合相当于一台小的三坐标测量仪，也就是我们说的复合式影像测量仪，在需要测量高度的地方，用探针取元素（点或者面），然后运用影像测量仪软件中的Z轴自动对焦功能，测量得出高度。2、非接触式测量通过搭载点激光(激光同轴位移计)、三角激光传感器配置，点激光轮廓扫描测量以及线激光3D扫描成像进行高度测量，平面度测量，针对镜面和光滑斜面均可测量；或是运用影像测量仪软件中的Z轴自动对焦功能，测量得出高度，这样的测量方法可以减少人为误差，不管是谁来测量，都可以测得同样的数值，非常简单方便。平面度尺寸测量在测量平面度时，可以将待测物放置在二维影像仪的工作台上，使用光学放大镜头和图像处理软件来检测物体表面的高低差异，并计算出物体表面的平坦度参数。通过与标准样品的比较，可以判断物体表面是否符合规定的平面度要求。需要注意的是，二维影像仪在测量平面度时，需要选择合适的光学放大倍率和图像处理算法，以保证测量结果的准确性和可靠性。光学测头平面度测量Novator可实现各种复杂零件的表面尺寸、轮廓、角度与位置、形位公差、3D空间形貌与尺寸结构等精密测量。Novator可用于机械、电子、模具、注塑、五金、橡胶、低压电器、磁性材料、精密冲压、接插件、连接器、端子、手机、家电、印刷电路板、医疗器械、钟表、刀具、计量检测等领域。部分技术指标型号Novator432行程范围X(mm)400Y(mm)300Z(mm)200图像传感器高清彩色工业摄像机显示器24英寸 LCD显示器（1920×1080）放大倍率光学放大0.6~8.0X 影像放大17~232X照明系统透射光远心透射照明（绿色）表面光6环8分区分割照明（白光）；选配，可更换RGB光源同轴光LED光3D扫描成像测量Z向测量范围5mm扫描宽度30mm支持飞拍测量模式支持支持导航相机支持传感器配置选配，(1)接触式探针；(2)白光共焦；(3)三角激光外形尺寸(mm)860*1350*1670仪器重量(Kg)650恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

小动物冷冻荧光断层扫描成像系统，简称CFT（Cryo-Fluorescence Tomography）。它通过捕获连续切片的二维荧光和白光图像，并且编译成三维图像，它可以对小动物整体，动物组织，人体组织等生成三维各向同性数据集 最大分辨率为20um。相比PE， MRI ，CT等成像模式，CFT系统信号识别灵敏度较好，能够获得较细致准确的荧光信号，且分辨率可以达到20um.与传统的体外成像相比，传统体外成像只关注小样本量，做大样本量的3D成像要求比较高，也足够复杂，也没有标准化的流程，同时满足高分辨率和高灵敏度对设备本身的要求也是比较高。CFT成像作为体内和体外成像的最好的桥梁，既弥补了体内成像因为体内环境复杂，导致灵敏度较低，无法完全显示所有荧光信号，充分的为组织学深入研究提供多维度数据。又为下游显微镜成像做了精准的定位和补充。以下在药物发现、肿瘤学、纳米技术和神经科学领域的研究应用1、 药物发现因为它可以帮助识别和表征在器官、组织、细胞和分子水平上的基本过程。CFT有助于疾病过程的知识和在临床前或临床研究设计中评估药物效应。此外，通过允许分子事件的可视化和量化，CFT是发展诊断和治疗应用的一个有价值的工具。使用CFT，候选药物的三维生物分布和定位，如小分子、抗体药物偶联物、诊断抗体、基于肽的治疗，可以在整个样本或特定器官中可视化。CFT还可以阐明一种潜在的药物药效学数据，包括其对其靶点的亲和力和选择性，以及在动物模型中的稳定性。2、 肿瘤学CFT可用于研究肿瘤模型，包括微环境、肿瘤异质性、转移扩散和特异性生物标志物的表达。对于转移性肿瘤进展，CFT可以检测转移性疾病，并提供肿瘤负荷的高分辨率和扩散的3D分子数据，在可比的图像模式中通常无法可视化。并可用于评估肿瘤代谢对遗传操作、药物和癌症化疗药物的反应。一些例子包括动物模型的3D渲染，阐明了作用基因及其对行为和疾病表型的表达，如癌症。3、 纳米科技并通过CFT等成像方式对组织进行详细成像。例如具有免疫调节特性的纳米佐剂；纳米刀，一种几乎非侵入性的高压电抗癌方法；还有碳纳米管，一种修复受损组织的流行方法。纳米材料与荧光报告组相结合，允许用CFT可视化这些过程与对照组肝脏归一化后，LNP-2组的tdTomato信号比LNP-1组高2倍，说明LNP-2可能比LNP-1具有更好的mRNA传递效率4、 神经科学CFT也可以用于研究大脑的生理学、解剖学和分子生物学。神经退行性疾病和其他病理学影响大脑的不同区域，以及负责疾病病因学的特定神经通路。这些神经通路可以用CFT来绘制。使用荧光报告基因，这些组的3D CFT图可以帮助可视化细胞跟踪、药物传递和大脑中药物的药效学。CFT可视化是不可或缺的，可以提供深入了解器官特异性的退行性疾病，以及突出几种疾病过程的有希望的动物模型，和有希望的治疗途径.CFT数据集显示，iRFP的表达发生在椎体外。从同一样本中收集的切片在组织水平上进行成像。结果显示，iRFP在椎体外的肌肉组织中表达5、 临床应用前景CFT是一种定量和敏感的临床成像方法，需要研究病变组织的细胞和分子功能。CFT的浆片切片特征允许检测在不同组织深度产生的光信号。光信号可以是内源性对比，可以捕获不同组织的异质性和生物学状态，包括肿瘤，或外部显像剂或选择性地在组织或肿瘤中积累的药物。在临床研究中，CFT提供了一个高度控制的切片环境，微米级的切片和精确的重建，使MR图像和Brock组研究的组织学之间的准确配准。组织学识别的组织MR信号的有统计学意义的差异被作为MRI和组织学体积之间相关性特异性的指标。CFT提供了精细切片和组织病理学处理的结合，可以支持其工作所需的冷冻膜带转移，这将通过重建高分辨率的三维组织学体积.CFT作为补充成像模式，把体内成像和组织成像密切连接，数据的可视化，结构化，3D三维成像，能够很好的还原细胞和分子的功能。

仪器简介：2006年12月一推出，立刻受到高校科研单位欢迎。国内用户有 南京大学分析中心 上海师范大学 天津46所技术参数：3、仪器主机功能与附件功能 3.1 单色化XPS，Al K&alpha ，包括： 大面积XPS、小面积XPS、成像XPS、深度剖析XPS和角分辨XPS。 3.2 双阳极XPS，Mg/Al K&alpha 3.3 紫外光电子能谱，UPS 3.4 高压反应室 3.5 分析室样品冷/热台 4、仪器主要部件 4.1 超高真空分析室 180度半球能量分析器， 电子透镜传输系统， １６多通道电子检测器 分子泵，离子泵，钛升华泵 　　　单色化XPS （AlK&alpha ）系统，含内循环水冷却装置， XPS成像系统， 双阳极XPS系统，冷却循环水和单色化系统共用 紫外光源， 荷电中和系统，用于绝缘样品或导电性差的样品的荷电补偿， 5轴样品台， 标准样品托　２个 Recessed样品托　1个 氩离子枪，用于深度剖析， 热双灯丝离子规， 闭路电视显微彩色摄像系统和SXI成像系统， 分析室和进样室都有独立光纤照明系统， 可观察视窗，视窗直径10cm左右, 样品热/冷台,温度可监测。 4.2 样品进样室 机械泵，分子泵 热双灯丝离子规, 可观察视窗，视窗直径10cm左右。 空气压缩机一台，国内采购 4.3 石英高压反应池 程序控温系统 真空监测系统 真空泵系统 进出气系统,参考南京大学用户设计建议。 压力 一个大气压 全石英底座 密封材料 Byton O-ring 最高温度 600度 远红外线加热控温系统 单独石英反应器冷却系统 4 样品磁耦合传输系统 4.5 真空烘烤系统 4.6 主机系统集成，减震装置。 4.7 计算机系统，含数据采集和数据处理软件包。 4.8 与以上所有系统相关联的电子学控制柜。 5、仪器主要技术参数与要求 5.1 仪器主机功能，单色化Al K&alpha 5.1.1 大面积XPS Ag3d5/2，1400umx100um, FWHM&le 1.00eV时，灵敏度&ge 1,000,000 cps。 Ag3d5/2，1400umx100um, FWHM&le 0.60eV时，灵敏度&ge 250,000 cps。 5.1.2 小面积XPS，最小分析面积&le 10&mu m ，性能指标应达到： Ag3d5/2，20&mu m， FWHM&le 0.60eV时，灵敏度&ge 15,000 cps。 Ag3d5/2，10&mu m， FWHM&le 0.60eV时，灵敏度&ge 4,000 cps。 Ag3d5/2，10&mu m， FWHM&le 1.00eV时，灵敏度&ge 12,000 cps。 Typical value for 100um and 20um at 75degree and 45degree 75degree Ag3d5/2，20&mu m , FWHM&le 0.90eV时,灵敏度&ge 99kcps Ag3d5/2，100&mu m , FWHM&le 0.90eV时,灵敏度&ge 47kcps 45degree Ag3d5/2，20&mu m , FWHM&le 0.90eV时,灵敏度&ge 50kcps Ag3d5/2，100&mu m , FWHM&le 0.90eV时,灵敏度&ge 27kcps 5.1.3 成像XPS 单色化X射线扫描成像，最佳空间分辨率&le 10 &mu m。 5.1.4 深度剖析XPS 聚焦扫描氩离子枪，当working distance为30 mm时.聚焦氩离子束斑&le 150&mu m，当 working distance为60mm时候，聚焦氩离子束斑&le 300&mu m束流密度&ge 0.5 mA/cm2。 5.2 仪器附件功能 5.2.1 双阳极XPS，MgK&alpha ，Ag3d5/2，FWHM&le 1.40eV时，灵敏度&ge 1,000,000 cps。 5.2.2 紫外光电子能谱（UPS） (a) 光源：He紫外光源，HeI:HeII=3:1 (b) 性能指标：分辨率（Ag费米边）&le 120 meV时，灵敏度（Ag4d）&ge 2,000,000 cps。 (c) 最小步长：5meV 5.2.3 高压反应室 (a) 材质：石英 (b) 内胆内压强：&ge 760Torr (c) 最高温度，&ge 600℃ (d) 气体混合仓附计量装置，包括压力表、流量计和针阀等。 5.2.4 分析室样品冷/热台，温度：170 K&ndash 600 K，温度可检测，加热PID控制。 5.3 仪器主要部件参数与要求： 5.3.1 能量分析器 (a) 类型：半球能量分析器 (b) XPS能量范围： 0&ndash 1600 eV（25 meV） UPS ：0～320 eV（5 meV） 5.3.2 超高真空分析室 (a) SUS材质内表面经过特殊处理 (b) 真空：小于6.7× 10-10 mbar 5.3.3 样品进样室 (a) 材质：非磁性不锈钢材料 (b) 真空：小于6.7× 10-9 mba 5.3.4 深度剖析氩离子枪 100eV&ndash 5keV，连续可调，扫描型。 5.3.5 荷电中和系统：双枪中和系统。 5.3.6 样品控制台 (a) 轴向：5轴， (b) 移动：各向移动距离必须与样品台尺寸相匹配，步进步长小于1&mu m， (c) 倾斜：0&ndash 90° 5.3.7 计算机系统 (a) Pentium IV，CPU主频3.0GHz左右； (b) 内存2G, 硬盘250 G； (c) ２个DVD/CD-RW Combo光盘驱动器, (d) 22" 液晶平板显示器； (e) 4个USB2.0接口； (f) 100M以上以太网接口，用于数据传输； (g) 预装Windows XP正版软件； ( h ) 预装仪器操作软件和数据分析软件（含最新的XPS数据库），附安装软件光盘；主要特点：1.世界上独一无二扫描微聚焦X-射线source2..世界上独一无二扫描微聚焦X-射线产生的2次电子成像SXI像和XPS成像，可以帮助客户找到肉眼看不见的微观缺陷。3。可以给出10um XPS sensitivity.其他公司不能。20um 的XPS sensitivity是其他公司同类产品的1倍以上。

NAOMI-纳奥美光学是世界知名的桌面型X射线三维扫描系统的制造商，总部位于日本长野市,拥有28个事业所及5个海外分部,面向全球用户提供高性价比的三维扫描、二维成像、缺陷检测、内部探伤的数字化解决方案。NAOMI纳奥美X射线工业CT扫描无损探伤仪广泛应用于铝压铸件、树脂、塑料制品、容器、橡胶制品、加工食品、糖果、水果、化妆品、文具、玩具、鞋子、生物、骨骼、文物、工艺品等领域。

本设备利用激光、显微镜、精密扫描组件、时间分辨数据采集技术和图像处理技术获得样品不同位置的荧光强度及寿命。利用定点激发技术，可以观测载流子迁移。是一种高性能、高扫描速度、高灵敏度的荧光成像仪器。一、系统主要技术指标1.激光扫描振镜模块1） 激光光纤输入，配电控光阑系统2）激光扫描成像范围∶最高4096x4096像素点3）成像放大倍数（zoom）∶1-32倍4）激光扫描波长范围：400-750nm 2.TCSPC模块1） 时间精度7ps 2） Bin通道数∶40963） 时间窗口50ps-5μs 4） 仪器响应函数（IRF）∶≤:300ps 5） 时间分辨率∶≤50ps 3.高灵敏度单光子检测器模块1） 检测面直径100μm 2） 光谱检测范围400-1000nm 3） 时间分辨率∶50ps（FWHM）4） 量子效率∶45%@550nm 4.稳态光谱检测模块光谱仪（配置可根据客户需求调整）1） 焦长200mm 2） 光谱仪内置两块光栅3） 出口耦合PMT检测器或CCD相机光谱检测模式∶波长扫描采集或CCD采集波长探测范围350-900nm 5.倒置显微镜模块1) 含照明光源、双色片、滤光片等基本配置2) 物镜一套（空气镜）∶100x、60x、20x 3) 最高空间分辨率≤500nm（取决于物镜和激光/荧光波长）6.激光器（可按客户需求选配）1) 单波长皮秒半导体激光器2) 皮秒超连续白光激光器二、应用实例1、荧光强度成像、荧光寿命成像样品：MAPbI3单晶纳米片和MAPbI3纳米线实验条件∶100X objective，pinhole 40μm，Exc∶400 nm，成像模式：共聚焦扫描成像模式样品：二维 SnSe2（微弱荧光材料）实验条件：100X（油镜），激发波长：405nm成像模式：共聚焦激光扫描成像模式 参考文献：Xing Zhou ,et al.,Tianyou Zhai*,Adv. Mater. 2015, 27, 8035–80412、低温舱内的荧光成像样品：MAPbI3 纳米线实验条件：100X，空间分辨率 1μm成像模式：共聚焦激光扫描成像模式 观测到钙钛矿纳米先低温相变过程的空间分布和演化状况3、高压舱内的荧光成像样品：MAPbI3单晶纳米片和MAPbI3纳米线MAPbI3 纳米线不同压力下激光扫描荧光成像 不同压力下荧光动力学曲线 MAPbI3 纳米线不同压力下载流子迁移荧光成像 不同压力下载流子迁移动力学曲线 参考文献：YanfengYin,WenmingTian,*etal.,JimingBian,*andShengyeJin*ACS Energy Lett.2022,7,154&minus 1614、载流子迁移成像实验条件∶100× objective，pinhole 40μm，Exc∶400 nm 样品：钙钛矿纳米片成像模式∶激光定点激发，荧光扫描成像，可获得样品荧光动态演化图5、电致发光成像样品：CdSe量子点LED 6、光电流成像实验条件∶405nm连续激光器，激光强度调至最弱，60x物镜下测量结果2D（ITO/SnO2/QW/Spiro-Au）结构的太阳能电池光电流成像图

多量程X射线纳米CTSkyScan 2211多量程X射线纳米CT系统可涵盖范围最广样品的对象尺寸和空间分辨率。它可为油气勘探、复合材料、燃料电池、电子组装等许多应用带来独一无二的材料三维成像和精确建模机会。技术规范：X射线源：20…190kV，4/10/25 W，亚微米焦点尺寸，5档滤线器；开放（泵送）X射线源（带双级电子光学器件）；靶材—钨（标准）；铜、钼、银（可选）X射线探测器： 300万像素CMOS平板探测器 1920×1536像素 1100万像素冷却式CCD探测器 4032×2670像素重建图像格式：平板：1920×1920×1160像素（中心位置）3776×3776×1160像素（两个偏移位置） CCD：4032×4032×2272像素（中心位置）8000×8000×2272像素（两个偏移位置）重建速度：1分12秒：针对600次投影进行2K×2K×1K重建 11分：针对1319次投影进行4K×4K×2K重建样品对象定位：直接驱动空气轴承带集成式微定位平台 使用压电式驱动器（5.5毫米行程）细节探测能力：100纳米扫描容积： 最大直径204毫米，长度200毫米，重量25千克辐射安全：在距离仪器表面10厘米的任何一点上＜0.5 μSv/h （在190 keV、4 W条件下于目标上测得）电源：100-130V或200-240 V AC，50-60 Hz， 2.5 kW + 1.5 kW（压缩机）（65 A峰值电流）系统随附闭环水冷器和无油空压机及必要的粒子过滤器和干燥机

高速太赫兹扫描成像仪高速（5000帧/秒）、高分辨率（1.5mm）太赫兹成像扫描系统基于先进技术研制出一套高速（5000帧/秒）、高分辨率（1.5 mm）太赫兹成像扫描系统,主要用于工业检测领域应用。该系统主要包含线性太赫兹高速相机和太赫兹源（100GHz）设备,二者可同步协调工作成像速度高达5000帧每秒,紧凑的体积设计适于集成便于工业应用的需求。除此之外,该系统满足于绝大多数传送带的要求,扫描速度高达15m/s。系统里集成的超快线性传感传感器满足了大多数工业无损检测和质量控制等应用的需求。关键词：太赫兹高速相机,太赫兹源,太赫兹成像系统,高速太赫兹成像系统,太赫兹扫描系统u 该套设备的主要特点如下：成像速度高达5KHz扫描速度高达15m/s成像频率为100 GHz像素：256 x 1专用软件（TeraFast）可提供定制化方案u 该套系统涵盖的产品主要如下：A. 太赫兹高速相机（基于先进技术研制的半导体阵列芯片）参数如下：Number of pixels: 256 (256 x 1)Image acquisition rate: 5000 fps (5KHz)Piel size: 1.5 x 3 mm2Responsivity: 8000 v/wImaging area: 384 x 3 mm2Min detectable power/pixel: 100nw (at 5000 fps) 45nw (at 1000 fps) 14nw (at 100 fps) Dimensions of device: 450 x 160 x 44 mm3Sync out : TTL (+5 V)Included software: TeraFast ViewerInterface: mini-USBPower supply: 24V/20W太赫兹源（基于IMPATT 技术）参数信息：Type IType ⅡFrequency100 GHz100 GHzPower per pixel20 uw140 uwImaging system dynamic range24 d B30 d BOptical systemPTFE opticsReflection opticsTechnologyIMPATTSuper-Hero IMPATT 详情请见如下链接：Type I / Type II THz wave sources for High Speed Linear scanneru 该套高性价比的太赫兹成像扫描系统,应用领域广泛,主要覆盖药学、化妆品、木材加工、食品、快速消费品包装、建筑材料、汽车工业、农业、安检等众多领域。

NAOMI-纳奥美光学是世界知名的桌面型X射线三维扫描系统的制造商，总部位于日本长野市,拥有28个事业所及5个海外分部,面向全球用户提供高性价比的三维扫描、二维成像、缺陷检测、无损探伤等的数字化解决方案。NAOMI纳奥美X射线三维扫描探伤系统广泛应用于铝压铸件、树脂、塑料制品、容器、橡胶制品、加工食品、糖果、水果、化妆品、文具、玩具、鞋子、生物、骨骼、文物、工艺品等领域。

仪器简介：ZSX PrimusII是理学公司最新奉献的上照射式X射线荧光光谱仪，是材料分析与评价的好帮手。 ZSX PrimusII是波长色散扫描式荧光光谱仪，分析精度高。 可以对4Be到92U进行定性、定量分析。 元素的检量范围从0.0001% ~ 100%，如进行前处理，可以再下降2 ~ 3个数量级。 可以分析材料的状态包括：粉末样品、块状样品、液体样品。 可以分析材料的领域包括：电子和磁性材料、化学工业、陶瓷及水泥工业、钢铁工业、非铁合金、地质矿产、石油和煤、环境保护。 技术参数 X射线发生器部分 X射线管：端窗式Rh靶 4kW或3kW 高压发生器：高频变频方式 额定电压,电流：4kW,60kV-150mA 稳定度：± 0.005%(对电源± 10%变化时) 冷却水：水冷冷却水(内置) 分光部部分 样品交换器：可以选择12,24,36,48样品交换器 样品尺寸：&phi 51mmx40mm(H) 分析样品面：最大&phi 35mm 样品旋转：30rpm 1次X射线滤波片：4种(Al,Ti,Cu,Zr) 视野限制光阑：6种自动交换机构(&phi 35,30,20,10,1,0.5 mm) 发散狭缝：3种自动交换机构(标准分辨率、高分辨率、超轻元素用(选件) 接收狭缝：SC用,F-PC用 测角仪：&theta -2&theta 独立驱动 测角范围：SC、5° -118° ， F-PC、13° -148° 最大扫描速度：1400° /min(2&theta ) 连续扫描：0.1-240° /min 晶体交换机构：10分光晶体自动交换机构 分光晶体：(标准)LiF(200)、Ge、PET、RX25 (选件)LiF(220)、RX4、RX9、RX35、RX40、RX45、RX61、RX75、RX80、RX61F、TAP 真空排气系统：双真空室高速排气系统(双真空泵) 粉末样品附件(选件) 氦气置换机构(选件)：带隔板 恒温化机构：36.5度 记数.控制部分： 重元素用：SC闪烁计数管，记数线性1000kcps 轻元素用：F-PC流气比例计数管，记数线性2000kcps 芯线加热自动清洗机构 衰减器：IN-OUT自动切换(衰减率1/10) 计算机：windows PC 软件： 定性分析：自动鉴定分析功能，包括平滑,扣背景 定量分析：检量线法 JIS法 各种基体校正 无标样分析法 EZ扫描,应用模板, 样品径自动选择 谱峰分离 定精度测试 E-mail传送功能,多功能标准样品 其它选件 维护功能: 自动PHA调整(PAS) 全自动芯线清洗 自动老化 自动诊断 远程诊断主要特点：1、 大幅度提高了超轻元素(B,C)的分析灵敏度、准确度 使用理学独创的强度最高的分光晶体RX-25，RX-61，RX-75，保证轻元素分析的灵敏度 采用APC自动真空控制机构，保证超轻元素分析的准确度(理学专利) 使用4KW 30um超薄窗、超尖锐、长寿命X光管，最适合超轻元素分析 2、 采用新光学系统，实现对重元素的高灵敏度分析 3、 强大的粉末样品测试功能 上照式，可以长时间防止粉末污染分光室 双泵、双真空设计(样品室/预抽真空室)，防止粉末样品的细微粉尘混入分光室 粉末附件，采用电磁阀真空密封，防止细微粉尘进入真空泵内 4、 加装CCD视频摄像机构，位置分辨率可达100um，可以进行0.5mm的微区分析，可以测量Mapping(理学专利) 5、 提高少量样品的分析准确度 使用r-&theta 样品台(理学专利)，彻底解决了X射线照射不均以及分光晶体强度不均的问题，保证样品在X射线最强、最佳条件下测量。 6、 样品室与分光室之间有专用隔膜装置 7、 48位自动进样器 8、 PAS自动调整脉冲高度系统(理学专利) ACC自动清洗F-PC芯线系统(理学专利) 可以保证仪器在最佳状态下使用 9、 节约能源(自动减少X射线管的输出)；节约PR-10气体；节约He气(选用He室时)；节省空间 10、 自动监控、自动开关机、自动节能等多功能操作软件 11、 先进的软件分析，NEW SQX软件 12、 全中文界面

产品介绍：X射线相衬微米CT系统和传统的X射线吸收成像相比，X射线相位衬度成像能够为轻元素样品提供高得多的衬度，特别适合用于对软组织和轻元素构成的样品进行成像。目前，主要的5类相衬成像方式中，大部分对光源的相干性要求很高， 只能依赖同步辐射光源。由于同步辐射源占地面积大， 初期建设和日常使用及维护成本太高，现阶段还无法满足临床上日常检查的需求，世界上很多从事相衬成像方法研究的小组都在致力于将相衬成像技术推广到临床上。目前己经普遍使用的微焦点源或者是传统的X光管，从数值模拟和实验结果来看，在进行微焦点源同轴相衬成像实验时，会遇到曝光时间长、光源相干性差、X光能量选择性受限等问题。相衬成像是吸收（传统）成像的补充。使用传统的X射线成像技术，由于低原子序数材料对X射线吸收较弱，自然会导致图像对比度低。在这种情况下，X射线相位变化的灵敏度会高得多。 inCiTe&trade 3D X射线显微CT通过X射线的自由空间传播直接实现相衬成像，将物体引起的X射线相位变化转化为探测器处的X射线强度变化。X射线相衬成像大大提高了对X射线弱吸收材料的成像衬度。inCiTe&trade 3D X射线显微CT是一款商用的扫描仪，搭载了KA Imaging Inc. 独家开发的高分辨率非晶硒(a-Se) X 射线探测器—BrillianSe&trade 。 BrillianSe&trade X射线探测器具有高空间分辨率和高探测效率，可在便携的台式系统中实现快速相衬成像和传统微米CT产品特点更快的扫描时间大的样品尺寸和视场同轴相衬成像法，效率更高参数典型应用无损检测增材制造电子工业农学地质学临床医学标本射线照相低密度材料的衬度增强1. 钛植入物样品 下图展示了对骨头样品中矫形钛植入物的成像效果，相位衬度提高了多孔骨结构（骨小梁）的可见度。2.生物样品 inCiTe&trade 3D X射线显微CT可以为生物组织提供高衬度，就像下图老鼠的膝关节。 低密度材料的衬度增强使用探测器在几秒钟的曝光时间后，快速获得凯夫拉复合材料样品的相衬图像。我们可以在下图（左图）看到单个纤维，在下图（右图）看到纤维分层。样品在这里被放大了4倍。 轻骨料混凝土样品

X射线成像系统广泛应用于各种科学研究，尤其是生命科学研究，在活体动物（大鼠、小鼠、兔子、猴子等动物）拍摄上有着很好的优点。采用单呼吸管路，无再循环呼吸系统，减少死腔；体积小巧、节省空间 整个系统—独立的X光机、操作台、显示器、鼠标和键盘，封装在一台载重推车上； MX-20也可以独立操作，这就意味着该设备只需要极小的使用空间。操作方便 MX-20非常容易操作。将样本放于照射室内，关闭屏蔽和安全式户锁门，启动X射线源； 采用先进的DX 1.0软件随附“图像协助TM”和自动曝光控制，自动选择合适的曝光时间及用于标本的电压设定； 一个图像后处理程序，适用于自动窗位和影像锐利度的处理； 自动增强对比，提供更好的图像深度及结构； Faxitron支持在线呼叫，由Faxitron技术专家进行远程控制支持；产品主要应用： Phenotyping　　 骨生长/再生的研究　　 肿瘤的生长速率的研究　　 血管研究利用造影剂　　 海洋生物学 植物种子/叶子 各种标本我们还提供1725AX型小动物X射线成像系统型号：1725AX型采用130X160MM平板式数字化成像，采用ф0.3微焦点射线管集约束散射线，全数字化软件操作、数字化高清灰度专业图像采集、千兆网端连接、即时成像，使用安全、方便。主要技术参数：1、视场：130X160mm2、有效分辨率：1274×10243、最大间距：330mm； 4、管电压：50-75kv5、管靶流：0.3-0.5mA6、像素大小：125um 7、外箱尺寸:718× 530x350mm8、主机重量：50kg9、功 耗：70W玉研仪器在X成像系统安装现场 请关注玉研仪器的更多相关产品。如对产品细节和价格感兴趣，敬请来电咨询！

欢迎您登陆滨松中国全新中文网站 查看该产品更多详细信息、下载文件！C9750 的相关产品搜索X射线线阵扫描相机 C9750-20TCN产品型号：C9750-20TCN，产品名称：X射线线阵扫描相机X射线线阵扫描相机 C9750-10TCN产品型号：C9750-10TCN，产品名称：X射线线阵扫描相机X射线线阵扫描相机 C9750-10FCN产品型号：C9750-10FCN，产品名称：X射线线阵扫描相机X射线线阵扫描相机 C9750-05FCN产品型号：C9750-05FCN，产品名称：X射线线阵扫描相机C型X射线线阵相机 C9750-27FCD产品型号：C9750-27FCD，产品名称：C型X射线线阵相机C型X射线线阵相机 C9750-27FCC产品型号：C9750-27FCC，产品名称：C型X射线线阵相机

单级联单色仪模块HORIBA Scientific OEM 开发了一种基于像差校正凹面全息光栅的高通量成像扫描单色仪，具有低杂散光和高衍射效率。 这种具有单一光学设计的布局非常适合弱光应用的成像。 它具有 3 位外部滤光轮、TTL 驱动电子设备、4 相步进电机和相关的蜗轮/齿轮 按照 90:1 比率机构在工厂进行编码、对齐和聚焦。该仪器可用作可调激发光源和荧光发射扫描单色仪，这要归功于在一级和二级衍射中的高光栅衍射效率。 它还配备了两个光电传感器和校准的相关硬件。产品特色具有出色成像的扫描单色仪覆盖波段：紫外-近红外高光通量和低杂散光快速、可靠且重复性好4 相步进电机和相关的蜗轮/齿轮 90:1 比率机构3 位外部滤光轮和 TTL 驱动电子设备多种光栅可选典型应用工业应用吸收，荧光和发射等应用，例如生命科学（读板机）化学分析高效液相色谱（HPLC）终点检测衍射测量环境，农业，食品等选型指南

双级联单色仪模块HORIBA Scientific OEM 开发了一种基于像差校正凹面全息光栅的高通量成像扫描单色仪，具有低杂散光和高衍射效率。 这种具有单一光学设计的布局非常适合弱光应用的成像。 它具有 3 位外部滤光轮、TTL 驱动电子设备、4 相步进电机和相关的蜗轮/齿轮 按照 90:1 比率机构在工厂进行编码、对齐和聚焦。该仪器可用作可调激发光源和荧光发射扫描单色仪，这要归功于在一级和二级衍射中的高光栅衍射效率。 它还配备了两个光电传感器和校准的相关硬件。产品特色具有出色成像的扫描单色仪覆盖波段：紫外-近红外高光通量和低杂散光快速、可靠且重复性好4 相步进电机和相关的蜗轮/齿轮 90:1 比率机构3 位外部滤光轮和 TTL 驱动电子设备多种光栅可选典型应用工业应用吸收，荧光和发射等应用，例如生命科学（读板机）化学分析高效液相色谱（HPLC）终点检测衍射测量环境，农业，食品等选型指南

德国ZEISS公司生产的METROTOM系列工业CT,高精度工业CT断层测量机,先进的技术,工业CT价格咨询,工业CT技术服务都可以联系越联公司基于 ZEISS METROTOM 的工业计算机断层扫描（CT）工业CT，X射线工业CT断层扫描测量仪利用蔡司的工业计算机断层扫描系统，仅需一次X射线扫描，即可顺利完成工件的测量和检验。标准的验收检测、精密工程和完善的校准程序可确保系统的追踪性。配备线性导轨及转台，满足客户对精度的高要求。 测量与检验整体部件ZEISS METROTOM是一种用于测量和检验塑料或轻金属部件的工业计算机断层扫描测量系统。而在利用传统测量机测量时，此类隐藏性的结构信息只有将零件通过费时的层层破坏方能获得。 轻松且精准地进行多样化特征检测利用ZEISS METROTOM计算机断层扫描系统可一次扫描海量的零部件特征。这些测量结果非常精准，且具可追溯性。和接触式测量方法不同，ZEISS METROTOM 获取海量测量点时，时间显著缩短。 直观简易的软件操作仅需通过短时间的ZEISS METROTOM OS软件培训课程，操作人员即可对零件进行扫描，透视零件的内部。利用ZEISS CALYPSO可评估CT数据，再利用ZEISS PiWeb即可快速地将两者融合于同一份测量报告中。

安赛斯（中国）有限公司---国际先进检测设备优质供应商，产品标签：X射线检测系统，X光机，工业X射线系统Y.MU2000-D系列 通用数字射线实时成像检测系统 新一代MU2000-D系列配有最新的数字平板探测器，从而使获得的射线图像拥有极高的动态范围。Y.HDR-Inspect检测技术可使运动中的被检工件看上去像是“由玻璃制成的”一样。此外，当操作人员在X射线的光束范围之内移动被检物体时，该解决方案有助于迅速并准确的判断被检工件缺陷的空间位置，并给出其三维特征的描述；检测过程中无需调整任何射线参数以节约检测时间。 更多的产品信息，请登录安赛斯（中国）有限公司官网，公司可提供测试服务，如需产品详细资料和报价，请致电联系安赛斯工作人员。 工业X射线二维检测系统 MU2000-D安赛斯（中国）有限公司适用于铸件检测的工业X射线系统 MU2000-D 是一款稳定、可靠的工业X射线和CT检测系统，广泛应用于铸造业、研发、实验室、大学和各大教育机构中。该系统使用数字平板探测器和高动态X射线成像技术，具备出色的成像质量。l 稳定、可靠的数字X射线检测系统l 出色的高对比度成像质量，适用于抽样检测和连续检测l 仅需触控按钮（选装），即可快速完成计算机断层扫描（CT扫描）l 智能人体工学设计，易于操作l 定制化轮毂和轮胎配置l 符合ASTM标准要求以及汽车制造商制定的具体检测要求系统能力MU2000-D 是一套绝佳的系统解决方案，适用于大批量部件生产以及研发中的铸件检测。从大型跨国企业，到中小型铸造厂以及全球汽车制造商，均依赖这套稳健系统提供的检测结果。 MU2000-D 将帮助您检测以下部件中存在的铸造缺陷：l 铝制铸件（发动机机体、气缸、气缸盖、活塞、转向节）l 涡轮叶片l 轮毂和轮胎l 纤维增强材料l 陶瓷l 三维打印材料MU2000-D 系统将数字平板探测器阵列与Y. HDR检测软件相结合，提供出色的成像质量。即使是在各种不同材料厚度的情况下，HDR（高动态X射线摄影）技术仍然能够完美检测出细节内容，并且有助于通过显现图像确定铸造缺陷深度。 MU2000-D 用户界面直观，即使是没有任何专业知识的人也能够轻松操作，可选配的CT系统同样如此。我们的CT分析站配有业内领先的软件——来自Volume Graphics的VGStudio。 利用CT扫描的三维重构技术，您可以获取详细的铸造缺陷信息。您还可以将MU2000升级成选配有HDR和CT的系统，充分发挥这些扩展功能的作用。 面对未来需求，MU2000-D 已准备就绪。系统界面生成的数据将应用于机器学习、大数据、物联网以及机器对机器通信等领域。MU2000-D 遵循ASTM等现行行业标准要求以及汽车制造商制定的具体要求，确保您的安全关键零部件达到合格的检测质量水平。技术数据特性标准版(标准 225 kV)扩展版 (XL 225 kV)Maximum Sample Weight60 [kg](opt. 200 kg)60 [kg](opt. 200 kg)System Dimension2250 x 1850 x 2750 [mm]2700 x 2100 x 3350 [mm]System Weight~ 6,5 [t]~ 10 [t]Sample Diameter max. [mm]600 x 900 [mm]800 x 1500 [mm]Inspection Envelope CT (3D) Diameter x Height~170 x 150 [mm]~180 x 160 [mm]Focus-Detector-Distance (FDD)695 - 995 [mm] 945 - 1245 [mm] X-ray Tube160 - 450 [kV]160 - 450 [kV]Detector Active Area1024 x 1024 [px]1024 x 1024 [px]产品标签：X射线检测系统，X光机，工业X射线系统咨询或索取详细产品资料，请联系ANALYSIS（安赛斯）工作人员 您还可能感兴趣的产品有：德国工业CT系统 X射线计算机断层扫描系统美国声发射检测系统及声发射板卡Pocket-AE美国 水浸式超声C扫描系统德国X射线成像系统 Mu2000德国微焦点X射线成像系统 X光机 Y.Cheetah

安赛斯（中国）有限公司--国际先进检测设备优质供应商。产品标签：X射线检测系统，X光机，微焦点X射线检测系统 工业领域对产品小型化以及高品质高可靠性的不断追求，促进了对高分辨率检测工具的需求。在产品设计和产品质量检测的时候，检测出微米级、纳米级缺陷的需求越来越多，要求也越来越高。 Y.Cheetah微焦点X射线检测系统，是我司最新推出的满足各种检测需求的最新一代系统，它能为客户带来最大的投资收益。智能化的“一键解决”方案带来运动控制系统设计观念革新性的变革。使它成为当前最快和最好性能的微焦点X射线系统。 它采用平台式检测设计，各种模块都可以即插即用、用户可以根据其现在或将来的检测需求，选择合适的功能模块。Y.Cheetah不但能够用于快速2D检测，同时可以升级到3D（μCt）断层扫描。 最新Y.FGUI， Y.Cougar和Y.Cheetah系列控制软件，除了操作简单直观的特点，还集成了缺陷标注及自动报告生成功能。 了解更多的产品资料及报价，请登录安赛斯（中国）有限公司官网，或联系安赛斯工作人员，我公司可提供测试服务。如需了解产品的详细参数及实时的产品报价，您可以登录安赛斯（中国）有限公司官网400 8816 976产品介绍：名称：用于2D与CT检验的多用途X射线系统型号：Y.Cheetah产地：德国应用：主要用于检测电子线路板，半导体产品、微电子元件及电路板焊接器件、铸件等的看不见部分的焊接或铸造缺陷检测、多层绑定芯片的内部看不见的缺陷检测。 产品特点：l 检测快速与简单l 一键操作n 已开发Y.Cheetah X射线检测解决方案，以满足电子和汽车行业、军事项目、飞机制造、电信和医疗技术行业、飞机制造、电信和医疗技术最广泛的检测要求。可快速简单调整，以符合新检验规范。n 可通过简单的一键操作迅速激活先进的技术功能。n 放大+技术：X射线辐射强度保持不变，从而保持最佳的灰度分辨率 - 独立于放大倍率。不必要设置和校准射线管或探测器。n 动力驱动技术：在动力驱动模式下，管和探测器轴以恒定几何放大倍率在相反方向同步移动。n 由于减少焦点至探测器的距离（FDD），在最短的时间内提供高品质的X射线图像。n 通过使用最先进的FeinFocus微焦点X射线管，Y.Cheetah可在很短时间内获得清晰图像。n 独有的计算机快速断层扫描Y.QuickScan的Ultrafast Y.QuickScan也可作为备选。.产品标签：X射线检测系统，X光机，微焦点X射线检测系统咨询或索取详细产品资料，请联系ANALYSIS（安赛斯）工作人员。您还可能感兴趣的产品有：德国工业CT系统 X射线计算机断层扫描系统美国声发射检测系统及声发射板卡Pocket-AE美国 水浸式超声C扫描系统德国X射线成像系统 Mu2000德国微焦点X射线成像系统 X光机 Y.Cheetah