inTEST 热流仪电源管理芯片高低温冲击测试
上海伯东 inTEST 热流仪电源管理芯片高低温冲击测试,电源管理芯片由于多是在狭小空间内工作, 散热的条件不好, 大多是在高温的环境中长时间工作, 电源芯片经常经历快速升温的情况, 甚至经历在电压不稳时快速变温的情况, 所以电源芯片在出厂时需要经过测试芯片在快速变温过程中的稳定性, 这点十分重要. 上海伯东美国 inTEST ThermoStream 高低温冲击测试机提供 -100°C 至 +225°C 快速温度冲击范围, 满足各类电源管理芯片的高低温冲击测试.