帕纳科射线衍射仪

Aeris X 射线台式衍射仪将给您留下深刻印象，数据质量和数据采集速度目前只有在大功率系统上才能实现。 这个小巧的仪器结合了简单的测量与一步样品装载装置，以及一个直观简洁的用户界面，通过其内置触摸屏和直观软件，用户可以无障碍地使用这款仪器。您可以享受这个流畅的过程 – 从样品装载到结果输出，只需一个按钮操作。 Aeris 专为低拥有成本而设计，可根据特定市场的需求提供 4 种版本：研究版、水泥版、矿产版和金属版。 所有版本均支持自动化选项，以满足您的处理量要求。马尔文帕纳科台式X射线衍射仪 Aeris 有四个版本：Aeris 研究版提供的快速、可靠和准确的材料分析解决方案。监测新合成材料中的物相，测定药物中的多态性。 还可使用 Aeris 向学生传授粉末衍射基础知识。无论您从事哪种项目，从目标样品中快速获取物相信息对于您的研究至关重要。 您只需使用 Aeries 收集 X 射线衍射数据，然后应用 HighScore 软件获取各种结晶信息即可。 Aeris 水泥版直接探测水泥及其中间产品的矿物成分。 此矿物信息允许您判断物理属性，以便在使用替代燃料时更好地控制窑炉。 此外，它还有助于保证（混合）水泥的质量。 Aeris 水泥版是一种易于使用且可自动化的台式 X 射线衍射仪，适用于所有水泥工厂。Aeris 水泥版是您在水泥生产过程中的每个阶段（从生料、熟料、（混合）水泥到终产品）的得力助手。 Aeris 矿产版使采矿行业中的每个人都能对矿石进行各种分析。XRD 为湿法冶金模型提供准确的矿物监测和输入信息，确保获得处理条件。Aeris 矿产版是您在生产过程中的每个阶段（从原材料到终产品）的得力助手。Aeris 金属版用于快速、可靠地分析铁华、直接还原铁和残余奥氏体。 Aeris 不仅为全自动操作，而且可以与工业生产控制轻松结合。 Aeris 金属版是您在生产过程中的每个阶段（从原材料到终产品）的得力助手。

作为马尔文帕纳科第三代Empyrean锐影，该多功能X射线衍射仪的“MultiCore”多核光路系统，无需人工干预即可实现多种类的不同测量。 Empyrean 锐影具有在一台仪器上测量多种类样品的能力，无论是粉末、薄膜还是纳米材料与固体物体。Empyrean 锐影X射线衍射仪能确保为每个样品类型提供稳定可靠的数据质量。特点每个样品的高数据质量Empyrean 锐影能够帮助用户更好地准备同步加速器光束时间。 Empyrean 锐影的样品台和光学组件库允许以多种方式展开应用：从简单地将一些狭缝和分析软件添加到标准衍射几何，到使用专用光学器件、光源和探测器来得到高性能。 它是多功能实验室的理想选择：如果某种应用的需求增加，则可以通过添加专用模块来改进数据质量和吞吐时间。用途多样且面向未来分析需求常常随着研究计划的转向而改变。 可以将新的应用轻松添加到 Empyrean 锐影系统，并实现高性能。像素式技术马尔文帕纳科一直致力于研究混合探测器技术。我们的混合探测器（PIXcel3D 与 GaliPIX3D）像素尺寸小、零背景、动态范围高。通过光学选项与运行半径，您可优化配置以达到符合您要求的状态。MultiCore Optics“MultiCore Optics”多核光路系统引入了“iCore”入射核和“dCore”探测核，大大简化了多功能X射线衍射系统的使用，使仪器的自动化达到了更好水平。 在不同测量之间的切换时，iCore和dCore将自行负责转换工作，不需要人为干预。PreFIX凭借 PreFIX 概念，您的衍射系统变得灵活、快速且面向未来。 凭借可再现的、微米级精度的可再现定位，PreFIX 光学器件和样品台安装法允许对衍射仪进行重新配置。 这让用户能够于数分钟内在不同应用间进行切换，从而让 Empyrean 锐影成为了一台多用途衍射仪。良好的实验室实践Empyrean 锐影配备了无需校准的 PreFIX 模块、测量和分析自动化功能，任何遵守实验室规范作业 (GLP) 的人都可以轻松进行操作。 此外，Empyrean锐影产品包涵盖全面 - 从硬件到专用分析解决方案 - 随附了新手用户的详细教程，而专业人士也可获得所有需要的功能。X 射线衍射的自定义解决方案Empyrean 锐影是多用途仪器，能支持一系列应用。 马尔文帕纳科希望协助用户进行材料研究。 我们可以为他们的复杂分析问题提供合适的解决方案或低成本生产流程。 如果您对样品杯和样品台、光学模块、分析技术有任何想法，可将您的要求告知马尔文帕纳科销售代表；或如果您需一个针对衍射研究的专用解决方案，请提出请求。 我们可以一起为新需求探究解决方案。

D8 VENTURE/QUEST—面向未来的单晶X射线衍射仪D8 VENTURE/QUEST是布鲁克公司推出的新款，功能强大的X射线单晶衍射仪。 一体化的设计， 配备目前世界上先进的光源以及PHOTON III MMPAD探测器，帮助您测试最富有挑战性的晶体，获得好的数据质量。 其主要特点为：● 同时适合小分子晶体学和蛋白质晶体学的研究需要，应用范围广。● 新一代的lus 3.0微焦斑光源，性能娘美微焦斑转靶，零维护，寿命超长。● 液态金属靶MetalJET，室内X射线光源， 强度远● 远高千微焦斑转靶，让您拥有个人的“同步辐射＂ ，解决最难的晶体学问 题， 比如GPCR膜蛋白的结构。● 采用四代光源XFEL探测器技术的PHOTON III MMPAD混合光子计数探测器，● 超大面积，超快速度， 零噪音， 单光子检测的灵敏度。● 双靶配置， 软件自动切换光源。 满足不同类型的研究需要。 元件自动识别， 智能化光路管理。● 新一代的APEX3/PROTEUM3软件， 功能强大， 智能化程度高， 轻松操控仪器， 获得好数据。● lus Diamond微焦斑光源， 零维护， 性能超越微焦斑转靶。

ARL X'TRA Companion XRD 具有以下优点：赛默飞世尔科技持续创新，开发独特的产品解决方案，满足您的分析需求并提升过程控制。ARL X’TRA Companion 针对工业实验室的常规需求进行了优化设计，从而为QC/QA应用提供了经济高效的解决方案。得益于先进的固态二维探测器，可在几分钟内收集高分辨率数据。这款强大且精准的台式 X 射线衍射仪具有一键式 Rietveld 定量功能，可将结果自动传输到 LIMS，以及符合国际X射线安全标准。ARL X’TRA Companion XRD的特点ARL X’TRA Companion 是一款简单易用的台式X射线衍射仪，用于过程控制和高阶应用。台式X射线衍射仪配置: θ/θ 扫描和Bragg-Brentano光学几何带双步进电机和双光学编码器的测角仪通过可变机械狭缝和索拉狭缝来实现 X 射线的准直最新一代固态像素检测器（55x55μm间距），用于快速可靠的数据采集可提供1位样品架或能够进行自动分析的6 位自动进样器可选铜或钴 X 射线管可集成水冷系统可通过一键式 Rietveld 定量功能进行数据处理可自动将结果传输到 LIMS可安装及使用在各种环境中处理和应用：定性和定量相分析/结晶度计算/多晶型筛选/细胞参数，微晶尺寸和晶格应变测定/用于结构表征的Rietveld精修应用领域：材料科学、矿物、地质学、纳米材料、化学、制药、能源材料、催化剂、陶瓷、聚合物、冶金、半导体、采矿（水泥等）、高校从勘探到采矿生产的创新解决方案从勘探到分析和处理，无论是在线还是在实验室，我们提供满足质量、环境和生产所需的产品。赛默飞世尔科技采矿解决方案为最佳过程控制提供可靠、准确的数据和基本信息。了解有关优化采矿和矿物解决方案的更多信息。

D8 ADVANCE X射线衍射仪，采用创造性的达芬奇设计，通过TWIN-TWIN光路设计，成功实现了BB聚焦几何下的定性定量分析和平行光几何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自动切换，而无需对光。通过TWIST TUBE技术，使用户可以在1分钟内完成从线光源应用（常规粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR）到点光源应用（织构、应力、微区）的切换，让烦人的光路互换、重新对光等问题从此成为历史！高精度的测角仪可以保证在全谱范围内的每一个衍射峰（注意不是一个衍射峰）的测量峰位和标准峰位的误差不超过0.01度，布鲁克AXS公司提供全球保证！先进的林克斯阵列探测器可以提高强度150倍，不仅答复提高设备的使用效率， 而且大幅提高了设备的探测灵敏度。技术指标： ●Theta/theta 立式测角仪 ●2Theta角度范围：-110~168°●角度精度：0.0001度 ●Cr/Co/Cu靶，标准尺寸光管 ●探测器：林克斯阵列探测器、林克斯XE阵列探测器 ●仪器尺寸：1868x1300x1135mm ●重量：770kg 主要功能●TWIN / TWIN 光路布鲁克获得专利的TWIN-TWIN光路设计极大地简化了D8 ADVANCE的操作，使之适用于多种应用和样品类型。为便于用户使用，该系统可在4种不同的光束几何之间进行自动切换。该系统无需人工干预，即可在Bragg-Brentano粉末衍射几何和不良形状的样品、涂层和薄膜的平行光束几何以及它们之间进行切换，且无需人工干预，是在环境下和非环境下对包括粉末、块状物体、纤维、片材和薄膜（非晶、多晶和外延）在内的所有类型的样品进行分析的理想选择。●动态光束优化（DBO）布鲁克独有的DBO功能为X射线衍射的数据质量树立了全新的重要基准。马达驱动发散狭缝、防散射屏和可变探测器窗口的自动同步功能，可为您提供无与伦比的数据质量——尤其是在低2Θ角度时。除此之外，LYNXEYE全系列探测器均支持DBO：SSD160-2，LYNXEYE-2和LYNXEYE XE-T。●LYNXEYE XE-TLYNXEYE XE-T是LYNXEYE系列探测器的旗舰产品。它是目前市面上一款可采集0D、1D和2D数据的能量色散探测器，适用于所有波长（从Cr到Ag），具有高计数率和好的角分辨率，是所有X射线衍射和散射应用的理想选择。LYNXEYE XE-T具有优于380 eV的能量分辨率，着实出色，是市面上性能好的的荧光过滤器探测器系统。借助它，您可在零强度损失下对由铜辐射激发的铁荧光进行100％过滤，而且无需金属滤波片，因此数据也不会存在伪影，如残余K?和吸收边。同样，也无需用到会消除强度的二级单色器。布鲁克提供独有的LYNXEYE XE-T探测器保证：交货时保证无坏道！应用:●物相定性分析●结晶度及非晶相含量分析●结构精修及解析●物相定量分析●点阵参数精确测量●无标样定量分析●微观应变分析●晶粒尺寸分析●原位分析●残余应力●低角度介孔材料测量●织构及ODF分析●薄膜掠入射●薄膜反射率测量●小角散射

X'Pert 平台在马尔文帕纳科 X 射线衍射系统的新型 X'Pert3 系列中得以延用。 X'Pert3 高分辨衍射仪平台具有新型机载控制电子装置，符合X 射线和运动安全规范，且具有环保和可靠性能，已准备好迎接未来的挑战。X'Pert3 MRD 系列新增功能具体包括：&bull 全新高分辨率测角仪，它使用 Heidenhain 编码器，因而准确性更高且定位反馈时间更短&bull 无需使用工具即可快速将光管位置从点焦斑更改为线焦斑&bull 得益于气动快门和光束衰减器，系统正常运行时间满足过程控制要求&bull CRISP*（包括无铅光管塔）确保入射光路组件的寿命更长&bull 第二代 PreFIX，确保实现更准确的光学器件定位&bull 面向未来的单板计算机控制器，确保更好的连接性和更出色的远程支持*CRISP 指的是耐腐蚀智能入射光路。CRISP 可防止入射光路中出现由 X 射线引起的电离空气造成的腐蚀。该技术使仪器运行更可靠，避免额外的维护工作。

作为马尔文帕纳科第三代Empyrean锐影，该多功能X射线衍射仪的“MultiCore”多核光路系统，无需人工干预即可实现多种类的不同测量。 Empyrean 锐影具有在一台仪器上测量多种类样品的能力，无论是粉末、薄膜还是纳米材料与固体物体。Empyrean 锐影X射线衍射仪能确保为每个样品类型提供稳定可靠的数据质量。特点每个样品的高数据质量Empyrean 锐影能够帮助用户更好地准备同步加速器光束时间。 Empyrean 锐影的样品台和光学组件库允许以多种方式展开应用：从简单地将一些狭缝和分析软件添加到标准衍射几何，到使用专用光学器件、光源和探测器来得到高性能。 它是多功能实验室的理想选择：如果某种应用的需求增加，则可以通过添加专用模块来改进数据质量和吞吐时间。用途多样且面向未来分析需求常常随着研究计划的转向而改变。 可以将新的应用轻松添加到 Empyrean 锐影系统，并实现高性能。像素式技术马尔文帕纳科一直致力于研究混合探测器技术。我们的混合探测器（PIXcel3D 与 GaliPIX3D）像素尺寸小、零背景、动态范围高。通过光学选项与运行半径，您可优化配置以达到符合您要求的状态。MultiCore Optics“MultiCore Optics”多核光路系统引入了“iCore”入射核和“dCore”探测核，大大简化了多功能X射线衍射系统的使用，使仪器的自动化达到了更好水平。 在不同测量之间的切换时，iCore和dCore将自行负责转换工作，不需要人为干预。PreFIX凭借 PreFIX 概念，您的衍射系统变得灵活、快速且面向未来。 凭借可再现的、微米级精度的可再现定位，PreFIX 光学器件和样品台安装法允许对衍射仪进行重新配置。 这让用户能够于数分钟内在不同应用间进行切换，从而让 Empyrean 锐影成为了一台多用途衍射仪。良好的实验室实践Empyrean 锐影配备了无需校准的 PreFIX 模块、测量和分析自动化功能，任何遵守实验室规范作业 (GLP) 的人都可以轻松进行操作。 此外，Empyrean锐影产品包涵盖全面 - 从硬件到专用分析解决方案 - 随附了新手用户的详细教程，而专业人士也可获得所有需要的功能。X 射线衍射的自定义解决方案Empyrean 锐影是多用途仪器，能支持一系列应用。 马尔文帕纳科希望协助用户进行材料研究。 我们可以为他们的复杂分析问题提供合适的解决方案或低成本生产流程。 如果您对样品杯和样品台、光学模块、分析技术有任何想法，可将您的要求告知马尔文帕纳科销售代表；或如果您需一个针对衍射研究的专用解决方案，请提出请求。 我们可以一起为新需求探究解决方案。

&bull 仪器介绍 智能X射线衍射仪SmartLab系列，是当今世界最高性能的多功能的X射线衍射仪，它采用了理学独创的CBO交叉光学系统、自动识别所有光学组件、样品台、智能的测量分析软件SmartLab Guidance，一台仪器可以智能进行普通粉末样品、液体样品、纳米材料、药品、半导体、薄膜样品测试。 技术参数&bull 1、X射线发生器功率为3KW、新型9KW转靶&bull 2、测角仪为水平测角仪&bull 3、测角仪最小步进为1/10000度，最高精度测角仪（双光学编码、直接轴上定位）（理学专利）&bull 4、测角仪配程序式可变狭缝&bull 5、自动识别所有光学组件、样品台（理学专利）&bull 6、CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带Mirror）（理学专利）&bull 7、小角散射测试组件(SAXS / Ultra SAXS)&bull 8、多用途薄膜测试组件&bull 9、微区测试组件、CBO-F微区光学组件&bull 10、In-Plane测试组件（理学独有）&bull 11、入射端Ka1光学组件&bull 12、高速探测器D/teX-Ultra（能量分辨率20%以下）&bull 13、二维面探PILATUS 100K/R(用于同步辐射环的探测器，可以接收直射X射线)&bull 14、智能的测量分析软件SmartLab Guidance（专利）&bull 主要特点智能X射线衍射仪SmartLab系列，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品主要的应用有：1. 粉末样品的物相定性与定量分析2. 计算结晶化度、晶粒大小3. 确定晶系、晶粒大小与畸变4. Rietveld定量分析5. 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构7. 小角散射与纳米材料粒径分布8. 微区样品的分析

技术参数 1、X射线发生器功率为3KW 2、测角仪为水平测角仪3、测角仪半径300mm4、测角仪配程序式可变狭缝 5、最小步径0.0001度6、CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带Mirror）（理学专利）7、高速探测器D/teX Ultra250（0维，1维模式）8、半导体阵列2维探测器HyPix400(0维、1维、2维模式)7、搭载从控制测量到分析结果的SmartLab Studio II软件包 8、视频观察系统9、丰富的各种附件 主要特点 1、SmartLab家族中的最新成员SmartLab SE。2、使用SmartLab Studio II软件，可以一键式得到从选择条件、测量、到分析、结果报告的所有结果，不需要任何经验，就可以得到高质量的分析结果。3、智能X射线衍射仪SmartLabSE系列，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。 4、可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料 5、可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品 主要的应用有： 1. 粉末样品的物相定性与定量分析 2. 计算结晶化度、晶粒大小 3. 确定晶系、晶粒大小与畸变 4. Rietveld定量分析 5. 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度 6.小角散射与纳米材料粒径分布 7. 微区样品的分析 仪器介绍 智能X射线衍射仪SmartLab SE系列，是当今世界最高性能的多功能的X射线衍射仪，它采用了理学独创的CBO交叉光学系统、智能的测量分析SmartLab Studio II软件，一台仪器可以智能进行普通粉末样品、液体样品、纳米材料、药品、半导体、薄膜样品测试。

苏州锂影科技有限公司薄膜X射线衍射仪（Mini版）苏州锂影科技有限公司锂影团队长期从事于X射线衍射仪的开发与应用研究，积累了丰富的项目经验。团队针对智能化快速X射线衍射仪已经开展了类德拜照相、多位样品台设计、多线程控制软件设计等相关基础研发工作。01 产品说明 Product Instructions薄膜X射线衍射仪（Mini版）是在丹东浩元DX27Mini型号粉末版仪器的基础上专门为薄膜样品研发而成的。薄膜样品一般指通过刮涂、喷涂、旋涂等方法在玻璃、硅片等基底上制备的纳米~微米级膜或通过吹塑、压片等方法直接得到的微米~毫米级膜。由于厚度较薄，因此在测试前需要对样品的水平性（omega和chi方向）和高度（Z）进行严格的校准，以保证样品恰好处于光路中且与直通光平行，否则将测不到样品的衍射信号。该款仪器配备了锂影科技开发的chi/Z两轴薄膜样品台。配合仪器原有的θs（亦称θ轴或omega轴）、θd轴（亦称2θ轴），可以进行薄膜水平与高度位置的对准，之后进行准确的X射线衍射（XRD）、X射线反射率（XRR）和面外掠入射X射线衍射仪（GIXRD）的测试，得到样品的结晶结构、晶相、微晶尺寸、取向、厚度、密度、粗糙度等信息。同时该仪器还配套了锂影科技二次开发的测试软件，采用中文界面，操作简单易学易用。02 技术参数 Technical Parameter1. X射线发生器：2.4kW；2. θ-θ测角仪： θs轴范围-5°~80°，最小步长0.0001°，重复精度0.0005°； θd轴范围-5°~80°，最小步长0.0001°，重复精度0.0005°；3. chi/Z两轴薄膜样品台： c轴范围-4°~4°，最小步长0.005°，重复精度0.005°； Z轴范围0-15mm，最小步长0.005mm，重复精度0.005mm；4. 封闭正比探测器（可升级为Mythen1D一维阵列探测器）5.可选配多层膜反射镜03 售后服务 After-sale Service1、免费上门安装：是 2、保修期：1年 3、是否可延长保修期：是4、保内维修承诺：免费上门指导5、报修承诺：24小时线上服务6、免费仪器保养：1年1次7、免费培训：工程师技术培训8、现场技术咨询：有 9、售后服务电话：

苏州锂影科技有限公司薄膜X射线衍射仪苏州锂影科技有限公司衍射仪高端个性化定制服01 产品说明 Product Instructions薄膜X射线衍射仪是在浩元DX2700BH衍射仪粉末版仪器的基础上专门针对薄膜样品研发的。薄膜样品一般指通过刮涂、喷涂、旋涂等方法在玻璃、硅片等基底上制备的纳米或微米级膜以及通过吹塑、压片等方法直接得到的微米或毫米级膜。由于厚度较薄，因此在测试前需要对样品的水平性（ω和χ方向）和高度（Z）进行严格的校准，以保证样品恰好处于光路中且与直通光平行，否则将测不到样品的衍射信号。02 技术参数 Technical Parameter该款仪器配备了锂影科技开发的chi/Z两轴薄膜样品台。配合仪器原有的θs（亦称θ轴或ω轴）、θd轴（亦称2θ轴），可以进行薄膜水平与高度位置的对准，之后进行准确的X射线衍射（XRD）、X射线反射率（XRR）和面外掠入射X射线衍射仪（GIXRD）的测试，得到样品的结晶结构、晶相、微晶尺寸、取向、厚度、密度、粗糙度等信息。同时该仪器还配套了锂影科技二次开发的测试软件，采用中文界面，操作简单易学易用。 03 售后服务 After-sale Service1、免费上门安装：是 2、保修期：1年 3、是否可延长保修期：是4、保内维修承诺：免费上门指导5、报修承诺：24小时线上服务6、免费仪器保养：1年1次7、免费培训：工程师技术培训8、现场技术咨询：有 9、售后服务电话：

这款台式X射线衍射仪是一种多用途多功能的实时测量的台式X射线衍射系统，特别为科研院校和企业应用而研发。这款实时台式X射线衍射仪与其它采用&ldquo 机械扫描测角仪器&rdquo 的X射线衍射仪不同，它采用独特的具有专利技术的曲线弧型探测器代替传统的机械扫描测角仪器，从而实现以超高分辨率超高速度实时完成2theta的测量。台式X射线衍射系统具有多种样品测量模式和多用户分析技术，使用最新的垂直安装的弧型X-eye高灵敏度探测器，以低于2毫秒的速度测量整个2 theta的全部衍射类型。该台式X射线衍射仪具有的实时测量功能使得它非常适合所有类型的动力学实验以及快速传统的X射线衍射研究。台式X射线衍射仪具有独特的110度角范围和180度曲率半径的弧度探测器，具有无以伦比的可靠性，非常适合大量测量任务的需要。台式X射线衍射系统产品特色* 不需要日常维护，超长保质期，超低使用成本，* 操作简餐，非常可靠，* 摆脱了机械扫描式的测角仪器；* 高灵敏度弧型X射线探测器* 超高速度：2毫秒可测量2 theta；* 实时测量实时分析结果；* 超高分辨率：0.10FWHM 台式X射线衍射系统操作情况：不需要任何使用经验的工程师也可快速使用，非常可靠，不需要日常维护，高速高分辨率高安全性测量。台式X射线衍射仪使用成本：使用高灵敏度弧型X射线探测器替代了昂贵的测角仪，整套系统的价格更低，使用成本更低。先进的技术：测量速度更快，它可以同时测量所有衍射峰，完成一次对多个样品全分辨率的测量仅需要几秒时间，不需要等待。超大样品室：由于替代了测角仪，这个台式X射线衍射仪以较小尺寸提供超大样品室，可以容纳更为广泛的样品操作附件，包括8位自动采样器，可以自动分析样品而不需要操作人员。样品尺寸要求：可以测量任何尺寸的样品，而其他产品一般完成分析测量的样品最大不超过2.0mm. 100微米的样品可直接分析而不需要额外的X射线源。X射线安全性：对样品的尺寸无要求，因此X射线安全性显著提高，传统的X射线衍射仪对样品尺寸存在要求，因此需要厚厚的安全防护装置和X射线窗口，但是整体的安全性依然得不到严格保证。单晶/粉末衍射功能：这套台式X射线衍射系统还可添加附件，实现对粉末,单晶的X射衍射测量。X射线荧光测量功能：提供标准的X射荧光测量软件模块，支持特殊的X射线荧光和X射线衍射测量。矿产和冶金特殊应用： 该台式X射线衍射系统特别为地质矿产和冶金等应用而设计。它卓越的性能和操作的方便性非常适合材料科学的研究。台式X射线衍射仪技术参数： 分辨率： 0.10度 FWHM探测器曲率半径：180mm2 theta：110度X射线源: 50W , 60KV/3KW电源功率：最大50W重量： 200Kg尺寸： 95x650x150cm台式X射线衍射系统可选附件：拉曼探针，X射线荧光附件，样品操作附件，X射线管Cu,W,Co, Mo, 单晶安装架，自动采样器等。

X射线单晶衍射仪 D8 结晶解决方案 — 单晶 X 射线衍射 (SC-XRD) 的质量和多功能标准结晶是确定小分子和大分子结构的zui明确方法，且单晶 X 射线衍射可以通过其他科学无法企及的方式，提供准确、精确的分子大小测量结果。Structural Biology D8 QUEST和D8 VENTURE 提供广泛的 X 射线源及光学器件，以及测角仪选项。D8 QUEST 是一种体型小巧、经济实惠的高性能单一 X 射线源配置，适用于化学结晶等典型用途，而D8 VENTURE 为化学和生物结晶的双波长组合提供平台。 D8 QUEST 是一个专为单波长试验而设计的紧凑型解决方案，配备有革新性的 PHOTON 100 CMOS 探测器。该系统可以在较小的空间里高度灵活的进行试验，可十分方便的拿取物品并具备较高的样品可视性。 根据 DAVINCI.DESIGN 原理，该系统使用zui好的组件进行高度模块化设计，并且具有完全气冷配置。因此，D8 QUEST 能够提供完全符合您的研究需求的解决方案。保证提供zui好的结构。系统参数：具备 CMOS 技术的全新 PHOTON 100 探测器100 平方厘米的大型有效面积高灵敏度气冷3 年保修密封 X 射线源Mo or Cu radiation经济划算的解决方案可选 3 倍强度的 TRIUMPH全新的高亮度 IμS 微聚焦 X 射线源Mo or Cu or Ag radiation强度zui多增加 60%气冷 (观看我们的 Air-Cooled 视频)3 年保修提供zui佳的软件APEX2 是适用于化学晶体的zui完整套件PROTEUM2 现在具有一个适用于结构生物学的数据处理线路完全集成的低温装置（可选） D8 VENTURE 的试验装置放置在更为宽敞的外壳内，还为旋转阳极提供空间以及双波长解决方案。所有系统均配备革新性 PHOTON 100 CMOS 探测器。 D8 VENTURE 提供zui高的试验灵活性，可十分方便地拿取物品并具备较高的样品可视性。获专利的门可采用滑门模式或双开式弹簧门模式打开。该系统使用zui好的组件进行高度模块化设计，并且具有完全气冷配置。 因此，D8 VENTURE 能够提供完全符合您的研究需求的解决方案。保证提供zui好的结构。系统参数：具备 CMOS 技术的全新 PHOTON 100 探测器 100 平方厘米的大型有效面积高灵敏度气冷提供三年保修密封X 射线源 Mo or Cu radiation经济型解决方案可选 3 倍强度的 TRIUMPH全新的高亮度 IμS 微聚焦 X 射线源Mo or Cu or Ag radiation强度增加高达 60%气冷 (观看气冷演示视频)提供三年保修微聚焦 TXS 旋转阳极紧凑型直接驱动，维护量低细丝经预先结晶和预先校准METALJET 适用于结构生物学的革新性液态金属 X 射线源适用于更小、更具挑战性样品的zui高 X 射线强度室内源使用镓放射自生式标靶，降低背底散射和放射损伤购置成本低，正常运行时间长测角仪FIXED-CHIKAPPABest goniometer precision选择一个带有小于 7 微米弥散球的测角仪，确保即使是zui小的样品，也能稳固地放置在 X 射线束的中心先进安全外壳 符合zui严格的辐射安全规范符合新机械指令提供zui佳的软件 APEX2 - 适用于化学晶体学的zui完整套件PROTEUM2 - 现在具有一个适用于结构生物学的数据处理线路完全集成的低温设备（可选）设备咨询电话：（微信同号）；QQ：；邮箱：欢迎您的来电咨询！

D8 DISCOVER是旗舰款多功能X射线衍射仪，带有诸多前沿技术组件。它专为在环境条件下和非环境条件下，对从粉末、非晶和多晶材料到外延多层薄膜等各种材料进行结构表征而设计。应用范围：定性相分析和定量相分析、结构测定和精修、微应变和微晶尺寸分析X射线反射法、掠入射衍射（GID）、面内衍射、高分辨率XRD、GISAXS、GI应力分析、晶体取向分析残余应力分析、织构和极图、微区X射线衍射、广角X射线散射（WAXS）总散射分析：Bragg衍射、对分布函数（PDF）、小角X射线散射（SAXS）薄膜分析X射线衍射（XRD）和反射率是对薄层结构样品进行无损表征的重要方法。D8 DISCOVER和DIFFRAC.SUITE软件将有助于您使用常见的XRD方法轻松进行薄膜分析：掠入射衍射（GID）：晶相表面灵敏识别及结构性质测定，包括微晶尺寸和应变。X射线反射率测量（XRR）：用于提取从简单的基底到高度复杂的超晶格结构等多层样品的厚度、材料密度和界面结构信息。高分辨率X射线衍射（HRXRD）：用于分析外延生长结构：层厚度、应变、弛豫、镶嵌、混合晶体的成分分析。应力和织构（择优取向）分析。材料研究XRD可研究材料的结构和物理特性，是最重要的材料研究工具之一。D8 DISCOVER就是布鲁克推出的、用于材料研究的旗舰款XRD仪器。D8 DISCOVER配备了技术的组件，可为您带来优异的性能和充分的灵活性，同时让研究人员对材料进行细致入微的表征：定性相分析和结构测定微米应变和微晶尺寸分析应力和织构分析粒度和粒度分布测定使用微米大小的X射线束进行局部XRD分析倒易空间扫描筛选和大区域扫描涉及高通量筛选（HTS）和大区域扫描分析时，D8 DISCOVER是优异解决方案。而有了UMC样品台的加持，D8 DISCOVER更是成为了电动位移和重量能力方面的同类优异：孔板和沉积样品在反射和透射中的高通量筛选（HTS）对最/大300 mm的样品进行扫描安装和扫描重量不超过5kg的样品自动化接口微焦源IμS配备了MONTEL光学器件的IμS微焦源可提供高/强度小X射线束，非常适合小范围或小样品的研究。毫米大小的光束：高亮度和低背景绿色环保设计：低功耗、无耗水、使用寿命延长MONTEL光学器件可优化光束形状和发散度与布鲁克大量组件、光学器件和探测器完全兼容。UMC样品台D8 DISCOVER提供了许多UMC平台，具有全新的样品扫描和重量容纳能力：可对重达5 kg的样品进行扫描大区域映射：最/大300mm的样品支持高通量筛选（HTS）的UMC样品台，最多支持三个孔板。考虑到其高度的模块化性能，该UMC样品台可根据客户的要求进行超出标配的定制。多模EIGER2 R检测器EIGER2 R 250K和500K是将Synchrotron性能带入实验室X射线衍射的2D检测器。先进的传感器设计，包括第二代性的EIGER：最/大尺寸为75 x 75mm2的50万像素，可实现微观分辨率的宏观覆盖。符合人体工程学的设计：轻松即可根据应用需求，调节探测器的位置和方向，包括0°/ 90°免工具切换以及探测器位置可连续变化、支持自动对光。全景光学器件和附件，视野开阔。0D、1D和2D操作模式：支持快照、步进、连续或高级扫描模式。可与DIFFRAC.SUITE完全无缝集成。TRIO Optics与PATHFINDER PLUS Optics获得的TRIO光学器件可在三种光路之间自动切换：用于粉末的Bragg-Brentano聚焦几何用于毛细管，GID和XRR分析的高/强度平行光束Kα1,2几何用于外延薄膜的高分辨率平行光束Kα1几何PATHFINDERPlus光学器件带有一个用于确保测得强度的线性的自动吸收器，并可在以下之间切换：电动狭缝：用于高通量测量分光晶体：用于高分辨率测量使用配备了TRIO和PATHFINDERPlus的D8 DISCOVER，无需重新配置，在环境条件下或非环境条件下，包括粉末、块状材料、纤维、片材和薄膜（非晶、多晶和外延）在内的所类型尽在掌握。

仪器介绍 理学标准型全自动X射线衍射仪D/max-2600/PC继承了理学D/max系列X射线衍射仪的特点。 D/max系列X射线衍射仪一直是业界标准，许多X晶体学家伴随着D/max一起成长，D/max也陪伴着晶体学家而发展，D/max系列衍射仪一直是晶体学家的好帮手。 技术参数1. X射线发生器功率为9KW（新型旋转阳极靶） 2. 广角测角仪可配垂直式或卧式 3. 广角测角仪最小步进为1/10000度 4. 广角测角仪配程序式可变狭缝 5. 广角测角仪包括聚焦光路及平行光路，转换方便 6. 高反射效率的石墨单色器 7. 高速探测器D/teX-Ultra（能量分辨率20%以下） 8. 全自动调整（使用专用调试工具及软件），保证数据标准化 9. 分析软件齐全 10. 附件齐全 主要特点 标准型全自动X射线衍射仪D/max-2600/PC配上相应的附件，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。 可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料 可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品 主要的应用有： 1. 粉末样品的物相定性与定量分析 2. 计算结晶化度、晶粒大小 3. 确定晶系、晶粒大小与畸变 4. Rietveld结构分析 5. 薄膜样品的物相分析 6. 织构分析 7. 应力分析 8. 小角散射与纳米材料粒径分布 9. 高温、超高温、低温、超低温、中低温、原位反应、温湿度、充放电、强磁场等在现分析

一、仪器介绍智能X射线衍射仪SmartLab系列，是当今世界最高性能的多功能的X射线衍射仪，它采用了理学独创的CBO交叉光学系统、自动识别所有光学组件、样品台、智能的测量分析软件SmartLab Guidance，一台仪器可以智能进行普通粉末样品、液体样品、纳米材料、药品、半导体、薄膜样品测试。二、技术参数1、X射线发生器功率为3KW、新型9KW转靶2、测角仪为水平测角仪3、测角仪最小步进为1/10000度，最高精度测角仪（双光学编码、直接轴上定位）4、测角仪配程序式可变狭缝5、自动识别所有光学组件、样品台6、CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带Mirror）7、小角散射测试组件(SAXS / Ultra SAXS)8、多用途薄膜测试组件9、微区测试组件、CBO-F微区光学组件10、In-Plane测试组件11、入射端Ka1光学组件12、高速探测器D/teX-Ultra（能量分辨率20%以下）13、二维面探PILATUS 100K/R(用于同步辐射环的探测器，可以接收直射X射线)14、智能的测量分析软件SmartLab Guidance三、主要特点智能X射线衍射仪SmartLab系列，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品四、主要的应用有1. 粉末样品的物相定性与定量分析2. 计算结晶化度、晶粒大小3. 确定晶系、晶粒大小与畸变4. Rietveld定量分析5. 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构7. 小角散射与纳米材料粒径分布8. 微区样品的分析

智能X射线衍射仪SmartLab系列，是当今世界最高性能的多功能的X射线衍射仪，它采用了理学独创的CBO交叉光学系统、自动识别所有光学组件、样品台、智能的测量分析软件SmartLab Guidance，一台仪器可以智能进行普通粉末样品、液体样品、纳米材料、药品、半导体、薄膜样品测试。 技术参数&bull 1、X射线发生器功率为3KW、新型9KW转靶&bull 2、测角仪为水平测角仪&bull 3、测角仪最小步进为1/10000度，最高精度测角仪（双光学编码、直接轴上定位）（理学专利）&bull 4、测角仪配程序式可变狭缝&bull 5、自动识别所有光学组件、样品台（理学专利）&bull 6、CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带Mirror）（理学专利）&bull 7、小角散射测试组件(SAXS / Ultra SAXS)&bull 8、多用途薄膜测试组件&bull 9、微区测试组件、CBO-F微区光学组件&bull 10、In-Plane测试组件（理学独有）&bull 11、入射端Ka1光学组件&bull 12、高速探测器D/teX-Ultra（能量分辨率20%以下）&bull 13、二维面探PILATUS 100K/R(用于同步辐射环的探测器，可以接收直射X射线)&bull 14、智能的测量分析软件SmartLab Guidance（专利）&bull 主要特点智能X射线衍射仪SmartLab系列，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品主要的应用有：1. 粉末样品的物相定性与定量分析2. 计算结晶化度、晶粒大小3. 确定晶系、晶粒大小与畸变4. Rietveld定量分析5. 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构7. 小角散射与纳米材料粒径分布8. 微区样品的分析

仪器简介：Miniflex 600系列是世界上体积最小、 重量最轻的便携式X射线衍射仪。主要特点：台式X射线衍射仪MiniFlex600，外型小巧方便，具有近于高端分析仪器的测试性能，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域，是一种适用于大专院校学生实验及研究的X射线衍射仪,特别适合于野外作业进行材料结构解析；Miniflex600系列也是一种适用于工厂生产现场质量管理检查，劳动保护、环境污染测量的X射线衍射仪；Miniflex600系列是世界上体积最小、重量最轻的便携式X射线衍射仪。* 打破以往X射线分析仪器常规，以小型化和高效能的完美组合刷新了X射线行业的基准；* 外箱采用具有高度安全性的完全密封设计，使仪器移动、安装均能简单自如完成，可充分调整光学系统；* 安装后接入电源即可开始使用，操作简单，初学者也能轻松自如；* 具有超高性价比的MiniFlex 600，为您开创轻松自由的X射线新时代。 技术参数1. 最小最轻的X射线衍射仪。主机宽约560mm，高700mm，深395mm；重量约80kg。2. 功率600W，强度大大提高（上一代产品MiniFlexII最大功率450W）。3. 测角仪精度高、放置样品方便。4. 测角仪配程序式可变狭缝，改善低角度P/B，提高高角度强度。5. 安全设计，放置样品时自动关闭X射线。6. 软件丰富7. 附件可配：计数端单色器，扣除K&beta 、荧光X射线，提高P/B比旋转样品台隔绝空气。水蒸气样品台六样品自动交换器高速一维阵列探测器D/teX Ultra2主要的应用软件有：1. 多重记录2. 定性分析3. 定量分析4. ICDD数据库管理5. 环境粉尘专用定量软件

简介QC3 高分辨率X射线衍射仪是Jordan Valley公司推出的半导体生产质量控制设备的最新机型，专注于化合物半导体产业中的生产监控需求。Jordan Valley公司质量控制型(QC)设备已经有三十余年的历史，并在全球被广泛应用于Si, GaAs, InP, GaN, 及其他常见的半导体衬底或外延层材料的测试和生产控制。QC3实现了高分辨率X射线衍射测试技术的部分或完全自动化，并可根据客户产品的具体需求，度身设计专用的自动化控制程序和质量控制参数。 QC3可依需要配置自动化机械手臂，实现半导体晶圆片的自动化装载，在生产线上执行测试流程的全自动化。QC3也可以提供一次性同时放置多个小尺寸晶圆片。样品盘上可以同时放置20片2英寸晶圆片，或者5片4英寸晶圆片。控制软件可以将自动化测试菜单程序添加给同一批次的不同晶圆片，并依次针对样品盘上所有的晶圆片执行测试菜单，有效减少人工操作及干预，提高测试效率。 产品特色及优势&bull 专注于半导体材料的高分辨率X射线衍射，未因兼顾其他X射线测试技术而降低高分辨率 的要求。&bull 与前期质量控制型设备相比，提高了X射线强度。在相同测试速度的情况下，可提高测试精度。在相同测试精度的条件下，将提高测试速度。&bull 降低了设备及附件的购置和维护成本。&bull 更低的运行成本。&bull XRGProtect&trade 可以有效延长X射线光管的使用寿命。&bull 环保的绿色工作模式，待机时有效降低能耗。&bull 可依据客户需求，选择性地配置自动化装卸晶圆片用机械手臂，具备多片批次式同时测试的功能，提高生产测试效率。&bull 操作简便，无需专业人才操作。&bull 完全自动化准直、测量晶圆片，数据分析自动化&bull 工业界领先的RADS衍射数据自动化拟合软件已经被客户广泛使用并获得肯定。&bull 测试和分析的数据结果可以进行自动化远程报告。&bull 可依客户需要的格式自动创建测试数据报告。

D8 VENTURE/QUEST—面向未来的单晶X射线衍射仪D8 VENTURE/QUEST是布鲁克公司推出的新款，功能强大的X射线单晶衍射仪。 一体化的设计， 配备目前世界上先进的光源以及PHOTON III MMPAD探测器，帮助您测试最富有挑战性的晶体，获得好的数据质量。 其主要特点为：● 同时适合小分子晶体学和蛋白质晶体学的研究需要，应用范围广。● 新一代的lus 3.0微焦斑光源，性能娘美微焦斑转靶，零维护，寿命超长。● 液态金属靶MetalJET，室内X射线光源， 强度远● 远高千微焦斑转靶，让您拥有个人的“同步辐射＂ ，解决最难的晶体学问 题， 比如GPCR膜蛋白的结构。● 采用四代光源XFEL探测器技术的PHOTON III MMPAD混合光子计数探测器，● 超大面积，超快速度， 零噪音， 单光子检测的灵敏度。● 双靶配置， 软件自动切换光源。 满足不同类型的研究需要。 元件自动识别， 智能化光路管理。● 新一代的APEX3/PROTEUM3软件， 功能强大， 智能化程度高， 轻松操控仪器， 获得好数据。● lus Diamond微焦斑光源， 零维护， 性能超越微焦斑转靶。

X射线衍射晶体衍射仪集所有常规应用于一身的桌面型设计高精度测角仪设计集成在主机内的计算机及屏幕DIFFRAC.SUITE仪器控制、数据采集及分析软件精准的探测器技术 在小型化设计的同时，D2 PHASER又是如何实现她的高性能？首先，D2 PHASER得益于特别设计的的θ/θ高精度测角仪，该技术得到了zhuan利保护。传统衍射仪的所有组成部分，包括标准化的陶瓷X光管、探测器、多功能计算机的主机、屏幕、鼠标、键盘，以及水冷，现在都可以集中在70x61x60cm这样一个空间内。同时，在如此狭小的空间内，D2 PHSAER仍可选配最大6位的自动进样器。其次，D2 PHASER配备了du一无二的DIFFRAC.SUITE软件，无论是在研究领域，还是在工业领域，都可以非常方便地实现数据的采集与分析。最后，也是整台仪器的点睛之笔，D2 PHASER可以配备林克斯一维阵列探测器TM。这个在布鲁克D8系列衍射仪上，被无数次证明其强大性能的高速探测器，现在被原封不动地移植到了D2 PHASER身上，使得这台小型衍射仪在性能和价格上达到了一个完美的结合。上述所有设计理念成就了D2 PHASER这样一台性能优异的桌面型X射线衍射仪，其性能甚至在一定程度上超越了大型衍射仪，同时她还具有大型衍射仪所不具备的特点：可以很方便的搬运、不需要庞大的基础设施，wei一需要的是一个电源插孔！定性定量分析（包括无标样定量分析）结晶度测定物相特性分析（包括：晶胞参数、晶粒大小、微观应力等）结构精修及粉末衍射解结构工业标准尺寸(. 51.5 mm)、适合不同应用的样品架D2 PHASER – 衍射小巨人！梦想成真－多晶样品的定性、定量分析、晶粒大小测定、甚至结构精修和解结构工作都可以通过D2 PHASER这样一台性能优异的桌面型衍射仪来实现了。布鲁克D2 PHASER开启了现代衍射仪的另一扇大门，她可以快速、简便、高质量地完成多晶样品B-B衍射几何下的所有工作。D2 PHASER不仅仅拥有超强的分析能力，同时也非常的灵活，适合测试各种各样的样品。因为不同的材料特性需要采用不同的制样方法，所以D2 PHASER除了配备常规的标准粉末样品架外，还可以提供各种特殊应用样品架：包括适用于微量样品的零背景样品架，粘土样品专用样品架，过滤样品架，以及适合环境敏感样品的密封样品架等等。林克斯SSD-160高速探测器使D2 PHASER如此与众不同的一个主要因素就是布鲁克公司的林克斯SSD-160一维阵列探测器。由160个子探测器组成的林克斯SSD-160探测器，比传统闪烁计数器可以提高强度150倍以上，配备了SSD-160林克斯探测器的 D2 PHASER完全可以媲美高端常规衍射仪。除了强度方面的强大性能，林克斯SSD-160还有非常好的去荧光能力。即使是测量强荧光样品，林克SSD-160斯探测器提供的数据也展示了非常好的信噪比。

弯晶产品系列1、弯晶概述北京泰坤工业设备有限公司开发各类型X射线衍射弯晶。提供多种材料的弯晶制备， 如石墨、氟化锂晶体系列、锗和硅等；同时致力于开发多种 结构的弯晶构型，包括约翰型、约翰森、对数螺线、椭球和 Von Hamos等。弯晶广泛应用于单色X射线荧光激发、同时多道型波长色 散X射线荧光光谱仪、双弯晶X射线荧光测量、以及弯晶谱 仪和中子衍射等领域。北京泰坤的服务范围涵盖了弯晶的设计、制作和测试， 并提供一站式的弯晶套装解决方案。2、工作原理弯晶的设计原理基于布拉格衍射定律，即当入射X射线与晶体晶格相互作用时，会发生衍射现象。通过合理选择材料和弯晶的形状，能够精确控制X射线的衍射效应，从而实现X射线的单色反射聚焦。由 于X射线对所有物质的折射率接近为1，衍射是极少数能改变X射线传播方向的方案之一，使得弯晶成为 重要的X射线光学器件。双曲结构的弯晶还可以实现单色X射线的点对点聚焦。 3、弯晶材料北京泰坤进行了大量的对比测试，对各种弯晶材料进行了全面的研究，总结出相应的的性能特点，可以为客户提供优化设计的支持。弯晶石墨LiF200、LiF220及LiF420Ge(111)Si(111)反射率++++++-稳定性++++++++导热性+++++++4、弯晶构型北京泰坤可以提供多种构型的弯晶，并对各种弯晶构型做了详细测试，综合出各构型差异。还可承接椭球和Von Hamos等构型弯晶的设计、制作与集成业务。5、行业应用1.弯晶是X射线荧光光谱(XRF)分析的重要发展方向。北京泰坤生产的弯晶可用于Cr靶、Rh靶、Ag靶以及Ce靶光管的单色特征X射线点对点聚焦。通过弯晶的应用，XRF能够在激发端有效降低荧光背景，检出限相比传统能谱方案降低一个数量级，如硫的检出限可达到1ppm以下，符合ASTM D7220标准。2.发射端采用弯晶单色聚焦，部分重元素的检出限降低至0.04ppm水平。 3.当激发和发射端同时采用弯晶时，检出限相比传统能谱测量方案可降低1-2个数量级，测硫方案符合ASTM 7039标准；部分元素的检出限可达到ICP-OES检测水准。4.弯晶在同步辐射光源、加速器和重离子检测等领域的X射线精细光谱分析中具有重要应用价值，还可以应用于中子衍射领域。5.北京泰坤提供完整的弯晶套件服务，将设计、制作和调试打包成一体，为客户提供一站式的解决方案。客户只需提供光管和探测器，即可开始工作。我们致力于为客户提供高质量的服务和支持，保证客户能够充分利用弯晶技术的优势。

日本理学 XRD 智能 X 射线多晶衍射仪 SmartLab 智能 X 射线衍射仪 SmartLab 系列，是当今世界性能的多功能的 X 射线衍射仪，它采用了理学独创的 CBO 交叉光学系统、自动识别所有光学组件、样品台、智能的测量分析软件 SmartLab Guidance，一台仪器可以智能进行普通粉末样品、液体样品、纳米材料、药品、半导体、薄膜样品测试。 日本理学智能 X 射线多晶衍射仪 SmartLab 技术参数• 1、X 射线发生器功率为 3KW、新型 9KW 转靶• 2、测角仪为水平测角仪• 3、测角仪最小步进为 1/10000 度，精度测角仪（双光学编码、直接轴上定位）（理学专利）• 4、测角仪配程序式可变狭缝• 5、自动识别所有光学组件、样品台（理学专利）• 6、CBO 交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带 Mirror）（理学专利）• 7、小角散射测试组件(SAXS / Ultra SAXS)• 8、多用途薄膜测试组件• 9、微区测试组件、CBO-F 微区光学组件• 10、In-Plane 测试组件（理学独有）• 11、入射端 Ka1 光学组件• 12、高速探测器 D/teX-Ultra（能量分辨率 20%以下）• 13、二维面探 PILATUS 100K/R(用于同步辐射环的探测器，可以接收直射 X 射线)• 14、智能的测量分析软件 SmartLab Guidance（专利） • 日本理学智能 X 射线多晶衍射仪 SmartLab 主要特点智能 X 射线衍射仪 SmartLab 系列，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。 可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品 主要的应用有：1. 粉末样品的物相定性与定量分析2. 计算结晶化度、晶粒大小3. 确定晶系、晶粒大小与畸变4. Rietveld 定量分析5. 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度6. In-Plane 装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构7. 小角散射与纳米材料粒径分布8. 微区样品的分析

苏州锂影科技有限公司类德拜照相快速X射线衍射仪苏州锂影科技有限公司锂影团队长期从事于X射线衍射仪的开发与应用研究，积累了丰富的项目经验。团队针对智能化快速X射线衍射仪已经开展了类德拜照相、多位样品台设计、多线程控制软件设计等相关基础研发工作。01 技术背景 Technical Background德拜照相是一种古老的X射线衍射测试方法，它使用弯曲底片一次性测试粉末样品大角度范围内的多个德拜环。由于需要洗相等繁琐操作以及测试精度偏低而被衍射仪法所取代。近来我们使用一维阵列探测器进行近距离照相，得到了类似德拜照相的结果。而且，由于不用扫描，该方法的测试速度可以达到秒级。根据距离不同，该方法能够探测的角度范围可以从8°增加到50°，相应的单个子探测器角度分辨率可以从0.01°减少到0.08°。实际上大多数粉末样品只需要进行定性或半定量测试，它们的主要衍射仪峰基本都出现在10°-60°甚至更小的角度范围内，而且衍射峰之间的角度差大多大于1°，因此这种类德拜照相技术完成能够满足这些定性或半定量测试的需求。02 产品说明 Product Instructions类德拜照相快速X射线衍射仪在丹东浩元仪器有限公司的DX2700衍射仪基础上装配了Dectris Mythen1D一维阵列探测器，并且其距离可调，即能够实现秒级的近距离类德拜照相，也能够采用远距离的高分辨率扫描模式进行测试。因此即适用于高通量样品筛选以及企业生产中的质量控制，也适用于样品的晶系结晶结构分析。该仪器配套了锂影科技二次开发的测试软件，采用中文界面，操作简单易学易用。并且能够支持锂影科技开发的5位反射模式样品架或15位透射模式样品架，实现多个样品的自动连续测试。03 技术参数 Technical Parameter1. X射线发生器：3kW；2.θ-θ测角仪： θs轴范围-5°~80°，最小步长0.0001°，重复精度0.0001°； θd轴范围-5o~80°，最小步长0.0001°，重复精度0.0001°；3. Mythen1D一维阵列探测器4. 标配单个粉末样品架，可选配5位反射模式样品架或15位透射模式样品04 售后服务 After-sale Service1、免费上门安装：是 2、保修期：1年 3、是否可延长保修期：是4、保内维修承诺：免费上门指导5、报修承诺：24小时线上服务6、免费仪器保养：1年1次7、免费培训：工程师技术培训8、现场技术咨询：有 9、售后服务电话：

多功能X射线衍射/反射仪多功能X射线衍射/反射仪提供科研开发工作所需的各种X射线测试解决方案简介 Jordan Valley公司zui新设计的Delta-X是多功能的X射线衍射设备，可灵活应用于材料科学研究、工艺开发、与生产质量控制。Delta-X衍射仪的光源台和探测台的光学元件可以全自动化调控，并采用水平式样品台。Delta-X衍射仪可以在常规衍射模式、高分辨率衍射模式、X射线反射模式之间灵活切换。光学配置的切换完全在菜单式程序控制下由计算机完成，无需手动操作。自动化切换和准直不需要专门人员和操作设备，并确保每次切换都能达到zui佳的光学准直状态。 常规的样品测量可以通过Delta-X衍射仪，实现部分、乃至完全的自动化运行，自动化测量程序可以依客户需求进行专门定制。也可采用完全的手动模式操作Delta-X衍射仪，以便发展新测量方法，研究新材料体系。 数据分析或拟合可以作为测量程序的一部分，可实现完全自动化，也可依据需要单独进行数据分析。 依半导体生产线的需求，将RADS和REFS拟合软件以自动化模式运行，允许在没有用户干扰的情况下自动完成常规性的数据分析，并直接完成数据拟合和结果输出。RADS和REFS也可以单独安装，以便进行更详细的数据分析。 Delta-X 衍射仪的主要特点和优势n 自动化进行样品准直、测试、和数据分析n 客户可以自行设定测量的自动化程度n 300mm的欧拉环支架(Eulerian Cradle)设计，高精度的样品定位和扫描n 300mm的晶片水平式放置，且可以完整mappingn 100o的Chi轴倾转范围、无限制范围的Phi轴旋转空间，可实现极图和残余应力测试n 智能化的光学配置切换和准直。依测量需要，自动选择光学配置并实施光学准直n 工业界先的设备控制软件和数据分析软件n 高分辨率测角仪，以保证精密且准确的测量n 高强度的光源台设计和光学元件组合，以实现快速测量n 多方面广泛的测试技术和测量参数n 由拥有超过30年的高分辨率X射线衍射经验的世jie级专家设计、制造，具有全球客户经验。

苏州锂影科技有限公司X射线衍射仪机中机苏州锂影科技有限公司 锂影团队长期从事于X射线衍射仪的开发与应用研究，积累了丰富的项目经验。团队针对智能化快速X射线衍射仪已经开展了类德拜照相、多位样品台设计、多线程控制软件设计等相关基础研发工作。01 产品说明 Product Instructions个性化定制衍射仪——“机中机”的搭建依托于日本理学Smartlab衍射仪，并在Smartlab上完成了验证。该机型可以实现多位粉末样品连续测试以及原位热退火和原位溶剂蒸气处理过程的秒级快速跟踪02 技术参数 Technical Parameter‍‍角度偏差：不超过0.1°重复性：0.1°最小步进角度：0.1°发生器功率：2.2kW03 售后服务 After-sale Service1、免费上门安装：是 2、保修期：5年 3、是否可延长保修期：是4、保内维修承诺：免费上门指导5、报修承诺：24小时线上服务6、免费仪器保养：1年1次7、免费培训：工程师技术培训8、现场技术咨询：有 9、售后服务电话：

特点Omega/Theta X射线衍射仪是一个全自动的垂直三轴衍射仪，使用Omega扫描和Theta扫描方法以及摇摆曲线测定各种晶体的方位。大而宽敞的设计可以容纳长达450毫米和30公斤的重量和样品架。所有的测量都是自动化的，可以通过用户友好的软件界面进行访问。利用Omega扫描，可以在晶体旋转(5秒)中确定完整的晶格方向。Theta扫描更加灵活，但每次扫描只产生一个方向分量。可以非常精确地确定倾斜角度，使用Theta扫描到0.001°。对于所有其他的晶体方向，精度取决于垂直于表面的角差。该系统是模块化的，并配备了许多不同的扩展用于特殊目的，如形状或平面的确定，绘图和不同的样品架。样品的倾斜度是通过光学测量来检测的，可以用来校正最终的方向。单晶衍射仪 Omega扫描图（SiC） 涡轮叶片，一个方向组件的映射图 (Si, Ge)晶圆，定向图 晶格参数映射图 全自动单晶完全晶格取向测量使用Omega扫描方法的超高速晶体定位测量自动摇摆曲线测量衍射仪的角分辨率：0.1弧秒。样本大小可达450毫米适合于生产质量控制和研究用户友好和成本效益样品处理方便，操作方便先进的,用户友好的软件低能耗，低运营成本模块化设计和灵活性各种升级选项定制用户的需求Omega/Theta X射线衍射仪的应用具有多种几何形状和大小的样品 单晶的工业合成从大而重的晶体开始，到小块如晶圆或坯。实验生长产生微小的圆柱体。根据材料和产量的不同，晶体样品可以表现出多种尺寸和几何形状。Omega/Theta X射线衍射仪可以处理大块钢锭或钢球和实验合成的微小晶体。非线性光学材料(NLO)：晶体质量和定向 与典型的无机金属、半导体和绝缘体相比，NLO材料具有更复杂的晶体结构和更低的对称性。这种结构创造了一个高度各向异性的环境，光通过晶体，并导致他们的特殊性质。这些晶体通常被切割成尺寸在毫米范围内的小棒，作为频率倍增器和光学参量振荡器的有源元件。对这种小晶体的表面质量测定常常可以揭示晶体内部的结构缺陷和裂纹。这些材料的大单位晶胞是Omega扫描方法的一个挑战。我们能够确定许多NLO材料，如LBO, BBO和TeO2的Omega扫描参数的最重要的方向。对Omega/Theta的设计进行了一些特殊的修改，以涵盖几种不同材料的NLO能力。平面方向的标记和测量 Omega扫描能够在一次测量中确定完整的晶体方位。因此，平面方向可以直接识别。这是一个有用的功能，以标记在平面方向或检查方向的单位或缺口。在晶圆片的注入和光刻过程中，平面或凹槽作为定位标记。经过加工后，晶圆片携带数百个芯片，需要通过切割将其分离。晶片必须正确地对准晶圆片上易于切割的晶格面。因此，检查平台或缺口的位置是必要的。为了确定平面或缺口的位置，必须测量平面内的部件。该仪器通过旋转转盘，可以将任何平面方向转换成用户指定的特定位置。这简化了将标记应用到特定平面方向的任务，例如必须定义平面方向时。对于高吞吐量应用程序，可提供自动测量解决方案。摇摆曲线:晶体表面评价 摇摆曲线测量对晶格内的缺陷和应变场很敏感。将这种技术与映射阶段相结合，可以扫描晶体表面并确定缺陷区域。在晶格匹配的薄膜中，摇摆曲线也可以用来研究层厚、超晶格周期、应变和成分剖面、晶格失配、三元结构和弛豫。晶圆片表面必须达到非常高的清洁和均匀性标准。制造商正努力使晶体的位错和缺陷尽可能少。特别是在碳化硅方面，消除错位为这种材料提供了新的应用领域。通过装备一个具有映射阶段和双晶体的Omega/Theta衍射仪，可以测量晶体表面某一反射的摇摆曲线映射。图像显示的结果，这种映射的碳化硅晶圆。晶圆片的内部呈现出两到三倍于摇摆曲线的FWHM。这可能与表面划痕或生长缺陷有关。

高功率X射线衍射仪EVASTAR Y2EVASTAR Y2 高功率X射线衍射仪是一款结合大功率的X射线光源和高探测效率的X射线光子直读二维阵列探测器的桌面型衍射仪，是目前市面上数据测量强度最高的桌面型衍射仪。 EVASTAR Y2 的高压发生器为1200 瓦(40kV,30mA), 测角仪为theta-theta结构，仪器标配的是256X256像素的光子直读探测器，在保证了精确的测量数据的同时，绝大多数的粉末样品测量可以在几分钟内获得强度和信噪比俱佳的衍射数据。 应用领域：粉末衍射，薄膜掠入射（GID）测量，反射率（XRR）测量，残余应力（residual stress）测量 技术参数　　仪器尺寸和重量900毫米X680毫米X550毫米，100公斤X射线管1200WX射线管靶材常规封闭靶，Cu靶或Co靶可选测角仪立式θ-θ，测角仪半径170毫米探测器光子直读二维阵列探测器探测器能量分辨率0.2角度范围0°～150°角度精度±0.01°刚玉粉末的测试数据（10度/分钟）三元材料的XRD谱图，黑色为普通测量模式数据，蓝色的是去荧光模式数据水泥样品的无标样定量分析石墨化度测量微晶玻璃样品的测量三元材料的衍射图谱和结构精修反射式原位电池测量20纳米 ITO/玻璃的反射率测量曲线20纳米 ITO/玻璃的GID测量曲线Al金属残余应力测量数据Al金属残余应力测量计算

苏州锂影+实验室桌面型二维掠入射X射线衍射同步辐射测试01同步辐射光源，由于强度高、亮度大、准直性好，广受科研工作者们的欢迎。我们国家现有多个同步辐射光源：北京同步辐射装置（BSRF，第一代光源）、合肥国家同步辐射国家实验室（NSRL，第二代光源）、上海光源（SSRF，第三代光源），还有马上投入运行的大连的深紫外以及上海软X射线自由电子激光装置（FEL，第四代光源），以及在建中的北京高能同步辐射、上海光源、合肥光源。另外，在台湾也有两台光源。但是，封校、避免人员流动等防疫措施的限制下，让2D-GIWAXS测试难上加难。别急，还有一个解决办法！锂影制造02锂影科技在丹东浩元DX2900衍射仪安全壳体的基础上装配了美国XOS公司的多毛细管微焦点光源、锂影科技的两轴薄膜样品台、瑞士Dectris公司的Pilatus100K二维阵列探测器，加上锂影科技开发的配套测试软件，组装得到实验室桌面型二维掠入射X射线衍射仪。同时，结合锂影科技在衍射仪配件定制开发方面的优势，为该款机型配备了多种测试模块，薄膜样品台、透射样品台、惰性气体保护台（手套箱内组装好保持惰性氛围测试）和原位气氛处理台（支持大多数溶剂）。测试界面 聚合物样品二维衍射图技术参数031. X射线发生器：铜靶或钼靶，功率50W（工作电压50KV、工作电流1mA）2.多毛细管：准直度0.25°，焦斑直径0.5mm，光强10^8ph/s3. 两轴薄膜样品台：Omega轴范围-10°~10°，精度0.002°；Z轴范围0-15mm，精度0.002mm4. 二维阵列探测器：487×195像素，每个像素大小172微米5.可以配备透射样品台、原位薄膜热台、原位溶剂气氛处理附件、气氛保护附件等6.薄膜样品台可根据需求升级至三轴到五轴薄膜样品台，二维阵列探测器可根据需求升级至Pilatus200K、Eiger500K/1M测试效果如下：碘化铅甲胺铅溴钙钛矿聚丁烯样条透射XRDN2200锂影团队长期从事于X射线衍射仪的开发与应用研究，积累了丰富的项目经验。团队针对智能化快速X射线衍射仪已经开展了类德拜照相、多位样品台设计、多线程控制软件设计等相关基础研发工作。苏州锂影科技有限公司为您提供高端衍射仪个性化定制服务

X射线单晶衍射仪X-ray Single Crystal Diffractometer System1．用途及特点：测定新化合物（晶态）分子的准确三维空间（包括键长、键角、构型、构象乃至成键电子密度）及分子在晶格中的实际排列状况；可以提供晶体的晶胞参数、所属空间群、晶体分子结构、分子间氢键和弱作用的信息以及分子的构型及构象等结构信息。它广泛用于化学晶体学、分子生物学、药物学、矿物学和材料科学等方面的分析研究。精确测定无机物、有机物和金属配合物等结晶物质的三维空间结构和电子云密度，分析孪晶、无公度晶体、准晶等特殊材料结构；可精确测定无机分子、有机分子、矿质材料以及大生物分子的结构，提供全面的结构数据，并可按不同要求提供各种结构图、动态图。 2. 系统总体构成：高性能混合像素光子直读探测器；kappa 四圆测角仪；X 射线金属陶瓷管（Mo 或 Cu）；X 射线发生器；单毛细管光学器件；晶体样品液氮低温系统；晶体样品监视系统；X 光管的循环冷却水装置；计算机控制系统；系统控制和数据收集及数据分析软件。 3. 主要技术参数： 3.1 X 射线发生器和光路系统：3.1.1 X 射线发生器最大输出功率: 3000W；3.1.2 最大管电压/通道：60 KV；3.1.3 最大管电流/通道：50 ma；3.1.4 电流电压稳定度： 8 小时内变化不超过± 0.1%；3.1.5 X 射线管保护：过电压、过电流、冷却水异常保护； 3.2 测角仪：3.2.1 类型: kappa 四圆测角仪，步进马达定位，四个角度均可自由转动，满足常规晶体结构分析和专业晶体学研究需要；3.2.2 角度分辨率：Omega 和 Theta 0.0001 度，Kappa 0.001 度，Phi 0.001 度；3.2.3 扫描速度范围 0.005 - 3.0 度/秒；3.2.4 theta 臂具有通用性，与公司所提供的其他探测器兼容； 3.3. 晶体对中监视系统：CCD 摄像头加放大镜头，安装在仪器内部用于样品对心与调整； 3.4 探测器：DECTRIS Pilatus混合像素光子计数探测器；3.5 高性能计算机实现仪器控制及数据采集；3.6 系统控制和数据处理软件：包括控制、维护、数据收集、数据还原和数据分析程序，以及处理孪晶和晶面吸收校正等功能。收集数据和还原数据同步进行；3.7 液氮低温系统：温度范围 120 - 400 K，控温精度：± 0.1 K。