电介质强度测试仪

一﹑仪器概述：本仪器用于短波治疗仪的应用器进行电介质强度试验。短波治疗仪的被测容性应用器、感性应用器及其连接电缆在进行GB97061-2020标准中第8.8.3条款中规定的试验前应能够承受短波治疗设备的最大输出电压而不出现击穿。二、符合标准：1）本仪器满足GB 9706.203-2020医用电气设备第2-3部分：短波治疗设备的基本安全和基本性能专用要求标准中第201.8.8.3条款aa)、bb)“电介质强度试验”要求，以及图201.101“容性应用器的电介质强度试验”、图201.102“测试探头”、图201.103“感性应用器的电介质强度试验”。三、主要技术参数： aa)通过下列试验来验证容性应用器及连接电缆的符合性:每对应用器应使用制造商规定的电缆进行测试。被测应用器需悬挂或支撑起来，并使之与任何其他物件至少保持50cm的距离(ME设备应用器支架或者类似的支撑装置除外)。每对中第二个应用器安放在接地金属板中心上方约10mm处，接地金属板尺寸不小于900cm² 试验装置如图201.101所示。注1:试验中使用的金属板在工作频率下对地低阻抗特性很关键。短波治疗设备应在额定网电源电压和制造商规定的每对被测应用器的额定输出功率下运行。输出电路需调至谐振,必要时可调整第二个应用器的位置。试验用一根直径为8mm的接地金属探头，探头端部为光滑清洁的半球形,安装在绝缘棒制成的试验手柄上，如图201.102所示。探头的半球形端部应接触到被测应用器上，并沿其表面及连接电缆的全长连续缓慢移动，并且不得在任何一点上停留，试验不得有闪络或击穿现象。交换应用器的位置后重复进行试验。bb) 通过下列试验来验证感性应用器及连接电缆的符合性:被测应用器安放在接地金属板中心上方约10mm处，接地金属板尺寸不小于900cm² 。试验装置如图201.103所示。注2:试验中使用的金属板在工作频率下对地低阻抗特性很关键。短波治疗设备应在额定网电源电压和制造商规定的被测应用器的额定输出功率下运行。输出电路需调至谐振，必要时可调整应用器的位置。试验用一根直径为8mm的接地金属探头，探头端部为光滑清洁的半球形,安装在绝缘棒制成的试验手柄上，如图201.102所示。探头的半球形端部应接触到应用器上，并沿其表面及连接电缆的全长连续缓慢移动，并且不得在任何一点上停留，试验不得有闪络或击穿现象。

介质损耗因数测试仪低频信号源频率覆盖范围 AC频率范围10kHz～60MHz0.1～160MHzCH110～99.9999kHz0.1～0.999999MHzCH2100～999.999kHz1～9.99999MHzCH31～9.99999MHz10～99.9999MHzCH410～60MHz100～160MHz频率指示误差3×10-5±1个字介质损耗因数测试仪低频1. Q合格指示预置功能：预置范围：5～10002. Q表正常工作条件a. 环境温度：0℃～+40℃；b．相对湿度：80％；c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。7．其他a．消耗功率：约25W； b．净重：约7kg；c. 外型尺寸：（宽×高×深）mm：380×132×280。介质损耗因数测试仪低频A/C 型 Q 表的工作原理框图如图二所示。它以ATM128 单片机作为控制核心，实现对各种功能的控制。DDS 数字直接合成信号源为 Q 值测量提供了一个优质的高频信号。信号源输出一路送到程控衰减器和自动稳幅放大控制单元，该单元根据 CPU 的指令对信号衰减后送往信号激励放大器，同时对信号检波后送出一直流控制信号到压控信号源实现自动稳幅。信号激励部分输出送到一个宽带分压器， 由分压器馈给测试调谐回路一个恒定幅度的信号。当测试回路处于谐振状态时，在调谐电容 CT 两端的信号幅度将是分压器提供的信号幅度 Q 倍。在 CT 两端取得的调谐信号被信号放大单元适当放大后送到检波和数字取样单元，检波后送到控制中心 CPU 去进行数据处理。介质损耗因数测试仪低频特点：优化的测试电路设计使残值更小◆ 高频信号采用数码调谐器和频率锁定技术◆ LED 数字读出品质因数，手动/自动量程切换◆ 自动扫描被测件谐振点，标频单键设置和锁定，大大提高测试速度作为新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前国内高的160MHz。1 双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。2 双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。3 双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。4 自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。5 全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。6 DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。7 计算机自动修正技术和测试回路优化 —使测试回路 残余电感减至低，彻底 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。标准配置：高配Q表 一只 试验电极 一只 （c类）电感 一套（9只）电源线 一条说明书 一份合格证 一份保修卡 一份为什么介电常数越大，绝缘能力越强？因为物质的介电常数和频率相关，通常称为介电系数。介电常数又叫介质常数，介电系数或电容率，它是表示绝缘能力特性的一个系数。所以理论上来说，介电常数越大，绝缘性能就越好。注：这个性质不是绝对成立的。对于绝缘性不太好的材料(就是说不击穿的情况下,也可以有一定的导电性)和绝缘性很好的材料比较,这个结论是成立的。但对于两个绝缘体就不一定了。介电常数反映的是材料中电子的局域(local)特性,导电性是电子的全局(global)特征.不是一回事情的。补充：电介质经常是绝缘体。其例子包括瓷器(陶器)，云母，玻璃，塑料，和各种金属氧化物。有些液体和气体可以作为好的电介质材料。干空气是良好的电介质，并被用在可变电容器以及某些类型的传输线。蒸馏水如果保持没有杂质的话是好的电介质，其相对介电常数约为80。介质损耗因数测试仪低频电介质在外电场作用下，其内部会有发热现象，这说明有部分电能已转化为热能耗散掉，电介质在电场作用下，在单位时间内因发热而消耗的能量称为电介质的损耗功率，或简称介质损耗（diclectric loss）。介质损耗是应用于交流电场中电介质的重要品质指标之一。介质损耗不但消耗了电能，而且使元件发热影响其正常工作。如果介电损耗较大，甚至会引起介质的过热而绝缘破坏，所以从这种意义上讲，介质损耗越小越好。形式各种不同形式的损耗是综合起作用的。由于介质损耗的原因是多方面的，所以介质损耗的形式也是多种多样的。介电损耗主要有以下形式：1）漏导损耗实际使用中的绝缘材料都不是完善的理想的电介质，在外电场的作用下，总有一些带电粒子会发生移动而引起微弱的电流，这种微小电流称为漏导电流，漏导电流流经介质时使介质发热而损耗了电能。这种因电导而引起的介质损耗称为“漏导损耗”。由于实阿的电介质总存在一些缺陷，或多或少存在一些带电粒子或空位，因此介质不论在直流电场或交变电场作用下都会发生漏导损耗。在介质发生缓慢极化时（松弛极化、空间电荷极化等），带电粒子在电场力的影响下因克服热运动而引起的能量损耗。　　一些介质在电场极化时也会产生损耗，这种损耗一般称极化损耗。位移极化从建立极化到其稳定所需时间很短（约为10-16～10-12s），这在无线电频率（5×1012Hz 以下）范围均可认为是极短的，因此基本上不消耗能量。其他缓慢极化（例如松弛极化、空间电荷极化等）在外电场作用下，需经过较长时间（10-10s或更长）才达到稳定状态，因此会引起能量的损耗。若外加频率较低，介质中所有的极化都能完全跟上外电场变化，则不产生极化损耗。若外加频率较高时，介质中的极化跟不上外电场变化，于是产生极化损耗。 [2]3）电离损耗　　电离损耗（又称游离损耗）是由气体引起的，含有气孔的固体介质在外加电场强度超过气孔气体电离所需要的电场强度时，由于气体的电离吸收能量而造成指耗，这种损耗称为电离损耗。4）结构损耗在高频电场和低温下，有一类与介质内邻结构的紧密度密切相关的介质损耗称为结构损耗。这类损耗与温度关系不大，耗功随频率升高而增大。试验表明结构紧密的晶体成玻璃体的结构损耗都很小，但是当某此原因（如杂质的掺入、试样经淬火急冷的热处理等）使它的内部结构松散后。其结构耗就会大大升高。5）宏观结构不均勾性的介质损耗工程介质材料大多数是不均匀介质。例如陶瓷材料就是如此，它通常包含有晶相、玻璃相和气相，各相在介质中是统计分布口。由于各相的介电性不同，有可能在两相间积聚了较多的自由电荷使介质的电场分布不均匀，造成局部有较高的电场强度而引起了较高的损耗。但作为电介质整体来看，整个电介质的介质损耗必然介于损耗大的一相和损耗小的一相之间。表征：电介质在恒定电场作用下，介质损耗的功率为　　W=U2/R=（Ed）2S/ρd=σE2Sd定义单位体积的介质损耗为介质损耗率为ω=σE2在交变电场作用下，电位移D与电场强度E均变为复数矢量，此时介电常数也变成复数，其虚部就表示了电介质中能量损耗的大小。D，E，J之间的相位关系图D，E，J之间的相位关系图如图所示，从电路观点来看，电介质中的电流密度为J=dD/dt=d（εE）/dt=Jτ+iJe式中Jτ与E同相位。称为有功电流密度，导致能量损耗；Je，相比较E超前90°，称为无功电流密度。

一、产品概述：介电常数测试仪采用数字液晶显示，是通过GB1409中的Q表法测试固体/液体绝缘材料介电常数及介质损耗因数的分析仪器。它以单片计算机控制仪器，测量核心采用了频率数字锁定、标准频率测试点自动设定、谐振点自动搜索、Q值量程自动转换、数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至低值，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量时更为精确。可直读介电常数及介质损耗结果，免去人工计算的繁琐。经过新升级可通过上位机软件查看测试曲线，北京航天纵横检测仪器是代替进口设备的北京航天纵横仪器产品。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。产地北京房山。二、技术特性：DDS数字合成信号：50KHz-160MHz；信号源频率覆盖比：1600:1；信号源频率精度：6位有效数3×10-5 ±1个字；Q测量范围/Q分辨率：1-1000自动/手动量程；4位有效数,分辨率0.1；Q测量工作误差：5%；电感测量范围/分辨率：1nH-140mH 4位有效数,分辨率0.1nH；电感测量误差：5%；调谐电容：主电容17-240pF；电容直接测量范围：1pF～25nF；调谐电容误差/分辨率：±1pF或1% / 0.1pF；谐振点搜索：自动扫描；Q合格预置范围：5-1000声光提示；Q量程切换：自动/手动；LCD显示参数：F，L，C，Q，Lt，Ct波段等；新增功能：自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能；新增功能：大电容值直接测量显示功能，测量值可达25nF；消耗功率：约25W；净重：约7kg；外型尺寸：（宽×高×深）mm：380×132×280。二、符合标准：GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法；GB/T1693-2007硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定方法；ASTM D150-11实心电绝缘材料的交流损耗特性和电容率（介电常数）的标准试验方法；GBT5594.4-2015电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法； 三、产品特点：1、双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。2、双测试要素输入 - 北京航天纵横检测仪器测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。3、双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。4、自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。5、全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。6、DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。7、计算机自动修正技术和测试回路优化—使测试回路 残余电感减至低值，彻底根除 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。8、新增功能：电感测试时，仪器自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能。大大提高了在电感值（特别是小电感值）测量时的精度。此技术只有北京航天纵横仪器生产的Q表有。9、新增功能：大电容值直接测量显示功能，电容值直接测量值可达25nF（配100uH电感时）。大电容值测量一个按键搞定。此技术只有北京航天纵横检测仪器生产的Q表有。四、工作环境：1、环境温度：0℃～+40℃；2、相对湿度：80％；3、电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。五、配置清单：主机一台电感九只夹具一套液体杯一个电源线一根数据线一根说明书一份合格证一份保修卡一张六、适用单位：可以用于科研机关，学校，例如一些科研院所，大专院校或计量测试部门的实验室需要用介电常数仪对绝缘材料的介质损耗角正切tanδ及介电常数进行测试；北京航天纵横检测仪器同时也适用于工厂或单位，例如一些工厂对无机非金属新材料性能的应用进行研究，另外在电力、电工、化工等领域，如：电厂、电业局实验所、变压器厂、电容器厂、绝缘材料厂、炼油厂等单位对固体及液体绝缘材料的介质损耗和相对介电常数ε的质量检测等等。七、试验步骤：1、按照Q表的操作规程调整仪器，选定测量频率，测定C1和Q1的值。2、将试样放入测试电极中，并调节电容器C，使电路谐振，达到最大Q值记下调谐电容量C2和Q2的值。3、将试样从测试电极中取出，调节C或测试电极的距离，使电路重新谐振，记下C、或测试电极的校正电容值与Q值，北京航天纵横检测仪器并根据测试值计算出损耗角tanδ与介电常数ε。4、其他高频测试仪器按其说明书进行操作，北京航天纵横检测仪器通过测试值计算出损耗角tanδ和介电常数ε。八、试验条件：1、试样表面应清洁、平滑，无裂纹、气泡和杂质等，试样表面应用蘸有无水乙醇的布擦洗。2、试样应在标准实验室温度及湿度下至少调节24h。3、当试样处理有特殊要求时，可按其产品标准规定的进行。九、测试意义：1、介电常数——北京航天纵横检测仪器绝缘材料通常以两种不同方式来使用，即（1）用于固定电学网络部件，同时让其彼此以及与地面绝缘；（2）用于起到某一电容器的电介质作用。在第一种应用中，通常要求固定的电容尽可能小，同时具有可接受且一致的机械，化学和耐热性能。因此要求电容率具有一个低值。在第二种应用中，要求电容率具有一个高值，以使得电容器能够在外型上能尽可能小。有时使用电容率的中间值来评估在导体边缘或末端的应力，以将交流电晕降至最小。2、交流损耗——对于这两种场合（作为电学绝缘材料和作为电容器电介质），交流损耗通常必须是比较小的，以减小材料的加热，同时将其对网络剩余部分的影响降至最小。在高频率应用场合，特别要求损耗指数具有一个低值，因为对于某一给定的损耗指数，电介质损耗直接随着频率而增大。在某些电介质结构中，例如试验用终止衬套和电缆所用的电介质，通常电导增加可获得损耗增大，这有时引入其来控制电压梯度。在比较具有近似相同电容率的材料时或者在材料电容率基本保持恒定的条件下使用任何材料时，这可能有助于考虑耗散因子，功率因子，相位角或损耗角。3、相关性——北京航天纵横检测仪器当获得适当的相关性数据时，耗散因子或功率因子有助于显示某一材料在其它方面的特征，例如电介质击穿，湿分含量，固化程度和任何原因导致的破坏。然而，由于热老化导致的破坏将不会影响耗散因子，除非材料随后暴露在湿分中。当耗散因子的初始值非常重要的，耗散因子随着老化发生的变化通常是及其显著的。十、典型用户：沧州大化集团中国计量大学河南平煤神马聚碳材料有限责任公司温州市鹿城区科学技术局东莞初创应用材料有限公司北京航空航天大学中国科学技术大学惠州市杜科新材料有限公司宁波东烁新材料科技有限公司云南能投硅材科技发展有限公司天津科技大学十一、相关产品：ZJC-50kV电压击穿试验仪ZST-212体积表面电阻率测试仪ZJD-C介电常数介质损耗测试仪ZDH-20KV耐电弧试验仪LDQ-5漏电起痕试验仪XRW-300HB热变形维卡温度测定仪XNR-400H熔体流动速率测定仪JF-6氧指数测定仪CZF-5水平垂直燃烧试验机WDW-50KN材料电子拉力试验机一、介质损耗的基本概念1.介质损耗电介质在电场作用下(加电压后)，要发生极化过程和电导过程。有损极化过程有能量损耗；电导过程中，电学性泄漏电流流过绝缘电阻当然也有能量损耗。损耗程度一般用单位时间内损耗的能量，即损耗功率表示。这种电介质出现功率损耗的过程称为介质损耗。显然，介质损耗过程随极化过程和电导过程同时进行。介质损耗掉的能量(电能)变成了热能，使电介质温度升高。若介质损耗过大，则电介质温度将升得过高，这将加速电介质的热分解与老化，最终可能导致绝缘性能的完全失去，所以研究介质损耗有十分重要的意义。2.介质损耗的基本形式(1)电导损耗。电导损耗为电场作用下由泄漏电流引起的那部分损耗。泄漏电流与电场频率无关，故这部分损耗在直流交流下都存在。气体电介质以及绝缘良好的液、固体电介质，电导损耗都不大。液、固体电介质的电导损耗随温度升高而按指数规律增大。(2)极化损耗。极化损耗为偶极子与空间电荷极化引起的损耗。在直流电压作用下，由于极化过程仅在电压施加后很短时间内存在，与电导损耗相比可忽路。而在交流电压作用下，由于电介质随交流电压极性的周期性改变而作周期性的正向极化和反向极化，极化始终存在于整个加压过程之中。极化损耗在频率不太高时随频率升高而增大。但频率过高时，极化过程反而减弱，损耗减小。极化损耗与温度也有关，在某一温度下极化损耗达最大。(3)游离损耗，游离损耗主要是指气体间隙的电晕放电以及液、固体介质内部气泡中局部放电所造成的损耗。这是因为放电时，产生带电粒子需要游离能，放电时出现光、声、热、化学效应也要消耗能量。游离能随电场强度的增大而增大。二、介质损失角正切tanδ由上可见，在直流电压作用下，介质损耗主要为电导损耗，因此，电导率γ或电阻率ρ既表示介质电导的特性，同时也表征了介质损耗的特性。但在交流电压作用下，三种形式的损耗都存在，为此需引入一个新的物理量来表征介质损耗的特性，这个物理量就是tanδ。1.并联等值电路及损耗功率的计算公式电介质两端施加一交流电压时，就有电流流过介质。有三个电流分量组成式中 ——电导过程的电流，为阻性电流，与同相位；——无损极化和有损极化时的电流。对应的等值电路如图2-9(a)所示，此等值电路可进一步简化成如图2-9(b)所示的由R和Cp相并联的等值电路。此并联等值电路的相量图如图2-9(c)所示。我们定义功率因数角θ的余角为δ角。由相量图可见，介质损耗功率越大，IR越大，δ角也越大，因此δ角称为介质损失角。对此并联等值电路，可写出介质损耗功率P的计算公式当然，图2-9(b)的电路也可以简化成由r和Cs相串联的等值电路，可以证明当tanδ 很小时， Cs≈C对于串联等值电路，同样可以推出损耗功率的计算公式2.tanδ值的意义从介质损耗功率P的计算公式看，我们若用P来表征介质损耗的程度是不方便的，因为P值与试验电压U的高低、试验电压的角频率ω(ω=2Πf)、电介质等值电容量Cp (或Cs)以及tanδ值有关。而若在试验电压、频率、电介质尺寸一定的情况下，那么介质损耗功率仅取决于 tanδ，换句话说，也就是tanδ是与电压、频率、绝缘尺寸无关的量，它仪取决于电介质的损耗特性。所以 tanδ是表征介质损耗程度的物理量，与εr、γ相当。这样,我们可以通过试验测量电介质的tanδ值，并以此来判断介质损耗的程度。各种结构固体电介质的tanδ如表2-2所示。表2-2 各种结构固体电介质的tanδ值(1MHz，20℃时)电介质结构名称tanδ分子结构非极性分子石 蜡 聚苯乙烯 聚四氟乙烯小于0.0002极性分子纤维素 有机玻璃0.01~0.015离子结构晶格结构紧密岩 盐 刚 玉小于0.0002 小于0.0002晶格结构不紧密多铝红柱石0.015晶格畸变的晶体锆英石0.02无定形结构硅酸铅玻璃 硅碱玻璃0.001 0.01不均匀结构　绝缘子瓷 浸渍纸绝缘0.01 0.01三、影响 tanδ 的因素影响tanδ 值的因素主要有温度、频率和电压。1.温度对tanδ值的影响随电介质分子结构的不同有显著的差异中性或弱极性介质的损耗主要由电导引起，故温度对tanδ的影响与温度对电导的影响相似，即tanδ随温度的升高而按指数规律增大，且tanδ较小。极性介质中，极化损耗不能忽略，tanδ值与温度的关系如图2-10所示。当温度在t1时，由于温度较低，电导损耗与极化损耗都小，电导损耗随温度升高而略有增大，而极化损耗随温度升高也增大(黏滞性减小，偶极子转向容易)，所以tanδ随温度升高而增大。当温度在t1＜t＜t2时，温度已不太低，此时分子的热运动反而妨碍偶极子沿电场方向作有规则的排列，极化损耗随温度升高而降低，而且降低的程度又要超过电导损耗随温度升高的程度，因此tanδ随温度升高而减小。当温度在t＞t2时，温度已很高，电导损耗已占主导地位，tanδ又随温度升高而增大。2.频率对tanδ的影响主要体现于频率对极化损耗的影响tanδ与频率的关系如图2-11所示。在频率不太高的一定范围内，随频率的升高，偶极子往复转向频率加快，极化程度加强，介质损耗增大，tanδ值增大。当频率超过某一数值后，由于偶极子质量的惯性及相互间的摩擦作用，来不及随电压极性的改变而转向，极化作用减弱，极化损耗下降，tanδ值降低。3.电压对tanδ的影响主要表现为电场强度对tanδ值的影响在电场强度不很高的一定范围内，电场强度增大(由于电压升高)，介质损耗功率变大，但tanδ几乎不变。当电场强度达到某一较高数值时，随着介质内部不可避免存在的弱点或气泡发生局部放电，tanδ随电场强度升高而迅速增大。因此，在较高电压下测tanδ值，可以检查出介质中夹杂的气隙、分层、龟裂等缺陷来。此外，湿度对暴露于空气中电介质的tanδ影响也很大。介质受潮后，电导损耗增大，tanδ也增大，例如绝缘纸中水分含量从4%增加到10%，tanδ值可增大100倍。然而，假如tanδ值的测试是在温度低于0～5℃时进行，含水量增加tanδ反而不会增大，这是因为此时介质中的水分已凝结成冰，导电性又变差，电导损耗变小的缘故。为此，在进行绝缘试验时规定被试品温度不低于+5℃，这对tanδ的测试尤为重要，在工程实际中，通过tanδ以及tanδ=f(u)曲线的测量及判断，对监督绝缘的工作状况以及老化的进程有非常重要的意义。

概述：ZJD-B介质损耗因数测试仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机控制仪器，测量核心采用了频率数字锁定、标准频率测试点自动设定、谐振点自动搜索、Q值量程自动转换、数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至0低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量时更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。 ZJD-B介质损耗因数测试仪是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据。适用领域： ZJD-B介质损耗因数测试仪器可以用于科研机关，学校，例如一些科研院所，大专院校或计量测试部门的实验室需要用介电常数测试仪对绝缘材料的介电常数进行测试；同时也适用于工厂或单位，例如一些工厂对无机非金属新材料性能的应用进行研究，另外在电力、电工、化工等领域，如：电厂、电业局实验所、变压器厂、电容器厂、绝缘材料厂、炼油厂等单位对固体及液体绝缘材料的介质损耗和相对介电常数ε的质量检测等等。技术参数：信号源频率范围：DDS数字合成 10KHz-70MHzQ测量范围：1-1000自动/手动量程信号源频率覆盖比：6000:1Q分辨率： 4位有效数,分辨率0.1信号源频率精度：3×10-5 ±1个字,6位有效数Q测量工作误差：5%电感测量范围：15nH-8.4H,4位有效数,分辨率0.1nH调谐电容：主电容30-500PF电感测量误差：5%调谐电容误差和分辨率：±1.5P或1%标准测量频点：全波段任意频率下均可测试Q合格预置范围：5-1000声光提示谐振点搜索：自动扫描Q量程切换：自动/手动谐振指针：LCD显示LCD显示参数：F,L,C,Q,波段等夹具工作特性1.平板电容器：极片尺寸：Φ50mm/Φ38mm可选极片间距可调范围：≥15mm2. 夹具插头间距：25mm±0.01mm3. 夹具损耗正切值：≤4×10－4 （1MHz）4．测微杆分辨率：0.001mm介电常数与耗散因数间的关系 介电常数又称电容率或相对电容率， 是表征电介质或绝缘材料电 性能的一个重要数据，常用 ε 表示。 介质在外加电场时会产生感应 电荷而削弱电场，原外加电场(真空中)与最终介质中电场比值即为介 电常数。其表示电介质在电场中贮存静电能的相对能力， 例如一个电 容板中充入介电常数为 ε 的物质后可使其电容变大 ε 倍。介电常数愈 小绝缘性愈好。如果有高介电常数的材料放在电场中， 场的强度会在 电介质内有可观的下降。介电常数还用来表示介质的极化程度， 宏观 的介电常数的大小， 反应了微观的极化现象的强弱。气体电介质的极 化现象比较弱，各种气体的相对介电常数都接近1 ，液体、固体的介 电常数则各不相同，而且介电常数还与温度、电源频率有关有些物质介电常数具有复数形式， 其实部即为介电常数， 虚数部 分常称为耗散因数。通常将耗散因数与介电常数之比称作耗散角正切， 其可表示材料 与微波的耦合能力， 耗散角正切值越大， 材料与微波的耦合能力就越 强。例如当电磁波穿过电解质时，波的速度被减小，波长也变短了。介质损耗是指置于交流电场中的介质， 以内部发热的形式表现出 来的能量损耗。介质损耗角是指对介质施加交流电压时， 介质内部流 过的电流相量与电压向量之间的夹角的余角。介质损耗角正切是对电 介质施加正弦波电压时， 外施电压与相同频率的电流之间相角的余角 δ 的正切值--tg δ. 其物理意义是：每个周期内介质损耗的能量//每个周期内介质存储的能量。介电损耗角正切常用来表征介质的介电损耗。介电损耗是指电 介质在交变电场中, 由于消耗部分电能而使电介质本身发热的现象。 原因是电介质中含有能导电的载流子,在外加电场作用下,产生导电电 流,消耗掉一部分电能,转为热能。任何电介质在电场作用下都有能量损耗，包括由电导引起的损耗和由某些极化过程引起的损耗。用 tg δ作为综合反应介质损耗特性优劣的指标， 其是一个仅仅取 决于材料本身的损耗特征而与其他因素无关的物理量， tgδ的增大意 味着介质绝缘性能变差， 实践中通常通过测量 tgδ来判断设备绝缘性 能的好坏。由于介电损耗的作用电解质在交变电场作用下将长生热量， 这些 热会使电介质升温并可能引起热击穿， 因此， 在绝缘技术中， 特别是 当绝缘材料用于高电场强度或高频的场合，应尽量采用介质损耗因 数， 即电介质损耗角正切 tgδ较低的材料。但是， 电介质损耗也可用 作一种电加热手段，即利用高频电场（一般为0.3--300兆赫兹）对介 电常数大的材料（如木材、纸张、陶瓷等） 进行加热。这种加热由于 热量产生在介质内部， 比外部加热速度更快、热效率更高， 而且热均 匀。频率高于300兆赫时，达到微波波段，即为微波加热（家用微波 炉即据此原理）。在绝缘设计时， 必须注意材料的 tgδ值。若 tgδ过大则会引起严 重发热，使绝缘材料加速老化，甚至导致热击穿。一下例举一些材料的 ε 值：石英-----3.8绝缘陶瓷-----6.0纸------70有机玻璃------2.63 PE-------2.3PVC--------3.8高分子材料的 ε 由主链中的键的性能和排列决定分子结构极性越强， ε 和 tg δ越大。非极性材料的极化程度较小， ε 和 tg δ都较小。当电介质用在不同场合时对介电常数与耗散因素的大小有不同 的要求。做电容介质时 ε 大、 tg δ小；对航空航天材料而言， ε 要小 tg δ要大。另外要注意材料的极性越强受湿度的影响越明显。主要原因是高 湿的作用使水分子扩散到高分子的分子之间， 使其极性增强； 同时潮 湿的空气作用于塑料表面， 几乎在几分钟内就使介质的表面形成一层 水膜， 它具有离子性质， 能增加表面电导， 因此使材料的介电常数和 介质损耗角正切 tgδ都随之增大。故在具体应用时应注意电介质的周 围环境。电介质在现代生活中经常被用到， 而介电常数与耗散因素是电介 质的两个重要参数， 根据不同的要求， 应当选用具有不用介电常数与 耗散因数的材料， 以达到最佳的效果。同时还应当注意外界因素对介 电常数与耗散因数的影响。

介电常数和介质损耗有什么区别 介电特性是电介质材料极其重要的性质。在实际应用中，电介质材料的介电系数和介质损耗是非常重要的参数。例如，制造电容器的材料要求介电系数尽量大，而介质损耗尽量小。相反地，制造仪表绝缘器件的材料则要求介电系数和介质损耗都尽量小。而在某些特殊情况下，则要求材料的介质损耗较大。所以，通过测定介电常数（ε)及介质损耗角正切（tgδ),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据1、介电常数（ε):某一电介质（如硅酸盐、高分子材料）组成的电容器在一定电压作用下所得到的电容量Cx与同样大小的介质为真空的电容器的电容量Co之比值，被称为该电介质材料的相对介电常数ε=Cx/Co式中：Cx一电容器两极板充满介质时的电容Co一电容器两极板为真空时的电容ε一电容器两极板为真空时的电容电容量增加的倍数，即相对介电常数 介电常数的大小表示该介质中空间电荷互相作用减弱的程度。作为高频绝缘材料，要小，特别是用于高压绝缘时。在制造高电容器时，则要求要大，特别是小型电容器。 在绝缘技术中，特别是选择绝缘材料或介质贮能材料时，都需要考虑电介质的介电常数。此外，由于介电常数取決于极化，而极化又取决于电介质的分子结构和分子运动的形式。所以，通过介电常数随电场强度、频率和温度变化规律的研究，还可以推断绝缘材料的分子结构。2、介电损耗（tgδ):指电介质材料在外电场作用下发热而损耗的那部分能量。在直流电场作用下，介质没有周期性损耗，基本上是稳态电流造成的损耗在交流电场作用下，介质损耗除了稳态电流损耗外，还有各种交流损耗。由于电场的频繁转向，电介质中的损耗要比直流电场作用时大许多（有时达到几千倍），因此介质损耗通常是指交流损耗。 在工程中，常将介电损耗用介质损耗角正切tgδ来表示。tgδ是绝缘体的无效消耗的能量对有效输入的比例，它表示材料在一周期内热功率损耗与贮存之比，是衠量材料损耗程度的物理量tgδ=1/ωRC 式中：ω一电源角频率；R一并联等效交流电阻；C 一并联等效交流电容器 凡是体积电阻率小的，其介电损耗就大。介质损耗对于用在高压装置高频设备，特别是用在高压、高频等地方的材料和器件具有特别重要的意义，介质损耗过大，不仅降低整机的性能，甚至会造成绝缘材料的热击穿3、Q值：tgδ的倒数称为品质因素，或称Q值。Q值大，介电损失小，说明品质好。所以在选用电介质前，必须先测定它们的和tgδ.而这两者的测定是分不开的。通常测量材料介电常数和介质损耗角正切的方法有二种：交流电桥法和Q表测量法，其中Q表测量法在测量时由于操作与计算比较简便而广泛采用。北京中航鼎力设备科技有限公司 可选 介电常数和介质损耗测试仪LJD-A型介电常数及介质损耗测试仪 10kHz～70MHz LJD-B型介电常数及介质损耗测试仪 10kHz～110MHz LJD-C型介电常数及介质损耗测试仪 100kHz～160MHz

液体介电常数介质损耗测试仪 HRJD- A电介质经常是绝缘体。其例子包括瓷器(陶器)，云母，玻璃，塑料，和各种金属氧化物。有些液体和气体可以作为好的电介质材料。干空气是良好的电介质，并被用在可变电容器以及某些类型的传输线。蒸馏水如果保持没有杂质的话是好的电介质，其相对介电常数约为80。术语和定义下列术语和定义适用于本标准。液体介电常数介质损耗测试仪 HRJD- A相对电容率relative permittivityε r电容器的电极之间及电极周围的空间全部充以绝缘材料时，其电容Cx与同样电极构形的真空电容Co之比； ……………………………（1）式中；εr——相对电容率 Cx——充有绝缘材料时电容器的电极电容；Co——真空中电容器的电极电容。在标准大气压下，不含二氧化碳的干燥空气的相对电容率ε r等于1.00053，因此，用这种电极构形在空气中的电容Cx来代替Co测量相对电容率εr时，也有足够的度。在一个测量系统中，绝缘材料的电容率是在该系统中绝缘材料的相对电容率εr与真空电气常数εr的乘积。在SI制中，电容率用法/米（F/m）表示。而且，在SI单位中，电气常数εr，为： ……………………………（2）在本标准中，用皮法和厘米来计算电容，真空电气常数为:ε0=0.088 54 pF/cm液体介电常数介质损耗测试仪 HRJD- A介质损耗角dielectric loss angleδ由绝缘材料作为介质的电容器上所施加的电压与由此而产生的电流之间的相位差的余角。液体介电常数介质损耗测试仪 HRJD- A介质损耗因数1） dielectric dissipation factortanδ损耗角δ的正切。液体介电常数介质损耗测试仪 HRJD- A[介质]损耗指数 [dielectric] loss indexε''r该材料的损耗因数tanδ与相对电容率εr的乘积。复相对电容率 complex relative permittivityεr由相对电容率和损耗指数结合而得到的：式中：εr——复相对电容率；ε''r——损耗指数；ε'r、εr——相对电容率；tanδ——介质损耗因数。注：有损耗的电容器在任何给定的频率下能用电容Cs和电阻Rs的串联电路表示，或用电容CP和电阻RP（或电导CP）并联电路表示。 并联等值电路 串联等值电路 式中：Cs——串联电容；Rs——串联电阻； 1）有些国家用“损耗角正切”来表示“介质损耗因数”，因为损耗的测量结果是用损耗角的正切来报告的。CP——并联电容；RP——并联电阻。虽然以并联电路表示一个具有介质损耗的绝缘材料通常是合适的，但在单一频率下，有时也需要以电容Cs和电阻Rs的串联电路来表示。串联元件与并联元件之间，成立下列关系： 式（9）、（10）、（11）中：Cs、Rs、CP、RP、tanδ同式（7）、（8）。无论串联表示法还是并联表示法，其介质损耗因数tanδ是相等的。假如测量电路依据串联元件来产生结果，且tanδ太大而在式（9）中不能被忽略，则在计算电容率前必须先计算并联电容。本标准中的计算和测量是根据电流（ω=πf）正弦波形作出的。 电气绝缘材料的性能和用途电介质的用途电介质一般被用在两个不同的方面：用作电气回路元件的支撑，并且使元件对地绝缘及元件之间相互绝缘；用作电容器介质。影响介电性能的因素下面分别讨论频率、温度、湿度和电气强度对介电性能的影响。频率因为只有少数材料如石英玻璃、聚苯乙烯或聚乙烯在很宽的频率范围内它们的εr和tanδ几乎是恒定的，且被用作工程电介质材料，然而一般的电介质材料必须在所使用的频率下测量其介质损耗因数和电容率。电容率和介质损耗因数的变化是由于介质极化和电导而产生，重要的变化是极性分子引起的偶极子极化和材料的不均匀性导致的界面极化所引起的。温度损耗指数在一个频率下可以出现一个大值，这个频率值与电介质材料的温度有关。介质损耗因数和电容率的温度系数可以是正的或负的，这取决于在测量温度下的介质损耗指数大值位置。湿度极化的程度随水分的吸收量或电介质材料表面水膜的形成而增加，其结果使电容率、介质损耗因数和直流电导率增大。因此试验前和试验时对环境湿度进行控制是*的。注：湿度的显著影响常常发生在1MHz以下及微波频率范围内。电场强度存在界面极化时，自由离子的数目随电场强度增大而增加，其损耗指数大值的大小和位置也随此而变。在较高的频率下，只要电介质中不出现局部放电，电容率和介质损耗因数与电场强度无关。

控制方式：微机控制一、绝缘材料电气强度试验机，适用范围及功能绝缘材料电气强度试验机, 主要适用于固体绝缘材料（如：塑料、橡胶、薄膜、树脂、云母、陶瓷、玻璃、绝缘漆等介质）在工频电压或直流电压下击穿强度和耐电压的测试。绝缘材料电气强度试验仪,由电脑控制，通过我公司自主研发的全新智能数字集成电路系统与软件控制系统两部分来完成，使升压速率真正做到匀速、准确，并能够准确测出漏电电流的数据。二、满足标和美标等要求GB1408-2006 绝缘材料电气强度试验方法GB/T1695-2005 硫化橡胶工频电压击穿强度和耐电压强度试验GB/T3333 电缆纸工频电压击穿试验方法G/T 3330绝缘漆漆膜击穿强度测定法GB12656 电容器纸工频电压击穿试验方法ASTM D149 固体电绝缘材料在工业电源频率下的介电击穿电压和介电强度的试验方法.三、绝缘材料电气强度试验仪，技术要求：01、输入电压： 交流 220 V02、输出电压： 交流 0--50 KV 直流 0—50 KV03、电器容量： 3KVA04、高压分级：0--50KV，05、升压速率： 100V/S 200V/S 500 V/S 1000 V/S 2000V/S 3000V/S 等（备注：满足标准要求并可以根据用户需求设定不同的升压速率）06、试验方式：直流试验：1、匀速升压 2、梯度升压 3、耐压试验交流试验：1、匀速升压 2、梯度升压 3、耐压试验07、试验介质：空气，试验油08、安装灵敏度较高的过电流保护装置保证试样击穿时在0.05S内切断电源。09、采用智能集成电路进行匀速升压。10、支持短时间内短路试验要求。11、电压试验精度： ≤ 1％。12、试验电压连续可调： 0--50KV。四、 安全保护绝缘材料电气强度试验机，电路保护控制：（1）超压保护 （2）过流保护 （3）短路保护（4）漏电保护 （5）软件误操作保护高压输入回路断电保护控制：(1)总电源开关 (2)调压器复位开关 (3)高压断电开关 (4)试验箱门安全开关 (5)高压回路开关 (6)漏电保护开关在介电强度试验是电气安全测试标准所要求的第三次试验。的介电强度试验在于测量装置的被测电流泄漏，而相位和中性被短路在一起。介电强度测试的测量结果是电流值，其必须低于国际标准的指示极限。然后使用介电强度测试仪（也称为高压测试仪，介电强度测试仪，闪光测试仪，高压测试仪）来测量该电流。介电强度测试电压它在AC或DC中执行，电压从几百伏到几十千伏不等。测试电压的性质和价值的选择由适用于测试产品的标准确定。在没有标准的情况下，使用以下经验法则：测试总是在与样品操作的电压相同的电压下进行。示例：直接用于电池。交替变压器。z大值由下式给出：U test = 2 x U操作+1000 V.因此，洗衣熨斗制造商将在电压下执行测试：Utest = 2x230VAC + 1000VAC= 1460 VAC。可以使介电强度测试具有破坏性或非破坏性。破坏性测试某些标准化测试要求对应用介电强度测试的样品施加高功率源。这需要通过绝缘材料的碳化来破坏所测试的设备。这些测试首先用于测试电力或中高功率电子技术（断路器，开关，变压器，绝缘体等）中使用的元件或设备。泄漏电流随测试电压变化的演变在该区域中，高压测试仪进化z多，并且在测量的准确性和为用户提供的可能性的数量方面获得越来越高的性能。非破坏性测试的特点是使用低功率介电强度测试仪，其短路电流不超过几毫安，其检测系统准确，快速，可在击穿时立即抑制测试电压。在大多数情况下，这种快速消失与电流限制相结合，避免了在绝缘体中产生不可修复的穿孔以及在电介质表面或内部沉积碳酸化残余物形成沟槽或缺陷。制造过程中对部件或设备的系统测试使得在测试样品时必须使用这种非破坏性条件。检测介电强度击穿因此，必须将击穿电压的精确确定附加到电介质击穿现象的电特性值的测量上。该参数是流过经受电介质的样品的电流。测量仪器实际上有两种检测模式：- 电流阈值检测，- 电流变化检测。当前的阈值检测当测试电压施加到样品时，您会观察到 - 后者的某个值 - 泄漏电流的成比例增加 该电流是由于所测试项目的绝缘电阻和/或电容（使用AC，或通过DC中的负载效应）。如图1所示，从电压Uc开始，漏电流非常迅速地增加，并且达到值Ue的击穿电压。然后电流达到z大值，其值由介电强度测试站的电流电容确定，或者 - 瞬时值 - 由样品的电容元件的放电电流决定（不能通过介电强度测试的值）测试仪，在某些情况下可能涉及绝缘体的破坏）。电流阈值检测在于选择泄漏电流的值Is，其对应于与Ur非常相似的电压Us，并且将漏电流超过值的任何样本视为差，将其选择为检测阈值。阈值电流z普遍的值，通常用于非破坏性测试，为1mA。尽管使用这种检测方法并选择该值对于纯电阻元件（Ic约为10微安）的直流测试没有任何困难，但是对于电容元件的AC测试使用它变得不准确和精细。当前的变化检测简化的测试循环这种检测方式消除了以前方法的缺陷 故障现象的实际性质证明了这一点。通过观察击穿现象，通过示波器方法，可以断言它们的特征在于测试电路中电流的非常急剧的变化 后者包括介电强度测试站和测试样品（图2）。故障总是先于局部放电现象，我们将进一步分析。击穿电流本身通常具有极其陡峭的正向边缘脉冲的形式，持续约1微秒或甚至更短，并且其峰值受到测试台和被测样品的组合特性的限制。如图3所示，放电脉冲实际上没有稳定的水平和伪指数负向边缘，其时间常数是可变的（它取决于击穿时电介质中的能量转移）。使用仅考虑泄漏电流的快速变化的检测器可以消除由于流过样品的Y久电流（元件的阻抗）引起的误差的原因。ΔIr= 1mA变化是z近用于表征击穿的值。它必须与探测器的响应时间相关联。响应时间对于确定击穿电压非常重要。实际上，过快检测（小于1微秒）将使装置对击穿之前的局部放电现象敏感。作为回报，慢速检测（超过几十微秒）会使设备对某些故障不敏感，这些故障的能量（产生ΔIf2.Δt）足以具有破坏性，但其持续时间太短而无法考虑通过探测器。然而，探测器的响应时间应该非常短，以避免某些绝缘体上的微碳化现象或其他绝缘体的明确破坏。

聚合物绝缘材料介质损耗测试仪作为新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前国内高的160MHz。 聚合物绝缘材料介质损耗测试仪技术参数：1．Q值测量a．Q值测量范围：2～1023。b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。c．标称误差 频率范围（100kHz～10MHz）： 频率范围（10MHz～160MHz）： 固有误差：≤5％±满度值的2% 固有误差：≤6％±满度值的2% 工作误差：≤7％±满度值的2% 工作误差：≤8％±满度值的2%2．电感测量范围：4.5nH~7.9mH3．电容测量：1~205 主电容调节范围：18～220pF 准确度：150pF以下±1.5pF； 150pF以上±1% 注：大于直接测量范围的电容测量见后页使用说明4. 信号源频率覆盖范围 频率范围CH1:0.1～0.999999MHz, CH2: 1～9.99999MHz, CH3:10～99.9999MHz, CH1 :100～160MHz,5．Q合格指示预置功能: 预置范围：5～1000。6．B-测试仪正常工作条件a. 环境温度：0℃～+40℃；b．相对湿度：80％；c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。7．其他a．消耗功率：约25W；b．净重：约7kg；c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。高频/音频介电常数测试仪GDAT-A测试注意事项a．本仪器应水平安放；b．如果你需要较精确地测量，请接通电源后，预热30分钟；c．调节主调电容或主调电容数码开关时，当接近谐振点时请缓调；d．被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短，足够粗，并应接触良好、可靠，以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差；e．被测件不要直接搁在面板顶部，离顶部一公分以上，必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫；f．手不得靠近试件，以免人体感应影响造成测量误差，有屏蔽的试件，屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。影响介电性能的因素 下面分别讨论频率、温度、湿度和电气强度对介电性能的影响。1频率 因为只有少数材料如石英玻璃、聚苯乙烯或聚乙烯在很宽的频率范围内它们的 。r和 tans几乎是恒定的，且被用作工程电介质材料，然而一般的电介质材料必须在所使用的频率下测量其介质损耗因数和电容率。 电容率和介质损耗因数的变化是由于介质极化和电导而产生，重要的变化是极性分子引起的偶极子极化和材料的不均匀性导致的界面极化所引起的.2温度 损耗指数在一个频率下可以出现一个大值，这个频率值与电介质材料的温度有关。介质损耗因数和电容率的温度系数可以是正的或负的，这取决于在测量温度下的介质损耗指数大值位置。3湿度 极化的程度随水分的吸收量或电介质材料表面水膜的形成而增加，其结果使电容率、介质损耗因数和直流电导率增大。因此试验前和试验时对环境湿度进行控制是必不可少的. 注:湿度的显著影响常常发生在 1MHz以下及微波频率范围内4电场强度 存在界面极化时，自由离子的数目随电场强度增大而增加，其损耗指数大值的大小和位置也随此而变。 在较高的频率下，只要电介质中不出现局部放电，电容率和介质损耗因数与电场强度无关测量方法的选择： 高频/音频介电常数测试仪GDAT-A测量电容率和介质损耗因数的方法可分成两种:零点指示法和谐振法。1 零点指示法适用于频率不超过50 MHz时的测量。测量电容率和介质损耗因数可用替代法 也就是在接人试样和不接试样两种状态下，调节回路的一个臂使电桥平衡。通常回路采用西林电桥、变压器电桥(也就是互感藕合比例臂电桥)和并联 T型网络。变压器电桥的优点:采用保护电极不需任何外加附件或过多操作，就可采用保护电极 它没有其他网络的缺点。2 谐振法适用于10 kHz一几百MHz的频率范围内的测量。该方法为替代法测量，常用的是变电抗法。但该方法不适合采用保护电极。 注:典型的电桥和电路示例见附录。附录中所举的例子自然是不全面的，叙述电桥和侧量方法报导见有关文献和该种仪器的原理说明书。试验报告 试验报告中应给出下列相关内容: 绝缘材料的型号名称及种类、供货形式、取样方法、试样的形状及尺寸和取样 日期(并注明试样厚度和试样在与电极接触的表面进行处理的情况) 试样条件处理的方法和处理时间 电极装置类型，若有加在试样上的电极应注明其类型 测量仪器 试验时的温度和相对湿度以及试样的温度 施加的电压 施加的频率 相对电容率ε(平均值) 介质损耗因数 tans(平均值) 试验 日期 相对电容率和介质损耗因数值以及由它们计算得到的值如损耗指数和损耗角，必要时，应给出与温度和频率的关系。特点： ◎ 本公司创新的自动Q值保持技术，使测Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005 。◎ 能对固体绝缘材料在10kHz～120MHz介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。◎ 调谐回路残余电感值低至8nH，保证100MHz的(tanδ)和(ε)的误差较小。◎ 特制LCD屏菜单式显示多参数：Q值，测试频率，调谐状态等。◎ Q值量程自动/手动量程控制。◎ DPLL合成发生1kHz～60MHz, 50kHz～160MHz测试信号。独立信号 源输出口，所以本机又是一台合成信号源。◎ 测试装置符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。介质损耗：绝缘材料在电场作用下，由于介质电导和介质极化的滞后效应，在其内部引起的能量损耗。也叫介质损失，简称介损。在交变电场作用下，电介质内流过的电流相量和电压相量之间的夹角（功率因数角Φ）的余角δ称为介质损耗角。损耗因子也指耗损正切，是交流电被转化为热能的介电损耗（耗散的能量）的量度，一般情况下都期望耗损因子低些好概念：电介质在外电场作用下，其内部会有发热现象，这说明有部分电能已转化为热能耗散掉，电介质在电场作用下，在单位时间内因发热而消耗的能量称为电介质的损耗功率，或简称介质损耗（diclectric loss）。介质损耗是应用于交流电场中电介质的重要品质指标之一。介质损耗不但消耗了电能，而且使元件发热影响其正常工作。如果介电损耗较大，甚至会引起介质的过热而绝缘破坏，所以从这种意义上讲，介质损耗越小越好。主要技术特性：介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε)，可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。使用方法高频Q表是多用途的阻抗测量仪器，为了提高测量精度，除了使Q表测试回路本身残余参量尽可能地小，使耦合回路的频响尽可能地好之外，还要掌握正确的测试方法和残余参数修正方法。1．测试注意事项a．本仪器应水平安放；b．如果你需要较精确地测量，请接通电源后，预热30分钟；c．调节主调电容或主调电容数码开关时，当接近谐振点时请缓调；d．被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短，足够粗，并应接触良好、可靠，以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差；e．被测件不要直接搁在面板顶部，离顶部一公分以上，必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫；f．手不得靠近试件，以免人体感应影响造成测量误差，有屏蔽的试件，屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。2．高频线圈的Q值测量（基本测量法）介电常数介质损耗测试仪 VFD显示 采用新颖的大屏幕VFD点阵显示器，在严冬和盛夏都能清晰显示。全中文操作菜单，操作提示各种警告信息，直观明了，不需查阅说明书即可操作。打印 仪器附有微型打印机，以中文方式打印输出测量结果及状态。RS232 仪器具有RS232接口，与计算机连接便于数据的统计和处理及保存。可选购与计算机通信应用程序。硫化橡胶介电常数介质损耗测试仪 电介质的用途 电介质一般被用在两个不同的方面:用作电气回路元件的支撑，并且使元件对地绝缘及元件之间相互绝缘 用作电容器介质。 低频电桥 一般为高压电桥，这不仅是由于灵敏度的缘故，也因为在低频下正是高电压技术特别对电介质损耗关注的问题。电容臂和测量臂两者的阻抗大小在数量级上相差很多，结果，绝大部分电压都施加在电容Cx和 C}上，使电压分配不平衡 上面给出的电桥平衡条件只是当低压元件对高压元件屏蔽时才成立。同时，屏蔽必须接地，以保证平衡稳定。如图A. 2所示。屏蔽与使用被保护的电容 C、和 C、是一致的，这个保护对于Ch来说是必不可少的。 由于选择不同的接地方法，实际上形成了两类电桥。电极系统 1 加到试样上的电极 电极可选用 5.1.3中任意一种。如果不用保护环。而且试样上下的两个电极难以对齐时，其中一个电极应比另一个电极大些。已经加有电极的试样应放置在两个金属电极之间，这两个金属电极要比试样上的电极稍小些。对于平板形和圆柱形这两种不同电极结构的电容计算公式以及边缘电容近似计算的经验公式由表1给出. 对于介质损耗因数的测量，这种类型的电极在高频下不能满足要求，除非试样的表面和金属板都非常平整。图 1所示的电极系统也要求试样厚度均匀2 试样上不加电极 表面电导率很低的试样可以不加电极而将试样插人电极系统中测量，在这个电极系统中，试样的一侧或两侧有一个充满空气或液体的间隙。 平板电极或圆柱形电极结构的电容计算公式由表 3给出。 下面两种型式的电极装置特别合适2.1 空气填充测微计电极 当试样插人和不插人时，电容都能调节到同一个值 ，不需进行测量系统的电气校正就能测定电容率。电极系统中可包括保护电极.2.2 流体排出法 在电容率近似等于试样的电容率，而介质损耗因数可以忽略的一种液体内进行测量，这种测量与试样厚度测量的精度关系不大。当相继采用两种流体时，试样厚度和电极系统的尺寸可以从计算公式中消去 试样为与试验池电极直径相同的圆片，或对测微计电极来说，试样可以比电极小到足以使边缘效应忽略不计 在测微计电极中，为了忽略边缘效应，试样直径约比测微计电极直径小两倍的试样厚度。 原始包装：请保留所有的原始包装材料，如果机器必须回厂维修，请用原来的包装材料包装。并请先与制造厂的维修中心联络。送修时，请务必将全部的附件一起送回，请注明故障现象和原因。另外，请在包装上注明“易碎品”请小心搬运。安全注意事项：开机之前，敬请仔细阅读本 使用指南，以防止出现对操作人员的意外伤害或对仪器的损坏等的事件。操作前，请阅读“安装与设置”，保证对仪器各部件的正确安装与连接。在*次操作前，务必请有操作经验的人员进行指导，防止误操作造成意外事件的发生。电击危险： 确保在安装或维修该仪器之前使所有导线断电，防止在带电情况下，对人员或设备造成伤害。注意事项: 1、该仪器初始的包装材料需小心保存，安装需由本公司的专业技术人员进行操作。2、若仪器由于任何原因必须返修，必须将其装入原纸箱中以防运输途中损坏。3、在开机前，操作者要首先熟悉操作方法。电性能检测仪器：介电强度测试仪、体积表面电阻率测试仪、介电常数介质损耗测试仪、漏电起痕试验仪、耐电弧试验仪；塑料橡胶性能检测仪器：无转子硫化仪、门尼粘度试验机、热变形维卡温度测定仪、简支梁冲击试验机、毛细管流变仪、橡胶塑料滑动摩擦试验机物理性能检测仪器：氧指数测定仪、水平垂直燃烧试验机、熔体流动速率测定仪、低温脆性测试仪力学性能试验机：试验机北广其他检测海绵仪器：海绵泡沫压陷硬度测试仪、海绵泡沫落球回弹测试仪、海绵泡沫压缩变形试验仪另外我公司其他产品有：环境测试仪器、生物制药测试仪器、动物行为测试仪、环境监测试验仪

聚合物材料介电常数介质损耗测试仪宏观结构不均勾性的介质损耗工程介质材料大多数是不均匀介质。例如陶瓷材料就是如此，它通常包含有晶相、玻璃相和气相，各相在介质中是统计分布口。由于各相的介电性不同，有可能在两相间积聚了较多的自由电荷使介质的电场分布不均匀，造成局部有较高的电场强度而引起了较高的损耗。但作为电介质整体来看，整个电介质的介质损耗必然介于损耗大的一相和损耗小的一相之间。表征：电介质在恒定电场作用下，介质损耗的功率为　　W=U2/R=（Ed）2S/ρd=σE2Sd定义单位体积的介质损耗为介质损耗率为ω=σE2在交变电场作用下，电位移D与电场强度E均变为复数矢量，此时介电常数也变成复数，其虚部就表示了电介质中能量损耗的大小。D，E，J之间的相位关系图D，E，J之间的相位关系图聚合物材料介电常数介质损耗测试仪从电路观点来看，电介质中的电流密度为J=dD/dt=d（εE）/dt=Jτ+iJe式中Jτ与E同相位。称为有功电流密度，导致能量损耗；Je，相比较E超前90°，称为无功电流密度。定义tanδ=Jτ/Je=ε〞/εˊ式中，δ称为损耗角，tanδ称为损耗角正切值。损耗角正切表示为获得给定的存储电荷要消耗的能量的大小，是电介质作为绝缘材料使用时的重要评价参数。为了减少介质损耗，希望材料具有较小的介电常数和更小的损耗角正切。损耗因素的倒数Q=（tanδ）-1在高频绝缘应用条件下称为电介质的品质因素，希望它的值要高。工程材料：离子晶体的损耗，离子晶体的介质损耗与其结构的紧密程度有关。紧密结构的晶体离子都排列很有规则，键强度比较大，如α-Al2O3、镁橄榄石晶体等，在外电场作用下很难发生离子松弛极化，只有电子式和离子式的位移极化，所以无极化损耗，仅有的一点损耗是由漏导引起的（包括本质电导和少量杂质引起的杂质电导）。这类晶体的介质损耗功率与频率无关，损耗角正切随频率的升高而降低。因此，以这类晶体为主晶相的陶瓷往往用在高频场合。如刚玉瓷、滑石瓷、金红石瓷、镁橄榄石瓷等聚合物材料介电常数介质损耗测试仪陶瓷材料的介质损耗主要来源于电导损耗、松弛质点的极化损耗和结构损耗。此外，表面气孔吸附水分、油污及灰尘等造成的表面电导也会引起较大的损耗。在结构紧密的陶瓷中，介质损耗主要来源于玻璃相。为了改善某些陶瓷的工艺性能，往往在配方中引人此易熔物质（如黏土），形成玻璃相，这样就使损耗增大。如滑石瓷、尖晶石瓷随黏土含量增大，介质损耗也增大。因面一般高频瓷，如氧化铝瓷、金红石等很少含有玻璃相。大多数电陶瓷的离子松弛极化损耗较大，主要的原因是：主晶相结构松散，生成了缺固济体、多品型转变等。 [3]高分子材料的损耗高分子聚合物电介质按单体单元偶极矩的大小可分为极性和非极性两类。一般地，偶极矩在0~0.5D（德拜）范围内的是非极性高聚物；偶极矩在0.5D以上的是极性高聚物。非极性高聚物具有较低的介电常数和介质损耗，其介电常数约为2，介质损耗小于10-4；极性高聚物则具有较高的介电常数和介质损耗，并且极性愈大，这两个值愈高。高聚物的交联通常能阻碍极性基团的取向，因此热固性高聚物的介电常数和介质损耗均随交联度的提高而下降。酚醛树脂就是典型的例子，虽然这种高聚物的极性很强，但只要固化比较完全，它的介质损耗就不高。相反，支化使分子链间作用力减弱，分子链活动能力增强，介电常数和介质损耗均增大。高聚物的凝聚态结构及力学状态对介电性景响也很大。结品能抑制链段上偶极矩的取向极化，因此高聚物的介质损耗随结晶度升高而下降。当高聚物结晶度大于70%时，链段上的偶极的极化有时完全被抑制，介电性能可降至低值，同样的道理，非晶态高聚物在玻璃态下比在高弹态下具有更低的介质损耗。此外，高聚物中的增塑利、杂质等对介电性能也有很大景响。介质损耗（dielectric loss ）指的是绝缘材料在电场作用下，由于介质电导和介质极化的滞后效应，在其内部引起的能量损耗。也叫介质损失，简称介损。介质损耗因数（dielectric loss factor）指的是衡量介质损耗程度的参数。【依据标准】GB/T 16491、GB/T 1040、GB/T 8808、GB/T 13022、GB/T 2790、GB/T 2791、GB/T 2792、GB/T 16825、GB/T 17200、GB/T 3923.1、GB/T 528、GB/T 2611、GB/T 6344、GB/T 20310、GB/T 3690、GB/T 4944、GB/T 3686、GB/T 529、GB/T 6344、GB/T 10654、HG/T 2580、JC/T 777、QB/T 2171、HG/T 2538、CNS 11888、JIS K6854、PSTC-7、ISO 37、AS 1180.2、BS EN 1979、BSEN ISO 1421、BS EN ISO 1798、BS EN ISO 9163、DIN EN ISO 1798、GOST 18299、DIN 53357、ISO 2285、ISO 34-1、ISO 34-2、BS 903、BS 5131、DIN EN 12803、DIN EN 12995、DIN53507-A、DIN53339、ASTM D3574、ASTM D6644、ASTM D5035、ASTM D2061、ASTM D1445、ASTM D2290、ASTM D412、ASTM D3759/D3759M功能介绍1.自动停机：试样破坏后，移动横梁自动停止移动（或自动返回初始位置、2.自动换档：根据试验力大小自动切换到适当的量程，以确保测量数据的准确性3.条件模块：试验条件和试样原始数据可以建立自己的标准模块的形式存储；方便用户的调用和查看，节省试验时间4.自动变速：试验过程的位移速度或加载速度可按预先编制、设定的程序自动完成也可手动改变5.自动程制：根据试验要求，用户可方便的建立自己的试验模板（方法、，便于二次调用，可实现试验加载速度、应力、应变的闭环试验控制6.自动保存：试验结束，试验数据和曲线计算机自动保存，杜绝因忘记存盘而引起的数据丢失7.测试过程：试验过程及测量、显示、分析等均由微机完成8.批量试验：对相同参数的试样，一次设定后可顺次完成一批试验9.试验软件：中文Windows用户界面，操作简便10.显示方式：数据与曲线随试验过程动态显示11.曲线遍历：试验完成后，可对曲线进行放大再分析，用鼠标查到试验曲线上各点对应的数据12.试验报告：可根据用户要求进行编辑打印13.限位保护：具有程控和机械两级限位保护14.过载保护：当负荷超过额定值3～5%时，自动停机15.报告显示：自动和人工两种模式求取各种试验结果，自动形成报表，使数据分析过程变的简单，便于用户16.添加试验方法：用户可跟据试验要求，添加试验方法聚合物材料介电常数介质损耗测试仪软件说明a.软件系统：中英文Windows2000/XP/Win7平台下软件包b.自动储存：试验条件、试验结果、计算参数、标距位置自动储存。c.自动返回：试验结束后，试验机横梁会自动返回到试验初始位置。d.连续试验：一批试验参数设定完成后，可连续进行测试。e.多种曲线：同一图形上可显示多种不同的曲线：荷重--位移、荷重-时间、位移--时间、应力—应变、荷重—两点延伸等到多种曲线。f.曲线对比：同组试样的曲线可在同一张图上叠加对比。g.报告编辑：可按用户要求输出不同的报告形式。h.动态显示：测试过程中，负荷、伸长、位移及选中的试验曲线随着测试的进行，实时动态显示在主控屏幕上。i.自动变标：试验中负荷、伸长等曲线坐标，如果选择不当，可根据实测值的大小，自动变换座标。保证在任何情况下 曲线以大的形式显示在屏幕上。j.峰值保持：在测试的整个过程中，测试项目的大值始终随着试验的进行，在屏幕窗口上显示。k.执行标准：满足GB、ISO、JIS、ASTM、DIN等多种试验方法和标准。试验机仪表：本仪表采用国际比较先进的放大器，A/D、微处理器、高性能高清晰的液晶显示屏构成，整个系统采用类似手机PDA键盘，光标导航，全中文显示，浮点数数据处理，结构简单操作方便，自动计算存储，适合于企业，质检单位材料力学仪表。工作环境条件1 在室温100C～350C范围内，相对湿度不大于80%；2 在稳固的基础或工作台上正确安装，水平度为0.2/1000；3 在无震动、无腐蚀性介质和无较强电磁场干扰的环境中；4 电源电压的波动范围不应超出额定电压的±10%。结构特征及工作原理本机由机械、电气二大部分组成。1机械部分结构及工作原理：本机采用电动加载方式，底部是整机结构承载支架，内部包含有电机驱动器、加载电机、减速机构、动力传动机构等部件；上部是试样夹持及力值、位移测量机构，包含有试样拉伸夹具、测力传感器、位移传感器等主要部件。聚合物材料介电常数介质损耗测试仪本机采用机电一体化设计 ，主要由测力传感器、变送器、微处理器、负荷驱动机构、计算机及彩色喷墨打印机构成。它具有宽广准确的加载速度和测力范围，对载荷、位移的测量和控制有较高的精度和灵敏度，还可以进行等速加载、等速位移的自动控制试验。落地式机型 ，造型涂装均充分考量了现代工业设计，人体工程学之相关原则。主要特点:采用进口光电编码器进行位移测量，控制器采用嵌入式单片微机结构，内置功能强大的测控软件，集测量、控制、计算、存储功能于一体。具有自动计算应力、延伸率（需加配引伸计）、抗拉强度、弹性模量的功能，自动统计结果；自动记录大点、断裂点、点的力值或伸长量；采用计算机进行试验过程及试验曲线的动态显示，并进行数据处理，试验结束后可通过图形处理模块对曲线放大进行数据再分析编辑，并可打印报表。品质保证：3年保修，终身维护！注意事项1、该仪器初始的包装材料需小心保存，安装需由本公司的专业技术人员进行操作。2、若仪器由于任何原因必须返修，必须将其装入原纸箱中以防运输途中损坏。3、在开机前，操作者要首先熟悉操作方法。使用本机之前，请认真阅读使用说明书，充分理解之后，再开机使用。请爱护本机，正确使用，以便使该机永远保持较高的精度和良好的运行状态。技术参数：Q值测量a．Q值测量范围：2～1023。b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。c．标称误差频率范围（100kHz～10MHz）： 频率范围（10MHz～160MHz）：固有误差：≤5％±满度值的2% 固有误差：≤6％±满度值的2%工作误差：≤7％±满度值的2% 工作误差：≤8％±满度值的2%2．电感测量范围：4.5nH~7.9mH3．电容测量：1~205主电容调节范围：18～220pF准确度：150pF以下±1.5pF； 150pF以上±1%注：大于直接测量范围的电容测量见后页使用说明4. 信号源频率覆盖范围频率范围CH1:0.1～0.999999MHz, CH2: 1～9.99999MHz,CH3:10～99.9999MHz, CH1 :100～160MHz

‍型 号：LJC-20E绝缘强度击‍穿测试仪‍输入电压：AC 220 V输出电压：AC 0－20 kV DC 0－20 kV电器容量：2 KVA高压分级：0－5kV； 0-10kV；0－20kV；击穿电压：0-20kV击穿电压升压速率无极可调（以下为常用速率）：A、0.1 kV/sB、0.2 kV/sC、0.3 kV/sD、0.5 kV/sE、1.0 kV/sF、2.0 kV/sG、3.0 kV/s升压方式：1、匀速升压 2、阶梯升压 3、耐压试验 过电流保护装置：试样击穿时在0.1S内切断电源.漏电电流选择：1—30 mA.耐压时间：0-6H二、测试电极：绝缘强度击穿测试金属电极应始终保持光滑、清洁和无缺陷。注1：当对薄试样进行试验时，电极的维护格外重要为了在击穿时尽量减小电极损伤，优先采用不锈钢电极； 聚乙烯的电击穿行为介绍： 相比于其他电介质，聚合物电介质有特殊性的一面，科学家们经过长期的实践研究，提出了针对于聚合物的特殊击穿理论：电-机械击穿和树枝化现象。 电-机械击穿机制在 1955 年被 Stark 和 Garton 建立，解释聚乙烯的击穿行为。电-机械击穿模型是基于电-机械效应的。电-机械击穿一般发生在弹性模量 小且容易产生变形的聚合物固体电介质中。当电压作用于电介质时，正电极和负电极之间的静电吸引力会对电极间的电介质产生挤压作用。若材料有大 的弹性模量，挤压力不会使材料产生明显的变形；反之，材料会受压变形，介质厚度会变薄，此时，挤压作用更强，直至电介质失去耐压能力和机械强 度而发生击穿。 聚合物中还存在着一种预击穿现象，即树枝化现象。Rayner 在 1912 年对被闪电击穿的非常厚的绝缘材料的横截面观察后，提出了电树枝化现象。Budenstein紧接着提出与电树枝化有关的固体电介质的击穿模型。在 20 世纪 70 年代中期，Bahder 在文献中提出水树枝化的概念。总的来说，在聚合物中存在着两大类树枝：电树枝和水树枝。二者的引发机理不同，电树枝仅由电场引起，而水树枝可以由电场和水及其他化学作用等因素共同引起。通过扫描电子显微镜观察与电树枝增长方向垂直的树枝截面，发现存在的空隙。水树枝似乎是由很细微的纤维状通道构成，水分在电压作用下穿透进去时，可以观察到沟道，但当去掉电压和水源之后，水树枝通道逐渐消失不见，在电镜下观察水树枝的截面并未发现空心通道。电树枝和水树枝的本质区别在于是否拥有空心沟道。 由于聚合物本身大分子结构的复杂性，再加上结晶和极性因素的复合干扰，使得对聚合物的研究十分困难，聚合物电击穿过程存在着很多未知因素。在前人实验结果的基础上逐步摸索，解出未知的内部原因。 半结晶聚合物有结晶和无定型两个区域，聚合物的击穿场强受到结晶区微结构和结晶度的影响。以聚乙烯为例(见图 2-4)，温度低于 80℃，击穿场强随着结晶度的降低而增加。根据修正的 Froholich 无定型击穿理论，由于结晶度的减小，结晶界面增加，使电子浅陷阱的能级幅值增加，导致击穿场强的升高。高于 80℃，结论反转，结晶度高的击穿场强反而下降，这与电-机械击穿有关 聚合物的物理性能和电性能均随温度变化，聚合物的耐压强度有温度依赖性。 大致可以分为两个区域：低温区击穿电压随温度增加而增加，变化趋势缓慢；高温区击穿电压随温度增加而降低。 聚合物的击穿特性同普通介电材料不同，聚合物的击穿特性可以归纳为以下几点：聚合物的最大击穿场强出现在低温区；室温附近聚合物击穿场强值为1-10MV/m，普遍高于离子晶体(0.3-2MV/m)；在玻璃转变温度附近，热塑性聚合物的击穿场强急剧下降。 聚合物电介质的击穿场强是由本身的击穿属性决定的，另外还与其他因素有关。扫描电子显微镜图片显示球体尺寸小会对击穿电压的提高有帮助。减小球体的尺寸，能降低空气和水的渗透率。聚合物的分子结构、分子量、退火工艺、机械拉伸、添加成核剂均对材料形成的球体尺寸都有关系。当介质厚度极薄时(μm 量级)，越薄击穿场强会越大，这就是“薄层强化”效应。若介质厚度较厚(mm 量级甚至更大)，击穿场强与厚度成正比关系。

ZJC-100KV击穿电压试验仪（击穿强度测试仪）技术方案书（详细版）1.适用范围本技术规范提出的是击穿电压试验仪（击穿强度测试仪）最低限度的技术要求、试验方法、检验验收和包装运输要求等，并未对一切技术细节做出规定，也未充分引述有关标准和规范的条文，供货商所提供的货物应符合工业标准和本技术规范中所提要求。序号物资名称数量单位备注1击穿电压试验仪（击穿强度测试仪）1台2.设备标准及规范本规范中所引用标准为最低标准，凡经修订的标准，均执行最新版本。如有作废，按相应新代替标准或更高标准执行；供货商向其他厂商购买的所有附件和货物，都应符合这些标准、规范或准则的要求；本规范中未提及的相关技术要求均应遵照最新版本的国家标准（GB）和行业相关标准执行。如本技术规范与下列各标准之间有冲突，则应满足较高标准。表1设备标准及规范标准号标准名称GBT1408.1-2016绝缘材料电气强度试验方法第1部分：工频下试验GBT1408.2-2016绝缘材料电气强度试验方法第2部分：对应用直流电压试验的附加要求IEC60060-1-2010&GB/T16927.1-2011高电压试验技术第1部分：一般定义及试验要求IEC60060-2-2010&GB/T16927.2-2013高电压试验技术第2部分：测量系统JB/T9641试验变压器GB1094.1～GB1094.5电力变压器GB/T.311.1高压输变电设备的绝缘与配合GB/T509电力变压器试验导则GB4208外壳防护等级GB/T191包装储运图示标志DL/T848.2高压试验装置通用技术条件第2部分：工频高压试验装置GB5273变压器、高压电器和套管的接线端子DL/T846.1高电压测试设备通用技术条件第1部分：高电压分压器测量系统GB/T11920电站电气部分集中控制装置通用技术条件GB/T5582高压电力设备外绝缘污秽等级IEC60-1高电压试验技术JB/T8638调压器试验导则第一部分JB8749调压器的通用技术要求JB/T7067柱式调压器JB/T501电力变压器试验导则3.供货范围3.1.详细的供货清单序号货物名称规格/型号单位数量备注1击穿电压试验仪（击穿强度测试仪）ZJC-100kV台13.2.必备的备品备件序号货物名称规格/型号单位数量备注1充填胶电极装置（直径20cm）见GBT1408.1-2016组12固体击穿电极装置（不等直径板电极）见GBT1408.1-2016组13.3.必备的专用工具及仪器仪表序号货物名称规格/型号单位数量备注1更换电极所用工具ZJC系列个12切换电源所用工具ZJC系列个13手动放电棒ZJC系列个15高温隔热手套ZJC系列个14.使用条件1) 水平度为0.2/1000的地面；2) 相对湿度为65±5%；3) 环境温度（0-30）℃；4) 清洁、无腐蚀性介质；5) 市电220V±10%；6) 无明显的振源、电磁场；5. 技术要求5.1.测试原理固体电介质击穿有3种形式：电击穿、热击穿和电化学击穿。电击穿电击穿是因电场使电介质中积聚起足够数量和能量的带电质点而导致电介质失去绝缘性能。热击穿是因在电场作用下，电介质内部热量积累、温度过高而导致失去绝缘能力。电化学击穿是在电场、温度等因素作用下，电介质发生缓慢的化学变化，性能逐渐劣化，最终丧失绝缘能力。固体电介质的化学变化通常使其电导增加，这会使介质的温度上升，因而电化学击穿的最终形式是热击穿。温度和电压作用时间对电击穿的影响小，对热击穿和电化学击穿的影响大；电场局部不均匀性对热击穿的影响小，对其他两种影响大。热击穿当固体电介质承受电压作用时，介质损耗是电介质发热、温度升高；而电介质的电阻具有负温度系数，所以电流进一步增大，损耗发热也随之增加。电介质的热击穿是由电介质内部的热不平衡过程造成的。如果发热量大于散热量，电介质温度就会不断上升，形成恶性循环，引起电介质分解、炭化等，电气强度下降，最终导致击穿。热击穿的特点是：击穿电压随温度的升高而下降，击穿电压与散热条件有关，如电介质厚度大，则散热困难，因此击穿电压并不随电介质厚度成正比增加；当外施电压频率增高时，击穿电压将下降。电化学击穿固体电介质受到电、热、化学和机械力的长期作用时，其物理和化学性能会发生不可逆的老化，击穿电压逐渐下降，长时间击穿电压常常只有短时击穿电压的几分之一，这种绝缘击穿成为电化学击穿。当加在某一绝缘介质上的电压高于过一定程度（击穿电压）后，这时绝缘介质会发生突崩溃而使其电阻迅速下降，继而使得一部分绝缘介质变为导体。在有效的击穿电压下，电击穿现象可以发生在固体、流体、气体或者真空等不同的介质中。电树枝（预击穿）在电气工程中，树化是固体绝缘中的一种电气预击穿现象。这是由于局部放电而造成的破坏性过程，并通过受应力的介电绝缘层，在类似于树枝的路径中进行。固体高压电缆绝缘的树化是地下电力电缆中常见的击穿机制和电气故障来源。当干介电材料在很长一段时间内受到高且发散的电场应力时，首先发生并传播电树。观察到电树化起源于杂质、气孔、机械缺陷或导电突起在电介质的小区域内引起过度电场应力的点。这可以使体电介质内的空隙内的气体电离，从而在空隙的壁之间产生小的放电。杂质或缺陷甚至可能导致固体电介质本身的部分击穿。这些局部放电(PD)产生的紫外线和臭氧随后与附近的电介质发生反应，分解并进一步降低其绝缘能力。随着电介质的降解，气体通常会释放出来，从而产生新的空隙和裂缝。这些缺陷进一步削弱了材料的介电强度，增强了电应力，加速了PD过程。5.2.试品如表1所示，击穿电压试验仪（击穿强度测试仪）可用于（1）TO封装、（2）刚性压接封装、（3）弹性压接封装（4）焊接封装、（5）用于实验室测量的简易封装、（6）衬板、（7）子单元框架、（8）板状绝缘材料、（9）管壳、（10）硅凝胶的击穿强度测量和验证。表1击穿电压试验仪（击穿强度测试仪）测试对象序号测试样品类型图片（1）TO封装（2）刚性压接封装（3）弹性压接封装（4）焊接封装（5）用于实验室的简易封装（6）衬板（7）子单元框架（8）板状绝缘材料（9）管壳（10）硅凝胶5.3.整机结构主机型号：中航时代仪器ZJC-100kV（多工况油浴加热定制版），如图1所示；配件备件：各种型号电极2套；放电棒一个；隔热手套1副详情见价格。图1外观示意图图2整机结构示意图上图中，（1）结构示意图所示为滤波器与主机分开的状态，直流试验时须连接滤波器，交流时需要分开滤波器；（2）交流试验时，拔出滤波器与高压变压器的连接线，分开滤波器；（3）直流试验时，合上滤波器，插上滤波器与高压变压器的连接线；（4）外部电源正负接口，用来通过外接电源的正负线，穿过之后可以直接插入试样架正负极；（5）外部采样接口会输出采样信号，采样信号包括高压电流和高压电压，信号为0-5V；（6）其他相关的部分，如高压采样等请参考电路设计框图，在此不做展示。图3高温油槽结构图图4二次侧测试电路示意图图5击穿电压试验仪（击穿强度测试仪）原理框图关于击穿电压试验仪（击穿强度测试仪）的一般说明：（1）使用计算机控制，并采集所有信号；（2）通过无级调压控制箱生成需要的波形并且输出0-200V电压，通过外部触发按键切换50Hz正弦波和100Hz方波；（3）通过高压变压器生成需要的0-100kV电压，并且通过机械机构切换交直流；（4）在试样架正负极预留外部电源输入接口；（5）直流电压通过0.5uF高压采样电容滤波，使纹波系数≤2%；（6）高压采样部分采集电压和电流，通过AD转换传递给计算机，同时预留出外部取样接口；（7）在直流试验时，通过电感限制电容放电，防止放电电流过大造成干扰；（8）整机接线如下图所示，包含计算机和放电、照明等系统的接线方式。图6击穿电压试验仪（击穿强度测试仪）整机接线图5.4.设备参数主要设备参数要求及保证如表2所示。表2主要设备参数要求及保证值序号项目招标人要求值投标人保证值1设备电源输入电压AC220V±10%AC220V±10%电源频率50Hz±1%50Hz±1%高压变压器功率10kVA10kVA电路最大电流输出电流40mA以上45mA2交流电源交流电源输出范围0-100kV0-100kV交流电源最小调节精度0.02kV0.02kV交流电源质量试验电压峰值与均方根值之比应在（100%±5%）即（1.34-1.48）之间试验电压峰值与均方根值之比在（100%±5%）3直流电源电源输出范围0-100kV0-100kV电源最小调节精度0.02kV0.02kV电源质量输出应为纯直流，且波纹应不超过试验电压的2％纹波系数≤2％4调压方式其他接口调压方式可程序控制按照选定升压速度连续升压直至击穿，可程序控制按照选定升压速度连续升压设定的耐压，并具有手动调压功能可在实验过程中手动调节电压直至击穿1连续升压；2逐级升压；3瞬时升压交直流电源升压速率自动升压功能应可调节升压速率，速率为应每10秒的平均速度，包含20V/s、50V/s、100V/s、200V/s、500V/s、1000V/s、2000V/s、5000V/s，且应包含手动调压功能自动升压可设定升压速率，每10秒平均速度：20V/s、50V/s、100V/s、200V/s、500V/s、1000V/s、2000V/s、5000V/s，10000V/s。手动调节与自动相同50kV方波接口设备应具备50kV，5kHz（重复频率）以上方波电源接口，并设有足够绝缘性能的穿墙套管；电源接口可以接入50kV，5kHz（重复频率）测量外部接口需要预留电压探头和示波器接口和漏电流测量接口在信号滤波之前，将信号引出到外部接口试验开始、停止、急停控制器除设备操作面板上设置的试验开始、停止、急停按钮外，应可以在高压屏蔽遮拦外额外设置试验开始、停止、急停控制盒。除设备操作面板上设置的试验开始、停止、急停按钮外，可以在高压屏蔽遮拦外控制试验开始、停止、急停控制盒。5电极种类和参数等直径电极等直径电极一套GBT1408.1-2016Φ25-φ25等直径电极一套填充硅凝胶的电极装置应具有可调节的电极间距，具体形状和参数参见标准GBT1408.1-2016含球形电极一套6尺寸腔体内部空间不小于800mm*600mm*600mm900mm*700mm*600mm油浴测试空间不小于700mm*450mm*350mm700mm*450mm*350mm电极架外部尺寸不大于470mm*450mm*650mm电极架尺寸420mm*400mm*620mm外形尺寸不大于3000mm*1100mm*1700mm2200mm*1100mm*1700mm排风口外径98mm外径98mm7测量项目试品上的电压测量测量精度在施加电压的2%以内，可测量施加在样品两端电压的有效值；电压测量回路总误差不得超过测得值的5%，包括由电压表相应时间所引起的误差，在所用的任何升压速率下，该响应时间引起的误差应不大于击穿电压的1%，并能记录击穿电压测量精度在施加电压的2%以内，可测量施加在样品两端电压的有效值；电压测量回路总误差不得超过测得值的5%，包括由电压表相应时间所引起的误差，在所用的任何升压速率下，改响应时间引起的误差应不大于击穿电压的1%，并能记录击穿电压漏电流测量测量精度0.1mA以内，量程40mA以上，并能记录击穿漏电流测量精度0.1mA以内，量程50mA，并能记录击穿漏电流击穿判定应可设置漏电流大小，并在击穿发生后的几个周期内动作，最小一个周期可能由于闪络误操作可设置漏电流大小，并在击穿发生后的几个周期内动作，最小一个周期可能由于闪络误操作温度需要测量油浴盒中至少两处的温度，分辨率0.1℃两块控温表，一块控温+显示，一块只显示，分辨率0.1℃测量输出高压曲线，漏电流曲线，击穿电压，击穿电流高压曲线，漏电流曲线，击穿电压，击穿电流保存（数据导出）所有数据应可以导出至excel文件实验时间，高压电压，漏电流，可以导出至excel文件8油浴加热油浴加热温度0-250℃，并应采用合适的液体循环措施，以使试样周围温度大致均匀，并保持在规定温度的±2℃以内0-300℃，并应采用合适的液体循环措施，以使试样周围温度大致均匀，并保持在规定温度的±2℃以内加热功率3kW3kW绝缘油应具有足够的电气强度以免发生击穿，厂家应提供满足高温（300℃）和绝缘（100kV）需求的绝缘油采购途径具有足够的电气强度以免发生击穿，厂家应提供满足高温（300℃）和绝缘（100kV）需求的绝缘油采购途径9软件交互界面电脑软件交互界面交互界面应干净整洁，字体大小合适，应显示以上测量信息交互界面应干净整洁，字体大小合适，应显示以上测量信息设备操作界面交互界面应干净整洁，字体大小合适交互界面应干净整洁，字体大小合适电脑软件手动升压功能电脑软件中应包含手动升压功能，并可以调节单词调节的步长电脑软件中包含手动升压功能，并可以调节单词调节的步长10开关机保护总开关设备应具备总电源开关，用于切断市电与设备的连接设备具备总电源开关，用于切断市电与设备的连接紧急按钮设备应具备试验急停按钮，用于切断高压电源设备具备试验急停按钮，用于切断高压电源开门断电保护在开启实验舱门或试验过程中舱门打开，切断高压电源在开启实验舱门或试验过程中舱门打开，切断高压电源自动放电设备在每次试验完成后，应自动放电，放电时间不小于10秒放电时间大于等于10秒手动放电杆设备应具备手动放电杆，在断电状态下手动放电杆挂于高压接线点设备具备手动放电杆，在断电状态下手动放电杆挂于高压接线点警示灯警示灯应设于显眼地方（设备顶部），设备运行时应亮红色警示灯，设备通电但不加压时应亮绿灯警示灯设于设备顶部，设备开门时是绿色，关门时是黄色，电压高于500V是红色11工作环境工作温度0℃-+45℃0℃-+45℃存放温度-20℃-+60℃-20℃-+60℃相对湿度5%-80%,无冷凝5%-80%,无冷凝12必须适用的标准GBT1408.1-2016&GBT1408.2-2016适用5.5.设备功能击穿电压试验仪（击穿强度测试仪）可用于模块、标准绝缘材料样品、硅凝胶、绝缘结构，在0到100kV交（50Hz）、直流（纯直流）电压和0到50kV方波电压等复杂工况下的击穿强度测量和验证。6.价格具体定制细节尚未敲定最终价格需要在确定技术细节后给出，参考ZJC-100kV击穿电压试验仪（击穿强度测试仪）报价，预计需要50万元。7.采购周期预计需要2个月完成设备采购。8.试验验证货物在出厂时必须通过下列所有试验验证，供货商必须向采购方提供货物的试验报告。8.1.试验1交流电源试验项目及要求。表3交流电源试验项目及要求序号项目招标人要求值投标人保证值1交流电源输出范围0-100kV0-100kV2交流电源最小调节精度0.02kV0.02kV3交流电源质量试验电压峰值与均方根值之比应在（100%±5%）即（1.34-1.48）之间试验电压峰值与均方根值之比在（100%±5%）8.2.试验2直流电源试验项目及要求。表4直流电源试验项目及要求序号项目招标人要求值投标人保证值1电源输出范围0-100kV0-100kV2电源最小调节精度0.02kV0.02kV3电源质量输出应为纯直流，且波纹应不超过试验电压的2％纹波系数≤2％8.3.试验3调压方式项目及要求。表5油浴加热盒序号项目招标人要求值投标人保证值1调压方式可程序控制按照选定升压速度连续升压直至击穿，可程序控制按照选定升压速度连续升压设定的耐压，并具有手动调压功能可在实验过程中手动调节电压直至击穿1连续升压；2逐级升压；3瞬时升压2交直流电源升压速率自动升压功能应可调节升压速率，速率应包含10V/s、20V/s、50V/s、100V/s、200V/s、500V/s、1000V/s、2000V/s、5000V/s，且应包含手动调压功能，调节精度应为0.02kV自动升压可设定升压速率，每10秒平均速度：20V/s、50V/s、100V/s、200V/s、500V/s、1000V/s、2000V/s、5000V/s，10000V/s。手动调节与自动相同350kV方波接口设备应具备50kV，5kHz（重复频率）以上方波电源接口，并设有足够绝缘性能的穿墙套管；在软件中应具备独立测量功能以适用于方波接入后试品上电压和漏电流测量电源接口可以接入50kV，5kHz（重复频率）8.4.试验4测量项目及要求。表6测量项目试验要求序号项目招标人要求值投标人保证值1试品上的电压测量测量精度在施加电压的2%以内，可测量施加在样品两端电压的有效值；电压测量回路总误差不得超过测得值的5%，包括由电压表相应时间所引起的误差，在所用的任何升压速率下，改响应时间引起的误差应不大于击穿电压的1%，并能记录击穿电压测量精度在施加电压的2%以内，可测量施加在样品两端电压的有效值；电压测量回路总误差不得超过测得值的5%，包括由电压表相应时间所引起的误差，在所用的任何升压速率下，改响应时间引起的误差应不大于击穿电压的1%，并能记录击穿电压2漏电流测量测量精度0.1mA以内，量程50mA以上，并能记录击穿漏电流测量精度0.1mA以内，量程50mA，并能记录击穿漏电流3击穿判定应可设置漏电流大小，并在击穿发生后的几个周期内动作，最小一个周期可能由于闪络误操作可设置漏电流大小，并在击穿发生后的几个周期内动作，4温度需要测量油浴盒中至少两处的温度，精度为0.1℃两块控温表，一块控温+显示，一块只显示，分辨率0.1℃5测量输出波形实时电压波形和漏电流波形和RMS值和最高试验电压；并能显示电流波形RMS值和最高漏电流；高压曲线，漏电流曲线，击穿电压，击穿电流6保存（数据导出）所有数据应可以导出至excel文件实验时间，高压电压，漏电流，可以导出至excel文件8.5.试验5温度项目及要求。表7油浴加热温度试验序号项目招标人要求值投标人保证值1温度范围0-250℃0-300℃2均匀度应采用合适的液体循环措施，以使试样周围温度大致均匀，并保持在规定温度的±2%以内采用搅拌电机，以使试样周围温度大致均匀，并保持在规定温度的±2℃以内8.6.试验6保护系统试验要求。表8保护系统试验要求序号项目招标人要求值投标人保证值1总开关设备应具备总电源开关，用于切断市电与设备的连接设备具备总电源开关，用于切断市电与设备的连接2紧急按钮设备应具备试验急停按钮，用于切断高压电源设备具备试验急停按钮，用于切断高压电源3开门断电保护在开启实验舱门时，设备应处于断电状态；在试验过程中若舱门打开，应切断高压电源在开启实验舱门或试验过程中舱门打开，切断高压电源4自动放电设备在每次试验完成后，应自动放电，放电时间不小于10秒放电时间大于等于10秒5手动放电杆设备应具备手动放电杆，在断电状态下手动放电杆挂于高压接线点设备具备手动放电杆，在断电状态下手动放电杆挂于高压接线点6警示灯警示灯应设于显眼地方（设备顶部），设备运行时应亮红色警示灯，设备通电但不加压时应亮绿灯警示灯设于设备顶部，设备开门时是绿色，关门时是黄色，电压高于500V是红色*注：应答时，投标人不能简单的写“满足”或“符合”，应列出投标产品的具体技术参数。9.对技术文件的要求1. 双方签订合同后，供货商应免费随货物一并提交足够的资料来证明其提供货物达到规定的性能质量要求，供货商提供的资料应包括所供货物的详细技术性能、功能和指标、工作原理等信息，并对其可靠性和一致性负责，文件及资料种类包括且不限于：1) 货物的装箱资料清单；2) 货物的技术说明书、使用说明书、接线图纸和组装图纸；3) 货物的安装、调试和运行手册；4) 出厂检测合格报告；5) 货物质量检验合格证书；6) 合同规定的出厂验收试验报告等。2. 双方签订合同后，供货商提交技术文件时，所提供的技术文件及资料不少于2份，正本1份，副本1份。所有提供的技术文件均应为中文版，采用SI公制国际单位制，并同时提供相应的电子版。图纸采用AutoCAD2004版制作，资料采用W ord、Excel编写，文件后缀为.doc、.xls。图纸的比例尺寸为最终货物实际比例尺寸。10.包装、标志、运输10.1.包装及标志1. 货物在运输前都应进行包装，防止潮气、锈蚀、淋雨和振动。包装不能造成对货物的破坏，破坏的形式包括：划痕、裂痕、脏污等，另外需要增加防潮和防静电处理。包装应牢固可靠，对贵重设备和仪器应考虑与一般设备分开，采用特殊包装。2. 应在包装箱上标出“怕湿”，“小心轻放”，“向上”等必要的图形指示。包装箱表面按GB191-2008规定标明标志，每个包装箱上应附有标签标明：1) 制造厂名称、厂标和厂址；2) 货物名称、型号；3) 产品批号和出厂日期；4) 包装的数量、重量；3. 货物在包装时应有装箱单，装箱单应至少包括以下的内容：货物的名称、数量、加工批号、出厂的日期等。每件包装件内应附有技术检验部门及检验员印章的产品合格证及必要的技术文件。4. 收货标志应给出装运标志、收货地址、收货人、箱号、毛/净重、外形尺寸、发货地址、发货人等。10.2.运输1. 供货商应负责将货物运至采购方指定地点，由此产生的费用由供货商承担。若供货商采用邮寄的方式向采购方交货，则货物在装运后供货商应立即将装货通知单特快专递邮寄给采购方。2. 货物在运输过程中，要避免货物因为潮湿、振动、碰撞、摩擦等因素造成的任何形式的破坏，包括破裂、划伤、相互位置变化等现象。供货商向采购方运输货物过程中出现的任何质量问题，将由供货商承担责任。11.质量保证及售后11.1.质量保证1. 供货商应保证其所提供的所有货物都是全新的，未经使用过的，采用的是优质材料和先进工艺，并在各方面符合合同规定的质量、规格和性能要求。2. 供货商应对合同货物的设计、材料和零部件选购、加工、制造、试验等过程建立严格的质量保证体系，并在合同的整个制造过程中严格按其执行。供货商提供的所有货物均应附质量保证书或试验报告等文件。3. 供货商应采用有运行经验证明正确的、成熟的技术来进行合同货物的生产和系统的集成。如采用供货商过去从未采用过的新技术，应征得采购方的同意。4. 供货商从其他厂商采购货物，一切质量问题由供货商负责。11.2.售后服务1. 质保期自供、采双方对货物验收之日算起12个月，另有约定除外。2. 在质保期内，由于供货商货物质量问题造成的系统中断或其余故障，在接到采购方通知后的24小时内负责处理缺陷并更换有损坏的部件，且不收取任何额外费用，由此造成的采购方损失由供货商承担。质保服务内容包括但不限于：1) 故障部件或货物的免费更换或维修，并提供质量分析报告；2) 货物的现场维护；3) 电话技术支持等。3. 质保期内货物发生故障并由供货商处理完毕后，质保期将延长，延长时间为自货物重新投运之日起后的12个月。4. 在质保期内，供货商应提供7×24小时响应的技术服务，在需要现场服务时，供货商应在24小时内赶赴现场，偏远地区36小时内赶赴现场；在质量保证期后，由于供货商货物质量问题而造成的系统停运或中断，供货商应在接到采购方通知后的48小时内负责协助处理缺陷并更换有损坏的部件。对易损部件优先、优惠供应，并提供终身服务。

材料介电常数介质损耗测试仪HRJD技术参数：1．Q值测量a．Q值测量范围：2～1023。b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。c．标称误差 频率范围（100kHz～10MHz）： 频率范围（10MHz～160MHz）： 固有误差：≤5％±满度值的2% 固有误差：≤6％±满度值的2% 工作误差：≤7％±满度值的2% 工作误差：≤8％±满度值的2%2．电感测量范围：4.5nH~7.9mH3．电容测量：1~205 主电容调节范围：18～220pF 准确度：150pF以下±1.5pF； 150pF以上±1% 注：大于直接测量范围的电容测量见后页使用说明4. 信号源频率覆盖范围 频率范围CH1:0.1～0.999999MHz, CH2: 1～9.99999MHz, CH3:10～99.9999MHz, CH1 :100～160MHz,5．Q合格指示预置功能: 预置范围：5～1000。6．B-测试仪正常工作条件a. 环境温度：0℃～+40℃；b．相对湿度：80％；c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。存在界面极化时，自由离子的数目随电场下，只要电介质中不出现局部放电，电容率和介质损耗因数与电场强度无关.电容器安装运行海拔不超过1000米 使用周围空气温度于±3%电容器温度系数 ≤ 3×10-5 /℃电容器压力系数 ≤ 3×10-3Mpa电容器的损耗角正切值不大于 1×10-5 、2×10-5 、5×10-5 三档。电容器内充SF6气体。在20℃时 压力为0.4±0.1MpaRY2电极材料介电常数介质损耗测试仪HRJD电桥测量灵敏度 电桥在使用过程中，灵敏度直接影响电桥平稳衡的分辨程度，为保证测量准确度，希望电桥灵敏度达到一定的水平。通常情况下电桥灵敏度与测量电压，标准电容量成正比。 在下面的计算公式中，用户可根据实际情况估算出电桥灵敏度水平，在这个水平上的电容与介质损耗因数的微小变化都能够反应出来。 ΔC/C或Δtgδ=Ig/UωCn(1+Rg/R4+Cn/Cx)式中: U 为测量电压 伏特 (V) ω为角频率2πf=314(50Hz) Cn标准电容器容量 法拉(F) Ig通用指零仪的电流5×10-10 安培(A) Rg平衡指零仪内阻约1500 欧姆(Ω) R4桥臂R4阻值3183 欧姆(Ω) Cx被测试品电容值 法拉(pF)材料介电常数介质损耗测试仪HRJD特点：1 优化的测试电路设计使残值更小2 高频信号采用数码调谐器和频率锁定技术3 LED 数字读出品质因数，手动/自动量程切换4 自动扫描被测件谐振点，标频单键设置和锁定，大大提高测试速度材料介电常数介质损耗测试仪HRJD使用方法高频Q表是多用途的阻抗测量仪器，为了提高测量精度，除了使Q表测试回路本身残余参量尽可能地小，使耦合回路的频响尽可能地好之外，还要掌握正确的测试方法和残余参数修正方法。1．测试注意事项a．本仪器应水平安放；b．如果你需要较准确地测量，请接通电源后，预热30分钟；c．调节主调电容或主调电容数码开关时，当接近谐振点时请缓调；d．被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短，足够粗，并应接触良好、可靠，以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差；e．被测件不要直接搁在面板顶部，离顶部一公分以上，必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫；f．手不得靠近试件，以免人体感应影响造成测量误差，有屏蔽的试件，屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。计算公式Cx=R4× Cn / R3 R4[Ω] R3[Ω] Cn[pF] Cx[pF]tgδ=ωR4C4 R4[Ω] C4[F]当R4=10K/πtgδ=C4当R4=1K/πtgδ=0.1C4我们采取相对固定R4电阻，分别调节R3和C4使桥跟平衡，从而测得试品的电容值Cx和介质损耗tg。本电桥为了直读出损耗值，取电阻R4的阻值为角频率（f=50Hz）若干倍。正常工作条件a. 环境温度：0℃～+40℃；b．相对湿度：80％；c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。d．消耗功率：约25W；e．净重：约7kg；f. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。材料介电常数介质损耗测试仪HRJD特点：1 优化的测试电路设计使残值更小2 高频信号采用数码调谐器和频率锁定技术3 LED 数字读出品质因数，手动/自动量程切换4 自动扫描被测件谐振点，标频单键设置和锁定，大大提高测试速度使用方法高频Q表是多用途的阻抗测量仪器，为了提高测量精度，除了使Q表测试回路本身残余参量尽可能地小，使耦合回路的频响尽可能地好之外，还要掌握正确的测试方法和残余参数修正方法。1．测试注意事项a．本仪器应水平安放；b．如果你需要较精确地测量，请接通电源后，预热30分钟；c．调节主调电容或主调电容数码开关时，当接近谐振点时请缓调；d．被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短，足够粗，并应接触良好、可靠，以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差；e．被测件不要直接搁在面板顶部，离顶部一公分以上，必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫；f．手不得靠近试件，以免人体感应影响造成测量误差，有屏蔽的试件，屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。2．高频线圈的Q值测量（基本测量法）电感：线圈号 测试频率 Q值 分布电容p 电感值 9 100KHz 98 9.4 25mH 8 400KHz 138 11.4 4.87mH 7 400KHz 202 16 0.99mH 6 1MHz 196 13 252μH 5 2MHz 198 8.7 49.8μH 4 4.5MHz 231 7 10μH 3 12MHz 193 6.9 2.49μH 2 12MHz 229 6.4 0.508μH 1 25MHz，50MHz 233，211 0.9 0.125μH陶瓷材料的介质损耗主要来源于电导损耗、松弛质点的极化损耗和结构损耗。此外，表面气孔吸附水分、油污及灰尘等造成的表面电导也会引起较大的损耗。在结构紧密的陶瓷中，介质损耗主要来源于玻璃相。为了改善某些陶瓷的工艺性能，往往在配方中引人此易熔物质（如黏土），形成玻璃相，这样就使损耗增大。如滑石瓷、尖晶石瓷随黏土含量增大，介质损耗也增大。因面一般高频瓷，如氧化铝瓷、金红石等很少含有玻璃相。大多数电陶瓷的离子松弛极化损耗较大，主要的原因是：主晶相结构松散，生成了缺固济体、多品型转变等。漏导损耗实际使用中的绝缘材料都不是完善的理想的电介质，在外电场的作用下，总有一些带电粒子会发生移动而引起微弱的电流，这种微小电流称为漏导电流，漏导电流流经介质时使介质发热而损耗了电能。这种因电导而引起的介质损耗称为“漏导损耗”。由于实阿的电介质总存在一些缺陷，或多或少存在一些带电粒子或空位，因此介质不论在直流电场或交变电场作用下都会发生漏导损耗。介质损耗：绝缘材料在电场作用下，由于介质电导和介质极化的滞后效应，在其内部引起的能量损耗。也叫介质损失，简称介损。在交变电场作用下，电介质内流过的电流相量和电压相量之间的夹角（功率因数角Φ）的余角δ称为介质损耗角。

橡胶电压击穿电气强度测试仪 调压器用于调节升压变压器输入端电压以产生高压所需的输入电压，电压测量主要是从高压变压器测量端测量，高压变压器测量端和高压端是线性的，橡胶电压击穿电气强度测试仪 仪器特点： 计算机控制试验过程，自动判断停止，自动复位试验过程中可动态绘制出试验曲线，试验的曲线可以多种颜色叠加对比，局部放大，曲线上任意一段可进行区域放大分析仪器运行的持久性: 仪器可连续运行使用，不需为保护仪器而定期停机。试验过程中，可随时通过软件决定本次试验是否有效，方便筛选试验结果。过电流保护装置有足够的灵敏度，能够保证试样击穿时在0.1s内切断电源；可设置操作口令，做到专机专人操作，避免无关人员误操作。试验结果数据可导入EXECL、WORD文档编辑；试验条件及测试结果等数据可自动存储；可对一组试验中曲线数据的有效与否进行人为选定；以随时调取当前及历史试验数据进行查看，编辑及修改参数。试验报告格式灵活可变，适用于不同用户的不同需求；仪器运行的持久性: 仪器可连续运行使用，不需为保护仪器而定期停机。本仪器在试验过程中可对升压击穿过程绘制实时曲线，每次试验的升压曲线都由不同颜色构成，试验结束后可叠加对比材料的试验数据重复性。多种用途可以进行交、直流试验试验准确、可靠、安全超压、过流、短路、漏电、误操作等多种保护 橡胶电压击穿电气强度测试仪 操作步骤：1、试验前的准备：1）打开试验机右侧的总电源开关,预热15分钟。2）打开计算机进入Windows系统。双击本仪器软件的快捷图标打开试验登录界面输入登录密码即可进入试验界面。2、交直流试验的切换1）本仪器高压输出为交流电压。直流的获得方式为在原回路中串入高压硅堆，使测试回路为脉动的直流电压。实现的过程为，硅堆已经在高压变压器的高压绝缘塔中，平时用一个短路杆把高压硅堆短接。需要直流试验时，取出短路杆，使高压硅堆接入测试电路中，这时回路的电压为脉动的直流电压。2）前面板直流交流选择按钮。该按钮的状态不能改变设备输出的电压性质。按下该按钮，设备仅仅是把直流报警电路接入。指示用户，当打开箱门时，您需要对高压均压球放电。转动放电杆，使放电杆的端部铜球接触高压均压球。建议用户每次放电铜球接触高压均压球时间大于五秒。3）试验的交直流电压切换，主要取决于高压绝缘塔中的短路杆是否取出。当取出短路杆时，高压均压球上的电压为直流电压，插入短路杆时，高压均压球上的电压为交流电压。短路杆的取出、插入参看左侧的示意图。4）在直流试验时，计算机也要选择直流状态，否则测的结果是不正确的。简单的说，交流电压与直流电压有倍的关系。 技术要求：A、试验方式： 直流试验：1、匀速升压 2、阶梯升压 3、耐压试验 交流试验：1、匀速升压 2、阶梯升压 3、耐压试验 注：根据不同行业的标准，我们可以根据用户的要求，依据贵行业标准，为您定制行业标准所需的特殊测试功能。B、电极规格：1、片材电极 ￠25mm 两个 片材电极 ￠75mm一只 2、管用电极 两个 、一套。C、输入电压： 交流 220 VD、输出电压： 交流 0--50 KV 直流 0--70 KV （同类产品做到50kv)E、电器容量： 5KVAF、高压分级： 0--50KV 全程可调(采用高精度电压采样器件，取消了同类厂家由于电压采样精度不够必须采用高压分级的方式)G、升压速率： 100 V/S 200 V/S 500 V/S 1000 V/S 2500 V/S 3000 V/S (此项满足 标准里面极快速升压试验要求)备注：本产品采用 直流伺服电机加载减速机构，保证了 标准里面关于极慢速试验和极快速试验的 要求，（一般厂家为皮带轮机构，误差较大）保证用户可以自由选择升压速率，是目前同类产品中 满足国标对于升压速率要求的测试设备。可以根据用户需求设定不同的升压速率 H、电压试验精度： ≤ 1％ 适用范围 电击穿试验仪主要适用于固体绝缘材料（如：塑料、橡胶、层压材料、薄膜、树脂、云母、陶瓷、玻璃、绝缘漆等绝缘材料及绝缘件）在工频电压或直流电压下击穿强度和耐电压的测试。 设备安全保护功能：1、 试验在试验箱中进行，试验箱门打开时电源加不到高压变压器输入端，即高压侧无电压。100KV测试设备高压电极距离试验箱壁的 近距离大于370mm，50KV测试设备高压电极距离试验箱壁的 近距离大于250mm，试验时即使人接触箱壁也不会有危险。2、 设备要安装单独的保护地线。接保护地线，主要是减少试样击穿时对周围产生的较强的电磁干扰。也可避免控制计算机失控。2、 该试验设备的电路设有多项保护措施，主要有：过流保护、失压保护、漏电保护、短路保护、直流试验放电报警等。3、直流试验放电报警功能:在设备做完直流试验时,当开启试验门时设备会自动报警,直至使用设备上的放电装置放电后报警会自动取消.（注：因为直流试验后不放电会危险到人身安全,不能直接拿取电极,起到提醒使用人员放电以免造成人身伤害）。4、 试验放电装置，随主机为一体化，改进了以往单独配备一根放电杆的功能。5、 六级高压安全断电控制：①总电源开关②高压断电开关（钥匙开关）③调压器复位开关④试验箱门安全开关⑤高压变压器输入侧限流空开⑥漏电保护开关 产品常规型号：01、BDJC-10KV02、BDJC-30KV03、BDJC-50KV04、BDJC-100KV 固体电介质击穿导致击穿的 低临界电压称为击穿电压.均匀电场中,击穿电压与介质厚度之比称为击穿电场强度（简称击穿场强,又称介电强度）.它反映固体电介质自身的耐电强度.不均匀电场中,击穿电压与击穿处介质厚度之比称为平均击穿场强,它低于均匀电场中固体介质的介电强度.固体介质击穿后,由于有巨大电流通过,介质中会出现熔化或烧焦的通道,或出现裂纹.脆性介质击穿时,常发生材料的碎裂,可据此破碎非金属矿石.固体电介质击穿有3种形式 :电击穿,热击穿和电化学击穿.电击穿是因电场使电介质中积聚起足够数量和能量的带电质点而导致电介质失去绝缘性能.热击穿是因在电场作用下,电介质内部热量积累,温度过高而导致失去绝缘能力.电化学击穿是在电场,温度等因素作用下,电介质发生缓慢的化学变化,性能逐渐劣化, 终丧失绝缘能力.固体电介质的化学变化通常使其电导增加 , 这会使介质的温度上升,因而电化学击穿的 终形式是热击穿.温度和电压作用时间对电击穿的影响小,对热击穿和电化学击穿的影响大 电场局部不均匀性对热击穿的影响小,对其他两种影响大.试验环境：⑴常态试验环境：温度为20±5℃，相对湿度为65±5%。⑵热态试验或潮湿环境试验条件由产品标准参照录中表2予以规定。击穿的判断：试样沿施加电压方向及位置有贯穿小孔、开裂、烧焦等痕迹为击穿，如痕迹不清可用重复施加试验电压来判断。 影响表观电气强度的因素：随着样品厚度的增加而降低。（见下面的“缺陷”）随着工作温度的升高而降低。它随着频率的增加而降低。对于气体（例如氮气，六氟化硫），通常随着湿度的增加而降低。对于空气，介电强度随着湿度的增加而略有增加，但随着相对湿度的增加而减小 软件功能：1、试验过程中可动态绘制出试验曲线，试验的曲线可以多种颜色叠加对比，局部放大，曲线上任意一段可进行区域放大分析；2、可对试验数据进行编辑修改，灵活适用；3、试验条件及测试结果等数据可自动存储；4、试验报告格式灵活可变，适用于不同用户的不同需求；5、可对一组试验中曲线数据的有效与否进行人为选定；6、试验结果数据可导入EXECL、WORD文档编辑；7、软件设备人员管理功能，试验人员可设置自己的试验项目和试验参数，设置自己的试验内容后别人无法进入程序；8、过电流保护装置有足够的灵敏度，能够保证试样击穿时在0.1s内切断电源；9、仪器运行的持久性: 仪器可连续运行使用，不需为保护仪器而定期停机。 整机组成： 1、升压部件：由调压器和高压变压器组成0～50KV的升压部分。2、动部件：由步进电机均匀调节调压器使加给高压变压器的电压变化。3、检测部件：由集成电路组成的测量电路。通过信号线把检测的模拟信号和开关信号传给计算机。4、计算机软件：通过智能电路把由检测设备采集的测控信号传给计算机。计算机根据采集的信息控制设备运行并处理试验结果。5、试验电极：根据国家标准(1408.1-2006)随设备提供三个电极，具体规格为：Ф25mm×25mm两个；Ф75mm×25mm一个。使用说明：1、试验单位：对材料进行试验检测的单位名称；2、送试单位：送材料检测的单位名称；3、试验方式：选择进行“交流试验”或“直流试验”；4、试验方法：可进行“击穿”，“耐压”，“梯度耐压”试验；5、试验人员：输入检测人员姓名；6、试验温度：输入试验温度；7、试验湿度：输入试验湿度；8、设备型号：显示机器型号，此处不可变；9、执行标准：选择所使用的标准；10、试验介质：选择试验介质，或可以自己编辑写入；11、电极形状：输入电极形状；12、电极尺寸：输入电极尺寸；13、使用量程：选择使用量程，分为10KV、20kV、30kv、50kv、100kv；14、峰降电压：用于判断材料是否击穿，必须输入项；15、初始电压：用于耐压和梯度耐压试验，在试验开始时将电压升到的位置；16、升压速度：选择升压的速度，控制在试验过程中升压的快慢；17、梯度电压：用于梯度耐压试验，设置每次升压的梯度值；18、梯度时间：用于梯度耐压试验，设置在相应梯度的耐压时间；19、终止电压：设置在试验过程中电压的上限值；20、试样制备：设置试样的制备信息；21、材料名称：设置试验材料的名称；22、试验时间：选择试验时期，或写入试验日期和时间；23、报告编号：设置报告编号信息；24、试样编号：设置试样编号信息，试验样品的规格编码及编号；25、试样形状：设置试样形状；26、试样尺寸：输入试样的尺寸；27、试样厚度：输入试样厚度，用于计算试验强度，必须输入；28、应 用：确认此界面所做设置；29、退 出：返回主界面，设置无效；

ZJC-100KV绝缘材料击穿强度、击穿电压测试仪1. 适用范围本技术规范提出的是绝缘材料击穿强度、击穿电压测试仪最低限度的技术要求、试验方法、检验验收和包装运输要求等，并未对一切技术细节做出规定，也未充分引述有关标准和规范的条文，供货商所提供的货物应符合工业标准和本技术规范中所提要求。2. 设备标准及规范本规范中所引用标准为最低标准，凡经修订的标准，均执行最新版本。如有作废，按相应新代替标准或更高标准执行；供货商向其他厂商购买的所有附件和货物，都应符合这些标准、规范或准则的要求；本规范中未提及的相关技术要求均应遵照新版本的国家标准（GB）和行业相关标准执行。如本技术规范与下列各标准之间有冲突，则应满足较高标准。表 1 设备标准及规范3. 供货范围3.1. 详细的供货清单4. 使用条件1) 水平度为0.2/1000的地面；2) 相对湿度为65±5%；3) 环境温度（0-30）℃；4) 清洁、无腐蚀性介质；5) 市电220 V±10%；6) 无明显的振源、电磁场；5. 技术要求5.1. 测试原理固体电介质击穿有3种形式：电击穿、热击穿和电化学击穿。电击穿电击穿是因电场使电介质中积聚起足够数量和能量的带电质点而导致电介质失去绝缘性能。热击穿是因在电场作用下，电介质内部热量积累、温度过高而导致失去绝缘能力。电化学击穿是在电场、温度等因素作用下，电介质发生缓慢的化学变化，性能逐渐劣化，最终丧失绝缘能力。固体电介质的化学变化通常使其电导增加，这会使介质的温度上升，因而电化学击穿的最终形式是热击穿。温度和电压作用时间对电击穿的影响小，对热击穿和电化学击穿的影响大；电场局部不均匀性对热击穿的影响小，对其他两种影响大。热击穿当固体电介质承受电压作用时，介质损耗是电介质发热、温度升高；而电介质的电阻具有负温度系数，所以电流进一步增大，损耗发热也随之增加。电介质的热击穿是由电介质内部的热不平衡过程造成的。如果发热量大于散热量，电介质温度就会不断上升，形成恶性循环，引起电介质分解、炭化等，电气强度下降，最终导致击穿。热击穿的特点是：击穿电压随温度的升高而下降，击穿电压与散热条件有关，如电介质厚度大，则散热困难，因此击穿电压并不随电介质厚度成正比增加；当外施电压频率增高时，击穿电压将下降。电化学击穿固体电介质受到电、热、化学和机械力的长期作用时，其物理和化学性能会发生不可逆的老化，击穿电压逐渐下降，长时间击穿电压常常只有短时击穿电压的几分之一，这种绝缘击穿成为电化学击穿。当加在某一绝缘介质上的电压高于过一定程度（击穿电压）后，这时绝缘介质会发生突崩溃而使其电阻迅速下降，继而使得一部分绝缘介质变为导体。在有效的击穿电压下，电击穿现象可以发生在固体、流体、气体或者真空等不同的介质中。电树枝（预击穿）在电气工程中，树化是固体绝缘中的一种电气预击穿现象。这是由于局部放电而造成的破坏性过程，并通过受应力的介电绝缘层，在类似于树枝的路径中进行。固体高压电缆绝缘的树化是地下电力电缆中常见的击穿机制和电气故障来源。当干介电材料在很长一段时间内受到高且发散的电场应力时，首先发生并传播电树。观察到电树化起源于杂质、气孔、机械缺陷或导电突起在电介质的小区域内引起过度电场应力的点。这可以使体电介质内的空隙内的气体电离，从而在空隙的壁之间产生小的放电。杂质或缺陷甚至可能导致固体电介质本身的部分击穿。这些局部放电 (PD) 产生的紫外线和臭氧随后与附近的电介质发生反应，分解并进一步降低其绝缘能力。随着电介质的降解，气体通常会释放出来，从而产生新的空隙和裂缝。这些缺陷进一步削弱了材料的介电强度，增强了电应力，加速了 PD 过程。5.2. 试品如表1所示，击穿强度实验平台可用于（1）TO封装、（2）刚性压接封装、（3）弹性压接封装（4）焊接封装、（5）用于实验室测量的简易封装、（6）衬板、（7）子单元框架、（8）板状绝缘材料、（9）管壳、（10）硅凝胶的击穿强度测量和验证。表1 击穿强度实验平台测试对象：5.3. 整机结构主机型号：中航时代仪器设备ZJC-100kV（多工况油浴加热定制版），如图1所示；配件备件：各种型号电极2套；放电棒一个；隔热手套1副详情见价格。图 1 外观示意图图 2 整机结构示意图上图中，（1）结构示意图所示为滤波器与主机分开的状态，直流试验时须连接滤波器，交流时需要分开滤波器；（2）交流试验时，拔出滤波器与高压变压器的连接线，分开滤波器；（3）直流试验时，合上滤波器，插上滤波器与高压变压器的连接线；（4）外部电源正负接口，用来通过外接电源的正负线，穿过之后可以直接插入试样架正负极；（5）外部采样接口会输出采样信号，采样信号包括高压电流和高压电压，信号为0-5V；（6）其他相关的部分，如高压采样等请参考电路设计框图，在此不做展示。图 3 高温油槽结构图图 4 二次侧测试电路示意图图 5 击穿强度实验平台原理框图关于绝缘材料击穿强度、击穿电压测试仪的一般说明：（1）使用计算机控制，并采集所有信号；（2）通过无级调压控制箱生成需要的波形并且输出0-200V电压，通过外部触发按键切换50Hz正弦波和100Hz方波；（3）通过高压变压器生成需要的0-100kV电压，并且通过机械机构切换交直流；（4）在试样架正负极预留外部电源输入接口；（5）直流电压通过0.5uF高压采样电容滤波，使纹波系数≤2%；（6）高压采样部分采集电压和电流，通过AD转换传递给计算机，同时预留出外部取样接口；（7）在直流试验时，通过电感限制电容放电，防止放电电流过大造成干扰；（8）整机接线如下图所示，包含计算机和放电、照明等系统的接线方式。图 6 击穿强度实验平台整机接线图5.4. 设备参数主要设备参数要求及保证如表 2所示。表 2 主要设备参数要求及保证值5.5. 设备功能击穿强度实验平台可用于模块、标准绝缘材料样品、硅凝胶、绝缘结构， 在0到100kV交（50Hz）、直流（纯直流）电压和0到50kV方波电压等复杂工况下的击穿强度测量和验证。6. 价格具体定制细节尚未敲定最终价格需要在确定技术细节后给出，参考厂家100kV击穿实验平台报价，预计需要50万元。7. 采购周期预计需要2个月完成设备采购。8. 试验验证货物在出厂时必须通过下列所有试验验证，供货商必须向采购方提供货物的试验报告。8.1. 试验1交流电源试验项目及要求。表 3交流电源试验项目及要求8.2. 试验2直流电源试验项目及要求。表 4直流电源试验项目及要求8.3. 试验3调压方式项目及要求。表 5 油浴加热盒8.4. 试验4测量项目及要求。表 6 测量项目试验要求8.5. 试验5温度项目及要求。表 7 油浴加热温度试验8.6. 试验6保护系统试验要求。表 8 保护系统试验要求9. 对技术文件的要求1. 双方签订合同后，供货商应免费随货物一并提交足够的资料来证明其提供货物达到规定的性能质量要求，供货商提供的资料应包括所供货物的详细技术性能、功能和指标、工作原理等信息，并对其可靠性和一致性负责，文件及资料种类包括且不限于：1) 货物的装箱资料清单；2) 货物的技术说明书、使用说明书、接线图纸和组装图纸；3) 货物的安装、调试和运行手册；4) 出厂检测合格报告；5) 货物质量检验合格证书；6) 合同规定的出厂验收试验报告等。2. 双方签订合同后，供货商提交技术文件时，所提供的技术文件及资料不少于2份，正本1份，副本1份。所有提供的技术文件均应为中文版，采用SI公制国际单位制，并同时提供相应的电子版。图纸采用AutoCAD2004版制作，资料采用W ord、Excel编写，文件后缀为.doc、.xls。图纸的比例尺寸为最终货物实际比例尺寸。10. 包装、标志、运输10.1. 包装及标志1. 货物在运输前都应进行包装，防止潮气、锈蚀、淋雨和振动。包装不能造成对货物的破坏，破坏的形式包括：划痕、裂痕、脏污等，另外需要增加防潮和防静电处理。包装应牢固可靠，对贵重设备和仪器应考虑与一般设备分开，采用特殊包装。2. 应在包装箱上标出“怕湿”，“小心轻放”，“向上”等必要的图形指示。包装箱表面按GB 191-2008规定标明标志，每个包装箱上应附有标签标明：1) 制造厂名称、厂标和厂址；2) 货物名称、型号；3) 产品批号和出厂日期；4) 包装的数量、重量；3. 货物在包装时应有装箱单，装箱单应至少包括以下的内容：货物的名称、数量、加工批号、出厂的日期等。每件包装件内应附有技术检验部门及检验员印章的产品合格证及必要的技术文件。4. 收货标志应给出装运标志、收货地址、收货人、箱号、毛/净重、外形尺寸、发货地址、发货人等。10.2. 运输1. 供货商应负责将货物运至采购方指定地点，由此产生的费用由供货商承担。若供货商采用邮寄的方式向采购方交货，则货物在装运后供货商应立即将装货通知单特快专递邮寄给采购方。2. 货物在运输过程中，要避免货物因为潮湿、振动、碰撞、摩擦等因素造成的任何形式的破坏，包括破裂、划伤、相互位置变化等现象。供货商向采购方运输货物过程中出现的任何质量问题，将由供货商承担责任。11. 质量保证及售后11.1. 质量保证1. 供货商应保证其所提供的所有货物都是全新的，未经使用过的，采用的是优质材料和先进工艺，并在各方面符合合同规定的质量、规格和性能要求。2. 供货商应对合同货物的设计、材料和零部件选购、加工、制造、试验等过程建立严格的质量保证体系，并在合同的整个制造过程中严格按其执行。供货商提供的所有货物均应附质量保证书或试验报告等文件。3. 供货商应采用有运行经验证明正确的、成熟的技术来进行合同货物的生产和系统的集成。如采用供货商过去从未采用过的新技术，应征得采购方的同意。4. 供货商从其他厂商采购货物，一切质量问题由供货商负责。11.2. 售后服务1. 质保期自供、采双方对货物验收之日算起，另有约定除外。2. 在质保期内，由于供货商货物质量问题造成的系统中断或其余故障，在接到采购方通知后的24小时内负责处理缺陷并更换有损坏的部件，且不收取任何额外费用，由此造成的采购方损失由供货商承担。质保服务内容包括但不限于：1) 故障部件或货物的免费更换或维修，并提供质量分析报告；2) 货物的现场维护；3) 电话技术支持等。3. 质保期内货物发生故障并由供货商处理完毕后，质保期将延长，延长时间为自货物重新投运之日起后的 12 个月。4. 在质保期内，供货商应提供7×24小时响应的技术服务，在需要现场服务时，供货商应在24小时内赶赴现场，偏远地区36小时内赶赴现场；在质量保证期后，由于供货商货物质量问题而造成的系统停运或中断，供货商应在接到采购方通知后的48小时内负责协助处理缺陷并更换有损坏的部件。对易损部件优先、优惠供应，并提供终身服务。

15.5使用特殊的技术和设备、使材料厚度的精度达到0.01in甚至更小。电极不能损坏试样的接触面。准确的测定击穿电压。15.6偏差——该测试方法不能测定固有绝缘强度。测试结果取决于试样的几何形状，电极和其他可变参数，以及样品的性质，这使得很难描述偏差。耐电压击穿试验仪16. 关键词16.1击穿，击穿电压，校准，击穿标淮，介电击穿电压，介电失效，介电强度，电极，闪络，电源频率，过程控制测试，验证测试，质量控制测试，快速增加，研究测试，取样，慢速，逐步，环境介质，耐压。1 介绍简要回顾了击穿的三种假定机制，分别是：（1）放电或电晕机制，（2）热机制，以及（3）固有机制，讨论了在原理上对实际电介质产生影响的因素，并对数据的解释提供帮助。击穿机制常常与其他机制相结合，而非单独发挥效用。随后的讨论仅针对固体和半固体材料。介电击穿的假定机制由放电造成的击穿——在对工业材料进行的许多测试中，都是由于放电造成了击穿，这通常造成较高的局部场。对于固体材料来说，放电常常发生在环境介质中，因此增加测试的区域将在电极边缘上或外侧产生击穿。放电也会发生在内部出现或生成的一些泡沫或气泡里。这会造成局部的侵蚀或化学分解。这些过程将一直持续到在电极间形成完全的失效通路为止。热击穿——在置于高强度电场时，在许多材料内的局部路径上会积聚大量的热，这将造成电介质和离子导电性能的损失，进而迅速产生热量，所产生的热量将大于所能耗散掉的热量。由于材料的热不稳定性，导致了击穿的发生。固有击穿——如果放电或热稳定性都不能造成击穿，那么在电场强度大到足以加速电子穿过材料时，仍将发生击穿。标准电场强度被称为固有绝缘强度。虽然机制本身也许已经涉及，但本测试法仍不能测试固有绝缘强度。绝缘材料的性质固态工业绝缘材料通常是非均匀的，且含有许多不同的电介质缺陷。试样上常常发生击穿的区域，并不是那些电场强度最大的区域，有时甚至是那些远离电极的区域。在应力下卷中的薄弱环节有时将决定测试的结果。 测试和测试样状况的影响因素——通常，随着电极区域的增加，击穿电压会降低，这种影响对于薄试样来说更为明显。电极的几何形状也会影响测试的结果。制作电极的材料也会对测试结果产生影响，这是因为电极材料的热导性和功函会对热机制和发电机制产生影响。通常来说，由于缺乏相关的实验数据，所以很难确定电极材料的影响。试样厚度——固体工业绝缘材料的绝缘强度主要取决于试样的厚度。经验显示，对于固体和半固体材料来说，绝缘强度与以试样厚度为分母的分数成反比，更多的证据显示，对于相对均匀的固体来说，绝缘强度与厚度的平方根互为倒数。如果固体试样能熔化后倒入到固定电极之间并凝固下来，那么电极间距的影响将很难得到明确的定义。因为在这种情况下，可以随意固定电极间距，所以习惯在液体或可溶固体中进行绝缘强度测试，此时电极间具有标准的固定空间。因为绝缘强度取决于厚度，所以如果在报告绝缘强度数据时缺乏测试所用试样的起始厚度，那么这样的数据将毫无意义。

储能电介质充放电测试系统目前常规的方法是通过电滞回线计算高压下电介质的能量密度，测试时，样品的电荷是放回到高压源上，而不是释放到负载上，通过电滞回线测得的储能密度一般会大于样品实际释放的能量密度，无法正确评估电介质材料的正常放电性能。 本系统采用特殊高压开关，通过单刀双掷控制充电和放电过程，开关可以承受10kV高压，寄生电容小，动作时间短； 内置直流高压模块，电压可达10kV，电流6mA； 通过电流探头监测放电电流，可达100A； 可以实现欠阻尼和过阻尼两种测试模式，欠阻尼测试时，放电回路短路，不使用电阻负载，过阻尼测试时，使用较大的高精度无感电阻作为放电负载； 通过示波器采集数据，并能直接计算储能密度； 定制载样平台，适用于陶瓷和薄膜样品测试； 可以变温测试，RT-250℃； 可以疲劳测试。 主要参数 产品名称：电介质充放电测试系统 型号：HCCF-10KV 电流探头带宽：120MHz 峰值电流：100A 电流采集精度：1mA 高压源模块：DC 10kV（6mA） 开关适用：100万次，耐压至15kV 温控范围：RT-250℃ 温度稳定性和精度：0.1℃ 测试样品：薄膜，厚膜，陶瓷，玻璃等

漆膜介电常数介质损耗因数测试仪δ称为损耗角，tanδ称为损耗角正切值。损耗角正切表示为获得给定的存储电荷要消耗的能量的大小，是电介质作为绝缘材料使用时的重要评价参数。为了减少介质损耗，希望材料具有较小的介电常数和更小的损耗角正切。损耗因素的倒数Q=（tanδ）-1在高频绝缘应用条件下称为电介质的品质因素，希望它的值要高。工程材料：离子晶体的损耗，离子晶体的介质损耗与其结构的紧密程度有关。紧密结构的晶体离子都排列很有规则，键强度比较大，如α-Al2O3、镁橄榄石晶体等，在外电场作用下很难发生离子松弛极化，只有电子式和离子式的位移极化，所以无极化损耗，仅有的一点损耗是由漏导引起的（包括本质电导和少量杂质引起的杂质电导）。这类晶体的介质损耗功率与频率无关，损耗角正切随频率的升高而降低。因此，以这类晶体为主晶相的陶瓷往往用在高频场合。如刚玉瓷、滑石瓷、金红石瓷、镁橄榄石瓷等漆膜介电常数介质损耗因数测试仪结构松散的离子晶体，如莫来石（3Al2O32SiO2）、董青石（2MgO2Al2O35SiO2）等，其内部有较大的空隙或晶格畸变，含有缺陷和较多的杂质，离子的活动范围扩大。在外电场作用下，晶体中的弱联系离子有可能贯穿电极运动，产生电导打耗。弱联系离子也可能在一定范围内来回运动，形成热离子松弛，出现极化损耗。所以这类晶体的介质损耗较大，由这类品体作主晶相的陶瓷材料不适用于高频，只能应用于低频场合。玻璃的损耗复杂玻璃中的介质损耗主要包括三个部分：电导耗、松弛损耗和结构损耗。哪一种损耗占优势，取决于外界因素温度和电场频率。高频和高温下，电导损耗占优势：在高频下，主要的是由弱联系离子在有限范围内移动造成的松弛损耗：在高频和低温下，主要是结构损耗，其损耗机理目前还不清楚，可能与结构的紧密程度有关。般来说，简单玻璃的损耗是很小的，这是因为简单玻璃中的“分子”接近规则的排列，结构紧密，没有弱联系的松弛离子。在纯玻璃中加人碱金属化物后。介质损耗大大增加，并且随着加人量的增大按指数规律增大。这是因为碱性氧化物进人玻璃的点阵结构后，使离子所在处点阵受到破坏，结构变得松散，离子活动性增大，造成电导损耗和松弛损耗增加。陶瓷材料的损耗漆膜介电常数介质损耗因数测试仪介质损耗（dielectric loss ）指的是绝缘材料在电场作用下，由于介质电导和介质极化的滞后效应，在其内部引起的能量损耗。也叫介质损失，简称介损。介质损耗因数（dielectric loss factor）指的是衡量介质损耗程度的参数。【依据标准】GB/T 16491、GB/T 1040、GB/T 8808、GB/T 13022、GB/T 2790、GB/T 2791、GB/T 2792、GB/T 16825、GB/T 17200、GB/T 3923.1、GB/T 528、GB/T 2611、GB/T 6344、GB/T 20310、GB/T 3690、GB/T 4944、GB/T 3686、GB/T 529、GB/T 6344、GB/T 10654、HG/T 2580、JC/T 777、QB/T 2171、HG/T 2538、CNS 11888、JIS K6854、PSTC-7、ISO 37、AS 1180.2、BS EN 1979、BSEN ISO 1421、BS EN ISO 1798、BS EN ISO 9163、DIN EN ISO 1798、GOST 18299、DIN 53357、ISO 2285、ISO 34-1、ISO 34-2、BS 903、BS 5131、DIN EN 12803、DIN EN 12995、DIN53507-A、DIN53339、ASTM D3574、ASTM D6644、ASTM D5035、ASTM D2061、ASTM D1445、ASTM D2290、ASTM D412、ASTM D3759/D3759M功能介绍1.自动停机：试样破坏后，移动横梁自动停止移动（或自动返回初始位置、2.自动换档：根据试验力大小自动切换到适当的量程，以确保测量数据的准确性3.条件模块：试验条件和试样原始数据可以建立自己的标准模块的形式存储；方便用户的调用和查看，节省试验时间4.自动变速：试验过程的位移速度或加载速度可按预先编制、设定的程序自动完成也可手动改变5.自动程制：根据试验要求，用户可方便的建立自己的试验模板（方法、，便于二次调用，可实现试验加载速度、应力、应变的闭环试验控制6.自动保存：试验结束，试验数据和曲线计算机自动保存，杜绝因忘记存盘而引起的数据丢失漆膜介电常数介质损耗因数测试仪若取不同C1进行多次测量后取一个平均值，则测试结果将较为准确。B．自然频率法（此法可获得较准确的结果） a．将被测线圈接在“Lx”接线柱上；b．将微调电容器度盘调至零，调谐电容器度盘调到最大电容值C1； c．调讯号源频率，使回路谐振，该频率为f1；d．取下被测线圈，换上一个能在调谐电容器调节范围内和十倍于f1频率谐振的电感； e．讯号源调到10 f1位置，调节调谐电容器到谐振点；f. 将被测线圈接在“Cx”两端，调节调谐电容器达谐振，此时视电容读数是增加还是减小。若增加，则应将振荡器频率调高些，若减小，则频率调低些；g. 再取下被测线圈，调节主调电容达到谐振；漆膜介电常数介质损耗因数测试仪a．选择要求的测试频率；b. 用一只合格元件或一只辅助线圈调谐主调电容，使Q值读数指示在所需预置Q值位置上；例150，按一下Q值设置键，使显示屏第三行显示“COMP OK”，同时仪器发出鸣叫声，Q值大于150值，液晶屏第三行显示“COMP 150”；再调谐主调电容，使Q值读数指示在所需预置Q值位置上；例170，再按一下Q值设置键，液晶屏第三行显示“COMP 170150”，此时Q合格范围预置功能的设置就结束了；产品的交收检验1. 检验环境要求a．环境温度：20℃±2℃，相对湿度50％； b．供电电源：220V±10V，50Hz±1Hz； c．被检设备要预热30分钟以上。2. 检验设备要求a. 设备应在计量后的有效使用期内；b. 检验设备应按仪器规定预热。3. Q值指示检验a. 检验设备：BQG-2标准线圈一套；b. 把标准Q值线圈接入A/C表电感接线柱上； c．选择标准Q值线圈所规定的检定频率；d．A/C Q表的Q值读数的相对误差应符合二.1.C条中的固有误差之规定。4．调谐电容器准确度检验a. 测试时如发现干扰，应断开内部信号源；b. 设备连接如图六所示，连接线应尽量短，尽可能减小分布电容；1. 谐振点频率自动搜索功能的使用如果你对电感元件无法确定它的数值时，你就可用该功能来帮你寻找出它的谐振频率点。步骤如下：a. 把元件接以接线柱上；b. 主调电容调到约中间位上；c. 按一下频率搜索按键，显示屏左下部显示“SWEEP””，仪器就进入搜索状态。仪器从最低工作频率一直搜索到最高工作频率，如果你的元件谐振点在频率覆盖区间内，搜索结束后，将会自动停在元件的谐振频率点附近。如果临时要退出搜索状态，可再按一次搜索键，仪器会退出搜索操作。 8．谐振点电容自动搜索功能的使用如果你想在已知的频率找出被测量器件的谐振频率点时，你就可用该功能来帮你寻找出它的谐振 点。步骤如下：a．把元件接以接线柱上； b．频率设置为所需的频率；c．按一下电容搜索按键，仪器就进入电容搜索状态，仪器从最小电容一直搜索到最大电容，如果你的元件谐振点在电容覆盖区间内，搜索结束后，主电容将会自动停在元件的谐振频率点附近。如果临时要退出搜索状态，可再按一次搜索键，仪器会退出搜索操作。a. 频率计数器技术要求测量范围：10Hz-1000MHz； 测量误差：1×10-6；测量灵敏度：30mV。d. 测试线要求：高频电缆SYV-50-3；9．频率调谐开关的使用。A/C的频率调谐采用了数码开关，它能辨别使用者的要求，来调节频率变化的速率(频率变化值／ 档)。在你快速调节该开关时，频率变化速率也加快，当你缓慢调节开关时，频率变化速率也慢下来。 因此在调谐时接近所需的频率时，应放缓调节速度，当你调节的频率超出工作频段的频率时，仪器会自动选择低一个或高一个频段工作。

特点：优化的测试电路设计使残值更小◆ 高频信号采用数码调谐器和频率锁定技术◆ LED 数字读出品质因数，手动/自动量程切换◆ 自动扫描被测件谐振点，标频单键设置和锁定，大大提高测试速度作为新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前国内高的160MHz。1 双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。2 双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。3 双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。4 自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。5 全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。6 DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。7 计算机自动修正技术和测试回路优化 —使测试回路 残余电感减至低，彻底 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。标准配置：高配Q表 一只 试验电极 一只 （c类）电感 一套（9只）电源线 一条说明书 一份合格证 一份保修卡 一份为什么介电常数越大，绝缘能力越强？因为物质的介电常数和频率相关，通常称为介电系数。介电常数又叫介质常数，介电系数或电容率，它是表示绝缘能力特性的一个系数。所以理论上来说，介电常数越大，绝缘性能就越好。注：这个性质不是绝对成立的。对于绝缘性不太好的材料(就是说不击穿的情况下,也可以有一定的导电性)和绝缘性很好的材料比较,这个结论是成立的。但对于两个绝缘体就不一定了。介电常数反映的是材料中电子的局域(local)特性,导电性是电子的全局(global)特征.不是一回事情的。补充：电介质经常是绝缘体。其例子包括瓷器(陶器)，云母，玻璃，塑料，和各种金属氧化物。有些液体和气体可以作为好的电介质材料。干空气是良好的电介质，并被用在可变电容器以及某些类型的传输线。蒸馏水如果保持没有杂质的话是好的电介质，其相对介电常数约为80。对于时变电磁场，物质的介电常数和频率相关，通常称为介电系数。介电常数又叫介质常数，介电系数或电容率，它是表示绝缘能力特性的一个系数介电常数,用于衡量绝缘体储存电能的性能.它是两块金属板之间以绝缘材料为介质时的电容量与同样的两块板之间以空气为介质或真空时的电容量之比。介电常数代表了电介质的极化程度，也就是对电荷的束缚能力，介电常数越大，对电荷的束缚能力越强。电容器两极板之间填充的介质对电容的容量有影响，而同一种介质的影响是相同的，介质不同，介电常数不同

介质损耗缘油电阻率测试仪本怀推等同采用IEC 602T:2004(搜体范像材料相对电容车,介质担托四数和直德电阻率的侧量》(英文版)。为便于使用,本标准做了下列编辑性修改。a)用小数点符号*.”代替小数点符号*”b)“本国际标准”一词改为“本标准” 本标准代替GB/T5654-19854液体绝缘材料工照相对介电常数.介质损耗因数和体积电阻率的测量)本标准与GB/T5654-1985相比主要变化如下。a)本标准增加了“引言"及"规范性引用文件"章节 b)在直流电阻车测量中,将“试验电压使液体承受200V~300 V/mm……”改为"试验电压应使液体承受 250V/mm……” 将电化时间“60s”改为“60 s±2 s” 将“注试样 15min后开始测量"齿为"不超过10min开始测量",c)本标准增加了图2.图3.图4.图 5。本部准的附录∧.附录B.附录C为资料性附录。本标准由中国电器工业协会提出。本标准由全国绝缘材料标准化技术委员会(SAC/TC 51)归D，木标准起草单位,桂林电器科学研究所。本标准主要起草人:王先锋。本标准历次版本发布情况为:-GB/T5654-1985。介质损耗缘油电阻率测试仪液体绝缘材料相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量1范围本标准规定了在试验温度下液体绝缘材料的介质损耗因数,相对电容率和直流电阻率的测量方法。本标准主要是对未使用过的液体做参考性试验,但也适用于在运行中的变压器、电缆和其他电工设备中的液体。然而,本标准只适用于单相液体,当做例行测量时可以采用简化方法和附录C所述的方法。对于非碳氢化合物绝缘液体,则要求采用其他请洗方法。2规范性引用文件下列文件中的条款通过本标准的引用面成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本，凡是不挂日期的引用文件,其最新版木适用于本标准，GB/T 1409-2006固体绝缘材料在工频,音频,高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方集(U 60B50 1969,MUD)GB/T 1410-2006固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率试验方法(IEC 60093,1980,IDT)GB/T 21216-2007绝缘液体测量电导和电容确定介质损耗因数的试验方法(IEC61620,1998。IDT)IEC60475液体电介质取样方法3术语和定义下列术语和定义适用于本标准。3.1(相对)电容率permittivity(relative)绝缘材料的相对电容率是一电容器的两电极周围和两电极之间均充满该绝缘材料时所具有的电容量C.与同样电极结构在真空中的电容量C.之比。用该电极在空气中的电容量C.代替C,对于测量相对电容率具有足够的精确度。3.2介质损耗因数(tan8)dielectric disipation facter (tanh)绝缘材料的介质损耗因数(tan2)是损耗角的正切。当电容器的介质仅由一种绝缘材料组成时,损耗角是指外施电压与由此引起的电流之间的相位差偏离π/2的弧度。注:实际应用中,tan8测得值低于0.005时,uJ和功率因数(PF)基本上相同。可用一个简单的换算公式将两者进料稳靠。功率因数是图耗鱼的正载,动率因救和合感相鲜因着之加的委系可害选为下式。PF--tanl√1+(ta) --------.---------------(1)介质损耗缘油电阻率测试仪GB/T5654-2007/IEC 60247:2004式中:PF-一功率因数:tan 介质损耗四数。3.3直流电阻率(体积)dc. resistivity (rolome)绝缘材料的体积电阻率是在材料内的直流电场强度与稳态电流密度的比值。排，由阻率的单位是欧的米(Ω*m).4概述电容率、tan8和电阻率,无论是单一还是全部,都是绝缘液体的固有质量和污染程度的重要指标。这些参数都可用于解释所要求的介电特性发生偏离的原因,也可解释其对于使用该液体的设备所产生的潜在影响。4.1电容率和介质损耗周数(tan)电气吧缘液体的电容率和分质报秏因数(tan8)在相当大程度上取决于试验条件,特别是温度和施加电压的频率,电容率和介质损耗因数都是介质根化和材料电导的度量。在工频和足够高的温度下,与本方法中推荐的一样,损耗可仅归因于液体的电导,即归因于液体中自由载流子的存在。因此,测量高纯净绝缘液体的介电特性,对判别电离杂质的存在很有价值。介质损耗与测量频率成反比,且随介质粘度的变化而变化。试验电压值对测量担耗因数影响不大，它道常只是受电桥的灵敏度所限制。但是,应考虑到高的电场强度会引起电极的二次效应,介质发热。放电等影响。较大的杂质所引起的电容率的变化相对较小,而其介质损耗则强烈地受极小量的可电离溶解杂质或胶体微粒的影响。某些液体有控大的极性,所以对未质的敏感性较之猫氢化音物液体要漏得多。极性还导致它有较高的溶解和电离的能力,因此在操作时要比对碳氢化合物液体更应小心。通常认为初始值能较好地代表液体的实际状态,所以更希望能在一达到温度平衡时就测量介质损耗因数.介质洪耗国数对温度的变化很敏感,通常晶随温度的增加成指数式的增大.因此需要在足够精确的温度条件下进行测量。下面所述的方法使试样温度在很短的时间内达到与试验池平衡。4.2电阻率用本标准的方法测得的电阻率通常并不是真正的电阻率。当施加直流电压后,由于电荷迁移,将使液体的起始特性发生随时间面变化。真正的电阻率只有在低电压下且在刚施加电压后才可得到。本标准使用比较高的电压且经校长时间,因此,其结果通常是与CB/T 21216--2007所得到的不同。本标准中液体的电阻率测量结果与试验条件有关,主要有。a)温度电阻率对温度的变化特别敏感,是按1/K指数变化。因此需要在足够精确的温度条件下进行测量。D)电场强度的值给定试样的电阻率可受施加电场强度的影响。为了获得可比的结果,应在近似相等的电压梯度下进行测量,并应在相同极性下进行,此时应注明其梯度值和极性。e)电化时间当施加直流电压时,由于电荷向两电板迁移,流经试样的电流将逐渐减少到一极限值。一般规定电化时间为1min,不同的电化时间可导欧试验坫果明显不同[某些高精度的液体可能需要相当长的电化时间(见 14.2)]。4.3测量次序将直流电压施加在试样上,合改变其随后到量的工频tun子的结果。介质损耗缘油电阻率测试仪GB/T5054--2007/TEC 60247:2004当在同一试样上相继测量电容率、提耗四数和电阻率时,上频下圆量应在对试样跑加直流电压以前进行，工频试验后,应将两电极短路1min后再开始测量电阻率，4.4导致错误结果的因素虽然只有严重污染才会影响电容丰。但俄量的行染却胞很烈地膨响umð 和电阻率。不可靠的结果通常是由于不适当的取样或处理试样所造成的污染,由未洗净试验池或吸收了水份，特别是存在不溶解的水份所引起。在贮藏期间长久暴露在强光线下会导致电介质劣化,采用所推荐液体样品贮存和运输以及试验池的结构和净化的标准化程序,可使由污染引起的误差减至最小。5 仪器5.1试验池同一试验池可用来测量电容率、介质损耗因数和直流电阻率。适合于这些用途的试验池应符合如下要求。5.1.1试验池应设计成能容易拆洗所有的部件,并易于重新装配而不致明显地改变空池的电容量。同时试验施还应能在所要求的恒定程度下使用,并提供以厨圃档确皮米测量和控制被体温度的力法。外加热的炉(或浴)或内部电加热的试验池都可以使用。5.1.2用来制造试验池的材料应是无气孔的,并能经受所要求的温度,电极的中心对推应不受温度变化的影响。5.1.3与被试液体接触的电极表面应抛光如镜而,以便清洗容易。液体和电极之同应没有相互的化学作用,它们也不应受清洗材料的影响。用不锈钢制造的试验池(电极)对试验所有类型的绝缘液体都是适用的,不应使用倡和铝合全做电极,因为它们合被碱性的洗净剂腐蚀。注:通常在表面上电镀不如一种金属制成的电极好。但表面镀金,镰或铑,只要值得好并保持完好无损也可满意地使用。股钢镀储电极较妤且具有较低热膨胀的优点，也可采用在黄钢上镀俊或金和在不锈钢上镀镍的电极。5.1.4用来支撑电极的固体绝缘材料应具有较低的介质损耗因数和较高的电阻率,这些固体绝缘材料不应吸收参照液体,被试液体以及清洗材料,也不应受它们的影响，拉:透常认为熔融石类是用份试渲感合适的范缘材料,自于普递金属和石美的线膨恭系数不同,它们挂合国之间俑要具有充分的经向间除，但应注意到这间胞会减小电极闰距的精度。5.1.5保护电极和测量电极之间横跨液面及固体绝缘材料的距离应足够大,以便能承受施加的试验电压，5.1.6符合5.1.1到5.1.5要求的任何试验池均可使用,用于低黏度液体和施加电压不超过2000V的试验池见图1~图5。三端试验池提供了足以屏蔽测量电极的有效保护电极系统。当进行极精密的电容率测量时应选择三端试验池，在这种测量中,如有必要,还要求加上一个可拆卸的特殊屏蔽环,并与连接测量电极和电桥的网轴电缆的外层导体(屏蔽)相逢接(见图 2)。在用两端试验池时,引线屏蔽层通常是接到保护电极的。为了防止屏蔽层同任何其他表而接触,应将它牢牢地夹在电缆的绝缘层上。当用这样的试验池测量电阻率时,空池的绝缘撑环的电阻至少是被测液体电阻的100倍。同样,在文流下测量介质损耗因数也应有相应的比值。对于较好的绝缘液体,可能由于绝缘撑环附加的投耗而改变测量值。为此,建议使用在两电极间无任何固体绝缘材料支撑的试验池,这样的空试验池的报耗因数在50Hz时应低于10°。为了使与液休接触表面的污热影响减到最小,建议采用具有电极表面面积与液休林积之比小的试验池,例如小于5/cm。介质损耗缘油电阻率测试仪GB/T5654--2097/1EC 60247:200412.2测量试验池非自动加热,当其温度达到所要求试验温度的±1℃时,应于10min内开始测量提耗因数.在测量时施加电压，完成初次测量后(如果需要,也包括测量电容率和电阻率时),倒出试验液体，再用第二份试样充满试验池,操作程序和第一次相同,但省去涮洗。重复测呈,两次测得的an值之差应不大于0.0001加两个值中较大的25%。注 只有鉴定und值较小的产品时才需要重复测量,例行试验不需要重复测量。如果不满足上述要求,剧继缝充埴试样测量,直到相邻两次tan8别量值之差不超过0.0001加两个值中较大的25%为止,此时认为测量是有效的。12.3推告报告两次有效测量值的平均值作为试样的损耗因数(tand)。报告应包括:)电场强度b)施加电压的频率 e)试验掘度。13相对电容率的测量13.1测量首先测量以干燥空气为介质的干净试验池的电容量,然后测量装有已知相对电容率为e的液体的电容量。按下式计算电极常数C和修止电容Cc,5-C.-.--- --- -=s =.=--- --- --- --- ---(3)C,-C-C.**.* ..*..* .** ..* .…* ..*…** **=( 4)式中C一电极常数:C一一充有已知相对电容率为。的校准溶液的试验池的电容量:C.一一以空气作为介质的试验池的电容量:C.一一修正电容，测量装有被试液体的试验池的电容量C,并按下式计算相对电容率e------------------(5)式中，。一被试液体的相对电容率 C.一一被试液体的电容量:C.一--以空气作为介质的试验池的电容量，C,一修正电容。重复试验，直至相邻两次测试值的差不大于较大值的5%,则认为测量是有效的。注1:如果在测定C.值时已知C、C.和c。值,则可获得最高的精度。注2,当用设计很好并预先校正过的三端试验池时或当精度要求较低时,可以忽略G项,而相对电容率可按简化公建计算CB/T5654-2007/UEC 60247.2004当需要预热试样时,在倒出足够的样品用作其他试验时,应尽可能将杀下的样品在原米的样品容器里预热,此时,应考虑液体的热膨胀而留有足够的空间,以避免容器破裂，当试样必须移到其他容器内时,这些容器应是带盖烧杯或带塞子的锥形玻璃烧瓶,并按第7章要求进行请洗。如果必须在室温下进行试验,则应将原来样品容器放在将要进行试验的室内,直至样品达到室温当需在高温下进行试验而试样又不能在试验池内加热时,试样容卷或辅助的容器委用基子基住,并保证在此容器内有合造的体积足以满足液体的热膨胀,在烘箱里把它加热到高于要求的试验温度5℃~10℃,由丁液体易氧化,因此加热时间应不超过1h。若必须在一个单独的烘箱内加热液体,为防止污染影响,最好保证一个烘箱只用于一种类型的液体。为了取到有代表性的试样,在取样之前.应将容器倾斜并缓慢地旋转液体几次,以使试样均匀，用干净的无绒布擦洗容器口,并倒出一部分液体样品擦洗容器的外表面。10条件处理及试验池充填试样10.1试验池的条件处理在选净并干燥完电极后,注意不要用裸手接触它们的表面,也应注意放置试验池部件的表面要很请洁,试验池上面不要有水蒸汽或灰尘。为了使试验池的清洗程序对随后试验的影响减到最小,很重要的一点是要对于燥清洁的试验池进行预处理,即用下次的被试渣体充瞒试验池两次。对于高粘度液体,可能需要更长时间的预处理。10.2试验池充填试样用一部分掖体试样剧冼试验池三次,然后倒出并倒掉液体。在刷洗试验池时,若需要取出内电板，应注意防止在任何表面剩留液体,并防止尘粒聚集在试验池的浸液表面。重新充满试样,注意防止夹带气泡。将装有试样的试验池加热到所需试验温度,每个试验温度所需的时间取决于加热方法,通常可能在10 min~60 min范围。在达到所需试验温度的±1℃时,10min内必须开始测试。应特别注意防止液体成试验他的各那件与任何污染煞相搂触。在一种液体内不呈活性的杂质可能在另一种液体内会因杂质的迁移面呈现活性,因此最好限制一试验池只用于一种类型的液体。应尽可能地保证周围大气中不存在影响液体质量的水蒸汽或气体。11试验温度这些试验方法适合于在一个很宽的温度范雨内试验绝缘液体,除非在特定液体的规范中另有规宗，一般试验应在90℃下进行。测量温度的分辨率应在U.25℃以内。12介质模耗固数(tau8)的测量

产品名称：介电常数测试仪 产品型号：LJD-B、LJD-C、QS-37符合标准：GB/T1409、GB/T5594产品用途：固体、液体绝缘材料的介电常数及介质损耗测试适用材料：橡胶塑料薄膜、陶瓷玻璃、绝缘材料、高分子材料等测试范围：10KHZ-70MHZ、100KHZ-160MHZ主要配置：主机Q表、夹具、电感组成测试项目：介电常数、介质损耗、介质损耗因数、介质损耗角正切值使用人群：科研所、教学、质量监督局、军工单位等付款方式：全款发货产品品牌：中航鼎力产品货期：1-3个工作日产品类别：电性能检测仪器ASTM D150-11实心电绝缘材料的交流损耗特性和电容率（介电常数）的标准试验方法1本标准是以固定代号D150发布的。其后的数字表示原文本正式通过的年号；在有修订的情况下，为上一次的修订年号；圆括号中数字为上一次重新确认的年号。上标符号（ε）表示对上次修改或重新确定的版本有编辑上的修改。　　　　本标准经批准用于国防部所有机构。1.介电常数测试仪范围1.1 本试验方法包含当所用标准为集成阻抗时，实心电绝缘材料样本的相对电容率，耗散因子，损耗指数，功率因子，相位角和损耗角的测定。列出的频率范围从小于1Hz到几百兆赫兹。注1：在普遍的用法，“相对”一词经常是指下降值。1.2 这些试验方法提供了各种电极，装置和测量技术的通用信息。读者如对某一特定材料相关的议题感兴趣的话，必须查阅ASTM标准或直接适用于被测试材料的其它文件。2,31.3　　本标准并没有完全列举所有的安全声明，如果有必要，根据实际使用情况进行斟酌。使用本规范前，使用者有责任制定符合安全和健康要求的条例和规范，并明确该规范的使用范围。特殊危险说明见1　本规范归属于电学和电子绝缘材料ASTM D09委员会管辖，并由电学试验D09.12附属委员分会直接管理。当前版本核准于2011年8月1日。2011年8月发行。原版本在1922年批准。前一较新版本于2004年批准，即为　D150-98R04。DOI：10.1520/D0150-11。2　R. Bartnikas, 第2章, “交流电损耗和电容率测量,” 工程电介质, Vol. IIB, 实心绝缘材料的电学性能, 测量技术,3　R. Bartnikas, 第1章, “固体电介质损耗,” 工程电介质,Vol IIA, 实心绝缘材料的电学性能: 分子结构和电学行为,2.介电常数测试仪引用文件2.1 ASTM标准：4D374 　　　　固体电绝缘材料厚度的标准试验方法D618 　　　　试验用塑料调节规程D1082 　　　云母耗散因子和电容率（介电常数）试验方法D1531 　　　用液体位移法测定相对电容率（介电常数）与耗散因子的试验方法D1711 　　　电绝缘相关术语D5032 　　　用饱和甘油溶液方式维持恒定相对湿度的规程E104 　　　　用水溶液保持相对恒定湿度的标准实施规程E197 　　　　室温之上和之下试验用罩壳和服役元件规程（1981年取消）53.介电常数测试仪术语3.1 定义：3.1.1 这些试验方法所用术语定义以及电绝缘材料相关术语定义见术语标准D1711。3.2 本标准专用术语定义：3.2.1 电容，C，名词——当导体之间存在电势差时，导体和电介质系统允许储存电分离电荷的性能。3.2.1.1 讨论——电容是指电流电量 q与电位差V之间的比值。电容值总是正值。当电量采用库伦为单位，电位采用伏特为单位时，电容单位为法拉，即：C=q/V 　　　　　　　　　　（1）3.2.2 耗散因子（D），（损耗角正切），（tanδ），名词——是指损耗指数（K''）与相对电容率（K'）之间的比值，它还等于其损耗角（δ）的正切值或者其相位角（θ）的余切值（见图1和图2）。D=K''/K' 　　　　(2)4　相关ASTM标准，可浏览ASTM网站，www.astm.org或与ASTM客服service@astm.org联系。ASTM标准手册卷次信息，可参见ASTM网站标准文件汇总。5　该历史标准的较后批准版本参考网站www.astm.org。3.2.2.1 讨论——a：D=tanδ=cotθ=Xp/Rp=G/ωCp=1/ωCpRp　　　　　　　　(3)式中：G=等效交流电导，Xp=并联电抗，Rp=等效交流并联电阻，Cp=并联电容，ω=2πf（假设为正弦波形状）耗散因子的倒数为品质因子Q，有时成为储能因子。对于串联和并联模型，电容器耗散因子D都是相同的，按如下表示为：D=ωRsCs=1/ωRpCp　　　　　　　　(4)串联和并联部分之间的关系满足以下要求：Cp=Cs/(1 D2) 　　　　　　　　　　　　(5)Rp/Rs=(1 D2)/D2=1 (1/D2)=1 Q2　　　　　　　　　　　　　(6)4、数据采集和tanδ自动测量控件（装入AS2853A)，实现了数据采集、数据分析和计算的微处理化，tanδ 测量结果的获得无须繁琐的人工处理，因而提高了数据的精确度和测量的同一性，是人工读值和人工计算无法比拟的。三、主要技术特性及配置主要配置序号构 成型 号数量制 造 厂 家1主机LJD-C1台测试装置（夹具）AS9161台标准电感HLKI-11套2三电极系统(油中、空气中) 油中带油槽 各1套3油槽1台4日常维修工具1套说明书

电离损耗（又称游离损耗）是由气体引起的，含有气孔的固体介质在外加电场强度超过气孔气体电离所需要的电场强度时，由于气体的电离吸收能量而造成指耗，这种损耗称为电离损耗。结构损耗在高频电场和低温下，有一类与介质内邻结构的紧密度密切相关的介质损耗称为结构损耗。这类损耗与温度关系不大，耗功随频率升高而增大。试验表明结构紧密的晶体成玻璃体的结构损耗都很小，但是当某此原因（如杂质的掺入、试样经淬火急冷的热处理等）使它的内部结构松散后。其结构耗就会大大升高。宏观结构不均勾性的介质损耗工程介质材料大多数是不均匀介质。例如陶瓷材料就是如此，它通常包含有晶相、玻璃相和气相，各相在介质中是统计分布口。由于各相的介电性不同，有可能在两相间积聚了较多的自由电荷使介质的电场分布不均匀，造成局部有较高的电场强度而引起了较高的损耗。但作为电介质整体来看，整个电介质的介质损耗必然介于损耗大的一相和损耗小的一相之间。表征：电介质在恒定电场作用下，介质损耗的功率为　　W=U2/R=（Ed）2S/ρd=σE2Sd定义单位体积的介质损耗为介质损耗率为ω=σE2在交变电场作用下，电位移D与电场强度E均变为复数矢量，此时介电常数也变成复数，其虚部就表示了电介质中能量损耗的大小。D，E，J之间的相位关系图D，E，J之间的相位关系图如图所示，从电路观点来看，电介质中的电流密度为J=dD/dt=d（εE）/dt=Jτ+iJe式中Jτ与E同相位。称为有功电流密度，导致能量损耗；Je，相比较E超前90°，称为无功电流密度。定义tanδ=Jτ/Je=ε〞/εˊ式中，δ称为损耗角，tanδ称为损耗角正切值。损耗角正切表示为获得给定的存储电荷要消耗的能量的大小，是电介质作为绝缘材料使用时的重要评价参数。为了减少介质损耗，希望材料具有较小的介电常数和更小的损耗角正切。损耗因素的倒数Q=（tanδ）-1在高频绝缘应用条件下称为电介质的品质因素，希望它的值要高。工程材料：离子晶体的损耗，离子晶体的介质损耗与其结构的紧密程度有关。紧密结构的晶体离子都排列很有规则，键强度比较大，如α-Al2O3、镁橄榄石晶体等，在外电场作用下很难发生离子松弛极化，只有电子式和离子式的位移极化，所以无极化损耗，仅有的一点损耗是由漏导引起的（包括本质电导和少量杂质引起的杂质电导）。这类晶体的介质损耗功率与频率无关，损耗角正切随频率的升高而降低。因此，以这类晶体为主晶相的陶瓷往往用在高频场合。如刚玉瓷、滑石瓷、金红石瓷、镁橄榄石瓷等

电离损耗（又称游离损耗）是由气体引起的，含有气孔的固体介质在外加电场强度超过气孔气体电离所需要的电场强度时，由于气体的电离吸收能量而造成指耗，这种损耗称为电离损耗。结构损耗在高频电场和低温下，有一类与介质内邻结构的紧密度密切相关的介质损耗称为结构损耗。这类损耗与温度关系不大，耗功随频率升高而增大。试验表明结构紧密的晶体成玻璃体的结构损耗都很小，但是当某此原因（如杂质的掺入、试样经淬火急冷的热处理等）使它的内部结构松散后。其结构耗就会大大升高。宏观结构不均勾性的介质损耗工程介质材料大多数是不均匀介质。例如陶瓷材料就是如此，它通常包含有晶相、玻璃相和气相，各相在介质中是统计分布口。由于各相的介电性不同，有可能在两相间积聚了较多的自由电荷使介质的电场分布不均匀，造成局部有较高的电场强度而引起了较高的损耗。但作为电介质整体来看，整个电介质的介质损耗必然介于损耗大的一相和损耗小的一相之间。表征：电介质在恒定电场作用下，介质损耗的功率为　　W=U2/R=（Ed）2S/ρd=σE2Sd定义单位体积的介质损耗为介质损耗率为ω=σE2在交变电场作用下，电位移D与电场强度E均变为复数矢量，此时介电常数也变成复数，其虚部就表示了电介质中能量损耗的大小。D，E，J之间的相位关系图D，E，J之间的相位关系图如图所示，从电路观点来看，电介质中的电流密度为J=dD/dt=d（εE）/dt=Jτ+iJe式中Jτ与E同相位。称为有功电流密度，导致能量损耗；Je，相比较E超前90°，称为无功电流密度。定义tanδ=Jτ/Je=ε〞/εˊ式中，δ称为损耗角，tanδ称为损耗角正切值。损耗角正切表示为获得给定的存储电荷要消耗的能量的大小，是电介质作为绝缘材料使用时的重要评价参数。为了减少介质损耗，希望材料具有较小的介电常数和更小的损耗角正切。损耗因素的倒数Q=（tanδ）-1在高频绝缘应用条件下称为电介质的品质因素，希望它的值要高。工程材料：离子晶体的损耗，离子晶体的介质损耗与其结构的紧密程度有关。紧密结构的晶体离子都排列很有规则，键强度比较大，如α-Al2O3、镁橄榄石晶体等，在外电场作用下很难发生离子松弛极化，只有电子式和离子式的位移极化，所以无极化损耗，仅有的一点损耗是由漏导引起的（包括本质电导和少量杂质引起的杂质电导）。这类晶体的介质损耗功率与频率无关，损耗角正切随频率的升高而降低。因此，以这类晶体为主晶相的陶瓷往往用在高频场合。如刚玉瓷、滑石瓷、金红石瓷、镁橄榄石瓷等

ASTM D149介电强度/GB/T1408击穿强度测试仪（ZJC-50-150KV）在强电场中工作的绝缘材料，当所承受的电压超越一临界 值V穿时便丧失了绝缘材料性能而被击穿，这种现象称为 电介质的击穿，V穿称为击穿电压。 &bull 采用相应的击穿场强来比较各种材料的耐击穿能力，材料 所能承受的最大电场强度称为材料的抗电强度或介电强度， 其数值等于相应的击穿场强（V/m）： E穿 =V穿/d参数介绍：1、输入电压：AC220V 50Hz 2、输出电压：AC：0～150kV； DC：0～150kV3、输出功率：15kVA4、测量范围：AC15～150kV； DC15～150kV5、测量误差： ≤2％6、升压速率： 0.5kV/s～10kV/s7、耐压时间：0～8H8、漏电流： 1～30 mA可由计算机软件自由进行设定9、电源 ：交流220V±10%的单相交流电压和50Hz±1%的频率10、试验环境温度：15 ～ 30℃，相对湿度：0～85%能够稳定运行。11、外形尺寸长×宽×高：1980mm×1220 mm×1750mm（参考）12、设备自重：1500Kg（参考）13、接地要求仪器需要单独接地，接地附合国家标准要求，金属棒深埋地下至少要1.5米以下14、型号：ZJC-150kV影响材料击穿电压的因素： &bull 材料本身的性质：固体介质的击穿同时伴随着材 料的破坏，而气体及液体介质被击穿后，随着外 电场的撤销仍然能恢复材料性能。 &bull 外界因素：试样和电极的形状、外界的媒介、温 度、压力等。电介质的击穿形式：介质在电场中击穿现象相当复杂，一 个器件的击穿可能有多种击穿形式，主要有： &bull 电击穿 &bull 热击穿 &bull 化学击穿 对于任意一种材料，这3种形式的击穿都可能发生，主要 取决于试样的缺陷情况及电场的特征（交流和直流，高频 和低频，脉冲电场等）以及器件的工作条件。1、电击穿 在强电场的作用下原来处于热运动状态的少数“自由电子”将沿反电场方向 定向运动。在其运动过程中不断撞击介质内的离子，同时将其部分能量转 给这些离子，当外加电压足够高是，自由电子定向运动的速度超过一定临 界值可使介质内的离子电离出次级电子，这些电子都会从电场中吸取能量 而加速，又撞击出第三级电子，连锁反应将造成大量自由电子形成 “雪 崩”，导致介质的击穿，这个过程大概只需要10－7－10－8s的时间，因此 电击穿往往是瞬息完成的。2、热击穿绝缘材料在电场下工作时由于各种形式的损耗，部分电 能转变成热能，使介质被加热，若器件内部产生的热量 大于器件散发出去的热量，则热量就在器件内部积聚， 使器件温度升高，升温的结果进一步增大损耗，使发热 量进一步增多，这样恶性循环的结果使器件温度不断上 升，当温度超过一定限度时介质会出现烧裂、熔融等现 象而完全丧失绝缘能力，这就是介质的热击穿。3、化学击穿长期运行在高温、潮湿、高电压或腐蚀性气体环境 下的绝缘材料往往会发生化学击穿，化学击穿和材 料内部的电解、腐蚀、氧化、还原、气孔中气体电 离等一系列不可逆变化有很大的关系，而且需要相 当长时间，材料被“老化”，逐渐丧失绝缘性能， 最后导致被击穿而破坏。化学击穿的机理：（1）在直流和低频交变电压下，由于离子式电导引起电解过程，材料中发 生电还原作用，使材料的电导损耗急剧上升，最后由于强烈发热成为热化 学击穿； （2）当材料中存在着封闭气孔时，由于气体的游离放出的热量使器件温度 迅速上升，变价金属氧化物在高温下金属离子加速从高价还原成低价离子， 甚至还原成金属原子，使材料电子式电导大大增加，电导的增加反过来又 使器件强烈发热，导致最终击穿。影响抗电击穿的因素：（1）温度 &bull 温度对电击穿影响不大； &bull 对热击穿影响较大，温度升高使材料的漏导电流增大，损耗增大，发热量增 加，促进了热击穿的产生； &bull 环境的温度升高使器件内部的热量不容易散发，进一步加大了热击穿倾向。 &bull 温度升高使材料的化学反应加速，促使材料老化，加快了化学击穿的进程。 （2）频率 &bull 频率对热击穿有很大的影响，在一般情况下，如果其他条件不变，则E穿与 频率w的平方根成反比，即：抗电强度的测量与应用：在特定的条件下进行，国标GB1408规定 了固体电工材料频击穿电压，击穿场强，耐电压 的实验方法。对试样的尺寸，电极的形状，加压 方式等都做了规定。

片型材料介电常数介质损耗测量仪（自动介损测试仪）-ZJD-C一、产品概述：片型材料介电常数介质损耗测量仪（自动介损测试仪）-ZJD-C采用数字液晶显示，是通过GB1409中的Q表法测试固体/液体绝缘材料介电常数及介质损耗因数的分析仪器。它以单片计算机控制仪器，测量核心采用了频率数字锁定、标准频率测试点自动设定、谐振点自动搜索、Q值量程自动转换、数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至低值，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量时更为精确。可直读介电常数及介质损耗结果，免去人工计算的繁琐。片型材料介电常数介质损耗测量仪（自动介损测试仪）-ZJD-C经过新升级可通过上位机软件查看测试曲线，北京中航时代检测仪器是代替进口设备的北京中航时代仪器产品。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。产地北京房山。二、技术特性：DDS数字合成信号：50KHz-160MHz；信号源频率覆盖比：1600:1；信号源频率精度：6位有效数3×10-5 ±1个字；Q测量范围/Q分辨率：1-1000自动/手动量程；4位有效数,分辨率0.1；Q测量工作误差：5%；电感测量范围/分辨率：1nH-140mH 4位有效数,分辨率0.1nH；电感测量误差：5%；调谐电容：主电容17-240pF；电容直接测量范围：1pF～25nF；调谐电容误差/分辨率：±1pF或1% / 0.1pF；谐振点搜索：自动扫描；Q合格预置范围：5-1000声光提示；Q量程切换：自动/手动；LCD显示参数：F，L，C，Q，Lt，Ct波段等；新增功能：自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能；新增功能：大电容值直接测量显示功能，测量值可达25nF；消耗功率：约25W；净重：约7kg；外型尺寸：（宽×高×深）mm：380×132×280。二、符合标准：GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法；GB/T1693-2007硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定方法；ASTM D150-11实心电绝缘材料的交流损耗特性和电容率（介电常数）的标准试验方法；GBT5594.4-2015电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法； 三、产品特点：1、双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。2、双测试要素输入 - 北京中航时代检测仪器测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。3、双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。4、自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。5、全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。6、DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。7、计算机自动修正技术和测试回路优化—使测试回路 残余电感减至低值，彻底根除 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。8、新增功能：电感测试时，仪器自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能。大大提高了在电感值（特别是小电感值）测量时的精度。此技术只有北京中航时代仪器生产的Q表有。9、新增功能：大电容值直接测量显示功能，电容值直接测量值可达25nF（配100uH电感时）。大电容值测量一个按键搞定。此技术只有北京中航时代检测仪器生产的Q表有。四、工作环境：1、环境温度：0℃～+40℃；2、相对湿度：80％；3、电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。五、配置清单：主机一台电感九只夹具一套液体杯一个电源线一根数据线一根说明书一份合格证一份保修卡一张六、适用单位：可以用于科研机关，学校，例如一些科研院所，大专院校或计量测试部门的实验室需要用介电常数仪对绝缘材料的介质损耗角正切tanδ及介电常数进行测试；北京中航时代检测仪器同时也适用于工厂或单位，例如一些工厂对无机非金属新材料性能的应用进行研究，另外在电力、电工、化工等领域，如：电厂、电业局实验所、变压器厂、电容器厂、绝缘材料厂、炼油厂等单位对固体及液体绝缘材料的介质损耗和相对介电常数ε的质量检测等等。七、试验步骤：1、按照Q表的操作规程调整仪器，选定测量频率，测定C1和Q1的值。2、将试样放入测试电极中，并调节电容器C，使电路谐振，达到最大Q值记下调谐电容量C2和Q2的值。3、将试样从测试电极中取出，调节C或测试电极的距离，使电路重新谐振，记下C、或测试电极的校正电容值与Q值，北京中航时代检测仪器并根据测试值计算出损耗角tanδ与介电常数ε。4、其他高频测试仪器按其说明书进行操作，北京中航时代检测仪器通过测试值计算出损耗角tanδ和介电常数ε。八、试验条件：1、试样表面应清洁、平滑，无裂纹、气泡和杂质等，试样表面应用蘸有无水乙醇的布擦洗。2、试样应在标准实验室温度及湿度下至少调节24h。3、当试样处理有特殊要求时，可按其产品标准规定的进行。九、测试意义：1、介电常数——北京中航时代检测仪器绝缘材料通常以两种不同方式来使用，即（1）用于固定电学网络部件，同时让其彼此以及与地面绝缘；（2）用于起到某一电容器的电介质作用。在第一种应用中，通常要求固定的电容尽可能小，同时具有可接受且一致的机械，化学和耐热性能。因此要求电容率具有一个低值。在第二种应用中，要求电容率具有一个高值，以使得电容器能够在外型上能尽可能小。有时使用电容率的中间值来评估在导体边缘或末端的应力，以将交流电晕降至最小。2、交流损耗——对于这两种场合（作为电学绝缘材料和作为电容器电介质），交流损耗通常必须是比较小的，以减小材料的加热，同时将其对网络剩余部分的影响降至最小。在高频率应用场合，特别要求损耗指数具有一个低值，因为对于某一给定的损耗指数，电介质损耗直接随着频率而增大。在某些电介质结构中，例如试验用终止衬套和电缆所用的电介质，通常电导增加可获得损耗增大，这有时引入其来控制电压梯度。在比较具有近似相同电容率的材料时或者在材料电容率基本保持恒定的条件下使用任何材料时，这可能有助于考虑耗散因子，功率因子，相位角或损耗角。3、相关性——北京中航时代检测仪器当获得适当的相关性数据时，耗散因子或功率因子有助于显示某一材料在其它方面的特征，例如电介质击穿，湿分含量，固化程度和任何原因导致的破坏。然而，由于热老化导致的破坏将不会影响耗散因子，除非材料随后暴露在湿分中。当耗散因子的初始值非常重要的，耗散因子随着老化发生的变化通常是及其显著的。十、典型用户：沧州大化集团中国计量大学河南平煤神马聚碳材料有限责任公司温州市鹿城区科学技术局东莞初创应用材料有限公司北京航空航天大学中国科学技术大学惠州市杜科新材料有限公司宁波东烁新材料科技有限公司云南能投硅材科技发展有限公司天津科技大学十一、相关产品：ZJC-50kV电压击穿试验仪ZST-212体积表面电阻率测试仪ZJD-C介电常数介质损耗测试仪ZDH-20KV耐电弧试验仪LDQ-5漏电起痕试验仪XRW-300HB热变形维卡温度测定仪XNR-400H熔体流动速率测定仪JF-6氧指数测定仪CZF-5水平垂直燃烧试验机WDW-50KN材料电子拉力试验机

在高频电场和低温下，有一类与介质内邻结构的紧密度密切相关的介质损耗称为结构损耗。这类损耗与温度关系不大，耗功随频率升高而增大。试验表明结构紧密的晶体成玻璃体的结构损耗都很小，但是当某此原因（如杂质的掺入、试样经淬火急冷的热处理等）使它的内部结构松散后。其结构耗就会大大升高。宏观结构不均勾性的介质损耗工程介质材料大多数是不均匀介质。例如陶瓷材料就是如此，它通常包含有晶相、玻璃相和气相，各相在介质中是统计分布口。由于各相的介电性不同，有可能在两相间积聚了较多的自由电荷使介质的电场分布不均匀，造成局部有较高的电场强度而引起了较高的损耗。但作为电介质整体来看，整个电介质的介质损耗必然介于损耗大的一相和损耗小的一相之间。表征：电介质在恒定电场作用下，介质损耗的功率为　　W=U2/R=（Ed）2S/ρd=σE2Sd定义单位体积的介质损耗为介质损耗率为ω=σE2在交变电场作用下，电位移D与电场强度E均变为复数矢量，此时介电常数也变成复数，其虚部就表示了电介质中能量损耗的大小。D，E，J之间的相位关系图D，E，J之间的相位关系图如图所示，从电路观点来看，电介质中的电流密度为J=dD/dt=d（εE）/dt=Jτ+iJe式中Jτ与E同相位。称为有功电流密度，导致能量损耗；Je，相比较E超前90°，称为无功电流密度。定义tanδ=Jτ/Je=ε〞/εˊ式中，δ称为损耗角，tanδ称为损耗角正切值。损耗角正切表示为获得给定的存储电荷要消耗的能量的大小，是电介质作为绝缘材料使用时的重要评价参数。为了减少介质损耗，希望材料具有较小的介电常数和更小的损耗角正切。损耗因素的倒数Q=（tanδ）-1在高频绝缘应用条件下称为电介质的品质因素，希望它的值要高。工程材料：离子晶体的损耗，离子晶体的介质损耗与其结构的紧密程度有关。紧密结构的晶体离子都排列很有规则，键强度比较大，如α-Al2O3、镁橄榄石晶体等，在外电场作用下很难发生离子松弛极化，只有电子式和离子式的位移极化，所以无极化损耗，仅有的一点损耗是由漏导引起的（包括本质电导和少量杂质引起的杂质电导）。这类晶体的介质损耗功率与频率无关，损耗角正切随频率的升高而降低。因此，以这类晶体为主晶相的陶瓷往往用在高频场合。如刚玉瓷、滑石瓷、金红石瓷、镁橄榄石瓷等

薄膜介电常数介质损耗测试仪HRJD-A如果不用保护环，而且试样上下的两个电极难以对齐时，其中一个电极应比另一个电极大些。已经加有电极的试样应放置在两个金属电极之间，这两个金属电极要比试样上的电极稍小些。对于平板形和圆柱形这两种不同电极结构的电容计算公式以及边缘电容近似计算的经验公式由表1给出。当需要高精度测定液体电介质的相对电容率时，应首先用一种已知相对电容率的校正液体（如苯）来测定“电极常数'。采用上述方法测定液体电介质的相对电容率时，可保证其测得结果有足够的精度，因为它消除了由于寄生电容或电极间隙数值的不准确测量所引起的误差。对于介质损耗因数的测量，这种类型的电极在高频下不能满足要求，除非试样的表面和金属板都非常平整。图1所示的电极系统也要求试样厚度均匀。薄膜介电常数介质损耗测试仪HRJD-A当试样插入和不插人时，电容都能调节到同一个值，不需进行测量系统的电气校正就能测定电容率。电极系统中可包括保护电极。薄膜介电常数介质损耗测试仪HRJD-A介电常数测试仪按测试频率要求，需要配置不同量的电感器。　　例如：在1MHz测试频率时，要配250μH电感器，在50MHz测试频率时，要配0.1μH电感器等。　　高频介质样品(选购件)：　　在现行高频介质材料检定系统中，检定部门为高频介质损耗测量仪提供的测量标准是高频标准介质样品。　　该样品由人工蓝宝石、石英玻璃、氧化铝陶瓷、聚四氟乙烯、环氧板等材料做成Φ50mm，厚1～2mm测试样品。用户可按需订购，以保证测试装置的重复性和准确性。板状试样考虑下面两点很重要：a）不加电极，测量时快而方便，并可避免由于试样和电极间的不良接触而引起的误差。b）若试样上是加电极的，由测量试样厚度h时的相对误差△h/h所引起的相对电容率的相对误差△εr/εr可由下式得到：……………………………（12）式中：△εr——相对电容率的偏差；εr——相对电容率；h——试样厚度； Ah——试样厚度的偏差。若试样上加电极，且试样放在有固定距离Sh的两个电极之间，这时 ……………………………（13）式中：△εr、εr、h同式（12）。εr——试样浸入所用流体的相对电容率，对于在空气中的测量则εr等于1。对于相对电容率为10以上的无孔材料，可采用沉积金属电极。对于这些材料，电极应覆盖在试样的整个表面上，并且不用保护电极。对于相对电容率在3〜 10之间的材料，能给出高精度的电极是金属箔、汞或沉积金属，选择这些电极时要注意适合材料的性能。若厚度的测量能达到足够精度时，试样上不加电极的方法方便而更可取。假如有一种合适的流体，它的相对电容率已知或者能很准确地测出，则采用流体排出法是的。薄膜介电常数介质损耗测试仪HRJD-A可以用于科研机关，例如一些科研院所，大专院校或计量测试部门的实验室需要用介电常数测试仪对绝缘材料的介电常数进行测试；同时也适用于工厂或单位，例如一些工厂对无机非金属新材料性能的应用进行研究，另外在电力、电工、化工等领域，如：电厂、电业局实验所、变压器厂、电容器厂、绝缘材料厂、炼油厂等单位对固体及液体绝缘材料的介质损耗和相对介电常数ε的质量检测等。　　薄膜介电常数介质损耗测试仪HRJD-A我们公司的原则是:“ 诚实守信，服务至上，互惠互利，共谋发展”我们将以与您携手发展、共创辉煌！竭诚欢迎新老用户光临！真诚希望与各界朋友精诚合作，共创美好未来！

在交变电场作用下，电位移D与电场强度E均变为复数矢量，此时介电常数也变成复数，其虚部就表示了电介质中能量损耗的大小。D，E，J之间的相位关系图D，E，J之间的相位关系图如图所示，从电路观点来看，电介质中的电流密度为J=dD/dt=d（εE）/dt=Jτ+iJe式中Jτ与E同相位。称为有功电流密度，导致能量损耗；Je，相比较E超前90°，称为无功电流密度。定义tanδ=Jτ/Je=ε〞/εˊ式中，δ称为损耗角，tanδ称为损耗角正切值。损耗角正切表示为获得给定的存储电荷要消耗的能量的大小，是电介质作为绝缘材料使用时的重要评价参数。为了减少介质损耗，希望材料具有较小的介电常数和更小的损耗角正切。损耗因素的倒数Q=（tanδ）-1在高频绝缘应用条件下称为电介质的品质因素，希望它的值要高。工程材料：离子晶体的损耗，离子晶体的介质损耗与其结构的紧密程度有关。紧密结构的晶体离子都排列很有规则，键强度比较大，如α-Al2O3、镁橄榄石晶体等，在外电场作用下很难发生离子松弛极化，只有电子式和离子式的位移极化，所以无极化损耗，仅有的一点损耗是由漏导引起的（包括本质电导和少量杂质引起的杂质电导）。这类晶体的介质损耗功率与频率无关，损耗角正切随频率的升高而降低。因此，以这类晶体为主晶相的陶瓷往往用在高频场合。如刚玉瓷、滑石瓷、金红石瓷、镁橄榄石瓷等结构松散的离子晶体，如莫来石（3Al2O32SiO2）、董青石（2MgO2Al2O35SiO2）等，其内部有较大的空隙或晶格畸变，含有缺陷和较多的杂质，离子的活动范围扩大。在外电场作用下，晶体中的弱联系离子有可能贯穿电极运动，产生电导打耗。弱联系离子也可能在一定范围内来回运动，形成热离子松弛，出现极化损耗。所以这类晶体的介质损耗较大，由这类品体作主晶相的陶瓷材料不适用于高频，只能应用于低频场合。玻璃的损耗复杂玻璃中的介质损耗主要包括三个部分：电导耗、松弛损耗和结构损耗。哪一种损耗占优势，取决于外界因素温度和电场频率。高频和高温下，电导损耗占优势：在高频下，主要的是由弱联系离子在有限范围内移动造成的松弛损耗：在高频和低温下，主要是结构损耗，其损耗机理目前还不清楚，可能与结构的紧密程度有关。般来说，简单玻璃的损耗是很小的，这是因为简单玻璃中的“分子”接近规则的排列，结构紧密，没有弱联系的松弛离子。在纯玻璃中加人碱金属化物后。介质损耗大大增加，并且随着加人量的增大按指数规律增大。这是因为碱性氧化物进人玻璃的点阵结构后，使离子所在处点阵受到破坏，结构变得松散，离子活动性增大，造成电导损耗和松弛损耗增加。

BYS-2C绝缘油介质电强度测试仪符合GB/T507 、DL/T429.9标准，用于检验绝缘油被水和其他悬浮物质物理污染的程度。测定方法是将试油放在设备内，经受一个按一定速度均匀升压的交变电场的作用直至油被击穿。可广泛应用于电力、石油、化工等行业。仪器特点1、采用双CPU微型计算机控制。2、升压、回零、搅拌、显示、计算、打印等一系列操作自动完成。3、具有过压、过流、自动回零保护装置，安全可靠。4、采用自动正弦波产生装置和无级调压方式加压，使测试电压稳定可靠。5、2KV/S和3KV/S两种加压速度供选择，适应性更强。6、数据自动存储，并可随时调出和打印。7、采用先进的干式变压器组合，具有体积小巧、重量轻、使用方便。技术参数升压速度：2.0～3.02KV/S可调准确度：2%测量范围：0～80KV分辨率：0.01KV试验次数：6次（1-9次可调）实验杯数：1杯显示方式：液晶显示搅拌时间：磁力搅拌静止时间：15分 (0～59分可调)间隔时间：3～5分 (0～9分可调)工作电源：AC220V±10%，50Hz环境温度：5℃～40℃ 环境湿度：≤85%外形尺寸：460mm×380mm×360mm重 量：30kg

3 电容量及介损显示精度： 电容量： ±0.5%×tgδx±0.0001。 介 损： ±0.5％tgdx±1×10-44 辅桥的技术特性： 工作电压±12V，50Hz 输入阻抗1012　W 输出阻抗0.6 W 放大倍数0.99 不失真跟踪电压 0～12V（有效值）5 指另装置的技术特性： 工作电压±12V 在50Hz时电压灵敏度不低于1X10-6V／格， 电流灵敏度不低于2X10-9A／格 二次谐波 减不小于25db 三次谐波 减不小于50db特点：优化的测试电路设计使残值更小◆ 高频信号采用数码调谐器和频率锁定技术◆ LED 数字读出品质因数，手动/自动量程切换◆ 自动扫描被测件谐振点，标频单键设置和锁定，大大提高测试速度作为新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前国内高的160MHz。1 双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。2 双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。3 双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。4 自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。5 全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。6 DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。7 计算机自动修正技术和测试回路优化 —使测试回路 残余电感减至低，彻底 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。标准配置：高配Q表 一只 试验电极 一只 （c类）电感 一套（9只）电源线 一条说明书 一份合格证 一份保修卡 一份为什么介电常数越大，绝缘能力越强？因为物质的介电常数和频率相关，通常称为介电系数。介电常数又叫介质常数，介电系数或电容率，它是表示绝缘能力特性的一个系数。所以理论上来说，介电常数越大，绝缘性能就越好。注：这个性质不是绝对成立的。对于绝缘性不太好的材料(就是说不击穿的情况下,也可以有一定的导电性)和绝缘性很好的材料比较,这个结论是成立的。但对于两个绝缘体就不一定了。介电常数反映的是材料中电子的局域(local)特性,导电性是电子的全局(global)特征.不是一回事情的。补充：电介质经常是绝缘体。其例子包括瓷器(陶器)，云母，玻璃，塑料，和各种金属氧化物。有些液体和气体可以作为好的电介质材料。干空气是良好的电介质，并被用在可变电容器以及某些类型的传输线。蒸馏水如果保持没有杂质的话是好的电介质，其相对介电常数约为80。对于时变电磁场，物质的介电常数和频率相关，通常称为介电系数。介电常数又叫介质常数，介电系数或电容率，它是表示绝缘能力特性的一个系数介电常数,用于衡量绝缘体储存电能的性能.它是两块金属板之间以绝缘材料为介质时的电容量与同样的两块板之间以空气为介质或真空时的电容量之比。介电常数代表了电介质的极化程度，也就是对电荷的束缚能力，介电常数越大，对电荷的束缚能力越强。电容器两极板之间填充的介质对电容的容量有影响，而同一种介质的影响是相同的，介质不同，介电常数不同

宏观结构不均勾性的介质损耗工程介质材料大多数是不均匀介质。例如陶瓷材料就是如此，它通常包含有晶相、玻璃相和气相，各相在介质中是统计分布口。由于各相的介电性不同，有可能在两相间积聚了较多的自由电荷使介质的电场分布不均匀，造成局部有较高的电场强度而引起了较高的损耗。但作为电介质整体来看，整个电介质的介质损耗必然介于损耗大的一相和损耗小的一相之间。表征：电介质在恒定电场作用下，介质损耗的功率为　　W=U2/R=（Ed）2S/ρd=σE2Sd定义单位体积的介质损耗为介质损耗率为ω=σE2在交变电场作用下，电位移D与电场强度E均变为复数矢量，此时介电常数也变成复数，其虚部就表示了电介质中能量损耗的大小。D，E，J之间的相位关系图D，E，J之间的相位关系图如图所示，从电路观点来看，电介质中的电流密度为J=dD/dt=d（εE）/dt=Jτ+iJe式中Jτ与E同相位。称为有功电流密度，导致能量损耗；Je，相比较E超前90°，称为无功电流密度。定义tanδ=Jτ/Je=ε〞/εˊ式中，δ称为损耗角，tanδ称为损耗角正切值。损耗角正切表示为获得给定的存储电荷要消耗的能量的大小，是电介质作为绝缘材料使用时的重要评价参数。为了减少介质损耗，希望材料具有较小的介电常数和更小的损耗角正切。损耗因素的倒数Q=（tanδ）-1在高频绝缘应用条件下称为电介质的品质因素，希望它的值要高。工程材料：离子晶体的损耗，离子晶体的介质损耗与其结构的紧密程度有关。紧密结构的晶体离子都排列很有规则，键强度比较大，如α-Al2O3、镁橄榄石晶体等，在外电场作用下很难发生离子松弛极化，只有电子式和离子式的位移极化，所以无极化损耗，仅有的一点损耗是由漏导引起的（包括本质电导和少量杂质引起的杂质电导）。这类晶体的介质损耗功率与频率无关，损耗角正切随频率的升高而降低。因此，以这类晶体为主晶相的陶瓷往往用在高频场合。如刚玉瓷、滑石瓷、金红石瓷、镁橄榄石瓷等结构松散的离子晶体，如莫来石（3Al2O32SiO2）、董青石（2MgO2Al2O35SiO2）等，其内部有较大的空隙或晶格畸变，含有缺陷和较多的杂质，离子的活动范围扩大。在外电场作用下，晶体中的弱联系离子有可能贯穿电极运动，产生电导打耗。弱联系离子也可能在一定范围内来回运动，形成热离子松弛，出现极化损耗。所以这类晶体的介质损耗较大，由这类品体作主晶相的陶瓷材料不适用于高频，只能应用于低频场合。