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电流二次侧所接仪

仪器信息网电流二次侧所接仪专题为您提供2024年最新电流二次侧所接仪价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括电流二次侧所接仪参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的电流二次侧所接仪您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合电流二次侧所接仪相关的耗材配件、试剂标物,还有电流二次侧所接仪相关的最新资讯、资料,以及电流二次侧所接仪相关的解决方案。

电流二次侧所接仪相关的论坛

  • 聚光镜电流与二次电子产额等的关系,请指导。

    一、聚光镜电流越小,二次电子产额越高,是聚光镜电流对二次电子有排斥?二、灯丝电流应是越大,二次电子产额越高吧?三、聚光镜电流越小,像颗粒越细?。四、聚光镜电流越小,信号越强?。五、聚光镜电流越小,电子束流越大?。六、一个最基本的问题:聚光镜电流在电镜上如何调节?我们平时调节的只有灯丝的电流,好象没调节过聚光镜电流啊?谢谢您的指导!

  • 求助三相四线电能计量装置A、B相二次电流误串的更正系数

    求助三相四线电能计量装置A、B相二次电流误串的更正系数

    [font=Tahoma, &][color=#444444]求助三相四线电能计量装置A、B相电流互感器二次电流被错误串联,如下图:[/color][/font][font=Tahoma, &][color=#444444]————————————————————————————————————————————[/color][/font][img=,396,464]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2020/01/202001140452348427_2043_1626275_3.png!w396x464.jpg[/img][font=Tahoma, &][color=#444444]————————————————————————————————————————————[/color][/font][font=Tahoma, &][color=#444444] 该错误接线的更正系数。我只知道这样A、B两相二次电流源的串联,较两电流并联分析起来难得多,它无法通过作相量图求出来。而且只有假设三相对称,包括幅值和相位对称(一般会选在功率因数等于1情况下分析),并且A、B相电流互感器内阻抗相同(同样是要求电阻和电抗分别相同)才有可能通过复数计算方法去求得。而对于复数计算只知其名,不会其实的我,只得求助量友伸出援助之手哦![/color][/font]

  • 【分享】什么是二次离子质谱分析?

    二次离子质谱(SIMS)是一种用于分析固体材料表面组分和杂质的分析手段。通过一次离子溅射,SIMS可以对样品进行质谱分析、深度剖析或成二次离子像。SIMS具有很高的元素检测灵敏度以及在表面和纵深两个方向上的高空间分辨本领,所以其应用范围也相当广泛。涉及化学、生物学和物理学等基础研究领域及微电子、催化、新材料开发等各个领域。 二次离子质谱法对于大部分元素都有很高的探测灵敏度,其检测下限可达百亿分之几的数量级。对痕量组分能进行深度剖析,可在微观(µ m级)上观察表面的特征,也可以对同位索进行分析和对低原子序数的元素(如氢、锂、铍等)进行分析。 ①痕量分析二次离子质谱法有极高的分辨率,可以达到十亿分之几的数量级。因此,可以对痕量的物质做出定性分析以确定其在表面的存在。当然进行这种分析要求排除所有可能影响结果的干扰。防止表面吸附物污染被测试表面,测试要在高真空和高纯度的离子束条件下进行。 ②定量分析定量分析采用的是以标样为基础的分析方法。一次离子的种类、能量和电流密度、样品环境、探测器效率以及二次离子分析器的能带通道确定之后,就能使用元素的相对灵敏度系数对样品进行确切的分析。只要二次离子质谱仪的灵敏度足以探测到基体的所有主要成分,所得结果就是这种基体材料成分的原子百分比。 ③深度分析深度分析的一般方法是监控样品中某元素的二次离子信号随溅射时间的变化。对于均匀基体材料,通过适当的标定试验(已知镀层厚度、陷口深度等)就能把时间转换为深度。元素的定量可以由二次离子强度的变化及二次离子强度定量分析方法得到。

  • 【资料】什么是信息检索、一次文献、二次文献、三次文献

    什么是信息检索、一次文献、二次文献、三次文献   (Information Retrieval),是指将信息按一定的方式组织和存储起来,并根据信息用户的需要找出有关的信息过程,所以它的全称又叫“信息的存储与检索(Information Storage and Retrieval),这是广义的信息检索。狭义的信息检索则仅指该过程的后半部分,即从信息集合中找出所需要的信息的过程,相当于人们通常所说的信息查寻(Information Search)。  计算机信息检索,是指以计算机技术为手段,通过光盘和联机等现代检索方式进行信息检索的方法。与手工检索一样,计算机信息检索应作为未来科技人员的一项基本功,这一能力的训练和培养对科技人员适应未来社会和跨世纪科研都极其重要,一个善于从电子信息系统中获取信息的科研人员,必定比不具备这一能力的人有更多的成功机会,美国报道生活新方式的期刊POV 也将交互网络检索专家作为未来十大热门职业之一,这些情况都说明了计算机信息检索越来越重要,故值得大家对这一技术予以重视。什么是信息检索、一次文献、二次文献、三次文献一次文献  (primary document):是指作者以本人的研究成果为基本素材而创作或撰写的文献,不管创作时是否参考或引用了他人的著作,也不管该文献以何种物质形式出现,均属一次文献。大部分期刊上发表的文章和在科技会议上发表的论文均属一次文献。二次文献  (secondary document):是指文献工作者对一次文献进行加工、提炼和压缩之后所得到的产物,是为了便于管理和利用一次文献而编辑、出版和累积起来的工具性文献。检索工具书和网上检索引擎是典型的二次文献。三次文献  (tertiary document):是指对有关的一次文献和二次文献进行广泛深入的分析研究综合概括而成的产物。如大百科全书、辞典等。  也有研究者在以上分类基础上再加上零次文献,它是指未经过任何加工的原始文献,如实验记录、手稿、原始录音、原始录像、谈话记录等。零次文献在原始文献的保存、原始数据的核对、原始构思的核定(权利人)等方面有着重要的作用。

  • 电化学腐蚀测试二次击穿

    关于电化学腐蚀测试,想请教一下。扫极化曲线的时候总是会出现两个平台,即电流瞬间增加有两次,第一次电流增大不到一个数量级,第二次1个数量级以上。请问是什么原因呢?是应该以哪个平台为击穿电位呢?另外在委外测试结果只有第二次的那个个平台。样品为镍钛合金和钴基合金,参比电极为饱和甘汞电极,辅助电极为铂金电极,有饱和氯化钾盐桥。参比电极有直接影响吗?还是有其他原因?请各位赐教,谢谢了!

  • 电化学腐蚀测试二次击穿

    关于电化学腐蚀测试,想请教一下。扫极化曲线的时候总是会出现两个平台,即电流瞬间增加有两次,第一次电流增大不到一个数量级,第二次1个数量级以上。请问是什么原因呢?是应该以哪个平台为击穿电位呢?另外在委外测试结果只有第二次的那个个平台。样品为镍钛合金和钴基合金,参比电极为饱和甘汞电极,辅助电极为铂金电极,有饱和氯化钾盐桥。参比电极有直接影响吗?还是有其他原因?请各位赐教,谢谢了!

  • 测DHA甲酯第一次出峰,第二次测没有峰了

    色谱仪是安捷伦6890,按照国标食品中脂肪酸的测定中[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Mp][color=#3333ff]气相[/color][/url]条件进行检测,溶在正己烷里的。不知道为什么就没有峰了。第一次测完之后[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Mp][color=#3333ff]气相[/color][/url]峰前延,我想第二次少进一些样再看一下,结果就没有峰了,换了一下文献里的其它条件也没用,啥情况啊?第二次检测之前电脑卡了,所以我重启了一下电脑,后面就全测不出来了,难不成这也有影响?此外还想问一下检测器的温度过高或过低会对样品的检测有什么影响啊?查询发现检测器温度一般要高柱温20-50℃

  • 关于四级杆二次离子质谱仪器的介绍

    由于这些仪器的质量分辨率相对有限(单位质量分辨率不能解决每超过一个峰值的质量),因此这些仪器越来越稀有。四级杆利用一个共振电场,其中只有特定质量的离子才能稳定通过震荡场。与扇形磁场仪器相类似的是,这些仪器需要在高一次离子电流下操作,且通常被认为是“动态二次离子质谱”仪器(比如用于溅射深度剖析和/或固体样品的总量分析)。  如今,尽管这些设计在SIMS界最为常见,但仍有许多令人兴奋的新设计正不断出现,它们在未来可能会发挥更重要的作用。这些新设计包括多种质谱仪中的连续离子束设计(比如用四级杆或飞行时间质谱仪作串联质谱(MS-MS)分析),以及傅里叶变换离子回旋共振(FT-ICR)仪器,其质量分辨率接近一百万或更高。

  • 什么是一次污染物?什么是二次污染物?

    什么是一次污染物?什么是二次污染物? 一次污染物又称“原生污染物”,是由污染源直接排放进人环境的,其物理和化学性状未发生变化的污染物质。环境污染主要是由一次污染物造成的,其来源清楚,可以采取措施加以制。 二次污染物也称“次生污染物”,是一次污染物在物理、化学因素或生物作用下发生变化,或与环境中的其他物质发生反应,所形成的物理化学特征与一次污染物不同的新污染物,通常比一次污染物对环境和人体的危害更为严重。如水体中无机汞化合物通过微生物作用,可转变为毒性更大的甲基汞化合物,这种污染物进入人体易被吸收,不易降解,排泄很慢,容易在脑中积累。又如大气中的二氧化硫与氧气和水蒸气反应可生成硫酸,进而生成硫酸雾,其刺激作用比二氧化硫强10倍。

  • 二次制备,真的很神奇!(图文并茂的)

    二次制备,真的很神奇!(图文并茂的)

    今天,在老师傅的带领下,见证了一把神奇的二次制备。我来叙述一下:样品:未知,我们这里的样品,大部分都是不告诉你任何结构信息的。溶解:取样品120mg用甲醇3ml溶解(客户给的)第一次制备色谱柱:Venusil PrepG C18, 10μm 100Å 21.2*250mm流动相: A pH3.3 磷酸二氢钾缓冲液 B 乙腈(这是有盐的!)流速:18ml/min检测波长:225nm 280nm(可以设双波长)上样量:1ml(40mg)(这个上样量还可以)仪器:CHEETAH高压一体机梯度设置:http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/11/201111251348_332907_2139181_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/11/201111251347_332904_2139181_3.jpg44.5min处的峰是要的,接收,浓缩,纯吗?当然不纯了,不然怎么会有二次制备!接着换系统:另一台仪器,嘿嘿,我们这好几台仪器呢。二次制备色谱条件:色谱柱:Venusil Hilic 5μm 100Å 10*250mm流动相: A 0.1%乙酸铵 B 乙腈时间AB01090205050流速:4ml/min检测波长:225nm柱温:35℃ 上样量:上针浓缩到1ml,全进仪器:Agala P1100上制备图http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/11/201111251353_332908_2139181_3.jpg神奇,两个峰,就是这么神,分离度3.8!分别接收后,浓缩测定纯度液相分析条件:色谱柱:Venusil XBP C18 5μm 100Å 4.6*250mm流动相: A pH3.3磷酸二氢钾缓冲液 B 乙腈时间AB09010304555454555流速:1ml/min检测波长:225nm 上样量:10μl柱温:35

  • 【求助】二次供水 检测

    各位老大: 预对一披二次供水水质进行检测,求教评价依据是哪个?《生活饮用水卫生规范》还是《二次供水设施卫生规范》GB17051-1997;还是这两个都有??急急急谢谢了

  • 二次离子质谱仪原理简介

    二次离子质谱仪原理简介二次离子质谱仪(Secondary Ion Mass Spectrometry, SIMS)又称离子探针(Ion Microprobe),是一种利用高能离子束轰击样品产生二次离子幵迚行质谱测定的仪器,可 以对固体或薄膜样品迚行高精度的微区原位元素和同位素分析。由于地学样品的复杂性和对 精度的苛刻要求,在本领域内一般使用定量精度最高的大型磁式离子探针。该类型的商业化 仪器目前主要有法国Cameca 公司生产的 IMS1270-1300 系列和澳大利亚ASI 公司的 SHRIMP 系列。最近十年来,两家公司相继升级各自产品,在灵敏度、分辨率及分析精度 等方面指标取得了较大的提升,元素检出限达到ppm-ppb 级,空间分辨率最高可达亚微 米级,深度分辨率可达纳米级。目前,大型离子探针可分析元素周期表中除稀有气体外的几 乎全部元素及其同位素,涉及的研究领域包括地球早期历叱不古老地壳演化、造山带构造演 化、岩石圀演化不地球深部动力学、天体化学不比较行星学、全球变化不环境、超大型矿床 形成机制等。因而国内各大研究机构纷纷引迚大型离子探针(北京离子探针中心的SHRIMP II SHRIMPIIe-MC、中科院地质不地球物理研究所的 Cameca IMS-1280、Cameca IMS-1280HR 和NanoSIMS 50L、中科院广州地球化学研究所的 Cameca IMS-1280HR、 中核集团核工业北京地质研究院的 IMS-1280HR),大大提高了国内微区分析的能力。 本实验室配备了Cameca 公司生产的IMS1280 离子探针和其升级型号 IMS1280HR。 两台仪器的基本原理及设计相同,升级型号IMS1280HR 主要在磁场设计上有所改迚,具 有更高的质量分辨率和传输效率。该型仪器从功能上可分为四部分,如图一所示:一次离子 产生及聚焦光路(黄色部分)、二次离子产生及传输光路(蓝色部分)、双聚焦质谱仪(粉 色部分)和信号接收系统(紫色部分)。Cameca 离子探针可以类比为一台显微镜,离子源 相当于显微镜的光源,传输光路相当于物镜,质谱仪相当于滤镜,而接收器相当于目镜或照 相机。 图一, IMS1280/HR 型离子探针原理示意图 一次离子部分包含了两个离子源分别是可以产生O 离子的双等离子体离子源(Duo Plastron Source)和产生Cs 离子的热电离铯离子源(CsIon Source),一 般分别对应地学领域分析中的正电性元素(如 Pb、U、Th、REE、Li、Ca 等)和负电性元 等)。两个离子源由软件控制选择,所产生的离子通过高压(一般为数千伏特)加速后迚入一次离子质量过滤器(PBMF)迚行质量筛选,常用的一次离子有 16 16O2 133Cs 离子。后续的一次离子光路通过调整离子透镜Lens2,Lens3 和Lens4 电压可以获得两种照明方式:均匀照明(科勒照明或平行光照明)和高斯照明。一次离子光路原理如图二所示。 均匀照明模式使用离子透镜Lens2 将一次离子束调整为“平行光”,幵穿过位于其后 的一次束光阑(PBMF_Aperture),再通过离子透镜Lens4 将该光阑成像到样品表面。在 该模式下,离子束的直径由PBMF_Aperture 的大小决定,由于该光阑受到离子束的剥蚀 而逐渐变大,因此实际上这种模式的离子束直径是随时间丌断变化的,对空间分辨率丌太敏 感的应用可以使用该模式。实验室的常规定年就使用了这种照明模式,由于其离子束密度均 匀,在样品表面留下的剥蚀坑为椭囿形的平底坑。 图二 一次离子光路原理示意图 在高真空条件下,带有数千电子伏特(eV)的高能带电离子轰击固体样品的表面时,部分 一次离子注入到固体内部并不其路径上的样品原子发生弹性或非弹性碰撞。通过碰撞而获得能量 的内部原子又不其周围的原子再次进行碰撞并产生能量传导,这个过程称为级联碰撞。最终,部 分样品内部电子、原子或分子获得了足够的能量逃逸出样品表面,产生了溅射现象。在溅射出的 各种微粒中,有小部分发生了电离,产生了二次离子。这些二次离子被样品表面的+10KV到 -10KV的高压加速,通过离子透镜聚焦后进入双聚焦质谱仪进行质量筛选。溅射及加速示意图 请见图三。 高斯照明模式在PBMF之后使用了三个离子透镜:Lens2、Lens3和Lens4。其中Lens2 不Lens3将离子束汇聚,L4将汇聚后的离子束聚焦到样品表面,形成束流密度中心高周围低 的高斯分布。这种模式下,在样品表面产生的剥蚀坑是接近囿形的V型坑。这种模式下离子 束的直径主要受到L2不L3透镜电压的影响,而对光阑的剥蚀效应很小,因此可以长时间保 持离子束直径丌变。实验室常规的稳定同位素分析以及空间分辨高于10微米的小束斑定年 分析都采用了高斯照明模式。 丌同元素的二次离子产率相差巨大,而且每种元素在丌同基体中的产率也丌尽相同,甚 至同一元素的同位素之间在丌同的基体中也表现出丌固定的产率(基体效应)。在实际分析 时实测值不理论值会产生较大差异。因此,要使用离子探针进行高精度的元素、同位素分析, 必须使用不被测样品成分和结构一致的标准物质进行校正。而标准样品的稀缺性也成为制约 和影响离子探针分析的瓶颈。目前,本实验室目前已开发了锆石氧同位素标准物质 (Penglai)、方解石碳-氧同位素标准物质(OKA)、锆石Li同位素标准物质(M257)、锆 石年龄标准物质(Qinghu)等。 图三,离子探针溅射示意图 二次离子产生后迚入离子传输光路,该部分相当于显微镜的物镜,通过调节该“物镜” 的放大倍数,配合后续的光阑及狭缝的调整,可在质量分辨率确定的条件下对仪器的传输效 率迚行优化,保证分析精度。入口狭缝是传输光路和质谱仪的分界面。离子束通过传输光路 聚焦后,在入口狭缝处汇聚。调节入口狭缝的宽度可控制迚入质谱仪的离子束宽度,从而控 制质谱仪的质量分辨率。质量分辨率要求越高,入口狭缝所对应的宽度就越窄,二次离子信 号的强度损失也就越多。因此,在满足分析要求的前提下,尽量使用较低的质量分辨率。离 子探针分析中,样品表面溅射出的二次离子组成非常复杂,包括了单原子离子、分子离子、 多电荷离子、复杂聚合物离子等,对质量分辨率要求极高。为了兼顾离子探针的质量分辨率 和传输效率,必须采用大磁场半径的设计。该型离子探针的最低质量分辨率为~900,而最 高可用质量分辨率大于20000. 磁式质谱仪主要利用运动离子在磁场中的受力偏转实现对特定质量电荷比值的离子的 选择。磁式离子探针一般使用双聚焦磁式质谱,可以实现速度聚焦和方向聚焦,在二次离子 能量分布范围较大的情况下实现高质量分辨率和高传输效率。双聚焦质谱仪由静电分析器和 扇形磁场质量分析器组成,当二者的能量色散在焦平面上相互抵消时即实现了双聚焦。 IMS1280/HR 离子探针的静电场及磁场半径均为585mm,在质量分辨率5000 的条件下, 其传输效率90%。 离子经过质谱仪的质量色散后迚入离子接收系统。该型仪器的接收系统分为三个部分: 具有5 个接收位置,共7 个接收器的多接收系统;具有三个接收器的单接收系统和微通道 板成像系统。多接收系统能够同时接收的最大的质量差异为17%,最小质量差异为~0.4%, 是典型的同位素质谱配置。5 个接收位置可在各自轨道上沿聚焦面移动,根据被测同位素的 信号强度可选择安装法拉第杯或电子倍增器。最外侧的两个接收位置还分别额外加装了一个 法拉第杯,增加配置的灵活性,如图四所示。多接收器分析可以提高效率,并能抵消一部分 因为一次离子或仪器其他参数波动引起的分析误差,是提高分析精度的最直接手段。实验室 的高精度稳定同位素分析(氧同位素、碳同位素及硫同位素等)都是用多接收器的。目前本 实验室两台离子探针采用了丌同的接收杯配置,其中一台偏重于稳定同位素分析,在多接收 器中安装了多个法拉第杯,而另一台则偏重微量元素尤其是Pb 同位素分析,主要配置为电 子倍增器。单接收系统具有一个工作在离子计数模式下的电子倍增器和高低两个丌同量程的 法拉第杯,组成了具有10 动态接收范围的大量程接收系统。对于质量范围超过17%的分析,一般使用单接收系统,例如传统的U-Pb 定年分析,其需要测量的质量数从196-270, 使用的是单接收系统中的电子倍增器收集所有信号。 使用微通道板成像时,仪器工作在离子显微镜模式下,成像的分辨率取决于二次离子光 路的设置,而不一次离子束的直径无关。由于微通道板性能的制约,这种模式一般只用于辅 助的定性判断和仪器参数的调整,而丌用于定量分析。离子探针还有一种二次离子扫描成像 模式。类似于扫描电子显微镜的工作原理,通过同步一次离子的扫描位置和电子倍增器的接 收时间,可以将电子倍增器测量到的信号强度不其在样品上的位置对应起来,从而重构出经 过质量筛选的离子分布图像。该图像的分辨率取决于一次离子束的直径,可用于元素、同位 素二维分布分析

  • 【讨论】大家讨论一下能谱中的二次电子边问题

    在做价带谱的实验研究中,通常会非常关心二次电子边的位置和强度。但在我的仪器上(VG ARUPS10),时常会出现二次电子边起不来的现象,也有同行反映了类似问题,多认为是由于样品接触不好所导致,但我一直觉得还有别的某种未知因素。因为我的仪器有时候会出现连续好几天二次边都起不来的情况,无论我怎么加强样品的接触,消除外电磁场干扰等等。很是不解。不知道大家有没有遇到过类似的问题,如何解决的?欢迎email写信讨论。我的email:zhangwh@ustc.edu.cn

  • 如何避免高低温试验箱知名厂家出现二次损伤

    如何避免高低温试验箱知名厂家出现二次损伤

    [b] 高低温试验箱[/b]知名厂家有制冷压缩机,如果不降温了,那就说明制冷压缩机出现了故障。但是一般的非专业型电气人员不能随便的拆卸配件。以免对高低温试验箱知名厂家造成第二次损伤。[align=center][img=,348,348]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2021/05/202105111105023718_1035_1037_3.jpg!w348x348.jpg[/img][/align]  1、我们要判断压缩机的电压是否稳定,如连接压缩机的接触器不吸合那么高低温试验箱知名厂家的电源就不能从这里通过。还有就是连接高低温试验箱的压缩机的电线是否断裂或者未连接好。有的高低温试验箱在运输过程中线路短路的情况还是有的。再判断额定的电压是否符合要求。  2、需专业人士判断高低温试验箱知名厂家压缩机的电流是否正常,电流必须要达到压缩机的额定电流才能正常工作,如果电压正常,电流没有达到要求,那么就说明缺少了制冷剂。  3、观察高低温试验箱知名厂家散热扇是否在正常运行,在工作状态下,风向应该是比较平稳的,风速均匀且风道正确。还有一种方法就是用手感触压缩机排气管的温度,高低温试验箱正常的温度是比常温高些,就像空调外排风扇的温度较高。高低温试验箱后观察室内的循环风机是否正常工作,若烧坏不工作,蒸发器不能正常蒸发,以至于无法降温。

  • 【原创大赛】材料显微分析技术简介——第一篇 神奇的二次电子

    【原创大赛】材料显微分析技术简介——第一篇 神奇的二次电子

    材料显微分析工作不仅限于通过显微镜等设备对材料的微观形貌进行拍摄,还包括了对所拍摄到的微观图像进行分析。对这些数据的分析工作要求我们一定要考虑到:对样品自身背景、取样方法、制样工艺、拍摄条件以及接收信号种类对测试结果的影响。对电镜原理及分析技术的理解不仅可以让我们得到漂亮美观的显微图像数据,可以帮助我们挖掘到很多关于材料本身的信息。我们知道扫描电镜对样品的微观信息进行分析,有各种个样的成分信息。比如背散射电子、二次电子、背散射电子衍射花样、阴极荧光、特征X射线、韧致辐射X射线等等。[align=center][img=,690,329]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/07/201707310824_01_1735_3.jpg[/img][/align][align=center]图1、 不同二次电子的特征及产生机理示意图[/align]拿二次电子衬度形貌的分析来举例如图1所示,二次电子在扫描电子显微镜中主要分三大类:第一类是一次二次电子SE1,主要是由入射电子与样品极表面(几纳米的深度)相互作用而产生的,它的产率受入射电子束方向与样品表面夹角的影响,因此体现的是样品的形貌衬度;第二类是二次二次电子SE2,主要是由入射电子束在材料机体内发生弹射后又从电子束进入材料的入射点周围及附近弹出时,与材料表面相互作用而引起的,它的产率受材料主体成分及材料晶体取向的影响,因此体现的是材料成分信息及材料晶体取向信息(一般情况下SE1信号在材料的观测中为主要衬度,只有在SE1衬度极弱的条件下,SE2信号的衬度才可以被我们观察到);第三类是三次二次电子SE3,主要是由电镜样品舱内或物镜极靴或样品台与弹射出样品的背散射电子作用而产生的,它一般是作为噪音来被二次电子探测器接收到的,这类信号越多,电镜拍摄到的图像衬度越差。[align=left][b]SE2二次电子的应用[/b][/align]我们都知道一般SE1二次电子用来观测图像的形貌衬度,而把SE2或SE3当做噪音来看待,但是随着制样工艺及电镜表征技术的发展,SE2二次电子信号也可以被我们用来分析材料的微观结构信息,如下图粉末颗粒截面:[align=center][img=,690,518]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/07/201707310824_02_1735_3.jpg[/img][/align][align=center]图2 电极材料截面形貌观测[/align][align=center][/align][align=left]我们可以观测,当通过氩离子束抛光把样品表面抛的绝对平的时候,SE1的形貌衬度在图中样品的平面部位的衬度就很弱,因此反应晶体取向衬度的SE2信号就被我们观察到了,图像中颗粒截面的这种亮暗不同是由不同 取向的晶粒造成的,通过它我们可以很直观的看到样品的晶粒度(亮暗区域的大小)、晶体取向差(亮暗灰度绝对值)。对我们研究新材料的性能及合成工艺有很大的帮助。[/align][align=center][/align]

  • 二次电子检测器

    Leo 1530VP场发射扫描电镜,2001年安装投入使用,现二次电子检测器SE1不能使用了,据说是闪烁体时间长了,现在只能使用In Lens检测器,有时候感觉会不大方便,大家有碰到这种问题吗?能否修复二次电子检测器呀。

  • 大家好!我想问一下关于原子荧光测砷的曲线荧光值比平常第了一倍,和样品二次测零成倍减的问题!

    首先,我在这里先感谢各位的光临和解答!以下是我遇到的问题,望大家能给点指教1,平常我测量砷的条件是负高压240,载气300,屏蔽气900 原子高度10 读数14延迟3秒,灯电流602,因为平常我也是用这个条件测,曲线浓度点0-1-2-4-6-10然后最高点的荧光值平常都有一千五以上的,不过最近越来越低了,今天做只有七八百而已了,这是为什么呢?3,为什么我最近测量的曲线返回来第二次测量荧光值会偏低很多呢,有时是成倍减的

  • 【讨论】低真空二次电子检测原理及探头类型

    现在低真空(包括环境真空)电镜很时髦。本人想了解一下:1、在低真空时,二次电子是如何检测的;2、低真空二次电子探测器由哪些类型及其各自的特点。3、低真空下二次电子像分辨率到底有多高?能和高真空一样吗?我想很多同仁也都会对此感兴趣。望资深大侠不吝传教。

  • 化肥二次制样程序

    [align=center][b]化肥二次制样程序[/b][/align][align=center]化工室:高秋荣[/align]一、样品缩分格槽缩分器缩分 将两只接收器分别放在缩分器两侧接收样品的位置,将肥料样品平铺在唐瓷盘内,用两手置样品盘于缩分器加料斗上方,尽可能靠近中心,缓缓地将肥料加入,使其形成一层薄的物料流,颗粒肥料能垂直地、等量地落入所有的格槽中。(注意:一定要使肥料连续加入,否则样品将落在某一接收器中,以致得不到等量的、均匀的、有代表性的样品。)弃去一只接收器中的样品,将另一接收器中样品返回缩分器缩分。注:若需缩分的原始样品较少,则可将第一次缩分所得的两只样品分别重新缩分至需要的样品量。若原始样品量大于缩分器容量,则可将样品先分成若干等份,然后一份一份地进行缩分,丢弃一只接收器中的样品,将另一只接收器中的样品混合在缩分。二、样品研磨取多次所分后的样品约100g,用研钵研磨至全部通过0.50mm孔径筛,混合均匀,置于洁净,干燥瓶,作为分析。三、标签的填写写好样品名称、样品编号、制样日期、制样人、检测项目、样品的生产单位、产品批号等。

  • 激光粒度分析中的二次衍射

    激光粒度分析中的二次衍射

    激光粒度分析中的二次衍射任中京(山东建材学院,济南,250022) 摘要本文计论了双层颗粒群产生的二次衍射,并给出了二次衍射复场分布的表达式,同时讨论了二次衍射与颗粒浓度之间的关系,找到了抑制二次衍射的最佳浓度。本文结论对于提高激光粒度仪的测量准确度具有重要意义。关键词激光:粒度分析;二次衍射引言各种激光粒度分析仅均是通过检测颗粒群的衍射谱来分析颗粒大小及其分布的。为获得正确的衍射谱。需要颗粒群散布在同一平面上。而事实上,颗粒群在检测区内很难呈二维分布。对于动态颗粒群更是如此。只要颗粒群不满足二维分布的要求,那么经颗粒衍射的光,就有可能再次发生衍射.我们把此种衍射称为二次衍射。在激光粒度分析中,二次衍射是测量误差的主要来源。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/05/201305281100_441910_388_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/05/201305281100_441911_388_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/05/201305281100_441912_388_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/05/201305281100_441913_388_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/05/201305281100_441914_388_3.jpg我们注意到衍射谱归一化总能量恰好等于入射光强度I0,这是物空间与频谱空间能量守恒的结果。 (18)式定量地给出了衍射谱中各种成分之间的比例关系,为我们研究抑制二次衍射的途径提供了依据。3 抑制二次衍射的最佳浓度从(18)式可见,在衍射谱中有三种成分同时共存,它们对粒度分析的作用各不相同:透射项对粒度分析没有贡献,应尽量减少;一次衍射谱是粒度分析的依据,要尽可能增强;二次衍射谱的作为一种宽带噪声叠加在之上,应尽力抑制。此三者在谱面上的分布如图 4所示。为了找到一个抑制二次衍射的最佳比例,我们把各项强度随 K值变化的规律及典型值列于表2,取I0=I,并绘出曲线。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/05/201305281101_441915_388_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/05/201305281101_441916_388_3.jpg4 结论综上所述,二次衍射谱是一次衍射谱的卷积,是叠加在一次衍射谱上的宽带噪声。二次衍射强度正等于颗粒在光轴方向重叠的几率。理论分析表明:当颗粒在分散介质中的体积浓度C0=0.17时,二次衍射可以得到有效地抑。本文讨论仅限于二次衍射,对于三维分布题粒产生的高次衍射,有待进一步研究。参考文献l J.W.顾德门.付立叶光学导论。北京:科学出版社,19792 REN,Z.J.eta1.PARTICUOIAJGY,1988

  • 二次热解析的疑问

    [color=#444444]请教各位老师,TVOC检测要求二次热解吸,请教二次热解吸是怎么一个过程?和常规热解吸有何区别?[/color]

  • 【资料】细菌总数在二次供水检测中准确度的控制

    细菌总数在二次供水检测中准确度的控制 徐霞君 (深圳市水质检测中心) 摘 要:二次供水水样中细菌总数检测结果的准确度往往受多方面因素的影响,具体表现在取样、培养基的配备、培养条件、无菌室实验操作、计数及后处理等。本文对各影响因素中的各个细节提出规范对策,从而使二次供水细菌总数在检测中的准确度得以控制。 关键词:细菌总数、二次供水、检测、准确度、控制   二次供水是生活饮用水二次供水的简称,是指通过二次供水设施间接向用户供给生活饮用水的行为,二次供水设施主要为地下水池与天面水池,按《深圳经济特区生活饮用水二次供水管理》规定,每年至少清洗消毒二次,消毒方式有氯消毒、二氧化氯消毒、臭氧消毒、紫外线消毒等,消毒完成后,由专业清洗机构及时通知市水质检测中心进行取样检测。我水质检测中心在对二次供水8项指标(色度、浑浊度、肉眼可见物、PH、细菌总数、总大肠菌群、余氯)的检测中,在统计其月检不合格率时,其中因细菌总数超标引起二次供水水质不合格的占绝大多数。我们在不排斥原水样的超标外(市政水在经过不合格的二次供水水箱设施时受到一次污染),但也存在二次供水水样的细菌总数在检测中受到二次污染,即在检测中受到各种因素的影响,具体表现在取样、培养基的配备、培养条件、无菌室实验操作、计数及后处理等。因此,要提高二次供水水样细菌总数的准确度,必须对各影响因素进行规范控制。 1 取样中的规范 取样中存在的规范控制主要表现在取样瓶灭菌和水样的采集与保存两方面。 1.1 取样瓶的灭菌 取样瓶必须是清洁无菌的,一般用磨砂口带塞瓶,瓶的颈部和上部必须用锡泊纸覆盖,在160~170℃的烘箱内经干热灭菌2h方能达到灭菌目的。有的技术人员把取样瓶的消毒时间控制为1h,灭菌不彻底。因各种微生物对热的抵抗力不同,芽孢需要160℃、2h才能杀死。 灭菌后的采样瓶,两周内未使用,需重新灭菌。已灭菌和封包好的采样瓶,不论在什么条件下采样时,均要小心开启包装纸和瓶盖,应避免瓶盖和瓶子颈部受杂菌污染。 1.2 水样的采集与保存 采样时,不要用水样冲洗采样瓶,因余氯的存在会影响待测水样在采集时所指示的真正细菌含量,为去除余氯,于灭菌前按500ml采样瓶内加0.3ml10%Na2S2O3溶液,瓶内须留足够空间,一般采样量为瓶容量的80%左右,以便操作时摇匀,以获得具有代表性的样品。

  • 二次元影像测量仪与投影仪有哪些区别?

    最近几十年不仅仅是我们,乃至全世界都能感受到中国制造的产品质量与效率都有质的飞跃。产品质量和效率的提升离不开生产设备和生产规范的高效管理,在管理过程中,对半成品、成品的合格率检测是必不可少的,以机械零件加工为例,在加工完一个机械零件后,我们对该机械零件的二维尺寸参数并不是很确定。这时,我们就需要通过检测手段,来获取机械零件的二维尺寸参数。传统的检测手段有投影仪、卡尺等,随着技术的进步,最新的二次元影像测量仪逐步替代传统检测手段,成为新的首选测量解决方案。今天我们就来分析一下[b]VX3000系列[color=#333333]二次元影像测量仪[/color][/b]与投影仪的区别。[align=center] [img]http://www.chotest.com/Upload/2019/6/201906149843071.jpg[/img][/align][align=center] [/align][b][color=#e01e2b]1.测量精度:[/color][/b]  投影仪检测工件的精度一般在45μm左右,在现代化的生产加工过程中,已经不能满足生产者的精度需求。二次元影像测量仪的测量精度普遍在±2μm左右,最高可达1μm,是完全可以满足生产者对精度的要求的。[b][color=#e01e2b]2.测量效率:[/color][/b]  用投影仪检测工件单次只可检测一个工件,并且需要在操作软件上定位原点,再进行一定编程工作,才可以测得一个工件的尺寸数据。二次元影像测量仪单次可以测量多个工件,小微型工件甚至可以测量几十个,只要在视场范围内,一次测多少个操作员说了算,二次元影像测量仪不需要定位原点,也不需要进行复杂的编程。只需在测量第一个工件时建立模板,此后测量相同的工件只需按一键测量按钮,即可得出工件的二维尺寸参数,批量测量最多可同时测量512个部位,大大提升了工作效率![b][color=#e01e2b]3.仪器体积:[/color][/b]  投影仪都是比较笨重的仪器,外形体积硕大,重达五六百千克,不方便搬运到不同车间进行检测作业。VX3000系列二次元影像测量仪的体积轻便,重量在30-40千克之间,单人即可搬运到不同的车间生产线上进行测量工作,省时省力省空间。

  • 低压配电系统电流互感器的选型方案

    摘 要:分析低压电流互感器的原理,介绍了准确级和准确级限值的概念,同时并在此基础上,结合工程实例分析。低压电流互感器在低压测量、计量、继电保护、系统监测、接地保护等方面的选用。关键词:低压配电系统 低压电流互感器 工作原理 准确级 准确级限值 选型1  引言  随着我国电力工业中城网及农网的改造,以及低压配电系统的自动化程度不断提高,电流互感器作为低压配电系统中的一种重要电气元件,已被广泛地应用于测量、计量、继电保护、系统监测、接地保护和各种电力系统分析之中,本文对此进行初步的探讨。2  低压电流互感器工作原理  低压电流互感器的工作原理如图1所示,电流互感器的一次绕组串联在被测线路中,I1为线路电流即电流互感器的一次电流,N1为电流互感器的一次匝数,I2电流互感器二次电流(通常为5A、1A),N2为电流互感器的二次匝数,Z2e为二次回路设备及连接导线阻抗。当一次电流从电流互感器P1端流进,P2端出,在二次Z2e接通的情况下,由电磁感应原理,电流互感器二次绕组有电流I2从S1流过,经Z2e至S2,形成闭合回路。由此可得电流在理想状态下I1×N1=I2×N2,所以有I1/I2=N1/N2=K,K为电流互感器的变比。3.1 测量用电流互感器3.1.1 测量用电流互感器是为指示仪表、积分仪表和其他类似电器提供电流的电流互感器  测量用电流互感器广泛用于对低压配电系统电流的测量,主要准确(对电流互感器给定的等级)级有:0.2、0.5、1、3、5等,目前应用比较广泛的测量用互感器主要为母线式电流互感器,安装方便,而且其型号、规格繁多,可根据不同规格的母排或线缆选用最经济合理的电流互感器,表(一)以AKH-0.66型电流互感器,分析测量用电流互感器的运用及特点。表(一) AKH-0.66测量用电流互感器技术参数表 电流互感器型号输入、输出主要特点AKH-0.66/I型输入:5-3000A输出:0-5A(0-1A)适用用于多(单)根电缆或单根母排穿越,适用面广AKH-0.66/II型输入:150-6300A输出:0-5A(0-1A)适用用于多根母排或多根电缆穿越,适用面广,二次接线端与母排安装水平面平行。AKH-0.66/III型输入:250-6300A输出:0-5A(0-1A)具备II型特点,精度高,容量大,适用于相间距离小的场合,二次接线端与母排安装水平面垂直。AKH-0.66/M8型输入:5-150A输出:0-5A(0-1A)适用于小电流空间场所,为接线式电流互感器。AKH-0.66/K型输入:100-6300A输出:0-5A(0-1A)用于项目改造,无须拆一次母线,安装方便,为用户节省人力、财力,提高改造效率。AKH-0.66/S型输入:5-6300A输出两组:一组0-5A(0-1A),另一组AC0-20mA双路输出,一路用于电流的测量,另一路用于远传,用于系统监测,与遥测单元配合使用,为用户节约成本。AKH-0.66/SM型输入:5-6300A输出两组:一组0-5A(0-1A),另一组DC4-20mA双路输出,一路用于电流的测量,另一路用于远传,用于系统监测,与自控仪表如PLC配合使用,为用户节约成本,辅助电源DC24V由PLC供电。3.1.2 测量用电流互感器在低压配电系统中的问题及应用实例  测量用电流互感器在低压配电系统中二次输出5A和1A的选择,是一些电气工程师经常遇到的问题。  2009年12月山东聊城某化工厂,各生产车间环境多为爆炸性环境,各车间电气控制室不安装在车间内,而是安装在离各车间较远的公共电气控制室,来实现对系统电流信息的集中采集,现场电流互感器与控制室之间距离大约200米,有的甚至300米,二次传输导线为2.5平方毫米,使用的电流互感器有AKH-0.66/30I 200/5A 0.5级 5VA 穿心1匝 等许多规格,使用的电流表为CL72-AI,该项目比较大,该项目在将完工,部分工程试运行时,发现所有电流表显示与现场电流完全不准确。  经分析,电流互感器额定容量就是电流互感器额定二次电流I2e,通过二次回路额定负载Z2e时所消耗的视在功率S2e,即,S2e=I2e²Z2e; 因数显表消耗的视在功率只有0.05VA,很小,所以我们可以不考虑 ,Z2e=ρ.2L/S=0.0176Ω. mm²/m×2×200 m /2.5=2.82Ω,S2e= I2e²Z2e=5A²×2.82Ω=70.5VA,远远大于电流互感器的额定容量5VA,所以此时应该选择200/1A的电流互感器,2010年2月份该项目更换了所有的比5A电流互感器,同时由于电流表为数显表,变比可以重新设定为200/1,使整个系统恢复正常。  从本实例可以得出电流互感器接数显电流表时,传输距离对比如表(二)表(二) 传输距离对比二次导线截面积(mm²)额定二次电流(A)互感器容量(VA)单程传输距离(m)1.552.54.211062.55514.21[td=

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