便携式镀层测厚仪

仪器简介：CMI 243是一款专门为测量磁性金属上的(如锌、镍等)涂镀层厚度而设计的便携式膜厚仪。独特的涡电流测试方法使测量更精确。高端配置的测量探头对细小的零件也可以精确测量。它具有X射线荧光的测量精度，同时也避免了库仑法对被测工件带来的破坏。 CMI 243在设计上更加合理、可靠、实用。牛津仪器常驻中国机构提供售后服务和技术支持 (涂层测厚仪,镀层测厚仪,漆膜测厚仪,薄膜测厚仪,测厚仪,涡流测厚仪,油漆测厚仪,磁感应涂层测厚仪)技术参数：型号：CMI 243 镀层测厚仪 膜厚仪 牛津仪器专业供应 品牌：OXFORD CMI(英国牛津) ●ECP-M探头：锌、镍均可以测量 ●准确度：± 1% ●测量范围：0.08-1.50mils(2-38&mu m) ●分辨率：0.01mils (0.25&mu m) ●小测量半径0.06英寸(1.55mm) ●适用标准：符合ASTM B244&mdash b259， DIN 50984，ISO 2360，ISO 29168(DRAFT), 以及BS 5411 part 3 ●单位：英制和公制单位自动转换 ●统计数据显示：读取次数，平均值，标准差，高值，低值，终值 ●记忆储存：12,400个数据储存 ●接口：RS-232串行端口，波特率可调，可接打印机或计算机 ●显示：液晶显示(LCD),字符高度1/2&rdquo (1.27cm) ●电池：9V干电池或可充电电池。 ●尺寸：57/8&rdquo (L) × 31/8&rdquo (W)× 13/16&rdquo (D) (14.9× 7.94× 3.02 cm) ●重量：9盎司/0.26kg, (包括电池重量在内) ●品牌：英国牛津仪器； 产地：美国主要特点：英国牛津仪器（Oxford）总代理方源仪器供应高品质镀层测厚仪CMI 243。CMI 243可无损、精确测量各种金属涂镀层厚度，如：锌/铁、镍/铁、铬/铁、镉/铁、铜/铁等（Zn/Fe,Ni/Fe,Cr/Fe,Cd/Fe,Cu/Fe,etc）。包括紧固件、螺丝、汽车部件、齿轮、管件等表面电镀层。

Fischerscope X-RAY XAN500 是一款可移动使用并且应用广泛的能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪，它特别适用于镀层厚度的无损测量及材料分析。适用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。典型的应用领域有：测量大型工件的镀层，如：机械零件和外壳在电镀过程中进行移动实时测量对合金材料进行移动实时检测FISCHERSCOPE X-RAY XAN500是一款应用广泛的能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它特别适用于测量和分析超薄镀层以及进行材料分析。正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY仪器一样，本款仪器有着出色的精确性以及长期的稳定性，这样就显著减少了校准仪器所需的时间和精力。XAN500采用先进的硅漂移探测器能够达到非常高的分析精度及探测灵敏度。依靠FISCHER的完全基本参数法，可以在没有校验标准片校正的情况下分析固、液态样品的成分及测量样品的镀层厚度。使用XAN500型手持式仪器可以对大型工件以及台式仪器难以测量的位置进行便捷快速的测量。设计结构的优化使得仪器可以呗安全第放置到工件上，无论是镀层测厚或者材料分析，都可以保证其测量结果的再现性。同时，仪器可选配便携式智能箱，使其成为小型的台式测量设备，以便检测小型样品。可按要求，提供额外的XAN500 型产品更改和XAN500 仪器技术咨询

仪器简介：产 品 介 绍: 订购编号：20706 CMI233(单探头) / 20707 CMI233(双探头) 用途：广泛应用于喷涂电镀、涂料涂装、汽车、石化管道、造船、电器、防腐等行业中的表面涂层及各种薄膜厚度的测量 CMI 200型测厚仪是高科技电子技术和软件的佳组合，多功能、耐用的设计，专为适应恶劣的工作环境而制造，典型应用于表面处理工业。 CMI 200以经济的价格为您提供对涂镀层厚度的准确、高效的监控。 （涂层测厚仪/涂镀层测厚仪是本公司主打销售产品之一，我们是牛津测厚仪中国一级代理，专业提供涂层测厚仪品牌、涂层测厚仪行情、测厚仪参数、测厚仪应用、测厚仪维修、测厚仪保养、测厚仪报价、测厚仪售后服务等涂层测厚仪各种问题） (涂层测厚仪,镀层测厚仪,漆膜测厚仪,薄膜测厚仪,测厚仪,涡流测厚仪,油漆测厚仪,磁感应涂层测厚仪)技术参数：应用范围： 磁性基材上的非磁性涂层，例如钢或铁上的锌、铬、镉、锡、铜、聚四氟乙烯、环氧树脂、油漆、粉末涂料等涂层 导电基材上的非导电性涂层，例如铜或铝上的阳极电镀、油漆、珐琅/瓷釉、粉末涂料、环氧化物等涂层。 ●测量方法：磁感应或涡流式 ●测量精度：1%± 0.1&mu m依照参考标准片 ●测量范围：磁感应0-120mils(0-3.05mm)；涡流0-60mils(0-1.52mm) ●分辨率：0.1&mu m ●小曲率半径 5mm(凸)；25mm(凹) ●小测量面积 &phi 20mm ●小基体厚度 0.35mm ●适用标准：磁感应遵守ASTM B499 & B530；DIN 50981；ISO 2178 and BS 5411 PART9&11有关规定。涡流式遵守ASTM B244 & B259；DIN 50984；ISO 2360 and BS 5411 PART3有关规定 ●存储量：12，400条读数 ●低铁和无铁层厚度：12 mils(305&mu m) ●尺寸及重量：14.9X7.94X3.02 CM；重量：260克（含电池） ●单位：英制和公制，可转换 ●电池：9伏干电池或充电电池 ●统计数据显示：读取次数，平均值，标准差，高值，低值，由打印机或连续输出支持的直方图和CPK图 ●接口：RS-232串行输出端口 ●显示：1/2英寸背光液晶显示屏 ●键区：密封膜。基本-9键；增强-16键 ●扫描特征：在指定扫描时间内自动平均读数（或可提供实际高低值） ●品牌及产地：英国牛津仪器；产地：美国主要特点：品牌：OXFORD CMI(英国牛津) 简介： □性价比优势：同类进口产品中具有很高的价格性能比 □探头：配备有世界上的检测探头 □测量精度：1%或± 0.1&mu m依照参考标准片，分辨率：0.1&mu m □测量范围：磁感应0-120mils(0-3.05mm)；涡流0-60mils(0-1.52mm)

X射线荧光镀层测厚仪，涂层镀层测厚仪X射线荧光镀层测厚及材料分析仪系列测量方向产品型号应用范围检测器射线管基本滤片准值器数量/尺寸(mm)C型开槽从下往上XUL一款适合电镀厂测量镀层厚度的性价比高的仪器，它配备了一个固定的准值器和滤，射线管出射点稍大，非常适合测量点在1mm以上的应用。对于测量典型电镀层厚度的应用，如Cr/Ni/Cu等，非常合适。PC标准11（Φ0.3）是XULM多用途的镀层厚度测量仪。无论是薄的还是厚的镀层（如50nm Au或100um Sn）都通过选择好的高压滤片组合很好的测量。微聚焦管可以达到在很短的测量距离内小到100um的测量点大小。高达数kcps的计数率可以被比例接收器接收到。PC微聚焦34（0.05*0.05-Φ0.3）是XAN110/120专门为分析金合金开发的划算的仪器。比较XAN而言，只有一个固定的准直器和固定的滤片，特别适合贵金属分析。XAN 110配备比例接收器，适于几种合金元素的简单分析。XAN120配备了半导体接收器，更可以应用于多元素的复杂分析。PC(XAN 110)PC(XAN 120)标准11（Φ0.3XAN110）1(Φ1XAN120)否XAN分析专用仪器，测量方赂从下到上。用途广泛。测量室全封闭，可以使作大准直器分析，高计数康可也可被硅漂移探测器处理。激发和辐射检测方式与XDV-SDD相同。它是金合金分析和塑料中有害物质衡量分析的理想仪器。PINSDD微聚焦3/64（Φ0.2-Φ2）否从上往下测量XDL适合镀层厚度测量的耐用仪器，即使大测量距离也可以测量（DCM，范围0-80mm）配备一个固定的准值器和固定的滤片。适合测量点在1mm以上的应用；跟XUL类似。可选 用自动测量的可编程工作台。PC标准11（Φ0.3）是XDLM比XDL适用面更广，配备微聚焦管，4个可切换的准直器和3个基本滤片。测量头与XULM想似；适合于测量小的结构如接插件触点或印刷线路板，也可以测量大的工作（DCM,范围0-80mm）PC微聚焦34（0.05*0.05-Φ0.3）是XDAL与XDLM类似但配备了半导体接收器。这样就可能可以分析元素和测量超薄层（基于良好的信噪比）。比较适合测量结构较大的样品。PIN微聚焦34（Φ0.1-Φ0.6）是XDC-SDD适合于全部应用的高端机型。根据测量点大小和光谱组成，激发方式灵活多样。配备了硅漂移接收器，即使强度高达100kcps的信号也可以在不损失分辨率的情况下处理。SDD微聚焦64（Φ0.1-Φ0.3）否SDV-U专用微观分析的测量仪器。根据X射线光学部件的不同，可以分析小到100um或更小的结构。强度很高所以精度也非常好。即使很薄的镀层，测量不确定性小于1nm也是可能的。仅适于测量表面平整或接近平整的样品。SDD微聚焦4多毛细管系统是XDV-Vacuum具备综合测量能力的通用高端机型。与XDV-XDD相当。但可外配备了可抽真空的测量室，这样就使得分析从原子序数Z=11(Na)开始的轻元素成为可能。高精度的马达驱动的XYZ平台和视频摄像头可以精确定位样品位置和测量细小部件。SDD微聚焦64（Φ0.1-Φ3）否在线测量X-RAY 4000用于生产过程中薄膜，金属带或穿孔带的连续测量。测量头可以装配与样品传送方向的直角的位置。操作方便，启动迅速。数据接口可集成到质量管理或控制系统X-RAY54000用于生产线上连续测量的法兰式测量头。测量带状物，薄膜或玻璃的金属元素。在空气和真空都可以测量。提供水冷版本仪器。 X射线荧光镀层测厚仪，涂层镀层测厚仪用途：由于能量色散X射线荧光光谱法可以分析材料成分和测量薄镀层及镀层系统，因而应用广泛 在电子和半导体产业里，测量触点上薄金，铂和镍层厚度或痕量分析。在钟表和珠宝行业或采矿精炼工业中，精确分析贵金属合金组分。在质量管控和来料检验中，需要确保产品或零部件完全满足材料设计规范。如在太阳能光伏电池产业中，光伏薄膜的成分组成和厚度大小决定了光伏电池的效率。在电镀行业中，则需要测量大批量部件的厚度。对于电子产品的生产者和采购者，检验产品是否符合《限制在电子电气产品中使用有害物质的指令》（ROHS指令）也是十分关键的。在玩具工业中，也需要有可靠的有害物质检测手段对于以上测量应用，菲希尔的FISCHERSCOPE X-射线光变仪都能完美胜任。 X射线荧光镀层测厚仪，涂层镀层测厚仪用途领域:1、钟表，首饰，眼镜 2、汽车及紧固件 3、卫浴五金4、连接器5、化学药水6、通信7、半导体封装测试8、电子元器件 9、PCB（线路板）

高性价比上照式光谱测厚仪，对各类镀层厚度分析的同时可对电镀液进行分析，适用于各种超大件、异形凹槽件、密集型多点测试或自动逐个检测大量的小部件。可靠的高性能：测试精度、稳定性高，在提供高质量的同时减少浪费和停机时间。更高的性价比：制造工艺升级，更具性价比，大大节省使用成本。前沿检测技术：高级成垂直光路系统，采用先进的解谱技术和影像识别算法，实现精准、快速、智能、自动检测，满足企业检测需求。使用寿命更长：模块化设计，聚焦节能，搭载自动休眠模式，延长使用寿命。核心EFP算法：先进的EFP算法不但对多层测试精准、校准方便，而且解决了多层合金、上下元素重复镀层及渗层的检测难题。四焦一体装置：搭载高集成四焦技术，可测量最大90mm深度的凹槽高低落差异形件。上照式设计：上下位机管理分工，可实现对超大型工件的快、准、稳高效测量。适用性强：精准测量各类金属镀层厚度的同时可对电镀液进行分析。自动：可编程自动位移平台，无人值守、自动检测样品；一次编程，便可实现成百上千个样品点的高效检测。智能：实现自动AI影像智能寻点，编程档案自动匹配测试位置，在面对大批同类型样品检测时，具备明显的优势。在线：根据客户要求，可个性化定制产线在线式检测，为工业4.0提供在线检测整体解决方案，提高检测效率，实现自动智能化工厂。XD-1000上照式光谱测厚仪，对各类镀层厚度分析的同时可对电镀液进行分析，适用于各种超大件、异形凹槽件、微小密集型多点测试或自动逐个检测大量的小部件，如线路板、引线支架、卫浴产品等

金属镀层测厚仪镀层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节，是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对镀层厚度有了明确要求。本产品适用于各种镀铝薄膜、镀铝纸测试电阻值、均匀度、厚度值的测试。 技术特征 微电脑控制、LCD液晶显示、PVC操作面板，方便用户快速、直观的查看检测数据和结果 配置微型打印机，快速打印方块电阻值、厚度值、均匀度 数据实时显示电阻值、厚度值 试验结果记忆功能,方便用户查询 温度显示功能 高精度接触式测量 试验步骤1.将金属镀层测量仪与试样放置在GB2918规定的23±2℃.，45%-55%RH环境中放置4h后测量。2.每次测量前用无水乙醇擦拭仪器的测量头。3.将试样平放在测量仪的橡胶板上，使测量头与金属镀层接触良好。4.每次测量前仪器必须校零。5.测量试样的电阻值。测试的实验结果自动显示打印金属镀层的方块电阻、金属镀层厚度和均匀度。 技术参数 厚度测量范围 厚度50-570&angst 方块电阻测量范围 0.5-5Ω 方块电阻测量误差 ±1% 样品尺寸 100×100mm 夹样精度 ±0.1mm 测温范围 0～50℃，精度±1℃ 外形尺寸 370mm×330mm×450mm （长宽高） 重 量 19kg 工作温度 23℃±2℃ 相对湿度 高80%,无凝露 工作电源 220V 50Hz 参照标准 GB/T 15717 产品配置 主机、微型打印机金属镀层测厚仪 此为广告

镀层测厚仪LS223的检测方法非常简单，适合用于生产现场的质量管控。可以快速无损的测量出表面镀层的厚度。 镀层测厚仪LS223，有两种开机使用方法。一种是探头在测试过程中自动触发开机，并且直接显示出测量结果。还有一种是按键开机。开机仪器会显示探头型号。三种测量模式设置方法：1、长按仪器按键进入设置界面。2、在已经确认测量基体的情况下，选择Fe或者NFe作为固定测量模式即可。如果不确认可以选择自动识别的Fe/NFe模式即可。一般推荐使用自动识别模式。3、确认模式之后，按下按键则进入到测量状态。4、一共可以存储9组测试的数据，按键查看即可。 镀层测厚仪LS223调零方法：将仪器探头压紧到调零板上，按下调零按键，根据提示将探头提起15cm以上,屏幕显示0.0，调零完毕。完成后，可以把有标准值的测试片放在调零板上测量。测量的数值与标准测试片的误差范围之内，则说明仪器可以正常使用了。 注：由于工件表面粗糙度，灰尘，划伤等原因，调零后，再测同一位置时不一定是显示0 μm。仪器的操作要正确、熟练，不然也会导致测量数值的不稳定。 镀层测厚仪LS223，确保通过国家第三方计量检测。在购买90天内，任何不满意可以无理由退货。质保一年，终身维护。

1.北京中瑞体式涂镀层测厚仪Z28334产品介绍Z28334体式涂镀层测厚仪采用了磁性测厚方法，可无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等 )上非磁性覆盖层的厚度(如铬、锌、铜、铝、珐琅、橡胶、油漆等)。 Z28334体式涂镀层测厚仪广泛应用于机械、汽车、船、石油、化、电镀、喷塑、搪瓷、塑料等行业。Z28334体式涂镀层测厚仪产品概述： Z28334体式涂镀层测厚仪采用内置探头体化设计、抗干扰术、数字显示，具备机型小巧、操作简捷、待机时间长等特点；且具有自动关机、欠电示、统计、系统/零点/两点校准能。它能快速、无损伤、密地行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室，也可用于程现场。该仪器广泛应用于机械、汽车、船、石油、化、电镀、喷塑、搪瓷、塑料等行业。 Z28334体式涂镀层测厚仪测量原理：Z28334型涂（镀）层测厚仪采用了磁性测厚方法，可无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等 )上非磁性覆盖层的厚度(如铬、锌、铜、铝、珐琅、橡胶、油漆等)。 ◆磁性法(内置F型测头)：当测头与覆盖层接触时，测头和磁性金属基体构成闭合磁路，由于非磁性覆盖层的存在，使磁路磁阻变化，通过测量其变化可确测量出覆盖层的厚度。 符合标准：GB/T 4956─1985磁性金属基体上非磁性覆盖层厚度测量 磁性方法JB/T 8393─1996磁性和涡流式覆层厚度测量仪JJG 889─95《磁阻法测厚仪》 Z28334体式涂镀层测厚仪产品特点：◆产品设计：内置探头的体化设计，重量仅为98g，真正意义的便携◆显示方式：4位液晶数字显示◆统计能：设有三个统计量（平均值、大值、小值◆校准能：可行零点校准、两点校准及系统校准◆电量提醒：具有欠压显示能（右上角显示＂ ＂） ◆蜂鸣提示：操作过程中有蜂鸣提示 ◆关机方式：具有自动关机和手动关机两种方式 术参数 量范围： 0~1250um测量误差： ±［(1～3)%H+1］小示值： 1um电源： 两节1.5v电池耗： 大耗98mw基体小厚度： 0.5mm 基体小平面的直径： 7mm小曲率半径： 凸:1.5mm凹:6mm外形尺寸： 114mm*44mm*24mm重量： 98g（含电池）使用环境： 温度0℃~+40℃ 相对湿度：不大于90% 2.脉冲限幅器 型号；Z21220 ．概述 Z21220脉冲限幅器是为EMC测试中连接于人电源网络与频谱接收机之间而设计的保护装置，可有效的抑制率信号入测量设备前级烧毁敏感器件。 2．性能标2.1 作频率：9kHz～1GHz；2.2 输入率：30dBm；2.3 插入损耗：10dB±0.5dB2.4 限幅电平：13dBm；2.5 端口驻波：1.4；2.6 外形结构：IN N(F)，OUT N(M) 3.便携式环境级x、γ辐射剂量率仪 型号：Z29036简介Z29036是监测各种放射性作场所х、γ辐射源产生的环境水平比释动能（吸收剂量）率的辐射探测仪器。它兼顾灵敏度和量程辐射探测的需求，采用大体积NaI探测器和能量补偿型GM探测器。仪器采用主机和探头分体设计，主机和探头之间支持有线和无线连接，主机可以立使用并可以连接多种辐射探头，满足各种复杂的环境需求。仪器采用容量内置锂电池，让用户不担心仪器供电问题。应用场合 可应用于：环保环境辐射本底检测、放射性疗设备射线检测、无损探伤设备射线检测、核电站外围环境本底测量、辐照设备周边环境射线检测、出入境检验检疫、辐射安检查及核反恐等场合；能特点1. 采用双探测器，兼具灵敏度和大量程特性。2. 本底自动扣除术，开机自动更新本底。3. 支持谱分析能。 4. 传感器支持自动刻度，自动标定能。 5. 峰值捕捉能，自动捕捉辐射峰值发生的时间，并能将次发生时间以快照形式展现于主机显示屏上。6. 实时辐射剂量率显示，自动累积剂量存储。 7. 报警阀值可意调整，支持剂量率报警、累积剂量报警。 8. 实时测量值与报警阈值在同坐标图表中显示，直观易读。 9. 报警方式：声、光、振动，且可以意组合。 10. 报警类型：支持阈值报警、探测器阻塞报警、探测器失效报警、人核素报警、电池欠压报警。11. 低耗设计，整机支持次充满电后，72小时连续使用。 12. 可查看报警记录，且掉电不丢失。 13. 点阵式液晶显示，操作界面简洁直观。 14. 自动背光能，随着环境光减弱，自动增强显示背光。 15. 仪器内置大容量存储器，可以用于存储测量记录、报警记录，且掉电不丢失。 16. 仪器内置立的日历时间，仪器掉电时间可正常运行。 17. 主机和探头可分别立运行。 18. 主机和探头可以支持有线和无线连接。 19. 仪器采用Micro-USB接口，兼容安手机充电器，充电资源随手可得。 20. 硅胶物理按键，手感舒适，触感良好。 21. 数据导出：支持USB数据导出。 22. 网络接口：支持以太网数据接口。 4.海水比色计/21色水色计/色度计 型号:Z26470该海水比色计适用于水质检测的科学调查中，它与透明度盘起使用可以快速定性的读出检测水层的水质情况及所在位置大致水深。 深术标：海水水色计共分为21种标准水色，可涵盖多数水质的颜色特征透明度盘分为三种颜色，分别为红、蓝、白。 5.亮点闪烁仪 闪烁仪 闪光融合频率计 型号：Z23632个频率较低的闪光刺激所产生的忽明忽暗的感觉为光的闪烁，随着闪光频率的不断增加，闪烁感觉逐渐消失，演变成个稳定的光。我们称，闪烁的频 率或形成稳定光的低频率为闪烁临界频率（融合临界频率）临界频率的低目前已成为检测人的注意程度及疲劳等的主要标，HAD-EP403亮点闪烁仪就是根据该 原理所设计的实验仪器它能确直观地测出临界频率。1、闪烁频率可调范围8.0HZ－60.0HZ2、闪烁频率显示度≤±0.1HZ3、亮点颜色选择三种红，绿，黄4、电源220V≤22VAC50HZ5、耗小于5W6、环境温度0－40℃7、仪器尺寸8cm×宽20cm×深17cm遮光罩6cm×15cm×20cm（观察窗）8、质量1kg组成分：慢可调频率发生器；亮点颜色选择和遮光观察窗；频率显示分取样速度1次/S 6.注意力集中能力测定仪 型号；Z23207注意力集中是注意能较长时间集中于定的对象，而没有松驰或分散的现象。本仪器可测定被试的注意集中能力，并可作为视觉—动觉协调能力的测试与训练仪器。 仪器由个可换不同测试板的转盘及控制、记时、记数系统组成。转盘转动使测试板透明图案产生运动光斑，用测试棒追踪光斑，注意力集中能力的不同量将反应在追踪正确的时间及出错次数上。主要术标： 1. 定时时间：1～9999秒； 2. 正确、失败时间：范围 0～9999.999秒，度 1 ms 3. 大失败次数：999次 4. 测试盘转速：10，20，30，40，50，60，70，80，90转/分 九档 5. 测试盘转向：顺时针或逆时针 6. 测试棒：Ｌ形，光接收型 7. 测试板：3块可方便调换，图案为圆点、等腰三角形、正方形 8. 干扰源：喇叭或耳机噪音，音量可调 9. 箱内光源：环形日光灯，22W 10. 外形尺寸：320×320×140 mm 11. 选购微型打印机：输出实验数据，可打印实验条件，正确、失败时间(0.001秒位)，失败次数。 7.粉末冶金密度天平 粉末冶金密度测试仪 型号：Z28821 Z28821适用于粉末冶金行业 齿轮件 异形件 生胚 熟胚 不规格的零件都可以快速测量 以下两款粉末冶金密度天平 属于快速测量粉末冶金零件密度天平 只需要几秒钟就可以测量出产品密度 测量产品重量建议5克以上 如果轻 请购买度的产品也可以测量粉末冶金含油率Z28821原理：根据ASTM B311、B328；MPIF Standard 42、57；JIS Z2505、 Z2506；GB/T5163可适用于封蜡法、真空饱和法量测，采用阿基米德原理浮力法，准确直读量测数值。 Z28821术参数：秤重范围： 0.005g~ 300g比重度： 0.001 g/cm3测量时间： 约10秒测量能： 视密度 体积密度 含油率Z28821备注：如果有需要更大量程，我司提供1kg、2kg、3kg… 10kg。标配水槽尺寸：22*18*14cm，可定制更大测量尺寸。Z28821能特点及装置：1、无需何人计算，自动测量数据。 操作方面简单； 2、支持键自动清零、扣除辅助配件重量的操作；3、台设可以成7种数据测量4、采用镀金陶瓷传感器，具有耐腐蚀 寿命长 故障率低等特点5、采用体成形的透明测量水槽，体成型水槽尺寸:(165*115*856)mm6、采用轻质、细条、不锈钢吊栏线设计，可大降低因吊栏线浮力所成的误差；7、设备外观尺寸 (27*27*27)mm 净重 4.5kg8、具有RS-232标准接口，可轻易的将本比重计与电脑和打印机相连接①主机、②水槽、③测量台、④镊子、⑤说明书、⑥砝码、⑦防风防尘罩、⑧测颗粒配件套、⑨测浮体配件套、⑩电源变压器个 含油率体积密度测量步骤： ①将未含油产品品放入测量台，测空气中重量，按M键记忆。②将产品拿到真空机含油，测含油零件空气中重量，，按M键记忆。③将含油样品放入介质中，按M键记忆，直接显示含油率及体积密度值。 生胚密度测量步骤：①将样品放入测量台，测空气中重量，按M键记忆。②将样品浸入介质中，测介质中重量，按M键记忆，直接显示密度值。 8.数字照度计 型号：Z29237 Z29237产品介绍Z29237照度计是种专门测量光度、亮度的仪器仪表。应用于电光源、科研教学、冶金建筑、业检测，以及农业科研、光照控制等域。 Z29237产品概况产品详情产品配件 数字显示，无读数误差。 传感器与显示表分离，便于使用。 多种单位测量：Lux 和 FC。 性能可靠，持久耐用。 具有大值保持能。 具有低电池电压示能。 采用经久耐用的优选电子元件，外壳采用重量轻而坚硬的 ABS 塑料。 结构紧凑，便于携带。 应用范围广。可广泛用于农业、业、建筑、环卫、科研等域。 Z29237术参数 显示器 4 位 10 mm 液晶显示屏 测量单位 勒克斯（Lux） 尺烛光（FC） 测量范围 0 ~ 50,000 Lux，3 量程 0 ~ 5,000 FC 大值保持能 电池电压示 低电压提示 作条件 温度：0 ~ 50 °C（32 ~ 122 °F） 湿度： 80 %RH 电源 4 节 7 号电池 尺寸 主机尺寸：132 x 64 x 30 mm 传感器尺寸：96 x 58 x 16 mm 重量 280 g （包括电池） 范围 分辨率 准确度（23 ± 5 °C） 0 ~ 1,999 Lux 1 Lux ± ( 5% n + 5 d ) 2,000 ~ 19,000 Lux 10 Lux ± ( 5% n + 5 d ) 20,000 ~ 50,000 Lux 100 Lux ± ( 5% n + 5 d ) 0 ~ 5,000 FC 1 FC ± ( 5% n + 5 d ) 9.PH计/PH分析仪 型号：Z9626 能特点：　　外箱设计，防水及防酸气效果佳，防日晒透明前盖，方便读值；二组 ON/OFF 控制， STDBY 能键，方便校正及保养，避免控制误动作；可配合 PH-300T 传送器使用，做低阻抗信号传送，具低干扰及长距离信号传输能；适合恶劣环境、现场制程、废水处理及酦酵槽使用。术参数：测试范围： 0.00~14.00 pH 、 ±1999 mV 。 确 度： 0.01 pH ±1 digit 、 0.1% ±1 digit 。温度补偿： 固定电阻或 NTC 温度探棒自动补偿。显 示 幕： 0.8 吋大型液晶显示，具能显示。校　　正： 二点校正。控制方式： Hi / Lo 。信号输出： 隔离式 DC 4~20 mA 输出，大负载 500Ω 。电压输出： DC ±12 V 输出，提供 PH-300T 传送器电源使用。电　　源： 110 / 220 VAC ±15 % ， 50/60 Hz 。挖孔尺寸： 135(H) x 135(W) x 195(D) mm 。 10.皮脂厚度计/皮褶厚度计 型号:Z23660 人体的脂肪大约有2/3贮存在皮下组织，通过测量皮下脂肪的厚度，不仅可以了解皮下脂肪的厚度，判断人的肥瘦情况，而且还可以用所测得的皮脂肪厚度推测身的脂肪的数量，来评价人身组成的比例。这是评定人身组成简便的方法。 现将仿日本荣研式改良型产皮下脂肪测量计 肥胖，对人体有百害而无益，如何掌握肥胖与否？以前，有人认为体重是判定肥瘦标准。不然，更重要的是测定体内脂肪含量，即看脂肪点体重的百分比。测定脂肪含量的方法很多，但至今内尚无规范的测量仪器。“皮脂厚度计”的推出，理想地解决了这难题。利用该仪器对人体活体测量所得的各种数据，直接代入计算公式，而轻而易举的推算出人体密度，体脂百分比和体脂重量，从而正确地确定肥胖与瘦，为调整体质提供科学合理的依据。人体的脂肪大约有2/3贮存在皮下组织，通过测量皮下脂肪的厚度，不仅然可以了解、皮下脂肪的厚度，判断人的肥瘦情况，而且还可以用所没、测得的皮脂厚度推测身的脂肪的数量，来评价人身组成的比例。这是评定人身组成简便的方法。现将产皮下脂肪测量计算方法介绍如下：、产皮脂厚度计各名称。二、仪器的调整--使用前须将圆盘内针调整到刻度表上的“0”位。调整方法：用手转动调整“0”位盘即可将针对准到“0”位。三、校正压力--针调到“0”位后，须将皮脂厚度计两个接点间的压力调节到际规定的10g/mm2的范围。左手持皮脂厚度计呈水平位置，在皮脂计的下方测试臂端的小孔上挂200g重量的砝码。再将皮脂下主弓形臂的根与该臂端的接点呈水平线，此时观察圆盘内针偏离情况。如针处在15-25mm范围内说明两接点的压力符合10g/mm2的要求，无须调节旋扭。如果针出25mm以上，说明压力接点压力不足。须通过向左侧方向转动旋扭增加压力，直接针调到15-25mm范围内为止。反之，则调节旋扭向右转动减少压力调节到针在规定范围内。针的±5mm的差异不会影响测定结果。四、测试程序：1、受试者应着背心裤衩或短裤。2、实验者右手握皮脂计使两半形测试臂张开。左手拇和食将受试都所测位的皮肤捏紧提起。拇食捏起时，拇食间应保持适当的距离，这样捏紧提起皮肤既包括皮下组织，但要防止将所在位的肌肉也、提起。为检查是否将肌肉提起可令受试者主动收缩该位肌肉。止时肌肉即滑脱。 然后将张开的皮脂计距离手捏起位1cm处钳入。右手将皮脂计的把柄放开，读出针的数值并记录下来。每个位应重复测量两次，二者所测的数值误差不应过5%。3、测定位：上臂--右臂肩峰至桡骨头连线之中点，即肱三头肌肌腹位。背--右肩胛角下方。 腹--右腹脐旁1cm。除上述位外，根据研究需要还可以测颈、胸、腰、大腿前后侧和小腿腓肠肌位。应当出：用皮脂计所测的皮下脂肪厚度是皮肤和皮下脂肪组织双倍的和。

概述　　双用涂镀层测厚仪采用磁性和电涡流两种测量方法，可检测磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度(如钢铁合金和硬磁性钢上的铝、铬、铜、锌、锡、橡胶、油漆等),以及非磁性金属基体上非导电的绝缘覆盖层的厚度(如铝、铜、锌、锡上的橡胶、塑料、油漆、氧化膜等)。　　涂层测厚仪应用在电镀、防腐、航天、航空、化工、汽车、造船、轻工、商检等检测领域。既可用于实验室，也可用于工程现场。配置不同的探头，适用于不同场合。它是检测行业重要的仪器。　　双用涂镀层测厚仪主要功能　　● 具有两种测量方式：连续测量和单次测量方式 　　● 具有两种工作方式：直接和成组方式 　　● 具有自动统计功能：平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差(S.DEV) 　　● 可采用单点校准和两点校准两种方法对仪器进行校准，并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正 　　● 存储功能：可存4 个校正工件可保存。分2类工件，每类26组，每组15个，共1560个测值 　　● 删除功能：对测量中出现的单个可疑数据进行删除，也可删除存储区内的数据，以便进行新的测量 　　● 设置限界：对限界外的测量值能自动报警 　　● 具有电源欠压指示功能，操作过程有蜂鸣声提示，自动关机方式。

【3V仪器-EDX6000E金属镀层测厚仪 多镀层厚度检测分析】专业供应镀层测厚仪，金属镀层测厚仪，应对镀锌层、镀锡层、镀镉层、镀铬层、镀铜层、镀铅层、镀铜锡合金等等。1.6 技术性能及指标: 1.6.1 元素分析范围从硫(S)到铀(U) 1.6.2 元素含量分析范围为 1PPm 到 99.99% 1.6.3 测量时间：60-200 秒 1.6.4 检测限度达 1PPM 1.6.5 能量分辨率为 149±5 电子伏特 1.6.6 温度适应范围为 15℃至 30℃ 1.6.7 电源：交流 220V±5V（建议配置交流净化稳压电源） 1.7 产品特点:● EDX6000E 是针对镀层测厚设计的一款产品 ● 打破传统仪器直线的设计，采用流线体的整体化设计，仪器时尚大方 ● 采用美国新型的 Si-PIN 探测器，电致冷而非液氮制冷，体积小、数据分析准确，维护成本低 ● 采用自主研发的 SES 信号处理系统，有效提高测量的灵敏度，让测量更精确 ● 一键式自动测试，使用更简单，更方便，更人性化 ● 七种光路校正准直系统，根据不同样品自动切换 ● 多重防辐射泄露设计，辐射防护级别优于同类产品。 ● 一体化散热设计，使整机散热性能得到极大提高，保证了核心部件的运行安全 ● 机芯温控技术，保证 X 射线源的安全可靠运行，有效延长其使用寿命，降低使用成本 ● 多重仪器配件保护系统，并可通过软件进行全程监控, 让仪器工作更稳定、更安全 ● 专用测试软件，标准视窗设计，界面友好，操作方便 ● 本机采用 USB3.0 接口，有效地保证了数据准确高速有效的传输【3V仪器-EDX6000E金属镀层测厚仪 多镀层厚度检测分析】2.仪器硬件部分主要配置2.1 Si-PIN 电制冷半导体探测器2.1.1 Si-PIN 电制冷半导体探测器；分辨率：149±5 电子伏特 2.1.2 放大电路模块:对样品特征 X 射线进行探测；把探测采集的信息,进一步放大2.2 X 射线激发装置2.2.1 灯丝电流输出：1mA2.2.2 属于半损耗型部件，使用寿命达 20000 小时2.3 高低压电源2.3.1 电压输出： 50kV2.3.2 5kv 可控调节2.3.3 自带电压过载保护2.4 多道脉冲幅度分析器2.4.1 将采集的模拟信号转换成数字信号,并将处理结果提供给上位机软件2.4.2 通道数： 40962.4.3 包含信号增强处理2.5 光路过滤模块 2.5.1 降低 X 射线光路发送过程中的干扰，保证探测器接收信号准确2.5.2 将准直器与滤光片整合2.6 准直器自动切换模块2.6.1 多达 7 种选择，口径分别为 8-1＃, 8-2＃, 8-3＃, 4＃，2＃, 1＃, 0.5＃ 2.7 滤光片自动切换模块2.7.1 五种滤光片的自由选择和切换 2.8 准直器和滤光片的自由组合模块2.8.1 多达几十种的准直器和滤光片的自由组合 2.9 工作曲线自动选择模块2.9.1 自动选择工作曲线，摒弃手动选择，避免人为操作失误，将自动化和智能化 操作得更轻松，使操作更人性，更方便3. 专用软件配置 3.1 专用 镀层分析软件 3.1.1 专门针对镀层检测而开发，对采集的光谱信号进行数据处理、计算并报告 显示测量结果 3.3 专用 FP 金属镀层分析软件3.3.1 元素分析范围：从硫（S）到铀（U）3.3.2 一次可同时分析 3 层以上镀层3.3.3 分析检出限可达 0.1μm3.3.4 分析厚度一般为 0.1μm 到 30μm 之间3.3.5 多次测量重复性可达 0.1μm（对于小于 1μm 的最外层镀层）3.3.6 长期工作稳定性为 0.1μm（对于小于 1μm 的最外层镀层）3.3.7 配置小孔准直器，测试光斑在 0.2mm 以内3.3.8 探测器能量分辨率为 149±5eV3.3.9 应用领域:金属电镀层厚度的测量,如 Zn/Fe、Ni/Fe、Ni/Cu、Sn/Cu、Ag/Cu 等 【3V仪器-EDX6000E金属镀层测厚仪 多镀层厚度检测分析】

镀层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节，是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对镀层厚度有了明确要求。ScopeX PILOT台式镀层测厚仪采用下照式设计，搭载先进的Muti-FP算法软件和微光聚集技术，以及高敏变焦测距装置，对不均匀、不规则，甚至微小件等形态的样品，都能够快速、精准、无损检测，可轻松应对镀层领域的表面处理的过程控制、产品质量检验等环节中的检测和筛检难题，被广泛应用于珠宝首饰、电镀行业、汽车行业、五金卫浴、航空航天、电子半导体等多种领域。使用优势可选配微焦X射线装置测试各类极微小的样品，即使检测面积微小的样品也可轻松、精准检测。多准直器/滤光片多滤光片和多准直器可选或软件自动切换组合，使得仪器的多功能性得以显著提升，以灵活应对不同尺寸的零件。下照式设计从下往上测量，无需额外对焦，可轻松实现对镀层样品的高效测量。无损检测X射线荧光是无损分析过程，不留任何痕迹，即使是对敏感性材料，其测量也是非常安全的。变焦装置可对各种异形凹槽样品进行检测，凹槽深度测量范围可达0~30 mm。高精度手调X-Y平台搭载高精度手调X-Y平台，最高精度可达25μm，使微区测量更便捷。应用场景紧固件五金小零件珠宝首饰汽车零部件技术参数元素范围Al(13)-Fm(100)分析层数5层（4层+基材） 每层可分析10种元素，成分分析最多可分析25种元素 X射线管50 W（50kV，1mA）微聚焦钨钯射线管（靶材可选配）探测器Si-Pin探测器，(可选配高灵敏度SDD探测器)准直器Φ0.1-Φ3可选，多准可选相机高分辨率CMOS彩色摄像头，500万像素手动样品XY平台手动移动平台，移动范围：50x50 mm滤光片固定初级滤光片，多滤光可选样品仓尺寸320×480×130mm（W×D×H）外形尺寸330×580×360mm（W×D×H）重量40KG电源AC 220V±5V 50Hz(各地区配置稍有不同) 额定功率150W

XU-100 X荧光光谱测厚仪高精尖检测技术，搞定企业品质管控！XU-100光谱测厚仪采用下照式C型腔体设计，搭配微聚焦X射线发生器和高集成垂直光路系统，以及高敏变焦测距装置，对各种大小异形件都可快速、精准、无损测量。
 检测各种金属镀层，检出限可达0.005μm，最小测量面积0.2mm² ，凹槽深度测量范围可达0-30mm，是一款测量镀层厚度性价比高、适用性强的机型。应用行业：电镀层分析紧固件行业五金行业汽车零部件配饰厚度分析电子元器件……常见样品：紧固件
 ZnAl/Fe、Zn/Fe、ZnNi/Fe五金制品
 Sn/Cu/Fe、Ni/Cu、Ni/Cu/Fe电子元器件
 Sn/Ni/Fe、Au/Ni/Cu、Ag/Cu
 汽车零部件Zn/Fe、ZnNi/Fe、ZnAl/Fe、Cr/Ni/Cu/ABS
 配饰首饰
 Au/Pd/925Ag、Rh/Pd/Cu、18KAu/Pd/Cu散热片NiP/Al……为什么选择XU-100？1.下照式设计
 可以快速方便地定位对焦样品。
 2.高精密微型移动滑轨快速精准定位样品。3.
 微焦X射线装置
 最小检测面积可达0.2mm² 的样品，可进行各类电镀层膜厚检测。
 高效率正比接收器即使测试0.2mm² 的样品，几秒钟也能达到稳定性。4.
 变焦装置算法
 可对各种异形凹槽进行检测，凹槽深度测量范围可达0-30mm。
 5.先进的EFP算法
 多层多元素，包括有同种元素在不同涂镀层的检测，都可以快、准、稳的做出数据分析。
 最小检测面积可达0.01mm² 凹槽深度范围0-30mm移动精度10μm最近测距光斑扩散度10%

荧光镀层测厚仪 涂层膜厚仪 镀层生产厂家仪器简介 XTU系列测厚仪虽然结构紧凑，但是都有大容量的开槽设计样品腔，即使超过样品腔尺寸的工件也可以测试。 搭配微聚焦射线管和先进的光路设计，以及变焦算法装置，可测试极微小和异形样品。 检测78种元素镀层0.005um检出限小测量面积0.002mm2深凹槽可达90mm。 外置的高精密微型滑轨，可以快速控制样品移动，移动精度0.005mm，速度10-30mm（X-Y）/圈，再小再多的样品测试都没有难度，让操作人员轻松自如。 XTU系列测厚仪虽然结构紧凑，但是都有大容量的开槽设计样品腔，即使超过样品腔尺寸的工件也可以测试。 搭配微聚焦射线管和先进的光路设计，以及变焦算法装置，可测试极微小和异形样品。 检测78种元素镀层0.005um检出限小测量面积0.002mm2深凹槽可达90mm。 外置的高精密微型滑轨，可以快速控制样品移动，移动精度0.005mm，速度10-30mm（X-Y）/圈，再小再多的样品测试都没有难度，让操作人员轻松自如。 项 目参 数测量元素范围Cl（17）-U（92）涂镀层分析范围各种元素及有机物分析软件EFP，可同时分析23层镀层，24种元素，不同层有相同元素也可分析软件操作人性化封闭软件，自动提示校正和步骤，避免操作错误X射线装置W靶微聚焦加强型射线管准直器? 0.05 mm 0.1 mm 0.2 mm 0.5 mm；准直器任意选择一种近测距光斑扩散度10%测量距离具有距离补偿功能，可改变测量距离，能测量凹凸异型样品，变焦距离0-30mm(特殊要求可以升级到90mm)样品观察1/2.5彩色CCD，变焦功能对焦方式高敏感镜头，手动对焦放大倍数光学38-46X，数字放大40-200倍样品台尺寸500mm*360mm移动方式高精密XY手动滑轨可移动范围50mm*50mm随机标准片十二元素片、Ni/Fe 5um、Au/Ni/Cu 0.1um/2um其它附件联想电脑一套、喷墨打印机、附件箱 无损天瑞X荧光光谱镀层膜厚检测仪，天瑞镀层测厚仪

北京中瑞祥体式涂镀层测厚仪ZRX-28334 产品介绍ZRX-28334体式涂镀层测厚仪采用了磁性测厚方法，可无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等 )上非磁性覆盖层的厚度(如铬、锌、铜、铝、珐琅、橡胶、油漆等)。ZRX-28334体式涂镀层测厚仪广泛应用于机械、汽车、船、石油、化、电镀、喷塑、搪瓷、塑料等行业。 ZRX-28334体式涂镀层测厚仪产品概述： ZRX-28334体式涂镀层测厚仪采用内置探头体化设计、抗干扰术、数字显示，具备机型小巧、操作简捷、待机时间长等特点；且具有自动关机、欠电示、统计、系统/零点/两点校准能。它能快速、无损伤、密地行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室，也可用于程现场。该仪器广泛应用于机械、汽车、船、石油、化、电镀、喷塑、搪瓷、塑料等行业。 ZRX-28334体式涂镀层测厚仪测量原理： ZRX-28334型涂（镀）层测厚仪采用了磁性测厚方法，可无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等 )上非磁性覆盖层的厚度(如铬、锌、铜、铝、珐琅、橡胶、油漆等)。 ◆磁性法(内置F型测头)：当测头与覆盖层接触时，测头和磁性金属基体构成闭合磁路，由于非磁性覆盖层的存在，使磁路磁阻变化，通过测量其变化可确测量出覆盖层的厚度。 符合标准： GB/T 4956─1985磁性金属基体上非磁性覆盖层厚度测量 磁性方法 JB/T 8393─1996磁性和涡流式覆层厚度测量仪 JJG 889─95《磁阻法测厚仪》 ZRX-28334体式涂镀层测厚仪产品特点： ◆产品设计：内置探头的体化设计，重量仅为98g，真正意义的便携 ◆显示方式：4位液晶数字显示 ◆统计能：设有三个统计量（平均值、大值、小值） ◆校准能：可行零点校准、两点校准及系统校准 ◆电量提醒：具有欠压显示能（右上角显示＂ ＂） ◆蜂鸣提示：操作过程中有蜂鸣提示 ◆关机方式：具有自动关机和手动关机两种方式术参数量范围： 0~1250um测量误差： ±［(1～3)%H+1］小示值： 1um电源： 两节1.5v电池耗： 大耗98mw基体小厚度： 0.5mm 基体小平面的直径： 7mm2.安阀研磨具包 型号:ZRX-28336ZRX-28336应用范围:安阀锥形与平面密封面的研磨抛光（克罗斯比/德莱赛）.术参数:研磨通径:DN20～200mm.设备特点:1.便携携带，易维护，更加适合现场况.2.切削速度快，提作效率，更易达到镜面效果.备注：支持尺寸定制.配置清单项目 规格 单位 数量研磨头 0.87英寸 只 1 1.0英寸 只 1 1.25英寸 只 1 1.5英寸 只 1 1.875英寸 只 1 2.0英寸 只 1 2.5英寸 只 1 2.75英寸 只 1 2.75英寸 只 1 3.5英寸 只 1 4.25英寸 只 1 5.25英寸 只 1 6.0英寸 只 1 6.0英寸 只 1 8.0英寸 只 1具箱 G10 只 1说明书 份 1合格证 份 1随机磨料 砂纸、研磨膏 套 13.自动点胶机 型号：ZRX-28337ZRX-28337自动点胶机是将密点胶和准确定位安装在个紧凑的桌面系统中，实现二者美地整合于体的自动点胶机 、ZRX-28337主要特点1、 X、Y、Z三轴可作平面及立体运行；2、 可作点、线、圆、圆弧和椭圆等图形涂胶；3、 三维位移由密步马达控制，度与重复性；4、 手持式示教器控制，编程方便、实观和快捷；5、 大容量存储。999个动态存储文件，可用U盘作文件备份；6、 CAD协作修改，可将多种CAD图形格式转换到示教盒，即时修改即时运行；7、 群组能。可快速复制、删除、修正、阵列、平移多个点，效率提多达60% ；8、 可单对点行出胶量的控制。可次修改意多个点的参数9、 提供单步、多点模拟、单色加、整体加、循环自动加等多种加模式10、 配备的针筒、针头等附件可直接安装；11、 体积紧凑，性价比更； 二、ZRX-28337术性能1. 作面积：X轴 -------- 250mm Y轴 -------- 250mm Z轴 -------- 50mm 2. 重复度：0.05mm 3. 移动速度：0-200mm/s 4. 驱动方式：微型步马达控制、同步带驱动5. 操作方式： 手持式示教器编程操作6. 操作针筒：10CC、30CC、55CC、300CC和点胶控阀等7. 输入气压：0.5MPa—0.7MPa 8. 输出气压：0.05MPa—0.7MPa 9. 外型尺寸：480mm(长)×420mm(宽)×360mm()10. 重量：18.5KG 11. 率：交流220V、50VA4.自动点胶机 型号：ZRX-28338ZRX-28338自动点胶机是移动平台和点胶机结合的体自动点胶机,自主生产。 、ZRX-28338主要特点1、 X、Y、Z三轴可作平面及立体运行；2、 可作点、线、圆、圆弧和椭圆等图形涂胶；3、 三维位移由密步马达控制，度与重复性；4、 手持式示教器控制，编程方便、实观和快捷；5、 大容量存储。999个动态存储文件，可用U盘作文件备份；6、 CAD协作修改，可将多种CAD图形格式转换到示教盒，即时修改即时运行；7、 群组能。可快速复制、删除、修正、阵列、平移多个点，效率提多达60% ；8、 可单对点行出胶量的控制。可次修改意多个点的参数9、 提供单步、多点模拟、单色加、整体加、循环自动加等多种加模式10、 配备的针筒、针头等附件可直接安装；11、 体积紧凑，性价比更； 二、ZRX-28338术性能1. 作面积：X轴 -------- 180mm Y轴 -------- 180mm Z轴 -------- 25mm/50mm 2. 重复度：0.05mm 3. 移动速度：0-200mm/s 4. 驱动方式：微型步马达控制、同步带驱动5. 操作方式： 手持式示教器编程操作6. 操作针筒：10CC、30CC、55CC、300CC和点胶控阀等7. 输入气压：0.5MPa—0.7MPa 8. 输出气压：0.05MPa—0.7MPa 9. 外型尺寸：420mm(长)×350mm(宽)×320mm()10. 重 量：15KG 11. 率：交流220V、50VA5.数字式微欧表 ZRX-283421． 电阻测量 ① 量程：20mΩ、200mΩ、2Ω、20Ω、200Ω； ② 测量度： ±0．2%读数±0．2%量程±1字 ③ 分辨率：10μΩ； ④ 零点飘移：±2字／12小时； ⑤ 恒流源电流：500mA、50mA、5mA ； ⑥ 显示：三位半数字表显示，小数点按量程变化。 有过载示；2．使用温度：0—40℃ 　 相对湿度：＜80% 3．电源：220V(±10%) 50--60Hz 25VA 4．外形尺寸：250 mm×240 mm×100 mm， 重量： 4．0kg6.显微镜/相衬显微镜/相差显微镜 型号：ZRX-28343、仪器用途ZRX-28343相衬显微镜又称相差显微镜，主要针对生物显微镜对透明样本因光晕难以被观测到细微结构的问题而开发设计。该系列产品有较好的对比度，成为生物学实验室仪器的选择。结构设计符合人体程学原理，从而大大减轻了疲劳，适合长时间作。广泛应用于生物学、细胞学、组织学、药物化学等研究作。适用于疗卫生机构、环境保护单位、实验室、研究所及等院校等单位。二、系统简介本系统是将密的光学显微镜术、的光电转换术、计算机图像处理术美地结合在起而开发研制成的项科产品。可以在显示屏上很方便地观察实时动态图像，并能将所需要的图片行编辑、保存和打印7.余氯二氧化氯五参数检测仪 型号：ZRX-283521、ZRX-28352检测项目：余氯、二氧化氯、总氯、亚氯酸盐、pH、化合性氯2、ZRX-28352检测方法： GB/T 5750.11—2006 DPD光度法检测余氯、二氧化氯、总氯、亚氯酸盐、化合性氯； GB/T 5750.4—2006 标准缓冲溶液法检测pH。 3、ZRX-28352测量范围： 余氯：0.00—5.00mg/L 二氧化氯：0.00—10.00mg/L 总氯：0.00—5.00mg/L 亚氯酸盐:0.00—1.00mg/L pH：6.00—8.50 化合性氯：0.00-5.00mg/L4、ZRX-28352分辨率： 余氯：0.01mg/L 二氧化氯：0.01mg/L 总氯：0.01mg/L 亚氯酸盐：0.01mg/L pH：0.01 化合性氯：0.01mg/L 5、测量度：≤1%±0.016、检测时间：＜1min7、直接显示浓度结果，无需计算；★8、操作简单，使用方便，仅需零点校正，加入试剂包显色即可实现被测物的测定；9、采用固体发光器件既作光源又作单色器，与传统分光系统相比，光学系统结构简单，仪器具有抗震、抗潮性能；10、光源/单色器、比色槽、传感器体化，无可动件，同时采用脉冲供电方式，光源使用寿命可达10小时，大大提了仪器的度、灵敏度和可靠性；★11、OLED屏幕照明显示，大幅降低耗，即使光线不足也不影响观测；12、具有新建标准曲线、校准内置标准曲线，仪器可自动拟合曲线、计算结果；13、操作环境：0-50℃；0-90%相对湿度（不冷凝）；14、便携式，说明书图文显示，操作简单；15、光源：LED冷光源，光源使用寿命时间更长；★16、电源：USB供电或4节AA碱性电池供电；17、仪器具有电量自诊断能，自动提示电量不足；18、重量轻、体积小，携带方便，适合野外及实验室用；19、防水等级：IP54。★20、仪器遮光罩采用与机身体设计，使用方便。★21、余氯、二氧化氯、总氯、亚氯酸盐配套试剂为真空包装，保证试剂的致性、稳定性和恶劣潮湿环境的保质期；8.安阀密闭测试台 型号：ZRX-28331 、ZRX-28331安阀密闭测试台特点及用途 本试验台参照德产品及GB4981行设计、制，适用于直通法兰联结式阀门厂、入库前或修研后安装前行密闭试验。适用于GB4981的壳体试验、密封试验(低压密封试验及压密封试验）及上密封试验（ISO5208），避免不合格阀门混入施现场。 另外，本型号试验台在W100-32基础上增加了安阀调试能，使安阀调试过程更方便、快捷。 特点：操作简单，安可靠，测试灵敏。 二、ZRX-28331安阀密闭测试台主要术参数 被测阀门公称通径ＤＮ：20-300毫米法兰联结阀 大测试压力ＰＮ：不大于32MPa 额定电压 ：交流380V 额定率 ：4KW 控制线路电压：交流220V 液压用油 ：N32或N46号液压油 油路系统压力：不大于25MPa 油温不过60℃，低不低于15℃试验介质：水（允许加防锈剂）、煤油或粘度不大于水的其他介质；试验温度（环境温度）：5℃～40℃ 大夹持法兰厚度：90mm 大夹持法兰直径：550mm 大抱紧力：40(T) 底面大尺寸：910×2400(平方毫米) 注：在下列情况下启动计时： ⑴、当测试压力不到32MPa时，直接闭合保压开关。 ⑵、当测试压力达到32MPa时，计时自动开启。9.固定式测斜计 型号：ZRX-28313ZRX-28313产品简介： 光纤式 固定式测斜计广泛适用于测量土石坝、面板坝、边坡、路基、基坑、岩体滑坡等结构物的水平位移、垂直沉降及滑坡，该仪器配合测斜管可反复使用，并可方便实现倾斜测量的自动化。固定式测斜仪采用的是耐冲击型倾斜传感器,可靠性好稳定时间快，安装附件少组装方便。固定式测斜仪具有智能识别能。ZRX-28313术参数：测杆直径：25/38mm测杆轮距：500mm单孔测点：1-12点测量范围：±15灵敏度：≤9程小读数：±0.02测量度：±0.1% F.S耐水压：≥1mpaZRX-28313计算方法： 固定式测斜计的般计算公式： Si = Li ×Sin(a + b×Fi + c×Fi2 + d×Fi3)式中： Si — 被测结构物在i点与铅垂线(水平线)的倾斜变形量，单位为mm； 　　Li — i支固定测斜仪两轮距间的标距，单位为mm； Fi — i支固定测斜仪的实时测量值，单位为F； 　　 a﹑b﹑c﹑d — i支测斜仪的标定系数。10外业采样瓶 型号：ZRX-28316ZRX-28316外业采样瓶又称：水质采样笼、采样笼、取样笼、采样笼罐、不锈钢采样笼。水质取样笼符合家标准。水质取样笼主体材质为不锈钢。水质取样笼广泛应用于石油、化、教育、环保、卫生、电力、科研等水处理行业。水质取样笼适用于采集水等压力为常压或接近常压液体产品。外业采样瓶规格：1000ml。ZRX-28316外业采样瓶主要特点： （1）无泄漏，可配玻璃瓶无需转移样品：无泄漏无挥发损失，采样笼可配换常规玻璃瓶，采样后直接将玻璃瓶取出，无需转移样品，避免了样品的二次污染。并防止挥发。 （2）可采取何深度液面的样品：包括：、上、中、下，并且操作方便。 （3）玻璃瓶可以随时更换，而且操作简单、方便、便于清洗、经济适用。 （4）操作简单、方便、经济适用。

DMP10-40 便携式涂层测厚仪 磁感应法涡流法产品介绍： DMP10-40 便携式涂层测厚仪 磁感应法涡流法是便携性、全fangwei功能使其具有足够的通用性，可用于广泛的应用。这些灵活的设备是接触式和非破坏性测量铁基材和有色金属基材上涂层厚度的解决方案。产品特点：广泛的探头组合，用于接触式涂层厚度测量的通用仪器系列存储容量：2500批次，250000个测量值（DMP30/40）或1批次，10000个测量值（DMP10/20）坚固的铝制外壳具有 IP64 防护等级、强化玻璃和柔软缓冲可更换锂离子电池，工作时间 24 小时通过 USB-C 和蓝牙轻松传输数据通过灯光、声音和振动进行实时反馈以进行上下限监控校准检查功能可验证您当前使用的校准信息数字和模拟探头适用于广泛的应用，使用 F-Adapter，您仍然可以访问整个 Fischer 探头产品组合适用于新的 Tactile Suite 软件产品应用：磁感应探头：铁磁性基材上非磁性涂镀层振幅敏感涡流探头：非磁性金属基材上非金属涂层双探头：钢铁和有色金属上的涂镀层相敏涡流探头：多种基材上的金属镀层磁性探头：不可磁化基材上的可磁化镀层和易磁化基材上的不可磁化涂层（特别是厚金属层）电导率探头：测量有色金属（例如铝合金）的特定电导率；通过电导率读数对材料特性（例如微观结构、纯度、硬度）进行间接分析双层探头：铁上镀锌再喷漆。铁素体探头：奥氏体钢和双相钢的铁素体含量测量和马氏体含量测量。产品特点：测量区域的大小测试零件或测量位置的几何形状测试件的表面状况涂层与基材的组合涂层厚度和基材涂层硬度手动或自动测量环境条件，例如湿度

X荧光光谱分析仪iEDX-150WT产品介绍（镀层测厚仪）一、产品概述产品类型： X荧光光谱仪 产品名称： 镀层测厚仪 (可选配镀液检测，RoHS检测，合金分析功能）型 号： iEDX-150WT 生 产 商： 韩国ISP公司产品图片：镀层厚度检测分析仪 - iEDX-150WT二、产品优势镀层检测，最多镀层检测可达5层。对于薄镀层分析精确，可以精确的分析小于1uin(0.025um）的镀层，可以准确分析0.2-0.5uin的金层。可同时进行选配RoHS检测功能，精确的测试RoHS指令中的铅、汞、镉、铬、钡、锑、硒、砷等重金属，测试无卤素指令中的溴、氯等有害元素。可同时进行选配镀液药水分析功能，一分钟即可分析出药水内金，镍，铜等药水含量，分析精度为0.01ppm，可同时进行选配合金成分分析功能。开槽式超大可移动全自动样品平台620*525 (长*宽)，样品移动距离可达220*220X10mm(长*宽*高) ；专为线路板行业研制。激光定位，可以连续自动多点程控测量；可以选配多准直器系统，单准直器/6个准直器/7个准直器。可检测固体、液体、粉末状态材料；运行及维护成本低、无易损易耗品，对使用环境相对要求低；可进行未知标样扫描、无标样定性，半定量分析；操作简单、易学易懂、高品质、高性能、高稳定性，快速出检测结果（20-40秒）；标配德国AmptekSI-Pin 探测器，选配高精度硅漂移SDD探测器，保证测试精度。软件支持无标样分析。相对于传统镀层，开机不需要预热，直接可以测量，测量后可以直接关机，节约用电，减少关键部件（X射线管，高压等）消耗，并减少了等待时间。标配选配X射线管高稳定性X光管，使用寿命长（工作时间15,000小时）。MO (鉬)靶，铍窗口， 光斑尺寸75um，油绝缘，气冷式，辐射安全电子管屏蔽。50kV，1mA，高压和电流设定为应用程序提供最佳性能。高稳定性微焦点X光管，使用寿命（工作时间15,000小时）。MO (鉬)靶，铍窗口， 光斑尺寸50um，油绝缘，气冷式，辐射安全电子管屏蔽。50kV，1mA，高压和电流设定为应用程序提供最佳性能。平台固定平台软件程序控制步进式电机驱动X-Y轴移动大样品平台。激光定位、简易荷载最大负载量为5公斤，控制程序进行持续性自动测量。平台尺寸：620*525mm (长*宽*高)样品移动距离：220*220X10 mm(X*Y*Z)准直器单准直器系统 0.2/0.3MM选1个0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm共7种准直器规格可选,客户可最多选7种准直器尺寸，可定制特殊尺寸准直器。探测器半导体Si-PIN 探测器，分辨率159eV，高分辨率硅漂移SDD探测器，分辨率可达到125eV.滤光片初级滤光片：Al滤光片，自动切换/样品定位显示样品锁定、简易荷载、激光定位及拍照功能/视频系统高分辨率CCD摄像头、彩色视频系统。观察范围：3mm x 3mm。放大倍数：40X。/附件含计算机、显示器、打印机、键盘、鼠标/软件标配Multi-Ray镀层分析软件1、选配ROHS分析软件2、选配合金分析软件3、选配药水分析软件 检测元素范围Al (13) ~ U(92)/分析样品类型液体/固体/粉末/三、产品配置及技术指标说明四、iEDX-150WT型号光谱仪软件功能1) 软件应用- 单镀层测量- 线性层测量，如：薄膜测量- 双镀层测量- 针对合金可同时进行镀层厚度和元素分析- 三镀层测量。- 无电镀镍测量- 电镀溶液测量- 吸收模式的应用 DIN50987.1/ ISO3497-A2 - 励磁模式的应用DIN50987.1/ ISO3497-A1- 基本参数法可以满足所有应用领域的测量2) 软件标定- 自动标定曲线进行多层分析- 使用无标样基本参数计算方法- 使用标样进行多点重复标定- 标定曲线显示参数及自动调整功能3) 软件校正功能：- 基点校正（基线本底校正）- 多材料基点校正，如：不锈钢，黄铜，青铜等- 密度校正4) 软件测量功能： - 快速开始测量- 快速测量过程- 自动测量条件设定（光管电流，滤光片，ROI）5) 自动测量功能（软件平台）- 同模式重复功能（可实现多点自动检测）- 确认测量位置 (具有图形显示功能)- 测量开始点设定功能（每个文件中存储原始数据）- 测量开始点存储功能、打印数据- 旋转校正功能- TSP应用- 行扫描及格栅功能6) 光谱测量功能- 定性分析功能 （KLM 标记方法） - 每个能量/通道元素ROI光标- 光谱文件下载、删除、保存、比较功能- 光谱比较显示功能：两级显示/叠加显示/减法- 标度扩充、缩小功能（强度、能量）7） 数据处理功能- 监测统计值： 平均值、 标准偏差、 最大值。- 最小值、测量范围，N 编号、 Cp、 Cpk，- 独立曲线显示测量结果。- 自动优化曲线数值、数据控件 8）检测厚度（正常指标）：- 原子序数 22 - 24 : 6 – 800 微英寸- 原子序数 25 - 40 : 4 – 900 微英寸- 原子序数 41 - 51 : 6 – 2000 微英寸- 原子序数 52 - 82 : 2 – 500 微英寸9）其他功能- 系统自校正取决于仪器条件和操作环境- 独立操作控制平台- 视频参数调整- 仪器使用单根USB数据总线与外设连接- Multi-Ray、Smart-Ray自动输出检测报告（HTML，Excel）- 屏幕捕获显示监视器、样本图片、曲线等.......- 数据库检查程序- 镀层厚度测量程序保护。仪器维修和调整功能- 自动校准功能；- 优化系统取决仪器条件和操作室环境；- 自动校准过程中值增加、偏置量、强度、探测器分辨率，迭代法取决于峰位置、 CPS、主X射线强度、输入电压、操作环境。五、软件界面镀层软件分析图谱界面备注: 以上图片仅供参考六、部分国外客户名单，和国内Company公司名称Note备注TE CONNECTIVITYhyundai cooperate 现代合作公司INNO FLEXsamsung cooperate三星合作公司RAYTRON CO.,LTDsamsung cooperate 三星合作公司KOREA ELECTRIC TERMINALsamsung cooperate三星合作公司SHINHWA CONTECH CO.,LTDsamsung cooperate 三星合作公司KYOUNGILsamsung cooperate 三星合作公司KAVASsamsung cooperate 三星合作公司TAEKWANG ENSsamsung cooperate 三星合作公司PULSE ELECTRONICS KOREAsamsung cooperate 三星合作公司SIT CO.,LTDsamsung cooperate 三星合作公司LUMENS CO.,LTDsamsung , LG cooperate三星、通用合作公司JEONGMIN ELECTRIC CO.,LTDLG cooperate 通用合作公司HANSUNG COLOR CO.,LTDLG cooperate 通用合作公司HWANAM TECH CO.,LTDLG cooperate通用合作公司 SAEBOK CO.,LTDLG cooperate通用合作公司HANSHIN TERMINAL CO., LTDLG cooperate通用合作公司JINTECLG OEM 通用合作公司DAESHIN METALSEMICS INCWOOSOOROSWIN INCPOSCOJuAhnBEE-RYONGMECHARONICSSAMMI METAL PRODUCTS CO.,LTD　部分国内客户名单：深圳爱升精密电路科技有限公司宏创电子惠州有限公司昆山同心表面科技有限公司 深圳路通达科技有限公司联想集团深圳市记忆科技有限公司湖北建浩科技有限公司航天科技集团乐清市东方科信网络有限公司富士康集团比亚迪东莞市鑫华电镀厂上海正泰电器公司深圳市誉升恒五金科技有限公司珠海汇鑫垣电子有限公司扬宣电子（清远）有限公司航天长征睿特科技有限公司大连吉星电子科技有限公司昆山三星电机有限公司广东南方宏明电子科技股份有限公司深圳市恒威电子公司太康精密（中山）有限公司信泰电子（西安）有限公司湖北台基半导体股份有限公司惠州富电电子有限公司康跃科技股份有限公司武汉奥科电子有限公司元悦科技（珠海）有限公司深圳市鼎正电路板有限公司深圳市星之光实业发展有限公司湖北金禄科技有限公司惠州威健电路湖北龙腾电子科技有限公司赣州市金顺科技武平飞天电子科技有限公司深圳市恩德鑫电路技术有限公司珠海市鸿天万达电子

货期&价格请与咨询客服为准！谢谢！ 1. Ux-720新一代国产专业镀层厚度检测仪，采用高分辨率的Si-PIN（或者SDD硅漂移探测器），测量精度和测量结果业界。 2. 采用了FlexFP-Multi技术，无论是生产过程中的质量控制，还是来料检验和材料性能检验中的随机抽检和全检，我们都会提供友好的体验和满足检测的需求。 3. Ux-720微移动平台和高清CCD搭配，旋钮调节设计在壳体外部，观察移动位置简单方便。 4. X射线荧光技术测试镀层厚度的应用，提高了大批量生产电镀产品的检验条件，无损、快速和更准确的特点，对在电子和半导体工业中品质的提升有了检验的保障。 5. Ux-720镀层测厚仪采用了华唯最新专利技术FlexFp -Multi，不在受标准样品的限制，在无镀层标样的情况下直接可以测试样品的镀层厚度，测试结果经得起科学验证。 6. 样品移动设计为样品腔外部调节，多点测试时移动样品方便快捷，有助于提升效率。设计更科学，软硬件配合，机电联动，辐射安全高于国标GBZ115-2002要求。 7. 软件操作具有操作人员分级管理权限，一般操作员、主管使用不同的用户名和密码登陆，测试的记录报告同时自动添加测试人的登录名称。 测厚技术：X射线荧光测厚技术测试样品种类：金属镀层，合金镀层测量下限：0.003um测量上限：30-50um（以材料元素判定）测量层数：10层测量用时：30-120秒探测器类型：Si-PIN电制冷 探测器分辨率：145eV高压范围：0-50Kv，50WX光管参数：0-50Kv，50W，侧窗类；光管靶材：Mo靶；滤光片：专用3种自动切换；CCD观察：260万像素微移动范围：XY15mm输入电压：AC220V，50/60Hz测试环境：非真空条件数据通讯：USB2.0模式准直器：Ø 1mm，Ø 2mm，Ø 4mm软件方法：FlexFP-Mult工作区：开放工作区 自定义标准配件：样品固定支架1支窗口支撑薄膜：100张保险管：3支计算机主机：品牌+双核显示屏：19寸液晶打印机：喷墨打印机 可选配件：可升级为SDD探测器 可以实现全自动一键操作功能，准直器自动切换，滤光片自动切换，开盖随意自动停，样品测试照片自动拍照、自动保存，测试报告自动弹出，供应商信息自动筛选和保存。

菲希尔金镍测厚仪，无损多层镀层测厚仪金镍测厚仪用途 该设备适用于多层镀层厚度测量及材料分析，可用来定量和定性分析样品的元素组成，也可用于镀层和镀层系统的厚度测量，最多可同时测定24种元素，广泛应用于电路板、半导体、电镀、珠宝等工业中的功能性镀层及电镀槽液中的成分浓度分析。 金镍测厚仪特点：1、无论是镀层厚度测量，还是镀液分析，复杂的多镀层应用，一个软件程序就可以完成所有测量应用2、X射线管有带玻璃窗口和钨靶的X射线管或带铍窗口和钨靶的微聚焦X射线管多种选择3、X射线探测器PC（比例接收器）、PIN（硅PIN接收器）、SDD（硅漂移接收器）4、可自动切换的准直器和多种滤片可以灵活地应用不同测量。X射线荧光镀层测厚及材料分析仪测量方向产品型号应用范围检测器射线管基本滤片准值器数量/尺寸(mm)C型开槽从下往上XUL一款适合电镀厂测量镀层厚度的性价比高的仪器，它配备了一个固定的准值器和滤，射线管出射点稍大，非常适合测量点在1mm以上的应用。对于测量典型电镀层厚度的应用，如Cr/Ni/Cu等，非常合适。PC标准11（Φ0.3）是XULM多用途的镀层厚度测量仪。无论是薄的还是厚的镀层（如50nm Au或100um Sn）都通过选择好的高压滤片组合很好的测量。微聚焦管可以达到在很短的测量距离内小到100um的测量点大小。高达数kcps的计数率可以被比例接收器接收到。PC微聚焦34（0.05*0.05-Φ0.3）是XAN110/120专门为分析金合金开发的划算的仪器。比较XAN而言，只有一个固定的准直器和固定的滤片，特别适合贵金属分析。XAN 110配备比例接收器，适于几种合金元素的简单分析。XAN120配备了半导体接收器，更可以应用于多元素的复杂分析。PC(XAN 110)PC(XAN 120)标准11（Φ0.3XAN110）1(Φ1XAN120)否XAN分析专用仪器，测量方赂从下到上。用途广泛。测量室全封闭，可以使作大准直器分析，高计数康可也可被硅漂移探测器处理。激发和辐射检测方式与XDV-SDD相同。它是金合金分析和塑料中有害物质衡量分析的理想仪器。PINSDD微聚焦3/64（Φ0.2-Φ2）否从上往下测量XDL适合镀层厚度测量的耐用仪器，即使大测量距离也可以测量（DCM，范围0-80mm）配备一个固定的准值器和固定的滤片。适合测量点在1mm以上的应用；跟XUL类似。可选 用自动测量的可编程工作台。PC标准11（Φ0.3）是XDLM比XDL适用面更广，配备微聚焦管，4个可切换的准直器和3个基本滤片。测量头与XULM想似；适合于测量小的结构如接插件触点或印刷线路板，也可以测量大的工作（DCM,范围0-80mm）PC微聚焦34（0.05*0.05-Φ0.3）是XDAL与XDLM类似但配备了半导体接收器。这样就可能可以分析元素和测量超薄层（基于良好的信噪比）。比较适合测量结构较大的样品。PIN微聚焦34（Φ0.1-Φ0.6）是XDC-SDD适合于全部应用的高端机型。根据测量点大小和光谱组成，激发方式灵活多样。配备了硅漂移接收器，即使强度高达100kcps的信号也可以在不损失分辨率的情况下处理。SDD微聚焦64（Φ0.1-Φ0.3）否SDV-U专用微观分析的测量仪器。根据X射线光学部件的不同，可以分析小到100um或更小的结构。强度很高所以精度也非常好。即使很薄的镀层，测量不确定性小于1nm也是可能的。仅适于测量表面平整或接近平整的样品。SDD微聚焦4多毛细管系统是XDV-Vacuum具备综合测量能力的通用高端机型。与XDV-XDD相当。但可外配备了可抽真空的测量室，这样就使得分析从原子序数Z=11(Na)开始的轻元素成为可能。高精度的马达驱动的XYZ平台和视频摄像头可以精确定位样品位置和测量细小部件。SDD微聚焦64（Φ0.1-Φ3）否在线测量X-RAY 4000用于生产过程中薄膜，金属带或穿孔带的连续测量。测量头可以装配与样品传送方向的直角的位置。操作方便，启动迅速。数据接口可集成到质量管理或控制系统X-RAY54000用于生产线上连续测量的法兰式测量头。测量带状物，薄膜或玻璃的金属元素。在空气和真空都可以测量。提供水冷版本仪器。

XF-P1是西凡仪器面向镀层检测行业推出的一款镀层测厚仪，可广泛应用于各种电镀、化学镀等行业。该产品使用进口定制Si-PIN探测器，内置工控电脑，运行SmartFP算法。无需标样，可同时检测镀层厚度和成分，检测速度快，测试稳定性好、准确性高。西凡镀层测厚仪XF-P1产品特点元素检测范围：铝(No.13)～铀(No.92)可支持四层检测可同时支持镀层厚度和成分检测检出限：5nm(厚度)，5ppm(成分)检测精度：相对误差±2.5%(1um厚度）定制TCP/IP协议API接口，支持外部主机对设备的控制、状态监控及数据采集遵守GB/T16921,ISO3497:2000,ASTM-B658标准。铅玻璃窗口，方便观察样品西凡镀层测厚仪XF-P1测试案例

XF-P3镀层测厚仪是西凡仪器针对镀层无损检测的一款X射线荧光光谱仪，可广泛应用于各种电镀、化学镀、连接器、PCB等行业。该产品使用进口定制FastSDD探测器，内置四核CPU工控电脑，运行SmartFP算法。无需标样，可同时检测镀层厚度和成分，可支持10层检测，检测速度快，测试稳定性好、准确性高。西凡镀层测厚仪XF-P3产品特点元素检测范围：铝(No.13)～铀(No.92)可支持十层检测可同时支持镀层厚度和成分检测检出限：2nm(厚度)，2ppm(成分)检测精度：相对误差±1.5%(1um厚度）±0.01%(99.9%)定制TCP/IP协议API接口，支持外部主机对设备的控制、状态监控及数据采集遵守GB/T16921,ISO3497:2000,ASTM-B658标准。三准直器,多滤光片自动切换XY平面微动平台，行程：30mm×30mm铅玻璃窗口，方便观察样品西凡镀层测厚仪XF-P3测试案例

涂镀层测厚仪 TM-3基本介绍 TM-3涂镀层测厚仪 是使用涡流法来实现涂镀层的厚度测量。该设备主要用于局部测量电镀涂层的厚度，例如钢上的锌，镉或铬，以及钛等上的银或铜等。该设备具有10000点的测量记录点，用于连接PC的USB接口，结果的选择平均模式以及从设备的键盘和个人计算机编程多达25个近似标度的可能性。此外，该涂镀层测厚仪还提供专门的转换器，可以测量一般测厚仪难以测量的物件（测量孔，管等）。 性能特点 能够记录多达25个近似标度；可调节屏幕背光；选择性平均模式自动报警信号系统（ASB）；电源：内置电池；自动关闭模式；订购不同配置的转换器的可能性；技术参数测量厚度范围：　从0到100um（铁磁或非铁磁基底上，取决于型号）读数精度： 1，0.1,0.01 - 在编程时设置测量误差：　在读数的3％以内屏幕类型：　图形LCD，可调节背光和对比度屏幕尺寸（高x宽）： 21 x 56mm记忆结果: 10,000个结果与PC通信: USB接口电源： 内置电池2000 mAh，2.4V工作时间：　不少于15个小时自动关机：　在90秒内工作温度范围：从-10 C到+50 C.电子单元的尺寸（高x宽x高）： 170mm x 80mm x 40mm转换器的尺寸（长x高）: 11mm x 60mm　重量: 230g 我司为俄罗斯KROPUS的所有产品在大中华地区的总代理。

此产品显示价格不是最终成交价，请与客服咨询有效价格！ 博曼BA-100系列全自动镀层膜厚仪 美国博曼BA-100系列镀层厚仪：主机美国原装进口，由美国K alpha公司研制，无损镀层测厚仪，测量时间短、报告输出多样化、维护成本低廉，拥有变焦系统和多准直器系统，可实现大型扁平状产品、带有凹槽的产品的测量的镀层测厚仪。 应用领域：PCB、FPC、SMT、LED、连接器、端子、紧固件、汽车零部件、五金、卫浴、装饰性电镀、功能性电镀产品的镀层厚度测量。是众多电镀厂家、采购商检测产品镀层厚度的一款镀层测厚仪。 产品规格：X射线激发由上往下，采用W靶，铜管体的光管，XY轴程控控制，程控移动距离127×153mmZ轴程控控制，程控移动距离140mm焦距可变，焦距规格为6.5~65mm30倍放大的高清CCD固态的Si-Pin探测器多准直器系统，4个准直器/组，标准规格为：Φ0.1、Φ0.2、Φ0.3、Φ1.5mm开槽式样品台，载物台尺寸：宽350×深395mm样品仓内部尺寸：314×380×140mm 产品特点：1、测量元素范围为Ti22--U922、可同时测5层镀层（4层镀层+1层基材层）3、成份分析可达25种元素4、仪器配备的变焦系统，可测凹槽类的产品；5、开槽式样品台，可测量大型的扁平类产品（如PCB）6、多准直器系统可满足不同斑点的样品测量7、测量精度高，测量结果准确至μin8、测量单位可选择um、uin、mils、nm 准确货期请与客服咨询为准！谢谢！

性能优势：下照式设计：快速方便的定位各种形状的样品，满足一切测试所需。无损变焦检测：拥有手动变焦功能，可对各种异形凹槽件进行无损检测，凹槽深度范围0-30mm。微聚焦射线装置：可测试各微小的部件，小检测面积可达0.002mm2。高效率的接收器：在检测0.01mm2以下的样品时，几秒钟也可达到稳定性。精密微型滑轨：精密的手动移动平台，快速定位所需检测的样品。EFP先进算法软件：可检测单镀层，多镀层，多元合金，甚至对于同种元素在不同层的厚度检测也能分析，包括轻金属镀层，非金属镀层，达克罗，Nip镀层测试，包括Ni与P的比例也均可检测。准直器和滤光片：多种准直器和滤光片电动切换，满足各种测试方式的应用。新一代高压电源和X光管：性能稳定可靠，高达50W的功率实现更高的测试效率。防护装置：恒压恒流快门式光闸，拥有高压电源紧急自锁功能，带给您更安全的防护。引线框架测厚仪 技术参数：测量元素范围：CI(17)-U(92)涂镀层分析范围：Li(3)-U(92)分析软件：EFP，可同时分析23层镀层，24种元素，不同层有相同元素和有机物厚度也可分析测试程式添加：1862条测试程式免费提供，也可编辑新程式软件操作：人性化封闭软件，自动提示校正和步骤，避免操作错误X射线装置：升压发射一体高分子聚合式W靶微聚焦加强型射线管接收器：日本东芝正比计数管，窗口面积≥150mm2射线准直系统：垂直光路交换装置搭配黄金准直器视频观测光路系统：垂直光路交换装置搭载100mm变焦镜头测样读取开启方式：恒压恒流快门式光闸滤光片：铝、空、镍准直器：?0.05mm；?0.1mm；?0.2mm；?0.5mm；四准直器任选一种近测距光斑扩散度：10%小测量面积：约0.002mm2测量距离：具有距离补偿功能，可改变测量距离，能测量凹凸异形样品，变焦距离0-30mm样品观察：1/2.5彩色CCD，全局快门，有效像素：1280*960，变焦功能对焦方式：高敏感镜头（无需增加其他辅助传感器），手动对焦放大倍数：光学38-46X，数字放大40-200倍样品台尺寸：500mm*360mm样品可放置区域：480mm*320mm*205mm（C型开槽设计，特殊测试时可以超出区域放置样品）外部尺寸：540mm*430mm*475mm移动方式：高精密XY手动滑轨可移动范围：40mm*50mm电源：交流220V 50HZ 功耗：大120W（不包括计算机）冷却系统：对流通道过滤式风冷保养升级模块：软硬件模块化环境要求：使用时温度：10℃-40℃ 存储和运输时温度：0℃-50℃ 空气相对湿度：≤80%重量：约45KG随机标准片：十二元素片、Ni/Fe、Au/Ni/Cu其他附件：电脑一套、喷墨打印机、附件箱PCB板材膜厚仪电镀层测厚仪XTU 系列测厚仪虽然结构紧凑，但是都有大容量的开槽设计样品腔，即使超过样品腔尺寸的工件也可以测试。搭配微聚焦射线管和先进的光路设计，及变焦算法装置，可测试极微小和异形样品。检测78种元素镀层· 0.005um检出限· 小测量面积0.002mm2· 深凹槽可达90mm。外置的高精密微型滑轨，可以快速控制样品移动，移动精度0.005mm，速度10-30mm（X-Y）/圈，PCB板材膜厚仪电镀层测厚仪应用领域 线路板、引线框架及电子元器件接插件检测 镀纯金、K金、铂、银等各种饰品的膜层成分和厚度分析 手表、精密仪表制造行业 钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB 汽车、五金、电子产品等紧固件的表面处理检测 卫浴产品、装饰把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS) 电镀液的金属阳离子检测 项 目参 数测量元素范围Cl（17）-U（92）涂镀层分析范围各种元素及有机物分析软件EFP，可同时分析23层镀层，24种元素，不同层有相同元素也可分析软件操作人性化封闭软件，自动提示校正和步骤，避免操作错误X射线装置W靶微聚焦加强型射线管准直器? 0.05 mm 0.1 mm 0.2 mm 0.5 mm；准直器任意选择一种近测距光斑扩散度10%测量距离具有距离补偿功能，可改变测量距离，能测量凹凸异型样品，变焦距离0-30mm(特殊要求可以升级到90mm)样品观察1/2.5彩色CCD，变焦功能对焦方式高敏感镜头，手动对焦放大倍数光学38-46X，数字放大40-200倍样品台尺寸500mm*360mm移动方式高精密XY手动滑轨可移动范围50mm*50mm随机标准片十二元素片、Ni/Fe 5um、Au/Ni/Cu 0.1um/2um其它附件联想电脑一套、喷墨打印机、附件箱 无损天瑞X荧光光谱镀层膜厚检测仪，天瑞镀层测厚仪

FMP100 AND H FMP150 涂镀层测厚仪 双镀层产品介绍： FMP100 AND H FMP150 涂镀层测厚仪 双镀层在涂层厚度测量方面获得最大的灵活性，同时满足最高的精度和准确度要求：它们将磁感应测量法和涡流测试法结合在一个仪器中，所以你可以在不更换仪器的情况下测量钢铁和有色金属上的涂层厚度。DUALSCOPE H FMP150还有磁性方法，这允许你测量有色金属或绝缘体上的镀镍厚度。 FMP100 AND H FMP150 涂镀层测厚仪 双镀层是质量保证中zuixian进的测厚仪。例如，您可以使用这些手持仪器来测量漆膜厚度。您甚至可以轻松而精确地测量CDC涂层。这些仪器配有触摸屏和Windows&trade CE操作系统，操作速度快且直观。由于内存大，它们可以处理数千个测量任务的数千个测量值。 各种统计和分析函数可用于评价测量结果。它们的另一个优势是我们的专li工厂诊断图(FDD)，该评估选项使过程可视化，并提供了生产变量(如厚度)分布的图形概述。产品特征：探头种类很多，包括许多特殊的探头，用于精确执行各种厚度测量任务根据DIN EN ISO 2178的磁感应测量方法和根据DIN EN ISO 2360的涡流测量方法，具有最大的灵活性；DUALSCOPE H FMP150还有磁性测量方法涂层厚度测量规范包括 IMO PSPC, SSPC-PA2, QUALANOD或QUALICOAT自动识别探头和基材在高分辨率的图形触摸屏上详细显示测量模式和检验计划广泛的评估和统计功能，支持图形显示选项大内存，可用于数千个不同校准的测量应用程序Windows CE操作系统通过图形用户界面和用户定义的文件和文件夹结构，用户可以直观地操作可选：Fischer数据中心软件可创建单独的检验计划USB接口可连接PC和打印机产品应用：应用磁性钢铁上的非磁性涂镀层 非磁性金属上的绝缘涂层钢铁上的双涂层(油漆/热浸镀锌涂层)(重防腐行业，Zn70微米)，其中油漆和锌层是同时测量和分别显示的DUALSCOPE H FMP150：钢铁表面的厚金属镀层和保护性涂层；有色金属或绝缘材料上的镀镍层技术参数：DUALSCOPE FMP100非铁金属上的油漆、阳极氧化层、瓷漆或塑料涂层铝上的阳极氧化层钢或铁上的仪器、 瓷漆或塑料涂层钢或铁上的非铁金属镀层数据储存统计计算打印口/RS232 接口USB interface无线传输可更换插入式智慧型探头测量范围（μm） [mils]FD10双功能探头测量参数：磁感应：测量范围：0～1500μΜ（0～60 mils）测量精度：0～50 μΜ：0.2 μΜ 50～1500μΜ： 1 ％。涡 流：测量范围：0～1200μΜ（0～48 mils）测量精度：0～100 μΜ：0.5 μΜ，100～1200μΜ： 0.5 ％电源：交流电或电池重量[g]：395规格:（170 x 89 x 40）

镀层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节，是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对镀层厚度有了明确要求。ScopeX PILOT台式镀层测厚仪采用下照式设计，搭载先进的Muti-FP算法软件和微光聚集技术，以及高敏变焦测距装置，对不均匀、不规则，甚至微小件等形态的样品，都能够快速、精准、无损检测，可轻松应对镀层领域的表面处理的过程控制、产品质量检验等环节中的检测和筛检难题，被广泛应用于珠宝首饰、电镀行业、汽车行业、五金卫浴、航空航天、电子半导体等多种领域。 使用优势可选配微焦X射线装置测试各类极微小的样品，即使检测面积微小的样品也可轻松、精准检测。多准直器/滤光片多滤光片和多准直器可选或软件自动切换组合，使得仪器的多功能性得以显著提升，以灵活应对不同尺寸的零件。下照式设计从下往上测量，无需额外对焦，可轻松实现对镀层样品的高效测量。无损检测X射线荧光是无损分析过程，不留任何痕迹，即使是对敏感性材料，其测量也是非常安全的。变焦装置可对各种异形凹槽样品进行检测，凹槽深度测量范围可达0~30 mm。高精度手调X-Y平台搭载高精度手调X-Y平台，最高精度可达25μm，使微区测量更便捷。应用场景紧固件五金小零件珠宝首饰汽车零部件技术参数元素范围Al(13)-Fm(100)分析层数5层（4层+基材） 每层可分析10种元素，成分分析最多可分析25种元素 X射线管50 W（50kV，1mA）微聚焦钨钯射线管（靶材可选配）探测器Si-Pin探测器，(可选配高灵敏度SDD探测器)准直器Φ0.1-Φ3可选，多准可选相机高分辨率CMOS彩色摄像头，500万像素手动样品XY平台固定平台滤光片固定初级滤光片，多滤光可选样品仓尺寸320×480×130mm（W×D×H）外形尺寸330×580×360mm（W×D×H）重量40KG电源AC 220V±5V 50Hz(各地区配置稍有不同) 额定功率150W

科电检测仪器公司成立于2002年，属于国家认证批准的高新技术企业，是中国铃先的检测仪器生产制造商。公司集研发、生产、销售和服务为一体，专业提供上等的检测仪器与全面的技术解决方案。总部坐落于山东省济宁市，公司厂区占地面积18800多平方米。公司技术力量雄厚，拥有完善的生产工艺、精湛的技术开发及生产实力。科电公司多年来始终坚持“用心制造、成就精品”的产品开发目标，秉承“科学管理、精心制造、优质服务、追求卓越”的质量方针，全面建立质量管理体系，经过10年的不懈努力，目前已发展壮大成为资产过亿、员工上百，并拥有3家控股公司及多家办事处的企业，产品涉及超声检测、涂装检测、埋地管线检测、红外检测、气体检测等多个领域的高科技产业型经济实体。公司目前生产产品有：HCH系列超声波测厚仪、MC系列涂镀层测厚仪、MCW涡流测厚仪、FJ系列埋地管线检测仪、DJ系列电火花检漏仪、TM系列红外线测温仪、YD系列里氏硬度计等。“科技成就未来、用心制造精品”，科电公司将与时俱进，为民族工业品牌走向世界而不懈奋斗！

XAN500 X射线荧光材料分析及镀层测厚仪产品介绍： XAN500 X射线荧光材料分析及镀层测厚仪手持式、台式、在线： XAN500型X射线荧光仪器是到目前为止功能多样化的设备。它既可以作为手持式设备使用，也可以作为封闭式的台式机或是直接整合到生产线中。在配备了平板电脑后，XAN500同样采用久经考验的WinFTM软件。基于基本参数法的WinFTM软件不仅能进行材料分析，还能测量镀层厚度，并可实现无校准（不需标准片）测量。产品特点：通用手持式X射线荧光分析仪，即使材料组合困难复杂的情况下，也可以进行精确的镀层厚度测量和材料分析；符合DIN ISO 3497和ASTM B 568 标准重量1.9 kg一次电池充电可持续运行6个小时测量点：3毫米Ø 高分辨率硅漂移检测器用于户外的IP54等级用作台式设备的可选测量箱；使用完整版WinFTM软件进行数据统计产品应用：应用● 在生产过程中，实时检测镀层厚度（如：Zn、ZnNi、Ag、Au）● 可便捷且稳定地测量大尺寸部件，如管道、外壳或机械零件。● 将仪器放置到测量箱中，XAN500即成为全功能的台式仪器，可精确地测量小尺寸零件，如螺母和螺栓。● 还可整合到生产线的控制系统中，可以实现100%的质量监控产品使用：测试大型样件，装配测量箱后也可以测试小样件一次测试同时测定镀层的厚度和成分（例如，Fe上的ZnNi合金）未知合金的无标准片测量大型镀层零件（例如机器部件和外壳）的测量电镀层的测试电镀液金属含量的分析

X射线荧光镀层测厚仪，材料分析仪X射线荧光镀层测厚仪属于菲希尔的产品，HELMUT FISCHER(菲希尔)在涂层硬度侧厚、镀层硬度测厚、材料分析、微纳米硬度测试和材料测试等领域为您提供最先进的产品和最完善的解决方案。X射线荧光镀层测厚仪产品用途：由于能量色散X射线荧光光谱法可以分析材料成分和测量薄镀层及镀层系统，因而应用广泛 在电子和半导体产业里，测量触点上薄金，铂和镍层厚度或痕量分析。在钟表和珠宝行业或采矿精炼工业中，精确分析贵金属合金组分。在质量管控和来料检验中，需要确保产品或零部件完全满足材料设计规范。如在太阳能光伏电池产业中，光伏薄膜的成分组成和厚度大小决定了光伏电池的效率。在电镀行业中，则需要测量大批量部件的厚度。对于电子产品的生产者和采购者，检验产品是否符合《限制在电子电气产品中使用有害物质的指令》（ROHS指令）也是十分关键的。在玩具工业中，也需要有可靠的有害物质检测手段对于以上测量应用，菲希尔的FISCHERSCOPE X-射线光变仪都能完美胜任。X射线荧光镀层测厚仪，材料分析仪也可测量金属元素的等。我司除了X射线荧光测厚仪还有元素分析仪，金镍厚度测量仪，孔铜测厚仪，面铜测厚仪，涂镀层测厚仪，台式涂层镀层测厚仪，铜箔测厚仪，绿油测厚仪，油墨测厚仪，各领域的测厚仪。

美国博曼（Bowman）Bowman BA-100 Optics 台式X射线荧光（XRF）镀层测厚仪Bowman BA-100 Optics 机型采用业界领先的多孔毛细管光学聚焦装置，有效缩小测量点斑点的同时，可数倍乃至数十倍提高X射线激发强度。Bowman BA-100 Optics 机型配备大面积的SDD（硅漂移探测器），有效拓展元素分析范围，适应严格的微区、超薄镀层，以及痕量元素分析需求。优质的测试性能、突出的微区测量能力，Bowman BA-100 Optics机型是研究开发、质量管控的XRF镀层厚度及元素成分分析仪器。 稳定的X射线管 ● 微聚焦50瓦Mo靶射线管（其它靶材可选） 小于100um的测量斑点 ● 射线出射点预置于射线管Be窗正中央 ● 长寿命的射线管灯丝 ● 独有的预热和ISO温度适应程序 多毛细管聚焦光学结构 ● 显著提高X射线信号强度 ● 获得较准直器机型数倍乃至数十倍的信号强度 ● 小于100um直径的测量斑点 ● 经过验证，接近完美的测量精度 应用领域：常见的镀层应用: PCB行业 Au/Pd/Ni/Cu/PCB 引线框架 Ag/Cu Au/Pd/Ni/CuFe 半导体行业 Pd/Ni/Cu/Ti/Si-晶元基材 Au/Pd/Ni/Cu/Si晶元基材 线材 Sn/Cu 珠宝、贵金属 10,14,18Kt 元素分析、合金分类、杂质分析、溶液分析、电镀液分析等 美国博曼高性能XRF镀层测厚仪三十余年深耕镀层测厚事业经历不断创新、获得广泛好评具备广泛的镀层厚度测量范围（可对13号铝元素到92号铀元素进行高精度测量分析） 成为越来越多行业的满意选择 可为您提供高精度，快速简便的测量和分析

产品介绍：BXR-626系列X荧光镀层测厚仪采用X荧光分析技术，可以测定各种金属镀层的厚度，包括单层、双层、多层及合金镀层等，可以进行电镀液的成分浓度测定。它能检测出常见金属镀层厚度，无需样品预处理；分析时间短，仅为数十秒，即可分析出各金属镀层的厚度；分析测量动态范围宽，可从0.005μm到60μm。?仪器外观选用独特的流线型设计，时尚雅致?同时分析元素周期表中由硫(S)到铀（U）?可以分析最多5层镀层，一次可分析元素多达24种?无需复杂的样品预处理过程，无损测试?检出限可达到2ppm?分析测量动态范围宽，可从0.005μm到60μm?采用美国原装、国际先进的探测器，能量分辨率高?采用美国原装、国际先进的AMP，处理速度快，精度高，稳定可靠?X光管采用正高压激发，激发与测试条件采用计算机软件数码控制与显示?采用彩色摄像头，准确观察拍摄样品?采用电动无极控制样品平台，可以进行X-Y-Z的移动，准确方便?采用双激光对焦系统，准确定位测量位置?高度传感器?保护传感器，有效保护探测器?精确度高，稳定性好，故障率低?辐射安全系统：隐蔽式设计、软件、硬件三重射线防护系统多层屏蔽保 护，辐射安全性可靠 1.X-Y-Z样品平台移动装置BXR-626系列X荧光镀层测厚仪的X-Y-Z样品平台采用电动移动装置，具有可容纳各种形状的镀层样品及电镀液体样品的超大样品室。使用简单方便。2.X射线管激发系统激发系统采用独特的正置直角光学结构设计。高电压发生器：电压与电流采用软件自动数码控制及显示。最大功率50 W。电压0 -50 KV，电流0-1000uA。8小时稳定性≤0.05%。高效长寿命X光管：采用低功率﹑自然冷却﹑高寿命、国际先进水平的X光管，指标达到国际先进水平。最大功率50W，管压5-50KV ；管流电流0-1000uA。3.高分辨率的探测器系统进口原装电制冷探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比。最佳分辨率能达到149eV±5ev。4.能谱仪电子学系统原装进口前置放大器及放大器等信号处理器：适应高计数率，高抗干扰能力的一体化电子线路。模数转换器采用高精度的2048道。5.计算机分析系统品牌计算机；高分辨率彩色液晶显示器。高级喷墨打印机。6.系统软件国际领先的XRF分析软件，融合了包括经验系数法、基本参数法（FP法）、理论α系数法等多种经典分析方法，全面保证：单层、双层、多层、合金镀层测试数据的准确性。7.电源AC 220V～240V、50Hz 。额定功率：120W。选配高精度参数稳压电源。