高温四探针测试仪

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高温四探针测试仪相关的厂商

  • 金坛市品杰测试仪器有限公司,主要从事气候环境与可靠性试验设备的科研、生产、销售和服务。公司产品是江苏省星火科技扶持项目,公司地址为位于国家科技产业区-著名数学家华罗庚的故乡:江苏省金坛市金城镇工业园区。距常州火车站以及南京禄口机场约一个小时车程,地理位置极其优越便捷。公司本着以“品质为企业的使命”、“服务是友谊的延续”的目标,为客户提供全方位,高品质的测试用试验设备。 公司主导产品有:高低温(交变)试验箱、高低温湿热(交变)试验箱(也称可程式恒温恒湿试验箱)、盐雾腐蚀试验箱(盐水喷雾试验机)、二氧化硫腐蚀试验箱,霉菌试验箱,温度冲击试验箱,防尘、防水(IP外壳防护等级测试设备),光老化(紫外光耐气候,氙灯耐气候),温度老化试验箱等模拟气候类环境试验设备以及各类步入式试验室,产品广泛应用在军工、航空航天、电工电子、仪器仪表、家用电器、汽摩配件、科研质检等各类领域。 公司拥有先进的生产设备及工艺,如数控冲床、折弯机、剪板机、二氧化碳气体保护焊等设备,令生产出的产品工艺更加精湛,公司外购件均采用国内、外知名品牌,如美国Honeywell,韩国三元,法国TE等,制冷压缩机采用法国泰康,德国谷轮等品牌。公司也自行开发专用试验箱控制器,在设计中融入了计算机技术,采用大面积彩色触摸屏的人机交谈方式,发挥了设备更好的性能以及方便了用户对设备的操作。 “客户满意”是公司永远的追求,公司承袭“以诚为本”的经营宗旨,奉行“质量是企业的生命”为用户提供有效可靠的最佳产品解决方案和售后跟踪“保姆式”服务,公司在2008年已经通过ISO9001:2000质量体系认证,真正做到售前指导、售中培训、售后跟踪的完善体系。
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  • 400-860-5168转0264
    环球分析测试仪器有限公司(UATIL)成立于1982年,总部设在香港,是国外多家知名的高新科技仪器生产制造商在中国的独家总代理。主要产品电化学仪器:电化学工作站、光电化学测试设备 化学合成仪器:全自动反应系统、反应量热仪、超声波结晶系统、平行合成仪、高温高压釜、流动化学系统 萃取及纯化仪器:超临界萃取仪、快速制备色谱、固相萃取、溶剂蒸发仪、气体纯化系统 生命科学仪器:生物反应器、发酵罐、冷冻干燥机、移液工作站、离心浓缩仪 乳品分析仪器:乳品成分分析仪、体细胞计数器、奶牛生产性能测试仪 材料测试仪器:网格应变测试仪、杯凸试验机 惰性环境仪器:手套箱 微流控仪器:单细胞测序、细胞包裹、微流控芯片、微流泵、液滴微流控系统、3D芯片打印机
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  • 山东省潍坊瑞格测试仪器有限公司是一家专业从事分析检测仪器的研发、生产、销售及服务于一体的高科技企业。公司产品主要应用于农业科研、土壤分析、地质勘探、公路建设、食品、医药、化工、卫生防疫、环保检测等领域。 目前公司主要有四大系列产品,分别为粉碎系列、药残检测系列、田间信息管理系列、样前处理系列。产品获得国家17项专利,其中自主研发的“改进型土壤粉碎机”入围2011年度国家星火计划。产品在中科院、社科院、环科院、中国农业大学、山东大学等多个科研院校中得到广泛应用,并在全国多个省土肥站测土配方施肥项目仪器采购中中标。公司还积极拓展海外业务,且远销印度及东南亚等地区。 公司自创立以来,本着“质量第一,用户至上”的原则,秉承“科技服务社会”的理念,积极引进吸收国内外的先进技术,不断研制开发出优质、高效、实用的新型产品。
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高温四探针测试仪相关的仪器

  • 高温四探针测试仪 HGTZ-800型号高温四探针测试仪器采用四探针双电测量方法,适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料在高温、真空及气氛条件下测量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能。采用高精度AD芯片控制,恒流输出,结构合理、质量轻便,配备10英寸触摸屏,软件可保存和打印数据,自动生成报表;本仪器可显示电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电 流、电压、探针形状、探针间距、厚度、电导 率,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购。双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,对数据进行双电测分析,自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响,它与单电测直线或方形四探针相比,大大提高精确度,也可应用于产品检测以及新材料电学性能研究等用途。 HGTZ-800型号系列采用电子护系统,设备的安全性;选用热电偶保定温度的采集有效值、采用SPWM 电子升压技术,电压输出稳定性好。配备高精度电压、电流传感器以保证试验数据的有效性。 HGTZ-800型号系統搭配Labview系统开发的hcpro软件,具备弹性的自定义功能,可进行电压、电 流、温度、时间等设置,符合导体、半导体材料与其它新材料测试多样化的需求。高精度的输出与测量规格,保障检测结果的品质,适用于新材料数据的检测。例如:多晶硅材料、石墨烯材料、导电功能薄膜材料、半导体材料,也可做为科研院所新材料的耐电弧性材料的性能测试。针探针测试仪做了多项安全设计,测试过程中有过电压、过电流、超温等异常情况以保证测试过程的安全;资料保存机制:当遇到电脑异常瞬时断电可将资料保存于控制器中,不丢失试验数所新开启动后可恢复原有试验数据。 应用领域: █ 多晶硅材料█ 石墨烯材料 █ 石墨功能材料 █ 半导体材料 █ 导电功能薄膜材料 █ 锗类功能材料 █ 导电玻璃(ito)材料 █ 柔性透明导电薄膜 █ 其它导电材料等 系统功能: █ 电压、电流、温度实时显示 █ 自动升压功能 █ 循环自动测试 █ 升温速度可控 █ 自动试验报表 █ 过压、过流、超温报警 █ 软件自动升级 █ 试验电压、电流可调 █ 电极方便更换 █ 在线设备诊断 系统特点: 多功能真空加热炉,一体炉膛设计、可实现、高温、真空、气氛环境下进行测试 █ 采用铂材料作为导线、以减少信号衰减、提高测试精度, █ 可以测量半导体薄膜材、薄片材料的方块电阻、电阻率; █ 可实现常温、变温、恒温条件的I-V、R-T、R-t等测量功能 █ 温度传感器、PID自动温度控制,使测量温度更准确; █ 仪器可自动计算试样的电阻率pv █ 10寸触摸屏设计,一体化设计机械结构,稳定、可靠; █ 程控电子升压技术,纹波低、TVS防护系统,保证仪器安 █ 99氧化铝陶瓷绝缘、碳化钨探针; █ huace pro 强大的控制分析软件。
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  • 最高温度 1650°c测量范围 0.1mΩ-100MΩ温度精度 ±0.25°c最快测量 6.4ms更多功能 高温四探针、退火高温I-V特性测试高温真空测量高温气氛测量高温烧结/退火高温四探针测量 消除电网谐波对采集精度的影响高温四探针测试仪采用直排四探针法设计原理测量。主要用于评估半导体薄膜和薄片的导电性能,参考美国 A.S.T.M 标准设计。重复性与稳定性更好,采用双屏蔽高频测试线缆,提高测试参数的精确度,同时抗干扰能力更强。本设备也可应用于产品检测以及新材料电学性能研究等用途。 搭配Labview系统开发的Huacepro软件,具备弹性的自定义功能,可进行介电温谱、频谱、升温速度、测量参数等设置,符合功能材料测试多样化的需求。电压、过电流、超温等异常情况以保证测试过程的安全;资料保存机制,当遇到电脑异常瞬时断电可将资料保存于控制器中,不丢失试验数据,设备重新启动后可恢复原有试验数据。 源测量仪器的精密耦合特点相对分立仪器具有许多优点。例如,它具有更短的测试时间,通过减少GPIB的流量并简化了远程编程接口。它还保护被测设备在偶尔过载、热失控等情况下不被损坏。电流源和电压源都可设置回读使器件测量完整性最大化。如果回读达到可编程容限的极限,那么该源就被钳位在此极限,从而提供错误保护。 华测系列阻抗分析仪是华测仪器电子事业部采用当前先进的自动平衡电桥原理研制成功的新一代阻抗测试仪器,为国产阻抗测试仪器的最新高度。也彻底超越了国外同类仪器,在测量10Hz-50MHz的频率瓶颈;解决了国外同类仪器只能分析、无法单独测试的缺陷;采用单测和分析两种界面,让测试更简单。得益于先进的自动平衡电桥技术,在10Hz-50MHz的频率范围可以保证0.05%的基本精度。 快达5ms的测试速度及高达50M的阻抗测试范围可以满足元件与材料的测量要求,特别有利于低损耗(D)电容器和高品质因数(Q)电感器的测量。四端对的端口配置方式可有效消除测试线电磁耦合的影响,将低阻抗测试能力的下限比常规端配置的仪器向下扩展了十倍。 消除不规则输入的自动平均值功能 更强数据处理及内部屏蔽华测近红外高温炉配合吉时利数字源表进行四探针电阻测量,让测试更加稳定可靠,吉时利数字源表系列专用于要求紧密结合源和测量 的测试应用。全部数字源表型号都提供精密电压源和电 流源以及测量功能。每款数字源表既是高度稳定的直流 电源也是真仪器级的6位半万用表。此电源的特性包括 低噪声、精密和回读。此万用表的功能包括可重复性高和低噪声。最终形成了紧凑、单通道、直流参数测试仪。 在工作时,这些仪器能用作电压源、电流源、电压表、电流表和欧姆表。源和阱(4象限)工作,0.012%基础测量精度(6位半分辨率)。 2线、4线电压源和测量感测1700读数/秒(4位半分辨率),通过GPIB通过/失效比较器用于快速提供高速感测线接触检查功能,在半导体、功能材料行业吉时利数字源表是适于特性析和生产测试等广泛应用的重要源表。目前国内高温加热大都为管式炉或马弗炉,主要原理为加热丝或硅碳棒对炉体加热,加热与降温过程速度慢,效率低下。也无法实现温度的高精度测量,加热区域也存在不均匀的现象,华测仪器通过多年研究开发了一种可实现高精度,高反射率的抛物面与高质量的加热源相配置,在高速加热及高速冷却时,具有良好的温度分布。 可实现宽域均热区,高速加热、高速冷却 ,用石英管保护加热试样,无气氛污染。可在高真空,高纯度气体中加热 。设备可组成均热高速加热炉,温度斜率炉,阶段加热炉。 它提高了加热试验能力。 同电阻炉和其他炉相比,红外线反射炉节省了升温时间和保持时间及自然冷却到室温所需时间,再试验中也可改写设定温度值。从各方面讲,都节省试验时间并提高实验速度。 同高频炉相比,不需特殊的安装条件及对加热试样的要求。同电阻炉一样安装简单,有冷却系统安全可靠。以提高试验人员的工作效率,实现全新的温度控制操作!高能量的红外灯和镀金反射方式允许高速加热到高温。同时炉体可配置水冷系统,增设气体冷却装置,可实现快速冷却。 1、高速加热与冷却方式高能量的红外灯和镀金反射方式允许高速加热到高温。同时炉体可配置水冷系统,增设气体冷却装置,可实现快速冷却。2、温度高精度控制近红外镀金聚焦炉和温度控制器的组合使用,可以精确控制样品的温度(远比普通加温方式)。此外,冷却速度和保持在任何温度下可提供高精度。3、不同环境下的加热与冷却加热/冷却可用真空、气氛环境、低温(高纯度惰性气体 静态或流动),操作简单,使用石英玻璃制成。红外线可传送到加热/冷却室。 更强的扩展能力,实现一机多用█ 多功能真空加热 炉,可实现高温、真空、气氛环境下电学测试 █ 采用铂金材料作为测量导线、以减少信号衰减、提高测试精度 █ 设备配置水冷装置,降温速度更快、效率更高█ 可实现高温下四探针电阻谱等测量功能█ 进口温度传感器、PID自动温度控制,使测量温度更精准█ 近红外加热,样品受热更均匀,不存在感应电流,达到精准测量█ 10寸进口触摸屏设计,一体化设计机械结构,更加稳定、可靠 █ 采用进口高频测试线,抗干扰能力更强,采集精度更高█ 99氧化铝陶瓷绝缘,配和铂金电极夹具█ huace pro 强大的控制分析软件与功能测试平台系统相互兼容温度范围: RT-800 (最高1650)°C 控温精度:±0.25°C 升温斜率:10°C/min(可设定) 测试范围 : 0.1mΩ-100MΩ 加热方式:近红外加热 冷却方式:水冷 输入电压:110~220V 样品尺寸:φ<25mm,d<4mm 电极材料:碳化钨针 夹具辅助材料:99氧化铝陶瓷 测量方式:直接四探针 测试功能:I-V、R-T等 数据传输:4个USB接口 设备尺寸:600x500x350mm动态测量范围:电流:10pA to 10A 电压:1µ V to 200V四象限工作 0.012%的精确度,5&half 的分辨率 可程控电流驱动和电压测量钳位的 6位线电阻测量 在4&half 数位时通过GPIB达1700读数/秒 可选式接触检查功能
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  • 高温四探针电阻率测试仪一.概述:采用四探针双电组合测量方法测试方阻和电阻率系统与高温箱结合配置高温四探针测试探针治具与PC软件对数据的处理和测量控制,解决半导体材料的电导率对温度变化测量要求,软件实时绘制出温度与电阻,电阻率,电导率数据的变化曲线图谱,及过程数据值的报表分析.二.适用行业::用于:企业、高等院校、科研部门对导电陶瓷、硅、锗单晶(棒料、晶片)电阻率、测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃(ITO)和其它导电薄膜等新材料方块电阻、电阻率和电导率数据.双电测四探针仪是运用直线四探针双位测量。设计参照单晶硅物理测试方法并参考美国 A.S.T.M 标准。三.型号及参数:规格型号FT-351AFT-351BFT-351C1.方块电阻范围 10-5~2×105Ω/□10-6~2×105Ω/□10-4~1×107Ω/□2.电阻率范围10-6~2×106Ω-cm10-7~2×106Ω-cm10-5~2×108Ω-cm3.测试电流范围0.1μA.μA.0μA,100μA,1mA,10mA,100 mA1A、100mA、10mA、1mA、100uA、10uA、1uA、0.1uA10mA ---200pA4.电流精度±0.1%读数±0.1读数±2%5.电阻精度≤0.3%≤0.3%≤10%PC软件界面显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式双电测量8.四探针仪工作电源AC 220V±10%.50Hz 30W 9.误差≤3%(标准样片结果≤15%温度(选购) 常温 --400℃;600℃;800℃;1000℃;1200℃;1400℃;1600℃气氛保护(气体客户自备)常用气体如下:氦(He)、氖(Ne)、氩(Ar)、氪(Kr)、氙(Xe)、氡(Rn),均为无色、无臭、气态的单原子分子温度精度冲温值:≤1-3℃;控温精度:±1°C升温速度:常温开始400℃--800℃需要15分钟;800℃-1200℃需要30分钟;1400℃-1600℃需要250分钟—300分钟高温材料采用复合陶瓷纤维材料,具有真空成型,高温不掉粉的特征PC软件 测试PC软件一套,USB通讯接口,软件界面同步显示、分析、保存和打印数据! 电极材料 钨电极或钼电极 探针间距 直线型探针,探针中心间距:4mm;样品要求大于13mm直径标配外(选购): 电脑和打印机1套;2.标准电阻1-5个 高温电源: 供电:400-1200℃ 电源220V,功率4KW;380V 1400℃-1600℃电源380V;功率9KW: 配套方案:解决各材料状态 --固态、液态、气态、颗粒状 电阻、电阻率、电导率测量
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高温四探针测试仪相关的资讯

  • 瑞柯发布瑞柯全自动四探针测试仪新品
    FT-3110系列全自动四探针测试仪一.功能描述:四点探针法,全自动化运行测量系统,PC软件采集和数据处理;参照A.S.T.M 标准方法测试半导体材料电阻率和方块电阻;可设定探针压力值、测试点数、多种测量模式选择;真空环境,可显示:方阻、电阻率、显示2D,3D扫描/数值图、温湿度值、提供标准校准电阻件. 报表输出数据统计分析.FT-3110系列全自动四探针测试仪二.适用范围晶圆、非晶硅/微晶硅和导电膜电阻率测量;选择性发射极扩散片;表面钝化片;交叉指样PN结扩散片;新型电极设计,如电镀铜电阻测量等;半导体材料分析,铁电材料,纳米材料,太阳能电池,LCD,OLED,触摸屏等. FT-3110系列全自动四探针测试仪三.技术参数: 规格型号FT-3110AFT-3110B1.电阻10^-5~2×10^5Ω10^-6~2×10^5Ω2.方块电阻 10^-5~2×10^5Ω/□10^-6~2×10^5Ω/□3.电阻率 10^-6~2×10^6Ω-cm10-7~2×106Ω-cm4.测试电流 0.1μA.μA.0μA,100μA,1mA, 10mA,100mA1A、100mA、10mA、1mA、100uA、10uA、1uA、0.1uA5.电流精度 ±0.1% 6.电阻精度 ≤0.3%7.PC软件操作PC软件界面:电阻、电阻率、电导率、方阻、温度、单位换算、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、2D、3D图谱、压力、报表生成等8.压力范围:探针压力可调范围:软件控制,100-500g可调9.探针针间绝缘电阻:≥1000MΩ;机械游移率:≤0.3%圆头铜镀金材质,探针间距1mm;2mm;3mm选配,其他规格可定制10.可测晶片尺寸选购 晶圆尺寸:2-12寸(6寸150mm,12寸300mm);方形片:大至156mm X 156mm 或125mm X 125mm11.分析模式单点、五点、九点、多点、直径扫描、面扫描等模式的自动测试12.加压方式测量重复性:重复性≤3% 13.安全防护具有限位量程和压力保护 误操作和急停防护 异常警报14.测试环境真空15.电源输入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗:100W 16.选购项目电脑和打印机创新点:仪器采用全自动操作,抽真空处理瑞柯全自动四探针测试仪
  • 212万!广东工业大学手套箱与电流电压测试仪等设备采购项目
    项目编号:M4400000707015234001项目名称:手套箱与电流电压测试仪等设备采购(四次)采购方式:公开招标预算金额:2,128,500.00元采购需求:合同包1(金相显微镜探针台等设备采购):合同包预算金额:2,128,500.00元品目号品目名称采购标的数量(单位)技术规格、参数及要求品目预算(元)最高限价(元)1-1其他专用仪器仪表金相显微镜探针台1(套)详见采购文件199,000.00-1-2其他专用仪器仪表高温分析探针台1(套)详见采购文件158,000.00-1-3其他专用仪器仪表探针台5(套)详见采购文件245,000.00-1-4其他专用仪器仪表电容电压特性测试仪5(套)详见采购文件180,000.00-1-5其他专用仪器仪表电流电压测试仪10(套)详见采购文件500,000.00-1-6其他专用仪器仪表少子寿命测试仪5(套)详见采购文件150,000.00-1-7其他专用仪器仪表霍尔效应测试仪5(套)详见采购文件27,500.00-1-8其他专用仪器仪表四探针测试仪5(套)详见采购文件115,000.00-1-9其他专用仪器仪表晶体管图示仪5(套)详见采购文件45,000.00-1-10其他专用仪器仪表数字荧光示波器16(套)详见采购文件496,000.00-1-11其他专用仪器仪表万用表10(套)详见采购文件13,000.00-本合同包不接受联合体投标合同履行期限:自合同签订之日起至质保期满之日
  • 我司在上海某高校成功安装基于Janis 探针台和Keithley 4200半导体特性仪的测试系统。
    我司于2017年1月在上海某高校成功安装基于Janis 探针台和Keithley 4200半导体特性仪的测试系统。该探针台配置四个三同轴探针臂和两个光纤探针臂,漏电流优于50fA。该探针台变温范围大(8K-675K)。我司提供Keithley 4200半导体特性仪,并提供集成变温IV、CV和输运和转移特性等测试软件 变温测量IV和VI曲线 变温场效应管(横坐标Vgs,纵坐标Ids, 不同曲线代表不同的Vds和温度) 变温场效应管(横坐标Vds,纵坐标Ids, 变温CV测试(横坐标偏压,纵坐 不同曲线代表不同的Vgs和温度) 标电容,不同曲线代表不同温度)

高温四探针测试仪相关的方案

高温四探针测试仪相关的资料

高温四探针测试仪相关的试剂

高温四探针测试仪相关的论坛

  • 四探针电阻率测试仪

    四探针电阻率测试仪。XH-KDY-1BS 型四探针电阻率测试仪是严格按照硅材料电阻率测量的国际标准(ASTM F84)及国家标准设计制造,并针对目前常用的四探针电阻率测试仪存在的问题加以改进。整套仪器有如下特点:1、 配有双数字表: 一块数字表在测量显示硅片电阻率的同时,另一块数字表(以万分之几的精度)适时监测全过程中的电流变化,使操作更简便,测量更精确。数字电压表量程:0—199.99mV 灵敏度:10μV输入阻抗:1000ΜΩ基本误差±(0.04-0.05%读数+0.01%满度)2、可测电阻率范围:10—4 —1.9×104Ω·cm可测方块电阻范围:10—3 —1.9×105Ω/□。2、 设有电压表自动复零功能,当四探针头1、4 探针间未有测量电流流过时,电压表指零,只有1、4 探针接触到硅片,测量电流渡过单晶时,电压表才指示2、3 探针间的电压(即电阻率)值,避免空间杂散电波对测量的干扰。3、 流经硅料的测量电流由高度稳定(万分之五精度)的特制恒流源提供,不受气候条件的影响,整机测量精度10 万次),在绝缘电阻、电流容量方面留有更大的安全系数,提高了测试仪的可靠性和使用寿命。5、 加配软件配电脑使用,实现自动换向测量、求平均值,计算并打印电阻率最大值、最小值、最大百分变化率、平均百分变化率等内容。6、 四探针头采用国际上先进的红宝石轴套导向结构,使探针的游移率减小,测量重复性提高(国家知识产权局已于2005.02.02 授予专利权,专利号:ZL03274755.1)。

高温四探针测试仪相关的耗材

  • Jandel通用型四探针测试仪
    Jandel这种组合方式是目前jandel公司最受欢迎的产品.该系统可用于测量各种薄层的小尺寸样本以及直径300mm高250mm的晶圆锭 (检测厚样品之前要咨询)。可测晶片直径D≤250mm(可选配D≤300mm,无需付费)可测晶片厚度H≤250mm(可更厚,请咨询)微动开关防止探针不与样品接触时的电流流动手动控制探针接触和移动的简单杠杆操作装配简单RM300和四探针探头通过单线连接系统配置组成部件测试台----1个可调节高度主机----1台可调节高度轴杆----1根四探针探头----1个连接电缆----1根设备尺寸可调节高度测试台:W*L*H(mm)250*290*8(320*370*8,可选)可调节高度探头组件:W*L*H(mm)60*280*80(60*330*80,可选)可调节高度的轴杆:D(mm)19;L(mm)200(可定制最高高度到1000mm)
  • 多位晶圆四探针测试仪
    结合jandel公司生产的四探针探头对晶片的电阻率进行测量。主要特点:可简单预设待测晶片上1到25个测量位置;8英寸/6英寸晶片真空吸盘;带有电流开关的杠杆操作探头,可避免产生火花;定位精度小于±1mm;幻灯片准确度不高于测量区域;遮盖待测区域,消除光电干扰;技术指标:8〞型号表具有真空卡槽、定心凹槽,镊子切口的硬铝合金晶片尺寸Φ=5〞/6〞/8〞预设测量位置中心点:垂直直径四个点,32,38,50,57,68,94mm晶片 1/2R 距边缘6mm5〞 32mm 57mm6〞 38mm 68mm8〞 50mm 94mm6〞号晶片尺寸Φ=3〞/4〞/5〞/6〞预设测量位置中心点;垂直直径四个点,15,20,25,35,50,60mm可配真空线路、真空泵外形尺寸355mm * 215mm * 195mm(H)净重6〞:3.5kg8〞:4.0kg
  • 四探针测试探头
    340-TT四探针测试探头探针间距选择1mm;2mm;3mm探针材质选择:铜/钨钢针探针尖形态选择:尖针,半球型
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