射线荧光光谱检测

S1TITAN手持式X荧光光谱仪重量轻（1.23kg，测量范围Mg-U）、是基于X射线管技术的手持式XRF分析仪。快速的分析速度和准确性是S1TITAN 的两大特性。其他功能包括集成的彩色触摸屏、50kVX射线管、SMARTGrade 计时、SharpBeam优化X射线几何形状、硅漂移探测器，以及坚固的外壳，该外壳经过密封，可以防潮防尘。 S1TITAN系列都采用了布鲁克公司的SharpBeam技术，并配置了布鲁克技术X-FlashSDD探测器，向您提供快速分析时间。S1TITAN可以配备各种校准装置，这些装置经过优化，适用于各种样品材料—包括各种合金、不同的采矿与环境样品，以及受限制材料。 SharpBeam技术对探测器和放射管几何图形进行了优化。经优化的几何体具有许多理想的效果，包括：1、降低功率要求 2、减轻重量 3、提高测量度 4、提高探测限制 5、延长电池寿命手持式荧光光谱仪应用领域 QA/QC分析，材质识别(PMI) 1、工厂/精炼厂PMI检测；2、废金属回收 3、航空航天用合金；4、金及贵金属检测 5、矿山；6、矿石品位控制 7、岩芯分析；8、探矿；9、地质图 10、土壤分析；11、金属回收；12、玩具中的铅 13、ASTM-F963；14、RoHS 15、包装中的有害元素分析 16、儿童服装中的铅筛查

能量色散X射线荧光光谱仪主要用途包括两个方面，元素成分定性及定量分析、涂覆层厚度分析。 ELIO是一款紧凑式的便携式能量色散X射线荧光光谱仪，针对一些珍贵的材质，可进行非接触式和无损性的元素分析。ELIO利用CUBE技术可获得准确的元素分布图，实现测量点的准确定位，拥有直观的硬件和分析软件，加快了XRF分析仪器的现代化进程。 1、ELIO设计简单精美，具有1毫米的激光定位分析点，内置相机和新型电子元件 2、测量头安装在带有两个电动平台的三脚架上，完成元素分布图的采集 3、设计狭窄的鼻部能够进入测量点 4、ELIO基于激发强度大，样品台可以快速移动的设计，从而检测速度fei常快，此外，控制软件还可进一步优化采集时间 5、采用先进CUBE技术的大面积硅漂移探测器（SDD） 6、采用先进的探测器技术，能量分辨率140eV（MnKα），并具有高输出计数率（OCR），可实现快速分析，同时保持能量分辨率 7、高电压50kV的X射线激发源与近距离检测的几何结构，可在数秒内实现非接触式检测 8、灵活更换X射线管阳，滤波片和准直器，为不同领域的应用提供更加优化的检测条件。 能量色散X射线荧光光谱仪携带便携 1、测量头安装在紧凑轻量的铝质三脚架上，使ELIOfei常适合移动使用 2、测量头的总重量为2.1千克 3、样本大小如何，三脚架上的ELIO都可以轻松地对其元素进行检测 4、多种三脚架可供选择，满足不同的用户要求 5、可选的电动XY平台，完成现场便携式的元素分布绘图 6、文物遗产研究---ELIO可以对考古研究，艺术 鉴定和保护的物体进行原位扫描，使用户免于运输，避免样品收到损害。 一、地质科学 分析大型钻芯部分或其他矿物样品，拥有先进的元素分布图和光谱解析功能，可帮助科学家了解岩土材料中元素含量以及分布信息。 二、材料科学 针对一些先进材料，可以通过移动扫描获得元素分布，从而扩展了这些材料的应用，从空间科学走向消费产品。 三、食品科学 植物中的元素分布图可以准确识别营养物富集的位置，直观地展示加工食品中强化剂的分布。 四、科学教育和研究 可作为教学和研究工具来分析田野，教室或实验室中的物体和材料.

S4 TStar — TXRF全反射X射线荧光光谱仪 数十年来，X 射线荧光（XRF）光谱法在多个行业中被广泛用于对固体和石油化工样品进行元素分析，检测限值低于PPb 量级。TXRF 扩展了XRF 的应用范围，可以分析液体样品、悬浮液和膜片中的超微量元素。优异的样品通用性S4 TStar 是一种通用性很强的工具，可以分析不同反射载体上的多种类型的样品。ICP 只能分析完全溶解的液体样品。图一：30 毫米石英片：对液体、固体和悬浮液进行元素分析图二：2 英寸晶片：污染分析、深度剖析和材料科学研究图三：显微镜载玻片：临床和生物学样品，直接分析细胞培养物、涂片和切片图四：矩形载体：尺寸小于54 毫米，用于膜片、滤片、纳米颗粒层 定制的反射介质 行业应用： 药品检测活性药物成分中的催化元素：液体或丸粒中的铅含量小于0.1 / 0.5ppm 食品粮农组织和世卫组织的食品标准：大米中的砷含量小于10 / 40ppb。 环境监测环境监测：地表水，废水、污泥和核废液中的污染物含量小于1 / 10ppb。

X 射线荧光光谱 (XRF) 能够对多种材料进行元素分析，包括固体、液体和疏松粉末。 Zetium 光谱仪专为满足要求严苛的流程控制和研发应用需求而设计，其高品质的设计和功能，可对从铍到镅等多种元素进行精度范围从百万分之一以下到百分之一的分析。Zetium X射线荧光光谱仪 包含了 SumXcore 技术，它是 WDXRF 和 EDXRF 的集成。 这种功能组合使 Zetium 在多种环境下拥有高分析能力、速度和任务灵活性。 Zetium X射线荧光光谱仪 配备了 SuperQ 软件（包括 Virtual Analyst），可帮助非专家用户轻松地设置应用程序。 针对特定分析提供了广泛的附加软件模块，例如无标分析、地质痕量元素、润滑油中的基体校正以及薄膜分析。 针对特定行业提供了 Zetium XRF 光谱仪行业专用版：水泥、矿物、金属、石化产品以及聚合物和塑料。另外提供可满足各行业严苛要求的高配置版本：Zetium顶级版。 Zetium 平台的模块化设计允许通过各种软件包来实现以任务为导向的性能增强。 马尔文帕纳科提供了一系列集成解决方案；从连接样品制备装置的简单接口，到将多个分析仪器集成到单一容器实验室中的全自动项目。特点增强的分析性能从 1 到 2.4、3 或 4 kW 的功率升级可增强灵敏度一系列 X 射线光管阳极材料（铑、铬、钼和金）可确保发挥特定应用性能用于增强灵敏度和加大过渡金属分析动态范围的复合探测器用于扩大的重元素动态范围（线性高达 3.5 Mcps）的 HiPer 闪烁探测器特别适合对钢中的铌和钼进行高精度分析出色的用户体验Virtual Analyst 提供简洁、直观的软件整套应用程序设置模块和软件解决方案使用无标 XRF 分析，对未知材料进行分析，或者在没有标准的情况下进行分析多元素微小区域分析可编程的面罩，适合的样品尺寸为 6 mm 至 37 mm提升样品处理量SumXcore 技术 - 利用 ED core（能谱核）将测量时间缩短多达 50%从 1 到 2.4、3 或 4 kW 的功率升级可加快分析速度Hi-Per 通道可实现对轻元素的同步测量连续和直接进样可大大缩短仪器的进样时间高容量进样器台（最多 209 位）可满足高处理量应用需求进样器条形码阅读器选项可实现快速、无故障的样品装载和数据录入可靠性除尘设备可尽量减少污染，并能够大大提升仪器的正常运行时间用于提高 X 射线管耐用性和耐腐蚀性的 CHI-BLUE X 射线管窗涂层样品类型识别（固体和液体）条形码阅读器可实现无差错的样品数据录入 仪器的拥有成本低节省空间的紧凑型设计 小体积空气锁设计 - 用于将样品快速循环到真空中，或对液体分析实现低氦气消耗便于检修的服务模块意味着更高的仪器可维修性和更短的停机时间专用制冷机可从实验室带走热量 - 避免实验室空调基础设施负荷过重可节省成本的成套解决方案

CRONO移动式微区X射线荧光光谱仪是一款可移动且可重新配置的快速检测的微型XRF扫描仪。基于EDXRF技术，可对大型样品进行原位，非破坏性和快速检测。XRF组件完全集成到一个紧凑的测量头中，元素检测范围从Na到Am，即使在低于2keV或高于25keV时（例如Sn，Sb和Ba k激发）。测量头安装在电动机上，探测器芯片面积50m㎡。电动框架和移动拉杆可以很容易地拆卸运输。若将测量头安装在轻型三脚架上，CRONO又可以变成一款便携式的用于单点测量的便携式XRF。该系统完全非接触式工作，距离样品1厘米，同时由于监测系统的设置，该分析区域将shi终处于控制之下。CRONO拥有两种前端的技术支持。其中CUBE是CMOS前置放大器，同时数字脉冲处理器DANTE可对样品进行快速的实时扫描。CRONO的软件可以控制和查看每一个界面，并实时显示光谱和元素分布图，同时每一个像素点的光谱都被自动存储，报告工具可自动为每个单独检测或整个项目检测生成pdf格式的测量报告。50厘米x 40厘米绘画的元素分布图（左1图）。测量时间：30分钟，线扫描速度：20mm/s，准直器孔径2 mm，X射线管设置50 kV和100μA。从左2图：BaLα，PbLα，CaKα 元素浓度范围从高到低依次是红色，黄色，绿色，蓝色。

借助 XRF 光谱仪 Epsilon 3 系列的经验打造而成，Epsilon 4 是一款多功能台式 XRF 分析仪，广泛用于从研发到流程控制等各个领域中需要从氟 (F) 到镅 (Am) 元素分析的行业细分市场。 Epsilon 4 X射线荧光光谱仪 将激发和检测技术与成熟软件和智能设计相结合，其分析性能更接近于功率更高的落地式 XRF 光谱仪。Epsilon 4 任意位置由于较低的基础设施要求，可以将 Epsilon 4 放到生产过程中靠近生产线的任意位置。 其高性能使大多数应用能够在环境条件下运行，从而降低氦气或真空维护的成本。超越分析的价值能量色散式 X-射线荧光光谱仪可分析从碳 (C) 到镅 (Am) 的元素，涵盖从百万分之一以下到 100 wt% 的浓度。 将 Omnian 用于无标分析，当需要快速分析鉴定时，则使用 FingerPrint 来进行材料测试，或者使用 Stratos 来对涂层、表面层和多层结构进行快速、简单和非破坏性的分析。 还可以使用支持与 FDA 21 CFR 第 11 部分等法规合规的增强的数据安全性，或者使用 Oil-Trace 量化生物燃油混合燃料到新润滑油和使用过的润滑油。支持各类样品Epsilon 4 X射线荧光光谱仪可处理多种样本类型，包括固体、压片和疏松粉末、液体和滤膜。 在重量从几毫克到几千克的样品上，对从碳 (C) 氟到镅 (Am) 的元素进行非破坏性的定量分析，涵盖从 100% 到百万分之一以下的浓度范围。Epsilon 4 是稳健、可靠的传统系统替代方案，已在许多行业和应用领域中得到广泛应用，甚至在轻元素分析非常重要的环境中，包括：水泥生产、采矿、选矿、钢铁及有色金属、RoHS 筛选及定量、石油和石化、聚合物及相关行业、玻璃生产、法医学、制药、保健产品、环保、食品和化妆品。特点灵活的配置Epsilon 4 是高度灵活的分析工具，可在 10 瓦版本中用于从研发到过程控制等各个领域的元素分析 (F - Am)。 要实现更高的样品处理量或扩展的轻元素功能，并且处于更加具有挑战性的环境，可以使用 15 瓦版本，甚至可以对碳、氮和氧进行分析。新发展Epsilon 4 仪器将射线探测技术与分析软件结合到了一起。 15 瓦 X 射线管与大电流 (3 mA)、硅漂移探测器 SDD30 以及紧凑的光路设计相结合，提供了甚至超过 50 瓦功率 EDXRF 系统以及台式 WDXRF 系统的分析性能 - 同时还额外提高了能源利用效率。迅速、敏感利用可生成更高强度的硅漂移探测器技术实现迅速测量。探测器电路提供的线性计数率可超过 1,500,000 cps（在 50% 的死时间下），和计数率无关的分辨率通常高于 135 eV，可更好地分离光谱中的分析谱线。 这使得 Epsilon 4 光谱仪能够以全功率运行，因此与传统的 EDXRF 台式仪器相比，实现了更高的样品通量。降低氦气消耗量Epsilon 4 的高性能使得许多应用可以在空气环境中运行，无需较长的进样时间和费用来维护氦气或真空系统。 在空气中测量时，钠、镁和铝的低能量 X 射线光子对气压和温度变化很敏感。 内置温度和气压传感器可补偿这些大气变化，确保在各种气候条件下结果不受影响。

Ux-1000W小型多道X射线荧光光谱仪可配置Si、Al、Fe、Ca、Mg、S、K、Na、Cl-九通道，预留1个可增加通道位置，同时分析10种元素。标准配置Na、Mg、Al、Si、P、S、Cl、K、Ca、Fe十种元素及氧化物的分析，是大中型企业质量控制的理想选择。 具有远程诊断功能说明:我们软件集成了常用的DCS系统的通讯协议，如TCP/IP，OPC，ModBus，RS232/485等，可与工厂的配料系统的控制中心或PLC进行数据交换，即可向配料系统传送分析数据，也可传送配比数据。实现在线数据分析、在线质量监控。 应用领域：产品特点：1.1分钟即可完成准确测试，换样抽真空时间小于15秒 2.下照式X射线检测，彻底避免样品破碎造成的仪器故障，提高使用效率3.采用高精度流气密度稳定器4.标准配置Na、Mg、Al、Si、P、S、Cl、K、Ca、Fe十种元素及氧化物的分析 5.引入先进测试系统技术、测试的短期和长期稳定性极好 6.配备经验系数法、理论影响系数法、基本参数法等定量分析方法7.测试精度远优于GB/T176-2008对重现性的要求，轻松满足行业需求 性能指标典型白生料样品的实测分析精度（60S），高于GB/T176-2008对重现性的要求。氧化物SiO2Al2O3Fe2O3CaOMgONa2OK2OSO3Clˉ分析谱线Si:KaAl:KaFe:KaCa:KaMg:KaNa:KaK:KaS:KaCl:Ka□n-1≤0.030.020.010.0350.020.020.010.010.0007重现性(%)0.100.060.050.150.050.050.050.050.002GB/T176-2008 对重现性的要求（%）0.200.20.150.250.150.050.150.150.003 货期&价格请与客服咨询为准！谢谢！

EDXRF能量色散X射线荧光光谱分析仪产品概述能量色散X荧光光谱分析仪体积小、稳定性好、分析快速准确、运行成本低、操作维护方便、是控制产品质量的理想选择。可测定铅Pb、汞Hg、镉Cd、铬Cr、溴Br等元素。硅半导体探测器，通过智能激发和检测设计实现高灵敏度，用户可自定义多曲线多光谱拟和分析方法，适用于不同的应用场合。内容描述仪器型号EDX-6000能量色散X荧光光谱仪分析原理能量色散X射线荧光分析法分析元素范围Na(11)-U(92)任意元素检出下限Cd/Hg/Br/Cr/Pb≤2 ppm样品形状任意大小，任何不规则形状样品类型塑胶/金属/薄膜/粉末/液体等X射线管靶材钼（Mo）靶管电压5─50KV管电流1─1000ｕA样品照射直径2、5、8mm探测器美国进口Si-PIN探测器，高速脉冲高度分析系统高压发生器美国SPELLMAN高压发生器前置放大器美国进口前置放大器，与美国进口探测器兼容性好主放大器美国进口主放大器，与美国进口探测器兼容性好AD转换模块美国进口AD转换模块，与美国进口探测器兼容性好ADC2048道滤光片6种滤光片自动选择并自动转换样品观察130万彩色CCD摄像机分析软件专利软件产品 BX-V26版本，终身免费升级分析方法理论alpha系数法、基本参数法、经验系数法操作系统软件WINDOWS XP（正版）数据处理系统主机PC商务机型CPUP4 3.0内存512MB光驱8xDVD硬盘80G显示器17寸液晶显示器工作环境温度10－35С，湿度30－70％RH重量60Kg（主机部分）外形尺寸550（W）×450(D)×450(H)mm外部供电电源要求AC220±10%、50/60Hz测定条件大气环境测试样品时间100－300秒可调环境温度10℃-28℃环境湿度≤70 ％RH(25℃室温)应用领域EDXRF能量色散X射线荧光光谱分析仪应用于石化产品，塑料和聚合物，食品和化妆品，环境，矿石，医药，建筑材料，中心实验室成品检验，金属材料等。工作原理采用的是X射线荧光分析原理，受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。仪器结构融合经验系数法、基本参数法（FP法）等分析方法，测试数据的准确性能得到全面保证。经验系数法：仪器依据对标准样品的测定，确定影响系数。对标准样品要求高，需和待测样品类型相近，校正模型简单。基本参数法（FP法）：仪器根据实际检测物质，通过对多种物理量建模计算确定参数。对标准样品要求不高，计算较复杂，适合缺少对应标样的物质检测。软件功能1元素含量分析范围为2 PPm到99.99%2采用BG内标校正，提高非定性式样测量精度3用户自定义多曲线多光谱拟和分析方法4全自动定量分析报告 简捷准确5自适应初试化校正6光谱的自动获取和显示。7具有自动检测仪器工作状态的功能。8自动判别样品及自动分析。提供扩展接口，进一步作其他元素分析，从钙到铀元素。进口硬件1美国进口Si-PIN探测器，高速脉冲高度分析系统2美国SPELLMAN高压发生器3美国进口前置放大器，与美国进口探测器兼容性好4美国进口主放大器，与美国进口探测器兼容性好5美国进口AD转换模块，与美国进口探测器兼容性好

二手岛津X射线荧光光谱仪EDX-720基本介绍岛津EDX-720Ｘ射线荧光分析装置是使用Ｘ射线照射样品，对产生的荧光Ｘ射线的能量进行检测，测定构成样品的元素种类及含量的装置。可无损地进行固体、粉体、液体、磁盘、单晶片等的元素分析，广泛应用于各个领域。特别是最近，以欧盟的报废电子电气设备指令（WEEE）、电子电气设备所含特定有害物质限制使用指令（RoHS）、报废汽车指令（ELV）以及玩具指令（ASTM F963，EU_EN71）等法规为代表的绿色采购及环境分析之中，要求更为微量、更为迅速的分析。为满足这种需求，畅销全球的EDX-720系列达到了更高的灵敏度与精度。二手岛津X射线荧光光谱仪EDX-720基本参数1.分析元素：11Na-92U（EDX-720），可以准确检测ROHS指令以外其它元素。2.样品型状：最大 300mmФ×150mmH ,可以满足样品的不规则性。3. X射线滤镜：5种自动交换，可以消除背景元素干扰，使仪器分析精度高于其它仪器。4.能量分辨率：Si/Li检测器，145eV.5.检测下限：Cd:1.7ppm Pb:2ppm Cr:2ppm Br:2ppm Hg:2ppm.满足ROHS 指令和索尼STM-0083标准。6.软件： 定性分析-测定/解析软件。 定量分析-工作曲线法，共存元素校正、FP法、薄膜FP法、BG-FP法固体、粉末、液体样品都不需要前处理的非破坏性的简便分析。适用快速评价RoHS、 ELV法规限制的有害元素的新装置！灵敏度比以往机型提高2倍，使用更方便，提高了筛选分析的效率！ EDX-720二手岛津X射线荧光光谱仪EDX-720主要特点：1、配置新型滤光片，提高Pb、Cd等的灵敏度提高2倍。2、配置高计数率电路，增加检测器的计数量。3、增加时间缩短功能，由荧光X射线强度算出测定精度，自动判断所需最少测定时间。4、增加自动工作曲线选择功能，依据识别样品种类的不同而选择最适宜的工作曲线。

TX3000全反射X射线荧光光谱仪是浪声科学经过多年XRF技术沉淀，专门设计研发用于元素分析和痕量分析的便携式光谱仪。其能够在极低的背景噪声条件下实现高灵敏度检测，可快速针对液体、悬浮液、固体和污染物，进行定量和半定量多重元素微量分析，为痕量元素分析领域提供了一种高效率、高灵敏度的解决方案。TX3000体积小巧，便于携带和运输，非常适合现场分析或移动实验室的需求。其具有制样简单、高性能、易用性、环保性和经济效益等特点，是科研、质量控制和环境监测等领域中不可或缺的分析工具。使用优势一键智能操作具备用户友好的操作界面，使得操作简单、直观，即便是非专业人员也能轻松掌握。多元素同时分析仪器可以同时检测铬、铅等8大主要重金属元素，也可以根据检测需求进行元素扩展，分析近30个元素，大大节省了分析时间。轻便易携设备小巧，一体化结构设计，不需要任何辅助设备及气体、液氮等，可拿到现场或野外进行检测分析。环境友好与传统X射线荧光光谱仪相比，TXRF采用特殊几何配置，有效降低了辐射暴露风险，更能保障操作人员安全。本土化服务国内生产厂家能够提供更快速的售后服务和技术支持，确保用户在使用过程中的问题能够得到及时解决。 微量样品需求该方法只需极少量的样品即可进行准确分析，非常适用于样品量有限的情况。高精度与高灵敏度仪器采用多层膜单色器和全反射光路设计，缩短了探测器到样品距离，提高了荧光产量，适用于痕量元素的精确测定。低背景噪声X光束以掠射角照射样品，降低了散射和荧光背景，实现了更低的背景噪声，检测低限可降低几个数量级。低运行成本相比进口设备，国产TXRF通常具有更高的性价比，同时设计用于低能耗运行，需要的样品量少，减少了对昂贵试剂和标准物质的需求，另外样品溶解程序不需要使用设备以及危害性化学品，成本效益极高。应用领域环境科学土壤、空气和水质的微量元素分析材料科学食品安全生物医学/生物制药文化遗产地质/冶金法医学化妆品规格参数尺寸360 ×365 × 265mm（L×H×W）重量≤15KG（不含电池）核心技术全反射X射线荧光（TXRF）元素范围Al(铝)—U(铀)含量范围ppb至100%样品类型液体、悬浮液、粉末、颗粒、金属、薄膜、组织、擦拭物、过滤材料等样品体积液体及悬浮液从1μl到50μl，颗粒最大直径为100μm,粉末最大为10μg样品座载玻片X射线管高亮度微焦斑固定靶点光源光学系统真空正交背靠背X射线人工多层反射聚焦镜探测器50mm2超大面积SDD探测器数据显示系统仪器一体自带显示器，超大工业级电容屏附件移液枪、移液枪吸头、研钵、抹刀、加热干燥装置等

手持式X射线荧光光谱仪采用人机工程学设计，轻便小巧，可提供现场对样品的快速无损分析，采用高清高亮大尺寸电容触控显示屏，操作方便，野外和复杂作业环境适应性强。手持式X射线荧光光谱仪功能高度集成，仅1台仪器便可满足材料分析、ROHS检测、选矿分析、环保等领域应用，X射线荧光光谱仪内置GPS、WIFI、蓝牙等功能，可记录检测区位地理信息，可联机进行数据传输，具有远程协助技术支持功能。分析元素范围：从钠(Na)到铀(U)1.1 合金分析模式:合金中各元素的含量分析，各元素的精度能够达到0.01%,同时软件还有报牌号功能，可以准确显示出测量合金的牌号，可实现5秒定性、8秒准确定量分析。1.2 ROHS检测模式:针对ROSH检测开发的软件,对采集的光谱信号进行数据处理、计算并显示测量结果，可自动保存测量报告。1.3土壤模式可同时测试Pb、As、Cr、Cu、Ni、Zn、Mn、Hg、Cd等重金属元素，检出限可达mg/Kg级别(以SiO2基体：Pb〈5mg/Kg、As〈3mg/Kg、Cr〈15mg/Kg、Cu〈10mg/Kg、Zn〈2mg/Kg、Ni〈5mg/Kg、Mn〈10mg/Kg，Hg〈1mg/Kg，Cd〈3mg/Kg)；1.4 水质分析模式可测试Na到U之间的元素，检出限可达mg/L级别(以水基体：Pb〈1mg/L、As〈0.5mg/L、Cr〈2mg/L、Cu〈1mg/L、Zn〈2mg/L、Ni〈1mg/L、Mn〈2mg/L，Hg〈1mg/L，Cd〈1mg/L)；2 检测分析时间：3－60秒（可调）；3 重复性：RSD4%；4激发源：50KV/200uA，Ag靶，端窗一体化微型X光管及高压电源，匹配功率≤4W；5探测器：采用美国进口的新款25mm2，0.3mil，fast-SDD硅漂移探测器，能量分辨率可达125eV，探测器使用电制冷技术，无需长时间及频繁等待制冷，4096高通道MCA多道脉冲分析器；6 高性能处理器和存储器：CPU:Intel四核处理器/1.33GHz,内存2G，数据硬盘32G；7屏幕显示：高性能5.5寸高清高亮液晶显示电容触摸屏，操作灵敏，可更好应对现场测试强光照射下的数据观测；8准直和滤光系统： 6种滤光片同准直器达可达18种组合自动切换；9 软件分析模式：合金分析模式、ROHS分析模式、土壤分析模式、水质分析模式（根据客户需要配置）；10 可自动存储测试结果，包含元素的种类、含量结果、及超标与否。储存数据及图谱超过10000组，可通过存储卡扩充容量，测试报告有EXCEL、BMP、PDF等格式，并可导出；11数据传输与处理：仪器可通过USB、WIFI、蓝牙联机传输数据或打印，同时可实现仪器与电脑屏幕同步使用等；12 开机密码保护，设置操作员和管理员两级操作权限，且仪器前部设置有样品感应装置，具空测时自动切断X射线源功能，确保使用人员安全；13 防辐射安全性：微型X光管整体化封装，仪器工作时X射线辐射剂量1μSV/h（提供CNAS认证第三方检测报告），可配置铅橡胶保护罩确保松散样品和小样品测试时的安全；14 分析数据自动统计功能：对多次测试可自动统计大值、小值，及标准偏差等；15 测试时间控制方式：具备扳机控制和软件控制模式操作仪器，也可实现USB与电脑连接操作等多种方式；16电池：可充电锂电池，容量6700mAh，充满电正常测试可使用6小时以上，仪器有电量显示功能；17内置GPS功能，可实时采集和记录测试区位的地理信息；18校准：随机配有标准校准片，进行能量校准后测试；19专业的软件功能，可实现谱图的比对放大缩小及导出功能，对各元素的特征能量总和进行独立计算，同时可依据客户要求设定固定测试报告模板，直接输出标准格式的测试报告，传输到打印机可实现现场数据的及时打印；20 仪器质量1.5Kg（含电池）；21 工作环境适应性：湿度-20℃～+50℃， 相对湿度＜90%；标样配置根据客户测量样品配备一款标样。（合金标样、RoHS标样、土壤标样等）标准附件AC220V充电器一个、EDX-P3600能量色散X荧光光谱仪一台

能量色散X射线荧光光谱仪主要用途包括两个方面，元素成分定性及定量分析、涂覆层厚度分析。 ELIO是一款紧凑式的便携式能量色散X射线荧光光谱仪，针对一些珍贵的材质，可进行非接触式和无损性的元素分析。ELIO利用CUBE技术可获得准确的元素分布图，实现测量点的准确定位，拥有直观的硬件和分析软件，加快了XRF分析仪器的现代化进程。 1、ELIO设计简单精美，具有1毫米的激光定位分析点，内置相机和新型电子元件 2、测量头安装在带有两个电动平台的三脚架上，完成元素分布图的采集 3、设计狭窄的鼻部能够进入测量点 4、ELIO基于激发强度大，样品台可以快速移动的设计，从而检测速度fei常快，此外，控制软件还可进一步优化采集时间 5、采用先进CUBE技术的大面积硅漂移探测器（SDD） 6、采用先进的探测器技术，能量分辨率140eV（MnKα），并具有高输出计数率（OCR），可实现快速分析，同时保持能量分辨率 7、高电压50kV的X射线激发源与近距离检测的几何结构，可在数秒内实现非接触式检测 8、灵活更换X射线管阳，滤波片和准直器，为不同领域的应用提供更加优化的检测条件。 能量色散X射线荧光光谱仪携带便携 1、测量头安装在紧凑轻量的铝质三脚架上，使ELIOfei常适合移动使用 2、测量头的总重量为2.1千克 3、样本大小如何，三脚架上的ELIO都可以轻松地对其元素进行检测 4、多种三脚架可供选择，满足不同的用户要求 5、可选的电动XY平台，完成现场便携式的元素分布绘图 6、文物遗产研究---ELIO可以对考古研究，艺术 鉴定和保护的物体进行原位扫描，使用户免于运输，避免样品收到损害。 一、地质科学 分析大型钻芯部分或其他矿物样品，拥有先进的元素分布图和光谱解析功能，可帮助科学家了解岩土材料中元素含量以及分布信息。 二、材料科学 针对一些先进材料，可以通过移动扫描获得元素分布，从而扩展了这些材料的应用，从空间科学走向消费产品。 三、食品科学 植物中的元素分布图可以准确识别营养物富集的位置，直观地展示加工食品中强化剂的分布。 四、科学教育和研究 可作为教学和研究工具来分析田野，教室或实验室中的物体和材料.

M1 ORA是专门适用于珠宝行业的台式微区X射线荧光光谱仪（μ-XRF），结构紧凑、占用空间小。M1 ORA能准确测定珠宝类合金的元素组成，分析元素范围：原子序数22号（钛）以上的元素。上照式光管，光板尺寸小至0.3mm，可以对复杂式样的样品进行非接触、非破坏性的分析，数分钟内就可以得到结果。样品尺寸大可达100×100×100mm，无需任何处理，直接放在样品台上检测，采用光学显微镜进行准确定位。采用大感应面积的正比计数器接收样品发出的荧光信号。采集的信号越多，分析结果越准确。可以检测含量在0.5以上的元素基于标样模型或无标样模型，可以鉴别和定量分析样品中的元素。准确度高，达到0.2wt对于没有预想到的元素也能够进行分析。珠宝、黄金、贵金属分析X射线荧光光谱仪是非基础和非破坏性分析，同时能够得到高准确度测试结果的分析方法由于珠宝首饰件通常都非常的小，又有些是采用不同贵金属组合，X射线荧光光谱仪分析过程能采用仪器内的准直器将激发的X射线集中于一小点。 行业应用：X射线荧光光谱仪测量可广泛适用于大量的黄金合金系列，可测量材料包括金、银、铜、钯、铂、铑等贵金属元素黄金成分范围35（8克拉/K）（24克拉/K）适用于：白金、黄金、铂合金、银合金，分析精度优于0.2

高精度X射线荧光光谱仪产品介绍： 高精度X射线荧光光谱仪帮助您轻松对应法规标准，对于痕量元素砷、镉、汞，灵敏度优势尽显。配置简单易用的样品杯自旋装置，可以提高对不均一性水样和土壤样品的测量结果。水样土样二合一现场定量，兼具实验室定量分析与现场便携式分析，下图为土壤定量、水质定量、土壤定性模式下的检出限（单位：ppm）产品特点：低检出限、高稳定性，轻松应对标准，一键测试，快速完成近 40 种元素的分析，覆盖标准要求的全部重金属元素，三种测试模式灵活应对现场和实验室分析；专业化的行业解决方案，内置重金属超标预警系统，水土二合一现场定量；本土化技术服务团队，可快速响应客户，提供技术支持，保护客户利益。应用范围：污染场地调查、土壤重金属元素污染应急监测、工业场地、固废场地重金属监测、农田重金属普查固体、粉末、液体测试、矿渣、岩石、土壤、湿地等分析测试、工业废水中重金属应急检测兼具实验室定量分析与现场便携式 分析，配备重量轻、易于携带的测试台，配置样品杯自旋装置支持手持模式、支架模式、定量模式，重金属超标预警系统可快速判定污染 元素是否超标针对低含量的 Cr、Pb、As、 Hg、 Cd 等元素有专门的定量分析功能低检出限、高稳定性，操作简单、一键测试，出色的测量精确度和成熟的 FP 算法，能轻松应对复杂的环境和样品的多样性技术参数：

日立手持X射线荧光光谱仪分析仪设备，采用高精度 XRF 技术，可为很多行业提供简单、快速和无损的合金分析，包括PMI材料鉴定、合规元素分析、土壤分析、矿物分析、镀层厚度、废旧金属分拣和金属品级筛选。日立手持X射线荧光光谱仪X-MET8000系列提供进行快速的合金等级鉴定及多种材料（固体和粉末金属、聚合物、木材、溶液、土壤、矿石、矿物等）的准确化学结构分析所需的性能。X-MET方便、耐用且使用简单，可为您提供可靠的结果。我们提供多种型号的产品，符合您不同应用的所有分析需要和预算。日立手持X射线荧光光谱仪X-MET8000系列提供进行快速的合金等级鉴定及多种材料（固体和粉末金属、聚合物、木材、溶液、土壤、矿石、矿物等）的准确化学结构分析所需的性能。X-MET方便、耐用且使用简单，可为您提供可靠的结果。我们提供多种型号的产品，符合您不同应用的所有分析需要和预算。为什么选择日立手持X射线荧光光谱仪X-MET8000性能优异lX-MET提供轻元素 （镁、铝、硅、磷、硫、氯）分析，检测限度低，且可每天提供准确可靠结果。l通过灵活的基本参数法(FP)法进行分析，从而测试多种材料；或若需结果可追溯和高度准确，则使用实证校准。操作简单l大触摸屏和基于图标的用户界面，使用户只需要极少的培训便可开始操作。符合人体工学lX-MET轻便（仅1.5公斤）、简洁、平衡性好，可供长时间使用，而疲劳度低。坚固耐用而拥有成本低l符合IP54要求（等同于NEMA 3）、防水、防尘的X-MET可供室内外使用。l通过MIL-STD-810G耐用标准测试。l其可选的防扎窗口膜可预防在粗糙表面上测量导致探测器损坏而出现的高昂维修费用。高级数据管理l完全灵活：可将多达100,000条结果保存在X-MET上，将报告输出到U盘或个人计算机，或自动将X-MET数据存储在LiveData云端。日立手持X射线荧光光谱仪X-MET8000提供快速、可靠的现场检测： 快速验证关键工艺环节中使用的合金材料； 管道、阀门及反应釜材料的品质管控； 测定轻元素、微量元素及杂质元素（如由HF酸烷基化和硫化装置以及FAC建模过程中所产生）； 优化的仪器前端设计，可对拐角和焊缝处进行检测分析； 为材料可靠性鉴定应用所设计 快速分析和准确的牌号鉴定：包括可选型AISI DIN、JIS、和GB牌号库； 提供备选集成相机，有助于准确定位测量； 提供的轻元素分析（从Mg 到 S）； 重量轻（1.5公斤）、外形小，符合人体工学设计，电池续航能力长达 10至12小时； 快速开机： 数秒内完成开机并进行检测； X射线荧光光谱是现场合金分析的无损方式； 河北沧辰科技有限公司为您提供日立直读光谱仪的参数、价格、型号、原理等信息，价格为面议，更多相关信息可咨询，公司客服电话7*24小时为您服务。

仪器简介：德国斯派克分析仪器公司是现场金属检测的先驱者之一，凭借着先进的专业技术、丰富的经验, 及数十年来在X射线荧光光谱技术方面的领先优势， 斯派克公司推出了手持式X荧光分析仪―SPECTRO xSORT。仪器可在没有外接电源、没有空调的现场, 在数秒钟内, 获得以往只有实验室光谱仪才能达到的分析结果。 SPECTRO xSORT手持式X荧光光谱仪是紧凑型仪器，坚固耐用，符合人体工程学设计。小型化，高性能X射线管，保证了仪器对待测元素的高效的激发。特殊开发的SDD检测器，数据采集速度10倍于传统的检测器，具有独特的适应性及灵活性。仪器符合严格的德国X射线辐射标准，为用户提供一流的安全防护。其强大的数据传输及处理功能，可在现场打印，储存数据。GPS可将数据与大地坐标绑定，为数据回溯提供可靠的依据。 SPECTRO xSORT可用于地质，矿物，环境，RoHS，玩具等样品中各种元素的检测，及现场分析。技术参数：SPECTRO xSORT：技术参数 检测器  SDD  Mn Ką 分辨率：FWHM半峰宽170eV  输入计数率最大至250kcps 激发源  X射线管i  W阳极  最大40kV，50µ A 控制  集成，可拆卸的PDA Windows Mobile 操作系统  SD存储卡，蓝牙，无线LAN，USB口 光谱仪数据  长：314mm  宽：84mm  高：333mm  重量：1.45kg 电池重：290g  可充电锂电池  2-3小时连续工作时间  100-240V，+/-10%，50/60Hz充电器/变压器 软件  ICAL（智能逻辑标准化校准）  数据管理：存储数据的后处理和协议  分析模式： -从聚合物到合金等多种材料的RoHS检测和Pb的快速分析 -多次分析结果显示 -自动计平均值 -计算标准偏差和相对标准偏差  RoHS指令分选模式 -显示分析结果是否满足要求 -快速分析环保样品，如污染土壤及沉积物 -矿石，精矿及尾矿的鉴别主要特点：仪器采用与斯派克公司高性能实验室用台式荧光光谱仪相同的小型低能量的X射线管，保证了准确的离子激发效果。特殊开发的SDD检测器，数据采集速度10倍于传统的检测器，提高了仪器的分析灵活性。 所有重要元素可在几秒钟测定 SPECTRO xSORT可获得实验室级别的分析结果，只需几秒钟即可完成元素周期表S 到 U所有元素的分析。RoHS指令快速检测仅需30秒。污染土壤和沉积物分析仅需数秒钟。适用于采矿业，可鉴别矿石、精矿和尾矿。即使在现场，也可通过可选的GPS包将现场分析结果与实际的分析点准确对应。 特殊开发的SDD检测器，数据采集速度10倍于传统的检测器:  - 从S 到 U的所有相关元素可一次测定  - 全面校准：测定简单无需操作人员决策  - 在几秒钟可获得实验室级别的分析结果  - 元素分析速度极快

S4 TStar — TXRF全反射X射线荧光光谱仪 数十年来，X 射线荧光（XRF）光谱法在多个行业中被广泛用于对固体和石油化工样品进行元素分析，检测限值低于PPb 量级。TXRF 扩展了XRF 的应用范围，可以分析液体样品、悬浮液和膜片中的超微量元素。优异的样品通用性S4 TStar 是一种通用性很强的工具，可以分析不同反射载体上的多种类型的样品。ICP 只能分析完全溶解的液体样品。图一：30 毫米石英片：对液体、固体和悬浮液进行元素分析图二：2 英寸晶片：污染分析、深度剖析和材料科学研究图三：显微镜载玻片：临床和生物学样品，直接分析细胞培养物、涂片和切片图四：矩形载体：尺寸小于54 毫米，用于膜片、滤片、纳米颗粒层 定制的反射介质 行业应用： 药品检测活性药物成分中的催化元素：液体或丸粒中的铅含量小于0.1 / 0.5ppm 食品粮农组织和世卫组织的食品标准：大米中的砷含量小于10 / 40ppb。 环境监测环境监测：地表水，废水、污泥和核废液中的污染物含量小于1 / 10ppb。

能量色散X射线荧光光谱仪 X射线荧光光谱(XRF)分析法是对各种各样材料进行元素测定的一种现代化的通用分析方法。不管是块状样品、粉末样品还是液体样品，位于元素周期表上从4号元素铍（Be）到92号元素铀（U）之间的几乎所有元素都可以进行精确的定性、定量和无标样分析。根据不同的应用要求，其分析浓度范围可从0.1ppm到100%，而且即使高至100%的元素浓度也能直接进行测量而无须进行稀释。XRF分析法具有样品制备简单、测定元素范围广、测定精度高、重现性好、测量速度快（30s-900s）、无环境污染、不破坏样品等特点。 XRF法广泛应用于环保、地质、矿物、冶金、水泥、电子、石化、高分子、食品、药物以及高科技材料等领域，在产品研究开发、生产过程监控与质量管理等方面起着重要的作用。具体应用见以下说明： ●电子、塑胶、五金材料：各种电子元件、五金件、塑胶原料及制品、线路板等。●纸张及纸原料：纸原料、各种纸张、调色剂、油墨等。●石油、煤炭：石油、润滑油、重油、高分子聚合物、煤炭、焦炭等。●陶瓷、水泥：陶瓷、耐火材料、岩石、玻璃、水泥、水泥原料和生料、熟料、石灰石、高岭土、粘土等。●农业、食品：土壤、农药残留物、肥料、植物、各种食品等。●有色金属：铜合金、铝合金、铅合金、锌合金、镁合金、钛合金、贵金属等。●钢铁：生铁、铸铁、不锈钢、低合金钢、高合金钢、特种钢、铁合金、铁矿石、炉渣、电镀液、铸造砂等。●化学工业：无机有机物及制品、化妆品、洗涤剂、橡胶、调色剂、催化剂、涂料、颜料、药品、化学纤维等。●环境：各种废弃物、工业废物、大气粉尘、工业废水、海水、河水等。●生物科学：有机体、辅助物等。 X射线荧光分析基本原理各种元素的核外电子轨道位能互不相同，因此，受激发后发出的X射线光子能量互不相同，即每种元素发射该元素原子所特有能量的X射线，代表了该元素的特征，因此称作该元素的特征X射线。每种元素的特征X射线具有其特定的能量，检测到此种能量的X射线，即可以确定物质样品中有该元素存在。 能量色散X射线荧光仪器原理X光管加高压产生的原级X射线经过滤光片适当过滤后照射到样品上，激发样品中所含元素的特征X射线(称为X射线荧光)，使用具有高能量分辨率的X射线探测器，得到X射线荧光能谱，不同的元素在谱图上形成不同的谱峰。谱峰的强度与样品中元素的含量成正比关系，通过计算机对探测器检测到的能谱进行解析，以谱峰位置和形状对样品中含有的元素种类进行定性，用谱峰强度对元素成分进行定量分析。 能谱仪简介：能量色散X射线荧光光谱仪是采用能量色散X荧光分析技术，同时测量多种元素的分析仪器，根据用户应用要求可配置为从Na到U的任意多种元素的分析测定。该仪器可广泛应用于环保、考古、建材、RoHS指令等各种行业。是企业质量控制的理想选择。 整机性能：●Si(PIN)或SDD半导体制冷探测器探测器的分辨率是评价能量色散X荧光光谱仪性能的主要指标之一 分 辨 率 145eV (分辨率越低则灵敏度越高)计 数 率 1000/S晶体面积 15平方毫米铍窗厚度 = 0.025mm探测功率 1.2W ●多道脉冲幅度分析器（俗称谱仪能量刻度）通道数：2048道 ●电源控制器系统电源控制+5 VDC at 250 mA (1.2 W)恒定制冷控制 400 VDC ●低功率小型侧窗X射线发生器（俗称X光管）经过内部嵌铅特殊处理的X光管进行全范围屏蔽,只留侧窗X射线出口区。 罐绝缘油用于高压绝缘和冷却，0.005英寸铍窗标准窗口，额定功耗为50瓦、额定电压为50千伏。设计使用寿命15000小时。 ●高压发生器输 入：85～265Vac,47～63Hz,功率因数校正。 1kV～5kV的型号符合UL85～250Vac输入标准电压变动率：无负载到满负载，输出电压的0.01%电流变动率：0～额定电压，输出电流的0.01%纹 波：输出电压的0.25%峰-峰 温度系数：电压或电流调定，0.01%/℃ 稳 定 性：预热半小时后，0.05%/8小时 ●滤光片自动转换系统滤光片自动转换系统：6种滤光片自动选择并自动转换（滤光片作用：改善激发源的谱线能谱成分，在进行多元素分析时，用来抑制高含量组分的强X射线荧光，提高待测元素的测量精度）。 ●安全防辐射系统1、重新设计的低辐射X射线管经过特殊处理（从源头做起）2、全封闭铅板双层防辐设计（从设计结构做起）3、全自动铅板滤光片自动屏蔽装置4、样品盖意外开启X射线强制中断装置 5、延时测试与X射线警示系统 ●针对ROHS指令限制使用有害元素Cd、Pb、Cr、Hg、Br的检出限Cd、Pb、Cr、Hg、Br的检出限为2ppm ●强大的分析软件工作站1．一键式的操作软件，简单易用，无需专业知识。2．人性化的人机界面3．各种测试参数无需操作人员设定，强大定制报告功能。4．测试数据自动存储，具有历史查询功能。5．最前沿的定性定量分析方法。6．可同时分析几十种元素。7．元素分析快速，分析时间从30秒到900秒可调。8．长时间待机不用，自动降低管压、管流，延长X光管寿命。9．对X射线管进行温度管控，保护X射线管并延长它寿命。10．实时监测仪器运行状态，轻易维护仪器。11.防止在测试样品时打开样品盖的误操作，软件有警示操作提示，同时关闭高压电源。

ARL PERFORM’X 顺序式 X射线荧光（XRF）光谱仪为实验室提供了一个先进的平台，用于快速、准确分析多达90种几乎在所有固体和液体样品中存在的元素,该技术具有如下优点：● 制样简单、快速● 样品整个表面、表面某一部分或特定点处的分析● 分析速度快● 稳定性高、精度高● 动态范围宽（从ppm 至100%）应用领域：地质、环境、石化、金属、矿物、水泥、玻璃等众多工业及科研领域ARL Perform’X 4200是Thermo Fisher Scientic公司2011年推出的顺序扫描型波长色散X射线荧光光谱仪，该仪器采用模块化结构，设计精巧、结构紧凑、稳定性高，是质量与过程控制和材料科学研究的最佳选择，其卓越的分析性能主要取决于下述技术特点：分析元素范围: Be-U(配备相应的晶体), O-U(标准配置).浓度范围: ppm-100%样品类型: 粉末压片, 熔融玻璃片，固体粉末及液体样品. 真空恒温光谱室保证分析的稳定性。温度是由差动加热/冷却系统控制，光谱室和晶体双温控系统，确保每块晶体的温度都控制在±0.1°C，保证分析数据的可靠性和稳定性。超薄Be窗(50um) 铑靶X射线管；最大功率4.2kW，最大电压60kV，最大电流120mA， 全元素有极好的灵敏度和分析精度。同一样品中不同元素可使用不同激发条件，自动转换管压、管流，转换时间短。降低电源消耗、增加X光管寿命的绿色模式。即当仪器要停止工作1小时或数小时时，X光管的电源在规定时间内自动减小到一种待机状态，当用户开始工作，所要求的工作条件会自动到达。第二代高稳定性固态高压发生器，功率4.2KW，最大电压60kV，最大电流120mA。最大线电压变化在–15% ~ +10%之间时，外电压每波动1%时，稳定性为±0.0001%。电压可在0-60KV之间选择，每步1KV；电流可在0-120mA选择，每步1mA。专利技术的超短距光学耦合设计（UCCO），使样品与阳极靶的距离更近，仪器的分析灵敏度提高20%。第六代莫尔条纹测角仪(ARL专利技术)，无齿轮磨损，由可编程微处理器控制，无需任何机械调整。探测器和晶体系统独立转动，由电子-光学读出器计算两个光栅系统干涉所产生的莫尔条纹来准确定位。在多任务模式中的微处理器保证晶体、准直器和两个探测器的快速和准确定位。这种测角仪是目前最先进的测角仪，并且Thermo Fisher Scientific已有了28年的使用和生产经验。测角仪最大定位速度4800° 2θ/分，定位时间短，比普通光学定位测角仪快2倍，比传统齿轮定位测角仪快4倍；最大连续扫描速度327°2θ/分角重现性 0.0002°：莫尔条纹测角仪由于没有机械磨损，定位精度高，并且彻底避免了普通测角仪因长期使用所产生的机械磨损使分析精度变差现象；9位置晶体交换器：双向旋转，最多装9块晶体；4位置的初级准直器交换器：标配4位准直器，细0.15°、中0.4°、粗1°和超粗2.5°，各元素均可在最佳的分辨率和强度下进行检测。6位初级滤光片：Al20, Al200, Al500, Al750, Cu250，使各元素的分析都具有最佳的峰背比！探测器：免维护的流气正比计数器（终身无需更换芯线）和闪烁计数器两个检测器，检测器的并联设计使光路更短以提高强度。高性能超薄窗(0.6um)流气正比计数器（节约P10气体，P10气流量2升/小时），轻元素检测效率高，全角可控制的角度扫描范围：0~153°/2θ。采用当代最先进的电子技术，仪器全部由微处理器控制。所有控制板上均装有微处理器，分别控制进样器、光谱室真空、温度、探测器、X光管及发生器、水冷、测角仪等，每隔几秒监测仪器的两百多个状态点，发现问题及时报警。可编程的内部双位自动进样系统：即第一个样品在分析状态时，第二个样品进入样品室进行预抽真空；待第一个样品分析完成退出时，第二个样品随即进入分析位置。这样不仅缩短了样品预处理时间，提高了测量速度。同时也避免了粉尘污染光谱室和晶体的可能性。可设置优先分析位置。样品位数：最多可放置112个样品的XY台，具有紧急样品优先分析位置。液体样品分析系统(选配项)，高效的氦气快门装置，确保在分析液体样品时光谱室处于真空环境，而样品室在氦气环境下，分析时流量小于1升每分钟，实现固体样品和液体样品分析环境快速切换（1.5分钟）。此外，在液样盒进入样品室之前，仪器自动识别。防溢出与除尘系统（选配）：分析粉末样品或液态样品是，可选配防溢出和除尘系统，对光谱仪进行实时安全防护！电动的安全闭锁装置，自动控制，结构简单，安全可靠。无需其他辅助设备。

XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪采用三重射线防护系统（软件联锁、硬件联锁、整机迷宫式设计），彻底杜绝各种工作情况下的辐射泄露。XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪采用独创设计的组合式短光路光路盘，显著提高检测灵敏度，降低检测限。XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪采用大型样品室，无需破坏和前期处理即可测量比较大的样品。XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪软件工作站一键式操作，简单易用，使用方便，人机交互友好，无需专业知识。XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪从S到U的快速元素分析，测量时间可调。XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪多达15组复合滤光片，X射线照射径从1mm到7mm可选。强大的自主定制分析报告格式功能，分析报告可保存为 PDF 和 Excel 两种格式，分析结果自动保存，可方便对历史数据进行查询及统计，只需一次点击即可输出数据。软件可视频观察样品的位置，并且对样品进行拍照，样品图片显示在测试报告中。可进行谱图比对，对不同元素含量的谱图进行比对，进行材料识别。采用经典的定性定量分析方法，全面保证测试数据的准确性。开放式校准曲线平台，可为客户量身定做有害物质检测方案。

大功率台式顺序波长色散型X射线荧光光谱仪固体、液体、粉末、合金和薄膜的元素分析氧到铀的元素分析与竞争对手的XRF系统相比Rigaku Supermini200在高分辨率仪器中提供了优越的基本参数和经验软件功能，占地面积小。作为一款高功率台式顺序波长色散x射线荧光(WDXRF)光谱仪，Supermini200具有独te的低成本(Coo)、高分辨率和低检测限(LLD)，可用于几乎任何材料中通过铀(U)进行氧(O)元素分析。WDXRF性能好，成本低 Rigaku Supermini200光谱仪不仅是您的XRF元素分析需求的经济实惠的选择，运行成本也很低。P10气体用于流量比例检测器是唯yi的消耗品。Supermini200不需要冷却水、管道或外部冷水机，从而减少了系统维护，降低了系统的整体使用寿命成本和每年的耗材和维护预算。WDXRF用于轻元素性能该仪器的核心能力是分析具有广泛的轻元素和重元素的复杂基质材料，从痕量到高浓度水平。凭借其高功率(200 W) x射线管，Rigaku Supermini200为轻元素提供高XRF灵敏度，具有zhuo越的光谱分辨率，可解决复杂矩阵中的线重叠，而无需复杂的数学峰值反褶积。分析低浓度的轻元素(F、Na、Mg、Ca、Si、Al和P)很容易。对困难样品的最高分辨率Supermini200 WDXRF光谱仪配备了一个三位置晶体转换器，其中LiF(200)和PET作为标准晶体安装。RX25或Ge可以选择性地添加，RX25为从氧到镁的峰提供了非常高的分辨率。通过铀(O→U)分析氧分析固体，液体，粉末，合金和薄膜大气:氦或真空x射线管:50kv, 200w pd阳极主波束滤波器:Zr为标准 可选探测器:闪烁计数器和F-PC(S-PC不需要P10气体可选)晶体:3位转换器样品尺寸:可容纳直径51.5毫米的样品自动换样器(ASC)标准:10个样品位置(51.5 mm直径的样品)可选:12个样品位置(最大44mm直径的样品)真空:标准旋转泵电源:100 - 120V (50/ 60hz) 15A或200 - 240V (50/ 60hz) 10A操作简单2001年理学台式WDXRF代表了现代工业模式的转变，它即具有大WDXRF的优势又极大的降低了费用，安装也变得方便。推出的高功率200W 台式Supermini系统保持了台式机的所有优势。灵敏度高200W光源驱动使Supermini灵敏度满足在金属，水泥，环境和法规执行上超低检出限的要求。功能强大Supermini 灵活性强，可分析从F到U的固体，液体和粉末，在真空或充氦环境。标准配置12位自动进样器，自动操作。作为ZSX系列理学台式波长色散X射线荧光系统中的成员，Supermini配置了可以与其他成员共用的所有软件。数据处理功能强大且简单，使用理学标志的流程条界面进行定性和定量分析。大功率台式顺序波长色散型X射线荧光光谱仪特点高功率台式WDXRF光谱仪200W 射线光管缩短测量时间提高灵敏度适用于矿石分析使用MDL方法分析基体复杂样品安装方面的台式设计无需液氮及冷却循环水应对WEEE/RoHS & ELV 指令可以分析痕量重元素降低操作费用低P-10气体流量空冷光管CE认证高效分析12位自动进样器

二手岛津X射线荧光光谱仪 EDX-700HS特点：采用岛津独创的ｘ射线聚光透镜[集束毛细管透镜]，x射线只照射样品的50μmφ微小领域，实现高灵敏度、高精度分析。可以在大气中进行从轻元素到重元素（na～u：μedx-1300；al～u：μedx-1200/1400）的分析。配备双ccd（高倍率，低倍率）摄像头，可以在观察样品图像的同时方便地决定分析位置，进行分析。标准配备无标样定量fp法、薄膜成分/膜厚分析用的薄膜fp法以及可以测定聚合物薄膜的背景基本参数（bg-fp）法。作为微区ｘ射线荧光光谱分析装置，在世界上率先配备了5种1次ｘ射线滤光片自动交换机构，可消除来自ｘ射线管的特征ｘ射线，提高信噪比。配备多元素同时/自动扫描成图功能。采用高速扫描成图，在短时间内便可获得图像（μedx-1200/1300）。追加透射观察单元（选购），也可进行透射ｘ射线的同时测定。配备电子冷却式高计数率检测器。无需液氮，可进行高精度分析。可轻松地进行电子材料/部件的镀层膜厚測定、异物检测、失效解析及成图分析。二手岛津X射线荧光光谱仪 EDX-700HS配置参数：主机部分：1、X射线发生器单元X射线管类型 Rh靶冷却方法 空冷（附风扇）2、X射线电源单元电压 5-50kV，每步1Kv（测定重金属（Cd,Pb,Hg,Br,Cr等）时，可以用50ｋV。但测定轻元素时，15kV是***有效的。另在工作曲线法中，随时可设定***佳电压。）电流 1-1000μA，每步1μA稳定度 ±0.01%（外电压波动±10%）保护电路 过电压， 过电流， 过功率，3、一次X射线滤波片 5种自动交换特点说明：不同元素应该采用不同的滤光片进行分析，这样才能有效降低背景，得到高准确度的测量数据。EDX-720进行元素分析时可以自动判断元素和更换相应的滤光片，无须手动更换检测器部分：1、检测器类型 Si（Li）检测器液氮 只有在分析时添加液氮消耗 少于1升/天检测面积 10mm2分析元素 Na-U分辨率 ：小于150电子伏特特点说明：采用液氮制冷方式的检测器具有高分辨率，可以避免元素谱线之间的干扰，从而保证高准确度的分析。在性能、实绩、稳定性上，Si（Li）半导体是对性的实绩（岛津检测器是自己生产，在万一发生故障也迅速对应）。 掘场按振动检测器的性能下降。 精工较差的Si-PIN半导体分辨率为220eV、在分析树脂中的Cd、Pb时，容易受到Br和Sb等共存元素的干扰、并有时不能检出，还有因为是低强度，在测试金属中有害元素的感度也差。2、计数单元放大器拟合时间 10μ秒增益变化 高/低多道分析器（MCA）变频型 顺序比较ADC道数 2048道***大计数率 232-1/道样品室与测定室部分：1、样品室二手岛津X射线荧光光谱分析仪EDX-700HS，二手荧光光谱分析仪盖子 自动开启/关闭（带安全系统）每次测定时盖子自动上升与下降。***大样品尺寸 300mm 直径 x 150mm高二手岛津X射线荧光光谱分析仪EDX-700HS，二手荧光光谱分析仪（特点说明：样品室自动开启，样品盖子的结构设计有效避免X光的泄露，满足日本及中国X射线的泄露控制标准。超大型的样品室可以容纳大型的部件直接放入测试，无须切割）2、测定室X射线照射面积 下照射光栏直径 1、3、5、10mm可选特点说明：不同的分析面积采用不同尺寸的光栏，可以保证各种大小样品的高精度测试。测定室开孔 13mm3、测定气氛：大气4、CCD观察定位系统配备CCD数码观察系统，可以准确定位分析区域。

X射线荧光光谱仪校准用标准物质GBW（E）130331标准物质号：GBW（E）130331X射线荧光光谱仪校准用标准物质（纯铜）标称值：99.95%不确定度：1%包装：1片X射线荧光光谱仪校准用标准物质（纯铝）标称值：99.45%不确定度：2.2%包装：1片X射线荧光光谱仪校准用标准物质（镍铬合金）标称值：68.29%/28.35%不确定度：0.8%/1.2%、包装：1片

仪器简介：ZSX PrimusII是理学公司最新奉献的上照射式X射线荧光光谱仪，是材料分析与评价的好帮手。 ZSX PrimusII是波长色散扫描式荧光光谱仪，分析精度高。 可以对4Be到92U进行定性、定量分析。 元素的检量范围从0.0001% ~ 100%，如进行前处理，可以再下降2 ~ 3个数量级。 可以分析材料的状态包括：粉末样品、块状样品、液体样品。 可以分析材料的领域包括：电子和磁性材料、化学工业、陶瓷及水泥工业、钢铁工业、非铁合金、地质矿产、石油和煤、环境保护。 技术参数 X射线发生器部分 X射线管：端窗式Rh靶 4kW或3kW 高压发生器：高频变频方式 额定电压,电流：4kW,60kV-150mA 稳定度：± 0.005%(对电源± 10%变化时) 冷却水：水冷冷却水(内置) 分光部部分 样品交换器：可以选择12,24,36,48样品交换器 样品尺寸：&phi 51mmx40mm(H) 分析样品面：最大&phi 35mm 样品旋转：30rpm 1次X射线滤波片：4种(Al,Ti,Cu,Zr) 视野限制光阑：6种自动交换机构(&phi 35,30,20,10,1,0.5 mm) 发散狭缝：3种自动交换机构(标准分辨率、高分辨率、超轻元素用(选件) 接收狭缝：SC用,F-PC用 测角仪：&theta -2&theta 独立驱动 测角范围：SC、5° -118° ， F-PC、13° -148° 最大扫描速度：1400° /min(2&theta ) 连续扫描：0.1-240° /min 晶体交换机构：10分光晶体自动交换机构 分光晶体：(标准)LiF(200)、Ge、PET、RX25 (选件)LiF(220)、RX4、RX9、RX35、RX40、RX45、RX61、RX75、RX80、RX61F、TAP 真空排气系统：双真空室高速排气系统(双真空泵) 粉末样品附件(选件) 氦气置换机构(选件)：带隔板 恒温化机构：36.5度 记数.控制部分： 重元素用：SC闪烁计数管，记数线性1000kcps 轻元素用：F-PC流气比例计数管，记数线性2000kcps 芯线加热自动清洗机构 衰减器：IN-OUT自动切换(衰减率1/10) 计算机：windows PC 软件： 定性分析：自动鉴定分析功能，包括平滑,扣背景 定量分析：检量线法 JIS法 各种基体校正 无标样分析法 EZ扫描,应用模板, 样品径自动选择 谱峰分离 定精度测试 E-mail传送功能,多功能标准样品 其它选件 维护功能: 自动PHA调整(PAS) 全自动芯线清洗 自动老化 自动诊断 远程诊断主要特点：1、 大幅度提高了超轻元素(B,C)的分析灵敏度、准确度 使用理学独创的强度最高的分光晶体RX-25，RX-61，RX-75，保证轻元素分析的灵敏度 采用APC自动真空控制机构，保证超轻元素分析的准确度(理学专利) 使用4KW 30um超薄窗、超尖锐、长寿命X光管，最适合超轻元素分析 2、 采用新光学系统，实现对重元素的高灵敏度分析 3、 强大的粉末样品测试功能 上照式，可以长时间防止粉末污染分光室 双泵、双真空设计(样品室/预抽真空室)，防止粉末样品的细微粉尘混入分光室 粉末附件，采用电磁阀真空密封，防止细微粉尘进入真空泵内 4、 加装CCD视频摄像机构，位置分辨率可达100um，可以进行0.5mm的微区分析，可以测量Mapping(理学专利) 5、 提高少量样品的分析准确度 使用r-&theta 样品台(理学专利)，彻底解决了X射线照射不均以及分光晶体强度不均的问题，保证样品在X射线最强、最佳条件下测量。 6、 样品室与分光室之间有专用隔膜装置 7、 48位自动进样器 8、 PAS自动调整脉冲高度系统(理学专利) ACC自动清洗F-PC芯线系统(理学专利) 可以保证仪器在最佳状态下使用 9、 节约能源(自动减少X射线管的输出)；节约PR-10气体；节约He气(选用He室时)；节省空间 10、 自动监控、自动开关机、自动节能等多功能操作软件 11、 先进的软件分析，NEW SQX软件 12、 全中文界面

多元素分析高灵敏度X射线荧光光谱仪(HS XRF)高性能XRF台式机PHECDA-HE&HES1.概述高灵敏度X射线荧光光谱仪（HS XRF® ） 型号：PHECDA-HES型号：PHECDA-HE核心技术： 硬件：单色化聚焦技术HS XRF® 软件：快速基本参数法Fast FP® &bull 硬件核心技术：单色化聚焦激发技术 全聚焦双曲面弯晶将X射线管出射谱某一特定波长单色化并聚焦衍射至样品点，因此从样品出射的X射线除了样品中的元素被激发产生的荧光X射线和单色化入射谱线的散射线外，不存在连续散射背景，从而保证待测元素特征线具有极低的背景干扰。 &bull 软件核心技术：快速基本参数法快速基本参数法Fast FP2.0 XRF法面临的难题是基体效应、元素间吸收-增强效应、标准样品欠缺等问题，对于不同类型样品的定量分析带来挑战。 基本参数法是当前X射线荧光领域的研究前沿， 快速基本参数法（Fast FP® ）通过对X射线荧光光谱从产生到探测的各个环节进行计算，将物理学明确的物理现象建立相应的数学模型，基本参数法充分计算X射线光产生的各种效应，减少分析误差，通过少量标准物质（或定值样品）的校正得到更为精确的元素定量结果。&bull 高灵敏度X射线荧光光谱仪PHECDA与快速基本参数法联用提供行业解决方案：解决方案解决问题应用特点应用领域土壤无机元素分析 &bull 满足《GB15618-2018土壤环境质量农用地土壤环境污染风险管控标准》中重金属限量值检测要求 &bull 满足《GB36600-2018土壤环境质量建设用地土壤污染风险管控标准》中重金属限量值检测要求 &bull 各类土壤与沉积物中50多种无机元素含量分析 &bull 优化镉的检出能力，土壤镉的检出限达到0.06mg/kg &bull Fast FP算法消除土壤基体差异，达到土壤无机元素精确定量分析环境监测、地质地矿、土壤检测、大学科研水质重金属检测 &bull 满足地表水、地下水、生活饮用水、企业排污水等重金属限值含量检测 &bull 环境水质污染事件重金属含量现场快速检测 &bull 重金属富集膜片技术（HMET）与HS XRF联用，将水质重金属检出限降低至1-3ug/L环境水质应急监测、环境水质现场检测固废重金属检测 &bull 满足固废中27种毒性元素和7种氧化物快速定量分析 &bull 危废鉴别-毒性元素含量分析 &bull Fast FP对各类固体废物的基体自适应 &bull 样品处理简单，快速定量分析环境监测、环境司法鉴定、科学研究、固废处理企业PM2.5无机元素分析 &bull 满足《HJ 829-2017 环境空气 颗粒物中无机元素的测定 能量色散X射线荧光光谱法》 &bull 提供从PM2.5无机元素分析到污染源溯源数据分析 &bull PM2.5膜片中三十几种无机元素含量快速含量分析 &bull Fast FP完成无标样（或少标样）情况下PM2.5膜片元素含量分析 环境监测、空气污染源调查、科学研究食品重金属快速检测 &bull 满足《GB2762-2017食品安全国家标准 食品中污染物限量》中部分食品重金属限量值检测要求 &bull 水产品、肉类、调味品、水果蔬菜、粮食、茶叶等食品及其制品中铅、镉、砷、铬、镍、锡等重金属含量检测 &bull 提供全套食品前处理设备与方案，样品处理简单，检测速度快 &bull Fast FP软件对各类食品基体的自适应 &bull 与实验室参比方法高度一致性食品安全领域、公安系统食品安防、海关食品监管矿石全元素分析 &bull 铁矿石、铅矿石、铜精矿、锰矿石等无机元素含量分析 &bull 矿石中有害元素（铅、砷、汞、镉等）含量分析 &bull 稀土元素含量分析 &bull 提供现场矿石元素含量整体解决方案 &bull Fast FP算法对各类矿石产品的精确定量分析能力地质、矿产、有色、海关 中药重金属含量检测 &bull 满足中国药典规定的中药重金属（铅、镉、砷、铜）限量值含量检测要求 &bull Fast FP算法对各类中药基体的适应与背景扣除 &bull 快速、简单、精确中药行业石化产品中金属元素含量分析 &bull 满足汽柴油产品中铁、锰、铅限量值含量检测 &bull 润滑油、机油、汽柴油等各类油品中金属元素含量分析 &bull 对石化产品中金属元素检出限达到0.1mg/kg水平 &bull 二十多种金属元素同步分析石油化工水泥窑协同处置 &bull 满足环保和建材行业对水泥窑协同处置中规定的从生料、熟料到水泥及水泥浸出物的重金属元素含量检测 &bull 水泥工业全元素（钠、镁、铝、硅、铁、钙、氯等）含量分析，分析添加材对水泥质量影响的判断 &bull Fast FP算法对各类样品基体的自适应 &bull 重金属膜片富集技术（HMET）满足水泥熟料浸出物中重金属含量检测建材工业、水泥企业 2.特点 高灵敏度X射线荧光光谱仪具备重金属痕量检测能力，快速基本参数法（Fast FP）提升元素精确定量水平，两项核心技术的结合，为XRF元素检测带来新的应用前景。 2.1 单色化聚集激发技术 高灵敏度XRF重金属分析仪采用双曲面弯晶单色化器，优化元素的激发效率与减少X射线管连续散射线背景，提升元素荧光射线的信噪比。 2.2采用高性能SDD探测器 硅漂移探测器（SDD）是能量色散X射线荧光光谱仪的核心部件，其性能取决于晶体面积、窗口材料、计数率、分辨率等，PHECDA 系列采用当今高性能的SDD探测器，确保元素分析性能。 2.3 Fast FP算法 （1）XRF分析的困难点是元素荧光强度不仅与样品中元素含量相关，也与其它元素含量有关，这就是所谓的基体吸收-增强效应，而这种物理效应，使得选择合适的标准样品成为困难，若选择的标准样品基体不一致、不能含盖待测样品的各元素含量范围，就会对实际样品分析带来误差。 （2）基本参数法（Fundamental parameters method）通过对X射线荧光光谱从产生到探测的各个环节进行计算，建立相应的数学模型，基本参数法消除了由于不同类型样品基体差异所产生的背景差异，减少分析误差，通过少数标准品的校正即可得到更为精确的元素定量结果。 2.4 优化镉元素检出能力 镉是有毒重金属，在环境保护和食品安全等领域备受关注，常规XRF对镉（Kα：23.1KeV）的激发和探测存在挑战，高灵敏度X射线荧光光谱仪通过对镉的单色化聚焦激发，对镉的检出限达到的0.06mg/kg水平。 2.5 高通量 PHECDA-HES 配置30位以上自动进样单元； 无需气体、真空等辅助设备 3.规格 指标参数说明原理 单波长激发-能量色散X射线荧光光谱法元素范围 Mg-U检出限(mg/kg) Cd：0.06mg/kg Pb：0.4mg/kg Cr:1.0mg/kg 土壤基体，元素扫描时间300秒重复性 Cd:0.3mg/kg RSD＜15% 土壤基体，元素扫描时间300秒样品种类 固体样品、液体样品、粉末样品、粘稠样品 提供不同样品的制备方案自动进样 PHECDA-HES配置30位自动进样单元，可条形码扫描软件 Fast FP软件系统，支持各种样品应用开发、谱图显示对比、无标定量、标样校正、元素定量分析、数据存储、网络传输富集技术 重金属富集膜片（HMET® ）与HS XRF联用技术，水质重金属检出限达到1~3ug/L详细技术参数与应用方案请咨询安科慧生工作人员！ 4.应用4.1 痕量元素检出能力 单波长激发-能量色散X射线荧光光谱仪基于全聚焦性双曲面弯晶的单色化聚焦技术，提升元素信号强度的同时大幅降低散射线背景，大幅提升样品元素信噪比，从而将XRF对元素分析延伸至微量和痕量应用领域。 4.2 软件准确定量能力 安科慧生科研人员历时十几年成功开发先进的快速基本参数法（Fast FP），其通过对X射线荧光光谱从产生到探测的各个环节进行计算，建立相应的数学模型，快速基本参数法消除了由于不同类型样品基体差异所产生的背景差异，减少分析误差，通过少数标准品的校正即可得到元素定量分析结果。 高灵敏度X射线荧光光谱仪PHECDA系列与快速基本参数法（Fast FP）的强强联合，为以下行业提供完整的解决方案：应用领域解决方案 编号编号环境保护 农用地和建设用地土壤无机元素含量分析 HMET+HS XRF联用应对环境水质重金属应急监测 固体废物重金属含量检测 PM2.5无机元素含量分析与数据溯源食品安全 食品中重金属含量快速测定-X射线荧光基本参数法 中药中重金属含量检测-HS XRF with Fast FP 化妆品中重金属含量检测-高灵敏度XRF重金属分析仪地质矿产 HS XRF与Fast FP对各类矿石元素含量分析 稀土元素含量快速检测高纯金属（合金）分析（铜）精矿元素含量分析其它 水泥窑协同处置重金属含量分析 石化产品中金属元素含量分析

仪器简介：Simultix 14是理学公司最新奉献的多道同时分析式X射线荧光光谱仪，是材料分析与评价的好帮手。 Simultix 14是多道同时分析式荧光光谱仪，分析速度快，分析精度高。 Simultix 14可以同时最多分析40种元素。 可以对4Be到92U进行分析。 元素的检量范围从0.0001% ~ 100%。 可以分析材料的领域包括：钢铁、有色金属合金、水泥、化学工业、能源、农业、商品、环境保护等。主要特点：1、 最多可以同时分析40种元素，可以包括1个重元素扫描道、一个轻元素扫描道 2、 高灵敏度、高精度分析 新开发的分光器，高灵敏度、低背景 高计数电路设计，计数率是传统型仪器的2倍，进一步提高高含量区域的分析精度。 接触式样品定位装置，可以消除样品面的定位误差，确保测量数据的重复性。 3、 小型化、超高速 高速样品传送系统(理学专利) 小型化设计，占地面积仅1m2 4、 更加适合超轻元素分析 采用新开发的人工晶体，不仅提高了C、B的分析精度，而且使Be分析成为可能。对数螺旋方式的弯曲晶体，可以大型化加工，灵敏度高于其它弯曲方式 可以选用适合轻元素的X光管 采用APC自动真空控制机构，保证超轻元素分析的准确度(理学专利) 5、 确保分析精度 内置恒温化装置，可以保证内部温度不变 更迅速、更可靠的真空装置 X射线光闸，可以延长探测器的寿命 芯线清洗装置，仪器照常运转，根据计算机屏幕进行简单操作，即可准确有效地清洗芯线，保证计数器在最佳状态运行。 气体密度稳定器(GDS)，可使检测器的脉冲高度值保持稳定，对轻元素分析稳定性最为有效 6、 简单易懂、使用方便的软件系统 程序选择画面简单 运行状态显示 多任务、多窗口 自动组选择 定量分析 校正曲线的作成 背景校正 定性分析 7、 出色的保养维护功能 在荧光屏上显示仪器的状态 可以显示故障内容及排除方法 8、 标准8样品进样器ASC8，选件可以提供ASC20、ASC50、ASC100

RoHS台式EDXRF光谱仪RoHS检测预校准能量色散X射线荧光光谱仪RoHS 《关于限制在电子电器设备中使用某些有害成分的指令》（RoHS）是限制在电子电器设备及其它消费品中限制使用有害成分的指令。系统能够提供对所限制元素的精确分析，如铅（Pb）、汞（Hg）、镉（Cd）、铬（Cr），溴（Br）元素。 RoHS光谱仪采用高分辨率探测器，集成相机及高性能X射线管，通过光斑尺寸的改变使用多种尺寸的样品，以检测较低水平的有害物质存在与否。准确元素分析可准确分析Pb、Hg、Cd、Cr，Br等元素。样品相机集成摄像机及X射线光斑能够全方位识别感兴趣区域。简单易用自动基质模型识别，即使是非技术人员操作，亦可达到较高置信度。RoHS专用软件直观且用户界面友好的专用软件。RoHS中所禁止的物质包含铅（Pb）、汞（Hg）、镉（Cd）、六价铬（CrVI）、多溴联苯（PBB），多溴二苯醚（PBDE）和四种不同的邻苯二甲酸酯（DEHP，BBP，BBP，DIBP）。RoHS标准报告根据RoHS标准，生成打印报告，准确的描述受限元素的检测水平。RoHS专用软件 专用软件能够自动检测被测材料类型并选择与之匹配的测量方法。X射线扫描激活的同时会得到对应的图谱并进行分析。仪器已根据RoHS标准进行了校准及设定阈值，结果报告将呈现每个限制元素的含量并与设定的范围比对，判断通过与否。样品相机全程处于开启状态，并在软件界面中显示样品被扫描的光斑点位。每次检测结果、图谱，以及分析结果均可独立命名，保存在库文件中。 这款高效RoHS预校准专用软件为RoHS检测提供了一个简单易用的图形界面和测试平台。 RoHS主要应用 RoHS/WEEE符合性测试及管控元素筛查（Pb、Hg、Cd、Cr、Br）。

波长色散X荧光分析仪是我公司总结我国多年来研制该类型仪器的经验和教训,并吸收与参照国际先进技术基础上，深入进行产业化研发形成的高科技产品，各项技术性能指标均已达到国际同类产品水平。X荧光分析仪可以应用于任何需要分析Na以上到U的元素或化合物成分分析的领域，例如建材(水泥、玻璃、陶瓷)、冶金(钢铁、有色金属)、石油（微量元素如S、Pb等）、化工、地质采矿、商品检验、质量检验甚至人体微量元素的检验等等。是常量分析和微量分析的可靠工具，也应用于大专院校和科研单位。 波长色散X射线荧光光谱仪，是本公司吸取国外先进经验，整合国内技术优势，精心设计的实验室设备。其卓越的性能可以满足不同客户的分析要求，极具吸引力的价格，使用户在低成本分析过程中受益。目前我们的仪器已经在建材（水泥、玻璃、陶瓷）行业、有色金属、钢铁、石油化工等领域得到了广泛的使用。应用效果良好，满足用户的实际需要。 应用领域：●AL-BP-9010A非常适合在大、中、小型水泥厂（单、双窑）做质量过程控制使用。可用于分析原料（如石灰石、沙土、矾土、菱镁矿和其他矿物）中主量和次量氧化物的分析 生料、熟料和水泥中的 CaO, SiO2, Al2O3, Fe2O3, MgO, SO3, K2O, Na2O, Cl等常规元素的测定。●钢铁行业的应用：依据GB/T 223.79-2007测定Si、Mn、P、S、Cu、A、Ni、Cr、Mo、V、Ti、W、Nb元素。●其它行业的应用：石油中的S、P测定，玻璃、陶瓷、有色金属、矿业、地质、化工、质量检验等。 特 点：高度自动化的分析，省力省时适合原材料、新材料、产品的研究及管理等分析，可对多种样品进行从微量到高含量的分析。仅需约3分钟即可完成1个样品中十几种元素的定量分析，由于仪器整机的高稳定性充分保证了全自动分析。 生产流程的管理分析可快速获得分析结果，经数据处理后，可进行质量检验、规格判断等，应用于生产管理分析（特别是炉前分析）。 质量控制迅速分析从生产线采集的样品。将分析结果（配比计算）作为原料配制的控制数据进行反馈，用于提高质量及稳定质量。 优 势：为了保证仪器性能，本仪器所用核心部件，如X射线管、高压电源、探测器、流气控制系统、分光系统均采用进口部件。与同等性能的仪器相比我司的仪器价格仍具一定优势。 技术参数●分析元素种类：从11Na～92U 的任意十种元素。●X射线管：Varian 公司生产的400W 薄铍窗端窗X射线管，Rh 靶（Pd 靶可选） 。●X射线管冷却：专业的循环制冷冷却，无需冷却水。●高压电源：400W ( 50kV8mA ) ，管压管流12 h稳定度：优于0.05 % 。 ●恒温室温度控制精度：设定值±0.1℃●探 测 器：流气正比探测器、封闭计数管、闪烁计数器。●数据处理系统：12 路2048 道独立脉冲高度分析器。 ●真空系统：独立泵站结构，双真空室，易于维护，测量室最高真空度：低于7Pa。●流气系统：采用国外高精度密度流量控制系统，高精度流气密度稳定装置，压力稳定度达到士0.01kPa。 ●交流220V 供电设备：2kVA交流净化稳压电流。 ●稳 定 性：( 24 h) ≤2%。●计数器的能量分辨率：≤40%。●仪器计数线性：≤1%。●单个样品测量时间：（含换样抽真空时间）≤(2-5)min 。●样品尺寸：40mmx10mm(H) ●分析样品面：最大35mm ●样品旋转：30rpm ●软 件：定性分析(自动鉴定解析功能(平滑,扣背景) ●定量分析：各种基体校正,标样分析法,应用模板, ●维护功能：自动诊断,远程诊断 软件特点1）自主开发的软件全中文软件系统，适合windows操作系统，软件操作简单，完全符合中国人操作的习惯，对操作人员无特殊要求；2）操作界面直观，可多任务同时执行，人机对话，方便修改和设定各种参数；3）采用全谱检测，实时智能校正仪器漂移到最佳运行状态；4）仪器采用最先进的数理模型算法标定工作曲线过程简单，更符合用户生产工艺特点；5）强大的数据库系统支持，实现各种基体、背景干扰校正；6）配备水泥行业在线率值配料配比反馈调节计算和水泥组分测定模块，测量生产样品结果的统计，帮助工艺工程师分析配料变化情况；7）强大的历史记录查询功能，随时动态掌握生产工艺变化；8）强大的自诊断功能，实时监控仪器状态，自动的保护功能；9）具有流行的DCS通讯协议,可以方便地与DCS系统进行数据共享。 水泥行业应用：波谱仪系统主要由样品制备设备（包括振动磨、压片机）、波谱仪主要、计算机系统（主要包括主机、监视器、打印机、键盘、数据通讯接口）等，与其他相关设备配合构成波谱仪生料质量控制系统。波谱仪主要用于生料化学成分的分析，以实现原料配比的在线自动化控制，保证入窑生料率值的标准偏差达到规定指标；同时，X荧光分析仪也可用于各种原料、燃料、熟料、水泥的离线分析。 本仪器是同时式波长色散型光谱仪，可装载10个以上（含10个）分析通道用于多元素同时测定，元素分析范围为钠到铀，元素预设范围为水泥10大元素Ca、Fe、Si、Al、Na、Mg、S、K、Cl、P，分析速度小于2分钟。输入电源为单相220/240VAC，并由主机向PC机和打印机供电。

能量色散X荧光光谱仪畅销款型，完全可以满足欧盟RoHS和无卤环保指令检测。产品特性1. 元素测试范围从S-U，可有效管控RoHS指令的Pb、Cd、Hg、PBB和PBDE中的Br、六价铬的Cr元素，同时也可以管控无卤指令中的Cl和Br元素。2. 配备进口的探测器，分辨率性能优佳；专业订做的X射线管和高压电源，可完全满足RoHS和无卤环保指令的检验。3. 配套软件采用经验系数法、理论α系数法和FP法算法，结合开放式工作曲线可以更快速、准确的实现各种材料中管控元素的测试。4. 软件内置自我管控系统中的超限设置功能，可以对测试结果自动判定是否在管控范围。5. 经过优化光路的改善，产品测试通道上增加到了从Na-U的元素范围。6. 带有测试样品图片的报告、分级管理员模式、几秒钟判定材料是否发生变化等。RoHS 2.0 2011/65/EU管控知识RoHS管控产品范围：●　大型家用电器；●　小型家用电器；●　信息技术及电讯设备；●　消费型设备；●　照明设备；●　电动工具；●　玩具、娱乐及运动设备；●　医疗设备；监控设备；●　自动售货机；●　其他不被以上10类产品涵盖的电子电气设备RoHS指令限量标准：Pb,Hg≤1000ppm；Cr6+,PBB,PBDE≤1000ppm；Cd≤100ppm无卤法规：Cl≤900ppm；Br≤900ppm；Cl+Br≤1500ppm满足指令应对欧盟RoHS2.0指令--2011/65/EU应对无卤指令IEC 61249-2-21应对REACH指令应对玩具En71指令应对美国CPSIA消费品安全改进法应对China-RoHS国推自愿性认证符合IEC62321标准符合GB/T 26125-2011产品规格技术指标：仪器尺寸：680(W)x400(D)x390(H)mm样品腔尺寸：330*350*75mm；测试元素范围：Na-U中的管控元素探测器类型：Si-PIN电制冷探测器分辨率：126-169eV高压范围：5-50Kv ，50W光管参数：5-50Kv，50W，侧窗类；光管靶材：Mo靶；滤光片：8种复合滤光片自动切换；CCD拍照：200万像素输入电压：AC220V，50/60Hz开盖方式：随意自动停测试样品种类：液体、固体和粉末测量范围：1ppm—99.99%测量用时：120-400秒测试环境：非真空测试数据通讯：USB2.0模式RoHS检出限：Pb≤5ppm，Cd/Cr/Hg/Br≤2ppm，Cl≤60ppm准直器：?2mm,?5mm软件方法：α系数法，基本参数法，FP法工作区：开放自定义卤素在工业上的应用研发和工程对样品功能承认后，检测RoHS,测试合格后作为承认样谱图保存并标记。在后期供货过程中，只要选择和输入与承认样品相同的来源和编号，程序在测试过程中会自动判断供货物料的材料组成成分和工艺是否发生变化，来判定RoHS控制的风险。

X 射线荧光光谱 (XRF) 能够对多种材料进行元素分析，包括固体、液体和疏松粉末。 Zetium 光谱仪专为满足要求严苛的流程控制和研发应用需求而设计，其高品质的设计和功能，可对从铍到镅等多种元素进行精度范围从百万分之一以下到百分之一的分析。Zetium X射线荧光光谱仪 包含了 SumXcore 技术，它是 WDXRF 和 EDXRF 的集成。 这种功能组合使 Zetium 在多种环境下拥有高分析能力、速度和任务灵活性。 Zetium X射线荧光光谱仪 配备了 SuperQ 软件（包括 Virtual Analyst），可帮助非专家用户轻松地设置应用程序。 针对特定分析提供了广泛的附加软件模块，例如无标分析、地质痕量元素、润滑油中的基体校正以及薄膜分析。 针对特定行业提供了 Zetium XRF 光谱仪行业专用版：水泥、矿物、金属、石化产品以及聚合物和塑料。另外提供可满足各行业严苛要求的高配置版本：Zetium顶级版。 Zetium 平台的模块化设计允许通过各种软件包来实现以任务为导向的性能增强。 马尔文帕纳科提供了一系列集成解决方案；从连接样品制备装置的简单接口，到将多个分析仪器集成到单一容器实验室中的全自动项目。特点增强的分析性能从 1 到 2.4、3 或 4 kW 的功率升级可增强灵敏度一系列 X 射线光管阳极材料（铑、铬、钼和金）可确保发挥特定应用性能用于增强灵敏度和加大过渡金属分析动态范围的复合探测器用于扩大的重元素动态范围（线性高达 3.5 Mcps）的 HiPer 闪烁探测器特别适合对钢中的铌和钼进行高精度分析出色的用户体验Virtual Analyst 提供简洁、直观的软件整套应用程序设置模块和软件解决方案使用无标 XRF 分析，对未知材料进行分析，或者在没有标准的情况下进行分析多元素微小区域分析可编程的面罩，适合的样品尺寸为 6 mm 至 37 mm提升样品处理量SumXcore 技术 - 利用 ED core（能谱核）将测量时间缩短多达 50%从 1 到 2.4、3 或 4 kW 的功率升级可加快分析速度Hi-Per 通道可实现对轻元素的同步测量连续和直接进样可大大缩短仪器的进样时间高容量进样器台（最多 209 位）可满足高处理量应用需求进样器条形码阅读器选项可实现快速、无故障的样品装载和数据录入可靠性除尘设备可尽量减少污染，并能够大大提升仪器的正常运行时间用于提高 X 射线管耐用性和耐腐蚀性的 CHI-BLUE X 射线管窗涂层样品类型识别（固体和液体）条形码阅读器可实现无差错的样品数据录入 仪器的拥有成本低节省空间的紧凑型设计 小体积空气锁设计 - 用于将样品快速循环到真空中，或对液体分析实现低氦气消耗便于检修的服务模块意味着更高的仪器可维修性和更短的停机时间专用制冷机可从实验室带走热量 - 避免实验室空调基础设施负荷过重可节省成本的成套解决方案