射线荧光谱分析仪

概要：对应环境限制物质管理、可快速且简单测量有害物质的X射线荧光分析仪。型号：EA1000VX测量元素：原子序数13(Al)～92(U)样品形态：固体、粉末、液体射线源：X射线管球(Rh靶材) 管电压：最大50kV 管电流：最大1000μA检测器：多阴极半导体检测器分析领域：Φ1mm，Φ3mm，Φ5mm (自动切换)样品观察：彩色CCD摄像头滤波器：5种模式自动切换样品室：370(W) ×320(D) ×120(H)mm定性分析：能谱测量、自动辨别、KLM标示表示、差异表示定量分析：块体校准曲线、块体FP法有害物质测量功能：环境管制物质测量软件Ver.2、Dbeasy 材料辨识、分析线切换、波峰分离显示功能、波峰标记功能等数据处理：配备EXCEL、配备WORD外形尺寸：520（W）×600（D）×445（H）mm安装尺寸：1500（W）×1000（D）重量：约60kg使用电源（主机）：AC100~240V±10%单相 选购项：自动进样器、能谱匹配软件、薄膜FP软件、各种标准物质特点：1. 快速测量与之前的机器SEA1000AII相比，每个样品的测量时间*都缩短了。例如，树脂类样品测量时间缩短了约1/3，金属类则缩短了1/10。实现了处理量（每天可测样品数量）的飞跃性提高。塑料中的Cd,Pb,Hg,Br,Cr高浓度BrSb塑料中的Cd,Pb,Hg,Cr黄铜中的Cd,Pb,Hg,Br,CrEA1000VX约30秒 120秒以内200秒以内SEA1000AII 约100秒360秒以内2000秒以上 表中显示为EA1000VX与SEA100AII样品测量时间（平均值）*Cd为20 ppm，除此以外的元素是为了达到100 ppm的检测最 低限所必要的总共时间。（本公司推荐条件下实施）2. 高技术率检测器（Vortex）不需要液氮，使用最大15万cps的高计数率检测器（Vortex）测量高灵敏度化，实现快速测量及高精度测量等。3. 通过环境限制物质测量软件Ver.2的各种新功能，强化了有害物质测量功能—材料判断功能测量开始后短时间内就可测量样品的材质种类。以往，在测量前需要选择分析菜单，由于装置可以自动判断材质，不会在选择分析菜单时感到迷茫。 4. 提高操作性—操作面板根据操作面板的指示器和提示音，了解测量进度。根据测量面板的进度条，把握测量进展。 5. 各种环境限制用的标准物质除RoHS指令的管理对象元素（Cd,Pb,Cr,Hg,Br）以外，我公司也开发和制造能对应管理Cl、Sb、Sn等的标准物质。 6. 自动进样器（选购项）自动进样器最多可连续测量12个样品。 7. 通过环境限制物质测量软件Ver.2进行数据集中管理和趋势管理使用精度管理软件使测量时间变短，通过利用数据库对据点内测量数据进行的集中管理（检索、浏览、解析、编辑、印刷、报告书生成），可测量检查的效率，达到消减成本。

S1TITAN手持式X荧光光谱仪重量轻（1.23kg，测量范围Mg-U）、是基于X射线管技术的手持式XRF分析仪。快速的分析速度和准确性是S1TITAN 的两大特性。其他功能包括集成的彩色触摸屏、50kVX射线管、SMARTGrade 计时、SharpBeam优化X射线几何形状、硅漂移探测器，以及坚固的外壳，该外壳经过密封，可以防潮防尘。 S1TITAN系列都采用了布鲁克公司的SharpBeam技术，并配置了布鲁克技术X-FlashSDD探测器，向您提供快速分析时间。S1TITAN可以配备各种校准装置，这些装置经过优化，适用于各种样品材料—包括各种合金、不同的采矿与环境样品，以及受限制材料。 SharpBeam技术对探测器和放射管几何图形进行了优化。经优化的几何体具有许多理想的效果，包括：1、降低功率要求 2、减轻重量 3、提高测量度 4、提高探测限制 5、延长电池寿命手持式荧光光谱仪应用领域 QA/QC分析，材质识别(PMI) 1、工厂/精炼厂PMI检测；2、废金属回收 3、航空航天用合金；4、金及贵金属检测 5、矿山；6、矿石品位控制 7、岩芯分析；8、探矿；9、地质图 10、土壤分析；11、金属回收；12、玩具中的铅 13、ASTM-F963；14、RoHS 15、包装中的有害元素分析 16、儿童服装中的铅筛查

能量色散X射线荧光光谱仪主要用途包括两个方面，元素成分定性及定量分析、涂覆层厚度分析。 ELIO是一款紧凑式的便携式能量色散X射线荧光光谱仪，针对一些珍贵的材质，可进行非接触式和无损性的元素分析。ELIO利用CUBE技术可获得准确的元素分布图，实现测量点的准确定位，拥有直观的硬件和分析软件，加快了XRF分析仪器的现代化进程。 1、ELIO设计简单精美，具有1毫米的激光定位分析点，内置相机和新型电子元件 2、测量头安装在带有两个电动平台的三脚架上，完成元素分布图的采集 3、设计狭窄的鼻部能够进入测量点 4、ELIO基于激发强度大，样品台可以快速移动的设计，从而检测速度fei常快，此外，控制软件还可进一步优化采集时间 5、采用先进CUBE技术的大面积硅漂移探测器（SDD） 6、采用先进的探测器技术，能量分辨率140eV（MnKα），并具有高输出计数率（OCR），可实现快速分析，同时保持能量分辨率 7、高电压50kV的X射线激发源与近距离检测的几何结构，可在数秒内实现非接触式检测 8、灵活更换X射线管阳，滤波片和准直器，为不同领域的应用提供更加优化的检测条件。 能量色散X射线荧光光谱仪携带便携 1、测量头安装在紧凑轻量的铝质三脚架上，使ELIOfei常适合移动使用 2、测量头的总重量为2.1千克 3、样本大小如何，三脚架上的ELIO都可以轻松地对其元素进行检测 4、多种三脚架可供选择，满足不同的用户要求 5、可选的电动XY平台，完成现场便携式的元素分布绘图 6、文物遗产研究---ELIO可以对考古研究，艺术 鉴定和保护的物体进行原位扫描，使用户免于运输，避免样品收到损害。 一、地质科学 分析大型钻芯部分或其他矿物样品，拥有先进的元素分布图和光谱解析功能，可帮助科学家了解岩土材料中元素含量以及分布信息。 二、材料科学 针对一些先进材料，可以通过移动扫描获得元素分布，从而扩展了这些材料的应用，从空间科学走向消费产品。 三、食品科学 植物中的元素分布图可以准确识别营养物富集的位置，直观地展示加工食品中强化剂的分布。 四、科学教育和研究 可作为教学和研究工具来分析田野，教室或实验室中的物体和材料.

产品特点&blacksquare 具有双曲面弯晶单色聚焦技术和先进的FP软件算法，实现了准确定性定量，检出限远优于同类产品&blacksquare JPX500 能在更短的时间内检测更多的样品，能进行更为彻底的分析 ， 提高现场修复土地和土地分级&blacksquare 适用浓度范围宽，从20μg/kg至100％均适用；食品、药品、植物、 地下水、地表水以及工业污水中重金属的检测&blacksquare JPX500基于HDXRF® 技术, 可快速准确定量分析土壤及农作物中镉等重金属元素&blacksquare 适用于As、Ba、Cd、Co、Cr、Cu、Fe、Hg、Mn、Ni、Pb、Pd、Sb、Se、Sn、Ti、Tl、V、Zn等40余种元素快速检测&blacksquare JPX500可提供针对农作物中多种重金属污染物定量分析，可直接测量＞15种无机污染物， 是食品和农作物快检抽查工作 者必备的筛选综合工具 &blacksquare JPX500可快速准确定量分析土壤及污水中镉等重金属元素以及快速准确定量分析污水中铅、砷、汞等重金属元素 多元素分析JPX500还可提供针对农作物中多种重金属污染物定量分析，可直接测量＞15 种无机污染物， 是食品和农作物快检抽查工作者必备的筛选综合工具。 重复性测试JP500对各类谷物进行检测以及对农作物及食品标准物质中的镉进行多次重复测量结果，测试结果具有很高的准确性和重复性和验证方法的稳定性。检出限JPX500是一种单色能量色散Ｘ射线荧光分析仪，，其卓越检测性能可以满足中国农用地土壤污染风险管控标准（GB15618-2018）要求检出限轻松应对镉元素的法规限值 0.3 mg/kg ；采用针对镉元素（Cd）激发进行了优化的单色光束，利用优越的信噪比（S/B）实现超低的元素检出限；JPX500是一种单色能量色散Ｘ射线荧光分析仪，采用针对镉元素（Cd）激发进行了优化的单色光束，利用优越的信噪比（S/B）实现超低的元素检出限。 技术参数测试时间（单位：S）：30s-1200s检测元素范围：Al-U之间的40种元素探测器：Fast SDD 探测器应用方向：食品、药品、水质、土壤等电源：110-240 VAC工作温度：-5℃-50℃重量：＜9 kg尺寸：30ｃｍW*23ｃｍL*26ｃｍH特别说明，此页面中所有展示的图片和信息仅供参考。

Vanta手持式X射线荧光分析仪　　大幅提高现场和实验室的检测效率　　使用Vanta手持式X射线荧光分析仪可在任何地点立即识别材料及其化学成份。Vanta系列利用智能云连接技术提供快速、准确的元素分析和材料辨别。我们的下一代Vanta手持式XRF分析仪(Vanta Max和Vanta Core)将Vanta系列的精度、速度和耐用性与改进的人体工程学设计、精简的界面和增强的连接性相结合，提高了工作效率。使用舒适且坚固耐用，可进行全天测试Vanta分析仪采用增强型人体工程学设计，是一种可在现场和实验室长时使用的高效工具。这些分析仪坚固耐用、易于操作，能够在恶劣环境中正常运行更长的时间。　　❯ 平衡式手柄可减轻手部疲劳　　❯ 握持安全舒适，适合全天时检测　　❯ 通过了4英尺坠落测试(MIL-STD-810G)　　❯ 符合IP54评级标准，防水防尘　　❯ 标准的3年质保，可保护您的投资　　高效的工作流程　　Vanta分析仪现在更加易于使用。使用现代、直观的界面和基于浏览器的软件选项，提高了工作效率。　　❯ 可通过可选配无线连接实现无缝数据集成，在PC机、平板电脑或智能手机上查看、共享和管理XRF结果　　❯ 通过自动软件更新，可即时享受新添功能　　❯ 可添加自定义分析功能的选项，提高了应用支持的水平　　❯ 可访问Evident Connect(Evident连接)云，无缝获取数据并使用多设备管理功能　　Vanta分析仪的现代化界面易于使用和操控。　　值得信赖的XRF技术　　Vanta分析仪被全球数以千计的客户用于各种各样的应用中。以久经考验的性能为基础而打造的Vanta Max和Vanta Core分析仪，可进行精确度和准确度都很高的便携式XRF分析。　　❯ Vanta系列分析仪所Axon技术，使用超低噪声电子元件，可实现更高的X射线计数率，从而可以快速获得精确、可重复的结果。　　❯ Axon技术可使不同Vanta分析仪的各次检测都具有非同一般的高重复性能，因此无论您使用的是哪台分析仪，其开始检测与末次检测的准确性都别无二致。　　X射线荧光的工作原理　　X射线荧光(XRF)是一种利用X射线测量样件元素组成的无损检测技术。X射线荧光通过四个步骤发挥作用：　　1. 发射：分析仪发射X射线。　　2. 激发：X射线照射样件，后者发出荧光，将X射线反射回分析仪。　　3. 测量：探测器对返回的X射线进行计数。探测器测量每条X射线的能量，从而形成频谱。频谱可以告诉我们存在哪些元素以及每种元素的含量。　　4. 结果：能谱通过软件进行处理，并显示为样件的元素组成。在检测金属时，我们将得到的元素组成与某个特定的合金牌号相匹配。　　Vanta手持式X射线荧光分析仪的应用领域　　Vanta分析仪可为从合金辨别到考古遗址评估等各种各样的应用迅速提供分析结果。我们的Vanta分析仪可针对特定应用为用户提供一系列软件功能，从而可使操作员充分利用分析仪的性能。此外，其报告创建过程也得到简化，而且其分析结果还具有可追溯性。　　金属废料和汽车催化剂回收　　用于废料分拣的Vanta分析仪带有一个SmartSort功能，可以基于被测材料简单直观地延长或缩短检测时间，从而既节省了时间，又尽可能为用户提供了优质匹配结果。软件会将获得的结果与合金成分库中的数据进行自动比较，以将未知材料和已知合金进行快速匹配。用户使用牌号匹配信息功能，可为每个牌号编制信息，这些信息会在适当的情况下作为警告或指示出现在屏幕上。这些消息使操作员只需稍加培训即可轻松使用分析仪。在汽车催化剂回收方面，Vanta分析仪可快速分析贵金属含量，以进行准确的价格评估。　　环境评估　　Vanta分析仪可以方便地对土壤和其他材料进行筛查，以探测出污染金属。分析结果可以与GPS数据配对进行结果勘察，然后以无线方式被传输到地理信息系统(GIS)，以绘制出污染性金属的位置图。这款分析仪可在场地定性、环境评估、房产评估及污染物跟踪方面快速得到具有决策性的结果。　　材料可靠性鉴定(PMI)与制造工业质量控制/质量保证　　Vanta分析仪可以根据美国石油学会推荐规程578(API-RP-578)验证是否在关键位置上安装了正确的合金，从而有助于确保精炼厂、石化工厂以及其他处理厂的安全。贵重或关键部件及机械的制造商和安装人员在了解了这些部件和机械装置使用了正确牌号的合金的情况下，就会放下心来，不用担心安全问题，尽管可能不知道材料的来源。Vanta分析仪可以测量任何样件基质上的镀 层、电涂层和其他涂层的厚度。Vanta系列分析 仪的可选全景摄像头、条形码读取器、可由用户定义的输入字段、连通性能以及丰富的数据报告功能，都可使检测人员充满信心，并提高分析仪追溯数据到野外现场的性能。　　珠宝分析和贵金属辨别　　Vanta分析仪可对包含金(Au)、银(Ag)、铂(Pt)和钯(Pd)在内的各种首饰和贵金属进行现场鉴定。该分析仪可对黄金合金(0-24K)的纯度进行准确分类，并可探测到镀金。　　科研与教育　　Vanta分析仪可提供定量元素信息，以指导研究实验，并辨别未知或复杂的材料。快速的结果使研究人员能够在适用的基于科学的项目中获得相关数据。　　地球化学、勘探和采矿　　Vanta分析仪是矿产勘探和采矿公司、地质顾问以及以地质为重点的学术、政府和研究机构的工具。它在任何环境下都能提供具有再现性的精确结果，以可靠性和坚固耐用作为设计的核心思想，以尽量缩短停工期。我们以地质中心型全球支持和培训为后盾，在协助客户开发适用的工作流程方面积累了丰富的经验，可以尽量发挥Vanta分析仪的效用。Vanta分析仪配有机载摄像头、准直器、GPS* 、探测器快门闸保护以及一系列以地质为重点的配件，将继续成为地球化学应用领域的优质选择。　　合规和安全筛查　　Vanta系列可筛查消费产品(如玩具、服装和鞋类)和电子设备中的铅(Pb)、镉(Cd)、砷(As)、汞(Hg)和铬(Cr)等有毒金属和危险物质，以遵守电气电子设备有害物质限制规定。安装了可选摄像头的Vanta分析仪可以自动归档样品图像和结果，从而成为一款完成合理测试方案的理想工具。出色的灵敏度使其能够达到较低的管制元素检出限，直观的界面可提供简单的通过/失败测定。　　*仅限Vanta Max型号。　　适合于各种预算的便携式X射线荧光分析仪型号　　无论型号如何，每台Vanta手持式X射线荧光分析仪都经过精心设计，具有耐用性和分析性能。Evident生产的Vanta分析仪可以满足各种应用和预算需求。　　Vanta Max　　Vanta Max型号具有该系列强大的分析能力，适用于包括矿产勘探、学术研究、土壤测试和环境分析在内的各种强大应用。　　Vanta Core　　Vanta Core型号兼具高速度、低检出限(LOD)和宽元素范围等特性，是快速完成合金辨别的标准选择。　　我们的承诺　　Evident是XRF技术领域中的企业，在检测质量和分析结果的准确性方面久负盛名。我们致力于通过我们的全球销售网和消费者服务团队，在产品、应用、培训和技术方面，为我们的用户提供上乘的技术支持和售后服务。　　用途广泛的X射线荧光分析仪配件　　Vanta Max和Core型号可与可选配的X射线荧光分析仪附件配套使用，包括重新设计的土壤支架、野外台座和机套，以提高野外工作的效率。　　土壤支架　　Vanta土壤支架为Vanta分析仪提供了稳固的三点支撑。使用这个配件，您无需手持分析仪，就可以完成检测。在需要进行长时检测时，这个配件有助于轻松方便地完成检测。　　野外台座　　在检测较小的物件时，如放在杯中或袋中的样品，Vanta野外台座为分析仪提供了一个轻便、移动式检测台和一个屏蔽式样品舱。在需要离开办公室到较远的地方完成检测任务时，野外台座携带简单，使用方便。　　机套　　将Vanta分析仪放在Vanta机套中，不仅可使分析仪得到安全妥善的保护，而且还可方便地携带分析仪。　　工作站　　便携式Vanta工作站由电池供电，可以随时随地进行检测。 工作站有一个连锁的盖子，并提供360度屏蔽功能，可方便地对袋装样品、预先制备的样品、液体样品或包含珠宝和电路板在内的细小物件进行检测。在这种封闭式光束设置中，用户使用Vanta基于浏览器的软件操作分析仪。　　Vanta的规格

Vanta手持式X射线荧光分析仪　　大幅提高现场和实验室的检测效率　　使用Vanta手持式X射线荧光分析仪可在任何地点立即识别材料及其化学成份。Vanta系列利用智能云连接技术提供快速、准确的元素分析和材料辨别。我们的下一代Vanta手持式XRF分析仪(Vanta Max和Vanta Core)将Vanta系列的精度、速度和耐用性与改进的人体工程学设计、精简的界面和增强的连接性相结合，提高了工作效率。使用舒适且坚固耐用，可进行全天测试Vanta分析仪采用增强型人体工程学设计，是一种可在现场和实验室长时使用的高效工具。这些分析仪坚固耐用、易于操作，能够在恶劣环境中正常运行更长的时间。　　❯ 平衡式手柄可减轻手部疲劳　　❯ 握持安全舒适，适合全天时检测　　❯ 通过了4英尺坠落测试(MIL-STD-810G)　　❯ 符合IP54评级标准，防水防尘　　❯ 标准的3年质保，可保护您的投资　　高效的工作流程　　Vanta分析仪现在更加易于使用。使用现代、直观的界面和基于浏览器的软件选项，提高了工作效率。　　❯ 可通过可选配无线连接实现无缝数据集成，在PC机、平板电脑或智能手机上查看、共享和管理XRF结果　　❯ 通过自动软件更新，可即时享受新添功能　　❯ 可添加自定义分析功能的选项，提高了应用支持的水平　　❯ 可访问Evident Connect(Evident连接)云，无缝获取数据并使用多设备管理功能　　Vanta分析仪的现代化界面易于使用和操控。　　值得信赖的XRF技术　　Vanta分析仪被全球数以千计的客户用于各种各样的应用中。以久经考验的性能为基础而打造的Vanta Max和Vanta Core分析仪，可进行精确度和准确度都很高的便携式XRF分析。　　❯ Vanta系列分析仪所Axon技术，使用超低噪声电子元件，可实现更高的X射线计数率，从而可以快速获得精确、可重复的结果。　　❯ Axon技术可使不同Vanta分析仪的各次检测都具有非同一般的高重复性能，因此无论您使用的是哪台分析仪，其开始检测与末次检测的准确性都别无二致。　　X射线荧光的工作原理　　X射线荧光(XRF)是一种利用X射线测量样件元素组成的无损检测技术。X射线荧光通过四个步骤发挥作用：　　1. 发射：分析仪发射X射线。　　2. 激发：X射线照射样件，后者发出荧光，将X射线反射回分析仪。　　3. 测量：探测器对返回的X射线进行计数。探测器测量每条X射线的能量，从而形成频谱。频谱可以告诉我们存在哪些元素以及每种元素的含量。　　4. 结果：能谱通过软件进行处理，并显示为样件的元素组成。在检测金属时，我们将得到的元素组成与某个特定的合金牌号相匹配。　　Vanta手持式X射线荧光分析仪的应用领域　　Vanta分析仪可为从合金辨别到考古遗址评估等各种各样的应用迅速提供分析结果。我们的Vanta分析仪可针对特定应用为用户提供一系列软件功能，从而可使操作员充分利用分析仪的性能。此外，其报告创建过程也得到简化，而且其分析结果还具有可追溯性。　　金属废料和汽车催化剂回收　　用于废料分拣的Vanta分析仪带有一个SmartSort功能，可以基于被测材料简单直观地延长或缩短检测时间，从而既节省了时间，又尽可能为用户提供了优质匹配结果。软件会将获得的结果与合金成分库中的数据进行自动比较，以将未知材料和已知合金进行快速匹配。用户使用牌号匹配信息功能，可为每个牌号编制信息，这些信息会在适当的情况下作为警告或指示出现在屏幕上。这些消息使操作员只需稍加培训即可轻松使用分析仪。在汽车催化剂回收方面，Vanta分析仪可快速分析贵金属含量，以进行准确的价格评估。　　环境评估　　Vanta分析仪可以方便地对土壤和其他材料进行筛查，以探测出污染金属。分析结果可以与GPS数据配对进行结果勘察，然后以无线方式被传输到地理信息系统(GIS)，以绘制出污染性金属的位置图。这款分析仪可在场地定性、环境评估、房产评估及污染物跟踪方面快速得到具有决策性的结果。　　材料可靠性鉴定(PMI)与制造工业质量控制/质量保证　　Vanta分析仪可以根据美国石油学会推荐规程578(API-RP-578)验证是否在关键位置上安装了正确的合金，从而有助于确保精炼厂、石化工厂以及其他处理厂的安全。贵重或关键部件及机械的制造商和安装人员在了解了这些部件和机械装置使用了正确牌号的合金的情况下，就会放下心来，不用担心安全问题，尽管可能不知道材料的来源。Vanta分析仪可以测量任何样件基质上的镀 层、电涂层和其他涂层的厚度。Vanta系列分析 仪的可选全景摄像头、条形码读取器、可由用户定义的输入字段、连通性能以及丰富的数据报告功能，都可使检测人员充满信心，并提高分析仪追溯数据到野外现场的性能。　　珠宝分析和贵金属辨别　　Vanta分析仪可对包含金(Au)、银(Ag)、铂(Pt)和钯(Pd)在内的各种首饰和贵金属进行现场鉴定。该分析仪可对黄金合金(0-24K)的纯度进行准确分类，并可探测到镀金。　　科研与教育　　Vanta分析仪可提供定量元素信息，以指导研究实验，并辨别未知或复杂的材料。快速的结果使研究人员能够在适用的基于科学的项目中获得相关数据。　　地球化学、勘探和采矿　　Vanta分析仪是矿产勘探和采矿公司、地质顾问以及以地质为重点的学术、政府和研究机构的工具。它在任何环境下都能提供具有再现性的精确结果，以可靠性和坚固耐用作为设计的核心思想，以尽量缩短停工期。我们以地质中心型全球支持和培训为后盾，在协助客户开发适用的工作流程方面积累了丰富的经验，可以尽量发挥Vanta分析仪的效用。Vanta分析仪配有机载摄像头、准直器、GPS* 、探测器快门闸保护以及一系列以地质为重点的配件，将继续成为地球化学应用领域的优质选择。　　合规和安全筛查　　Vanta系列可筛查消费产品(如玩具、服装和鞋类)和电子设备中的铅(Pb)、镉(Cd)、砷(As)、汞(Hg)和铬(Cr)等有毒金属和危险物质，以遵守电气电子设备有害物质限制规定。安装了可选摄像头的Vanta分析仪可以自动归档样品图像和结果，从而成为一款完成合理测试方案的理想工具。出色的灵敏度使其能够达到较低的管制元素检出限，直观的界面可提供简单的通过/失败测定。　　*仅限Vanta Max型号。　　适合于各种预算的便携式X射线荧光分析仪型号　　无论型号如何，每台Vanta手持式X射线荧光分析仪都经过精心设计，具有耐用性和分析性能。Evident生产的Vanta分析仪可以满足各种应用和预算需求。　　Vanta Max　　Vanta Max型号具有该系列强大的分析能力，适用于包括矿产勘探、学术研究、土壤测试和环境分析在内的各种强大应用。　　Vanta Core　　Vanta Core型号兼具高速度、低检出限(LOD)和宽元素范围等特性，是快速完成合金辨别的标准选择。　　我们的承诺　　Evident是XRF技术领域中的企业，在检测质量和分析结果的准确性方面久负盛名。我们致力于通过我们的全球销售网和消费者服务团队，在产品、应用、培训和技术方面，为我们的用户提供上乘的技术支持和售后服务。　　用途广泛的X射线荧光分析仪配件　　Vanta Max和Core型号可与可选配的X射线荧光分析仪附件配套使用，包括重新设计的土壤支架、野外台座和机套，以提高野外工作的效率。　　土壤支架　　Vanta土壤支架为Vanta分析仪提供了稳固的三点支撑。使用这个配件，您无需手持分析仪，就可以完成检测。在需要进行长时检测时，这个配件有助于轻松方便地完成检测。　　野外台座　　在检测较小的物件时，如放在杯中或袋中的样品，Vanta野外台座为分析仪提供了一个轻便、移动式检测台和一个屏蔽式样品舱。在需要离开办公室到较远的地方完成检测任务时，野外台座携带简单，使用方便。　　机套　　将Vanta分析仪放在Vanta机套中，不仅可使分析仪得到安全妥善的保护，而且还可方便地携带分析仪。　　工作站　　便携式Vanta工作站由电池供电，可以随时随地进行检测。 工作站有一个连锁的盖子，并提供360度屏蔽功能，可方便地对袋装样品、预先制备的样品、液体样品或包含珠宝和电路板在内的细小物件进行检测。在这种封闭式光束设置中，用户使用Vanta基于浏览器的软件操作分析仪。　　Vanta的规格

X射线荧光镀层测厚仪，材料分析仪X射线荧光镀层测厚仪属于菲希尔的产品，HELMUT FISCHER(菲希尔)在涂层硬度侧厚、镀层硬度测厚、材料分析、微纳米硬度测试和材料测试等领域为您提供最先进的产品和最完善的解决方案。X射线荧光镀层测厚仪产品用途：由于能量色散X射线荧光光谱法可以分析材料成分和测量薄镀层及镀层系统，因而应用广泛 在电子和半导体产业里，测量触点上薄金，铂和镍层厚度或痕量分析。在钟表和珠宝行业或采矿精炼工业中，精确分析贵金属合金组分。在质量管控和来料检验中，需要确保产品或零部件完全满足材料设计规范。如在太阳能光伏电池产业中，光伏薄膜的成分组成和厚度大小决定了光伏电池的效率。在电镀行业中，则需要测量大批量部件的厚度。对于电子产品的生产者和采购者，检验产品是否符合《限制在电子电气产品中使用有害物质的指令》（ROHS指令）也是十分关键的。在玩具工业中，也需要有可靠的有害物质检测手段对于以上测量应用，菲希尔的FISCHERSCOPE X-射线光变仪都能完美胜任。X射线荧光镀层测厚仪，材料分析仪也可测量金属元素的等。我司除了X射线荧光测厚仪还有元素分析仪，金镍厚度测量仪，孔铜测厚仪，面铜测厚仪，涂镀层测厚仪，台式涂层镀层测厚仪，铜箔测厚仪，绿油测厚仪，油墨测厚仪，各领域的测厚仪。

K-8000手持式合金分析仪 X射线荧光光谱仪 / 不锈钢合金分析仪 / 手持式合金测试仪 / 手持式铝合金检测仪 / 手持式金属检测仪 / 手持式X荧光分析仪 / 手持式金属元素分析仪 / 手持式钢材钢板合金分析仪 / 手持式合金钢分析仪 / 手持式合金分析光谱仪 / 国产手持式光谱仪厂家 / 国产手持式合金分析仪厂家仪器设计特点：1、散热性好：超过2/3的机体采用铝合金外壳设计，仪器顶部有的槽式散热装置，整个体系使散热非常有效，延长机器寿命, X射线分析仪工作更加更稳定，从而故障率极低。2、操作简单：仪器设计理念为简单经济原则，硬件方面采用固定高压、免去内部复杂电机和滤光片、外置316校准片等简单设计；软件采用傻瓜式操作界面。真正让客户用最少的成本获得更多的收益。轻轻3次屏幕点击即可做到45秒开机测试、0.8秒出牌号与含量；3、人性化设计：质量轻（1.6kg) 体积小（220mm*150mm*220) 坚固耐用防摔手腕绳；仪器底部电池电量反馈灯；顶部与底部辐射警告闪烁灯；菱形纹路软胶手柄；仪器具有很好的平衡性，在测试时能立于工作台上，无需手扶，一键式按钮设计，即使长时间操作也无疲劳感；显示屏做到整机一体化设计，整机连体构造，PDA不可拆卸,可防尘,防雾,防水,故障低工业级高分辨率TFT触摸显示彩屏。4、测试数据精准：仪器软件采用成熟先进FP基本参数法，在分析合金前不需要预先知道合金种类，实现全自动分析标准库中有500多种标准牌号，能分析的合金高达万种，用户可自定义300种；不规则或小型样品的补偿性测试方法能检测很小或很少的样品,如直径为0.04mm的细丝也能立即辨认；产品参数：重量净重1.50kg,上电池后1.65kg尺寸250mm*75mm*270mm(长*宽*高)激发源微型X射线光管与高压电源一体化装置标配:35KV固定高压、钨靶X射线光管、铝滤光片、无电机标配:50KV可变高压、铑靶X射线光管、6组滤光片、瑞士电机检测器标配:SI-PIN检测器(6mm2)，分辨率s190ev选配:SDD检测器(25mm² ) 分辨率≤129ev仪器电源可充电锂电池(7.2V\6600mAh) 标配2个电池1个充电器标准片KMX 316不锈钢校准片数据存储32GB大容量数据存储卡，可存储8万组数据及光谱图数据传输Type-C数据传输测试报告客户自定义格式EXCEL测试报表分析软件K-MAX Ally plus6.0,免费升级迭代软件仪器操作与安全仪器操作与安全操作:无需选择测试曲线开机即可测，一触式“扳机”或点击触摸屏“开始/停止” 安全:“一键式”检测,软件自动定时锁、自动停止测试功能 仪器外壳采用大面积铝合金框架设计，更好地屏蔽X射线辐射.分析元素范围标配Si-PIN探测器:(29种元素)钛 (Ti)、钒 (V)、铬(Cr)、锰(Mn)、铁(Fe)、钴(Co)、镍(Ni)、铜(Cu)、锌(Zn)、铪(Hf)、钽(Ta)、钨 (W)、铅(Pb)、铋(Bi)、锆(Zr)、铌(Nb)、钼 (Mo)、镉(cd)、锡 (Sn)、锑(Sb)、铼（Re)、铟 (In)、金 (Au)、银（Ag ）、铂(Pt)、钯(Pd)、钌(Ru)、铑 (Rh)、铱 (lr) 元素 选配SDD探测器:(34种元素)分析元素范围镁(Mg)、铝 (Al)、硅(Si)、硫(S)、磷 (P)、钛(Ti)、钒 (V)、铬(Cr)、锰(Mn)、铁 (Fe) 、钴(Co)、镍(Ni)、铜(Cu)、锌(Zn)、铪(Hf) 、钽(Ta)、钨(W)、铅(Pb)、铋 (Bi)、锆(Zr)、铌(Nb)、钼(Mo)、镉(Cd)、锡 (Sn)、锑(Sb)、铼 (Re)、铟 (ln)、金(Au)、银(Ag)、铂(Pt) 、钯(Pd)、钌(Ru)、铑(Rh) 、铱 (lr)元素

高精度X射线荧光元素分析仪粮食重金属PRODUCT INFORMATION产品介绍◆ 为实现粮食中微量重金属有害元素的快速检测，XR700对设备进行了特殊的结构优化，结合先进的探测器和激发源等硬件配置将镉元素提升到先进的分析水平。◆ 不同于传统国产设备，佳谱科技采用低功率X射线管，使用独特的滤光技术，获得更加出色的检测精度，大米中镉检测下限可到0.02mg/kg。同时低功率的使用环境，带来产品的低故障率，降低产品维修成本与周期。◆ 产品重量轻，体积小，可以携带到现场快速检测，节省时间，提高效率。◆ 目前本产品可用于稻米、谷物、小麦等作物中的镉（Cd）、铅（Pb）、汞（Hg）、砷（As）、硒(Se）的快速无损检测，其检出限最低可达0.02mg/kg。◆ 2-3分钟快速筛查，5分钟对样品准确测量。◆ 辐射安全：射线防护优于国标《X射线衍射仪和荧光分析仪卫生防护标准GBZ115-2002》,符合国家辐射豁免要求。 无论在实验室还是户外场合，XR700粮食重金属分析仪都可以进行快速、方便。产品特点◆ 设备PDA与仪器主机一体嵌入式不可拆卸设计，使用可靠；◆ 采用独立风道散热方式，避免长时间的工作，导致元件温度升高进而导致数据偏差；◆ 独特的侧面进样，防止样品的泄漏，避免了频繁的更换窗口防护膜。◆ 独特的样品杯设计，将进样与采样简单化，进样量少，简化现场制样流程。◆ 独特的光路设计及软件算法，大幅提高检测精度、减少测试误差，使便携式仪器具有高端台式机的分析性能，分析性能远超常规台式机。◆ 采用嵌入式系统，高分辨率液晶显示触摸屏，结合数字多道技术，有效提升数据传输和运算能力。◆ 数据导出专业、全面、可进行Excel编辑。◆ 强大的数据存储能力，能够连续存储至少10000次检测记录。◆ 支持蓝牙打印功能。◆ 支持4G、5G远程数据传输。技术参数工作条件电源 110V至240 V，50/60 赫兹；12VDC-8A；电源交直流两用温度 -5C至50℃技术性能指标曲线 大米、小麦、玉米等粮食曲线功率 50kV，1mA探测器 Fast SDD硅漂移探测器重量 9.5KG冷却系统 带风扇冷却功能进样方式 采用样品侧面进样方式，降低探测器铍窗损坏和被污染风险晶体 DCC晶体实现激发X射线单色化处理器 　1.2GB四核处理器 64位、1GB RAM语言 中/英文语言切换分析模式 配备不同分析模式（30秒-900秒），以满足不同的分析应用需求分析元素 Cd、Pb、As等有害重金属元素传输方式 支持网口、USB等数据传输方式粮食 典型元素检出限：镉0.02mg/kg

高精度X射线荧光元素分析仪粮食重金属PRODUCT INFORMATION产品介绍◆ 为实现粮食中微量重金属有害元素的快速检测，XR101对设备进行了特殊的结构优化，结合先进的探测器和激发源等硬件配置将镉元素提升到先进的分析水平。◆ 不同于传统国产设备，佳谱科技采用低功率X射线管，使用独特的滤光技术，获得更加出色的检测精度，大米中镉检测下限可到0.03mg/kg。同时低功率的使用环境，带来产品的低故障率，降低产品维修成本与周期。◆ 产品重量轻，体积小，可以携带到现场快速检测，节省时间，提高效率。◆ 目前本产品可用于稻米、谷物等作物中的镉（Cd）、铅（Pb）、汞（Hg）、砷（As）、硒(Se）的快速无损检测，其检出限最低可达0.03mg/kg。◆ 2-3分钟快速筛查，5分钟对样品准确测量。◆ 辐射安全：射线防护优于国标《X射线衍射仪和荧光分析仪卫生防护标准GBZ115-2002》,符合国家辐射豁免要求。 无论在实验室还是户外场合，XR101粮食重金属分析仪都可以进行快速、方便。产品特点◆ 设备PDA与仪器主机一体嵌入式不可拆卸设计，使用可靠；◆ 采用独立风道散热方式，避免长时间的工作，导致元件温度升高进而导致数据偏差；◆ 独特的侧面进样，防止样品的泄漏，避免了频繁的更换窗口防护膜。◆ 独特的样品杯设计，将进样与采样简单化，进样量少，简化现场制样流程。◆ 独特的光路设计及软件算法，大幅提高检测精度、减少测试误差，使便携式仪器具有高端台式机的分析性能，分析性能远超常规台式机。◆ 采用嵌入式系统，高分辨率液晶显示触摸屏，结合数字多道技术，有效提升数据传输和运算能力。◆ 数据导出专业、全面、可进行Excel编辑。◆ 强大的数据存储能力，能够连续存储至少10000次检测记录。◆ 支持蓝牙打印功能。◆ 支持4G、5G远程数据传输。技术参数工作条件电源 110V至240 V，50/60 赫兹；12VDC-8A；电源交直流两用温度 -5C至50℃技术性能指标曲线 大米、小麦、玉米等粮食曲线功率 50kV，1mA探测器 Fast SDD硅漂移探测器重量 11KG冷却系统 带风扇冷却功能进样方式 采用样品侧面进样方式，降低探测器铍窗损坏和被污染风险处理器 1.2GB四核处理器 64位、1GB RAM语言 中/英文语言切换分析模式 配备不同分析模式（30秒-900秒），以满足不同的分析应用需求分析元素 Cd、Pb、As等有害重金属元素传输方式 支持网口、USB等数据传输方式粮食 典型元素检出限：镉0.03mg/kg

高精度X射线荧光元素分析仪食品、药品、植物、 地下水、地表水以及工业污水中重金属PRODUCT INFORMATION产品介绍◆ 仪器原理：单色聚焦X射线荧光光谱法。其检测原理被当前2020中国药典中药材重金属检测方法收录。◆ 具有双曲面弯晶单色聚焦技术和先进的FP软件算法，实现了准确定性定量，检出限远优于同类产品。◆ 适用于As、Ba、Cd、Co、Cr、Cu、Fe、Hg、Mn、Ni、Pb、Pd、Sb、Se、Sn、Ti、Tl、V、Zn等40余种元素快速检测。◆ 食品、药品、植物、 地下水、地表水以及工业污水中重金属的检测产品特点样品分析：固体粉末、糊状颗粒和液体等。◆ 只需研磨粉碎，无需高温强酸消解；◆ 适用浓度范围宽，从20μg/kg至100％均适用；◆ 在某些元素性能方面定量准确度和定性检出限与实验室台式氢火焰原子吸收相当；◆ 分析成本低，无需任何可燃气、助燃气或氩气等消耗；◆ 对固体、粉末、液体能做到现场1-3分钟内同时实现几十种元素的分析，是野外工作者很好的分析工具；◆ 无损非破坏性检测。检出限技术参数合规性 GB2762-2017测量范围 30-1200秒元素范围Ａｌ-Ｕ之间的40种元素数据存储及输出 打印输出、以太网、USB、内部存储器、U盘I/O端口 以太网10/100、USB电源 　110-240VAC±10％、50-60Ｈｚ工作温度和湿度 -5℃-50℃、30-85％重量 　　　9ｋｇ尺寸 　30ｃｍW*23ｃｍL*26ｃｍH

用途：X-MET8000系列手持式X射线荧光分析仪，操作灵活简单，是各个行业元素分析的理想工具。基于行业认可的能量色散X射线荧光（EDXRF）技术，X-MET8000 系列性能强大、可靠性高，只需要一个按键就能保证快速、无损材料分析。 应用广泛：废旧金属分拣，材料可靠性鉴定，无损金属检测，矿物勘探，符合性检测，土壤分析等。 测量原理：X射线是指波长为0.001-50nm的电磁辐射，由于X射线的能量较高，原子的内层电子吸收X射线的能量后会激发成为自由电子。然后，外层的电子会填补内层电子的空位，这就是电子迁跃，电子跃迁的同时会放射X射线荧光。电子跃迁的能量等于两电子能级之间的能量差，因此，X射线荧光的能量或波长是具有特征性的，与元素有一一对应的关系。只要测出荧光X射线的波长，就可以知道元素的种类。此外，荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此可以进行元素的定量分析。 特点： “一键”分析：操作简单，只需简单培训 大图标触摸屏界面易于操作，尺寸大的彩色触摸屏，采用图标操作的用户界面在任何天气条件下都能呈现很好的可视度 简单强大的安全数据下载系统，灵活的报告导出格式，并具有wifi功能 强大数据下载功能，灵活的报告格式 经久耐用的设计 广泛的金属牌号库 快速准确的分析 长达10-12小时的电池量，充电一次可以使用一整天 技术规格：探测器采用硅漂移(SDD)高分辨率探测器，分辨率优于150eV靶材采用Rh靶材X射线光管，电压40KV，电流50uA测试窗口9毫米重量1.5公斤（含电池）认证CE防护通过IP54（NAME3）防水防尘测试，提供SGS认证书工作温度-10~+50℃供电电池持续使用时间10~12小时，110/230V，50/60HZ直流电源充电器显示屏4.3英寸Ban view Anti 彩色防反光触摸屏操作系统采用更稳定简洁的Linux操作系统，用户可建立数据库操作语言提供两块可充电可显示电量的锂电池，可12种语言操作界面包括：英文、简体和繁体中文、韩语、日语、德语、法语、波兰语、意大利语、西班牙语、葡萄牙语和俄语通讯可通过USB传输数据，无需特殊软件在浏览器页面即可运行设备 也可通过U盘导出数据和谱图并提供专用U盘；或使用wifi或蓝牙在线网络共享报告编辑器报告编辑器用于生成客户自定义模板和报告。检测结果和报告可生成CSV格式或防篡改PDF格式，确保原始数据的安全性测试方法提供土壤样品基本参数法（FP法）：可测试土壤及矿物样品中的 Ag， As， Au， Ba， Ca， Cd， Cr， Co， Cu， Fe， Hg， K， Mn， Mo， Ni， Pb， Pt， Rb， Se， Sr， Sn， Sb， Ta， Th， Ti， Tl， V， W， Zn， Zr Br.等28种元素；提供由中国国标GSS土壤标样校准的符合中国土壤样品测试的检量线法，符合EPA 6200方法要求

SH407B X荧光射线硫分析仪采用能量色散原理,机电一体微机化设计,分析快速、准确。其重复性、再现性都符合国家标准GB/T 17040-2008《石油产品硫含量测定法（能量色散X射线荧光光谱法）》和GB/T 11140-1989《石油产品硫含量测定法（X射线光谱法）》GB/T17606 原油中硫含量的测定 能量色散X-射线荧光光谱法的相关要求,同时完全符合美国国家标准ASTMD4294-02的要求。 SH407B荧光硫分析仪主要测量原油、石油、重油、柴油、煤油、汽油、石脑油的总硫质量百分比含量，也可测量煤化工产品（例如初级苯）、其它液体样品中总硫或硫化合物含量；还可细粉末样品中总硫或SO3含量的测定等等.符合GB/T17606。 X荧光射线硫分析仪SH407B石油产品测硫仪 主要技术特点● 采用进口SDD探测器，分辨率小于125eV，计数率最高2000kcps；● 30W微焦斑薄铍窗X射线管；● WISMAN 30W X射线管精密高压电源，高压稳定度每8小时波动值小于0.05%；● 8寸宽视角电容触摸屏（1024*768）显示,背光亮度可通过软件设置，无需键盘，界面简洁美观 ● 检测品种广,检测量程宽,分析速度快,无需化学试剂 ● 采用荧光强度比率分析方法, 温度、气压自动修正 ● 仪器的自动诊断功能,判断仪器的工作状态和电气参数 ● 封闭式定向风冷散热，保证X射线管工作温度稳定，延长使用寿命；● 优化光路设计，软、硬件可靠性进一步提升；● 数据存储量大,方便用户读取数据；X射线屏蔽设计和高分子材料及安全联动装置有效保证辐射安全。主要技术参数及指标● 测量范围: 硫0.0005%～5% (5ppm-50000ppm)● 测量时间: 120-240秒 ● 单样品自动测量,测量重复次数: 1、2、3次任意设定,测量结束给出平均值和标准偏差 ● 重复性(r):＜0.4347 X0.6446 (X=两个重复试验结果的平均值) ● 再现性(R):＜1.9182 X0.6446 (X=两个单一、独立试验结果的平均值) ● 样品量:5ml～6ml ● 仪器可存储10条标定曲线 ● 工作条件: 温度:10～30℃ 相对湿度:≤85%（30℃） 电源:AC100-220V/50Hz；额定功率:≤50W ● 尺寸和重量: 460*260*260mm3 重量：11kg。● 仪器包装尺寸 340*545*345mm3 纸箱包装重量：11kg● 标配配件包装 550*135*335 mm3 重量：3kg 装 箱 清 单序 号名 称数 量单 位1X荧光油品硫分析仪主机1台2三芯电源线1根3样品杯200套4样品杯膜2盒（100张/盒）5防漏油部件(二件一套)1套6多功能压件(二件一套)1套7打印纸2个8标定（校准）标准样品1套

便携式X射线荧光光谱分析仪New! TRACER 5i布鲁克发布了新一代手持式XRF元素分析仪系统TRACER。新的TRACER 5i重新配置，更强大、灵活和适用于各种场合，同时保留的TRACER是公认的独特的特点和综合分析软件。布鲁克的新TRACER 5i集*了强大、功能、精度和准确性，提供更加灵活的现场元素分析性能，适用性更加广*:从日常的point-and-shoot简单直接测量，到复杂的、具有挑战性和先进性的应用和研究。新的TRACER 5i保留其特有的可以运用空气、真空或氨气保护光束路径的特点，同时用户可以自由地选择工作功率、过滤器、准直器和气氛，伴随其强大的综合数据分析能力以及极低的检测限LOD，可以在现场提供更快更准的分析，特别是轻元素如钠元素。新的分析软件保留了TRACER综合分析软件功能，特别适用于研究复杂的材料。而*新的EasyCal软件为用户提供一个更简化的工作流程，利用相关标准材料来建立新的定量工作线或者校准已有的工作线。技术特点及其优势:TRACER 5i是手持式XRF外观设计，适合各种场所，同时，又有强大的分析软件，具有完备的实验室级别XRF分析仪的强大功能和准确性。光斑用户可调:有3mm和8mm两种，用户可以自行更换。 优良的光束品质:专有的SharpBeam 光束优化专利技术，保证在低功率下也有优良表现 Bruker设备的光斑 其它家产品的光斑具有NASA专利技术的真空泵，可以在设备内部，测量的光路区域形成真空，提升设备对轻质元素如Na、Mg、AI等的灵敏度，特别适合测量玻璃、陶瓷等材质:由于真空是在设备内部的，并不会对被测物体造成不必要的伤害，如出土的丝绸、纸张等材质。真空泵上有真空度显示，方便用户识别。素检测范围从Na(11)-U(92)特定条件下可侦测到F(9)(是市售*灵敏之便携式XRF分析仪)。TRACER 5i专门优化设计了气体流动通道-可提供氨气(He)吹拂,或搭配其它气体来协助分析。强大，灵活，互动便携式X射线荧光光谱分析仪控制的多样性:可以使用设备内建的PDA界面控制，也可以使用PC或者平板电脑连接控制。无线遥控触发测试功能 (可搭配平板或是计算机):既可以使用USB连线设备，也可以使用WiFi或蓝牙无线遥控设备 无线遥控，令TRACER 5i的使用更加方便、更加灵活。全新的、更大、更先进的探测器:TRACER 5i使用的是40mm2的硅漂移探测器SDD，其能量分辨率140eV@250,000cps@Mn Ka，是同类产品中*新进的。内部集成CMOS相机，可以帮助观察、定位测量区域 而且具有连拍功能，单次激发*多可以5张照片。专业的ARTAX软件，可以实现实时光谱分析就是在测量时就可以通过电脑或平板实时看到光谱。此项功能可以帮助用户快速筛选样品或者做出判断。而且界面与Bruker专业的合式XRF界面一致。测量参数的开放性：X射线光管的工作电压和电流可调:针对高*用户或者特殊应用，用户可以非常容易地优化测量条件 操作人员可以对X光荧光仪的电压和电流在6千伏至50千伏，5微安至200微安范围内进行调节； 自动与手动滤波器共存结构- 可随时手动更换滤片:原厂高达百种滤片可供选购, 应对对客户不同应用 用户也可以针对自己的需求，自制滤片。滤片组分、可设置的的X光管工作电压、电流参数 这些都是科研工作与论文，需要记录的重要实验参数。建立/修正软件 - 提供更完善的自建数据库分析功能：Bruker独有的EasyCal软件，可以帮助用户制作或者修改已有的检量线Calibration 用户可以把自己的标样数据加入到已有的检量线Calibration中也可以根据自己的研究对象，制作独有的检量线Calibration。具有无标定量( FP算法] 和经验系数法，用于定量计算。强大的指纹数据库软件ARTAX:用于控制硬件功能，实现光谱采集和存储 元素自动识别，峰解谱功能，用于光谱分析:背景归一以及峰净面积计算；强大的定性分析、半定量和定量计算功能 专业的报告和数据输出功能 同时显示200条光谱 可以创建400万条光谱的数据库 独有的匹配筛选功能，可以在库软件中筛选出相似谱线。市售专*原厂备有专门针对古物/艺术/考古学专*的检量线Calibration,超过二十种标准检量线可供选购:由于TRACER的客户中，有一些是业内专家，所以他们可以提供非常专业的标样供TRACER来做定量工作线，如美国盖蒂博物馆(Getty)的青铜标样，康宁玻璃博物(Corning)的玻璃标样等。有专门的考古研究的专著介绍不同的研究对象Studies in Archaeological Sciences-HandheldXRF for Art and Archaeology》。

商品说明 工业生产过程中的品质控制，高压隔离开关触头镀银层检测仪，铜镀银，镀锡等厚度快速测试，同时满足金属成分的元素分析。K8000T镀层厚度分析仪专业无损检测作为生产过程中的品质控制与管理，确保材料品质；船舶制造、航空航天等高技术行业中合金成分的识别，从而保障产品质量与安全；电力电站等有关国计民生行业中，鉴定设备零部件成分是否达标，保证设备安全。 隔离开关触头作为高压配电设备中的重要电子电力器件，其中隔离开关触头上的镀银层，有耐磨耐腐蚀的性，能降低接触电阻，需如果用不镀银的铜触头，铜触头经过氧化后电阻会明显增加，就会产生电弧烧蚀触点的可能，而使用铜镀银触头就可以大大减少电弧烧蚀触点的可能。所以按照国家电网公司“关于高压隔离开关订货的有关规定”的要求，高压隔离开关主触头：镀银层厚度应不小于20um，一般触头镀银层厚度应不小于8um，硬度应不小于120韦氏。高压隔离开关主触头镀银层也是验收设备的重要指标之一。 而对于电镀厂家来说，电镀镀银的成本里多的就是贵金属银的使用量，所以镀层越厚，对电镀厂家的成本越高，所以一部分不良电镀厂家，就对电镀镀银厚度采用以次充好，以薄充厚，严重影响了高压配电设备的验收工作，甚至使的一部分高压配电设备厂家被国网一而再，再而三的被通报不良产品，轻则被禁止半年到两年的国网系统招标资格，重则直接被国网招标拉入黑名单。目前，隔离开关触头镀银层厚度测量方法主要用手持X射线射线镀层厚度分析仪现场测试和X射线台式镀层测厚仪测试。 隔离开关触头镀银层测厚仪，是一种X射线光谱仪，通过X射线对对银层的照射后然后的X荧光，可以分析检测出开关触头上镀银层厚度的仪器，仪器分为手持式和台式两种，都可以快速、无损的通过照射几十秒就可以测出镀银层的厚度，方便、快捷是电力设备生产厂家和电镀及表面处理企业对产品镀层厚度检测的重要仪器。 K8000T镀层厚度分析仪手持式镀层测厚分析仪配有专门针对镀层厚度分析的专业应用软件，具有智能化、高灵敏度、测试时间短、自动判断是否超标、操作简易、可实现边测边打功能等特点。全新的智能软件，一键智能操作检测合金成分和镀层厚度； K8000T镀层厚度分析仪合金分析仪也可快速检测并鉴别出各种金属的种类、含量以及杂质成分；能快速检测并鉴别出各种高低合金钢、不锈钢、工具钢、铬/钼钢、镍合金、钴合金、镍/钴耐热合金、钛合金等各种金属的牌号及元素含量；仪器预装多基体标准合金库，合金库中包括400余种合金牌号，用户也可自己建立合金牌号库。 功能如下：（1）智能识别基材种类的功能:立足于为用户快速实现投资回报，提高生产率，自动识别基材种类，无需手动选择样品类型，然后再测试；降低操作难度，节省测试时间，不管操作人员是否有经验，都可以在几秒钟内获得合金甚至是铝合金的牌号。（2）完善的合金数据库: K系列合金分析仪配有完善的合金数据库，标准牌号库包括500多种独特的合金牌号，用户可以轻易添加客户独特的元素和牌号。（3）检测范围广:无与伦比的轻元素分析功能，可以快速准确的分析常规金属元素Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Se, Y, Zr, Nb, Mo, W, Ta, Hf, Re, Au, Pb, Bi, Ru, Pd, Ag, Cd, Sn, Sb等。商品参数镀层厚度分析方法：能量色散X射线荧光分析方法测量镀层范围：0-50um检测镀层种类：铜镀银、铜镀锡分析精度：单层电镀相对误差不超过10%检测时间：15-20秒检测窗口：12mm合金测试元素范围：Ti，V，Cr，Mn，Fe，Co，Ni，Cu，Zn，Hf，Ta，W，Re，Pb，Bi，Zr，Nb，Mo，Cd，Sn，Sb等23元素仪器参数：1、激发源：大功率微型直板电子X射线管，激发电压为35kV；无高压电缆、无射频噪声、更好的X射线屏蔽、更好的散热。 固定电压35kV,电流100uA（美国Moxtek),标配Ag靶，无电机、1个滤光片2、探测器：Si-pin探测器(6 mm2 能量分辨率190eV FWHM)3、运算方法：KMX-FP无标样测试法4、标配1个电池

单色能量色散Ｘ射线荧光元素分析仪产品介绍： 单色能量色散Ｘ射线荧光元素分析仪能在更短的时间内检测更多的样品，能进行更为che底的分析 ， 提高现场修复土地和土地分级。适用浓度范围宽，从20μg/kg至100％均适用；食品、药品、植物、 地下水、地表水以及工业污水中重金属的检测；可快速准确定量分析土壤及农作物中镉等重金属元素。应用方向：可提供针对农作物中多种重金属污染物定量分析，可直接测量＞15种无机污染物， 是食品和农作物快检抽查工作的筛选综合工具；快速准确定量分析土壤及污水中镉等重金属元素以及快速准确定量分析污水中铅、砷、汞等重金属元素。适用于As、Ba、Cd、Co、Cr、Cu、Fe、Hg、Mn、Ni、Pb、Pd、Sb、Se、Sn、Ti、Tl、V、Zn等40余种元素快速检测；技术参数：测试时间（单位：S）：30s-1200s检测元素范围：Al-U之间的40种元素探测器：Fast SDD 探测器应用方向：食品、药品、水质、土壤等电源：110-240 VAC工作温度：-5℃-50℃重量：＜9 kg尺寸：30ｃｍW*23ｃｍL*26ｃｍH

高精度X射线荧光元素分析仪矿产重金属元素PRODUCT INFORMATION产品介绍◆ E-find仪器可以针对各种类型的矿物及矿物中多种元素进行高精度分析，可高效快速进行原料或矿样品质评价。◆ 对各种类型的矿物通过基本参数法对基体进行校正，且只需简单制样就可以得到高精度的测试结果，与实验室测试结果高度一致。◆ 快速分析矿物中铁、钙、铜、锰等金属元素和磷、硫、硅等非金属元素含量。◆ 针对材料中微量元素、主量元素进行准确定量分析；应用于不同形态的硫酸钴、硫酸锰、硫酸镍等样品分析，如液体、固体、粉末等。E-find型便携高精度X射线荧光矿物分析仪专门针对钢铁冶金行业的材料快速准确检测，例如矿石、炉渣、萤石、焦炭、石灰石、耐火材料等，对重点关注的铁、铜等具有非常优异的分析检测性能，适用于企业和工厂在矿物采选、物流、贸易、冶炼加工过程中的各个环节。产品特点◆ 采用独立风道散热方式，避免长时间的工作，导致元件温度升高进而导致数据偏差；◆ 进样与采样简单化，进样量少，简化现场制样流程。◆ 先进的单波长激发技术及软件算法，大幅提高检测精度、减少测试误差。◆ 体积小，方便室外工作，随时随地进行现场分析。◆ 采用嵌入式系统，高分辨率液晶显示触摸屏，结合数字多道技术，有效提升数据传输和运算能力。◆ 数据导出专业、全面、可进行Excel编辑。◆ 强大的数据存储能力，能够连续存储至少10000次检测记录。◆ 支持蓝牙打印功能。◆ 支持4G、5G远程数据传输。分析曲线图E-find在矿物中铁、硅、钙、铜等元素应用分析（单位：%）重复性测试技术参数测量方式 压片法、袋装分析、样品杯旋转分析等检材 固体、粉末、液体等测量方法高精度X射线荧光光谱法HDXRF测量范围 铁、锰、铜、锌、硅、磷等40余种元素工作曲线 矿产、食品、水质等曲线激发源 X射线管，50kV,1mA探测器 高性能Fast SDD 探测器光学系统 HDXRF技术构架下的单色聚焦系统测量时间 30秒-1200秒工作温度 -5 °C~50 °C电源 110-240 VAC，50-60 Hz重量 约13Kg尺寸 32.5ｃｍW*32.2ｃｍL*26ｃｍH

高精度X射线荧光元素分析仪土壤重金属元素PRODUCT INFORMATION产品介绍◆ 满足GB15618-2018中对土壤中重金属的筛查及管控要求，其中对镉的合规要求是0.3mg/kg,而E-max系列检测极限可以达到0.05mg/kg。◆ 现场快速对样品进行实验室级别的分析，比手持机操作安全性好，比传统台式机重量轻、便携性强。◆ 无论在实验室还是户外场合，E-max产品都可以进行快速、方便的操作，从而有助于用户根据现场分析结果立即采取对应措施。E-max系列重金属分析仪，是专为环保、农业部、监察执法、环境修复、第三方检测机构等相关部门开发的一款产品，采用单波长X射线荧光分析技术，其对环境土壤中的多种重金属有出色的分析性能，尤其是对镉元素有极为出色的灵敏度。产品特点◆ 设备PDA与仪器主机一体嵌入式不可拆卸设计，使用可靠；◆ 采用独立风道散热方式，避免长时间的工作，导致元件温度升高进而导致数据偏差；◆ 仪器在300s-600s以内即可对土壤中的将近40余种重金属进行定性定量分析；◆ 辐射安全防护功能：仪器通过辐射安全剂量认证，保证了设备使用的安全性。◆ 独特的侧面进样，防止样品的泄漏，避免了频繁的更换窗口防护膜。◆ 独特的样品杯设计，将进样与采样简单化，进样量少，简化现场制样流程。◆ 独特的光路设计，先进的单波长激发技术及软件算法，大幅提高检测精度、减少测试误差。◆ 采用嵌入式系统，高分辨率液晶显示触摸屏，结合数字多道技术，有效提升数据传输和运算能力。◆ 数据导出专业、全面、可进行Excel编辑。◆ 强大的数据存储能力，能够连续存储至少10000次检测记录。◆ 支持蓝牙打印功能。◆ 支持4G、5G远程数据传输重复性测试检出限技术参数测试时间 30秒-1200秒测量范围 AI-U数据存储及输出内部存储和U盘，USB和WiFi输出网络连接方式 有限网络或无线WiFi工作温度 -5 °C~50 °C工作湿度 ≤85%重量 小于9Kg尺寸 30ｃｍW*23ｃｍL*26ｃｍH

主要特点： . 准确测定黄金、铂金、银饰品中的金、银、铂、钯、铜、锌、镍、铱等元素含量，根据定义 给出符合国标 GB/T18043 要求的测试结果； . 自动识别样品类型，自动切换不同类型首饰样品的测试模式； . 仪器内置标准样品，具备自动校正功能，开机自动完成能量刻度、标准曲线校正、预热一系 列动作，免除人为操作带来的误差和错误； . 一键式测试操作，开启软件并放入样品后，按下一键即可完成测试获得结果，免除所有繁琐 复杂的手工设置和操作； . 具备高级自定义测试功能，开放各种参数调试调整，可建立自定义标准曲线，可保存或导入 导出自定义的数据库和测试模式。1.XRF6C能量射线荧光分析仪特点 （注）：X射线荧光（XRF）分析法是测定有初级X射线激发样品时所产生的二次特征X射线（X射线荧光），它是一种非破坏性分析方法，可以对试样进行多元素快速分析。先进多光束可调系统；高分辨率SDD 硅漂移探测器；快速定性分析；完善的辐射安全防护；RoHS/WEEE 指令元素快速分析； 内标法与基本参数法组成强大定量分析方法群； 内置各类标准样品曲线数据库。2.XRF6C能量射线荧光分析仪参数元素分析范围：AI-U 含量分析范围：1ppm~99.99%重复性：＜5%测量时间：一般60~300s 测量对象：块状物体、粉末、液体 激发功率：50W探测器分辨率：149gev输入电源：AC110V/220V 高压电源：0~50kv/0~1mAX射线辐射剂量：≤1Sv/h3.XRF6C能量射线荧光分析仪部分元素 在低数值中可检出代表性元素120s可检出限LOD(mg/kg)性能指标塑料基体CrBrCdHgPbLOD82445

仪器简介： 在工业及科研领域，经常需要对样品进行非破坏性的元素分析，同时对分析面积及灵敏度具有苛刻的要求，如RoHS分析，贵金属检测等。 黄金珠宝、牙科合金材料及其他稀有金属的分析要求高精度，非破坏性而且测量点小。德国斯派克分析仪器公司最新推出的SPECTRO MIDEX　X 射线荧光能谱仪正是满足了这一要求，可最迅速、准确地提供分析数据。根据市场要求，德国斯派克分析仪器公司对仪器进行了扩展而优化，使SPECTRO MIDEX 仪器在分析性能和使用灵活性方面独树一帜。 　　SPECTRO MIDEX 采用空冷、低能量X射线管和高分辨率的检测系统，集准直、聚焦、样品激发于一体，是功能强大的金属分析仪SPECTRO MIDEX　适合分析体积很小的稀有金属或面积较小的样品。样品室配有易于调节的样品台。通过20倍变焦摄像机可精确地确定测量位置。仪器配有计算机和专业化的软件，使操作极为简便。测量点直径为0.7mm,样品的总测量时间不超过100秒。在测定稀有金属合金中的金含量时,样品的测量精度为0.15%。SPECTRO MIDEX　也可满足快速分析的需要，在2分钟内可完成从铝到铀的所有数十种元素的分析。 　　SPECTRO MIDEX 不仅仅适用于珠宝行业、贵金属检验机构，海关商检、造币工业等，还可完成其它分析任务如：非破坏性检查，贵金属分选，电子线路及电气元件的分析等。技术参数：&bull 激发 - Mo 靶X光管 最大功率：30W,最大电压：48kV - 测量点尺寸 Midex SD: 1 mm, Midex LD: 1.2 mm 样品室 - 可显示样品的摄像系统(可调焦) - 手动调节样品台，样品定位简便 - 马达驱动精确移动的XYZ样品台， 最大行程240x178x160 mm/9.4x7.0x5.3&rsquo &rsquo (宽x深x高)， 最大样品重量：3kg/6.6 lbs 计算机 - 外置式计算机系统，Windows 操作系统， - 键盘，鼠标，显示器，打印机 - 菜单式软件，光谱仪参数调整和 数据评估及计算，元素成分及分布显示 检测器 - Peltier 冷却的Si 漂移检测器: Midex SD: 10 mm2, Midex LD: 30 mm2 - 以Mn K&alpha 线，在测量计数率为 10，000脉冲计数时， 能量分辨率：FWHM 160 eV - 微处理器控制的检测器和读出电路 - 脉冲计数率可达250，000 cps 光谱仪数据 - 电压：95-120V/200-240V,50/60 Hz, - 光谱仪能耗：200W - 仪器尺寸 宽x 深 x 高，单位mm 580x670x740 mm/22.8x26.4x29.1&rdquo - 底座尺寸宽x 深:500x550 mm/19.7x21.6 &rdquo - 重量55-70kg/121.3-154.3 lbs,根据不同配置 分析 - 用于合金元素分析的基本参数程序FP + - 塑料及复合材料的RoHS指令检测 环境条件 - 周围环境温度：5-30° C （41-85° F） 在20-25° C （68-77° F）下，可达到标定仪器性能 - 在 25° C (77° F)下相对湿度: 10-80 %，无冷凝，无蒸气腐蚀，防尘主要特点： SPECTRO MIDEX X射线荧光能谱仪是最新推出的第三代专利产品，不仅可对样品的微小区域进行快速无损的检定，还可对超大样品的表面（面积可达EC标准线路板规格的2倍， 233x160 mm）进行元素分布分析。 1 超大样品室● 长：520 mm(20.5 '')● 宽：310mm(12'') 2 微聚焦分析，不需要破坏 3 自由样品台. &bull 创新点 &bull 1.附带FP实际金属、贵金属、RoHS分析、无卤化塑胶回归的检测曲线，集多种应用于一身。该曲线采用大量金属及贵金属标准样品绘制，代表性强，实用性强，准确度高。分析数据可同时显示K金值及含量。 2.采用高分辨，高计数率，电制冷的SDD检测器，实际分辨率160eV，计数率高达250,000cps，非常适合高含量样品的分析。该计数器具有先进性及维护简单，无需繁琐而危险的液氮添加过程。 3.激光配合CCD摄像机双定位，样品分析点可视，可调。定位精度高。分析点的照片可截屏，出具报告时可以粘贴在报告中。 4.分析速度快，可在180秒内完成各类样品的分析任务 5.可选配狭缝交换器，测试点的尺寸可调，由0.2毫米至3.3毫米。可同时分析同一样品的各个部分，一般分析点的尺寸为1毫米。 6.可选配XYZ微米级精度全自动样品台，完成点，线，面扫描。一次测量过程可同时分别完成多个样品的分析。 7.超大样品室，可完成超大样品的分析，样品的尺寸可以达到300*200*150mm（长*宽*高）。同时可完成超小样品1mm样品的分析

分析原理 能量色散X射线荧光分析法 分析元素 Si～U(Cd/Pb高精度型)Na～U(φ1.2 mm/φ3 mm切换方式型) 检出下限(Cd/Pd) Cd≦2 ppm, Pb≦5 ppm Cl≦50ppm 样品形状 最大460×360 mm(高150 mm) 样品室气氛 大气 X射线管 靶材 Rh 管电压 最大50 kV 管电流 最大1 mA X射线照射径 Φ3 mm(同时搭载：φ1.2mm ) 检测器 高纯硅检测器 XEROPHY 液氮罐容量 3升 液氮消耗量 每日1升以下(不开机时不用) 光学图像观察 倍率 50倍(X射线同轴) 软件 定性分析：自动定性或手动定性 定量分析：检量线法照射直径3mm时基础参数法 (1)标准法 (2)1点校正 用户设定功能 可以按照用户事先编好的条件，按照程序自动进行分析和定量分析 计算机 CPU Pentium IV 1.8 GHz 以上 内存 1GB 以上 硬盘 120 GB 以上 OS Windows XP 监视器 17寸 CRT(任选：17寸 LED) 打印机 彩色喷墨打印机 周围温度 10～35 ℃(性能温度)/ 5～40 ℃(动作温度) 周围湿度 5～31 ℃时温度范围：最大相対湿度80 %以下31～40 ℃时温度范围：相対湿度50 %以下 电源 AC 100 V、120 V、220 V、240 V ±10 %、50/60 Hz 消耗电力 1.3 kVA 以下(含计算机、CRT、打印机) 设备重量 约 265 kg(不含桌子、计算机) 外形尺寸 分析单元 610(W)×750(D)×500(H)mm 信号处理单元 220(W)×500(D)×480(H)mm

产品名称：CIT-3000SYB能量色散X荧光分析仪 产品说明、技术参数及配置 CIT-3000SYB 能量色散X荧光分析仪，是公司专门应对欧盟ROHS、WEEE指令和卤素测试要求而量身定做的一款高灵敏度、高精度的分析测试设备。 适用范围 适用于电子产品、工具、玩具等RoHS/WEEE有害元素（Pb、Hg、Br、Cd、Cr）和卤素检测； 型号：CIT-3000SYB 性能特点 采用数字化谱分析技术，计数率高，无漏计，稳定性好； 采用美国航天技术的Si (PIN)半导体探测器计数，配合专利的数字脉冲处理技术，能量分辨率优于150eV； 40KV-钨靶微型X射线管； 采用2048道多道分析器，分析精度更高； 一体化设计，性能稳定，运行可靠，性价比高；操作简单，测量时间短，同时配备PC机； 测量物质状态：固体、粉末、液体均可测，制样简单； 校正方式：采用欧盟RoHS标样校准数据。 技术指标 分析元素范围：Na-U 元素含量分析范围：1ppm -99.99% 探测器能量分辨率优于150eV 最低检出限：Cd/Cr/Hg/Br≤1ppm, Pb≤2ppm,Cl≤20PPm 校正方式：采用欧盟RoHS标样校准数据 测量范围：1－40KeV 高压：0kV-40kV 管流：0μA-100μA 专业的稳定电源：AC 220V±1%，50HZ（采用国内最先进的高品质稳压电源1000VA） 检测时间：120S～600S（时间随样品而调整） 圆形样品真空腔：直径14cm，高5cm； 工作环境温度：温度0-35℃；样品温度＜70℃ 工作环境相对湿度：≤99%（不结露） 额定功率：50W 仪器重量：25Kg 仪器尺寸：500（W）X500（D）X450（H）mm 仪器配置 仪器主机一台 进口电制冷半导体探测器 X光管（0-40KV） 高压电源 品牌计算机一台 激光打印机一台 真空泵一台 压片机一台 制样模具一套 稳压电源一台 测试软件一套

单波长色散X射线荧光光谱仪——超低氯分析仪DUBHE-1710 在汽油炼制及化工生产过程中，若进料中含有微量氯，对催化剂消耗以及产品质量有重大影响，故需对生产中的成品、半成品进行氯含量分析，为质量控制提供科学依据。 传统使用微库仑法分析油品中氯含量，微库仑原理是将样品注入到石英裂解管中，样品中被测组分在裂解管中转化成可滴定组分，由载气带入到滴定池与滴定剂反应，利用指示电极对感知滴定离子浓度的变化，指示电流信号经放大器放大去控制工作电极的电解电流，从而控制滴定剂的生成量，仪器测量出电解过程中消耗的电量，根据电解定律计算出被测组分的含量。 使用微库仑法，氯离子转化率受到采样电阻、增益、气体流量、加热炉炉温、进样速度等影响，任何硬件和分析条件的变化都造成结果的不确定，使用复杂，且气体与石英裂解管是常规消耗品，使用成本高。 单波长色散X射线荧光光谱仪是一种新型的X射线荧光光谱仪，其利用双曲面弯晶技术，使得被检测元素具有高选择性和高灵敏度。 DBUHE-1710对氯元素检出限达到0.1ppm，和微库仑法相当，但其不需要溶剂、无气体消耗，更无硬件消耗，具有其它方法无法比拟的稳定性和操作方便性。参数：最低检出限LLD：0.1ppm测量范围：0.1ppm--5%测量时间：60秒--300秒重复性：Sn-1≤0.2ppm（1ppm），0.5ppm（5ppm），2.5ppm（50ppm）产品特点： 灵敏：高选择性检测氯元素，检测限达到0.1PPM，是针对氯元素最灵敏的X射线荧光光谱仪 稳定：XFS（X-Ray Fixed System）专利技术，光路工厂精密调谐后，不再产生位移或偏差，最大限度的保证了仪器的长期稳定性 快速：单个样品准备时间小于10秒钟；单个样品分析时间最长300秒；开机10分钟内即可测试样品 经济：单个样品消耗小于4元/样品，无气体、溶剂等消耗 方便：使用ESP：Easy Sample Prepare装置，使得样品杯与膜成型变得简单；长时间使用无硬件更换；无需经常校正标准曲线 应用领域：原油中氯含量分析，汽油、柴油成品与半成品中氯含量分析，炼化企业生产质量控制。

XRF9能量色散X射线荧光分析仪n XRF9能量色散X射线荧光分析仪器是基于X射线荧光分析法对样品进行定性和定量分析、检测构成元素类别和含量的仪器。n XRF9可以无损分析块状固体、粉末、液体样品，广泛应用于质检、电子、医药、食品、冶金、化工、地矿、考古等领域的研究开发和品质管理。（注）：X射线荧光（XRF）分析法是测定有初级X射线激发样品时所产生的二次特征X射线（X射线荧光），它是一种非破坏性分析方法，可以对试样进行多元素快速分析。 产品特点n 先进的多光束可调系统n 具有高分辨率的探测器n 采用XYZ三维样品台n 大型样品分析室n CCD摄像及自动定位系统n 自动调节双层六通道滤光系统n 完善的辐射安全防护n 强大功能的软件操作系统n 短时间多元素同时分析n 无损分析和先进的薄样分析技术相组合n 多种定量分析方法n 无需液氮和水循环冷却n 种类齐全的选配标准样品n RoHS/WEEE指令快速分析 仪器配置n 外形尺寸：750（L）×590(W)×715(H)mm3n 样品室尺寸：400（L）×100(W)×100(H)mm3n 主机质量：约45Kgn 工作环境温度：0~40oCn 工作环境相对湿度：≤80%n 元素分析范围：AI-Un 含量分析范围：1ppm~99.99%n 重复性：＜5%n 测量时间：一般60~300sn 测量对象：块状物体、粉末、液体n 激发功率：50Wn 探测器分辨率：149gevn 输入电源：AC110V/220Vn 高压电源：0~50kv/0~1mAn X射线辐射剂量：≤1μSv/h代表性元素120s最低检出限LOD(mg/kg) 性能指标塑料基体CrBrCdHgPb LOD82 4 4 5

X射线荧光光谱仪FEDX-M810：一、技术规格：1.分析元素范围：Na(11)-U(92)2.含量分析范围：1ppm-99.999% 3.样品种类：颗粒、固体、液体、粉末等4.分析精度：标准偏差≤0.1%（国标标样）5.X射线源靶材：Ag靶6.滤光系统：6种(Cu、Al、Mo、Ti、Fe等组合)7.准直器：6mm、4mm、3mm、1mm、0.5mm可选。8.真空系统：配置真空系统，优化样品分析环境，提高镁铝硅磷硫等轻元素的分析精度。9.仪器外观：台机结构；内设防震降噪装置、射线外溢屏蔽装置和四道散热装置；坚固耐用；确保仪器安全可靠稳定运行。10.X射线防护：符合GBZ 115-2002《X射线衍射仪和荧光分析仪卫生防护标准》。二、核心硬件配置：1. 探测器1.1. 美国探测器Amptek FASTSDD/Peltier1.2. 分辨率≤130eV1.3. 输出计数率高至1000KCPS1.4. 峰化时间≤12.8μs1.5. 峰背比180002. X射线源2.1. 电压0-50KV、步进1KV连续可调2.2. 电流0-1000uA、步进1uV连续可调2.3. 最大功率50W3. 高压发生器3.1. 电压0 -50 KV3.2. 电流0-1000uA3.3. 最大功率50 W3.4. 8小时稳定性≤0.05%

EDXRF能量色散X射线荧光光谱分析仪产品概述能量色散X荧光光谱分析仪体积小、稳定性好、分析快速准确、运行成本低、操作维护方便、是控制产品质量的理想选择。可测定铅Pb、汞Hg、镉Cd、铬Cr、溴Br等元素。硅半导体探测器，通过智能激发和检测设计实现高灵敏度，用户可自定义多曲线多光谱拟和分析方法，适用于不同的应用场合。内容描述仪器型号EDX-6000能量色散X荧光光谱仪分析原理能量色散X射线荧光分析法分析元素范围Na(11)-U(92)任意元素检出下限Cd/Hg/Br/Cr/Pb≤2 ppm样品形状任意大小，任何不规则形状样品类型塑胶/金属/薄膜/粉末/液体等X射线管靶材钼（Mo）靶管电压5─50KV管电流1─1000ｕA样品照射直径2、5、8mm探测器美国进口Si-PIN探测器，高速脉冲高度分析系统高压发生器美国SPELLMAN高压发生器前置放大器美国进口前置放大器，与美国进口探测器兼容性好主放大器美国进口主放大器，与美国进口探测器兼容性好AD转换模块美国进口AD转换模块，与美国进口探测器兼容性好ADC2048道滤光片6种滤光片自动选择并自动转换样品观察130万彩色CCD摄像机分析软件专利软件产品 BX-V26版本，终身免费升级分析方法理论alpha系数法、基本参数法、经验系数法操作系统软件WINDOWS XP（正版）数据处理系统主机PC商务机型CPUP4 3.0内存512MB光驱8xDVD硬盘80G显示器17寸液晶显示器工作环境温度10－35С，湿度30－70％RH重量60Kg（主机部分）外形尺寸550（W）×450(D)×450(H)mm外部供电电源要求AC220±10%、50/60Hz测定条件大气环境测试样品时间100－300秒可调环境温度10℃-28℃环境湿度≤70 ％RH(25℃室温)应用领域EDXRF能量色散X射线荧光光谱分析仪应用于石化产品，塑料和聚合物，食品和化妆品，环境，矿石，医药，建筑材料，中心实验室成品检验，金属材料等。工作原理采用的是X射线荧光分析原理，受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。仪器结构融合经验系数法、基本参数法（FP法）等分析方法，测试数据的准确性能得到全面保证。经验系数法：仪器依据对标准样品的测定，确定影响系数。对标准样品要求高，需和待测样品类型相近，校正模型简单。基本参数法（FP法）：仪器根据实际检测物质，通过对多种物理量建模计算确定参数。对标准样品要求不高，计算较复杂，适合缺少对应标样的物质检测。软件功能1元素含量分析范围为2 PPm到99.99%2采用BG内标校正，提高非定性式样测量精度3用户自定义多曲线多光谱拟和分析方法4全自动定量分析报告 简捷准确5自适应初试化校正6光谱的自动获取和显示。7具有自动检测仪器工作状态的功能。8自动判别样品及自动分析。提供扩展接口，进一步作其他元素分析，从钙到铀元素。进口硬件1美国进口Si-PIN探测器，高速脉冲高度分析系统2美国SPELLMAN高压发生器3美国进口前置放大器，与美国进口探测器兼容性好4美国进口主放大器，与美国进口探测器兼容性好5美国进口AD转换模块，与美国进口探测器兼容性好

Ux-1000W小型多道X射线荧光光谱仪可配置Si、Al、Fe、Ca、Mg、S、K、Na、Cl-九通道，预留1个可增加通道位置，同时分析10种元素。标准配置Na、Mg、Al、Si、P、S、Cl、K、Ca、Fe十种元素及氧化物的分析，是大中型企业质量控制的理想选择。 具有远程诊断功能说明:我们软件集成了常用的DCS系统的通讯协议，如TCP/IP，OPC，ModBus，RS232/485等，可与工厂的配料系统的控制中心或PLC进行数据交换，即可向配料系统传送分析数据，也可传送配比数据。实现在线数据分析、在线质量监控。 应用领域：产品特点：1.1分钟即可完成准确测试，换样抽真空时间小于15秒 2.下照式X射线检测，彻底避免样品破碎造成的仪器故障，提高使用效率3.采用高精度流气密度稳定器4.标准配置Na、Mg、Al、Si、P、S、Cl、K、Ca、Fe十种元素及氧化物的分析 5.引入先进测试系统技术、测试的短期和长期稳定性极好 6.配备经验系数法、理论影响系数法、基本参数法等定量分析方法7.测试精度远优于GB/T176-2008对重现性的要求，轻松满足行业需求 性能指标典型白生料样品的实测分析精度（60S），高于GB/T176-2008对重现性的要求。氧化物SiO2Al2O3Fe2O3CaOMgONa2OK2OSO3Clˉ分析谱线Si:KaAl:KaFe:KaCa:KaMg:KaNa:KaK:KaS:KaCl:Ka□n-1≤0.030.020.010.0350.020.020.010.010.0007重现性(%)0.100.060.050.150.050.050.050.050.002GB/T176-2008 对重现性的要求（%）0.200.20.150.250.150.050.150.150.003 货期&价格请与客服咨询为准！谢谢！

Horiba X射线荧光分析仪可快速地测定电子部件中的有害元素的含量。它能对电子电器产品中所含有的有害物质如铅、汞、铬、镉、溴等元素进行快速而准确的分析。另外，通过CCD摄像头可以非常清晰的观察样品表面，选取所需要的测试点，操作简单。 Horiba X射线荧光分析仪技术参数： ★ Pb/Hg/Cd/Br检出下限2ppm, Cr检出下限5ppm ★ 使用1.2mm/3mm X射线导管专利技术（XGT）实现微小区域的高灵敏度分析 ★ 采用大型试样室（460X360X150㎜） ★ 试样为塑料、金属、纸、涂料、油漆等，并实现无损检测 ★ 可使用CCD照相机（50倍）指定试样的位置 （业内首家。X射线?光学同轴照射） ★ 测定可一键实现简单操作 ★ 自动元素干扰修正、厚度补偿 ★ 数据输出到EXCEL并可依据管理值实现自动判定功能

仪器简介：它是硫专用分析仪，能测定从灯油(低浓度)到重油(高浓度)的石油产品中含有的硫成分，以防止锅炉的腐蚀和废气造成大气污染。技术参数：测定原理:荧光X射线分析法 测定范围:0～5％ 重复精度:15ppm以内(1％的试样) C/H比误差:±50ppm以内(1％的试样) 检测下限:20ppm以下(标准偏差的3倍) 标准曲线根数:5(可以自动选择、手动设定) 标准曲线次数:1次或者2次(可以自动选择、手动设定) 校正:任意的标准试样(校正点数2～20) 试样容器:专用液体试样容器 试样量:4～10mL 测定时间:10、30、100、300、或者600秒 环境温度:5～40℃ 环境湿度:温度为5～31℃时，最大相对湿度80％RH；31℃～40℃时直线减少到50％RH 光谱测定:带光谱测定功能能量轴/0～10KeV 强度值轴:自动设定 外部输出:RC-232C输出、测定?自动校正?光谱测定时输出 电源:AC-100V～240V±10％、50/60Hz 消耗电力:80VA 外形尺寸:250(W)×407(D)×138(H)㎜ 质量: 8㎏ 注: 1wt ppm＝0.0001m/m％主要特点： *在测定中能进行试样的更换，能优先对紧急的试样进行测定。 *标准曲线最多能够存储5根，在测定时能够自动选择对应浓度范围的最佳标准曲线。 *重复精度15wt ppm、检测下限20wt ppm的高精度测定。

仪器简介：Simultix 14是理学公司最新奉献的多道同时分析式X射线荧光光谱仪，是材料分析与评价的好帮手。 Simultix 14是多道同时分析式荧光光谱仪，分析速度快，分析精度高。 Simultix 14可以同时最多分析40种元素。 可以对4Be到92U进行分析。 元素的检量范围从0.0001% ~ 100%。 可以分析材料的领域包括：钢铁、有色金属合金、水泥、化学工业、能源、农业、商品、环境保护等。主要特点：1、 最多可以同时分析40种元素，可以包括1个重元素扫描道、一个轻元素扫描道 2、 高灵敏度、高精度分析 新开发的分光器，高灵敏度、低背景 高计数电路设计，计数率是传统型仪器的2倍，进一步提高高含量区域的分析精度。 接触式样品定位装置，可以消除样品面的定位误差，确保测量数据的重复性。 3、 小型化、超高速 高速样品传送系统(理学专利) 小型化设计，占地面积仅1m2 4、 更加适合超轻元素分析 采用新开发的人工晶体，不仅提高了C、B的分析精度，而且使Be分析成为可能。对数螺旋方式的弯曲晶体，可以大型化加工，灵敏度高于其它弯曲方式 可以选用适合轻元素的X光管 采用APC自动真空控制机构，保证超轻元素分析的准确度(理学专利) 5、 确保分析精度 内置恒温化装置，可以保证内部温度不变 更迅速、更可靠的真空装置 X射线光闸，可以延长探测器的寿命 芯线清洗装置，仪器照常运转，根据计算机屏幕进行简单操作，即可准确有效地清洗芯线，保证计数器在最佳状态运行。 气体密度稳定器(GDS)，可使检测器的脉冲高度值保持稳定，对轻元素分析稳定性最为有效 6、 简单易懂、使用方便的软件系统 程序选择画面简单 运行状态显示 多任务、多窗口 自动组选择 定量分析 校正曲线的作成 背景校正 定性分析 7、 出色的保养维护功能 在荧光屏上显示仪器的状态 可以显示故障内容及排除方法 8、 标准8样品进样器ASC8，选件可以提供ASC20、ASC50、ASC100