射线荧光谱分析仪

精工电子纳米科技有限公司开发生产可在短时间内对微小区域中微量有害金属进行高灵敏度测量的能量色散型X射线荧光分析仪[SEA6000VX]于近期全新上市。 能量色散型X射线荧光分析仪 SEA6000VX　　X射线荧光分析仪，因其便捷的操作性和分析的快速性，在对应RoHS指令等环境管制中被大量导入到零件及产品的入库出货检查中。除了RoHS指令以外，随着ELV指令、玩具规范以及RPF*1等等的无铅化、无卤化标准的建立，可以预见对于测量环境管制物质的需求将会日益增加。但是，为了进一步提高测量的效率，并对应复杂的测量需求，现有机型已经很难对应线路板等复合部件中无法拆解的特定微小区域的测量，以及线路板整体有害物质的管理等的需求，因此开发了这款能够满足这些需要的最新机型。 　　[SEA6000VX]大幅提升了灵敏度，实现了对微小区域的高速测量。由于配备了本公司自行研发设计的无需液氮高计数率检测器Vortex及全新设计的X射线源，更是得到了比以往机型高出10倍以上的灵敏度。对于原先在5mm～10mm左右比较大的分析范围内进行的微量有害物质测量，现在即使在0.5mm～1.2mm左右的微小区域内也能以相同或者更短的时间进行测量。 　　通过提高测量微小区域的灵敏度以及搭载高速电动平台，实现高速二维扫描。例如，对100mm x 100mm的实装线路板的高速扫描中，仅需2分钟左右就能检测出其中亚毫米大小的共晶焊锡。如果增加扫描的次数，大约花30分钟左右的时间就可以检测出RoHS指令中的规定值为1,000ppm级的铅含量，从而可以判断整个实装线路板中是否符合无铅制程的规范。 　　此外，[SEA6000VX]还配备了决定测量位置观测的高清晰度宽视野光学系统，以及高精度的X-Y平台，进一步提高了操作的便利性及测量的稳定性。 　　精工电子纳米科技有限公司针对有害物质测量所开发生产的X射线荧光分析仪中，既有的下方照射方式的SEA1000A、SEA1200VX等，加上此次全新上市的上方照射型「SEA6000VX」，可广泛对应不同的测量对象。 　　【SEA6000VX的主要特点】 　　1. 高速扫描测量 　　通过结合了大幅提高的微小区域X射线荧光分析灵敏度和高速电动平台，能够快速获得二维扫描图像。特别是强化了对线路板中铅的扫描，配备了铅扫描专用滤波器。让1,000ppm以下无铅焊锡中的铅扫描变成简单可行。 　　2. 宽视野高清晰度光学系统 　　可获得250mm x 200mm的20μm以下高清晰度的光学影像。从该光学影像可以直接精确指定测量位置，让操作性得到飞跃般的改善。此外，该光学影像可以和通过高速扫描获得的扫描图像进行重叠，可在大范围内进行高精度分析。 　　3. 微小区域中微量金属的高速测量 　　实现了高密度微小X射线束以及配备的高计数率检测器，加上充分考虑到X射线荧光检测效率的设计，实现了高灵敏度化。微小区域中微量金属或薄膜都可在短时间内测量。即使是1mm x 1mm左右的微小区域也可以以100秒左右的速度测量其中的有害物质。 　　4. 无需液氮的高计数率检测器 　　作为标准配置本公司独有的无需液氮的高计数率检测器，省去了繁琐的液氮补给程序。仅需数分钟的开机时间，同时电子冷却的规格具备了优异的可信性。运用的技术可以减少在液氮制造、搬运时产生的二氧化碳，以及提高测量速度后节省下的电力等，是一款考虑到环保问题的先进仪器。 　　5. 微小区域的镀层厚度测量 　　可在十秒左右的时间完成对0.2mm x 0.2mm面积中Au/Ni/Cu(金/镍/铜)等薄膜多镀层的镀层厚度测量。此外，也可对无铅焊锡镀层或化学镍镀层中含有的微量铅进行分析。 　　【上市日期】 　　2008年6月17日 　　【后注】 　　*1 RPF 　　Refuse Paper & Plastic Fuel的简称。以难以再次回收利用的旧纸、废弃塑料等作为主要原料的固体燃料。

为了保证产晶质量，使用安全优质的原材料是必要条件，原材料的重要性不言而喻。但对利润最大化的追求使得原料供应商往往按照性能要求下限来提供原材料，更有甚者在未告知的情况下替换材料，导致生产过程中出现各种品质问题。因此，对来料的性能监控十分关键。本文结合红外光谱仪（FTIR）和能量色散型X射线荧光分析仪（EDX)对树脂成份进行了全面分析，通过有机和无机结合的方式达到了对来料进行成分鉴定的目的。 了解详情，敬请点击《使用岛津红外光谱仪（FTIR）和能量色散型X射线荧光分析仪（EDX）分析树脂原材料》 关于岛津 岛津企业管理（中国）有限公司是（株）岛津制作所于1999年100%出资，在中国设立的现地法人公司，在中国全境拥有13个分公司，事业规模不断扩大。其下设有北京、上海、广州、沈阳、成都分析中心，并拥有覆盖全国30个省的销售代理商网络以及60多个技术服务站，已构筑起为广大用户提供良好服务的完整体系。本公司以“为了人类和地球的健康”为经营理念，始终致力于为用户提供更加先进的产品和更加满意的服务，为中国社会的进步贡献力量。

关于举办《紫外可见分光光度计、原子吸收光谱仪、X射线荧光分析仪》学术交流会邀请函随着加入WTO与国际接轨，新的要求、新的标准给仪器应用带来了更广泛的领域，同时，随着科技的发展、市场的繁荣给分析工作带来了新的仪器、新的技术。为更进一步了解仪器的原理性能，使现有的资金——购置最适用的设备；使现有的设备——发挥最出色的作用，北京普析通用仪器有限责任公司特举办此交流会，并邀请专家授课。现将有关事宜通知如下：一、日期：2006年4月26日二、讲课内容及时间安排：l上午8：45－11：45介绍讲解 李昌厚教授专程主讲紫外可见分光光度计部分1．目前国内、外紫外可见分光光度计仪器及应用的最新进展。2．紫外可见分光光度计的主要性能指标（定义、测试方法、对分析误差的影响、应用上的重要性）。3．如何评价（挑选）紫外可见分光光度计使之适用于本职的分析工作。4．如何使用好紫外可见分光光度计的关键问题。l下午1：00－2：30介绍讲解 李昌厚教授专程主讲原子吸收分光光度计部分1．目前国内、外原子吸收分光光度计仪器及应用的最新进展。2．原子吸收光谱仪的主要性能指标（定义、测试方法、对分析误差的影响、应用上的重要性。）3．如何比较一台原子吸收光谱仪的功能，它给分析工作带来的优越性是什么？4．如何选择原子吸收光谱仪的最佳分析条件，及提高灵敏度的方法。l下午2：30－4：00介绍讲解 田宇纮教授专程主讲X射线荧光分析仪部分全反射X射线荧光(TXRF)分析技术是近年才发展起来的多元素同时分析技术。TXRF可以大大提高能量分辨率和灵敏度。该技术被誉为在分析领域是最具有竞争力的分析手段、在原子谱仪领域内处于领先地位。本讲座将要介绍的就是X射线荧光分析仪在材料分析中的应用技术与最新的发展情况。三、原吸紫外主讲人： 李昌厚教授中国分析仪器学会副理事长中国光学仪器学会　物理光学仪器专业委员会　副主任中国国家技术监督局　国家级计量认证评审员中国科学院上海生物工程研究中心仪器分析室主任、研究员、博士生导师：李昌厚教授专程主讲X射线荧光分析仪主讲人： 田宇纮教授中国科学院近代物理研究所 教授X射线荧光分析仪设计与制造 专家四、会议地点：唐山饭店 多功能厅唐山市建设南路46号(唐山市百货大楼对面)报名联系人：孟令红 田凤电话：13383059598 0311-86050158 五、本次研讨会免费听取，并提供中午工作餐。六、到场请认真填写《会议信息反馈表》，及时交到会务组，凭此领取礼品。七、为提高听课质量，敬请与会者在主讲人授课时间保持手机安静。八、乘车路线：唐山市火车站汽车站坐车到唐山市百货大楼对面。车程十五分钟。 注：具体讲课时间以4月26日当天的研讨会现场安排为准，如有变动不另行通知。北京普析通用仪器有限责任公司河北联络处 2006年4月12日 参　会　回　执单位全称：部门（科、室）：通讯地址：邮　　　　编：参会人数：电　　　　话：参会人员姓名：联 系 电 话：其他要求：注：因会场空间有限，名额仅限150人。请参会人员及时准确填写回执。并请传真至0311-86050158-810。凭此回执参加研讨会。另：如不方便发传真，也可电话及邮件报名报名联系人：田凤 联系电话：0311-86050158E-mail:hebeioffice@pgeneral.com

XRF-7型便携能量X射线荧光分析仪是专业的RoHS/WEEE指令筛选仪器。该仪器提供一种快速、可靠、无损样品的筛检手段，对于塑料外壳、印刷电路板（PCB）、电缆、含镀层的紧固件等都 可以用这一件轻便 设备进行多元素无损检测。轻扣扳机，对样品中的镉、铅、汞、铬总量 、溴总量 及其它构成元素进行 定量 分析，快速判定检测结果。使您在更 短的时间内处理 更多的样品，避免因繁琐的常规分析而费时费力。XRF7开拓了新的RoHS指令QA/QC分析程序，是您最理想的筛选工具。 XRF-7 同时也遵循WEEE 指令，适用于制造业、废料 回收等筛检工作。XRF-7型便携能量X射线荧光分析仪的主要特点为： RoHS/WEEE指令快速筛选； 无需样品前处理、进行非破坏性分析； 短时间快速分析； 现场直接分析测定； 多种定量分析方法； 创新的薄样技术与厚样技术相结合，在样品进行前处理后，RoHS典型元素检出限可达mg/kg级； 完善的保护功能：安全锁、感应光闸辐射防护设计，安全可靠； 种类齐全的标准样品相配套（PP、ABS、PE、铝合金等）； 彩色触摸屏菜单操作； 无限量数据存储。仪器的创新点为：薄样技术与厚样技术两种X荧光能谱应用技术的结合，使得该仪器既能对大量样品作快速的初步筛检试验，也可以对经过前处理后的样品作较慢的实验室级别细致检测。相当于同时拥有了便携和中档台式两台X荧光能谱分析仪。应用： 电子元器件、连接件、线路板 各种焊锡材料中的Pb、Cd、Ag等 金属部件、合金框架等 聚合物中Br、Pb、Hg、Cd等

项目编号：JXYX2022-ZFCG-0902-1项目名称：南昌大学化学化工学院X射线荧光分析仪等设备采购项目采购方式：公开招标预算金额：1500000.00 元最高限价：1500000.00采购需求：采购条目编号采购条目名称数量单位采购预算（人民币）技术需求或服务要求赣购2022F000671342X射线荧光分析仪1套610000.00元详见公告附件赣购2022F000671344高灵敏Zeta电位及粒度（跟踪）分析仪1套430000.00元详见公告附件赣购2022F000671343Zeta电位分析仪1套460000.00元详见公告附件合同履行期限：高灵敏Zeta电位及粒度（跟踪）分析仪、Zeta电位分析仪自合同签订之日起90天内，X射线荧光分析仪自合同签订之日起120天内。（以签订的中标合同为准）本项目不接受联合体投标。

近年来，限制使用环境有害物质已变得普遍，且成为保护环境工作的一部分。随着RoHS/ELV指令等法规的出台，包括制造商在内的很多公司都被要求控制其产品中包含的限制物质数量。新型EA1280具有中国国家标准（GB标准）建议要求的检测器分辨率，相比于Si - PIN二极管等其他半导体检测器，其工作效率和分析准确度更高。尤其与其他分析方法相比，X射线荧光分析可提供快速、无损、简单的元素分析，因此其持续多次用于RoHS合规性筛查中。EA1280具有的特性1. 使用新型高性能半导体检测器（硅漂移检测器（SDD）），便于提高测试工作效率和获得更可靠结果。2. 采用同轴光学器件进行样品观察和辐照X射线，便于分析各种样品。3. 配备易用软件，便于操作员仅需接受简单的质量控制和过程控制培训即可使用分析仪。EA1280 技术规格型号EA1280测量元素范围13Al～ 92U准直器（分析光斑尺寸）5 mmΦ（1、3 mmΦ：可选）初级滤波器（用于优化性能）5种模式（4台滤波器+关闭）自动切换样品舱环境大气检测器高性能SDD分析仪尺寸520（宽）×600（深）×445（高）mm重量约69 kg样品舱尺寸304（宽）×304（深）×110（高）mmEA1280是加入日立 EA1000系列分析仪的最新型号，具备强大的分析能力，能满足广泛的测试要求。如需了解日立用于RoHS合规筛选的XRF分析仪系列，请点击进入日立展位了解

仪器信息网讯 2011年10月12-15日，第十四届北京分析测试学术报告会及展览会(BCEIA 2011)在北京展览馆隆重举行。为让广大网友及仪器用户深入了解BCEIA 2011仪器新品动态，仪器信息网特别开展了以“盘点行业新品 聚焦最新技术”为主题大型视频采访活动，力争将科学仪器行业最新创新产品、最新技术进展及最具有代表性应用解决方案直观地呈现给业内人士。以下是仪器信息网编辑采访北京东西分析仪器有限公司资深工程师杨东华先生的视频。　　东西分析具有20多年的光谱仪器研制经验，在此次展会上，东西分析首次推出了两款新型的X射线光谱仪，XD-8000能量色散X射线荧光光谱仪和XF-8100波长色散X射线荧光光谱仪。杨东华先生在采访中向广大网友详细介绍了这两款仪器的主要特点、应用情况，以及研发历程。　　杨东华先生介绍说：“东西分析研制这两款X射线荧光光谱仪，前后花了5年多的时间。在研发的过程中东西分析不断吸收目前市场上X射线荧光光谱仪的优点，改正其缺点，因而在产品的精确度、可靠性和稳定性方面都有提高。”　　具体产品展示、技术特点介绍、应用领域分析，请点击查看采访视频。　　　关于北京东西分析　　北京东西分析仪器有限公司，成立于1988年，主要业务包括分析仪器及相关产品的研发、应用服务与生产销售。经十余年艰苦奋斗，已成功自行开发生产了一系列具有高技术含量的分析仪器产品。 荣获中国“十大知名分析仪器品牌”、“分析测试协会BCEIA金奖”、“产品信得过单位”、“煤炭部定点安全仪器生产厂”等荣誉称号。

项目编号：JSTCC2200214451（SEU-ZB-220821）项目名称：东南大学微纳系统国际创新中心X射线荧光分析仪采购项目预算金额：180.0000000 万元（人民币）最高限价（如有）：172.0000000 万元（人民币）采购需求：序号标的名称数量01X射线荧光分析仪1套合同履行期限：合同生效（关境内产品）或开具信用证（关境外产品）后4个月内设备安装调试合格本项目( 不接受 )联合体投标。

日本的分析技术市场在世界上占有率居于第三，德国耶拿公司在日本设有分公司。作为商业合作伙伴，日本TECHNO-X公司与德国耶拿日本分公司将合作推出X射线荧光光谱仪。 德国耶拿CEO Klaus Berka 提到&ldquo 随着我们与Techno-X新合作关系的建立，我们将引入X射线荧光设备以扩大我们的产品线，这也是全球市场增长的一个标志。公司初步计划是仅在日本开始销售。Berka 还提到&ldquo 我们希望通过将合作伙伴在X射线荧光光谱仪领域的技术专长和德国耶拿股份公司的销售技巧相结合以加强我们在日本市场上的地位，在未来的日子里，Techno-X将更多地致力于产品的研究和发展。&rdquo Techno-X， X射线荧光光谱仪，主要用于在线分析应用的手段 - 例如，在石油化工领域分析硫和氯，在食品检验实验室用于检测稻米中的镉含量等。

10.11直播！X射线荧光分析技术与应用新进展，大咖分享，不容错过！X射线荧光光谱仪已成为大多数实验室及工业部门不可或缺的分析仪器设备，其作为一项可用于确定各类材料成分构成的分析技术，已经成熟运用多年。一般可用于分析固体、液体和粉状物，其可识别浓度范围较宽，最低可至百万分级，既可以提供被测样品的定性信息，也可以进行定量测量。具有分析速度快，可测量多种类型的元素及其在不同类型材料中的含量浓度，技术成本较低等优势。为积极推动X射线荧光光谱的快速发展，展示X射线荧光光谱最新技术及应用，仪器信息网将于10月11日举办"X射线荧光分析技术与应用新进展”网络研讨会。此次网络会议为参会者提供一个在线交流、学习平台，让大家足不出户便能聆听到精彩报告。会议日程会议时间报告题目报告人14:00-14:30X射线荧光光谱无标样定量分析方法及其应用卓尚军中国科学院上海硅酸盐研究所 研究员14:30-15:00材料分析利器：赛默飞EDXRF产品+UniQuant无标分析软件居威材赛默飞世尔科技（中国）有限公司 XRF及XRD应用专家15:00-15:30X射线荧光光谱仪在地质野外现场中的应用樊兴涛国家地质实验测试中心 副研究员15:30-16:00EDXRF的多样化应用及新品介绍方瑛岛津 产品专家16:00-16:30X射线荧光准确快速分析及其在水泥生产质量控制中的最新应用刘玉兵中国国检测试控股集团股份有限公司中央研究院 总工/教授级高工16:30-17:00X射线荧光在钢铁（不锈钢）成分测定的应用及研究王化明酒钢集团不锈钢分公司 主任工程师/高级工程师演讲嘉宾（排名不分先后）会议报名点击下方链接或扫描二维码报名链接：https://insevent.instrument.com.cn/t/g5a 扫码报名赞助参会请联系扫码联系

2023年12月，日立分析仪器推出FT210型X射线荧光测厚仪和用于增强FT200系列智能镀层分析功能的最新版FT Connect软件。日立分析仪器是日立高新技术公司旗下的全资子公司，主要从事分析和测量仪器的制造与销售。通过推出 FT210 新型XRF镀层测厚仪，日立分析仪器扩大了其镀层和材料分析仪器产品系列。FT210 包括用于常规测量普通电镀的正比计数探测器，并集成先进且易于使用的功能，旨在增强大批量测试需求。此外，推出的 FT210 还包括适用于所有 FT200 系列型号的 FT Connect 软件更新版本，具有用于报告、创建校准曲线和数据处理的增强可用性功能。新版本 FT Connect 扩展了 FT230 的 RoHS 筛选功能。FT Connect V1.2软件与新仪器和现有仪器兼容。新品亮点每日为客户团队节省45分钟*FT210 与 FT230 非常相似，具备通过减少设置测量和处理数据所需的时间来提高生产率的功能。为加快分析设置，FT200 系列配备新型超大的样品视图、广视角相机、自动对焦和自动接近功能，以及名为“Find My Part™ （查找我的样品）”的智能识别功能，该功能可自动识别待测的特定测点并选择正确的分析方法。FT230扩展了RoHS功能得益于新版本 FT Connect 软件的更新， FT230 现在可用于检查更多材料是否符合最新的有害物质指令。FT Connect 中的界面内置 RoHS 筛选功能，从而确保简单、无缝地进行分析。日立分析仪器镀层分析产品经理 Matt Kreiner 表示：“FT210 使我们的客户能够为自己的镀层应用领域选择理想的探测器。由于引入新的软件功能，我们不断对操作员与 XRF 镀层分析仪的交互方式进行创新，通过简化设置和减少出错的可能性来增加测试量。通过使用 FT210 或 FT230，XRF 所有者可帮助操作员每天节省长达45分钟的时间，以专注于增值任务或增加测试量。”从简单的电镀层到针对微小特定测试点的复杂应用领域，日立分析仪器所拥有的各种分析仪（包括 FT210）旨在帮助用户在整个生产过程（包括进货检验、过程控制、最终质量控制）中获得置信度高的镀层零件测量结果。*使用“Find My Part™ （查找我的样品）”的5点测试程序的设置时间从73秒减少到19秒™，这样每次测试可节省54秒，每天可节省45分钟（50次测试）。

发售对应环境限制物质的X射线荧光分析仪「EA1000VX」－通过高速测量和各种新功能、大幅提高了检测效率 － 株式会社日立高新技术科学（社长：池田俊幸/以下简称日立高新技术科学）是株式会社日立高新技术（社长：久田真佐男/以下简称日立高新技术）的全资子公司，生产和销售分析测量设备。日立高新技术科学面向日本国内和海外，9月10日开始发售X射线荧光分析仪「EA1000VX」。「EA1000VX」是针对欧盟（EU）的有害物质管理指令（ELV／WEEE／RoHS）等，对汽车和电气电子设备里的有害物质进行筛选检查的分析测量仪,其与以往型号的仪器相比检测更为迅速和简单。EA1000VX 2006年7月，随着欧盟实施的RoHS指令（2002/95/EC）传播到日本、美国、中国、韩国等世界各国，很多国家也开始导入与之相同的指令。此外2011年7月实施了修正RoHS指令（2011/65/EU），新增医疗机器及监测和控制设备，从2014年7月开始依次执行。其中，与之相关的供应链里广泛的使用X射线荧光分析仪进行有害物质管理。虽然X射线荧光分析仪不需要进行样品解析等前处理即可进行简单而迅速的筛选检查，但是由于RoHS等环境规制物质检查的对象点数较多，客户需要的是能进一步缩短检查时间和更易于操作的仪器。 此次新发售的X射线荧光分析仪「EA1000VX」，与以往型号相比，检查时间大幅度的缩短至原有的1/10，也大大提高吞吐量（每小时的检查处理能力）。另外通过新追加的物料确定功能，仪器可以自动选择设定对应主成分的检测条件，防止测量者的失误也提高便利性。还可简单决定凹凸或微小的样品位置，增强样品门的开关便利性等方法来改良操作性，减轻工作人员的负担。此外，通过强化分析工具和数据的集中管理功能，提高管理人员的工作效率。通过以上功能大大帮助筛选检查的整体效率并降低成本。 RoHS指令公布已有10年历史，我们迎来了X射线荧光分析仪的更新时代。今后日立高新技术科学将对世界各国各地的电气电子机器、汽车以及汽车零部件厂家，积极推广销售。另外，2013年9月4日到6日，在日本幕张进行的「JASIS2013」（分析展/科学机器展）中，将介绍本仪器。 今后日立高新技术科学也将继续提供充分利用X射线为主的各种分析技术的分析仪器和检测仪器，为全球环境的保护做贡献。 【主要特点】高速测定相比以往型号「SEA1000AⅡ」，测定时间缩短为1/10（塑料，黄铜等的平均时间）通过材料辨别功能的自动测定仪器自动辨别材料自动进行测量通过环境规制物质测定软件Ver.2，集中管理数据库和趋势管理或者集中管理多台仪器的数据库，可以进行同类型仪器的过往数据库比较，也可以简单生成测量结果一览表。除RoHS指令对象元素（ Cd,Pb,Hg,Br,Cr）以外，还可以对应氯（Cl），锑（Sb），锡（Sn）等元素的管理。 【主要技术指标】测量原理能量色散型X射线荧光分析法测量元素原子序数Al（Z=13）～U（Z=92）X射线检测器 Vortex Si半导体检测器（不需液氮）测量性能（塑料中的Cd,Pb,Hg,Br,Cr的测量时间） *約30秒样品室尺寸 370（W）× 320（D）× 120（H）mm外形尺寸 520（W）× 600（D）× 445（H）mm重量约 60kg*以本公司决定的测量条件为例 以上

美国XOS公司正式宣布推出全新一代石化行业R系列单波长色散X射线荧光分析仪，并开始逐步替代原仪器型号。全新一代的单波长色散X荧光分析仪不但保留了原仪器型号引以为傲的技术特点，并针对用户需求，进一步提升仪器性能和操作体验，拓展软件功能，加强存储能力，并简化维护需求，使得维护成本及时间大大降低。新系列产品型号均将采用10英寸彩色触控显示屏，全新软件设计，可存储至少50000条历史记录，及30条校准曲线，可选配自动进样器（传统XRF样品杯和Accucell样品杯），条形码扫码器，及不同类型打印机，并且可实现校准数据及图表的在线打印。图：R系列单波长色散X射线荧光分析仪软件操作乔伊科内费尔Joey Konefal美国XOS公司研发副总裁“我们对界面进行了全面改造，为客户提供更佳的用户体验。通过实验室管理系统（LIMS）扩展连接和更灵活的打印扩展选项使得仪器的数据管理能力得到了显著增强。”“We have overhauled the interface to offer the best user experience for our customers,” “Data management has been significantly enhanced with expanded connectivity through LIMS and more flexible printing options.”Jason Choi美国XOS公司销售副总裁“XOS的客户已经开始期待我们的分析仪器成为该技术的黄金标准，而新一代R系列分析仪正是如此。”。“XOS customers have come to expect the gold standard from our analytical instruments, and the R Series analyzers deliver just that.”截至目前，新一代R系列产品包括如下型号：新一代R系列产品型号仪器名称型号单波长色散X射线荧光总硫分析仪Sindie R2 / Sindie R3单波长色散X射线荧光总氯分析仪Clora / Clora 2XP单波长色散X射线荧光硫氯分析仪Sindie +Cl如需了解更多有关美国XOS新一代R系列单波长色散X射线荧光分析仪的信息，欢迎联系我们。

p style="text-align: justify text-indent: 2em "1948年，世界第一台波长色散X射线荧光光谱仪研制成功，经历了70多年的发展，X射线荧光光谱仪已成为大多数实验室及工业部门不可或缺的分析仪器设备，X射线荧光光谱分析技术已在各种科研和工业领域得到广泛的应用，而且正在向更深的领域发展，为经济建设和改善人类生活发挥越来越大的作用。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "为积极推动X射线荧光光谱的快速发展，展示X射线荧光光谱最新技术及应用，strong由仪器信息网与国家地质实验测试中心联合举办的a href="https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/XRF2020/" target="_blank"span style="color: rgb(227, 108, 9) "" X射线荧光分析技术与应用新进展”/span/a网络研讨会将于8月7日举行。/strong此次网络会议为参会者提供一个突破时间地域限制的免费学习、交流平台，让大家足不出户便能聆听到精彩报告。/pp style="text-align: center"a href="https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/XRF2020/" target="_blank"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/62470df2-4ee7-45bb-9913-8b302d9b4aee.jpg" title="192042020200705.jpg" alt="192042020200705.jpg"//a/pp style="text-align: center text-indent: 0em "a href="https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/XRF2020/" target="_blank"span style="color: rgb(84, 141, 212) "strong点击图片报名参会/strong/span/a/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-size: 18px "strong一、会议信息/strong/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong主办单位：/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "仪器信息网/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "国家地质实验测试中心/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-size: 18px "strong二、会议详情/strong/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "1. 会议时间：2020年8月7日/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "2. 会议形式：网络在线交流/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong3. 报告专家及报告题目：/strong/ptable border="1" cellspacing="0" cellpadding="0" style="border-collapse:collapse border:none" width="NaN"tbodytr style=" height:39px" class="firstRow"td style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="39" width="79"p style="text-align:center"strong时间/strong/p/tdtd style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="39" width="326"p style="text-align:center"strong报告题目/strong/p/tdtd style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="39" width="258"p style="text-align:center"strong专家/strong/p/td/trtr style=" height:37px"td style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="37" width="79"p style="text-align:center"span09:30--10:00/span/p/tdtd style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="37" width="326"p style="text-align:center"spanX/span射线荧光光谱分析新技术、新进展/p/tdtd style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="37" width="258"p style="text-align:center"邓赛文/pp style="text-align:center"国家地质实验测试中心 研究员/p/td/trtr style=" height:37px"td style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="37" width="79"p style="text-align:center"span10:00--10:30/span/p/tdtd style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="37" width="326"p style="text-align:center"需求催生的先进检测手段span----XGT-9000/span微区spanX/span射线荧光分析仪/p/tdtd style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="37" width="258"p style="text-align:center"周延民/pp style="text-align:center"spanHORIBA/span科学仪器事业部 技术主管/p/td/trtr style=" height:38px"td style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="38" width="79"p style="text-align:center"span10:30--11:00/span/p/tdtd style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="38" width="326"p style="text-align:center"spanXRF/span在环境监测领域的应用、问题及展望/p/tdtd style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="38" width="258"p style="text-align:center"李玉武/pp style="text-align:center"国家环境分析测试中心 研究员/p/td/trtr style=" height:38px"td style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="38" width="79"p style="text-align:center"span11:00--11:30/span/p/tdtd style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="38" width="326"p style="text-align:center"spanMWDXRF/span技术在油品分析领域的应用/p/tdtd style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="38" width="258"p style="text-align:center"张程/pp style="text-align:center"上海仪真分析仪器有限公司 产品经理/p/td/trtr style=" height:38px"td style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="38" width="79"p style="text-align:center"span11:30--12:00/span/p/tdtd style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="38" width="326"p style="text-align:center"spanX/span射线荧光光谱在冶金分析中的应用进展/p/tdtd style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="38" width="258"p style="text-align:center"孙晓飞/pp style="text-align:center"国家钢铁材料测试中心 高级工程师/p/td/trtr style=" height:38px"td style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="38" width="79"p style="text-align:center"span14:00--14:30/span/p/tdtd style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="38" width="326"p style="text-align:center"spanX/span射线荧光光谱在建材样品分析中的新应用/p/tdtd style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="38" width="258"p style="text-align:center"刘玉兵/pp style="text-align:center"中国建材检验认证集团股份有限公司 教授级高工/p/td/trtr style=" height:38px"td style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="38" width="79"p style="text-align:center"span14:30--15:00/span/p/tdtd style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="38" width="326"p style="text-align:center"spanX/span射线荧光光谱在传统工业中的新技术span//span新应用/p/tdtd style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="38" width="258"p style="text-align:center"方瑛/pp style="text-align:center"岛津 产品专家/p/td/trtr style=" height:38px"td style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="38" width="79"p style="text-align:center"span15:00--15:30/span/p/tdtd style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="38" width="326"p style="text-align:center"spanX/span射线荧光光谱在固体废物分析中的应用/p/tdtd style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="38" width="258"p style="text-align:center"朱瑞瑞/pp style="text-align:center"湖南省生态环境监测中心 工程师/p/td/trtr style=" height:38px"td style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="38" width="79"p style="text-align:center"span15:30--16:00/span/p/tdtd style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="38" width="326"p style="text-align:center"spanX/span射线荧光光谱在现场分析中的应用/p/tdtd style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="38" width="258"p style="text-align:center"樊兴涛/pp style="text-align:center"国家地质实验测试中心 副研究员/p/td/trtr style=" height:38px"td style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="38" width="79"p style="text-align:center"span16:00--16:30/span/p/tdtd style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="38" width="326"p style="text-align:center"手持式spanX/span射线荧分析仪在合金及矿石行业中的应用/p/tdtd style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="38" width="258"p style="text-align:center"钟逸/pp style="text-align:center"朗铎科技span(/span北京span)/span有限公司 技术支持工程师/p/td/trtr style=" height:38px"td style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="38" width="79"p style="text-align:center"span16:30--17:00/span/p/tdtd style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="38" width="326"p style="text-align:center"spanXRF/span在商品检测方面的应用/p/tdtd style="border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height="38" width="258"p style="text-align:center"邱越/pp style="text-align:center"原天津海关化验中心 工程师/p/td/tr/tbody/tablep style="text-align: justify text-indent: 2em "strong报告嘉宾：/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong/strong/pp style="text-align: center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/396c5c0b-3626-45fa-9112-b2541102124d.jpg" title="捕获.JPG" alt="捕获.JPG"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-size: 18px "strong三、参会指南/strong/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong（一）报名方式：/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "1、点击a href="https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/XRF2020/" target="_blank"strongspan style="color: rgb(84, 141, 212) "“X射线荧光光谱分析技术与应用新进展”网络研讨会/span/strong（https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/XRF2020/）/a官方页面进行报名。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "2、报名开放时间为即日起至2020年8月7日。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "3、为使更多用户能够通过网络平台进行学习与交流，报名参加“X射线荧光光谱分析技术与应用新进展”网络研讨会不收取注册及参会费用。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong（二）参会条件：/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "1、“X射线荧光光谱分析技术与应用新进展”网络研讨会将在仪器信息网网络会议平台上举办，报告人PPT视频和讲解将实时传送给所有参会者，参会者也可通过文字向报告人提问，报告人在报告结束后统一进行解答。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "2、参与网络会议听众需要自备一台能上网的电脑或智能手机，网络带宽超过128K。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong（三）参会方式：/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "1、报名参会并通过审核后，将会收到邮件通知，并在会前一天收到提醒参会的短信通知。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "2、会议当天进入a href="https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/XRF2020/" target="_blank"span style="color: rgb(84, 141, 212) "strong“X射线荧光光谱分析技术与应用新进展”网络研讨会/strong/span（https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/XRF2020/）/a官方页面，点击“进入会场”，填写报名时手机号，即可登录会场参会。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong/strong/pp style="white-space: normal text-align: center "a href="https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/XRF2020/" target="_blank"img src="https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/62470df2-4ee7-45bb-9913-8b302d9b4aee.jpg" title="192042020200705.jpg" alt="192042020200705.jpg" style="max-width: 100% max-height: 100% "//a/pp style="text-indent: 0em white-space: normal text-align: center "a href="https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/XRF2020/" target="_blank"span style="color: rgb(84, 141, 212) "strong点击图片报名参会/strong/span/a/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-size: 18px "strong style="text-indent: 2em "四、联系方式/strong/spanstrongbr//strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "会议联系人：吴编辑 18640355925/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "联系邮箱：wuyou@instrument.com.cn/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="font-size: 18px "strong五、会议赞助商/strong/span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "岛津企业管理(中国)有限公司、/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "堀场（中国）贸易有限公司（HORIBA）/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "朗铎科技（北京）有限公司/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "上海仪真分析仪器有限公司/pp style="text-align: justify text-indent: 2em " /pp style="text-align: right text-indent: 2em " dir="rtl"仪器信息网/pp style="text-align: right text-indent: 2em " dir="ltr"国家地质实验测试中心/pp style="text-align: right text-indent: 2em " dir="rtl"2020年7月 /p

奥林巴斯新型手持式x射线荧光（xrf）分析仪——vanta系列vanta重磅来袭vanta分析仪是一款符合ip 65评级要求的手持式xrf设备，已经通过了相关的军事标准测试，具有防尘、防水的特性，并通过了坠落测试。其坚固耐用的特性表现在如下方面：符合ip 65评级标准，可以抵御灰尘和雨水的侵袭通过了从4英尺高处坠落的测试（mil-std 810g）可以在 -10 °c到50 °c的温度范围内操作 装有硅漂移探测器的各种型号分析仪，还为探测器提供了快门闸保护vanta分析仪具有坚固耐用、性能强大、操作方便的特性，可以出色地完成各种应用，其中包括废料回收、矿业勘探、制造业的质量保证/质量控制、材料的成份辨别（pmi）、环境评估、rohs合规、消费产品安全、科学研究和教育。vanta分析仪的特性：使用四核处理器和axon技术直观的用户界面，主页屏幕快捷键可自行定制清晰的触摸屏，在任何光线下可读可选wi-fi和bluetooth功能，用于无缝数据传输嵌入式gps，可以记录xrf数据所对应的地理位置信息数据库包含700多种合金牌号，用于金属分析vanta手持式xrf分析仪所使用的奥林巴斯新开发的创新型axon技术，是xrf信号处理方面的一项突破进展，这项技术可以使用超低噪声电子设备，在每秒钟之内达到更高的x射线计数率，从而可以更快的速度获得结果。这款分析仪的硬件和用户界面的设计宗旨是方便用户的操作，因此新来的操作人员只需接受简单的基础培训，就可以开始操作分析仪。

摘要：针对一起110kV隔离开关触头的腐蚀故障，采用手持式X射线荧光光谱仪分析故障隔离开关触头镀层的化学成分，发现厂家使用银氧化锡(Ag-SnO2)镀层代替镀银层。分析认为在工业含硫大气环境中，Ag-SnO2镀层中的银被SO2、H2S等硫化物腐蚀，铜基体在潮湿环境下腐蚀生成Cu2(OH)2CO3，从而导致隔离开关触头导电回路的接触电阻升高，引发过热故障。针对此次故障，提出了解决措施和建议。关键词：手持式X射线荧光光谱仪；隔离开关触头；电刷镀银；银氧化锡；腐蚀中图分类号：TQ153.16 文献标志码：A 文章编号：1004 – 227X (2019) 23 – 1 – 04高压隔离开关是电力系统中使用最多、应用最广的一次设备。由于高压隔离开关多在户外运行，长期受风吹、雨淋、雷电、潮气、盐雾、凝露、冰雪、沙尘、污秽，以及SO2、H2S、NO2、氯化物等大气污染物的影响，因此各部件会发生不同程度的腐蚀[1-2]。高压隔离开关触头是关键部件，承担着转接、隔离、接通、分断等任务，其工作状态的好坏直接影响整个电力系统的运行[3]。高压隔离开关触头的基体为纯铜，但纯铜易被腐蚀，会造成表面接触电阻升高，引发过热故障，影响开关设备和电网的安全稳定运行[4-6]。为了减小接触电阻，DL/T 486–2010《高压交流隔离开关和接地开关》、DL/T 1424–2015《电网金属技术监督规程》和《国家电网有限公司十八项电网重大反事故措施(2018年修订版)及编制说明》[7]中明确规定：隔离开关触头表面必须镀银，且镀银层厚度不小于20 μm，以获得较低的接触电阻，从而保证良好的导电性。然而，在实际运行中，很多厂家生产的高压隔离开关产品会出现触头腐蚀、变色发黑、发热等故障，一般是由触头镀锡代替银或镀银层厚度不足造成，这些缺陷都可以通过国家电网公司开展的金属专项技术监督检测隔离开关触头镀银层厚度而发现[8]。近期，四川电网在金属技术监督中发现一起高压隔离开关触头腐蚀案例，镀银层厚度检测结果合格，但在采用手持式X射线荧光光谱仪分析镀层化学成分时发现，厂家竟然使用银氧化锡(Ag-SnO2)镀层代替镀银层，该造假手段通过颜色判断和镀层测厚无法发现，非常隐蔽，很容易因未进行镀层成分分析而误判合格，严重威胁电网的安全运行，希望引起各运维单位注意。 1 高压隔离开关触头的腐蚀故障某110 kV变电站于1991年投运，当地大气污秽等级为E级，大气类型为工业污染。周边潮湿多雨，化工、煤炭、玻璃等重工业污染企业密集，空气中SO2、H2S等硫化物浓度较高，大气的腐蚀性较强。2013年更换隔离开关触头，防腐措施为铜镀银。2017年站内巡检发现某110 kV隔离开关触头腐蚀严重，动、静触头接触面大部分呈绿色，少部分呈黑色(见图1)。红外测温发现该隔离开关触头存在过热故障，若继续运行，可能会造成隔离开关烧毁，甚至大面积停电等恶性事故，运维单位国网泸州供电公司紧急安排停运该隔离开关，并与国网四川电科院联合开展故障分析。图1 某110 kV隔离开关触头的腐蚀情况2 手持式X射线荧光光谱仪的检测原理X射线荧光光谱分析是用于高压隔离开关触头表面金属成分检测的一种非常有效的分析方法，具有快速、分析元素多、分析浓度范围宽、精度高、可同时进行多元素分析、无损检测等优点，被广泛应用于元素分析和化学分析领域[9]。其原理[9-12]为：由激发源产生高能量X射线照射被测样品，样品表面元素内层电子被击出后，轨道形成空穴，外层高能电子自发向内层空穴跃迁，同时辐射出特征二次X射线。每种元素都有各自固定的能量或波长特征谱线，具体与元素的原子序数有关。检测器测量这些二次X射线的能量及数量或波长，仪器软件将收集到的信号转换成样品中各种元素的种类和含量。X射线荧光光谱仪通常可分为波长色散型和能量色散型两大类，各自原理如图2 [11]所示。波长色散型光谱仪一般采用X射线管作为激发源，由检测器转动的2θ角可以求出X射线的波长λ，从而确定元素成分，属于台式仪器。能量色散型光谱仪是利用荧光X射线具有不同能量的特点，将其分开并进行检测，从而确定元素成分和含量，可以同时测定样品中几乎所有的元素，激发源使用的X射线管功率较低，且使用半导体探测器，避开了复杂的分光晶体结构，因此仪器工作稳定，体积小，便携性高，价格也较低，能够在数秒内准确、无损地获得检测结果，被广泛应用于金属材料中元素的精确定量分析[12-13]。 图2 波长色散型(a)和能量色散型(b)X射线荧光光谱仪的检测原理目前市售手持式X射线荧光光谱分析仪基本都是能量色散型X射线光谱仪。图3是目前四川电网基层供电公司使用的美国Thermo Fisher Scientific Niton XL2 800手持式X射线荧光光谱仪，它不受分析样品的大小、形状、位置限制，无需拆卸隔离开关，可以携带至变电站现场，能够分析Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Se, Zr, Nb, Mo, Pd, Ag, Cd, Sn, Sb, Hf, Ta, W, Re, Au, Pb, Bi等25种元素。图3 手持式X射线荧光光谱仪3 现场检测结果3. 1 镀层化学成分分析使用XL2 800手持式X射线荧光光谱仪对110 kV隔离开关触头不同颜色区域的镀层和铜基体进行分析，结果见表1。银白色区域中Ag、Cu和Sn的质量分数分别为91.48%、1.83%和5.71%。Cu是隔离开关触头的基体成分，查阅文献[14]可知，该银锡比例是第二相SnO2颗粒弥散分布于银基质层中的Ag–SnO2金属基复合材料，不符合DL/T 486-2010、DL/T 1424–2015和《国家电网有限公司十八项电网重大反事故措施(2018年修订版)及编制说明》中隔离开关触头应镀银的要求。黑色区域的Ag含量低至75.33%，Cu含量和Sn含量则较高，这是因为Ag-SnO2镀层中的Ag与空气中的SO2、H2S等含硫化合物反应生成黑色的腐蚀产物β-Ag2S和Ag2SO3。随着腐蚀反应的进行，Ag-SnO2镀层表面逐渐由银白色转变为深灰色及黑色。绿色区域的Cu质量分数已升至82.31%，Sn的质量分数则与灰色区域相近，而Ag已检测不到，表明Ag-SnO2镀层中银的腐蚀产物发黑并脱落后，镀层中分散的SnO2无法保护铜基体，使得铜在潮湿环境下与空气中的O2、CO2和H2O反应生成绿色的碱式碳酸铜Cu2(OH)2CO3(俗称铜绿)。将绿色区域打磨后分析铜基体发现其中含99.72% Cu和0.15% Sn，说明该隔离开关触头的基体材质为纯铜，检出的少量锡来源于残余的镀层。表1 110 kV隔离开关触头镀层上不同颜色区域及铜基体的元素成分分析结果3. 2 镀层厚度检测使用XL2 800手持式X射线荧光光谱仪检测110 kV隔离开关触头的镀银层厚度，结果显示银白色、黑色和绿色区域的镀银层厚度分别为23.953、16.885和0.000 μm。这说明随腐蚀反应的进行，镀层逐渐被消耗，直至完全损失。DL/T 486–2010、DL/T 1424–2015和《国家电网有限公司十八项电网重大反事故措施(2018年修订版)及编制说明》中明确规定隔离开关触头的镀银层厚度不应小于20 μm。为节约成本，厂家最常用的造假手段就是用镀锡代替或减少镀银量，这两种手段都可直接通过镀层测厚发现。但本次的造假是采用Ag-SnO2层代替Ag层，也是呈银白色，并且镀层厚度大于20 μm，仅通过颜色判断和测厚均无法发现，隐蔽性较强。Ag-SnO2镀层触头因为电导率较纯银低，主要用于继电器、低压开关等低压电器。若用于高压隔离开关，在大电流下很容易发热，存在严重安全隐患。4 结语和建议针对一起110 kV隔离开关触头腐蚀故障，使用手持式X射线荧光光谱仪分析触头的镀层成分，发现厂家使用Ag-SnO2镀层代替Ag镀层，Ag-SnO2镀层中的银被空气中的硫化物腐蚀后，铜基体被腐蚀，导致导电回路接触电阻升高，引发过热故障，是造成该故障的主要原因。为保证此类故障不再发生，应采取以下措施：(1)高度重视在役高压隔离开关触头表面镀银层的腐蚀发黑、发绿现象，发黑说明镀银层已被腐蚀，发绿说明镀银层已被腐蚀完，腐蚀延伸到铜基体，会导致隔离开关触头的接触电阻升高，易引发隔离开关过热、烧毁、全站失压等安全事故，应尽快安排停电，及时更换失效的高压隔离开关触头。(2)联系生产厂家，将同批次产品全部更换为合格产品，以消除安全隐患。(3)加强对新建输变电工程高压隔离开关触头镀银层的检测，镀层成分和厚度均合格后方可入网。参考文献：[1] 曹胜利, 苑金海, 赵昌. 户外高压隔离开关腐蚀与防护分析[J]. 电气制造, 2007 (6): 46-48.[2] 钟振蛟. 户外隔离开关导电回路过热的原因及对策[J]. 高压电器, 2005, 41 (4): 307-312.[3] 闫斌, 邓大勇, 何喜梅, 等. 高压导电触头电镀工艺与失效分析[J]. 青海电力, 2008, 27 (3): 6-9.[4] 梁方建, 张道乾. GW5-110型隔离开关触头发热缺陷分析及检修处理[J]. 高压电器, 2008, 44 (1): 88-90.[5] 刘海龙, 龚杰, 万亦农, 等. 某110 kV变电站隔离开关普遍发热原因分析及防范措施[J]. 电工技术, 2016 (8): 99-101.[6] 赵庆, 茅大钧. 户外高压隔离开关触头发热机理分析及预防过热故障措施探讨[J]. 电气应用, 2016, 35 (3): 72-76.[7] 国家电网有限公司. 国家电网有限公司十八项电网重大反事故措施(2018年修订版)及编制说明[M]. 北京: 中国电力出版社, 2018.[8] 刘纯, 谢亿, 胡加瑞, 等. 电网金属技术监督现状与发展趋势[J]. 湖南电力, 2016, 36 (3): 39-42.[9] 徐雪霞, 冯砚厅, 柯浩, 等. 高压隔离开关触头镀银层质量检测分析[J]. 河北电力技术, 2013, 32 (3): 3-5, 11.[10] 胡波, 武晓梅, 余韬, 等. X射线荧光光谱仪的发展及应用[J]. 核电子学与探测技术, 2015, 35 (7): 695-702, 706.[11] 赵晨. X射线荧光光谱仪原理与应用探讨[J]. 电子质量, 2007 (2): 4-7.[12] 金鑫, 金涌川, 李学斌, 等. 电气设备金属元素检测分析[J]. 电气应用, 2018, 37 (18): 80-85.[13] 何翠强. 手持式X射线荧光光谱仪在金属材料分析中的应用研究[J]. 冶金与材料, 2018, 38 (4): 134-135.[13] 谢明, 王松, 付作鑫, 等. AgSnO2电接触材料研究概述[J]. 电工材料, 2013 (2): 36-39.

1948年，世界第一台波长色散X射线荧光光谱仪研制成功，经历了七十多年的发展，X射线荧光光谱仪已成为大多数实验室及工业部门不可或缺的分析仪器设备，X射线荧光光谱分析技术已在各种科研和工业领域得到广泛的应用，而且正在向更深的领域发展，为经济建设和改善人类生活发挥越来越大的作用。为展示X射线荧光光谱的最新技术及应用，推动X射线荧光光谱的快速发展，仪器信息网将于2023年4月25日举办“X射线荧光分析技术与应用新进展网络研讨会”。本次网络研讨会将为业内人士提供一个突破时间地域限制的免费学习、交流平台，让大家足不出户便能聆听到精彩报告。一、会议主办方：仪器信息网二、会议日程三、参会指南1、点击会议官方页面（https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/xrf230328）进行报名。扫描下方二维码，进入会议官网报名2、报名开放时间为即日起至2023年4月25日。3、报名并审核通过后，将以短信形式向报名手机号发送在线听会链接。4、本次会议不收取任何注册或报名费用。5、会议联系人：高老师（微信号：iamgaolingjuan 邮箱：gaolj@instrument.com.cn）

锌精矿化学分析方法以往都是采用湿法化学或ICP/原子吸收法，今年新增了第22部分，采用波长色散射线荧光分析锌精矿中Zn, Cu, Pb, Fe, Al, Ca, Mg共七种元素。标准已于2021年8月1日开始实施。 GB/T 8151.22-2020 锌精矿化学分析方法第22部分：锌、铜、铅、铁、铝、钙和镁含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法 岛津全系列的波长色散X射线荧光可满足以上标准对锌精矿的测试要求。部分元素测试精度实例：

X射线荧光光谱仪在我们生产的各个领域都有广泛的应用，对于企业生产质量的保障都有重要作用。X射线荧光光谱仪也经历了长时间的发展过程，在发展的过程中不断突破技术瓶颈，变得越来越好。那关于X射线荧光光谱仪的发展历史，你了解多少呢?跟着X射线荧光光谱仪生产厂家一六仪器来了解一下吧。　　1895年德国物理学家伦琴发现X射线 　　1969年美国海军实验室研制出第一台EDXRF 　　1990年北京中产电子、上海硅酸盐研究所、成都地质学院、西安262厂、西安海通原子能研究所、重庆地质仪器厂研制EDXRF 　　1997年德国菲希尔在中国注册公司销售EDXRF测厚仪 　　2000年英国牛津仪器在定型自有FP算法 　　2001年英国牛津在中国注册公司销售EDXRF测厚仪 　　2003年德国费希尔仪器在定型自有FP算法 　　2005年日本精工仪器在中国注册公司销售EDXRF测厚仪 　　2009年国内仪器厂商海外购买FP算法推出EDXRF测厚仪 　　2017年一六仪器全新EFP算法成熟，推出新一代EDXRF测厚仪 　　一六仪器发展历程：　　2009年一六仪器团队成员根据多年的EDXRF研发及应用经验，重新搭建更新一代算法、结构、部件及控制总成系统。　　2012年算法模型和新型搭建成功，部件开始投入市场。　　2015年EFP核心算法的软件进行整机测试其最小测量面积、变焦、及复杂多层的能力。　　2017年12月正式发布新型测厚仪XTU系列及EFP算法软件。　　至今相继推出了XTU、XAU、XTD、XAD等系列的多种仪器型号，功能包括涂镀层分析、Rohs检测、地质地矿全元素分析、古董珠宝贵金属检测。　　以上就是X射线荧光光谱仪生产厂家一六仪器给大家整理的全部内容，如果大家想要了解更多关于X射线荧光光谱仪的内容，欢迎咨询我们。一六仪器专注于光谱分析仪器研发、生产、销售和服务。公司产品广泛的应用于环保、涂镀层、粮食、地质地矿、电子元器件、LED和照明、家用电器、通讯、汽车电子、航空航天等制造领域。

仪器信息网讯 2012年5月9日-12日，由中国钢铁工业协会、中国铸造协会、中国国际贸易促进委员会冶金行业分会、中国机械工程学会工业炉分会、中国耐火材料行业协会、中展集团北京华港展览有限公司主办的第十三届中国国际冶金工业展览会、第十一届中国国际铸造博览会、第五届中国铸造零部件展览会、第九届中国国际耐火材料及工业陶瓷展览会、第十一届中国国际工业炉展览会同期在中国国际展览中心(北京顺义新馆)隆重举行。江苏天瑞仪器股份有限公司展位　　江苏天瑞仪器股份有限公司参加了本届展会，并在现场特别展出了Genius 5000 X射线荧光光谱仪、EDX4500 X射线荧光光谱仪。Genius 5000 X射线荧光光谱仪　　Genius 5000 X射线荧光光谱仪是天瑞于2011年7月推出的一款新产品，是天瑞手持式四代X荧光分析仪(该产品为“2011年科学仪器优秀新产品”获奖产品)系列产品之一。该仪器采用了小功率端窗一体化微型光管、大面积铍窗SDD硅漂移探测器及微型数字信号多道处理器三大核心技术提升仪器性能。较三代手持式X荧光分析仪，增加了可充气系统，可采用常压充氦气系统对设备充气，从而实现检测从Mg开始的元素，大大扩展测试元素范围，满足特定客户轻元素检测需求。仪器自身具备防水防尘功能，并可在高温高湿环境下连续使用，其保护箱采用高强度军工用品，有良好的防潮防震防压三防功能。主要用于钢铁、废旧金属回收、机械制造与加工、锅炉压力容器等领域。

由国家地质实验测试中心牵头，钢研纳克检测技术有限公司等8家单位共同申报的2012年国家重大科学仪器设备开发专项项目“波谱-能谱复合型X射线荧光光谱仪的研发与产业化”已获科技部批准，项目实施周期为五年。　　X射线荧光光谱仪已成为国内、外各实验室必备的测试仪器，大功率(3KW)波长色散XRF分析仪的制造技术多年来被5家外国公司所垄断，国内年销量达200多台套。测试中心邓赛文研究员及其团队紧密结合国家中长期科学和技术发展规划，根据波长色散(WD)和能量色散(ED)的技术特点，提出将两种技术有机结合，自主研发高性能大功率(4KW)波谱/能谱一体化的(WED-XRF)分析仪器，并建立与之配套、实用的定性、定量以及元素分布分析专家系统和应用方法体系，有很好的应用前景。对促进X射线荧光分析技术的发展，打破国际制约，提高我国分析仪器技术装备制造水平，具有重要意义。

手持式能量色散X射线荧光光谱仪及其应用研究(李福生，电子科技大学教授、博士生导师）摘要光谱分析及信息科学被广泛应用于工业检测、污染防治等领域。X射线荧光光谱（X-Ray Fluorescence spectrometry, XRF）由于具有快速、无损、精确等优点，在环境污染监测、中草药鉴别、金属回收等方面具有十足的研究潜力和广阔的应用前景。人工智能及高端装备研究团队立足于自主研发的手持式X射线荧光光谱元素分析仪（TS-XH4000），利用X射线荧光光谱分析技术结合先进的人工智能算法开展土壤污染监测、土壤质量综合评价、铁粉元素测量等研究工作。团队研发的新一代手持式X射线荧光光谱仪采用具有可实现盲测，检出限低，可测微量元素等优势。1.引言能量色散X射线荧光光谱分析技术由于其快速、无损和精确的检测优点，目前已经被广泛应用于煤质分析、安检过程、资源勘采、货物通关、环境检测和中草药检测等领域[1][2][3]。能量色散X射线荧光光谱采用脉冲高度分析器将不同能量的脉冲分开并测量。能量色散X射线荧光光谱仪可分为具有高分辨率的光谱仪，分辨率较低的便携式光谱仪，和介于两者之间的台式光谱仪[4]。目前国内外同类手持式X射线荧光光谱分析仪主要包括美国品牌Niton生产的分析仪[5]，日本生产的Olymbus光谱仪[6]和日立光谱仪[7]等。这些光谱仪普遍存在精准度一般、采购成本较高、难以单独定制等问题。而本团队设计的X射线荧光光谱仪历经几代研发，采用智能AI算法，可实现盲测，检出限低，可测微量元素；采用全球首创9mm*5mm腰形窗口，保护探头、便于测细小物品及不规则物品；安全性高，所有仪器均配有已申请专利的探头保护盖，自检安全保护；且工作状态有灯带提示，配有物料感应功能，利于物体识别，很好保护操作者的安全。本团队光谱仪的所有核心技术都归自己所有，不受国外任何技术限制。本团队所设计和研发的型号为TS-XH4000-SOIL的手持式能量色散XRF光谱仪（基于 AMPTEK INC.的 SDD 探测器）利用智能能量色散荧光分析法可以同时得到检测样品的X荧光光谱图及样品中所含元素种类和含量，测量元素范围为Na(11)-U(92)。此外，团队结合新型人工智能算法，例如BP神经网络[8]、支持向量回归[9]、贝叶斯优化算法等[10]，设计了计算机校正软件，实现了基于X射线荧光光谱的中草药真伪鉴别，基于X射线荧光光谱的土壤重金属元素含量和铁粉含量的精确定量分析。2. 仪器组成本团队自主研发的手持式X射线荧光光谱仪集成先进智能算法、人体学设计外观结构、各型接口等，可在合金回收、土壤污染检测、中草药鉴别等众多领域应用。该光谱仪主要由激发源（X射线光管）、探测器、滤光片、多道脉冲幅度分析器等部分组成，结构示意图如图1所示。X射线管配有电源（最大电压50kV，最大电流200mA）。在仪器测量之前，需要先根据死时间、光谱信号噪声、光谱分辨率等指标将仪器的相关参数调整至最佳，然后通过检测纯元素的X射线光谱，完成能量刻度的定标，实现从通道数到能量刻度数的转换。接着，将定量模型算法需要的变量、算法参数、补偿系数、预处理流程等设定到主控内存中，完成采集完信号后并解析信号，最终反演物质的元素含量等信息，并通过WIFI或蓝牙将仪器所测量的精度显示到PC端。图1 手持式X射线荧光光谱仪的结构示意图本团队还设计了谱图预处理及模拟谱图生成的软件，其软件界面如图2所示。其主要功能包括：能量刻度转换、初级光源预处理、初级光源生成、Sigma计算、 XRF光谱模拟等功能。该程序可以生成多元素样本的 XRF光谱图及光谱大数据，为人工智能对样品的定性和定量分析提供数据支持，旨在实现元素的无标样的定性定量分析。图2 X射线荧光光谱分析仪控制程序主界面3. 土壤元素实验分析土壤质量综合评价与土壤中各种元素的含量有着密切的联系。因此本实验研究了XRF技术结合SVR算法定量分析土壤中铜（Cu）元素含量的可行性。如图3所示，本实验使用的设备是由课题组研究生产制造的手持式ED-XRF光谱仪，型号为TS-XH4000-SOIL，该设备的X射线管在45KV和25uA下正常工作。实验中采用了55个国标样品作为土壤标准样品，样本中每个待测元素都具有足够宽的含量范围和适当的含量梯度。图3 土壤样本与XRF光谱仪在验证中，将实验样品分为训练集和测试集两个集合，分别用于外部验证和内部验证。然后，基于灵敏度分析得出Cu元素主要受到Fe、Co、Ni、Cu等组分信息的影响，选择最优输入特征为该4种元素。使用最优输入特征和全部特征作为输入，基于贝叶斯优化算法找到最优模型参数，分别建立了预测土壤样品Cu元素含量的SVR定量预测模型。同时以全部特征作为输入建立了单参数PLS模型，通过5倍交叉验证(CV)选择单参数PLS模型的最优主成分个数为9。基于校准集数据分别建立了三种模型，利用这些模型对13个测试集和42个训练集数据中的Cu元素含量进行预测，结果如图4所示。图4 Cu元素的预测结果 (a):经过特征降维的SVR模型 (b):全部特征作为输入的SVR模型 (c):PLS模型可以看到，对训练集数据进行直接预测时，采用全部特征作为输入的SVR模型取得了最好的效果，其预测结果和原数据几乎一致(R2C= 0.9988, RMSEC = 6.9356)，然而，对于测试集数据采用全部特征作为输入的SVR模型获得了非常差的结果(R2P= 0.9146, RMSEP = 73.8296)。基于4个高灵敏度特征的SVR在预测测试集时获得了非常好的效果(R2P= 0.9918, RMSEP = 22.8803)，预测数据的一致性较好。在XRF技术结合SVR定量分析中，变量选择对于测试集的预测精度有关键作用。4. 中草药元素实验分析本实验采用30份金银花样品主要选择产地为山西、河南、湖南与广西省，其中每个产地各选择5份，共20份，并将样本命名为JYH-01~JYH-30。7份外观相似的山银花样品，产地为湖南省，样本命名为SYH01~SYH-07。3份粉末相似的商陆、多穗金粟兰、宽叶金粟兰样本，命名为DB-01~DB-03。三类真伪中药材的XRF数据集各有其特有的性质，本文使用t-SNE算法可以提取出三组XRF数据集的前350 维特征，将这些特征降维映射至二维图片中进行可视化分析，如图5所示。可以明显的看出这三组真伪中药材的 XRF数据集在图片二维空间中位于三簇不同的位置。从而三组样本在含有以上5种元素重要相关信息的350维数据在映射至二维中有了明显的区分，比原始XRF光谱图更容易理解与分析。图5 基于金银花、外观相似伪样本、粉末相似伪样本三组XRF样本集的t-SNE特征降维可视化图为更直观地了解这土壤和中草药XRF数据集的固有特性，利用t-SNE算法将350维的XRF特征映射到二维空间并在同一幅图中进行可视化分析。如图6所示，两个数据集在二维空间聚集成了两个分布位置不同的簇。首先，两组样本在含有重要相关信息的350维数据在二维图中有了明显的区分，比原始XRF反射光谱图更易于分辨。图6 两组XRF样本集的t-SNE特征降维可视化图5. 铁粉元素测量及实验分析针对手持式X射线荧光分析技术在铁粉行业的应用，本团队开展X射线荧光背景散射内标法用于铁粉元素测量的应用研究。首先，通过低电压高电流、高电压低电流、不同采集板的增益，选择合适的设备参数获取较优的特征X射线信号。接着，分别采用SiPIN、SDD类型探测器的手持式X射线荧光分析仪建模，Si-Kα峰、Fe-Kβ峰加背景散射线内标对铁粉中的元素含量进行建模。最后，根据含量已知的铁粉样品对所建立模型的确定度系数R2和均方根误差RMSE进行评估，选出不同场景情况下合适的应用模型。表1 SiPIN探测器时铁粉中Fe元素预测结果表2 SiPIN探测器时铁粉中Si元素预测结果表3 SDD探测器时Fe元素预测结果表4 SDD探测器时Si元素预测结果如表1和表2所示，为采用SiPIN探测器的建模结果。Si-Kα峰加背景散射线内标的结果，R2为0.9070， RMSE为0.0007； Fe-Kβ峰加背景散射线内标法的结果，R2为0.88，RMSE为0.0037。如表3和表4所示，为采用SDD探测器的建模结果。Si-Kα峰加背景散射线内标的结果，R2为0.9869，RMSE为0.0002； Fe-Kβ峰加背景散射线内标的结果，SDD探测器Fe建模结果，R2为0.9099，RMSE为0.0033。采用SDD探测器定量结果验证结果更好，这与SDD探测器性能良好有关。6. 总结本团队基于自主设计和研发的手持式ED-XRF光谱仪，结合人工智能算法对土壤重金属元素含量、中草药成分和铁粉元素含量进行准确定性、定量分析。所设计的TS-XH4000-SOIL光谱仪具有高精度和高可靠性，提出的先进人工智能算法框架可以有效校正土壤和铁粉XRF光谱和待测元素含量的复杂映射关系。因此，本团队研发的光谱仪和相应的人工智能算法软件在环境监测和保护、冶金行业及其他分析化学领域都有着广泛重要的应用。参考文献[1] 甘婷婷, 赵南京, 殷高方, et al. 水体中铬,镉和铅的X射线荧光光谱同时快速分析方法研究简[J]. 光谱学与光谱分析, 2017, 37(6):7.[2] 王袆亚, 詹秀春, 袁继海,等. 偏振能量色散X射线荧光光谱测定地质样品中铷锶钇锆元素不确定度的评估[C]// 第八届全国X射线荧光光谱学术报告会. 0.[3] 张辉, 刘召贵, 殷月霞,等. 能量色散X射线荧光光谱法测定中草药中的Cd元素[J]. 分析测试技术与仪器, 2019, 25(3):5.[4] 张颖, 汪虹敏, 张辉,等. 小型台式EDXRF现场快速测定深海沉积物中稀土元素[J]. 海洋科学进展, 2019, 37(1):11.[5] Ene A, Bosneaga A, Georgescu L. Determination of heavy metals in soils using XRF technique[J]. Rom. Journ. Phys, 2010, 55(7-8): 815-820.[6] Adame A. Development of an automatic system for in situ analysis of soil using a handheld Energy Dispersive X-Ray Fluorescence (EDXRF)[J]. 2020.[7] Antunes V, Candeias A, Carvalho M L, et al. GREGÓRIO LOPES painting workshop: characterization by X-ray based techniques. Analysis by EDXRF, μ-XRD and SEM-EDS[J]. Journal of Instrumentation, 2014, 9(05): C05006.[8] Li F, Yang W, Ma Q, et al. X-ray fluorescence spectroscopic analysis of trace elements in soil with an Adaboost back propagation neural network and multivariate-partial least squares regression[J]. Measurement Science and Technology, 2021, 32(10): 105501.[9] Yang W, Li F, Zhao Y, et al. Quantitative analysis of heavy metals in soil by X-ray fluorescence with PCA–ANOVA and support vector regression[J]. Analytical Methods, 2022, 14(40): 3944-3952.[10] Lu X, Li F, Yang W, et al. Quantitative analysis of heavy metals in soil by X-ray fluorescence with improved variable selection strategy and bayesian optimized support vector regression[J]. Chemometrics and Intelligent Laboratory Systems, 2023, 238: 104842.作者简介李福生，电子科技大学教授，博士生导师。在核粒子能谱分析、蒙特卡洛模拟、人工智能与云计算技术、模式识别及智能系统、控制科学及多智能体、智能制造及智慧工厂等方面的研究与应用成果斐然，具有丰富的理论研究基础和工程应用经验。曾就职于美国GE-贝克休斯公司、荷兰皇家壳牌集团等国际 500强企业的科研院，并兼任美国北卡罗莱纳州立大学客座教授。近年来在国际权威杂志发表高水平论文30多篇，拥有2项国际发明专利和50多个国内专利，出版学术专著1册，参与多个国际重大研发项目。在仪器研制方面，成功研发了多代高精度手持式X射线光谱成分分析仪，且已经过上海市计量测算技术研究中心的专业鉴定，具有高灵敏度、高准确度、快速无损等特性，可广泛应用于石油、天然气煤层气勘探与开采，铀矿探测以及金属、食物、植物、土壤的检测等，对实现我国在地质考古、公共安全、环境保护、食品安全等领域的探测设备核心部件的升级及市场国产化产生了重大影响。e-mail：lifusheng@uestc.edu.cn

X射线荧光光谱（XRF），作为一种快速的、非破坏式化学成分分析方法，以其分析元素多、分析浓度范围广、多种元素同时分析等特点被广泛应用。近年来，XRF需求规模不断增长的同时，市场竞争也日趋激烈。在这样的局势下，推出“有实力”的XRF产品成为企业成败的关键，展现XRF产品的“硬实力”是企业争取市场的重要途径之一。基于此，仪器信息网特组织“晒晒XRF明星产品的硬实力”主题活动，发布系列稿件，通过不同渠道进行推广，以帮助仪器企业展现自身实力、争取更多市场，也帮助广大用户了解前沿XRF技术、解决选型难题。本期要“晒”的明星产品是日立X-MET8000手持式X射线荧光光谱仪。日立X-MET8000手持式X射线荧光光谱仪仪器信息网：请介绍贵司概况，当前发展情况如何？日立分析仪器：日立分析仪器是日立高新技术集团旗下的一家全球性公司，总部位于英国牛津，在芬兰、德国和中国有研发和组装业务，在全球多个国家有销售和支持业务。日立分析仪器提供实验室级和高性能现场检测设备，如光电直读光谱仪、X射线荧光光谱仪、X荧光测厚仪、激光诱导击穿光谱仪、热分析仪、锂电池异物分析仪、油品分析仪、土壤分析仪等。近年来，日立分析仪器业绩提升了两倍，为超过10000家客户提供了优质服务。仪器信息网：请介绍一款贵司的XRF“明星产品”，具有哪些核心竞争力？日立分析仪器：X-MET8000手持式X射线荧光光谱仪，可进行快速的合金等级鉴定及多种材料（固体和粉末金属、聚合物、木材、溶液、土壤、矿石、矿物等）的化学成分分析，具有操作简单、续航时间长、适合现场分析等特点。X-MET8000系列标配SDD探测器，与传统的SiPin检测器相比，分析速度更快、检测下限更低。因此，X-MET8000手持式X射线荧光光谱仪得到了广大客户的一致好评。仪器信息网：这款明星产品应用最好（或销售最好）的领域是哪个？用得好（或销售好）的原因是什么？日立分析仪器：X-MET8000主要应用于金属成分分析、资源回收及汽车工业等领域，不仅为客户解决了在现场进行化学成分分析的需求，且相较于其它分析仪器，其使用难度更低，因此具有一定的不可替代性。仪器信息网：贵司针对这款明星产品制定了怎样的售前/售中/售后服务方案？日立分析仪器：日立分析仪器在中国有10家合作伙伴，销售团队可以在24小时内给客户提供上门技术交流和产品演示，并针对客户的具体需求给出选型和配置建议。交货完成后，日立分析仪器将提供三次远程回访，以及超越同行的硬件保质期。仪器信息网：用户是否对XRF提出了更高的技术要求？贵司是否制定了应对之策？日立分析仪器：随着国内制造业升级，对分析仪器也提出了更大的挑战。日立分析仪器将竭诚为广大客户提供基于XRF的全套解决方案，在自动化、智能化、集成化、专业化方面提供更加专业的服务。仪器信息网：请展望XRF市场前景，预测其技术发展方向。日立分析仪器：随着人工智能及半导体技术的发展，XRF在检测器以及核心算法上会迎来明显的提升，这些技术的进步将给XRF市场带来利好，日立分析仪器也会在这些方向持续进行投入。

随着材料作为基础产业的重要性不断凸显，X射线分析作为材料成分和结构分析的必要手段，也越来越得到材料分析者的青睐。帕纳科不断追求在X射线分析技术及其应用上的创新和发展，乐于分享其丰富的X射线知识资源，以不断优化客户的X射线分析能力为目标。为了进一步促进帕纳科X射线分析仪器用户之间的技术交流，提高用户仪器的使用效果，帕纳科公司中国用户X射线分析仪器技术交流会常设组委会决定于2016年9月19日在北京雁栖湖畔召开为期5天的“第14届帕纳科中国用户X射线分析仪器技术交流会”。大昌华嘉科技事业部为帕纳科公司提供从采购到研究和分析、营销和销售、分销和物流以及售后服务全方位涵盖整个价值链的市场拓展服务。大昌华嘉科学仪器部作为帕纳科中国区战略合作伙伴，为其台式能量色散X射线荧光光谱仪Epsilon 1, 3X和3XLE产品提供从采购到研究和分析、营销和销售、分销和物流以及售后服务全方位涵盖整个价值链的市场拓展服务。帕纳科Epsilon 1台式XRF能谱一体机会议简介：为让用户更好地了解国内外X射线分析仪器的技术进展，帕纳科将会邀请国内外著名专家就X射线衍射和X射线荧光光谱分析技术和应用展开报告，组织用户进行学术及应用交流，进行帕纳科公司应用软件答疑及讲解，邀请相关专家作相关技术交流。大会将按照应用领域设立分组讨论会，拟设立：“建材”、“钢铁及有色”、“地质及采矿”、“石化及催化剂”、“质检及制药”、“大学及研究院所”等分组会场，进行专业性交流。会议将征集用户在仪器应用和维护方面的热点疑难问题，对于有代表性的问题，将请应用专家和客户支持经理在会议现场予以解答。会议议程：9月19日： 大会报到，安排住宿9月20日上午： 开幕式及大会特约报告（中外专家学者特邀报告）9月20日下午： X射线荧光光谱分析分会场报告（XRF）； X射线衍射分析分会场报告（XRD）9月21日上午： X射线荧光光谱分析分会场报告（XRF）； X射线衍射分析分会场报告（XRD）9月21日下午： 行业分组座谈9月22日： 技术座谈9月23日： 大会结束，代表返回----------------------------------------------------------------------------------如果您对X射线荧光光谱分析技术及相关产品感兴趣，欢迎联系：大昌华嘉商业（中国）有限公司服务电话：4008210778邮箱地址：ins.cn@dksh.com大昌华嘉网站：www.dksh-instrument.cn 扫描关注“大昌华嘉科学仪器部”公众号

马尔文帕纳科作为X射线荧光光谱仪全球供应商中不得不提的一个名字，与X射线缘起于1919年的第一只商用X射线管。在历经原飞利浦分析仪器和原帕纳科时代的百年嬗变后，马尔文帕纳科已然成为分析仪器领域的重要组成部分。现在，马尔文帕纳科的业务领域虽已不再局限于X射线分析仪器，但其XRF产品仍以卓越的软硬件设计，出色的灵敏度、稳定性和使用寿命，以及领先的分析理念，在元素分析领域独树一帜，在XRF市场占有重要一席。在马尔文帕纳科的众多产品中，于2016年面市的Zetium系列多核X射线荧光光谱仪无疑是一个佼佼者。该产品集成了成熟的波长色散X射线分析技术、进步中的能量色散X射线分析技术和微小区域分析模块，成为XRF分析领域的先行者和难有匹敌的多面手。如今，通过引入最新的远程技术和云服务，Zetium光谱仪变得更加智能。从被动接受样品进行测试，到随时随地主动向用户报告仪器状态，Zetium已然成为了用户的一个智能管家。随着更多新技术的导入，Zetium必将成为实验室中机智可靠的分析助手。大型落地式X射线荧光光谱仪由于其快速响应、高分析性能和高通量等特性，常被应用于勘查、采矿、冶金、建材等制造业中较为上游领域的生产过程控制和质量控制，以及大宗工业产品交易中的属性鉴定。Zetium光谱仪在这些传统行业中取得了不俗的销量和口碑，帮助马尔文帕纳科中国的业绩连创新高。其中一个非常典型的案例是，近两年来马尔文帕纳科在海螺水泥的智能化工厂项目中已经连获逾30台Zetium光谱仪的订单。这些成绩离不开马尔文帕纳科在XRF市场的美誉度，和Zetium继承自前代Axios荧光仪以来的出色光谱仪设计和卓越的稳定性与精密度。近几年，随着我国逐步迈入内外双循环和产业升级的新发展阶段，在双碳目标大环境下，科研高校、锂电等新能源和高科技产业的快速发展，也为Zetium光谱仪在传统目标市场之外开辟了更广阔的新天地。马尔文帕纳科X射线荧光光谱仪Zetium 面对中国快速变化的市场需求，作为XRF分析方案的专业供应商，马尔文帕纳科在丰富产品线和贴近用户的方向上持续发力。产品线上的投入，不仅仅体现在优化现有XRF软硬件平台的性能和使用体验，同时也不断推进对XRF相关产品的迭代更新，例如2023年6月发布的FORJ火蝾全自动熔融产品。作为XRF的前处理设备，在面对着众多全新材料的处理需求时，常规的熔融产品会存在效率、可靠性和样品易污染等局限性，FORJ火蝾熔样机在设计、材料和专利技术上的全面创新，极大地改善了XRF分析过程当中熔融前处理环节，为XRF用户获取更精准的分析结果打下了坚实基础。马尔文帕纳科FORJ火蝾全自动电控熔样机产品的研发创新是基于对用户需求的深入了解。在贴近用户的行动上，马尔文和帕纳科在合并之初，就确认了行业化、专精化的改革基调。通过将市场、销售、应用、服务等职能部门进行行业划分，马尔文帕纳科收获了一个运作自如、专业可靠且不断成长的本地团队，用户也能从中获得更为专业的服务支持。众所周知，当今的中国市场正在发生翻天覆地的变化。经济全球化受阻正逐步改变着传统的合作模式，中国的经济由投资驱动的高速扩张进入优化结构的中速增长区间，随着各行各业的产业升级需求与劳动力供应之间的错配，旧的服务模式是否还能适应持续发展的需求？如何在扩展业务的同时保持与本地客户之间的紧密关系，这是时代给予我们的问卷。对于马尔文帕纳科的支柱业务之一的X射线荧光光谱产品来说，我们相信这些外部市场的变化将会驱动马尔文帕纳科与客户之间合作方式甚至是合作模式的改变。虽然市场存在着如此多的不确定因素，但是对于一个历经百年且具有极其丰富专业经验的XRF供应商来说，我们相信追本溯源，各行各业对于高技术附加值的产品和服务的需求不会变化，对于专业技术服务的需求也会持续增长。虽然很难对未来进行准确的预测，但我们仍将立足根本，通过不断完善产品和产品线组合，不断优化线上、线下支持系统，不断推进产品的智能化、自动化，配套来为XRF客户提供持续增值的产品体验。本文作者：熊佳星，马尔文帕纳科中国区XRF产品经理

仪器信息网讯，2010年9月6日至10日，为了促进帕纳科X射线分析仪器用户之间的技术交流，更好地了解国内外X射线分析仪器的技术进展，提高仪器的使用效果，“帕纳科第十一届中国用户X射线分析仪器技术交流会”在美丽的青海省西宁市召开。会议由“帕纳科公司中国用户X射线分析仪器技术交流会常设组织委员会”(以下简称“常设委员会”)主办，中国铝业青海分公司、中科院青海盐湖研究所协办。帕纳科第十一届中国用户X射线分析仪器技术交流会现场钢铁研究总院陆金生教授主持会议　　来自地矿、钢铁、铝业、水泥以及耐火材料等行业约200多位用户代表出席了此次技术交流会。会议安排了“开幕式及大会报告”以及“X射线衍射技术”、“X射线荧光技术”两个分会场。本次用户会由常设委员会主席、钢铁研究总院陆金生教授主持。帕纳科亚太区业务总监Anant Bhide先生致辞　　帕纳科亚太区业务总监Anant Bhide先生在致辞中表示，用户会不仅仅是一个社交活动平台，更重要的是一个科学交流平台。在交流会上，每一位参会者都能够在相互交流的过程中学到知识，尤其是年轻的朋友可以从经验丰富的行业内专家那里学到更多的知识。同时，各位专家是仪器的使用者，帕纳科从你们身上学到了很多有关仪器的应用技术，我们非常重视与科学界这样非常好的交流机会，在全世界各地我们都组织这样的活动，帕纳科与中国很多重要的研究院所和高校都进行了深入的合作。这些都会促进帕纳科研制性能更加优越、更加便捷的仪器来帮助科学家有效、深入地开展工作。中国铝业青海分公司副总经理周新林先生致辞　　中国铝业青海分公司副总经理周新林先生在致辞中表示，帕纳科公司60年来一直致力于X射线分析仪器的研发和生产，对世界分析仪器的发展做出了杰出的贡献 中国铝业青海分公司和帕纳科公司也进行了长达20多年的深入交流与合作。希望通过帕纳科提供的这个交流平台，代表们进行充分的交流，增进友谊。　　大会特别邀请了国内长期在X射线领域工作的资深专家作报告。中国晶体学会副理事长、中国物理学会X射线专业委员会主任麦振洪教授作“同步辐射及其X射线分析技术”报告，国家地质实验测试中心罗立强教授作“X射线光谱形态分析技术与应用”报告，复旦大学马礼敦教授作“X射线成像与断层扫描成像”报告，中科院上海硅酸盐研究所卓尚军教授作“X射线荧光光谱在人工晶体质量控制方面的应用”报告，中国地质科学院地球物理地球化学勘查研究所张勤教授作“X射线荧光光谱分析粉末制样一种新思路”报告。　　在此次用户会的衍射技术、荧光技术分会场上，各有的17篇衍射论文和17篇荧光论文的作者分别进行了口头报告。报告内容从基础科学研究到工业应用内容广泛，在应用领域中，不但有X射线分析仪器在水泥、地质、铝及有色、钢铁等传统行业的应用，还包含了X射线分析仪器在陶瓷、刑侦、质检、食品化妆品等新型领域中的应用。精彩的报告，深入浅出讲解，展现了帕纳科X射线分析仪器在各个研究和应用领域中所作出的贡献，也使与会人员看到了X射线分析仪器发展的广阔前景。　　特别安排的帕纳科X射线荧光仪、衍射仪日常维护报告和热点问题专家解答环节更是充满热烈的气氛，得到了参会代表的一致好评。帕纳科公司中国区经理薛石雷先生宣读获奖名单　　为鼓励帕纳科X射线分析仪器用户之间深入的技术交流，常设委员会决定从2008年度开始，每年从征集的公开发表的论文中评选出优秀期刊论文奖，本次评出X射线衍射和X射线荧光类优秀期刊论文各5篇，并在大会上为论文作者颁发奖状和奖金。常设委员会主席陆金生教授宣布了评选原则，荷兰帕纳科公司中国区经理薛石雷先生宣读了获奖名单和获奖理由。麦振洪教授为获得优秀期刊论文奖的作者颁奖　　在本次用户会上，帕纳科工程师向参会人员全面、深入地介绍了帕纳科最新产品——Empyrean锐影XRD系统，并现场进行了深入的交流和答疑。　　三维断层扫描探测器PIXcel3D　　探测器是X射线仪器的核心部件，帕纳科近年推出的高性能半导体探测器——矩阵探测器PIXcel受到了用户广泛的关注。该探测器有超过 65,000 个像素，每个像素大小为 55 x 55 微米 每个像素均有各自的电路，可以快速获得计数 每秒每像素行超过 2500 万个计数。由于运用了固态技术，该探测器甚至不需要风扇也可以运行。Empyrean锐影典型应用Empyrean锐影XRD系统　　PIXcel探测器是Empyrean锐影XRD系统的核心，同时在X射线源、测角仪、样品台等方面的革新，使得Empyrean锐影能够在一台仪器上进行粉末衍射、薄膜高分辨、微区衍射、小角散射等方面的工作 Empyrean锐影真正独一无二的优势是使用计算机断层扫描(CT)分析，使系统无需对材料进行切割便可以观察到固体物质的内部，为随后的X射线衍射分析确定区域，或检查是否存在毫孔或微孔。新产品Empyrean锐影XRD系统不仅帮助用户获得更加稳定可靠的实验结果，同时极大地增加了X射线衍射分析的灵活性，有效地利用了实验室空间。　　大型晚宴　　帕纳科(前飞利浦分析仪器部)进入中国市场已有30多年历史，在中国已有近2000名用户。帕纳科的生产业务范围包括X射线荧光光谱仪、X射线衍射仪分析仪器系统及软件，广泛适用于产品的组成分析、材料的特性分析等 其用户范围涉及水泥、金属和钢铁、纳米材料、塑料、聚合物和石油化工、工业采矿、玻璃和高分子、催化剂、硅半导体芯片、薄膜和高级材料、药用液体、可再生原料、环保样品等分析领域。　　　　附录：荷兰帕纳科公司　　http://panalytical.instrument.com.cn　　http://www.panalytical.com.cn/　　http://www.panalytical.com/

*国家药典委员会官网及公示稿截图中国药典相关通则修订稿正在加速公示中，四月底通则0461 X射线荧光光谱法迎来了它的第一次修订稿的发布。修订的主要内容包括对前言、供试品的制备、定量测定法相关内容的补充完善，以及增订方法学验证与确认中准确度、重复性、中间精密度、专属性、定量限、线性、范围、耐用性、确认相关的内容，罗列入下表。此次修订将X射线荧光光谱技术更加科学全面的收载到中国药典之中，为该技术于药典的发展应用奠定基础。岛津解决方案修订稿中新增内容明确指出能量色散型X射线荧光分析仪无需对样品作特别复杂的处理而直接进行测量，对样品也没有任何损坏，可直接用于生产过程控制。岛津X射线荧光光谱仪家族核心成员能量色散性X射线荧光分析仪（ED-XRF）就是业内元素分析的优等生。ED-XRF无需前处理或者简单前处理即可对样品进行元素分析。▶ 适用的样品类型广泛，固体片剂、粉末和液体均可。▶ 实验操作过程简单。EDX系列▷ 岛津EDX系列产品完全符合通则修订新增的对仪器硬件的一般要求*注：EDX为岛津ED-XRF产品除了光源（X 射线管）、分光系统和检测器等组件构成外，岛津EDX产品配置Rh靶材和特种滤光片，可降低X射线管产生的特性X射线和连续X射线，从而提升检测灵敏度，亦可分析微量元素。同时搭载多种一次滤光片，可以实现软件操控自动切换。准直器标配观察样品摄像头，对微小样品和微量样品也可以进行精准分析。此外，无法在真空下分析的液体、会产生气体的样品中的轻元素可以通过He置换进行有效分析。丰富的硬件配置是岛津EDX产品满足各类分析需求的重要保障。▷ 专业软件让EDX分析便捷又合规岛津EDX的分析操作可通过PCEDX Pro软件快速完成，简单操作即可开启全自动测定。该软件功能强大，提供多种计算方法，包括标准曲线法、FP法（基本参数法）、薄膜FP法、背景FP法等，能完美应对0461通则修订中新增的数学校正法相关内容，帮助客户快速准确地进行数据分析。此外，PCEDX Pro CS/DB版完全满足制药行业对于FDA 21CFR Part11的合规需求，包括安全功能、审计追踪、用户管理、验证功能等，且通过岛津LabSolutions CS平台让数据管理更加高效。PCEDX软件具有FDA 21CFR Part11要求的功能★ 安全功能只有授权用户才能进行ID/密码认证、操作历史记录和锁定屏幕。★ 通用场景术语库操作日志和审计跟踪日志输出功能　允许用户输出用户操作或系统配置设置更改的历史记录，作为审计跟踪日志。★ PDF输出和验证功能完整性检查软件已添加，以检查任何篡改。★ 项目管理功能多用户使用一台仪器时，通过对每个项目的管理，提高了用户的便利性。★ 使用LabSolutions CS实现网络管理利用网络环境,可以即时获取所需信息。★ 使用LabSolutions CS可以集中管理数据可对实验室现有的其他分析仪器及其数据进行统一集中管理，让实验室的管理更加智能高效。▷ EDX拥有丰富的制药行业应用场景随着ICH Q3D指导原则在中国药典转化实施的逐步开展，元素类分析技术及相关产品备受制药行业客户的关注，此次修订的通则0461所收载的X射线荧光光谱法（后简称XRF法）也是元素分析的利器，相较于其它元素分析方法，如原子吸收分光光度法、电感耦合等离子体质谱法等，有其独特的技术优势，简化前处理、无损、绿色、友好、低能耗是专业分析人员对它的综合评语。基于ICH Q3D要求，国内研究人员【1】最新报道了采用ED-XRF技术建立了桂利嗪片中铅 （Pb）、镉（Cd）、砷（As）、汞（Hg）、钴（Co）、钒（V）、镍（Ni）共 7种元素的内标标准曲线法，并对多家企业的桂利嗪片进行元素杂质含量测定和风险评估。★ 在方法优化验证中，特别考察了片剂包衣对测定的影响情况，结果显示包衣对测定结果无影响，可不除包衣直接进行测定，是XRF能无需前处理直接测定的特色之一。★ 耐用性试验结果表明，样品量对测试结果影响不大，故不需要定量取样，但测试时样杯中的样品要覆盖样杯底，使测试结果更准确。★ 涉及 3 种不同物质形态，包括溶液、片剂和粉末，回收率试验验证了以标准系列溶液测量粉末样品时，回收率均符合要求，说明液体形态和粉末形态的样品测试误差在允许范围内，片剂和粉末样品中各元素的定量结果一致，且测试图谱无差异，表明所建立的方法适用于不同形态样品的测定。不同形态的选择以简便为主，充分体现EDXRF法快速测定的优势。岛津在前沿技术方面不断开拓新应用新方向，切实关注制药行业客户的实际需求，不断为现场分析的提效增速而努力，就让我们一起浏览下岛津EDX的使用场景吧！◎ 原料药或制剂中元素含量测定和元素杂质的快筛（可搭配“药物元素杂质分析方法包”应对ICH Q3D需求）◎ 生产中控现场的反应中间产物相关元素（如卤素、金属）的含量控制◎ 中间体或原料药生产所用贵金属催化剂的残留分析及回收◎ 含矿物药的中成药中如Hg/As/Cu等元素的含量快速测定◎ 生产过程或成品中微小异物分析（可与显微红外技术搭配进行综合分析）更多精彩案例欢迎浏览岛津官网应用文章，免费下载！文献引用：【1】刘荷英等. X 射线荧光光谱法快速定量桂利嗪片中7种元素杂质，中国药业China Pharmaceuticals 2024，33(9)：69-73本文内容非商业广告，仅供专业人士参考。

由仪器信息网主办的第三届&ldquo iCS光谱网络会议（iConference on Spectroscopy，iCS2014 ）&rdquo 今日进行了X射线荧光（XRF）专场和原子吸收光谱（AAS）专场的会议。会议报名持续火爆，两场会议的报名人数再次超越千人大关，出席人数近五成。 上午主题是X射线荧光（XRF）专场，中国科学院地球环境研究所的徐红梅博士代表曹军骥 研究员做了《能量色散X射线荧光光谱仪（EDXRF）在测试大气气溶胶样品中的应用》的报告，中检南方邓春涛老师根据自己多年工作经验也为大家详述XRF在电子产品检测领域的应用，来自赛默飞世尔科技的吕勇老师则介绍了赛默飞世尔XRF产品在汽车尾气三元催化和板材涂层方面的最新应用和技术。 下午主题为原子吸收光谱（AAS）专场，共有3位专家为网友做精彩报告。做报告的专家依次为中国广州分析测试中心舒永红研究员、北京市环境保护监测中心徐子优 高工、中国环境监测总站梁宵老师，三位专家分别从食品、环境等角度解析了相关领域的原子吸收（AAS）进展。 今日，原子吸收光谱（AAS）专场报告人中国环境监测总站梁宵老师专程来到仪器信息网会议现场为网友做报告。中国环境监测总站 梁宵 明天，将进行第三届&ldquo iCS光谱网络会议（iConference on Spectroscopy，iCS2014 ）&rdquo 的原子光谱技术展望专场。这个专场承载着原子光谱人对他们倾心的领域&mdash &mdash 原子光谱未来的展望，也承载我们对下一届iCS光谱网络会议的共同期待。 本次专场邀请到四川大学分析仪器研究中心段忆翔教授和复旦大学卢宏亮老师为大家讲述原子光谱领域的新技术LIBS和辉光放电光谱技术，精彩内容欢迎用户抓紧最后的机会报名参与。 报名地址：http://www.instrument.com.cn/webinar/ics2014/sche.aspx#rd具体报告列表如下：原子光谱的希望之星&mdash LIBS技术的现状与展望段忆翔 教授四川大学分析仪器研究中心辉光放电光谱仪在半导体领域的应用卢宏亮复旦大学 微电子系

相关法规背景 REACH法规即“化学品注册、评估、许可和限制”,是欧盟对进入其市场的所有化学品进行预防性管理的法规,该法规自2007年实施以来,不仅对我国出口化工企业带来了一系列长期的冲击,也对包括纺织、机电、玩具、家具等在内的下游产品企业的生产、管理和出口产生深远影响。近年来,欧盟对于REACH法规的消费品监管内容不断更新,仅2015年就将有(EU)　No　474/2014、(EU)　No　1272/2013等四个修订案生效,涉及十多种消费产品,同时欧盟对消费品符合REACH法规的执行监管也不断强化,出口企业应引起重视和关注。 REACH法规与消费品密切相关的主要是法规附件XVII,附件中对消费品中可能存在的危险化学物质的使用要求和含量要求有严格的限制,中国消费品因不符合欧盟REACH法规被各成员国海关拒绝进口或责令召回的通报近年来不断增长,已成为我国消费品出口的重要技术壁垒。根据欧盟非食用消费品快速通报系统(RAPEX)的公开数据统计,2014年我国出口欧盟的消费品因不符合REACH法规被通报高达301起,同比上年增长91.7%,其中涉及增塑剂的达180起,涉及重金属的97起。从产品类别来看,针对玩具及儿童用品的通报260起,同比增长111.4%,针对一般消费品的41起,同比增长4.9%。通报数据的快速增长一方面表明,欧盟对于REACH法规的执行监管日趋严格,另一方面也说明,我国输欧消费品在DEHP等禁用化学品的控制上存在较大不足,企业的风险防范意识有待进一步强化。 XEPOS如何帮助拉链行业有效应对欧盟REACH法规 拉链作为服装大类，配件分类，REACH法规对其中可能存在的危险化学物质的使用要求和含量要求有严格的限制。一般而言，人们尤其关注里面含有的各种重金属元素，尤其应用于儿童服装类的拉链，拉链中的铅（Pb）含量更是有着更严格要求。随着企业风险防范意识的强化，不少企业都纷纷购置各种精密分析仪器对产品质量进行监控，以应对相关行业法规。但拉链企业对拉链重金属含量的日常监控中往往会遇到如下问题：（1） 检测时间长，效率低下，影响生产（2） 检测人才的培养成本高（3） 检测结果偏差大，达不到内控要求（4） 送检成本高 SPECTRO XEPOS 台式偏振X射线荧光光谱仪是德国斯派克分析仪器公司推出的新一代仪器，能很好有效地解决上述拉链行业质量监控中所遇到的困惑。在日常的重金属检测中，斯派克台式偏振X射线荧光光谱仪XEPOS有着无与伦比的巨大优势。（1）3-5分钟内可以完成一个样品的检测，检测元素范围：Na-U；（2）操作简单，并不需要十分专业的技术人员操作，节约人力成本；（3）无损检测，无须进行样品前处理，轻松解决样品前处理复杂、耗时、危险等问题。（4）检测下限极低，在某些材质检测方面，偏振式X射线荧光光谱仪（简称ED(P)XRF）灵敏度和检测限都是普通X射线荧光光谱仪（EDXRF）的5-10倍；（5）性能大幅度领先于普通X射线荧光光谱仪。无论是对轻元素还是重金属元素，偏振式X射线荧光光谱仪XEPOS皆有优秀的测试能力。普通的EDXRF虽然也能宣称可以达到Na-U的分析能力，如Na的检测限指标一般是3000ppm，常见重金属为10-30ppm，所以对于某些痕量元素的测试应用意义不大。而偏振ED（P）XRF的元素检测限一般为：Na:100ppm Mg:30ppm Al:30ppm Si:2ppm S:0.6ppm等其的重金属元素检测限一般为（以GB15618-1995，和美国EPA标准为例，硅基,300s测试时间）：V:0.6ppm Cr:0.5ppm As:0.7ppm Cu:0.6ppm Cd:0.3ppm Sb:0.7ppm Hg:0.3ppm Pb:0.3ppm La:2.1ppm Ce:2.5ppm Pr:3ppm Nd:4ppm（6）仪器性能认同度高，不少检测单位都有该设备，如中国CQC，TUV实验室，深圳计量院，广州分析测试中心，广东省环保局。企业在有仪器自检的情况下，可以减少甚至无须对样品送第三方检测，降低企业经营成本。 另外，SPECTRO XEPOS可广泛地应用于石油、化工、冶金、矿业、制药、食品、环保、地质、建材、废物处理以及再加工工业等。以油中各种元素的分析为例。使用SPECTO XEPOS，在氦气保护状态下，在300秒钟之内，对于P、S、Cl、Ca、Cu、Zn、Ba的检测下限在1-7μg/g以上。 XEPOS型X射线荧光光谱仪可广泛应用于各种电子材料及塑料中铅、镉、（汞）等元素分析，检出下限低，灵敏度高、稳定性好，可应对欧洲WEEE、RoHS指令以及SONY STM-0083标准。XEPOS型X射线荧光光谱仪真正做到高性能，多功能，一机多用，是企业单位添置精密仪器的，提升自身综合能力的一个不错选择。

7月7日，钢研纳克波长色散-X射线荧光光谱仪新品发布会在北京朗丽兹西山花园酒店举行，在万众期待下，CNX-808型顺序式波长色散X射线荧光光谱仪揭开神秘面纱，这是钢研纳克在国产高端分析设备领域迈出的重要一步。在科技部国家重大科学仪器专项（2012YQ050076）的支持下，项目组针对金属、建材、地质、环境、矿产等领域对无机元素分析技术的需求，先后攻克了X射线源、分光光路系统、探测器等关键技术，成功研制了顺序式波长色散-X射线荧光光谱仪——CNX-808。基于 CNX-808，开发了适合各行业的分析测试方法，建立了针对金属、地质、建材、环境、矿物等领域多种类型样品的方法体系。活动现场大咖云集，国家地质实验测试中心齐亚彬主任，中国地质科学院罗立强研究员，中国地质调查局南京中心黄俊杰研究员，中科院上海硅酸盐研究所卓尚军研究员，北京金自天正股份有限公司马硕高工，中国建材检验认证集团公司刘玉兵研究员，中国地质调查局物化探所于兆水研究员，钢铁研究总院张立新高工，还有来自材料、地质、分析检测领域各行各业的专家，以及各大媒体悉数出席，共同见证了CNX-808的诞生。此次发布会通过网络进行了全程同步直播，数千名行业专家、行业用户同时在线观看了发布会直播盛况。发布会伊始，钢研纳克检测技术股份有限公司党委书记总经理杨植岗致辞，回顾了纳克仪器的发展历程和辉煌成绩，介绍了CNX-808的项目情况，表达了对该产品的信心和期待。同时，在CNX-808的基础上，钢研纳克与国家地质实验测试中心合作，开发了相关的测试方法，建立了多类型样品多元素的方法体系，国家地质实验测试中心齐亚彬主任致辞，对CNX-808的性能表示高度赞扬，表示CNX-808的各方面性能指标达到了国际先进水平，对产品在市场的良好前景表示祝贺。1952年以来，钢研纳克前身钢铁工业试验所成立，分析检测领域的先贤们在西单大木仓缔造了中国冶金分析检测领域的早期机构。在改革开放的时代浪潮下，钢研纳克汇聚了一批批优秀人才，积极进军国产科学仪器研发制造领域。中国第一台红外定氧仪、中国第一台金属原位分析仪、中国第一台食品重金属检测仪… … 填补了多个国内空白，创造了多个第一。时至今日，形成七大类，近70余种型号的产品，基本覆盖材料产业测试表征全流程的检测设备，逐步实现由通用型向专用型测试表征设备延伸，成为中国仪器仪表行业最具影响力厂商之一，并于2019年在深交所创业板成功上市（股票代码：300797）。这次发布会也吸引了行业众多同仁的关注，在万众瞩目下，在所有嘉宾的共同见证下，国家地质实验测试中心齐亚彬主任和钢研纳克党委书记总经理杨植岗一同对新产品进行了揭幕。随后，钢研纳克 X荧光光谱仪项目经理周超带来了新产品介绍报告，对仪器的性能、特点、优势和应用情况做了详细阐述。最后一个重磅报告由中国地质科学院的专家罗立强研究员带来，主题为《X射线光谱仪与装置研发现状与进展》，对X射线光谱仪的应用前景提出了更前沿的阐述，对XRS的未来趋势和技术路线做了专业分析，也表达了对纳克这样国产高端仪器制造商的信心，相信国产仪器会越来越好，逐步实现国产替代。会后媒体对罗老师进行了专访，在谈到国产仪器目前的困难和未来的前景时表示：钢研纳克是目前国内知名的具有高水平研发制造实力的仪器产商，技术积淀和创新能力都有目共睹，今天的发布会让我们看到了作为国产厂商的钢研纳克，所研发制造的波长色散-X荧光光谱仪也拥有了和国外一流产商一较高下的能力，我们也为其感到激动和自豪。国产的高端分析仪器的发展需要更多的国产厂商一起努力，我们也需要像钢研纳克这样的国产产商，能够与我们国内的实验室一起合作，实实在在的在高端分析仪器领域扛起一片天。如今，纳克人在致力于成为材料产业质量基础设施建设引领着的企业愿景的驱使下，不断奋进，立足中国，在上海、青岛、成都、苏州均设立分/子公司，在全国20多地设立办事处，为各行各业客户提供优质服务。钢研纳克将一直秉承着务实进取的态度，在高端国产分析仪器的道路上不断奋斗，争取早日实现高端仪器的国产覆盖和替代。点击以下视频，回顾本次新品发布会精彩过程：