金属化薄容测试仪

SuperHawk2002SS金属化光纤光栅应用传感器封装特点全光型加速度探测现场不需要供电免受雷击损坏和电磁干扰描述 SuperHawk2002SS金属化光纤光栅用来取代无胶封装。镀层附着力强，可焊性好，焊接温度短期可承受300度。主要参数：产品型号SuperHawk 2002SS性能指标波长范围1528～1568nm边摸拟制比≥15dB3dB带宽≤0.25nm反射率≥90%镍管长度定制工作温度范围-40~260℃是否需要加工端面定制封装方式金属封装外形尺寸定制出纤方式双端出纤安装方式激光焊接

导体材料电阻率测试仪GB/T 11073硅片径向电阻率变化的测量方法提要探针与试样压力分为小于0.3N及0.3 N¯ 0.8N两种。以下文件中的条款通过本标准的引用商成为本标准的条款。但凡注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括订正的内容)或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的新版本。但凡不注日期的引用文件，其新版本适用于本标准。GB/T 1552硅、储单晶电阻率测定直排四探针法样品台和操针架样品台和探针架应符合GB/T152 中的规定。覆盖膜 导电高分子膜，高、低温电热膜 隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸 金属化标签、合金类箔膜 熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜 电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试采用四探针组合双电测量方法，液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出；选配：PC软件进行数据管理和处理.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准并参考美国A.S.T.M标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响.

瑞柯牌熔炼表面比电阻测试仪，合金类箔膜四探针电阻率测试仪熔炼电阻测试仪 ，金属化标签电导率测试仪FT-371超高阻双电四探针测试仪一、概述：本品为解决四探针法测试超高阻值材料方阻及电阻率， 可以测试到1010Ω方阻值，是目前同行业中能测量到的 方阻值，选购：本机还可以配合各类环境温度试验箱体使用，通过不同的测量治具满足不同环境温度下测量方阻和电阻率的需求.采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。二、广泛用于：覆盖膜 导电高分子膜，高、低温电热膜 隔热、防辐射导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸 金属化标签、合金类箔膜 熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜 电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻 半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件，导电薄膜（ITO导电膜玻璃等），金属膜，导电漆膜，蒸发铝膜，PCB铜箔膜，EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率 导电性油漆，导电性糊状物，导电性塑料，导电性橡胶，导电性薄膜，金属薄膜，抗静电材料， EMI 防护材料，导电性纤维，导电性陶瓷等三、参数资料1.方块电阻范围：101～2×1010Ω/□2.电阻率范围：102～2×1011Ω-cm3.测试电流范围：1mA ---1pA 4.电流精度：±0.1%读数5.电阻精度：108Ω以下≤5% ；108Ω以上≤20%6.显示读数：液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率.7.测试方式: 双电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：30W9.整机不确定性误差: ≤4%（标准样片结果）10.选购功能: 选购1.pc软件； 2.方形探头； 3.直线形探头； 4.测试平台11.测试探头： 探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格 探针材质选购：碳化钨针 白钢针；镀金磷铜半球形针 ROOKO/瑞柯品牌，来自瑞柯仪器公司，一个专注于改变人们生活方式和品质的企业. 专业与精致并重；智慧之原

仪器简介：熔融金属滴冲击性能测试仪，根据EN 348和ISO 9150测试标准研发而成，同时满足国内GB8965.2-2009《焊接防护服》和GB/T 17599-1998《抗熔融金属冲击性能的测定》试验标准要求。其测试原理为，使用焊接枪将焊丝条熔化，其滴落物引起织物背部量热计温度上升40℃时，测量其低落的熔融金属滴的数量。性能特点：1、熔融金属滴冲击性能测试仪包含燃烧器、试样框、焊接条驱动装置、燃烧器流量控制器、人机界面显示装置等；2、氧乙炔焊炬用以熔化金属条，焊嘴口径（1.2±0.1）mm；3、采用步进电机，驱动金属条，并可设定金属条运行速度；4、融滴导向机构，附涂高温防粘导槽，角度呈45度；5、织物测温传感器装置，用于测量试样背部温升；6、配重铜锤装置，用于设定织物预加张力175g±0.5g；7、温升数据可自动记录，熔融滴落数量由测试人员自行记录。安装要求：电气要求：220V、50HZ环境要求：温度 (20 ± 2) °C，湿度(65 ± 5) %仪器尺寸：800(W) X 1200(H) X 450(D)气体要求：氧气、乙炔

抗熔融金属滴（溅沫）冲击性能测试仪，根据ISO 9150、EN 348以、GB/T 17599、AQ6103、GB 8965.2等测试标准研制而成，适用于各种防熔融金属飞溅物灼伤人体的织物和复合织物的防护性能，其测试原理为当金属融滴按一定角度冲击试样时，测定在试样背后的传感器温升40K所需要的融滴数量。抗熔融金属滴（溅沫）冲击性能测试仪技术参数：1、 氧气及乙炔流量调节装置，可提供焊嘴标准气体流量；2、 氧气及乙炔压力调节装置，可将进气压力精确控制为250Kpa及50Kpa；3、 氧乙炔焊炬用以熔化金属条，焊嘴口径（1.2±0.1）mm；4、 采用步进电机，驱动金属条，并可设定金属条运行速度；5、 融滴导向机构，附涂高温防粘导槽，角度呈45度；6、 织物测温传感器装置，含耐熔绝缘岩棉支撑块，以及铠装铂电阻，用于测量试样背部温升；7、 配重铜锤装置，用于设定织物预加张力175g±0.5g；8、 提供金属融滴数量计数装置，可显示测试过程中滴落数量及频率；9、 配备抗熔融金属溅沫冲击性能标准测试软件，触摸屏人机界面控制，可显示温升曲线等试验参数。10、整机配备防护外罩，保护测试人员安全。

抗熔融金属滴（溅沫）冲击性能测试仪，根据ISO 9150、EN 348以、GB/T 17599、AQ6103、GB 8965.2等测试标准研制而成，适用于各种防熔融金属飞溅物灼伤人体的织物和复合织物的防护性能，其测试原理为当金属融滴按一定角度冲击试样时，测定在试样背后的传感器温升40K所需要的融滴数量。抗熔融金属滴（溅沫）冲击性能测试仪技术参数：1、 氧气及乙炔流量调节装置，可提供焊嘴标准气体流量；2、 氧气及乙炔压力调节装置，可将进气压力精确控制为250Kpa及50Kpa；3、 氧乙炔焊炬用以熔化金属条，焊嘴口径（1.2±0.1）mm；4、 采用步进电机，驱动金属条，并可设定金属条运行速度；5、 融滴导向机构，附涂高温防粘导槽，角度呈45度；6、 织物测温传感器装置，含耐熔绝缘岩棉支撑块，以及铠装铂电阻，用于测量试样背部温升；7、 配重铜锤装置，用于设定织物预加张力175g±0.5g；8、 提供金属融滴数量计数装置，可显示测试过程中滴落数量及频率；9、 配备抗熔融金属溅沫冲击性能标准测试软件，触摸屏人机界面控制，可显示温升曲线等试验参数。10、整机配备防护外罩，保护测试人员安全。

抗熔融金属滴（溅沫）冲击性能测试仪，根据ISO 9150、EN 348以、GB/T 17599、AQ6103、GB 8965.2等测试标准研制而成，适用于各种防熔融金属飞溅物灼伤人体的织物和复合织物的防护性能，其测试原理为当金属融滴按一定角度冲击试样时，测定在试样背后的传感器温升40K所需要的融滴数量。抗熔融金属滴（溅沫）冲击性能测试仪技术参数：1、 氧气及乙炔流量调节装置，可提供焊嘴标准气体流量；2、 氧气及乙炔压力调节装置，可将进气压力精确控制为250Kpa及50Kpa；3、 氧乙炔焊炬用以熔化金属条，焊嘴口径（1.2±0.1）mm；4、 采用步进电机，驱动金属条，并可设定金属条运行速度；5、 融滴导向机构，附涂高温防粘导槽，角度呈45度；6、 织物测温传感器装置，含耐熔绝缘岩棉支撑块，以及铠装铂电阻，用于测量试样背部温升；7、 配重铜锤装置，用于设定织物预加张力175g±0.5g；8、 提供金属融滴数量计数装置，可显示测试过程中滴落数量及频率；9、 配备抗熔融金属溅沫冲击性能标准测试软件，触摸屏人机界面控制，可显示温升曲线等试验参数。10、整机配备防护外罩，保护测试人员安全。

非接触无损方块电阻测试仪产地：美国原理和技术：非接触方块电阻测量仪使用涡电流(Eddy Current)的测试原理。涡电流(也称为感应电流)可产生一个磁场，当磁场与导电材料接触时，会在材料中感应到涡流。根据感应涡流的电流大小，可以计算得到该材料的面电阻（方块电阻）。该技术的优势：是一种非接触、无损的测量方式，不破坏材料；可以测量密封在绝缘层内的导电层；每秒采样次数高达数万次，测量速度快；测量范围：配备不同的测试头可以测量不同范围的面电阻。10X测试头：5 ~ 100,000 (Ohms/sq) 1X测试头：0.5 ~ 10,000(Ohms/sq) 0.1X测试头：0.05 ~ 1,000(Ohms/sq) 0.01X测试头：0.005 ~ 100(Ohms/sq) 应用领域：- 防静电/导电薄膜；- 天线；- 汽车；- 电池；- 装饰薄膜/纸张；- 显示器；- 花线电路和柔性电路板；- 电镀；- 玻璃窗；- 金属化电容用箔；- 金属化标签；- 微波感应器；- 包装；- 雷达吸波材料；- 反射和反光材料；- 半导体；- 太阳能；- 透明导电薄膜；

金属箔拉力测试仪比例限：荷重在一定范围内与伸长可以维持成正比之关系，其最大应力即为比极限。弹性限：为材料所能承受而不呈永久变形之最大应力。弹性变形：除去荷重后，材料的变形完全消失。永久变形：除去荷重后，材料仍残留变形屈服点：材料拉伸时，变形增快而应力不变，此点即为屈服点。屈服点分为上下屈服点，一般以上屈作为屈服点。 屈服（yield）：荷重超过比例限与伸长不再成正比，荷重会突降，然后在一段时间内，上下起伏，伸长发生较大变化，这种现象叫作屈服。屈服强度：拉伸时，永久伸长率达到某一规定值之荷重，除以平行部原断面积，所得之商.弹簧K值：与变形同相位的作用力分量与形变之比。.有效弹性和滞后损失： 在拉力机上，以一定的速度将试样拉伸到一定的伸长率或拉伸到规定的负荷时，测定试样收缩时恢复的功和伸张时消耗的功之比的百分数，即为有效弹性；测定试样伸长、收缩时所损失的能与伸长时所消耗的功之比的百分数，即为滞后损失。 金属箔拉力测试仪可测试项目（一）普通测试项目：（普通显示值及计算值）●拉伸应力 ●拉伸强度 ●扯断强度 ●扯断伸长率●定伸应力 ●定应力伸长率 ●定应力力值 ●撕裂强度●任意点力值 ●任意点伸长率 ●抽出力 ●粘合力及取峰值计算值●压力试验 ●粘合力剥离力试验 ●弯曲试验 ●拔出力穿刺力试验 金属箔拉力测试仪软件功能介绍:A. 测试标准模块化功能:提供使用者设定所需应用的测试标准设定，范围涵盖GB、ASTM、DIN、JIS、BS…等，测试标准规范。B. 试品资料:提供使用者设定所有试品数据，一次输入数据永久重复使用。并可自行增修公式以提高测试数据契合性。C. 双报表编辑:完全开放式使用者编辑报表，供测试者选择自己喜好的报表格式（测试程序新增内建EXCEL报表编辑功能扩展了以往单一专业报表的格局）D. 各长度、力量单位、显示位数采用动态互换方式，力量单位T、Kg、N、KN、g、lb，变形单位mm、cm、inch。E. 图形曲线尺度自动最佳化(Auto Scale)，可使图形以最佳尺度显示。并可于测试中实时图形动态切换。具有荷重-位移、荷重-时间、位移-时间、应力-应变荷重-2点延伸图，以及多曲线对比。F．测试结果可以EXCEL格式的数据形式输出。G．测试结束可自动存档、手动存档，测试完毕自动求算最大力量、上、下屈服强度、滞后环法、逐步逼近法、非比例延伸强度、抗拉强度、抗压强度、任意点定伸长强度、任意点定负荷延伸、弹性模量、延伸率、剥离区间最大值、最小值、平均值、净能量、折返能量、总能量、弯曲模量、断点位移x％荷重、断点荷重X％位移、等等。 数据备份：测试数据可保存在任意硬盘分区。H．多种语言随机切换：简体中文、繁体中文、英文。I． 软件具有历史测试数据演示功能。 金属箔拉力测试仪本机可对橡胶、塑料、发泡材料、塑胶、薄膜、软包装、管材、纺织物、纤维、纳米材料、高分子材料、复合材料、合成材料、包装带、纸张、电线电缆、光纤光缆、安全带、保险带、皮革皮带、鞋类、胶带、聚合物、弹簧钢、不锈钢、铸件、铜管、有色金属、汽车零部件、合金材料及其它非金属材料和金属材料进行拉伸、压缩、弯曲、撕裂、90°剥离、180°剥离、剪切、粘合力、拔出力、延伸伸长率等试验。金属箔拉力测试仪力量：分辨率：1/500000~1/1000可调 精度：±0.1%采集速率：0.1~200Hz可调 量程：0.01~1000000000N传感器类型：电阻应变片式 传感器灵敏度：0.1--1280mV/V激励电压：9VDC 通道数：4位移：一个编码器分辨率:由机械系统和光电编码器决定,可达0.0001mm 精度:仪表系统无误差.采集速率:50kHz 量程:0.0001~1000000000mm激励电压:5VDC 编码器线数:1~10000传感器类型:电压输出或差分输出或集电极开路型AB相正交输出光电编码器通道数:1橡胶伸长计(又叫大变形或位移跟踪器)：一个或两个编码器均可分辨率:由机械系统和光电编码器决定,可达0.0001mm 精度:仪表系统无误差.采集速率:50kHz 量程:0.0001~1000000000mm激励电压:5VDC 编码器线数:1~10000传感器类型:电压输出或差分输出或集电极开路型AB相正交输出光电编码器通道数:1金属引伸计(又叫小变形、电子引伸计或应变规)：分辨率:1/500000 精度:±0.1%采集速率:50Hz 量程:0.0001~1000000000mm传感器类型:电阻应变片式 传感器灵敏度:0.1--1280mV/V激励电压:9VDC 通道数:1速度输出控制：控制方式:脉冲或电压 速度范围:0.001~1000mm/min脉冲: 适用于控制带脉冲输入接口的伺服电机或步进电机频率范围:0.1 Hz -- 50 kHz 精度:0.069%分辨率: 5k~50kHz----0.14% 500~5kHz----0.014%50~500Hz----0.001% 5~50Hz----0.0001%0.1~5Hz-----0.00001%通道数:3电压: 适用于控制带模拟电压输入接口的伺服电机、变频器或直流电机范围:0~5V 精度:0.069%分辨率:0.0001V 负载能力:1mA通道数:3 数字开关量输出控制：可用于驱动外部继电器或电磁阀等输出类型:集电极开路光隔离晶体管输出 最大耐压:30V负载能力:最大150mA 输出通道数:8路 数字开关量输入检测：可用于检测上限位和下限位输入类型:光隔离晶体管输入 输入信号类型:无源触点输入或12V NPN型接近开关输入输入电流:6mA 输入通道数:9路 与电脑通讯接口：接口类型:3线制RS232串口或者网口主要技术指标 1、最大试验力：0—200N2、试验力分档：全程不分档，全程分辨率不变3、试验力显示范围:0～200N4、试验力有效测量范围：满量程的 2%～100%5、试验力测量精度：优于示值的±1%6、位移速度控制范围：0.05mm/min～500mm/min，无级调速，速度任意设定7、位移分辨率：0.01mm8、位移速度控制精度：优于±0.5%9、位移测量准确度：优于±0.5%10、拉伸行程：0～1000mm（不含附具）11、软件及用户界面：WINDOWSXP 操作环境下的软件和交互式人机对话操作界面12、供电电源：220V，50Hz1） 自动保存：试验结束，试验数据和曲线计算机自动保存，杜绝因忘记存盘而引起的数据丢失2） 测试过程：试验过程及测量、显示、分析等均由微机完成3） 批量试验：对相同参数的试样，一次设定后可顺次完成一批试验4） 试验软件：中文 Windows 用户界面，操作简便5） 显示方式：数据与曲线随试验过程动态显示6） 曲线遍历：试验完成后，可对曲线进行放大再分析，用鼠标查到试验曲线上各点对应的数据7） 试验报告：可根据用户要求进行编辑打印8） 限位保护：具有程控和机械两级限位保护9） 过载保护：当负荷超过额定值 3～5%时，自动停机自动和人工两种模式求取各种试验结果，自动形成报表，使数据分析过程变的简单，便于用户

加拿大AVVOR 9000重金属测试仪是款在线重金属测试仪表，采用阳极溶出伏安法原理，功能强大，可测多种参数的重金属测试仪，广泛应用于工业生产液流、市政排放污水、河流湖泊、地表水、地下水、饮用 水和海水等领域。AVVOR 9000重金属测试仪可测铜(Cu),铅(Pb),锌(Zn),镉(Cd),锰(Mn),锑(Sb),铊(Tl),铁(Fe),镍(Ni),砷(As),汞(Hg),硒(Se),钴(Co),钼(Mo),金(Au),银(Ag),铬(Cr),六价铬,锡(Sn),钯(Pd),铀(U)AVVOR 9000 重金属测试仪AVVOR 9000在线重金属离子监测仪能够自动连续监测水体中的金属离子， 广泛应用于工业生产液流、市政排放污水、河流湖泊、地表水、地下水、饮用 水和海水等领域。通过对水样预处理，可以很好地排除有机物等的干扰，大大 提高仪表测试的精确性和可靠性，真正实现了水质安全的预警功能。测量原理 AVVOR 9000重金属测试仪采用国际公认的&ldquo 伏安法&rdquo 技术。首先将分析溶液在一定条件 下进行预电解，使待测金属富集在工作电极上，接着让溶液沉淀一段时间，再 施加电势使富集于工作电极上的待测金属析出，通过整个过程的电流变化和金 属所对应的电势来计算出溶液中金属离子的浓度。仪器优点模块化构造大大缩减成本；允许多种模块组合，相同或不同的模块组合；一套仪器最多可接2个测试模块；有线和无线通讯可选；单通道操作简易；可实现多个金属参数测定；AVVOR 9000重金属测试仪测试金属☆根据测量参数不同，可以通过选择不同材质的工作电极来实现测量，工作电极根据材质可分为：金电极，镀汞电极，镀铋电极，裸碳电极；☆每个测试模块均可以安装一支工作电极，最多可以同时测量5种重金属参数；☆根据用户需要每台AVVOR9000型在线重金属分析仪最多可选配两个测试模块。测试模块1 As,Hg,Se测试模块2 Zn,Cd,Pb,Cu,Mn,Sb,Sb3+,Tl,Fe,Ni,Sn测试模块3 Cr,Ni,Co,Mo测试模块4 Au,Ag,Cr,Cr6+,Pd仪器特点AVVOR 9000系列重金属测试仪是一种在线快速精确的重金属离子浓度测定工具，被测定物的状态是液态。 AVVOR 9000系列采用阳极溶出原理，检测样本中的重金属离子。该技术是成熟的标准电化学技术。 AVVOR 9000可以划分不同的浓度检测范围，并且通过系统内部的软件设定转换模式和转换条件。 AVVOR 9000重金属测试仪提供8个4-20MA的模拟接口，可以通过系统内部的软件设置，将任何一个检测值通过指定的任何一个4-20MA接口输出，并同时配备RS485与RS232通讯接口。AVVOR 9000重金属测试仪仪器基本功能具有仪器基本参数贮存，断电、断水自动保护功能。 具有时间设置功能。 具有仪器故障自动检测自动报警。 具有定期自动校准功能。 具有密封防护箱体及防潮功能。 具有双向数据传输功能和工作状态输出功能。 输出信号采用4-20mA和RS-485/232标准接口。欢迎来电咨询重金属测试仪的详细技术参数。

广东熔炼方块电阻测试仪，烧结四探针软件测试系统涂覆电导率测试仪， 涂布层电阻测试仪 FT-361超低阻双电四探针测试仪 一、概述：本品为解决四探针法测试超低阻材料方阻及电阻率，最小可以测试到1uΩ方阻值，是目前同行业中能测量到的最小值，采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。选购：本机还可以配合各类环境温度试验箱体使用，通过不同的测量治具满足不同环境温度下测量方阻和电阻率的需求.二、广泛用于：覆盖膜 导电高分子膜，高、低温电热膜 隔热、防辐射导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸 金属化标签、合金类箔膜 熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜 电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻 半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件，导电薄膜（ITO导电膜玻璃等），金属膜，导电漆膜，蒸发铝膜，PCB铜箔膜，EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率 导电性油漆，导电性糊状物，导电性塑料，导电性橡胶，导电性薄膜，金属薄膜，抗静电材料， EMI 防护材料，导电性纤维，导电性陶瓷等 三、参数资料1.方块电阻范围：10-6～2×102Ω/□2.电阻率范围：10-7～2×103Ω-cm3.测试电流范围：0.1μA ，1μA，10μA，100μA.4.电流精度：±0.1%读数5.电阻精度：≤0.3%6.显示读数：液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率.7.测试方式: 双电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：30W9.整机不确定性误差: ≤4%（标准样片结果）10.选购功能: 选购1.pc软件； 2.方形探头； 3.直线形探头； 4.测试平台11.测试探头： 探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格 探针材质选购：碳化钨针 白钢针；镀金磷铜半球形针ROOKO/瑞柯品牌，来自瑞柯仪器公司，一个专注于改变人们生活方式和品质的企业.

四探针,四探针测试仪,表面电阻测试仪,电阻率测试仪,方阻计,方阻仪,FT-361超低阻双电四探针测试仪一、概述：本品为解决四探针法测试超低阻材料方阻及电阻率，最小可以测试到1uΩ方阻值，是目前同行业中能测量到的最小值，采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。选购：本机还可以配合各类环境温度试验箱体使用，通过不同的测量治具满足不同环境温度下测量方阻和电阻率的需求.二、广泛用于：覆盖膜 导电高分子膜，高、低温电热膜 隔热、防辐射导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸 金属化标签、合金类箔膜 熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜 电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻 半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件，导电薄膜（ITO导电膜玻璃等），金属膜，导电漆膜，蒸发铝膜，PCB铜箔膜，EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率 导电性油漆，导电性糊状物，导电性塑料，导电性橡胶，导电性薄膜，金属薄膜，抗静电材料， EMI 防护材料，导电性纤维，导电性陶瓷等 三、参数资料1.方块电阻范围：10-6～2×102Ω/□2.电阻率范围：10-7～2×103Ω-cm3.测试电流范围：0.1μA ，1μA，10μA，100μA.4.电流精度：±0.1%读数5.电阻精度：≤0.3%6.显示读数：液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率.7.测试方式: 双电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：30W9.整机不确定性误差: ≤4%（标准样片结果）10.选购功能: 选购1.pc软件； 2.方形探头； 3.直线形探头； 4.测试平台11.测试探头： 探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格 探针材质选购：碳化钨针 白钢针；镀金磷铜半球形针ROOKO/瑞柯品牌，来自瑞柯仪器公司，一个专注于改变人们生活方式和品质的企业. 专业与精致并重；优秀与智慧之原

四探针方阻电阻率测试仪,四探针电阻率/方阻测试仪 FT-331普通四探针方阻电阻率测试仪广泛用于：覆盖膜 导电高分子膜，高、低温电热膜 隔热、防辐射导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸 金属化标签、合金类箔膜 熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜 电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻 半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件，导电薄膜（ITO导电膜玻璃等），金属膜，导电漆膜，蒸发铝膜，PCB铜箔膜，EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率 导电性油漆，导电性糊状物，导电性塑料，导电性橡胶，导电性薄膜，金属薄膜，抗静电材料， EMI 防护材料，导电性纤维，导电性陶瓷等按照硅片电阻率测量的国际标准（ASTM F84）及国家标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准，本机配置232电脑接口及USB两种接口，本机结合采用范德堡测量原理能改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差，比市场上其他普通的四探针测试方法更加完善和进步,特别是方块电阻值较小的产品测量，更加准确.提供中文或英文两种语言操作界面选择，满足国内及国外客户需求. 本仪器本仪器采用四探针单电测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.参数资料1.方块电阻范围：10-5～2×105Ω/□2.电阻率范围：10-6～2×106Ω-cm 3.测试电流范围：0.1μA ，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA4.电流精度：±0.1%读数5.电阻精度：≤0.3%6.显示读数：液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 普通单电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：30W9.整机不确定性误差: ≤4%（标准样片结果）10.选购功能: 选购1.pc软件； 选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台11.测试探头： 探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格 探针材质选购：碳化钨针 白钢针；镀金磷铜半球形针

荧光寿命测试仪（Quantaurus&mdash Tau）Quantaurus-Tau是一套测试ps至ms量级荧光寿命的系统。它的操作十分简单，只需将样品放入样品腔，在软件中输入几个测试条件即可很快得到荧光寿命及光致发光光谱。一般典型实验可在60秒内得到分析结果，最高时间分辨率可达30-50ps. 应用领域荧光寿命测试有着非常广的应用范围。典型应用包括研究有机金属化合物分子内或分子间的电荷运动机能量转移，以及在有机电子发光器件开发中材料的荧光及磷光寿命测试，荧光蛋白中的FRET（荧光共振能量转移）以及太阳能电池及LED行业中的半导体化合物的测试。参数特性利用单光子计数技术实现高灵敏度，高速度的测试时间分辨率优于50ps可以测试低温液体样品（-196℃）荧光各向异性时间分辨测试荧光至磷光寿命测试集成化设计，简便化操作，性能稳定产品原理从有机材料或荧光探针中得到的荧光光谱（峰值波长及荧光强度等）是控制和评估材料的功能及特性的重要参数。然而，荧光光谱通常显示的是时间积分的结果，因此，当材料包含多种物质及活性元素时，这些物质及元素的荧光光谱只能以累积的形式表现出来。在这种情况下进行分析的一个有效手段是通过使用时间轴参数来观察发光的动态信息。这种方法通常也被称为荧光寿命测试，其中物质被脉冲光源激发并回到基态的过程可以在ps至ms的时间尺度内进行测试，这样甚至可以得到在相同波长及浓度下的多个不同的荧光寿命。

薄膜爽滑度测试仪MXD-02摩擦系数仪专业用于测量塑料薄膜和薄片、橡胶、纸张、纸板、编织袋、织物风格、通信电缆光缆用金属材料复合带、输送带、木材、涂层、刹车片、雨刷、鞋材、轮胎等材料滑动时的静摩擦系数和动摩擦系数，通过测量材料的摩擦系数(或爽滑性)，可以控制调节材料生产质量工艺指标，满足产品使用要求。另外还可用于化妆品、滴眼液等日化用品的滑爽性能测定。产品特点◎ 一次试验便可同时测定试样的动、静摩擦系数。◎ 试验速度可设、可调支持任意滑块质量。◎ 满足GB、ISO、ASTM多种测试标准，测试方法可按客户需求选择。◎ 仪器试验台面和测试滑块均经过消磁处理和剩磁检测，有效地降低了系统测试误差。◎ 微电脑控制，PVC控制面板和液晶显示屏，方便用户进行试验操作及数据查看。◎ 系统配件均采用世界知名进口元器件，性能稳定可靠。◎ 专业软件可对单件、成组试验数据统计分析、成组曲线叠加比较。◎ 微型打印机和标准的USB接口，方便连接计算机和快速打印。 测试原理将两试验表面平放在一起，在一定的接触压力下，使两表面相对移动，记录所需的力。用所测试力除以法向力即为摩擦系数值。薄膜爽滑度测试仪技术参数负荷范围：0 ～ 5 N（可选10N、30N）精度：0.5级行程：70mm 、150mm测试精度：0.1g（0.1J）滑块质量：200 g（注：其他质量滑块可定制）试验速度：100 mm/min、150 mm/min（注：其他速度可调）电源：AC 220V 50Hz外形尺寸：630mm (L)×360mm (W)×230mm(H)净重：33kg售后服务承诺三月内只换不修，一年质保，终身提供。快速处理，1小时内响应问题，1个工作日出解决方案。 体系荣誉资质ISO9001：2008质量体系认证、计量合格确认证书、CE认证、软件著作权、产品实用新型、外观设计。实力铸造品牌三大研发中心，两条独立生产线，一个综合体验式实验室。赛成自2007年创立至今，用户累计成交产品破万台，完善四大产品体系，50多种产品。

硅片基体导电类型与被测薄层相反。适用于测量厚度不小于0.2 μm的薄层，方块电阻的测量范围为10A-5000n.该方法也可适用于更高或更低照值方块电阻的测量，但其测量准确度尚未评估。使用直排四探针测量装置、使直流电流通过试样上两外探件，测量两内操针之间的电位差，引人与试样几何形软有关的修正因子，计算出薄层电阻。覆盖膜 导电高分子膜，高、低温电热膜 隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸 金属化标签、合金类箔膜 熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜 电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试采用四探针组合双电测量方法，液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出；选配：PC软件进行数据管理和处理.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响.采用四探针组合双电测量方法，液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出；选配：PC软件进行数据管理和处理.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准并参考美国A.S.T.M标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响.导体材料电阻率测试仪GB/T 11073硅片径向电阻率变化的测量方法提要探针与试样压力分为小于0.3N及0.3 N¯ 0.8N两种。以下文件中的条款通过本标准的引用商成为本标准的条款。但凡注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括订正的内容)或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的新版本。但凡不注日期的引用文件，其新版本适用于本标准。GB/T 1552硅、储单晶电阻率测定直排四探针法样品台和操针架样品台和探针架应符合GB/T152 中的规定。样品台上应具有旋转360"的装置。其误差不大于士5"，测量装置测量装置的典型电路叉图1，范围本标准规定了用直排四探针测量硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的方法。本标准适用于测量直径大于15.9mm的由外延、扩散、离子注人到硅片表面上或表面下形成的薄层的平均薄层电阻。

导体材料电阻率测试仪GB/T 11073硅片径向电阻率变化的测量方法提要探针与试样压力分为小于0.3N及0.3 N¯ 0.8N两种。以下文件中的条款通过本标准的引用商成为本标准的条款。但凡注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括订正的内容)或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的新版本。但凡不注日期的引用文件，其新版本适用于本标准。GB/T 1552硅、储单晶电阻率测定直排四探针法样品台和操针架样品台和探针架应符合GB/T152 中的规定。样品台上应具有旋转360"的装置。其误差不大于士5"，测量装置测量装置的典型电路叉图1，范围本标准规定了用直排四探针测量硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的方法。本标准适用于测量直径大于15.9mm的由外延、扩散、离子注人到硅片表面上或表面下形成的薄层的平均薄层电阻。硅片基体导电类型与被测薄层相反。适用于测量厚度不小于0.2 μm的薄层，方块电阻的测量范围为10A-5000n.该方法也可适用于更高或更低照值方块电阻的测量，但其测量准确度尚未评估。使用直排四探针测量装置、使直流电流通过试样上两外探件，测量两内操针之间的电位差，引人与试样几何形软有关的修正因子，计算出薄层电阻。覆盖膜 导电高分子膜，高、低温电热膜 隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸 金属化标签、合金类箔膜 熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜 电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试采用四探针组合双电测量方法，液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出；选配：PC软件进行数据管理和处理.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响.采用四探针组合双电测量方法，液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出；选配：PC软件进行数据管理和处理.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准并参考美国A.S.T.M标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响.

四探针方阻电阻率测试仪HRDZ-300C由于金属块体材料的电阻和金属薄膜的电阻很低，他们的测量采用四端接线法。为了满足实际的需要，本仪器采用四探针法原理来实现对不同金属、半导体、导电高分子材料的电阻及电阻率的测量。可用于物理教育实验，对导体/半导体/金属薄膜材料的电阻 及电阻率的测试及研究。本产品的电阻测量范围可达10-6—106Ω。（使用环境5—40℃，相对湿度80%，供电220V 50Hz，为实验室环境使用）四探针方阻电阻率测试仪HRDZ-300C适用范围四端测试法是目前较先进之测试方法，主要针对高精度要求之产品测试；本仪器广泛用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。四探针方阻电阻率测试仪HRDZ-300C配置各类测量装置可以测试不同材料之电导率。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电导率单位自动选择，BEST-300C 材料电导率测试仪自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成图表和报表。四探针方阻电阻率测试仪HRDZ-300C采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示电阻值、电阻率、方阻、电导率值、温度、压强值、单位自动换算，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.提供中文或英文两种语言操作界面选择，满足国内及国外客户需求电阻测量范围： 1、电阻率： 1×10-6～2×106Ω.cm、电 阻：1×10-5～2×105Ω电导率：5×10-6～1×108ms/cm分辨率： 最小1μΩ 测量误差±5%2、测量电压量程： 2mV 20mV 200mV 2V 测量精度±（0.1%读数）分辨率： 0.1uV 1uV 10uV 100uV3、⑴电流输出：直流电流 0～1000mA 连续可调，由交流电源供电。 ⑵量程：1μA，10μA，100µ A，1mA，10mA，1000mA, ⑶误差：±0.2%读数±2字4. 主机外形尺寸：330mm*350mm*110mm5、显示方式：液晶显示6、电源：220±10% 50HZ/60HZ7、标配：测试平台一套、主机一套、电源线数据线一套。四探针方阻电阻率测试仪HRDZ-300C覆盖膜 导电高分子膜，高、低温电热膜 隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸 金属化标签、合金类箔膜 熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜 电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试等相关产品

FT-340系列双电测电四探针方阻电阻率测试仪应用说明：覆盖膜 导电高分子膜，高、低温电热膜 隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸 金属化标签、合金类箔膜 熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜 电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻 半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件，导电薄膜（ITO导电膜玻璃等），金属膜，导电漆膜，蒸发铝膜，PCB铜箔膜，EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率 导电性油漆，导电性糊状物，导电性塑料，导电性橡胶，导电性薄膜，金属薄膜， EMI 防护材料，导电性纤维，导电性陶瓷等，提供中文或英文两种语言操作界面选择，二．描述：采用四探针组合双电测量方法，液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出；选配：PC软件进行数据管理和处理.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响 规格型号FT-341FT-342FT-343FT-345FT-346FT-3471.方块电阻 10-5～2×105Ω/□10-4～2×105Ω/□10-3～2×105Ω/□10-3～2×104Ω /□10-2～2×105Ω/□10-2～2×104Ω/□2.电阻率 10-6～2×106Ω-cm10-5～2×106Ω-cm10-4～2×106Ω-cm10-4～2×105Ω-cm10-3～2×106Ω-cm10-3～2×106Ω-cm3.测试电流 0.1μA.μA.0μA，100μA，1mA，10mA，100mA1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100mA0.1μA.μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100mA0.1μA、1μA、10μA，100μA，1mA，10mA，100mA1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100mA4.电流精度 ±0.1% ±0.2% ±0.2% ±0.3% ±0.3% ±0.3% 5.电阻精度 ≤0.3% ≤0.3% ≤0.3% ≤0.5% ≤0.5% ≤0.5% 6.显示读数屏液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式双电测量8.电源输入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗：30W 9.误差≤3%（标准样片结果）10.选购功能选购1.pc软件； 选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台；5.标准电阻.111.测试探头探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格 探针材质选购：碳化钨针 白钢针；镀金磷铜半球形针

桌面式X射线衍射仪在X射线光束通过索拉狭缝、发散狭缝照射在样品上，样品台位于测角仪中心，基于反射几何θs-θd，X射线光束在满足布拉格定律时，在特定的方向上发生衍射现象，经过防散射狭缝、索拉狭缝、接收狭缝到达X射线探测器上，最终经过数据处理系统在分析软件上展现出采集的衍射图谱。FRINGE EV是公司自主研发的一款桌面式X射线衍射仪器，其融合XRD和计算机软件等多项技术，可快速对粉末、块状或薄膜等形态的样品进行主要物相定性、定量分析、晶体结构分析、材料结构分析及结晶度测定，具有精度高、准确度高、稳定性好、应用范围广、操作简便和智能化等特点，为材料研究、大学及研究院所、建筑材料、金属、矿物、塑料制品、医药品和半导体等众多领域提供高精度的分析。使用优势空气弹簧大橱窗升降门空气弹簧大橱窗升降门，节约桌面空间，适合每一台办公桌，有效提高空间利用率。桌面式千瓦级功率FRINGE EV拥有强悍的KW级功率，让他成为桌面式XRD领域无与伦比的收割机。适合所有人的XRDCrystalX在获得衍射数据后，自动进行物相分析，并给出物相各组分百分比，大大降低了使用人员的要求，仅仅需要点击“开始测试”，其它交给CrystalX软件 吧。安全性具有在测试过程中自动切断保护装置、安全联动锁装置，样品舱关闭后属于全封闭性能，操作界面有样品舱关闭提示功能。集成式索拉狭缝集成式索拉狭缝，无任何运动可调部件，增加测角系统的可靠性，从而使得界FRINGE桌面式XRD可安装于车载实验室平台。DPPC探测器DPPC探测器（数字脉冲处理计数探测器），计数吞吐量≥1×10^7CPS，无需使用二级单色仪，DPPC探测器在提供衍射数据的同时提供能量色散光谱数据。规格参数测角仪θ/θ立式测角仪、衍射圆半径 150mm2θ角度范围-3° - +150°2θ角度精度全谱范围内＜±0.02°偏差分辨率0.04°2θ 半峰宽FWHM索拉狭缝集成式索拉狭缝，无任何运动可调部件，增加测角系统的可靠性平台X光管金属陶瓷 X 射线管，焦点：1 x 10 mm，默认配置Cu靶，可选配 Co、Cr、Mo靶高压发生器功率标配1200W，最大支持1600W仪器尺寸580 x 450x 680mm（L×W×H）重量120KG电源220V±10V，50Hz，整机功率 最大值2000W散热方式FRINGE EV使用外置水循环冷却系统，强力冷却澎湃动力探测器DPPC探测器（数字脉冲处理计数探测器）接口紧凑的家用墙插插头提供电源，USB接口连接PC用于控制XRD气源提供2路气源接口，可用于原位分析或气氛保护安全性FRINGE EV具有空气弹簧大橱窗升降门，可无死角观察原位分析过程，并可有效屏蔽X射线，具有在测试过程中自动切断的保护、安全联动锁装置，样品舱关闭后属于全封闭性能，操作界面有样品舱关闭提示功能云端服务功能配套使用可同步的移动端APP服务，用于支持衍射数据卡片化管理，并支持接入知识管理系统CrystalX软件CrystalX在获得衍射数据后，自动进行物相分析，并给出物相各组分百分比，大大降低了使用人员的要求，无需手动检索，无需扣背景，无需平滑，无需手动寻峰，仅仅需要点击“开始测试”，其它交给CrystalX 软件 吧

LST-331四探针方阻电阻率测试仪 一、LST-331四探针方阻电阻率测试仪描述：采用范德堡测量原理能解决样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差，提供通讯接口，PC软件数据处理及数据分析.中文或英文语言版本.二.LST-331四探针方阻电阻率测试仪参照标准：硅片电阻率测量的标准（ASTM F84）及国标设计制造；GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》.三.适用范围：适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析半导体材料质量的工具；液晶显示，自动测量和系数补偿，并带有温度补偿功能，自动转换量程；采用芯片控制，恒流输出，选配：PC软件，保存和打印数据，生成报表用于：覆盖膜 导电高分子膜，高、低温电热膜 隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸 金属化标签、合金类箔膜 熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜 电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试等相关产品四、.型号及参数 规格型modelLST-3311.方块电阻范围10^-5～2×10^5Ω/□2.电阻率范围 10^-6～2×10^6Ω-cm测试电流范围0.1μA ，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100mA4.电流精度 ±0.1%5.电阻精度≤0.3%6.显示读数液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式普通单电测量8.工作电源输入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗：30W 9.误差≤4%（标准样片结果）10.选购功能选购1.pc软件； 选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台；5.标准电阻.11.测试探头探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格 探针材质选购：碳化钨针 白钢针；镀金磷铜半球形针12.标准电阻（选购）规格：1mΩ、10mΩ、100mΩ、1Ω、10Ω、1kΩ、10kΩ、100kΩ、1MΩ 五、标准配置外订购明细：序号型号品名单位数量备注1340-CSX测试线套1209A标准电阻个1-5选购规格和数量306A四探针测试平台套1含探头1个406B四探针探头个1方型或直线型选购5340-TTZ镀金弹簧铜针4根组14根为一组6340-WTZ弹簧钨针4根组14根为一组7340-RJ分析软件套18PC电脑+打印机套1依据客户要求配置9300-JL检测技术服务份1计量证书1份10WDCGQ温度传感器套1常温-125度331-YB延保服务 年1-3

该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响.采用四探针组合双电测量方法，液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出；选配：PC软件进行数据管理和处理.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准并参考美国A.S.T.M标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响.导体材料电阻率测试仪GB/T 11073硅片径向电阻率变化的测量方法提要探针与试样压力分为小于0.3N及0.3 N¯ 0.8N两种。以下文件中的条款通过本标准的引用商成为本标准的条款。但凡注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括订正的内容)或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的新版本。但凡不注日期的引用文件，其新版本适用于本标准。GB/T 1552硅、储单晶电阻率测定直排四探针法样品台和操针架样品台和探针架应符合GB/T152 中的规定。样品台上应具有旋转360"的装置。其误差不大于士5"，测量装置测量装置的典型电路叉图1，范围本标准规定了用直排四探针测量硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的方法。本标准适用于测量直径大于15.9mm的由外延、扩散、离子注人到硅片表面上或表面下形成的薄层的平均薄层电阻。硅片基体导电类型与被测薄层相反。适用于测量厚度不小于0.2 μm的薄层，方块电阻的测量范围为10A-5000n.该方法也可适用于更高或更低照值方块电阻的测量，但其测量准确度尚未评估。使用直排四探针测量装置、使直流电流通过试样上两外探件，测量两内操针之间的电位差，引人与试样几何形软有关的修正因子，计算出薄层电阻。覆盖膜 导电高分子膜，高、低温电热膜 隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸 金属化标签、合金类箔膜 熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜 电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试采用四探针组合双电测量方法，液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出；选配：PC软件进行数据管理和处理.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。

R,=V,R,/V_=V,/I,-双刀双撑电位选择开关。.定。欧娇表，能指示阻值高达10°日的漏电阻，温度针0℃-40℃，小刻度为0.1℃。光照、高频、需动、强电磁场及温醒度等测试环境会影响测试结果，甲醇、99.5%，干燥氮气。测量仪器探针系统操针为具有45"~150°角的圆罐形破化鸭振针，针实半径分别为35μm~100μm.100 μm…… … ………(5)电压表输入阻抗会引入测试误差，硅片几何形状，表面粘污等会影响测试结果，R(TD-R_xF式中:计算每一测量位置的平均电阻R.，见式(3).试剂优级纯，纯水，25℃时电阻率大于2MN.cm,s=号(二[R，(TD-瓦(7D羽yt ..计算每一测量位置在所测温度时的薄层电阻(可根据薄层电阻计算出对应的电阻率并修正到23℃，具体见表4)见式(5).用干净涂题颗子或吸笔将试样置于样品台上，试样放置的时间应足够长，到达热平衡时，试样温度为23 ℃±1℃.接通电流，令其任一方向为正向，调节电流大小见表1测量范围电阻率：1×10-4～2×105 Ω-cm，分辨率：1×10-5～1×102 Ω-cm方 阻：5×10-4～2×105 Ω/□，分辨率：5×10-5～1×102 Ω/□电 阻：1×10-5～2×105 Ω ，分辨率：1×10-6～1×102 Ω 材料尺寸(由选配测试台决定和测试方式决定)直 径：A圆测试台直接测试方式 Φ15～130mm， 方测试台直接测试方式180mm×180mm， 长(高)度：测试台直接测试方式 H≤100mm, 测量方位: 轴向、径向均可覆盖膜 导电高分子膜，高、低温电热膜 隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸 金属化标签、合金类箔膜 熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜 电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试采用四探针组合双电测量方法，液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出；选配：PC软件进行数据管理和处理.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响.采用四探针组合双电测量方法，液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出；选配：PC软件进行数据管理和处理.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准并参考美国A.S.T.M标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响.

灵活的OEM少子寿命测试仪器，用于各种不同样品的少子寿命测量，从单晶硅砖到多晶硅砖，从生长的硅片到不同层或金属化的硅片的过程控制。标准的软件接口，便于连接到许多处理或自动化系统。在众多的少子寿命测量方法中，MDP（微波检测光电导率）采用改进的少子寿命检测技术，是微波检测光电导衰减法检测仪中常用的仪器之一，少子寿命测试仪原理从载流子输运原理出发，建立广义速率方程和偏微分方程系统。拥有先进的灵敏度和分辨率，很大程度提升在线检测的速度和质量，快速出具少子寿命测试的实验报告。 MDPlinescan被设计成一个易于集成的OEM设备，可以集成到各种自动化检测线。关键的是在传送过程中进行少子寿命扫描。样品通常由测量头下面的传送带或机器人系统携带。应用实例包括从晶砖到晶圆检测，单晶少子寿命测试、多晶少子寿命测试，每块晶圆的测量速度小于一秒。电池生产线上的来料质量检查是经典的通用案例，也用于钝化和扩散后的工艺质量检查，还有许多其他特殊的应用的可能性。易于集成，只需要以太网连接和电源。 MDPlinescan W 包括一个额外的电阻率测量选项。 优点： ◇ 在µ -PCD或稳态激励条件下线扫描少数载流子寿命和电阻率是这个小型设备的重要功能； ◇ OEM设备可以集成到多晶或单晶硅片的生产线上，在不同的制备阶段，直至器件、砖块或晶锭。 ◇ 小巧的尺寸和标准的自动化接口使其易于集成。重点是测量结果的长期可靠性和精确性。 示范性线状扫描图 细节： ◇ 允许单晶圆片调查 ◇ 不同的晶圆级有不同的配方 ◇ 监控物料、工艺质量和稳定性 技术规格: 样品多种尺寸的多晶或单晶晶片，如156mm×156mm、晶砖、电池片等样品尺寸50 x 50 mm² 以上电阻率0.2 - 10³ Ωcm电导类型P,N样品类型硅片、部分或完全加工的硅片、化合物半导体及更多的产品可测量的特性少数载流子寿命硬件接口以太网尺寸规格体积：174 x 107 x 205mm；重量：3公斤电源24 V DC, 2 A

覆盖膜 导电高分子膜，高、低温电热膜 隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸 金属化标签、合金类箔膜 熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜 电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试采用四探针组合双电测量方法，液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出；选配：PC软件进行数据管理和处理.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响.采用四探针组合双电测量方法，液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出；选配：PC软件进行数据管理和处理.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准并参考美国A.S.T.M标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响.概述：采用四端测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门，实验室；是检验和分析导体材料和半导体材料质量的工具。可配置不同测量装置测试不同类型材料之电阻率。液晶显示，温度补偿功能，自动量程，自动测量电阻，电阻率，电导率数据。恒流源输出；选配：PC软件过程数据处理和标准电阻校准仪器，薄膜按键操作简单，中文或英文两种语言界面选择，电位差计和电流计或数字电压表，量程为1mV¯ 100mV,分辨率为0.1%，直流输入阻抗不小250μm的半球形或半径为50 μm~125 μm的平的圆截面。探针(带有弹簧及外引线)之间或探针系统其他部分之间的绝缘电照至少为10°Ω.探针排列和间距，四探针应以等距离直线排列，探针阀距及针突状况应符合GB/T 552 中的规定。R=1(R +R, )…………………………(3)R2=与(R +R，)计算试样平均直径D与平均操针间距S之比，由表3中查出修正因子F，也可以见GB/T11073中规定的几何修正因子。 9.4计算几何修正因子F，见式(4)。对于薄层厚度小于3μm的试样，选用针尖半径为100μm250μm的半球形探针或针尖率径为50μm~125 pm平头探针，针尖与试样间压力为0.3 N¯ 0.8Ni对于薄层厚度不小于3μ的试样，选用针尖半径为35μm100 pm 半球形操针，针尖与试样间压力不大于 0.3 N.Rr=V R,/V=V/I,…… …

电阻率测试仪,四探针方阻电阻率测试仪, 适用范围Widely used：1.覆盖膜 导电高分子膜，高、低温电热膜 隔热、防辐射导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸 金属化标签、合金类箔膜 熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜 电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试2.硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻 半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件，导电薄膜（ITO导电膜玻璃等），金属膜，导电漆膜，蒸发铝膜，PCB铜箔膜，3.EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率 导电性油漆，导电性糊状物，导电性塑料，导电性橡胶，导电性薄膜，金属薄膜，4.抗静电材料， EMI 防护材料，导电性纤维，导电性陶瓷等， 功能描述Description：四探针单电测量方法液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出.选配：PC软件进行数据管理和处理.提供中文或英文两种语言操作界面选择 满足标准：1.硅片电阻率测量的国际标准（ASTM F84）.2.GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》.3.GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》.4.GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》. FT-343双电测电四探针方阻电阻率测试仪本仪器本仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。参数资料1.方块电阻范围：10-3～2×105Ω/□2.电阻率范围：10-4～2×106Ω-cm3.测试电流范围：0.1μA ，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA4.电流精度：±0.2%读数5.电阻精度：≤0.3%6.显示读数：液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 双电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：30W9.整机不确定性误差: ≤4%（标准样片结果）10.选购功能: 选购1.pc软件；选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台11.测试探头： 探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格 探针材质选购：碳化钨针 白钢针；镀金磷铜半球形针 FT-345双电测电四探针方阻电阻率测试仪本仪器本仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试参数资料1.方块电阻范围：10-3～2×103Ω/□2.电阻率范围：10-4～2×104Ω-cm3.测试电流范围：10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA4.电流精度：±0.3%读数5.电阻精度：≤0.5%6.显示读数：液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 双电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：30W9.整机不确定性误差: ≤4%（标准样片结果）10.选购功能: 选购1.pc软件；选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台11.测试探头： 探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格 探针材质选购：碳化钨针 白钢针；镀金磷铜半球形针 四探针电阻率/方阻测试仪,四探针测量仪,探针测试仪,导体电阻,体积电阻测试仪,四探针法测电阻,方块电阻测试仪,薄膜或涂层方块电阻测试仪

覆盖膜 导电高分子膜，高、低温电热膜 隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸 金属化标签、合金类箔膜 熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜 电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试采用四探针组合双电测量方法，液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出；选配：PC软件进行数据管理和处理.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响.采用四探针组合双电测量方法，液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出；选配：PC软件进行数据管理和处理.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准并参考美国A.S.T.M标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响.概述：采用四端测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门，实验室；是检验和分析导体材料和半导体材料质量的工具。可配置不同测量装置测试不同类型材料之电阻率。液晶显示，温度补偿功能，自动量程，自动测量电阻，电阻率，电导率数据。恒流源输出；选配：PC软件过程数据处理和标准电阻校准仪器，薄膜按键操作简单，中文或英文两种语言界面选择，电位差计和电流计或数字电压表，量程为1mV¯ 100mV,分辨率为0.1%，直流输入阻抗不小250μm的半球形或半径为50 μm~125 μm的平的圆截面。探针(带有弹簧及外引线)之间或探针系统其他部分之间的绝缘电照至少为10°Ω.探针排列和间距，四探针应以等距离直线排列，探针阀距及针突状况应符合GB/T 552 中的规定。R=1(R +R, )…………………………(3)R2=与(R +R，)计算试样平均直径D与平均操针间距S之比，由表3中查出修正因子F，也可以见GB/T11073中规定的几何修正因子。 9.4计算几何修正因子F，见式(4)。对于薄层厚度小于3μm的试样，选用针尖半径为100μm250μm的半球形探针或针尖率径为50μm~125 pm平头探针，针尖与试样间压力为0.3 N¯ 0.8Ni对于薄层厚度不小于3μ的试样，选用针尖半径为35μm100 pm 半球形操针，针尖与试样间压力不大于 0.3 N.Rr=V R,/V=V/I,…… … R,=V,R,/V_=V,/I,-双刀双撑电位选择开关。.定。欧娇表，能指示阻值高达10°日的漏电阻，温度针0℃-40℃，小刻度为0.1℃。光照、高频、需动、强电磁场及温醒度等测试环境会影响测试结果，甲醇、99.5%，干燥氮气。测量仪器探针系统操针为具有45"~150°角的圆罐形破化鸭振针，针实半径分别为35μm~100μm.100 μm…… … ………(5)电压表输入阻抗会引入测试误差，硅片几何形状，表面粘污等会影响测试结果，R(TD-R_xF式中:计算每一测量位置的平均电阻R.，见式(3).试剂优级纯，纯水，25℃时电阻率大于2MN.cm,s=号(二[R，(TD-瓦(7D羽yt ..计算每一测量位置在所测温度时的薄层电阻(可根据薄层电阻计算出对应的电阻率并修正到23℃，具体见表4)见式(5).用干净涂题颗子或吸笔将试样置于样品台上，试样放置的时间应足够长，到达热平衡时，试样温度为23 ℃±1℃.接通电流，令其任一方向为正向，调节电流大小见表1测量范围电阻率：1×10-4～2×105 Ω-cm，分辨率：1×10-5～1×102 Ω-cm方 阻：5×10-4～2×105 Ω/□，分辨率：5×10-5～1×102 Ω/□电 阻：1×10-5～2×105 Ω ，分辨率：1×10-6～1×102 Ω 材料尺寸(由选配测试台决定和测试方式决定)直 径：A圆测试台直接测试方式 Φ15～130mm， 方测试台直接测试方式180mm×180mm， 长(高)度：测试台直接测试方式 H≤100mm, 测量方位: 轴向、径向均可

TGM-U204(F)型非金属声波参数测试仪（原名：TH204-F型非金属声波参数测试仪）主要用于岩石、混凝土等工程材料的声波参数测试。 仪器用途： 各类非金属介质的声波参数测试分析，具体包括纵波测试分析、横波测试分析和三分量测试分析，从而对其强度、缺陷等进行评价。 产品特点： (1) TGM-U204(F)型非金属声波参数测试仪基于WINDOWS系统开发：由计算机控制参数设置、数据采集；结合LABVIEW虚拟仪器开发平台，可根据用户需求定制开发数据处理功能。 (2) TGM-U204(F)型非金属声波参数测试仪采用独立采样通道，每道独立采样频率高达20MHz：可方便的进行一发多收或传感器阵列测试，不仅工作效率高、而且声波初至时间读取精度高。 (3) TGM-U204(F)型非金属声波参数测试仪在实现多功能声波参数测试的同时，仪器集成度高：不仅可进行纵波、横波、三分量声波测试，而且可对试样在压力条件下进行声波参数测试。具有1000V和500V压电发射，具有与稀土超磁致伸缩换能器的同步接口。 (4) TGM-U204(F)型非金属声波参数测试仪软件功能完善：具备多种波形显示与分析，频谱分析、时-频分析、小波变换等功能。 产品参数：TGM-U204(F)型非金属声波参数测试仪技术参数： 产品配制： TGM-U204(F)型非金属声波参数测试仪(TH204-F型非金属声波参数测试仪)：包括TGM-U204(F)型非金属声波参数测试仪仪器主机、仪器测试软件，可搭配各类超声波换能器。 仪器应用：

RB-I融变时限检查仪 RBY-4B融化溶散测试仪 新诺 RB-Ⅰ RBY-4B 融变时限检查仪用于检查栓剂或阴道片等固体制剂在规定条件下的融化、软化或溶散的情况。根据《中华人民共和国药典》（2010版）中关于“栓剂融变时限检查法”的要求而设计生产的机电一体化产品。技术指标 ●套筒网架数量　　３套 ●透明套筒尺寸　　高６０ｍｍ　内径５２ｍｍ ●不锈钢网架　　　二片直径５０ｍｍ各３９个４ｍｍ小孔 ●定时范围　　　　（１０～９００）ｍｉｎ ●定时精度　　　　±０．５ｍｉｎ ●温控范围　　　　（２０～４５）℃ ●温控精度　　　　±０．５℃ ●烧杯容积　　　　５Ｌ（３只） ●电源　　　　　　２２０Ｖ／５０Ｈｚ／１０００Ｗ主要特点 ●三杯三路，三路同步，手动翻转（RB-1）；三杯三路，三路同步，自动翻转（RBY-4B）。 ●透明套筒，不锈钢网架。 ●电动升降及手动翻转双功能机头；透明套筒，不锈钢网架。（RBY-4B） ●网架等采用进口不锈钢。 ●自动控制温度，温控精度高。 ●采用磁性水泵循环水流匀热系统，水浴温度均匀。 ●自动控温，自动记时。 （RBY-4B）电动升降及手动翻转双功能机头；透明套筒，不锈钢网架。 （RBY-4B）自动控温，自动记时，定时翻转指示预报，故障报警。 （RBY-4B）可以随意预置运行时间，翻转频率，水浴温度三个参数；分时显示预置值和实时值。系统提供三种快捷模式，供客户选择： P1：运行30分钟，每隔10分钟金属架自动翻转一次 P2：运行60分钟，每隔10分钟金属架自动翻转一次 P3：运行30分钟，金属架不翻转

纸张纸板表面滑动摩擦系数测试仪 薄膜薄片动静摩擦系数测定仪纸张纸板表面滑动摩擦系数测试仪 薄膜薄片动静摩擦系数测定仪是一种用于测量塑料薄膜、纸张、橡胶、复合膜、纸板、编织袋等材料的静摩擦系数和动摩擦系数的设备。以下是该仪器的详细介绍和参数：纸张纸板表面滑动摩擦系数测试仪 薄膜薄片动静摩擦系数测定仪产品特点多模式测试：支持动摩擦、静摩擦、动静摩擦三种试验模式。速度可调：试验速度可以根据需要设定和调整。滑块质量可变：支持任意滑块质量，满足不同测试需求。微电脑控制：设备由微电脑控制，操作简便，数据准确。数据管理：配备专业软件，可以进行数据的统计分析和报告生成。国际标准兼容：满足GB、ISO、ASTM等多种测试标准。纸张纸板表面滑动摩擦系数测试仪 薄膜薄片动静摩擦系数测定仪技术参数负荷范围：0～5 N，部分设备可选10N或30N。精度：0.5级。行程：70 mm 或 150 mm，部分设备可达400 mm。滑块质量：标准为200g，其他质量滑块可定制。试验速度：100 mm/min 或 150 mm/min，部分设备可实现0～800 mm/min无级调速。环境要求：温度23±2℃，湿度20%RH~70%RH。电源：AC 220V 50Hz。外形尺寸：630 mm(L)×360 mm(W)×230 mm(H) 或根据具体型号有所变化。净重：33kg 或根据具体型号有所变化。应用领域基础应用：塑料薄膜、橡胶、纸张、纸板、编织袋、织物风格、通信电缆光缆用金属材料复合带、输送带、木材、涂层等。扩展应用：化妆品、滴眼液等日化用品的滑爽性能测定。标准配置主机：包括微电脑控制单元和操作界面。微型打印机：用于打印测试报告。标准滑块：通常为200g。选购件专业软件：用于数据管理和分析。通信电缆：用于连接电脑和设备。非标准滑块：根据特殊测试需求定制。测试标准GB 10006ISO 8295ASTM D1894TAPPI T816