激射式粒布测量仪

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激射式粒布测量仪相关的厂商

  • 佛山市布洛维测量仪器有限公司是专业从事硬度计等测量仪器研发、生产、销售及技术服务于一身的企业。公司自主研发和生产的洛氏、维氏、里氏、布氏硬度计系列产品已广泛应用于全国各地区的金属热处理、金属加工等行业,用于测试不锈钢、马口铁、铝型材、锻件,铸件,焊管,无缝钢管,塑料模具等产品硬度。 公司秉承“专业、专注、诚信、创新“的经营理念,用创新的思维专注于新型硬度计的研发,用诚信的态度服务于客户,通过合作实现自身与客户的共同发展。详情请登陆本公司网站:http://www.techbrv.com。
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  • 东莞忠仪测量仪器有限公司是一家集自主研发,代理销售,技术培训,信息咨询及维修服务於一体的高科技企业。公司与多家零售商和代理商建立了长期稳定的合作关系。為国内的生產加工企业和厂家提供质量可靠的各类仪器设备和专业维修服务,自成立以来凭著良好的信誉、优良的產品品质、热情周到的售后服务赢得了广泛客户的信赖与支持。经长期努力以来,公司集累了一批具有良好素质和专业技术丰富的维修及销售工程师,能及时為您提供最优惠快捷的专业服务。公司主要经营项目如下:1.日本东京光电子(TOE)激光镭射测径仪。2.日本尼康(Nikon)工业测量仪器:投影仪、工具显微镜、工业自动影像仪、高度计,3.日本三丰(Mitutoyo)系列:三坐标、投影仪、工具显微镜、表面粗糙度仪、真圆度测定机、轮廓度测量仪,三丰镭射测定机系列,。4.日本三丰(Mitutoyo)小量具系列:表盘、数显及游标卡尺、分厘卡、厚薄计、杠桿量表、深度规、高度规、高度仪、伸缩规、形状类测针等。5.日本东京精密(ACCRETECH)表面粗糙度仪、真圆度测定机、轮廓度测量仪、形状类测针等。6.瑞士(Trimos)/(TESR)系列各类精密量具,一维/二维精密测高仪,精密长度测长仪. 三维三坐标测量仪,投影仪等等及其它种类精密量测仪器。7.日本AIKOR数显推拉力计系列、手动荷重仪系列(HF-2S)、自动曲线荷重仪系列(1305VR)、硬度计系列的销售和维修、荷重元换新及维修。8.万濠(Rational)万濠投影机、万濠影像量测仪、金像显微镜。9.专业研发量具数据采集管理软件。10.各类进口/国产仪器升级,年度保养,专业维修服务。 本公司销售仪器广泛应用於电子、航空、五金、塑胶、橡胶、模具、硅橡胶按键、油墨涂料等行业,我们不但為客户提供优质的仪器设备,还将通过做好从销售到售后服务的每一个环节来让客户感受到我们细致入微的服务。 公司宗旨:诚信 协作 务实 迅速.
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  • 昆山赛万腾测量仪器有限公司是一家从事三坐标测量机、影像测量仪生产及销售的资深企业,行业经验30年,市场遍布全球。 团队主要成员涉足计量行业二十余年,同中国三坐标测量行业一起成长,经过多年的不懈努力积累了丰富的行业经验,依托科学严谨的管理体系,配备完善的生产手段和检测条件,测量仪器在出厂前都经过了严格的循环检测以确保每一台仪器应用稳定。可广泛应用于航空航天、国防军工、模具制造、电子、塑胶、精密零部件加工、汽车及零配件生产等行业。 公司十分注重科技创新和新产品研发,根据国际市场发展趋势研发的各类新产品,始终领先于同行业的同类产品。公司自创立之日起即与德国专业公司进行设计、品质管理、生产、人才培训等方面的密切合作,为公司长远的发展奠定了坚实的基础。 赛万腾决心在任何情况下都只生产和销售高品质、性能卓越的测量仪器。
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激射式粒布测量仪相关的仪器

  • RadEye系列便携式辐射测量仪,体型较小、便于携带、操作简单、仪器有自检功能、维护量小,不同的型号采用不同的探测器适合不同场合的辐射监测,可用于α,β,γ,X射线,中子等辐射探测,γ剂量率测量和区域监测。RadEye 系列有RadEye PRD、 RadEye G-10、RadEye G20、RadEye NBR、RadEye G-10-Ex、RadEye AB100、RadEye B20、RadEye N、RadEye NL、RadEye GN和RadEye Area monitor等几种型号。性能优异,可用在工业,边防,海关,核应急,反恐,安全保卫,消防,医院和制药等诸多领域。 主要特点: -先进的辐射测量性能-出色的辐射响应-全自动自检-可设置声音、震动及耳机方式报警-小巧、轻质、便于携带-符合人体工程学的凸出按键设计-先进的低功耗技术-强大的数据存储能力 技术参数: 型号: RadEye PRD/PRD-ER便携式γ辐射测量仪采用NBR天然本底扣除技术 探测器NaI(TI) 测量类型X、γ测量范围PRD:0.01μSv/h-250μSv/hPRD-ER:0.01 μSv/h-100 mSv/h 能量范围60keV-1.3MeV 灵敏度(Cs-137)150 cps (1 μSv/h) 灵敏度(Am-241)2000 cps(1 μSv/h) 型号: RadEye G-10便携式γ辐射测量仪 探测器带能量补偿的GM管测量类型X、γ测量范围0.5μSv/h-100m Sv/h 能量范围45 keV-3 MeV 灵敏度(Cs-137)1.7 cps (1 μSv/h) 灵敏度(Am-241)2.0 cps(1 μSv/h) 型号: RadEye G-10-Ex便携式防爆型γ辐射测量仪适用于有潜在爆炸物危险的环境中 测量类型X、γ测量范围0.5μSv/h-100m Sv/h 能量范围45 keV-3 MeV 灵敏度(Cs-137)1.7 cps (1 μSv/h) ATEX等级II 2GEx ia IIB T4 IBExU10ATEX1096 型号: RadEye NBR便携式高灵敏度γ辐射测量仪RadEye NBR由RadEye SX多功能测量仪及FHZ 674探头组成采用NBR天然本底扣除技术,可探测微量人工γ放射性,特别适用于屏蔽放射源的搜索。 测量范围(Cs-137)0.01 μSv/h-100 μSv/h灵敏度(Cs-137)1500 cps/μSv/h 从30 keV剂量率响应±30% (Am-241, Cs-137, Co-60), 根据IEC 62533, -30%, +90% (60 keV-4 MeV) 型号: RadEye B20/B20-ER便携式α/β表面污染测量仪 探测器GM管测量类型α、β、γ、X辐射窗直径44mm 测量范围5 μSv/h-10 m Sv/h 能量范围17 keV-1.3 MeV 尺寸325px×175px×150px 重量300 g型号: RadEye AB100便携式α/β表面污染测量仪 探测器涂锌塑料闪烁体 灵敏面积100 cm2 探测效率36%(Am-241)23%(Co-60) 49% (Sr/Y-90) Gamma响应40 s-1/( μSv/h) (Cs-137) 测量单位Bq,Bq/cm2,dpm尺寸35.5 cm×10 cm×18 cm 重量900 g 型号: RadEye N/NL便携式中子测量 探测器He-3计数管 灵敏度0.3 cps/( μSv/h) (Cf-252) 本底海拔300 m,0.005 cps 测量单位cps 尺寸2400px×1525px×775px 重量160 g 型号: RadEye GN/GN+系列便携式γ/中子测量 测量类型γ、中子主要特点高γ、中子灵敏度实时γ源分类能量补偿γ剂量率双通道γ/中子显示 探测能力γ能量范围:30 keV-1.3 MeV能量补偿γ剂量率:45 keV-1.3 MeV (H*(10)) 1 μRem/h - 25 mRem/h (0.01 μSv/h-250 μSv/h)中子计数率:0.1-1000 cpsγ效率RadEye GN: 1000 cps / μSv/h (Am-241) 110 cps / μSv/h (Cs-137) 65 cps / μSv/h (Co-60) RadEye GN+: 2000 cps / μSv/h (Am-241) 110 cps / μSv/h (Cs-137) 55 cps / μSv/h (Co-60)中子探测能力符合ANSI 42.32和IEC 62401型号: RadEye Area Monitor区域辐射监测器 特点监测γ和中子放射源具有当地和远程报警RS-232接口
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  • 产品信息  粒度分布在粉体物理性质中是最基本的特性之一,它不仅左右着粉体本身的性质和活动,而且也影响着以粉体为原料的制品的质量,是一个重要的物理性质。因此,在处理粉体时,粒度分布的测量就变得极其重要。   岛津激光衍射式粒度分布测量仪SALD-3101,可以在短时间内,通过简单的操作完成粒度分布的测定,并且分辨率高、精度高、重复性好。   另外,通过安装在Windows操作系统下的软件,可以实现统计处理、时间系统处理、实时监控、三维显示等多种的数据处理功能。  测定范围:0.05~3000um  测定模式:湿式或干式 特点(湿式循环型):主机(测量部) 使用单一光学系统无断点覆盖0.05-3000&mu m 粒径范围符合JIS规格的单一光源覆盖了0.05-3000&mu m的宽广的粒子径范围。因此在全程测量范围内,不存在粒度分布数据的不连贯和不匹配,实现完全无断点的宽广范围。 力求光学系统的稳定性采用全方位冲击吸收装置:OSAF(Omnidirectional Shock Absorption Frame)完全隔离光学系统,使其各个部件免受外来冲击和震动的干扰。因此几乎不需要对光轴进行调整。高分辨率的81元素光传感器传感器应用高水准的半导体制造技术制成。除76元素的前方散射光传感器(Wing传感器)外,附加1元素的侧方散射光传感器和4元素的后方散射光传感器。通过这81元素的光传感器可准确地捕捉光强度分布模式,从而对范围宽广的粒子径实现高分辨率高精度地粒度分布测量。样品池摘取简单采用推拉式样品池座,方便样品池的更换和清洗。使用寿命长且输出功率稳定的半导体激光源光源采用形状小寿命长的半导体激光。并且附加稳定输出回路,实现激光输出功率的稳定化。配备激光光束安全系统双重激光保护对策:测量室打开时,快门自动关闭及手动关闭激光光束。可测量密度不同的粒子混合物由于是通过粒子产生的衍射散射光的光强度分布模式求得粒度分布,因此与粒子或溶液的密度及溶液的粘性系数无直接关系。所以密度不同的粒子混合的样品也可以测量。多功能进样器内置供水泵多功能进样器内置供水泵,因此可使用市场上销售的塑料桶等直接供水。解决了供水繁琐的问题。 装载CPU多功能进样器配置了超音波分散机、搅拌器、水位传感器和控制这些装置的CPU。因此,通过电脑连接控制,可进行半自动测量。内置强劲的竖状泵进样器装载了5000 cm3/min的强劲的竖状泵,保证从数百微米到数毫米的粗大粒子/高密度粒子也能够很好的循环。 这是测量范围上限可达3000&mu m(3mm)的主要技术支持。优越的耐溶剂性流路材质使用四氟化乙烯、SUS304、SUS316、石英,因而具有优越的耐溶剂性。软件具有多种功能测量/数据处理的软件名为WingSALD的操作软件适用于Windows所有操作系统,并具有统计处理,时间系统处理,三维显示等多种数据处理功能,操作简便。 应用AI自动范围判断功能对粒度分布进行计算所谓AI自动范围判断功能是指,应用检测出的衍射光/散射光的光强度分布数据,先进行大致的粒度分布范围判断,再根据所得范围选择最适合的计算条件,进行精密的粒度分布计算。这样,即使事前无任何样品相关信息,也可准确地捕捉到从窄到宽的粒度分布形态。可进行与样品的折射率相对应的测量粒子径小于10&mu m时,粒子产生的散射光会受到其折射率的影响。为了进行正确地粒度分布计算,SALD-3101的标准配置中,有378种折射率(实数部和虚数部)可以选择。另外,利用以前测量后保存的衍射散射光光强度分布数据,改变折射率,可以对粒度分布进行再计算。附加自我诊断功能、保养容易编入了强大的自我诊断功能。可以检查装置的动作状况,使维护变得容易。装备操作日志(Operation Log)功能操作日志(Operation Log)功能,使所有的测量数据中包含了装置的使用状况、样品池的污染状况等细节信息,因此可以向前追溯,验证以往测量数据的正确性。通常状态下不显示,但电源打开时刻、空白测量完成时刻、空白测量数据及该时间下光轴的位置等这些与装置的操作和使用状态有关的数据都将被作为文本数据添加到所有的测量数据中。
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  • 产品信息  粒度分布在粉体物理性质中是最基本的特性之一,它不仅左右着粉体本身的性质和活动,而且也影响着以粉体为原料的制品的质量,是一个重要的物理性质。因此,在处理粉体时,粒度分布的测量就变得极其重要。  岛津激光衍射式粒度分布测量仪SALD-2201,可以在短时间内,通过简单的操作完成粒度分布的测量,且分辨率高、精度高、重复性好。  另外,通过安装在Windows操作系统下的软件,可以实现统计处理、时间系统处理、实时监控、三维显示等多种的数据处理功能。  测定范围: 0.03~1000um  测定模式: 湿式或干式 特点(湿式循环型):主机(测量部) 使用单一光学系统无断点覆盖0.03-1000&mu m 粒径范围符合JIS规格的单一光源覆盖了0.03-1000&mu m的宽广的粒子径范围。因此在全程测量范围内,不存在粒度分布数据的不连贯和不匹配,实现完全无断点的宽广范围。力求光学系统的稳定性采用全方位冲击吸收装置:OSAF(Omnidirectional Shock Absorption Frame)完全隔离光学系统,使其各个部件免受外来冲击和震动的干扰。因此几乎不需要对光轴进行调整。高分辨率的81元素光传感器传感器应用高水准的半导体制造技术制成。除76元素的前方散射光传感器(Wing传感器)外,附加1元素的侧方散射光传感器和4元素的后方散射光传感器。通过这81元素的光传感器可准确地捕捉光强度分布模式,从而对范围宽广的粒子径实现高分辨率高精度地粒度分布测量。样品池摘取简单采用推拉式样品池座,方便样品池的更换和清洗。使用寿命长且输出功率稳定的半导体激光源光源采用形状小寿命长的半导体激光。并且附加稳定输出回路,实现激光输出功率的稳定化。配备激光光束安全系统双重激光保护对策:测量室打开时,快门自动关闭及手动关闭激光光束。 多功能进样器内置供水泵多功能进样器内置供水泵,因此可使用市场上销售的塑料桶等直接供水。解决了供水繁琐的问题。装载CPU多功能进样器配置了超音波分散机、搅拌器、水位传感器和控制这些装置的CPU。因此,通过电脑连接控制,可进行半自动测量。 软件 具有多种功能测量/数据处理的软件名为WingSALD的操作软件适用于Windows所有操作系统,并具有统计处理,时间系统处理,三维显示等多种数据处理功能,操作简便。应用AI自动范围判断功能对粒度分布进行计算所谓AI自动范围判断功能是指,应用检测出的衍射光/散射光的光强度分布数据,先进行大致的粒度分布范围判断,再根据所得范围选择最适合的计算条件,进行精密的粒度分布计算。这样,即使事前无任何样品相关信息,也可准确地捕捉到从窄到宽的粒度分布形态。可进行与样品的折射率相对应的测量粒子径小于10&mu m时,粒子产生的散射光会受到其折射率的影响。为了进行正确地粒度分布计算,SALD-2101的标准配置中,有378种折射率(实数部和虚数部)可以选择。另外,利用以前测量后保存的衍射散射光光强度分布数据,改变折射率,可以对粒度分布进行再计算。附加自我诊断功能、保养容易编入了强大的自我诊断功能。可以检查装置的动作状况,使维护变得容易。装备操作日志(Operation Log)功能操作日志(Operation Log)功能,使所有的测量数据中包含了装置的使用状况、样品池的污染状况等细节信息,因此可以向前追溯,验证以往测量数据的正确性。通常状态下不显示,但电源打开时刻、空白测量完成时刻、空白测量数据及该时间下光轴的位置等这些与装置的操作和使用状态有关的数据都将被作为文本数据添加到所有的测量数据中。
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  • 新型冰雪粒径测量仪和硬度测量仪助力“科技冬奥”
    高山滑雪最高时速达248km/h,滑雪赛道也需要“塑胶跑道”“更快,更高,更强”是奥林匹克的口号,充分反映了奥林匹克运动所倡导的不断进取、永不满足的奋斗精神。奥运会纪录的频频打破,不但有运动员的刻苦训练,教练员的辛勤指导,科技尤其是对于运动场地的科技提升也扮演了重要的角色。就拿大家熟悉的田径运动场而言,最初的跑道是煤渣跑道(相信很多70后、80后的老伙伴们都跑过吧),后来改成了人工合成的塑胶跑道,与煤渣跑道相比,其弹性好,吸震能力好,为运动员的发挥和成绩的提高提供了物质基础。在1968年的墨西哥奥运会上,在首次使用的塑胶跑道赛场上创造了诸多的奥林匹克纪录。2022年中国北京即将举行冬季奥林匹克运动会,中国提出了“科技冬奥”的概念,中国冰雪运动必须走科技创新之路。高山滑雪比赛是冬季奥运会的重要组成部分,被誉为“冬奥会皇冠上的明珠“。高山滑雪的观赏性强,危险性大,比赛时运动员最高时速可达到248km/h。高山滑雪比赛均采用冰状雪赛道。什么是冰状雪?所谓冰状雪,是指滑雪场的雪质形态,其表面有一层薄的硬冰壳,用于减小赛道表面对于滑雪板的摩擦力。可以说冰状雪赛道就是高山滑雪项目的塑胶跑道,其制作的质量对提高运动员的成绩及滑雪的舒适感,保护运动员的身体,延长运动寿命有着十分重要的作用。看似简单的冰状雪赛道,制作起来却大有讲究。冰状雪的制作过程十分复杂,目前采用的是向雪地内部注水的方案。但是注水的强度和注水的时间把握需要根据不同的赛道地点以及当时注水时的气温进行相应的调节,以保证冰状雪赛道既有一定的强度,又有足够的弹性,使得运动员能够在高速的高山滑雪比赛中舒畅的进行滑降、回转等比赛项目。与田径场塑胶跑道不同的是,每次比赛每一个运动员在进行高山滑雪比赛时,由于技术动作的需要,都或多或少的会对冰状雪的赛道产生一定损伤,为了保证比赛的公平性,前后出发的滑雪运动员的赛道雪质状态需要保证一致,因此冰状雪赛道还需要有一定的厚度以及均匀性。研制新型冰状雪测量仪器,保障赛道质量既然冰状雪赛道有如此多的要求,那么过去是如何判断冰状雪赛道的雪质的呢?主要是采用人工判断的方法,即找一些有经验的裁判员用探针安装在电钻上进行触探工作,通过触探工作反馈的手感判断冰状雪赛道的建造质量。这种带有一定“盲盒”性质的判断工作往往会显得很不透明,也不利于这项运动的推广。助力2022北京冬奥会,依托科技部国家重点研发计划“科技冬奥”重点专项2020的“不同气候条件下冰状雪赛道制作关键技术”项目,中国科学院南京天文光学技术研究所南极团队和中国气象科学研究院共同合作研发了用于判断冰状雪赛道质量的冰雪粒径测量仪和冰雪硬度测量仪,其目的在于将冰状雪质量的人工主观判断,变成清晰可见的客观物理数据,通过对这些物理数据的科学分析,结合有经验的运动员的滑雪体验,掌握不同地点,不同天气条件下冰状雪赛道的制作方法。主要有如下两种仪器:冰雪粒径自动测量仪和冰雪硬度自动测量仪。积雪颗粒的形状及大小是影响雪的力学性质的主要因素,不同大小雪粒之间在自然状态下空隙不断变小,雪中含有的空气降低,使得雪粒间的化学键合力增强,从而影响雪的硬度。那么如何测量积雪的颗粒呢,科研人员采用漫散射原理:近红外光经过粗糙的表面会被无规律的向各个方向反射,会造成光强度减弱,光减弱的大小跟表面的粗糙相关,而积雪表面的粗糙程度是由粒径决定的。通过测量光减弱的比例间接的测量出冰雪的颗粒大小。冰雪粒径自动测量仪测量注水雪样雪的硬度测试是反映冰雪强度的重要指标之一,冰雪硬度测量仪的原理是通过电机带动滑轨驱动探头打入冰状雪赛道内部,并读取探头受到的反作用力的大小来判断冰雪的硬度条件。该方法的好处是可以做到基本无损的对赛道进行冰雪硬度的测量,不影响赛道的后续使用,并且可以通过读取力和冰状雪深度的曲线了解冰状雪赛道的均匀性。针对高山滑雪的赛场坡度较陡,人工攀爬十分困难,科研人员在仪器的便携性上做了特殊的设计,设计了一款折叠式的硬度测量仪,方便携带,可以从坡顶沿雪道一直测量到坡底,实现了仪器的“就地展开”和“指哪测哪”的功能。冰雪硬度测量仪现场工作照片2020年11月-2021年3月,抓住冬奥会举办前的最后一个冬季的机遇,在冬奥会举办地北京延庆、河北张家口以及黑龙江哈尔滨亚布力冬季体育训练基地对不同气候条件、不同注水强度的冰状雪赛道,使用研制的冰雪粒径自动测量仪和冰雪硬度自动测量仪进行了粒径及冰雪硬度测试,获得了不同深度冰雪粒径的变化图以及不同深度的冰雪硬度的曲线图。冰状雪赛道压强-深度关系图该项目的首席科学家,中科院西北研究院冰冻圈科学国家重点实验室副主任王飞腾研究员认为“雪粒径及硬度计等新型冰雪仪器的研究,将过去以人工经验为主的冰状雪赛道状态判断变为了客观、清晰的科学指标,为冰状雪赛道制作标准的透明化提供了参考依据”。项目攻关团队的带头人,国际冰冻圈科学协会副主席,中国气象科学研究院丁明虎研究员认为“雪粒径和硬度计的设计充分考虑了不同于自然雪的人工造雪的特殊情况,仪器在项目工作中表现优异,性能稳定,可靠性高。”未来将在南极天文台发挥作用冰雪强度、硬度的测量不仅可以应用于滑雪相关的体育运动中,在未来的极地工程建设上也能发挥作用。遥远的南极虽然不是适合人类居住的地方,但是却有着良好的天文观测条件。根据2020年在 Nature 上发表的一篇文章,证明昆仑站所在的冰穹A地区的光学天文观测条件优于已知的其他任何地面台址。这项研究成果确认了昆仑站有珍贵的天文观测台址资源,为我国进一步开展南极天文研究奠定了科学的基础。但是如何在南极地区安装大型望远镜又有很多实际的困难,其中之一就是普通的大型望远镜的基墩都是直接安装在地球的基岩上,这样基墩比较扎实稳固,能保证望远镜在观测时不会因为地基不稳产生晃动,但是冰穹A地区的冰大约有4000m那么厚,相当于1500层楼房那么高,如果再想将望远镜基墩打入基岩显然难以做到。那么大型望远镜如何能够平稳的伫立在南极浮动的冰盖上呢?这就需要科学家们对冰穹A地区的冰雪进行特殊的加固处理,使其能够满足基墩的设计要求。在加固处理完后,我们的雪粒径和硬度测量仪就可以对加固后的冰雪强度进行测量,通过科学的数据检验其是否能够满足南极大型望远镜的需求。
  • 日本强震 韩国“哄抢”核辐射测量仪
    韩联社21日报道称,日本大地震后,部分韩国人开始疯狂囤积海带、紫菜、矿泉水等物品,最近专业机构使用的核辐射测量仪也成了抢购的对象。  日本核电站发生爆炸事故后,韩国国内的辐射测量仪出现售罄和缺货现象。测量仪器的进口企业21日对外表示,最近不断有人打电话咨询购买辐射测量仪的事宜,该公司的库存已经全部售罄,剩下的只有几台售价高达上百万韩元的高档仪器。韩国国内出售的核辐射测量仪大部分是美国和欧洲制品,分为100万韩元(相当于5821元人民币)的手提仪器,和数百万或数千万韩元的精密仪器等多种。在日本发生核电事故之后,世界各国的需求急剧增加。进口商“Sane Calibration”的有关人士表示,由于个人用辐射测量器的需求增加,已向制造厂下了订单,但是何时会收到订货,目前不好说。  最近核辐射恐慌在韩国不断扩散,各类网上谣言更是推波助澜。韩国天主教大学核医学系方面表示,最近每天会有10多人咨询碘化钾。针对辐射恐慌在韩国引发的抢购潮,韩国灾难医学会表示,日本核电站爆炸对韩国产生的影响被过分夸大,有必要认清事实,消除不正确信息所造成的不安心理。  相关链接:  受日本核危机影响 核辐射检测仪器需求大增  搭“核辐射”顺风车 电磁辐射检测仪热销国内市场  韩国没有可批量检测商品的大型核辐射检测设备
  • Photonic Lattice发布PA系列双折射测量仪新品
    PA系列是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪,PA系列测量双折射测量范围达0-130nm,可以测量的样品范围从几个毫米到近500毫米。PA系列双折射测量仪以其技术的光子晶体偏光阵列片,独有的双折射算法设计制造,得到每片样品仅需几秒钟的测量能力,使其成为业内,特别是工业界双折射测量/应力测量的选择。 PA-300 主要特点:操作简单,测量速度可以快到3秒。视野范围内可一次测量,测量范围广。更直观的全面读取数据,无遗漏数据点。具有多种分析功能和测量结果的比较。维护简单,不含旋转光学滤片的机构。高达2056x2464像素的偏振相机。 应用领域:光学镜片智能手机玻璃基板碳化硅,蓝宝石等 技术参数:项次项目 具体参数1输出项目相位差【nm】,轴方向【°】,相位差与应力换算(选配)【MPa】2测量波长520nm3双折射测量范围0-130nm4测量最小分辨率0.001nm5测量重复精度1nm(西格玛)6视野尺寸27x36mm到99x132mm(标准)7选配镜头视野低至7x8.4(扩束镜头)8选配功能实时解析软件,镜片解析软件,数据处理软件,实现外部控制 测量案例:创新点:操作简单,测量速度可以快到3秒。视野范围内可一次测量,测量范围广。更直观的全面读取数据,无遗漏数据点。具有多种分析功能和测量结果的比较。维护简单,不含旋转光学滤片的机构。高达2056x2464像素的偏振相机。PA系列双折射测量仪

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  • 【资料】温度测量仪

    温度测量仪表是测量物体冷热程度的工业自动化仪表。最早的温度测量仪表,是意大利人伽利略于1592年创造的。它是一个带细长颈的大玻璃泡,倒置在一个盛有葡萄酒的容器中,从其中抽出一部分空气,酒面就上升到细颈内。当外界温度改变时,细颈内的酒面因玻璃泡内的空气热胀冷缩而随之升降,因而酒面的高低就可以表示温度的高低,实际上这是一个没有刻度的指示器。1709年,德国的华伦海特于荷兰首次创立温标,随后他又经过多年的分度研究,到1714年制成了以水的冰点为32度、沸点为212度、中间分为180度的水银温度计,即至今仍沿用的华氏温度计。1742年,瑞典的摄尔西乌斯制成另一种水银温度计,它以水的冰点为100度、沸点作为 0度。到1745年,瑞典的林奈将这两个固定点颠倒过来,这种温度计就是至今仍沿用的摄氏温度计。早在1735年,就有人尝试利用金属棒受热膨胀的原理,制造温度计,到18世纪末,出现了双金属温度计;1802年,查理斯定律确立之后,气体温度计也随之得到改进和发展,其精确度和测温范围都超过了水银温度计。1821年,德国的塞贝克发现热电效应;同年,英国的戴维发现金属电阻随温度变化的规律,这以后就出现了热电偶温度计和热电阻温度计。1876年,德国的西门子制造出第一支铂电阻温度计。很早以前,人们在烧窑和冶锻时,通常是凭借火焰和被加热物体的颜色来判断温度的高低。据记载,1780年韦奇伍德根据瓷珠在高温下颜色的变化,来识别烧制陶瓷的温度,后来又有人根据陶土制的熔锥在高温下弯曲变形的程度,来识别温度。辐射温度计和光学高温计是20世纪初,维思定律和普朗克定律出现以后,才真正得到实用。从60年代开始,由于红外技术和电子技术的发展,出现了利用各种新型光敏或热敏检测元件的辐射温度计(包括红外辐射温度计),从而扩大了它的应用领域。各种温度计产生的同时就规定了各自的分度方法,也就出现了各种温标,如原始的摄氏温标、华氏温标、气体温度计温标和铂电阻温标等 。为了统一温度的量值,以达到国际通用的目的,国际权度局最早规定以玻璃水银温度计为基准仪表,统一用摄氏温标。后经数次改革,到1927年改用以热力学温度为基础、以纯物质的相变点为定义固定点的国际温标 ,以后又经多次修改完善。国际现代通用的温标是1967年第13次国际权度大会通过的 ,1968年国际实用温标。它以13个纯物质的相变点,如氢三相点,即氢的固、液、气三态共存点(-259.34℃);水三相点(0.01℃)和金凝固点(1064.43℃)等,作为定义固定点来复现热力学温度的。中间插值在-259.34~630.74℃之间 ,用基准铂电阻;在630.74~1064.43℃之间,用基准铂铑-铂热电偶;在1064.43℃以上用普朗克公式复现。一般的温度测量仪表都有检测和显示两个部分。在简单的温度测量仪表中,这两部分是连成一体的,如水银温度计;在较复杂的仪表中则分成两个独立的部分,中间用导线联接,如热电偶或热电阻是检测部分,而与之相配的指示和记录仪表是显示部分。按测量方式,温度测量仪表可分为接触式和非接触式两大类。测量时,其检测部分直接与被测介质相接触的为接触式温度测量仪表;非接触温度测量仪表在测量时,温度测量仪表的检测部分不必与被测介质直接接触,因此可测运动物体的温度。例如常用的光学高温计、辐射温度计和比色温度计,都是利用物体发射的热辐射能随温度变化的原理制成的辐射式温度计。由于电子器件的发展,便携式数字温度计已逐渐得到应用。它配有各种样式的热电偶和热电阻探头,使用比较方便灵活。便携式红外辐射温度计的发展也很迅速,装有微处理器的便携式红外辐射温度计具有存贮计算功能,能显示一个被测表面的多处温度 ,或一个点温度的多次测量的平均温度、最高温度和最低温度等。此外,现代还研制出多种其他类型的温度测量仪表,如用晶体管测温元件和光导纤维测温元件构成的仪表;采用热象扫描方式的热象仪,可直接显示和拍摄被测物体温度场的热象图, 可用于检查大型炉体、发动机等的表面温度分布,对于节能非常有益;另外还有利用激光,测量物体温度分布的温度测量仪器等。

  • 【转帖】温度测量仪

    温度测量仪表是测量物体冷热程度的工业自动化仪表。最早的温度测量仪表,是意大利人伽利略于1592年创造的。它是一个带细长颈的大玻璃泡,倒置在一个盛有葡萄酒的容器中,从其中抽出一部分空气,酒面就上升到细颈内。当外界温度改变时,细颈内的酒面因玻璃泡内的空气热胀冷缩而随之升降,因而酒面的高低就可以表示温度的高低,实际上这是一个没有刻度的指示器。1709年,德国的华伦海特于荷兰首次创立温标,随后他又经过多年的分度研究,到1714年制成了以水的冰点为32度、沸点为212度、中间分为180度的水银温度计,即至今仍沿用的华氏温度计。1742年,瑞典的摄尔西乌斯制成另一种水银温度计,它以水的冰点为100度、沸点作为 0度。到1745年,瑞典的林奈将这两个固定点颠倒过来,这种温度计就是至今仍沿用的摄氏温度计。早在1735年,就有人尝试利用金属棒受热膨胀的原理,制造温度计,到18世纪末,出现了双金属温度计;1802年,查理斯定律确立之后,气体温度计也随之得到改进和发展,其精确度和测温范围都超过了水银温度计。1821年,德国的塞贝克发现热电效应;同年,英国的戴维发现金属电阻随温度变化的规律,这以后就出现了热电偶温度计和热电阻温度计。1876年,德国的西门子制造出第一支铂电阻温度计。很早以前,人们在烧窑和冶锻时,通常是凭借火焰和被加热物体的颜色来判断温度的高低。据记载,1780年韦奇伍德根据瓷珠在高温下颜色的变化,来识别烧制陶瓷的温度,后来又有人根据陶土制的熔锥在高温下弯曲变形的程度,来识别温度。辐射温度计和光学高温计是20世纪初,维思定律和普朗克定律出现以后,才真正得到实用。从60年代开始,由于红外技术和电子技术的发展,出现了利用各种新型光敏或热敏检测元件的辐射温度计(包括红外辐射温度计),从而扩大了它的应用领域。各种温度计产生的同时就规定了各自的分度方法,也就出现了各种温标,如原始的摄氏温标、华氏温标、气体温度计温标和铂电阻温标等 。为了统一温度的量值,以达到国际通用的目的,国际权度局最早规定以玻璃水银温度计为基准仪表,统一用摄氏温标。后经数次改革,到1927年改用以热力学温度为基础、以纯物质的相变点为定义固定点的国际温标 ,以后又经多次修改完善。国际现代通用的温标是1967年第13次国际权度大会通过的 ,1968年国际实用温标。它以13个纯物质的相变点,如氢三相点,即氢的固、液、气三态共存点(-259.34℃);水三相点(0.01℃)和金凝固点(1064.43℃)等,作为定义固定点来复现热力学温度的。中间插值在-259.34~630.74℃之间 ,用基准铂电阻;在630.74~1064.43℃之间,用基准铂铑-铂热电偶;在1064.43℃以上用普朗克公式复现。一般的温度测量仪表都有检测和显示两个部分。在简单的温度测量仪表中,这两部分是连成一体的,如水银温度计;在较复杂的仪表中则分成两个独立的部分,中间用导线联接,如热电偶或热电阻是检测部分,而与之相配的指示和记录仪表是显示部分。按测量方式,温度测量仪表可分为接触式和非接触式两大类。测量时,其检测部分直接与被测介质相接触的为接触式温度测量仪表;非接触温度测量仪表在测量时,温度测量仪表的检测部分不必与被测介质直接接触,因此可测运动物体的温度。例如常用的光学高温计、辐射温度计和比色温度计,都是利用物体发射的热辐射能随温度变化的原理制成的辐射式温度计。由于电子器件的发展,便携式数字温度计已逐渐得到应用。它配有各种样式的热电偶和热电阻探头,使用比较方便灵活。便携式红外辐射温度计的发展也很迅速,装有微处理器的便携式红外辐射温度计具有存贮计算功能,能显示一个被测表面的多处温度 ,或一个点温度的多次测量的平均温度、最高温度和最低温度等。此外,现代还研制出多种其他类型的温度测量仪表,如用晶体管测温元件和光导纤维测温元件构成的仪表;采用热象扫描方式的热象仪,可直接显示和拍摄被测物体温度场的热象图, 可用于检查大型炉体、发动机等的表面温度分布,对于节能非常有益;另外还有利用激光,测量物体温度分布的温度测量仪器等。

  • 太阳光辐射测量仪品牌厂家价格方案

    太阳光辐射测量仪品牌厂家价格方案

    太阳光辐射测量仪品牌厂家价格方案高精度太阳光辐射测量仪可用于太阳直接辐射、总辐射、敞射辐射、反射辐射、大气长波辐射和地面长波辐射的测量。仝自动太阳追寻器是高精度太阳光辐射测量仪中的关键设备之一,是计算机控制的光、机、电体化系统,采用日历追寻方式和传感器追寻方式行平滑切换的工作模式,运行过程中不需任何人工干预,实现全自动、全天候、高精度追寻太阳。高精度太阳光辐射测量仪的试验进行,同时,又安装了辐射站业务用的辐射测量系统与之比较,原系统与新系统其用同个数据采集器获取数据。新系统的并辐射量各自的名称表示,原系统的辐射量加台站上业务辆射现测资料以示区别。[img=太阳光辐射测量仪,400,400]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/04/202204130921503936_9921_4136176_3.jpg!w690x690.jpg[/img]多功能太阳光辐射测量仪结构,主要由以下部件组成:1、跟日系统包括蜗轮传动的、由步进电机驱动的二轴转动系——追寻台。其上装有跟踪准直筒,它可指向空间任意方向。准直筒轴线后部装有四象限元件。当它对准太阳中心时,四象限元件的四个输出信号恰好相等;如有偏离则四个信号发生变化。利用微机来处理误差信号,并驱动步进电机,转动准直简直到对准太阳中心,这便实现了自动追寻。2、步进电机驱动电源,由微机控制其工作,它可供三台电机同时用。3、太阳光辐射测量仪探测系统包括接收准直筒及限光光阑,会聚透镜,可安放八块滤光片的转盘,滤光片驱动电机,恒温室,光伏探测元件,前置放大器等。4、微机系统,为了兼顾数据处理能力和通用性,我们采用IBM—PO兼容机,可达到高性能价格比。系统配备了专用的I/0接口和多通道i2bit高性能的A/D转换板。[img=太阳光辐射测量仪,400,400]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/04/202204130922147079_9749_4136176_3.jpg!w690x690.jpg[/img]5、电子单元,包括4096倍程控变增益放大器,四象限信号放大器及其它接口电路。6、太阳光辐射测量仪温度控制器,用来控制探测元件室的温度,使其保持在40范围内,以提高仪器的长期温度稳定性。

激射式粒布测量仪相关的耗材

  • 在线水分测量仪配件
    在线水分测量仪配件是德国高灵敏度水分测定仪,它采用德国高灵敏度光学水分传感器,非常适合测量粉末,颗粒,浆料,糊状物,膏剂等多种材料在内的多种样品的水分含量。在线水分测量仪配件特色直接测量样品,测量速度快,测量精度高,测量可靠性强,全面超越目前现存的NIR光谱或微波传感水分含量传感器产品,具有德国专利的光学水分传感器清洗技术,完全清洁光学传感器探头,解决了直接测量的光学传感器污染难题。在线水分测量仪配件特点直接深入样品非接触式光学测量LED显示技术确保长寿命高精度光学探头在线测量德国全固态设计结构,超级耐用无需耗材,使用成本低无需样品准备,直接测量,节省时间无需售后服务在线水分测量仪配件参数测量原理:近红外反射测量范围:0-90%水分含量测量精度:+/-0.1%测量时间:2秒测量距离:10-300mm 或者侵入式测量测量点尺寸:高达10cm光源:红外LED光源收集器:光电二极管工作温度要求:5-45摄氏度工作电力要求:24VDC, 0.2A,信号输出:0...10V或4...20mA外壳材料:IP65外形尺寸:300x200x160mm重量:2.8kg
  • 雾度测量仪配件
    雾度测量仪配件能够精确测量在玻璃或硅晶圆衬底上薄膜的总透过率和漫透过率,根据公式Haze(λ)=DT(λ)/TT(λ)从而获得雾度值,测量光谱范围为400-900nm。薄膜的总透过率,总反射率,漫透过率对于太阳能光伏制造非常重要,雾度测量仪配件通过三个光谱仪测量400-900nm范围内的光谱,不需要移动或改变任何部件,保证测量精度和使用寿命。雾度测量仪配件采用模块化设计,具有高度的可拓展性,充分满足不同客户的多种需要。例如,自动光学窗口可更换,简化操作,减少用户的人工干预操作。还有厚度和反射率测量模块可集成,从而满足客户测量薄膜厚度和折射率的需求。除此之外,还可以根据用户的预算情况配备自动扫描或手动扫描的机制,可以适合任何尺寸的样品,包括面积大于1平方米的玻璃板。
  • 硅片厚度测量仪配件
    硅片TTV厚度测试仪配件是采用红外干涉技术的测量仪,能够精确给出衬底厚度和厚度变化 (TTV),也能实时给出超薄晶圆的厚度(掩膜过程中的晶圆),非常适合晶圆的研磨、蚀刻、沉淀等应用。硅片厚度测量仪配件采用的这种红外干涉技术具有独特优势,诸 多材料例如,Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃,石英以及其他聚合物在红外光束下都是透明的,非常容易测量,标准的测量空间分辨率可达50微米,更小的测量点也可以做到。硅片厚度测量仪配件采用非接触式测量方法,对晶圆的厚度和表面形貌进行测量,可广泛用于:MEMS, 晶圆,电子器件,膜厚,激光打标雕刻等工序或器件的测量,专业为掩膜,划线的晶圆,粘到蓝宝石或玻璃衬底上的晶圆等各种晶圆的厚度测量而设计,同时,硅片厚度测试仪还适合50-300mm 直径的晶圆的表面形貌测量。硅片厚度测试仪配件具有探针系统配件,使用该探针系统后,硅片TTV厚度测试仪可以高精度地测量图案化晶圆,带保护膜的晶圆, 键合晶圆和带凸点晶圆(植球晶圆),wafers with patterns, wafer tapes,wafer bump or bondedwafers 。硅片TTV厚度测试仪配件直接而精确地测量晶圆衬底厚度和厚度变化TTV,同时该硅片厚度测量仪能够测量晶圆薄膜厚度,硅膜厚度(membrane thickness) 和凸点厚度(wafer pump height).,沟槽深度 (trench depth)。
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