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原子发射光谱分析

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原子发射光谱分析相关的论坛

  • 【资料】原子发射光谱分析详解

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  • 【资料】原子发射光谱分析

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  • 【资料】原子发射光谱分析 ppt

    【资料】原子发射光谱分析 ppt

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  • 【原创】【原子发射光谱分析法的基本原理】

    原子发射光谱分析(摄谱法)的一般过程是:使试样从外界能量的作用下转变成气态原子并使原子外层电子进一步被激发;当被激发的电子从较高能级跃迁到较低的能级时,原子将释放出多余的能量从而产生光辐射——特征发射谱线;所产生的光辐射经过摄谱仪器进行色散(分光)、按波长长短顺序记录在感光板上;经暗室处理后,借助光谱投影仪就可观察到有规则的谱线条即光谱图;根据所得光谱图进行元素定性鉴定或定量分析。 当采用原子发射光谱的摄谱分析法时,首先要将样品蒸发、原子化、激发以便产生光辐射,为此要有一激发光源;然后要将光辐射(混合光)色散开以便展开成谱并用相板加以记录得到光谱图,为此要有一摄谱仪;对所得到的光谱图进行波长鉴别以完成定性分析,需要一映谱仪,对黑度测量以完成定量分析,需要一测黑度计。

  • 光源是如何影响原子发射光谱分析的误差的?

    原子发射光谱分析的误差,主要来源是光源,因此在选择光源是应尽量满足以下要求:1) 高灵敏度,随着样品中浓度微小变化,其检出的信号有较大的变化;2) 低检出限,能对微量和痕量成份进行检测;3) 良好的稳定性,试样能稳定地蒸发、原子化和激发,分析结果具有较高的精密度;4) 谱线强度与背景强度之比大(信噪比大);5) 分析速度快;6) 结构简单,容易操作,安全;7) 自吸收效应小,校准曲线的线性范围宽。 原子发射光谱仪的类型,目前常用的光源有以下两种:一类是经典光源(电弧及火花),另一类是等离子体及辉光放电光源,其中以电感耦合等离子体光源(ICP)居多,在不同的领域中得到广泛的应用。

  • 原子发射光谱分析

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  • 火花源/电弧原子发射光谱分析技术考核与培训大纲

    火花源/电弧原子发射光谱分析技术考核与培训大纲1 总则1.1 目标 熟悉火花源/ 电弧原子发射光谱(SPARK/ARC-AES )分析技术基本概念及基础理论知识;了解 SPARK/ARC-AES 光谱仪组成结构及工作原理;具备SPARK/ARC-AES 光谱仪的实际操作能力;掌握SPARK/ARC-AES 分析技术在相关领域的应用。1.2 适用范围 本大纲适用于对金属固体样品进行直接分析的火花源/ 电弧原子发射光谱分析技术的考核与培训。适用仪器包括检测器为光电倍增管或CCD 的各类固定式、移动式火花源/电弧原子发射光谱仪。1.3 应具备的基础知识和技能1.3.1 通用基础 具备分析化学的基础知识。1.3.2 分析测试基本操作 具备分析化学实验的基本操作能力,具备实验室一般仪器和设备的操作能力。1.3.3 数据处理基础知识 具备数据统计处理和误差理论的基础知识。

  • 【资料】仪器分析:原子发射光谱分析法 ppt

    【资料】仪器分析:原子发射光谱分析法  ppt

    仪器分析:原子发射光谱分析法[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=177294]仪器分析:原子发射光谱分析法.rar[/url][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/10/200910222217_177295_1605076_3.jpg[/img]

  • JIS G 1253-2018 铁、钢火花源原子发射光谱分析方法

    [font=等线]JIS G 1253-2018 [/font][font=等线]铁、钢火花源原子发射光谱分析方法(中文)[url=https://www.docin.com/p-2045578618.html]JIS G 1253-2018 铁、钢火花源原子发射光谱分析方法(中文).pdf - 豆丁网 (docin.com)[/url][/font]

  • 《原子发射光谱分析法》课件下载

    [em44] 学习原子发射光谱分析法的经典课件,简洁、全面、实用,看了你会感觉确实不错!共12部分,太大,分别提供。[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=2322]相关附件[/url][color=red]wangfeidown:因附件下载后无法打开,特此锁定以免在此浪费时间![/color]

  • 【分享】电感耦合等离子体原子发射光谱分析信息系统

    电感耦合等离子体原子发射光谱分析信息系统, 刘思东 张卓勇 郭黎平 陈杭亭 曾宪津 胡钢东北师范大学-------------谁知道以上几位老师的联系地址?何处可以下载到该分析系统?请回帖。-------------下载分享该论文的网友请主动回帖,这对你是有好处的,因为回帖就会增加你的积分!

  • 原子发射光谱分析发展简史

    原子发射光谱分析发展简史:1.1 定性分析阶段1860年, Kirchhoff(克希霍夫)和Bunsen (本生), 利用分光镜发现物质组成与光谱之间关系,提出 (1)每个元素被激发时,就产生自己特有的光谱 (2)一种元素可以根据它的光谱线的存在而肯定它的存在根据元素的上述特性,发现了周期表中许多元素:铯(1860年),铷(1861),铊(1861年,烟道灰),铟(1863年,锌矿),镓(1875年),钐(1879年),镨(1885年),钕(1885年)镱(1878年),钬(1879年),钪(1879年),Dy( 1886年),Tm(1879年),Gd(1886年),铕(1906年)Ge(1886年),He(1895年),Ar(1894年)Ne(1894),Ke(1894)Xe(1894).光谱定性分析至今还是一种有用的方法1.2 定量分析阶段经验公式: 1930-1931, 罗马金, 塞伯提出I = acb1.3 等离子体光谱技术时代 直流等离子体光源 (DCP)电感耦合等离子体光源 (Inductively Coupled Plasma, ICP)微波等离子体光源 (MWP)2. ICP光源的物理化学基础:2.1等离子体的基本概念电离度0.1%以上的气体高温等离子体和低温等离子体热等离子体和冷等离子体3.1高频发生器3.1.1 高频发生器的技术要求高频功率高于1.5KW振荡频率27MHz ~ 40MHz功率波动≤0.1%(0.5%)频率稳定性优于0.1%(0.001%, 0.01%)电磁场泄漏应符合工业卫生标准(GB9175-88), 电场强度〈10 v/m(〈30MHz), 〈 5v/m(30~300MHz)3.1.2 两种高频振荡电源自激式等离子体电源线路: 电源 = 自激振荡器 =ICP形成它激振荡器: 石英晶体振荡器 = 电压及功率放大 = ICP形成3.1.3 振荡频率的影响高频可降低维持放电所需功率: 5MHz~5KW, 9MHz~3KW, 21MHz~1.5KW, 60MHz~0.8KW中心通道变宽降低激发温度和电子密度稳健性降低, 基本效应增加较高的线背比,(降低背景), 稍好的检出限对精密度没有显著影响先发这么多,这是清华大学,辛教授的关于ICP的部分讲义。

  • 【资料】真情奉献:“原子发射光谱分析表观浓度法”的精华资料

    “原子发射光谱分析表观浓度法”是国内少有的获得发明专利授权的光谱分析方法,目前它的“专利保护”已经到期,可供自由使用。本人将三份有关的精华文献资料制成电子文档,奉献给大家。[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=56479]1、专利说明书CN87103303[/url][img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=56480]2、发射光谱表观浓度法在钢铁分析中的应用[/url][img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=56482]3、光电直读光谱仪的ACMS软件包[/url]如果你觉得有用就支持一下,如果有问题可提出来讨论.

  • 原子发射光谱分析和原子吸收光谱分析应用的差别

    各位老师好,我刚刚接触原子光谱,想了解一下测定钾和钠的时候原子发射和[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]有什么不同?各有什么优点?直读光谱就是原子发射光谱么?希望大家不吝赐教。原子发射光谱有没有好的书籍可以推荐呢?

  • 【资料】原子发射光谱法(共20讲)

    [B][center]原子发射光谱法:1 概述[/center][/B]原子发射光谱法,是利用物质在热激发或电激发下,每种元素的原子或离子发射特征光谱来判断物质的组成,而进行元素的定性与定量分析的方法。原子发射光谱法是光学分析法中产生与发展最早的一种。在近代各种材料的定性、定量分析中,原子发射光谱法发挥了重要作用。特别是新型光源的研制与电子技术的不断更新和应用,使原子发射光谱分析获得了新的发展,成为仪器分析中最重要的方法之一。(1)原子发射光谱分析的优点① 具有多元素同时检测能力。可同时测定一个样品中的多种元素。② 分析速度快。若利用光电直读光谱仪,可在几分钟内同时对几十种元素进行定量分析。分析试样不经化学处理,固体、液体样品都可直接测定。③ 检出限低。一般光源可达10~0.1µ g/g(或µ g/mL),绝对值可达1~0.01µ g。,电感耦合高频等离子体原子发射光谱(ICP-AES)检出限可达ng/mL级。④准确度较高。一般光源相对误差约为5%~10%,ICP-AES相对误差可达l%以下。⑤试样消耗少。⑥ ICP光源校准曲线线性范围宽可达4~6个数量级。(2)原子发射光谱分析的缺点高含量分析的准确度较差;常见的非金属元素如氧、硫、氮、卤素等谱线在远紫外区.一般的光谱仪尚无法检测;还有一些非金属元素,如P、Se、Te等,由于其激发电位高,灵敏度较低。

  • 【原创】在原子发射光谱法中谱线重叠干扰的判断和识别及分析线的选择

    随着ICP发射光谱分析应用的日益普及,现在我们国家应用ICP发射光谱进行元素分析的人已明显增多,它的应用领域也越来越广,因此从事ICP发射光谱分析的人也随之不断增多。近来曾多次看到网友发的有关分析线选择的求助帖,所以想借此和大家交流一下。  所有新的分析技术出现时,往往都会注意到它的干扰问题,因为干扰效应是分析化学中最为复杂的问题之一,或者说分析化学中90%以上的理论问题,或多或少都是与解决干扰问题相关联的。  原子发射光谱法也是一样,特别是由谱线重叠引起的光谱干扰更是如此。因为发射光谱的谱线非常之多,对于结构简单的元素来说,其谱线数量少则至少也有两位数,而对于那些结构复杂的元素来说,其谱线数量更是在5位数以上。  这也不难理解,因为气态自由原子,在获得能量后可以被激发,而每个原子都有很多的激发态。如果气态自由原子所获得的能量超过了其电离能,它还会发生电离,电离之后如果继续获得能量,同样会被激发而跃迁到离子的激发态上,所以每一种元素的原子包括其离子都会具有很多很多的能级。  现在的ICP全谱直读型仪器,大多采用中阶梯光栅的二维分光的方式,所以得到的谱图已不再象过去的一维线光谱,它是二维的或三维的(第三维是发射强度)。因此每当有人问我发射光谱有多少谱线时,我就会给他们看多元素的二维发射光谱的谱图,我就会问他们这样的谱图看上去象不象晴天无云的夜晚中天上的星星,它们有大的有小的,有亮的有暗的,如果有人让你去数星星你还想知道它们有多少吗?  正是因为原子发射光谱有如此多的谱线,所以当发射光谱的仪器其分光系统的色散能力和分辨能力不够时,一些波长相差很小的谱线就会部分地或完全地重叠在一起,形成光谱干扰。至今还没有一台仪器可以将所有原子谱线都能分开的光谱仪器。这就是为什么我们在进行原子发射光谱分析时要处理光谱干扰的原因。谱线多是坏事也是好事,因为它在容易形成干扰的同时也为我们提供了更多的选择余地,为我们提供了非常丰富的原子结构信息,这也正是为什么发射光谱定性分析准确可靠的重要原因。  好在过去的发射光谱仪器中,有一种采用光电倍增管对发射光谱的谱线强度进行检测的叫多道仪器,因为它可以进行多元素同时测定,所以对每种元素通常只提供一条固定波长的谱线,这样就不可避免地要解决由谱线重叠引起的光谱干扰问题,所以过去曾经有很多人专门从事这方面的研究,因此建立了很多比较好的和行之有效的校正方法,其中现在全谱直读仪器软件中用得比较多的一个是干扰系数法,另一个就是谱线解析法。因为关于这方面的内容比较多,所以在此不便作更多的熬述,在江祖成等编写的《现代原子发射光谱分析》有专门的一章介绍这方面的内容。  知道了谱线重叠干扰该如何校正之后,接下来的问题就是如何去判断和识别这一干扰了。现在的全谱直读型仪器采用的是固体成像检测器来记录和测量谱线的发射强度,它们一般都具有呈现谱线轮廓的功能,我们可以通过这一功能直接观察分析线的情况,尽管它们都是峰形的,但它们可能会因元素的不同或谱线的不同而呈现出各种形状,它们可能有对称的有非对称的,有宽粗的有苗条的,有俊俏的有难看的,我们可以利用这一功能非常直观地看出线翼重叠。  对于完全重叠或近乎完全重叠的谱线的情况可能会复杂一些,因为在一般情况下,仪器软件会对每一种元素提供一条以上可供选择的分析线,在进行分析测定时,可以多选几条谱线,如果由所有谱线都能得出一致的结果,就表明分析结果准确可靠,没有谱线干扰线的影响,反之的话结果明显偏高的,就很可能存在完全重叠或近乎完全重叠的干扰谱线。如果我们将基体分离并扣除空白后,之前结果明显偏高的谱线不再偏高,则一般就可以进一步确定它存在完全重叠或近乎完全重叠的谱线干扰。   http://www.instrument.com.cn/bbs/shtml/20081029/1554124/

  • 【转帖】等离子体原子发射光谱分析常见问题

    等离子体原子发射光谱分析常见问题1、影响等离子体温度的因素有:载气流量:流量增大,中心部位温度下降;载气的压力:激发温度随载气压力的降低而增加;频率和输入功率:激发温度随功率增大而增高,近似线性关系,在其他条件相同时,增加频率,放电温度降低;第三元素的影响:引入低电离电位的释放剂(如T1)的等离子体,电子温度将增加。 2、电离干扰的消除和抑制:原子在火焰或等离子体的蒸[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Mp]气相[/url]中电离而产生的干扰。它使火焰中分析元素的中性原子数减少,因而降低分析信号。在标准和分析试样中加入过量的易电离元素,使火焰或等离子体中的自由电子浓度稳定在相当高的水平上,从而抑制或消除分析元素的电离。此外,由于温度愈高,电离度愈大,因此,降低温度也可减少电离干扰。 3、试剂酸度对ICP-AES法的干扰效应主要表现在哪些方面?提升率及其中元素的谱线强度均低于水溶液;随着酸度增加,谱线强度显著降低;各种无机酸的影响并不相同,按下列顺序递增:HCl HNO3 HClO4 H3PO4 H2SO4;谱线强度的变化与提升率的变化成正比例。 4、ICP-AES法中的光谱干扰主要存在的类型:谱线干扰;谱带系对分析谱线的干扰;连续背景对分析谱线的干扰;杂散光引起的干扰。 5、ICP-AES法分析中灵敏度漂移的校正:在测定过程中,气体压力改变会影响到原子化效率和基态原子的分布;另外,毛细管阻塞、废液排泄不畅,会使溶液提升量和雾化效率受到影响;以及电压变化等诸多因素都会使灵敏度发生漂移,其校正方法可每测10个样品加测一个与样品组成接近的质控样,并根据所用仪器的新旧程度适当缩短标准化的时间间隔。 6、ICP分析中如何避免样品间的互相沾污?测量时,不要依次测量浓度悬殊很大的样品,可把浓度相近的样品放在一起测定,测定样品之间,应用蒸馏水或溶剂冲洗之。 7、ICP-AES法中,用来分解样品的酸,必须满足的条件:尽可能使各种元素迅速、完全分解;所含待测元素的量可忽略不计;分解样品时,待测元素不应损失;与待测元素间不形成不溶性物质;测定时共存元素的影响要小;不损伤雾化器、炬管等。 8、在ICP-AES法中,为什么必须特别重视标准溶液的配置?不正确的配置方法将导致系统偏差的产生;介质和酸度不合适,会产生沉淀和浑浊;元素分组不当,会引起元素间谱线干扰;试剂和溶剂纯度不够,会引起空白值增加、检测限变差和误差增大。 9、配制ICP分析用的多元素贮备标准溶液的注意事项:溶剂用高纯酸或超纯酸;用重蒸的离子交换水;使用光谱纯、高纯或基准物质;把元素分成几组配制,避免谱线干扰或形成沉淀。 10、当采用有机试剂进行ICP分析时,有哪些特殊要求?高频功率一般应高于水溶液试样;冷却气流量要增高,载气流量要减少,同时应通入较高流量的辅助气;对炬管的结构和安装也有某些特殊要求;多采用链状结构的有机溶剂作稀释剂。 11、什么叫稀释剂?ICP-AES法用的稀释剂有哪些要求?一般粘度大的试样,用气动雾化进样较难,常用低粘度的有机溶剂去稀释试样,这种有机溶剂称为稀释剂。对其要求有:①粘度较低;②分子中的碳原子数较少;③有中等的挥发性;④不产生或少产生有毒气体;⑤ 允许有较高的进样量而不致使等离子体熄灭;⑥在炬管口产生的碳沉积较少。 12、稀释剂对ICP分析有哪些影响?稀释剂的粘度对雾化进样、速率产生影响;密度、粘度和表面张力影响形成雾滴的初始致敬;沸点影响雾滴的挥发及进入ICP通道的有机溶剂蒸发量,从而影响ICP的稳定性。

  • 原子发射光谱仪的构成

    [url=http://www.huaketiancheng.com/][b]原子发射光谱仪[/b][/url]是测定每种化学元素的气态原子或离子受激后所发射的特征光谱的波长及强度来确定物质中元素组成和含量。  原子发射光谱仪是根据试样中被测元素的原子或离子,在光源中被激发而产生特征辐射,通过判断这种特征辐射波长及其强度的大小,对各元素进行定性分析和定量分析的仪器。  原子发射光谱仪,是将成分复杂的光分解为光谱线的科学仪器。它密封在一个温度稳定的恒温机箱里,设计小巧,操作简易,设备的搬运和操作只要一个人就能完成。这一类仪器一般包括:光源、单色器、检测器和独处器件。原子发射光谱仪装备了超高灵敏度的光电倍增管,在全量程范围内使检测器的动态范围能鉴别出成分的最微小的差别。原子发射光谱仪有火花原子发射光谱仪,光电原子发射光谱仪,手持式光谱仪,便携式光谱仪,能量色散光谱仪,真空原子发射光谱仪等多种品种。原子发射光谱仪广泛应用于铸造、钢铁、金属回收和冶炼以及军工、航天航空、电力、化工、高等院校和商检、质检等部门。

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