射线近边结构分析

EA8000是，与X射线、CT、X光照相同原理通过X射线透射图像捕捉样品中的金属异物，再通过荧光X射线分析使元素清晰化的异物分析装置。所谓的荧光X射线分析，是指通过将元素分布作为2次元图像而获得的扫描分析，查明金属异物的元素。EA8000在收货检查、进度检查等不良分析现场进行异物或涂抹不均、结构不均等的检查时，协助提高信赖性、成品率。在对锂离子充电电池及燃料电池的品质管理方面当属EA8000利用“透射”“荧光”可快速检测出Φ20 μm级的金属异物锂离子充电电池（LIB）虽被广泛运用于电脑、手机等人们日常使用的机器当中，但在过去也出现过发热、着火等的事故报道。由于锂离子充电电池已从人们日常使用推广至车载使用，与以往相比对安全性的追求更高。锂离子充电电池异常发热及着火的主要原因之一是内部短路，而由于金属异物的参杂也可能与内部短路有关，因此更加追求对于以锂离子充电电池的安全性及性能保障为目的金属异物管理。我公司认真倾听顾客们的心声，较之以往即使在销售上有所实绩的荧光X射线分析装置也会遇到的难题，开发了“更加确切”、“更加快速”找出范围从B5到20 μm级金属异物的EA8000。主要特点（1）通过X射线透射图像可检测出20 μm级金属异物通过高分辨率2维传感器的开发成功、实现了高分辨率的X射线透射图像。仅需数分即可检测出250×200 mm全面的20 μm级金属异物。图1 约Φ20μm的金属异物（2）从锂离子充电电池的收货检查到进度管理EA8000可检测到包括属于锂离子充电电池原材料的正极负极活性物质、导电剂等粉末状样品，也可检测到分离器、电极板等薄片状样品。在检测导电剂及主要成分是轻元素的由碳组成的物质中包含的金属异物时，将导电剂直接装入袋中就可检测出异物，在收货检查时提高工作效率。图2 使用EA8000检测的流程（3）自动检测功能可减少测量者的工作负担EA8000可实现从X射线透射图像的获取到异物自动检测（通过图像处理）、荧光X射线分析进行扫描分析、报告书生成等一系列流程的自动化。受限于分析装置的时间减少，数据也可自动保存，效率高，可安心使用。图3 检查、分析流程（4）想要的信息自动生成EA8000将从X射线透射图像中检测出的异物尺寸及所在位置列表化。另外，异物尺寸及个数分布利用柱状图表示，实现异物个数及尺寸等的趋势管理。通过荧光X射线分析，异物的元素信息也可自动生成。图4 异物报告书例图5 粒度分布表示例

SAXSpace纳米结构分析仪（X-射线结构分析）使用小角和广角X-射线散射(SAXS/WAXS) 方法研究纳米结构，研究对象包括蛋白质、食品、药品、聚合物和纳米复合材料、纳米粒子和催化剂等。样品：液体、固体、粉末、薄膜、纤维、膏状体、纳米结构表面粒径、体积：最大 100 nm（间距 200 nm），最小 10 μL温度范围：-150 °C到300 °C

产品简介hiXAS提供了完整的基于实验室拓展X射线精细结构吸收谱(EXAFS)和X射线近边结构吸收谱（XANES）的解决方案。在较小的占地面积内，它集成了X射线光管光源、高分辨光谱仪、光子技术像素化X射线探测器，以及用于仪器控制和数据的分析的控制软件。由于hiXAS的光谱质量于同步辐射测量的结果相当，使得冗长的同步辐射测量机时申请和等待变得不再有必要。X射线光管光源和光谱仪可以覆盖的能量范围为5-12KeV，因此包括了3d过度金属的K吸收边。专门优化的HAPG Von Hamos光谱仪结构可以获得极高信噪比的光谱。因此，可分析的样品浓度可以低至数个质量百分比。同时光谱仪在覆盖的吸收边范围内，保持很高效率和恒定的高分辨率（E/ΔE = 4000）。我们还可以根据您的各种应用需要，提供定制化的hiXAS系统。hiXAS可用于EXAFS和XANES测量的元素范围。HiXAS可以在几分钟的时间内测量出分析物浓度仅为几个重量百分比的稀释样品。主要参数核心元件X射线光管光源von Hamos HAPG 光谱仪光子计数，像素化X射线探测器能量范围5-12keV样品浓度低至 数个质量百分比样品安装多样品转轮占地尺寸2.0m x 1.0m软件套件集成系统控制，各种光谱校准和分析功能EXAFS 模式XANES 模式光谱分辨能力1800*4000*（*整个能量范围内不变）能量带宽1000eV300eV采集时间3分**8分钟**（**归一化分析物浓度）主要应用化学形态分析和浓度比复合物研究催化剂分析短程有序和键长确定测量结果Cu箔样品X射线吸收测量，采集时间:3分钟含样品，1.5分钟不含样品C. Schlesiger et al, Recent progress in the performance of HAPG based laboratory EXAFS and XANES spectrometers, J. Anal. At. Spectrom. 35, 2298 (2020)

高分辨微焦点X射线成像分析仪一、概述X-viewer 作为平生公司一款科研级微焦点X射线数字成像产品，以其优异的硬件性能精湛的图像算法和成熟的处理软件，满足了各个高端科研领域用户对于非破坏结构成像的多样化需求，丰富的档位兼顾了空间分辨率和更宽广的观测视野需求。设备融入了公司十余年来在分子影像设备研发和应用上的宝贵经验，面世以来收获了广泛的认可和高度评价。X-viewer 具有快速成像特点，分辨率高、信息量大、目标辐射损伤小、运行及维护成本低、安全性高等一系列优点。在生命科学领域，可以快速观察动植物体内的组织和结构，快速诊断或评价；也可作为Micro CT预实验、快速筛查等的补充设备，可列装于各大高分辨无损结构成像的实验室。全屏蔽设计的机身已通过出厂安规检测，搭配可移动承重平台，使用更安全，操作更简便。二、应用领域• 小动物活体成像：大小鼠/啮齿类小动物研究（骨骼、骨质、钙化点、关节炎症、肺部病变、肿瘤、心脑组织及血管的造影）。• 离体组织成像：颅脑、口腔、齿科研究，离体骨骼或组织造影观测。• 水生生物（包括海洋生物）的研究：鱼类、两栖类水生生物表型研究，水产养殖过程中的个体差异性研究等• 植物及农业学：种子筛选及评估，研究病虫害或其他外力损伤对种子萌发的影响；提供中草药品质品性的图像甄别依据；为部分研究农业昆虫的用户提供高分辨昆虫内部结构图像。• 验室无损检测：在体生物材料成像、珠宝杂质测、医疗器械检测、PCB失效性检测等。• 已装有Micro-CT的用户，可搭配X-viewer使用，为Micro-CT提供预实验，提高效率。三、产品特点• 2-15秒，实现快速拍摄、即时出图极短的拍摄时间，尽量降低对实验动物的曝光剂量，实现真正无损、快速成像。• 超高分辨，展现更多结构细节采用微焦点X射线源，搭配高清平板探测器，1-40倍多级放大设计，实现微米级的图像分辨率，展现更加丰富的细节。• 更大的成像视野选用大尺寸平板探测器，可以对兔子、猫等活体小动物全身成像。• 强大便利的图像软件自识别目标档位，测量参数自动匹配，多种测量、标注、图像处理功能，应用于不同目标物体（如小动物、离体标本、水生生物、植物农业、珠宝、电子器件等）的多种场景拍摄。提供多种图像处理效果，操作结果可实时保存并导出，保障数据可靠性。• 使用安全和便利性设备曝光工作时，任意表面辐射剂量1μSv/h——达到本底辐射水平。操作人员无需专业的X射线知识，简单培训即可使用设备。• 产品稳定、维护简单产品设计优良、性能稳定，维护成本低；同时，厂家具备完善的售后服务体系。?四、图像案例1.小动物活体成像 2.组织与离体标本 ?3.水生生物学研究 4.农业与植物学 5.其他无损检测五、售服平生医疗科技（昆山）有限公司（简称“平生”）是国内临床前分子影像科研设备的领航开发制造商，也是国内在生命科学领域生产并推广高分辨全景X射线成像分析仪的厂家。平生旗下的临床前分子影像产品自推出市场以来，已有诸多成功装机客户，设备的性能和可靠性得到了客户的认可。同时，平生总部在昆山、子公司在上海，全国七大中心城市设有办事处，拥有自己的售服工程师团队，能为客户提供及时有效的售后响应。高效的售服保障、良好的性价比以及产品的性能可满足客户实验要求：• 重要指标如空间分辨率达到国际同类产品的前沿水准• 与进口同类产品相比，售服响应更有保障、服务质量更有优势• 厂商可提供定制化服务，发挥了国产制造商的优势• 售价合理，并能公开透明设备的维修零部件价

XAFS,XAS,台式X射线吸收精细结构谱仪RapidXAFS 2M产品原理RapidXAFS 谱仪是采用罗兰圆结构和高指数面晶体进行单色分光，实现X-射线吸收/发射谱谱测量，是研究材料局域原子或电子结构的一种有力工具，广泛应用于催化、能源、纳米等热门领域。性能特点：Ø 不依赖于长程有序结构，可用于非晶态材料的研究； Ø 不受其它元素干扰，可对同一材料中不同元素分别研究；Ø 不受样品状态影响，可测量固体（晶体、粉末），液体（溶液、熔融态）和气体等； Ø 对样品无破坏，可进行原位测试； Ø 能获得高精度的配位原子种类、配位数及原子间距等结构参数，一般认为原子间距精确度可达0.01&angst XAFS谱主要包括两部分: X射线吸收近边结构 (XANES) 和扩展X射线吸收精细结构(EXAFS) 。EXAFS的能量范围大概在吸收边后50 eV到1000 eV， 来源于X 射线激发出来的内层光电子在周围原子与吸收原子之间的单电子单次散射效应的结果。XANES包含了吸收边前约10 eV 至吸收边后约50 eV的范围，其主要来源于X 射线激发出的内壳层光电子在周围原子与吸收原子之间的单电子多重散射效应。产品优势多功能：提供科研级高质量XAFS/XES图谱高性能：1小时内完成1%含量样品测试（CN载体）高光通量：＞2000,000 photons/sec@8Kev配置灵活：可根据客户要求定制样品池，实现高温高压，低温低压，各种气氛条件下对反应过程原位观察简单易用：只需半天培训即可上机操作自主可控：90%部件自主可控，无政策风险低维护成本：无需专人维护、操作、管理等 XAFS/XES数据已成为了顶级期刊的“标配”，致使越来越多课题组需要XAFS测试。秉持着让XAFS/XES走进每个实验室的理念，推出全新的X射线吸/发射收谱仪平台（RapidXAFS 1M）。RapidXAFS 2M 具有如下特点：1.无需同步辐射光源即可提供XAFS测试； 2.台式体积，可放置于实验室内随时使用，极大节省了科研等待时间； 3.实现对催化剂的局域结构、价态分析； 4.实现原位测量（高温高压，低温低压，各种气氛条件下）条件下对反应过程原位观察，堪比高性能版本的静常压光电子能谱；应用领域- 新能源：燃料电池研究、 储氢材料研究、锂离子电池、碳中和研究。通过XAFS/XES可获得中心原子在电催、光催和热催化学反应过程中的价态、配位环境及其动态变化。- 催化：纳米颗粒催化、单原子催化。通过XAFS/XES获得催化剂在载体上存在的形态，与载体的相互作用形式及在催化过程中的变化等， 以及含量极低的元素的近邻结构。- 材料科学：用于各种材料表征，复杂体系和无序结构材料的研究， 放射性核素研究，表面、界面材料的相关性质研究，材料的动态变化过程研究。- 生物大分子：用于研究含金属的生物大分子中的金属及其近邻结构，如对在物质的生命过程中起着重要的作用的金属蛋白研究等。- 环境科学：广泛用于玻璃，土壤，塑料，煤，铬鞣革和超镁铁矿岩石中的元素的价态和含量的分析；动植物组织等样品分析；重金属污染检测等。 扫描关注公众号

TableXAFS-500谱仪是由安徽创谱仪器科技有限公司研发设计的X射线吸收精细结构谱仪。系统采用罗兰圆结构和大尺寸弯晶元件，利用常规X光源实现X射线吸收结构光谱测量。可以用于催化、能源电池和材料等研究领域，实现对元素的价态、配位和结构的分析。 TableXAFS-500 在实验室实现线站功能，免去机时申请与等候的烦恼，助您实现“想测就测、随时可测”的XAFS自由。 产品特点：小型化桌面式设计，维护成本低采用大口径晶体，具有更高收光效率和信噪比高精度、高稳定性扫描机构，提高分辨率及数据准确度安全防护联锁，有效避免辐射伤害具有7位样品架，可自动换样，提高测量效率 一键快速测量，单次仅需30min，高效便捷远程数据传输，实时查看实验进程和结果高能谱分辨，获得与同步辐射接近的吸收谱数据数据分析及解读，出具专业的分析报告可增配XAFS荧光测量模式及XES测量模式支持原位测试等扩展功能主要参数能量范围：4.5~ 20 keV（单次扫描范围600eV @ 7~9keV)能量分辨率：0.5 ~ 1.5eV （7~9keV，近边）X射线光源：1.2 kW X射线光管，靶材可订制光通量：500,000~1,000,000 photons/sec @ 9keV单色器晶体：口径100mm，半径500mm球面Si或Ge弯晶探测器：SDD探测器 样品轮：7~16位自动样品轮主要应用领域：新能源：锂电池及其他二次电池材料研究、燃料电池研究、储氢材料研究、光合作用与碳捕获。通过XAFS可获得核心原子在充放电循环及电化学反应过程中的浓度、价态、配位环境及其动态变化。催化：纳米颗粒催化、单原子催化。通过XAFS获得催化剂在载体上存在的形态，与载体的相互作用形式及在催化过程中的变化等，以及含量极低的金属离子的近邻结构。材料科学：用于各种材料表征，复杂体系和无序结构材料的研究，放射性核素研究，表面、界面材料的相关性质研究，材料的动态变化过程研究。生物大分子：用于研究含金属的生物大分子中的金属及其近邻结构，如对在物质的生命过程中起着重要的作用的金属蛋白研究等。环境科学：广泛用于玻璃、土壤、塑料、煤、铬鞣革和超镁铁矿岩石中的元素的价态和含量的分析，动植物组织等样品分析，重金属污染检测等。应用案例：

DST-17型X射线应力分析仪，为材料及其制品研究提供最可靠检测手段。可对多领域的材料结构、不规则形状的部件进行残余应力、织构精确测量。　　仪器的特点是大功率、高分辨、测量结果准确。性能描述　　高精度的衍射角测量装置，获取最准确的2θ角；　　实现同倾、侧倾法残余应力测量；　　测定同一点X、Y方向应力测量自动转换，无需操作样品；　　同一平面内任意设定样品测量点数，自动顺序完成残余应力测量；　　高分辨率SDD探测器，靶材固定时，可实现对各种材料残余应力测量；　　同时配置Si漂移线阵探测器，快速完成残余应力测量；　　α转动范围大，实现侧倾法应力测量，极图测量；　　内置激光测距定位器，实现样品全自动定位，重复精度小于3μm；　　CCD摄像头和激光辅助定位系统，样品人工定位更轻松；　　　　完整的数据处理软件，可编辑密勒指数、杨氏模量泊松比计算参数，实现对残余应力、半峰宽、奥氏体含量等准确计算。专业软件完成织构计算、绘制极图。技术参数　　2θ角度范围：110°—170°、Ψ角范围：0—60°、Ф角范围：0—360°、α角范围：0—70°。2θ角分辨率最小至0.01°，重复精度0.0001°；　　X射线发射器管电压：10—60kV、管电流：5—50mA；稳定度：小于0.005%。　　金属陶瓷X射线管：Cu、Cr、Fe、Ti、V、Co、Mn等各种靶材，入射线圆形光斑：0.2、0.5、1、2mm；矩形光斑：0.5×3、0.5×5、1×3、1×5、2×3、2×5mm等。　　产品符合ASTM E915-2010、及EN 15305-2008及GB7704-2008残余应力分析检测标准，生产过程符合ISO 9001质量管理体系的要求。

X射线衍射仪线阵光子计数X射线探测器应力分析仪X射线线阵探测器1、产品特点： MYTHEN系列微带探测器充分利用了混合光子计数（HPC）技术的所有优势：如无噪音、高速采集、耐辐射性能优越等，并以 此带来了最佳的实验室应用体验。MYTHEN2 R系列探测器有两种不同的尺寸：MYTHEN2 R 1K(含1280条微带）和 MYTHEN2 R 1D（含640条微带）。MYTHEN2 R 系列探测器结构紧凑，传感器位置对称， 适用于从便携式仪器到大型系统等各种不同 的衍射仪构造。DCS4探测器控制系统支持多模块系统组合， 能够获取更宽的角 度覆盖范围，最多可支持 4 台探测器同时工作。 MYTHEN2传感器微带宽度为50μm，具有三种可选厚度，分别为 320、450 和 1000 μm。同时微带分为两种长度： 4 mm长微带在低能X射线下有最佳的信噪比及极短的读出时间，因此可用于以钛靶光源进行测试的场合，特别适合原位残余应力分析；标准 8 mm 长微带具有最宽的有效面积和和最佳的分辨率，适用于所有X射线分析场合：与 1000μm 传感器共同使用时，可在实验室进行原本只能用同步辐射光源开展的PDF分析。2、核心优势： - 短微带，适用于钛靶及铬靶高产出测量场合； - 厚传感器，适用于银靶光源进行PDF测量； - 结构紧凑体积小，适用于各种尺寸的衍射仪和不同的预算； - 可实现多模块系统组合，覆盖更广的角度范围； - 无需维护及耗材。 3、应用领域： -X-射线粉末衍射和散射技术； - 残余应力测量； - 薄膜和织构分析； - PDF分析； - SAXS、WAXS、GISAXS； - 色散荧光光谱学 。4、技术参数 ：MYTHEN2 R 1K 1D微带数量1280640传感器厚度 [μm]320,450,1000微带宽度 [μm]50微带长度 [mm]8 and 4 (320 μm only)有效面积（宽*高）[mm2] 64 x 832 x 8 , 32 x 4动态范围 [bit]24能量范围 [KeV]4-40*读出时间 [μs]89帧频 [Hz]25点扩散函数 [strip]1能量分辨率2（r m s）[ev]687+5冷却方式风冷模块尺寸（WHD）[mm3]70 x 62 x 2238 x 62 x 22模块重量[g]180100DCS4尺寸（WHD）[mm3]110 x 30 x 160DCS4重量 [g]400 *低于4KeV的X-ray能量仅适用于320μm x 4mm的传感器。 注：所有规格如有变更，不做另行通知。

桌面式X射线衍射仪在X射线光束通过索拉狭缝、发散狭缝照射在样品上，样品台位于测角仪中心，基于反射几何θs-θd，X射线光束在满足布拉格定律时，在特定的方向上发生衍射现象，经过防散射狭缝、索拉狭缝、接收狭缝到达X射线探测器上，最终经过数据处理系统在分析软件上展现出采集的衍射图谱。FRINGE EV是公司自主研发的一款桌面式X射线衍射仪器，其融合XRD和计算机软件等多项技术，可快速对粉末、块状或薄膜等形态的样品进行主要物相定性、定量分析、晶体结构分析、材料结构分析及结晶度测定，具有精度高、准确度高、稳定性好、应用范围广、操作简便和智能化等特点，为材料研究、大学及研究院所、建筑材料、金属、矿物、塑料制品、医药品和半导体等众多领域提供高精度的分析。使用优势空气弹簧大橱窗升降门空气弹簧大橱窗升降门，节约桌面空间，适合每一台办公桌，有效提高空间利用率。桌面式千瓦级功率FRINGE EV拥有强悍的KW级功率，让他成为桌面式XRD领域无与伦比的收割机。适合所有人的XRDCrystalX在获得衍射数据后，自动进行物相分析，并给出物相各组分百分比，大大降低了使用人员的要求，仅仅需要点击“开始测试”，其它交给CrystalX软件 吧。安全性具有在测试过程中自动切断保护装置、安全联动锁装置，样品舱关闭后属于全封闭性能，操作界面有样品舱关闭提示功能。集成式索拉狭缝集成式索拉狭缝，无任何运动可调部件，增加测角系统的可靠性，从而使得界FRINGE桌面式XRD可安装于车载实验室平台。DPPC探测器DPPC探测器（数字脉冲处理计数探测器），计数吞吐量≥1×10^7CPS，无需使用二级单色仪，DPPC探测器在提供衍射数据的同时提供能量色散光谱数据。规格参数测角仪θ/θ立式测角仪、衍射圆半径 150mm2θ角度范围-3° - +150°2θ角度精度全谱范围内＜±0.02°偏差分辨率0.04°2θ 半峰宽FWHM索拉狭缝集成式索拉狭缝，无任何运动可调部件，增加测角系统的可靠性平台X光管金属陶瓷 X 射线管，焦点：1 x 10 mm，默认配置Cu靶，可选配 Co、Cr、Mo靶高压发生器功率标配1200W，最大支持1600W仪器尺寸580 x 450x 680mm（L×W×H）重量120KG电源220V±10V，50Hz，整机功率 最大值2000W散热方式FRINGE EV使用外置水循环冷却系统，强力冷却澎湃动力探测器DPPC探测器（数字脉冲处理计数探测器）接口紧凑的家用墙插插头提供电源，USB接口连接PC用于控制XRD气源提供2路气源接口，可用于原位分析或气氛保护安全性FRINGE EV具有空气弹簧大橱窗升降门，可无死角观察原位分析过程，并可有效屏蔽X射线，具有在测试过程中自动切断的保护、安全联动锁装置，样品舱关闭后属于全封闭性能，操作界面有样品舱关闭提示功能云端服务功能配套使用可同步的移动端APP服务，用于支持衍射数据卡片化管理，并支持接入知识管理系统CrystalX软件CrystalX在获得衍射数据后，自动进行物相分析，并给出物相各组分百分比，大大降低了使用人员的要求，无需手动检索，无需扣背景，无需平滑，无需手动寻峰，仅仅需要点击“开始测试”，其它交给CrystalX 软件 吧

台式X射线吸收精细结构谱仪-XAFS/XES美国easyXAFS公司新推出台式X射线吸收精细结构谱仪，采用有的X射线单色器设计，无需同步辐射光源，在常规实验室环境中实现X射线吸收精细结构测量和分析，以高的灵敏度和光源质量，实现对元素的测定、价态和配位结构分析等。此外，该设备还能够进行X射线发射谱测试(XES)，该表征本质上是超高能量分辨率的X射线荧光光谱(high-resolution XRF)。XAFS和XES可以对样品的局部电子结构实现信息互补。广泛应用于电池、催化剂、环境、放射性化学、地质、陶瓷等研究领域。XAFS/XES 设备特点 - 无需同步辐射光源- 科研别谱图效果- 台式设计，实验室内使用- 可外接仪器设备，控制样品条件- 可实现多个样品或多种条件测试- 操作便捷、维护成本低XAFS/XES 设备参数 X射线源： XAFS: 1.2 kW XRD(Mo/Ag) XES: 100W XRF 空冷管(Pd/W)能量范围：4.9-20.5keV分辨率：0.5-1.5eV样品塔：8位自动样品轮布拉格角：55-85 deg 设备型号XAFS300高功率版，固定光源模式，采用1200W 功率X射线管作为X射线光源，与光学模块和探测器组装。台式X射线吸收精细结构(XAFS)谱仪提供了透射模式测量，适用于储能或催化等领域的研究和开发。可升为XAFS300+型号。XAFS300+高功率版，兼容XAFS和XES功能，固定光源模式。该型号使用与XAFS300相同的高功率1200W射线管作为光源，用于X射线吸收谱功能XAFS；同时配备低功率100W 的X射线管和电源，用于X射线发射谱测试(XES)。XES150低功率版，采用固定光源模式，采用100W 功率X射线管作为X射线光源，具备与同步辐射装置相媲美的硬X射线发射光谱(XES)功能，和透射X射线吸收谱(XAFS)功能。光学系统模块化，能量范围功率可调。应用案例催化剂研究：实验室X射线吸收谱（XAFS）助力解析缺陷位点在OER反应中的作用机制表面缺陷调控工程被认为是提高催化剂催化活性的一种高效方法。因为表面缺陷工程可以有效调控活性位点的配位环境，从而优化催化剂的电子结构，实现电子转移和中间产物（*OH、*O和*OOH）吸附自由能的优化，大大提升催化反应效率。层状双金属氢氧化物（LDH）因其在水氧化（OER）反应中的优异性能而被广泛研究。而表面缺陷的引入将进一步提升其在OER中的催化效率。近期，郑州大学马炜/周震教授及其他合作者成功揭示了NiFe双金属氢氧化物纳米片中表面缺陷对于OER反应的巨大提升作用，同时通过结合X射线吸收谱（台式easyXAFS300+，美国easyXAFS公司），成功揭示了氧化前后催化剂的精细结构变化，为表面缺陷在催化反应中的作用机制提供数据支撑，相关研究成果发表于Journal of Materials Chemistry A, 2021, 9(25): 14432-14443. 图1. (a) Ni1/2Fe1/2(OH)2/CNT-24及其他样品的XAFS图，Ni k edge（b）径向距离χ(R)空间谱，（c）χ(R)空间拟合曲线图，（d）k2χ(k)空间谱拟合曲线电池材料：实验室台式XAFS在高性能水系锌离子电池研究中的应用美国华盛顿大学曹国忠教授等人合作在Nano Energy上发表了题为“Fast and reversible zinc ion intercalation in Al-ion modified hydrated vanadate”的水系锌离子电池相关研究成果。该研究通过水热合成法引入Al3+，有效的改善了纯水合氧化钒 (VOH) 正材料用于水系锌电池中的缺点：包括提升其离子迁移率和循环稳定性等[1]。Al3+的成功掺入，在改变V原子局部原子环境的同时，增加了材料中V4+的含量，使得合成的 Al-VOH 材料具有更大的晶格间距和更高的电导率，实现了Zn2+的快速迁移和电子转移。该正材料在50 mAg-1下的初始容量达到380 mAhg-1，且具有较好的长期循环稳定性（容量保持超过 3000 次循环）。值得一提的是，该团队通过利用台式X射线吸收精细结构谱仪（easyXAFS300+）获得了V k边的边前及近边结构谱图，并对Al3+掺杂的VOH 正材料进行了深入的研究，从而揭示了引入Al3+后，VOH的结构变化及充放电过程中的有利作用等。参考文献：[1] Zheng J, Liu C, Tian M, et al. Fast and reversible zinc ion intercalation in Al-ion modified hydrated vanadate[J]. Nano Energy, 2020, 70: 104519.环境修复：台式XAFS/XES谱仪分析检测Cr元素的应用美国华盛顿大学Gerald Seidler教授通过实验室XAFS/XES谱仪完成了环境和工业制成品中Cr元素的价态和含量的分析。 图1显示了XAFS光谱Cr近边区结果（XANES）。研究人员利用台式XAFS技术轻松对铬元素进行分析检测，不仅完成了标准品化合物K2CrO4的测试及拟合分析，同时也实现了对实际生产样品的表征。图1. XAFS近边区光谱（a）六价参考化合物，铬酸钾；（b）CRM 8113a是基于RoHS描述的用于重金属分析的认证参考材料 台式XAFS谱仪也同时配置了XES模组，通过激发特定元素内层电子后使外层电子产生弛豫并发射X射线荧光，对其能量和强度进行分析可以的给出目标元素的氧化态、自旋态、共价、质子化状态、配体环境等信息。由于不依赖于同步辐射，且得益于特有的单色器设计，可以在实验室内实现高分辨宽角高通量的XES元素分析（包括P, S, V，Zn, Cr, Ni, As, U, etc.）。在图2中，在未知Cr含量的塑料样品中，当拟合Cr元素XES Kα光谱时，可以充分观察到Cr的各种氧化态之间的精细光谱变化，且测试结果与同步辐射XAFS一致。对比Cr(VI)和Cr（III），可以在高于20 meV的能量分辨率下轻松辨别光谱特征的差异。Cr（III）在价态上具有更高电子密度，其光谱将会向更高的能量方向移动，且相对于Cr(VI)峰变宽，可以明显区分出Cr(VI)和Cr（III）。图2. 背景扣除和积分归一化后的Cr(VI)和Cr（III）铬化合物的Cr Kα XES 光谱 此外，从标准塑料样品中收集的XES光谱（图3），利用线性superposition analysis技术，经拟合与参考化合物光谱的线性叠加，推断出的Cr(III)/Cr(VI)比例再结合传统的XRF技术，就可以实现Cr(VI) ppm别的定量分析。图3. 不同样品中Cr Kα XES光谱的垂直偏移（所有光谱均经过背景校正和归一化）XAFS/XES技术不仅可以应用于多种聚合物样品中Cr元素的测定，同时也可应用于P、S、V、Zn、Cr、Fe、Co、Ni、Au、As、U等元素分析。此方法是无损测试，只需少量的样品，就可由实验室测试仪easyXAFS完成。基于实验室XAFS/XES的Cr测量可能成为未来环境领域及工业届的标准测试方法。储能材料：台式XAFS谱仪在能源存储材料研究中的应用因具有优异的初始可逆性和较为容易的 Li+嵌入和脱出结构，DRS是一种很有潜力的高比能正材料。特别是Mn基无序岩材料，因其具有无毒、低价格等特性，得到广泛的关注和研究。然而，目前该类材料都存在循环寿命短和严重的容量衰减等问题。德国卡尔斯鲁厄理工大学的Maximilian Fichtner教授及其他合作者结合了利用高价Ti4+离子及部分F-离子取代O等策略，使得该材料展现了长循环条件下更加优异的电化学性能和库伦效率。值得注意的是，该团队利用了台式X射线吸收精细结构谱仪（台式easyXAFS300+），成功的揭示了不同含量Ti4+替代对材料中Ti元素和Mn元素的价态影响，进一步验证了高价Ti离子替代策略背后的作用机理及对电化学性能的影响。图1. (a) 不同Ti含量样品的Ti k edge XANES对比谱图（b）XANES放大图谱（c）不同Ti含量样品的Mn k edge XANES对比谱图（d）XANES放大图谱测试数据1、XAFS300/XAFS300+(a, b)金属Ni箔的EXAFS(扩展边X射线吸收精细结构谱) 图及相应的R空间傅里叶转换以及与同步辐射光源数据比较；(c, d) 不同Ce和U元素的化合物的L3的XANES（近边X射线吸收结构谱图）及其与同步辐射光源数据比较2、XES150■ XES Mode ■ XAFS Mode XAFS for 3d-transition metalseasyXAFS硬x射线能谱仪具有宽的能量范围，可以测量从Ti到Zn的所有三维过渡金属的高质量XANES和EXAFS。这些元素在从电池到催化、环境修复等现代研究的关键领域至关重要。Fe\Mn\Ni\Co\Cu XANES & XES Kβ data用easyXAFS300+测量了Fe\Mn\Ni\Co\Cu XANES 谱图及 Fe XES Kβ数据，分别提供元素价态及自旋态的数据支撑。Adv. Func. Mater. 2022, 2202372。Cu EXAFSeasyXAFS光谱仪探测了Cu K-edge X射线近边吸收谱（XANES）。实现材料元素价态及配位结构的解析对MOFs材料的性能及机理研究尤为重要。Ni EXAFSeasyXAFS硬x射线光谱仪拥有与同步加速器匹配的高能量分辨率。实现对Ni近边区XANES和扩展边区EXAFS的高质量数据采集。J. Mater. Chem. A, 2021, 9, 14432–14443Fe EXAFS高性能Fe K-edge 扩展边到k = 14 ?，样品为Fe金属箔。EXAFS提供了对局部结构和配位环境的数据测量。NMC Ni K-edge高性能NMC 442和NMC 811电池电的Ni K-edge XANES谱图。Ni K-edge位置的变化反映了不同NMC组成导致Ni氧化态的变化。J. Electrochem. Soc., 2021, 168, 050532Co K-edge Rapid XANESeasyXAFS硬x射线光谱仪能够与同步加速器匹配的能量分辨率高质量的数据收集。优异的性能可以在几分钟内实现。这使得在短时间内收集大数据集以及实时跟踪反应过程成为可能。Pr L3-edge XANESPr2O3和Pr6O11的L3边XANES数据表明对Pr氧化状态变化的敏感性。用easyXAFS300光谱仪测量。V XANES利用台式X射线吸收精细结构谱仪获得了V k边的边前及近边结构谱图，揭示了引入Al3+后，VOH的结构变化及充放电过程中的有利作用。Nano Energy, 2020, 70, 104519Cr Kα XES用easyXAFS光谱仪测量了不同氧化态的Cr Kα X射线，兼具高能量分辨率及X射线荧光的高灵敏度。Anal. Chem. 2018, 90, 11, 6587–6593V EXAFSV K-edge EXAFS显示了easyXAFS谱仪与同步辐射光源相匹配的高k值下的优异表现。Fe Oxide XANES data用easyx150光谱仪测量Fe和Fe(III) [Fe2O3]的Fe K-edge，利用XANES对氧化态差异进行表征。Ti\Mn XANES dataeasyXAFS谱仪获取Ti元素和Mn元素的价态变化，进一步验证了高价Ti离子和部分F离子替代后策略背后的作用机理。Chem. Mater. 2021, 33, 21, 8235–824Mn&Fe EXAFSeasyXAFS谱仪获取Ti元素和Mn元素的XANES和EXAFS谱图，解析化学价态及局部配位结构。Adv. Func. Mater. 2022, 2202372Fe oxide XES(low weight %)Fe Kβ 光谱测量浓度低至0.25 wt. %，测量时间仅为4分钟。X射线发射谱XES非常适合于低元素浓度。XES-Se VTC 在easyXES150光谱仪上对金属Se和Na2SeO4的价带→核心的XES测量。12639 eV处出现的附加峰反映了Na2SeO4中硒价电子的价电子结构的变化，这可能是由于与氧的轨道混合所致。XES- Ni VTC用easyXAFS光谱仪测量了不同化合物的Ni Kβ XES，在高能量分辨率下，显示了对X射线荧光的灵敏度。Adv. Mater. 2021, 2101259发表文章超过50+SCI论文通过使用台式XAFS/XES发表

XAFS2300型X射线吸收精细结构谱仪 X射线吸收精细结构谱仪是同步辐射试验的补充和延伸，是不依赖于同步辐射实验室级别XAFS与XES测量装置。浩元公司推出实验室用XAFS2300型X射线吸收精细结构谱仪， 集成高通量连续谱X射线源、 高反射效率弯晶单色器、高分辨率SDD探测器三大核心组件，以及高分辨罗兰圆转角控制技术，在常规实验室环境中实现X射线吸收精细结构精确测量(XAFS)，完成对元素的配位数、键长、化学价态和配位构型等分析。此外，该设备还能够进行X射线发射谱测试(XES)，其本质上是超高能量分辨率的X射线荧光光谱，实现元素自旋态与类似中子临近配位元素物种精确测定。 XAFS模式与同步辐射的数据质量对比 Cu foil晶体结构 性能、技术参数： X射线功率达到3KW,光通量大于2×106 photons/sec. (7-20keV), 具备透射模式与荧光模式X射线吸收精细结构谱（XAFS）及X射线发射谱(XES)测量功能。 能量范围：4.5-25keV，能量分辨率0.5-3eV；重复性： 50meV 能量尺度漂移，单色仪无需重复校准；采用高分辨罗兰环结构与球形弯曲X射线单色器；高分辨率SDD检测器。能够完成1%含量实际样品测量。 XAFS荧光模式实现1%低含量单原子催化剂体系测试 1% Cu CuN4-C单原子催化剂 XAFS在碳中和高效CO2转化能源催化材料结构精准物质结构分析应用 电解水制氢OER 氢燃料电池ORR电催化原位结构与价态动态演变探测 具有Fe-S Fe-O混合配位FeN2S2@介孔C及其反应中间态精准结构探测解析可视化与不同配位层路径贡献 1% Fe FeN4-C单原子催化剂一整套包括 E R空间解析 R k空间拟合以及相应三维小波变换 3D WT-XAFS (d-g) Fe K edge wavelet transform of Fe foil,Fe2O3, Fe Pc, and Fe SAC (FeN4) COF前驱体策略构筑同核双单原子Fe2N6合成过程加热原位结构演变精准探测解析与可视化 COF前驱体策略构筑同核双单原子Fe2N6合成过程加热原位价态与结构演变精准探测解析与可视化 COF前驱体策略构筑同核双单原子Fe2N6合成过程加热原位价态与结构演变精准探测解析与可视化 完整一整套同核双单原子Fe2N6结构解析与拟合 高分辨XANES对特定混合配位构型确定 应用领域： 在材料科学和工程领域 XAFS方法已成为研究材料的局域原子和电子结构的一种重要表征手段。广泛应用于纳米材料、半导体材料、化学催化材料、生物材料、矿种分析、军工材料等研究，是凝聚态物理等的前沿尖端研究领域未来都是必不可少。 催化：多相催化、单原子催化等：催化剂原子和载体的关系；能源：电池材料、燃料电池催化剂、光合作用、碳捕获、制氢； 材料：掺杂、离子迁移、价态、结构晶型； 环境：有毒元素价态及其在自然界的循环；放射性核素的化学态； 生物：金属蛋白、金属元素的植物吸收/循环。

设备参数：图像分辨率（Pixel Size）：350nm空间分辨率：4μm20-100kV 新式X射线源，免维护样品尺寸：直径达75mm，长达70mm1600万像素高分辨率CCD探测器，配备光纤面板，以确保长使用寿命和重建质量和精度全球最快的重构软件InstaRecon，重构1K*1K切片仅需0.02S.重构容积14456*14456*2610像素：10h (1PC) VS 19h (8GPU Cluster)系统自带软件包括2D/3D图像定量分析软件和支持面渲染和体渲染的3D可视化软件，以及手机APP可选16位自动进样器 隔热陶瓷孔隙结构特征分析 了解更多应用方向，请致电束蕴仪器（上海）有限公司

概要 最新一代的X射线荧光分析显微镜XGT-7000开创了科学分析的新时代。它将光学图像与元素分析完美地结合，为科研工作者的研究和分析提供了新的分析手段。 SDD检测器保证了高速、高精度元素面扫描；高能量分辨率，高计数率的测量，且无需液氮。 双真空式设计确保用户可以在几秒钟内完成样品室内部氛围的切换（大气或真空）。即使测量含水样品、生物样品时也可以保证测量所有元素的高灵敏度。 独特的硬件设计确保了XGT-7000操作的灵活性和广泛的应用范围。通过软件控制x射线导管在10 μm和1.2 mm间切换，以保证获得最佳测量条件，无论是微观到宏观。 与x射线导管同轴的CCD相机，可以迅速、精确地定位感兴趣区域。单点及多点自动分析 单点和自动多点分析功能使得无论是从单个分析位置或是用户定义的一系列位置上均可以获得高质量的谱图。可自动标注元素谱峰。使用基本参数法或单标样基本参数法或是标准样品校正曲线法定量计算，最低可测量ppm级的含量。膜厚分析软件可以分析nm级或μm级样品的多层膜厚。高光谱面扫描 SmartMap软件在每个像素点采集元素谱图。采集结束后，用户可以根据自己的分析，添加或删除某个元素面分布图，实现已有数据实现脱机分析。 X射线透射图像有利于用户观察样品内部构造，实现真正的无损内部观测。 特征 有着诸多创新的XGT-7200在众多领域有着广泛的应用：电子电器、发动机磨损分析、法医科学、地质矿物、医药、博物馆、冶金、生物等。XGT-7200的灵活设计，保证用户通过简易的操作即可获得高质量的分析结果，无论是分析大区域，还是对微区细节分析，或是同时采集X射线荧光图像和X射线透过像。 *最高的空间分辨率 HORIBA独特的X射线光管技术提供高空间分辨率微区XRF分析，X射线光斑直径小到10微米。这种最高强度的超细光斑，可进行快速无损的微细结构分析。*X射线透过像 同时采集XRF图像和X射线透过像的功能，可以用来分析无法用肉眼观察到的样品内部构造和元素组成。采用超细垂直的X射线束，即使观察不平坦样品也可以获得清晰的内部图像。*双真空模式 独一无二的双真空模式设计- 彼此间的切换在数秒内即可完成。 全真空模式，整个样品室处于真空氛围以保证轻元素分析的高灵敏度。 局部真空模式，样品处于大气氛围中，适宜于含水样品的分析，如生物组织、文物碎片和馆藏文物等。*完整地分析整个样品*整合数据采集和分析的操作软件 界面友好的操作软件允许用户方便的控制硬件、选择测量区域和全数据分析。功能包括：自动标定谱峰、定性定量测量、RGB图像合成，线分析等。大尺寸的样品室使得分析整个样品成为可能，用10微米束斑可以分析微小区域甚至到测量大至10cm x 10cm的区域。技术参数测量元素： Na~UX射线管： 铑（Rh）靶 /管电压 50 kV / 管电流 1 mAX射线荧光检测器： SDD硅漂移检测器透过X射线检测器： NaI（Ti）晶体X射线导管： 单毛细管 10μm / 100μm 无滤光片光学图像： 样品整体光学像及共轴放大图像样品台尺寸： XY：100mm×100mm样品仓： 全真空模式/ 最大真空 300mm×300mm×80mm信号处理： 数值脉冲处理器（INCA处理器 ）定性分析： 自动定义谱峰/ KLM线标注/ 谱峰查找/ 谱峰匹配定量分析： 无标样基本参数法/ 标准无标样基本参数法/ 标准文件匹配基本参数法/ 校正曲线/ 多层膜基本参数法/ 多点分析（最多5000）/ 多点结果输出至Excel® 面扫描功能： 透过X射线像/ 元素面分布图/ 谱图面扫描 /矩形面扫描/ 生成谱图/ RGB合成/ 标尺/ 线分析其它功能： 可同时开启XGT-5200操作软件

高精度X射线荧光元素分析仪粮食重金属PRODUCT INFORMATION产品介绍◆ 为实现粮食中微量重金属有害元素的快速检测，XR700对设备进行了特殊的结构优化，结合先进的探测器和激发源等硬件配置将镉元素提升到先进的分析水平。◆ 不同于传统国产设备，佳谱科技采用低功率X射线管，使用独特的滤光技术，获得更加出色的检测精度，大米中镉检测下限可到0.02mg/kg。同时低功率的使用环境，带来产品的低故障率，降低产品维修成本与周期。◆ 产品重量轻，体积小，可以携带到现场快速检测，节省时间，提高效率。◆ 目前本产品可用于稻米、谷物、小麦等作物中的镉（Cd）、铅（Pb）、汞（Hg）、砷（As）、硒(Se）的快速无损检测，其检出限最低可达0.02mg/kg。◆ 2-3分钟快速筛查，5分钟对样品准确测量。◆ 辐射安全：射线防护优于国标《X射线衍射仪和荧光分析仪卫生防护标准GBZ115-2002》,符合国家辐射豁免要求。 无论在实验室还是户外场合，XR700粮食重金属分析仪都可以进行快速、方便。产品特点◆ 设备PDA与仪器主机一体嵌入式不可拆卸设计，使用可靠；◆ 采用独立风道散热方式，避免长时间的工作，导致元件温度升高进而导致数据偏差；◆ 独特的侧面进样，防止样品的泄漏，避免了频繁的更换窗口防护膜。◆ 独特的样品杯设计，将进样与采样简单化，进样量少，简化现场制样流程。◆ 独特的光路设计及软件算法，大幅提高检测精度、减少测试误差，使便携式仪器具有高端台式机的分析性能，分析性能远超常规台式机。◆ 采用嵌入式系统，高分辨率液晶显示触摸屏，结合数字多道技术，有效提升数据传输和运算能力。◆ 数据导出专业、全面、可进行Excel编辑。◆ 强大的数据存储能力，能够连续存储至少10000次检测记录。◆ 支持蓝牙打印功能。◆ 支持4G、5G远程数据传输。技术参数工作条件电源 110V至240 V，50/60 赫兹；12VDC-8A；电源交直流两用温度 -5C至50℃技术性能指标曲线 大米、小麦、玉米等粮食曲线功率 50kV，1mA探测器 Fast SDD硅漂移探测器重量 9.5KG冷却系统 带风扇冷却功能进样方式 采用样品侧面进样方式，降低探测器铍窗损坏和被污染风险晶体 DCC晶体实现激发X射线单色化处理器 　1.2GB四核处理器 64位、1GB RAM语言 中/英文语言切换分析模式 配备不同分析模式（30秒-900秒），以满足不同的分析应用需求分析元素 Cd、Pb、As等有害重金属元素传输方式 支持网口、USB等数据传输方式粮食 典型元素检出限：镉0.02mg/kg

高精度X射线荧光元素分析仪粮食重金属PRODUCT INFORMATION产品介绍◆ 为实现粮食中微量重金属有害元素的快速检测，XR101对设备进行了特殊的结构优化，结合先进的探测器和激发源等硬件配置将镉元素提升到先进的分析水平。◆ 不同于传统国产设备，佳谱科技采用低功率X射线管，使用独特的滤光技术，获得更加出色的检测精度，大米中镉检测下限可到0.03mg/kg。同时低功率的使用环境，带来产品的低故障率，降低产品维修成本与周期。◆ 产品重量轻，体积小，可以携带到现场快速检测，节省时间，提高效率。◆ 目前本产品可用于稻米、谷物等作物中的镉（Cd）、铅（Pb）、汞（Hg）、砷（As）、硒(Se）的快速无损检测，其检出限最低可达0.03mg/kg。◆ 2-3分钟快速筛查，5分钟对样品准确测量。◆ 辐射安全：射线防护优于国标《X射线衍射仪和荧光分析仪卫生防护标准GBZ115-2002》,符合国家辐射豁免要求。 无论在实验室还是户外场合，XR101粮食重金属分析仪都可以进行快速、方便。产品特点◆ 设备PDA与仪器主机一体嵌入式不可拆卸设计，使用可靠；◆ 采用独立风道散热方式，避免长时间的工作，导致元件温度升高进而导致数据偏差；◆ 独特的侧面进样，防止样品的泄漏，避免了频繁的更换窗口防护膜。◆ 独特的样品杯设计，将进样与采样简单化，进样量少，简化现场制样流程。◆ 独特的光路设计及软件算法，大幅提高检测精度、减少测试误差，使便携式仪器具有高端台式机的分析性能，分析性能远超常规台式机。◆ 采用嵌入式系统，高分辨率液晶显示触摸屏，结合数字多道技术，有效提升数据传输和运算能力。◆ 数据导出专业、全面、可进行Excel编辑。◆ 强大的数据存储能力，能够连续存储至少10000次检测记录。◆ 支持蓝牙打印功能。◆ 支持4G、5G远程数据传输。技术参数工作条件电源 110V至240 V，50/60 赫兹；12VDC-8A；电源交直流两用温度 -5C至50℃技术性能指标曲线 大米、小麦、玉米等粮食曲线功率 50kV，1mA探测器 Fast SDD硅漂移探测器重量 11KG冷却系统 带风扇冷却功能进样方式 采用样品侧面进样方式，降低探测器铍窗损坏和被污染风险处理器 1.2GB四核处理器 64位、1GB RAM语言 中/英文语言切换分析模式 配备不同分析模式（30秒-900秒），以满足不同的分析应用需求分析元素 Cd、Pb、As等有害重金属元素传输方式 支持网口、USB等数据传输方式粮食 典型元素检出限：镉0.03mg/kg

产品概述：MWL120实时反射劳厄相机系统用来测定单晶的取向（反射和透射）、单晶的完整性、测量晶体的对称性、观察晶体的一般缺陷、拍摄板材棒材的结构相、精确测定点阵常数、测定残余应力等。 原理：由X射线管产生的X射线从相机的入射光阑射入，照射在被分析样品上，在满足布拉格公式：nλ=2dSinθ条件下，产生X射线衍射图像，这些图像记录在感光片上，然后对这些图像进行计算分析，可以了解物质内部结构。 本产品所具有的特点1 有效检测范围大：30cm×30cm2 灵敏度高：单光3 角灵敏度高：0.054 探测速度快：几秒钟即可根据角的偏差自动收集分析并在电脑上形成劳厄图像5 维护成本低：半年更换一次气体，一年更换一次冷却剂即可（价格较低廉）6 样品可旋转：探测器转过程中同时转动样品，可以得到对称性高的图像

CT Lab HX材料与生命科学的计算机断层扫描放有智能手机的大样品台与平板探测器放有鲨鱼牙的小样品台与X射线源3DX射线计算机断层扫描测量类似2DX射线影像测量，不仅能够让我们观察一个物体的内部结构，还能够让我们观察广泛的材料和生命科学样品分析的重要图像特征。在一个2DX射线影像中，一个样品的3D体积的所有特征在与入射x射线垂直的2D平面上被投射，显示并分析。由此产生的2D图像是复杂的，其显示和分析受到某些特征的阴影影响，这些特征会隐藏在其它的光束方向产生的特征后面。相比2DX射线影像，计算机断层扫描的优势是样品的三维体积能够在三维空间中进行全面的成像，显示和分析。这是通过样品相对入射光线做360度旋转并在不同角度收集到的一套2DX射线影像实现的。这套2D影像或投射可以通过重建得到一个3D体积谊染而不仅仅是2D影像投影。所需的投影数取决于样晶大小及分析员想观察的样品特征的尺寸。对2D影像来说，通过发散的X射线并组合不同的光源至样晶和样晶至探测器距离，CT系统可以放大可视特征并改变成像视场。这对于材料和生命科学领域的复杂样晶的优质测量极为重要。CT Lab HX是一款紧凑型，多功能的计算机断层高分辨率扫描系统，适用于多种类型样品和所需的测量条件。CT Lab HX提供一个高能量，可变焦，激发能高达130KV的X射线光源。不同的过滤器可以实现适用于有机材料，无机材料和金属的能量设置。体素小，视场大，样品容量大，使其成为材料，生命科学，产品研发，故障分析以及生产质量管控等领域的理想之选。高速平板探测器进行快速3D数据收集并为动态研究提供毫秒级实时2D成像。CT Lab HX结合具有机器学习能力的ORS Dragonfly 3D成像和分析软件，实现材料和生命科学领域的先进分析。应用案例金属金属等高密度材料需高能量扫描。上图为压铸铝部件低分辨率全扫描3D渲染图，显示的是部件宏观结构和尺寸信息，其适用于质量控制和故障分析领域。而高分辨率扫描能够观察铝金属内部是否含有空隙和裂缝。地质学研究人员可通过高分辨率CT扫描观察岩石内部，探索其矿物特征和形态特征。上图显示的是来自日本广濑河岩石的三维渲染。将部分岩石截取后，可以看到其内部含有杂质，特写图像可显示小到2微米的杂质。电子器件灵活的视场能够扫描整个电路板及单个零件。如上图所示，CT Lab HX既能观察整个手机也能观察到单个零部件(聚兆镜)。全扫描显示设备整体布局，小视场则以更高分辨率显示单个聚光镜线圈厚度和间距。生命科学低能量扫描为生命科学领域有机材料基础研究提供高对比度。扫描能量，视场以及分辨率的灵活性，能够使用户实现植物，昆虫和动物组织扫描图像优化。上图为竹牙签横截面3D渲染图，可观察与制造相关的颗粒结构和表面粗糙度等外部特征以及竹子的内部结构。内部结构的特写则展示竹子的微观构成：筛管，水导管和维管束。

仪器简介：芬兰品质X射线应力分析仪是检测齿轮、轴承、轧辊、曲轴、凸轮轴、压力容器管道以及其它一些零部件在热处理、机加工、焊接、喷丸、滚压等处理过程中残余应力的可靠工具。有害的残余应力会大大降低工件的抗疲劳强度和耐蚀性能等，从而缩短工件的寿命，甚至会造成重大事故。而有些零件引入有益的残余应力，如滚压、喷丸等可提高工件的表面性能。因此，残余应力的精确测量变得非常必要。 芬兰品质X射线应力分析仪轻便精巧的设计，扩展了设备的使用领域，使得设备能够走出实验室，在现场甚至户外的使用变得有效可行。 软件 ◆ 操作系统： Windows ◆ X射线的发生和控制 ◆ 实时监控高压系统 ◆ 多种X射线曝光模式 ◆ 可同时进行测量、计算和其它功能操作 ◆ 互相关法计算峰位移 ◆ 丰富的材料数据库 测角仪 ◆ 倾斜和旋转 ◆ 改进的y几何（侧倾法） ◆ 对称安装的双探测器 ◆ 连续可调的2q角范围：117-170度 ◆ 多种准直器可更换◆ 全自动校准，自动调整测距，行程误差小于0.003mm 主机◆ 结构紧凑，小巧轻便 ◆ 全电脑控制 ◆ 各种安全锁 ◆ 密闭循环冷却系统，带强冷装置 ◆ 各种接口 探测器◆ 固态位敏正比计数器（MOS线性成像探测器） ◆ 灵敏度高，信噪比好 ◆ 角精度0.029°/像素, 512像素 ◆ 简洁紧凑，无需高压，功耗1mW 电 源100-240 VAC，50/60Hz X射线管 微型X射线管，5~30KV/0~10mA/300W可调，Cr、Cu、Co、Ti、Mn等各种靶材可供选择。无需专用工具，X射线管能在几分钟内更换完毕。 安全性能 ◆ 若窗口堵塞、打开或移动，管壳松动或被移动，冷却液温度过高或其它流动不畅通时，能自动关闭X射线。

Vanta手持式X射线荧光分析仪　　大幅提高现场和实验室的检测效率　　使用Vanta手持式X射线荧光分析仪可在任何地点立即识别材料及其化学成份。Vanta系列利用智能云连接技术提供快速、准确的元素分析和材料辨别。我们的下一代Vanta手持式XRF分析仪(Vanta Max和Vanta Core)将Vanta系列的精度、速度和耐用性与改进的人体工程学设计、精简的界面和增强的连接性相结合，提高了工作效率。使用舒适且坚固耐用，可进行全天测试Vanta分析仪采用增强型人体工程学设计，是一种可在现场和实验室长时使用的高效工具。这些分析仪坚固耐用、易于操作，能够在恶劣环境中正常运行更长的时间。　　❯ 平衡式手柄可减轻手部疲劳　　❯ 握持安全舒适，适合全天时检测　　❯ 通过了4英尺坠落测试(MIL-STD-810G)　　❯ 符合IP54评级标准，防水防尘　　❯ 标准的3年质保，可保护您的投资　　高效的工作流程　　Vanta分析仪现在更加易于使用。使用现代、直观的界面和基于浏览器的软件选项，提高了工作效率。　　❯ 可通过可选配无线连接实现无缝数据集成，在PC机、平板电脑或智能手机上查看、共享和管理XRF结果　　❯ 通过自动软件更新，可即时享受新添功能　　❯ 可添加自定义分析功能的选项，提高了应用支持的水平　　❯ 可访问Evident Connect(Evident连接)云，无缝获取数据并使用多设备管理功能　　Vanta分析仪的现代化界面易于使用和操控。　　值得信赖的XRF技术　　Vanta分析仪被全球数以千计的客户用于各种各样的应用中。以久经考验的性能为基础而打造的Vanta Max和Vanta Core分析仪，可进行精确度和准确度都很高的便携式XRF分析。　　❯ Vanta系列分析仪所Axon技术，使用超低噪声电子元件，可实现更高的X射线计数率，从而可以快速获得精确、可重复的结果。　　❯ Axon技术可使不同Vanta分析仪的各次检测都具有非同一般的高重复性能，因此无论您使用的是哪台分析仪，其开始检测与末次检测的准确性都别无二致。　　X射线荧光的工作原理　　X射线荧光(XRF)是一种利用X射线测量样件元素组成的无损检测技术。X射线荧光通过四个步骤发挥作用：　　1. 发射：分析仪发射X射线。　　2. 激发：X射线照射样件，后者发出荧光，将X射线反射回分析仪。　　3. 测量：探测器对返回的X射线进行计数。探测器测量每条X射线的能量，从而形成频谱。频谱可以告诉我们存在哪些元素以及每种元素的含量。　　4. 结果：能谱通过软件进行处理，并显示为样件的元素组成。在检测金属时，我们将得到的元素组成与某个特定的合金牌号相匹配。　　Vanta手持式X射线荧光分析仪的应用领域　　Vanta分析仪可为从合金辨别到考古遗址评估等各种各样的应用迅速提供分析结果。我们的Vanta分析仪可针对特定应用为用户提供一系列软件功能，从而可使操作员充分利用分析仪的性能。此外，其报告创建过程也得到简化，而且其分析结果还具有可追溯性。　　金属废料和汽车催化剂回收　　用于废料分拣的Vanta分析仪带有一个SmartSort功能，可以基于被测材料简单直观地延长或缩短检测时间，从而既节省了时间，又尽可能为用户提供了优质匹配结果。软件会将获得的结果与合金成分库中的数据进行自动比较，以将未知材料和已知合金进行快速匹配。用户使用牌号匹配信息功能，可为每个牌号编制信息，这些信息会在适当的情况下作为警告或指示出现在屏幕上。这些消息使操作员只需稍加培训即可轻松使用分析仪。在汽车催化剂回收方面，Vanta分析仪可快速分析贵金属含量，以进行准确的价格评估。　　环境评估　　Vanta分析仪可以方便地对土壤和其他材料进行筛查，以探测出污染金属。分析结果可以与GPS数据配对进行结果勘察，然后以无线方式被传输到地理信息系统(GIS)，以绘制出污染性金属的位置图。这款分析仪可在场地定性、环境评估、房产评估及污染物跟踪方面快速得到具有决策性的结果。　　材料可靠性鉴定(PMI)与制造工业质量控制/质量保证　　Vanta分析仪可以根据美国石油学会推荐规程578(API-RP-578)验证是否在关键位置上安装了正确的合金，从而有助于确保精炼厂、石化工厂以及其他处理厂的安全。贵重或关键部件及机械的制造商和安装人员在了解了这些部件和机械装置使用了正确牌号的合金的情况下，就会放下心来，不用担心安全问题，尽管可能不知道材料的来源。Vanta分析仪可以测量任何样件基质上的镀 层、电涂层和其他涂层的厚度。Vanta系列分析 仪的可选全景摄像头、条形码读取器、可由用户定义的输入字段、连通性能以及丰富的数据报告功能，都可使检测人员充满信心，并提高分析仪追溯数据到野外现场的性能。　　珠宝分析和贵金属辨别　　Vanta分析仪可对包含金(Au)、银(Ag)、铂(Pt)和钯(Pd)在内的各种首饰和贵金属进行现场鉴定。该分析仪可对黄金合金(0-24K)的纯度进行准确分类，并可探测到镀金。　　科研与教育　　Vanta分析仪可提供定量元素信息，以指导研究实验，并辨别未知或复杂的材料。快速的结果使研究人员能够在适用的基于科学的项目中获得相关数据。　　地球化学、勘探和采矿　　Vanta分析仪是矿产勘探和采矿公司、地质顾问以及以地质为重点的学术、政府和研究机构的工具。它在任何环境下都能提供具有再现性的精确结果，以可靠性和坚固耐用作为设计的核心思想，以尽量缩短停工期。我们以地质中心型全球支持和培训为后盾，在协助客户开发适用的工作流程方面积累了丰富的经验，可以尽量发挥Vanta分析仪的效用。Vanta分析仪配有机载摄像头、准直器、GPS* 、探测器快门闸保护以及一系列以地质为重点的配件，将继续成为地球化学应用领域的优质选择。　　合规和安全筛查　　Vanta系列可筛查消费产品(如玩具、服装和鞋类)和电子设备中的铅(Pb)、镉(Cd)、砷(As)、汞(Hg)和铬(Cr)等有毒金属和危险物质，以遵守电气电子设备有害物质限制规定。安装了可选摄像头的Vanta分析仪可以自动归档样品图像和结果，从而成为一款完成合理测试方案的理想工具。出色的灵敏度使其能够达到较低的管制元素检出限，直观的界面可提供简单的通过/失败测定。　　*仅限Vanta Max型号。　　适合于各种预算的便携式X射线荧光分析仪型号　　无论型号如何，每台Vanta手持式X射线荧光分析仪都经过精心设计，具有耐用性和分析性能。Evident生产的Vanta分析仪可以满足各种应用和预算需求。　　Vanta Max　　Vanta Max型号具有该系列强大的分析能力，适用于包括矿产勘探、学术研究、土壤测试和环境分析在内的各种强大应用。　　Vanta Core　　Vanta Core型号兼具高速度、低检出限(LOD)和宽元素范围等特性，是快速完成合金辨别的标准选择。　　我们的承诺　　Evident是XRF技术领域中的企业，在检测质量和分析结果的准确性方面久负盛名。我们致力于通过我们的全球销售网和消费者服务团队，在产品、应用、培训和技术方面，为我们的用户提供上乘的技术支持和售后服务。　　用途广泛的X射线荧光分析仪配件　　Vanta Max和Core型号可与可选配的X射线荧光分析仪附件配套使用，包括重新设计的土壤支架、野外台座和机套，以提高野外工作的效率。　　土壤支架　　Vanta土壤支架为Vanta分析仪提供了稳固的三点支撑。使用这个配件，您无需手持分析仪，就可以完成检测。在需要进行长时检测时，这个配件有助于轻松方便地完成检测。　　野外台座　　在检测较小的物件时，如放在杯中或袋中的样品，Vanta野外台座为分析仪提供了一个轻便、移动式检测台和一个屏蔽式样品舱。在需要离开办公室到较远的地方完成检测任务时，野外台座携带简单，使用方便。　　机套　　将Vanta分析仪放在Vanta机套中，不仅可使分析仪得到安全妥善的保护，而且还可方便地携带分析仪。　　工作站　　便携式Vanta工作站由电池供电，可以随时随地进行检测。 工作站有一个连锁的盖子，并提供360度屏蔽功能，可方便地对袋装样品、预先制备的样品、液体样品或包含珠宝和电路板在内的细小物件进行检测。在这种封闭式光束设置中，用户使用Vanta基于浏览器的软件操作分析仪。　　Vanta的规格

Vanta手持式X射线荧光分析仪　　大幅提高现场和实验室的检测效率　　使用Vanta手持式X射线荧光分析仪可在任何地点立即识别材料及其化学成份。Vanta系列利用智能云连接技术提供快速、准确的元素分析和材料辨别。我们的下一代Vanta手持式XRF分析仪(Vanta Max和Vanta Core)将Vanta系列的精度、速度和耐用性与改进的人体工程学设计、精简的界面和增强的连接性相结合，提高了工作效率。使用舒适且坚固耐用，可进行全天测试Vanta分析仪采用增强型人体工程学设计，是一种可在现场和实验室长时使用的高效工具。这些分析仪坚固耐用、易于操作，能够在恶劣环境中正常运行更长的时间。　　❯ 平衡式手柄可减轻手部疲劳　　❯ 握持安全舒适，适合全天时检测　　❯ 通过了4英尺坠落测试(MIL-STD-810G)　　❯ 符合IP54评级标准，防水防尘　　❯ 标准的3年质保，可保护您的投资　　高效的工作流程　　Vanta分析仪现在更加易于使用。使用现代、直观的界面和基于浏览器的软件选项，提高了工作效率。　　❯ 可通过可选配无线连接实现无缝数据集成，在PC机、平板电脑或智能手机上查看、共享和管理XRF结果　　❯ 通过自动软件更新，可即时享受新添功能　　❯ 可添加自定义分析功能的选项，提高了应用支持的水平　　❯ 可访问Evident Connect(Evident连接)云，无缝获取数据并使用多设备管理功能　　Vanta分析仪的现代化界面易于使用和操控。　　值得信赖的XRF技术　　Vanta分析仪被全球数以千计的客户用于各种各样的应用中。以久经考验的性能为基础而打造的Vanta Max和Vanta Core分析仪，可进行精确度和准确度都很高的便携式XRF分析。　　❯ Vanta系列分析仪所Axon技术，使用超低噪声电子元件，可实现更高的X射线计数率，从而可以快速获得精确、可重复的结果。　　❯ Axon技术可使不同Vanta分析仪的各次检测都具有非同一般的高重复性能，因此无论您使用的是哪台分析仪，其开始检测与末次检测的准确性都别无二致。　　X射线荧光的工作原理　　X射线荧光(XRF)是一种利用X射线测量样件元素组成的无损检测技术。X射线荧光通过四个步骤发挥作用：　　1. 发射：分析仪发射X射线。　　2. 激发：X射线照射样件，后者发出荧光，将X射线反射回分析仪。　　3. 测量：探测器对返回的X射线进行计数。探测器测量每条X射线的能量，从而形成频谱。频谱可以告诉我们存在哪些元素以及每种元素的含量。　　4. 结果：能谱通过软件进行处理，并显示为样件的元素组成。在检测金属时，我们将得到的元素组成与某个特定的合金牌号相匹配。　　Vanta手持式X射线荧光分析仪的应用领域　　Vanta分析仪可为从合金辨别到考古遗址评估等各种各样的应用迅速提供分析结果。我们的Vanta分析仪可针对特定应用为用户提供一系列软件功能，从而可使操作员充分利用分析仪的性能。此外，其报告创建过程也得到简化，而且其分析结果还具有可追溯性。　　金属废料和汽车催化剂回收　　用于废料分拣的Vanta分析仪带有一个SmartSort功能，可以基于被测材料简单直观地延长或缩短检测时间，从而既节省了时间，又尽可能为用户提供了优质匹配结果。软件会将获得的结果与合金成分库中的数据进行自动比较，以将未知材料和已知合金进行快速匹配。用户使用牌号匹配信息功能，可为每个牌号编制信息，这些信息会在适当的情况下作为警告或指示出现在屏幕上。这些消息使操作员只需稍加培训即可轻松使用分析仪。在汽车催化剂回收方面，Vanta分析仪可快速分析贵金属含量，以进行准确的价格评估。　　环境评估　　Vanta分析仪可以方便地对土壤和其他材料进行筛查，以探测出污染金属。分析结果可以与GPS数据配对进行结果勘察，然后以无线方式被传输到地理信息系统(GIS)，以绘制出污染性金属的位置图。这款分析仪可在场地定性、环境评估、房产评估及污染物跟踪方面快速得到具有决策性的结果。　　材料可靠性鉴定(PMI)与制造工业质量控制/质量保证　　Vanta分析仪可以根据美国石油学会推荐规程578(API-RP-578)验证是否在关键位置上安装了正确的合金，从而有助于确保精炼厂、石化工厂以及其他处理厂的安全。贵重或关键部件及机械的制造商和安装人员在了解了这些部件和机械装置使用了正确牌号的合金的情况下，就会放下心来，不用担心安全问题，尽管可能不知道材料的来源。Vanta分析仪可以测量任何样件基质上的镀 层、电涂层和其他涂层的厚度。Vanta系列分析 仪的可选全景摄像头、条形码读取器、可由用户定义的输入字段、连通性能以及丰富的数据报告功能，都可使检测人员充满信心，并提高分析仪追溯数据到野外现场的性能。　　珠宝分析和贵金属辨别　　Vanta分析仪可对包含金(Au)、银(Ag)、铂(Pt)和钯(Pd)在内的各种首饰和贵金属进行现场鉴定。该分析仪可对黄金合金(0-24K)的纯度进行准确分类，并可探测到镀金。　　科研与教育　　Vanta分析仪可提供定量元素信息，以指导研究实验，并辨别未知或复杂的材料。快速的结果使研究人员能够在适用的基于科学的项目中获得相关数据。　　地球化学、勘探和采矿　　Vanta分析仪是矿产勘探和采矿公司、地质顾问以及以地质为重点的学术、政府和研究机构的工具。它在任何环境下都能提供具有再现性的精确结果，以可靠性和坚固耐用作为设计的核心思想，以尽量缩短停工期。我们以地质中心型全球支持和培训为后盾，在协助客户开发适用的工作流程方面积累了丰富的经验，可以尽量发挥Vanta分析仪的效用。Vanta分析仪配有机载摄像头、准直器、GPS* 、探测器快门闸保护以及一系列以地质为重点的配件，将继续成为地球化学应用领域的优质选择。　　合规和安全筛查　　Vanta系列可筛查消费产品(如玩具、服装和鞋类)和电子设备中的铅(Pb)、镉(Cd)、砷(As)、汞(Hg)和铬(Cr)等有毒金属和危险物质，以遵守电气电子设备有害物质限制规定。安装了可选摄像头的Vanta分析仪可以自动归档样品图像和结果，从而成为一款完成合理测试方案的理想工具。出色的灵敏度使其能够达到较低的管制元素检出限，直观的界面可提供简单的通过/失败测定。　　*仅限Vanta Max型号。　　适合于各种预算的便携式X射线荧光分析仪型号　　无论型号如何，每台Vanta手持式X射线荧光分析仪都经过精心设计，具有耐用性和分析性能。Evident生产的Vanta分析仪可以满足各种应用和预算需求。　　Vanta Max　　Vanta Max型号具有该系列强大的分析能力，适用于包括矿产勘探、学术研究、土壤测试和环境分析在内的各种强大应用。　　Vanta Core　　Vanta Core型号兼具高速度、低检出限(LOD)和宽元素范围等特性，是快速完成合金辨别的标准选择。　　我们的承诺　　Evident是XRF技术领域中的企业，在检测质量和分析结果的准确性方面久负盛名。我们致力于通过我们的全球销售网和消费者服务团队，在产品、应用、培训和技术方面，为我们的用户提供上乘的技术支持和售后服务。　　用途广泛的X射线荧光分析仪配件　　Vanta Max和Core型号可与可选配的X射线荧光分析仪附件配套使用，包括重新设计的土壤支架、野外台座和机套，以提高野外工作的效率。　　土壤支架　　Vanta土壤支架为Vanta分析仪提供了稳固的三点支撑。使用这个配件，您无需手持分析仪，就可以完成检测。在需要进行长时检测时，这个配件有助于轻松方便地完成检测。　　野外台座　　在检测较小的物件时，如放在杯中或袋中的样品，Vanta野外台座为分析仪提供了一个轻便、移动式检测台和一个屏蔽式样品舱。在需要离开办公室到较远的地方完成检测任务时，野外台座携带简单，使用方便。　　机套　　将Vanta分析仪放在Vanta机套中，不仅可使分析仪得到安全妥善的保护，而且还可方便地携带分析仪。　　工作站　　便携式Vanta工作站由电池供电，可以随时随地进行检测。 工作站有一个连锁的盖子，并提供360度屏蔽功能，可方便地对袋装样品、预先制备的样品、液体样品或包含珠宝和电路板在内的细小物件进行检测。在这种封闭式光束设置中，用户使用Vanta基于浏览器的软件操作分析仪。　　Vanta的规格

传统原位载台仅能够提供样品表面在拉伸或压缩情况下结构的变化，而搭载在X射线显微分析系统的原位拉伸载台则能够提供样品内部结构及物理性能变化的过程，通过结合X射线显微分析系统和具备原位加热或冷冻耦合功能的拉伸压缩系统则能够提供样品在力场及温度场条件下独特的三维原位分析能力。该系列原位载台系统专为X射线显微分析系统开发，能够提供拉伸及压缩功能，同时覆盖几N到20kN载荷范围，同时可以提供100Nm的扭转功能。低载荷载台应用领域覆盖纸张/包装材料、纤维材料、泡沫高分子材料、生物材料，高载荷载台则可满足金属材料、人工关节、汽车及引擎叶片等各类坚硬材料分析。在石油化工领域则可以用来分析岩心样品，我们的用户还进行了液体环境下岩心样品分析。该系列载台依旧可以提供3点及4点弯曲夹具，以及压缩夹具选择。通过采用基于Windows操作系统的软件进行精准控制，载台与控制电脑通过USB或RS-232接口进行连接。同时也可以提供单独加热或冷冻载台，该类载台可以用来分析冷冻样品或进行原位变温实验。l 加载范围 20kN/0.1KNml 拉伸，压缩，扭力l 加热&冷却l 液体&气体氛围腔室应用领域：低载荷载台应用领域覆盖纸张/包装材料、纤维材料、泡沫高分子材料、生物材料，高载荷载台则可满足金属材料、人工关节、汽车及引擎叶片等各类坚硬材料分析。在石油化工领域则可以用来分析岩心样品，我们的用户还进行了液体环境下岩心样品分析。CT5000原位载台系统在地质材料中的应用作为UGCT联合创始人的Veerle Cnudde教授领导的地质材料多尺度孔隙结构分析课题（PProGRess），其研究组利用该技术对地质材料中多尺度孔隙结构变化过程的研究来进行岩石在地质运动及成藏反应中显微结构的变化及演进过程分析。UGCT实验室的X射线显微分析系统搭载了Deben CT5000原位拉伸/压缩载台，得益于该载台能够让Veerle Cnudde教授的实验方案得以实施。咨询Veerle Cnudde教授为什么选择Deben的CT5000原位载台，其回答到：“CT5000系列原位X射线载台系统作为为数不多的原位载台系统，其强大的适配性能够完美满足我们不同类型的实验需求，目前该载台能够实现在高载荷条件下岩石不会炸裂开，结合提供多种定制化夹具设计能力，则能够提供满足不同尺寸及不同拉伸距离所需的样品夹具，这是也目前为什么UGCT实验室两台X射线显微分析系统均配备CT5000系列原位载台系统的原因。”CT20kN开放式拉伸载台系统在奥本大学安装测试成功美国阿拉巴马州奥本大学安装了Deben开放式原位拉伸载台，该载台可以实现拉伸、压缩和扭转测试，能够施加高达20kN的力，专为同步加速器和X射线显微成像系统设计的，该大学将开放式原位拉伸载台与其Pinnacle型号PXS-500/90 CT系统集成在一起，并已经计划在新的开放框架系统上运行一系列原位载荷测试。CT5000原位载台系统在均质材料研究中的应用Fredrik Forsberg博士是瑞典吕勒奥理工大学工程科学与数学系的副高级讲师，他在X射线显微成像实验室的研究目标是开发新的方法和新的分析工具来帮助更好地了解异质材料以及它们在不同环境和不同空间尺度下的物理行为。Forsberg博士描述了他最近使用这种实验装置的一个项目：“我们非常自豪的分享最近的一项对微尺度雪晶体的3D定量原位成像研究，以及它们对压缩载荷测试的反应。这项研究相当具有挑战性，需要大量的仔细规划，但目前实验结果非常好。如果没有Deben公司CT5000TEC原位载台系统，这些测量将很难实现，因为它们需要精确、同时控制机械负载和温度（冷冻能力）。以前，我们主要使用自己构建的测试载台，但是这些都没有温度控制，同时使用Deben原位载台系统的另一个巨大好处是非常方便使用不同载荷传感器，这些载荷传感器可以根据材料强度和应用需求进行选择。此外，该软件界面易于使用，并得到蔡司Scout and Scan软件的支持，该软件用于控制型号为Versa的X射线显微镜。”

XRF9能量色散X射线荧光分析仪n XRF9能量色散X射线荧光分析仪器是基于X射线荧光分析法对样品进行定性和定量分析、检测构成元素类别和含量的仪器。n XRF9可以无损分析块状固体、粉末、液体样品，广泛应用于质检、电子、医药、食品、冶金、化工、地矿、考古等领域的研究开发和品质管理。（注）：X射线荧光（XRF）分析法是测定有初级X射线激发样品时所产生的二次特征X射线（X射线荧光），它是一种非破坏性分析方法，可以对试样进行多元素快速分析。 产品特点n 先进的多光束可调系统n 具有高分辨率的探测器n 采用XYZ三维样品台n 大型样品分析室n CCD摄像及自动定位系统n 自动调节双层六通道滤光系统n 完善的辐射安全防护n 强大功能的软件操作系统n 短时间多元素同时分析n 无损分析和先进的薄样分析技术相组合n 多种定量分析方法n 无需液氮和水循环冷却n 种类齐全的选配标准样品n RoHS/WEEE指令快速分析 仪器配置n 外形尺寸：750（L）×590(W)×715(H)mm3n 样品室尺寸：400（L）×100(W)×100(H)mm3n 主机质量：约45Kgn 工作环境温度：0~40oCn 工作环境相对湿度：≤80%n 元素分析范围：AI-Un 含量分析范围：1ppm~99.99%n 重复性：＜5%n 测量时间：一般60~300sn 测量对象：块状物体、粉末、液体n 激发功率：50Wn 探测器分辨率：149gevn 输入电源：AC110V/220Vn 高压电源：0~50kv/0~1mAn X射线辐射剂量：≤1μSv/h代表性元素120s最低检出限LOD(mg/kg) 性能指标塑料基体CrBrCdHgPb LOD82 4 4 5

岛津能量色散X射线荧光光谱仪EDX-LE Plus仪器简介：EDX-LE Plus是一款专用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 配备无需液氮型电子制冷（SDD检测器）检测器，因此在实现降低运作成本和更易维护的同时，以维持高可信性分析和进一步提高操作性达到自动化分析为目标。根据不同样品从开始测试到得到结果所需测试时间基本上可在1分钟内完成，所以完全可以应对RoHS法规中所限制的有害元素的筛选分析。另外，针对检测有害元素Cl和无卤素要求、以及Sb的检测分析，该款装置也可以通过筛选分析简单的检测出来。岛津能量色散X射线荧光光谱仪EDX-LE Plus：技术参数：1. 测定原理 X射线荧光分析法2. 测定方法 能量色散型3. 测定对象 固体、液体、粉状4. 测定范围 13Al -92U5. 样品室尺寸 较大W370mm×D320mm×H155mm6. 制冷方式 电子制冷7. 一次滤光片 5种+OPEN自动交换8. 软件 筛选分析、定性分析、定量分析EDX-LE Plus主要特点： ●利用“筛选分析”画面，操作简单方便●从主成分判定到条件选择全部实现自动处理●标准配备了RoHS/ELV分析所需要的必要功能●提升筛选效率，高精度?高速分析●拥有大容量样品室，可以直接测定大型样品●配备高能量分辨率电子制冷SDD检测器，将日常维护量控制到较小程度●配备保护功能，限制条件或数据的变更●配备筛选轻松设定功能，能够根据管理方法轻松自定义

X射线荧光分析法的原理特点X射线荧光的产生原理X射线管发出X射线照射样品，样品中所含的原子则向外发射原子特有的X射线。这种X射线被称为荧光X射线，各元素具有特定的波长（能量）。因此，通过检测X射线的波长就能够进行定性分析。另外，荧光X射线的强度与浓度具有函数关系，检测每个元素X射线特征波长的X射线量就能进行定量分析。图为用波尔模型说明电子轨道和荧光X射线产生的原理满足所有领域不同的应用■ 电子电气 RoHS指令、无卤素等筛选分析半导体、存储装置、液晶、太阳能电池等各种薄膜分析■ 汽车机械 应对ELV指令的筛选分析 各种机械零部件结构分析及镀层厚度、化学合成外膜附着量的检测■ 钢铁非金属 原材料、合金、焊锡、贵金属的主要成分、残余成分的分析 炉渣的组成分析■ 矿业 选矿工艺的成色鉴别分析■ 窑业 陶瓷、水泥、玻璃、砖、粘土的分析■ 石油石油化学 油中硫元素的分析 润滑油中各种添加元素及混入元素的分析■ 化学工业无机有机原料和产品分析催化剂、颜料、涂料、橡胶、塑胶的分析■ 环境 土壤、排水、焚烧灰、过滤、PM2.5等成分分析■ 医药 合成时的残留催化剂分析 原药中不纯物分析、异物分析■ 农业食品 土壤、肥料、植物的分析 食品的原料分析、添加元素管理、混入异物的分析■ 其它 考古学样品及宝石成分分析玩具日用品中有害重金属元素测定等

FRINGE CLASS桌面式X射线衍射仪在X射线光束通过索拉狭缝、发散狭缝照射在样品上，样品台位于测角仪中心，基于反射几何θs-θd，X射线光束在满足布拉格定律时，在特定的方向上发生衍射现象，经过防散射狭缝、索拉狭缝、接收狭缝到达X射线探测器上，最终经过数据处理系统在分析软件上展现出采集的衍射图谱。FRINGE CLASS是公司自主研发的一款多功能粉末衍射分析仪器，其融合XRD和计算机软件等多项技术，可快速对粉末、块状或薄膜等形态的样品进行主要物相定性、定量分析、晶体结构分析、材料结构分析及结晶度测定，具有操作简便、精度高、检测速度快等特点，为材料研究、生物医药、矿物、塑料制品、半导体等众多领域提供高精度的分析。使用优势θ-2θ联动测角系统专利新型θ-2θ耦合联动测角系统，单轴驱动机构，精约简省，立志非凡。内置水循环冷却系统FRINGE CLASS内置水循环冷却系统，无需额外增加冷水机，软件可实时显示X射线管中水温、流量、流速等信息。适合所有人的XRDCrystalX在获得衍射数据后，自动进行物相分析，并给出物相各组分百分比，大大降低了使用人员的要求，仅仅需要点击“开始测试”，其它交给CrystalX 软件 吧。安全性具有在测试过程中自动切断保护装置、安全联动锁装置，样品舱关闭后属于全封闭性能，操作界面有样品舱关闭提示功能。集成式索拉狭缝集成式索拉狭缝，无任何运动可调部件，增加测角系统的可靠性，从而使得界FRINGE CLASS桌面式XRD可安装于车载实验室平台。正比计数探测器正比计数探测器，计数吞吐量≥500KCPS，经典之作。应用场景生物医药陶瓷、水泥地质勘探研究与教育金属化合物化学与催化剂规格参数测角仪θ-2θ联动立式测角仪、衍射圆半径 150mm2θ角度范围-3° - +150°2θ角度精度全谱范围内＜±0.02°偏差分辨率0.04°2θ 半峰宽FWHM索拉狭缝集成式索拉狭缝，无任何运动可调部件，增加测角系统的可靠性，从而使得FRINGE CLASS桌面式XRD可安装于车载实验室平台X光管金属陶瓷 X 射线管，焦点：1 x 10 mm，默认配置Cu靶，可选配 Co、Cr、Mo靶高压发生器功率600W仪器尺寸580 x 450x 680mm（L×W×H）重量120KG电源220V±10V，50Hz，整机功率 1000W散热方式FRINGE CLASS内置水循环冷却系统，无需额外增加冷水机，软件可实时显示X射线管中水温、流量、流速等信息探测器DPPC探测器（数字脉冲处理计数探测器）接口紧凑的家用墙插插头提供电源，USB接口连接PC用于控制XRD气源提供2路气源接口，可用于原位分析或气氛保护安全性可有效屏蔽X射线，具有在测试过程中自动切断的保护、安全联动锁装置，样品舱关闭后属于全封闭性能，操作界面有样品舱关闭提示功能云端服务功能配套使用可同步的移动端APP服务，用于支持衍射数据卡片化管理，并支持接入知识管理系统CrystalX软件CrystalX在获得衍射数据后，自动进行物相分析，并给出物相各组分百分比，大大降低了使用人员的要求，无需手动检索，无需扣背景，无需平滑，无需手动寻峰，仅仅需要点击“开始测试”，其它交给CrystalX软件 吧

BrillianSe非晶硒高分辨X射线探测器 加拿大KA Imaging推出了其专有的无定形硒（a-Se,非晶硒）BrillianSe&trade X射线探测器，用于高亮度成像。这款混合a-Se/CMOS的探测器采用具有高固有空间分辨率的a-Se光导体，可直接将X射线光子转换为电荷。然后，低噪声CMOS有源像素传感器（APS）读取电子信号。无需首先将X射线光子转换为可见光（这在间接闪烁体方法中是必需的），因此不需要减薄转换层以减少光学散射。BrillianSe非晶硒高分辨X射线探测器提供了一种独特的组合，使用8微米像素实现高空间分辨率，以及具有高达120 keV的能量的高探测量子效率（DQE）。这种组合可实现在低通量和高能量条件下进行高效成像，并可进行基于传播的（无光栅）相位对比增强，以提高低密度材料成像时的灵敏度。BrillianSe&trade X射线检测器具有1600万的像素（16M）。主要应用✔ 低密度材料相差对比边缘增强✔ 单光子灵敏度(50 keV)✔ 同步加速器、微纳CT等X射线探测系统，替换其原有探测器或搭建系统✔ 高能量(50 keV)布拉格相干衍射成像 技术介绍BrillianSe非晶硒高分辨X射线探测器直接转换技术允许使用厚转换层，并以100%填充因子运行，以获得高 DQE。在60kVp（2mm铝滤波）下，BrillianSe&trade 具有市场领先的高 DQE（10 cycles/mm时为36%）和小点扩散函数（PSF）（1.1 像素）的组合。这有助于低通量应用成像，例如X射线衍射、剂量敏感的蛋白晶体学以及对有和无相位对比的材料进行受通量限制的成像。在63keV 时，MTF在 Nyquist（奈奎斯特）频率下为10%。此外，在低能量（21 keV）下，使用透射条形靶标样可展示8微米的分辨率。JIMA空间分辨率标样(21kev)的BrillianSe图像。数字表示以微米为单位的条宽。左侧为横截面8μm的图案应用案例BrillianSe非晶硒高分辨X射线探测器具有16M像素，采用直接转换专有技术，对样品进行“吸收衬度+相位衬度”成像，大幅度提高样品中的低密度成分成像时的灵敏度，可用于硬x射线包括同步加速器线束。探测样品案例，如：芳纶等复合材料（Kevlar）、脑支架、硅通孔(TSV)、牙签、甜椒种子、药物胶囊、轻质骨料（混凝土）等。甜椒种子有相衬成像和无相衬成像（仅吸收衬度，无相位衬度）之对比采用BrillianSe非晶硒高分辨X射线探测器的X射线探测系统应用场景举例✔ 表征材料微观结构✔ 对现有零件几何形状进行逆向工程✔ 验证或校准仿真工作流✔ 应用到NDT(无损检测)和GD&T(几何尺寸和公差)检验方案✔ 监控生产过程✔ 确定问题的根本原因

主要特点 1. 小型化轻量化的紧凑型设计小型化设计的测试头单元测试头尺寸：114 mm(W)×248 mm(D)×111 mm(H)重量：3 kg是目前世界上最小最轻的X射线应力分析仪可以对内径200 mm圆筒内壁进行测试 2. 使用半导体型二维探测器进行快速测试使用两张半导体面探实现装置的小型化可以一次得到大量的二维信息测试时间大大缩短 3. 操作安全，X射线照射的防护措施激光定位仪测算相机长度3轴加速度传感器测定测试头倾斜情况可以提供X射线遮蔽外罩（在实验室使用，选件） 4. 触屏平板电脑控制操作简单便捷可进行作业现场测试从而保证工作效率通过有线LAN或无线LAN（Wi-Fi）*1控制测试操作

技术参数 1、使用新一代高分辨X射线探测器HyPix6000HE.HyPix6000HE是理学公司全新自主开发的一款通用型、高性能光子直读X射线探测器。HyPix6000HE具有极低的背景噪音、极宽的动态范围、能够完全无快门数据收集。.检出方式:直接读数 .有效面积: 77.5 mm × 80.0mm .像素大小: 100 μm × 100 μm.冷却方式: 空冷.读数动态范围: 最大31 Bit .读数时间: 无快门模式，0ms模式 2. 测角仪AFC-Kappa four-axis 3、光源包括：微焦斑、微焦斑转靶MM007HF，微焦斑转靶超高辉度FR-X 靶材包括：Cu，Mo，或Cu/Mo双光源 4、低温装置 5、软件CrysAlisPro控制收集数据软件AutoChem全自动结构解析软件 主要特点 .日本理学与牛津衍射（前安捷伦X射线事业部）的联合，将以为晶体学家提供卓越的仪器和获得高质量的数据为目标，全力引领行业的新时代。 .优秀的硬件、软件与专业技术的融合将为单晶衍射市场带来令人兴奋的未来，开拓无限可能的境界。

TESCAN UniTOM XL 这款高通量微米级 X射线显微镜具有超快的分析速度，适用于各类样品的无损分析，并提供了更灵活的研究方式。TESCAN UniTOM XL 为材料研究、失效分析和质量控制等领域提供高效且非破坏性的三维成像功能，该系统配置了高功率的发射源、高效的探测器和软件，可以提供最高效的工作效率和图像效果，时间分辨率可以达到10秒以下。 主要优势 ※ 原位和动态成像的X射线显微镜UniTOM 是一款配置灵活的高分辨 X 射线 显微镜，可根据用户的需求组合功能模块，最大限度的提高图像质量、分辨率和分析速度。※ 感兴趣区域的直观观测可在概览图上选择感兴趣区域进行实时缩放，获得孔隙结构和矿物的细节信息。※ 亚微米级分辨率UniTOM 可以获得 3um 的真实空间分辨率，并且适用于多种类型和尺寸的样品，可分析的样品最大直径为 50 cm, 最大高度115 cm。※ 模块化设置模块化设计，硬件模块（如可附加的X射线源或探测器）可以轻松集成到系统中，方便用户进行硬件升级或更换单个硬件，进而延长系统的使用寿命。 模块化灵活配置 UniTOM XL 模块化设计有助于用户可以随时添加、升级和拓展配件，尽可能减少受到系统自身性能的限制影响，系统中提供的“future-proof”平台能够帮助客户适应未来在发射源或探测器技术方面的创新发展。Acquila软件Acquila是一个用于断层图像采集和3维重构(GPU优化)的模块化软件，可以最大限度为集成设备后的复杂实验提供协助。Acquila软件能够运行在标准的、自动化的或定制的微型CT上，并实现图像采集、重建和外围实验设备(现场设备)之间的无缝集成。

X射线显微CT：先进的无损三维显微镜显微CT即Micro-CT，为三维X射线成像，与医用CT（或“CAT”）原理相同，可进行小尺寸、高精度扫描。通过对样品内部非常细微的结构进行无损成像，真正实现三维显微成像。无需样本品制备、嵌入、镀层或切薄片。单次扫描将能实现对样品对象的完整内部三维结构的完整成像，并且之后可以完好取回样本品！布鲁克公司的微断层扫描技术由一系列易于使用的台式仪器提供，可对样品的形态和内部微观结构生成 3D 映像，分辨率可达亚微米级别特点：先进的扫描引擎—可变扫描几何：可以提高成像质量，或将扫描时间缩短1/2到1/5支持重建、分析和逼真成像的软件套件自动样品切换器技术规范：X射线源：20-100kV，10W，焦点尺寸＜5μm@4WX射线探测器：1600万像素（4904×3280像素）或1100万像素（4032×2688像素）14位冷却式CCD光纤连接至闪烁体标称分辨率（全额放大率下样品的像素）：1600万像素探测器＜0.35um；1100万像素探测器＜0.45um，重建容积图（单次扫描）：1600万像素探测器，高达14456×14456×2630像素 1100万像素探测器，高达11840×11840×2150像素扫描空间的值高达：直径75mm，长70mm辐射安全：在仪器表面的任何一点上＜1 uSv/h外形尺寸：1160（宽）×520（深）×330（高）毫米（带样品切换器高440毫米）重量：150千克，不含包装电源：100-240V / 50-60Hz，典型值：在大X射线功率下为90W