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射线近边结构分析

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射线近边结构分析相关的资讯

  • 蔡司推出半导体封装失效分析高分辨3D X射线成像解决方案
    p  新型亚微米与纳米级XRM系统及新型microCT系统为失效分析提供了灵活选择,帮助客户加速技术发展,提高先进半导体封装的组装产量。/pp  strong加州普莱斯顿与德国上科亨,2019年3月12日/strong--蔡司发布了一套新型高分辨率3D X射线成像解决方案,用于包括2.5/3D与扩散型晶圆级封装在内的先进半导体封装的失效分析(FA)。蔡司X射线显微系统包括:通过亚微米级和纳米级高分辨率成像对封装产品进行失效分析的a href="https://www.instrument.com.cn/news/20190124/479353.shtml" target="_blank" style="color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: underline "strongspan style="color: rgb(0, 176, 240) "Xradia 600 Versa系列/span/strong/a和 Xradia 800 Ultra X射线显微镜(XRM),以及Xradia Context microCT。随着在现有产品基础上新设备的研发推出,现如今,蔡司可以为半导体行业提供一系列3D X射线成像技术辅助生产。/pp  蔡司制程控制解决方案(PCS)部门与蔡司SMT部门总裁Raj Jammy博士介绍说:“在170年的历史中,蔡司始终致力于拓展科学研究的疆域,推动成像技术的发展,以实现新的工业应用和技术创新。在今天的半导体行业,封装尺寸与器件尺寸越做越小,因此我们比以往任何时候都更需要新型成像解决方案,用于快速排除故障,实现更高的封装产量。蔡司很荣幸宣布推出这一新型先进半导体封装3D X射线成像解决方案,为客户提供强大的高分辨率成像分析设备,以提高失效分析准确率。”/pp  strong先进封装技术需要新型缺陷检测与失效分析的方法/strong/pp  随着半导体产业面临CMOS微缩极限的挑战,人们需要通过半导体封装技术弥合性能上的差距。为了继续生产更小巧、更快速、更低功耗的器件,半导体行业正在通过芯片的3D堆叠和其他新型封装方式尝试封装创新。这些创新催生了日益复杂的封装架构,带来了新的制造挑战,同时也增加了封装故障的风险。此外,由于发生故障的位置往往隐藏于复杂的三维结构之中,传统的故障位置确认方法难以满足高效分析的需求。行业需要新型技术来有效地筛选和确定产生故障的根本原因。/pp  为满足这一需求,蔡司开发出全新3D X射线成像解决方案,提供亚微米与纳米级3D图像,显示出隐藏于完整的封装3D结构中的特性与缺陷。将样品置于系统,样品在光路中旋转,从不同角度捕捉一系列2D X射线投影图像,然后使用复杂的数学模型和算法重建3D模型。新型解决方案可以从任意角度观察3D模型虚拟切片,从而在进行物理失效分析(PFA)之前对缺陷进行三维可视化。蔡司亚微米和纳米级XRM解决方案相结合,为客户提供独特的故障分析工作流程,有助于显著提高失效分析成功率。蔡司的新型Xradia Context microCT采用基于投影的几何放大技术,在大视场中实现高衬度和高分辨率成像,而且也可以全面升级至Xradia Versa X射线显微镜。/pp strong 新型成像解决方案详解/strong/pp  a href="https://www.instrument.com.cn/news/20190124/479353.shtml" target="_blank" style="color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: underline "span style="color: rgb(0, 176, 240) "strongXradia 600 Versa/strong/span/a系列是新一代3D XRM,能够在完整的已封装半导体器件中对已定位的缺陷进行无损成像。在结构化分析和失效分析应用中,新型解决方案在制程开发、良率提升和工艺分析等方面表现出色。Xradia 600 Versa系列以屡获殊荣且具有大工作距离高分辨率(RAAD)特性的Versa X射线显微镜为基础,提供优异的成像性能,实现大工作距离下的大样品的高分辨率成像,用于为封装、电路板和300毫米晶圆生产确定产生缺陷与故障的原因。利用该解决方案,可以轻松看到与封装级故障相关的缺陷,例如凸块或微型凸块中的裂纹、焊料润湿或硅通孔(TSV)空隙。在进行物理失效分析之前对缺陷进行3D可视化处理,有助于减少伪影,提供横纵方向的虚拟切片效果,从而提高失效分析成功率。新型解决方案的主要特性包括:/pp  ◆最高空间分辨率0.5微米,最小体素40纳米/pp  ◆与Xradia 500 Versa系列相比, 工作效率提高了两倍,且在保证高分辨率的同时,在整个kV(电压)和功率范围内保持出色的X射线源焦点尺寸稳定性与热稳定性/pp  ◆更加简便易用,包括快速激活源/pp  ◆可靠性测试中可实现多个位点连续成像,并能观察封装结构内部亚微米结构变化/pp style="text-align: center"img src="https://img1.17img.cn/17img/images/201903/uepic/fcb3b14e-afb6-4859-b117-ade3ce9e1694.jpg" title="1.jpg" alt="1.jpg"//pp  strongXradia 800 Ultra/strong将3D XRM提升至纳米级尺度,并在纳米尺寸下探索隐藏的特性,获得高空间分辨率图像的同时保持感兴趣区域的结构完整性。其应用包括超密间距覆晶与凸块连接的工艺分析、结构分析和缺陷分析,从而改进超密间距封装与后段制程(BEOL)互连的工艺改进。Xradia 800 Ultra能够对密间距铜柱微凸块中的金属间化合物所消耗焊料的结构和体积进行可视化。在成像过程中保留缺陷部位,有助于采用其他技术进行针对性的后期分析。还可以利用3D图像来表征盲孔组件(blind assemblies)的结构质量,例如晶圆对晶圆键合互连与直接混合键合等。该解决方案的主要特性包括:/pp  ◆空间分辨率150纳米与50纳米(需要制备样品)/pp  ◆选配皮秒激光样品制备工具,能够在一小时内提取完整体积(结构)样品(通常直径为100微米)/pp  ◆兼容多种后续分析方法,包括透射电子显微镜(TEM)、能量色散X射线谱(EDS)、原子力显微镜(AFM)、二次离子质谱(SIMS)和纳米探针/pp style="text-align: center"img src="https://img1.17img.cn/17img/images/201903/uepic/52ac92be-9189-4c80-bd09-b60d7bb9da1b.jpg" title="2.jpg" alt="2.jpg"//pp  strongXradia Context microCT/strong是一种基于Versa平台的新型亚微米分辨率3D X射线microCT系统。该解决方案用于封装产品在小工作距离和高通量下进行高分辨率成像。主要特性包括:/pp  ◆在大视场下提供大样品的全视场成像(体积比Xradia Versa XRM系统大10倍)/pp  ◆小像素尺寸的高像素密度探测器(六百万像素)即使在观察视野较大的情况下也能确保较高分辨率/pp  ◆X射线microCT拥有空间分辨率0.95微米,最小体素0.5微米/pp  ◆出色的图像质量与衬度/pp  ◆可升级为Xradia Versa,实现RaaD功能,对完整大样品进行高分辨率成像/pp style="text-align: center"img src="https://img1.17img.cn/17img/images/201903/uepic/a444699e-2096-43cc-a3ed-3471855ecc79.jpg" title="3.jpg" alt="3.jpg"//pp  上海新国际博览中心即将于3月20日至22日举办中国半导体展(SEMICON China),蔡司将在展会上展示最新显微镜产品和解决方案,包括新型Xradia 600 Versa系列、Xradia 800 Ultra和Xradia Context microCT系统。如有意了解详情,您可到N2展厅2619号展位参观蔡司展品。/pp  strong关于蔡司/strong/pp  蔡司是全球光学和光电领域的先锋。上个财年度,蔡司集团旗下四个部门的总收入超过58亿欧元,包括工业质量与研究、医疗技术、消费市场,以及半导体制造技术(截止:2018年9月30日)。/pp  蔡司为客户开发、生产和分销用于工业测量与质量控制的创新解决方案,用于生命科学和材料研究的显微镜解决方案,以及用于眼科和显微外科诊断与治疗的医疗技术解决方案。在半导体行业,“蔡司”已成为世界优秀的光学光刻技术的代名词,该技术被芯片行业用于制造半导体元件。眼镜镜片、照相机镜片和双筒望远镜等引领行业潮流的蔡司产品正在全球市场热销。/pp  凭借与数字化、医疗保健和智能生产等未来增长领域相结合的投资组合,以及强大的品牌,蔡司正在塑造光学和光电行业以外的未来。该公司在研发方面的重大、可持续投资为蔡司技术和市场成功保持领先地位和持续扩张奠定了基础。/pp  蔡司拥有约30,000名员工,活跃于全球近50个国家,拥有约60家自有销售和服务公司、30多家生产基地和约25家开发基地。公司于1846年创办于耶拿(Jena),总部位于德国上科亨。卡尔· 蔡司基金会(Carl Zeiss Foundation)是德国最大的基金会之一,致力于促进科学发展,是控股公司卡尔· 蔡司股份公司的唯一所有者。/p
  • 200万!武汉理工大学原位X射线三维结构分析仪采购项目
    项目编号:HBHD-ZC-2022-039项目名称:武汉理工大学原位X射线三维结构分析仪预算金额:200.0000000 万元(人民币)最高限价(如有):200.0000000 万元(人民币)采购需求:采购需求:武汉理工大学原位X射线三维结构分析仪的供货、安装、调试、验收及售后服务,具体技术规格、要求详见“第三章 项目采购需求”。序号货物名称数量是否接受进口产品中小企业划分标准所属行业主要功能要求1原位X射线三维结构分析仪1套否工业检测样品内部特征结构(亚微米级)的空间分布状态,以及特征结构的定量计算,为材料声学、力学性能提供全面评估质量标准:合格合同履行期限:合同签订后6个月内交货本项目( 不接受 )联合体投标。
  • 国科仪器完成数千万元融资,聚焦X射线类结构分析设备研发
    10月11日消息,安徽国科仪器产业发展有限公司(下称:国科仪器)近日完成数千万元融资,由毅达资本投资。  国科仪器是一家专业从事X射线衍射仪、纳米结构分析仪等高端X射线结构分析设备研发、生产与销售的创新型企业。公司已成功研发出多款X射线检测分析类仪器及相关核心零部件,向客户提供全集成、高附加值全方位解决方案,突破了一系列核心关键技术,填补了国内相关领域的空白。  X射线类结构分析设备在在材料结构分析和成分分析领域应用非常广泛,在晶体结构分析、非晶态结构分析、物相定性分析、物相定量分析、结晶度分析等科研方向均有成熟的应用和丰硕的研发成果。  该设备已经成为各大科研院所、大学及工业企业在研发过程中必不可少的核心设备之一,在生物医药、化工、新材料、新能源、半导体等行业的研发及在线检测过程中有着十分广泛的应用,市场需求正在快速增长。  国科仪器创始团队是国内最早从事X射线相关领域产品研发和推广的团队之一,多年来持续专注于国际材料检测分析设备领域的先进技术发展,且熟悉国外一线企业的技术路径和市场布局,能快速准确地把握国内市场需求,进行针对性的产品研发及市场推广。2022年9月,公司研制的“小角X射线散射仪”入选安徽省首台套重大技术装备(第二批)评定名单。  国科仪器创始人王富康表示,X射线类结构分析设备作为重要的科研设备,国内市场规模可观,市场需求处于快速增长过程中。目前国内高端X射线分析设备仍以进口为主,国科仪器成功打破了进口依赖,成为国内高端X射线结构分析设备“第一人”。未来,公司将继续扩充团队,加大研发,争取进入更多应用领域,为高端仪器的国产化做出更大贡献。  毅达资本投资总监张俊涛表示,高端科研仪器是国内短板,很多顶尖科研仪器对国内处于禁售状态。国科仪器在高压XRD、小角散射仪等高端X射线结构分析设备领域,已经顺利实现设备定型与销售,先后获得国家级科研单位及上市公司的重复订单,并以其良好的性能指标、灵活的定制化能力及超高的性价比获得了客户的高度认可。期待通过此次合作,在资本助推和双方的共同努力下,国科仪器能够继续在上游核心零部件及工业领域取得更大进步,争取走到X射线结构分析仪器领域的最前端。
  • 重要成果!1000 mA/cm²高活性OER,easyXAFS台式X射线吸收精细结构谱仪解析电催化剂
    电化学分解水是一种将间歇性能源(如风能,太阳能)转化为氢能的有效途径,有利于推动碳中和。开发廉价高活性的氧析出(OER)电催化剂是该技术走向实际应用的关键之一。研究表明,过渡金属催化剂在OER过程中可重构形成具有更高活性的羟基氧化物,且杂原子的加入可促进这一表面重构反应。基于此,太原理工大学与新南威尔士大学合作提出一种原位重构策略,以FeB包覆的NiMoO作为预催化剂进行表面重构,获得了高活性的OER催化剂。作者利用美国easyXAFS公司研发的台式X射线吸收光谱仪XES150解析了催化剂的精细结构,并结合多种其他表征技术及理论计算,证明重构过程形成的稳定高价态Ni4+物种可促进晶格氧活化进而提升OER反应。该项工作揭示了催化活性的提升机理,并实现了1000mA/cm2级别的超高反应电流,以“Stable tetravalent Ni species generated by reconstruction of FeB-wrapped NiMoO pre-catalysts enable efficient water oxidation at large current densities”为题发表于期刊Applied Catalysis B: Environmental。 本文中使用的台式X射线吸收光谱仪XES150无需同步辐射光源,可以在实验室内测试XAFS和XES数据,谱图数据与同步辐射光源谱图数据完全一致。仪器推出至今,已在全球拥有100+用户群体,市场份额遥遥领先,久经时间考验,细节打磨更完善,稳定性可靠性更高。设备还可实现1wt %载量样品的XAFS、 0.1wt %载量样品的XES测试以及原位拓展测试,如原位的锂电池或电催化实验测试,监测电极/催化材料的结构变化等。凭借设备的上述优势,台式X射线吸收光谱仪XES150为本研究的电催化剂解析提供了重要的技术支撑。图1. 台式X射线吸收精细结构谱仪-XAFS/XES 图一展示了催化剂的合成示意图,NiMoO/FeB 预催化剂通过原位重构形成NiFeOOH,其中的准金属硼诱导形成纳米片/纳米棒结构。所得的催化剂的OER活性高于纯NiOOH和贵金属RuO2(图2a)。该催化剂仅需1.545 V vs. RHE即可驱动1000 mA/cm2电流,性能优于其他文献报道(图2b)。作者利用台式XES150 system (Easy XAFS LLC, USA)测试了样品X射线吸收谱。通过Ni-K边 X射线吸收近边结构 (XANES) 光谱分析Ni的电子态。白线峰与 1 s 到 4p 跃迁相关。在 NiFeOOH 的 XANES 光谱中白线峰峰值位于 8352.66 eV,高于 NiOOH(图 2c),这表明NiFeOOH中Ni的平均氧化态高于NiOOH中的平均氧化态,并且NiFeOOH中形成了更多的Ni4+物种。 同时,由于金属 4p 轨道的离域,NiFeOOH吸收边向较低能量移动,峰展宽且边缘跃迁强度增加(即 1 s→4p),这些对配体-金属共价性敏感的特征性变化表明Ni-O 共价键增加(图 2d)。作者进一步分析拟合了Ni K-边的傅立叶变换扩展X射线吸收精细结构(EXAFS)的k3χ数据,以探究局部原子结构(图2e-2h)。与NiOOH 相比,NiFeOOH 的 Ni-O 散射路径原子间距离从 1.98 &angst 减小到 1.85 &angst ,证明 Ni-O 键的共价性质的增加。 Ni-O 散射路径的偏移归因于NiOOH 和 NiFeOOH 中不同的局部配位环境,这是由于其中NiOOH 和 NiO2物相的比例不同。 上述结果表明,NiFeOOH 中的稳定态物种主要是 Fe 掺杂的 NiO2 物质,这是由 Fe 掺杂和重构过程(即中等高电位下的电化学极化)引起的。 Ni4+生成量的增加导致Ni-O共价性增大,从而促进晶格氧的活化,提升OER催化反应活性。图1. NiMoO/FeB 预催化剂与NiFeOOH 催化剂的合成示意图。图2. (a) 催化剂的LSV曲线。(b)本文催化剂过电势与其他文献报道对比图。(c)(d)Ni-K边XANES谱图。(e)Ni-K边EXAFS谱图。(f)NiO, (g) NiOOH,及 (h) NiFeOOH的EXAFS拟合结果。参考文献:[1]. Yijie Zhang et al., Stable tetravalent Ni species generated by reconstruction of FeB-wrapped NiMoO pre-catalysts enable efficient water oxidation at large current densities, Applied Catalysis B: Environmental, Volume 341, February 2024, 123297.相关产品1、台式X射线吸收精细结构谱仪-XAFS/XEShttps://www.instrument.com.cn/netshow/SH100980/C327753.htm
  • 关于举办“X-射线衍射分析技术”培训通知
    X-射线衍射(XRD)分析技术作为材料结构表征的重要手段,业已成为探索物质微观结构的必不可少的方法之一。随着其用途范围的日益拓展,X射线衍射技术在材料、化学、生物医药、环境、物理等学科及地质矿产、钢铁冶金、冶金建材、石油化工、能源环保、电子信息、新药研发、航空航天等产业部门及司法、考古、商品鉴定等领域都得到广泛的应用。近年来随着新技术的大量出现和引入,XRD软、硬件技术和应用功能不断推陈出新,并迅猛发展。X射线衍射技术的理论教学也受到理工农医在校学生和社会科研院所科技工作者的普遍欢迎,为适应广大分析技术工作者的需求,进一步提高XRD用户的应用和研究水平,推动XRD分析应用的进一步发展,上海交通大学分析测试中心特举办“X-射线衍射分析技术”培训班,全国分析检测人员能力培训委员会(NTC)授权单位培训机构上海交通大学分析测试中心承办并负责相关会务工作。现将有关事项通知如下:1、 培训目标:了解X-射线衍射的原理与衍射仪的基本结构(涵盖粉末和单晶衍射);了解X-射线衍射检测/校准项目及相关要求;掌握国家标准中X-射线衍射的检测方法;上机实践训练。(一)掌握XRD的测试技术,了解仪器维护方法,确保机器运转最佳状态。(二)面对数据分析中的常见问题,学员可理论联系实际,找到问题原因所在,掌握X-射线衍射分析技术的一般方法及技巧。2、 时间地点: 培训时间:2023年10月16日-10月18日 上海(时间安排:授课2天,考核1天)3、 课程大纲:课程内容10月16日上午X-射线衍射技术基本原理(晶体结构、倒易空间、布拉格衍射方程等)10月16日下午X-射线衍射测试原理及技术要点(各种衍射几何、多物相定性定量分析、测量的误差产生的根源及改进的方法)10月17日上午XRD谱图分析方法10月17日下午XRD仪器结构、功能和主要性能指标(包括零维、一维、二维衍射模式)10月18日上午X-射线衍射仪基本操作(调试操作与维护,仪器类型:Aeris 600、Mini Flex 600及Bruker D8系列)。10月18日下午考核4、 主讲专家:主讲专家来自上海交通大学分析测试中心,熟悉ATP 005 X-射线衍射分析技术大纲要求,具有NTC教师资格,长期从事X-射线衍射技术研究的专家。5、 授课方式:(1) 讲座课程;(2) 仪器操作6、 培训费用:(一)培训费及考核费:每人3000元(含报名费、培训费、资料费、考试认证费),食宿可统一安排费,用自理。(二)本校费用:每人1500 元(含报名费、培训费、资料费、考试认证费;必须携带学生证)。7、 颁发证书:本证书由国家科技部、国家认监委共同推动成立的全国分析检测人员能力培训委员会经过严格考核后统一发放,证书有以下作用:具备承担相关分析检测岗位工作的能力证明;各类认证认可活动中人员的技术能力证明、该能力证书可作为实验室资质认定、国际实验室认可的技术能力证明;大型仪器共用共享中人员的技术能力证明。 考核合格者将由发放相应技术或标准的《分析检测人员技术能力证书》。考核成绩可在全国分析检测人员能力培 训委员会(NTC)网站上查询(https://www.cstmedu.com/)。 8、 报名方式:(一)请详细填写报名回执表(附件1)和全国分析检测人员能力培训委员会分析检测人员考核申请表(附件2),邮件反馈。 (二) 注:请学员带一寸彩照2张(背面注明姓名)、身份证复印件一张,有学生证的学员携带学生证复印件。 (三) 报名截止时间是10月10日16:00前。 (四) 如报名人数不足5人取消本次培训。9、 联系方式联系人:吴霞(报名相关事宜)、饶群力(技术咨询)电话: 021-34208499-6102(吴霞)、021-34208499-6212(饶群力)E-mail:iac_office@sjtu.edu.cn官方网址:iac.sjtu.edu.cn
  • 新的X射线世界纪录:以4nm的分辨率观察微芯片内部结构
    Paul Scherrer Institute (PSI) 的研究人员与洛桑联邦理工学院、苏黎世联邦理工学院和南加州大学合作,利用 X 射线技术取得了重大突破。利用 PSI 瑞士光源 SLS 发出的 X 射线,并采用由瑞士XRnanotech公司提供的最外环宽度为30nm,高度为400nm的FZP(菲涅尔波带片)聚焦,以前所未有的高分辨率观察了微芯片内部结构,实现了4nm的图像分辨率,创下了新的世界纪录!这种高分辨率三维图像将为信息技术和生命科学领域的发展带来深远的影响,研究成果已发表在最新一期的《Nature》杂志上。该样本是从商用计算机芯片中提取的,由图中的金色针头支撑。该样本直径不到 5微米(比人类头发的宽度小 20 倍左右),使用聚焦离子束从芯片上切下并放置在针头上。© Paul Scherrer Institute PSI/Mahir Dzambegovic自 2010 年以来,PSI 大分子和生物成像实验室的科学家一直致力于开发显微成像方法,目的是生成纳米级的三维图像。在目前的研究中,他们与洛桑联邦理工学院 (EPFL)、苏黎世联邦理工学院 (ETHZ) 以及南加州大学合作,首次成功拍摄了最先进的计算机芯片微芯片的图像,分辨率达到 4 纳米,即 百万分之四毫米,创下了世界纪录。科学家们没有使用透镜(目前无法使用镜头拍摄此范围内的图像),而是采用了一种称为 叠层成像 ptychography 的技术,即通过计算机将许多单独的图像组合起来以创建一张高分辨率图片。更短的曝光时间和优化的算法是此次显著提高由他们在 2017 年创下的世界纪录的关键因素。在实验中,研究人员使用了 PSI 瑞士光源 SLS 发出的 X 射线,并由瑞士XRnanotech提供的FZP聚焦。频链接:https://youtu.be/aKEhNgUdFvc 深入研究微芯片:新型叠层成像技术可生成分辨率为百万分之四毫米的三维图像。© 视频:Paul Scherrer Institute PSI/Benjamin A. Senn、Markus Fischer 和 Tomas Aidukas No.1 介于传统 X 射线断层扫描和电子显微镜之间微芯片是科技的奇迹。如今,先进的集成电路中每平方毫米可以容纳超过 1 亿个晶体管,这一趋势还在不断增长。高度自动化的光学系统用于在洁净室中将纳米级电路迹线蚀刻到硅坯中。一层又一层地添加和移除,直到完成芯片(智能手机和电脑的大脑)可以被切割和安装。制造过程繁琐复杂,表征和绘制最终结构也同样困难。扫描电子显微镜有几纳米的分辨率,因此非常适合对构成电路的微型晶体管和金属互连进行成像,但它们只能产生表面的二维图像。“电子在材料中传播得不够远,” SLS 的物理学家 Mirko Holler 解释道。“要用这种技术构建三维图像,必须逐层检查芯片,在纳米级别去除各个层——这是一个非常复杂和精细的过程,而且会破坏芯片。”然而,使用 X 射线断层扫描可以生成三维和无损图像,因为 X 射线可以穿透材料更深,这个过程类似于医院的 CT 扫描。样品被旋转并从不同角度进行 X 射线照射,辐射的吸收和散射方式各不相同,这取决于样品的内部结构。探测器记录离开样品的光,然后算法从中重建最终的 3D 图像。“这里我们遇到了分辨率问题,” Mirko Holler 解释说,“目前可用的 X 射线镜头都无法以分辨如此微小结构的方式聚焦这种辐射。”No.2 Ptychography——虚拟镜头解决方案是叠层成像。在这种技术中,不是将X射线束聚焦在纳米尺度上,而是使样品在纳米尺度上移动。“我们的样品被移动,使得光束遵循精确定义的网格——就像筛子一样。在网格上的每个点,都会记录衍射图案,” 物理学家解释说。各个网格点之间的距离小于光束的直径,因此成像区域会重叠。这会产生足够的信息,以便在算法的帮助下以高分辨率重建样品图像。重建过程就像使用虚拟镜头一样。Manuel Guizar-Sicairos、Tomas Aidukas 和 Mirko Holler(从左到右)站在 PSI 瑞士光源 SLS 的实验设备前。科学家利用这里产生的 X 射线创下了新的世界纪录。© Paul Scherrer Institute PSI/Mahir Dzambegovic“自 2010 年以来,我们一直在不断完善实验装置和样品定位的精度。2017 年,我们终于成功对计算机芯片进行了空间成像,分辨率达到 15 纳米——创下了纪录,” Holler 回忆道。从那时起,尽管装置和算法进一步优化,但我们仪器的分辨率一直保持不变。“我们将其延伸到了一到两纳米,但这是我们能达到的极限。有些东西限制了我们,我们必须找出它是什么。”No.3 寻找限制因素这项精心的研究终于在在2021 年由瑞士国家科学基金会资助的一个项目开始。除了参与了第一次记录的 Mirko Holler 和 Manuel Guizar-Sicairos 之外,Tomas Aidukas 也加入了该小组。这位物理学家用他的编程经验支持团队并开发了新的算法,最终帮助他们取得了突破。研究人员在减少曝光时间时找到了他们的第一个线索——衍射图像突然变得更清晰了。这让他们得出结论,照射样品的 X 射线束并不稳定,而是发生了微小的移动——光束在摆动。“这类似于摄影,” Guizar-Sicairos 解释说。“当你在晚上拍照时,你会因为黑暗而选择长时间曝光。如果你不使用三脚架这样做,你的动作就会传输到相机上,照片就会模糊。” 另一方面,如果你选择较短的曝光时间,这样光线被捕捉的速度比我们移动的速度快,那么图像就会很清晰。 “但在那种情况下,图像可能是全黑的或充满噪点,因为在这么短的时间内几乎无法捕捉到任何光线。”研究人员也面临类似的问题。尽管现在的图像已经很清晰,但由于曝光时间太短,图像所包含的信息太少,无法重建整个微芯片。NO.4 更短的曝光时间和新的算法为了解决这个问题,研究人员升级了他们的装置,换上了一个更快的探测器,这也是 PSI 开发的。这样他们就可以在每个网格点记录许多图像,每张图像的曝光时间都很短。“数据量非常大,” Aidukas 补充道。当将各个图像加在一起并叠加时,就会产生与使用长曝光时间获得的模糊图像相同的效果。查看最先进的计算机芯片的内部结构。研究人员新开发的叠层技术使研究人员能够绘制出这一工程奇迹的三维结构。图片显示了组成微芯片的不同层。在顶部可以看到较粗的结构。随着层层向下移动,微芯片变得越来越复杂 - 使那里的连接可见需要几纳米的分辨率。© Paul Scherrer Institute PSI/Tomas Aidukas“你可以把 X 射线束看作是样本上的一个点。我们现在在这个特定点拍摄大量单独的照片,”Aidukas 解释道。由于光束在摆动,每幅图像都会略有变化。“ 在一些图片中,光束处于相同的位置,而在另一些图片中,光束已经移动。我们可以利用这些变化来追踪未知振动引起的光束的实际位置。”接下来要做的是减少数据量。“我们的算法会比较各个图像中光束的位置。如果位置相同,则将它们放在同一组中并加和。” 通过对低曝光图像进行分组,可以增加它们的信息内容。因此,研究人员能够使用大量短曝光图片重建具有高光内容的清晰图像。新的叠层扫描技术是一种基本方法,也可以在类似的研究设施中使用。该方法不仅限于微芯片,还可以用于其他样品,例如材料科学或生命科学。文本:Paul Scherrer Institute PSI/Benjamin A. Senn© PSI 免费提供图像和/或视频材料,供媒体报道上述文本内容。不得将此材料用于其他目的,包括将图像和视频材料转移到数据库以及由第三方出售
  • easyXAFS发布台式X射线吸收精细结构谱仪新品
    台式X射线吸收精细结构谱仪(XAFS/XES) 美国easyXAFS公司最新推出台式X射线吸收精细结构谱仪(XAFS/XES),采用独有的X射线单色器设计,无需同步辐射光源,在常规实验室环境中实现X射线吸收精细结构测量和分析,提供XAFS和XES两种测量模式,并轻松相互切换。以极高的灵敏度和光源质量,广泛应用在催化、电池等研究领域,实现对元素的测定、定量和价态分析等。 XAFS300 XES100easyXAFS 产品参数 X射线源: XAFS: 1.2-kw XRD(Mo/w) XES: 100w XRF 空冷管(Pd/W)能量范围: 5-12keV 可达19keV分辨率: 0.5-1.5eV样品塔: 7位自动样品轮布拉格角: 55-85 deg检测器: SDD单晶尺寸: 球面单晶(Si/Ge) 直径10cm,曲率半径100cm软件: LabVIEW, 脚本扫描扩展: 仪器可外接设备,控制样品条件分析仪校准: 预先校准,快速插拔更换 easyXAFS 产品优势 - 无需同步辐射光源- 科研级别谱图效果- 台式设计,实验室内使用- 可外接仪器设备,控制样品条件- 可实现多个样品或多种条件测试- 操作便捷、维护成本低 easyXAFS 应用案例谱图展示 1、XAFS300 2、XES100 ■ XES Mode ■ XAFS Mode easyXAFS 已发表文章1. Jahrman, Seidler, et al., J. Electrochem. Soc. 2019.2. Jahrman, Holden, et al., Rev. Sci. Instrum. 2019.3. Bès, Ahopelto, et al., J. Nucl. Mater. 2018.4. Mundy, Cossairt, et al.,Chem Mater 20185. Jahrman, Seidler, and Sieber, Anal. Chem., 20186. Holden, Seidler, et al., J. Phys. Chem. A, 2018.7. Stein, Holden, et al., Chem. Mater., 2018.8. Padamati, Angelone, et al., JACS, 20179. Mortensen, Seidler, et al., Phys Rev B, 2017.10. Valenza, Jahrman, et al., Phys Rev A, 201711. Mortensen, Seidler, et al., XAFS16 conference proceedings.12. Seidler, Mortensen, et al., XAFS16 conference proceedings.13. Seidler, Mortensen, et al., Rev. Sci. Instrum. 2014.创新点:1、采用独有的X射线单色器设计,无需同步辐射光源即可进行测试;2、台式设计,方便实验室使用;3、提供两种测量模式:XAFS和XES。台式X射线吸收精细结构谱仪
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    台式X射线吸收精细结构谱仪(XAFS/XES) 美国easyXAFS公司最新推出台式X射线吸收精细结构谱仪(XAFS/XES),采用独有的X射线单色器设计,无需同步辐射光源,在常规实验室环境中实现X射线吸收精细结构测量和分析,提供XAFS和XES两种测量模式,并轻松相互切换。以极高的灵敏度和光源质量,广泛应用在催化、电池等研究领域,实现对元素的测定、定量和价态分析等。 XAFS300 XES100easyXAFS 产品参数 X射线源: XAFS: 1.2-kw XRD(Mo/w) XES: 100w XRF 空冷管(Pd/W)能量范围: 5-12keV 可达19keV分辨率: 0.5-1.5eV样品塔: 7位自动样品轮布拉格角: 55-85 deg检测器: SDD单晶尺寸: 球面单晶(Si/Ge) 直径10cm,曲率半径100cm软件: LabVIEW, 脚本扫描扩展: 仪器可外接设备,控制样品条件分析仪校准: 预先校准,快速插拔更换 easyXAFS 产品优势 - 无需同步辐射光源- 科研级别谱图效果- 台式设计,实验室内使用- 可外接仪器设备,控制样品条件- 可实现多个样品或多种条件测试- 操作便捷、维护成本低 easyXAFS 应用案例谱图展示 1、XAFS300 2、XES100 ■ XES Mode ■ XAFS Mode easyXAFS 已发表文章1. Mundy, Cossairt, et al.,Chem Mater 20182. Jahrman, Seidler, and Sieber, Anal.Chem., 20183. Holden, Seidler, et al.,J.Phys.Chem.A, 2018.4. Holden, Seidler, et al.,J.Phys.Chem.A, 2018.5. Stein, Holden, et al., Chem.Mater., 2018.6. Padamati, Angelone, et al.,JACS, 20177. Mortensen, Seidler, et al., Phys Rev B, 2017.8. Valenza, Jahrman, et al., Phys Rev A, 20179. Mortensen, Seidler, et al., XAFS16 conference proceedings.10. Seidler, Mortensen, et al., XAFS16 conference proceedings.创新点:1、采用独有的X射线单色器设计,无需同步辐射光源即可进行测试;2、台式设计,方便实验室使用;3、提供两种测量模式:XAFS和XES。台式X射线吸收精细结构谱仪
  • 小角X射线散射技术:研究纳米尺度微结构的重要手段
    本文由马尔文帕纳科医药行业应用专家陈丽供稿本文摘要本文将简单介绍研究纳米尺度微结构的重要手段:小角X射线衍射(Small Angle X-Ray Scattering, SAXS)技术原理及相关产品。X射线衍射与小角X射线散射 X射线是具备相应波长的电磁波或带有相应能量的光子束。X射线的波长和能量介于γ-射线和紫外线之间。其波长范围为0.01-10nm;对应的能量范围为0.125-125Kev。小角散射(Small Angle X-ray Scattering,SAXS):如果样本具有不同电子密度的周期性结构,X射线被不相干散射,散射 X 射线的角度就与入射 X 射线的角度相差很小(一般2θ≤ 5°),称为小角X射线散射效应。主要用于研究亚微米尺度的固态及液态样品结构。小角散射效益来自物质内部1~100nm量级范围内电子密度的起伏,通过对小角X射线散射图或散射曲线的计算和分析即可推导出微结构的形状、大小、分布及含量等信息。这些微结构可以是孔洞、粒子、缺陷、材料中的晶粒、非晶粒子结构等。广角散射(Wide Angle X-ray Scattering,WAXS):如果样本具有周期性结构(晶区),X射线被相干散射,入射光和散射光之间没有波长的改变,这个过程称为 广角X射线衍射。主要用于研究较晶体结构和非晶体结构。与小角散射相比,广角散射的散射角度较大,可以覆盖从几度到几十度的范围。通过检测广角散射信号,可以获得关于晶体晶格参数、晶胞体积、颗粒尺寸和颗粒形貌等信息。SAXS - WAXS表征Empyrean Nano版锐影Empyrean Nano版锐影多功能 X 射线散射系统基于Empyrean平台和Pre-FIX预校准概 念,为纳米材料研究/小角散射专家特殊定制的 高性能多功能散射研究平台操作简单,无需校准高性能散射研究平台,但不局限于散射(1D/2D SAXS/WAXS;USAXS;GI-SAXS;PDF;CT)多种配置可选多功能 X 射线散射系统Empyrean Nano版+PIXcel3D 基于铜靶应用Empyrean Nano版+GaliPIX3D 兼顾对分布函数(PDF)分析高分辨光管+聚焦透镜+ScatterX78+3D探测器2D WAXS, 最低2theta 0.1°, 最高±22°(PIXcel)或±30°(GaliPIX)变温毛细管样品架,温度范围5-70℃ Scatter X78 样品架能实现液体,固体,纤维等纳米材料分析,仪器自动校准光路,真空启动3分钟即可测试样品。
  • 无需同步辐射光源,台式X射线吸收精细结构谱仪(XAFSXES)最新发布!
    美国easyXAFS公司新推出无需同步辐射光源的台式X射线吸收精细结构谱仪——可以放置在实验室内使用的XAFS! 1. 什么是XAFS?X射线吸收精细结构(X-ray absorption fine structure,XAFS)原理: X射线通过光电效应被物质吸收,产生光电子(出射波);经过周围原子散射,产生散射波;相位不同的两列波在吸收原子处产生干涉,影响吸收原子处的光电子波函数,即吸收系数μ。随能量E变化的μ(E)曲线即XAFS。 由上可知,XAFS信号由吸收原子周围的近程结构决定,可提供小范围内原子簇结构信息,包括配体种类、配位数、配位距离等结构信息和元素价态分析等电子结构信息。 2. 哪里可以做XAFS测试?目前XAFS测试需要依赖同步辐射光源,国内仅有三家:北京高能物理所,上海光源、中国科学院大学;XAFS测试服务也只是同步辐射实验室内的一小部分应用,实在难以满足广大科研用户的使用需求。不过不用担心,台式XAFS谱仪将为您提供服务! 3. 台式XAFS/XES谱仪由美国easyXAFS公司研发的台式X射线吸收精细结构谱仪(XAFS/XES),无需同步辐射光源即可提供XAFS和XES测试;台式体积,可放置于实验室内随时使用,大节省了科研等待时间!同时具有操作简单、方便;配有7位自动样品轮;可集成辅助设备,控制样品条件;后期维护成本低等优势。 XAFS300XES100 4. 应用案例4.1 不同配体化合物的鉴别应用台式XAFS谱仪可以快速实现不同配体化合物的鉴别,直观明了!尤其对广泛应用而言,操作使用无压力。如下图中CoP和CoP标准品。 Mundy, Cossairt, et al., Chemistry of Materials 2018 4.2 同步辐射&台式XAFS/XES经过不同温度处理的橡木的生物炭样品,其同步辐射实验结果和台式XAFS/XES实验结果相一致,即随着温度升高,氧化态S的样品含量在减少。XES:CS500 (800 ppm S) 50min;Oak600 sample (150 ppm S) 6hSynchrotron XANES:CS500(800 ppm)24min;Oak 600sample(150ppm S)114minHolden, Seidler, et al., J. Phys. Chem. A, 2018 4.3 固体核磁&台式XAFS/XES通过对比P的MAS NMR和XES的结果,证明了用P的Kα 的XES谱图可以定量检测LnP量子点的氧化程度和磷酸盐的种类。而且仅从几毫克的样品量即可获得高分辨结果,时间短,将会是更好的测量工具。XES:<5mg样品量,30min内SSNMR:10—20mg样品量,长达数天 在SSNMR谱图中,0ppm位置的峰对应的是表面磷酸盐,而该组分显示在约2014.41 eV的Kα1能量位置。 不同价态的含P化合物的谱图出峰差异,可以判断化合物种类。 -3 -1 +5Stein, Holden, et al., Chem. Mater., 2018. 5. 仪器用户台式XAFS/XES一经推出,便受到广泛的关注,其的性能,得到越来越多的用户认可。目前已安装的用户单位有:催化剂研究方向格罗宁根大学 马克思普朗克研究所 苏黎世理工大学 电池研究方向 克劳斯塔尔工业大学乌尔姆赫尔姆霍兹研究所放射性核素研究方向 谢菲尔德大学
  • 小尺度,察纹理!实验室软X射线显微和吸收光谱探索微观结构的奥秘
    众所周知,光学显微镜的分辨率即使达到波动光学理论的极限也只不过 200nm,对材料微观结构的认识还存在一定的局限。电子显微镜的点分辨率虽然可以达到 0.1nm,但考虑到电子的穿透深度较低,同时与结构原子相互作用可能引起结构的改变,难以实现蛋白质、DNA 等生物大分子的原位无损观测。近年来,基于水窗波段(2.3nm-4.4nm)的软 X 射线显微和光谱学技术的发展为土壤和生物细胞的原位分析提供了新的途径,避免了化学提取或样品处理过程产生的人为干扰。基于透射 X 射线吸收成像原理的软 X 射线显微成像技术,能够在纳米尺度的空间分辨率上获得材料的三维图像信息,实现样品的无损观测。软 X 射线吸收精细结构光谱分析能够获取样品内在元素价态及分子结构的变化信息。两种技术相结合的软 X 射线原位成像和光谱分析已成功在同步辐射光源上得以验证,并在纳米尺度上观测到土壤有机质和生物体细胞内碳元素种类的异质性分布。但同步辐射测试机时紧张,往往跟不上科研需求,极大地限制了这类表征技术在各领域的应用。鉴于此,德国 HP Spectroscopy 公司推出了实验室软 X 射线吸收精细结构光谱仪和显微成像系统。该系统采用双光路设计,核心是激光驱动气体等离子体产生的 XUV 光源,能够同时满足水窗波段的软 X 射线显微和高分辨率的 NEXAFS 表征。图1. 激光驱动等离子体 XUV 光源系统得益于水分子对水窗波段的软 X 射线的高透性,利用该系统可以原位观测一种耐辐照球菌和囊裸藻类生物的活体显微结构,如图2 所示。从显微图像可以看出,受限于生物样品的厚度,虽然这些生物体内部更详细的结构信息难以被观测到,但生物体的边界轮廓非常清晰。图2. 一种耐辐照球菌(DSM no. 20539)(左)和囊裸藻类生物(SAG 1283-11)(右)的软 X 射线显微成像图,曝光时间分别为 5 min 和 60 min与此同时,利用软 X 射线吸收精细结构光谱的元素的特异性及局域环境的敏感性,通过原位探测土壤有机质的分子结构变化,能够让我们从生命活动的产物在土壤中的滞留状态及这种状态与土壤中生命的关系重新审视土壤有机质的本质。例如,NEXAFS 光谱中脂肪族 C 峰强度的增加可能与根系沉积物的滞留有关等。图3 聚酰亚胺、腐植酸、富里酸和淋溶土的碳 K 边 NEXAFS 谱图(左)和几类有机质的碳 K 边 NEXAFS 谱图,单个光谱采集时间为2.5 min软 X 射线吸收精细结构光谱和显微成像系统——proXAS德国 HP Spectroscopy 公司采用的激光驱动等离子体产生 XUV 光,无固体碎屑产生,可满足 1-6nm 波长范围内的光谱分析及多个特征波长的单色 XUV 光发射。像差校平场光栅结构能够实现最高 400 eV 带宽的摄谱范围,元素吸收边覆盖 C、N、O 等轻元素的 K 边及 Ti、V、Mn 等过渡金属元素的 L 边。目前得到的 1-6nm 波长范围内的 NEXAFS 光谱分辨率 ≥1500。系统主要参数描述如下激光驱动XUV光源波长/能量范围1-6 nm/200-1200 eV重频20 Hz像差校正平场光栅谱仪光源光通量1E15 photons/s/sr @ 200-800 eV光谱分辨率λ/∆ λ≥1500 @ 200-1200 eV摄谱能量带宽∆ E=250-400 eV @ 200-1200 eV光谱采集时间≤5 min (100 nm有机薄膜)分析元素浓度≥0.2 wt%腔室真空度≥1E-5 mbar控制及光谱分析系统探测器类型CCD探测器探测器像素尺寸≤13.5 μm×13.5μm控制及光谱分析软件集成光谱系统控制、光谱分析及校正功能软X射线显微系统单色波长λ=2.88 nm(其他波长可定制)空间分辨率≤50 nm相关阅读利用实验室XANES改进电解催化剂使用实验室XANES优化合成气转化催化剂“足不出户,走进XAFS” proXAS高分辨实验室桌面NEXAFS谱仪助力材料化学结构表征分析太强了!看最新非扫描式桌面XAFS谱仪在催化领域出神入化的应用非扫描台式X射线吸收精细结构谱仪,加速非晶材料结构及其演化过程探索的步伐关于HP Spectroscopy德国 HP Spectroscopy 公司成立于 2012 年,致力于为全球科研及工业领域的客户定制最佳 X 射线解决方案,是全球领先的科研仪器供应商。现可提供 5-12keV 的非扫描式桌面 X 射线吸收精细结构谱仪 hiXAS,以及200-1200eV 的平场光栅软 X 射线吸收精细结构谱仪 proXAS,产品线还包括 XUV/VUV/X-ray 光谱仪,beamline 产品等。主要团队由 x 射线、光谱、光栅设计、等离子体物理、beamline 等领域的专家组成。长期与全球领先的研究机构的科学家维持紧密合作,关注前沿技术,保持产品的迭代与创新。众星联恒作为 HP Spectroscopy 中国区 XAS 系统授权总代理商,为中国客户提供所有产品的售前咨询,销售及售后服务。我司始终致力于为广大科研用户提供专业的 EUV、X 射线产品及解决方案。如果您有任何问题,欢迎联系我们进行交流和探讨。参考文献:[1] Zhe (Han) Weng, Johannes Lehmann, et al. Probing the nature of soil organic matter, Critical Reviews in Environmental Science and Technology, 52(22), 4072-4093 (2022). DOI: 10.1080/10643389.2021.1980346.[2] Jonathan Holburg, Matthias Müller, et al. High-Resolution Table-Top NEXAFS Spectroscopy, Analytical Chemistry 94 (8), 3510-3516 (2022). DOI: 10.1021/acs.analchem.1c04374.[3] Matthias Müller, Tobias Mey, et al. Table-top soft x-ray microscope using laser-induced plasma from a pulsed gas jet, Opt. Express, 22, 23489-23495 (2014). DOI: 10.1364/OE.22.023489.[4] Matthias Müller, Tobias Mey, et al. Table-top soft X-ray microscopy with a laser-induced plasma source based on a pulsed gas-jet, AIP Conf. Proc., 1764, 030003-03008 (2016). DOI: 10.1063/1.4961137.免责声明:此篇文章内容(含图片)部分来源于网络。文章引用部分版权及观点归原作者所有,北京众星联恒科技有限公司发布及转载目的在于传递更多行业资讯与网络分享。若您认为本文存在侵权之处,请联系我们,我们会在第一时间处理。如有任何疑问,欢迎您随时与我们联系。
  • 锂电正极材料新进展!台式X射线吸收精细结构谱仪easyXAFS提供关键数据支撑
    锂离子电池(LIBs)是电动汽车的主要动力来源,同时在电网储能方面显示出巨大的应用前景。然而,对于其材料的能量密度、功率和安全性等方面的研究并未得到真正的完善。近期研究表明,富锂无序岩盐(DRS)体系是非常有前途的材料之一,如富锂-过渡金属(TM)氧氟化物就表现出巨大潜力。但DRS正极材料的一个关键问题是容量衰退明显。例如电极材料和电解质之间的副反应,导致容量下降和循环过程中的结构变化;锰基尖晶石中观察到Mn从阴极溶解并随后迁移到阳极,造成容量衰退;较高的充电电压可以触发氧化还原反应形成二氧化碳,导致不可逆的O损失和降解。为了解决该问题,研究人员发现可以通过替换初始部分的过渡金属来稳定DRS氧氟相。近期,Maximilian Fichtner课题组采用机械化学球磨法合成了锰基无序岩盐氧氟化物Li2Mn1&minus xVxO2F(0≤x≤0.5)作为锂离子电池正极材料,分析了部分钒取代对样品性能的影响,重点研究了样品的电化学性能。为了确定合成材料中Mn和V的氧化状态,作者利用美国台式X射线吸收精细结构谱仪easyXAFS进行了X射线吸收光谱分析。该系统,摆脱了同步辐射光源的束缚,在实验室中提供了一套媲美同步辐射光源数据的表征技术,包括X射线吸收光谱(XAFS)和X射线发射光谱(XES),实现了对元素化学价态、局部配位结构以及自旋态的多重互补信息的获取,为阐明电化学性能的改善机理提供了关键数据支撑。图1. 美国台式X射线吸收谱仪系统easyXAFS300+ 图2a是Li2MnO2F (LMOF)和Li2Mn0.5V0.5O2F (LMVOF)的Mn K边XANES光谱,并与各种锰氧化态的标准物进行对比。从MnO金属到MnIVO2,随着氧化状态的增加,吸收边逐渐向高能量移动。两种LMOF样品(正常和高温)都接近MnIII2O3的吸收边,表明Mn的平均氧化态为3+。相反,LMVOF接近MnIIO的+2氧化态。因此,与所使用的前驱体相比,Mn氧化态未发生变化,而且热处理对氧化态无任何影响。此外,两个LMVOF样品中V K边的能量位置均位于VIII2O3和VIVO2之间,如图2b所示,V的边前锋与1s→3d转变有关,在两个LMVOF样品的边前锋不同,表明其DRS结构中六配位V-O(F)发生局部畸变,p-d轨道杂化使得1s→3d跃迁成为可能。边前峰的强度反映了偏离中心对称性的程度,在HT-LMVO中变弱的边前锋表明热处理减轻了局部畸变。如图2c所示,拟合的边前峰中心随V的氧化态增加向高能偏移,两个LMVOF都接近VIII2O3的边前锋位置,表明平均氧化态为3+。因此,从Mn和V的K 边光谱可以看出,在高能球磨过程中没有发生电荷转移,可以认为合成的化合物保持了起始前驱体的价态。图2. (a) LM(V)OF的归一化Mn K边XANES谱 (b)LMVOF的归一化V K边XANES谱。插图为边前区。(c)线性+洛伦兹基线函数的高斯峰值模型对LMVOF进行边前区拟合。V2O3、VO2和V2O5采用相同的拟合方法。 图3为测得的Mn K边X射线吸收精细结构(XAFS)光谱。如图3a所示,原始的LMOF、以及经20个循环的LMOF和HT-LMOF XANES光谱与Mn2O3的吸收边能量一致。这表明Mn3+处于放电/锂化状态,与原始LMOF(图3)和前20个循环的锰可逆的氧化还原反应类似。如图3b所示,虽然两个循环的电极都表现出比原始材料更高的振幅,但扩展边(EXAFS)数据的傅里叶变换证实了他们相同的局域配位,这表明循环后局部无序化降低。在HT-LMOF_20C中,观察到第一和第二配位壳的傅里叶变换峰振幅略高,这表明热处理减少了局部无序化现象。对第一个Mn-O/F和第二个Mn-Mn配位壳进行了壳拟合(表2)。对于HT-LMOF来说,Mn-O/F的原子间距离变大,Mn-Mn的配位键长略有增加。可以推断,热处理有助于提高球磨化合物的对称性并减少缺陷,但也可能影响结构中的局部氟化程度。图3. 原始LMOF、以及LMOF及HT LMOF 20个循环后的Mn k边XAFS光谱。(a)标准物的XANES (b) EXAFS的傅里叶变换,原始LMOF (c和d)、原始LMOF_20C (e和f)和HT-LMOF_20C (g和h) 的R空间壳层拟合;k3加权χ(k), dk = 1。 图4为放电状态下HT-LMVOF电极的V和Mn K-边XANES光谱。Mn K-边略向高能量移动,表明Mn氧化态的升高。此外,V的 K 边出现明显的吸收边偏移和显著的边前锋强度增加,表明V的平均氧化态已经从3+增加到4+。因此,经过长时间的循环,V和Mn都被轻微氧化,尤其是Mn的氧化态,这可能是受到Mn溶解的影响。图4. 放电状态下,(a) LMVOF_20C电极的V和Mn 的K边XANES光谱。 台式X射线吸收精细结构谱仪-XAFS/XES测试数据展示: XAFS for 3d-transition metalseasyXAFS硬x射线能谱仪具有宽的能量范围,可以测量从Ti到Zn的所有三维过渡金属的高质量XANES和EXAFS。这些元素在从电池到催化、环境修复等现代研究的关键领域关重要。Fe\Mn\Ni\Co\Cu XANES & XES Kβ data用easyXAFS300+测量了Fe\Mn\Ni\Co\Cu XANES 谱图及 Fe XES Kβ数据,分别提供元素价态及自旋态的数据支撑。Adv. Func. Mater. 2022, 2202372。Cu EXAFSeasyXAFS光谱仪探测了Cu K-edge X射线近边吸收谱(XANES)。实现材料元素价态及配位结构的解析对MOFs材料的性能及机理研究尤为重要。J. Am. Chem. Soc. 2022, 144, 4515&minus 4521Ni EXAFSeasyXAFS硬x射线光谱仪拥有与同步加速器匹配的高能量分辨率。实现对Ni近边区XANES和扩展边区EXAFS的高质量数据采集。J. Mater. Chem. A, 2021, 9, 14432–14443Fe EXAFS高性能Fe K-edge 扩展边到k = 14 &angst ,样品为Fe金属箔。EXAFS提供了对局部结构和配位环境的数据测量。NMC Ni K-edge高性能NMC 442和NMC 811电池电极的Ni K-edge XANES谱图。Ni K-edge位置的变化反映了不同NMC组成导致Ni氧化态的变化。J. Electrochem. Soc., 2021, 168, 050532Co K-edge Rapid XANESeasyXAFS硬x射线光谱仪能够与同步加速器匹配的能量分辨率高质量的数据收集。优异的性能可以在几分钟内实现。这使得在短时间内收集大数据集以及实时跟踪反应过程成为可能。Pr L3-edge XANESPr2O3和Pr6O11的L3边XANES数据表明对Pr氧化状态变化的敏感性。用easyXAFS300光谱仪测量。V XANES利用台式X射线吸收精细结构谱仪获得了V k边的边前及近边结构谱图,揭示了引入Al3+后,VOH的结构变化及充放电过程中的有利作用。Nano Energy, 2020, 70, 104519Cr Kα XES用easyXAFS光谱仪测量了不同氧化态的Cr Kα X射线,兼具高能量分辨率及X射线荧光的高灵敏度。Anal. Chem. 2018, 90, 11, 6587–6593V EXAFSV K-edge EXAFS显示了easyXAFS谱仪与同步辐射光源相匹配的高k值下的优异表现。Fe Oxide XANES data用easyx150光谱仪测量Fe和Fe(III) [Fe2O3]的Fe K-edge,利用XANES对氧化态差异进行表征。Ti\Mn XANES dataeasyXAFS谱仪获取Ti元素和Mn元素的价态变化,进一步验证了高价Ti离子和部分F离子替代后策略背后的作用机理。Chem. Mater. 2021, 33, 21, 8235–824Mn&Fe EXAFSeasyXAFS谱仪获取Ti元素和Mn元素的XANES和EXAFS谱图,解析化学价态及局部配位结构。Adv. Func. Mater. 2022, 2202372Fe oxide XES(low weight %)Fe Kβ 光谱测量浓度低0.25 wt. %,测量时间仅为4分钟。X射线发射谱XES非常适合于低元素浓度。XES-Se VTC 在easyXES150光谱仪上对金属Se和Na2SeO4的价带→核心的XES测量。12639 eV处出现的附加峰反映了Na2SeO4中硒价电子的价电子结构的变化,这可能是由于与氧的轨道混合所致。XES- Ni VTC用easyXAFS光谱仪测量了不同化合物的Ni Kβ XES,在高能量分辨率下,显示了对X射线荧光的灵敏度。Adv. Mater. 2021, 2101259【参考文献】[1]. Synthesis and Structure Stabilization of Disordered Rock Salt Mn/V-Based Oxyfluorides as Cathode Materials for Li-Ion Batteries. Iris Blumenhofer, Yasaman Shirazi Moghadam, Abdel El Kharbachi, Yang Hu, Kai Wang, and Maximilian Fichtner. ACS Materials Au, DOI: 10.1021/acsmaterialsau.2c00064
  • 290万!东北师范大学高分辨X射线薄膜分析仪采购项目
    1.项目编号:ZZ23632HW04310136。2.项目名称:东北师范大学物理学院高分辨X射线薄膜分析仪(进口)设备采购。3. 采购方式:公开招标。4.预算金额:39.7万欧元(人民币限额290万元)。5.采购需求:高分辨X射线薄膜分析仪;数量:1套(详见招标文件“第五章 项目需求”)。6.合同履行期限(供货期):合同签订之日起8个月内完成交付、安装及调试。7.本项目不接受联合体投标。公开招标(进口货物)-东北师范大学物理学院高分辨X射线薄膜分析仪(进口)设备采购11.13.pdf
  • 高分子表征技术专题——X射线晶体结构解析技术在高分子表征研究中的应用
    2021年,《高分子学报》邀请了国内擅长各种现代表征方法的一流高分子学者领衔撰写从基本原理出发的高分子现代表征方法综述并上线了虚拟专辑。仪器信息网在获《高分子学报》副主编胡文兵老师授权后,也将上线同名专题并转载专题文章,帮助广大研究生和年轻学者了解、学习并提升高分子表征技术。在此,向胡文兵老师和组织及参与撰写的各位专家学者表示感谢。更多专题内容详见:高分子表征技术专题高分子表征技术专题前言孔子曰:“工欲善其事,必先利其器”。 我们要做好高分子的科学研究工作,掌握基本的表征方法必不可少。每一位学者在自己的学术成长历程中,都或多或少地有幸获得过学术界前辈在实验表征方法方面的宝贵指导!随着科学技术的高速发展,传统的高分子实验表征方法及其应用也取得了长足的进步。目前,中国的高分子学术论文数已经位居世界领先地位,但国内关于高分子现代表征方法方面的系统知识介绍较为缺乏。为此,《高分子学报》主编张希教授委托副主编王笃金研究员和胡文兵教授,组织系列从基本原理出发的高分子现代表征方法综述,邀请国内擅长各种现代表征方法的一流高分子学者领衔撰写。每篇综述涵盖基本原理、实验技巧和典型应用三个方面,旨在给广大研究生和年轻学者提供做好高分子表征工作所必须掌握的基础知识训练。我们的邀请获得了本领域专家学者的热情反馈和大力支持,借此机会特表感谢!从2021年第3期开始,以上文章将陆续在《高分子学报》发表,并在网站上发布虚拟专辑,以方便大家浏览阅读. 期待这一系列的现代表征方法综述能成为高分子科学知识大厦的奠基石,支撑年轻高分子学者的茁壮成长!也期待未来有更多的学术界同行一起加入到这一工作中来.高分子表征技术的发展推动了我国高分子学科的持续进步,为提升我国高分子研究的国际地位作出了贡献. 借此虚拟专辑出版之际,让我们表达对高分子物理和表征学界的老一辈科学家的崇高敬意!X射线晶体结构解析技术在高分子表征研究中的应用X-ray Diffraction Methodology for Crystal Structure Analysis in Characterization of Polymer作者:扈健,王梦梵,吴婧华作者机构:青岛科技大学 教育部/山东橡塑重点实验室,青岛,266042 北京化工大学 碳纤维及复合材料教育部重点实验室,北京,100029作者简介:扈健,男,1986年生. 2013~2016年在日本丰田工业大学获得工学博士学位;2016~2019年于青岛科技大学从事博士后研究;2019年任青岛科技大学高分子科学与工程学院特聘副教授. 主要利用广角和小角X射线散射,振动光谱等技术,从事结晶高分子各级结构表征、相变行为以及结构-性能关系的研究. 扈健,男,1986年生. 2013~2016年在日本丰田工业大学获得工学博士学位;2016~2019年于青岛科技大学从事博士后研究;2019年任青岛科技大学高分子科学与工程学院特聘副教授. 主要利用广角和小角X射线散射,振动光谱等技术,从事结晶高分子各级结构表征、相变行为以及结构-性能关系的研究.摘要高分子材料结构具有多尺度的复杂性,解析高分子材料各级微观结构并建立结构与性能之间的关系是高分子研究领域的重要目标和挑战. 对结晶性高分子而言,第一步工作就是对其晶体结构进行表征和解析,X射线衍射法是高分子晶体结构解析中最经典也是最常用的方法. 本文主要介绍X射线衍射等技术在高分子晶体解析中的基本原理和测试表征方法,总结概述近些年来晶体结构解析在高分子领域内的主要进展以及应用. 通过晶体结构解析的方法建立可靠的高分子晶体结构,不仅可以应用于新合成结晶高分子结构的解析,也可以进一步研究高分子各级结构在外场作用下的演变,探明微观结构与宏观性能之间的关系.AbstractBecause of complicated multi-scale structure for the polymer material, studying microscopic structure of polymer and clarifying the relationship between structure and physical property are the major goal and challenge in the polymer science. For the crystalline polymer, crystal structure should be analyzed and established at first. X-ray diffraction is the most classical and conventional method for the crystal structure analysis in polymers, which gives the detailed information of molecular chain conformation, chain aggregation in the crystal lattice. This article reviews the main principles and experimental techniques of X-ray diffraction methodology, and also summarizes the progress and application in the polymer field over the past decade. By utilizing X-ray diffraction method, the crystal structure of newly synthesized crystalline polymers can be analyzed, which may help us recognize crystal phase transition and hierarchical structure evolution by the external force, and also study towards the microscopic clarification of structure-property relationship. By combining other techniques such as neutron scattering, electron diffraction, nuclear magnetic resonance, vibrational spectroscopy and computer simulation, the crystal structure of polymers with higher reliability can be established, leading us to the highly quantitative discussion from the molecular level. For this purpose, the study of polymer crystal structure is still on the way, and the contents may be helpful for the beginners and researchers.关键词结晶性高分子  晶体结构  X射线衍射  结构与性能KeywordsCrystalline polymer  Crystal structure  X-ray diffraction method  Structure and property 目前已知的高分子中,大约70%的都是结晶性高分子,它们在日常生活和高端领域有着大量的应用. 结晶性高分子受分子链结构不规整、链缠结和链间相互作用等效应的影响,很难像小分子一样完全结晶,通常也被称作半结晶性高分子[1-3]. 高分子结构具有多尺度复杂性,其各级结构通常包括聚合物链结构、晶体(胞)结构、晶胞堆砌结构、晶区与非晶区堆砌结构以及球晶中片晶结构等,各级结构都有可能影响着高分子相态及形貌,进而影响高分子材料的性能. 而其中,晶体结构的确定是研究结晶性高分子的基础,所以建立高质量的结晶性高分子的晶体结构是非常必要的[4,5].近几十年来,随着各类表征技术和计算机模拟等领域的快速发展,大量的高分子晶体结构被建立或者修正. 确定结晶性高分子在单元晶胞基础上的晶体结构信息,最传统和经典的方法是广角X射线衍射法,并且结合红外光谱、拉曼光谱、核磁共振谱、中子散射以及高分辨电子衍射等技术能够得到更为准确的晶体结构. 这些技术的进步和运用不仅有助于分析聚合物的晶体结构,而且也提供了新方法去研究更为复杂的高分子材料. 基于晶体结构的建立,我们可以研究高分子的各级结构以及在外场作用下各种相态之间的演变规律,对阐明聚合物材料微观结构与物理性能之间的关系都具有重要意义[6,7].1高分子X射线晶体结构解析法X射线是一种波长为埃(1 Å = 10-10 m)级的电磁波,由于其波长的数量级与晶体点阵中原子间距一致,晶体点阵可以成为X射线发生衍射效应的光栅,而衍射图会随晶体点阵的变化而变化,因此X射线适用于晶体结构解析. 从20世纪30年代开始,X射线衍射法对聚合物科学领域的发展就起到了重要的作用,例如通过X射线衍射方法确定了各类合成或天然高分子的纤维周期均为几个Å到几十个Å,这也证明了一根聚合物分子链可以贯穿多个晶胞. 随着近几十年同步辐射技术的应用,拓宽了X射线的波长范围,更短的波长可以使我们获得更多倒易空间的坐标信息,灵敏度更高的探测器可以帮助我们更细致观测相变的动力学以及其他行为. 另外,通过分子模拟软件进行数据分析,建立模型以及能量最小化等已经普遍用于X射线衍射法解析或精修晶体结构. 1.1X射线衍射法基本原理解析晶体结构的衍射原理和方法学主要是20世纪初期建立的,包括布拉格定律、晶体学对称、群论以及从实空间到倒易空间的傅里叶变换等等. 很多书籍对这些方法都有着详尽的描述,这里对几个重要的概念和原理进行简要的概述[8~11].1.1.1Bragg和Polanyi公式Bragg公式:如图1所示,当一束单色X射线非垂直入射晶体后,从晶体中的原子散射出的X射线在一定条件下彼此会发生干涉, 满足下列方程:其中λ为入射光波长,d为晶面间距,θ为入射光与晶面的夹角.Fig. 1Bragg' s condition.Polanyi公式: 如图2(a)所示,当一束波长为λ的X射线垂直入射在一维线性点阵时(例如单轴取向的纤维样品),其等同周期为I, 当满足Polanyi方程公式时,散射出的X射线间会产生强烈的衍射:其中Φm为第m层衍射的仰角. 结晶高分子中分子链排列时以相同结构单元重复出现的周期长度被称为等同周期(identity period)或者纤维周期(fiber period),图2(b)为全同聚丁烯-1的(3/1)螺旋构象,可以利用Polanyi公式从二维X射线纤维图中计算等同周期.Fig. 2(a) Polanyi' s condition (b) Identity period ofit-PB-1.1.1.2倒易空间倒易点阵是根据晶体结构的周期性抽象出来的三维空间坐标,是一种简单实用的数学工具来描述晶体衍射,X射线衍射的图样实际上是晶体倒易点阵的对应而不是正点阵的直接映像. 正点阵与倒易点阵是互易的,倒易晶格中越大的晶面指数(hkl),在实晶格中就对应越小的晶面间距. 如图3(a)所示,假设晶体点阵中的单位矢量为a1,a2和a3,和它对应的倒易点阵的单位矢量为a1*,a2*和a3*,其关系如下式:其中晶胞体积V=a1 × ( a2 × a3),a1*垂直于a2和a3,a2*垂直于a1和a3,a3*垂直于a1和a2,其长度是相应晶面间距的倒数的向量.Fig. 3(a) Relationship between real space and reciprocal space (b) Reciprocal lattice and vector.倒易晶格中的任一点称作倒易点,倒易点阵的阵点与晶体学平面的矢量相关,每一组晶面(hkl)都对应一个倒易点. 从倒易空间原点指向倒易点的矢量被称为倒易矢量Hhkl,如图3(b)所示,其关系如下:其中指标(h,k,l)就是实空间中的晶面指数,h,k,l均为整数. 倒易矢量Hhkl垂直于正点阵中的(hkl)晶面,并且矢量的长度等于其对应晶面间距的倒数|Hhkl|=1/dhkl.1.1.3Ewald球Bragg方程指出,当散射矢量等于某倒易点阵矢量时就具备发生衍射的基础,如果把Bragg方程进行变形可得到公式(5):以1/λ为半径画一个球面,C点为圆心,CP为散射X射线,球面与O点相切,只要倒易点阵与球面相交就可以满足Bragg方程而发生衍射现象,这个反射球就被称为Ewald球,如图4所示.Fig. 4Relationship between Ewald sphere of radius 1/λ and reciprocal lattice. 根据图中的几何关系OP = 1/d,假设O点为倒易空间原点,OP即为倒易散射矢量,P点与倒易空间点阵的交点即为(hkl)晶面指数. 转动晶体的同时倒易点阵亦发生转动,从而会使不同的倒易点与Ewald球的表面相交. Ewald球直径的大小与X射线波长成反比,衍射点数量取决于Ewald球与倒易空间的交点的数目,实验可探测衍射的最小d值取决于Ewald球的直径2/λ,在实际测试中,可以减小入射光波长以增加可观测的衍射点数量.如图5所示,对于单轴取向的样品,拉伸方向平行于c轴方向,而a轴和b轴仍然是随机取向,所以倒易空间的(hkl)点呈同心圆分布,这一系列同心圆与Ewald反射球的交点就构成了一系列的hk0,hk1,hk2… hkl的倒易格子的平面. 通常定义(hk0)层为赤道线方向,沿拉伸方向的(00l)为子午线方向.Fig. 5The relationship among Ewald sphere, circular distribution of reciprocal lattice points and a diffraction pattern on a flat photographic film.1.1.4X射线衍射强度X射线的衍射强度Intensity公式如下:其中K是比例因子,m是多重性因子,p为极化因子,L是Lorentz因子,A是吸光因子,F为结构因子. 其中需要强调的是结构因子F,它是由晶体结构决定的,和晶胞中原子的种类和位置相关.如图6所示,一束平行X射线经过电子A和B分别发生散射,假设A到B的距离为r,S0和S分别为入射和散射单位矢量,其光程差为:其中b即为散射矢量,与图4中OP矢量一致.Fig. 6Sketch of classic scattering experiment.一个原子中的核外电子云呈球形分布,对环绕中心的所有可能实空间矢量的干涉进行积分可以得到一个原子周围的电子产生的相干散射:这个公式就是ρ(r)的傅里叶变换,其中ρ(r)是原子的散射因子.晶体中原子的周期排列决定了晶体中的一切都是周期的,相当于一种周期函数,这种周期函数的实质就是晶胞中的电子密度分布函数,倒易晶格就是实晶格的傅里叶变换. 晶格对X射线的散射为晶格中每个原子散射的加和,每个原子的散射强度是其位置的函数,加和前必须考虑每个原子相对于原点的位相差.r为实空间中的原子位置矢量,设r = xna1 + yna2 + zna3,b为倒易空间的倒易矢量,b = Hhkl = ha1* + ka2* + la3*,根据倒易空间的性质可以得出公式:通过此公式可以看出结构因子和原子坐标位置相关,这也就决定了系统消光现象,也就是说在不同晶系中不是所有衍射点都会出现,可以通过计算结构因子来判断.另外由于衍射强度正比于|Funit cell|2,在晶体计算过程中,衍射峰的绝对强度意义不大,但是衍射峰的相对强度对最后晶体结构的确定影响很大.1.1.5分子链排列方式和空间群一根分子链一般包含内旋转相互作用、非键接原子间相互作用、静电作用、键长伸缩和键角变形作用以及氢键作用等. 在晶格中分子链排列大多遵循2个原则:最稳定的空间螺旋构象以及最密堆砌.晶体学中的空间群是三维周期性的晶体变换成它自身的对称操作(平移,点操作以及这两者的组合)的集合,一共有230种空间群. 空间群是点阵、平移群(滑移面和螺旋轴)和点群的组合. 230个空间群是由14个Bravais点阵与32个晶体点群系统组合而成[12].我们挑选比较简单的空间群操作进行比较直观的说明,如图7所示,若一个右旋向上的分子链(图7(a)中Ru),通过以箭头方向为旋转轴做180°转动,可以得到右旋向下的分子链(图7(a)中Rd),如果空间中只有这一种对称操作,那么这种空间为P2;又若Ru分子链通过镜面对称操作可以得到左旋向上的分子链(图7(b)中Lu),如果空间中只有这一种对称操作,那么这种空间为Pm;若空间群中同时包含以上2种对称操作,且镜面法线方向与对称轴垂直,也就是说在此晶胞内就同时存在右旋向上Ru,右旋向下Rd,左旋向上Lu,左旋向下Ld 4种分子链构象,那么这种空间群为 P2/m,如图7(c)所示.Fig. 7Introduction of different operation in the space group.1.2其他方法简介1.2.1振动光谱法振动光谱法通常包括红外及拉曼光谱,其可以提供分子链构象,晶体对称性等信息[8]. 虽然通过X射线衍射法进行晶体结构解析时可以得到晶区高分子链的构象信息,但无法获知分子间作用力的信息,而有时分子间作用力在晶体结构的形成起到很重要的作用.1.2.2中子衍射法X射线衍射是X射线与电子相互作用,它在不同原子上的散射强度与原子序数成正比,对高分子而言通常都给出主链的信息,而中子衍射法是中子与原子核相互作用,其衍射强度随原子序数的增加不会有序的增大,主要与原子的种类有关,因此中子衍射法可以确定晶体结构中轻元素的位置. 很多力学性能的各向异性通常受侧链的氢原子影响很大,结合X射线衍射和中子衍射法能得到更为准确的晶体结构[13,14].1.2.3电子衍射法电子衍射法可以给出聚合物单晶的形貌信息并且可以得到相应电子衍射图进行结构分析[15]. 但是通常电子衍射法得到衍射点数量较少,而且容易产生次级衍射,样品容易被电子束破坏.1.2.4固体核磁共振谱法固体NMR适用于解析固态高聚物的本体结构、链构象、结晶、相容性以及分子动力学等[16,17]. 谱峰的化学位移(chemical shift)是固体核磁波谱的主要信息,它依赖于分子的局部电子云环境. 电子云结构对分子构象的变化非常灵敏,是研究多晶型的重要依据. 但固体核磁法很难给出晶体的直接结构,常作为X射线衍射法的补充.2X射线衍射测试方法及技巧对于聚合物而言很难培养出0.1 mm以上的单晶,所以测试大多数采用的都是多晶样品. 相较于小分子和低分子量的化合物而言,高分子结晶区的尺寸通常只有几百个Å,晶格内分子链排列不完善,衍射点的数量较少并且衍射点尺寸较宽,大角度范围衍射点强度衰减非常严重,要得到高质量的数据和非常可信的结构解析结果是比较困难的,从样品制备到测试以及后续分析的每一个环节都需要仔细的处理.图8为X射线衍射法解析高分子晶体结构的具体步骤.Fig. 8Schematic illustration of crystal structure analysis of polymer by X-ray diffraction method.2.1样品制备对于X射线衍射法解析晶体结构而言,非取向的样品有很多衍射峰是重合的,不利于进行结构分析,所以要想得到尽可能多的衍射点,最主要的就是制备尽可能高取向度和高结晶度的且具有单一晶型的样品. 下面给出了几种不同制样方法.2.1.1单轴取向样品通常利用高分子粉末或粒料样品,将其在溶液溶解后浇铸成膜或者熔融温度以上热压成膜. 所得到的高分子膜可以再通过加热熔融后淬冷到冰水或者液氮中,会得到有利于进行后续的拉伸的完全非晶或者低结晶度的样品. 而后利用单轴拉伸仪将薄膜或者纤维牵伸至最大倍数,最后将拉伸的样品在适当温度退火处理,以达到最大结晶度. 在此过程中为了防止样品回缩,样品两端始终要处于固定或者夹紧的状态. 另外, 高分子在不同的制样条件下可能得到不同晶型的样品,因此在制样之前要掌握高分子不同晶型的制备条件,避免得到不同晶型共存的样品. 例如聚乳酸在高温(120 °C)结晶会得到α相,在100 °C以下结晶会得到δ(α' )相[18]. 全同聚丁烯-1在熔融温度附近拉伸可以得到晶型Ⅱ,室温拉伸得到晶型I[19].2.1.2双重取向样品图9所示的是制备双重取向样品的方法,首先对聚合物样品进行单轴拉伸,然后将拉伸后的样品利用双辊挤压的方法可以得到双重取向的样品,如果把样品切成一个小方块,可以从3个方向进行测试,可将其分别定义为through,edge和end方向.图10所示为无规聚乙烯醇(at-PVA)的单轴取向和双重取向样品的二维广角X射线衍射图[20]. 对单轴拉伸的无规聚乙烯醇样品进行双辊挤压后,如图10(b)所示,可以看到through和edge方向的二维衍射图,和单轴取向的二维图比较相似,但是through方向的(11¯1)晶面信息在edge方向就几乎消失[20]. 这里面比较重要的是end方向的衍射图,因为对于单轴取向的样品而言,从end方向观测通常得到的是非取向的衍射环. 而利用双重取向法,可以使a轴和b轴分别取向,如果X射线的入射方向沿着c轴也就是分子链的方向,从end方向就可以得到不同的a轴和b轴方向上的信息,对其指标化后可以确定相应的晶胞参数,利用此方法也可以从end方向原位观测结构演变的信息.Fig. 9Method of doubly-oriented sample.Fig. 10X-ray diffraction patterns ofat-PVA sample for the (a) uniaxially-oriented and (b) doubly-oriented sample (Reprinted with permission from Ref.[20] Copyright (2020) American Chemical Society).另外,在实际操作中,有时实验室合成的聚合物的量较少,大家也常采用剪切[21~25]、熔体拉伸以及浓溶液拔丝[26,27]的方法. 根据不同高分子的特点,还可以利用凝胶拉伸法[28~30]以及电磁场取向[31,32]等方法,得到高取向度的样品用于晶体结构解析.2.2二维广角X射线衍射图的数据采集2.2.1光源的选择实验室常用的金属靶材料为波长1.54 Å铜靶(Cu)和波长为0.71 Å钼靶(Mo),根据布拉格公式可知,利用波长小的靶材,有利于得到更多的布拉格衍射峰的数目. 与实验室光源相比,同步辐射光源强且准直性好,并且由于同步辐射光源波长能够实现连续可调,可根据测试需求选择最优波长.图11分别选用同步辐射光源和钼靶X射线衍射图进行对比,当选择波长为0.3282 Å的同步辐射光源时,可以得到接近700个衍射点,这种高质量的数据对得到高可信赖度的晶体结构非常重要[33].Fig. 112D-WAXD patterns ofα crystal form of PLLA measuring with different incident λ (Reprinted with permission from Ref.[ 33] Copyright (2011) American Chemical Society).2.2.2探测器的选择根据衍射谱图的维度区分,可以将X射线探测器分为零维,一维和二维三类探测器. 在进行晶体结构测试时选择圆筒形成像板(image plate)的二维探测器较多,其适合做静态结构测试,像素点尺寸100 μm × 100 μm,特点是尺寸大,采集信号范围广,缺点是测试耗时比较长. 目前普遍流行的硅元素阵列二维探测器(Pilatus),其特点是采集数据速度快,对原位测试时间分辨的结晶和相变行为非常有效,但是由于其像素点尺寸(172 μm × 172 μm)偏大,探测器分段等制约因素,不适用于做高分子晶体结构分析的研究.在实际测试过程中,为了得到高质量的衍射点,通常在测试时对样品使用低温氮气进行持续冷却吹扫,这是因为低温可以抑制晶格内原子振动,使晶体结构更趋于完善.2.3高分子晶体结构解析2.3.1计算纤维周期通常定义c轴是沿着链轴方向,计算纤维周期I也就确定了c轴信息.图12(b)和12(d)为分别利用Rigaku公司的X射线衍射仪(Rapid II)的圆筒成像板(image plate)和Xenocs公司的X射线衍射仪(Xeuss 2.0)的平板探测器(Pilatus 300K)得到的高取向聚乙烯的二维X射线衍射图. 我们利用国内实验室常用的平板探测器为例来计算聚乙烯的晶胞参数等信息,测试的曝光时间为1 h,Pilatus 300K的像素点尺寸为0.172 mm × 0.172 mm,测试中相机距离R=127.1 mm,光源是铜靶(λ=1.54189 Å),ϕ为衍射的仰角,根据图12(a)以及12(c)的示意图可以得到下面的公式:Fig. 12(a) Schemes of the X-ray fiber diffraction patterns recorded on a cylindrical photographic film (b) 2D-WAXD pattern of polyethylene by imaging plate (c) Schemes of the X-ray fiber diffraction patterns recorded on a flat photographic film (d) 2D-WAXD pattern of polyethylene by Pilatus 300K.ym为第m层层线到赤道线的距离,R为样品到探测器的距离. 如图12(c)所示,根据平面探测器的特点,找到第一层所有衍射点中心位置连成一条双曲线,读出双曲线最低点的坐标位置,计算到中心点的实际距离,确定第一层到中心点y1值. 结合Polanyi公式,可以计算出聚乙烯的纤维周期I= 2.54 Å. 如果有更多的层能被观测到,我们需要对所有层到赤道线计算出来纤维周期求平均值. 对于聚乙烯,其分子链结构为平面锯齿型,C ― C键长为1.54 Å,键角大约109.5°,通过计算得到的I= 2Rsin(φ/2) = 2.52 Å,与X射线法计算的等同周期结果相一致.2.3.2确定晶系和计算晶胞参数从平面探测器得到二维数据后,读出所有衍射峰坐标,然后把平面直角坐标系(x,y)的衍射峰坐标转换为倒易空间下的柱面坐标系(ξ,ζ). 其(ξ,ζ)与倒易矢量以及(x,y)的空间关系如图13所示.Fig. 13(a) Cylindrical coordinates of reciprocal lattice (b) Relation between cylindrical coordinates (ξ,ζ) and rectangular coordinates (x,y).对于平面探测器其转换关系如下:其中D为样品到探测器的距离,λ为入射X射线的波长.对于圆筒形成像板,可利用下面的公式进行转换:其中R为圆筒成像板的半径.图12(d)中一共有16个衍射峰,每一个二维图的峰位置(x,y)即对应一个ξ值,赤道线和第一层总共对应8个ξ值,其值根据公式(11)转换后如表1所示.如图14所示,分别在L0和L1层建立的坐标系下以ξ值为半径画圆. 这时我们需要寻找合适的晶胞参数在倒易空间坐标系下进行标定,以保证所有的倒易晶格都与以ξ为半径的圆有交点. 一般采用尝试法,其原则是从简单晶系比如正交或者四方晶系开始寻找,从数值较小的晶面开始尝试,要保证所有层的所有倒易晶格都能落在圆周上,然后对其衍射峰进行指标化. 确定晶系后,我们可以利用不同的晶面信息分别计算a和b值,以及α,β和γ等晶胞参数的信息. 最后得到聚乙烯属于正交晶系,晶胞参数为a=7.44 Å,b=4.95 Å,c=2.54 Å.Fig. 14Reciprocal lattice and indexing of reflections for the equatorial and first layers of PE.2.3.3估算晶胞内分子链的数量其中ρ为晶体密度,M为重复单元相对分子质量,V为晶胞体积. 对聚乙烯来说,其所属晶系为正交晶系,重复单元分子摩尔质量M= CH2=14 g/mol,晶胞体积V=a×b×c= 7.44 × 4.95 ×2.54 = 93.543 Å3. 实验测得的晶体密度ρ= 0.98 g/cm3,所以晶胞内的分子链个数为Z=ρVNA/M= 3.93,Z取整数,大约4根分子链在一个晶胞内.2.3.4晶体对称性的消光法则计算由前面可知X射线衍射的强度跟结构因子|Funit cell|2成正比,可以利用公式(14)进行计算. 例如聚乙烯为平面锯齿链结构,c轴方向为二重螺旋轴,2个碳原子C1和C2的坐标分别为(x,y,z)和(-x, -y,z+0.5),如图15所示,对于00l层的衍射,根据公式(9)可以得到下式:Fig. 152-screw axis of zigzag chain.当l为偶数的时候,Funit cell≠0;当l为奇数的时候,Funit cell=0,所以根据消光法则,晶面(001),(003)… 层的衍射观测不到.2.3.5计算模拟(Cerius 2)借助计算机强大的图形处理功能,可以对X射线衍射,电子衍射以及中子衍射等数据进行模拟计算,直观地在三维空间观测分子的结构特征, 我们主要通过软件Cerius 2的Crystal Builder (晶体建立模块)进行模拟计算,通过实验数据和模拟的结构模型对比确定晶体结构[34]. 进行能量最小化用到的力场模型通常选用COMPASS力场,模型的构建采用了全原子模型,能够模拟出更准确的高分子的结构与性质.图16(a)和16(b)分别是全同聚丁烯-1晶型I的二维X射线衍射图和利用晶体结构模型计算模拟得到的二维X射线衍射图[19].Fig. 162-Dimensional X-ray diffraction pattern of orientedit-PB-1 form I sample taken at room temperature: (a) the observed data and (b) the calculated diagram using the crystal structure (Reprinted with permission from Ref.[19] Copyright (2016) American Chemical Society).一般的操作步骤是,首先输入分子结构的重复单元,输入计算得到晶胞参数信息,利用COMPASS力场进行能量最小化. 找出尽可能多的候选空间群,计算稳定的分子结构,对所有可能的候选模型与实验数据进行对比.图17(A)就是对全同聚丁烯-1的晶型I提出的所有可能候选空间群. 把二维衍射图转换成一维数据,需要从赤道线开始,对每一层的衍射点进行逐层积分,与模拟所得的一维衍射数据进行对比,模拟的数据要尽可能真实地反映实测数据,以保证所有层的衍射峰的峰位置与峰相对强度一致,从而确定最佳的候选空间群.图17(B)为全同聚丁烯-1晶型I的不同计算机模拟和实验数据的一维积分曲线对比图. 最后通过调整相关参数使体系能量最小化,得到最稳定的晶体结构模型.Fig. 17(A) Various possibilities of the crystal structure model ofit-PB-1 form I (B) Comparison of the observed X-ray layer line profiles ofit-PB-1 crystal form I with those calculated for the three possible space groups (Reprinted with permission from Ref.[19] Copyright (2016) American Chemical Society).其他如Materials studio软件中的也包含COMPASS Ⅱ,Forcite Plus(各种通用力场)等模块,可以对建立的晶体结构进行弹性力常数,晶格能等物理性质的计算和预测,也可以进行动力学模拟研究动态过程.2.3.6可信赖因子把X射线衍射数据得到的所有衍射峰积分强度和确定的模型计算得到的衍射峰强度按公式(15)进行计算,求出可信赖因子R. 对单晶结构来说,R 0.05,如果 R值是0.1左右,说明得到的高分子晶体结构非常好,如果R 0.2,得到的晶体结构被认为是可以接受的模型. 2.3.7输出最终结构图18是全同聚丁烯-1晶型I的最终晶体结构模型,分别对应a轴和b轴,以及a轴和c轴方向示意图[19]. 晶体结构模型确定后,可以输出每一个晶面对应的(hkl)值,晶面间距,实验和模拟的强度对比值以及原子分数坐标等信息.Fig. 18Crystal structure ofit-PB-1 form I (Reprinted with permission from Ref.[19] Copyright (2016) American Chemical Society).3典型进展和应用近些年来大量的高分子晶体结构被建立或者精修. 下面概述近些年来,主要通过X射线衍射法建立的晶体结构在高分子表征领域内的进展和典型应用.3.1晶体结构解析在高分子复合体中的应用通常情况下,大多研究单一组分高分子样品的结晶行为以及结构分析. 但高分子领域也存在大量的共结晶现象,例如高分子立构复合体[35~44]、高分子与多碘离子[20, 45~50]形成的复合体等,在这些情况下,晶体结构解析会变得相对复杂.以高分子-多碘复合体为例,诸多高分子都可以与多碘离子形成复合体,最具代表性的包括淀粉-碘复合体及聚乙烯醇(PVA)-碘复合体等. 高分子碘复合体赋予了高分子诸多新的特性,例如导电性、光学特性和抗菌性等. 这些特性与复合体的晶态结构密切相关,而相关的研究至今也已经持续了近百年.高分子碘复合体的晶体结构解析与纯结晶高分子体系有所不同,因为碘原子相对于碳原子有较大的质量,从而碘原子的X射线原子散射系数远远大于碳原子,因此在二维X射线衍射图中一般只能观测到由于多碘离子在空间有序排列而出现的衍射点,而高分子主链部分的衍射信息则无法或极难观测到. 如图19所示,图19(a)为PVA单轴取向纤维的二维X射线衍射图,图19(b)~19(e)分别为PVA在不同浓度的碘溶液中浸泡不同时间后所形成的PVA-碘复合体二维X射线衍射图,可以看出,随碘溶液浓度的升高与浸泡时间的延长(即:随PVA样品中碘离子浓度的升高),PVA晶体的X射线衍射点逐渐变弱(绿色箭头所示),而PVA碘复合体结晶的衍射则逐渐变强[45]. 在此需要再次申明,PVA碘复合体X射线衍射图中的衍射强度主要由碘离子提供.Fig. 192D X-ray diffraction patterns measured for the uniaxially oriented PVA samples dipped in the KI/I2 solutions with different concentrations for the different time. The vertical direction is parallel to the drawn direction. (Reprinted with permission from Ref.[45] Copyright (2015) American Chemical Society).在进行结构分析之前,需要注意到在图19中衍射图的子午方向上出现很强的平行横向条纹(streak line),这种情况是由于柱状碘离子沿取向轴方向的排列高度是随机的,以图20说明,图20(a)为单独多碘离子模型的计算X射线衍射图,图20(b)为多碘离子平行但高度随机分布的计算X射线衍射图,图20(c)为PVA-多碘离子复合体样品测试所得X射线衍射图,可以看出,计算与实际测试所得的X射线衍射图具有很好的对应性,均表现为沿子午线方向的平行横向条纹衍射,说明在复合体中多碘离子沿取方向排布具有随机性.Fig. 20Simulation of X-ray diffuse scatterings observed for PVA-iodine complex: (a) isolated I3-, (b) randomly arrayed I3- ions, and (c) actually observed pattern (Reprinted with permission from Ref.[45] Copyright (2015) American Chemical Society).通过X射线研究结晶结构完全依赖于衍射信号,因此通过高分子-碘复合体的X射线衍射图只能确定碘离子的空间位置,但很难确定高分子链的排布,这也为高分子-多碘复合体的结构解析造成了一定的困难. 这种情况下,我们需要首先建立高分子基体的结晶模型,而后结合多碘离子的空间排布对复合体进行结构分析,从而建立复合体的结构模型,如图21所示.图21(a)为PVA结构模型,图21(b)为PVA多碘复合体结构模型.Fig. 21Crystal structures of (a) the original PVA and (b) the complex II. The large circles (purple color) are iodine atoms. The smaller circles (green color) are potassium atoms (Reprinted with permission from Ref.[45] Copyright (2015) American Chemical Society).进一步确认PVA与PVA-碘复合体晶体结构的空间关系,采用X射线垂直于分子链方向入射模式(end-pattern)进行研究,结果如图22所示,PVA碘复合体与PVA晶体中PVA分子链具有不同的空间排布模式. 以此上结果为根据,我们可以建立PVA与PVA碘复合体结构的关联性,这也可以为进一步分析复合体的形成过程提供理论支撑.Fig. 22Spatial relation of the crystal orientation between PVA and complex II derived from the X-ray end pattern (Reprinted with permission from Ref.[45] Copyright (2015) American Chemical Society).又如聚乳酸立构复合体的研究,在对其进行结构分析时,既要考虑PLLA与PDLA分子链的空间排布位置,也需要考虑2种分子链的相对比例,因为在2种分子链不同比例的情况下也可以形成同样结构的复合体晶体. Tashiro等[44]在前人工作的基础上,进一步研究了PLA立构复合体的晶体结构,提出了全新的PLLA和PDLA在立构复合体晶体中的随机排列模型(Random Packing Model),如图23所示,并以此来解释当 PLLA与PDLA分子链不等量时也能形成立构复合体的问题.Fig. 23The random packing model of R and L chain stems within PLLA/PDLA stereocomplex (Reprinted with permission from Ref.[42] Copyright (2017) American Chemical Society).3.2在高分子材料极限力学性能预测方面的应用结晶高分子材料的表观力学性能往往与其结晶区的力学性能直接相关,也就是说随着结晶度的提高,高分子的力学性能也会随之增强. 而现如今绝大多数高分子材料的极限力学性能尚没有被真正地发挥出来,究其原因,一方面我们对于高分子材料认知以及其制备手段仍需进一步发展,另一方面我们也需要对高分子的极限力学性能进行预测以指导高分子材料产品的发展方向.取向高分子的受力过程可以简化为沿高分子链方向上的受力,因此高分子链的组成与构型构象会直接影响高分子的力学性能[51~56]. 以PLLA的α相为例,通过计算,其分子链在受力过程中主要发生主链沿轴向的扭转[52]. 高分子链的在晶格中的形态也是结晶结构解析中必不可少的信息. 因此在结晶结构解析成功建立的同时,如图24所示,可以使用得到的分子链结构此对晶体的力学性能进行预测.Fig. 24Molecular deformation calculated for PLLAα form chain subjected to a hypothetically large tensile force of 30 GPa (Reprinted with permission from Ref.[52] Copyright (2012) American Chemical Society).计算过程一般为:首先通过计算所得分子链在晶胞中的形态,进而计算出弹性常数张量矩阵(elastic constants tensor matrix)及柔度张量矩阵 (compliance tensor matrix) (图25),基于这2个矩阵通过进一步的计算可以得到高分子链在垂直分子链主轴平面方向上的理论杨氏模量以及线性压缩率(linear compressibility),如图26中所示为计算所得聚甲醛(POM)与PLLAα相的理论杨氏模量以及线性压缩率[46]. 以此,可以建立结晶性高分子材料的结构与力学性能之间的关系.Fig. 25Elastic constants tensor matrix and compliance tensor matrix of PLLAα form.Fig. 26Comparison in the calculated anisotropy of Young' s modulus and linear compressibility in the plane perpendicular to the chain axis among the PLLAα and δ forms and polyoxymethylene (POM) crystal (Reprinted with permission from Ref.[52] Copyright (2015) American Chemical Society).Tasaki等[54~56]研究了一系列不同亚甲基序列芳香族聚酯,发现链构象在偶数和奇数序列中有非常大的区别,如图27(a)和27(b)所示.图27(c)说明随着―CH2序列的增加,重复周期也随之呈线性增加,亚甲基序列长度可以对聚酯杨氏模量进行调控,亚甲基单元为5~6时,其杨氏模量达到最小值. 这一理论计算结果与使用X射线测试所得的杨氏模量值具有高度的吻合性,如图27(d)所示.Fig. 27Chain conformation with different mGTs (a) odd number (b) even number (c) repeating period of mGT on the number of methylene units m, and (d) comparation of the crystalline Young' s modulusEc of arylate polyester chains on the number of methylene segmental units by X-ray observed values and calculated values (Reprinted with permission from Ref.[56] Copyright (2014) Elsevier Ltd.).3.3高分子在外场作用下结构转变解析中的应用很多半结晶性高分子在外场作用下会发生结晶结构的转变,对于相转变过程中的结构演变研究是相变研究的基础和难点. 借助于晶体结构解析技术可以对相变过程进行预测.例如Tashiro等[19]分别对全同聚丁烯-1晶型Ⅱ和晶型I分别进行了晶体结构的精修,通过对2种晶型的所有空间群和衍射数据进行对比,发现P3¯低对称性空间群比高对称性R3c 空间群更适合晶型I,而晶型Ⅱ的空间群为P4b¯2,在2种结构中,向上的链和向下的链都是统计学上各有50%几率分布在晶胞内, 晶型I如图18所示. 随后通过电子衍射原位研究晶型Ⅱ到I的固-固转变过程,发现两相共有(110)晶面,相邻分子链会在转变中向相反方向移动,类似一种soft mode的转变模式,如图28所示,晶型Ⅱ晶格内相邻的分子链可以通过向相反的方向移动,最终在新的位置稳定,最终转换为晶型I. 以上相变过程的机理分析都是在基于it-PB-1晶体结构解析的基础上.Fig. 28Concrete structural change in the phase transition from form II to form I ofit-PB-1. In the route (a) the (11/3) helical conformation is kept up to the stage of the formation of hexagonally packed structure as a transient state. (Reprinted with permission from Ref.[19] Copyright (2016) American Chemical Society).又如聚乳酸存在α相、δ(α' )相、β相及γ相,围绕这些晶态结构的研究也一直是PLA研究中最重要的一环[18,33, 57~60]. 除γ相一般是由外延生长结晶法(epitaxial crystallization)得到外,其他几种晶相都是与通用PLA密切相关的. 随测试手段的不断进步,α相、δ(α' )相、β相的晶体结构的迷雾逐渐被揭开,从而为α→δ(α' )→β相的相转变及PLA立构复合体形成的研究提供了理论支持. Wasanasuk等[33,52,58,59]在一系列工作中利用同步辐射X射线及中子散射装置深入解析了α及δ(α' )相的晶体结构,如图29所示,其中PLA分子链在α相中以这一种准有序的(10/3)螺旋构象状态排列在晶胞单元中,而在δ(α' )中的(10/3)螺旋构象则更加无序. 而后,Wang等[60]对PLA的β相的晶体结构重新进行了系统的解析,对前人的解析结果进行了修正,并结合Wasanasuk等的研究结果对α→δ(α' )→β的在拉伸过程中相转变机理进行了探究,如图30所示.Fig. 29Helical conformations of the molecular chains of PLLAα form and δ form and the regular chain conformation (Reprinted with permission from Ref.[52] Copyright (2012) American Chemical Society).Fig. 30A schematic illustration of the tension-induced phase transition from theα form with a large single domain to the β form with the aggregated domains of smaller size via the δ form of the structurally disordered structure and smaller domains (Reprinted with permission from Ref.[60] Copyright (2017) American Chemical Society). 4总结与展望本文介绍了X射线衍射法在高分子晶体结构解析中的基本原理及实验方法和技巧等内容,概述了近些年来X射线衍射法在高分子晶体结构解析领域进展和相关应用. 在静态解析方面,介绍了高分子复合物的晶体结构的最新进展,通过对新合成高分子的晶体结构的解析或者传统高分子结构的重新修正,进而利用晶体结构的相关参数可以对材料的力学性能进行计算和预测. 动态研究方面,基于更为精确的晶体结构的建立,可以帮助我们从晶胞尺度基础上理解外场作用下高分子结晶和相变等过程,探明结构演变的机制. 对结晶性高分子来说,建立可信赖的高分子晶体结构在高分子研究领域都是必不可少的内容.如前文所说,现有高分子晶体结构的建立大多依赖于X射线衍射法,但X射线衍射法受限于衍射点数量少且比较弥散等因素的影响,要得到非常可靠的结构是很困难的. 随着同步辐射技术的发展以及高分辨率和灵敏度的探测器的进步,例如最新的EIGER探测器分辨率达到了75 µm × 75 µm,可以更有利于从静态和动态等方面研究高分子的晶体结构及外场下演变过程. 并且把振动光谱、核磁共振法、电子衍射、中子衍射以及计算机模拟的方法相结合,可以使我们从不同角度去揭示和理解高分子晶体结构信息. 在最新的文献中,Tashiro指出[14],利用X射线衍射以及中子衍射技术的结合,可以给出晶体结构中重原子和轻原子的位置信息,得到更为精确的晶体结构. 随着表征手段和计算机领域的不断进步,建立更加准确高分子晶体结构可以使我们更深刻理解高分子各级结构的复杂性,也有利于阐明高分子材料的结构与性能之间的关系.参考文献1Strobl G.The Physics of Polymers.3th ed .New York:Springer,2007.166-2222Piorkowska E,Rutledge G C.Handbook of Polymer Crystallization.Hoboken, New Jersey:John Wiley & Sons, Inc,2013.31-673Hu Wenbing(胡文兵).Principles of Polymer Crystallization(高分子结晶学原理).Beijing(北京):Chemical Industry Press(化学工业出版社),2013.1-15.doi:10.1007/978-3-7091-0670-9_104Vasile C.Handbook of Polyolefins.2nd ed .New York:Marcel Dekker, Inc,2000.175-1825Lotz B,Miyoshi T,Cheng S Z D.Macromolecules.2017,50(16):5995-6025.doi:10.1021/acs.macromol.7b009076Tashiro K,Kobayashi M,Tadokoro H,Fukada E.Macromolecules,1980,13(3):691-698.doi:10.1021/ma60075a0407Men Y,Li L.Polymer Crystallization,2019,2(2):e10067.doi:10.1002/pcr2.100678Tadokoro H.Structure of Crystalline Polymers.Malabar.Florida:Robert E. Krieger Publishing Company,1990.19-1789Rosa C D,Auriemma F.Crystals and Crystalline in Polymers.Hoboken, New Jersey:John Wiley & Sons, Inc,2014.88-18410Alexander L L.X-ray Diffraction Methods in Polymer Science.New York:John Wiley & Sons, Inc,196911Mo Zhishen(莫志深),Zhang Hongfang(张宏放),Zhang Jidong(张吉东).Structure of Crystalline Polymers by X-Ray Diffraction(晶态聚合物结构与X射线衍射).2nd ed .Beijing(北京):Science Press(科学出版社),2010.146-206.doi:10.1016/j.carbpol.2010.05.00812Hohn T.International Table for Crystallography.5th ed .Netherlands:Springer,200613Wilson C C.Single Crystal Neutron Diffraction from Molecular Materials.Singapore:World Sci. Pub. Co. Pte. Ltd,2000.doi:10.1142/402914Tashiro K,Kusaka K,Hosoya T,Ohhara T,Hanesaka M,Yoshizawa Y,Yamamoto H,Niimura N,Tanaka I,Kurihara K,Kuroki R,Tamada T.Macromolecules,2018,51(11):3911-3922.doi:10.1021/acs.macromol.8b0065015Dorset D L.Structural Electron Crystallography.New York:Springer Science+Business Media,1995.95-133.doi:10.1007/978-1-4757-6621-9_416Hodgkinson P.Prog Nucl Magn Reson Spectrosc,2020,118-119:10-53.doi:10.1016/j.pnmrs.2020.03.00117Mehring M.Principles of High Resolution NMR in Solids.2nd ed .New York:Springer-Verlag Berlin Heidelberg,1983.1‒62.doi:10.1007/978-3-642-68756-3_218Zhang J,Tashiro K,Tsuji H,Domb A J.Macromolecules,2008,41:1352-1357.doi:10.1021/ma070607119Tashiro K,Hu J,Wang H,Hanesaka M,Saiani A.Macromolecules,2016,49(4):1392-1404.doi:10.1021/acs.macromol.5b0278520Tashiro K,Kusaka K,Yamamoto H,Hanesaka M.Macromolecules,2020,53(15):6656-6671.doi:10.1021/acs.macromol.0c0083921Ru J F,Yang S G,Zhou D,Yin H M,Lei J,Li Z M.Macromolecules,2016,49(10):3826-3837.doi:10.1021/acs.macromol.6b0059522Li X J,Zhong G J,Li Z M.Chinese J Polym Sci,2010,28(3):357-366.doi:10.1007/s10118-010-9015-z23Chen Y H,Yang H Q,Yang S,Zhang Q Y,Li Z M.Chinese J Polym Sci,2017,35(12):1540-1551.doi:10.1007/s10118-017-1990-x24Wang Y,Na B,Zhang Q,Tan H,Xiao Y,Li L B,Fu Q.J Mater Sci,2005,40(24):6409-6415.doi:10.1007/s10853-005-1746-925Yang S G,Chen Y H,Deng B W,Lei J,Li L B,Li Z M.Macromolecules,2017,50(12):4807-4816.doi:10.1021/acs.macromol.7b0004126Petermann J,Gohil R M.J Mater Sci,1979,14:2260-2264.doi:10.1007/bf0068843527Li L,Xin R,Li H H,Sun X L,Ren Z J,Huang Q G,Yan S K.Macromolecules,2020,53(19):8487-8493.doi:10.1021/acs.macromol.0c0145628Yoshiharu N,Shigenori K,Masahisa W,Takeshi O.Macromolecules,1997,30(20):6395-6397.doi:10.1021/ma970503y29Sikorski P,Hori R,Masahisa W.Biomacromolecules,2009,10(5):1100-1105.doi:10.1021/bm801251e30Yoshiharu N,Yasutomo N,Masahisa W.Macromolecules,2011,44(4):950-957.doi:10.1021/ma102240r31Davis G T,Mckinney J E,Broadhurst M G,Roth S C.J Appl Phys,1978,49(10):4998-5002.doi:10.1063/1.32444632Sugiyama J,Chanzy H,Maret G.Macromolecules,1992,25(16):4232-4234.doi:10.1021/ma00042a03233Wasanasuk K,Tashiro K,Hanesaka M,Ohhara T,Kurihara K,Kuroki R,Tamada T,Ozeki T,Kanamoto T.Macromolecules,2011,44(16):6441-6452.doi:10.1021/ma200662434Sun H.J Phys Chem B,1998,102:7338-7364.doi:10.1021/jp980939v35Shao J,Liu Y L,Xiang S,Bian X C,Sun J R,Li G,Chen X S,Hou H Q.Chinese J Polym Sci,2015,33(12):1713-1720.doi:10.1007/s10118-015-1715-y36Zhang Xiuqin(张秀芹),Xiong Zujiang(熊祖江),Liu Guoming(刘国明),Yin Yongai(尹永爱),Wang Rui(王锐),Wang Dujin(王笃金).Acta Polymerica Sinica (高分子学报),2014, (8):1048-1055.doi:10.11777/j.issn1000-3304.2014.1344437Li Xiaolu(李晓露),Wang Rui(王锐),Yang Chunfang(杨春芳),Dong Zhenfeng(董振峰),Zhang Xiuqin(张秀芹),Wang Dujin(王笃金),Wang Deyi(王德义).Acta Polymerica Sinica(高分子学报),2018, (5):598-606.doi:10.11777/j.issn1000-3304.2017.1719738Zhou W,Wang K,Wang S,Yuan S,Chen W,Konishi T,Miyoshi T.ACS Macro Lett,2018,7(6):667-671.doi:10.1021/acsmacrolett.8b0029739Chen W,Wang S,Zhang W,Ke Y,Hong Y L,Miyoshi T.ACS Macro Lett,2015,4(11):1264-1267.doi:10.1021/acsmacrolett.5b0068540Pan P,Yang J,Shan G,Bao Y,Weng Z,Cao A,Yazawa K,Inoue Y.Macromolecules,2012,45(1):189-197.doi:10.1021/ma201906a原文链接:http://www.gfzxb.org/thesisDetails#10.11777/j.issn1000-3304.2020.20258&lang=zh《高分子学报》高分子表征技术专题链接:http://www.gfzxb.org/article/doi/10.11777/j.issn1000-3304DOI:10.11777/j.issn1000-3304.2020.20258
  • PANalytical X 射线分析技术研讨会,共同探讨X 射线分析技术的新发展!
    X 射线分析仪器技术是近年来迅速发展的一门分析技术,它可在材料研究、分析以及各种工业过程和质量控制中测定从金属、矿物、油和其他液体一直到塑料、药物、陶瓷材料、纳米材料及半导体等各种材料的化学成分和晶体结构。为了与X 射线分析仪器界的同仁共同携手促进X 射线分析仪器的发展和广泛交流最新的研究进展,陕西省分析测试协会和荷兰帕纳科公司(PANalytical B.V.)将于2016年5 月26 日(周四)在古城西安举办“帕纳科最新X 射线分析技术研讨会”,届时将向您介绍X 射线荧光光谱分析的最新进展! 与此同时,帕纳科还将现场展示最新推出EDXRF 能谱仪台式一体机—Epsilon1,您将看到其为不同行业量身定做的多种解决方案!特此邀请您光临出席此次研讨会,共同探讨X 射线分析仪器技术的发展! 会议信息2016 年5 月26 日 中国 ? 西安主办单位:陕西省分析测试协会 荷兰帕纳科公司时间:08:30-17:00地点:西安富凯禧玥酒店会议地址:西安市南新街27 号(新城广场东南角)TimeProgress08:30-09:00报到登记09:00-09:15致欢迎辞陕西省分析测试协会领导致辞09:20-10:30帕纳科X 射线衍射系统(XRD)的多领域应用10:30-10:45茶歇10:45-12:00X 射线荧光光谱技术最新发展12:00-14:00午餐14:00-15:00帕纳科XRF 在地质行业及环保领域的优势与应用15:00-16:30??帕纳科小型台式能量色散X 射线荧光光谱仪——Epsilon1 现场演示如果您对我们的会议感兴趣,请联系:大昌华嘉商业(中国)有限公司联系人:金小姐联系方式:029-88337412邮箱地址:ins.cn@dksh.com大昌华嘉网站:www.dksh-instrument.cn扫描关注“大昌华嘉科学仪器部”公众号
  • HEPS首批X射线拉曼散射谱仪分析晶体完成在线测试
    近日,中科院高能所自主研制的球面弯曲分析晶体取得突破性进展,助力高能同步辐射光源(HEPS)高能量分辨谱学线站建设。针对国内高压科学、能源材料等多学科的学科优势,为满足广大用户需求,HEPS高能量分辨谱学线站正在设计建造一台具有先进国际水平的X射线拉曼散射(XRS)谱仪—“乾坤”。其中,球面压弯分析晶体基于罗兰圆几何条件,将特定能量的X射线聚焦至探测器上,是XRS谱仪的核心光学部件。聚焦面形精度和高能量分辨是球面弯曲分析晶体的两项极为关键,又互相影响的技术指标,因而极具挑战性。“乾坤”谱仪采用6组模组化分析晶体阵列,由90余块半径1m的分析晶体构成,其晶体能量分辨的设计指标与电子-空穴态寿命展宽数量级相当,达到ΔE/E~10-5,球面弯曲面形精度满足1:1聚焦需求。在HEPS工程指挥部的部署下,HEPS高能量分辨谱学线站团队与光学设计、光学机械、光束线控制系统相关人员,联合多学科中心晶体实验室积极攻关。线站核心成员郭志英、多学科中心晶体实验室刁千顺,经过多年技术攻关和反复尝试,不断改进优化分析晶体制备工艺,最终探索出兼顾能量分辨与聚焦特性于一体的球面弯曲分析晶体制备方法。今年10月2日-5日,项目团队在北京同步辐射装置(BSRF)1W2B线站上,采用Si(111)双晶单色器Si(220)切槽单色器两次单色化、毛细管微聚焦的光学配置,利用自研三元谱仪样机,对谱仪单模组内15块分析晶体(图1),采用EPICS-Bluesky控制系统实现单色器联动扫描,开展了批量、高精度指标测试(装置见图2)。优化后入射能量带宽实现高分辨,达到半高全宽0.8eV@9.7keV,分析晶体自身能量分辨(图3)达到半高全宽~1eV@9.7keV,与理论预测值相当,聚焦特性得到充分验证(图3、图4),各项指标全部满足工程设计需求。HEPS高能量分辨谱学线站是我国首条专注于硬X射线非弹性散射谱学实验的线站,聚焦核能级超精细结构、声子态密度、芯能级电子跃迁和价电子激发的探测,主要提供核共振散射(NRS)、XRS、共振非弹性散射(RIXS)等谱学方法,服务于量子科学、能源科学、材料科学、凝聚态物理、化学、生物化学、地学、高压科学、环境科学等多学科前沿研究。其中,XRS是一种基于X射线非弹性散射原理的先进谱学实验技术,欧洲ESRF (72块分析晶体)、美国APS(19块分析晶体)、日本SPring-8(12块分析晶体)、法国SOLEIL(40块分析晶体)、英国Diamond光源等光源已建成或规划建设XRS旗舰线站。由于非弹性散射截面极小,比X射线吸收截面小4~5个量级,XRS实验技术需要高亮度光源以增加入射光子通量,同时也需要大立体角谱仪提高探测效率,而大立体角探测需要多块发现晶体实现。首批分析晶体的指标通过在线测试,将满足大批量分析晶体加工的工程需求,对HEPS“乾坤”谱仪、高能量分辨谱学线站的实施都具有里程碑意义。值得一提的是,该类型分析晶体的工艺也已经用于多种类型谱仪分析晶体的研制。接下来,该团队将高质量完成其余模组分析晶体的批量加工,同时,将致力攻关无应力高能量分辨分析晶体的研制。晶体研发工作还获得先进光源技术研发与测试平台PAPS的支持,BSRF-1W2B、3W1、4W1A、4W1B线站提供机时。图1. HEPS自研分析晶体图2. 分析晶体测试装置,其中,左图给出了散射光和分析晶体分析光路示意图图3 分析晶体测试结果,左上为4#晶体能量分辨率实验结果和拟合曲线,左下为三块晶体在探测器上的聚焦光斑,右侧为分析晶体能量分辨率批量测试结果图4 扫描单色器能量时探测器上的光斑变化情况图5 测试人员合影
  • “短波长X射线体应力无损分析仪”通过鉴定
    p  strong仪器信息网讯/strong 2015年10月17日,由中国工程物理研究院材料研究所、四川艺精科技集团有限公司、中国兵器工业第五九研究所等单位承担的国家科技部重大科学仪器设备开发专项“短波长X射线体应力无损分析仪开发及应用”的研究成果,顺利通过了四川省科技厅、四川省经济和信息化委员会组织的科技成果及新产品鉴定。/pp style="TEXT-ALIGN: center"img title="现场.jpg" src="http://img1.17img.cn/17img/images/201510/insimg/0320ff88-b9a6-43a1-a3b3-8557088232ef.jpg"//pp style="TEXT-ALIGN: center"span style="FONT-FAMILY: 楷体, 楷体_GB2312, SimKai"strong“短波长X射线衍射分析技术暨短波长X射线体应力无损分析仪新产品鉴定会”现场/strong/span/pp  按照鉴定会程序,鉴定委员会听取了研制工作报告、技术报告,观看了技术研发视频,审核了第三方机构检测报告,考察了仪器现场,并进行了充分讨论、质疑。最后,鉴定委员会一致认为“短波长X射线衍射分析技术及短波长X射线体应力无损分析仪新产品”属于国际首创的技术与仪器,获得了多项国际、国内专利授权,对我国重大装备制造业水平的提升具有推动作用。/pp style="TEXT-ALIGN: center"img style="WIDTH: 400px HEIGHT: 455px" title="image002.jpg" border="0" hspace="0" src="http://img1.17img.cn/17img/images/201510/insimg/8971472e-bb72-4eae-b3d8-d8216642d878.jpg" width="400" height="455"//pp style="TEXT-ALIGN: center"strongspan style="FONT-FAMILY: 楷体, 楷体_GB2312, SimKai"短波长X射线体应力无损分析仪新产品/span/strong/pp  材料及工件的应力分布特征是影响物理化学性能的重要因素,在国防军工、航空航天等各个领域,由于材料、工件内部应力导致失败的案例很多,给国家和人民造成重大损失。目前,虽然a href="http://www.instrument.com.cn/zc/77.html" target="_self" title=""strongX射线(衍射)应力仪/strong/a已经得到商业化普及,但其功能只可测定试样约10微米深度表层的应力,无法完成体应力的测定。中子衍射和同步辐射高能X射线应力装置能够开展材料体应力测试,但该类仪器都是以反应堆或同步辐射光源等大型装置为基础,这些装置设备庞大、造价昂贵,无法市场化推广。/pp  针对此现状,中国工程物理研究院材料研究所在“国家科技部重大科学仪器设备开发专项”支持下,研制了实验室用短波长X射线体应力无损分析仪,体积相对较小、价格较低,既可测定体应力,又可市场化推广,在一定程度上填补了以上两类装置之间的空白。/pp  “短波长X射线体应力无损分析仪”采用钨靶发出的波长短、穿透性强的特征X射线,测试材料的内部应力、物相、织构等 利用能量法,改善了入射X射线强度的衰减 采用透射式和反射式的光路设计,获取材料内部结构沿深度分布的信息。该仪器高精度的测角仪、欧拉环等部组件,以及自动控制和应力分析软件等皆是项目组自主研发。样品台最大可承重20Kg 测试铝材当量厚度大于40毫米,无应力铁粉测试误差小于正负20兆帕 空间分辨能力可调,最小空间分辨率为0.1× 0.2× 2mmsup3/sup(宽× 高× 厚),对具有一定厚度的样品能够获得三维空间应力分布。/pp  据介绍,项目组实施了边研制边应用、销售的策略,该仪器已在兵器工业、航空航天、交通运输领域及科研院所得到应用 初步实现仪器的销售,可对外提供材料工件体应力检测服务,目前已创造经济效益696万元。/pp style="TEXT-ALIGN: center"img title="专家组.jpg" src="http://img1.17img.cn/17img/images/201510/insimg/9f7dfd71-eb8a-403a-a7bb-26d116d3c3fe.jpg"//pp style="TEXT-ALIGN: center"span style="FONT-FAMILY: 楷体, 楷体_GB2312, SimKai"strong项目负责人与鉴定委员会成员合影/strong/span/pp  此次鉴定会的鉴定委员会成员包括:中科院物理研究所/中国物理学会X射线衍射联合委员会主任麦振洪研究员、清华大学材料学院院长张政军教授、中国工程物理研究院高级顾问/院士武胜研究员、全国无损检测协会副理事长/爱德森(厦门)电子有限公司总经理林俊明研究员、西南交通大学材料学院院长黄楠教授、中国核动力研究设计院二所书记兼副所长/核工业西南无损检测中心主任唐月明研究员、重庆大学材料学院/全国残余应力学术委员会副秘书长叶文海教授、中国东方电气集团有限公司核电设计所所长唐伟研究员、中航工业贵州黎阳航空发动机(集团)有限公司冶金处处长朱明研究员。麦振洪研究员、张政军教授分别为鉴定委员会正、副主任。/pp  此次鉴定会还邀请了中国工程物理研究院科技委前副主任孙颖研究员等12位专家作为见证嘉宾。国家科技部、四川省科技厅、四川省经济和信息化委员会、绵阳市经济和信息化委员会、中国工程物理研究院、中国工程物理研究院材料研究所、四川艺精科技集团有限公司相关领导,该项目负责人中国工程物理研究院材料研究所副总工程师张鹏程研究员及其他项目骨干等出席了本次鉴定会。/pp style="TEXT-ALIGN: right"撰稿:刘丰秋/ppbr//p
  • 见微知著 岛津调频AFM新品实现两大“跨界”——访岛津公司X射线及表面分析产品经理中岛秀郎先生
    p  近年来随着纳米科学的迅猛发展,推动了材料学、电子学、生命科学等众多学科的进步与更新,这些为原子力显微镜厂商提供了更多机遇,当然也提出了更高挑战。然而,近二十年来,原子力显微镜(AFM)的分辨率似乎进入了“瓶颈”。/pp  2017年8月28日,岛津“跨界拓新 见微知著”SPM-8100FM新品发布会隆重举办。SPM-8100FM是岛津8000系列原子力显微镜产品线的最新款,8000系列是岛津首先商品化的调频模式高分辨率原子力显微镜。/pp  新品发布会期间,仪器信息网编辑就SPM-8100FM的特点、适用领域,以及岛津原子力显微镜产品的后续开发方向等问题采访了岛津公司X射线及表面分析产品经理中岛秀郎先生。/pp style="text-align: center "img title="岛津X射线及表面分析产品经理中岛秀郎先生.jpg" src="http://img1.17img.cn/17img/images/201709/insimg/0294d332-dd8c-4464-9254-92e8d7fb9c17.jpg"//pp style="text-align: center "strongspan style="font-family: 楷体,楷体_GB2312, SimKai "岛津公司X射线及表面分析产品经理中岛秀郎先生/span/strong/pp strong span style="color: rgb(0, 112, 192) "仪器信息网:岛津首先商品化的调频模式高分辨率原子力显微镜,从立项研制到面世期间经历了哪些有意义的事?/span/strong/ppstrongspan style="color: rgb(0, 112, 192) "  中岛秀郎:/span/strong我们在决定研发8000系列原子力显微镜产品的时候,是希望研发出一款在多种环境下能够进行高分辨观测的仪器,如大气、液体以及其他复杂环境中的观察。在仪器研发出来、上市之前做评价试验时,却突然发现了一个有意思的现象,即观察到了固液界面的水化/溶剂化作用的分层结构。当时我们将这个研究内容在一些学术会议发表之后,引起了相当多用户的共鸣。这是开发时没有想到的一个小小的“插曲”,不过这个“插曲”造就了我们高分辨率的SPM-8000系列仪器一个重要的应用领域。/pp  span style="font-family: 楷体,楷体_GB2312, SimKai "固液界面的水化/溶剂化作用,具体而言就是观察界面处液体的微观分层。这个部位一般只有1个纳米左右的厚度,但是具有2-5个分层。这种区别于整体结构的特殊结构很大程度上左右着固液界面的各种作用及变化,如液相内的溶解、化学反应、电荷转移、浸润、润滑、热传导等。但是因为液体的流动性,这个分层不仅非常薄而且作用力很弱,加之液体环境对探针悬臂振动质量因子的降低,因此无法使用传统的调幅模式观察。SPM-8100FM一方面通过调频方式提高了对作用力的分辨率,另一方面通过优化设计光杠杆检测器降低了噪音,因此实现了对固液界面液体分层的观察。/span/pp strong span style="color: rgb(0, 112, 192) "仪器信息网:2014年发布的SPM-8000FM是首个商品化调频模式原子力显微镜产品,时隔三年,岛津又推出了新品SPM-8100FM。那么,从8000到8100发生了哪些变化?/span/strong/ppstrongspan style="color: rgb(0, 112, 192) "  中岛秀郎:/span/strong自2014年推出SPM-8000FM后的三年时间里,我们对数十位用户进行了调研,用户们提出了很多有建设性的问题。针对调研结果研发团队有针对性的进行了改进,如SPM-8100FM的系统稳定性和操作便利性都进行了大幅提升。/pp  关于操作便利性,新品进行了专门设计,即针对传统原子显微镜更换样品前后需要繁琐的调节激光操作,SPM-8100FM设计了滑动式头部机构,更换样品不会影响激光光路,快速换样后可直接开始扫描工作。不过虽然操作便利性有了一定提升,但是对操作人员的专业性等要求还是有的,目前还达不到“小白”级别。/pp  另外,对于原子力显微镜,用户一直“诟病”的是其扫描速度,为此新品中增加了高速扫描器,在保证图像质量不变的基础上相对于传统扫描器的速度提高了5倍以上。而且,对于实验室已经有SPM-8000FM的用户来说,也可以对仪器进行升级。/pp  虽然,这款新品在许多方面有了提升,但是,我们并没有提价!/pp span style="color: rgb(0, 112, 192) " strong仪器信息网:与市场上同类产品相比,SPM-8100FM在硬件和软件上有哪些特点和优势?/strong/span/ppstrongspan style="color: rgb(0, 112, 192) "  中岛秀郎:/span/strong从硬件上来说,SPM-8100FM是一种调频模式的原子力显微镜,其概念上就是完全不同的。相对于传统的调幅模式,SPM-8100FM从原理上对作用力的分辨率就更高,其器件噪音水平降到了1/20以下。从软件上来说,我们设计了3D Mapping功能。通过3D Mapping首次观察到了固液界面水化/溶剂化作用的液体分层结构。/ppstrongspan style="color: rgb(0, 112, 192) "  仪器信息网:此次新品发布会的主题为“跨界拓新 见微知著”,其中“见微知著”比较好理解,然而“跨界”是指什么呢?/span/strong/ppstrongspan style="color: rgb(0, 112, 192) "  中岛秀郎:/span/strong“跨界”意味着这款产品突破了两个界限,首先是突破了环境对分辨率限制的界限,因为在复杂环境下传统的显微镜分辨率很差,而SPM-8100FM仍然能够达到类似真空条件下的分辨率。第二个是突破了固液的界限,大家都觉得原子力显微镜是“扫”固体的,而现在可以用这款新仪器“扫”某一类液体了,即固液交界面处的液体,也就是将原子力显微镜的应用领域从固体拓展到了液体。/ppstrongspan style="color: rgb(0, 112, 192) "  仪器信息网:一般来说,厂商推出新产品是为了满足用户的新需求。那么,SPM-8100FM能够满足用户的哪些新需求呢?/span/strong/ppstrongspan style="color: rgb(0, 112, 192) "  中岛秀郎:/span/strong从根本上而言,对现有原子力显微镜分辨率水平不满的用户都会是SPM-8100FM的潜在客户。如果非要划出几个重点领域的话,应该是生命科学领域和表面物理化学领域。生物大分子最佳的观测环境是在溶液中,长期以来这点影响了原子力显微镜在生命科学领域的应用。那么对于需要在液体环境进行高分辨观察的用户,可以考虑下SPM-8100FM。/ppstrongspan style="color: rgb(0, 112, 192) "  仪器信息网:岛津在原子力显微镜方面今后研发方向是什么?/span/strong/ppstrongspan style="color: rgb(0, 112, 192) "  中岛秀郎:/span/strong今后我们会继续发挥我们产品高分辨的特点,拓展完善我们首创的调频模式,使其分辨率更高、能够更加准确的进行观察测量。并且我们将在操作便利性方面多下功夫,让其成为一款用户爱用的经典仪器。/pp  而且,我们推出新产品是为了满足用户新出现的需求,而不是仅仅按照自己的想法研发仪器,让用户被动的接受。所以,今后我们将持续关注用户的动态以及科学技术的进步,研发满足用户需求的仪器来。/pp style="text-align: right " /pp style="text-align: right " 采访编辑:刘丰秋/pp  strongspan style="color: rgb(0, 112, 192) "后记/span/strong/pp  目前,中国原子力显微镜市场处于增长过程中,市场竞争激烈,作为原子力显微镜厂商之一的岛津公司一方面有针对性的开发新技术新方法,保持差异化发展 另一方面积极组织各种市场推广与技术服务活动,以扩大岛津原子力显微镜产品在中国市场的认知度,争取属于自己的一席之地。/pp /pp /pp /p
  • 跨向理想X射线探测器的一小步-高分辨、非晶硒X射线探测器及其应用
    “对于相干衍射成像(CDI),微米级像素的非晶硒CMOS探测器将专门解决大体积晶体材料中纳米级晶格畸变在能量高于50 keV的高分辨率成像。目前可用的像素相对较大的(〜55μm像素),基于medipix3芯片光子计数、像素化、直接探测技术无法轻易支持高能布拉格条纹的分辨率,从而使衍射数据不适用于小晶体的3D重建。” 美国阿贡国家实验室先进物理光子源探测器物理小组负责人Antonino Miceli博士讲到。相干X射线衍射成像作为新兴的高分辨显微成像方法,CDI方法摆脱了由成像元件所带来的对成像分辨率的限制,其成像分辨率理论上仅受限于X射线的波长。利用第三代同步辐射光源或X射线自由电子激光,可实现样品高空间分辨率、高衬度、原位、定量的二维或三维成像,该技术在材料学、生物学及物理学等领域中具有重要的应用前景。作为一种无透镜高分辨、无损成像技术,CDI对探测器提出了较高的要求:需要探测器有单光子灵敏度、高的探测效率和高的动态范围。目前基于软X射线的相干衍射成像研究工作开展得比较多,在这种情况下科研工作者通常选用是的基于全帧芯片的软X射线直接探测相机。将CDI技术拓展到硬X射线领域(50keV)以获得更高成像分辨率是目前很多科研工作者正在尝试的,同时也对探测器和同步辐射光源提出了更好的要求。如上文提到,KAimaging公司开发了一款非晶硒、高分辨X射线探测器(BrillianSe)很好的解决的这一问题。下面我们来重点看一下BrillianSe的几个主要参数1. 高探测效率 如上图,间接探测器需要通过闪烁体将X射线转为可见光, 只有部分可见光会被光电二极管阵列,CCD或CMOS芯片接收,造成了有效信号的丢失。而BrillianSe选用了具有较高原子序数的Se作为传感器材料,可以将大部分入射的X射线直接转为光电子,并被后端电路处理。在硬X射线探测效率远高于间接探测方式。BrillianSe在60KV (2mm filtration)的探测效率为:36% at 10 cycles/mm22% at 45 cycles/mm10% at 64 cycles/mm非晶硒吸收效率(K-edge=12.26 KeV)BrillianSe在60KV with 2 mm Al filtration的探测效率,之前报到15 μm GADOX 9 μm pixel 间接探测器QE 为13%。Larsson et al., Scientific Reports 6, 20162. 高空间分辨BrillianSe的像素尺寸为8 µm x8 µm,在60KeV的点扩散为1.1 倍像素。如下是在美国ANL APS 1-BM光束线测试实验室布局使用JIMA RT RC-05测试卡,在21keV光束下测试3. 高动态范围75dB由于采用了100微米厚的非晶硒作为传感器材料。它具有较大满井为877,000 e-非晶硒材料,不同入射光子能量光子产生一个电子空穴对所需要电离能BrillianSe主要应用:高能(50KeV)布拉格相干衍射成像低密度相衬成像同步辐射微纳CT表型基因组学领域要求X射线显微CT等成像工具具有更好的可视化能力。此外需要更高的空间分辨率,活体成像的关键挑战在于限制受试者接收到的电离辐射,由于诱导的生物学效应,辐射剂量显着地限制了长期研究。可用于X射线吸收成像衬度低的物体,如生物组织的相衬X射线显微断层照相术也存在类似的挑战。此外,增加成像系统的剂量效率将可以使用低亮度X射线源,从而减少了对在同步辐射光源的依赖。在不损害生物系统的情况下,在常规实验室环境中一台低成本、紧凑型的活体成像设备,对于加速生物工程研究至关重要。同时对X射线探测器提出了更高的要求。KAimaging公司基于独家开发的、专利的高空间分辨率非晶硒(a-Se)探测器技术,开发了一套桌面高效率、高分辨的微米CT系统(inCiTe™ )。可以从inCiTe™ 中受益的应用:• 无损检测• 增材制造• 电子工业• 农学• 地质学• 临床医学• 标本射线照相 基于相衬成像技术获得优异的相位衬度相衬成像是吸收对比(常规)X射线成像的补充。 使用常规X射线成像技术,X射线吸收弱的材料自然会导致较低的图像对比度。 在这种情况下,X射线相位变化具有更高的灵敏度。因为 inCiTe™ micro-CT可以将物体引起的相位变化转为为探测器的强度变化,所以它可以直接获取自由空间传播X射线束相位衬度。 同轴法相衬X射线成像可将X射线吸收较弱的特征的可检测性提高几个数量级。 下图展示了相衬可以更好地显示甜椒种子细节特征不含相衬信息 含相衬信息 低密度材料具有更好的成像质量钛植入样品图像显示了整形外科的钛植入物,可用于不同的应用,即检查骨-植入物的界面。 注意,相衬改善了骨骼结构的可视化。不含相衬信息 含相衬信息 生物样品inCiTe™ 显微CT可实现软组织高衬度呈现电子样品凯夫拉Kevlar复合材料样品我们使用探测器在几秒钟内快速获取了凯夫拉复合材料的相衬图像。可以清楚看到单根纤维形态(左图)和纤维分层情况(右图)。凯夫拉尔复合物3维透视图 KA Imaging KA Imaging源自滑铁卢大学,成立于2015年。作为一家专门开发x射线成像技术和系统的公司,KA Imaging以创新为导向,致力于利用其先进的X射线技术为医疗、兽医学和无损检测工业市场提供最佳解决方案。公司拥有独家开发并自有专利的高空间高分辨率非晶硒(a-Se)X射线探测器BrillianSeTM,并基于此推出了商业化X射线桌面相衬微米CT inCiTe™ 。我们有幸在此宣布,经过双方密切的交流与探讨,众星已与KA Imaging落实并达成了合作协议。众星联恒将作为KA Imaging在中国地区的独家代理,全面负责BrillianSe™ 及inCiTe™ 在中国市场的产品售前咨询,销售以及售后业务。KA Imaging将对众星联恒提供全面、深度的技术培训和支持,以便更好地服务于中国客户。众星联恒及我们来自全球高科技领域的合作伙伴们将继续为中国广大科研用户及工业用户带来更多创新技术及前沿资讯!
  • 630万!中国科学院过程工程研究所聚焦离子束场发射扫描电子显微镜、X射线能谱成分背散射电子结构三维分析仪采购项目
    项目编号:OITC-G220571963项目名称:中国科学院过程工程研究所聚焦离子束场发射扫描电子显微镜、X射线能谱成分背散射电子结构三维分析仪采购项目预算金额:630.0000000 万元(人民币)最高限价(如有):630.0000000 万元(人民币)采购需求:1、采购项目的名称、数量:包号品目货物名称数量(台/套)是否允许采购进口产品采购预算(万元人民币)11-1聚焦离子束场发射扫描电子显微镜1是3951-2X射线能谱成分背散射电子结构三维分析仪1是235 投标人可对其中一个包或多个包进行投标,须以包为单位对包中全部内容进行投标,不得拆分,评标、授标以包为单位。合同履行期限:详见采购需求本项目( 不接受 )联合体投标。
  • 安捷伦科技推出用于结构生物学应用的新一代 X 射线衍射仪
    安捷伦科技推出用于结构生物学应用的新一代 X 射线衍射仪 2012 年 7 月 30日,北京&mdash 安捷伦科技公司(纽约证交所: A)在波士顿召开的美国晶体学协会年会上发布了 GV1000 X 射线单晶衍射仪。 这一革命性的新一代仪器将用于收集生物大分子晶体样品的高质量衍射数据。 GV1000 配备了体积紧凑且高亮度的 X 射线源,采用创新的梯度真空技术,使得该款仪器不仅稳定可靠,而且使用简单。 GV1000 结合了安捷伦高精度四圆测角仪以及高性能 CCD 检测器,是满足现代大分子晶体学实验室极具挑战性需求的理想解决方案。 大分子晶体学是研究蛋白质和核酸分子(这两种物质是生物体的重要成分)原子级别结构的学科。 在制药行业的新药研发中,这门学科也扮演着重要的角色。 安捷伦 X 射线衍射产品线总经理 Leigh Rees 博士说:&ldquo 有了 GV1000,我们可以将产品系列扩展到高端的蛋白质晶体学中。 相比于竞争产品-旋转阳极系统,梯度真空系统GV1000具有许多显著优势,终将成为应用于蛋白质晶体学和其它晶体学研究的尖端实验室系统。&rdquo GV1000 是安捷伦正在扩展的 X 射线晶体学产品系列中性能最高的单波长系统。 GV1000的研发得益于安捷伦为所有X 射线单晶衍射应用提供创新性解决方案的专业技术。 安捷伦所有用于 X 射线晶体测量仪器的主要部件的设计和制造都有 20 年以上的历史。 要了解更多信息,请访问 www.agilent.com/lifesciences/GV1000 。 关于安捷伦科技 安捷伦科技公司(纽约证交所: A)是全球领先的测量公司,同时也是化学分析、生命科学、电子和通信领域的技术领导者。 公司的 20,000 名员工为 100 多个国家的客户提供服务。 在 2011 财政年度,安捷伦的业务净收入为66 亿美元。要了解安捷伦科技的信息,请访问:www.agilent.com.cn 。
  • 629万!赛默飞中标中科院过程所聚焦离子束场发射扫描电子显微镜、X射线能谱成分背散射电子结构三维分析仪采购项目
    一、项目编号:OITC-G220571963(招标文件编号:OITC-G220571963)二、项目名称:中国科学院过程工程研究所聚焦离子束场发射扫描电子显微镜、X射线能谱成分背散射电子结构三维分析仪采购项目三、中标(成交)信息供应商名称:国药(上海)医疗器械实业有限公司供应商地址:中国(上海)自由贸易试验区正定路530号A5库区三层2号仓库中标(成交)金额:629.9000000(万元)四、主要标的信息序号 供应商名称 货物名称 货物品牌 货物型号 货物数量 货物单价(元) 1 国药(上海)医疗器械实业有限公司 聚焦离子束场发射扫描电子显微镜;X射线能谱成分背散射电子结构三维分析仪 Thermo Fisher Scientific Helios 5 UC Compact730M 1套 ¥6,299,000.00
  • 700万!同济大学高能型X射线吸收精细结构谱仪采购项目
    项目编号:Z20230348(招标代理机构内部编号:SHZC20232104)项目名称:同济大学高能型X射线吸收精细结构谱仪采购项目预算金额:700.0000000 万元(人民币)最高限价(如有):700.0000000 万元(人民币)采购需求:高能型X射线吸收精细结构谱仪一套。无需同步辐射光源即可提供XAFS测试,实现对材料中元素的氧化态、电子结构、对称性、3D立体结构、原子间距、配位数、配位元素等进行分析(具体项目内容、采购范围及所应达到的具体要求,以招标文件第三章—招标需求相应规定为准)。本项目不采购进口产品【根据财政部《政府采购进口产品管理办法》(财库[2007]119号)规定:进口产品是指通过中国海关报关验放进入中国境内且产自关境外的产品】。合同履行期限:2023年10月31日前完成并验收合格交付使用(具体内容详见招标文件第三章—招标需求)本项目( 不接受 )联合体投标。获取招标文件时间:2023年02月20日 至 2023年02月27日,每天上午9:00至11:00,下午13:00至16:00。(北京时间,法定节假日除外)地点:上海市静安区天目中路380号11楼会议室方式:现场获取或通过电子邮件(daixiaojun@shzfcg.cn)获取售价:¥500.0 元,本公告包含的招标文件售价总和对本次招标提出询问,请按以下方式联系。1.采购人信息名称:同济大学地址:上海市杨浦区四平路1239号联系方式:段老师;021-659826702.采购代理机构信息名称:上海政采项目管理有限公司地址:上海市静安区天目中路380号11楼联系方式:戴小军、付荣021-62091273*8009、021-62091253*8004 3.项目联系方式项目联系人:戴小军、付荣电话:021-62091273*8009、021-62091253*8004
  • 1160万!中国科学院掠广角X射线散射仪、X射线单晶衍射仪和台式X射线吸收精细结构谱仪采购项目
    一、项目基本情况项目编号:OITC-G240261656-1项目名称:中国科学院2024年仪器设备部门批量集中采购项目预算金额:1160.000000 万元(人民币)最高限价(如有):1160.000000 万元(人民币)采购需求:1、采购项目的名称、数量:包号货物名称数量(台/套)用户单位是否允许采购进口产品8掠入射/小角/广角X射线散射仪1中国科学院过程工程研究所是包号货物名称数量(台/套)用户单位是否允许采购进口产品9X射线单晶衍射仪1中国科学院大连化学物理研究所是包号货物名称数量(台/套)用户单位采购预算(人民币)最高限价(人民币)是否允许采购进口产品26台式X射线吸收精细结构谱仪1中国科学院赣江创新研究院400万元400万元是投标人须以包为单位对包中全部内容进行投标,不得拆分,评标、授标以包为单位。2、技术要求详见公告附件。合同履行期限:详见采购需求本项目( 不接受 )联合体投标。二、获取招标文件时间:2024年07月25日 至 2024年08月01日,每天上午9:00至11:00,下午13:00至17:00。(北京时间,法定节假日除外)地点:www.oitccas.com;北京市海淀区丹棱街1号互联网金融中心20层方式:登录“东方招标”平台www.oitccas.com注册并购买。售价:¥600.0 元,本公告包含的招标文件售价总和三、对本次招标提出询问,请按以下方式联系。1.采购人信息名 称:中国科学院过程工程研究所     地址:北京市海淀区中关村北二街1号        联系方式:010-82545054      2.采购代理机构信息名 称:东方国际招标有限责任公司            地 址:北京市海淀区丹棱街1号互联网金融中心20层            联系方式:窦志超、曹山010-68290529            3.项目联系方式项目联系人:窦志超、曹山电 话:  010-68290529
  • 见微知著 岛津调频AFM新品实现两大“跨界”——访岛津公司X射线及表面分析产品经理中岛秀郎先生
    近年来随着纳米科学的迅猛发展,推动了材料学、电子学、生命科学等众多学科的进步与更新,这些为原子力显微镜厂商提供了更多机遇,当然也提出了更高挑战。然而,近二十年来,原子力显微镜(AFM)的分辨率似乎进入了“瓶颈”。  2017年8月28日,岛津“跨界拓新 见微知著”SPM-8100FM新品发布会隆重举办。SPM-8100FM是岛津8000系列原子力显微镜产品线的最新款,8000系列是岛津首先商品化的调频模式高分辨率原子力显微镜。  新品发布会期间,仪器信息网编辑就SPM-8100FM的特点、适用领域,以及岛津原子力显微镜产品的后续开发方向等问题采访了岛津公司X射线及表面分析产品经理中岛秀郎先生。 岛津公司X射线及表面分析产品经理中岛秀郎先生  仪器信息网:岛津首先商品化的调频模式高分辨率原子力显微镜,从立项研制到面世期间经历了哪些有意义的事?  中岛秀郎:我们在决定研发8000系列原子力显微镜产品的时候,是希望研发出一款在多种环境下能够进行高分辨观测的仪器,如大气、液体以及其他复杂环境中的观察。在仪器研发出来、上市之前做评价试验时,却突然发现了一个有意思的现象,即观察到了固液界面的水化/溶剂化作用的分层结构。当时我们将这个研究内容在一些学术会议发表之后,引起了相当多用户的共鸣。这是开发时没有想到的一个小小的“插曲”,不过这个“插曲”造就了我们高分辨率的SPM-8000系列仪器一个重要的应用领域。  固液界面的水化/溶剂化作用,具体而言就是观察界面处液体的微观分层。这个部位一般只有1个纳米左右的厚度,但是具有2-5个分层。这种区别于整体结构的特殊结构很大程度上左右着固液界面的各种作用及变化,如液相内的溶解、化学反应、电荷转移、浸润、润滑、热传导等。但是因为液体的流动性,这个分层不仅非常薄而且作用力很弱,加之液体环境对探针悬臂振动质量因子的降低,因此无法使用传统的调幅模式观察。SPM-8100FM一方面通过调频方式提高了对作用力的分辨率,另一方面通过优化设计光杠杆检测器降低了噪音,因此实现了对固液界面液体分层的观察。  仪器信息网:2014年发布的SPM-8000FM是首个商品化调频模式原子力显微镜产品,时隔三年,岛津又推出了新品SPM-8100FM。那么,从8000到8100发生了哪些变化?  中岛秀郎:自2014年推出SPM-8000FM后的三年时间里,我们对数十位用户进行了调研,用户们提出了很多有建设性的问题。针对调研结果研发团队有针对性的进行了改进,如SPM-8100FM的系统稳定性和操作便利性都进行了大幅提升。  关于操作便利性,新品进行了专门设计,即针对传统原子显微镜更换样品前后需要繁琐的调节激光操作,SPM-8100FM设计了滑动式头部机构,更换样品不会影响激光光路,快速换样后可直接开始扫描工作。不过虽然操作便利性有了一定提升,但是对操作人员的专业性等要求还是有的,目前还达不到“小白”级别。  另外,对于原子力显微镜,用户一直“诟病”的是其扫描速度,为此新品中增加了高速扫描器,在保证图像质量不变的基础上相对于传统扫描器的速度提高了5倍以上。而且,对于实验室已经有SPM-8000FM的用户来说,也可以对仪器进行升级。  虽然,这款新品在许多方面有了提升,但是,我们并没有提价!  仪器信息网:与市场上同类产品相比,SPM-8100FM在硬件和软件上有哪些特点和优势?  中岛秀郎:从硬件上来说,SPM-8100FM是一种调频模式的原子力显微镜,其概念上就是完全不同的。相对于传统的调幅模式,SPM-8100FM从原理上对作用力的分辨率就更高,其器件噪音水平降到了1/20以下。从软件上来说,我们设计了3D Mapping功能。通过3D Mapping首次观察到了固液界面水化/溶剂化作用的液体分层结构。  仪器信息网:此次新品发布会的主题为“跨界拓新 见微知著”,其中“见微知著”比较好理解,然而“跨界”是指什么呢?  中岛秀郎:“跨界”意味着这款产品突破了两个界限,首先是突破了环境对分辨率限制的界限,因为在复杂环境下传统的显微镜分辨率很差,而SPM-8100FM仍然能够达到类似真空条件下的分辨率。第二个是突破了固液的界限,大家都觉得原子力显微镜是“扫”固体的,而现在可以用这款新仪器“扫”某一类液体了,即固液交界面处的液体,也就是将原子力显微镜的应用领域从固体拓展到了液体。  仪器信息网:一般来说,厂商推出新产品是为了满足用户的新需求。那么,SPM-8100FM能够满足用户的哪些新需求呢?  中岛秀郎:从根本上而言,对现有原子力显微镜分辨率水平不满的用户都会是SPM-8100FM的潜在客户。如果非要划出几个重点领域的话,应该是生命科学领域和表面物理化学领域。生物大分子最佳的观测环境是在溶液中,长期以来这点影响了原子力显微镜在生命科学领域的应用。那么对于需要在液体环境进行高分辨观察的用户,可以考虑下SPM-8100FM。  仪器信息网:岛津在原子力显微镜方面今后研发方向是什么?  中岛秀郎:今后我们会继续发挥我们产品高分辨的特点,拓展完善我们首创的调频模式,使其分辨率更高、能够更加准确的进行观察测量。并且我们将在操作便利性方面多下功夫,让其成为一款用户爱用的经典仪器。  而且,我们推出新产品是为了满足用户新出现的需求,而不是仅仅按照自己的想法研发仪器,让用户被动的接受。所以,今后我们将持续关注用户的动态以及科学技术的进步,研发满足用户需求的仪器来。  采访编辑:刘丰秋  后记  目前,中国原子力显微镜市场处于增长过程中,市场竞争激烈,作为原子力显微镜厂商之一的岛津公司一方面有针对性的开发新技术新方法,保持差异化发展 另一方面积极组织各种市场推广与技术服务活动,以扩大岛津原子力显微镜产品在中国市场的认知度,争取属于自己的一席之地。关于岛津 岛津企业管理(中国)有限公司是(株)岛津制作所于1999年100%出资,在中国设立的现地法人公司,在中国全境拥有13个分公司,事业规模不断扩大。其下设有北京、上海、广州、沈阳、成都分析中心,并拥有覆盖全国30个省的销售代理商网络以及60多个技术服务站,已构筑起为广大用户提供良好服务的完整体系。本公司以“为了人类和地球的健康”为经营理念,始终致力于为用户提供更加先进的产品和更加满意的服务,为中国社会的进步贡献力量。
  • 陈黎明教授团队成功研制一套飞秒时间分辨的X射线衍射系统
    在超快时间尺度上获得物质的动力学演化过程一直是人们努力的重要方向。基于激光等离子体相互作用产生的飞秒硬X射线源由于具有脉宽短、亮度高和源尺寸小等突出的优点,可广泛应用于瞬态微成像/相衬成像、时间分辨吸收谱学和X射线衍射等实验研究中。其中,激光泵浦--超快X射线衍射的手段能为我们提供飞秒级时间尺度、亚埃级空间尺度上材料的结构动力学信息。中国科学院物理研究所/北京凝聚态物理国家研究中心光物理实验室L05组博士研究生朱常青(指导教师为原物理所陈黎明研究员、现上海交通大学物理与天文学院教授),利用L05组的高脉冲能量(100mJ)、低重频(10Hz)激光器,研制了一套飞秒时间分辨的X射线衍射系统。该装置工作在相对论的激光强度(2×1019W/cm2)下,可以有效地激发高Z金属材料的Kα射线,并且能够通过优化X射线多层膜反射镜,进一步提高X射线的聚焦强度。利用该装置对SrCoO2.5薄膜样品的瞬态结构进行了探测,结果表明该装置不仅可以用来分析样品的超快动力学行为,并且和KHz等小能量装置相比对于不同的特殊应用具有高度的灵活性。该装置有望将来在物理、化学和生物领域的超快动力学探测方面发挥重要作用。相关成果以“快速通讯”的形式发表于最近的Chinese Physics B上,并被选为该期的亮点文章。这也是该团队利用激光超快X射线源在成像和衍射应用方面,最新获得的创新成果。前序成果包括Rev. Sci. Instrum. 85 113304 (2014)、Chin. Phys. B 24 108701 (2015)等。该实验室装置的建成,也为物理所怀柔综合极端条件用户装置中的超快X射线动力学子系统(XD3)的建设,提供了有益的经验。该成果的取得也得到了XD3研制团队成员鲁欣副研究员、李毅飞博士和王进光博士的大力支持。这项工作及相关研究得到了国家重点研发计划、科学挑战计划、国家自然科学基金和中科院先导专项的支持。文章链接:http://cpb.iphy.ac.cn/EN/10.1088/1674-1056/ac0baf 图1. 超快X射线衍射装置示意图图2. 在光泵浦下超快X射线衍射信号随延时的变化:(a)泵浦光作用20ps后劳厄衍射斑的角移;(b)不同的泵浦-探针延时,所对应的光致拉伸度。
  • 62届X射线分析应用大会主题研讨会日程安排
    仪器信息网讯 第62届X射线分析应用技术大会将于2013年8月5日-9日,在美国科罗拉多州威斯敏斯特市,威斯汀威斯敏斯特酒店举行。会议由国际衍射数据中心(ICDD)赞助。会议由主题研讨会、大会报告、墙报展、X射线仪器展等部分组成。本次会议共安排了12场主题研讨会,具体安排如下:  2013年8月5日 9:00-12:00&mdash XRD  主题:新型GSAS-II晶体学分析系统介绍(全天)  地点:Standley Ballroom II  主办单位和主讲人:美国阿贡国家实验室B. Toby, R. Von Dreele,brian.toby@anl.gov, vondreele@anl.gov  该研讨会将向与会者介绍新型GSAS-II软件包的在X射线和晶体学数据处理当中的应用。研讨会将重点讨论粉末衍射数据处理。所有需要安装运行的软件均是免费的,与会者可以自己带电脑来下载安装软件。本次研讨会主要针对拥有Rietveld分析经验以及丰富的单晶衍射晶体学知识的研究人员。涉及的领域包括使用GSAS-II进行面探测器数据集成、数据Rietveld精修等。  主题:中间物XRD分析基础  地点:Meadowbrook  主办单位和主讲人:  国际衍射数据中心,Thomas N. Blanton,tblanton@icdd.com  阿尔弗雷德大学纽约州立陶瓷学院,Scott T. Misture, misture@alfred.edu  美国橡树岭国家实验室,Thomas R. Watkins  桑迪亚国家实验室,Mark A. Rodriguez  该研讨会将讨论XRD的定性及非Rietveld方法定量分析,以及XRD在物相分析的应用,包括样品制备、常见的X射线衍射几何讨论。另外,研讨会还将讨论轮廓拟合和晶格参数细化用于通过Vegard定律进行固溶体组成的测定。最后,研讨会将介绍参考强度比法在采用内标法进行半定量分析和定量分析中的应用。  主题:XRF基础  地点:Standley Ballroom I  主办单位和主讲人:  华盛顿大学,W.T. Elam,wtelam@apl.washington.edu  美国洛斯阿拉莫斯国家实验室,G.J. Havrilla  福特汽车公司,A.R. Drews  本次研讨会将对XRF的基本原理进行介绍,并专门针对XRF新的应用领域。研讨会首先将从XRF技术进行概述,然后再对基本原理进行更具体的介绍。重点将在使与会者了解如何使用XRF,以及它的功能。研讨会的下半段,将会介绍几个特别挑选的应用实例,这一部分的重点是使与会者了解仪器的基本原理如何影响实际应用。  主题:痕量分析  地点:Cotton Creek  主办单位&主讲人  维也纳技术大学,C. Streli,streli@ati.ac.at  维也纳技术大学,P. Wobrauschek,wobi@ati.ac.at  日本大阪市立大学,K.Tsuji  赛默飞世尔科技A. Martin  无论是初学者还是富有经验的X射线物理学家,都会在这个研讨会上获取有用的信息。用WDXRF、EDXRS进行痕量分析的多种现代分析技术和仪器将在研讨会上进行介绍。利用物理方法降低背景来降低XRF的检出限的方法将会被讨论,以同步辐射光源作为激发源的例子,以及标准化的WDXRF实验室仪器。对全反射XRF(TXRF)技术及仪器的介绍,将展示TXRF的低检出限、高灵敏度,可测元素范围可以到轻元素(如碳)。共聚焦&mu -XRF将成为二维和三维空间元素成像的有效方法。将展示XRF光谱技术在一些有趣的科学领域的成功应用及其重要性,如在环境、微电子、法医、和生命科学等领域的应用。  2013年8月5日 13:30-16:30  主题:X射线光学  地点: Cotton Creek  主办单位&主讲人:  德国汉堡大学,U. Fittschen,ursula.fittschen@chemie.uni-hamburg.de  美国洛斯阿拉莫斯国家实验室,G.J. Havrilla,havrilla@lanl.gov  德国汉堡DESY国家同步辐射实验室,G. Wellenreuther  AXO 德累斯顿有限公司,M. Kraemer  本研讨会将聚焦于不同类型的最先进的X射线光学技术,如毛细管光学、DCC-光学、菲涅尔区板、KB-镜和复合折射透镜等。这些技术的性能和作用将通过最新的实验室研究成果为例进行说明。该研讨会适合初学者和有一定基础的研究人员更好的了解折射、衍射和全反射等基本物理原理。  主题:新型GSAS-II晶体学分析系统介绍(全天)  主题:TOTAL PATTERN ANALYSIS  地点:Meadowbrook  主办单位&主讲人:  国际衍射数据中心,T. Fawcett,fawcett@icdd.com  美国多晶体公司,J.A. Kaduk,kaduk@polycrystallography.com  主题:能量色散XRF  地点:Standley Ballroom I  主办单位&主讲人:  赛默飞,R. Phillipsrich.phillips@thermofisher.com  赛默飞,P. Lemberge  美国北卡罗来纳州三角研究园,A. McWilliams  本次研讨会旨在通过对EDXRF所有的X射线荧光光谱学者提供有关EDXRF基本理论和实际应用的讨论。涉及的主题包括仪器、部件、XRF的适用性 易用性 快速定性分析和物料筛分 进行定量分析的校准技术 无标样分析,各种不同基质中各种元素XRF分析的灵敏度 样品制备。将介绍多种EDXRF在日常生活中的应用实例,体现EDXRF在解决复杂分析问题方面的能力。研讨会的重点是介绍EDXRF的适用性,说明它是获得可靠的实验结果的最佳方案。  2013年8月6日 9:00&mdash 12:00  主题:数字信号处理和X射线探测器基础  地点:Standley Ballroom I  主办单位&主讲人:  日本广岛大学,S. Hayakawa,hayakawa@hiroshima-u.ac.jp  日本东京大学,J. Kawai, K. Ohira  日本东京X-Bridge Technologies,S. Terada  本次研讨会将介绍各种X射线探测器(硅,锗,CdTe,SSD,SDD,Si-PIN,正比计数器),并解释了X射线光谱仪中数字信号处理过程。研讨会涉及的内容包括:(1)数字信号处理器(DSP)和数字示波器基础 (2)死时间校正 (3)峰的稳定性和校准 (4)线性和非线性响应 (5)低能量拖尾 (6 )能量分辨率,分析速度和有效峰面积之间的平衡 (7)逃逸峰,总峰,堆信号 (8)Fano因子 (9)如何确定最佳的参数设置 (10)近室温条件下进行操作。  主题:体验RIETVELD分析方法  地点:Cotton Creek  主办单位&主讲人:  美国橡树岭国家实验室,E.A. Payzant,payzanta@ornl.gov  美国马里兰大学,P. Zavalij  与会者将有机会对X射线或中子数据集进行精修。主讲人将会介绍一系列的样例来表明Rietveld精修的重要性。研讨会的主题将涉及:精细化方法介绍   结构模型和仪器参数 如何细化:晶格参数、热物性参数、择优取向 如何适当考虑仪器参数 准确度和精确度 细化指标和它们的含义 如何使用程序来模拟一个假设的模式 定量分析 对不完整的结构模型应该怎样做等。  与会者可以带笔记本来安装Rietveld软件,会议将会提供数据文件,研讨会中将会用GSAS+ EXPGUI软件对这些数据文件进行精修。其他比较流行的软件(FullProf, Topas, Jade, High-Score, MAUD, Rietan等)将在研讨会期间进行讨论。  GSAS+ EXPGUI软件:https://subversion.xor.aps.anl.gov/trac/EXPGUI。  主题:小角散射的建模与分析(全天)  地点:Meadowbrook  主办单位&主讲人:  陶氏化学公司,B.Landes,bglandes@dow.com  美国阿贡国家实验室,J. Ilavsky, ilavsky@aps.anl.gov  成功的SAXS或SANS实验,需要合适的数据分析软件。多年来,研发人员开发了多种软件,如ATSAS,主要适用于生物样品。针对材料科学、物理、化学等领域的复杂问题,开发了Irena软件。它被广泛用于为支持以美国阿贡国家实验室的先进光子源APS为光束的SAXS和USAXS分析,也可用于世界各地的一些其他设施。  研讨会上,软件的开发人,APS成员Jan Ilavsky将介绍软件的使用。将带领用户针对不同的分析方法进行数据输入,软件操纵,绘制图形,以及输出结果。软件的原理及对于多种问题的适用性将会被讨论。  参会人员可以带着自己的电脑(Windows or Mac OS),会场将会提供演示版的Igor 6软件,以及最新的SAXS软件版本的CD,和其他资料。另外,欢迎与会人员带自己的SAXS实验结果来进行讨论。  Irena是一个用于小角散射(SAXS, SANS, USAXS, USANS)数据分析的工具包。有关该软件的更多细节,请访问:http://usaxs.xray.aps.anl.gov/staff/ilavsky/irena.html。  主题:XRF定量分析(全天)  地点:Standley Ballroom II  主办单位&主讲人:  日本理学,M. Mantler, michael.mantler@rigaku.com  华盛顿大学,W.T. Elam  帕纳科,B. Vrebos  上午:传统方法和资源  1、传统的基本参数和数学模型。  2、经验和理论影响系数。  3、基本参数收集:来源,可用性和可靠性。  4、免费的Excel工具用于基本参数数据和简单计算的对照。  下午:先进的方法  1、补偿方法(标准此外,内部标准,重吸收剂,康普顿散射)。  2、层状材料,不均匀的样品,和表面粗糙的样品。  3、轻元素、在轻质基体中的重元素分析、痕量元素分析。使用L和M线进行分析。  4、光谱解析 文物。  2013年8月6日 13:30-16:30  主题:INTRODUCTION TO VOLUME H  地点:Cotton Creek  主办单位&主讲人:  美国伊利诺理工大学,J.A. Kaduk,jkaduk@iit.edu  主题:小角散射的建模与分析(全天)  地点:Meadowbrook  主办单位&主讲人:  陶氏化学公司,B.Landes,bglandes@dow.com  美国阿贡国家实验室,J. Ilavsky, ilavsky@aps.anl.gov  主题:XRF分析样品制备  地点:Standley Ballroom I  主办单位&主讲人:  美国Anzelmo & Associates公司J.A. Anzelmo,jaanzelmo@aol.com  加拿大Corporation Scientifique,Claisse M. Bouchard  美国Wyoming Analytical,C. Wilson  本次研讨会将讨论粉饼、熔融物,采用XRF分析的基本物理原理和实验室操作,将会专门讨论铁矿石,精矿,球团矿,煤炭和粉煤灰检测的样品制备问题。  主题:XRF定量分析(全天)  地点:Standley Ballroom II  主办单位&主讲人:  日本理学,M. Mantler, michael.mantler@rigaku.com  华盛顿大学,W.T. Elam  帕纳科,B. Vrebos  相关新闻:62届X射线分析应用大会国产厂商集体缺席编译:秦丽娟
  • 270万!大连理工大学原位变温X射线衍射仪采购项目
    项目编号:DUTASC-2022385项目名称:大连理工大学原位变温X射线衍射仪采购项目采购方式:竞争性磋商预算金额:270.0000000 万元(人民币)最高限价(如有):270.0000000 万元(人民币)采购需求: 大连理工大学分析测试中心拟开展材料原位变温X射线衍射分析,内容包括在不同温度下的物相、晶胞参数、原子位置占有率以及微观应力分析。利用X射线在晶体物质中的衍射效应进行物质结构分析,其理论与技术把人们对物质的认识从宏观带进了原子级水平的微观。该先进技术现已能够精确地对物相定性/定量分析(粉体、块体与薄膜等),精确测定点阵常数,晶粒大小及晶格畸变测定,晶粒尺寸大小及其分布等微观结构分析。拟购置的设备需要实现-180~1600℃的变温需求,具体要求详见磋商文件。 本项目已经财政部门审核,接受进口产品参与磋商,本文件所称进口产品是指通过中国海关报关验放进入中国境内且产自关境外的产品。合同履行期限:合同签订之日起12个月内货到采购人指定地点安装调试验收合格。本项目( 不接受 )联合体投标。
  • 英研制新型X射线摄影机 揭示物质内部结构
    据美国物理学家组织网近日报道,英国科技设施委员会(STFC)将和格拉斯哥大学合作,建造迄今为止拍摄速度最快的X射线摄影机:每秒450万帧,可记录瞬间爆发的图像。将它安装于大型研究设备上,有助于从分子和原子水平揭示物质内部结构,开发新型药物及用于其他重要研究领域。  该摄影机也是英国科技设施委员会与欧洲X射线自由电子激光仪(X射线自由电子a激光仪)合作的首批实验终端设备之一,将于明年交付欧洲X射线自由电子激光仪委员会,并于2015年开始运行。欧洲X射线自由电子激光仪委员会代表团在参观了英国科技设施委员会之后,已经签订了300万英镑的样机建造合约。  欧洲X射线自由电子激光仪位于德国北部汉堡附近,由德国牵头,欧洲11个国家共同合作建造,总耗资达10亿欧元,设施长约3.4公里。利用超导加速技术给电子加速,其产生的X射线闪光比传统X光源要亮10亿倍,每次闪光持续不到10亿亿分之一秒。利用这一激光高强度、短脉冲的属性,使拍摄单个分子三维结构的X射线图像成为可能。而目前最先进的X光摄影机只有通过X光束持续不断地轰击物体才能拍摄,X射线自由电子激光仪产生的极短暂而高强度闪光并不适合。  新的摄影机专为X射线自由电子激光仪超短超强的X光而设计,为欧洲X射线自由电子激光仪进一步发挥其强大的探测功能提供了用武之地,有助于理解物质属性,从原子水平绘制病毒结构,精确定位单个细胞的分子组成等。  英国科技设施委员会蒂姆尼古拉斯博士指出,为X射线自由电子激光仪建造尖端摄影机设备,表明了英国在先进微电子学和高技术成像设备设计方面的能力,也将给人们的生活带来巨大变化。  欧洲X射线自由电子激光仪开发公司领导马库斯库斯特博士表示,X射线自由电子激光仪代表了欧洲研究设备的主要进步,加上英国科技设施委员会在成像设备制造方面的先进技术,将帮助X射线自由电子激光仪发挥它最大的潜力。
  • X射线计算机层析成像技术解析
    X射线三维成像可以实现物体内部的无损检测。但是对于大尺寸的板状样品的三维成像一直是业界的难题,层析成像技术是目前解决这一难题的最佳方法。一、 什么是层析成像?目前比较被大众熟知的Computed Tomography(CT)通常被翻译为计算机断层成像。最早的实验室CT扫描机由英国Godfrey Hounsfield于1967年建成,第一台可供临床应用的CT设备于1971年安装在医院。CT自发明以来,经历了多代发展,这里就不再赘述。简单理解,CT就是求解一个线性方程组,最终得到的结果就是CT图像。CT扫描就是构造方程组的过程,每一条被探测器接收的射线就代表了一个方程。对二维断层成像而言,要想得到好的求解结果,需要平面内任意方向的射线。这也是要求射线源-探测器组合相对于成像目标旋转360度的原因(出于严谨考虑,这里声明不考虑短扫描等情形)。层析成像技术,早在1921年就已经出现。这个时期的层析成像可以称之为传统层析成像。由于信息交流的不便,多个国家的研究者分别独立提出了层析成像的方法,并且给予了不同的命名。目前流传下来比较被大家接受的是Tomosynthesis和Laminography。现在用于乳腺癌筛查的钼靶成像(只是用了钼靶射线源而已),严格讲应该叫作数字乳腺层析成像(Digital Breast Tomosynthesis,简称为DBT)。而工业上比较习惯于用Laminography,我们延续了这种用法。在进行中文翻译的时候为了跟计算机断层成像区分,我们将Tomosynthesis和Laminography都翻译为层析成像。CL全称即Computed Laminography。二、 传统层析成像 CL与CT到底有什么区别?在前面我们已经提到CT成像一般需要射线绕物体一周。而在有些时候这是无法实现的。比如,现场条件受限或者物体在某些角度太长,射线无法穿透。比如大尺寸的板状物体。对于下图接近一米长的PCB,如果采用显微CT扫描,只能采用先切割的破坏性方法。如果非得用一个简单粗暴的标准区分CT和CL:画一个过物体的平面,如果射线源和探测器的运动轨迹不跨越这个平面,就可以认为这是CL。可以通过下图了解传统层析成像的原理。通过采集不同角度的投影数据(那时还只有胶片),将胶片简单叠加在一起,其中一层的数据会被增强(这一层称为焦平面)。下图中Plane 2的数据(以圆形代表其细节)就被增强了。传统层析成像,每次只能增强一个焦平面内的结构,而其它层的图像仍然是模糊的。三、 现代层析成像我们所说的层析成像一般都是指现代层析成像。这里的现代是相对于上面的传统而言的。现代层析成像是指采用了数字探测器和图像重建算法的层析成像。其成像结果中每一层都得到增强。虽然与CT相比,由于其数据缺失,会造成层间混叠(后面我们会着重介绍)。但在很多应用场景,这是能得到的最好的结果。下图是几种常见的层析成像结构。如果将有限角CT也称作CL的话,可以认为是第5种结构。这里我们对各种成像结构的成像能力进行简单的分析。(I)结构简单,但数据缺失过于严重(扫描的角度等于射线的张角);(II)仅能扫描中心区域;(III)(IV)相似,可以扫描任意区域,但在探测器的运动细节上有差异。其机械实现和数据处理上的差异过于专业,我们在这里就不再展开讨论。四、 层间混叠这是CL避免不了的问题。首先通过下图来了解一下层间混叠是什么样子。其表现就是横向的边缘被弱化了。为什么会出现这个问题呢?这得从傅里叶中心切片定理讲起,还是算了吧,简单点理解就是缺少了横向穿过物体的射线。为什么会缺少?因为这个方向射线穿不透啊,回忆一下前面一米长的PCB。如果你对上面的图像不满意,不如换个方向看看。是不是感觉好了很多。有没有办法彻底解决这个问题?针对特定的扫描对象,使用复杂的模型,效果会有所提高,但离实用还有很长的距离。 五、 CL的优点 谈完缺点再来聊聊优点。首先,就像前面提到的,这是现有条件下能得到的最好的结果。CL可以对大尺寸的板状物体得到非常高的分辨率。目前,射线源的焦点尺寸可以小到几百纳米。要想实现高分辨成像,需要射线源尽可能靠近物体,而CL这种扫描方式可以很容易的实现这一点。采用光学放大透镜的探测器的显微CT,样品可以不靠近射线源,但是由于射线的利用率底,扫描的时间会很长,难以满足快速检测的需求,且同样无法解决射线在有些角度下无法穿透的问题。下面再来聊聊CL另外一个优点。CT和CL图像最终表示的是物质对射线的线衰减系数(与射线能量、物质原子序数、物质密度等有关系)。一般趋势,线衰减系数随射线能量的增加而减小,简单点理解就是能量越高的射线越不容易被物质吸收。不同材料衰减系数的差异也随射线能量的增加而减小。由于CL始终沿着容易穿透的方向照射物体,可以使用较低能量的射线,因此能够获得较高的密度分辨能力。六、 国内CL研究进展与国外相比,国内对于CL技术的研究起步较晚。北京航空航天大学、中国科学院高能物理研究所等单位是国内最早开展CL成像研究的机构。在科技部重大科学仪器设备开发项目支持下,2015年,由中国科学院高能物理研究所和古脊椎动物与古人类研究所共同成功研发专用于“板状化石”的显微CL仪器,并在2016年中安装到中科院脊椎动物演化与人类起源重点实验室高精度CT中心,该仪器同时服务其他科研院所,中国科学院南京地质古生物研究所、中国地质科学院地质研究所、北京自然博物馆、安徽博物院、广西自然博物馆、北京大学,云南大学、西北大学、首都师范大学等,累计检测化石750余件。为板状化石的三维无损检测提供了全新工具,起到了不可替代的作用。该仪器的实验结果,助力研究人员在《Nature》、《Science》等期刊上发表论文20余篇,其中五项成果分别入选并领衔2018年、2019年、2020年和2021年中国古生物学十大进展。专用于“板状化石”的显微CL设备及其应用集成电路和电力电子领域也存在大量的板状产品。随着封装集成度和密度不断提高,对其内部结构缺陷检测要求空间分辨率达到微米甚至亚微米级。2019年,在科技部重大科学仪器设备开发项目支持下,中国科学院高能物理研究所针对电子器件封装检测需求,研制了具有亚微米级缺陷检测能力的X射线三维分层成像仪,关键指标达到国际先进水平。为了更好的进行X射线精密检测设备的推广,中国科学院高能物理研究所在2021年成立了锐影检测科技(济南)有限公司。X射线三维分层成像仪及其应用2021年,锐影检测科技(济南)有限公司成功研发了用于绝缘栅双极型晶体管(IGBT)焊接缺陷检测的专用CL设备。彻底解决了超声法和X射线DR成像无法检测带散热柱的IGBT模块的问题。设备实现了大视野快速成像,可以自动定位DBC焊接区域,自动进行气孔缺陷的识别,计算气孔率、最大气孔率、最大气孔尺寸,适用于在线检测。技术指标达到国际领先水平。IGBT焊接缺陷检测专用CLCL与DR方法对于IGBT基板焊料层气孔检测效果的比较总结随着科研及制造业的升级,对CL检测设备的精度、检测速度和智能化水平提出了更高的要求。新型CL设备的研发将是科研机构及X射线无损检测公司面临的挑战和历史机遇。 参考文献:【1】 Jiang Hsieh, Computed Tomography Principles, Design, Artifacts, and Recent Advances 3rd edition, SPIE PRESS.【2】 Buzug, Thorsten M. Computed tomography: from photon statistics to modern cone-beam CT. Springer, 2008.【3】 Zenghui Wei, Lulu Yuan, Baodong Liu, Cunfeng Wei, Cuili Sun, Pengfei Yin, and Long Wei, A micro-CL system and its applications. Review of Scientific Instruments, 88, 115107, 2017.【4】 Zuber M, Laaß M, Hamann E, Kretschmer S, Hauschke N, van de Kamp T, Baumbach T, Koenig T. Augmented laminography, a correlative 3D imaging method for revealing the inner structure of compressed fossils. Sci Rep. 2017 Jan 27 7:41413. doi: 10.1038/srep41413. PMID: 28128302 PMCID: PMC5269749.【5】 https://mp.weixin.qq.com/s/_SyUUlHpJNXrLxHFKYwydw本文作者:锐影检测科技(济南)有限公司
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