二次元影像量测仪

请问有同行知道二次元影像量测仪的市场价格是多小吗?

最近几十年不仅仅是我们，乃至全世界都能感受到中国制造的产品质量与效率都有质的飞跃。产品质量和效率的提升离不开生产设备和生产规范的高效管理，在管理过程中，对半成品、成品的合格率检测是必不可少的，以机械零件加工为例，在加工完一个机械零件后，我们对该机械零件的二维尺寸参数并不是很确定。这时，我们就需要通过检测手段，来获取机械零件的二维尺寸参数。传统的检测手段有投影仪、卡尺等，随着技术的进步，最新的二次元影像测量仪逐步替代传统检测手段，成为新的首选测量解决方案。今天我们就来分析一下[b]VX3000系列[color=#333333]二次元影像测量仪[/color][/b]与投影仪的区别。[align=center] [img]http://www.chotest.com/Upload/2019/6/201906149843071.jpg[/img][/align][align=center] [/align][b][color=#e01e2b]1.测量精度：[/color][/b]　　投影仪检测工件的精度一般在45μm左右，在现代化的生产加工过程中，已经不能满足生产者的精度需求。二次元影像测量仪的测量精度普遍在±2μm左右，最高可达1μm，是完全可以满足生产者对精度的要求的。[b][color=#e01e2b]2.测量效率：[/color][/b]　　用投影仪检测工件单次只可检测一个工件，并且需要在操作软件上定位原点，再进行一定编程工作，才可以测得一个工件的尺寸数据。二次元影像测量仪单次可以测量多个工件，小微型工件甚至可以测量几十个，只要在视场范围内，一次测多少个操作员说了算，二次元影像测量仪不需要定位原点，也不需要进行复杂的编程。只需在测量第一个工件时建立模板，此后测量相同的工件只需按一键测量按钮，即可得出工件的二维尺寸参数，批量测量最多可同时测量512个部位，大大提升了工作效率！[b][color=#e01e2b]3.仪器体积：[/color][/b]　　投影仪都是比较笨重的仪器，外形体积硕大，重达五六百千克，不方便搬运到不同车间进行检测作业。VX3000系列二次元影像测量仪的体积轻便，重量在30-40千克之间，单人即可搬运到不同的车间生产线上进行测量工作，省时省力省空间。

二次元影像测量仪在工业生产中，有着广泛的应用，对很多行业的工件都可以进行测量，同时，在影像测量仪的测量中，也有着许多的测量方式，通过这些方式，影像测量仪才能顺利的完成测量的任务。 以下介绍精密检测仪器二次元影像测量仪的两个测量方式，他们分别是轮廓测量和表面测量。　　1、轮廓测量　　顾名思义就是影像测量仪测量工件的轮廓边缘，一般采用底部的轮廓光源，需要时也可加表面光做辅助照明，让被测边线更加清晰，有利于测量。　　2、表面测量　　表面测量可以说是二次元影像测量仪的主要功能，凡是能看到的物体表面图形尺寸，在表面光源照明下，影像测量仪几乎全部能测量，电路板上的线路铜箔尺寸、IC电路等，当被测物件是黑色塑料、橡胶时，影像测量仪也能轻易测量尺寸。http://www.zhengyekeji.net/include/upload/ckeditor/images/1319709450197084656155029.jpg　　二次元影像测量仪(又名影像式测绘仪)是建立在CCD数位影像的基础上,依托于计算机屏幕测量技术和空间几何运算的强大软件能力而产生的。计算机在安装上专用控制与图形测量软件后,变成了具有软件灵魂的测量大脑,是整个PCB实验室解决方案设备的主体。

二次元影像测量仪使用及维护保养事项1、 在测量和归位时，移动工作台要注意不要大力撞击工作台两端，放置在撞击过程中损坏光栅尺。2、 仪器镜头是精密光学部件。在对仪器镜头倍率大小调整时，请注意调整方向和力度，以免损坏。3、 对仪器专用电脑的使用时要尽量避免电脑中毒，在使用杀毒软件是要主要不要将仪器的驱动插件删除。4、 不要擅自输入软件密码，修改软件的校准参数，除非得到我公司专业售后人员的同意和指导。5、 使用完毕后，关闭表面光和透射光的电源，延长LED灯使用寿命。6、 仪器使用完毕后，罩上防尘罩，避免灰尘进入。7、 放置工件时，要轻拿轻放，防止玻璃台面、或大理石台面划伤。8、 工作台导轨，Z轴升降导轨要定期喷涂防锈油，防止生锈，影响机台精度。9、 如果仪器需要搬动，请将工作台固定板和Z轴固定板锁紧，方可进行。10、仪器各紧固件及电气接插件都已经连接牢固，可靠、客户不得自行拆卸。11、请尽量保持仪器放置区域的温度、湿度符合要求，以提高仪器使用寿命和测量精度。本文转发自：http://www.yhyvm.com

随着中国市场的科技技术日新月异，制造业对产品的精度要求越来越高，人为测量已无法满足客户要求，大家都开始借助仪器测量。目前市面上对于尺寸的测量主要是有二次元及三次元等。那么这些测量仪的区别在哪儿呢？目前市面的二次元测量仪、三次元测量仪、测量投影仪与五次元一键式测量仪的区别？？？ 现在市场的影像尺寸测量仪，有三次元测量仪、二次元测量仪和测量投影仪。而二次元测量仪跟测量投影仪难以区别，都是光学检测仪器，在结构和原 理上二次元测量仪通常是连接PC电脑上同时连同软件一起进行操作，精度在0.002MM以内，测量投影仪内部是自带微型电脑的，因此不需要再连接电脑，但在精度上却没有二次元测量仪那么精准，影像测量仪精度一般只能达0.01MM以内。三次元测量仪是在二次元测量的基础上加一个超声测量或红外测量探头，用于测量被测物体的厚度以及盲孔深度等，这些往往二次元测量仪无法测量，但三次元测量仪也有一定的缺陷：Ø 测高探头采用接触法测量，无法测量部分表面不 能接触的物体；Ø 探头工作时，需频繁移动座标，检测速度慢；Ø 因探头有一定大小，因些无法测量过小内径的盲孔；Ø 探头因采用接触法测量，而接触面有一 定宽度，当检测凹凸不平表面时，测量值会有较大误差，同时一般测量范围都较小。 光纤同轴位移传感器以非接触方式测量高度和厚度，解决了过去三角测距方式中无法克服的误差问题，因此开发出可以同轴共焦非接触式一键测量的3D轮廓测量设备成为亟待解决的热点问题。 针对现有技术的上述不足，提供五次元测量设备及其测量计算方法，具有可以非接触检测、更高分辨率、检测速率更快、一键式测量、更高精度等优点。五次元测量仪通过采用大理石做为检测平台和基座，可获得更高的稳定性；内置软件的自动分析，可一键式测量，只需按一个启动键，既可完成尺寸测量，使用方便；采有非接触式光谱共焦测量具有快速、高精度、可测微小孔、非接触等优点，可测量Z轴高度，解决测高探头接触对部分产品造成损伤的问题；大市场光学系统可一次拍取整个工件图像，可使检测精度更高，速度更快。并且可以概据客户需要，进行自动化扩展，配合机械手自动上下料，完全可做到无人化，并可进行 SPC 过程统计。为客户提供高精度检测的同时，概据 SPC 统计数据，实时对生产数据调整， 提高产品质量，节约成本。

求二次元或三次元,说明性能及市场指导价.

我的3D Family的VMS550的二次元，每次测试前做完校正后就死机。再重启后测试数据完全不对，请教各位大侠有没有碰到过同样的问题，分享一下解决的方法.

公司要买一台三坐标二次元的投影仪用于测量精密零部件的孔径及一些用游标卡尺不好测量或游标卡尺精度达不到的塑料件，以前没用过，搜了一下，发现有很多种，不知道买什么样的合适，大家有没有推荐的？

二次元，就是指平面的、二维的平面空间，通常用来指书面、电脑、理想中的不存在的世界，即所谓动漫的世界动画，漫画，CG，2维游戏等一系列平面的视界产物。而三次元既现实世界。　　在日本ACG作品当中所指称的“次元”，通常是指作品当中的幻想世界以及其各种要素的集合体。　　另外，在传统上，以平面的媒体所表现的虚拟角色，如漫画或动画中的人物，因其二维空间的本质，而常被称为“二次元角色”，以有别于现实(三维空间)的人物。但是，以三维电脑图像所制作的角色，因其处于虚拟世界又具有立体性的概念，而被称为“2.5次元角色”。　　立体造型的玩偶等物，从本来的定义来说，应该是三次元角色；但因为本身通常基于二次元角色立体化而来，又或者强调其虚拟的本质，所以有时候也被称为“2.5次元角色”

在现代工业的生产中，我们经常会用到各种各样的检测仪器，精密测量仪器就是其中的主要仪器。测量仪器是为了取得目标物某些属性值而进行衡量所需要的第三方标准，测量仪器一般都具有刻度、容积等单位。而在精密测量仪器中，又有许多的检测仪器，如二次元影像测量仪等，下面，我们就介绍一下，在我们的认知中常用的精密检测仪器有哪些？首先，我们所熟知的精密测量仪器，第一个就是二次元影像测量仪，又叫影像测量仪、二次元影像仪，简称二次元，是精密测量仪器中使用最为广泛的仪器之一。所谓二次元影像测量仪，从字面上我们可以看出，是以检测工件的二维数据为主的影像测量仪器。由于二次元影像测量仪主要应用在二维检测上，所以我们就在二次元的基础上研发生产了三次元，这就是我们常说的三坐标测量机或三坐标测量仪，它在长宽检测的根本上增加了高度检测的功能，是模具检测等主要的检测仪器。在二次元影像测量仪和三坐标测量机的使用过程中，我们会根据仪器的操作方式，进而将它们分为手动型和自动型的二次元、三坐标，而在现今的市场上，我们使用更为普遍的是CNC二次元与CNC三次元，因为它们能够更为精准的检测出我们所需的参数与数据，操作也更加的方便。在精密测量仪器的常用仪器中，除了二次元影像仪和三次元测量仪之外，还有一种特殊的高精度测量仪，这就是介于二次元与三坐标之间的2.5次元，它是在二次元的基础上加装了探针，以此来实现简单的三维检测的功能，这也是我们称之为2.5次元的原因。无论是MUMA二次元、NV全自动影像测量仪或者CMF全自动三次元，亦或2.5次元，它们的根本功能就是为了更好地检测工件，为产品的安全生产提供保障，所以我们说，精密测量仪器是现代工业生产中必不可少的检测仪器。

[b]【仪器名称】：[color=#ff0000]轮阔仪[/color]【新旧程度】：不限【价格范围】：0.3万元（可面议）【质保期限】：无要求【交易地点】：江苏【联 系 人】：陈先生【联系方式】：[/b][font=&]15365227956[/font][b]【信息有效性】：[/b][font=&]6个月[/font]

[color=#2f2f2f]来源：http://www.dg[/color][url=https://links.jianshu.com/go?to=http%3A%2F%2Fbbs.elecfans.com%2Fzhuti_715_1.html]ti[/url][color=#2f2f2f]anze.com[/color]在精密影像检测仪器中，我们可根据仪器的具体影像将其划分为[url=http://www.dgtianze.com/www.dgtianze.com][b]二次元影像测量仪[/b][/url]和三坐标测量机两种，他们是在工业生产中常用的两种仪器，而客户在购买仪器时，只会根据自己的需要而选择一种，那么我们就要对每个类型的精密仪器再次的划分，那就是根据操作方式将其分为手动型和自动型两种。 在现在的精密影像检测行业中，不管是二次元还是三坐标，手动机台已经慢慢的被全自动影像仪所取代，那么，相比于手动，全自动在应用中有哪些优势呢？ 不管是二次元等精密检测仪器，还是其他一些日常用品，我们对它们进行选择时，最终所要考虑的因素就是性价比，只有性价比最好的产品才能最终获得青睐，那么自动检测仪器的性价比与手动相比，好在哪里呢？ 相比于手动机台，自动机台在价格上是无法去其相比的，一个手动的仪器，其价格仅仅是几万而已，而自动仪器的价格则是动辄几十万，因此自动机台在这方面是不具备优势的。那么我们就将二者的性能进行比较。手动与自动的操作方式不同，所以性能也有很大的区别，手动机台由于人为操作的因素，所以在检测过程中会产生很大的人为误差，这也手动二次元在检测中的精度就会大大的逊色与自动机型，再者手动机台由于需要手动进行控制，所以它的检测效率相比于自动机台，也是具有很大的差距，这样就无法满足相当大一部分客户的需求。 我们从以上可以看出，虽然自动机台的价格远远的高于手动型，可是自动二次元除了性能好之外，还能满足一些手动仪器所无法解决的问题。因此，综合这些因素，可以看出自动型仪器的性价比要优于手动型影像检测仪器，这也是为什么更多的人会选择自动影像测量仪的原因。 全自动影像测量仪是科溯源最新一代的高性能活动桥式测量机，它有着高稳定性的测量系统，可以快速有效的完成通用的检测需要，并最大程度的提高检测的效率。全自动影像测量仪具有以下的性能特点：1、单边活动桥式结构，显著提高运动性能，确保测量精度及稳定性。2、三轴导轨均采用高精度天然花岗岩，具有相同的温度特性及刚性。3、三轴导轨均采用自洁式预载荷高精度空气轴承，运动更平稳，导轨永不受磨损。4、应用范围广泛，可应用于汽车、电子、五金、塑胶、模具等工业行业中。

影像测量仪应用在各个不同的精密产品的行业中，是院校、研究所和计量检定部门的计量室、试验室以及生产车间不可缺少的计量检测设备之一。　　影像测量仪的性能：　　1、影像测量仪具备基本的点、线、圆、两点距离、角度等基本测量功能及坐标平移的功能，能满足基本的二次元测量要求。　　2、花岗石底座与立柱，机构稳定可靠　　3、影像测量仪的X、Y轴装有光栅尺，定位精确。　　4、Z轴采用交叉导轨加配重块的全新设计，镜头上下升降受力均衡，确保精度。　　5、LED冷光源(表面光合轮廓光)避免工件受热变形。　　6、激光定位指示器，精确制定当前测量位置，方便测量。　　7、影像测量仪可以使用OVMLite软件。　　8、影像测量仪的镜头：3DFAMILY-S型0.7X-4.5X连续变倍镜头，影像放大倍率：28X-180X。

细菌总数在二次供水检测中准确度的控制 徐霞君 (深圳市水质检测中心) 摘 要：二次供水水样中细菌总数检测结果的准确度往往受多方面因素的影响，具体表现在取样、培养基的配备、培养条件、无菌室实验操作、计数及后处理等。本文对各影响因素中的各个细节提出规范对策，从而使二次供水细菌总数在检测中的准确度得以控制。 关键词：细菌总数、二次供水、检测、准确度、控制 　 二次供水是生活饮用水二次供水的简称，是指通过二次供水设施间接向用户供给生活饮用水的行为，二次供水设施主要为地下水池与天面水池，按《深圳经济特区生活饮用水二次供水管理》规定，每年至少清洗消毒二次，消毒方式有氯消毒、二氧化氯消毒、臭氧消毒、紫外线消毒等，消毒完成后，由专业清洗机构及时通知市水质检测中心进行取样检测。我水质检测中心在对二次供水8项指标(色度、浑浊度、肉眼可见物、PH、细菌总数、总大肠菌群、余氯)的检测中，在统计其月检不合格率时，其中因细菌总数超标引起二次供水水质不合格的占绝大多数。我们在不排斥原水样的超标外（市政水在经过不合格的二次供水水箱设施时受到一次污染），但也存在二次供水水样的细菌总数在检测中受到二次污染，即在检测中受到各种因素的影响，具体表现在取样、培养基的配备、培养条件、无菌室实验操作、计数及后处理等。因此，要提高二次供水水样细菌总数的准确度，必须对各影响因素进行规范控制。 1 取样中的规范 取样中存在的规范控制主要表现在取样瓶灭菌和水样的采集与保存两方面。 1.1 取样瓶的灭菌 取样瓶必须是清洁无菌的，一般用磨砂口带塞瓶，瓶的颈部和上部必须用锡泊纸覆盖，在160~170℃的烘箱内经干热灭菌2h方能达到灭菌目的。有的技术人员把取样瓶的消毒时间控制为1h，灭菌不彻底。因各种微生物对热的抵抗力不同，芽孢需要160℃、2h才能杀死。 灭菌后的采样瓶，两周内未使用，需重新灭菌。已灭菌和封包好的采样瓶，不论在什么条件下采样时，均要小心开启包装纸和瓶盖，应避免瓶盖和瓶子颈部受杂菌污染。 1.2 水样的采集与保存 采样时,不要用水样冲洗采样瓶，因余氯的存在会影响待测水样在采集时所指示的真正细菌含量，为去除余氯，于灭菌前按500ml采样瓶内加0.3ml10%Na2S2O3溶液，瓶内须留足够空间，一般采样量为瓶容量的80％左右，以便操作时摇匀，以获得具有代表性的样品。

[size=5][b] [/b][/size]　　采用脉冲一次离子源（LMIG, Cs, C60,Au，O2+,Ar+）等轰击样品，然后收集从样品表面激发出来的二次离子，采用质谱检测器（飞行时间、四极杆、扇形磁过滤、离子阱等），来收集这些二次离子，并且根据他们的质荷比（ｍ／ｚ）将它们分离，据此来判断分析材料的成分。　　 　　二次离子质谱仪分为静态- 二次离子质谱仪(S-SIMS) 和动态二次离子质谱仪(D-SIMS) ，其区分的标准就是根据入射的一次离子的剂量一般10^12atoms/cm2，成为静态二次离子质谱仪，一般采用飞行时间检测器，主要用于生物医药的有机物分析，半导体材料的污染物分析，存储材料分析，可以坚定有机的分子碎片。在分析过程中，材料表面的吸附物质及化学状态，对谱峰影响巨大。这也就是二次离子质谱中的“基体效应”。静态－二次离子质谱是一种无破坏的表面分析方法。最常见的静态- 二次离子质谱仪是飞行时间二次离子质谱仪。飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS: Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry）利用一次脉冲离子轰击样品，通过表面激发出的二次离子的飞行时间测量其质量（m/z 100,000），以分析样品的表面组成。　　动态－二次离子质谱仪，入射的一次离子的剂量一般10^1５atoms/cm2，对表面形成大量的溅射作用，是一种破坏性分析，主要用于地质研究，同位素定年分析，半导体掺杂的深度分析。主要采用的一次离子源为气体等离子源（Ａｒ／Ｏ２）或Ｃｓ离子源，一般要求样品导电性要好。

色谱仪是安捷伦6890，按照国标食品中脂肪酸的测定中[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Mp][color=#3333ff]气相[/color][/url]条件进行检测，溶在正己烷里的。不知道为什么就没有峰了。第一次测完之后[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Mp][color=#3333ff]气相[/color][/url]峰前延，我想第二次少进一些样再看一下，结果就没有峰了，换了一下文献里的其它条件也没用，啥情况啊？第二次检测之前电脑卡了，所以我重启了一下电脑，后面就全测不出来了，难不成这也有影响？此外还想问一下检测器的温度过高或过低会对样品的检测有什么影响啊？查询发现检测器温度一般要高柱温20-50℃

麻烦问一下各位高手，做ICP时，所用二次水的酸度对ICP有影响吗？我素用的二次水的pH为６．５谢谢！！

各位老大: 预对一披二次供水水质进行检测,求教评价依据是哪个?《生活饮用水卫生规范》还是《二次供水设施卫生规范》GB17051-1997；还是这两个都有？？急急急谢谢了

目前市面的二次元测量仪、三次元测量仪、测量投影仪与五次元一键式测量仪的区别？？？ 现在市场的影像尺寸测量仪，有三次元测量仪、二次元测量仪和测量投影仪。而二次元测量仪跟测量投影仪难以区别，都是光学检测仪器，在结构和原 理上二次元测量仪通常是连接PC电脑上同时连同软件一起进行操作，精度在0.002MM以内，测量投影仪内部是自带微型电脑的，因此不需要再连接电脑，但在精度上却没有二次元测量仪那么精准，影像测量仪精度一般只能达0.01MM以内。三次元测量仪是在二次元测量的基础上加一个超声测量或红外测量探头，用于测量被测物体的厚度以及盲孔深度等，这些往往二次元测量仪无法测量，但三次元测量仪也有一定的缺陷：Ø 测高探头采用接触法测量，无法测量部分表面不 能接触的物体；Ø 探头工作时，需频繁移动座标，检测速度慢；Ø 因探头有一定大小，因些无法测量过小内径的盲孔；Ø 探头因采用接触法测量，而接触面有一 定宽度，当检测凹凸不平表面时，测量值会有较大误差，同时一般测量范围都较小。 光纤同轴位移传感器以非接触方式测量高度和厚度，解决了过去三角测距方式中无法克服的误差问题，因此开发出可以同轴共焦非接触式一键测量的3D轮廓测量设备成为亟待解决的热点问题。 针对现有技术的上述不足，提供五次元测量设备及其测量计算方法，具有可以非接触检测、更高分辨率、检测速率更快、一键式测量、更高精度等优点。五次元测量仪通过采用大理石做为检测平台和基座，可获得更高的稳定性；内置软件的自动分析，可一键式测量，只需按一个启动键，既可完成尺寸测量，使用方便；采有非接触式光谱共焦测量具有快速、高精度、可测微小孔、非接触等优点，可测量Z轴高度，解决测高探头接触对部分产品造成损伤的问题；大市场光学系统可一次拍取整个工件图像，可使检测精度更高，速度更快。并且可以概据客户需要，进行自动化扩展，配合机械手自动上下料，完全可做到无人化，并可进行 SPC 过程统计。为客户提供高精度检测的同时，概据 SPC 统计数据，实时对生产数据调整， 提高产品质量，节约成本。

[align=center][b]二次抽样作业指导书[/b][/align][align=center][b]国联质检：孙哲[/b][/align][b]1. 目的[/b]为了二次抽样样品能应代表原始样品，特制定作业指导书。[b]2. 适用范围[/b]适用于检测中心需要将样品分开用于检测不同的特性时的二级抽样。[b]3. 职责[/b]3.1 样品接收员负责样品的登记、标识、验收、发放。3.2检测人员负责对样品进行二次抽样，并做好样品的安全和保密工作。[b]4. 工作程序[/b]4.1 当检测样品不同特性时，为保证样品能够代表其原始性，需对其进行二次抽样。4.2 为保证样品不发生混淆，样品标识应始终保留。4.3用于二次抽样的容器应确保不对样品造成污染。4.4 进行二次抽样时，应选择适当的设备用于二级抽样、包装、提取等，以避免影响检测结果。4.6 二次抽样过程4.6.1 固体固体一般采用四分法进行分样：a) 将样品倒在光滑平坦的桌面或玻璃板上；b) 用分样板把样品混全均匀；c) 将样品摊成等厚度的正方形；d) 用分样板在样品上划两条对角线，分成两个对顶角的三角形；e) 任取其中两个三角形为样本；f) 将剩下的样本再混合均匀，再按以上方法反复分取；直至最后剩下的两个对顶角三角的样品接近所需试样重量为止。4.6.2 液体a) 以均匀溶液形式存在的材料：对于不含悬浮物和可认为是均匀溶液的液体，取样单元可以非常小。b) 含悬浮物的液体：在充分搅拌使悬浮着的固体尽可能保持均匀的同时，在不同的水平处取出一系列样本可使非均性得到很大的补偿。c) 瓶装样品在取样时摇匀后检测结果没有特殊要求的将样品到出，避免用其它玻璃器皿吸入，对试验有特殊要求的按照试验方法规定的要求取样。 取样的工具在每次使用前必须干净不得有污染，取样时需注意样品的均一性。

三次元亦指三维空间，二次元就是平面的世界，而三次元就是指我们的现实世界。三次元又称为三坐标测量仪或三坐标量床，是指在一个六面体的空间范围内，能够表现几何形状、长度及圆周分度等测量能力的仪器，可分为直角坐标系三次元和关节坐标系三次元。 三次元采用双边高架双驱动、双光栅精密机械结构，结构设计采用国际大型测量机专用的龙门式结构；三次元的三轴导轨均采用高精度自洁式空气轴承，运动更平稳，导轨永不受磨损，可保证仪器的稳定性和使用寿命。三次元具有自动捕捉图形线条的各结点能力，可以自动捕捉线的起点、中点、终点及两线的交点、圆心及圆周上的三个结点，用于辅助标注绘图等应用功能。 三次元可用于对工件的尺寸、形状和形位公差进行精密的检测，对齿轮、凸轮、蜗轮、蜗杆、叶片、曲线、曲面进行检测，从而完成零件检测、外形测量和过程控制等质量的检测，三次元可广泛的应用于航空、航天、军工、汽车、电子、机械、汽车、航空、军工、模具等行业中的箱体、机架等的测量、五金、塑胶等行业中。

用的AA6300C设备火焰法测食品中常测的八个微量元素，二手设备，走标曲时候一次方程如图一 不成线性，用二次方程或者三次方程可达3个9以上，这样再日后的检测中可行吗，出具书面报告有不规范之说么？还有，针对这个设备，走标曲时候怎么看燃烧头偏转角度就对了，参考什么参数啊？各位大神请指教啊[img=,690,920]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2020/10/202010281548437269_2358_5017524_3.png[/img][img=,690,920]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2020/10/202010281548519093_1396_5017524_3.png[/img][img=,690,920]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2020/10/202010281549099949_3356_5017524_3.png[/img]

看过论坛上的一些资料，初步了解BSE信号分辨金属分布区域应该效果更好，但此图片（请见附件）是SEM-SEI，二次电子像。[b][i]讨论开始：[/i][/b]图中有些圆孔顶端（黄箭头所指处）比其他区域衬度更亮，当然二次电子像受表面形貌影响甚大，原来怀疑是由此引起，但请看图中红箭头所指的管，其高度应明显高于周围，但周围有几个圆孔顶端却更亮；另外，请看兰色箭头所指的两根管子，上边的一个景深方向明显暗于顶口（好象有一层东西的感觉），而下边这个管延景深方向却是一直很亮。管的材料是钛（原子序数22），表面做过修饰，为金（原子序数79）。[b][i]请问我能否初步判断：[/i][/b]那些特别亮的管顶口有金的存在？我是初学者，请多指教，谢谢！

申请过一次，没有通过，发现没通过的那次留有记录。会不会影响第二次申请的结果呢？

二次离子质谱仪原理简介二次离子质谱仪（Secondary Ion Mass Spectrometry, SIMS）又称离子探针（Ion Microprobe），是一种利用高能离子束轰击样品产生二次离子幵迚行质谱测定的仪器，可 以对固体或薄膜样品迚行高精度的微区原位元素和同位素分析。由于地学样品的复杂性和对 精度的苛刻要求，在本领域内一般使用定量精度最高的大型磁式离子探针。该类型的商业化 仪器目前主要有法国Cameca 公司生产的 IMS1270-1300 系列和澳大利亚ASI 公司的 SHRIMP 系列。最近十年来，两家公司相继升级各自产品，在灵敏度、分辨率及分析精度 等方面指标取得了较大的提升，元素检出限达到ppm-ppb 级，空间分辨率最高可达亚微 米级，深度分辨率可达纳米级。目前，大型离子探针可分析元素周期表中除稀有气体外的几 乎全部元素及其同位素，涉及的研究领域包括地球早期历叱不古老地壳演化、造山带构造演 化、岩石圀演化不地球深部动力学、天体化学不比较行星学、全球变化不环境、超大型矿床 形成机制等。因而国内各大研究机构纷纷引迚大型离子探针（北京离子探针中心的SHRIMP II SHRIMPIIe-MC、中科院地质不地球物理研究所的 Cameca IMS-1280、Cameca IMS-1280HR 和NanoSIMS 50L、中科院广州地球化学研究所的 Cameca IMS-1280HR、 中核集团核工业北京地质研究院的 IMS-1280HR），大大提高了国内微区分析的能力。 本实验室配备了Cameca 公司生产的IMS1280 离子探针和其升级型号 IMS1280HR。 两台仪器的基本原理及设计相同，升级型号IMS1280HR 主要在磁场设计上有所改迚，具 有更高的质量分辨率和传输效率。该型仪器从功能上可分为四部分，如图一所示：一次离子 产生及聚焦光路（黄色部分）、二次离子产生及传输光路（蓝色部分）、双聚焦质谱仪（粉 色部分）和信号接收系统（紫色部分）。Cameca 离子探针可以类比为一台显微镜，离子源 相当于显微镜的光源，传输光路相当于物镜，质谱仪相当于滤镜，而接收器相当于目镜或照 相机。 图一， IMS1280/HR 型离子探针原理示意图 一次离子部分包含了两个离子源分别是可以产生O 离子的双等离子体离子源（Duo Plastron Source）和产生Cs 离子的热电离铯离子源（CsIon Source），一 般分别对应地学领域分析中的正电性元素（如 Pb、U、Th、REE、Li、Ca 等）和负电性元 等）。两个离子源由软件控制选择，所产生的离子通过高压（一般为数千伏特）加速后迚入一次离子质量过滤器（PBMF）迚行质量筛选，常用的一次离子有 16 16O2 133Cs 离子。后续的一次离子光路通过调整离子透镜Lens2,Lens3 和Lens4 电压可以获得两种照明方式：均匀照明（科勒照明或平行光照明）和高斯照明。一次离子光路原理如图二所示。 均匀照明模式使用离子透镜Lens2 将一次离子束调整为“平行光”，幵穿过位于其后 的一次束光阑（PBMF_Aperture），再通过离子透镜Lens4 将该光阑成像到样品表面。在 该模式下，离子束的直径由PBMF_Aperture 的大小决定，由于该光阑受到离子束的剥蚀 而逐渐变大，因此实际上这种模式的离子束直径是随时间丌断变化的，对空间分辨率丌太敏 感的应用可以使用该模式。实验室的常规定年就使用了这种照明模式，由于其离子束密度均 匀，在样品表面留下的剥蚀坑为椭囿形的平底坑。 图二 一次离子光路原理示意图 在高真空条件下，带有数千电子伏特（eV）的高能带电离子轰击固体样品的表面时，部分 一次离子注入到固体内部并不其路径上的样品原子发生弹性或非弹性碰撞。通过碰撞而获得能量 的内部原子又不其周围的原子再次进行碰撞并产生能量传导，这个过程称为级联碰撞。最终，部 分样品内部电子、原子或分子获得了足够的能量逃逸出样品表面，产生了溅射现象。在溅射出的 各种微粒中，有小部分发生了电离，产生了二次离子。这些二次离子被样品表面的+10KV到 -10KV的高压加速，通过离子透镜聚焦后进入双聚焦质谱仪进行质量筛选。溅射及加速示意图 请见图三。 高斯照明模式在PBMF之后使用了三个离子透镜：Lens2、Lens3和Lens4。其中Lens2 不Lens3将离子束汇聚，L4将汇聚后的离子束聚焦到样品表面，形成束流密度中心高周围低 的高斯分布。这种模式下，在样品表面产生的剥蚀坑是接近囿形的V型坑。这种模式下离子 束的直径主要受到L2不L3透镜电压的影响，而对光阑的剥蚀效应很小，因此可以长时间保 持离子束直径丌变。实验室常规的稳定同位素分析以及空间分辨高于10微米的小束斑定年 分析都采用了高斯照明模式。 丌同元素的二次离子产率相差巨大，而且每种元素在丌同基体中的产率也丌尽相同，甚 至同一元素的同位素之间在丌同的基体中也表现出丌固定的产率（基体效应）。在实际分析 时实测值不理论值会产生较大差异。因此，要使用离子探针进行高精度的元素、同位素分析， 必须使用不被测样品成分和结构一致的标准物质进行校正。而标准样品的稀缺性也成为制约 和影响离子探针分析的瓶颈。目前，本实验室目前已开发了锆石氧同位素标准物质 （Penglai）、方解石碳-氧同位素标准物质（OKA）、锆石Li同位素标准物质（M257）、锆 石年龄标准物质（Qinghu）等。 图三，离子探针溅射示意图 二次离子产生后迚入离子传输光路，该部分相当于显微镜的物镜，通过调节该“物镜” 的放大倍数，配合后续的光阑及狭缝的调整，可在质量分辨率确定的条件下对仪器的传输效 率迚行优化，保证分析精度。入口狭缝是传输光路和质谱仪的分界面。离子束通过传输光路 聚焦后，在入口狭缝处汇聚。调节入口狭缝的宽度可控制迚入质谱仪的离子束宽度，从而控 制质谱仪的质量分辨率。质量分辨率要求越高，入口狭缝所对应的宽度就越窄，二次离子信 号的强度损失也就越多。因此，在满足分析要求的前提下，尽量使用较低的质量分辨率。离 子探针分析中，样品表面溅射出的二次离子组成非常复杂，包括了单原子离子、分子离子、 多电荷离子、复杂聚合物离子等，对质量分辨率要求极高。为了兼顾离子探针的质量分辨率 和传输效率，必须采用大磁场半径的设计。该型离子探针的最低质量分辨率为～900，而最 高可用质量分辨率大于20000. 磁式质谱仪主要利用运动离子在磁场中的受力偏转实现对特定质量电荷比值的离子的 选择。磁式离子探针一般使用双聚焦磁式质谱，可以实现速度聚焦和方向聚焦，在二次离子 能量分布范围较大的情况下实现高质量分辨率和高传输效率。双聚焦质谱仪由静电分析器和 扇形磁场质量分析器组成，当二者的能量色散在焦平面上相互抵消时即实现了双聚焦。 IMS1280/HR 离子探针的静电场及磁场半径均为585mm，在质量分辨率5000 的条件下， 其传输效率90%。 离子经过质谱仪的质量色散后迚入离子接收系统。该型仪器的接收系统分为三个部分： 具有5 个接收位置，共7 个接收器的多接收系统；具有三个接收器的单接收系统和微通道 板成像系统。多接收系统能够同时接收的最大的质量差异为17%，最小质量差异为～0.4%， 是典型的同位素质谱配置。5 个接收位置可在各自轨道上沿聚焦面移动，根据被测同位素的 信号强度可选择安装法拉第杯或电子倍增器。最外侧的两个接收位置还分别额外加装了一个 法拉第杯，增加配置的灵活性，如图四所示。多接收器分析可以提高效率，并能抵消一部分 因为一次离子或仪器其他参数波动引起的分析误差，是提高分析精度的最直接手段。实验室 的高精度稳定同位素分析（氧同位素、碳同位素及硫同位素等）都是用多接收器的。目前本 实验室两台离子探针采用了丌同的接收杯配置，其中一台偏重于稳定同位素分析，在多接收 器中安装了多个法拉第杯，而另一台则偏重微量元素尤其是Pb 同位素分析，主要配置为电 子倍增器。单接收系统具有一个工作在离子计数模式下的电子倍增器和高低两个丌同量程的 法拉第杯，组成了具有10 动态接收范围的大量程接收系统。对于质量范围超过17%的分析，一般使用单接收系统，例如传统的U-Pb 定年分析，其需要测量的质量数从196-270， 使用的是单接收系统中的电子倍增器收集所有信号。 使用微通道板成像时，仪器工作在离子显微镜模式下，成像的分辨率取决于二次离子光 路的设置，而不一次离子束的直径无关。由于微通道板性能的制约，这种模式一般只用于辅 助的定性判断和仪器参数的调整，而丌用于定量分析。离子探针还有一种二次离子扫描成像 模式。类似于扫描电子显微镜的工作原理，通过同步一次离子的扫描位置和电子倍增器的接 收时间，可以将电子倍增器测量到的信号强度不其在样品上的位置对应起来，从而重构出经 过质量筛选的离子分布图像。该图像的分辨率取决于一次离子束的直径，可用于元素、同位 素二维分布分析

二次离子质谱(SIMS)是一种用于分析固体材料表面组分和杂质的分析手段。通过一次离子溅射，SIMS可以对样品进行质谱分析、深度剖析或成二次离子像。SIMS具有很高的元素检测灵敏度以及在表面和纵深两个方向上的高空间分辨本领，所以其应用范围也相当广泛。涉及化学、生物学和物理学等基础研究领域及微电子、催化、新材料开发等各个领域。 二次离子质谱法对于大部分元素都有很高的探测灵敏度，其检测下限可达百亿分之几的数量级。对痕量组分能进行深度剖析，可在微观(µ m级)上观察表面的特征，也可以对同位索进行分析和对低原子序数的元素(如氢、锂、铍等)进行分析。 ①痕量分析二次离子质谱法有极高的分辨率，可以达到十亿分之几的数量级。因此，可以对痕量的物质做出定性分析以确定其在表面的存在。当然进行这种分析要求排除所有可能影响结果的干扰。防止表面吸附物污染被测试表面，测试要在高真空和高纯度的离子束条件下进行。 ②定量分析定量分析采用的是以标样为基础的分析方法。一次离子的种类、能量和电流密度、样品环境、探测器效率以及二次离子分析器的能带通道确定之后，就能使用元素的相对灵敏度系数对样品进行确切的分析。只要二次离子质谱仪的灵敏度足以探测到基体的所有主要成分，所得结果就是这种基体材料成分的原子百分比。 ③深度分析深度分析的一般方法是监控样品中某元素的二次离子信号随溅射时间的变化。对于均匀基体材料，通过适当的标定试验(已知镀层厚度、陷口深度等)就能把时间转换为深度。元素的定量可以由二次离子强度的变化及二次离子强度定量分析方法得到。

我有两个问题想麻烦各位解答一下，1，为什么二次电子显微图像具有很好的立体感？2，为什么气孔边缘的二次电子产额比较大？谢谢大家！！

[color=red]【由于该附件或图片违规，已被版主删除】[/color]CMI900 系列先进的材料分析仪器新型CMI900系列即时分析仪代表了牛津仪器（OXFORD INSTRUMENTS）镀层厚度测量和材料成份分析技术的一次重大飞跃。软件和硬件领域的新进步提高了我们X线系列产品的性能。CMI900系列能够测量极薄的浸液镀层（银、金、钯、锡等）和其它薄镀层。区别材料并测量氮化钛镀层。CMI900系列分析仪能够即时分析黄金和其它贵重金属。印刷电路板和电子元件制造商以及金属表面处理专业厂家也可以从我们测量镀层厚度和成份的先进技术中获益。像我们所有的仪器一样，这个系列的仪器也由牛津仪器集团提供技术支持。我们保证在售前和售后都提供卓越的服务。测量和材料分析系统软件所有Oxford X线荧光系统都配备有Oxford Smartlink FP系统操作软件包。这是一种基于windows的综合性基本参数软件程式。规格简介l无标准效准：Oxford支持使用标准以解决顺应性和系统优化问题l包含原子序号22至92的典型元素的电镀层、镀层、表膜和液体l5层/15种元素/普通元素效正l同时为多达15种元素进行成份分析l贵重金属分析和金纯度检查l材料与合金元素分析l材料鉴定与区别l吸收测量方式l液体分析：分析液体中的金属，如电镀液l系统自动调整和效正：效正X线导管、探测器和电子设备的变化l光谱计数速率峰值位移效正l重叠荧光峰值数字峰值反卷l定性光谱分析元素ID。同时轻松自如地查看和比较多达四个光谱lOxford统计数字和报告产生器LE（轻型）Oxford SmartLink 补充软件系列lOxford统计数字和报告产生器l配备数据库的Oxford统计数字和报告产生器lOxford即时分析lOxford材料区别lOxford Percent P有了Oxford SmartLink补充软件系列，您就能够将原始数据转变成强有力的资讯。所有的Oxford统计数字和报告产生器都让您根据自己的需要选择定制报告。统计数字软件提供：平均值，S.D.，最小值，最大值，范围，偏差百分比，控制上限，控制下限，Cpk，组织图，X-bar/R。所有的性质都可以用多媒体形式做图表演示。用户可以输入测量元件的数字图像或CAD文件，并把它们直接放在品质报告上。l配备数据库的Oxford统计数字和报告产生器：与上面相同，但包含一个完整的数据库。数据库总共包含十个可追踪域，其中八个为用户定义域。元件号和日期/时间域为标准域。通过用户选择索引对数据进行存档、索引和分类处理。lOxford即时分析、材料区别和Percent P等选项，能够为您的具体应用优化CMI900系列仪器的功能。这些选项可能包含附加软件、定制功能和附加硬件，以提高系统性能。激励l下视X线。X线射束90度采样l风冷微聚焦X导管，提供钨、钼和其它阳极。电力：最大瓦特，4-50kv可编程，0-1.5mAl准直管：多个（最多6个），可编程，圆形，矩形（我们将帮助您选择适合于您应用的准直管）l主要过滤器：提供各种厚度及材料X线探测器和信号处理lX线探测器：密封氙气正比计数器；提供其它填充气体l探测器过滤器：最多3个，5个位置，可编程-马达驱动；提供钒、铁、锡、和其他元素l高速探测器信号处理电子设备，具有峰值位移校正功能样品处理l样品室：密封（950系列）或开缝（900系列）l在X、Y、Z轴上可编程马达驱动控制l高清晰度、实时、彩色样品示图，15〞（38.10cm）（标准）或17〞（43.18cm）（选项）l彩色样品图像捕获和打印l激光样品聚焦l电脑产生十字线，准直管尺寸指示器，用于样品准定位l可变聚焦距离控制，以适应变化的样品外型l样品变大：选择30、50、或100放大。提供固点聚焦距离或可变聚焦距离选项测量l鼠标器启动“点击”测量l自动测量重复功能l安全：多用户多级密码保护电脑/处理器loxford是IBM的授权PC附加值销售商。请致电oxford了解最新的IBMPC规格。IBM电脑由IBM提供3年保证l打印机：Epson或惠普喷墨打印机。请致电oxford查询最新的型号和规格。可联网荣誉l由oxford拥有/管理的国际现场服务团队l符合ISOGuide25号的要求lCE标志