紫外反射光谱仪

紫外反射滤光片 型号:UVREF 光谱范围：200nm-400nm

反射光谱膜厚仪SD-SR-100是一款专为薄膜厚度测量而设计的先进仪器。以下是对该产品的详细介绍：1. 测量范围与精度： - 该仪器能够测量从2纳米到3000微米的薄膜厚度，具有高达0.1纳米的测量精度。2. 测量功能： - 在折射率未知的情况下，SD-SR-100不仅可以测量薄膜的厚度，还能同时测量其折射率。 - 可用于测量半导体镀膜、手机触摸屏ITO等镀膜厚度、PET柔性涂布的胶厚、LED镀膜厚度、建筑玻璃镀膜厚度等多种应用场景。3. 测试原理： - 利用薄膜干涉光学原理进行厚度测量及分析。通过从深紫外到近红外可选配的宽光谱光源照射薄膜表面，探头同位接收反射光线，并根据反射回来的干涉光，用反复校准的算法快速反演计算出薄膜的厚度。4.软件支持： - 配备易于安装和操作的基于视窗结构的软件，界面友好，操作简便。 - 软件功能强大，支持多层膜厚的测试，并可对多层膜厚参数进行测量。 - 提供大量的光学常数数据及数据库，支持多种折射率模型，如Cauchy, Cauchy-Urbach, Sellmeier等。5. 特点与优势： - 先进的光学设计和探测器系统，确保系统性能优越和快速测量。 - 光源设计独特，具有较好的光源强度稳定性。 - 提供多种方法来调整光的强度，以满足不同测量需求。 - 配备微电脑控制系统，大液晶显示和PLC操作面板，便于用户进行试验操作和数据查看。 - 支持自动和手动两种测量模式，以及实时显示测量结果的较小值、平均值以及标准偏差等分析数据。6. 应用领域： - 广泛应用于医疗卫生、生物产业、农业、印刷包装、纺织皮革等多个行业，特别是在薄膜分析领域表现出色。综上所述，反射光谱膜厚仪SD-SR-100凭借其高精度、多功能和广泛的应用领域，成为薄膜厚度测量领域的理想选择。

显微反射光谱仪，YOA-8405 描述YOA-8405显微反射光谱仪结合了显微镜对微小区域实时成像和微型光谱仪实时光谱采集的特点，实现了微米级样品反射光谱和色度学参数的测量。该仪器模块化设计，用户可以根据实际应用需求灵活配置光谱仪和显微镜，采用标准化和一体化设计的显微光谱模块更是可以灵活安装在大部分显微镜上，搭配专业的分析和数据采集软件，可以广泛应用于司法鉴定、材料分析和生化检测等领域。特点微米级别的样品测量模块的设计，配置灵活，根据不同的需求配置光谱仪和显微镜丰富的光谱仪配置：常规型、面阵型和制冷型光谱仪一体化的显微反射光谱模块安装便捷：通过标准接口固定安装于显微镜上专业的测试软件，提供色度坐标和色品图支持深度定制和二次开发应用司法鉴定生化样品分析材料分析防伪分析技术参数典型测试数据更多精彩内容，请关注下方！

Y型反射光纤采用6绕1光纤束设计，6根光纤连接到光源，1根光纤连接到光谱仪，实现最佳测试性能。光纤芯径105/200/300/400/600/800/1000μm可选，波长范围UV/VIS，VIS/NIR，光纤跳线长度可定制，光纤耐受50N的拉力，耦合效率＞80%，多次插拔一致性好。可用于反射光谱、透射光谱测量。产品简介Y型光纤，多用于反射光谱测量。光纤芯径105/200/300/400/600/800/1000μm可选，可应用于紫外、可见、近红外波段，光纤跳线长度可根据客户需求定制。在光谱检测过程中，光纤是一种必不可少的连接器件，可以简化光路的搭建过程。 产品特点? 产品耐用不易折断；? 即使在信号发生微小变化时，仍能获得一致的结果；? 跳线长度可随客户需求定制； 规格参数型号Y型光纤应用波长紫外光纤、可见近红外光纤光纤芯径105/200/300/400/600/800/1000μm数值孔径0.22/0.37光纤数多芯最小弯曲半径120倍直径光缆护套材质塑料空管/包塑不锈钢护套条线长度可定制工作温度-40℃～85℃

R3 反射光谱测量系统 多角度反射率光谱测量 反射是光谱测量的基本手段，实现反射光谱测量通常需要光谱仪、光源、光纤、测量支架、标准参比样品和测量软件等。对于不同种类的样品，为了获取较好的光谱数据，反射这种基本模式又会演化为更多的形式。 复享光学为用户提供了以光谱仪为核心的反射光谱测量仪器，可以搭建个性化的光谱测量系统。复享光学 R3 反射光谱测量系统可以配置 1 个或者 2 个支架，用于固体和粉末样品的反射率测量。R3 光谱测量支架也可以用来固定光纤探头和光源，具备高灵活性和强实用性。　注：以上参数如有差异，以官网为准。

来自英国OPUS INSTRUMENT公司的Apollo(阿波罗）Apollo(阿波罗）是世界上新一代采用红外短波反射扫描成像技术的专业分析仪器，被广泛用于各种材料的鉴定和分析。www.ast-bj.com我们的用户：英国国家美术馆，荷兰国立博物馆，美国大都会博物馆，古根海姆博物馆, 俄罗斯赫米蒂奇博物馆洛杉矶盖蒂博物馆，日耳曼国家博物馆，美国印第安纳波利斯艺术博物馆Infrared Reflectography红外反射成像技术：“一种非破坏性的无损检测技术，它利用红外线穿透研究对象表层（颜料或漆层），对表层下面的详细纹理细节进行成像，从而获得有关这些研究对象的原始信息。用红外反射扫描成像进行检测，通常会发现研究对象一些在损坏、填充和修饰的细节变化，是一种广泛应用的红外成像技术。Apollo(阿波罗)是红外反射成像的新标准。 在世界闻名的Osiris扫描系统的基础上，Apollo（阿波罗）使用先进的内部扫描机构和红外面阵列传感器生成高质量，高对比度，分辨率达到5100×5100的红外反射图像，其图像清晰度和细节展现无与伦比。拍摄大画幅壁画和油画，唐卡作品，图像不需要后期繁琐软件处理。 Apollo红外反射成像扫描系统可以用于研究绘画作品的各个方面。不仅可以研究绘画作品的底稿，素描草图和笔迹变化（经过修改或颜料遮盖的原来笔画再现），识别后期修复及补色的微观变化，并且当使用我们提供的滤光片套装时，可以在不同红外波段对底色和颜料进行透射分析。如果您想采集到用于艺术品保护和修复等应用高对比度和高分辨率的红外图像，Apollo（阿波罗）是非常适合您的红外反射成像系统。Apollo无以伦比的优势在于：1. 可以拍摄高达26 Megapixel的图像图片，分辨率5100×5100，传感器像素间距20um微米2. 新款软件控制系统，提供柱状图分析，可以捕捉更多光线暗处的细节。3. 采用卓越的红外面阵列成像传感器，可进行大画幅作品的扫描，提供成像预览，节省您的分析时间。4. 快速捕捉画面，拍摄整幅画作需要5-15分钟5. 先进的冷却系统，减少了成像噪音，提供更高质量的画面。6. 16位图像输出格式可选TIFF和 PNG格式，方便在任何终端设备上进行对比分析。7. 拍摄图像自动拼接功能，解决研究人员后期图像处理的困扰，非常实用。8. 体积紧凑，方便携带，可装入航空旅行箱。

我是沈阳亿贝特光电有限公司，我们是一家具有多年生产光学产品经验的专业厂家。产品主要包括：衍射光栅、球面透镜、反射镜、非球面镜、柱面透镜、平面镜等各种高精度的光学元件。我公司依据ISO9001：2015质量管理体系，提供高质量高精度的产品供应给全国客户。现了解到您公司的光谱仪型号，想确认贵司是否会用到衍射光栅、球面透镜、反射镜等光学产品，我们会提供非常有竞争力的价格供您参考。我是沈阳亿贝特光电有限公司，我们是一家具有多年生产光学产品经验的专业厂家。产品主要包括：衍射光栅、球面透镜、反射镜、非球面镜、柱面透镜、平面镜等各种高精度的光学元件。我公司依据ISO9001：2015质量管理体系，提供高质量高精度的产品供应给全国客户。现了解到您公司的光谱仪型号，想确认贵司是否会用到衍射光栅、球面透镜、反射镜等光学产品，我们会提供非常有竞争力的价格供您参考。

仪器简介：ZF-3紫外透射反射分析仪简介： 使用说明： （一）、分析观察样品 将电泳好的凝胶样品或薄层、纸层样品放在仪器中央，开启&ldquo 反射紫外灯&rdquo 电源，调节反射紫外灯架高度与角度，使样品发出的萤光最清晰明亮。通常反射紫外离样品越近，则萤光越强。 （二）、拍摄样品照片 （1）打开&ldquo 照明&rdquo 白炽灯，利用白炽灯照明，调节照相高度及相机镜头使样品成像清晰。在相机前装上近摄接圈与PCR滤色镜。然后关闭&ldquo 照明&rdquo 白炽灯。 （2）开启透射紫外灯电源，进行拍摄，应根据不同的样品确定不同的曝光时间，以清晰满意的底片。 （三）注意：如使用时不用暗箱，必须在暗室内操作。 我公司生产的紫外分析仪系列产品： ZF1-I多功能紫外分析仪 ZF1-Ⅱ型紫外分析仪 ZF-1紫外透射反射分析仪 ZF-2紫外透射反射分析仪 ZF-3紫外透射反射分析仪 ZF-5 型手提式紫外分析仪（手提式紫外分析仪） ZF-6型三用紫外分析仪（台灯式ZF-1三用紫外分析仪） ZF-7型暗箱式三用紫外分析仪（暗箱式三用紫外分析仪） ZF-8型暗箱式四用紫外分析仪（暗箱式四用紫外分析仪） ZFD型紫外透射分析仪 UV-A型手提暗箱式紫外分析仪技术参数：ZF-3紫外透射反射分析仪的技术参数： 1、电源：AC220V± 10%50HZ 2、功率透射：48W 64W 反射24W 照明40W 3、紫外滤色片尺寸透射：ZF-3 200× 150mm 反射200× 80mm主要特点：ZF-3紫外透射反射分析仪的主要特点： ZF系列紫外射反射分析仪（配暗箱）是最新研制成功的新一代分析仪器。 本产品具有灵敏度高、使用方便、特别采用302NM波长对样品的破坏作用更小，是紫外分析仪的更新换代产品，它可适用于DNA、RNA电泳凝胶样品的观察，可检测蛋白质，核甘酸等，在制药工业中检查激素生物碱、维生素等能产生萤光的药品质量，对薄层分析，各种同功酶，纸层分析进行观察分析和摄影，并可作为PCR技术的专用仪器。 ZF-3型紫外透射反射分析仪装有一组透射紫外光源和二组反射紫外光源，分别供观察、分析和摄影用。 紫外透射分四组，供用户选择：一组254nm；二组302nm；三组365nm；四组白炽灯；紫外反射有二组；一组254nm；二组365nm。

PolyPen RP 410手持式植物光谱测量仪通过内部光源（氙气白炽灯380-1050nm）测定植物叶片的反射光谱，也可以测定其他光源的透光度和吸光率。PolyPen在软件中内置了几乎所有常用的植物反射光谱指数公式，例如NDVI，PRI，NDGI等。测得的数据以图形或数据表的形式实时显示在仪器的显示屏上。这些数据都可以储存在仪器的内存里并传输到电脑里。PolyPen RP 410由可充电锂电池供电，不需要使用电脑即可独立进行测量。仪器配备全彩色触屏显示器、内置光源、内置GPS和用于固定样品的无损叶夹。叶夹具备进行光源和检测器校准的标准参照物。应用领域：? 植物反射光谱测量? 植物胁迫响应? 色素组成变化? 氮素含量变化? 产量估测 PolyPen RP 410手持式植物光谱测量仪技术特点：? 目前最便携的测量植物叶片反射光谱的高光谱测量仪。? 自动计算常用的植物反射光谱指数，也可计算用户定制的指数，同时提供高精度反射光谱图。? 非破坏性原位测量。? 手持式仪器，电池供电，无需外部电脑，便于野外测量。? 内置GPS，USB/蓝牙双通讯模式技术参数：? 光谱检测范围：PolyPen RP 410 UVIS光谱响应范围为380-790nmPolyPen RP 410 NIR光谱响应范围为640-1050nm? 内置植被指数：PolyPen RP 410 UVIS：NDVI、SR、绿度指数、MCARI、TCARI、TVI、ZMI、SRPI、NPQI、PRI、NPCI、Carter指数、SIPI、GM1。PolyPen RP 410 NIR：NDVI、SR、MCARI1、OSAVI、MCARI、TCARI、ZMI、Ctr2、GM2

410Vis-IR 可见-红外反射率/发射率仪是为了替换经典的 Gier Dunkle DB100反射率仪而开发的，可测量13个光谱波段的反射率。可见光测量头测量范围为335nm~2500nm，红外测量头测量范围为1.5μm~21μm。利用太阳辐照度函数或黑体函数，通过20°和60°两个角度计算太阳能吸收率或热辐射，通过计算定向发射率推测半球总发射率。两个测量头可以互换使用，可现场测量，操作极为简便。测量时只需把样品放置在测量单元的顶部即可直接测定。通过与手柄连接，该仪器可作为一个手持单元操作，一次完整的测量用时仅约10秒。随机配备镜面金质标样，并可选提供NIST可溯源标定。功能特点 在接近法线和掠角两个角度测量定向热发射率 半球热辐射的预测 测量太阳能吸收/反射 在335至2500nm光谱范围内，测量总辐射、镜面反射和漫反射能量 可测量光谱范围：从可见到中远红外 NIST可溯源标准 快速和便携式使用 PDA触摸屏操作，内置SD卡应用领域 航空工业 天文望远镜检查 涂层领域 太阳能领域优化太阳能利用性能 节能建筑 光学材料质量控制技术参数 410Vis-IR便携式太阳反射率及发射率测量仪符合标准ASTM E903、ASTM C1549、ASTM E408测量参数定向半球反射比(DHR)测量方法波段范围内积分总反射比输出参数总发射比，漫反射比，和20°角的镜面反射波段区间335~2500nm范围内7个波段：335~380、400~540、480~600、590~720、700~1100、1000~1700、1700~2500nmIR范围内6个波段：1.5~2、2~3.5、3~4、4~5、5~10.5、10.5~21μm入射角20°&60°法线入射样品表面任何表面，6”半径凸面，12”半径凹面测量时间10秒/次；90秒预热光源VIS：钨灯，IR：铬铝钴合金测量探头模块化设计，测量头可更换操作界面触摸式液晶屏软件界面工作环境储存环境：-25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝供电两块可充电镍氢电池重量2.1Kg，含电池

仪器简介：CS型成像仪是在原薄层成像仪产品的基础上加以改进的，即可用于拍摄薄层样品 荧光斑点和荧光淬灭样板又可观测拍摄生化凝胶透射紫外线样品。该成像仪是吸 收国外同类产品的先进结构，将摄影仪和暗箱设计成一体化，使光学性能更完善， 操作更方便。如果配置彩色摄像系统或者数码相机，可联接电脑对图像进行处理 或直接进行多媒体教学。 该仪器设计紧凑,使用方便,选用高效节能电子整流器,一点即亮.平时还可以作为紫外线检测设备或者或资料翻拍仪,是进口同类产品的替代品,性比价高. 技术参数：紫外线灯： 254nm 2支 12W 220V 50HZ 365nm 2支 12W 220V 50HZ 312nm 5支 20W 220V 50HZ 日光灯 ： GB 2支 12W 220V 50HZ 透紫外滤光片： 50×200mm 2片(用于反射光) 150×200mm 1片(用于透射光) 254nm 透光率≮68% 365nm 透光率≮86%主要特点：该成像仪是吸收国外同类产品的先进结构,将摄影仪和暗箱设计成一体化,使光学性能更完善,操作更方便,如果配置彩色摄像系统或者数码相机,可连接电脑对图象进行处理或者直接进行多媒体教学.

● SPECTRAFIRE 解决了远红外测试时使用积分球造成 的能量损耗问题。● SPECTRAFIRE可以测试毛玻璃、半透明聚合物薄膜 等非透明样品● SPECTRAFIRE可以容易的安装到客户现有的Thermo Nicolet FTIR 红外光谱仪上 SPECTRAFIRE 是一个远红外反射率测试附件，可装配到 Thermo-Nicolet 的FTIR 光谱仪上，使用傅里叶变 换的方法进 行光谱半球反射率测试，其中使用了AZ 公司专利 的 ellipsoidal Collection半球能量收集技术，避免了传统的积分球技术对能 量的吸收损耗问题。仪器可从1.67um 到40um的范围内扫描测 试近法向半球反射率。所有的空间都可以被清除以最小化由于水和CO2造成的信号损失。法向发射率根据测试的光谱反射率数据和黑体曲线进行计算。SPECTRAFIRE 有2种测试模式，绝对测量模式和相对测量 （差分式）模式。在绝对测量模式中，近法向如射，半球反射率通过与配有校正臂的内置探测器直接测到。在这种情况下，无需校正。在相对测量（差分式）模式下，内置校正臂不起作用，而是提供一个参考样品进行背景扣除，然后测试样品。此外，该系统通过特殊标定的参考根据样品的光谱，来得到不透明样品的总半球发射率。使用Spectrafiar计算发射率并不需要知道光源的光谱，也不一定需要限定光源的色温在300K. SPECTRAFIRE 还可以用于正确的测量300K以外的发射率和非灰体的 发射率。准直的红外光束从Nicolet红外光谱仪进入到SPECTRAFIRE左边的入口处。通过一个离轴抛物面镜将该光束汇聚到样品上。样品口在系统的顶部，样品置于专利的收集器的顶部。入射光经样品反射并被收集汇聚到探测器上。探测器的信号由FTIR光谱仪进行处理。.在收集器里还内置一个光束偏离装置，用于绝对测量时的背景扣除。该偏离装置的反射率完全匹配收集器的反射率 。仪器里面的所有光学元件都镀了非保护性金膜，以获得在测试光谱范围内的最大反射率。Spectral resolution0.5 to 32/cmSpectral range2.5 to 40 microns (4000 to 250 cm -1 wave number)Sample size and geometry&ge 0.33 inches (8.3 mm) diameterDimensions: FTIR with SPECTRAFIRE attached.-Footprint: 33 x 25 inches-Height: 13.5" at the SPECTRAFIRE sample portElectrical requirement for Nicolet120 VAC, 60 HzWarranty1 year parts and labor*Note: terms reflectance, emittance and absorptance and terms reflectivity, emissivity and absorptivity are often used interchangeably. Spectroreflectometer, spectro-reflectometer and spectral reflectometer are also used interchangeably.

来自英国OPUS INSTRUMENT公司的Apollo(阿波罗）是采用红外反射成像技术扫描系统，被广泛用于材料鉴定分析，也适用于油画，壁画，唐卡等艺术品修复及研究，文物保护，考古发掘研究。我们的用户：斯坦福大学，剑桥大学，牛津大学，伦敦苏富比拍卖行，伦敦大学学院，大英博物馆，英国国家美术馆，荷兰国立博物馆（Rijksmuseum），美国大都会博物馆，古根海姆博物馆, 俄罗斯赫米蒂奇博物馆，洛杉矶盖蒂博物馆，日耳曼国家博物馆，美国印第安纳波利斯艺术博物馆，挪威国家博物馆，梵高美术馆，德国汉堡美术馆，纽约大学美术学院，法国Arcanes，等等Infrared Reflectography红外反射成像技术：“一种非破坏性的无损检测技术，它利用红外线穿透研究对象表层（颜料或漆层），对表层下面的详细纹理细节进行成像，从而获得有关这些研究对象的原始信息。用红外反射扫描成像进行检测，通常会发现研究对象一些在损坏、填充和修饰的细节变化，是一种广泛应用的红外成像技术。Apollo(阿波罗)是红外反射扫描成像的新标准。 在世界闻名的Osiris扫描系统的基础上，Apollo（阿波罗）使用先进的内部机械微动扫描光学机构和红外面阵列传感器，在900-1700um的红外光谱波段，生成高质量，高对比度，分辨率达到5100×5100的红外反射图像，其图像清晰度和细节展现无与伦比。 Apollo红外反射成像仪的扫描系统可以用于研究艺术作品的各个方面。不仅可以研究作品的底稿，素描草图和笔迹变化（经过修改或颜料遮盖的原来笔画再现），识别后期修复及补色的微观变化，并且当使用我们提供的滤光片套装时，可以实现多个光谱波段下的图像采集分析，高达65000级灰度图像，可以轻松区分不同物质和材料。如果您想采集到用于细节分析，目标识别鉴定等应用高对比度和高分辨率的红外反射图像，Apollo（阿波罗）是适合您的红外反射扫描成像系统Apollo无以伦比的优势在于：1. 可以拍摄高达26 Megapixel的图像图片，分辨率5100×5100，传感器像素间距20um微米2. 新款软件控制系统，提供柱状图分析，可以捕捉更多光线暗处的细节。3. 采用卓越的红外面阵列成像传感器，可进行大画幅作品的扫描，提供成像预览，节省您的分析时间。4. 快速捕捉画面，拍摄整幅画作需要5-25分钟5. 先进的冷却系统，减少了成像噪音，提供更高质量的画面。6. 16位图像输出格式可选TIFF和 PNG格式，方便在任何终端设备上进行对比分析。7. 拍摄图像自动拼接功能，解决研究人员后期图像处理的困扰，非常实用。8. 体积紧凑，方便携带，可装入航空旅行箱。

PolyPen RP 410手持式植物光谱测量仪通过内部光源（氙气白炽灯380-1050nm）测定植物叶片的反射光谱，也可以测定其他光源的透光度和吸光率。PolyPen在软件中内置了几乎所有常用的植物反射光谱指数公式，例如NDVI，PRI，NDGI等。测得的数据以图形或数据表的形式实时显示在仪器的显示屏上。这些数据都可以储存在仪器的内存里并传输到电脑里。PolyPen RP 410由可充电锂电池供电，不需要使用电脑即可独立进行测量。仪器配备全彩色触屏显示器、内置光源、内置GPS和用于固定样品的无损叶夹。叶夹具备进行光源和检测器校准的标准参照物。应用领域：? 植物反射光谱测量? 植物胁迫响应? 色素组成变化? 氮素含量变化? 产量估测 技术特点：? 目前最便携的测量植物叶片反射光谱的高光谱测量仪。? 自动计算常用的植物反射光谱指数，也可计算用户定制的指数，同时提供高精度反射光谱图。? 非破坏性原位测量。? 手持式仪器，电池供电，无需外部电脑，便于野外测量。? 内置GPS，USB/蓝牙双通讯模式技术参数：? 光谱检测范围：PolyPen RP 410 UVIS光谱响应范围为380-790nmPolyPen RP 410 NIR光谱响应范围为640-1050nm? 内置植被指数：PolyPen RP 410 UVIS：NDVI、SR、绿度指数、MCARI、TCARI、TVI、ZMI、SRPI、NPQI、PRI、NPCI、Carter指数、SIPI、GM1。PolyPen RP 410 NIR：NDVI、SR、MCARI1、OSAVI、MCARI、TCARI、ZMI、Ctr2、GM2? 光源：氙气白炽灯380-1050nm? 光谱响应半宽度：8nm? 光谱杂散光：-30dB? 光学孔径：7mm? 扫描速度：约100ms? 触控屏：240×320像素，65535色? 内存：32MB（可存储8000组以上测量数据）? 系统数据：16位数模转换? 动态范围：高增益 1:4300；低增益 1:13000? GPS：内置? 通讯方式：USB/蓝牙双通讯模式? 软件功能：自动计算内置植被指数、计算用户自定义植被指数、实时显示数据图和数据表、数据导出为Excel、GPS地图、固件升级，Windows XP及以上系统适用? 光谱反射标准配件（选配）：提供最高的漫反射值（99%）。光谱平面涵盖UV-VIS-NIR光谱，保证+/-1%的光学平面。用于光源和检测器的校准。? 尺寸：15×7.5×4cm? 重量：300g? 外壳：防水溅外壳? 电池：锂电池，通过USB接口充电? 续航时间：可连续测量48小时? 工作温度：0~50℃? 存放温度：-20~70℃ 软件界面应用案例扁桃树红色叶斑病造成叶片反射光谱及相应植被指数变化（M López-López, et al. 2016）参考文献1. A Niglas, et al. 2017. Short-term effects of light quality on leaf gas exchange and hydraulic properties of silver birch (Betula pendula). Tree Physiology 37(9): 1218-12282. M Ashrafuzzaman, et al. 2017. Diagnosing ozone stress and differential tolerance in rice (Oryza sativa L.) with ethylenediurea (EDU). Environmental Pollution 230: 339-3503. M López-López, et al. 2016. Early Detection and Quantification of Almond Red Leaf Blotch Using High-Resolution Hyperspectral and Thermal Imagery. Remote Sens. 8(4): 2764. PJ Zarco-Tejada, et al. 2016. Seasonal stability of chlorophyll fluorescence quantified from airborne hyperspectral imagery as an indicator of net photosynthesis in the context of precision agriculture. Remote Sensing of Environment 179: 89-1035. VV Ptushenko, et al. 2015. Possible reasons of a decline in growth of Chinese cabbage under a combined narrowband red and blue light in comparison with illumination by high-pressure sodium lamp. Scientia Horticulturae 194: 267-2776. VV Ptushenko, et al. 2014. Chlorophyll fluorescence induction, chlorophyll content, and chromaticity characteristics of leaves as indicators of photosynthetic apparatus senescence in arboreous plants. Biochemistry (Moscow) 79: 260-272内置计算公式的植物光谱指数：? 归一化差值植被指数Normalized Difference Vegetation Index (NDVI)参考文献：Rouse et al. (1974)公式：NDVI = (RNIR - RRED ) / (RNIR + RRED )? 简单比值植被指数Simple Ratio Index (SR)参考文献：Jordan (1969) Rouse et al. (1974)公式：SR = RNIR / RRED? 改进的叶绿素吸收反射指数1 Modified Chlorophyll Absorption in Reflectance Index 1 (MCARI1)参考文献：Haboudane et al. (2004)公式：MCARI1 = 1.2 * [2.5 * (R790- R670) - 1.3 * (R790- R550)]? 最优化土壤调整植被指数Optimized Soil-Adjusted Vegetation Index (OSAVI)参考文献：Rondeaux et al. (1996)公式：OSAVI = (1 + 0.16) * (R790- R670) / (R790- R670 + 0.16)? 绿度指数Greenness Index (G) 公式：G = R554 / R677? 改进的叶绿素吸收反射指数Modified Chlorophyll Absorption in Reflectance Index (MCARI)参考文献：Daughtry et al. (2000)公式：MCARI = [(R700- R670) - 0.2 * (R700- R550)] * (R700/ R670)? 转换类胡萝卜素指数Transformed CAR Index (TCARI)参考文献：Haboudane et al. (2002)公式：TSARI = 3 * [(R700- R670) - 0.2 * (R700- R550) * (R700/ R670)]? 三角植被指数Triangular Vegetation Index (TVI)参考文献：Broge and Leblanc (2000)公式：TVI = 0.5 * [120 * (R750- R550) - 200 * (R670- R550)]? Zarco-Tejada & Miller 指数Zarco-Tejada & Miller Index (ZMI)参考文献：Zarco-Tejada et al. (2001)公式：ZMI = R750 / R710? 简单比值色素指数Simple Ratio Pigment Index (SRPI)参考文献：Pe?uelas et al. (1995)公式：SRPI = R430 / R680? 归一化脱镁作用指数Normalized Phaeophytinization Index (NPQI)参考文献：Barnes et al. (1992)公式：NPQI = (R415- R435) / (R415+ R435)? 光化学植被反射指数Photochemical Reflectance Index (PRI)参考文献：Gamon et al. (1992)公式：PRI = (R531- R570) / (R531+ R570)? 归一化色素叶绿素指数Normalized Pigment Chlorophyll Index (NPCI)参考文献：Pe?uelas et al. (1994)公式：NPCI = (R680- R430) / (R680+ R430)? Carter指数Carter Indices参考文献：Carter (1994), Carter et al. (1996)公式：Ctr1 = R695 / R420 Ctr2 = R695 / R760? 结构加强色素指数Structure Intensive Pigment Index (SIPI)参考文献：Pe?uelas et al. (1995)公式：SIPI = (R790- R450) / (R790+ R650)? Gitelson and Merzlyak 指数 Gitelson and Merzlyak Indices参考文献：Gitelson & Merzlyak (1997)公式：GM1 = R750/ R550 GM2 = R750/ R700 产地：欧洲

RM 1000 和 RM 2000 光谱反射仪可测量表面光滑或粗糙的平面或弯曲样品的反射率。使用SENTECH FTPadv Expert软件计算单膜或层叠的厚度、消光系数和折射率。厚度分别为 2 nm 和 50 μm （RM 2000） 或 100 μm （RM 1000） 的单片、层叠和基板可以在 UV-VIS-NIR 光谱范围内进行分析。主要功能与优势突破折光率测量的极限SENTECH反射仪通过样品的高度和倾斜调整以及光学布局的高光导率，具有精密的单光束反射率测量功能，允许对n和k进行可重复的测量，在粗糙表面上进行测量，以及对非常薄的薄膜进行厚度测量。紫外到近红外光谱范围马币 1000 410 纳米 – 1000 纳米马币 2000 200 纳米 – 1000 纳米高分辨率映射RM 1000 和 RM 2000 反射仪可选配 x-y 成像台和成像软件以及用于小光斑尺寸的物镜。灵活性和模块化SENTECH RM 1000 和 RM 2000 代表我们的反射仪。桌面设备包括高度稳定的光源、带有自动准直望远镜和显微镜的反射光学器件、摄像机、高度和倾斜度可调的样品平台、光谱光度计和电源。它可以选配 x-y 成像台和成像软件，以及用于第二种光斑尺寸的物镜。除了薄膜厚度和光学常数外，薄膜的组成（例如氮化镓上的AlGaN，硅上的SiGe），增透膜（例如在纹理硅太阳能电池上，紫外线敏感的GaN器件）以及小型医疗支架上的涂层都可以通过我们的反射仪进行测量。这些反射仪支持微电子、微系统技术、光电子、玻璃涂层、平板技术、生命科学、生物技术等领域的应用。用于我们的反射仪 RM 1000 / 2000 的综合性、以配方为导向的 SENTECH FTPadv EXPERT 软件包括测量设置、数据采集、建模、拟合和报告。已经内置了一个包含预定义、客户验证和即用型应用程序的广泛数据库。“自动建模”选项允许从光谱库中自动选择样本模型。基于SENTECH在椭圆偏振光谱方面的专业知识，庞大的材料库和各种色散模型使我们的光谱反射仪能够分析几乎所有的材料和薄膜。操作员可以很容易地使用新的光学数据更新数据库。SENTECH通过椭圆偏振光谱法测量具有未知光学特性的新材料，为客户提供支持。

优秀的可见光透射率/反射率测量系统集成的可见光光谱分析仪集成的氙灯，或者卤钨灯，作为光源内置探头可以实现纺织品颜色检测纺织品透过率检测眼镜透过率检测半导体膜厚检测LED灯泡检测等应用举例一：布料反射率测量案例测试系统搭建如上图测试要求，计算近红外区域780-880nm的反射率和可见光区域610-710nm的反射率之比1. 左边是卤钨灯350-2500nm光源，光源由德国进口的灯泡2. 中间是反射式积分球，3. 右侧是采用日本进口滨松探测器的光谱仪器 SPM3-350-1050，波长范围350-1050nm，分辨率最小0.6nm，美国产进口600线光栅4. 搭配电脑，数据通过USB采集测试一过程1. 关闭光源，采集光谱设备电子噪声2. 打开光源，设置1000ms曝光时间，放置白板，采集参比光谱3. 移除白板，放置被测物，采集被测物光谱，坐标轴X轴为光谱波长， Y轴为波长对应的反射率应用举例二：高分子材料/纳米材料相对石英的反射率测量测试一过程1. 关闭光源，采集光谱设备电子噪声2. 打开光源，设置500ms曝光时间，放置白板，采集参比光谱3. 移除白板，放置被测物，采集被测物光谱，此数据表明，样品1和样品2的反射光谱， 样品1（下面一条曲线），350-1000nm范围反射率72%， 样品2（上面一条曲线），350-1000nm范围反射率 82%，坐标轴X轴为光谱波长， Y轴为波长对应的反射率测试二过程，相对于黑板1. 关闭光源，采集光谱设备电子噪声2. 打开光源，设置500ms曝光时间，放置黑板，采集参比光谱3. 移除黑板，放置被测物，采集被测物光谱，此数据表明，样品1和样品2的反射光谱， 样品1（上面一条曲线），350-1000nm范围相对于黑板的反射率， 样品2（下面一条曲线）相对于黑板的反射率，坐标轴X轴为光谱波长， Y轴为波长对应的是被测物相对黑板的反射率应用举例三：薄膜材料的透射率测量测试一过程1. 关闭光源，采集光谱设备电子噪声2. 打开光源，设置500ms曝光时间，放置白板，采集参比光谱3. 移除白板，放置被测物，采集被测物薄膜的光谱

iCAN 3000 紫外可见近红外分光光度计是一款高性能紫外-可见-近红外分光光度计，最大可检测波长范围可扩展到 3400 nm，这使其成为用于材料科学研究的一款功能强大的工具。丰富的附件满足固体、液体等样品的多方面测定。 仪器特点Ø 采用双光束的光学系统设计，降低了本底干扰，光源波动等影响，提高测试准确性及精度。Ø 仪器电机，接收器，驱动器等均为进口器件，保证了仪器的高性能和稳定度。Ø 仪器的控制自动化程度高，开机自动检测，故障自动报错。Ø 接口为网络接口（也可以转换为USB接口），可以远程连接控制，或者无线传输。Ø 机器测试运行状态直观显示。相关应用：1、紫外可见近红外分光光度计配套积分球附件对建筑反射隔热涂层样品进行反射率测试；2、检测建筑涂层样品的太阳光反射比和近红外反射比；3、紫外可见近红外分光光度计在薄膜中透射率、反射率等检测；4、紫外-可见-近红外光谱在电化学中的应用；5、紫外可见近红分光光度计用于研究光伏电池的光学性质； 可选附件 积分球附件反射测量附件，测量玻璃反射光谱

410 - Vis 便携式可见/近红外反射计Field Portable Hand-Held Reflectometers and Emissometers 410-Vis测量400 &ndash 1100 nm波谱范围内4个波段的总反射率。可输出20度入射角的总反射、散射反射和镜面反射数据。一次测量循环可以输出12个数据点。测量操作简单，只需扣动仪器扳机即可，数据记录并可以图表或数字形式显示在显示屏上。是一款真正便携、电池操作、内置PDA的反射计。 特点：测量400 &ndash 1100 nm范围4个波段的反射率测量总反射、漫反射和镜面反射电池操作、完全便携测量大目标反射率无须仪器调准可野外工作测量绝对反射率值

由于镀金膜表面质地非常软，需在外层镀上保护膜以防刮防潮， 镀金外反射镜采用金膜表面镀二氧化硅，这种既能保护膜层又能保证金膜的性能。0.75μm-20μm波段反射率大于96%。

用途：PS-300紫外近红外光谱仪 可以测量300～1000nm的入射、反射和透射光谱，通过电脑软件可以直接读出入射光、反射光、透射光的光谱图。特点：便携坚固的铝制外壳设计APOGEE 的余弦校正器，确保低角度光的精确测量在标定的测量范围300—1000nm((NIST 可追溯性)内分辨率小于1.5nm使用方法：首先使用探测器收集光源，通过光纤电缆传输到光谱分析仪上，光谱分析仪再将所测数据通过USB数据线传输到电脑上。在电脑预装的软件系统中，得出光谱线形图。 标准软件特征：发光测量：测量以瓦特每平方米每纳米或摩尔每平方米每秒每纳米为单位；同时显示完整的PPF值。照明度测量：测量以流明每平方米每纳米或尺烛光每平方英尺为单位；同时显示完整的LUX值。CIE（国际照明委员会）应用：系统显示CIE制定的1931年X、Y色度图。照明模式下显示占有优势的波长和纯度，发光模式下显示颜色温度。分光比色计：测量反射光线的颜色。同时系统会显示非自照明的颜色空间图表作为参照，图表对色彩浓度、色差、X、Y、三基色和Delta-E等做了色彩评估和说明，并提供新的Delta-E色彩对比表。化学成分测量：测量化学成分的浓度。同时系统会显示浓度标度，或者将之前已经测量好的化学成分浓度与未知的样品做对比。UV测量：测量UV能量分布状态。将UVA、UVB、UVC、UVA/UVB比率等以瓦特为单位绘制线形图；提供红斑和黑素原发生作用的最大时间。技术规格：波长灵敏度220～1100nm辐射校正范围300～1000nm波长分辨率1.5nm检测器类型CCD 2048像素光栅类型像差校正全息光栅，500 g/nm数字转化16 bit信号噪声比1000:1杂散光0.02%在435nm；0.2%在200nm测量重复性＜1%波长不确定性±10%检测器曝光时间1ms-65s方向响应±5%（80°天顶角）输出接口USB 2.0电源要求5V DC/100mA，采用USB线缆工作温度0-60℃光缆长度2米尺寸69mm×100mm×150mm重量900g产地：美国

410Vis-IR可见-红外反射率/发射率仪是为了替换经典的Gier Dunkle DB100反射率仪而开发的，可测量13个光谱波段的反射率。可见光测量头测量范围为335nm~2500nm，红外测量头测量范围为1.5μm~21μm。利用太阳辐照度函数或黑体函数，通过20°和60°两个角度计算太阳能吸收率或热辐射，通过计算定向发射率推测半球总发射率。两个测量头可以互换使用，可现场测量，操作极为简便。测量时只需把样品放置在测量单元的顶部即可直接测定。通过与手柄连接，该仪器可作为一个手持单元操作，一次完整的测量用时仅约10秒。随机配备镜面金质标样，并可选提供NIST可溯源标定。功能特点n在接近法线和掠角两个角度测量定向热发射率n半球热辐射的预测n测量太阳能吸收/反射n在335至2500nm光谱范围内，测量总辐射、镜面反射和漫反射能量n可测量光谱范围：从可见到中远红外nNIST可溯源标准n快速和便携式使用nPDA触摸屏操作，内置SD卡应用领域n航空工业n天文望远镜检查n涂层领域n太阳能领域优化太阳能利用性能n节能建筑n光学材料质量控制技术参数410Vis-IR便携式太阳反射率及发射率测量仪符合标准ASTM E903、ASTM C1549、ASTM E408测量参数定向半球反射比(DHR)测量方法波段范围内积分总反射比输出参数总发射比，漫反射比，和20°角的镜面反射波段区间335~2500nm范围内7个波段：335~380、400~540、480~600、590~720、700~1100、1000~1700、1700~2500nmIR范围内6个波段：1.5~2、2~3.5、3~4、4~5、5~10.5、10.5~21μm入射角20°&60°法线入射样品表面任何表面，6”半径凸面，12”半径凹面测量时间10秒/次；90秒预热光源VIS：钨灯，IR：铬铝钴合金测量探头模块化设计，测量头可更换操作界面触摸式液晶屏软件界面工作环境储存环境：-25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝供电两块可充电镍氢电池重量2.1Kg，含电池产地：美国

超环面光栅单色仪(TGM)系列是专为研究真空紫外光谱而开发设计。通过与单通道探测器相连，TGM300能分析软X射线、极紫外、远紫外光谱。结合紫外光源，TGM300可充当可调谐紫外单色光源。TGM300真空度高达10-9mbar, 是分析10-300nm光谱的理想工具。 技术特点 单片式光学结构确保光高通量，高光学稳定性 HJY超环面光栅技术，全光谱范围内好的消像差能力 光谱覆盖可到10nm 支持超高真空度10-9mbar，可接入同步辐射装置 典型应用 极紫外反射测量 紫外可调滤波/光源 激光高次谐波 等离子体物理研究 技术指标三块标准光栅可选550 gr/mm光谱范围: 10 – 50 nm中心波长: 15 nm550 gr/mm光谱范围: 15 – 150 nm中心波长: 35 nm275 gr/mm光谱范围: 50 – 300 nm中心波长: 55 nm光学设计HJY超环面消像差光栅焦距320 mm孔径f/10分辨率0.4 nm (*)波长驱动手动高真空10-6 mbar真空泵法兰DN100LF真空计法兰DN40KF入射/出射狭缝嵌入式可选项:波长驱动步进电机自动驱动，USB2接口狭缝测微或者自动手动光栅滑块真空中实现2块光栅切换超高真空10-9 mbar(*) 采用550gr/mm光栅计算 附件 前镜腔，配备两块超环面镜，实现光源和单色仪之间的光学匹配 后镜腔，配备两块超环面镜，实现单色仪和样品室之间的光学匹配 样品室，可搭载4块直径不大于25mm的样品 偏振插片 制冷机，温度可至4K 真空泵

产品描述 荧光光谱仪是发光材料、生物探针、化学标记的标准研究检测手段，随着研究的深入和拓宽，研究者对荧光光谱仪的光谱检测范围和与其它常规光谱检测手段的联用提出更多的要求。HORIBA Scientific多功能真空紫外荧光光谱仪的推出正是填补了这一空白。 HORIBA Scientific多功能真空紫外荧光光谱仪为需要强大光谱表征能力的研究人员和分析测试中心设计研制开发。和传统光谱仪设计思路不同，HORIBA Scientific多功能真空紫外荧光光谱仪基于模块化设计思路，荧光激发部分、样品室和荧光探测部分均可以提供灵活的解决方案，拓展系统的功能性和应用的针对性。 基于这一设计思路，HORIBA Scientific多功能真空紫外荧光光谱仪可将激发光谱和发射光谱拓展至120-200nm真空紫外波段。并可提供高增益PMT和快速采谱CCD的双探测器采谱模式。与此同时，基于对样品室的定制化设计，我们可以将光谱检测中常用方法例如：反射光谱、透射光谱和激光光致发光光谱轻松接入系统，并提供制冷机和多样品夹具等附件进一步增强该光谱系统的光谱表征能力。 应用领域基本功能：荧光光谱、反射光谱、透射光谱、激光光致发光光谱、上转换光谱研究材料 LED荧光粉，BN、AlN、ZnO等半导体材料的发光特性 新材料，天然矿石钙化物的荧光特性 MgF2、LiF3镀膜、增透膜、高反膜反射率研究技术特点： 基于模块化设计，易拓展、易升级、易维护 将激发和发射光谱拓展到真空紫外波段120-200nm 可将反射谱、透射谱、激光光致发光光谱和荧光光谱无缝整合 消像差光学设计，优化真空紫外光谱范围的能量传输效率 大功率水冷氘灯光源，提高激发强度和稳定度 可提供PMT+CCD双探测器模式，兼顾高精度和高速度 丰富的附件可选：变温台、多样品夹具、真空泵 真正订制化，可接入更多用户要求的功能

产品描述荧光光谱仪是发光材料、生物探针、化学标记的标准研究检测手段，随着研究的深入和拓宽，研究者对荧光光谱仪的光谱检测范围和与其它常规光谱检测手段的联用提出更多的要求。HORIBA Scientific多功能真空紫外荧光光谱仪的推出正是填补了这一空白。HORIBA Scientific多功能真空紫外荧光光谱仪为需要强大光谱表征能力的研究人员和分析测试中心设计研制开发。和传统光谱仪设计思路不同，HORIBA Scientific多功能真空紫外荧光光谱仪基于模块化设计思路，荧光激发部分、样品室和荧光探测部分均可以提供灵活的解决方案，大程度拓展系统的功能性和应用的针对性。基于这一创新设计思路，HORIBA Scientific多功能真空紫外荧光光谱仪可将激发光谱和发射光谱拓展至120-200nm真空紫外波段。并可提供高增益PMT和快速采谱CCD的双探测器采谱模式。与此同时，基于对样品室的定制化设计，我们可以将光谱检测中常用方法例如：反射光谱、透射光谱和激光光致发光光谱轻松接入系统，并提供制冷机和多样品夹具等附件进一步增强该光谱系统的光谱表征能力。应用领域基本功能：荧光光谱、反射光谱、透射光谱、激光光致发光光谱、上转换光谱研究材料 LED荧光粉，BN、AlN、ZnO等半导体材料的发光特性 新材料，天然矿石钙化物的荧光特性 MgF2、LiF3镀膜、增透膜、高反膜反射率研究技术特点： 基于模块化设计，易拓展、易升级、易维护 将激发和发射光谱拓展到真空紫外波段120-200nm 可将反射谱、透射谱、激光光致发光光谱和荧光光谱无缝整合 消像差光学设计，优化真空紫外光谱范围的能量传输效率 大功率水冷氘灯光源，提高激发强度和稳定度 可提供PMT+CCD双探测器模式，兼顾高精度和高速度 丰富的附件可选：变温台、多样品夹具、真空泵 真正订制化，可接入更多用户要求的功能

HORIBA Scientific多功能真空紫外荧光光谱仪为需要强大光谱表征能力的研究人员和分析测试中心设计研制开发。和传统光谱仪设计思路不同，HORIBA Scientific多功能真空紫外荧光光谱仪基于模块化设计思路，荧光激发部分、样品室和荧光探测部分均可以提供灵活的解决方案，较大程度的拓展系统的功能性和应用的针对性。 基于这一创新设计思路，HORIBA Scientific多功能真空紫外荧光光谱仪可将激发光谱和发射光谱拓展至120-200nm真空紫外波段。并可提供高增益PMT和快速采谱CCD的双探测器采谱模式。与此同时，基于对样品室的定制化设计，我们可以将光谱检测中常用方法例如：反射光谱、透射光谱和激光光致发光光谱轻松接入系统，并提供制冷机和多样品夹具等附件进一步增强该光谱系统的光谱表征能力。应用领域荧光光谱反射光谱透射光谱激光光致发光光谱上转换光谱 研究材料LED荧光粉，BN、AlN、ZnO等半导体材料的发光特性新材料，天然矿石钙化物的荧光特性MgF2、LiF3镀膜、增透膜、高反膜反射率研究技术特点：基于模块化设计，易拓展、易升级、易维护将激发和发射光谱拓展到真空紫外波段120-200nm可将反射谱、透射谱、激光光致发光光谱和荧光光谱无缝整合消像差光学设计，优化真空紫外光谱范围的能量传输效率大功率水冷氘灯光源，提高激发强度和稳定度可提供PMT+CCD双探测器模式，兼顾高精度和高速度丰富的附件可选：变温台、多样品夹具、真空泵真正订制化，可接入更多用户要求的功能

Labsphere的反射率/透射率测量积分球可用于各种媒介的反射率和透射率测量，有Spectraflect® 和Infragold® 涂层可供选择。Spectraflect® 在300-2400nm范围具有高反射率；Infragold® 在波长为 0.7um-20um范围内效果最好。RT积分球有5个1英寸开口可容纳样品和9°反射光束的结构；在球的顶部有一个0.5英寸探测器口；镜面光束光阱用于去除镜面反射光束。RTC积分球在RT积分球内增加了一个中心安装的样品架，用户可以针对一定角度测量反射率和透射率；探测器端口在底部；RT积分球可以测量镜面反射的9°/h结构，RTC结构除了以上功能外还可以测量可变角度入射情况下的反射率。积分球的开口处采用刀刃形式有助于收集大角度散射，挡板采用最小化的设计，允许探测器最大限度地看到球内壁表面。探测口位于球的顶部和底部，并使用挡板遮挡防止样品和参考口光束的直接照射。产品特性：1.独特的设计满足了客户多样化的需求2.业界高度认可的反射率测量结构设计应用领域：1.材料反射率和透射率2.不透明物体的反射率3.混浊样品的透过率4.颜色特性5.反射系统设计6.红外反射7.反射率与角度的关系适用于固体、浑浊液体、粉末和薄膜不透明样品反射率等太阳能等材料发射率透过率测量漫反射率测量漫透射率测量半球反射率测量散射光测量吸收测量测量光谱反射率光谱透过率透过色特性测定反射系统设计红外反射率反射率随角度变化不同规格尺寸的积分球? 1、最小到2英寸，最大到76英寸或更大? 2、各种内部反射涂层的积分球? 3、Spectraflect（经济实用型）? 4、Duraflect（防水、防潮、耐腐蚀型）? 5、Spectralon（高反射率、宽光谱范围，）? 6、Infragold（近红外/中红外波段适用）

FTPadv Expert薄膜测量软件具有FTPadv标准软件中包含的用户友好和以配方为导向的操作概念。突出显示拟合参数、测量和计算的反射光谱以及主要结果的光学模型同时显示在操作屏幕上。主要功能与优势n、k 和厚度的测量该软件包设计用于 R（λ） 和 T（λ） 测量的高级分析。多层分析可以测量单层薄膜和层叠的每一层的薄膜厚度和折射率。大量的色散模型集成色散模型用于描述所有常见材料的光学特性。通过使用快速拟合算法改变模型参数，将计算出的光谱调整为测量的光谱。灵活性和模块化SENTECH FTPadv Expert 软件包用于光谱数据的高级分析，根据反射和透射测量结果确定薄膜厚度、折射率和消光系数。它扩展了SENTECH FTPadv薄膜厚度探头的标准软件包，适用于更复杂的应用，包括光学特性未知或不稳定的材料。可以在光滑或粗糙、透明或吸收性基材上测量单个透明或半透明薄膜的薄膜厚度、折射率和消光系数。该软件允许分析复杂的层堆栈，并且可以确定堆栈的每一层的参数。我们的FTPadv Expert薄膜测量软件具有FTPadv标准软件中包含的用户友好和以配方为导向的操作概念。突出显示拟合参数、测量和计算的反射光谱以及主要结果的光学模型同时显示在操作屏幕上。该软件包包括一个大型且可扩展的材料库，该库基于表格材料文件以及参数化色散模型。FTPadv Expert 软件可选用于膜厚探头 FTPadv，以及反射仪 RM 1000 和 RM 2000 软件包的一部分。

光谱反射率及颜色测量 描述反射和透射一样是物品的基本光学特性，也是光谱测量的基本内容。对于不同种类的样品，为了获取最佳的光谱测量数据，反射、透射这两种基本模式又会演化为更多的形式。物体表面的反射主要有镜面反射和漫反射两种。光在完美的平整表面上的反射是镜面反射。光在毛糙表面上的反射是漫反射。光在大多数物体表面的反射则介于两者之间。反射测量可以用于测量元件的反射率，测量物体的反射颜色和化学样品中的成分信息。当我们对物体进行反射测量时，判断物体表面主要是哪种反射类型是非常重要的。那些看上去非常晃眼的或者非常光亮的样品表面大多数是镜面反射，因反射光相对入射光而言，角度改变了180度，所以可用光纤来进行取样测量。特点样品放置方便，无须定制样品夹具操作简便、重复性好、检测快速可实时读取透过率值，数据可重复导入读取、使用方便读取反射率值通过积分球采样，还可进一步测量材料的表面颜色典型测试数据不同颜色纸张的光谱反射率光纤型光谱反射测量套件应用测量平整表面的镜面反射材料的光谱反射率。配置清单积分球型光谱反射率测量套件应用适用于平面或曲面材料的漫反射或镜面反射测量，系统经过相对强度定标后，还可进一步测量材料的表面颜色。配置清单更多精彩内容，请关注下方！

测量各类薄膜、玻璃以及镜片等的可见光透射比、紫外线透射比、太阳光透射比、可见光反射比，及材料的光谱透射率/反射率曲线，并对材料的颜色特性进行分析，实现280nm-2500nm极宽的测量范围，满足GAT744-2013 标准要求。 核心光学设备为国家863（高技术研究发展计划）项目研究成果，获美国专利授权（专利号：US 7，978，324 B2），"国家首批自主创新产品"，"国家重点新产品"荣誉。经由院士领衔的权威专家组鉴定，获"国际领先"评价。主要特点采用远方高精度光谱测量技术，精度高、测量速度快、稳定性好采用背照式高精度阵列探测器和优质衍射光栅，并采用带通色轮校正（BWCT）等多项杂散光修正专利技术，具有极高的光谱测量分辨率、机低杂散光高性能准直光源，保证宽波段范围的测量条件自带校正及标定功能，方便用户自行校零和定标独特的紫外-可见波段的双光路设计，可对光源进行监控和自动补偿，减少光源变化带来的误差极宽的光谱测量范围：280nm-2500nm? 主要技术指标测量功能可见光透射比、紫外线透射比、太阳光透射比、可见光反射比，及材料的光谱透射率曲线、材料的光谱反射率曲线、材料的色空间、色差等颜色参数。波长范围280nm-2500nm；波长准确度280-800nm波段：±0.3nm；800-1600波段：±0.5nm；1600-2550波段：±3nm；半峰带宽280-800nm波段：3nm；800-1600波段：9nm；1600-2500波段：15nm；照明/接收条件反射 5°/5°，透射：0/0反射率范围0-200%，分辨率0.001%照明孔径Φ20mm? 典型应用：

SSR-ER太阳光谱反射率仪提供准确的材料漫反射和镜面反射测量，材料样品最小厚度可至6.4mm，太阳反射比和吸收比精确到0.001，重复性达到0.003。采用钨丝提供漫反射光源，测量4个滤光探测器、20度近法线入射角的样品辐射反射。探测器主要覆盖紫外、蓝光、红光和IR光谱范围。2个额外的探测器用来重采样低色温情况下红光和IR光源。SSR 漫反射和镜面反射标准体随机提供，标准体通过美国National Bureau of Standards Materials 标定，仪器经过标准体定标后即可开始测量。默认操作模式下，仪器每完成一个测量循环的时间为8秒钟，钨灯亮6秒的同时并记录检测器偏移值，灯亮两秒钟后6个探测器进行反射率测量并存储，计算太阳反射比并显示在LCD上，然后关闭光源。通过键盘可切换6个探测器的反射比或吸收比显示。