铜厚测量仪

仪器信息网铜厚测量仪专题为您提供2024年最新铜厚测量仪价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括铜厚测量仪参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的铜厚测量仪您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合铜厚测量仪相关的耗材配件、试剂标物,还有铜厚测量仪相关的最新资讯、资料,以及铜厚测量仪相关的解决方案。
当前位置: 仪器信息网 > 行业主题 > >

铜厚测量仪相关的厂商

  • 昆山赛万腾测量仪器有限公司是一家从事三坐标测量机、影像测量仪生产及销售的资深企业,行业经验30年,市场遍布全球。 团队主要成员涉足计量行业二十余年,同中国三坐标测量行业一起成长,经过多年的不懈努力积累了丰富的行业经验,依托科学严谨的管理体系,配备完善的生产手段和检测条件,测量仪器在出厂前都经过了严格的循环检测以确保每一台仪器应用稳定。可广泛应用于航空航天、国防军工、模具制造、电子、塑胶、精密零部件加工、汽车及零配件生产等行业。 公司十分注重科技创新和新产品研发,根据国际市场发展趋势研发的各类新产品,始终领先于同行业的同类产品。公司自创立之日起即与德国专业公司进行设计、品质管理、生产、人才培训等方面的密切合作,为公司长远的发展奠定了坚实的基础。 赛万腾决心在任何情况下都只生产和销售高品质、性能卓越的测量仪器。
    留言咨询
  • 东莞忠仪测量仪器有限公司是一家集自主研发,代理销售,技术培训,信息咨询及维修服务於一体的高科技企业。公司与多家零售商和代理商建立了长期稳定的合作关系。為国内的生產加工企业和厂家提供质量可靠的各类仪器设备和专业维修服务,自成立以来凭著良好的信誉、优良的產品品质、热情周到的售后服务赢得了广泛客户的信赖与支持。经长期努力以来,公司集累了一批具有良好素质和专业技术丰富的维修及销售工程师,能及时為您提供最优惠快捷的专业服务。公司主要经营项目如下:1.日本东京光电子(TOE)激光镭射测径仪。2.日本尼康(Nikon)工业测量仪器:投影仪、工具显微镜、工业自动影像仪、高度计,3.日本三丰(Mitutoyo)系列:三坐标、投影仪、工具显微镜、表面粗糙度仪、真圆度测定机、轮廓度测量仪,三丰镭射测定机系列,。4.日本三丰(Mitutoyo)小量具系列:表盘、数显及游标卡尺、分厘卡、厚薄计、杠桿量表、深度规、高度规、高度仪、伸缩规、形状类测针等。5.日本东京精密(ACCRETECH)表面粗糙度仪、真圆度测定机、轮廓度测量仪、形状类测针等。6.瑞士(Trimos)/(TESR)系列各类精密量具,一维/二维精密测高仪,精密长度测长仪. 三维三坐标测量仪,投影仪等等及其它种类精密量测仪器。7.日本AIKOR数显推拉力计系列、手动荷重仪系列(HF-2S)、自动曲线荷重仪系列(1305VR)、硬度计系列的销售和维修、荷重元换新及维修。8.万濠(Rational)万濠投影机、万濠影像量测仪、金像显微镜。9.专业研发量具数据采集管理软件。10.各类进口/国产仪器升级,年度保养,专业维修服务。 本公司销售仪器广泛应用於电子、航空、五金、塑胶、橡胶、模具、硅橡胶按键、油墨涂料等行业,我们不但為客户提供优质的仪器设备,还将通过做好从销售到售后服务的每一个环节来让客户感受到我们细致入微的服务。 公司宗旨:诚信 协作 务实 迅速.
    留言咨询
  • 东莞市正盛测量仪器有限公司位于模具制造之都广东东莞长安。公司主要专营德国ITP测针 精密测量仪器及配件,机床设备及配件,电子产品及配件,仪器耗材等产品,致力于为客户提供测量仪器方便专业的咨询,力求成为客户可信赖的伙伴。
    留言咨询

铜厚测量仪相关的仪器

  • 仪器简介:能简便、快捷、准确、经济地测量水溶液中的铜离子。技术参数:9629BNWP铜离子复合电极技术参数 电极型号 9629BNWP 测量范围 6.4x10-4 ~ 6354 ppm pH范围 2 ~ 12pH 温度范围 0 ~ 80℃连续测量 80 ~ 100℃间歇测量 重现性 ± 4% 样品 水溶液 电极尺寸 电极长度:110mm 电极体直径:13mm 电极帽直径:16mm 电缆线长度:1m Dual Star双通道pH/离子浓度测量仪主机技术参数: 离子浓度 测量范围:0 &ndash 19999 分辨率:1,2,3 位有效数字 相对精度:± 0.1 mV 或0.05%(取较大者) 单位:ppm,mg/L,M,% 或无单位 测量方法:单已知加量/ 减量法;双已知加量/ 减量法 校正点:2- 6 点 pH 测量范围:-2.000 - 19.999 分辨率:0.1 / 0.01 / 0.001 pH 相对精度:± 0.001 pH 校正点:1 - 6 点 自动缓冲液识别:US,NIST,DIN 和用户自定义 氧化还原电位 (ORP) 测量范围:± 1999.9(mV/RmV/EH) 分辨率:0.1 mV 相对精度:± 0.1 mV 或0.05%(取较大者) 温度 测量范围:-5 - 105℃ 分辨率:-5 - 99.9℃为0.1℃,99.9℃以上为1.0℃ 相对精度:± 0.1℃ 仪表功能 LCD :双通道显示 输入:两个BNC 接口,两个参比电极接口,两个MiniDIN 接口(温度探头) 方法存储:20 个 密码保护:是 数据存储:1000 组 符合GLP 标准:是 数据传输:双向RS232 接口,可选USB 电缆 IP 等级:IP54 防尘防溅 质量安全认证:CE,CSA,UL,TÜ A,FCC Class A 操作环境:适宜操作温度5 - 45℃ 相对湿度5 - 85%(无冷凝) 电源:4× AA 电池,通用的电源适配器 外形尺寸:9.4 cm(高)× 17.0 cm(宽)× 22.4 cm(长) D10P-29 Dual Star铜离子测量仪 &bull Dual Star双通道pH/离子浓度测量仪 &bull 9629BNWP铜离子复合电极 &bull 927007MD温度电极 &bull 0.1M铜离子标准液 &bull 离子强度调节剂 &bull 搅拌器 &bull RS232数据线 &bull 电极支架 配件及耗材9629BNWP 铜离子复合电极 900063 Optimum ResultsTM D电极填充液,5 x 60mL 940011 离子强度调节剂,5M NaNO3,475mL 948201 24张6&rdquo 抛光纸主要特点:Dual Star铜离子测量仪 &bull 双通道结构具备双BNC接口,双参比接口,双ATC接口,可同时接入两支离子选择性电极或pH电极,对样品中的离子浓度或pH同时测量,同时显示。 &bull 可与铅、氯、氨氮、氟、钠、钾、溴、硝酸根等离子选择性电极(ISE)或pH电极搭配使用,测量溶液中的离子浓度或pH值。 &bull 数字按键便于操作仪表。 &bull 可同时显示被测离子的名称,浓度值,mV值,温度。 &bull 包含针对复杂样品测量的已知加量/减量法,样品加量/减量法。 &bull 自动空白校准功能。 &bull 升级的GLP性能,可设置仪表密码并为每种方法单独设置密码。 &bull 每通道可设置10个测量方法-不同电极的校准数据。 &bull 可存储1000组带日期、时间的数据。 &bull 可通过USB接口更新软件。 &bull 以图形方式显示校准曲线。 &bull 可与自动换样器连用。 &bull 可设置等温点以及温度校准。
    留言咨询
  • 铜厚测量仪,菲希尔PCB铜厚测量仪产品用途:菲希尔铜厚测量仪属于一款手持式设备,用于非破坏性的测量多种基材上的,包括小型结构和粗糙表面上的导电涂层的厚度。适用于测量:测量钢铁上的锌、铜或铝镀层(适合粗糙表面的探头ESD20ZN)钢制小部件上的锌镀层(用于较小测量面积的探头ESD2.4)钢铁上的电镀镍层(探头ESD20NI,频率60KHZ或240KHZ) 铜厚测量仪,菲希尔PCB铜厚测量仪产品特点:测量印刷线路板上覆铜板,即使在阻焊剂下的厚度。测量印刷线路板上通孔内的铜壁厚度。测量锌,铜,铝等镀层在钢或铁上的厚度。尤其适合于在粗糙的表面测量。测量锌镀层在较小的钢部件上。由于它较小的测量面积以及相位感度涡流方法带来的优点,使得对于不同几何尺寸的部件不需要特别的校准。测量钢或铁部件上的电镀镍层。可以根据镍层的厚度范围选择两种不同的测量频率。铜厚测量仪,菲希尔PCB铜厚测量仪检测探头:特别适合于Cu/Iso 探头ESD20CuNi/Fe 探头 ESD20NiNFe/Fe 探头ESD20ZnZn/Fe 探头ESD2.4PCB通孔上的Cu 探头ESL080
    留言咨询
  • 广东正业是菲希尔的代理商,提供集销售与售后服务为一体的专业的仪器生产及代理商。广东正业主要代理菲希尔的铜厚测量仪,其中涵盖孔铜测厚仪、铜箔测厚仪、面铜测厚仪。同时还代理涂层测厚仪、镀层测厚仪、元素分析仪。其产品可广泛应用于钟表,首饰,眼镜 ,汽车及紧固件,卫浴五金,连接器,化学药水,通信,半导体封装测试,电子元器件 ,PCB等行业菲希尔产品包括:X射线荧光镀层测厚及材料分析仪系列孔铜测厚仪面铜测厚仪涂镀层测厚仪FMP10-40系列涂镀层测厚仪涂层镀层测厚仪菲希尔的孔铜测厚仪主要用途及特点如下:产品用途:手持式设备,用于非破坏性的测量多种基材上的,包括小型结构和粗糙表面上的导电涂层的厚度。适用于测量:测量钢铁上的锌、铜或铝镀层(适合粗糙表面的探头ESD20ZN)钢制小部件上的锌镀层(用于较小测量面积的探头ESD2.4)钢铁上的电镀镍层(探头ESD20NI,频率60KHZ或240KHZ)主要特点:测量印刷线路板上覆铜板,即使在阻焊剂下的厚度。测量印刷线路板上通孔内的铜壁厚度。测量锌,铜,铝等镀层在钢或铁上的厚度。尤其适合于在粗糙的表面测量。测量锌镀层在较小的钢部件上。由于它较小的测量面积以及相位感度涡流方法带来的优点,使得对于不同几何尺寸的部件不需要特别的校准。测量钢或铁部件上的电镀镍层。可以根据镍层的厚度范围选择两种不同的测量频率。
    留言咨询

铜厚测量仪相关的资讯

  • 《锡膏厚度测量仪校准规范》发布实施
    近日,在广东省市场监管局指导下,由广东省计量院主持起草的JJF1965-2022《锡膏厚度测量仪校准规范》获国家市场监督管理总局批准发布实施。本规范的颁布实施,有效解决了锡膏厚度测量仪的量值一直无法获得有效溯源,不同仪器上测量结果差异较大的技术难题,进一步完善了精密几何量领域国家计量技术规范体系,促进了行业技术标准的统一,有利于集成电路产业、企业相关技术能力的提升。  据了解,锡膏厚度测量仪是一种被广泛用于检测集成电路板上锡膏印刷质量的仪器,它采用非接触式的光学测量原理,能快速、无损地测量锡膏的厚度、面积、体积等参数,其中,厚度是判断锡膏印刷质量的关键核心指标。以往由于缺乏相关的计量技术规范,各生产厂家在校正仪器时采用的方法和计量标准存在差异,导致测量结果的复现性较差,不利于产品质量的控制和不同企业间的产品验收。  针对上述问题,在广东省市场监管局的指导下,广东省计量院和国家计量院、山东院、苏州院等单位专家组成规范起草组,对目前市场上锡膏厚度测量仪的生产厂家和用户开展广泛调研,深入了解仪器技术原理、客户需求和实际使用情况,经过反复论证和实验,确定了仪器校准的主要技术指标、操作方法和计量标准器要求等,并最终由广东省计量院主持完成校准规范的起草和报批。目前,该院联合研发了配套的多种规格计量标准器,并已为香港生产力促进局等多家粤港澳大湾区的客户提供了校准服务。
  • 操作薄膜厚度测量仪时,有哪些步骤是容易被忽视的
    在精密制造与材料科学的广阔领域中,薄膜厚度测量仪作为一种关键的检测工具,其准确性与操作规范性直接影响到产品质量与科研结果的可靠性。然而,在实际操作过程中,一些看似微不足道的步骤往往容易被忽视,这些被忽视的细节正是影响测量精度与效率的关键因素。本文将从几个关键方面出发,探讨操作薄膜厚度测量仪时容易被忽视的步骤。一、前期准备:环境检查与设备校准的疏忽1.1 环境条件未充分评估在进行薄膜厚度测量之前,对测量环境的温湿度、振动源及电磁干扰等因素的评估往往被轻视。这些环境因素的变化可能直接导致测量结果的偏差。因此,应确保测量环境符合仪器说明书的要求,如温度控制在一定范围内,避免强磁场干扰等。1.2 设备校准的忽视校准是确保测量准确性的基础。但很多时候,操作者可能因为时间紧迫或认为仪器“看起来很准”而跳过校准步骤。实际上,即使是最精密的仪器,在使用一段时间后也会因磨损、老化等原因产生偏差。因此,定期按照厂家提供的校准程序进行校准,是保障测量精度的必要环节。二、操作过程中的细节遗漏2.1 样品处理不当薄膜样品的表面状态(如清洁度、平整度)对测量结果有直接影响。若样品表面存在油污、灰尘或凹凸不平,会导致测量探头与样品接触不良,从而影响测量精度。因此,在测量前应对样品进行彻底清洁和平整处理。2.2 测量位置的随机性为确保测量结果的代表性,应在薄膜的不同位置进行多次测量并取平均值。然而,实际操作中,操作者可能仅选择一两个看似“典型”的位置进行测量,这样的做法无疑增加了结果的偶然误差。正确的做法是在薄膜上均匀分布多个测量点,并进行统计分析。2.3 参数设置不合理薄膜厚度测量仪通常具有多种测量模式和参数设置选项,如测量速度、测量范围、灵敏度等。这些参数的设置应根据薄膜的材质、厚度及测量要求进行调整。若参数设置不当,不仅会影响测量精度,还可能损坏仪器或样品。因此,在测量前,应仔细阅读仪器说明书,合理设置各项参数。三、后期处理与数据分析的疏忽3.1 数据记录的不完整在测量过程中,详细记录每一次测量的数据、环境条件及仪器状态是至关重要的。但实际操作中,操作者可能因疏忽而遗漏某些关键信息,导致后续数据分析时无法追溯或验证。因此,应建立规范的数据记录制度,确保信息的完整性和可追溯性。3.2 数据分析的片面性数据分析不仅仅是计算平均值或标准差那么简单。它还需要结合测量目的、样品特性及实验条件等多方面因素进行综合考量。然而,在实际操作中,操作者可能仅关注测量结果是否达标,而忽视了数据背后的深层含义和潜在规律。因此,在数据分析阶段,应采用多种方法(如统计分析、图形表示等)对数据进行全面剖析,以揭示其内在规律和趋势。结语操作薄膜厚度测量仪时,每一个步骤都至关重要,任何细节的忽视都可能对测量结果产生不可忽视的影响。因此,操作者应时刻保持严谨的态度和细致的观察力,严格按照操作规程进行操作,确保测量结果的准确性和可靠性。同时,随着科技的进步和测量技术的不断发展,我们也应不断学习新知识、掌握新技能,以更好地应对日益复杂的测量任务和挑战。
  • 总投资3.2亿元,年产6.5万台仪器,同惠智能化电子测量仪器项目竣工
    据悉,同惠智能化电子测量器项目位于常州国家高新区龙虎塘街道,总投资3.2亿元,年产电子测量仪器6.5万台(套)。电子测量仪器具有独特的关联战略性产业,它自身的发展好坏,对整个国民经济特别是电子信息产业的发展有着十分明显的影响。我国的电子测量仪器市场庞大,需求量大,电子测量仪器对电子信息产业的发展起到至关重要的作用。深耕电子测量仪器行业20余年的同惠电子对此有深刻认识,成立之初就树立“技术立企”的理念,并在发展过程中不断加大研发投入,今年以来,公司在持续发力科研的同时,加强市场营销网络建设与营销队伍培养,取得了不错的成效,半年度营收、利润增速超过2017年至2020年4年增速。资料显示,同惠电子是一家专注于电子测量器的技术研发与产品开发的企业,经公司仪器检测过的产品被广泛应用于3C消费电子、5G通讯、半导体封测等领域。近几年,随着电子产品市场需求重新呈现增长趋势,主要消费类电子产品如电子计算机行业的需求促进电子测量仪器行业的市场规模的增长。多年来,同惠电子一直保持着高强度的研发投入。研发占比也均在12%左右,突破电子测量仪器行业技术瓶颈。近日,据常州国家高新区消息,同惠智能化电子测量仪器项目已竣工。据悉,同惠智能化电子测量仪器项目位于常州国家高新区龙虎塘街道,总投资3.2亿元,年产电子测量仪器6.5万台(套)。达产后新增年销售2.4亿元,税收3200万元。

铜厚测量仪相关的方案

铜厚测量仪相关的资料

铜厚测量仪相关的论坛

  • 厚度测量仪哪个品牌比较好?

    厚度的测量方法有多种,总体上分为非接触式与接触式,非接触式包括射线,涡流,超声波,红外等多种类型,接触式行业中也称为机械式测厚,分为点接触式与面接触式。厚度测量仪的用途:适用于塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。  在选择厚度测厚仪这样的机械设备时,往往都通过比较做出选择,知名品牌也是参考的一点,但是设备的质量也尤为重要。大成精密厚度测量仪就符合这两点的厂家,在国内来说,他们做的是相当不错的,自主研发生产,质量高,进一步确保了高精度,高效率,高稳定性的测量。得到了得到了消费者的大力认可。[align=center][img]http://img.mp.sohu.com/upload/20170516/8bbeebc80b4b42248dbe8f8aabbea7dc_th.png[/img][/align]  厚度测量仪又叫金属厚度测量仪、钢管厚度测量仪、钢板厚度测量仪、厚度测量仪价格、厚度测量仪厂家、金属超声测厚仪、超声厚度测量仪、超声测厚仪价格、数显超声测厚仪、便携式测厚仪、超声波测厚仪价格、超声波测厚仪品牌、数显测厚仪、电子测厚仪、精密测厚仪、超声测厚计、超声测厚仪器、高温测厚仪、不锈钢测厚仪、模具测厚仪、带钢测厚仪、钢结构测厚仪、压力容器测厚仪、压力罐测厚仪、金属管道测厚仪、无损测厚仪是采用最新的高性能、低功耗微处理器技术,基于超声波测量原理,可以测量金属及其它多种材料的厚度,并可以对材料的声速进行测量。可以对生产设备中各种管道和压力容器进行厚度测量,监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度,也可以对各种板材和各种加工零件作精确测量。  超声波测量厚度的原理与光波测量原理相似,当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时,脉冲被反射回探头通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。  厚度测量仪哪个品牌比较好?不同类型的测厚仪,对应不一样的行业,适用范围也有所不同,那么大家在选购测厚仪时,就需要对特定的测厚仪有所了解。如在选择厚度测量仪上有需要提供产品和知识帮助的友们,欢迎来电大成精密公司来咨询。

  • 目前市面的二次元测量仪、三次元测量仪、测量投影仪与五次元一键式测量仪的区别?

    随着中国市场的科技技术日新月异,制造业对产品的精度要求越来越高,人为测量已无法满足客户要求,大家都开始借助仪器测量。目前市面上对于尺寸的测量主要是有二次元及三次元等。那么这些测量仪的区别在哪儿呢?目前市面的二次元测量仪、三次元测量仪、测量投影仪与五次元一键式测量仪的区别??? 现在市场的影像尺寸测量仪,有三次元测量仪、二次元测量仪和测量投影仪。而二次元测量仪跟测量投影仪难以区别,都是光学检测仪器,在结构和原 理上二次元测量仪通常是连接PC电脑上同时连同软件一起进行操作,精度在0.002MM以内,测量投影仪内部是自带微型电脑的,因此不需要再连接电脑,但在精度上却没有二次元测量仪那么精准,影像测量仪精度一般只能达0.01MM以内。三次元测量仪是在二次元测量的基础上加一个超声测量或红外测量探头,用于测量被测物体的厚度以及盲孔深度等,这些往往二次元测量仪无法测量,但三次元测量仪也有一定的缺陷:Ø 测高探头采用接触法测量,无法测量部分表面不 能接触的物体;Ø 探头工作时,需频繁移动座标,检测速度慢;Ø 因探头有一定大小,因些无法测量过小内径的盲孔;Ø 探头因采用接触法测量,而接触面有一 定宽度,当检测凹凸不平表面时,测量值会有较大误差,同时一般测量范围都较小。 光纤同轴位移传感器以非接触方式测量高度和厚度,解决了过去三角测距方式中无法克服的误差问题,因此开发出可以同轴共焦非接触式一键测量的3D轮廓测量设备成为亟待解决的热点问题。 针对现有技术的上述不足,提供五次元测量设备及其测量计算方法,具有可以非接触检测、更高分辨率、检测速率更快、一键式测量、更高精度等优点。五次元测量仪通过采用大理石做为检测平台和基座,可获得更高的稳定性;内置软件的自动分析,可一键式测量,只需按一个启动键,既可完成尺寸测量,使用方便;采有非接触式光谱共焦测量具有快速、高精度、可测微小孔、非接触等优点,可测量Z轴高度,解决测高探头接触对部分产品造成损伤的问题;大市场光学系统可一次拍取整个工件图像,可使检测精度更高,速度更快。并且可以概据客户需要,进行自动化扩展,配合机械手自动上下料,完全可做到无人化,并可进行 SPC 过程统计。为客户提供高精度检测的同时,概据 SPC 统计数据,实时对生产数据调整, 提高产品质量,节约成本。

  • 【资料】影像测量仪按分类是咋分的?

    影像测量仪在行业内又被称为视频测量仪,前期习惯叫它二次元;它是将工件的投影和视频图像集合在一起,进行影像传送和数据测量的光、机、电、软件为一体的非接触式测量设备。适用于以二坐标测量为目的的一切应用领域,机械、电子、仪表、五金、塑胶等行业广泛使用。 影像测量仪的分类如下:  一.影像测量仪按原理分类  A、手动型:手动移动工作台,影像测量仪具有多种数据处理、显示、输入、输出功能,特别是工件摆正功能非常实用;仪器备有RS-232接口,与电脑连接后,采用专用测量软件可对测绘图形进行处理及输出。  B、全自动型:全自动光学影像测量仪是最新推出的一款光学测量仪器,专为高端全自动量测市场量身定制。大幅度减少阿贝误差,提高的测量准确度,有效保证各轴稳定性。同时引进日本伺服全闭环控制系统,采用我司最新开发的MCINS自动量测软体,具有CNC编程功能,能够大幅度提高了定位精准度及重复性、且测量速度快。    二.影像测量仪按结构分类  A、小型影像测量仪:工作台行程范围比较小,适合较小工件的检测。一般行程在150mm以内。  B、普通型影像测量仪:工作台行程150mm—600mm之间,一般Y轴方向,行程在300mm范围内性价比是最好的。  C、增强型影像测量仪:在普通型的基础上加探头,从而到达三维测量的效果,可以检测高度。  D、大行程影像测量仪:大工作平台,根据客户的需求定制,奥秋目前可以制作1200mm左右行程,交货周期一般在3个月左右。

铜厚测量仪相关的耗材

  • 硅片厚度测量仪配件
    硅片TTV厚度测试仪配件是采用红外干涉技术的测量仪,能够精确给出衬底厚度和厚度变化 (TTV),也能实时给出超薄晶圆的厚度(掩膜过程中的晶圆),非常适合晶圆的研磨、蚀刻、沉淀等应用。 硅片厚度测量仪配件采用的这种红外干涉技术具有独特优势,诸 多材料例如,Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃,石英以及其他聚合物在红外光束下都是透明的,非常容易测量,标准的测量空间分辨率可达50微米,更小的测量点也可以做到。硅片厚度测量仪配件采用非接触式测量方法,对晶圆的厚度和表面形貌进行测量,可广泛用于:MEMS, 晶圆,电子器件,膜厚,激光打标雕刻等工序或器件的测量,专业为掩膜,划线的晶圆,粘到蓝宝石或玻璃衬底上的晶圆等各种晶圆的厚度测量而设计,同时,硅片厚度测试仪还适合50-300mm 直径的晶圆的表面形貌测量。硅片厚度测试仪配件具有探针系统配件,使用该探针系统后,硅片TTV厚度测试仪可以高精度地测量图案化晶圆,带保护膜的晶圆, 键合晶圆和带凸点晶圆(植球晶圆),wafers with patterns, wafer tapes,wafer bump or bonded wafers 。 硅片TTV厚度测试仪配件直接而精确地测量晶圆衬底厚度和厚度变化TTV,同时该硅片厚度测量仪能够测量晶圆薄膜厚度,硅膜厚度(membrane thickness) 和凸点厚度(wafer pump height).,沟槽深度 (trench depth)。
  • 雾度测量仪配件
    雾度测量仪配件能够精确测量在玻璃或硅晶圆衬底上薄膜的总透过率和漫透过率,根据公式Haze(λ)=DT(λ)/TT(λ)从而获得雾度值,测量光谱范围为400-900nm。薄膜的总透过率,总反射率,漫透过率对于太阳能光伏制造非常重要,雾度测量仪配件通过三个光谱仪测量400-900nm范围内的光谱,不需要移动或改变任何部件,保证测量精度和使用寿命。雾度测量仪配件采用模块化设计,具有高度的可拓展性,充分满足不同客户的多种需要。例如,自动光学窗口可更换,简化操作,减少用户的人工干预操作。还有厚度和反射率测量模块可集成,从而满足客户测量薄膜厚度和折射率的需求。除此之外,还可以根据用户的预算情况配备自动扫描或手动扫描的机制,可以适合任何尺寸的样品,包括面积大于1平方米的玻璃板。
  • 在线水分测量仪配件
    在线水分测量仪配件是德国高灵敏度水分测定仪,它采用德国高灵敏度光学水分传感器,非常适合测量粉末,颗粒,浆料,糊状物,膏剂等多种材料在内的多种样品的水分含量。在线水分测量仪配件特色直接测量样品,测量速度快,测量精度高,测量可靠性强,全面超越目前现存的NIR光谱或微波传感水分含量传感器产品,具有德国专利的光学水分传感器清洗技术,完全清洁光学传感器探头,解决了直接测量的光学传感器污染难题。在线水分测量仪配件特点直接深入样品非接触式光学测量LED显示技术确保长寿命高精度光学探头在线测量德国全固态设计结构,超级耐用无需耗材,使用成本低无需样品准备,直接测量,节省时间无需售后服务在线水分测量仪配件参数测量原理:近红外反射测量范围:0-90%水分含量测量精度:+/-0.1%测量时间:2秒测量距离:10-300mm 或者侵入式测量测量点尺寸:高达10cm光源:红外LED光源收集器:光电二极管工作温度要求:5-45摄氏度工作电力要求:24VDC, 0.2A,信号输出:0...10V或4...20mA外壳材料:IP65外形尺寸:300x200x160mm重量:2.8kg
Instrument.com.cn Copyright©1999- 2023 ,All Rights Reserved版权所有,未经书面授权,页面内容不得以任何形式进行复制