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周波跌落模拟器

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周波跌落模拟器相关的论坛

  • avantes太阳模拟器光谱测量

    太阳模拟器作为光源，在某种意义上说，可以等同于太阳光源，可以模拟太阳光照射。太阳模拟器广泛应用于太阳能电池特性测试，光电材料特性测试，生物化学相关测试，光学催化降解加速研究，皮肤化妆用品检测，环境研究等。 随着太阳能光伏产业的蓬勃发展，太阳能模拟器的光谱匹配性能测试也越趋重要。针对大多数采用脉冲氙灯作为光源的设备，最理想的测试状态是采集一个脉冲周期内不同时间点的绝对辐射光谱，进而判断该太阳能模拟器的光谱等级。目前采用微小型的光纤光谱技术是实现太阳能模拟器光谱测量最简单可靠的方法。设备和方法 1、稳态光谱采集 根据IEC60694-9标准要求，太阳模拟器有效光谱范围是400-1100nm，这就需要光谱测试设备可同时采集到400-1100nm范围的绝对光谱数据，并且在整个波段范围内都具有较高的信噪比，以保证测试数据的可靠性。荷兰Avantes公司的AvaSolar光纤光谱仪，采用高信噪比的薄型背照式CCD探测器，其在200-1100nm均具有良好的光谱响应，以确保得到高质量的光谱数据。同时该套系统出厂时就进行了NIST可溯源的绝对辐射标定，可直接得到稳态的模拟器的辐照度光谱信息。 2、 瞬态光谱采集 基于AvaSolar光谱仪特有的快速采集功能，也可应用在瞬态模拟器的光谱检测中。AvaSolar最多可实现每秒钟450幅光谱的采集，不管模拟器的工作模式是单次脉冲、多次频闪，无论脉冲弛豫时间是小到2ms，还是较长的6s，AvaSolar系统均可得到真实可靠的辐照度数据。 3、光谱匹配度太阳模拟器的光谱匹配度是指在6个指定光谱范围内强度积分的百分比。任何与标准光谱的偏离百分比都必须在一定的范围内，这也正是衡量太阳模拟器等级的一项标准。对于A类太阳模拟器，光谱匹配度必须在75% - 125%之间。Ideal Spectral Match Defined by IEC StandardsSpectral MatchSpectral Range (nm) Ideal %400 - 500 18.4500 - 600 19.9600 - 700 18.4700 - 800 14.9800 - 900 12.5900 - 1100 15.9 利用AvaSoft-Solar软件特有的能量积分功能，可得到不同光谱范围内的辐照度总和（单位：µW/cm2），从而帮助判断该太阳能模拟器的光谱等级。如下图所示，同时对上述6个指定光谱范围的辐照强度进行能量积分计算。 4、 模拟器等级判断 AvaSoft-Solar软件可按照IEC60694-9标准上所述要求，根据测试得到的模拟器辐照度光谱数据直接给出模拟器的等级，可给出不同波段范围内的匹配度，以帮助用户更好的判断模拟器的性能。 5、 扩展功能 ⑴紫外老化仪光谱测量 对于设有可靠性试验室的用户来说，紫外老化也是检测光伏产品性能必不可少的环节，这也就需要针对紫外老化仪的光谱及辐照度进行有效的检测。由于AvaSolar主机可覆盖200-1100nm的光谱范围，因此AvaSolar该套系统可以直接用来进行紫外老化仪的光谱检测。 ⑵光伏组件玻璃板透过率测量 AvaSolar光谱仪不但可进行绝对辐照光谱的检测，同时可对光伏组件厂所用的大面积玻璃进行透过率的测量。仅需要在原有AvaSolar系统的基础上额外配置照射光源、积分球及光纤即可。对于工业用大尺寸的玻璃的透过率的检测，需要用户根据不同的现场测试要求自行设计积分

  • 单臂跌落试验机和双臂跌落试验机的介绍

    单臂跌落试验机是专为模拟测试各种产品包装好后在搬运或运输过程中，受到堕落时而导致产品内部受损情况进行评估，从而得出最佳之解决方案，以便在运送途中能尽量减少损失。双臂跌落试验机主要用于考核包装件在实际运输、装卸过程中受到跌落冲击的影响程度，评定包装件在搬运过程中耐冲击强度和包装设计的合理性。 单翼跌落试验机专用于测试产品包装受到坠落之受损情况，及评估运输搬运过程时耐冲击强度。单翼跌落试验机采用单臂双柱结构，具有电动复位、电控跌落及电动升降装置，采用独有的液压缓冲装置大大的提高了机器使用寿命、平稳性及安全性 单臂设置，可方便地放置产品。单翼跌落试验机可对包装件的面、角、棱作自由跌落试验，配备数显高度显示仪及采用译码器进行高度跟踪，从而能精确地给出产品跌落高度，与预设跌落高度误差不超过2％或10mm。 双臂跌落试验机主要用于考核包装件在实际运输、装卸过程中受到跌落冲击的影响程度，评定包装件在搬运过程中耐冲击强度和包装设计的合理性。双臂跌落试验机采用双臂双柱结构，具有电动复位、电控跌落及电动升降装置。双臂跌落试验机每次测试完毕，须把跌落臂落下，以免长时间复位的跌落臂把弹簧拉变形，影响测试效果，每次跌落前请先复位至电机停止转动后方可按跌落键。

  • 开源网络模拟器ns-3 - 架构与实践

    [b]【序号】：【作者】：[url=https://book.douban.com/search/%E5%91%A8%E8%BF%AA%E4%B9%8B]周迪之[/url]【题名】：[b]开源网络模拟器ns-3 - 架构与实践[/b]【期刊】：[font=Helvetica, Arial, sans-serif][size=13px][color=#111111]机械工业出版社[/color][/size][/font]【年、卷、期、起止页码】：[font=Helvetica, Arial, sans-serif][size=13px][color=#111111]2018-12-1[/color][/size][/font]【全文链接】：https://book.douban.com/subject/30422850/[/b]

  • 【仪器心得】上海广品BGDL-315跌落试验机使用心得

    [align=center][size=21px]上海广品[/size][size=21px]BGDL-315[/size][size=21px]跌落试验机[/size][size=21px]使用心得[/size][/align][size=16px] 跌落实验指标也是一项模拟运输的指标，模拟运输过程中仪器（带包装）有跌落（在一定高度、角度等跌落范围内）的情况而不应受到影响。做这个实验需要一套跌落试验机，我们用的是[/size][size=16px]上海广品[/size][size=16px]BGDL-315[/size][size=16px]跌落试验机[/size][size=16px]。[/size][align=center][img]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/11/202211230931255710_7747_2369266_3.jpeg[/img][/align][align=center][img]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/11/202211230931259544_7533_2369266_3.jpeg[/img][/align][align=center][img]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/11/202211230931270762_8142_2369266_3.jpeg[/img][/align][size=16px] BGDL-315[/size][size=16px]跌落试验机[/size][size=16px]只能做水平面的跌落，仪器的楞和角的跌落做不了。[/size][size=16px]跌落高度[/size][size=16px]范围（[/size][size=16px]400[/size][size=16px]～[/size][size=16px]1000[/size][size=16px]）[/size][size=16px]mm[/size][size=16px]；[/size][size=16px]受试设备重量不超过[/size][size=16px]要求在[/size][size=16px]100kg[/size][size=16px]以内，再重的跌落臂承受不了[/size][size=16px]；试验机双臂[/size][size=16px]宽最大[/size][size=16px]可调[/size][size=16px]长宽高[/size][size=16px] 800mm[/size][size=16px]，也就是[/size][size=16px]0.8m[/size][size=16px]，这就要求受试设备宽度在[/size][size=16px]0.8m[/size][size=16px]以内，否则实验也是做不了[/size][size=16px]。[/size][size=16px] 跌落实验属于破坏性实验，一般受试设备跌落是要带着包装（模拟运输）进行的，否则设备会有受损，尤其是外观会较严重。[/size][size=16px]做这个实验前先在实验机控制器上设置跌落高度，通过上下控制按钮操作，显示屏上显示高度值，到了[/size][size=16px]选定值开始[/size][size=16px]按下停止按钮。选好高度把受试设备放到跌落机的双臂上（按要求一般设备须做[/size][size=16px]XYZ[/size][size=16px]六个水平面的跌落，如果是特定的实验，实验需选好跌落面），实验员离开跌落区间，按下控制器的跌落按钮，受试设备会砰地一声落在跌落区。[/size][size=16px]受试设备各个面依次跌落后，检查仪器外观是否有受损，仪器内部结构是否有变化。如无问题需上电、开机检查仪器功能性能指标及各设置参数是否正常。这样跌落试验就做完了，对于试验机来说操作还是比较简单的，对于体积、重量都满足实验要求的单做水平面跌落的设备在这台跌落机上实验完全没问题的（跌落范围再[/size][size=16px]0.4-1[/size][size=16px]米内）。[/size][size=16px] 用这台设备做实验优势就是实验操作较简单，不足就是这台设备跌落高度有限，对受试设备的体积和重量有要求，不能做大型设备实验，这可能也和实验机的价格和等级有关吧。[/size]

  • 【原创大赛】ESD模拟器试验不确定性简要分析

    【原创大赛】ESD模拟器试验不确定性简要分析

    文/孙成明 许展川 刘 笠 华测检测（汽车电子EMC实验室）[b]1 概述[/b]GB/T 17626.2-2006 电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验IDT IEC 61000-4-2:2001经两次修订为GB/T17626.2-2018 IDT IEC 61000-4-2:2012，欧盟也相应改版为EN61000-4-2:2009；主要修改内容是，试验脉冲参数和试验方法等；旨在减小试验不确定性。静电放电（简称ESD）试验的不确定性与试验设备、试验方法及环境条件等诸多因素有关。其中，ESD模拟器（试验脉冲发生器）输出脉冲波形参数的不确定性直接影响试验结果的判定。因此，IEC61000-4-2:2008/2012 对ESD模拟器输出波形参数和试验校验方法提出了新要求。某些在用ESD模拟器可能已不符合新标准要求。本文旨在简要分析ESD模拟器输出波形对试验不确定性的影响，引导ESD试验工程师校验、选择合格和正确使用ESD模拟器。[b]2 ESD模拟器基本原理和输出波形参数要求[/b]2.1 ESD模拟器基本原理IEC 61000-4-2：2008/2012规定的ESD模拟器基本工作原理如图1所示。[img=,498,219]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/07/201907012235054029_5777_3051334_3.jpg!w498x219.jpg[/img]注：图中，Cs为分布参数，对ESD输出放电电流峰值和I30,I60有一定影响；是IEC 61000-4-2:2008/2012新增加的参数。2.2 ESD模拟器输出波形和参数要求IEC 61000-4-2：2008规定ESD模拟器输出脉冲波形要求见图2；它与IEC61000-4-2：2001/1995规定的波形参数要求有差别，见表1所示。[img=,593,286]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/07/201907012235466782_8146_3051334_3.jpg!w593x286.jpg[/img]表1试验脉冲波形参数要求[table][tr][td][color=windowtext]项目[/color][/td][td][color=windowtext]参数[/color][/td][td][color=windowtext]单位[/color][/td][td][color=windowtext]IEC 61000-4-2[/color][color=windowtext]：[/color][color=windowtext]1995/2001[/color][/td][td][color=windowtext]IEC61000-4-2[/color][color=windowtext]：[/color][color=windowtext]2008/2012[/color][/td][/tr][tr][td][color=windowtext]脉冲上升时间[/color][/td][td][color=windowtext]tr[/color][/td][td][color=windowtext]ns[/color][/td][td][color=windowtext]0.7-1.0 [/color][/td][td][b][color=red]0.6-1.0[/color][/b][/td][/tr][tr][td][color=windowtext]第一峰值电流[/color][/td][td][color=windowtext]Ip[/color][/td][td][color=windowtext]A[/color][/td][td][color=windowtext]±10%[/color][/td][td][b][color=red]±15%[/color][/b][/td][/tr][tr][td][color=windowtext]放电电流[/color][color=windowtext]/30ns[/color][/td][td][color=windowtext]I30[/color][/td][td][color=windowtext]A[/color][/td][td][color=windowtext]±30%[/color][/td][td][color=windowtext]±30%[/color][/td][/tr][tr][td][color=windowtext]放电电流[/color][color=windowtext]/60ns[/color][/td][td][color=windowtext]I60[/color][/td][td][color=windowtext]A[/color][/td][td][color=windowtext]±30%[/color][/td][td][color=windowtext]±30%[/color][/td][/tr][/table][b]3 试验不确定性简要分析[/b]3.1试验脉冲参数校准3.1.1 IEC 61000-4-2：2001校准方法要求和测试结果IEC 61000-4-2：2001规定的校准方法是，输出串接50Ω匹配电阻，测试ESD模拟器脉冲输出电压减半。现市场上经过认证检测合格的ESD模拟器测试，即使符合IEC61000-4-2：2001规定要求，未必符合IEC 61000-4-2:2008/2012要求（参见下图3b），由于校准结果与实际试验负载不同，试验存在较大的不确定性。3.1.2 IEC 61000-4-2：2008/2012校准方法要求和测试结果分析IEC 61000-4-2：2008/2012规定的校准方法是，输出不串50Ω匹配电阻，测试ESD模拟器输出开路电压（不再减半）。例如：按IEC 61000-4-2：2008/2012校准方法要求，重新测试所选ESD模拟器的输出脉冲上升时间（tr）和第一峰值电流（Ip），放电电流（I30，I60），仅有一种产品接近标准规定下限值，见图3a）；其余3种产品，均未达到新标准规定的波形参数要求，如图3b）所示。[img=,690,307]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/07/201907012235577564_3512_3051334_3.jpg!w690x307.jpg[/img]上述测试结果说明：1）按IEC 61000-4-2：2001校准方法校准合格的ESD模拟器，重新按IEC 61000-4-2：2008/2012校准方法校准，国内外大多数ESD模拟器已不符合IEC61000-4-2：2008/2012标准规定要求。主要差异是，测试ESD模拟器放电电流波形，第一峰值电流（Ip）和放电电流（I30，I60）均未达到标准规定要求。2）若用于产品ESD测试，存在或增加试验的不确定性；可能导致对受试设备的过度测试或测试不足。3.2 试验校验方法IEC 61000-4-2：2001规定，测量5次，取5次脉冲平均值。ESD模拟器输出脉冲校验结果离散性较大，试验存在不确定性。IEC 61000-4-2：2008/2012对ESD模拟器输出脉冲波形校验的可重现性提出了更高要求。规定在一个时间里或个别评估时，每个测量等级要记录5个脉冲；每一个脉冲每单次测量（tr, Ip, I30, I60）都必须符合规定要求；以期减小ESD模拟器特性和操作带来的不确定性。满足IEC 61000-4-2:2008/2012要求的新型ESD模拟器的输出脉冲上升时间（tr）减小，在(0.6-0.9)ns之间；第一峰值电流（Ip）增大，达到规定值范围；同时，放电电流（I30，I60）也很快降到规定值范围内。校准/校验波形的一致性明显增强。如图4所示。[img=,488,305]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/07/201907012236367635_4434_3051334_3.jpg!w488x305.jpg[/img]3.3减小分布参数影响从ESD模拟器基本工作原理（见图1）可看出，放电脉冲时间常数主要由Rd和（Cs+Cd）决定，其中Cs为分布参数，它与放电电路PCB、放电枪结构、接地平板及试验环境条件等有关。对这些分布参数，除放电回路（PCB）和放电枪结构可以设计控制外，其它环境分布参数有一定的试验随机性。所以，ESD试验必须严格按试验环境条件规定，由经过实际操作培训合格的试验工程师或技师操作，以减少试验环境的不确定性对试验结果的影响。3.4汽车电子零部件ESD试验汽车电子ESD试验GB/T19951-2005已改版为GB/T19951-201X（待发布），MOD ISO 10605:2008。主要修改内容包括有：试验环境温度，环境湿度，接地线长度，绝缘块厚度（25±2.5mm改为50±5mm），不接地设备试验方法，水平和垂直耦合板，测试桌上安全地线；试验脉冲放电参数，放电电极等。实验室应按新版本修改ESD试验SOP，需结合产品实际进行试验验证。[b]4结束语[/b]本文简要介绍了IEC 61000-4-2:2008/2012与IEC61000-4-2: 1995/2001对ESD模拟器特性和试验校准校验要求，并简要分析了ESD模拟器试验不确定性和按IEC 61000-4-2：2008/2012版要求进行校验和试验的要点，也同样适用于GB/T19951-2005/201X。对于减少ESD试验的不确定性有一定的指导参考意义。

  • 太阳模拟器光源等级对太阳能电池测试的影响

    光伏行业发展初期，晶体硅电池和组件达到批量化生产时，BAA级的模拟器被行业普遍使用，但随着行业的发展和科学技术的进步，尤其是现在各种不同技术类型和不同规格的光伏电池/组件的产品的涌现，其B级光谱的限制性和对多标准板的要求以及测试误差的过大，对AAA级的模拟器成为行业的必然需求，即　　A（光谱等级）A（辐照不均匀度等级）A（辐照不稳定性等级，通常指LTI）。　　1.光谱对测试结果的影响　　不同基材的电池光谱响应差别很大。实际上，即使基材相同的电池在生产过程中由于晶体生长或其它条件和工艺等的差异，也会导致光谱响应的差异，由于无法保证校准设备时使用的标准电池和其它被测电池的绝对一致性，因此如果要得到更为准确的结果，就需要高等级光谱的太阳模拟器。　　2.光强均匀性对测试结果的影响　　晶体硅太阳电池组件中单体电池之间焊接不良及同串单体电池IV特性不匹配等因素会导致输出功率降低。在工业上，为了防止由以上原因造成的热斑效应和功率消耗，在组件制造时一般都会在每十几片串联的电池片两端并上旁路二极管。这样做虽可降低组件的热斑效应，但同时也可能会使组件的IV特性曲线出现畸变。造成热斑效应的原因有很多，其中两个主要的原因是：一是电池组件本身工艺或品质造成的单体电池IV特性不匹配，二是遮盖等外界原因造成的组件受光不均匀。　　因此，一个光强均匀性良好的太阳模拟器，可以通过测试从一定程度上反映出太阳电池组件的单体电池IV特性不匹配的问题。　　模拟器的光均匀性还会影响测试结果的FF，如果模拟器的光均匀度不好，一般情况下，测试IV曲线的FF就会比实际值偏小。　　3.辐照不稳定度对测试结果的影响　　辐照稳定度对测试结果的影响是很容易理解的，模拟器辐照不稳定，就必然会造成测试结果不稳定，辐照稳定度保证了所测试的I-V特性是在同一条件下量测的，为数据的可参考性提供了前提。

  • 全光谱稳态太阳光模拟器

    全光谱稳态太阳光模拟器

    [b][b][font=宋体]概述[/font][/b][/b][font=宋体]稳态太阳光模拟器是一种可以模拟太阳光谱、光强、光照时间等参数的设备，常用于室内环境下对材料、器件、产品等的测试和评估。通常由光源、光学系统、控制系统等组成。[/font][font=宋体]模拟光源可以采用氙灯、汞灯、金属卤化物灯等，这些光源能够发出相近于太阳光谱的光线，以模拟太阳光照射下的环境。光学系统可以对光线进行聚焦、分散、滤波等处理，以达到所需的光强和光谱分布。控制系统可以控制光源的开关、光强、光照时间等参数，以便进行不同条件下的测试和评估。稳态太阳光模拟器[/font][font=宋体][font=宋体]提供一个接近自然日光的环境，不受环境、气候和时间等因素影响实现[/font][font=Calibri]24[/font][font=宋体]小时不间断光照。[/font][/font][img=光降解之太阳光模拟器,690,387]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/11/202311261121287227_2939_5724447_3.jpg!w690x387.jpg[/img][b][b][font=宋体]设备详情[/font][/b][/b][font=宋体]稳态太阳光模拟器[/font][font=宋体]设备采用氙气灯[/font][font=宋体]作为核心光源[/font][font=宋体][font=宋体]，辐照强度在[/font][font=Calibri]600[/font][font=宋体]～ [/font][font=Calibri]1200W/m[/font][font=宋体]2可调。为了确保有效辐照面积的均匀性，每套灯采用独立的 [/font][font=Calibri]EPS [/font][font=宋体]实时反馈控制，确保灯的恒功率输出能量，单个光源系统可以实时模拟量信号输出至采集器。为达到辐照面积[/font][font=Calibri]1m[/font][font=宋体]×[/font][font=Calibri]1m [/font][font=宋体]设备总共采用 [/font][font=Calibri]4 [/font][font=宋体]组光源。[/font][/font][font=宋体]其他辐照面积可根据用户需求定制生产。[/font][font=Calibri]1) [/font][font=宋体][font=宋体]光源特性：[/font][font=Calibri]1000 [/font][font=宋体]小时光强衰减小于 [/font][font=Calibri]10[/font][font=宋体]％ （采用 [/font][font=Calibri]EPS[/font][font=宋体]）[/font][/font][font=Calibri]2) [/font][font=宋体]排布方式：线性阵列排布，计算机模拟空间分布[/font][font=Calibri]3) [/font][font=宋体][font=宋体]光源寿命：[/font][font=Calibri]1000h+[/font][font=宋体]（更换光源以满足[/font][font=Calibri]3000H[/font][font=宋体]）[/font][/font][font=Calibri]4) [/font][font=宋体][font=宋体]光源质保：[/font][font=Calibri]1000h[/font][/font][font=Calibri]5) [/font][font=宋体][font=宋体]辐照强度：[/font][font=Calibri]600[/font][font=宋体]～[/font][font=Calibri]1200W/m[/font][font=宋体]2（此范围内可调）[/font][/font][font=Calibri]6) [/font][font=宋体][font=宋体]波段：[/font][font=Calibri]350[/font][font=宋体]～[/font][font=Calibri]1100nm[/font][/font][font=Calibri]7) [/font][font=宋体][font=宋体]辐照面积：[/font][font=Calibri]1m[/font][font=宋体]×[/font][font=Calibri]1m[/font][/font][font=Calibri]8) [/font][font=宋体][font=宋体]光谱匹配度：[/font][font=Calibri]A [/font][font=宋体]级[/font][/font][font=Calibri]9) [/font][font=宋体][font=宋体]辐照度不均匀性：[/font][font=宋体]≤± [/font][font=Calibri]2% A [/font][font=宋体]级[/font][/font][font=Calibri]10) [/font][font=宋体][font=宋体]不稳定性：[/font][font=Calibri]LTI[/font][font=宋体]≤± [/font][font=Calibri]2% A [/font][font=宋体]级[/font][/font][font=Calibri]11) [/font][font=宋体][font=宋体]单组灯的功率为：[/font][font=Calibri]1-3kw[/font][/font][img=光降解之太阳光模拟器,690,690]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/11/202311261122009141_2160_5724447_3.jpg!w690x690.jpg[/img][b][b][font=宋体]应用领域[/font][/b][/b][font=宋体][font=宋体]广泛应用于太阳能电池特性测试、染料敏化电池（[/font][font=Calibri]DSSC[/font][font=宋体]）、钙钛矿电池（[/font][font=Calibri]PSC[/font][font=宋体]）、光电材料特性测试、生物化学相关测试、光学催化降[/font][/font][font=宋体]解加速研究、皮肤化妆用品检测和环境研究等。[/font][b][b][font=宋体]专业术语定义[/font][font=黑体][font=Arial]1[/font][font=黑体]、光谱匹配[/font][/font][/b][/b][font=宋体]光谱匹配度太阳光模拟器的光谱匹配度是指太阳光模拟器的光谱辐照度分布与太阳光的标准光谱分布的匹配程度，一般用太阳光模拟器在每个波长范围内辐射的能量百分比与标准太阳光在同样波长范围内辐射的能量的百分比的比率表示。太阳光标准光谱辐照度分布情况见表。[/font][table][tr][td=3,1][align=center][b][font=宋体]表[/font][/b][font=宋体] [/font][b][font=宋体]1[/font][/b][font=宋体] [/font][b][font=宋体]标准光谱辐照度分布[/font][/b][/align][/td][/tr][tr][td=1,2][align=center][font=宋体][font=宋体]波长范围[/font][font=宋体]/nm[/font][/font][/align][/td][td=2,1][align=center][font=宋体][font=宋体]占有效波段内积分辐照度的百分比[/font][font=宋体]/%[/font][/font][/align][/td][/tr][tr][td][align=center][font=宋体]AMO条件[/font][font=宋体][/font][font=宋体](有效波段300 nm~ 1100 nm)[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]AM1.5G条件[/font][font=宋体][/font][font=宋体](有效波段400 nm~ 1100 nm)[/font][/align][/td][/tr][tr][td][align=center][font=宋体]300～400[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]9.4[/font][/align][/td][td][font=宋体] [/font][/td][/tr][tr][td][align=center][font=宋体]400～500[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]18.5[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]18.4[/font][/align][/td][/tr][tr][td][align=center][font=宋体]500～600[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]18.6[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]19.9[/font][/align][/td][/tr][tr][td][align=center][font=宋体]600～700[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]15.8[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]18.4[/font][/align][/td][/tr][tr][td][align=center][font=宋体]700～800[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]12.8[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]14.9[/font][/align][/td][/tr][tr][td][align=center][font=宋体]800～900[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]10.2[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]12.5[/font][/align][/td][/tr][tr][td][align=center][font=宋体]900～1100[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]14.7[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]15.9[/font][/align][/td][/tr][/table][align=center][font=宋体]标准光谱辐照度分布[/font][/align][b][font=黑体]2、[/font][b][font=黑体]辐照不均匀性[/font][/b][/b][font=宋体]表示太阳模拟器参数的光束在空间上的均匀程度。均匀性不好的模拟器会影响测试的结果，一般情况下导致测试值比实际值偏小。[/font][font=宋体][font=宋体]真实的太阳光在空间分布中是非常均匀的，但人造的光源并并不是。根据[/font][font=Calibri]ASTM[/font][font=宋体]的规定，太阳模拟器辐照不均匀度的计算公式如下：[/font][/font][font=宋体]太阳模拟器辐照不均匀度等级评定标准如下表：[/font][align=center][font=宋体]太阳光模拟器[/font][font=宋体]辐照不均匀[/font][/align][table][tr][td=1,2][align=center][font=宋体]等级[/font][/align][/td][td=1,2][align=center][font=宋体]光谱匹配到所有中指定的间隔[/font][/align][/td][td=1,2][align=center][font=宋体]空间非均匀性辐照度[/font][/align][/td][td=2,1][align=center][font=宋体]时间不稳定性[/font][/align][/td][/tr][tr][td][align=center][font=宋体]短期不稳定性辐照度[/font][/align][align=center][font=宋体]STI[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]长期不稳定性辐照度[/font][font=宋体]LTI[/font][/align][/td][/tr][tr][td][align=center][font=宋体]A+[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]0.875----1.125[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]1%[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]0.25%[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]1%[/font][/align][/td][/tr][tr][td][align=center][font=宋体]A[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]0.75---1.25[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]2%[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]0.5%[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]2%[/font][/align][/td][/tr][tr][td][align=center][font=宋体]B[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]0.6---1.4[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]5%[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]2%[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]5%[/font][/align][/td][/tr][tr][td][align=center][font=宋体]C[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]0.4---2.0[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]10%[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]10%[/font][/align][/td][td][align=center][font=宋体]10%[/font][/align][/td][/tr][/table][b][font=黑体]3、[/font][b][font=黑体]辐照时间不稳定性[/font][/b][/b][font=宋体]表示太阳模拟器光束辐照度在时间上的稳定性。真实的阳光辐照度在一段（短）时间内是非常稳定的，因此太阳模拟器的辐照度也应具有一定的稳定性。辐照稳定度对测试结果的可参考性提供了前提。[/font][font=宋体][font=宋体]等级[/font][font=Calibri] [/font][font=宋体]辐照时间不稳定性[/font][/font][font=宋体][font=Calibri]A 2%[/font][/font][font=宋体][font=Calibri]B 5%[/font][/font][font=宋体][font=Calibri]C 10%[/font][/font]

  • 在线语音研讨会——符合国际标准的太阳能模拟器测量系统（主讲：熊利民老师）

    报名地址： http://webinar.ofweek.com/activityDetail.action?activity.id=4555178&user.id=2在线研讨会介绍研讨会主题：符合国际标准的太阳能模拟器测量系统举行公司：海洋光学亚洲分公司研讨会简介： 1、 熊利民老师太阳模拟器等级评定测试技术。2、 Michael Matthews作为海洋光学（Ocean Optics）引进的新型光学测量方案——RaySphere，主要用于太阳光模拟器和其他辐射源的绝对辐照度测量。作为一款用于检验太阳能闪光灯输出、太阳光过滤器功效、以及新型活性材料性能的工具，该款便携式RaySphere光谱仪对于太阳光模拟器和光电研发实验室的生产商和终端用户来说特别实用。 太阳能闪光灯尤其被广泛用于根据光谱反应设计的光生伏打电池以及关键光电模组功效测量设备的光电制造流程。为了取得IEC、JIS和ASTM等行业标准颁发的太阳能闪光灯认证，以及为了分析闪光灯的性能和稳定性，需要一款高度准确和精确的测量系统。RaySphere光谱仪将光学测量性能与先进的超低频振动式光学/电气触发电子元件相结合，用于关联闪光灯的光学和电气测量。德国物理技术研究院（PTB）的认证实验室对RaySphere的校准进行了确认，并授予太阳能闪光灯和模拟器光谱分布合格证书，证明其准确性和可靠性达到了前所未有的水平。研讨会议题安排 会议时间 会议内容 演讲嘉宾 会前 预先提问环节 网友可自行在线预先提问 有专家在线解答 09:50-10:00 会议即将开始 主持人介绍演讲专家和演讲内容情况 OFweek 杨秋妮 10:00-10:15 太阳模拟器等级评定测试技术。 演讲专家：熊利民 专家职务：中国计量科学研究院光学所 光通信与光探测实验室主任 10:15-10:45 符合国际标准的太阳能模拟器测量系统 演讲专家：Michael Matthews 专家职务： 10:45-11:00 现场提问互动环节 答疑专家： 丁海峰 专家职务： 光学工程师 11:00 研讨会结束 主讲人介绍http://webinar.ofweek.com/upload/users/ofweek/image/xiongliming.jpg演讲专家： 熊利民专家职务： 中国计量科学研究院光学所光通信与光探测实验室主任专家简介： 1996年哈尔滨工业大学工程热物理专业硕士毕业，其后分配到中国计量科学研究院光学所工作至今，长期从事光电探测器及太阳电池光谱响应度研究。已完成并正主持承担多项科技部项目、国家质检总局科研项目。曾获国家质检总局一等奖二项，二等奖一项，中国计量科学研究院一等奖一项；并被评为2003年国家质检总局岗位能手、2006年国家质检总局优秀青年。被誉为“国内太阳能模拟器计量第一人”。http://webinar.ofweek.com/upload/users/ofweek/image/michael.jpg演讲专家： Michael Matthews专家职务： 专家简介： Michael Matthews作为2009届凯洛格商学院生产管理硕士（MMM）研究生，除了拥有罗拉-密苏里大学非金属工艺学的学士和硕士学位外，他还在美国西北大学凯洛格商学院和麦考克工程学院取得工商管理和工程管理双学位。Michael现定居德国，带领海洋光学相关团队，致力于发展用于太阳光模拟器和其他辐射源的绝对辐照度测量新型光学测量方案——RaySphere。答疑人介绍http://webinar.ofweek.com/upload/users/ofweek/image/dinghaifeng.jpg演讲专家： 丁海峰专家职务： 光学工程师专家简介： 1982年出生，2008年毕业于上海交通大学 光学工程专业，硕士； 2010年3月加入海洋光学以来，一直致力于光学传感、光度测量及光谱分析方面的工作，侧重于技术研发及应用支持，尤其在LED光度、颜色测量及荧光粉测量方面。奖品介绍http://webinar.ofweek.com/upload/users/ofweek/image/j1.jpghttp://webinar.ofweek.com/upload/users/ofweek/image/j2.jpghttp://webinar.ofweek.com/upload/users/ofweek/image/j3.jpg参加预先提问活动人员里面抽5个幸运奖（限量纪念版4G U盘，价值100元）参加现场提问活动人员里面抽5个幸运奖（限量纪念版4G U盘，价值100元）研讨会结束后 再抽3个大奖（精美真皮钱包，价值500元）公司介绍 美国海洋光学作为微型光纤光谱仪的发明者，一直致力于光纤光谱仪，化学传感器的研究，是全球领先的光传感解决方案提供商，自1989年来在全球共售出近200，000套光谱仪，为OEM客户提供灵活多样的产品选择，为工业科研用户提供性能优越的系统解决方案，涉及领域涵盖生物，环保，医药，光电，化工，教育等。 海洋光学是英国豪迈(Halma)集团的分公司，豪迈集团主要经营用于探测潜伏危险和保护人们生命安全的产品，是专业性电子、安全和环

  • 【求助】求助！！SOLAAR AA的模拟器！！

    现在我要给同事们演示[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收光谱仪[/color][/url]！！但是缺少模拟器！！有哪位同仁能提供，兄弟在此十分感谢！！

  • 跌落试验机可以测试什么？有哪些注意事项？

    跌落试验机可以测试什么？有哪些注意事项？

    跌落试验机主要测试各种产品包装好后在搬运或运输过程中，受到坠落而导致产品内部受 损情况。从而改进、完善包装设计,以便在运输途中能尽量减少损失,以及评估电子元件在搬运 时受落下之耐冲击强度；包装容器之菱、角、面均可测试。英徕铂跌落试验机具有电动复位，电控跌落功能，同时配备电动升降装置，使用方便，操作简单。[img=,650,858]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/06/202206061345193621_4282_5568994_3.png!w650x858.jpg[/img]跌落试验机是物性测试的仪器之一，为保证实验的安全性，只有经过专业培训的人员才可以操作本仪器，而且必须根据安全事项说明和职业安全准则操作仪器，避免意外伤害。使用时应该注意：1. 请将电源插头完全地插入电源插座中，请不要使用指定以外的电源。2. 请使用独立的有保护接地的电源插座，并确认保护接地端子已可靠连接。3. 通电后严禁未专业培训人员进入黄色警戒线内做任何有关试验操作；严禁站在跌落臂下，非常危险。4. 每次测试完毕，须把跌落臂落下，以免长时间复位的跌落臂把弹簧拉变形，影响测试效果，每次跌落前请先复位置电机停止转动后方可按跌落键。5. 跌落机属冲击力机械性设备，新机使用过于 500 次以上时，须把各螺丝加固一次，以免发生故障。6. 切勿用湿手去插拔电源插头。[img=,649,758]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/06/202206061345439476_2284_5568994_3.png!w649x758.jpg[/img]7. 不可损毁、修改、拉拽、过度弯曲或扭曲电源线，亦切勿把重物置于电源线上。8. 不要触碰仪器的运动部件，避免头发、衣服等卷入仪器。搬动仪器时注意不要碾压到手指。9. 在装配附件之前请先切断电源，每次开启仪器之前请确认仪器及其附件未被损坏。10. 请把仪器置于宽敞通风的区域内使用，并确保工作台平稳、洁净、干燥、阻燃且具有一定的摩擦力。请勿在室外、危险物质环境、水中运行本仪器。11. 仪器在使用过程中不要遮盖仪器。防止撞击和挤压仪器及配件。12. 清洁仪器时请注意关闭仪器，并在切断电源后方可进行！[img=,615,760]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/06/202206061345529221_100_5568994_3.png!w615x760.jpg[/img]13. 每次使用仪器前，请事先检查设备和配件是否损坏，请不要使用损坏的部件。14. 如果您在使用过程中，发现有异味或有异常噪音时，应立即切断电源，然后在第一时间联系售后服务部[color=#1f1f1f]【英徕铂】[b]英徕铂ENLAB[/b]，物性检测仪器品牌，为国内市场提供数百种物性检测仪器，为科研工作者提供检测仪器解决方案与服务[/color]

  • 跌落试验机的作用

    跌落试验机，顾名思义就是做跌落试验，主要检测物件从一定高度跌落到地面的损坏程度，包装材料行业用得比较多。排除那些山寨的，稍微像样点的跌落试验机也要一万多，国产好点的也要三、四万，进口的就更贵了。 不就是测物件跌落后的损坏程度吗，直接把被测物件升到需要的高度直接释放不救可以了，干吗还要花上好几万弄个跌落试验机呢？这钱花得应该吗？最近试验机版块很冷清啊，大家来讨论讨论，聚聚人气。

  • 跌落试验机有以下几个分类及特点

    第一、单臂跌落试验机：跌落试验机采用刹车马达经链条传动，带动跌落臂伸降，跌落高度采用数额高度尺，跌落高度精准，显示直观、操作简单，跌落臂升降平稳，跌落角度误差小。本机适用于各生产厂家及质检部门等。　　第二、零跌落试验机：本试验台主要用于考核包装件在实际运输，装卸过程中受到跌落冲击的影响程度，评定包装在搬运过程中耐冲击强度和包装设计的合理性。　　零跌落试验机主要用于较大型包装跌落试验，零跌落试验机由一个可以快速向下移动的“E”型叉作为试件托架，被试货物拉力试验机要求(面，棱，角实验)放置平衡。试验时，托板高速向下运动，脱离试件，“E”型叉在被试包装货物跌落至底版胶，已在高效减振器拉 力的作用下，嵌平于底板，从理论上，零跌落试验可从零高度范围作跌落试验，跌落高度通过试验要求进行数字设定，并按设定高度自动执行跌落实验，大型包装货物及试件跌落试验。　　适用标准：GB/T1019-2008　　第三、双臂跌落试验机：双臂系列跌落要满足运输条件下产品包装承受的能力，从而改进、完善包装设计。双臂系列跌落试验机，采用双柱道向、弹簧缓冲、高度标尺指示，工作稳定可靠，可实现棱、面、角跌落，满足GB/T4857.5-92、ISO2248-1972(E)。　　跌落试验机分为此三小类，它们都有不同的及相同的特点。因此在选择跌落试验机的时候，要知道你的产品适合哪一种跌落试验机。

  • 【分享】ARL3460模拟器的使用

    最近发现了ARL3460WINOE 3.2 的模拟器，能够在脱机情况下使用，分享一下，具体分三步1.UTILITIES-------SECURITY-------SYSTEM OPTIONS 在下框中找到 ICS EMULATOR 选中并改为 ON2.UTILITIES-----communication----instrument 的 port 下拉改为emulator3.此时在UTILITIES-----communication会出现-instrument emulator并打开这样在不联机的情况下就可以练习使用了

  • 海洋光学发布 RaySphere系列测量系统用于太阳光模拟器的质量检测

    海洋光学（www.oceanopticSChina.cn）近日推出一款 RaySphere 光学测量系统，用以测量太阳光模拟器和其他辐射源的绝对辐照度。RaySphere系统可测量从紫外线到近红外光谱（380-1700nm）的不同光谱范围的绝对辐照度（mW/cm2/nm）。作为一种用于验证已安装的太阳能闪光灯输出的工具，RaySphere 特别适用于太阳光模拟器制造商以及研发实验室。太阳光模拟器的闪光可用于目的为根据光谱反应组合细胞像素的光电制造流程、以及目的为测量最终光电效能的光电制造流程。RaySphere 的系统具有必要的精确度和分辨率，以测量和分析闪光器的性能和稳定性，并通过高级的低频抖动方式触发电子设备为闪光测量计时。RaySphere 的刻度经过公认的认证实验室的确认，以确保精确的探测，并使太阳能闪光灯和太阳光模拟器的评估和资格认证符合由 ASTM 和 IEC（IEC60904-9 2007）等标准制定机构制定的标准。两台热电冷却探测器使太阳能闪光灯的光谱分析（380-1700nm）可复验性高且准确。第二种型号的 RayShere 含有一个冷却探测器，以测量最多 1100nm 的光谱。该系统同时包含高级、高速的电子设备，以及直观、强大的软件界面。极少的测量次数可实现在闪光期间，甚至于闪光间隔期间的完整光谱检测。此外，测量还可以由一个快速反应的发光二极管促发。该二极管可在百万分之一秒内通过增加闪光强度而做出反应。

  • 跌落试验机快速发展

    随着我国经济的快速发展，各行各业对跌落试验机的需求热度不减，行业收入和利润连续五年实现了超过20%的高速增长。　　2011年，跌落试验机及振动试验机行业实现销售收入340亿元，同比增长24.49%，占整个环境试验设备行业同期收入的约6%，全行业实现利润总额20亿元，同比增长31.42%。　　按照新修订的《国民经济行业分类》国家标准(GB/T4754-2002),跌落试验机行业属机械设备行业大类，包括工业自动化控制装置、电工仪器仪表、绘图、计算及测量仪器、试验分析仪器、试验机、供应用仪表及其他通用仪器制造、环境检测专用仪器仪表、汽车及其他用计数仪表、导航、气象及海洋专用仪器、农林牧渔专用仪器仪表、地质勘探和地震专用仪器、教学专用仪器、核子及核辐射测量仪器、电子测量仪器、其他专用仪器、种表与计时仪器、光学仪器、其他仪器仪表的制造及修理、衡器、医疗诊断监护及治疗设备等20个小行业。　　试验机行业的基本情况，总结了跌落试验机制造业发展现状以及发展趋势，也介绍了国内仪器仪表制造业存在的投资机会以及投资方向，分析了国内仪器仪表制造业投资价值和投资风险，并提出了投资建议。

  • 【跌落试验机】潜艇潜望镜环境试验方法之跌落试验

    潜艇潜望镜环境试验方法之跌落试验方法如下： 试验目的：验证潜望镜在包装状态下，耐受跌落冲击的能力。 试验条件：受撞击地面为混凝土地面；跌落高度为0.46m；跌落两次。 试验程序： 1、预处理：试验前，应对被试产品的机械性能、电性能和光学特性进行检测，对外表面的精饰层进行外观检查，并记录检查结果。 2、试验：潜望镜按产品技术条件要求装入包装箱，包装箱水平放置在混凝土地面上或跌落试验机的样品架上；将包装箱一端抬起（长边方向），用木棒支好，然后将木棒朝外敲掉，使包装箱自由落地。 3、最后检测：检查包装箱结构有无明显损坏；取出潜望镜，按照产品技术条件或按合同要求，对产品电性能、机械性能、光学特性有关项目及外观进行检查。 注：以上潜艇潜望镜的跌落试验方法是摘自标准GB1214中的规定。

  • 【求购】手机跌落试验机

    要求有直落式和扶落式两种跌落方式，扶落式要求在0.3m的高度跌落，可以实现任意角度的跌落试验。最大跌落高度2m。

  • 跌落试验机的操作规范以及保养维修

    1、接线：将随机附带之电源线接入三相电源并接地，将控制箱与试验机亦用随机所带之连接线按插头适配情况接好，并试运行上升／下降命令。（若试运行时出现按上升键却向下运行或按下降键却运行上升之情况，只需在电源处调换相数即可。2、跌落高度调整：打开主机电源，设定试验所需高度（方法如下），按上升键使之达到所设高度；若在中途停止，则必须使之达到设定高度后才可以执行反向运行命令；3、将被测物体放于工作台面，然后用固定杆加以固定；4、按上升键使被测物体提升至设定高度；5、按跌落键使工作台面瞬间脱离被测物体，被测物体做自由跌落运动；6、按复位键使工作台恢复工作状态；7、若重复试验，则重复上述步骤。8、试验完后：按降低键使工作台面运作至最低位置关闭电源键；跌落试验机注意事项及维修保养1、每次测试完毕，须把跌落臂落下，以免长时间复位的跌落臂把弹簧拉变形，影响测试效果，每次跌落前请先复位置电机停止转动后方可按跌落键；2、新机到厂安装完成后，须在滑动圆杆处加适当低浓度机油，严禁加入防锈油或高浓度机油及积压种带有腐蚀性油类。3、如果上油处时间长了有过多灰尘请将机器降到低部，擦试完以前的机油，再重机上油；4、跌落机属冲击力机械性设备，新机使用过于500次以上时，须把各螺丝紧固一以，以免发生故障5、试验机的升降轴及链条需定期加润滑油。6、齿轮减速箱每半年换输油一次。7、非工作时应切断所有电源，保证升降轴的清洁。8、非操作人员不得任意操作本机冲击试验机

  • 试验机种类之跌落试验机

    试验机种类之跌落试验机

    [img=,320,240]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/09/201809200938233266_9672_2462198_3.png!w320x240.jpg[/img]这个应该是主要针对的包装跌落试验吧，不知道产品跌落试验做的人多不呢

  • TEC半导体高精度可编程温度控制技术在红外目标模拟器中的应用

    TEC半导体高精度可编程温度控制技术在红外目标模拟器中的应用

    [b][color=#339999][font='微软雅黑',sans-serif]摘要：针对红外目标模拟器的高精度可编程温度控制功能，本文介绍了实现高精度温控的温控装置，给出了温控方案。温控装置主要包括[/font]TEC[font='微软雅黑',sans-serif]半导体制冷加热模组、电源自动换向器、传感器和超高精度[/font]PID[font='微软雅黑',sans-serif]控制器。从超高精度温度控制，关键是[/font]PID[font='微软雅黑',sans-serif]控制器具有[/font]24[font='微软雅黑',sans-serif]位[/font]AD[font='微软雅黑',sans-serif]、[/font]16[font='微软雅黑',sans-serif]位[/font]DA[font='微软雅黑',sans-serif]和[/font]0.01%[font='微软雅黑',sans-serif]最小输出百分比的高性能指标，同时还具有可手动和通讯软件编程功能。[/font][/color][/b][align=center][img=常温黑体中TEC半导体可编程高精度温度控制解决方案,600,337]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/02/202302220435170646_2129_3221506_3.jpg!w690x388.jpg[/img][/align][align=center][color=#339999]~~~~~~~~~~~~~~~[/color][/align][b][size=18px][color=#339999]1. [font='微软雅黑',sans-serif]红外目标模拟器工作原理[/font][/color][/size][/b][font='微软雅黑',sans-serif] 红外目标模拟器（[/font]Infrared Target Simulator[font='微软雅黑',sans-serif]）广泛应用于红外探测器和红外热像仪整机的工艺测试和评价测试，它为被测装置提供标准的红外测试图像，用于测试关键指标，如[/font]NETD[font='微软雅黑',sans-serif]（噪声等效温差）、[/font]MRTD[font='微软雅黑',sans-serif]（最小可分辨温差）、[/font]MDRD[font='微软雅黑',sans-serif]（最小可探测温差）、[/font]SiTF[font='微软雅黑',sans-serif]（信号传递函数）等，以及整个系统的性能评估。[/font][font='微软雅黑',sans-serif][font=微软雅黑, sans-serif] [/font]红外目标模拟器的重要指标包括发射率、辐射均匀性、温度控制精度、温度稳定性和响应速度等，其中前两个指标取决于所用黑体的结构、辐射面材质和黑漆喷涂技术，其余指标则取决于温控系统的性能。红外目标模拟器一般通过单黑体或双黑体实现，但无论采用哪一种黑体结构，高精度的温控技术都是其中的技术关键，它直接关系到红外目标模拟器的性能，是实现红外系统指标测试的关键因素。红外目标模拟器的工作原理如图[/font]1[font='微软雅黑',sans-serif]所示。[/font][align=center][size=14px][b][color=#339999][img=红外目标模拟器原理示意图,500,365]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/02/202302220437236876_9226_3221506_3.jpg!w690x505.jpg[/img][/color][/b][/size][/align][font='微软雅黑',sans-serif][color=#339999][/color][/font][align=center][b][font='微软雅黑',sans-serif]图[/font][font=&]1 [/font][font='微软雅黑',sans-serif]红外目标模拟器工作原理示意图[/font][/b][/align][font='微软雅黑',sans-serif][font=微软雅黑, sans-serif] [/font]如图[/font]1[font='微软雅黑',sans-serif]所示，目标位于准直器反射器焦平面上。热辐射图样将由热辐射表面和目标之间的温差产生，并由准直器转换成平行光以模拟无限远的红外目标，供被测红外系统的成像探测器使用。[/font][font='微软雅黑',sans-serif][font=微软雅黑, sans-serif] [/font]温控系统由温度传感器、[/font]TEC[font='微软雅黑',sans-serif]半导体模组、散热器、风扇、[/font]PID [font='微软雅黑',sans-serif]控制器、自动电源换向器等组成。温度传感器[/font]A[font='微软雅黑',sans-serif]检测的是目标温度，温度传感器[/font]B[font='微软雅黑',sans-serif]检测的是辐射表面温度。根据目标的设定温度，控制器通过[/font]PID[font='微软雅黑',sans-serif]控制算法计算加热或制冷的控制量并驱动电源换向器工作电流的方向和大小，使得[/font]TEC[font='微软雅黑',sans-serif]半导体模组进行加热或制冷输出。[/font][b][size=18px][color=#339999]2. TEC[font='微软雅黑',sans-serif]半导体高精度温度控制标准装置[/font][/color][/size][/b][font='微软雅黑',sans-serif][font=微软雅黑, sans-serif] [/font]根据红外测试设备的检测指标，要求红外目标模拟器的工作温度范围为[/font]0~50[font='微软雅黑',sans-serif]℃，温度分辨率为[/font]0.001[font='微软雅黑',sans-serif]℃，控温精度为[/font]0.03[font='微软雅黑',sans-serif]℃。要实现此技术指标，温度控制系统需包括加热装置、温度传感器、执行器和[/font]PID[font='微软雅黑',sans-serif]控制器这几部分内容，而且需要满足相应的技术指标。为此，专门针对温控系统本文设计了相应的解决方案，具体结构如图[/font]2[font='微软雅黑',sans-serif]所示。以下为图[/font]2[font='微软雅黑',sans-serif]所示温控方案的详细描述：[/font][align=center][size=14px][b][color=#339999][img=温度控制系统方案示意图,550,559]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/02/202302220437516841_6377_3221506_3.jpg!w690x702.jpg[/img][/color][/b][/size][/align][font='微软雅黑',sans-serif][color=#339999][/color][/font][align=center][b][font='微软雅黑',sans-serif]图[/font][font=&]2 [/font][font='微软雅黑',sans-serif]红外目标模拟器温度控制系统方案示意图[/font][/b][/align][font='微软雅黑',sans-serif][font=微软雅黑, sans-serif] [/font]（[/font]1[font='微软雅黑',sans-serif]）加热方式：有很多种加热方式可供选择，如电加热、循环水加热和[/font]TEC[font='微软雅黑',sans-serif]半导体制冷加热等，但考虑到红外目标模拟器对工作温度范围和超高精度温度控制的要求，目前也只有[/font]TEC[font='微软雅黑',sans-serif]热电半导体制冷加热方式比较适用。[/font]TEC[font='微软雅黑',sans-serif]用于红外目标模拟器的温度控制除能满足温度范围之外，与其他加热方式相比具有更高的控温精度、更快的冷热变化控制速度、结构简单以及造价低的突出特点。[/font][font='微软雅黑',sans-serif][font=微软雅黑, sans-serif] [/font]（[/font]2[font='微软雅黑',sans-serif]）执行机构：为了实现[/font]TEC[font='微软雅黑',sans-serif]的加热制冷功能，除了需要对[/font]TEC[font='微软雅黑',sans-serif]模组的加载电流进行自动调节之外，还需在调节过程中能自动改变电流方向，为此，[/font]TEC[font='微软雅黑',sans-serif]执行机构配备了电源自动换向器。换向器接收加热和制冷控制信号，并根据控制信号大小和方向输出相应的工作电流。[/font][font='微软雅黑',sans-serif][font=微软雅黑, sans-serif] [/font]（[/font]3[font='微软雅黑',sans-serif]）温度传感器：温度传感器是决定温度控制精度的关键因素之一，因此本方案中配置了高等级的铂电阻温度计（如标准铂电阻温度计）或高等级热敏电阻温度传感器，使得温度传感器的温度分辨率能达到[/font]0.001[font='微软雅黑',sans-serif]℃以及测温精度能达到[/font]0.01~0.02[font='微软雅黑',sans-serif]℃。[/font][font='微软雅黑',sans-serif][font=微软雅黑, sans-serif] [/font]（[/font]4[font='微软雅黑',sans-serif]）超高精度[/font]PID[font='微软雅黑',sans-serif]控制器：决定温度控制精度的另一个关键因素是温度控制器的数据采集精度、控制算法和控制输出精度。为此，在本解决方案中采用了目前控制精度最高的[/font]VPC2021-1[font='微软雅黑',sans-serif]系列的工业用[/font]PID[font='微软雅黑',sans-serif]程序调节器，除具有不超过[/font]96mm[font='微软雅黑',sans-serif]×[/font]96mm[font='微软雅黑',sans-serif]×[/font]87mm[font='微软雅黑',sans-serif]的小巧尺寸外，关键是此[/font]PID[font='微软雅黑',sans-serif]调节器的模数转换[/font]AD[font='微软雅黑',sans-serif]为[/font]24[font='微软雅黑',sans-serif]位、数模转换[/font]DA[font='微软雅黑',sans-serif]为[/font]16[font='微软雅黑',sans-serif]位、双精度浮点运行运算以及[/font]0.01%[font='微软雅黑',sans-serif]的最小输出百分比，并可对控制程序进行编辑设计，适合红外目标模拟器在全温度量程内多个设定点的自动温度恒定控制。同时，此调节器采用了高级无超调[/font]PID[font='微软雅黑',sans-serif]控制模式，并具有[/font]PID[font='微软雅黑',sans-serif]参数自整定功能，结合超高精度的数据采集和控制输出，可实现十分精细的温度变化调节和控制。另外，此调节器附带功能强大的计算机软件，通过计算机运行此软件可快速进行[/font]PID[font='微软雅黑',sans-serif]控制器的远程设置和运行操作，同时能图形化的显示和记录所有设置参数、控制程序曲线和温度控制变化曲线。[/font][font='微软雅黑',sans-serif][font=微软雅黑, sans-serif] [/font]总之，本文所述的采用[/font]TEC[font='微软雅黑',sans-serif]模组进行的温度控制系统，已经成为超高精度可编程温度控制的一种标准和通用性方案，完全适用于红外目标模拟器的高精度温度控制。[/font][align=center][color=#339999]~~~~~~~~~~~~~~~[/color][/align]

  • 关于单翼跌落试验机的结构应用及使用指导说明

    关于单翼跌落试验机的结构应用及使用指导说明

    http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/11/201311041622_475286_2814155_3.jpg单翼跌落试验机的结构简介：　　　　主柱采用特殊优质钢材定做，经外圆磨加工、外表镀铬、坚固耐用且永不生锈；　　　　台湾ST特殊定制链条；　　　　真正完成面、棱、角跌落试验；　　　　电动复位、电控跌落及电动升降装置，使用方便；　　　　保证货物托架与包装试件的自由分离，实现包装试件的自由跌落，冲击振动小，稳定可靠；　　　　配置数显高度显示仪及采用译码器进行高度跟踪，从而能精确地给出产品跌落高度；　　　　与预设跌落高度误差不超过2%或10mm；　　单翼跌落试验机操作注意事项： ●本设备是试验测试设备，请不要将本设备用于规定试验及料以外的目的。　　　　●请完善安装环境，请置于室温下，湿度低的场所。（80%以下无结露），灰尘和尘埃少的场所。　　　　●请按要求安装试验材料。按要求安装试验材料，否则可能出现不可预期故障。　　　　●进行配线和维护作业时，请务必关闭电源。为了防止单翼跌落试验机在作业过程中机器失去控制而导致事故和触电，请在进行作业前，务必先关闭电源。　　　　●电源：关于本设备的电源，请注意以下事项。　　　　原则上配电方式采用三相380V电源；　　　　关于电源及电源工程，请与电气工程人员或有同等知识的人士商量。　　　　●电源线：请务必使用随设备提供的电源线。发现电源线和电源插头有异常情况时，请及时进行更换或在专业人员指导下更换。　　　　●保险丝：为了防止火灾和内部电路的破损等，请不要用规定以外的保险丝。更换保险丝时，请使用与原设备相同型号和形状的保险丝。　　　　●特别警告：警告应注意所执行的应用、或条件均具有很高的危险性，可能导致人员受伤或甚至死亡。为了防止意外伤害或死亡发生，在搬移和使用设备时，请务必先观察清楚，然后再进行动作。

  • 【分享】跌落试验机简介

    【分享】跌落试验机简介

    http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2010/12/201012150853_267087_1622447_3.jpg用途　　用于测试产品包装受到坠落之受损情况，及评估运输搬运过程时耐冲击强度。　　跌落试验机分类：单臂跌落试验机，双臂跌落试验机　标准 采用国际标准150 2248 一1985 《 包装―完整、满装的运输包装件垂直冲击跌落试验》　　引用：GB / T 4857 . 1包装运输包装件各部位的标示方法　　GB / T4857 . 2 包装运输包装件温湿度调节处理　　GB / T 4857 . 17包装运输包装件编制性能试验大纲的一般原理　　GB 4857 . 18 包装运输包装件编制性能试验大纲的定量数据

  • TeraVM O-CU模拟器JDSU

    [url=http://www.leadwaytk.com/article/4834.html]JDSU[/url][font=宋体][font=宋体]发布了新型的[/font][font=Calibri]O-RAN[/font][font=宋体]测试套件，帮助经销商按照[/font][font=Calibri]O-RAN[/font][font=宋体]标准检验其产品，及其希望在使用网络之前检验这类器件的可扩展性的服务供应商。[/font][font=Calibri]TeraVMO-CU[/font][font=宋体]模拟器为[/font][font=Calibri]TM500[/font][font=宋体]的[/font][font=Calibri]O-DU[/font][font=宋体]检测工具提供一个免费的测试器件。[/font][/font][font=宋体][font=Calibri]O-RAN[/font][font=宋体]连盟已经促进将[/font][font=Calibri]gNB[/font][font=宋体]分解成三种不同类型的、对外开放的和规范化的元素：[/font][/font][font=宋体][font=Calibri]O-RU[/font][font=宋体]：对外开放无线电模块，承担数字前端、下部[/font][font=Calibri]PHY[/font][font=宋体]层[/font][/font][font=宋体][font=Calibri]O-DU[/font][font=宋体]：对外开放分布式系统模块，承担[/font][font=Calibri]RLC[/font][font=宋体]、[/font][font=Calibri]MA[/font][font=宋体]和更高部分[/font][font=Calibri]PHY[/font][font=宋体]层[/font][/font][font=宋体][font=Calibri]O-CU[/font][font=宋体]：承担[/font][font=Calibri]RRC[/font][font=宋体]和[/font][font=Calibri]PDCP[/font][font=宋体]层的开放中间模块[/font][/font][font=宋体][font=Calibri]TeraVMO-CU[/font][font=宋体]模拟器是款根据软件的检测工具，设置在[/font][font=Calibri]x86[/font][font=宋体]硬件上[/font][font=Calibri]-[/font][font=宋体]满足[/font][font=Calibri]3GPPF1[/font][font=宋体]应用层协议，各个模拟[/font][font=Calibri]CU[/font][font=宋体]兼容高达[/font][font=Calibri]256[/font][font=宋体]个[/font][font=Calibri]DU[/font][font=宋体]，而且每部服务器能够模拟高达[/font][font=Calibri]8[/font][font=宋体]个[/font][font=Calibri]CU[/font][font=宋体]。[/font][/font][font=宋体][font=Calibri]TeraVMO-CU[/font][font=宋体]模拟器能够模拟[/font][font=Calibri]5G[/font][font=宋体]场景：[/font][/font][font=宋体][font=Calibri]5GNSA[/font][font=宋体]选择[/font][font=Calibri]3a[/font][font=宋体]、选择[/font][font=Calibri]3x5GSA[/font][/font][font=宋体]主要特征[/font][font=宋体][font=宋体]率先推出满足最新[/font][font=Calibri]3GPP[/font][font=宋体]、[/font][font=Calibri]O-RAN[/font][font=宋体]标准化的[/font][font=Calibri]O-DU[/font][font=宋体]全围绕测试[/font][/font][font=宋体][font=宋体]在常规[/font][font=Calibri]x86[/font][font=宋体]硬件里的轻量级[/font][font=Calibri]VM[/font][font=宋体]中使用[/font][/font][font=宋体][font=Calibri]CI/CD[/font][font=宋体]自动化集成[/font][/font][font=宋体]系统测试[/font][font=宋体]性能、容量测试[/font][font=宋体][font=宋体]兼容[/font][font=Calibri]Jenkins[/font][font=宋体]等开源自动化软件[/font][/font][font=Calibri]JDSU[/font][font=宋体]成立于[/font][font=Calibri]1923[/font][font=宋体]年，考虑到购买包括[/font][font=Calibri]OCLI[/font][font=宋体]、[/font][font=Calibri]Network Instruments[/font][font=宋体]、[/font][font=Calibri]Agilent[/font][font=宋体]、[/font][font=Calibri]Arieso[/font][font=宋体]、[/font][font=Calibri]Trilithic[/font][font=宋体]以及[/font][font=Calibri]Cobham AvComm [/font][font=宋体]和[/font][font=Calibri]Wireless[/font][font=宋体]在内的各公司的核心技术，[/font][font=Calibri]JDSU[/font][font=宋体]公司名称升级为[/font][font=Calibri]VIAVI[/font][font=宋体]。[/font][font=Calibri]VIAVI[/font][font=宋体]不断积聚专业技术，专注于实现技术领先通信和光学技术。[/font][font=宋体]深圳市立维创展科技有限公司，凭借着加拿大总公司地理竞争优势，与[/font][font=Calibri]JDSU[/font][font=宋体]原厂直接战略合作。期待与国内众多渠道分销、终端客户更多沟通交流战略合作，欢迎咨询。[/font][font=宋体]详情了解[/font][font=Calibri]JDSU[/font][font=宋体]产品请点击：[/font][url=http://www.leadwaytk.com/brand/41.html][font=Calibri]http://www.leadwaytk.com/brand/41.html[/font][/url]

  • 【原创】包装运输包装件跌落试验方法

    【原创】包装运输包装件跌落试验方法

    包装运输包装件跌落试验方法 : 本尺度等效采用国际尺度ISO2248-1985《包装—完整、满装的运输包装件　垂直冲击跌落试验》。 1　主题内容与合用范围　　本尺度划定了对运输包装件进行垂直冲击试验时所用试验设备的主要机能要求、试验程序及试验讲演的内容。　　本尺度合用于评定运输包装件在受到垂直冲击时的耐冲击强度及包装对内装物的保护能力。它既可以作为单项试验，也可以作为一系列试验的组成部门。 2　引用尺度　　GB/T4857.1　包装　运输包装件　各部位的标示方法　　GB/Y4857.2　包装　运输包装件　温湿度调节处理　　GB/T4857.17　包装　运输包装件　编制机能试验大纲的一般原理　　GB/T4857.18　包装　运输包装件　编制机能试验大纲的定量数据 3　试验原理　　提起试验样品至预定高度，然后使其按预定状态自由落下，与冲击台面相撞。 4　试验设备 4.1　冲击台　　冲击台面为水平平面，试验时不移动，不变形，并知足下列要求：　 a.为整块物体，质量至少为试验样品质量的50倍；　 b.要有足够大的面积，以保证试验样品完全落在冲击台面上；　 c.在冲击台面上任意两点的水平高度关苤得超过2mm；　 d.冲击台面上任何 100mm 的面积上承受 10kg的静负荷时，其变形量不得超过0.1mm 。4.2　晋升装置　　在晋升或下降过程中，不应损坏试验样品。 4.3　支撑装置　　支撑试验样品的装置在开释前应能使试验样品处于所要求的预定状态。 4.4　开释装置　　在开释试验样品跌落过程中，应使试验样品不遇到装置的任何部件，保证其自由跌落。 5　试验程序 5.1　试验样品的预备　　按GB/T4857.17的要求预备试验样品。 5.2　试验样品各部位的编号　　按GB/T4857.1的划定对试验样品各部位进行编号。 5.3　试验样品的预处理　　按GB/T4857.2的划定，选定一种前提对试验样品进行温湿度预处理。 5.4　试验时的温湿度前提　　试验应在与预处理相同的温湿度前提下进行。假如达不到预处理前提，则应在尽可能接近预处理温湿度前提下进行试验。 5.5　试验强度值的选择　　按GB/T4857.18的划定选择试验强度值。 5.6　试验步骤 跌落高度位置，并按预定状态将其支撑住。其直起高度与预定高度之差不得超过预定高度的5.6.1提起试验样品至所需的±2%。跌落高度是指预备开释时试验样品是最低点与冲击台面之间的间隔。 5.6.2按下列预定状态，开释试验样品：　 a.面跌落时，使试验样品的跌落面与水平面之间的夹角最大不超过2°；　 b.棱跌落时，使跌落的棱与水平南之间的夹角最大不超过2°，试验样品上划定面与冲击台面夹角的误差不大于± 5°或夹角的10%（以较大的数值为准），使试验样品的重力线通过被跌落的棱；　 c.角跌落时，试验样品上划定面与冲击台面的夹角误差不大于 5或此夹角的10%（以较大数值为准），使试验样品的重力线通过被跌落的角；　 d.不管何种状态和外形的试验样品，都应使试验样品的重力线通过被跌落的面、线、点。 5.6.3实际冲击速度与自由跌落时的冲击速度之差不超过自由跌落时的±1%。 5.6.4试验后按有关尺度或划定检查包装及内装物的损坏情况.并分析试验结果。 6　试验讲演　 a.内装物的名称、规格、型号、数目等；　 b.试验样品的数目；　 c.具体说明：包装容器的名称、尺寸、结构和材料规格；附件、缓冲衬垫、支撑物、固定方法、封口、捆扎状态及其他防护措施；　 d.试验样品的质量和内装物的质量，以千克计；　 e.预处理时的温度相对湿度和预处理时间；　 f.试验场所的温度和相对湿度；　 g.具体说明试验时试验样品的放置状态；　 h.试验样品的跌落顺序、跌落次数；　 i.试验样品的跌落高度，以毫米计；　 j.试验所用设备类型；　 k.试验结果的记实，以及在试验中观察到的任何有助于准确解释试验结果的现象；　　l.说明所用试验方法与本尺度的差异；　 m.试验日期，试验职员签字，试验单位盖章。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/03/201103311351_286451_2242024_3.jpg单翼跌落试验机

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