织物薄膜静电仪

VWR Maximum SF靴套是整个VWR防护服系列中最洁净也是最耐久的产品。其采用聚丙烯纺粘法织物(SPP)制成,并涂有透气聚乙烯薄膜，旨在优化阻隔防护、清洁度和舒适性。防滑且抗静电阻液、密封防水卓越摩擦系数，确保最大摩擦力最大湿滑表面防滑性能在经ISO认证的工厂进行测试和制造，并有着严格的程序控制。由独立实验室测试进行批量控制和检验。

质量保证正品、XRF样品薄膜、Chemplex、X射线荧光光谱仪、X射线荧光膜、土壤样品杯膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜--美国Chemplex-3025#现货供应：XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO：106、CAT.NO：150、CAT.NO：250、CAT.NO：256、CAT.NO：257、CAT.NO：416、CAT.NO：426、CAT.NO：3014样品膜、Sample Film。XRF样品薄膜，又名X射线荧光光谱仪样品薄膜，薄膜样本支撑窗，XRF样本薄膜，XRF样品膜，X-ray样品薄膜，ROHS检测专用薄膜，迈拉膜、麦拉膜、 RoHS/WEEE优质拉伸膜，是应用于X荧光光谱仪的用于保留液体、粉末、泥浆或固体样本在XRF样本杯内的物质。品名：XRF样品膜Sample Film目录编号CAT. NO：3025产品信息：Etnom® ，厚度3.0μm，直径63.5mm，100片/盒品牌：美国Chemplex Industries.Inc.（原装进口）货期：现货起订量：1盒以上。 有方形托架的圆片：3025 Etnom® 3.0 μ 0.00012” 0.12mil 0.00305 mm 2.5”(63.5mm) 100片

不锈钢无菌薄膜过滤器（多联不锈钢薄膜过滤器）由上海书培实验设备有限公司加工定制，规格有单联，双联，三联，六联，采用316L不锈钢精心制作。产品介绍：产品名称：不锈钢无菌薄膜过滤器（多联不锈钢薄膜过滤器）规格：三联，六联①滤器内径50mm②有效容积：100ml仪器特点：①省去抽滤瓶、重量轻、体积小，适宜于净化台内操作。②滤器呈半透明状，便于观察，定量控制。③滤器备有底座，可配套更换，适合于常规试验。④每个滤器设有阀门，可单独使用。⑤耐压、耐温，可在121℃30分钟热压消毒材质：316L不锈钢需要一个抽滤瓶作为收集滤液所用，连接顺序是过滤器--滤瓶--真空泵，真空泵不可直接接过滤器本仪器按照中国药典2005年版之无菌检查法实验要求，参加国际通用标准设计而成，适用于除菌过滤，菌落检查及液体中微粒的测定。所用测试膜规格孔径：0.45微米直径：50MM产品名称规格材质单价（元）品牌不锈钢薄膜过滤器三联带支架316L2300书培不锈钢薄膜过滤器六联带支架316L4500书培不锈钢无菌过滤杯100ml316L+玻璃550书培真空泵配套1500注意事项：①使用前，必须对过滤器进行洁净处理，所选滤膜应浸泡过夜。②消毒时将湿态膜贴在支撑板上，盖上密封垫圈，将贮液杯和支座螺纹稍旋紧，待消毒后在旋紧，以纱布包裹进行热压消毒，以免微孔滤膜破裂。（四）适应范围：①医药工业药品检验：注射用抗生素及其他可溶性药品的无菌检查。②引水、饮料及食品的菌落检查。③医院的医学临床检验：体液的细菌及微生物测定。④科研、教学领域的除菌过滤或检查细菌用。⑤用于微孔滤膜的质量检查

300-900纳米铌酸锂单晶薄膜300-900纳米 铌酸锂单晶薄膜顶层器件层尺寸3, 4, (6) 英寸切向X, Z, Y切等材料铌酸锂厚度300-900 纳米掺杂（可选）掺镁埋层材料二氧化硅厚度1000-4000 纳米基底材料硅、铌酸锂、石英、熔融石英等厚度400-500 微米电极层（可选）材料铂金，金，铬厚度100-400 纳米位置在顶层器件层与埋层之间或埋层与基底之间铌酸锂单晶薄膜二氧化硅硅、铌酸锂、石英或熔融石英基底铌酸锂单晶薄膜金电极或铂金电极铌酸锂基底二氧化硅铌酸锂单晶薄膜金电极或铂金电极铌酸锂基底二氧化硅掺镁铌酸锂单晶薄膜铌酸锂基底二氧化硅首页 - 产品300-900纳米钽酸锂单晶薄膜300-900 纳米 钽酸锂单晶薄膜顶层器件层尺寸3, 4, 6 英寸切向 Y-42, Y-46.3, Z切等材料钽酸锂厚度300-900 纳米埋层材料二氧化硅厚度300-4000 纳米基底材料硅厚度400-500 微米钽酸锂单晶薄膜二氧化硅硅基底5-50微米硅基钽酸锂、铌酸锂、石英薄膜5-50微米 硅基钽酸锂、铌酸锂及石英薄膜顶层器件层尺寸3, 4, 6 英寸切向X, Z, Y-42, Y-46.3切等材料钽酸锂、铌酸锂、石英等厚度5-50 微米基底材料硅厚度230-500 微米钽酸锂单晶薄膜硅基底铌酸锂单晶薄膜硅基底石英薄膜硅基底自支持超薄晶片、超平晶片自支持超薄、超平晶片尺寸3, 4 英寸切向X, Y, Z, AT切等厚度10-60 微米材料铌酸锂、钽酸锂、石英、硅等表面双抛或单抛铌酸锂单晶薄膜钽酸锂单晶薄膜石英薄膜特殊定制薄膜特殊定制铌酸锂、钽酸锂、石英薄膜顶层/ 详情基底层顶层薄膜层多层结构图形电极&波导结构异质材料 (二氧化硅/硅,硅, 蓝宝石, 石英等)周期性极化反转铌酸锂PPLN特殊尺寸电极 (金, 铂金,铬, 铝等)切向 (与体材料相同 )掺杂 (镁, 铁, 铒, 铥等)100-1000 纳米铌酸锂√√√√√√√√100-1500 纳米 钽酸锂√√√√√√√5-50 微米铌酸锂√√√√5-50 微米钽酸锂√√√√5-50 微米石英√√√300-900纳米铌酸锂单晶薄膜300-900纳米 铌酸锂单晶薄膜顶层器件层尺寸3, 4, (6) 英寸切向X, Z, Y切等材料铌酸锂厚度300-900 纳米掺杂（可选）掺镁埋层材料二氧化硅厚度1000-4000 纳米基底材料硅、铌酸锂、石英、熔融石英等厚度400-500 微米电极层（可选）材料铂金，金，铬厚度100-400 纳米位置在顶层器件层与埋层之间或埋层与基底之间铌酸锂单晶薄膜二氧化硅硅、铌酸锂、石英或熔融石英基底铌酸锂单晶薄膜金电极或铂金电极铌酸锂基底二氧化硅铌酸锂单晶薄膜金电极或铂金电极铌酸锂基底二氧化硅掺镁铌酸锂单晶薄膜铌酸锂基底二氧化硅首页 - 产品300-900纳米钽酸锂单晶薄膜300-900 纳米 钽酸锂单晶薄膜顶层器件层尺寸3, 4, 6 英寸切向 Y-42, Y-46.3, Z切等材料钽酸锂厚度300-900 纳米埋层材料二氧化硅厚度300-4000 纳米基底材料硅厚度400-500 微米钽酸锂单晶薄膜二氧化硅硅基底5-50微米硅基钽酸锂、铌酸锂、石英薄膜5-50微米 硅基钽酸锂、铌酸锂及石英薄膜顶层器件层尺寸3, 4, 6 英寸切向X, Z, Y-42, Y-46.3切等材料钽酸锂、铌酸锂、石英等厚度5-50 微米基底材料硅厚度230-500 微米钽酸锂单晶薄膜硅基底铌酸锂单晶薄膜硅基底石英薄膜硅基底自支持超薄晶片、超平晶片自支持超薄、超平晶片尺寸3, 4 英寸切向X, Y, Z, AT切等厚度10-60 微米材料铌酸锂、钽酸锂、石英、硅等表面双抛或单抛铌酸锂单晶薄膜钽酸锂单晶薄膜石英薄膜特殊定制薄膜特殊定制铌酸锂、钽酸锂、石英薄膜顶层/ 详情基底层顶层薄膜层多层结构图形电极&波导结构异质材料 (二氧化硅/硅,硅, 蓝宝石, 石英等)周期性极化反转铌酸锂PPLN特殊尺寸电极 (金, 铂金,铬, 铝等)切向 (与体材料相同 )掺杂 (镁, 铁, 铒, 铥等)100-1000 纳米铌酸锂√√√√√√√√100-1500 纳米 钽酸锂√√√√√√√5-50 微米铌酸锂√√√√5-50 微米钽酸锂√√√√5-50 微米石英√√√铌酸锂单晶薄膜、钽酸锂单晶薄膜300-900纳米，5-50微米

Chemplex样品薄膜 型号：090，250 品牌：Chemplex 产地：美国 一、产品介绍： 在用X荧光光谱仪进行ROHS检测，WEEE检测和一般材料成分分析时，由于样品的不规则（特别是液体、粉末等），需要借助样品杯和薄膜辅助检测；但不合适的样品薄膜往往造成样品污染并影响材料成分分析的X射线信号和检测结果。 选择适当的薄膜材料对于分析结果至关重要。 在现有的众多不同的物质类型中，只有为数不多的几种具备能满足光谱化学需要的一致性和化学、物理属性。 如何选择薄膜样本支撑窗材料？ 适当的薄膜样本支撑窗的选择主要以满足首要重要的实验室要求为基础： 使用方便快捷； 避免造成待测样品污染； 优越的分析物透射比与强度； 对待测样品的耐化学性。 Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司，是X射线光谱仪（XRF）配件耗材领域的全球知名厂商。 Chemplex XRF样品杯和样品薄膜用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体，粉末，液体，适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex样品薄膜薄膜张力特性极佳，与样品杯组合使用，适合盛放各类金属重物、液体或粉末。对特别配制的塑料和保持其物理和化学属性一致性的特别关注，使得Chemplex XRF样本杯、样品薄膜在XRF物质成分分析应用范围和性能上无与伦比。Chemplex的许多XRF样本杯、样品薄膜被列为新颖独特的设计和应用，并被美国专利商标局授予知识产权地位。 林奥仪器作为美国Chemplex公司的中国代理商，提供Chemplex所有系列用于对应欧盟ROHS和WEEE环保检测仪器——X射线荧光光谱仪（XRF）的检测实验消耗产品！ 我们不仅能够为您提供样品薄膜、样品杯, 还可根据您的样品应用为您选择、定制合适的样品薄膜、样品杯。 二、适用仪器： 德国斯派克Spectro、英国牛津Oxford、日本堀场Horiba、飞利浦/帕纳科Philips/Panalytical、德国布鲁克 Bruker、美国赛默飞世尔科技（热电）Thermo，瑞士ARL及日本理学Rigaku, Siemens, Spectrace,Jordan, Kevex, Metorex,Fisons, Asoma，Venus 200,Valley等生产的X荧光光谱仪(XRF)。 （适用X 射线荧光光谱仪品牌型号：所有X射线荧光光谱仪包括：尼通(NITON)：Xlt797z 、Xlt794、Xlt898 ；伊诺斯(Innov-X)：AlPHA6000；牛津(Oxford)：Met-5000；帕纳科(Panalytical)：Minipal4、 Minipal2；精工(Seiko)：SEA1000A；斯派克（Spectro）：XEPOS、MIDEX M；热电(Thermo)：ARL Quant’X；日本电子（JEOL）JSX－3400R；Horriba等。） 三、SPECTROMEMBRANE?样品薄膜 随着SpectroMembrane?样本支撑托架的面世，在处理薄膜时用户不再需要担心静电附着或潜在的污染风险或吸引空中颗粒等问题。除样本杯外，薄膜不再近距离接触其它任何物体。薄膜处理将通过使用集成的托框完成，托框能够在组装过程中自动分离，留下绷紧的薄膜样本平面。 SpectroMembrane?薄膜样本支撑托架由一块粘在托架上作为支撑物的薄膜样本支撑物质组成。在把薄膜物质粘在XRF样本杯上时，薄膜物质并不会被直接处理，这就消除了污染的可能性。接近完成或在完成附着时，薄膜将自动从托架上分离，留下绷紧的无皱样本支撑窗。106麦拉膜、CAT.NO：150麦拉膜、CAT.NO：250麦拉膜、CAT.NO：256麦拉膜、CAT.NO：257麦拉膜、CAT.NO：416、CAT.NO：426等Cat. No.TypeThicknessFormatSizeQty/Pack446-5Kapton?7.5 μm (0.3mil)Precut Circles2.5" (63.5mm)50090Ultra-Polyester?1.5μm (0.06mil)Roll3.0" (76.2mm)300' (91.4m)95Etnom?1.5μm (0.06mil)Roll3.0" (76.2mm)300' (91.4m)100Mylar?2.5μm (0.1mil)Roll3.0" (76.2mm)300' (91.4m)100-PPMylar?2.5μm (0.1mil)Roll - PrePerf3.0" (76.2mm)300' (91.4m)106Mylar?2.5μm (0.1mil)Precut Circles2.5" (63.5mm)500107Mylar?2.5μm (0.1mil)Precut Circles2.5" (63.5mm)1000150Mylar?3.6μm (0.14mil)Roll3.0" (76.2mm)300' (91.4m)150-PPMylar?3.6μm (0.14mil)Roll - PrePerf3.0" (76.2mm)300' (91.4m)156Mylar?3.6μm (0.14mil)Precut Circles2.5" (63.5mm)500157Mylar?3.6μm (0.14mil)Precut Circles2.5" (63.5mm)1000250Mylar?6.0μm (0.24mil)Roll3.0" (76.2mm)300' (91.4m)250-PPMylar?6.0μm (0.24mil)Roll - PrePerf3.0" (76.2mm)300' (91.4m)256Mylar?6.0μm (0.24mil)Precut Circles2.5" (63.5mm)500257Mylar?6.0μm (0.24mil)Precut Circles2.5" (63.5mm)1000美国Chemplex工业公司自1971年成立以来，一直坚持专注于X射线光谱分析的样品制备领域，拥有多系列独有的特色产品线以及产权，以质量和全面的X射线的样品制备产品线享誉全球。美国Chemplex公司一直以产品创新、质量保证、技术支持、服务周到、准时交货为原则，几乎所有的产品有库存。w我公司代理美国Chemplex工业公司旗下系列产品：XRF样品杯、XRF样品膜、X-ray光谱仪样本杯、ROHS专用样品杯、符合ROHS方法的PE/PVC高分子聚合物（块/粉）、XRF/XRD化学试剂盒套包装等。全线供应给各大中石油、中石化、中海油旗下研发质检实验室，是一家专业的油品实验室进口配件耗材打包供应专家！

显微薄膜测量仪配件是一款超级紧凑而功能多样的薄膜测试仪系统，可以结合显微镜测量薄膜的吸收率，透过率，反射率以及测量点的荧光。薄膜测试仪通过反射率的测量，测量点处的薄膜厚度，薄膜光学常量（n &k)以及thick film stacks都能在瞬间测量出来。整套显微薄膜测量仪的组成是：光栅光谱仪（200-1100nm)+显微镜目镜 适配器+软件+显微镜（可选）。其中目镜适配器包含镜头，可增加光的收集。标准的40X物镜可做到测量点直径约200微米。更高倍数的物镜的测量点更小。整套薄膜测量仪和薄膜测试仪到货即可使用，仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可，操作非常方便。 安装到显微镜上的薄膜测量仪照片 薄膜测试仪SiO2薄膜测量结果（20X物镜）薄膜厚度测试仪配件软件这款薄膜测试仪配备专业的仪器控制，光谱测量和薄膜测量功能的软件，具有广阔的应用范围。该薄膜厚度测试仪软件能够实时采集吸收率，透过率，反射率和荧光光谱，并且能够能够快速计算出结果。对于吸收率/透过率模式的配置，所有的典型参数如 A, T可快速计算出来。其他的非标准参数，如signal integration也能测量出来。对于反射率测量，该薄膜厚度测试仪软件能够精确测量膜层小于10层薄膜厚度（《10nm到100微米）， 光学常量（n & k)。薄膜厚度测试仪配件参数 可测膜厚： 10nm-150微米；波长范围：200-1100nm精度：0.5%分辨率：0.02nm光源：使用显微镜光源光斑大小：由显微镜物镜决定计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：120x120x120mm重量：1.2kg薄膜厚度测试仪配件应用测量薄膜吸收率,透过率测量化学薄膜和生物薄膜测量光电子薄膜结构测量半导体制造聚合物测量在线测量光学镀膜测量

薄膜分光镜Pellicle Beamsplitters第二表面反射不产生鬼像汇聚光束无色差光程长度无变化薄膜厚度 0.002mm通用规格基底:Nitrocellulose构造 :PellicleHousing:Black Anodized Aluminum折射率 nd:1.5表面质量:40-20薄膜分光器是非常纤薄的硝化纤维薄膜，胶合到重叠的铝质外框上，其特点是第二表面反射不产生鬼影。为方便系统集成，薄膜分光器在外框的反面提供安装孔。薄膜分光镜可抵御机械冲击或气候变化，但必须保护其不受灰尘和液体飞溅的影响，以免对薄膜造成损坏。备注：在处理时须额外小心。产品信息Dia. (mm)反射/透射比(R/T)波长范围(nm)DWL(nm)产品编码34.9033/67400 - 700-#39-48034.9040/40400 - 700-#39-47934.9050/50-632.8#39-48134.908/92400 - 2200-#39-47863.5033/67400 - 700-#39-48463.5040/40400 - 700-#39-48363.5050/50-632.8#39-48563.508/92400 - 2200-#39-48288.9033/67400 - 700-#39-48888.9040/40400 - 700-#39-48788.9050/50-632.8#39-48988.908/92400 - 2200-#39-486114.3033/67400 - 700-#39-492114.3040/40400 - 700-#39-491114.3050/50-632.8#39-493114.308/92400 - 2200-#39-490165.1033/67400 - 700-#39-500165.1040/40400 - 700-#39-499165.1050/50-632.8#39-501165.108/92400 - 2200-#39-498技术数据

PET抗静电膜规格厚度：8-75( μm)宽度：380-3000(mm)卷径：300-780(mm)卷芯内径：3" 、6"特殊规格可根据窑户要求生产 。包装方式单件、托盘、突板缠绕包装 。用途说明Ø电子产昂包装Ø电子屏幕保护Ø模切保护膜Ø高速印刷性能特点PET抗静电膜是在PET表面进行化学涂布.在 PET表 面形成一层导电涂层，以降低PET薄膜轰面的电阻 值 ，达到及时将静电导出的效果 。Ø较低的表面电阻Ø无迁移Ø减少对空气中灰车的眼附技术指标项目测试方法单位厚度DIN 53370um12平均厚度偏差ASTM D 374%±2.0拉伸强度MDASTM D 882MPa230TD230断裂伸长率MDASTM D 882%120TD120热收缩率MD150℃.30min%3TD0.5雾度ASTM D 1003%2.5光泽度(45度)ASTM D 2457%125润湿张力电晕面ASTM D 2578mN/m涂布面表面电阻GB/T141010*-1010电气绝缘基膜规格厚度：15-75(μm)宽度：380-2000(mm)卷径：300-780(mm)卷芯 内径：6特殊规格可根据客户要求生产 。包装方式单件 、托盘 、夹板缠统包装 。用途说明用于涂覆、 中切、模压及 复合。 适用于多种电子和 电气应用 。性能特点拉伸强度富，韧性虫子 具 有优良的耐化学性 、电气 绝缘性。技术指标项目测试方法单位典型值厚度DIN 53370μm25平均厚度偏差ASTM 0374%±2.0拉伸强度MOASTM 0882MPa220TD210断裂伸长率MDASTM 0882%140TO140热收缩率MD150.C，30min%1.6TD0.3雾度ASTM D1003%3光泽度(45度)ASTM 02457%125润湿张力处理面ASTM 02578mN/m52未处理面42反光基膜规格厚度：15-50(μm)宽度：380-1800(mm)卷径：300-780(mm)卷芯内径：6"特殊规格可根据客户要求生产 。包装方式单件、托盘、夹板缠统包装。用途说明印刷 时能使油墨微粒细、 园、饱满，严生解析度清晰的理想印刷效果， 专用于苟反光要求的广告牌、交通反光标志等 。性能特点薄膜与油墨附着力强，严昂平整度好 。技术指标项目测试方法单位典型值厚度DIN 53370m36平均厚度偏差ASTM D 374%±2.0拉伸强度MDASTM D 882MPa190TD210断裂伸长率MDASTM D 882%170TD150热收缩率MD150℃， 30min%1.6TD0.3雾度ASTM D 1003%3光泽度(45度)ASTM D 2457%128润湿张力处理面ASTM D 2578mN/m52未处理面42光学保护用聚脂薄膜规格厚度：20-100（um）长度：2000-8000 ( m )宽度：400-2000 ( mm )卷芯内径：3"/6"特殊规格可根据客户要求生产。包装方式夹板、托盘、纸箱。用途说明光学保护用涂布膜加工基材。性能特点洁净度高，厚薄均匀，膜面平整，易于涂布加工。技术指标项目测试方法单位典型值厚度ASTMD374μm2550拉伸强度MDASTMD882MPa200200TDMPa240240断裂伸长度MD%170170TD%130130热收缩率MDASTMD1204(1500 C，30min)%1.01.0TD%-0.2-0.2摩擦系数uASTM D1894/0.370.37u/0.350.35雾度ASTMD1003%2.52.5透光率%9090温润张力电晕面GB/T14216mN/m5656激光防伪基膜规格厚度:：15-75(μm)宽度：380-1600(mm)卷径：300-780(mm)卷芯 内径 I.D：6"特殊规格可棍据客户要求生产。包装方式单件、托盘、夹板缠绕包装。用途说明适合在需形成全息图像的激光防伪用途上应作为高档的护卡产品使用。性能特点产品的透明度高，图像仿真度高， 镀铝后亮度好， 模压性能好。技术指标项目测试方法单位典型值厚度DIN 53370lm23平均厚度偏差ASTM D 374%±2.0拉伸强度MDASTM D 882MPa230TD%240断裂伸长率MDASTM D 882%150TD130热收缩率MD150℃， 30min%1.5TDo雾度ASTM D 1003%3光泽度(45度)ASTM D 245796128润湿张力处理面ASTM D 2578mN/m56未处理面42胶带基膜规格Ø厚度: 8-25(μm)宽度 Width : 380- 1800(mm)Ø卷径: 300-780(mm)卷芯 内径 Paper Core I.D.: 3" 、 6"特殊规格可根据客户要求生产。 Special spec ifications can be customized包装方式单件、托盘、夹板缠绕包装。用途说明胶带基膜主要用在封生!在胶用途上。性能特点良好的厚薄均匀性和印刷性。技术指标项目测试方法单位典型值厚度DIN 53370μm9平均厚度偏差ASTM 0374%±2.0拉伸强度MDASTM 0882MPa240TD240断裂伸长率MOASTM 0882%110TD110热收缩率MO150 C，30min%1.8TO0.3雾度ASTM 01003%2光泽度(45度)ASTM 02457%130润湿张力处理面ASTM 02578m N/m50未处理面42扩散用聚脂薄膜规格厚度：100-250(um)宽度：400-2000(mm)长度：1000-4000(m)卷芯内径：3”/6"特殊规格可根据客户要求生产。包装方式夹板、托盘、纸箱。用途说明薄膜两面做预涂处理， 主要用作LCD液晶显示背光模组增亮加工基材。性能特点产品在高洁净无尘室生产，表现优良，光学性能有意，基材两面经预涂处理后，与增亮膜棱镜层或背涂层有着良好稳定的附着力。技术指标项目测试方法单位典型值厚度ASTM D 374um125188拉伸强度MDASTM D 882MPa180180TDMPa220220断裂伸长度MD%170170TD%130130热收缩率MDASTM D 1204(150°C， 30min)%0.80.8TD%0.20.2摩擦系数uASTM D 1894/0.350.35u/0.340.34雾度ASTM D 1003%1.21.5透光率%9191湿润张力GB/T14216mN/m5252离型用聚脂薄膜规格厚度：20-1 00(um)长度：2000-8000 (m)宽度：400-2000 (mm)卷芯内径：3”/6”特殊规格可根据客户要求生产包装方式夹握、托盒、纸篇 o用途说明OCA、MLCC等离型用加工基材。性能特点洁净度高，厚薄均匀，膜面平整，易于涂布加工。技术指标项目测试方法单位典型值 Standard Valua厚度ASTMD374um5075125拉伸强度MDASTMD882MPa200200200TDMPa230230230断裂伸长度MD%170170170TD%130130130热收缩率MDASTMD1204(1500 C，30min)%1.01.01.0TD%0.20.20.2摩擦系数uASTMD1894/0.350.350.35u/0.340.340.34雾度ASTMD1003%3.53.53.5透光率%909090湿润张力GB/T14216mN/m545454普通包装薄膜规格 Specif icationØ厚度: 8-75(μm)Ø宽度: 380-3000(mm)Ø卷径 : 300-780(mm)Ø卷芯 内径: 3" 、 6"特殊规格可根据客户要求生产。包装方式 Packaging单件 、托盘 、夹板缠统包装。 Single roll/pallets packed by stretch fllm.用途说明 Application普通包装用途，如印刷 、复合、lJi 吕、涂覆筝，主要适用于软包装用途。透明度较好，严昂平整度好，加工性能良好，热收 缩较小。技术指标项目测试方法单位典型值厚度DIN 53370μm12平均厚度偏差ASTM 0374%±2.0拉伸强度MDASTM 0882MPa230TD240断裂伸长率MDASTM 0882%120TO110热收缩率MD150.C，30min%1.8TD0雾度ASTM 01003%2.5光泽度(45度)ASTM 02457%130润湿张力处理面ASTM 02578m N/m52未处理面40普通镀铝膜规格厚度：8-75( μm)宽度：390-2920(mm)卷径：300-780(mm)卷芯内径：3”6”特殊规格可根据客户要 求生产。用途说明用于化妆且包装，医药包装， 食且 包装等，一些需要延长保存期的产 昂。性能特点镀铝膜具有极佳的金属光泽和良好的反射性，真有良好的导电性，能够消除静电效应 ，且有优良的阻气性、阻湿性、遮光性和保香性.是一种优良的阻隔性包装材抖。技术指标项目测试方法T单位标准值厚度DIN 53370pm8~75平均厚度偏差ASTM D 374%±2.0拉伸强度MDASTM D 882Mpa≥170TD≥170断裂伸长率MDASTM D 882%≤200TD≤200热收缩率MD150℃， 30min%≤3.0TD≤2.0水蒸气透过量GB/T26253-2010g/(m²day)≤2.5氧气透过量GB/T31354-2014cc/(m²day)≤6润湿张力镀铝面ASTM D 2578mN/m≥38镀铝层附着力3M检验专用胶带%≤20镀铝层厚度GB/T15717-1995Ω/□≤2.5镀铝层均匀度%±15烫金基膜规格摩度：10-36μm宽度：350-2500(mm)卷径：300-780(mm)卷芯内径：3特殊规格可棍据客户要求生产。包装方式单件、托盘、夹板缠绕包装 。用途说明烫金基膜主要用在电化铝、烫金擂射用途上。性能特点热稳定性好 、光学性能好、机械性能优良、严昂外 观平整度好。技术指标项目测试方法单位典型值厚度DIN 53370μm12平均厚度偏差ASTM D374%±2.0拉仰强度MDASTM D882MPa230TD240断裂伸长率MDASTM D882%120TD110热收缩率MD150 C，30min%1.5TD0雾度ASTM D1003%2光泽度(45度)ASTM D2457%129润湿张力ASTM D2578mN/m42透明高阻隔AIOx薄膜规格厚度：8-75 ( μm)宽度：350-2500{mm)卷径：300-780(mm)卷芯内径：3 "、6"特殊规格可根据客户要求生产。包装方式单件、托盘、夹板缠绕包装。用途说明用于食品包装，直立袋，耐蒸煮等软包装，替代部分PVDC和镀铝包装。性能特点透明高阻隔AIOx薄膜是在PET表面造行氧化铝蒸镀加工而成的，具有优异的氧气阻隔性 、防潮性 、保香性能的透明高阻隔环保薄膜。Ø氧气、水蒸气阻隔性极好Ø可微波炉加热Ø透明度高Ø环保技术指标项目测试方法单位典型值厚度DIN 53370um12平均厚度偏差ASTM D 374%±2.0拉伸强度MDASTM D 882MPa250TD250断裂伸长率MDASTM D 882%110TD120热收缩率MD150℃， 30min%1.5TDO雾度ASTM D 1003%2.5光泽度(45度)ASTM D 2457%130润湿张力电晕面ASTM D 2578mN/m54AIO x面42氧气透过率普通型ASTM D 3985CC/mi/24h0.9增强型0.5水蒸气透过率普通型ISO 15106g/m/24h0.9增强型0.7增亮用聚脂薄膜规格厚度：50-300(um)宽度：400-2000(mm)长度：1000-4000(m)卷芯内径：3"/6”特殊规格可根据客户要求生产。包装方式夹板、托盘、纸箱。用途说明膜面两面做预涂处理， 主要用作LCD液晶显示背光模组增亮膜加工基材。性能特点产品在高洁净无尘室生产，表现优良，光学性能优异，基材两面经预涂处理后，与增亮膜棱镜层或背涂层有着良好稳定的附着力。技术指标项目测试方法单位典型值厚度ASTM D 374μm50125188拉伸强度MDASTM D 882MPa190180180180TDMPa230220220220断裂伸长度MD%170170170170TD%130130130130热收缩率MDASTM D 1204(150°C， 30min)%10.80.80.8TD%0.20.20.20.2摩擦系数uASTM D 1894/0.350.350.350.35u/0.340.340.340.34雾度ASTM D 1003%11.21.51.8透光率%92919190湿润张力GB/T14216mN/m52525252增强型印刷薄膜规格厚度：8-75(μm)宽度：380-2000(mm)卷径：300-780(mm)卷芯内径：3 ' 、6 "特殊规格可根据客户要求生产。包装万式单件、托盘、夹板缠绕包装 。用途说明各种包装薄膜印刷 ，水性油墨印刷。性能特点PET增强型印刷薄膜是在PET表面进行化学涂布， 在PET表面形成一层化学涂层。使PET在经过印刷 后，油器和PET层之间的剥离力显著大于普通电晕处理的PET薄膜。Ø较强的油墨相PET的剥离力Ø可使用水性油墨Ø满足多色套印技术指标项目测试万法单位典型值厚度DIN 53370μm12平均厚度偏差ASTM D374%士 2.0拉伸强度MDASTM D882MPa230TO230断裂伸长率MOASTM D882%120TD120热收缩率MD150 C，30min%1.5TO0雾度ASTM D1003%2.5光泽度(45度)ASTM D2457%128润湿张力电晕面ASTM D2578mN/ m54涂布面

薄膜溶解测量仪用于实时监测薄膜在液体过程中的薄膜厚度和光学常量（n, k)的变化，是全球领先的薄膜溶解测量仪和薄膜溶解测试仪。为了这种特色的测量，孚光精仪公司特意为薄膜溶解测量仪研发了Teflon样品池用于测量薄膜样品，使用一种岔头探针水平安装在Teflon 样品池的外部，距离玻璃窗口非常接近，使用白光反射光谱技术（WLRS)，实时测量薄膜厚度和折射率，并通过专业软件记录下这些数据。另外，根据需要，我们还能够在测量区域下安装搅拌装置stirrer，提供力学激励振动。孚光精仪还特意为薄膜溶解测量仪提供垂直的样品夹具，以固定小尺寸的硅样品或3' ' ，4' ' 直径的Si 晶圆。根据溶解过程的不同，如溶解速度的不同，它能够以实时或离线的方式测量，反射率数据都能够存储下来以便后续处理使用。还能够测量几十个纳米厚度的光致抗蚀剂和聚合物薄膜堆的溶解过程，而且还可以测量薄膜的膨胀等特殊现象。对于薄膜厚度的测量，薄膜溶解测厚仪需要光滑，具有反射性的衬底，对于光学常数测量，平整的反射衬底即可满足测量需要。如果衬底是透明的，衬底的背面不能具有反射性。能够给出两个参数：例如两个薄膜的厚度或一个薄膜的厚度和光学常量，已经成功应用于测量反射衬底（Si晶圆）上各种光滑，透明或轻度吸收薄膜的溶解过程，可研究的薄膜包括SiO2薄膜,SiNx薄膜,光致抗蚀剂薄膜，聚合物薄膜层等。薄膜溶解测量仪参数 可测膜厚： 5nm-150微米；波长范围：200-1100nm 精度：0.5% 分辨率：0.02nm 测量点光斑大小：0.5mm可测样品大小：10-100mm计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：360x400x180mm重量：15kg 电力要求：110/230VAC薄膜溶解测量仪应用：聚合物薄膜光致抗蚀剂薄膜测量化学和生物薄膜测量，传感测量光电子薄膜结构测量 在线测量光学镀膜测量能够以实时或离线的方式测量，反射率数据都能够存储下来以便后续处理使用。

产品名称： 氮化硅薄膜窗格氮化硅支持膜主要用于纳米技术以及分子生物学的研究。氮化硅支持膜极其稳定可抵抗温度变化上升至1000摄氏度，纳米粒子和细胞样品可直接在支持膜上进行操作。窗格厚度： 200μm 支持膜厚度：15nm：产品编号产品名称窗格规格包装（枚/盒）BP21560-10氮化硅薄膜窗格0.25×0.25mm10枚/盒BP21568-10氮化硅薄膜窗格0.1×1.5mm×2窗格10枚/盒BP21569-10氮化硅薄膜窗格0.1×0.1mm×9窗格10枚/盒支持膜厚：50nm：产品编号产品名称窗格规格包装（枚/盒）BP21505-10氮化硅薄膜窗格0.25×0.25mm10枚/盒BP21500-10氮化硅薄膜窗格0.5×0.5mm10枚/盒BP21501-10氮化硅薄膜窗格0.75×0.75mm10枚/盒BP21502-10氮化硅薄膜窗格1.0×1.0mm10枚/盒BP21504-10氮化硅薄膜窗格0.5×1.5mm10枚/盒BP21508-10氮化硅薄膜窗格0.1×1.5mm×2窗格10枚/盒BP21509-10氮化硅薄膜窗格0.1×0.1mm×9窗格10枚/盒支持膜厚：200nm：产品编号产品名称窗格规格包装（枚/盒）BP21525-10氮化硅薄膜窗格0.25×0.25mm10枚/盒BP21520-10氮化硅薄膜窗格0.5×0.5mm10枚/盒BP21521-10氮化硅薄膜窗格0.75×0.75mm10枚/盒BP21522-10氮化硅薄膜窗格1.0×1.0mm10枚/盒BP21524-10氮化硅薄膜窗格0.5×1.5mm10枚/盒

教学型光学薄膜测厚仪配件是一款低价台式光学薄膜厚度测量仪,可测量薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率，薄膜反射率，荧光等，也可测量膜层的厚度,光学常量（折射率n和k)。光学薄膜测厚仪配件基于白光反射光谱技术，膜层的表面和底面反射的光VIS/NIR光谱，也是干涉型号被嵌入的光谱仪收集分析，结合多次反射原理，给出膜层的厚度和光学常数（n，k)，到货即可使用，仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可，操作非常方便。光学薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚： 100nm-30微米；波长范围: 300-1000nm 探测器：650像素Si CCD阵列，12bit A/D精度：1%斑点大小：0.5mm 光源：钨灯-汞灯（360-2000nm)所测样品大小：10-150mm, 计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：320x360x180mm 重量：9.2kg光学薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量，用于化学和生物薄膜测量，传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量

聚合物薄膜测厚仪配件用于测量聚合物薄膜、有机薄膜、高分子薄膜和 光致抗蚀剂薄膜, 光刻胶膜,光刻薄膜,光阻膜在加热或制冷情况下薄膜厚度和光学常量（n, k)的变化。为了这种特色的测量，孚光精仪公司特意研发了专业的软件和算法，使得该聚合物薄膜测厚仪能够给出薄膜的物理化学指标：例如玻璃化转变温度 glass transition temperature (Tg)，热分解温度，薄膜的厚度测量范围也高达10nm--100微米。聚合物薄膜测厚仪配件在传统薄膜测厚仪的基础上添加了加热/制冷的温度控制单元，使用白光反射光谱技术（WLRS)，实时测量薄膜厚度和折射率，并通过专业软件记录下这些数据，能够快速实时给出薄膜厚度和薄膜光学常量等物理化学性能数据，并且能够控制薄膜加热和制冷的速度，是聚合物薄膜特性深入研究的理想工具。干膜测厚仪所使用的软件也适合薄膜的其他热性能研究，例如：薄膜的热消融/热剥蚀thermal ablation研究，薄膜光学性质随温度的变化，薄膜预烘烤Post Apply Bake，光刻过程后烘烤 Post Exposure Bake对薄膜厚度的损失等诸多研究。对于薄膜的厚度测量，这款聚合物薄膜测厚仪,薄膜热特性测厚仪要求薄膜衬底是透明的，背面是不反射的。它能够处理最高4层薄膜的膜堆layer stacks，给出两个参数：例如两个薄膜的厚度或一个薄膜的厚度和光学常量。这套聚合物薄膜测厚仪,薄膜热特性测厚仪已经成功应用于测量不同聚合物薄膜的热性能，光刻薄膜的热处理影响分析，Si晶圆wafer上的光致抗蚀剂薄膜分析等。聚合物薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚： 5nm-150微米；波长范围：200-1100nm 精度：0.5%分辨率：0.02nm 测量点光斑大小：0.5mm可测样品大小：10-100mm计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：360x400x180mm重量：13.5kg 电力要求：110/230VAC聚合物薄膜测厚仪配件应用聚合物薄膜测量光致抗蚀剂薄膜测量化学和生物薄膜测量，传感测量光电子薄膜结构测量半导体薄膜厚度测量在线测量光学镀膜测量聚合物薄膜厚度测量polymer films测量测量有机薄膜厚度测量光致抗蚀剂薄膜测光刻胶膜测厚测量光刻薄膜厚度测量光阻薄膜测厚测量光阻膜厚度

EDX迈拉膜、XRF测试薄膜、样品薄膜、XRF迈拉膜、XRF专用圆形薄膜、ROHS测试膜--美国Chemplex 106#现货供应：XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO：106、CAT.NO：150、CAT.NO：250、CAT.NO：256、CAT.NO：257、CAT.NO：416、CAT.NO：426、CAT.NO：3014样品膜、Sample Film。品名：XRF样品膜Sample Film目录编号CAT.NO：106产品信息：Mylar膜(迈拉膜、麦拉膜），厚度2.5 μm，直径63.5mm，500片/盒品牌：美国Chemplex Industries.Inc.（原装进口）货期：现货起订量：1盒以上。产品详细信息：SpectroCertified® Thin-Film Sampel SupportsMYLAR® POLYESTERPRE-CUT CIRCLES(2.5” Diameter x 63.5mm)CAT. NO：106Gauge：0.00010”，2.5 μm；0.10mil，25,400ATypical Impurities，PPM：Ca, P, Sb, Fe, ZnChemplex® INDUSTRIES，INC.Contents：500Circles； Lot No：092375。现货供应：XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO：106、CAT.NO：150、CAT.NO：250、CAT.NO：256、CAT.NO：257、CAT.NO：416、CAT.NO：426、CAT.NO：3014样品膜、Sample Film。

chemplex样品薄膜型号：090，250品牌：chemplex产地：美国一、产品介绍： 在用x荧光光谱仪进行rohs检测，weee检测和一般材料成分分析时，由于样品的不规则（特别是液体、粉末等），需要借助样品杯和薄膜辅助检测；但不合适的样品薄膜往往造成样品污染并影响材料成分分析的x射线信号和检测结果。选择适当的薄膜材料对于分析结果至关重要。 在现有的众多不同的物质类型中，只有为数不多的几种具备能满足光谱化学需要的一致性和化学、物理属性。 如何选择薄膜样本支撑窗材料？适当的薄膜样本支撑窗的选择主要以满足首要重要的实验室要求为基础： 使用方便快捷； 避免造成待测样品污染； 优越的分析物透射比与强度； 对待测样品的耐化学性。chemplex industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司，是x射线光谱仪（xrf）配件耗材领域的全球知名厂商。chemplex xrf样品杯和样品薄膜用于rohs、weee专业测试仪器盛放小颗粒固体，粉末，液体，适用于各种品牌的x射线荧光光谱仪。chemplex样品薄膜薄膜张力特性极/佳，与样品杯组合使用，适合盛放各类金属重物、液体或粉末。对特别配制的塑料和保持其物理和化学属性一致性的特别关注，使得chemplex xrf样本杯、样品薄膜在xrf物质成分分析应用范围和性能上无与伦比。chemplex的许多xrf样本杯、样品薄膜被列为新颖独特的设计和应用，并被美国专利商标局授予知识产权地位。美同达作为美国chemplex公司的中国代理商，提供chemplex所有系列用于对应欧盟rohs和weee环保检测仪器——x射线荧光光谱仪（xrf）的检测实验消耗产品！我们不仅能够为您提供样品薄膜、样品杯, 还可根据您的样品应用为您选择、定制合适的样品薄膜、样品杯。 二、适用仪器：德国斯派克spectro、英国牛津oxford、日本堀场horiba、飞利浦/帕纳科philips/panalytical、德国布鲁克 bruker、美国赛默飞世尔科技（热电）thermo，瑞士arl及日本理学rigaku, siemens, spectrace,jordan, kevex, metorex,fisons, asoma，venus 200,valley等生产的x荧光光谱仪(xrf)。（适用x 射线荧光光谱仪品牌型号：所有x射线荧光光谱仪包括：尼通(niton)：xlt797z 、xlt794、xlt898 ；伊诺斯(innov-x)：alpha6000；牛津(oxford)：met-5000；帕纳科(panalytical)：minipal4、 minipal2；精工(seiko)：sea1000a；斯派克（spectro）：xepos、midex m；热电(thermo)：arl quant’x；日本电子（jeol）jsx－3400r；horriba等。）三、spectromembrane® 样品薄膜随着spectromembrane® 样本支撑托架的面世，在处理薄膜时用户不再需要担心静电附着或潜在的污染风险或吸引空中颗粒等问题。除样本杯外，薄膜不再近距离接触其它任何物体。薄膜处理将通过使用集成的托框完成，托框能够在组装过程中自动分离，留下绷紧的薄膜样本平面。spectromembrane® 薄膜样本支撑托架由一块粘在托架上作为支撑物的薄膜样本支撑物质组成。在把薄膜物质粘在xrf样本杯上时，薄膜物质并不会被直接处理，这就消除了污染的可能性。接近完成或在完成附着时，薄膜将自动从托架上分离，留下绷紧的无皱样本支撑窗。

土壤样品杯膜、XRF測試用的麥拉膜材質、美国Premier样品膜TF-260#（SKY-260）permier新产品SKY-260: 裁剪更方便catalong NoFilm TypeSKY-115TF-115SKY-125TF-125SKY-130TF-130SKY-135TF-135SKY-160TF-160SKY-240TF-240SKY-260TF-260迈拉膜、样品薄膜、麦拉膜、XRF样品膜、XRF测试薄膜、EDX样品薄膜、EDX薄膜、样品薄膜、ROHS测试膜、X荧光光谱仪用样品膜、光谱仪样品薄膜本公司供应美国premier所有型号产品，欢迎采购，卷：(直径：3.0" (76mm)；91.4m卷/盒)序号CAT.No薄膜材料厚度1TF-260#Polypropylene膜6.0μ(0.24mil) 品名：XRF样品膜Sample Film 型号： CAT. NO TF-260# 品牌：美国Premier Lab (原装进口） 货期：现货 起订量：1盒以上。一、美国Premier XRF样品膜：美国Premier Lab Supply公司专注于X射线光谱分析XRF的样品制备领域，以高质量和全面的X射线的样品制备产品线享誉。美国Premier X-ray样品膜(X-ray Film）以其极低的（几乎不含）杂质和厚度均匀而严格生产，极好的柔韧性和抗化学腐蚀性，保证检测结果的可靠性和重现性，被广泛应用于XRF样品制备、检测过程，适用于各类X-ray光谱仪（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。X-ray Film能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测，适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。二、Premier 样品膜特点： 有卷状和片状，多种规格、尺寸、数量可供选择； 柔韧性强、方便、耐用； 的X-ray射线穿透性，适合各类XRF光谱仪； 的抗化学腐蚀性能，不溶于有机溶剂，不污染待测样品； （几乎不含）痕量杂质，特别适合于轻质元素的限量检测。三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF：日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。四、XRF样品膜目录：美国Premier X-ray样品膜种类：（1）、Hostaphan膜；（2）、Kapton膜：聚酰亚胺膜，卡普顿膜；（3）、Mylar膜：聚酯薄膜，迈拉膜，麦拉膜；（4）、Polypropylene膜：聚丙烯膜。目录编号：CAT. NO 薄膜材料 厚度 长度 数量 描述TF-260 Polypropylene膜 6.0μ(0.24mil) 76mm x 91.4m 1卷/盒 Polypropylene Rolls连续卷轴

x射线定硫仪消耗品样品薄膜，迈拉膜，样品杯Chemplex样品薄膜 型号：090，250 品牌：Chemplex 产地：美国 一、产品介绍： 在用X荧光光谱仪进行ROHS检测，WEEE检测和一般材料成分分析时，由于样品的不规则（特别是液体、粉末等），需要借助样品杯和薄膜辅助检测；但不合适的样品薄膜往往造成样品污染并影响材料成分分析的X射线信号和检测结果。 选择适当的薄膜材料对于分析结果至关重要。 在现有的众多不同的物质类型中，只有为数不多的几种具备能满足光谱化学需要的一致性和化学、物理属性。 如何选择薄膜样本支撑窗材料？ 适当的薄膜样本支撑窗的选择主要以满足首要重要的实验室要求为基础： 使用方便快捷； 避免造成待测样品污染； 优越的分析物透射比与强度； 对待测样品的耐化学性。 Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司，是X射线光谱仪（XRF）配件耗材领域的全球知名厂商。 Chemplex XRF样品杯和样品薄膜用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体，粉末，液体，适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex样品薄膜薄膜张力特性佳，与样品杯组合使用，适合盛放各类金属重物、液体或粉末。对特别配制的塑料和保持其物理和化学属性一致性的特别关注，使得Chemplex XRF样本杯、样品薄膜在XRF物质成分分析应用范围和性能上无与伦比。Chemplex的许多XRF样本杯、样品薄膜被列为新颖独特的设计和应用，并被美国商标局授予知识产权地位。 美同达为美国Chemplex公司的中国代理商，提供Chemplex所有系列用于对应欧盟ROHS和WEEE环保检测仪器——X射线荧光光谱仪（XRF）的检测实验消耗产品！ 我们不仅能够为您提供样品薄膜、样品杯, 还可根据您的样品应用为您选择、定制合适的样品薄膜、样品杯。 二、适用仪器： 德国斯派克Spectro、英国牛津Oxford、日本堀场Horiba、飞利浦/帕纳科Philips/Panalytical、德国布鲁克 Bruker、美国赛默飞世尔科技（热电）Thermo，瑞士ARL及日本理学Rigaku, Siemens, Spectrace,Jordan, Kevex, Metorex,Fisons, Asoma，Venus 200,Valley等生产的X荧光光谱仪(XRF)。 （适用X 射线荧光光谱仪品牌型号：所有X射线荧光光谱仪包括：尼通(NITON)：Xlt797z 、Xlt794、Xlt898 ；伊诺斯(Innov-X)：AlPHA6000；牛津(Oxford)：Met-5000；帕纳科(Panalytical)：Minipal4、 Minipal2；精工(Seiko)：SEA1000A；斯派克（Spectro）：XEPOS、MIDEX M；热电(Thermo)：ARL Quant’X；日本电子（JEOL）JSX－3400R；Horriba等。） 三、SPECTROMEMBRANE?样品薄膜 随着SpectroMembrane?样本支撑托架的面世，在处理薄膜时用户不再需要担心静电附着或潜在的污染风险或吸引空中颗粒等问题。除样本杯外，薄膜不再近距离接触其它任何物体。薄膜处理将通过使用集成的托框完成，托框能够在组装过程中自动分离，留下绷紧的薄膜样本平面。 SpectroMembrane?薄膜样本支撑托架由一块粘在托架上作为支撑物的薄膜样本支撑物质组成。在把薄膜物质粘在XRF样本杯上时，薄膜物质并不会被直接处理，这就消除了污染的可能性。接近完成或在完成附着时，薄膜将自动从托架上分离，留下绷紧的无皱样本支撑窗。x射线定硫仪消耗品样品薄膜，迈拉膜，样品杯106麦拉膜、CAT.NO：150麦拉膜、CAT.NO：250麦拉膜、CAT.NO：256麦拉膜、CAT.NO：257麦拉膜、CAT.NO：416、CAT.NO：426等Cat. No. Type Thickness Format Size Qty/Pack446-5 Kapton? 7.5 μm (0.3mil) Precut Circles 2.5" (63.5mm) 50090 Ultra-Polyester? 1.5μm (0.06mil) Roll 3.0" (76.2mm) 300' (91.4m)95 Etnom? 1.5μm (0.06mil) Roll 3.0" (76.2mm) 300' (91.4m)100 Mylar? 2.5μm (0.1mil) Roll 3.0" (76.2mm) 300' (91.4m)100-PP Mylar? 2.5μm (0.1mil) Roll - PrePerf 3.0" (76.2mm) 300' (91.4m)106 Mylar? 2.5μm (0.1mil) Precut Circles 2.5" (63.5mm) 500107 Mylar? 2.5μm (0.1mil) Precut Circles 2.5" (63.5mm) 1000150 Mylar? 3.6μm (0.14mil) Roll 3.0" (76.2mm) 300' (91.4m)150-PP Mylar? 3.6μm (0.14mil) Roll - PrePerf 3.0" (76.2mm) 300' (91.4m)156 Mylar? 3.6μm (0.14mil) Precut Circles 2.5" (63.5mm) 500157 Mylar? 3.6μm (0.14mil) Precut Circles 2.5" (63.5mm) 1000250 Mylar? 6.0μm (0.24mil) Roll 3.0" (76.2mm) 300' (91.4m)250-PP Mylar? 6.0μm (0.24mil) Roll - PrePerf 3.0" (76.2mm) 300' (91.4m)256 Mylar? 6.0μm (0.24mil) Precut Circles 2.5" (63.5mm) 500257 Mylar? 6.0μm (0.24mil) Precut Circles 2.5" (63.5mm) 1000美国Chemplex工业公司自1971年成立以来，一直坚持专注于X射线光谱分析的样品制备领域，拥有多系列独有的特色产品线以及产权，以质量和全面的X射线的样品制备产品线享誉全球。美国Chemplex公司一直以产品创新、质量保证、、服务周到、准时交货为原则，几乎所有的产品有库存。美同达代理美国Chemplex工业公司旗下系列产品：XRF样品杯、XRF样品膜、X-ray光谱仪样本杯、ROHS专用样品杯、符合ROHS方法的PE/PVC高分子聚合物（块/粉）、XRF/XRD化学试剂盒套包装等。全线供应给各大中石油、中石化、中海油旗下研发质检实验室，是一家专业的油品实验室进口配件耗材打包供应专家！

X射线荧光膜、土壤样品杯膜、X-RAY样品膜、Polypropylene聚丙烯膜、ROHS测试膜--美国Chemplex-3024#现货供应：XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO：106、CAT.NO：150、CAT.NO：250、CAT.NO：256、CAT.NO：257、CAT.NO：416、CAT.NO：426、CAT.NO：3014样品膜、Sample Film。品名：XRF样品膜Sample Film目录编号CAT. NO：3024产品信息：Polypropylene聚丙烯，厚度12.0μm，直径76.2mm，100片/盒品牌：美国Chemplex Industries.Inc.（原装进口）货期：现货起订量：1盒以上。XRF样品薄膜，又名X射线荧光光谱仪样品薄膜，薄膜样本支撑窗，XRF样本薄膜，XRF样品膜，X-ray样品薄膜，ROHS检测专用薄膜，迈拉膜、麦拉膜、 RoHS/WEEE优质拉伸膜，是应用于X荧光光谱仪的用于保留液体、粉末、泥浆或固体样本在XRF样本杯内的物质。有方形托架的圆片：3024 Polypropylene聚丙烯 12.0 μ 0.00050” 0.50mil 0.0127 mm 3.0”(76.2mm) 100片

目标应用： 半导体薄膜（光刻胶） 玻璃减反膜测量 蓝宝石薄膜（光刻胶） ITO薄膜 太阳能薄膜玻璃 各种衬底上的各种膜厚 卷对卷柔性涂布 颜色测量 车灯镀膜厚度 其他需要测量膜厚的场合 阳极氧化厚度产品型号A3-SR-100 产品尺寸 W270*D217*（H90+H140）测试支架（配手动150X150毫米测量平台和硅片托盘）测试方式可见光,反射 波长范围380-1050纳米光源钨卤素灯(寿命10000小时) 光路和传感器光纤式(FILBER )+进口光谱仪 入射角0 度 (垂直入射) (0 DEGREE) 参考光样品硅片光斑大小LIGHT SPOTAbout 1 mm（标配，可以根据用户要求配置）样品大小SAMPLE SIZE150mm,配150X150毫米行程的工作台和6英寸硅片托盘 膜厚测量性能指标（THICKNESS SPECIFICATION）：产品型号A3-SR-100厚度测量 1Thickness15 nm - 100 um 折射率 1（厚度要求）N 100nm and up准确性 2 Accuracy 2 nm 或0. 5%精度 3precision0.1 nm1表内为典型数值, 实际上材料和待测结构也会影响性能2 使用硅片上的二氧化硅测量，实际上材料和待测结构也会影响性能3 使用硅片上的二氧化硅（500纳米）测量30次得出的1阶标准均方差,每次测量小于1秒.

EDX迈拉膜、XRF测试薄膜、样品薄膜、XRF迈拉膜、XRF专用圆形薄膜、ROHS测试膜--美国Chemplex 106#现货供应：XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO：106、CAT.NO：150、CAT.NO：250、CAT.NO：256、CAT.NO：257、CAT.NO：416、CAT.NO：426、CAT.NO：3014样品膜、Sample Film。品名：XRF样品膜Sample Film目录编号CAT.NO：106产品信息：Mylar膜(迈拉膜、麦拉膜），厚度2.5 μm，直径63.5mm，500片/盒品牌：美国Chemplex Industries.Inc.（原装进口）货期：现货起订量：1盒以上。产品详细信息：SpectroCertified?Thin-Film Sampel SupportsMYLAR? POLYESTERPRE-CUT CIRCLES(2.5” Diameter x 63.5mm)CAT. NO：106Gauge：0.00010”，2.5 μm；0.10mil，25,400ATypical Impurities，PPM：Ca, P, Sb, Fe, ZnChemplex? INDUSTRIES，INC.Contents：500Circles； Lot No：092375。现货供应：XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO：106、CAT.NO：150、CAT.NO：250、CAT.NO：256、CAT.NO：257、CAT.NO：416、CAT.NO：426、CAT.NO：3014样品膜、Sample Film。

厂家(产地)美国材质其他薄膜型号416厚度0.004（mm）拉伸性能1透气性1品牌美国chemplex宽度76mm（mm） chemplex聚丙烯膜Polypropylene 416XRF光谱仪测试薄膜本公司供应美国chemplex所有XRF样品薄膜（有迈拉膜，聚丙烯膜等）和XRF样品杯，欢迎咨询，

土壤样品杯膜、XRF測試用的麥拉膜材質、美国Premier样品膜TF-260#（SKY-260）permier新产品SKY-260: 裁剪更方便catalong NoFilm TypeSKY-115TF-115SKY-125TF-125SKY-130TF-130SKY-135TF-135SKY-160TF-160SKY-240TF-240SKY-260TF-260迈拉膜、样品薄膜、麦拉膜、XRF样品膜、XRF测试薄膜、EDX样品薄膜、EDX薄膜、样品薄膜、ROHS测试膜、X荧光光谱仪用样品膜、光谱仪样品薄膜本公司供应美国premier所有型号产品，欢迎采购，卷：(直径：3.0" (76mm)；91.4m卷/盒)序号CAT.No薄膜材料厚度1TF-260#Polypropylene膜6.0μ(0.24mil) 品名：XRF样品膜Sample Film 型号： CAT. NO TF-260# 品牌：美国Premier Lab (原装进口） 货期：现货 起订量：1盒以上。一、美国Premier XRF样品膜：美国Premier Lab Supply公司专注于X射线光谱分析XRF的样品制备领域，以高质量和全面的X射线的样品制备产品线享誉。美国Premier X-ray样品膜(X-ray Film）以其极低的（几乎不含）杂质和厚度均匀而严格生产，极好的柔韧性和抗化学腐蚀性，保证检测结果的可靠性和重现性，被广泛应用于XRF样品制备、检测过程，适用于各类X-ray光谱仪（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。X-ray Film能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测，适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。二、Premier 样品膜特点： 有卷状和片状，多种规格、尺寸、数量可供选择； 柔韧性强、方便、耐用； 的X-ray射线穿透性，适合各类XRF光谱仪； 的抗化学腐蚀性能，不溶于有机溶剂，不污染待测样品； （几乎不含）痕量杂质，特别适合于轻质元素的限量检测。三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF：日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。四、XRF样品膜目录：美国Premier X-ray样品膜种类：（1）、Hostaphan膜；（2）、Kapton膜：聚酰亚胺膜，卡普顿膜；（3）、Mylar膜：聚酯薄膜，迈拉膜，麦拉膜；（4）、Polypropylene膜：聚丙烯膜。目录编号：CAT. NO 薄膜材料 厚度 长度 数量 描述TF-260 Polypropylene膜 6.0μ(0.24mil) 76mm x 91.4m 1卷/盒 Polypropylene Rolls连续卷轴

EDX迈拉膜、XRF测试薄膜、样品薄膜、XRF迈拉膜、XRF专用圆形薄膜、ROHS测试膜--美国Chemplex 106#现货供应：XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO：106、CAT.NO：150、CAT.NO：250、CAT.NO：256、CAT.NO：257、CAT.NO：416、CAT.NO：426、CAT.NO：3014样品膜、Sample Film。品名：XRF样品膜Sample Film目录编号CAT.NO：106产品信息：Mylar膜(迈拉膜、麦拉膜），厚度2.5 μm，直径63.5mm，500片/盒品牌：美国Chemplex Industries.Inc.（原装进口）货期：现货起订量：1盒以上。产品详细信息：SpectroCertified® Thin-Film Sampel SupportsMYLAR® POLYESTERPRE-CUT CIRCLES(2.5” Diameter x 63.5mm)CAT. NO：106Gauge：0.00010”，2.5 μm；0.10mil，25,400ATypical Impurities，PPM：Ca, P, Sb, Fe, ZnChemplex® INDUSTRIES，INC.Contents：500Circles； Lot No：092375。现货供应：XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO：106、CAT.NO：150、CAT.NO：250、CAT.NO：256、CAT.NO：257、CAT.NO：416、CAT.NO：426、CAT.NO：3014样品膜、Sample Film。

X荧光分析仪薄膜XRF样品膜、迈拉膜、麦拉膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜--美国Chemplex 257# 现货供应：XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO：106、CAT.NO：150、CAT.NO：250、CAT.NO：256、CAT.NO：257、CAT.NO：416、CAT.NO：426、CAT.NO：3014样品膜、Sample Film。 品名：XRF样品膜Sample Film 目录编号CAT. NO：257 产品信息：Mylar膜(迈拉膜、麦拉膜），厚度6.0 μm，直径63.5mm，1000片/盒 品牌：美国Chemplex Industries.Inc.（原装进口） 货期：现货 起订量：1盒以上。 产品详细信息： SpectroCertified? Thin-Film Sampel Supports MYLAR? POLYESTER PRE-CUT CIRCLES (2.5” Diameter；63.5mm) CAT. NO：257 Gauge：0.00024”，6.0 μm；0.24mil，60,960A Typical Impurities，PPM：Ca, P, Sb, Fe, Zn Chemplex? INDUSTRIES，INC. Contents：1000Circles； Lot No：100673。 现货供应：XRF样品膜、XRF测试薄膜、、EDX样品膜、EDX薄膜样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO：106、CAT.NO：150、CAT.NO：250、CAT.NO：256、CAT.NO：257、CAT.NO：416、CAT.NO：426、CAT.NO：3014样品膜、Sample Film。

本产品是对聚酰亚胺薄膜胶带进行特殊处理后，增加了防静电功能，包膜厚度：0.03mm，胶带总厚度：0.07mm，，使用温度：-75℃-260℃。

薄膜拉力测试仪、塑料薄膜拉伸强度检测、塑料薄膜剥离测试仪介绍：LQJ211万能材料试验机有着超大数显控制系统-为主机曲线、力值、速度和变形动态显示，加上电脑可实现微机操作，参数随意设定，可以做不同材料30KN以内的拉伸、压缩、弯曲、剥离、撕裂、剪切、刺破、低调疲劳等多项力学试验.可根据国际标准ISO.JIS.ASTM.DIN等国际标准和国外标准进行试验和提供数据.以windows操作系统使试验数据曲线动态显示,试验数据可以任意删加,对曲线操作更加简便.轻松.随时随地都可以进行曲线遍历.叠加.分离.缩放.打印等全电子显示监控. 薄膜拉力测试仪、塑料薄膜拉伸强度检测、塑料薄膜剥离测试仪技术参数 Main specifications 1、最大负荷Load Accuracy： 30KN（任意选） 2、荷重元精度Load Accuracy： 0.01% 3、测试精度Measuring accuracy： 4、操作方式Control： 全电脑控制,windows模式操作 5、有效试验宽度Valid width： 约420mm 6、有效拉伸空间Stroke： 约800mm 7、试验速度Tetxing speed : 0.001~500mm/min 8、速度精度 Speed Accuracy：: ± 0.5%以内； 9、位移测量精度Stroke Accuracy： ± 0.5%以内； 10、变形测量精度Displacement Accuracy： ± 0.5%以内 11、安全装置 Safety device： 电子限位保护，紧急停止键 Safeguard stroke 12、机台重量Main Unit Weight ： 约140kg

所有椅子和凳子都配有五爪支持座，其采用高强度型钢管件制成，特别结实耐用。平底设计能够防止绊倒的危险。可调节椅背高度和倾斜度座椅高度可通过气杆调整铝制五爪支持座人造革外套座垫，可洗，耐消毒剂腐蚀脚垫脚垫采用防水塑料制成，大表面设计能够提供高水平的稳定性。脚轮带负荷传感刹车的双轮脚轮必须匹配地板类型。所有椅子都标配有硬地板用软脚轮。另提供软地板用硬脚轮选件。启停技术：出于安全考虑，椅座高度超过650 mm时，则使用时将无法移动座椅。创新的启停脚轮功能使得该款椅子只有在人入座后方能移动。ESD（静电放电）指带电物体或人的静电放电。静电放电可损害微电子组件。Certifications: 符合S2级安全标准和GMP标准。根据DIN EN 61340-5-1标准的106 Ω定阻抗放电软放电实现软放电。说明高度足形脚环包装规格VWR目录号静电放电椅，黑色skai制470 - 620 mm脚轮-1VWRI132-0419

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X-RAY样品膜、XRF測試用的Prolene膜、XRF样品膜、ROHS测试膜、迈拉膜--美国Chemplex 416#现货供应：XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO：106、CAT.NO：150、CAT.NO：250、CAT.NO：256、CAT.NO：257、CAT.NO：416、CAT.NO：426、CAT.NO：3014样品膜、Sample Film。品名：XRF样品膜Sample Film目录编号CAT. NO：416产品信息：Prolene膜，卷轴，厚度4.0 μm，宽7.6cm x 长91.4m，1卷/盒品牌：美国Chemplex Industries.Inc.（原装进口）货期：现货起订量：1盒以上。产品详细信息：Pre-Perforated Thin-Film Sampel SupportsPROLENE® FILMCAT. NO：416Gauge：0.00016”，4.0 μm；0.16mil，40,640ATypical Impurities，PPM：Ca, P, Fe, Zn, Cu, Zr, Ti, AlChemplex® INDUSTRIES，INC.ROLL：3” x 300’ (7.6cm x 91.4m)； Lot No：082176。现货供应：XRF样品膜、XRF测试薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO：106、CAT.NO：150、CAT.NO：250、CAT.NO：256、CAT.NO：257、CAT.NO：416、CAT.NO：426、CAT.NO：3014样品膜、Sample Film。