在线射线测厚仪

Thermo Fisher瑞美RM300EC/瑞美RM310EC 涂层测厚仪专用X射线总成，西安威思曼高压电源有限公司推出，欢迎垂询。“冷”端涂层重量测量仪（是安装在镀锌线的出口处）能够对钢带的金属涂层（涂层成分：锌，锌/镍，锌/铝，铝，锡，铅）重量进行精准、快速及无接触式地凸度测量。这类型的重量仪也可与“热”端涂层重量仪配合起来一起使用构成一个综合的自动控制系统。 有关威思曼及其更多高压产品的信息，请致电 086-029-33693480或访问其网站：www.wismanhv.com　　威思曼高压电源有限公司,通过ISO9000:2008质量体系认证，公司拥有出色的高压电源研发团队，完善的高压电源研发软件和测试软件。全球领先的高电压绝缘技术，完善的零电流谐振技术，使威思曼高压电源始终保持高稳定性、低纹波、低电磁干扰、体积小，损耗小，效率高，长寿命。威思曼高压电源价格有竞争力，是OEM应用的理想选择。　　威思曼高压电源有限公司是世界具有领导地位直流高压电源和一体化X射线源供应商，同时提供标准化产品和定制设计服务。产品广泛应用于医疗,工业,半导体,安全,分析仪器，实验室以及海底光纤等设备。集设计，生产和服务为一体的工厂分布于美国，英国，及中国等地，并且我们销售中心遍布于欧洲，北美洲以及亚洲，我们将竭诚为您服务!

校正片又称标准箔、膜厚片，通用于所有x射线镀层测厚仪，本公司标准片规格齐全，可送检第三方出具CNAS证书，为仪器精准测试保驾护航

教学型光学薄膜测厚仪配件是一款低价台式光学薄膜厚度测量仪,可测量薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率，薄膜反射率，荧光等，也可测量膜层的厚度,光学常量（折射率n和k)。光学薄膜测厚仪配件基于白光反射光谱技术，膜层的表面和底面反射的光VIS/NIR光谱，也是干涉型号被嵌入的光谱仪收集分析，结合多次反射原理，给出膜层的厚度和光学常数（n，k)，到货即可使用，仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可，操作非常方便。光学薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚： 100nm-30微米；波长范围: 300-1000nm 探测器：650像素Si CCD阵列，12bit A/D精度：1%斑点大小：0.5mm 光源：钨灯-汞灯（360-2000nm)所测样品大小：10-150mm, 计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：320x360x180mm 重量：9.2kg光学薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量，用于化学和生物薄膜测量，传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量

聚合物薄膜测厚仪配件用于测量聚合物薄膜、有机薄膜、高分子薄膜和 光致抗蚀剂薄膜, 光刻胶膜,光刻薄膜,光阻膜在加热或制冷情况下薄膜厚度和光学常量（n, k)的变化。为了这种特色的测量，孚光精仪公司特意研发了专业的软件和算法，使得该聚合物薄膜测厚仪能够给出薄膜的物理化学指标：例如玻璃化转变温度 glass transition temperature (Tg)，热分解温度，薄膜的厚度测量范围也高达10nm--100微米。聚合物薄膜测厚仪配件在传统薄膜测厚仪的基础上添加了加热/制冷的温度控制单元，使用白光反射光谱技术（WLRS)，实时测量薄膜厚度和折射率，并通过专业软件记录下这些数据，能够快速实时给出薄膜厚度和薄膜光学常量等物理化学性能数据，并且能够控制薄膜加热和制冷的速度，是聚合物薄膜特性深入研究的理想工具。干膜测厚仪所使用的软件也适合薄膜的其他热性能研究，例如：薄膜的热消融/热剥蚀thermal ablation研究，薄膜光学性质随温度的变化，薄膜预烘烤Post Apply Bake，光刻过程后烘烤 Post Exposure Bake对薄膜厚度的损失等诸多研究。对于薄膜的厚度测量，这款聚合物薄膜测厚仪,薄膜热特性测厚仪要求薄膜衬底是透明的，背面是不反射的。它能够处理最高4层薄膜的膜堆layer stacks，给出两个参数：例如两个薄膜的厚度或一个薄膜的厚度和光学常量。这套聚合物薄膜测厚仪,薄膜热特性测厚仪已经成功应用于测量不同聚合物薄膜的热性能，光刻薄膜的热处理影响分析，Si晶圆wafer上的光致抗蚀剂薄膜分析等。聚合物薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚： 5nm-150微米；波长范围：200-1100nm 精度：0.5%分辨率：0.02nm 测量点光斑大小：0.5mm可测样品大小：10-100mm计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：360x400x180mm重量：13.5kg 电力要求：110/230VAC聚合物薄膜测厚仪配件应用聚合物薄膜测量光致抗蚀剂薄膜测量化学和生物薄膜测量，传感测量光电子薄膜结构测量半导体薄膜厚度测量在线测量光学镀膜测量聚合物薄膜厚度测量polymer films测量测量有机薄膜厚度测量光致抗蚀剂薄膜测光刻胶膜测厚测量光刻薄膜厚度测量光阻薄膜测厚测量光阻膜厚度

TT30超声波测厚仪TT30超声波测厚仪超声波测厚仪TT300 超声波测厚仪TT300（智能标准型,TT300超声波测厚仪是智能标准型超声波测厚仪超声波测厚仪TT300采用超声波测量原理，TT300超声波测厚仪适用于能使超声波以一恒定速度在其内部传播,TT300超声波测厚仪并能从其背面得到反射的各种材料厚度的测量。TT300超声波测厚仪可对各种板材和各种加工零件作精确测量，另一重要方面是可以对生产设备中各种管道和压力容器进行监测，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度。可广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。超声波测厚仪TT300基本原理　　超声波测量厚度的原理与光波测量原理相似，探头发射的超声波脉冲到达被测物体并在物体中传播，到达材料分界面时被反射回探头，通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。 超声波测厚仪TT300性能指标　　测量范围： 0.75mm～300.0mm 　　显示分辨率：0.1/0.01mm（可选）　　测量精度：± （1%H+0.1）mm H为被测物实际厚度 　　管材测量下限（钢）：&Phi 15mm× 2.0mm 　　最小厚度值捕捉模式：可选择显示当前厚度值或最小厚度值　　数据输出：RS232接口，可与TA220S微型打印机或PC连接　　数据存储：可存储500个测量值和五个声速值　　报警功能：可设置限界，对限界外的测量值能自动蜂鸣报警　　使用环境温度：不超过60℃ 　　电源：二节AA型1.5V碱性电池　　工作时间：可达100小时　　外形尺寸：152mm× 74 mm× 35 mm 　　重量：370g

彩涂湿膜测厚仪234型 -德国仪力信简单介绍大量应用与彩涂及胶水行业油漆湿膜的测量234型湿膜测厚仪是德国Erichsen(仪力信)漆膜测厚仪,包含型号:234R/I,234R/II,234R/III,234R/IV,234R/V,234R/VI,234R/VII,234R/VIII。仪器由两个经硬化和研磨的钢轮及其中间的一个偏心轮盘组成.把仪器在湿膜上滚动,然后从偏心轮沾有油漆的部份读得漆膜的厚度.可测量0-1500微米的厚度,共有8个测量范围.234型湿膜测厚仪|漆膜测厚仪|德国Erichsen(仪力信)的详细介绍234型湿膜测厚仪符合DIN,EN ISO,ISO,ASTM,BS,NF.标准。234型湿膜测厚仪|漆膜测厚仪|德国Erichsen(仪力信) 特点膜厚测量在油漆和涂料的使用和检测中起一个重要的作用。在决定外观、保护性能和持久性能时，膜厚是一个决定性的因素。涂膜太薄不能提供足够的保护并减少遮盖力。因此，必须执行技术规格所规定的最小厚度并确保这些值的一致性。另一方面，过厚的涂层是使用了太多涂料的结果，相应地增加了成本。而且，较厚的涂层并不总是意味着性能提高，如它们在干燥时间方面会有一个负面的影响。涂层的物理和机械性能取决于漆膜的厚度。如果要执行的是有意义的测试，膜厚必须均匀。湿膜测厚仪用于检查刚刚涂上的涂料，也可用于计算干膜厚度结果。如果测量与指定值有误差，必须立即采取措施改正。机械式测厚仪有一系列优点:便携、操作简单、非技术人员也可使用。结构坚固，读数一目了然。测量可在任何表面上进行。因为全部机械式，故可适用于玻璃、木材、金属或塑料基材。与其它类型的测厚仪比较，机械式测厚仪具有更好的价格。应用用于所有的平面或均匀曲面 ( 凹面和凸面 )测试原理碟形测量仪器（图 1 ）在湿膜表面滚动。在此过程中两个滚花，对中轮缘（ 1 ）在基材上滚过，当轮缘到凸轮的距离等于被测湿膜厚度时偏心凸轮（ 2 ）则会粘上涂料。设计和功能加硬、精确磨制的不锈钢测量盘直径为 50 mm ，厚 11 mm 。它包含一个铝制自由旋转滚轮使仪器能在表面滚动。 共有 8 种不同型号和测量范围 ( 见订货信息 ) 。读数刻度刻在盘的一侧，每一个仪器配一个盒子。测量程序测量 1用姆指与食指捏住仪器的导向滚轴 , 将仪器放在测试表面上，使接触点与零线相反。轻压滚动，使仪器向零线滚动，再提起。测量 2 （验证）仪器放置位置如 1 ，但以相反的方向旋转，直到它达到零线。湿膜厚度以湿膜记号出现处读出，并与相对的一侧比较，求出平均值。234型湿膜测厚仪|漆膜测厚仪|德国Erichsen(仪力信) 订货信息订货号型号测量范围读数精度0071.01.31234 R/I0~25 μm1 μm0071.02.31234 R/II0~50 μm2 μm0071.03.31234 R/III0~125 μm5 μm0071.04.31234 R/IV0~250 μm10 μm0071.05.31234 R/V0~500 μm20 μm0071.06.31234 R/VI500~1000 μm20 μm0071.07.31234 R/VII0~1000 μm50 μm0071.08.31234 R/VIII0~1500 μm50 μm

X射线荧光膜、土壤样品杯膜、X-RAY样品膜、Polypropylene聚丙烯膜、ROHS测试膜--美国Chemplex-3024#现货供应：XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO：106、CAT.NO：150、CAT.NO：250、CAT.NO：256、CAT.NO：257、CAT.NO：416、CAT.NO：426、CAT.NO：3014样品膜、Sample Film。品名：XRF样品膜Sample Film目录编号CAT. NO：3024产品信息：Polypropylene聚丙烯，厚度12.0μm，直径76.2mm，100片/盒品牌：美国Chemplex Industries.Inc.（原装进口）货期：现货起订量：1盒以上。XRF样品薄膜，又名X射线荧光光谱仪样品薄膜，薄膜样本支撑窗，XRF样本薄膜，XRF样品膜，X-ray样品薄膜，ROHS检测专用薄膜，迈拉膜、麦拉膜、 RoHS/WEEE优质拉伸膜，是应用于X荧光光谱仪的用于保留液体、粉末、泥浆或固体样本在XRF样本杯内的物质。有方形托架的圆片：3024 Polypropylene聚丙烯 12.0 μ 0.00050” 0.50mil 0.0127 mm 3.0”(76.2mm) 100片

MINITEST600-N 涂镀层测厚仪一、 MiniTest 600涂层测厚仪产品名录 MiniTest 600 系列涂层测厚仪产品主要包括两种小类型：MiniTest 600B和MiniTest 600，每种小类都可分为F型、N型、FN型三种，因此600系列测厚仪共有6种机型供选择。600B型与600型的最大区别就是600B是基本型，没有统计功能。 涂层测厚仪MiniTest600型号选择 MiniTest 600BF3(铁基体基本型，无统计功能和接口) MiniTest 600BN2(非铁基体基本型，无统计功能和接口) MMiniTest 600BFN2(两用基本型，无统计功能和接口) MiniTest 600F3(铁基体统计型) MiniTest 600N2(非铁基体统计型) MiniTest 600FN3(两用统计型) 二、 MiniTest 600涂层测厚仪的测量原理及应用 F型测头是根据磁感应原理设计的，主要测量钢铁基体上的非磁性涂镀层。例如：铝、铬、铜、锌、涂料、橡胶等，也适用于合金和硬质钢。 N型测头是根据电涡流原理设计的，主要测量非铁磁性金属和奥氏体不锈钢上的涂层。例如：铝、铜、铸锌件上的涂料、阳极氧化膜、陶瓷等。 FN型测头是同时利用磁感应原理和电涡流原理设计的，一个测头就可完成F型和N型两种测头所能完成的测量。 三、 MiniTest 600涂层测厚仪的测量中的相关注意事项 测量前一定要在表面曲率半径、基体材料、厚度、测量面积都与被测样本相同的无涂层的底材上较零，才可以保证测量的精确性； 每次测量之间间隔几秒钟以保证读数的准确性； 喷砂、喷丸表面上的涂层也可以测量，但要严格按照说明书的校准步骤进行校准； 不要用力拽或折测头线，以免线断； 严禁测量表面有酸、碱溶液或潮湿的产品，以免损坏测头； 测量时测头轴线一定要垂直于被测工作表面； 每次测量应有大于3秒的时间间隔。 四、 MiniTest 600涂层测厚仪的技术参数 测量范围 F型 0-3000um N型 0-2000um FN型（两用型） 0-3000um（F），0-2000um（N） 允许误差 ± 2um或± 2-4％读数 最小曲率半径 5mm（凸）、25mm（凹） 最小测量面积 &Phi 20mm 最小基体厚度 0.5mm（F型）、50um（N型） 测量单位 Um-mils可选 显示 4位LED数字显示 校准方式 标准校准、一点校准、二点校准、基础校准（华丰公司内） 统计数据 平均值、标准偏差、读数个数、最大值、最小值 接口 RS-232（不适合B型） 电源 2节5号碱性电池 仪器尺寸 64mmX115mmX25mm 测头尺寸 &Phi 15mmX62mm 五、 MiniTest 600涂层测厚仪的标准配置 主机和指定型号的测头一体； 5号碱性电池两节； 零板和厚度标准箔； 中英德文操作手册各一本； 六、 MiniTest 600涂层测厚仪的可选配置 便携箱； 橡胶套； 打印机MiniPrint 4100； RS-232数据接口电缆； 精密支架 数码显示器背光照明。 七、MiniTest 600涂层测厚仪的符合标准 DIN 50981，50982； ASTM B499，E367，D1186，B530，G12 BS5411 DIN EN ISO 2178，2361 八、 MiniTest 600涂层测厚仪的关于校准 标准校准：适合平整光滑的表面和大致的测量。 一点校准：置零，不用标准箔。用于允许误差不超过4％的场合。 两点校准：置零，用一片标准箔。用于误差范围在2-4％之间的测量 特殊的基础校准：此校准只能在华丰公司进行。 九、 MiniTest 600涂层测厚仪的一般维修 如果出现E03、E04、E05则一般要换探头系统+PCB板； 如果主板不上电，在排除电池原因后一般要更换主板或更换键盘； 测值不稳定，可认为探头系统频率不稳定，一般要更换探头系统； 在显示系统不能正常显示时，可更换显示系统； 更换电缆时，一定要保证电缆长度不小于1m；

Thermo Fisher瑞美RM300EC/瑞美RM310EC 涂层测厚仪专用X射线高压电源XRM30P50X3059，XRW30P50X3059，配套的X射线总成RM535E,由西安威思曼高压电源有限公司推出，现有多家钢厂使用中，欢迎来电咨询。 有关威思曼及其更多高压产品的信息，请致电 086-029-33693480或访问其网站：www.wismanhv.com　　威思曼高压电源有限公司,通过ISO9000:2008质量体系认证，公司拥有出色的高压电源研发团队，完善的高压电源研发软件和测试软件。全球领先的高电压绝缘技术，完善的零电流谐振技术，使威思曼高压电源始终保持高稳定性、低纹波、低电磁干扰、体积小，损耗小，效率高，长寿命。威思曼高压电源价格有竞争力，是OEM应用的理想选择。　　威思曼高压电源有限公司是世界具有领导地位直流高压电源和一体化X射线源供应商，同时提供标准化产品和定制设计服务。产品广泛应用于医疗,工业,半导体,安全,分析仪器，实验室以及海底光纤等设备。集设计，生产和服务为一体的工厂分布于美国，英国，及中国等地，并且我们销售中心遍布于欧洲，北美洲以及亚洲，我们将竭诚为您服务!

唐海红 13120400643451B多功能射线检测仪451B多功能射线检测仪 主要技术指标： ◆ 可探测的射线：4MeV的&alpha 射线， 100keV的&beta 射线， 7keV的&gamma 和X射线 ◆ 量程：0～500mSv/h ◆ 不确定度：± 10% ◆ 探头：349ml的电离室，可同时测量剂量率和剂量 ◆ 自动特性：自动调零、自动量程、暗时自动打开背景灯 ◆ 响应时间：0～500mSv/h量程范围内最短响应时间为2秒 ◆ 通讯接口：RS-232接口 ◆ 电源：两节9V电池，可操作200小时 ◆ 预热时间：1分钟 ◆ 环境条件：温度：-40～+70℃ ◆ 相对湿度：0～100% ◆ 体积：10× 20× 10cm ◆ 重量：1.11kg ◆ 0-50µ Sv/h、0-500µ Sv/h、0-5mSv/h、0-50mSv/h、0-500mSv/h五量程自动转换 应用领域 451B型电离室巡测仪是一种手持式电池供电的仪器，是为在恶劣环境和正常环境可使用而设计的。451B型是用来测量&alpha 、&beta 、&gamma 和X射线。451B型测量仪采用了微型处理器和液晶显示技术，并有一个用钢丝网保护树酯窗口的电离室，和一个完整的&beta 射线-屏蔽，这个屏蔽也可以为光量子测量提供一个平衡厚度。握持舒适的手柄，有一个大直径的软垫握套，是为减少长时间使用时造成的疲劳设计的。测量仪外壳由重量轻、强度高的材料所构成，且密封防潮。

多功能射线检测仪 900型多功能射线检测仪是市面上有售的性能价格比最好的数字盖革计数器。它是在2002年最新设计的成果，符合人体工程学的设计。在功能十分强大，可以提供可靠和精确的测量数据。900型多功能数字辐射仪体积小，重量轻，十分坚固，可检测&alpha 、&beta 、&gamma 和&Chi 射线，采用美国标准局制造的辐射传感器，此传感器是目前市场上性能最好的辐射传感器。 使用场合 多功能射线检测仪可广泛用在制药厂，实验室，发电厂，采石场，紧急状况营救站，金属处理厂，地下油田和供油管道装备，环境保护等部门，用于： 1.检查局部的辐射泄露和核辐射污染 2.检查周围环境的氡辐射 3.检查石材等建筑材料的放射性 4.检查有核辐射危险的填埋地和垃圾场 5.检测从医用到工业用的X射线仪器的X射线辐射强度 6.检查地下水镭污染 7.检查地下钻管和设备的放射性 8.监视核反应堆周围空气和水质的污染 9.检查个人的贵重财产和珠宝的有害辐射 10.检查瓷器餐具玻璃杯等的放射性 11.精确定位辐射源 12.家居装饰的检测 功能介绍 仪表符合人机工程学原理的外形，手感舒适 操作面板为10个薄膜开关，功能丰富，防尘防雨（不可浸入水里使用） 操作方便，只要按一个键，马上开始检测并显示大量的数据 通过辐射类型选择开关，可以分别测量&alpha 、&beta 、&gamma 射线的辐射值 可以显示当前的辐射值和所设定时间的平均辐射值 大屏幕显示，可以在同一屏幕上获得足够的信息 屏幕带时间和日期显示，待机时仍然显示时间和日期 屏幕带电池电压的显示，避免在使用过程中电量突然不足 使用锂电池，保证电池10年的使用寿命 可以设定采样时间和采样间隔，自动存储采样数据到仪表自带的大容量存储器 提供电脑接口，采样数据可以传输到电脑用专用软件进行分析 提供一个数据分析软件，功能丰富，可以显示，存储并分析辐射计获得的数据 每一个仪表都经过美国辐射保护委员会的检测，并带有唯一的检测号码 只需要每5年进行一次校准 小型化抗冲击设计，携带方便 技术参数 测量射线种类 &alpha 、&beta 、&gamma 和&Chi 射线 能量响应：&gamma &ge 20Kev；&beta &ge 0.2MeV；&alpha &ge ４MeV 测量范围 0.05 µ Sv/h - 10000 µ Sv/h 灵敏度 在1uSv/h的钴60下，108个脉冲. 或1000 cpm/mR/hr 射线选择开关 &gamma ，&beta +&gamma ，&alpha +&beta +&gamma 盖格管尺寸 长度38mm,直径9mm 模拟输出端口 RS232串行端口 显示 大屏幕LCD显示，可显示数字和棒图 报警功能 带声音报警功能 精度 1% 内部存储容量 2K 工作温度 -40℃ 到 75℃ 尺寸 163 mm× 72 mm× 30 mm 使用寿命 10年（常温下使用） 锂电池工作寿命 10年

AT6130射线检测仪简单介绍 AT6130射线检测仪 X射线及&gamma 辐射剂量率环境当量测量范围:0.1 Sv/h &ndash 10mSv/h X射线及&gamma 辐射剂量环境当量测量范围:0.1 Sv3&Beta &ndash 100mSv/h &beta 辐射流量密度测量范围:10-104p/（min.cm2） X射线&gamma 辐射能量范围 AT6130:20keV-3MeV AT6130A, AT6130B:50keV-3MeV AT6130 &beta 辐射频最大跟踪能量范围:300keV-3.5MeV 一、AT6130射线检测仪的技术参数 ： X射线及&gamma 辐射剂量率环境当量测量范围:0.1 Sv/h &ndash 10mSv/h X射线及&gamma 辐射剂量环境当量测量范围:0.1 Sv3&Beta &ndash 100mSv/h &beta 辐射流量密度测量范围:10-104p/（min.cm2） X射线&gamma 辐射能量范围 AT6130:20keV-3MeV AT6130A, AT6130B:50keV-3MeV AT6130 &beta 辐射频最大跟踪能量范围:300keV-3.5MeV 内部测量误差:± 20% 二、主要特点 1 尺寸小，重量轻 2 对话式操作模式 3 剂量，剂量率或流量密度阈值超标视听报警 4 剂量率变化迅速响应（开始新测量） 5 固定场中可选&beta 和&gamma 辐射测量 6 场条件下操作温度范围广（IP65） 7 电离辐射源&gamma 谱图可听信号跟踪 8 最大可存带有测量日期及时间的测量结果1000个 9 LCD可显示测量结果、当前日期及时间充电状态 10 可由IrDA软件将数据传输到电脑 三、仪器介绍 外观小巧的手持式辐射测量仪。 可测X射线同位素及&gamma 射线辐射剂量，&beta 射线颗粒流量密度。 四、应用： 辐射放射研究，应急监测，民防，消防，海关，潜在非法辐射源监测，工业、医药及其它企业剂量测量，钞票污染监测 五、标准配置： 测量主机AT6130（AT6130A，AT6130B），仪器专用包，操作手册，电池。 可选配件：读数器，应用软件，全套蓄电池充电器.

451B多功能射线检测仪主要技术指标： ◆ 可探测的射线：4MeV的&alpha 射线， 100keV的&beta 射线， 7keV的&gamma 和X射线 ◆ 量程：0～500mSv/h ◆ 不确定度：± 10% ◆ 探头：349ml的电离室，可同时测量剂量率和剂量 ◆ 自动特性：自动调零、自动量程、暗时自动打开背景灯 ◆ 响应时间：0～500mSv/h量程范围内最短响应时间为2秒 ◆ 通讯接口：RS-232接口 ◆ 电源：两节9V电池，可操作200小时 ◆ 预热时间：1分钟 ◆ 环境条件：温度：-40～+70℃ ◆ 相对湿度：0～100% ◆ 体积：10× 20× 10cm ◆ 重量：1.11kg ◆ 0-50µ Sv/h、0-500µ Sv/h、0-5mSv/h、0-50mSv/h、0-500mSv/h五量程自动转换 应用领域 451B型电离室巡测仪是一种手持式电池供电的仪器，是为在恶劣环境和正常环境可使用而设计的。451B型是用来测量&alpha 、&beta 、&gamma 和X射线。451B型测量仪采用了微型处理器和液晶显示技术，并有一个用钢丝网保护树酯窗口的电离室，和一个完整的&beta 射线-屏蔽，这个屏蔽也可以为光量子测量提供一个平衡厚度。握持舒适的手柄，有一个大直径的软垫握套，是为减少长时间使用时造成的疲劳设计的。测量仪外壳由重量轻、强度高的材料所构成，且密封防潮。

451B多功能射线检测仪仪器简介：451B /451P应用范围宽，可用于医学和辐射防护。可测量泄露，扩散在医用X射线周围和放射疗法的随员周围的剂量。451B/451P适用于现场和X射线生产厂的检测，正式巡检，实验室研究，生物技术，机场行李检查设备维护等场合。技术参数：检测器（电离室）230 cc 容积加压的空气电离室（451P）349 cc 容积加压的空气电离室（451B）技术指标测量范围: （451P）　　　0～500&mu R/h或0～5&mu Sv/h　　　0～5mR/h或0～50&mu Sv/h　　　0～50mR/h或0～500&mu Sv/h　　　0～500mR/h或0～5mSv/h　　　测量范围: （451B）　　　0～5mR/h或0～50&mu Sv/h　　　0～5R/h或0～50mSv/h　　　0～50R/h或0～500mSv/　　　精度 : 小于 10%（在任何范围读数）　　　校准源：137 Cs　　　开关 : 开/关和模式　　　451B 型电离室多功能射线仪具有　　　451P的全部特性，还可直接与计算机通讯，增强仪器功能。主要特点：451B多功能射线检测仪451B多功能射线检测仪高灵敏度&mu R测量剂量和剂量率得到的剂量等于能量响应（SI）单位快速响应测量泄露，扩散，针孔环境改造，抗疲劳把手和手腕带Windows下Excel进行数据处理和选择操作参数低噪音室，斜线提供快速的背景读数选择明亮的，明显的颜色自动特性: 自动调零点，自动距离休正，自动背景照明能量：451B 型电离室多功能射线仪&alpha 大于4 MeV　&beta 大于100 KeV　&gamma 大于7 KeV

苏州锂影科技有限公司薄膜气氛保护样品台产品信息薄膜气氛保护台可用于惰性气氛环境中，如手套箱内，将样品台放入气氛保护台，密封后，从手套箱取出，放到X射线衍射仪内进行测试，样品在运输和测试过程中不接触空气，不会受到水和氧气的影响。也可用于需气体氛围的原位X射线衍射测试过程中，得到依赖气体氛围变化随之变化的材料结构方面的信息等。适用于粉末、薄膜、片材等样品，反射模式或透射模式测试均适用。还可用于同步辐射等大科学装置等需要惰性气体保护的转运及测试过程中。薄膜气氛保护样品台置于X射线衍射仪中装有薄膜样品的薄膜气氛保护样品台 使用/未使用薄膜气氛保护样品台测试得到的XRD对比图苏州锂影科技有限公司为您提供高端衍射仪个性化定制服务联系电话：18943042895

这款X射线转换屏是欧洲进口的优质闪烁体转换屏,X射线荧光屏,具有全球最高的转换效率和最薄的厚度，非常适合X射线探测,电子成像、X射线成像和紫外成像应用.我们可根据用户要求提供全球领先的Al、ITO或C(铝、氧化铟锡、炭）等传导性和反射或者增透镀膜。这种X射线转换屏使用YAG:Ce晶体和LuAG:Ce晶体作为衬底，具有超薄和超高分辨率的优点（最薄可达5微米以下）。这两种闪烁体材料（YAG:Ce晶体 LuAG:Ce晶体）具有具有良好的化学、力学和温度性能，非常适合光电二极管和雪崩二极管读取。这X射线转换屏特意为电子成像、X射线成像和紫外成像应用而设计，并可以提供Al、ITO或C(铝、氧化铟锡、炭）等传导性和反射或者增透镀膜。确定成像显示屏的厚度需要考虑到合适的探测效率和高分辨率两种因素。根据多年的经验可以确定的是对于耦合在精密光学衬底上的超薄成像荧光屏而言，如果使用高灵敏度的CCD探测器照相，就X射线应用而言可以给出大约1微米的分辨率。光学衬底上的X射线转换屏,高分辨率的X射线荧光屏实际上是高效率成像系统的主要元件.我们提供基于YAG：Ce或LuAG:Ce 单晶闪烁探测器的超薄显示屏. 超薄YAG:Ce闪烁屏(左图) 和 超薄LuAG:Ce超薄闪烁屏(右图)使用这种镀在光学衬底上的X射线转换屏,X射线荧光屏,闪烁体转换屏,结合光学系统和CCD相机,可以获得优于1微米(X射线应用)和2纳米(电镜)的分辨率.光纤光学上的成像屏X射线转换屏,X射线荧光屏,闪烁体转换屏）我们可以提供耦合到FOP上的YAG:Ce和LuAG:Ce成像屏，也可与CCD耦合一起。FOP上的薄YAG:Ce闪烁屏(左图）和锥形FO上的YAG:Ce闪烁屏(右图） 我们提供的这种用成像系统获取的X射线图像的分辨率大约是20微米。我们也可以根据用户需求把成像屏耦合到光纤元件和CCD上。超薄独立成像屏： 这种超薄荧光转换屏,X射线转换屏,X射线荧光屏,闪烁体转换屏不需要与衬底耦合或其他支持物，不需要胶合在玻璃或FOP上。直径为10mm厚度为0.030mm。也可以提供更大直径的荧光转换屏,X射线转换屏,X射线荧光屏,闪烁体转换屏，但是厚度需要增加到0.050mm左右。

FJ403型个人剂量率仪主要用来检测&gamma 和X射线对人体照射的计量当量和剂量率当量率。该仪器以GM计数管为探测器，有灵敏度高，体积小，功能多等优点。适于核设施，核及辐射技术应用部门，科研等单位的个人计量检测，户外应急检测，也可用于辐射场调查和侦测探测辐射: &gamma 射线和X射线个人剂量当量：0.01uSv/h-9999mSv个人剂量当量率：0.01uSv/h-200mSv/h响应时间：1S-300S固有误差：小于5%相对误差；小于20%能量响应：小于30%外形尺寸：75mm× 52mm× 21mm重量：小于90g

纯铍加工品/铍封装一、成分 Be98%、及以上二、He泄露率 5×10-9以下[Pa・m3/s]三、标准尺寸 圆形φ10mm～φ90mm公差±0.2mm正方形宽度：0～120mm，长度～120mm公差±0.2mm，（75mm以上尺寸±0.5mm）各种形状及尺寸定制板厚板厚公差t0.03～0.10mm±0.01mmt0.10～0.30mm±0.05mmt0.30～2.0mm±0.1mm四、铍（Be) 材料在X射线中的优势 ※ 优异的X线穿透性，硬X射线：波长较短为0.05-0.1Å ，软X-射线：波长较长为0.1-10Å 。波长在0.001-2.5Å范围的为X射线，波长较短，难以穿透高密度物质，低密度的铍（Be）可以实现极强的穿透能力。吸收系数约低，意味着穿透能力越强。故：在波长为0.1-数Å的X-射线中 Be元素的穿透力大大强于Al元素※ X线照射所产生的二次放射线较少。※ 软X射线产生高密度离子，高效快速消除静电。五、铍元素的特征※ 重量轻，刚性大是铝密度的2/3，弹性系数是其3~4倍。※ 耐热性优异，在轻量金属中，融点最高。※ 声音传播速度快，音色通透明亮，“纯铍振膜”多被顶级音响及耳机采用。※ X射线的穿透率高，系数说明。铍元素 Be铝元素 Al鉄 Fe原子号41326原子量9.01326.9855.85结晶构造六方最密充填面心立方α,δ:体心立方γ:面心立方密度 [g/cm3]1.842.697.86弾性係数 [kN/mm2]27575205融点 [℃]1,2856601,530比热 [J/(kg・K)]1,779921461热传导率 [W/(m・K)]18022275线性膨胀系数 [/K]11.6×10-623.6×10-611.7×10-6声音的传播速度 [m/s]12,6006,4205,950抗拉强度[N/mm2]275-635100-490600-650屈服强度 [N/mm2]205-410100-410205-235延伸率 [%]1-203050-60六、应用领域※ 医疗行业※ 光电离 ※ X线分析设备 ※ X线安检设备 ※ 电子显微镜※ 同步辐射实验室※ 伽马射线探测

这款X射线荧光屏是欧洲进口的优质闪烁体转换屏,X射线荧光屏,具有全球最高的转换效率和最薄的厚度，非常适合X射线探测,电子成像、X射线成像和紫外成像应用.我们可根据用户要求提供全球领先的Al、ITO或C(铝、氧化铟锡、炭）等传导性和反射或者增透镀膜。这种X射线荧光屏使用YAG:Ce晶体和LuAG:Ce晶体作为衬底，具有超薄和超高分辨率的优点（最薄可达5微米以下）。这两种闪烁体材料（YAG:Ce晶体 LuAG:Ce晶体）具有具有良好的化学、力学和温度性能，非常适合光电二极管和雪崩二极管读取。中国领先的进口X射线成像系统旗舰型服务商--孚光精仪！这X射线荧光屏特意为电子成像、X射线成像和紫外成像应用而设计，并可以提供Al、ITO或C(铝、氧化铟锡、炭）等传导性和反射或者增透镀膜。确定成像显示屏的厚度需要考虑到合适的探测效率和高分辨率两种因素。根据多年的经验可以确定的是对于耦合在精密光学衬底上的超薄成像荧光屏而言，如果使用高灵敏度的CCD探测器照相，就X射线应用而言可以给出大约1微米的分辨率。光学衬底上的X射线荧光屏,高分辨率的X射线荧光屏实际上是高效率成像系统的主要元件.我们提供基于YAG：Ce或LuAG:Ce 单晶闪烁探测器的超薄显示屏. 超薄YAG:Ce闪烁屏(左图) 和 超薄LuAG:Ce超薄闪烁屏(右图)使用这种镀在光学衬底上的X射线转换屏,X射线荧光屏,闪烁体转换屏,结合光学系统和CCD相机,可以获得优于1微米(X射线应用)和2纳米(电镜)的分辨率.光纤光学上的成像屏X射线转换屏,X射线荧光屏,闪烁体转换屏）我们可以提供耦合到FOP上的YAG:Ce和LuAG:Ce成像屏，也可与CCD耦合一起。FOP上的薄YAG:Ce闪烁屏(左图）和锥形FO上的YAG:Ce闪烁屏(右图） 我们提供的这种用成像系统获取的X射线图像的分辨率大约是20微米。我们也可以根据用户需求把成像屏耦合到光纤元件和CCD上。超薄独立成像屏： 这种超薄荧光转换屏,X射线转换屏,X射线荧光屏,闪烁体转换屏不需要与衬底耦合或其他支持物，不需要胶合在玻璃或FOP上。直径为10mm厚度为0.030mm。也可以提供更大直径的荧光转换屏,X射线转换屏,X射线荧光屏,闪烁体转换屏，但是厚度需要增加到0.050mm左右。

超声波测厚仪DM4Krautkramer超声波测厚仪DM4系列，小巧轻便，操作简单，功能卓越。其中DM4测厚仪和DM4DL测厚仪特有的DUAL-MULTI模式--即测量穿过涂层的操作模式，在被测物表面有油漆时，无需去除油漆而测量材料的净厚度。 基本型-DM4E超声波测厚仪 - 可配标准、超厚、超薄和高温探头 - 自动探头识别、V声程校正、零位校正 - 带最小读数显示和存储的最小测量模式 标准型-DM4超声波测厚仪 在DM4E测厚仪基础上附加以下功能 - 穿过涂层测量厚度的操作模式 - 在不同模式的壁厚测量 - 极值LED报警 存储型-DM4DL超声波测厚仪 在DM4测厚仪基础上附加以下功能 - 数据记录仪可存储5390个数据 - RS232接口可接打印机和计算机 超声波测厚仪DM4E/DM4/DM4DL技术参数 测量范围 分辨率 声速 测量刷新速率 显示 存储 接口 电源 操作温度 尺寸 重量 0.6～300mm(铁) 小于99.99mm时为0.01mm；大于99.99mm时为0.1mm； 1000～9999m/s 标准4Hz，最小测量模式时为25Hz 4位LCD背光数显 5390个读数(只适用于DM4DL) RS232接口(只适用于DM4DL) 两节5号电池，无背光时可使用200小时 -10～50℃ 146x76x34mm 255g 超声波测厚仪DM4E/DM4/DM4DL常用探头技术数据 名称 型号 测量范围 频率 探头接 触直径 工作温度 测量最小 钢管直径 探头线型号 标准探头 DA301 1.2～200mm 5MHz 12.1mm -20～60℃ 25mm DA231 超厚探头 DA303 5.0～300mm 2MHz 16.2mm -20～60℃ 127mm DA231 超薄探头 DA312 0.6～50mm 10MHz 7.5mm -20～60℃ 20mm DA235 超薄探头 DA312B16 0.7～12mm 10MHz 3.0mm -20～60℃ 15mm 自带导线 高温探头 DA305 4.0～60mm 5MHz 16.2mm 10～600℃ DA235 高温探头 HT400 1.0～254mm 5MHz 12.7mm 10～540℃ 50mm KBA535 注： 所示温度为厂家理想状态试验所得，实际温度会低于此温度。注意高温耦合剂的正确使用方法。 测试高温表面时需用高温耦合剂。 标准配置 主机 DA301探头 DA231导线 耦合剂 两节5号电池 仪器软包 中英文说明书 仪器箱

苏州锂影科技有限公司X射线衍射仪用多位粉末样品架产品信息X射线衍射仪用多位粉末样品架为锂影科技为日本理学smartlab衍射仪开发的一种部件，已经获得专利授权（201922379738.4）。也可以针对其它公司的各种衍射仪进行改造。 该样品架配合衍射仪的XY样品台使用，可以实现5个粉末样品的自动位置切换、高度对准以及XRD的测试，大大提升了仪器操作的便捷性。尤其是可以用其在夜间进行多个样品的自动连续测试，可以提高仪器测试效率。 耗材配件售后服务1、免费上门安装：否 2、保修期：1年 3、是否可延长保修期：是4、保内维修承诺：免费维修或更换5、报修承诺：24小时内响应，7日内解决问题6、免费仪器保养：无7、免费培训：1人次网上培训8、现场技术咨询：有 苏州锂影科技有限公司为您提供高端衍射仪个性化定制服务

X射线探测器是一种位置灵敏性的探测器 （Position sensitive detector, PSD), 非常适合各种X射线衍射仪探测器的使用。X射线探测器具有专利技术的X射线衍射仪探测器使用坚固的blade anode技术，而不是基于传统微光子技术，它不需要维护，不受X射线束的影响。X射线探测器特点先前的PSD探测器基于fragile wire anode technology，这种技术的探测器噪音较大，而且很容易被较强的X射线损坏。为了克服这个问题，法国Inel公司投入大量人力研发了这种PSD新型X射线探测器，使用钢合金替代原有材料，使得X射线探测器非常坚固而且不易被损伤。PSDX射线衍射仪探测器可用于粉末，固体和液体的实时X射线实验。X射线探测器,X射线衍射仪探测器弧形设计，具有110度，120度和90度的弧度共用户选择。该X射线探测器,X射线衍射仪探测器全固化设计制造，代替了传统的机械扫描装置。这款PSDX射线衍射仪探测器可用于粉末，固体和液体的实时X射线实验。X射线探测器,X射线衍射仪探测器弧形设计，具有110度，120度和90度的弧度共用户选择。该X射线探测器,X射线衍射仪探测器全固化设计制造，代替了传统的机械扫描装置。

各种相关耗材，用于X射线衍射仪上使用。

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451B /451P多功能射线仪451B /451P多功能射线仪 451B /451P 应用范围宽，可用于医学和辐射防护。可测量泄露，扩散在医用X射线周围和放射疗法的随员周围的剂量。 451B/451P 适用于现场和X射线生产厂的检测，正式巡检，实验室研究，生物技术，机场行李检查设备维护等场合。 仪器特点： 高灵敏451B /451P应用范围宽，可用于医学和辐射防护。可测量泄露，扩散在医用X射线周围和放射疗法的随员周围的剂量。 451B/451P适用于现场和X射线生产厂的检测，正式巡检，实验室研究，生物技术，机场行李检查设备维护等场合。 仪器特点： 高灵敏度&mu R测量剂量和剂量率 得到的剂量等于能量响应（SI）单位 快速响应测量泄露，扩散，针孔 环境改造，抗疲劳把手和手腕带 Windows下Excel进行数据处理和选择操作参数 低噪音室，斜线提供快速的背景读数 选择明亮的，明显的颜色 自动特性: 自动调零点，自动距离休正，自动背景照明 能量：451B 型电离室多功能射线仪&alpha 大于4 MeV　&beta 大于100 KeV　&gamma 大于7 KeV 技术参数： 检测器（电离室） 230 cc 容积加压的空气电离室（451P） 349 cc 容积加压的空气电离室（451B） 技术指标 测量范围: （451P） 　　　0～500&mu R/h或0～5&mu Sv/h 　　　0～5mR/h或0～50&mu Sv/h 　　　0～50mR/h或0～500&mu Sv/h 　　　0～500mR/h或0～5mSv/h 　　　测量范围: （451B） 　　　0～5mR/h或0～50&mu Sv/h 　　　0～5R/h或0～50mSv/h 　　　0～50R/h或0～500mSv/ 　　　精度 : 小于 10%（在任何范围读数） 　　　校准源：137 Cs 　　　开关 : 开/关和模式 　　　451B 型电离室多功能射线仪具有 　　　451P的全部特性，还可直接与计算机通讯，增强仪器功能。

富兰德 X射线硫含量测定仪 X射线荧光 GB/T11140符合GB/T11140、GB/T17040、 ASTM D4294所规定的要求技术参数1、分析范围：50PPM-5%。2、分析范围宽度： S % max—S % min≤5%； 例如石油：S：0.001~5%。3、固有误差、分析精度:石油,符合国家标准GB/T 17040 , 同时符合美国国家标准ASTM D4294的相关要求。4、系统分析时间： 1～999秒，推荐值为60秒。5、检测限：10ppm6、使用条件：环境温度：5~+40℃，相对湿度：≤85%，7、供电电源：220V±20V，50Hz，整机功耗：

X射线荧光膜、土壤样品杯膜、X-RAY样品膜、Etnom® 、ROHS测试膜--美国Chemplex-3029# 现货供应：XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO：106、CAT.NO：150、CAT.NO：250、CAT.NO：256、CAT.NO：257、CAT.NO：416、CAT.NO：426、CAT.NO：3014样品膜、Sample Film。 品名：XRF样品膜Sample Film目录编号：CAT. NO：3029产品信息：Etnom® ，厚度2.5μm，直径63.5m，100片/盒品牌：美国Chemplex Industries.Inc.（原装进口）货期：现货起订量：1盒以上。 CAT. NO：3029：Etnom® 2.5μ 0.00001” 0.10mil 0.00254 mm 2.5”(63.5mm) 100片

针对计算机硬件的更新换代，一些旧版本操作系统，已不能满足 客户需要。针对这种情况，我公司可根据现有的X射线能谱仪，进 行系统升级或更新。必要时也可更新探头构成新能谱系统。 改造工作采用新的设计思想，在使用原有探测器并保持原有能 谱分辨率的基础上研制了除探测器和前置放大器以外的所有部 件。同原仪器相比，改造后的系统充利用了当今已高度发展了 的计算机技术和电子技术。系统整体性能有所提高，运算速度 快，操作方式简单。而且因采用通用机系列，使你再无难维修 的烦恼。主要软件功能 1、谱数据的实时采集与显示。实时计数率显示。 2、自动背底扣除，任意多点手动扣背底及背底拟合等多种背底扣 除方法。 3、全自动定性分析。 4、全标样、部分标样和无标样定量分析。 5、厚样品和薄样品分析。 6、由元素周期表接口设置感兴趣区域、氧化物表达式，操作 方便。 7、方便的增益、零点校正。 8、返送到电镜观察屏上的面分布和线扫描功能。 9、同时一次收集多个元素面分布或线扫描图到计算机内并精确叠 加到二次电子图象上(须配电镜联机图象处理系统)。 10、可与电镜联机图象处理系统共用一台计算机构成能谱图象 系统。

德国K.K超声波测厚仪DM4的具体介绍： 德国K.K(KrautKramer)公司超声波测厚仪DM4系列，小巧轻便，操作简单，功能卓越。其中DM4和DDSM4DL特有的DUAL-MULTI模式--即测量穿过涂层的操作模式，在被测物表面有油漆时，无需去除油漆而测量材料的净厚度。 DM4E基本型29000元 德国产品，质量保证 可配标准、超厚、超薄和高温探头自动探头识别、V声程校正、零位校正带最小读数显示和存储的最小测量模式 DM4标准型附加功能31000元 测量穿过涂层厚度的操作模式在不同模式的壁厚测量极值LED报警 DM4DL存储型附加功能39000元 数据记录仪可存储5390个数据RS232接口可接打印机和计算机 德国K.K超声波测厚仪DM4系列技术参数： 　 测量范围 0.6～300mm(铁) 分辨率 小于99.99mm时为0.01mm；大于99.99mm时为0.1mm； 声速 1000～9999m/s 声速 标准4Hz，最小测量模式时为25Hz 显示 4位LCD背光数显 存储 5390个读数(只适用于DM4DL) 接口 RS232接口(只适用于DM4DL) 电源 两节5号电池，无背光时可使用200小时 操作温度 -10～50℃ 尺寸 146× 76× 34mm 重量 255g 德国K.KDM4超声波测厚仪系列探头参数 名称 型号 测量范围 频率 探头接触直径 工作温度 使用探头导线型号 标准探头 DA301 1.2-200mm 5MHz 12.1mm 60℃ DA231 超厚探头 DA303 5.0-300mm 2MHz 16.2mm 60℃ DA231 超薄探头 DA312 0.6-50mm 10MHz 7.5mm 60℃ DA235 超薄探头 DA312B16 0.7-12mm 10MHz 3.0mm 60℃ 自带导线 高温探头 DA305 4.0-60mm 5MHz 16.2mm 600℃* DA235 高温探头 HT400 1.0-254mm 5MHz 12.7mm 540℃* KBA535

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