宇时先锋测厚仪

概述　　穿透超声波测厚仪采用超声波测量原理，适用于能使超声波以一恒定速度在其里面传播，并能从其背面得到反射的材料厚度的测量。　　此仪器可对板材和加工零件做准确测量，另一重要方面是可以对生产设备中管道和压力容器进行监测，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度。可应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。　　穿透超声波测厚仪主要功能　　● 采用“回波-回波”技术，可以实现超薄件的测量，最小厚度(钢)可达0.15mm 另一方面可以实现高精度测厚，分辩率可达0.001mm 还可以穿透表面镀层厚度测量基材厚度 　　● 增加穿透涂层测量基体厚度功能 　　● 两种测量：模式底波-回波模式满足常规厚工件测量 回波-回波模式满足薄工件测量精度高) 　　● 探头放在测厚仪试块上按键自动调零 　　● 有LED背光显示，方便在光线昏暗环境中使用 　　● 具有声速校准(反测声速)或单点校准功能 　　● 可以进行报警设置和差值模式设置 　　● 公英制转换 毫米和英寸可切换单位 　　● 可存储5种不同材料的声速。　　适用材料　　适合测量金属(如钢、铸铁、铝、铜等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃、玻璃纤维及其他超声波的良导体的厚度。　　基本原理　　超声波测量厚度的原理与光波测量原理相似。探头发射的超声波脉冲到达背测物体并在物体中传播，到达材料分界面时被反射回探头，通过准确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。

仪器简介：测厚仪产品展台为您精选德国BYK-Gardner湿膜测厚仪产品，欢迎您来电咨询BYK-Gardner湿膜测厚仪产品的详细信息！3501湿膜测厚仪 3504湿膜测厚仪,不同湿膜测厚仪测量范围也不同.对于新涂装的涂料进行湿膜厚度的测量是非常重要的。一方面，湿膜厚度影响产品的涂装质量，另一方面过厚的涂装将会很昂贵。按照不同的施工方法，建议使用湿膜测厚仪测量湿膜厚度。BYK-Gardner提供梳子状或阶梯状的湿膜测厚仪(梳规)。湿膜测厚仪-梳子状该梳子测厚仪是尺状的，在六个面的两端都有支撑基点，每个面均有不同长度的齿。六角型的测厚仪由耐腐蚀的不锈钢制成。技术参数：湿膜测厚仪 对于新涂装的涂料进行湿膜厚度的测量是非常重要的。一方面，湿膜厚度影响产品的涂装质量，另一方面过厚的涂装将会很昂贵。按照不同的施工方法，建议使用湿膜测厚仪测量湿膜厚度。BYK-Gardner提供梳子状或阶梯状的湿膜测厚仪(梳规)。湿膜测厚仪-梳子状该梳子测厚仪是尺状的，在六个面的两端都有支撑基点，每个面均有不同长度的齿。六角型的测厚仪由耐腐蚀的不锈钢制成。 湿膜测厚仪操作步骤： 测量时，将量程范围与漆膜估计厚度相近的那个面垂直地压入湿膜。 将湿膜测厚仪从湿膜中移出。 湿膜厚度应是在被湿膜浸润的那个最短的齿及邻近那个没有被浸到的齿之间。 3501湿膜测厚仪 测量范围：25-2000um 外径尺寸：90mm 3504湿膜测厚仪 测量范围：5-150um 外径尺寸：58mm主要特点：湿膜测厚仪-梳子状该梳子测厚仪是尺状的，在六个面的两端都有支撑基点，每个面均有不同长度的齿。六角型的测厚仪由耐腐蚀的不锈钢制成。

CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，严格按照标准方法进行测量，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。产品特点◎ 微电脑控制系统，大液晶显示、PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看。◎ 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制。◎ 测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差。◎ 支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择。◎ 系统自动进样，进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定。◎ 实时显示测量结果的Z大值、Z小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断。◎ 配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性。◎ 系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果。◎ 标准的USB接口，便于系统与电脑的外部连接和数据。 测试原理CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，截取一定尺寸的式样；通过控制面板按钮，调节测量头降落于式样之上；依靠两个接触面产生的压力和两接触面积通过传感器测得的数值测量材料的厚度。测试标准该仪器符合多项国家和国标标准：ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672 、GB/T 451.3、 GB/T 6547、 ASTM D374、ASTM D1777TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817。 售后服务承诺三月内只换不修，一年质保，终身提供。快速处理，1小时内响应问题，1个工作日出解决方案。 体系荣誉资质ISO9001：2008质量体系认证、计量合格确认证书、CE认证、软件著作权、产品实用新型、外观设计。实力铸造品牌三大研发中心，两条独立生产线，一个综合体验式实验室。赛成自2007年创立至今，全球用户累计成交产品破万台，完善四大产品体系，50多种产品。

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高精度测厚仪_薄膜厚度测量仪_接触式测厚仪CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，严格按照标准方法进行测量，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。产品特点◎ 微电脑控制系统，大液晶显示、PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看。◎ 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制。◎ 测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差。◎ 支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择。◎ 系统自动进样，进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定。◎ 实时显示测量结果的Z大值、Z小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断。◎ 配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性。◎ 系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果。◎ 标准的USB接口，便于系统与电脑的外部连接和数据。高精度测厚仪_薄膜厚度测量仪_接触式测厚仪测试原理CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，截取一定尺寸的式样；通过控制面板按钮，调节测量头降落于式样之上；依靠两个接触面产生的压力和两接触面积通过传感器测得的数值测量材料的厚度。测试标准该仪器符合多项国家和国标标准：ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672 、GB/T 451.3、 GB/T 6547、 ASTM D374、ASTM D1777TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817。 售后服务承诺三月内只换不修，一年质保，终身提供。快速处理，1小时内响应问题，1个工作日出解决方案。 体系荣誉资质ISO9001：2008质量体系认证、计量合格确认证书、CE认证、软件著作权、产品实用新型、外观设计。实力铸造品牌三大研发中心，两条独立生产线，一个综合体验式实验室。赛成自2007年创立至今，全球用户累计成交产品破万台，完善四大产品体系，50多种产品。

分体式涂层测厚仪是一种常用的无损检测工具，它能够在不破坏涂层的前提下，精确地测量涂层的厚度。由于其准确性和便捷性，仪器在工业生产、质量控制和科研实验中得到了广泛的应用。　　该仪器具有诸多优点。首先，它是一种非接触式的测量方法，不会对涂层造成任何损伤。其次，该仪器的测量速度非常快，可以在短时间内完成大量的测量工作。此外，它还具有高精度和高稳定性，能够提供可靠的测量结果。最后，仪器还具有便携性和易用性，方便用户在不同场合进行使用。　　在实际应用中，分体式涂层测厚仪被广泛应用于各种领域。在工业生产中，它常用于涂层质量的控制和监测，以确保产品符合质量要求。在科研实验中，该仪器则可以为科研人员提供精确的涂层厚度数据，有助于他们更好地了解涂层的性能和特性。此外，在建筑工程、文物保护和航空航天等领域，该仪器也发挥着重要的作用。概述该仪器采用磁性测量方法，可检测磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度(如钢、铁、合金和硬磁性钢上的铝、铬、铜、锌、锡、橡胶、油漆等)本仪器能应用在电镀、防腐、化工、汽车、造船、轻工、商检等检测领域。既可用于实验室，也可用于工程现场。它是检测行业的重要仪器。主要功能● 具有两种测量方式：连续测量和单次测量方式；● 具有两种工作方式：直接和成组方式；● 具有自动统计功能：平均值（MEAN）、最大值（MAX）、最小值（MIN）、测试次数（NO．）、标准偏差（S．DEV）；● 可采用单点校准和两点校准两种方法对仪器进行校准，并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正；● 存储功能：可存4 个校正工件可保存。分2类工件，每类26组，每组15个，共1560个测值；● 删除功能：对测量中出现的单个可疑数据进行删除，也可删除存储区内的数据，以便进行新的测量；● 设置限界：对限界外的测量值能自动报警；● 具有电源欠压指示功能，操作过程有蜂鸣声提示，自动关机方式。

一、超声波测厚仪产品概述:本仪器是智能型超声波测厚仪，采用最新的高性能、低功耗微处理器技术，基于超声波测量原理，可以测量金属及其它多种材料的厚度，并可以对材料的声速进行测量。可以对生产设备中各种管道和压力容器进行监测，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度，也可以对各种板材和各种加工零件作精确测量。本仪器可广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等多个领域。二、超声波测厚仪技术参数:项目单位性能指标和功能显示方法高对比度的128*64液晶显示，高亮度EL背光；测量范围mm0.75 ~ 600.0（钢）材料声速m/s1000 ~ 9999分辨力mm0.01示值精度误差mm测量范围 0.28 ~ 3.3时，分辨力0.01，允许误差±0.05测量范围3.3 ~ 99.99时，分辨力0.01，允许误差±（1‰H+0.04）测量范围100.0 ~ 300.0时，分辨力0.01，允许误差±3‰H测量范围300.0 ~ 600.0时，分辨力0.01，允许误差±5‰H注：H为测量的厚度测量周期单点测量时每秒钟6次；校正模式配机试块4mm自动校正 /用户自定义校正（单点校正 /双点校正）测量功能最小读数俘获、平均测量、设限测量、差值测量 等软件功能可选测量模式R-B1（发射脉冲至一次回波）动态测声速功能可利用输入已知厚度，动态扫查测读被测工件的声速智能电源功能开机闲置一段时间后，仪器会自动关机电池低压指示蜂鸣器校准提示、超限提示存储40组测厚数据（仅测量值，声速值）40组参数数据集（包括测量值、仪器设置等参数）语言中文/英文 可选单位制式公制（mm）/英制（inch）可选工作时间h≥30供电模式二节5号电池工作温度℃-10 ~ 40重量g约245g（含电池）尺寸mm145mm×74mm×32 mm（高×宽×厚）三、超声波测厚仪主要功能:l适合测量金属(如钢、铸铁、铝、铜等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纤维及其他任何超声波的良导体的厚度；l可配备多种不同频率、不同晶片尺寸的探头使用；l已知厚度可以反测声速，以提高测量精度；l具有耦合状态提示功能；l有EL背光显示，方便在光线昏暗环境中使用；l有剩余电量指示功能，可实时显示电池剩余电量；l具有自动休眠、自动关机等节电功能；l小巧、便携、可靠性高，适用于恶劣的操作环境，抗振动、冲击和电磁干扰；四、超声波测厚仪工作原理:本超声波测厚仪对厚度的测量，是由探头产生超声波脉冲透过耦合剂到达被测体，一部分超声信号被物体底面反射，探头接收由被测体底面反射的回波，精确地计算超声波的往返时间，并按下式计算厚度值，再将计算结果显示出来。式中： H－测量厚度； v－材料声速；t－超声波在试件中往返一次的传播时间。

机械接触式测厚仪在生产和生活领域，纸张、瓦楞纸、卷烟纸、接装纸和电绝缘纸等材料的厚度是质量的关键指标。厚度直接影响到这些材料的结构强度、耐用性和功能性能。因此，厚度测量在纸品生产和使用中具有举足轻重的地位。本文将介绍一种接触式测厚仪，它针对上述材料提供高精度的厚度测量，帮助您轻松解决厚度问题。 对于纸张、瓦楞纸、卷烟纸、接装纸和电绝缘纸等材料，测厚仪采用基于位移的测量原理。探针在受到压力后向下位移，位移量对应材料的厚度。一般情况下，厚度与位移成线性关系，这种关系由设备的标定过程确定。 测厚仪在纸张、瓦楞纸、卷烟纸、接装纸和电绝缘纸等材料的生产和应用过程中发挥着重要作用。通过接触式测量方式，测厚仪能够提供高精度的厚度数据，帮助企业实现生产过程的精细化控制，提高产品质量和生产效率。此外，测厚仪还可以用于产品质量的在线检测，及时发现并解决潜在问题，减少废品率，降低生产成本。 接触式测厚仪在纸张、瓦楞纸、卷烟纸、接装纸和电绝缘纸等材料的厚度测量方面具有显著优势。它不仅提供了高精度的测量结果，而且为生产过程中的质量控制提供了有力支持。随着科技的不断发展，我们有理由相信测厚仪将在未来的生产实践中发挥更大的作用，推动纸品制造业不断向前迈进。 技术参数 测量范围 0-2mm （其他量程可定制） 分辨率 0.1um 测量速度 10次/min（可调） 测量压力 17.5±1kPa（薄膜）；100±1kPa（纸张） 接触面积 50mm² （薄膜），200mm² （纸张） 注：薄膜、纸张任选一种 进样步矩 0 ～ 1300 mm(可调) 进样速度 0 ～ 120 mm/s(可调) 机器尺寸 450mm×340mm×390mm (长宽高) 重 量 23Kg 工作温度 15℃-50℃ 相对湿度 80%,无凝露 试验环境 无震动，无电磁干扰 工作电源 220V 50Hz 机械接触式测厚仪 此为广告

LensThick 非接触式光学测厚仪 测量原理： LensThick非接触式光学测厚仪利用低相干光干涉测量方法来测量厚度，以宽谱光源作为相干光源，其相干长度短，只有在测量光和参考光的光程相等时才能产生干涉峰值，因此具有很好的空间定位特性，测厚仪内置光学干涉仪，通过计算透镜前后镜面顶点对应干涉峰之间的距离变化可以得出透镜的厚度。 典型应用:光学元件和透镜组件：测量单个镜片以及镜头组包括空气间隔隐形眼镜和人工晶状体：测量中间厚度、矢高和群折射率医用导管窥镜：可同时测量管壁厚、内径和外径LCD、LED、OLED和AMOLED显示屏：测量总厚度和各层厚度，包括LOCA（液体光学透明粘合剂）层半导体：硅/砷化镓晶片抛光玻璃：测量化学腐蚀前后的厚度或抛光工艺，使玻璃板更薄、更轻。 主要优势：非接触式测量，不会造成元件表面损坏或变形。用于定位测量位置的可见光束。可同时测量31层厚度。精度±0.1微米。测量重复性达±0.02微米。基于内部固有长度标准，实时显示测量数据。测量结果可追溯至NIST标准。测量物理厚度可达16微米（折射率1.5时）。集成装置，操作简便。 设备介绍: LensThick光学测厚仪的操作简单，每次可轻松获得可靠的厚度值。测量数据经过数字信号处理器计算，通过USB传输到PC，再以图形的形式显示在用户界面，可直接读取每层厚度值，操作更简单、更直观。 测量过程： （1）将光学测量头对准被测产品。 （2）激光通过光学测量头照射到材料表面。 （3）光学测量头收集反射光并将其返回到系统的干涉仪进行分析。 （4）测量数据通过USB传输到电脑。 （5）LensThick软件用于显示测量结果、设置参数及输出数据报告。 测量软件： 光学测厚仪使用LensThick软件可实时显示被测试产品的厚度和干涉信号，以便实时优化。 自动峰值模式：使用操作员创建的样品设计文件，可以定义32个反射面（31层）的预期峰值位置，软件可自动识别在指定的阈度内接近预期峰值位置的峰值，从而计算并输出每层的厚度。此外，软件还带有判据功能，即超出设计值的公差范围，数据显示为红色。这些功能对质量控制是非常快速的。 规格参数LensThick 系列型号12-1 UP12-140-1 UP40-1厚度测量方法非接触式光学干涉法光学厚度(折射率为1的空气间隔)12 mm40 mm物理厚度(折射率为1.5的材料)8 mm26 mm**小物理厚度(折射率为1.5的材料)16 μm35 μm20 μm35 μm精度 1,2±0.1 μm±1 μm±0.1 μm±1 μm重复性 3,4±0.02 μm±0.05 μm±0.02 μm±0.05 μm可溯源NIST认证标准单位mm、μm、mils测量频率20 Hz7 Hz仪器接口USB2.0及以上接口电脑配置 Windows 7/8/10,1GB内存，USB2.0以上接口，显示器，键盘，鼠标环境 5热机时间无温度15℃ 到 30℃ （存储 -10℃ 到 +70℃）压力500 — 900 mm Hg湿度在+40℃时 ≤90** R.H. （无冷凝）主机尺寸和重量尺寸600mm×590mm×370mm（长×宽×高）重量42㎏支架尺寸和重量尺寸350mm×350mm×590mm（长×宽×高）重量15㎏功率90-264 VAC，47-63 Hz，80 VA质保期1年⑴ 定义为测量不确定度或很大厚度误差，置信度≥99.7**。⑵ 整个运行环境条件的不确定性。⑶ 60分钟测量周期的标准偏差。 ⑷ 取决于被测材料在1.3μm波长下的反射率。该规格书是在4**反射条件下给出的. 当反射条件较低时，重复性**坏会降低到约±0.15μm。⑸ 特性性能，但不是一定的。

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产品特色：● 多种探头可选，实现特殊测量需求● 自动统计量：平均值（MEAN）、最大值（MAX）、最小值（MIN）、测试次数（NO.）、标准偏差（S.DEV）● 仪器校准采用两种方法，精度更高● 中英文菜单显示，操作更加直观便捷● 液晶显示器具有背光照明功能，暗光线下方便读数● 具有删除功能，对测量的单个或所有数据进行删除● 配有一体化打印机，实现测量数据实时打印● 电源欠压指示，智能充电● 操作过程有蜂鸣声，并配有错误提示功能 产品原理： 磁性涂层测厚仪：测量永久磁铁（侧头）和基体金属之间由于存在覆盖层而引起磁引力的变化；或者是测量通过覆盖层与基体金属磁路磁阻的变化。可以无损伤地测量磁性金属基本体上非磁性覆盖层的厚度（如 钢、铁、合金和硬磁性钢 上的 锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆 等） 涡流涂层测厚仪：利用侧头装置所产生的高频磁场，使置于侧头下面的导体产生涡流，其振幅和相位是导体与侧头之间的非导电覆盖层厚度的函数。可无损测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度（如 铜、铝、锌、锡 等金属上的 油漆、橡胶、塑料、氧化膜 等）行业应用： 航空材料覆层测厚：涡轮叶片是航空航天领域一种重要的配件，涡轮叶片经常会镀有一层薄薄的涂层，涡轮叶片涂层可提高涡轮片耐磨损和防腐蚀性能,覆层厚度一般为5-20um左右，膜层越厚，耐磨性能和抗腐蚀性能更好。时代高精度涂层测厚仪可以精确测量使用中的涡轮叶片涂层厚度，提前预警涡轮叶片性能，保障航飞的安全。 油漆覆层测厚：钢结构工程施工质量验收规范（GB50205-2001）中对油漆（涂层）厚度有明确要求：“涂层厚度因符合设计要求，若无要求，室外条件下涂层厚度应为150um，室内应为125um，误差在正负25um”。实际上各个行业对基体涂层都有严格要求，例如《中华人民共和国汽车行业标准汽车油漆涂层》中规定底漆不低于15um，总厚度不低于55um。时代涂层测厚仪帮助您高速、准确、快捷测量涂层厚度。 狭窄空间覆层测厚：生产过程中一些大工件狭窄空间往往也有涂层测量的需求，但是这些已经组装的大工件不可能卸载了来进行涂层厚度测量，时代涂层测厚仪采用分体式设计，方便检测到狭窄空间涂层厚度，涂层测厚仪配有打印功能，方便高效实现在线测量。 小工件覆层测厚：一般工件直径或面积较大，涂层厚度测量非常方便，但是如果工件较小、涂层所在基体不在是平面、涂层厚度较大时，一般涂层测厚仪测量精度就难以保障。时代涂层测厚仪，配有专用探头，最小可以测量直径为5mm，曲率半径为1.5mm，厚度为10000um的涂层厚度。探头主要技术参数：测头型号 F400 F1 F1/90 F10 N1 CN02 工作原理 磁感应 电涡流 测量范围（um） 0-400 0-1250 0-10000 0-1250(铜上镀铬0-40um) 10-200 低限分辨力(um) 0.1 0.1 10 0.1 1 示值误差 一点校准(um) ±[3%H+1] ±[3%H+10] ±[3%H+1.5] ±[3%H+1] 两点校准(um) ±[(1～3)%H+0.7] ±[(1～3)%H+1] ±[(1～3)%H+10] ±[(1～3)%H+1.5] - 测量条件 最小曲率半径(mm) 凸 1 凸1.5 平直 10 3 平直 基体最小面积的直径(mm) ф3 ф7 ф7 ф40 ф5 ф7 最小临界厚度(mm) 0.2 0.5 0.5 2 0.3 无限制

Bristol非接触式光学测厚仪　　Bristol Instruments提供了一系列测厚仪产品，可方便地测量厚度，并具有很高的测量精度以及重复性，以适用于大部分的应用需求。更重要的是，这些产品采用了一种非常有效的技术，即使用非接触式光学探针进行无损检测，同时这种技术还可以同时测量多层膜的厚度。　　产品特点：　　可测量硬材料和软材料，并且不会造成损坏或变形　　用于准确定位测量位置的可见光束　　同时测量多达31层　　测量光程： 12mm/ 40mm/80mm　　测量精度： ±0.1 μm/±1μm　　使用内置的固有长度标准进行连续校准　　测量置信水平≥99.7%　　可追溯至NIST标准　　测量频率高达20赫兹　　使用USB或以太网进行PC通讯　　提供基于Windows的光学测量软件，用于设置测量参数和输出测量数据　　使用LabVIEW、.NET或自定义编程进行自动数据报告，无需专用PC　　软件测量界面：　　应用领域：　　光学元件和透镜组件　　可测量单个镜片以及镜头组包括空气间隔　　隐形眼镜和人工晶状体　　测量中心厚度、矢高和群折射率　　医用导管窥镜　　可同时测量壁厚、内径和外径，管壁厚度、管颈和管锥的壁厚　　LCD, LED, OLED 和AMOLED显示屏　　可测量总厚度和各层厚度，包括LOCA（液体光学透明粘合剂）层　　半导体　　硅/砷化镓晶片　　玻璃抛光　　测量化学腐蚀前后的厚度或抛光工艺，使玻璃板更薄、更轻。　　Optional:　　Lensthick 非接触式光学测厚仪　　产品特点：　　LensThick集成了Bristol非接触式光学测厚仪，系统集成化程度较高，增加了电动升降台和倾斜平移一体调节台，将测厚仪主机和高性能工控机集成在定制机柜里，并配备了高清显示器，此外还开发了全中文人机交互软件，软件可实时显示被测试产品的厚度和干涉信号，以便实时调整。软件支持自动峰值模式，使用操作员创建的样品设计文件，可以定义最多32个反射面（31层）的预期峰值位置，可自动识别在指定的阈度内最接近预期峰值位置的峰值，从而计算并输出每层的厚度。此外，软件还带有判据功能，即超出设计值的公差范围，数据显示为红色。这些功能对质量控制是非常快速有效的。软件还可根据用户材料色散方程系数，自动计算出材料的群折射率并保存。针对同其它设备和产线集成，软件还可通过TCP/IP形式将实时测量结果发送给其它设备。　　LensThick ATW/ATS 系列全自动光学测厚仪　　设备特点：　　LensThick ATW配备晶圆测试模组，LensThick ATS配备单镜片测试模组；　　配备非接触式光学测厚仪，测量精度高，速度快，且不会对样品造成损伤；　　采用大理石组合结构，稳定性高　　XY平台采用直线电机及高精度光栅尺，重复定位精度±0.001mm,位置精度±0.001mm；　　采用CCD图像识别定位，运用高精度算法，准确可靠；　　测量时通过CCD图像校正，保证测量中心位置准确；　　主要配置/设备关键部件：　　非接触式光学测厚仪　　XYR平台参数：　　平面度：±0.005mm　　直线度：±0.005mm　　重复定位精度：±0.001mm　　绝对位置精度：±0.001mm　　视觉校正相机：　　2000万像素　　低噪声，高精度