永磁真空接触器

1. 问题的提出在研制完成低温高真空环境材料热物理性能测试系统后，开始进行各种材料热导率的测试。低温高真空材料热物理性能测试系统如图1所示，低温高真空腔体如图2所示。在测试过程中发现在一定真空度下热导率测试非常不准确，甚至测试结果非常怪异，真空度会使得试样接触热阻发生巨变而严重影响热导率测试。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191700_667317_3384_3.jpg图1 低温高真空环境材料热物理性能测试系统http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/2016020120342460_01_3384_3.jpg图2 低温高真空腔体为了验证试样接触热阻的影响，针对不同表面状态和硬度的材料进行了验证试验，但选择验证试样的原则是真空度不能造成试样本身的热导率发生变化。1.1. 不同真空度下接触热阻对不锈钢试样热导率测试的影响首先采用表面光滑的刚性金属材料进行验证。如图3和图4所示，将一对已知热导率的不锈钢参考材料放入真空腔内，分别进行常温和不同真空度下的热导率测试，测试结果如图5所示。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/2016020120352005_01_3384_3.jpg图3 已知热导率的被测不锈钢试样 http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/2016020120354782_01_3384_3.jpg图4 不锈钢试样测试状态 http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/2016020120474812_01_3384_3.png图5 不锈钢试样常温不同真空度下的热导率测试结果在真空度变化前期（真空度大于5000Pa），热导率测试结果还是十分准确和稳定。随着真空度的提高，小于2000Pa时的测试结果明显开始降低，在小于1000Pa后测试结果出从图5所示的测试结果可以看出，现波动甚至无法获得有效的热导率测试数据。这就意味着随着真空度升高，试样与探测器之间的接触热阻逐渐增大，最终巨大的接触热阻和接触热阻分布的不均匀完全破坏了瞬态平面热源法传热测试模型，导致根本无法进行测量。1.2. 不同真空度下接触热阻对低导热硬质泡沫塑料试样热导率测试的影响上述验证试样所选的不锈钢热导率在14W/mK左右，为进一步验证试样接触热阻的影响，我们选择了硬质聚氨酯泡沫塑料进行考核。选择硬质聚氨酯泡沫塑料一是因为这种材料的热导率很低，热导率在0.04W/mK左右；二是因为这种材料是闭孔材料，闭孔率在90%以上，材料热导率随真空度的变化不大。如图6和图7所示，将一对硬质聚氨酯泡沫塑料试样放入真空腔内，分别进行常温和不同真空度下的热导率测试，测试结果如图8所示。 http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/2016020120443559_01_3384_3.jpg图6 被测硬质聚氨酯泡沫塑料试样http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/2016020120452836_01_3384_3.jpg 图7 硬质聚氨酯泡沫塑料试样测试状态http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/2016020120423345_01_3384_3.png图8 硬质聚氨酯泡沫塑料常温不同真空度下的热导率测试结果从图8所示测试结果可以看出，随着真空度升高，热导率数值逐渐降低，最终在真空度升高到5Pa时，热导率从常压下的0.0447W/mK降到了0.0337W/mK，减小了近四分之一。随着真空度的升高，引起聚氨酯泡沫塑料热导率降低主要有两个原因：（1）试样内的部分开孔随着真空度升高而降低热导率，但由于开孔率较低，这种影响不是主要因素。（2）尽管聚氨酯泡沫塑料属于硬质材料并便于加工，但试样的表面粗糙度还是远大于表面光滑的不锈钢试样，所以接触热阻是热导率降低最主要因素。1.3. 测试结果分析由以上两种材料的测试，可以得出以下初步的结论：（1）对于瞬态平面热源法这种试样与探测器夹心测试结构，测试过程中随着真空度的升高，探测器与试样之间的接触热阻会明显增大，这种热阻的增大会给热导率测量带来影响。（2）试样与探测器之间的接触热阻并非均匀分布，随着真空度升高，这种非均匀分布的接触热阻会完全破坏传热测试模型，造成测试结果完全不正确，甚至根本无法进行测量。（3）由于试样表面粗糙度不同，真空度对接触热阻的增加幅值也不相同。如果假设接触热阻等效为一个均匀分布热阻层，接触热阻给热导率测试所带来的影响假设为一个等效热导率，那么在一般情况下，这个热阻层的等效热导率大小为0.01W/mK量级。（4）这种由于真空度升高引发的试样接触热阻增大的现象，是所有真空环境下固体界面热传导中存在的普遍现象。因此，如果不采取一定措施，真空下的试样接触热阻不仅会严重影响瞬态平面热源法的热导率测量，也好严重影响其它所有热导率测试方法的测量准确性。2. 解决方案为了降低和消除真空环境下试样接触热阻对热导率测量结果的影响，最有效的方法就是采用薄的柔性填充物来填充试样与探测器之间的空隙，把真空度的影响降低到最小。为此，我们选用了填充物为导热硅脂、导热硅胶片和镜头纸分别进行试验，以其找到有效的材料和方式。3. 试验验证3.1. 不锈钢参考材料填充导热硅脂的试验验证还是采用表面光滑的刚性金属材料进行验证。如图9和图10所示，将一对已知热导率的不锈钢参考材料测试表面分别涂覆了一层导热硅脂。常温常压下导热硅脂的热导率为3W/mK，这也是目前热导率比较高的导热硅脂，从理论上来说，导热硅脂的热导率越大约好。将涂覆了导热硅脂的试样与探测器夹紧并放入真空腔内，分别进行常温和不同真空度下的热导率测试。添加导热硅脂前后的测试结果对比如图11所示。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/image

2016国产磁测量与应用好仪器设备系列之三：记一次天津飞旋磁悬浮真空涡轮分子泵FX1200的测试原创：陆俊 工程师，中科院物理所磁学室2016年8月15日一句话推荐理由：可轻松实现亚微帕真空环境的国产磁悬浮分子泵。一、引言 在一个给定的空间，当内部气体分子很稀薄，压强低于一个大气压(国际单位数值为1e5Pa)以下时的状态叫真空，气体的稀薄的程度叫真空度。严格讲真正意义上的真空并不存在，因为就目前人类的科学技术来说人类是不可能制造绝对真空环境的，因为无论人类应用怎样的高科技都不能把一个容器抽的达到什么都没有。根据历史记载真空技术始于1643年，托里拆利(Torricelli)将一端密封的长管注满水银并倒置在盛有Hg(汞)的槽里时，发现了密封的玻璃管中760mm水银柱顶端产生的真空，当时并未引起人们的关注，直到1654年著名的Magdeburg hemisphere马德堡半球实验证明真空与大气之间的压力差所产生的惊人力量后，真空的应用才逐渐被推广开，比如人们常见的真空吸盘、真空脱气、真空干燥、真空保鲜、真空灯具、真空保温Dewar杜瓦瓶等应用。目前，在众多高新科技产业（如精炼冶金、功能薄膜、太阳能电池、光电子器件、液晶显示屏等），与现代科学研究中（如高能粒子源与物质探测仪器、等离子体、可控核聚变、宇宙仿真等），真空更是不可缺少的基本支撑条件。 与真空的应用伴随不可避免要介绍真空的产生与测量两类技术，如图01所示，从大气环境到星系之间最接近真空的外太空，中间存在非常丰富的天然或人造的真空环境，如月球表面气压约1e-9Pa、粒子加速器、分子束外延腔(MBE)等高真空，离子源、电子管、溅射等离子体等中等真空，与火星表面、真空干燥与吸盘等低真空。与这些典型真空对应的是各种不同类型的真空泵与真空计技术类型。人们能产生真空的方法主要是机械部件抽运(如图中蓝色部分的旋片泵、活塞泵、膜片泵)、通过加热-扩散-冷却-吸附抽运原理的扩散泵、通过低温冷凝与吸附原理的低温泵、以及将中性气体离子化转移的溅射离子泵。度量和比较真空度的仪器分为气体类型无关的直接压强测试，如波尔登表、液面气压计、膜片压力计与电容真空规，一般常见于低真空应用，在图中以绿色字体标识；另一类是气体类型相关的精密量测仪，包括Pirani热导规、Penning冷阴极离子规、热阴极规、磁控规以及质谱真空计。 http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/08/201608291129_607228_1611921_3.png图01 图解不同区间真空相关的基本实现方法、测量仪表与典型应用二、背景 从前面介绍中可以看出，在真空获得设备中，分子泵只涉及简单的机械运动部件，无需复杂的高温、低温或高压等特殊设计，但却能获得非常优异的性能。与其他有机械运动部件的真空泵相比，分子泵转速高但振动噪声小、平均无故障工作周期长而维护成本低。其抽气机理是，在分子流区域内靠高速运动的刚体表面传递给气体分子以动量，使气体分子在刚体表面的运动方向上产生定向流动飞离工作腔室，从而达到抽气的目的。从分子泵的抽气原理知：分子泵的转子叶片必须具有与气体分子速度相近的线速度，具有这样的高速度才能使气体分子与动叶片相碰撞后改变随机散射的特性而作离开真空腔室的定向运动。因此分子泵的转速越高，对提高分子泵的抽速越有利。这就要求配备给复合分子泵的轴承能够在高转速下长期稳定的运行，但是传统轴承不仅很难实现高转速而且就算实现了高转速其使用寿命也会大打折扣，造价也很高。同时，传统机械轴承分子泵需要油或油脂润滑，带来的油蒸汽返流对真空室产生污染、振动噪声相对较大、平均无故障工作周期短等缺陷。因此，无油轴承作为支承部件在分子泵领域极其有用，其中最有代表性的无油轴承是磁轴承，又称磁悬浮轴承，是一种转子与定子之间没有机械接触的新型高性能轴承，是分子泵的理想支承，无需油润滑、没有机械磨损、可实现高转速永久支承。在磁悬浮轴承研发方面，国外磁轴承技术起步较早，其性能在少数几个发达国家几家公司垄断经过多年迭代积累，已获广泛应用和大量市场份额。国内的相关研究起步于上世纪80年代，主要集中在大专院校及研究院所，由于多方面原因，多年来极缺商业化的产品，中科科仪公司已推出CXF2300型分子泵，是其中屈指可数的商品，但与国外同类型的产品相比仍然存在差距，因而几年来尚未获得明显的市场优势。2016年7月份，作者通过渠道获知天津飞旋科技有限公司于2006年开始研发磁悬浮轴承技术，于2009年研发成功国内第一台磁悬浮复合分子泵，并一直优化完善，同时进行产业化开发，其研发生产的磁悬浮分子泵在以下几个方面进行了技术革新：1）五自由度控制的磁悬浮轴承技术，加上高可靠性相位、位移、转速检测技术和基于轴心轨迹监测的故障诊断、预警技术，能够实时监控分子泵的运行情况，并对紧急情况作出最快响应，产品的可靠性因而获得提升。2）基于电感式位移传感器的高精度本机在线动平衡技术，不需要借助动平衡仪设备就能实现本机高速动平衡，有效的提高了叶轮系统的平衡精度，降低了分子泵的整体振动，几乎无声运转；无机械摩擦的另一个好处是发热量低，因而对冷却措施要求低。3）基于降速发电的掉电安全技术，能在外接电源突然断电的情况下，通过将分子泵的机械能转化为电能反馈给磁轴承，使磁轴承继续工作，直到转子系统速度降到安全的低转速后再落到保护轴承上，避免了对保护轴承的高速冲击，提高了保护轴承的寿命。4）分子泵用永磁同步高速直流电机控制技术，可实现分子泵高转速运行，并且有变频调速功能，可在实际运行环境中根据需求调节转速，有效的降低了分子泵的能量损耗。5）整体式叶轮设计加工，实现了叶轮轻量化设计值得一提的是，在这些技术革新的基础上，该公司于2012年开始成功完善并批量生产磁悬浮分子泵产品，照片如图02所示。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/08/201608291129_607229_1611921_3.png图02 本文测试用的国产磁悬浮真空涡轮分子泵FX1200及其配套电源FSP-1X100三、简介 本文测试用的磁悬浮涡轮分子泵的主体内部结构如图03所示，其核心部件是磁悬浮高速电机和整体叶轮，叶轮的悬浮力与推动力都是无接触传递的，不过具体的方式不一样，其中悬浮力采用线圈产生的电磁力，而旋转力的无接触传递通过高速永磁电机直连实现。此外，其关键的实现抽气功能的组件是涡轮定子和转子(图03b)，他们相对高速转动，以较高的效率完成分子的定向转移；为了增加抽速，采用层叠的定子-转子结构(图03c)，涡轮分子泵抽出的气体通过后级低真空泵抽运到大气中；与真空泵配套的主要部件还有电机、真空腔体、悬浮线圈、测控器件及相关电路。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/08/201608291129_607230_1611921_3.jpg图03 本文测试用的国产磁悬浮真空涡轮分子泵主体内部结构示意图http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/08/2

TD8310永磁材料测试系统 由双极性直流磁化电源、磁测量装置、电磁铁、测试线圈或探头、系统级软件等组成，适用于测量各类型永磁材料的磁性能，并绘制相关磁特性曲线，具有操作便捷、测量快速、重复性/可靠性好等特点，非常适合各级计量单位、永磁生产或应用单位建立磁测量标准。参照标准： GB/T 3217-2013 、IEC 60404-5 等。[color=#0d0d0d]主要应用[/color]被测永磁种类：永磁铁氧体、铝镍钴、铁铬钴、稀土永磁等。被测样品形状：圆环、圆柱、圆饼、方块、瓦形 ( 需配夹具 ) 等 。被测磁性参数：剩磁 Br 、矫顽力 Hcb、内禀矫顽力 Hcj、最大磁能积 (BH)max 等。绘制磁性曲线：磁化曲线、退磁曲线、B-H / J-H 磁滞回线等。[color=#0d0d0d]主要功能特点[/color]具有专用的校准接线端钮，可通过高等级的电流表、磁通校准仪、标准特斯拉计对其进行校准。所有永磁的磁特性参数可直接溯源至电磁学基本量；保证测量数据的重复性、一致性、可比性和准确度。标准样品仅用于测量数据比对，不得用于对本装置进行校准。电磁铁标配的平极头直径为 Φ 130 mm，最大磁场达 1.5 T。若选用直径为 Φ 130 mm - 60 mm 的收缩极头，磁场可增大至 2.45 T。积分器零漂和霍尔探头的非线性误差影响小；使用 J 线圈测量时可对残匝面积进行补偿。磁化电源和磁测量装置集成于一台主机内，采用模块化设计，方便升级与维修。提供多种类型的测试线圈和探头，并可根据用户的样品尺寸进行定制。配备计算机软件，除设置参数和摆放样品外，磁化、退磁、测量等过程可自动完成，时间短；测量数据自动保存，报告包含完整的曲线图、测试结果、测试条件和样品参数，方便用户查看。[color=#0d0d0d]系统应用框图[/color][color=#0d0d0d][img=,662,630]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/09/201809291123382969_8069_3483812_3.png!w662x630.jpg[/img][/color][color=#0d0d0d]部分磁参数测量的再现性[/color][color=#0d0d0d][img=,689,142]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/09/201809291124073149_8434_3483812_3.png!w689x142.jpg[/img][/color][color=#0d0d0d]测量条件：测试温度：[/color][color=#0d0d0d]23[/color][color=#0d0d0d]℃[/color][color=#0d0d0d]± 5[/color][color=#0d0d0d]℃[/color][color=#0d0d0d]，样品尺寸应严格遵循[/color][color=#0d0d0d] [/color][color=#0d0d0d]GB/T 3217-2013[/color][color=#0d0d0d] [/color][color=#0d0d0d]的相关要求。[/color][color=#0d0d0d]备注：担保值为[/color][color=#0d0d0d]IEC[/color][color=#0d0d0d]相关标准中要求的值。[/color][color=#0d0d0d]励磁与测量技术指标[/color][color=#0d0d0d][img=,683,352]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/09/201809291124489769_2991_3483812_3.png!w683x352.jpg[/img][/color][color=#0d0d0d]全自动测量软件[/color][color=#0d0d0d]除放置样品和设置必要参数外，其余测量过程全自动完成，最大限度消除人工操作所带来的误差。[/color][color=#0d0d0d]自动测量磁特性参量：剩磁[/color][color=#0d0d0d] [/color][color=#0d0d0d]Br[/color][color=#0d0d0d] [/color][color=#0d0d0d]、矫顽力[/color][color=#0d0d0d] [/color][color=#0d0d0d]Hcb[/color][color=#0d0d0d]、内禀矫顽力[/color][color=#0d0d0d] [/color][color=#0d0d0d]Hcj[/color][color=#0d0d0d]、最大磁能积[/color][color=#0d0d0d] [/color][color=#0d0d0d](BH)max[/color][color=#0d0d0d]。[/color][color=#0d0d0d]自动绘制磁特性曲线：磁化曲线、退磁曲线、[/color][color=#0d0d0d]B-H / J-H[/color][color=#0d0d0d] [/color][color=#0d0d0d]磁滞回线、温度特性曲线[/color][color=#0d0d0d] [/color][color=#0d0d0d]([/color][color=#0d0d0d] [/color][color=#0d0d0d]高温测试[/color][color=#0d0d0d] [/color][color=#0d0d0d])[/color][color=#0d0d0d]。[/color][color=#0d0d0d]界面主窗口通过直观显示磁化曲线，并且可随时中止测量过程。[/color][color=#0d0d0d]测量数据自动保存，报告包含完整的曲线图、测试结果、测试条件和样品参数。[/color][color=#0d0d0d]测试报告可按多种格式导出和打印；支持用户自定义模板。[/color][color=#0d0d0d]一般技术规格[/color]供电电源：AC ( 220 ± 22 ) V，( 50 ± 2 ) Hz工作环境： 0 ℃[color=#0d0d0d]～[/color]40 ℃，20% RH～80% RH装置尺寸：440 mm × 350 mm × 160 mm（长×宽×高）装置重量：约 11 kg通讯接口：RS232、ΦH、ΦB、霍尔探头接口

[size=16px][color=#339999][b]摘要：大量MEMS真空密封件具有小体积、高真空和无外接通气接口的特点，现有的各种检漏技术无法对其进行无损形式的漏率和内部真空度测量。基于压差法和高真空度恒定控制技术，本文提出了解决方案。方案的具体内容是将被测封装器件放置在一个比器件内部真空度更高的真空腔体内，采用电动可变泄漏阀和控制器自动调节微小进气流量进行高真空度控制，由此在被测器件内外建立恒定压差，通过测量此压差下的漏率可得到器件内部真空度。[/b][/color][/size][align=center][size=16px][color=#339999][b]=========================[/b][/color][/size][/align][size=18px][color=#339999][b]1. 问题的提出[/b][/color][/size][size=16px] 真空密封器件通常需要在特定的真空度下才能正常工作，即需要高真空度和长时间的真空保持度。例如杜瓦组件作为广泛使用的绝热容器在制冷、 红外探测以及超导中都有应用，而杜瓦的绝热效果与其夹层真空度直接相关。有机发光二极管对水蒸气和氧气含量特别敏感，工作时需要真空条件，含量超标的水蒸气和氧会严重影响其寿命和稳定性。高精度的MEMS惯性器件如MEMS陀螺仪、MEMS谐振式加速度计等需要工作在高真空环境中，其内部真空度的好坏决定其品质因数的大小。由此可见，为了保证真空密封器件的密封性能，需要对漏率和真空度的变化进行测试评价，但由于存在以下几方面的原因，使得这种评价技术成为目前迫切需要解决的难题：[/size][size=16px] （1）对于大多数真空密封器件而言，其几何尺寸一般很小，且不能配置真空度和漏率测量接口，这导致了很多现有真空测量领域的传感器和仪器都无法直接使用。[/size][size=16px] （2）对于个别真空封装器件，可通过在外部形成高压将示踪气体（如氦气）加载到真空封装器件内，然后再在外部抽真空条件下采用检漏仪测量真空封装器件的漏率。但这种方法往往会破坏真空封装器件内部的真空度，且不可逆转，可能会造成真空封装器件性能的降低。[/size][size=16px] （3）直接在真空密封器件内集成真空度传感器不失为一种有效手段，如集成如皮拉尼计和音叉石英晶振等，国内外的各种研究也曾在这方面做过努力，但由于所集成传感器自身特性（如结构形状、尺寸、真空度测量范围和精度等）以及所带来附加影响，使得这种技术仅勉强适用于个别真空密封器件，根本无法作为一种通用技术得以应用。[/size][size=16px] 为了解决目前真空封装器件存在的检漏问题，特别是实现对真空封装器件内部真空度的测量，本文基于压差法提出了一种间接测量的解决方案。[/size][size=18px][color=#339999][b]2. 解决方案[/b][/color][/size][size=16px] 对于内部具有一定真空度的真空封装器件，其漏率和内部真空度的测量将基于压差法。具体是即将被测真空封装器件放置在一个要比器件内部真空度更高的密闭腔体内，由此在封装器件内外形成压差。通过测量获得此压差下的漏率，然后再通过漏率计算出器件内部真空度。[/size][size=16px] 依据解决方案设计的真空封装器件漏率和真空度测量装置结构如图1所示。[/size][align=center][size=16px][color=#339999][b][img=真空密封器件漏率和真空度测试系统结构示意图,690,253]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/09/202309041023569886_4228_3221506_3.jpg!w690x253.jpg[/img][/b][/color][/size][/align][align=center][size=16px][color=#339999][b]图1 真空密封器件漏率和真空度测试系统结构示意图[/b][/color][/size][/align][size=16px] 依据检漏中的压差法原理，漏率的测量结果与压差（P1-P0）呈线性关系。因此，如图1所示，只要精确控制密闭腔体内的真空度P1，在测量得到漏率后，就可以计算出真空封装器件内部的真空度。由此可见，测试真空密封器件漏率和真空度需要解决以下两个关键问题：[/size][size=16px] （1）腔体真空度P1的精确控制：对于具有高真空（如P01E-03Pa）的封装器件，腔体真空度需要达到P11E-03Pa的更高真空度，以形成尽可能大的压差，这就要求对超高真空度能实现准确控制，控制精度越高则计算得到器件内部真空度的精度越高。[/size][size=16px] （2）漏率测量：漏率测量也是决定精度的关键因素，具体实施时可以采用各种高灵敏度的漏率测量方法，如氦质谱检漏仪。为了实现定量和高精度的漏率测量，也可以采用特殊设计的漏率测试系统，但这部分内容不在本文阐述的内容之内。[/size][size=16px] 本文的重点是介绍解决方案中的超高真空度精密控制技术。如图1所示，超高真空度的控制采用调节进气流量来实现，具体采用了VLV2023型号的电动可变泄漏阀，进气流量的调节范围是1E-8PaL/s~500PaL/s，调节信号为0~10V。超高真空度控制回路有真空计、真空控制器和电动可变泄漏阀组成，真空控制器采集真空计信号并与设定值进行比较后，输出PID控制信号对可变泄漏阀进行驱动来调节微小的进气流量，由此使腔体真空度快速恒定在设置值处。[/size][size=16px] 在超高真空控制中还面临另外一个问题是真空计输出信号的非线性，为此本文解决方案中采用了具有线性化处理功能的VPC2021系列真空压力控制器，通过在真空和电压的关系曲线中取八个数据点进行拟合，可很好的解决线性PID控制非线性信号的问题。[/size][size=18px][color=#339999][b]3. 总结[/b][/color][/size][size=16px] 综上所述，本解决方案很好的突破了真空密封件漏率和内部真空度测量难题，关键是实现了高真空度精密控制中的微小进气流量自动调节以及传感器非线性输出信号的PID控制器线性化处理。解决方案中的高真空度控制装置可广泛应用于任何真空系统，PID控制器线性化技术可广泛应用于各种非线性传感器测量控制场合。[/size][size=16px] 本解决方案对高真空微小压差下的漏率测试技术并未做详细的介绍，这部分内容将在后续研究报告中给出详细的测试系统描述。[/size][size=16px][/size][align=center][b][color=#339999]~~~~~~~~~~~~~~~~~~[/color][/b][/align]

TD8310 由双极性直流磁化电源、磁测量装置、电磁铁、测试线圈或探头、系统级软件等组成，适用于测量各类型永磁材料的磁性能，并绘制相关磁特性曲线，具有操作便捷、测量快速、重复性/可靠性好等特点，非常适合各级计量单位、永磁生产或应用单位建立磁测量标准。参照标准： GB/T 3217-2013 、IEC 60404-5 等。[color=#0d0d0d]主要应用[/color][color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] [/color]被测永磁种类：永磁铁氧体、铝镍钴、铁铬钴、稀土永磁等。[color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] [/color]被测样品形状：圆环、圆柱、圆饼、方块、瓦形 ( 需配夹具 ) 等 。[color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] [/color]被测磁性参数：剩磁 Br 、矫顽力 Hcb、内禀矫顽力 Hcj、最大磁能积 (BH)max 等。[color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] [/color]绘制磁性曲线：磁化曲线、退磁曲线、B-H / J-H 磁滞回线等。[color=#0d0d0d]主要功能特点[/color][color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] [/color]具有专用的校准接线端钮，可通过高等级的电流表、磁通校准仪、标准特斯拉计对其进行校准。[color=#00b050] ●[/color][b] [/b] 所有永磁的磁特性参数可直接溯源至电磁学基本量； 保证测量数据的重复性、一致性、可比性和准确度。[color=#00b050] ●[/color] 标准样品仅用于测量数据比对，不得用于对本装置进行校准。[color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] [/color]电磁铁标配的平极头直径为 Φ 130 mm，最大磁场达 1.5 T。[color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] [/color]若选用直径为 Φ 130 mm - 60 mm 的收缩极头，磁场可增大至 2.45 T。[color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] [/color]积分器零漂和霍尔探头的非线性误差影响小；使用 J 线圈测量时可对残匝面积进行补偿。[color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] [/color]磁化电源和磁测量装置集成于一台主机内，采用模块化设计，方便升级与维修。[color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] [/color]提供多种类型的测试线圈和探头，并可根据用户的样品尺寸进行定制。[color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] [/color]配备计算机软件，除设置参数和摆放样品外，磁化、退磁、测量等过程可自动完成，时间短；[color=#00b050] ● [/color]测量数据自动保存，报告包含完整的曲线图、测试结果、测试条件和样品参数，方便用户查看。[color=#0d0d0d]系统应用框图[/color][color=#0d0d0d][img=,690,656]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/07/201807241122347962_2765_3123500_3.png!w690x656.jpg[/img] [/color][color=#0d0d0d]部分磁参数测量的再现性[/color][color=#0d0d0d][img=,690,142]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/07/201807241123011019_776_3123500_3.png!w690x142.jpg[/img][/color][color=#00b050] ● [/color][color=#0d0d0d]测量条件：测试温度：[/color][color=#0d0d0d]23[/color][color=#0d0d0d]℃[/color][color=#0d0d0d]± 5[/color][color=#0d0d0d]℃[/color][color=#0d0d0d]，样品尺寸应严格遵循[/color][color=#0d0d0d] [/color][color=#0d0d0d]GB/T 3217-2013[/color][color=#0d0d0d] [/color][color=#0d0d0d]的相关要求。[/color][color=#00b050] ● [/color][color=#0d0d0d]备注：担保值为[/color][color=#0d0d0d]IEC[/color][color=#0d0d0d]相关标准中要求的值。[/color][color=#0d0d0d]励磁与测量技术指标[/color][color=#0d0d0d][img=,690,355]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/07/201807241123182971_8517_3123500_3.png!w690x355.jpg[/img][/color][color=#0d0d0d]全自动测量软件[/color][color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] 除放置样品和设置必要参数外，其余测量过程全自动完成，最大限度消除人工操作所带来的误差。[/color][color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] 自动测量磁特性参量：剩磁[/color][color=#0d0d0d] [/color][color=#0d0d0d]Br[/color][color=#0d0d0d] [/color][color=#0d0d0d]、矫顽力[/color][color=#0d0d0d] [/color][color=#0d0d0d]Hcb[/color][color=#0d0d0d]、内禀矫顽力[/color][color=#0d0d0d] [/color][color=#0d0d0d]Hcj[/color][color=#0d0d0d]、最大磁能积[/color][color=#0d0d0d] [/color][color=#0d0d0d](BH)max[/color][color=#0d0d0d]。[/color][color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] 自动绘制磁特性曲线：磁化曲线、退磁曲线、[/color][color=#0d0d0d]B-H / J-H[/color][color=#0d0d0d] [/color][color=#0d0d0d]磁滞回线、温度特性曲线[/color][color=#0d0d0d] [/color][color=#0d0d0d]([/color][color=#0d0d0d] [/color][color=#0d0d0d]高温测试[/color][color=#0d0d0d] [/color][color=#0d0d0d])[/color][color=#0d0d0d]。[/color][color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] 界面主窗口通过直观显示磁化曲线，并且可随时中止测量过程。[/color][color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] 测量数据自动保存，报告包含完整的曲线图、测试结果、测试条件和样品参数。[/color][color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] 测试报告可按多种格式导出和打印；支持用户自定义模板。[/color][color=#0d0d0d]一般技术规格[/color][color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] [/color]供电电源：AC ( 220 ± 22 ) V，( 50 ± 2 ) Hz[color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] [/color]工作环境： 0 ℃[color=#0d0d0d]～[/color]40 ℃，20% RH～80% RH[color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] [/color]装置尺寸：440 mm × 350 mm × 160 mm（长×宽×高）[color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] [/color]装置重量：约 11 kg[color=#00b050] ●[/color][color=#0d0d0d] [/color]通讯接口：RS232、ΦH、ΦB、霍尔探头接口