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http://img3.17img.cn/bbs/upfile/images/20100518/201005181701392921.gif最新镀层、薄膜表征工具——辉光放电光谱仪&椭圆偏振光谱仪讲座时间:2014年09月16日 10:00 主讲人:武艳红、王锋武艳红,HORIBA Scientific 辉光放电光谱技术应用工程师。王锋,HORIBA Scientific 椭圆偏振光谱技术应用工程师。http://img3.17img.cn/bbs/upfile/images/20100518/201005181701392921.gif【简介】 辉光放电光谱和椭圆偏振光谱仪作为现在最常用的两种镀层、薄膜表征技术。前者主要应用于镀层元素的深度剖析,它能够获得镀层中各元素随深度的分布状况,可以分析几纳米~100多微米的深度,深度分辨率1nm。后者是一种无损的分析技术,可以精确测量1A~40微米范围内的薄膜,并能表征单层、多层薄膜表面的粗糙度和氧化层,甚至可以获取折射率、消光系数等。 本次课程中我们将会介绍这两种技术的基本原理、可分析的材料,并对主要应用领域及案例进行深度分析。-------------------------------------------------------------------------------1、报名条件:只要您是仪器网注册用户均可报名参加。2、报名并参会用户有机会获得100元手机充值卡一张哦~3、报名截止时间:2014年09月16日 9:304、报名参会:http://simg.instrument.com.cn/meeting/images/20100414/baoming.jpg
如何测椭圆偏振光?我就只在文献中看到,请教下是啥仪器,测前如何备样?
椭圆偏振可以测石墨上自组装有机膜厚度吗?我的实验是做石墨上的自组装膜,可是不知是否可以用椭圆偏振仪来测量?求指教!