涂层厚度测定仪

[url=http://www.dscr.com.cn][color=#333333]超声波测厚仪[/color][/url]穿过涂层测厚度的原理：　　钢中纵波声速具代表性的为5.900m/s（0.2320in/us），但是在漆层或类似涂层中声速一般低于2.500m/s（0.1000in/us）。常规超声设备在测量带漆层金属的总厚度时将错误地以钢的声速测量涂层，这意味着涂层将显示至少2.35倍（两种声速的比值）其真实厚度的值。在涉及厚涂层和紧公差的情况下，由涂层引入的这种误差可以为总厚度测量的很大一部分。这个问题的解决方案是以这样一种方法----从测量中将涂层成分去除----来测量或计算厚度。　　回波―回波测量简单地应用了在两个相邻底面回波间的时间间隔的成熟技术，这个时间间隔代表了透过检测材料的声波的连续往返行程时间。在那些带涂层金属的情况中，这些多次回波只能发生在金属中而不是涂层中，因此任何一对回波的间隔（底面回波1到2、底面回波2到3等），只代表了已去除涂层厚度后的金属厚度。 透过涂层测量要使用一个专利软件来确定在涂层中一个往返行程代表的时间间隔。该时间间隔用于计算和显示涂层厚度，并且通过从总测量值中减去该时间间隔，仪器也能计算和显示金属底层厚度。　　上述每一种技术都有优点和缺点，对一个特定的应用都应该考虑选择哪一种方法最好：　　透过涂层测量优点：　　1，能测量多种金属厚度，具代表性的，在钢中能从1mm到50mm　　2，只需要一个回波　　3，在点蚀情况能更精确地测量剩余地最小厚度　　透过涂层测量缺点：　　1，涂层最薄为0.125mm　　2，涂层表面应当比较光滑　　3，需要使用2种特定探头中地一个4，最高表面温度大约为50℃或51.67℃　　回波－回波测量优点：　　1，可使用多种普通探头工作　　2，常能穿透粗糙表面涂层工作　　3，用适当的探头能在接近500℃或498.89℃的高温时工作　　回波－回波测量缺点：　　1，需要多次底面回波，在严重腐蚀的金属中可能不存在多次底面回波　　2，厚度范围比透过涂层测量限制更多

非金属涂层厚度用什么仪器来测量？

大家测电子元器件方阻都是怎么测的啊，是不是首先要测涂层厚度？那么测厚度又是怎么操作的呢，求助，在线等，挺急的。。。

市面上都有哪些涂层厚度测量仪器

便携式检验仪器，包括探伤仪、测厚仪、测距仪、涂层厚度仪（抗磨福涂层厚度）、硬度仪、光谱分析仪（钢材中磷硫含量）等，可以快速、准确的检测出数据，瞬间判断产品质量。谢谢，有提供的吗？需要便携、精确、操作简单、易维护、锂电、进口和国产、质量好的，提供价格、厂家？我的QQ：*************谢谢！！

达克罗如何测量涂层厚度?执行哪个标准？

小弟最近研究利用金相实验来测量涂层厚度。查了一些资料，有人用磨光的截面直接在显微镜下看，来直接测量边缘的黑色区域，测量值为涂层厚度值。我觉得，这个厚度值偏大了些，因为在吹干试样时，不可避免的会激起缝隙中的水分或者杂物，从而覆盖了真实的涂层或者掩盖了真实的涂层宽度。不知道，我的想法对不对，请路过的大侠不惜赐教！

谁有ASTM 13568-1998 用X射线荧光法测量涂层厚度试验方法的国标啊？

[url=http://www.dscr.com.cn/show.asp?id=175]涂层测厚仪[/url]是一种常用的检测仪器，具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点，被广泛用于制造业、金属加工业、化工业等领域中。特曾测厚仪的原理是什么呢?下面小编就来具体介绍一下，希望可以帮助到大家。　　磁感应测量原理　　采用磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。覆层越厚，则磁阻越大，磁通越小。利用磁感应原理的测厚仪，原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度。一般要求基材导磁率在500以上。如果覆层材料也有磁性，则要求与基材的导磁率之差足够大(如钢上镀镍)。当软芯上绕着线圈的测头放在被测样本上时，仪器自动输出测试电流或测试信号。早期的产品采用指针式表头，测量感应电动势的大小，仪器将该信号放大后来指示覆层厚度。近年来的电路设计引入稳频、锁相、温度补偿等地新技术，利用磁阻来调制测量信号。还采用专利设计的集成电路，引入微机，使测量精度和重现性有了大幅度的提高(几乎达一个数量级)。现代的磁感应测厚仪，分辨率达到0.1um，允许误差达1%，量程达10mm。　　磁性原理测厚仪可应用来精确测量钢铁表面的油漆层，瓷、搪瓷防护层，塑料、橡胶覆层，包括镍铬在内的各种有色金属电镀层，以及化工石油待业的各种防腐涂层。　　电涡流测量原理　　高频交流信号在测头线圈中产生电磁场，测头靠近导体时，就在其中形成涡流。测头离导电基体愈近，则涡流愈大，反射阻抗也愈大。这个反馈作用量表征了测头与导电基体之间距离的大小，也就是导电基体上非导电覆层厚度的大小。由于这类测头专门测量非铁磁金属基材上的覆层厚度，所以通常称之为非磁性测头。非磁性测头采用高频材料做线圈铁芯，例如铂镍合金或其它新材料。与磁感应原理比较，主要区别是测头不同，信号的频率不同，信号的大小、标度关系不同。与磁感应测厚仪一样，涡流测厚仪也达到了分辨率0.1um，允许误差1%，量程10mm的高水平。　　采用电涡流原理的测厚仪，原则上对所有导电体上的非导电体覆层均可测量，如航天航空器表面、车辆、家电、铝合金门窗及其它铝制品表面的漆，塑料涂层及阳极氧化膜。覆层材料有一定的导电性，通过校准同样也可测量，但要求两者的导电率之比至少相差3-5倍(如铜上镀铬)。虽然钢铁基体亦为导电体，但这类任务还是采用磁性原理测量较为合适。　　迪斯凯瑞GT-100高精度涂层测厚仪可无损地直接测量磁性材料（如钢、铁、合金和硬磁性钢）等物体表面上的非磁性覆盖层厚度（如：油漆、塑料，陶瓷，橡胶，铜，锌、铝、铬、铜等）。非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度（如铜、铝、锌、锡等基底上的珐琅、橡胶、油漆镀层）。

具体要求如下:进口设备 1.可测量各种底材:铝、铁、钢、塑料、木材、混凝土、玻璃等表面上的涂层厚度 2.配有50倍带照灯的显微镜 3.配有特制切割刀具,可精确制作样板上的V型槽 4.附有三个切割刀刃,分别是1倍、2倍和10刀刃,最大涂层厚度依次是1250um、500um、75um,精度依次是±6um、±3um、±0.6um 5.可符合标准ASTM D 4138,DIN 50986,BS 3900,ISO 2808 6.随机配有三个切割刀刃,一支纤维笔,仪器携带箱,灯泡和电池请联系:0757-22333012 26233339 覃生 E-mail:fangming.x@163.com

[font=Arial, sans-serif][size=13px][color=#f73131]求助：ASTM D 6132[/color][/size][/font][font=Arial, sans-serif][size=13px][color=#333333]-2020《用非破坏性方法(即采用超声仪)测量施涂在混凝土上的有机涂层的干膜厚度》 [/color][/size][/font]

本人在做一种PC（聚碳酸酯）板材，想在PC板上涂覆一层UV抗紫外剂，请教如何测试这层抗紫外剂的厚度，采用什么仪器，运用何种方法或标准？

一、磁吸力原理测厚仪利用永久磁铁测头与导磁的钢材之间的吸力大小与处于这两者之间的距离成一定比例关系可测量覆层的厚度，这个距离就是覆层的厚度，所以只要覆层与基材的导磁率之差足够大，就可以进行测量。鉴于大多数工业品采用结构钢和热轧冷轧钢板冲压成形，所以磁性测厚仪应用最广。测量仪基本结构是磁钢，拉簧，标尺及自停机构。当磁钢与被测物吸合后，有一个弹簧在其后逐渐拉长，拉力逐渐增大，当拉力钢大于吸力磁钢脱离的一瞬间记录下拉力的大小即可获得覆层厚度。一般来讲，依不同的型号又不同的量程与适应场合。 在一个约350º角度内可用刻度表示0～100µm;0～1000µm;0～5mm等的覆层厚度，精度可达5%以上，能满足工业应用的一般要求。这种仪器的特点是操作简单、强固耐用、不用电源和测量前的校准，价格也较低，很适合车间作现场质量控制。 二、磁感应原理测厚仪磁感应原理是利用测头经过非铁磁覆层而流入铁基材的磁通大小来测定覆层厚度的，覆层愈厚，磁通愈小。由于是电子仪器，校准容易，可以实多种功能，扩大量程，提高精度，由于测试条件可降低许多，故比磁吸力式应用领域更广。当软铁芯上绕着线圈的测头放在被测物上后，仪器自动输出测试电流，磁通的大小影响到感应电动势的大小，仪器将该信号放大后来指示覆层厚度。早期的产品用表头指示，精度和重复性都不好，后来发展了数字显示式，电路设计也日趋完善。近年来引入微处理机技术及电子开关，稳频等最新技术，多种获专利的产品相继问世，精度有了很大的提高，达到1%,分辨率达到0.1µm，磁感应测厚仪的测头多采用软钢做导磁铁芯，线圈电流的频率不高，以降低涡流效应的影响，测头具有温度补偿功能。由于仪器已智能化，可以辨识不同的测头，配合不同的软件及自动改变测头电流和频率。 一台仪器能配合多种测头，也可以用同一台仪器。可以说，适用于工业生产及科学研究的仪器已达到了了非常实用化的阶段。利用电磁原理研制的测厚仪，原则上适用所有非导磁覆层测量，一般要求基本的磁导率达500以上。覆层材料如也是磁性的，则要求与基材的磁导率有足够大的差距(如钢上镀镍层)。磁性原理测厚仪可以应用在精确测量钢铁表面的油漆涂层，瓷、搪瓷防护层，塑料、橡胶覆层，包括镍铬在内的各种有色金属电镀层，化工石油行业的各种防腐涂层。对于感光胶片、电容器纸、塑料、聚酯等薄膜生产工业，利用测量平台或辊(钢铁制造)也可用来实现大面积上任一点的测量。

各位大侠，谁有ASTM B568-1998 用X射线荧光法测量涂层厚度试验方法的原文啊？

对材料表面保护、装饰形成的覆盖层如涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等在有关国家和国际标准中称为覆层（coating）。　　覆层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环是产品达到优等质量标准的必备手段。为使产品国际化我国出口商品和涉外项目中对覆层厚度有了明确的要求。　　覆层厚度的测量方法主要有：楔切法、光截法、电解法、厚度差测量法、称重法、X射线荧光法、β射线反向散射法、电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测测量手段繁琐速度慢多适用于抽样检验。　　X射线和β射线法是无接触无损测量但装置复杂昂贵测量范围较小。因有放射源使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。　　随着技术的日益进步特别是近年来引入微机技术后采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米精度可达到1%有了大幅度的提高。它适用范围广量程宽、操作简便且价廉是工业和科研使用最广泛的测厚仪器[url=http://www.dscr.com.cn/show.asp?id=175]涂层测厚仪[/url]。　　采用无损方法既不破坏覆层也不破坏基材检测速度快能使大量的检测工作经济地进行。　　一、磁吸力测量原理及测厚仪　　永久磁铁（测头）与导磁钢材之间的吸力大小与处于这两者之间的距离成一定比例关系这个距离就是覆层的厚度。利用这一原理制成测厚仪只要覆层与基材的导磁率之差足够大就可进行测量。鉴于大多数工业品采用结构钢和热轧冷轧钢板冲压成型所以磁性测厚仪应用最广。测厚仪基本结构由磁钢接力簧标尺及自停机构组成。磁钢与被测物吸合后将测量簧在其后逐渐拉长拉力逐渐增大。当拉力刚好大于吸力磁钢脱离的一瞬间记录下拉力的大小即可获得覆层厚度。新型的产品可以自动完成这一记录过程。不同的型号有不同的量程与适用场合。　　这种仪器的特点是操作简便、坚固耐用、不用电源测量前无须校准价格也较低很适合车间做现场质量控制。　　二、磁感应测量原理　　采用磁感应原理时利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小来表示其覆层厚度。覆层越厚则磁阻越大磁通越小。利用磁感应原理的测厚仪原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度。一般要求基材导磁率在500以上。如果覆层材料也有磁性则要求与基材的导磁率之差足够大（如钢上镀镍）。当软芯上绕着线圈的测头放在被测样本上时仪器自动输出测试电流或测试信号。早期的产品采用指针式表头测量感应电动势的大小仪器将该信号放大后来指示覆层厚度。近年来的电路设计引入稳频、锁相、温度补偿等地新技术利用磁阻来调制测量信号。还采用专利设计的集成电路，引入微机使测量精度和重现性有了大幅度的提高（几乎达一个数量级）。现代的磁感应测厚仪分辨率达磁感应测厚仪_电涡流测量原理_磁吸力测量原理及测厚仪_电涡流原理的测厚仪到0.1um允许误差达1%量程达10mm。　　磁性原理测厚仪可应用来精确测量钢铁表面的油漆层瓷、搪瓷防护层塑料、橡胶覆层包括镍铬在内的各种有色金属电镀层以及化工石油待业的各种防腐涂层。　　三、电涡流测量原理　　高频交流信号在测头线圈中产生电磁场测头靠近导体时就在其中形成涡流。测头离导电基体愈近则涡流愈大反射阻抗也愈大。这个反馈作用量表征了测头与导电基体之间距离的大小也就是导电基体上非导电覆层厚度的大小。由于这类测头专门测量非铁磁金属基材上的覆层厚度所以通常称之为非磁性测头。非磁性测头采用高频材料做线圈铁芯例如铂镍合金或其它新材料。与磁感应原理比较主要区别是测头不同信号的频率不同信号的大小、标度关系不同。与磁感应测厚仪一样，涡流测厚仪也达到了分辨率0.1um允许误差1%，量程10mm的高水平。　　采用电涡流原理的测厚仪原则上对所有导电体上的非导电体覆层均可测量如航天航空器表面、车辆、家电、铝合金门窗及其它铝制品表面的漆塑料涂层及阳极氧化膜。覆层材料有一定的导电性通过校准同样也可测量但要求两者的导电率之比至少相差3-5倍（如铜上镀铬）。虽然钢铁基体亦为导电体但这类任务还是采用磁性原理测量较为合适。

对于粉末喷涂施工，测量涂层固化前的粉末层厚度也有着重要的意义。粉末涂层测厚仪与湿膜测厚仪的形式有所不同，使用方法也有区别。其中，非接触式粉末厚度测厚仪是一种超声波测厚仪，使用很方便，可以根据粉末的厚度显示出最终涂层的厚度。　　传统的粉末涂层测厚仪包括有：干膜测厚仪和湿膜测厚仪。　　[b]湿膜测厚仪应用：[/b]　　有研究表明，涂层固化过程中会出现应力是不争的事实。大部分涂层在固化过程中会收缩，由此在涂层内部就出现了拉应力 要是在涂层固化过程中涂料分子的结构发生变化，涂层就会膨胀，涂层内部就会存在压应力。　　另外，涂层和基材热膨胀系数不同以及各道涂层间性能的差别等因素都会使涂层内部产生应力。如果涂层中的应力超过了涂层的抗拉强度，涂层就会开裂。内应力的存在还可能使涂层的附着力和抗疲劳性能下降，致使涂层的使用寿命缩短。一旦在涂层完全固化后发现涂层厚度不符合设计要求，就很有可能需要将原先的涂层清除干净后重新涂漆，由此造成的损失会很大。因此，我们需要在涂装过程中随时检查涂层的湿膜厚度。　　[b]干膜测厚仪应用：[/b]　　涂装施工正式结束之前，要按有关要求或标准对涂层的厚度进行全面的检查。检查涂层厚度的方法有很多，但在涂装施工现场，无损检测法是测量涂层厚度最为常用的方法，这种方法操作简便，工作效率高，经济性好，对涂层不会造成破坏性影响。　　为了满足用户对粉末涂料固化前的厚度进行非接触、无破坏性测量，TQC新推出一款可用于湿膜和干膜分析的粉末涂层测厚仪，采用光热法，能够非接触，无破坏性对粉末涂料固化前后的厚度进行分析测量。这台轻巧稳健的仪器可快速精准地测量在金属和MDF底材上粉末涂层在固化前后的厚度。测量系统由传感器和显示器组成，通过一条电缆连接。　[b]　TQC Powder TAG 粉末涂层测厚仪特点：[/b]　　1、操作简便。只需将探头在合适的距离指向测量物品的表面，然后按下“测量”按钮。　　2、可测量任意形状和尺寸的样品，包括边框和边缘的样品。　　3、测量范围大，测量值极其精准。　　4、可测量任意金属底材品如钢、铝及非金属底材如中密度纤维板。　　5、适用于固化或未固化粉末涂料。[align=center][url=http://www.tqc-china.com][img=TQC Powder TAG 粉末涂层测厚仪,416,369]http://www.tqc-china.com/system/upload/day_170711/201707111119434805.png[/img][/url][/align][b]关于TQC Powder TAG 粉末涂层测厚仪更多信息，欢迎随时咨询翁开尔热线：400-680-8138，或者登陆:[/b]www.tqc-china.com.

涂层测厚仪具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点，是控制和保证产品质量必不可少的检测仪器，广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。下面小编为大家介绍涂层测厚仪测厚方法？涂层测厚仪如何选型？[url=http://www.dscr.com.cn/show.asp?id=175]涂层测厚仪[/url]测厚方法？磁性测厚法适用导磁材料上的非导磁层厚度测量。导磁材料一般为：钢\铁\银\镍。此种方法测量精度高。涡流测厚法适用导电金属上的非导电层厚度测量，此种方法较磁性测厚法精度低。超声波测厚法目前国内还没有用此种方法测量涂镀层厚度的，国外个别厂家有这样的仪器，适用多层涂镀层厚度的测量或则是以上两种方法都无法测量的场合.但一般价格昂贵、测量精度也不高。电解测厚法此方法有别于以上三种，不属于无损检测，需要破坏涂镀层，一般精度也不高，测量起来较其他几种麻烦。放射测厚法此种仪器价格非常昂贵（一般在10万RMB以上），适用于一些特殊场合。涂层测厚仪如何选型？用户可以根据测量的需要选用不同的测厚仪，磁性测厚仪和涡流测厚仪一般测量的厚度适用0-5毫米，这类仪器又分探头与主机一体型，探头与主机分离型，前者操作便捷，后者适用于测非平面的外形。更厚的致密材质材料要用超声波测厚仪来测，测量的厚度可以达到0.7-250毫米。电解法测厚仪适合测量很细的线上面电镀的金，银等金属的厚度。迪斯凯瑞GT-100高精度涂层测厚仪可无损地直接测量磁性材料（如钢、铁、合金和硬磁性钢）等物体表面上的非磁性覆盖层厚度（如：油漆、塑料，陶瓷，橡胶，铜，锌、铝、铬、铜等）。非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度（如铜、铝、锌、锡等基底上的珐琅、橡胶、油漆镀层）。具有两种工作方式：直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）

涂层测厚仪主要的作用是测量材料以及物体的厚度，有很多不同的种类，每个种类都利用的是不同原理，本文为大家介绍涂层测厚仪的操作规程　　涂层测厚仪操作规程　　一、技术参数　　采用了磁性和涡流两种测厚方法。通过选择相应的测头，即可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度，又可测量非阿磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度 　　测量范围：(0~1250)μm(F1、N1测头)，F10测头可达10mm 分辨率：0.1μm(F1、N1测头)。　　示值精度：±(3%H+1)μm H为被测涂层厚度。　　二、操作流程　　开启仪器--校准仪器--进行测量--关闭仪器[url=http://www.dscr.com.cn/show.asp?id=374][color=#333333]超声波测厚仪[/color][/url]　　三、操作步骤　　基本测量步骤　　1.准备好待测工件 　　2.将测头插头插入主机的测头插座中 　　3.仪器开机 　　4.判断是否需要校准仪器。如果需要，选择适当的校准方法进行校准 　　5.测量。将测头垂直接触工件的测量面，并轻压测头的加载套，当测头与被测工件表面接触稳定后，随着一声蜂鸣声，屏幕将显示标识和测量值。如果测量标识闪烁或无测量标识则表示测头不稳定.移开测头后，测量标识消失，厚度值保持。　　6.仪器关机。　　四、操作注意事项　　1.如果在测量中测头放置不稳，会引起测量值与实际值偏差较大 　　2.如果已经进行了适当的校准，所有的测量值将保持在一定的误差范围内 　　3.仪器的任何一个测量值都是五次看不见的测量平均值 　　4.为使测量更加精确，可在一个点多次测量，并计算其平均值作为最终的测量结果 　　5.显示测量结果后，一定要提起测头至距离工件10mm以上，才可以进行下次测试。

[size=18px]涂层测厚仪可以用来检测防腐管道的防腐涂层是否合格。防腐管道上面的防腐涂层如果不合格的话就会存在一定的安全隐患，管道长期暴露在空气中或者常埋在地下，受到一定的风化或者腐蚀非常容易引起爆炸。所以一般在安装管道或者施工过程中，使用管道防腐涂层测厚仪来检测防腐涂层是否达标。仪器适合测量防火涂层、防腐涂层等较厚的涂层厚度。[/size]

涂层厚度检测时，按照规范需要采用五点法或者十点法，人工记录和计算平均值，效率低，想采购带计算功能的测厚仪。（跟混凝土回弹仪类似，可以自动计算）

涂层测厚仪和超声波测厚仪的不同之处涂层测厚仪：磁性和电涡流两种测量方法，可无损地检测磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度（如钢铁合金和硬磁性钢上的铝、铬、铜、锌、锡、橡胶、油漆等）以及非磁性金属基体上非导电的绝缘覆盖层的厚度（如铝、铜、锌、锡上的橡胶、塑料、油漆、氧化膜等。　超声波测厚仪是利用超声波的原理对金属、塑料、陶瓷、玻璃及其他任何超声波的良导体进行测量。一般是用在工业生产领域中对材料或零件做精确测量，其另一重要方面是可以对生产设备中各种管道和压力容器进行监测，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度。　　超声波测厚仪http://www.dscr.com.cn/show.asp?id=374是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。按此原理设计的测厚仪可对各种板材和各种加工零件作精确测量，也可以对生产设备中各种管道和压力容器进行监测，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度。可广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。　　超声波测厚仪分为普通型与涂层型，普通型一般需要将测量点打磨出金属光泽后测量，涂层型分为只测量涂层厚度和透过涂层测母材两种；因为波的反射原理，只测量涂层厚度的超声波测厚仪品牌较多，而透过涂层测母材的超声波测厚仪较少。　　测厚仪应用领域　　由于超声波处理方便，并有良好的指向性，超声技术测量金属，非金属材料的厚度，既快又准确，无污染，尤其是在只许可一个侧面可按触的场合，更能显示其优越性，广泛用于各种板材、管材壁厚、锅炉容器壁厚及其局部腐蚀、锈蚀的情况，因此对冶金、造船、机械、化工、电力、原子能等各工业部门的产品检验，对设备安全运行及现代化管理起着主要的作用。　　超声清洗与超声波测厚仪仅是超声技术应用的一部分，还有很多领域都可以应用到超声技术。比如超声波雾化、超声波焊接、超声波钻孔、超声波研磨、超声波液位计、超声波物位计、超声波抛光、超声波清洗机、超声马达等等。超声波技术将在各行各业得到越来越广泛的应用。

铁铝双用涂层测厚仪测厚仪CQ-X5（FN）双功能技术的测厚仪， 完成磁感应和电涡流测量自动转换 http://www.szjmyiqi.com/up/image/201309/20130906153790149014.jpg http://www.szjmyiqi.com/up/image/201309/20130906153710011001.jpg http://www.szjmyiqi.com/up/image/201309/2013090615270230230.jpg http://www.szjmyiqi.com/up/image/201309/20130906152722842284.jpg 产品简介CQ-X5(FN)涂层测厚仪采用了双功能测量技术即磁性和涡流测厚方法，能够自动识别磁性或非磁性底材，然后采用相应的测试方法，可无损地测量磁性金属基体（如钢、铁、合金和硬磁性钢等）上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等) 及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆盖层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。本涂层测厚仪具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点，是控制和保证产品质量必不可少的检测仪器，广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。该产品已经通过华南国家计量测试中心、广东省计量科学研究院验证，并荣获相关证书，深受各大厂家青睐。 适用范围： CQ-x5(FN)涂层测厚仪是铁铝基材双用的测厚仪，可以测量包括铝或铜底材上的特富龙、珐琅、瓷釉、环氧树脂、阳极氧化层或涂料的厚度测量。测厚仪磁感应测试方法应用的涂镀层包括锌、镉、涂料或粉末喷涂。 测试特点：精度高、稳定性好 铁基和非铁基底材自动识别、仪表能自动识别基材种类 切换LCD会显示“NFe”或“Fe 无需校准、一键操作 一体化探头、小巧实用、测量快速精确 自动开、关机以延长电池使用时间技术参数 测量厚度及精度 0-1999μm ± (3.0%+2μm) 0-40mil ± (3.0%+0.1mil) 公英制转换 μm/mil 双显 数据存储 10组数据 技术优势 零点校准 自动开机 内置防腐探头 LCD180度反转显示 电源 1.5V电池（AAA）×1 机身重 70g 机身尺寸 108mm×46mm×23mm产品结构图 http://www.szjmyiqi.com/up/image/201310/20131002161424492449.jpg CQ-X5(FN)涂层测厚仪面板图 CQ-X5(FN)测厚仪标准清单：CQ-x5(fn)涂层测厚仪主机 * 1台保证卡 * 1本说明书 * 1本[color=#000

1、[url=http://www.dscr.com.cn/show.asp?id=175]涂层侧厚仪[/url]的校准方法　　基底校准　　把仪器稳当的，贴合的放在两个(铁基只有一个、基底上测试如果测试结果都是0，那么可直接拿校准片进行测试，或者直接测试客户产品 如果测试基底结果是有数值的，按“ZERO(开关机键左边、”键归零后再测试基底(不能放在校准片上校准，否则出现负数、，测试基底显示为0说明校准成功。如果仍然有数值，可重复以上归零步骤，直到校准值为0.　　例子：在铁或者铝基底上测试3.0(或其他任何数值、，然后按“ZERO”归零后再放在对应的铁或者铝的基底上测试，如果是0，说明校准成功，有数值请重复以上步骤，直到测试基底为0　　2、了解影响精度的因素　　基体金属磁性质　　磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响（在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的），为了避免热处理和冷加工因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准；亦可用待涂覆试件进行校准。　　(a) 基体金属电性质　　基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。　　(b) 基体金属厚度　　每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响。本仪器的临界厚度值见附表1。　　(c) 边缘效应　　本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。　　(d) 曲率　　试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此，在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。　　(e) 试件的变形　　测头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上不能测出可靠的数据。　　(f) 表面粗糙度　　基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大，影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差，每次测量时，在不同位置上应增加测量的次数，以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙，还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点；或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后，再校对仪器的零点。　　(g) 磁场　　周围各种电气设备所产生的强磁场，会严重地干扰磁性法测厚工作。　　(h) 附着物质　　本仪器对那些妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感，因此，必须清除附着物质，以保证仪器测头和被测试件表面直接接触。　　(i) 探头压力　　测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数，因此，要保持压力恒定。　　(j) 探头的取向　　测头的放置方式对测量有影响。在测量中，应当使测头与试样表面保持垂直。

I. 简介 声光可调滤光器的工作原理是建立在声光在各向异性介质中传播使光发生衍射这一原理基础上的。该装置是由压电换能器固定到双折射晶体上形成的。当换能器被应用的射频（RF）信号激发时，晶体中就会产生声波。传播中的声波会产生周期性的调制，从而产生了一个移动相位光栅在适当的条件下衍射入射光束部分。对于一个固定的声频来说，光频的一个窄带满足了相匹配条件并且被累加衍射。射频信号的频率改变，光的带通中心相应改变，以维持相匹配条件。II. 方法 1. 设备使用一台扫描速度4000波长点每秒的AOTF-NIR Luminar3030自由空间光谱仪，在光线路径上通过放置一个铝片来挡住部分光线，光谱仪的光束区就从原来的20x12mm减少到8x8mm。投射到药片上的光线强度就减弱了。在实际组织中，系统将被设计成小型光束的系统，同时提供给每个药片区更多的能量。由于能量的减少，每个光谱70个扫描结果可以有很好的信噪比率。一个最优设计中，6到8个扫描结果可以达到近似的信噪比率。2. 数据收集把药片放置在光学模块下的高度可调节的实验室底架上，调整好高度以便药片在光线通过的路径上。精确的定位不用特殊的安排。从带有5、7、11个涂层的每组中取8片PAA型的药片，进行每个面的扫描，每个药片取得两个光谱。此外，对 8涂层中最后一个涂层（橘黄色）的8PAA药片和绿色涂层的8NPC药片也进行扫描。......IV． 结论和建议这次研究结果表明，使用Brimrose AOTF-NIR 光谱仪测定涂层数目或涂层厚度是可行的。如果在真实的厚度中提供了参考值，那么预测结果就会在实际厚度范围内，如果参考值是名义的数目，那么预测结果也会在名义数目内。但应用名义数目时经常出现错误，如果在实际厚度中做，预测结果将更加精确。使用Brimrose AOTF-NIR光谱仪来区分两种药片，即使是在一个涂层可能遮掩很多信息的情况下仍然是可行的。使用带有较小光束（大约5x3mm）的Brimrose Luminar3030光谱仪从涂层下面获得药片的最大信号是很有必要的。较小的光束区将增加信号的强度，并优化其性能。光谱仪使用较小的光束可减少扫描每片所需的镜头，而且每秒可以进行3到10个药片的测定。每分钟可测药片数目可由一个在线设备来决定。经过和涂层机器的厂商讨论在转桶原理上操作的问题，通过将在涂料桶上安装的窗口进行测定是可能的。设计一个自动采样器，一次提取几个药片，然后把他们直接送到Brimrose Luminar3070片剂分析仪的传送带上也是可能的。这台光谱仪将用漫反射方式对传送带上的药片的涂层进行分析。对于过程控制和产品质量来说，实时知道涂层的厚度是很有价值的，而且可以很快收回投资。建议使用Luminar3070片剂分析仪来指导这种可行性。同时建议订购Luminar3030和Luminar3070 Brimrose AOTF-NIR光谱仪，以便进一步校准和测试。光谱仪的选择将取决于片剂分析仪Luminar3070可行性研究的结果。更多前沿信息，请关注：[url=http://www.jhlaotf.com/pro/A_lianxi.asp]AOTF技术中心[/url] [url=http://www.jhlaotf.com/pro/A_news.asp?cataid=A0017]AOTF应用报告[/url]

I. 简介 声光可调滤光器的工作原理是建立在声光在各向异性介质中传播使光发生衍射这一原理基础上的。该装置是由压电换能器固定到双折射晶体上形成的。当换能器被应用的射频（RF）信号激发时，晶体中就会产生声波。传播中的声波会产生周期性的调制，从而产生了一个移动相位光栅在适当的条件下衍射入射光束部分。对于一个固定的声频来说，光频的一个窄带满足了相匹配条件并且被累加衍射。射频信号的频率改变，光的带通中心相应改变，以维持相匹配条件。II. 方法 1. 设备使用一台扫描速度4000波长点每秒的AOTF-NIR Luminar3030自由空间光谱仪，在光线路径上通过放置一个铝片来挡住部分光线，光谱仪的光束区就从原来的20x12mm减少到8x8mm。投射到药片上的光线强度就减弱了。在实际组织中，系统将被设计成小型光束的系统，同时提供给每个药片区更多的能量。由于能量的减少，每个光谱70个扫描结果可以有很好的信噪比率。一个最优设计中，6到8个扫描结果可以达到近似的信噪比率。2. 数据收集把药片放置在光学模块下的高度可调节的实验室底架上，调整好高度以便药片在光线通过的路径上。精确的定位不用特殊的安排。从带有5、7、11个涂层的每组中取8片PAA型的药片，进行每个面的扫描，每个药片取得两个光谱。此外，对 8涂层中最后一个涂层（橘黄色）的8PAA药片和绿色涂层的8NPC药片也进行扫描。......IV． 结论和建议这次研究结果表明，使用Brimrose AOTF-NIR 光谱仪测定涂层数目或涂层厚度是可行的。如果在真实的厚度中提供了参考值，那么预测结果就会在实际厚度范围内，如果参考值是名义的数目，那么预测结果也会在名义数目内。但应用名义数目时经常出现错误，如果在实际厚度中做，预测结果将更加精确。使用Brimrose AOTF-NIR光谱仪来区分两种药片，即使是在一个涂层可能遮掩很多信息的情况下仍然是可行的。使用带有较小光束（大约5x3mm）的Brimrose Luminar3030光谱仪从涂层下面获得药片的最大信号是很有必要的。较小的光束区将增加信号的强度，并优化其性能。光谱仪使用较小的光束可减少扫描每片所需的镜头，而且每秒可以进行3到10个药片的测定。每分钟可测药片数目可由一个在线设备来决定。经过和涂层机器的厂商讨论在转桶原理上操作的问题，通过将在涂料桶上安装的窗口进行测定是可能的。设计一个自动采样器，一次提取几个药片，然后把他们直接送到Brimrose Luminar3070片剂分析仪的传送带上也是可能的。这台光谱仪将用漫反射方式对传送带上的药片的涂层进行分析。对于过程控制和产品质量来说，实时知道涂层的厚度是很有价值的，而且可以很快收回投资。建议使用Luminar3070片剂分析仪来指导这种可行性。同时建议订购Luminar3030和Luminar3070 Brimrose AOTF-NIR光谱仪，以便进一步校准和测试。光谱仪的选择将取决于片剂分析仪Luminar3070可行性研究的结果。更多前沿信息，请关注：[url=http://www.jhlaotf.com/pro/A_lianxi.asp]AOTF技术中心[/url] [url=http://www.jhlaotf.com/pro/A_news.asp?cataid=A0017]AOTF应用报告[/url]