涂层镀层测试仪

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涂层镀层测试仪相关的厂商

  • FISCHER — 让测量变得简便! 现今,FISCHER 的测量和分析仪器广泛应用于世界各个领域,可满足客户对高精度、高可靠性测量和操作简便的需求。我们通过专业的咨询服务为客户提供最佳的解决方案,即从第一次接触开始,不断沟通,直至达到定制化服务的理念。这些紧密合作与我们的创新驱动力不断结合,为形成新的测量解决方案奠定了坚实的基础。 HELMUT FISCHER集团是一家受德国基金会控股、专业生产和销售涂镀层测厚仪、材料分析仪、微纳米压痕仪(微纳米硬度仪)和材料测试仪的全球性集团公司。集团总部位于德国和瑞士,在德国、美国和英国各建有一个工厂、并设立了一个研究院和多个全球用户应用实验室,在全世界设有近50个分公司。??位于德国总部的基地,用于生产、物流、研发及客户应用??南通菲希尔测试仪器有限公司是HELMUT FISCHER集团在中国大陆地区设立的唯一子公司,全权负责FISCHER产品在中国地区的销售、安装、维修、备品备件及技术咨询等业务。FISCHER生产的涂镀层测厚仪主要分为:X射线涂镀层测厚及材料分析仪、β射线测厚仪、电涡流法测厚仪、电磁感应测厚仪、库仑法(多层镍电位差)测厚仪,除此之外还有包括 微纳米压痕仪(微纳米硬度仪)、电导率测试仪、铁素体含量测试仪、孔隙率测试仪 和 针孔测试仪 等在内的多种测试仪器。 FISCHER 公司生产的各类仪器,广泛应用于航天工业、航空工业、造船工业、港口机械、电镀工业、显像管流水线、电子工业(包括印制电路行业、半导体工业)、汽车工业、石油化工、黄金珠宝、手表、大专院校、科研单位、第三方测试机构等众多行业。 南通菲希尔测试仪器有限公司成立于1997年,位于中国上海,至今已在东莞建立了分公司;在北京、西安、青岛、厦门设立了办事处;并在成都、昆山、苏州、南京、宁波等地建立了售后服务点。FISCHER中国的应用实验室更是在2011年获得了ISO/IEC17025:2005认证。 “让用户满意”是公司的一贯宗旨,FISCHER将以一流的服务来赢得用户的信赖。选择FISCHER仪器,为您产品的超高品质提供保障。 认证在 FISCHER,产品和服务的认证和持续改进至关重要。这也是Helmut Fischer GmbH,Institut für Elektronik und Messtechnik 能够通过 ISO 9001 认证的原因。自 1997 年起,我们的质量管理体系已符合 DIN EN ISO 9001:2008 标准。 获得认证的校准实验室 获得认证的校准实验室2003 年,Helmut Fischer 成为了第一个根据 DIN EN ISO/IEC 17025 标准而获得的“表面尺寸”量值认证的德国公司。因此,公司有资格代表德国认证机构 DAkkS 来检验校准标准片,并为其出具证书供用户使用。校准标准片如可用于:例如,对 X 射线荧光仪器进行校准;从而极大地提高了测量的可靠性。 Germany: DIN EN ISO/IEC 17025 USA: ISO/IEC 17025:2005 & ANSI/NCSL Z540-1-1994 Switzerland: ISO 17025 SCS & STS DIN 成员(德国标准化学会) 自 2016 年 3 月 1 日起 FISCHER 成为 DIN 成员。公司自愿遵守标准化自律守则,提升总体经济竞争力。 应用实验室凭借我们在业内多年的经验优势,助力您解决复杂的测量难题。在遍及欧洲、亚洲和美国的七个应用实验室中,我们的技术专家会为客户在正确选择仪器、开发测量方法及确定合适的测量程序方面提供支持。 凭借我们在业内多年的经验优势,助力您解决复杂的测量难题。 所有 Fischer 集团内部的应用实验室之间都已建立联系,同时也与各高校、机构及企业建立了合作关系。这样稳定的知识交流体系能够确保获取到全球最前沿的专业知识,同时也能够应对特殊咨询。除提供客户定制培训(可以在我们的实验室进行也可以在您的公司进行)外,我们的技术专家也非常愿意协助您对测量结果进行分析。 Helmut Fischer 博物馆企业家 Helmut Fischer博士的专业知识、工作热情、发明家精神以及卓越的执行力是公司成功发展的源动力。他的成功故事从 1953 年在斯图加特创建的技术车间开始。现今,Fischer 作为业务遍及全球的大公司,已成为工业测量技术领域的领导者之一。持续改革与永无止境的创新是其从始至终一直坚守的明确目标。Helmut Fischer 研发的首款测量仪器 位于总部的博物馆展示了公司创始人,同时也是公司长期所有人 Helmut Fischer博士的成功人生。参观者们受邀来感受公司从小工厂成长为国际性解决方案提供商的发展历程,以及了解 Fischer产品从最初创意到最终投入市场的整个过程。Helmut Fischer 博物馆的常客:当地的在校学生 ????????更多详情请访问公司官网:http://www.helmutfischer.com.cn
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  • 北京海勤科技有限公司提供的无损检测仪器设备包括德国EPK公司涂层测厚仪、超声波测厚仪,超声波涂层测厚仪,炉壁测厚仪(测量耐火砖),库伦测厚仪(测量镀层),无线测厚仪(蓝牙通信),针孔检测仪,里氏硬度计。英国RHOPOINT公司便携式光泽仪、台式光泽仪,小孔径光泽仪,曲面小工件光泽仪,雾影光泽仪,透射雾影仪,反射率仪(针对涂料),最低成膜温度测试仪,斯托默粘度计,各种标准粘度杯。英国PTE公司划格器,针孔检测仪,湿法针孔检测仪,露点仪,涂层缺陷手册,盐分测试套装,清洁度测试套装。德国COLORLITE公司便携式色差仪,台式色差仪,在线色差仪,高精分光密度计。德国BYK公司色差仪(素色),多角度色差仪(金属色),橘皮仪,透射雾影仪,炉温跟踪仪,划格器等物理性检测仪器。德国Bareiss邵氏硬度计、国际橡胶硬度计。美国X-Rite色差仪,密度计。海勤的企业文化:海纳百川,天道酬勤!上善若水,厚德载物!诚信做人,良心做事!
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  • 深圳市安达仪器仪表有限公司主要经营各大品牌仪器仪表,适用于各大工厂和教育部门等使用,如PCB线路板厂,五金电镀厂,塑胶厂,五金首饰厂,半导体厂,玻璃厂等。我们拥有专业的服务团队,销售,安装,培训,售后服务,修理一条龙服务,使你买得放心,用得安心,无后顾之忧。一、测厚仪德国宏德X射线测厚仪,主要有型号:Compact eco , Compact 5 , Maxxi 4 , Maxxi 5,maxxi 5 pin等,配备DELL/联想电脑系统,HP打印机。韩国Micro Pioneer XRF-2000 X射线测厚仪,主要有型号:XRF-2000PCB,XRF-2000H,XRF-2000F等,配备DELL/联想电脑系统,HP打印机。俄罗斯孔铜测厚仪ITM-52(配备EP-30/EP-25/EP-20探头,探头连接线,校正器,标准片)手提式,经济实惠又方便美国进口KOCOUR品牌电解/库仑测厚仪(电位差测试仪)(model6000)及电解测试液和标准片美国进口START品牌铜箔测厚仪(SM6000)日本进口KETT品牌涂层测厚仪(LZ-990,;LE/LH/LZ-370等等型号涂层测厚仪)美国进口UPA品牌β射线涂镀层测厚仪(MP-700(已停产,服务仍在继续);MP-900(带霍尔效应功能)CMS(手持式);磁感应/电涡流涂层测厚仪(D-1500;D-3000;D-3000 PLUS);孔铜测厚仪/面铜测厚仪(CD-8);及各种涂镀层测厚仪标准片 二、水处理设备日本共立(KYORITSU)水质测试包/快速测试仪/污水测试包,各种元素齐全,如Cu离子,Fe离子,COD,PO4,NO3,NH4,Zn等。方便快捷,简单易学.一学即会。单项目水质计(DIGITAL PACK TEST )型号:DPM-简易水质测定组-铅 型号:SPK-Pb美国禾威(WALCHEM)水处理控制器:镀镍自动添加药水控制器(型号 WNI310 WNI410 WNI420) 镀铜/蚀铜自动添加药水控制器(型号 WCU310 WCU410 WCU420) PH/ORP传讯器 / 监控器备有W-130,W-230 ,WPH310 ,WPH320,WPH410,WPH420 电导率自动添加药水控制器WEC310,WEC410 锅炉水处理控制器。备有WBL300/310、WBL400/410、WCM300及WCM400/410。 Web Master ONE在线分析过程控制器 WEL探头电极等相关耗材配件 三、金相设备正置显微镜,倒置显微镜,配DELL/联想电脑系统,图像处理软件,进口CCD摄像头。美国EXTEC研磨抛光机(单盘,双盘),切割机美国EXTEC消耗品:抛光绒布,胶膜,砂纸,抛光膏,凝胶套件,切割液,切割碟等。 四、其它美国OMEGA SMD500,SMD600离子污染测试仪,(离子交换柱,校正液,LCD显示屏)。辐射表-美国进口Seintl(S.E.)品牌辐射测量表(MC1K,monitor4,inspector等)美国进口CalMetics品牌测厚仪标准片/校正片,标准片检定(含证书有效期一年).工业放大镜(台式,夹台式,落地式,折叠式,方形/圆形镜片)美国DICKSON温湿度记录仪/记录纸/记录笔美国进口Kwik-chek品牌孔径规(10A,20AM,30AM,40AM)美国KOCOUR品牌离心机,离心管,用于测定硫酸根离子美国ECI品牌电镀添加剂分析仪(QL-5E和QL-10E) 我们的服务宗旨是:客户至上,服务与质量并在,一起共创双赢.安达欢迎您来电咨询!
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涂层镀层测试仪相关的仪器

  • 涂层镀层检测仪 天研 电泳层膜厚仪是一款测量磁性金属材料表面涂镀层覆盖层物体厚度的专业无损检测仪器。采用磁性测厚方法,可无损地测量磁性金属基体(如:钢、铁)上非磁性覆层的厚度(镀锌、铬、锢、珐琅、橡胶、粉末、油漆、电泳、搪瓷、喷塑、涂料、防腐防火涂层等),本仪器结构精密牢固,重复性好,性能犹佳,使用简单,携带便捷。  应用领域:广泛地应用于涂装行业、制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。  涂层镀层检测仪 天研 电泳层膜厚仪仪器特点  l 操作简单,测试速度快,灵敏度好,测量精度高  l 采用合金探头,坚硬耐用,精准  l 具有两种测量方式:连续测量和单次测量  l 设有四个统计功能:最大值(MAX)、最小值(MIN)、平均值(MEA)、测量次数(No)  l 大容量存储,可分10组存储,每组200个,共可存贮2000个数据  l 存储数据存看删除功能  l 三种校准方式:零点校准、两点校准、多点校准  l 上下限报警功能(单次测量模式下可设置)  l 操作过程有蜂鸣声标示(单次测量模式下)  l 自动识别铁基和非铁基底材  l 公英制转换μm/Mil  l 阳光模式(强光下使用)  l 中英文双语言版本  l 2.3寸大彩屏大字号显示  l 手动/自动关机功能  技术参数  A、测量范围:0-6000μm  B、使用环境:温度:0℃-60℃,湿度:20%RH—90%RH,无强磁场环境下使用  C、最薄基体:0.4mm  D、测量精度:±3%H+2μm  E、分辨率:0.1μm /1μm(100μm以下为0.1μm,100μ以上为1μm)  F、最小基体面积Φ16mm  G、最小曲率:凸5mm 凹25mm  H、外形尺寸:130mm*70mm*24mm  I、重量:100g  J、电源:三节(7号)碱性电池
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  • X射线荧光镀层测厚仪,涂层镀层测厚仪X射线荧光镀层测厚及材料分析仪系列测量方向产品型号应用范围检测器射线管基本滤片准值器数量/尺寸(mm)C型开槽从下往上XUL一款适合电镀厂测量镀层厚度的性价比高的仪器,它配备了一个固定的准值器和滤,射线管出射点稍大,非常适合测量点在1mm以上的应用。对于测量典型电镀层厚度的应用,如Cr/Ni/Cu等,非常合适。PC标准11(Φ0.3)是XULM多用途的镀层厚度测量仪。无论是薄的还是厚的镀层(如50nm Au或100um Sn)都通过选择好的高压滤片组合很好的测量。微聚焦管可以达到在很短的测量距离内小到100um的测量点大小。高达数kcps的计数率可以被比例接收器接收到。PC微聚焦34(0.05*0.05-Φ0.3)是XAN110/120专门为分析金合金开发的划算的仪器。比较XAN而言,只有一个固定的准直器和固定的滤片,特别适合贵金属分析。XAN 110配备比例接收器,适于几种合金元素的简单分析。XAN120配备了半导体接收器,更可以应用于多元素的复杂分析。PC(XAN 110)PC(XAN 120)标准11(Φ0.3XAN110)1(Φ1XAN120)否XAN分析专用仪器,测量方赂从下到上。用途广泛。测量室全封闭,可以使作大准直器分析,高计数康可也可被硅漂移探测器处理。激发和辐射检测方式与XDV-SDD相同。它是金合金分析和塑料中有害物质衡量分析的理想仪器。PINSDD微聚焦3/64(Φ0.2-Φ2)否从上往下测量XDL适合镀层厚度测量的耐用仪器,即使大测量距离也可以测量(DCM,范围0-80mm)配备一个固定的准值器和固定的滤片。适合测量点在1mm以上的应用;跟XUL类似。可选 用自动测量的可编程工作台。PC标准11(Φ0.3)是XDLM比XDL适用面更广,配备微聚焦管,4个可切换的准直器和3个基本滤片。测量头与XULM想似;适合于测量小的结构如接插件触点或印刷线路板,也可以测量大的工作(DCM,范围0-80mm)PC微聚焦34(0.05*0.05-Φ0.3)是XDAL与XDLM类似但配备了半导体接收器。这样就可能可以分析元素和测量超薄层(基于良好的信噪比)。比较适合测量结构较大的样品。PIN微聚焦34(Φ0.1-Φ0.6)是XDC-SDD适合于全部应用的高端机型。根据测量点大小和光谱组成,激发方式灵活多样。配备了硅漂移接收器,即使强度高达100kcps的信号也可以在不损失分辨率的情况下处理。SDD微聚焦64(Φ0.1-Φ0.3)否SDV-U专用微观分析的测量仪器。根据X射线光学部件的不同,可以分析小到100um或更小的结构。强度很高所以精度也非常好。即使很薄的镀层,测量不确定性小于1nm也是可能的。仅适于测量表面平整或接近平整的样品。SDD微聚焦4多毛细管系统是XDV-Vacuum具备综合测量能力的通用高端机型。与XDV-XDD相当。但可外配备了可抽真空的测量室,这样就使得分析从原子序数Z=11(Na)开始的轻元素成为可能。高精度的马达驱动的XYZ平台和视频摄像头可以精确定位样品位置和测量细小部件。SDD微聚焦64(Φ0.1-Φ3)否在线测量X-RAY 4000用于生产过程中薄膜,金属带或穿孔带的连续测量。测量头可以装配与样品传送方向的直角的位置。操作方便,启动迅速。数据接口可集成到质量管理或控制系统X-RAY54000用于生产线上连续测量的法兰式测量头。测量带状物,薄膜或玻璃的金属元素。在空气和真空都可以测量。提供水冷版本仪器。 X射线荧光镀层测厚仪,涂层镀层测厚仪用途:由于能量色散X射线荧光光谱法可以分析材料成分和测量薄镀层及镀层系统,因而应用广泛 在电子和半导体产业里,测量触点上薄金,铂和镍层厚度或痕量分析。在钟表和珠宝行业或采矿精炼工业中,精确分析贵金属合金组分。在质量管控和来料检验中,需要确保产品或零部件完全满足材料设计规范。如在太阳能光伏电池产业中,光伏薄膜的成分组成和厚度大小决定了光伏电池的效率。在电镀行业中,则需要测量大批量部件的厚度。对于电子产品的生产者和采购者,检验产品是否符合《限制在电子电气产品中使用有害物质的指令》(ROHS指令)也是十分关键的。在玩具工业中,也需要有可靠的有害物质检测手段对于以上测量应用,菲希尔的FISCHERSCOPE X-射线光变仪都能完美胜任。 X射线荧光镀层测厚仪,涂层镀层测厚仪用途领域:1、钟表,首饰,眼镜 2、汽车及紧固件 3、卫浴五金4、连接器5、化学药水6、通信7、半导体封装测试8、电子元器件 9、PCB(线路板)
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  • 台式机孔面铜测试仪 MMS PC2 BUFISCHERSCOPE MMS PC2 BU用途:高级台式仪器,用于涂层厚度测量和材料测试,具有彩色触摸屏、可进行个性化配置并带有各种设备接口。 特征:1、中文触摸屏;2、高解像度之轻触式彩色液晶显示屏幕;3、拥有多种不同测量方法集于一身;4、通过利用有特定应用性的测量探头及相关的组件卡;5、此测量系统可根据所需之方法而运作;6、设有1000个应用程式可以储存最多1百万个读数;7、具备各种统计的功能如SPC控制图表等;8、具RS232接口,USB接口及网络卡接口;9、标准接口方便连接PS2键盘,PS2滑鼠,电脑。 技术参数 :插入式模块 SR_SCOPE MMS PC1、该模块应用电阻法的测量原理,2、可连接带有19针连接器的探头。 面铜测量探头PROBE ERCU N1、4点式探头,采用接触式微电阻方法;2、测量PCB上裸铜箔的厚度;3、不受中间层或背面铜箔的影响。4、只能与带有插拔式的SR-ScopeMMS和MMS 7/8型号的联接板
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涂层镀层测试仪相关的资讯

  • 天瑞镀层测厚仪Thick 800A取得技术突破
    天瑞仪器新一代Thick 800A核心技术已取得突破性进展。  镀层测厚仪市场一直对高精度仪器有着很高的需求,天瑞仪器作为国内镀层测试企业的行业领先龙头,一直以满足市场客户需求为目标,致力于新技术的研究和新产品的更新换代。  在此之前,国内小功率仪器无法测试0.5mm以下微小尺寸的镀层样品,国际同类仪器如不借助透镜聚焦也只能达到0.2-0.3mm的标准。此次我司推出的新一代Thick 800A,测试精度目标已达0.2mm以下。  在董事长刘召贵博士、应刚总经理的亲切关怀、指导并时刻关注下,公司常务副总经理兼研发项目管理委员会主任委员王耀斌亲自挂帅负责此项目的研发工作,我司研发部研发人员和生产部技术部配合人员经过多次对比试验、数据分析,摸索、总结出了自己的一套独特的测试、加工和装配技术,并应用了几项本公司的发明专利,终于攻克技术难关,取得了突破性进展。据对比测试结果分析,国外同类测试仪器最小测试光斑为0.2-0.22mm,我司研制推出的新一代Thick 800A最小测试光斑为0.15-0.18mm,天瑞仪器镀层测厚仪已进入新一阶段。  为了尽快满足广大客户对微小样品镀层测厚仪的迫切需求,本研发成果取得成功后立即转入产品调试、应用阶段,目前新一代镀层测厚仪Thick 800A已投入批量生产,最迟在本月底前揭开神秘而绚丽的面纱,和广大客户会面。
  • 提供MSE 表面涂层综合性能评价试验机的样品性能评估测试
    佰汇兴业(北京)科技有限公司最新引进日本MSE 表面涂层综合性能评价试验机, 可提供多种涂层材料的综合性能评估,欢迎社会各界人士对我公司进行参观考察并进行样品的性能评估测试。 日本Palmeso Co., ltd 公司 表面涂层综合性能评价试验机(MSE微粒喷浆冲蚀法)使用恒定的固体微粒对材料表面进行冲蚀,材料磨损量随表面强度而改变。MSE试验机将磨损量的变化转换成磨损率,来评估和对比各种材料表面强度。 适用范围:涂层、镀层、镀膜◎ 涂层强度 (可检测多级涂层强度且数值化)◎ 复合涂层厚度(可分层检测多涂层)◎ 涂层间、涂层与基体结合力◎ 通过对膜的检测,评价镀膜工艺性能◎ 涂层均匀度 评估事例:◎ 表面粗糙材料上薄膜的膜强度和膜厚度的评价◎ 塑料镜片上的硬质薄膜的膜强度和膜厚度的评价◎ 基体表面上很薄的DLC涂层的膜强度和膜厚度的评价◎ PVD陶瓷表面复合涂层的膜强度和膜厚度的评价◎ 树脂薄膜上软材质复合涂层的膜强度和膜厚度的评价◎ 金属表面化学镀膜处理后的膜强度和膜厚度的评价欢迎来电咨询!
  • 日立分析仪器为台式光谱仪系列新增强大解决方案,以应对涂镀层行业的常见挑战
    日立分析仪器是日立高新技术公司(tse:8036)旗下一家从事分析和测量仪器的制造与销售业务的全资子公司。今日,日立分析仪器为台式光谱仪系列新增强大解决方案,以应对涂镀层行业的常见挑战。ft系列涂镀层测厚仪旨在对生产质量控制发挥关键作用,其在金属饰面处理和电子市场中的具有广泛应用。ft110a 和 ft150 系列为复杂形状的大型零件测量以及小型特征超薄涂层测量提供了新型解决方案。这两种仪器均属于台式 edxrf(能量色散x射线荧光)光谱仪,具有功能强大的软件和硬件,旨在提高样品分析量,任何操作员都可获得高质量的结果。ft110aft150轻松处理复杂样品ft110a 包含多个特征,用于测量通常难以处理的零件。可配置全封闭或开槽门的大型腔室,可装入汽车零部件和装饰五金件,与处理小型紧固件一样容易。自动对焦程序可以在离样品表面 80mm 的位置进行测量,非常适合测量凹陷区域或快速测量不同高度的多个零件。自动接近功能提供一键式定位功能,可将x射线组件设置在理想距离,以获得有复验性的结果。宽视角摄像头将呈现整个样品的图像,以便轻松定位所需的测量位置。只需点击图像中的特征,它将自动对准进行分析。测量纳米级的涂层ft150 配置高端组件,可以提供精细结构上的超薄涂层的元素分析。毛细聚焦管聚焦x射线束直径小于20μm,实现在样品上聚焦更大强度,并测量小于传统准直器可测量的特征。高灵敏度、高分辨率vortex硅漂移探测器(sdd)充分利用光学元件测量微电子设备和半导体上的纳米级涂层。高精度载物台和具备数字变焦功能的高清摄像头可快速定位样品特征,以提高样品分析量。日立分析仪器产品经理 matt kreiner 表示:“受到40年xrf镀层测厚仪研发经验启发,ft110a 和 ft150 使用的智能功能解决了涂镀层分析中最难的一些挑战。ft110a 的样品处理能力和 ft150 的微焦分析能力补全了我们全套涂镀层测厚仪系列,我们很高兴为客户提供这些新型解决方案。”关于日立高新技术公司日立高新技术公司总部位于日本东京,从事科学和医疗系统、电子设备系统、工业系统和先进工业产品等广泛领域的活动。公司2017财年的综合销售额约为6877亿日元(约合63亿美元)。关于日立分析仪器公司日立分析仪器是2017年7月成立并隶属于日立高新技术集团的全球性公司,总部位于英国牛津。其研发和生产运营部门位于芬兰、德国和中国,在全球许多国家可提供销售和支持服务。我们的产品系列包括:ft系列、x-strata 和 maxxi 微焦斑 xrf 分析设备可测量单层和多层合金涂层厚度,可应用于质检和过程控制和科研实验室。lab-x5000 和 x-supreme8000 台式 xrf 分析仪可为石油、木材处理、水泥、矿物、采矿和塑料等多种行业提供质量保证和过程控制。我们的 pmi-master、foundry-master 和 test-master 系列直读光谱仪被世界各行各业用来进行快速和精确的金属分析。这些仪器采用光学发射光谱技术可测定所有重要元素,其检测限低,精度高,包括钢中的碳和几乎所有金属中所有技术相关的主要元素和微量元素。x-met8000 手持分析设备,采用高精度 xrf 技术,可为很多行业提供简单、快速和无损的合金分析,包括废旧金属分拣和金属品级筛选。vulcan 手持分析设备,采用 libs 激光技术,可一秒检测金属合金,为检测量大的金属行业客户提供了最佳检测解决方案。

涂层镀层测试仪相关的方案

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  • 涂层测厚仪涂镀层测试方法表

    涂层测厚仪涂镀层测试方法表涂层测厚仪涂镀层测试方法表……不同基材-涂镀层(表1)涂镀层基材 铝铅 铬 铝氧化磷化层铬酸盐 瓷釉油漆塑料金 镉 铜 焊锡焊接金属 铝及铝合金 * B,Q,X B,E,Q,X E B,E B,Q,X B,Q,X B,Q,X B,X 玻璃、陶瓷、塑料 B,E,Q B,X B,Q,X - * B,X B,Q,X B,E,Q,X B,Q,X 金 - - B,Q,X - B * - - - 硬金属:钨、钼 B,Q,X X B,X - B X (B),X B,X X 铜和铜合金 B, X B,Q,X E,Q,X E B,E B,X B,Q,X (Q,X) B,Q,X 镁和镁合金 * B,X B,E,X E B,E B,X B,X B,X B,X 镍 B,Q,X B,Q,X B,Q,X - B,E B,X B,Q,X Q,X B,Q,X 银 - - - - B,E B,X - - - 铁和钢 B,M,Q,X B,M,Q,X M,Q,X M B,M B,M,X B,M,Q,X M,Q,X B,M,Q,X 非磁性钢 B,Q,X B,Q,X Q,X - B,E B,X B,Q,X Q,X B,Q,X 钛和钛合金 X B,X X E B,E B,X B,X B,Q,X B,Q,X 锌和锌合金 B,X B,X E,X E B,E B,X B,X Q,X B,X测试方法表……不同基材-涂镀层(表2)涂镀层基材 黄铜磁性镍非磁性镍 钯PVDCVD铹 银锌锡 铝及铝合金 B,N,Q,X B,Q,XB,XB,Q,XXB,X B,Q,X B,Q,X B,Q,X 玻璃、陶瓷、塑料 B,X B,N,Q,X B,Q,XB,XB,XB,X B,Q,X B,Q,X B,Q,X 金 - - -B,X -B,X B,X - - 硬金属:钨、钼 B,X B,N,X X(B),X (B),X (B),X (B),X B,XB,X 铜和铜合金X N,Q,X B,XB,XB,X B,X B,Q,XB,XB,X 镁和镁合金B,X B,N,XB,XB,XX B,X B,X B,X B,X 镍 X *B,XB,XB,X B,X B,Q,XB,X B,Q,X 银 -

涂层镀层测试仪相关的耗材

  • MINITEST600-N 涂镀层测厚仪
    MINITEST600-N 涂镀层测厚仪一、 MiniTest 600涂层测厚仪产品名录 MiniTest 600 系列涂层测厚仪产品主要包括两种小类型:MiniTest 600B和MiniTest 600,每种小类都可分为F型、N型、FN型三种,因此600系列测厚仪共有6种机型供选择。600B型与600型的最大区别就是600B是基本型,没有统计功能。 涂层测厚仪MiniTest600型号选择 MiniTest 600BF3(铁基体基本型,无统计功能和接口) MiniTest 600BN2(非铁基体基本型,无统计功能和接口) MMiniTest 600BFN2(两用基本型,无统计功能和接口) MiniTest 600F3(铁基体统计型) MiniTest 600N2(非铁基体统计型) MiniTest 600FN3(两用统计型) 二、 MiniTest 600涂层测厚仪的测量原理及应用 F型测头是根据磁感应原理设计的,主要测量钢铁基体上的非磁性涂镀层。例如:铝、铬、铜、锌、涂料、橡胶等,也适用于合金和硬质钢。 N型测头是根据电涡流原理设计的,主要测量非铁磁性金属和奥氏体不锈钢上的涂层。例如:铝、铜、铸锌件上的涂料、阳极氧化膜、陶瓷等。 FN型测头是同时利用磁感应原理和电涡流原理设计的,一个测头就可完成F型和N型两种测头所能完成的测量。 三、 MiniTest 600涂层测厚仪的测量中的相关注意事项 测量前一定要在表面曲率半径、基体材料、厚度、测量面积都与被测样本相同的无涂层的底材上较零,才可以保证测量的精确性; 每次测量之间间隔几秒钟以保证读数的准确性; 喷砂、喷丸表面上的涂层也可以测量,但要严格按照说明书的校准步骤进行校准; 不要用力拽或折测头线,以免线断; 严禁测量表面有酸、碱溶液或潮湿的产品,以免损坏测头; 测量时测头轴线一定要垂直于被测工作表面; 每次测量应有大于3秒的时间间隔。 四、 MiniTest 600涂层测厚仪的技术参数 测量范围 F型 0-3000um N型 0-2000um FN型(两用型) 0-3000um(F),0-2000um(N) 允许误差 ± 2um或± 2-4%读数 最小曲率半径 5mm(凸)、25mm(凹) 最小测量面积 &Phi 20mm 最小基体厚度 0.5mm(F型)、50um(N型) 测量单位 Um-mils可选 显示 4位LED数字显示 校准方式 标准校准、一点校准、二点校准、基础校准(华丰公司内) 统计数据 平均值、标准偏差、读数个数、最大值、最小值 接口 RS-232(不适合B型) 电源 2节5号碱性电池 仪器尺寸 64mmX115mmX25mm 测头尺寸 &Phi 15mmX62mm 五、 MiniTest 600涂层测厚仪的标准配置 主机和指定型号的测头一体; 5号碱性电池两节; 零板和厚度标准箔; 中英德文操作手册各一本; 六、 MiniTest 600涂层测厚仪的可选配置 便携箱; 橡胶套; 打印机MiniPrint 4100; RS-232数据接口电缆; 精密支架 数码显示器背光照明。 七、MiniTest 600涂层测厚仪的符合标准 DIN 50981,50982; ASTM B499,E367,D1186,B530,G12 BS5411 DIN EN ISO 2178,2361 八、 MiniTest 600涂层测厚仪的关于校准 标准校准:适合平整光滑的表面和大致的测量。 一点校准:置零,不用标准箔。用于允许误差不超过4%的场合。 两点校准:置零,用一片标准箔。用于误差范围在2-4%之间的测量 特殊的基础校准:此校准只能在华丰公司进行。 九、 MiniTest 600涂层测厚仪的一般维修 如果出现E03、E04、E05则一般要换探头系统+PCB板; 如果主板不上电,在排除电池原因后一般要更换主板或更换键盘; 测值不稳定,可认为探头系统频率不稳定,一般要更换探头系统; 在显示系统不能正常显示时,可更换显示系统; 更换电缆时,一定要保证电缆长度不小于1m;
  • 铁基涂层测厚仪,非铁基涂层测厚仪CM-8822
    铁基/非铁基涂层测厚仪CM-8822 一、应用概述 用磁性传感器测量钢、铁等铁磁质金属基体上的非铁磁性涂层、镀层,例如:漆、粉末、塑料、橡胶、合成材料、磷化层、铬、锌、铅、铝、锡、镉、瓷、珐琅、氧化层等。用涡流传感器测量铜、铝、锌、锡等基体上的珐琅、橡胶、油漆、塑料层等。广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。 二、功能参数 1、功能:测量导磁物体上的非导磁涂层和非磁性金属基体上的非导电覆盖层的厚度 2、测量范围:0-1000um/0-40mil (标准量程) 3、曲面不小于:F: 凸1.5mm/ 凹 25mm N: 凸 3mm/ 凹 50mm 4、分辨率:0.1/1 5、测量面积不小于:6mm 6、基底不小于:0.3mm 7、自动关机 8、使用环境:温度:0-40℃ 湿度:10-90%RH 9、准确度:±(1~3%n)或±2um 10、电源:4节5号电池 11、电池电压指示:低电压提示 12、外形尺寸:161×69×32mm 13、重量:210g(不含电池) 14、可选附件:可定制量程(大量程传感器)可选:0-200um to 18000um 铁基/非铁基涂层测厚仪CM-8822
  • B0104243带有铝镀层顶空瓶盖套装
    B0104243带有铝镀层顶空瓶盖套装产品描述 每包数量 部件编号带有铝镀层的硅胶隔垫/瓶盖/弹簧片 100 B0104243带有铝镀层的硅胶隔垫/瓶盖/弹簧片 1,000 B0104244带有聚四氟乙烯涂层的硅胶隔垫/瓶盖/弹簧片 100 B0104241带有聚四氟乙烯涂层的硅胶隔垫/瓶盖/弹簧片 1,000 B0104242红色聚四氟乙烯涂层型丁基橡胶隔垫/瓶盖/弹簧片 100 B0104239压盖顶空瓶外径为23 mm的20 mL顶空压盖瓶 100 N9306079
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