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透射反射式量仪

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透射反射式量仪相关的仪器

  • 透射、反射/吸收光谱测量系统介绍 透射、反射/吸收率是光学元件(如光学材料、滤光片、镀膜等)与多种生活材料(玻璃、布料、汽车贴膜等)的重要光学特性指标,我公司ZLX-AS系列 透射、反射/吸收光谱测量系统正是针对此应用需求,而设计的高集成度,自动化的测量系统,它能帮助研发人员或品管人员在实验室轻易、快捷的完成透射率/反射率的光谱测试。系统组成:光源系统+分光系统+样品检测系统+数据采集及处理系统+软件系统+计算机系统■ ZLX-AS系列吸收、透射/反射光谱测量系统
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  • RT-V 反射透射测量仪 400-860-5168转4689
    一、概述 RT-V 系列反射透射测量仪,采用进口氘卤二合一光源,结合高性能分光光谱仪,可测量获得紫外到近红外光谱范围内薄膜的反射率和透射率光谱,并进一步计算获得样品色坐标,以及薄膜厚度、光学常数等信息。 ■ 高性价比穿透率、反射率测量解决方案 ■ 色坐标计算和薄膜特征解析 ■ 模块化定制,支持在线集成应用二、产品特点■ 采用高性能进口氘卤二合一光源,光谱范围覆盖可见光到近红外范围;■ 支持全光谱范围反射率高精度量测,基于薄膜层上下界面反射光干涉原理,轻松解析单层至多层薄膜特征;三、产品应用 RT系列反射透射测量仪,可实现各种透明、低对比度、高反射率样品反射率和穿透率光谱快速精准测量,并进一步计算获得样品色坐标、薄膜样品厚度及光学常数。广泛应用于各种滤光片、滤镜、镜头、玻璃、染色液、薄膜的测量。技术参数
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  • 反射式膜厚仪 400-860-5168转5895
    QUASAR-R100 是一款体积小巧的光谱反射式膜厚、折射率测量仪器,操作简单,极易上手,应用广泛,快速准确的提供各种薄膜厚度的测量,如氧化物、氮化物、多晶硅、非晶硅、聚酰亚胺、透明导电层、光刻胶等介质薄膜、半导体薄膜以及各种涂层。产品特点 多参数测量可测量材料厚度、折射率(Refractive Index)、 消光系数(Extinction Coefficient)和反射率。 各种形状样品测量可测量例如4~8英寸的晶圆、方形样品或其他各种不规则形状样品。 软件功能丰富友善的用户界面以及灵活丰富的软件功能,各种丰富的数据分析及查看功能。 简单、易用测量流程简单,用户极易上手建立测量程式。 产品参数 ★Si基底上对厚度约500nm的SiO2薄膜样品连续测量30次数据的标准偏差 定制功能可根据客户需求搭配自动运动平台可根据客户需求配置小光斑
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  • 产品描述:带有反射式靶(也称定向靶)的X射线管,可以集成靶的冷却系统,以获取比透射式靶更高的电子能量,目前最高电压300kV的反射式射线源上市。SE系列产品专为CT扫描应用优化的开放式微焦点X射线管 带反射式靶特点* 最高管功率350 Watt / 300 kV* 自动强度控制(AIC),用于射线连续运行时的强度控制* 射线管自动校准,以优化性能* 自动排气功能,延长真空组件的使用寿命* 独有RTU阴极灯丝单元和射线管自动排气功能,使维护更简便* 无限期的使用寿命技术参数单应用领域汽车工业的X射线无损检测,如:* 电子组件* 电子控制单元* 微型机械装置* 插头和压接件* 电池盒航空航天领域的X射线无损检测,如:* 机械组件如阀或襟翼制动器* 导管或风管的环向电子束焊(EB)焊缝检测* 转子叶片、涡轮叶片* 飞机涡轮* 电子组装* 小型钛和铝铸件* 钛铝铸件* 复合材料
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  • 优秀的可见光透射率/反射率测量系统集成的可见光光谱分析仪集成的氙灯,或者卤钨灯,作为光源内置探头可以实现纺织品颜色检测纺织品透过率检测眼镜透过率检测半导体膜厚检测LED灯泡检测等应用举例一:布料反射率测量案例测试系统搭建如上图测试要求,计算近红外区域780-880nm的反射率和可见光区域610-710nm的反射率之比1. 左边是卤钨灯350-2500nm光源,光源由德国进口的灯泡2. 中间是反射式积分球,3. 右侧是采用日本进口滨松探测器的光谱仪器 SPM3-350-1050,波长范围350-1050nm,分辨率最小0.6nm,美国产进口600线光栅4. 搭配电脑,数据通过USB采集测试一过程1. 关闭光源,采集光谱设备电子噪声2. 打开光源,设置1000ms曝光时间,放置白板,采集参比光谱3. 移除白板,放置被测物,采集被测物光谱,坐标轴X轴为光谱波长, Y轴为波长对应的反射率应用举例二:高分子材料/纳米材料相对石英的反射率测量测试一过程1. 关闭光源,采集光谱设备电子噪声2. 打开光源,设置500ms曝光时间,放置白板,采集参比光谱3. 移除白板,放置被测物,采集被测物光谱,此数据表明,样品1和样品2的反射光谱, 样品1(下面一条曲线),350-1000nm范围反射率72%, 样品2(上面一条曲线),350-1000nm范围反射率 82%,坐标轴X轴为光谱波长, Y轴为波长对应的反射率测试二过程,相对于黑板1. 关闭光源,采集光谱设备电子噪声2. 打开光源,设置500ms曝光时间,放置黑板,采集参比光谱3. 移除黑板,放置被测物,采集被测物光谱,此数据表明,样品1和样品2的反射光谱, 样品1(上面一条曲线),350-1000nm范围相对于黑板的反射率, 样品2(下面一条曲线)相对于黑板的反射率,坐标轴X轴为光谱波长, Y轴为波长对应的是被测物相对黑板的反射率应用举例三:薄膜材料的透射率测量测试一过程1. 关闭光源,采集光谱设备电子噪声2. 打开光源,设置500ms曝光时间,放置白板,采集参比光谱3. 移除白板,放置被测物,采集被测物薄膜的光谱
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  • 1 产品简介HRS-300是一款可以直接采集光信号的小型化光谱仪,采样范围涵盖350-1050nm的光谱信号。设备软件使用安卓系统架构,操作简单,反馈迅速,能够对光谱信号进行原始光谱、透射率、反射率等光谱特性测量。同时小型化、集成化的设计赋予仪器便捷性与可操作性,尺寸控制在类似手机大小,不论是实验室、工业现场还是携带至野外使用,HRS-300都可以轻松胜任。大容量的电池设计保证仪器4-6小时的长时间续航。仪器前端是一个SMA905的标准接口,通过接口可直接进行外部光信号采样,或者外接配套的准直镜或小视场角镜头来控制采样的视场角,这样可以对太阳光谱、LED光源等进行采样。也可以外接光源与采样附件来实现反射率、透射率的测量。例如配合我们的 RPB-D0-IS30反射探头,连接光纤即可进行便捷的反射率测量,且适用于布料颜色、叶片光合、水果品质、文物颜料等进行研究。 2 规格参数产品型号HRS-300尺寸180×95×38mm重量800g输入接口Micro USB光谱范围350-1050nm波长分辨率2.0nm激发光源需配置外部光源积分时间1ms-65S采样范围SMA905接口摄像头800万像素触摸屏720×1280分辨率电容屏网络WIFI/蓝牙/GPS工作温度0-40℃工作湿度5-80%#光谱范围可根据用户需求进行定制3 产品特点? 可实时采集光谱,得到光信号信号反馈;? 仪器小巧,续航持久,可应用于各种场景;? 附件丰富,可满足不同的检测需求。 4 软件示例 图一 初始界面 图二 参数设置界面 图三 反射率测量 5 应用案例图四 搭建式纺织品布料反射率测量 图五 不同颜色的布料的反射率测试图
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  • 反射式空间光调制器 400-860-5168转3512
    反射式空间光调制器产品介绍:反射式液晶光阀是LCD与CMOS集成电路有机结合的反射型新型显示技术,反射式液晶光阀作为新型SLM具有高对比度,高光效、高分辨率、省电等诸多优势。因为反射式液晶光阀技术借硅基CMOS集成电路技术,在单晶硅片上CMOS阵列取代a-SiTFT-LCD中玻璃基板上a-SiTFT阵列,而且可以周边驱动电路集成一体,甚至可以集成信息处理系统。反射式的空间光调制器不仅可以对振幅进行调制,而且可以实现纯相位调节。产品特点: 采用美国LCOS的液晶光阀具有优良的反射波前特性(每一片液晶光阀都通过干涉仪进行严格的检验)高光学效率(一般都能达到60%以上)开口率高(一般都能达到90%以上)高对比度(一般都能达到2000:1以上)高衍射效率灵活的系统配置安静、低振动操作 全固态器件结构即插即用简易安装安全的低电压操作有好的图形界面全用户编程 系统配置表: 根据客户需要选定适合的LCOS液晶光阀选择配套的驱动控制器高性能PBS(可选配件)连接组件:/1.5m串口电缆1.5m视频电缆基于Windows XP/Windows 2000系统下控制软件电源适配器:DC+4.5V~+5.5V/2A空间光调制器使用说明书,控制软件的数据光盘 型号参数一:型号RSLM-HD70-A/PRSLM-2K55-A/PRSLM-4K70-ARSLM-4K70-P调制类型振幅兼相位振幅兼相位振幅调制纯相位液晶类型反射式反射式反射式反射式灰度等级8位,256阶8位,256阶8位,256阶8位,256阶像素数1920×10801920×10804096×24004096×2400像元大小8.0μm6.4μm3.74μm3.74μm有效像面尺寸15.36mm×8.64mm12.29mm×6.91mm15.32mm×8.98mm15.32mm×8.98mm相位范围 2π 632mm 2π 632mm对比度>2000:1>1000:1>1000:1>1000:1填充因子>87%>93%>89%>89%帧频60Hz60Hz 120Hz 240Hz 480Hz60Hz 120Hz 240Hz 480Hz60Hz 120Hz 240Hz 480Hz使用温度-5°C-55°C-5°C-55°C-5°C-55°C-5°C-55°C衍射效率75% 550mm75% 550mm75% 550mm75% 550mm最大光强2w/cm22w/cm22w/cm22w/cm2光谱范围420nm-1100nm420nm-1100nm420nm-1100nm420nm-1100nm数据接口DVIHDMIHDMIHDMI 型号参数二:型号RSLM-HD70-VISRSLM-HD70-NIRRSLM-HD70-NIR2RSLM-HD70-TELCO调制类型纯相位调制纯相位调制纯相位调制纯相位调制液晶类型反射式反射式反射式反射式灰度等级8位,256阶8位,256阶8位,256阶8位,256阶像素数1920×10801920×10801920×10801920×1080像元大小8.0μm8.0μm8.0μm8.0μm有效像面尺寸15.36mm×8.64mm15.36mm×8.64mm15.36mm×8.64mm15.36mm×8.64mm相位范围2π2π405mm 7.7π2π543mm 4.9π633mm 3.7π850mm 2.7π1064mm 2π对比度 ≥2000:1填充因子>87%87%87%90%帧频60Hz60Hz60Hz60Hz响应时间25ms30ms30ms40ms衍射效率60%60%60%60%最大光强2W/cm22W/cm22W/cm22W/cm2光谱范围420nm-700nm1000nm-1064nm400nm-1100nm1550nm数据接口DVIDVIDVIDVI
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  • 反射透射平台反射平台是做反射测量时候的探头支架,可以放置小于150mm的光学镀层和基底样品。支架可以安装6.35直径的反射探头,并且可以在高度上调整大约63.5mm。平台上刻有不同直径的圆,可以更方便的对准样品。 Stage-RTL-T型平台是一种新型取样系统,用来分析如硅、金属、玻璃和塑料一类的材料。RTL-T与我们的光谱仪和光源多种组合方式,配合进行反射和传输测量Stage-RTL-T包括一个附着在基座上的可调轨夹。有三个用螺丝固定在轨夹上的设备,包括一个带 UV-VIS校准镜头的光纤固定器;一个反射和传送的样品盒;一个光阱用来减少背射光和 环境光的影响。 STAGESTAGE-RTL-T尺寸:152.4 mm 直径(base)206.3 mm 直径(base)尺寸:101.6 mm 直径(样品区域)152.4 mm 直径 (采样支架)(样品区域)重量:620 g4.5 kg高度:导轨高度可调 63.5 mm导轨高度可调 400 mm材质:阳极氧化铝底盘, 不锈钢支杆阳极氧化铝 对于简易的反射测量需求,我们也可以提供STAGE平台。 为了提高调整的精度和更加灵活的应用场合,我们开发了增强型的STAGE-RM平台,透反射样品支架是常用的光谱测量附件,与反射探头共用可实现反射光谱测量,与两根光纤跳线共用可实现透射光谱测量。透反射样品支架包括可调滑轨、底座、样品调整座以及两个准直透镜,型号为STAGE-RM的增强型透反射样品支架还包括一维平移台以及万向杆架。该产品广泛应用于硅、金属、玻璃、塑料、珠宝等样品的透射和反射光谱测量。 透反射样品支架 - 实现透射和反射光谱测量 - 测量高度可调 - 测量高度可通过一维平移台微调 - 自带两个准直透镜 - 可定制配合安装孔尺寸 如果需要其他相关配件,例如光源,光谱仪,光纤,积分球等,可以联系韵翔光电。
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  • 反射与透射支架台 FT 400-860-5168转3407
    品牌: 闻奕光电 货号: FT-RT 颜色分类: FT-RT-30 FT-IS50-30(不含积分球和光纤) 装修及施工内容: wyopticsFT系列 反射与透射支架台FT-RT 系列平台是一种新型采样系统,适用于分析如硅、金属、玻璃和塑料一类的材料。此平台与闻奕光电的光谱仪和光源有多种组合方式,配合进行反射和传输测量FT-RT 型平台使用非常广泛:可以将探头放置在样品上或样品下(从下部测量时样品和探头要保持一个固定的距离)完成反射测量; 将光阱放置在适当的位置进行光反射测量;或使用两个光纤进行样品传输的测量。采用30cm长的滑台(可以定制其他长度),本产品包含3个准直镜,可以加载TA接头或者SMA905接头的光纤,用于液体/固体样品的透射/吸收,荧光与散射测量以及漫反射测量。 FT-RT-30 型平台规格工程规格 FT-RT-30底座尺寸150.0 mm直径样品区域尺寸80 mm直径重量 1.6 kg横杆高度可调节至300毫米(可定制长度)组成部分样品盘,横杆,适配器,准直透镜(2)和光阱准直透镜波长185-2500 nm台体材料阳极氧化铝积分球适配器(可选)FT-ISxx-30,用于连接30毫米或50毫米的ISP系列积分球
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  • 反射高能电子衍射仪(Reflection High-Energy Electron Diffraction)是观察晶体生长最重要的实时监测工具。它可以通过非常小的掠射角将能量为10~30KeV的单能电子掠射到晶体表面,通过衍射斑点获得薄膜厚度,组分以及晶体生长机制等重要信息。因此反射高能电子衍射仪已成为MBE系统中监测薄膜表面形貌的一种标准化技术。  R-DEC公司生产的反射式高能电子衍射仪,以便于操作者使用的人性化设计,稳定性和耐久性以及拥有高亮度的衍射斑点等特长得到日本国内及海外各研究机构的一致好评和认可。特长 ◆可远程控制调节电压,束流强度,聚焦位置以及光束偏转◆带有安全闭锁装置◆镍铁高导磁合金磁屏蔽罩◆拥有高亮度衍射斑点◆电子枪内表面经特殊处理,能实现极低放气率◆经久耐用,稳定可靠◆符合欧盟RoHS指令   低电流反射高能电子衍射仪(Low Emission Reflection High-Energy Electron Diffraction)是利用微通道板技术,大幅减少对样品损伤的同时,并且保证明亮反射电子衍射图像的新一代低电流反射高能电子衍射仪。可以用于有机薄膜材料等结晶结构的分析研究。特长◆大幅度减少电子束对样品的损伤(相当于普通RHEED的1/500-1/2800)◆带有安全闭锁装置◆搭载高亮度微通道板荧光屏◆可搭载差动抽气系统◆kSA400 RHEED分析系统兼容◆符合欧盟RoHS指令
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  • MIR反射式刻线衍射光栅的详细信息品牌:其他型号:QX-MIR-GL材质:Pyrex基底适用范围:激光用途:激光装箱数:1000加工定制:是外形尺寸:25.0 mm x 50.0 mm x 9.5 mmmm重量:0.01㎏尺寸:25.0 mm x 50.0 mm x 9.5 mmGrooves/mm:450Design Wavelength:3.1 μmBlaze Angle:32°Dispersion (nm/mrad):1.6MIR反射式刻线衍射光栅特性 设计波长处的偏振效率:80%到95% 反射铝膜 使用刻线的基底材料生产o 连续波激光:250 W/cm2QXKJ提供多种优化中红外区域峰值偏振效率的刻划衍射光栅。我们提供不同闪耀角的光栅,适合多种应用。欲了解不同光栅类型的差异,请点击上方光栅指南标签。请注意,这些光栅的反射铝膜是裸露的,而且没有保护镀膜。但是可以定制MgF2或金膜来保护光栅的铝膜表面。金膜在红外波段的性能更好,而MgF2膜提供保护性;详情请咨询技术支持。注意td width="204" valign="center" background:#f0f0f0 "="" style="margin: 0px padding: 0px border-width: initial border-style: none border-color: initial "25.0 mm x 50.0 mm x 9.5 mmDesignWavelengthBlaze Angle12.5 mm x 25.0 mm x 9.5 mm4501.6 nm/mradDesignWavelengthBlaze Angle12.5 mm x 25.0 mm x 9.5 mm3002.86 nm/mradDesignWavelengthBlaze Angle12.5 mm x 25.0 mm x 9.5 mm7512.3 nm/mrad12.5 mm x 25.0 mm x 9.5 mm27°25.0 mm x 50.0 mm x 9.5 mm1504.2 nm/mrad
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  • Thorlabs 小型反射式准直器特性消色差设计,准直反射镜的整个反射带有保护层的银膜(450 nm - 20 µ m)提供高反射率非常适合将多色光耦合到多模光纤中表面粗糙度: 100 &angst (RMS)通光孔径:Ø 11.5 mm兼容的最大光纤数值孔径为0.11兼容Thorlabs的16 mm笼式系统无磁不锈钢外壳这些镀保护层银膜的反射式准直器基于90°离轴抛物面(OAP)反射镜。与透镜不同,金属反射镜的焦距在宽波长范围内保持不变。由于这种固有属性,抛物面反射镜准直器不需要调节就能准直不同波长的光,因此非常适合用于多色光。常见应用包括需要准直多个波长的系统、可见光或红外准直/耦合、以及将多色光耦合到大芯径多模光纤中。这些镀保护层银膜的反射式准直器在450 nm到20 µ m波长范围提供出色的反射率。在可见光和红外波段工作的多波长系统中,这些反射型准直器既可将多色准直光耦合到单模和多模光纤中,又可准直光纤发射的多色光。准直多模光纤跳线发出的光时,光纤的数值孔径应 0.11,以防外壳阻挡部分光。请注意,一般而言,多模光纤发出的光无法无法很好地准直。RCR50x-P01反射式准直器外壳可以直接安装到SM05透镜套管安装座或轻松集成到16 mm笼式系统中。如右图所示,外壳所刻的轴向和径向刻度易于准直器的对准和定向。用于制造离轴抛物面反射镜的金刚石车削工艺可以实现 100 &angst RMS的表面粗糙度,因此zui大程度减少了反射镜表面的散射(~2% @ 633 nm)。Thorlabs还提供其他适用于不同NA的带保护层银膜的反射式准直器和一系列适用于250 - 450 nm波长范围的镀紫外增强型铝膜的反射式准直器。用于反射式准直器的光纤跳线Thorlabs提供单模、保偏或多模光纤跳线,用于耦合和准直应用。我们还提供低插入损耗光纤跳线,它们采用纤芯同心度更好的单模光纤,所以插入损耗更低,透过率更高。如果我们标准产品中没有您应用所需的光纤跳线,Thorlabs还提供定制光纤跳线,请联系我们。
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  • 反射率/透射率积分球 400-860-5168转3067
    反射率/透射率积分球 最适宜测量内容: 材料反射率和透射率 不透明物体的反射率 混浊样品的透过率 颜色特性 反射系统设计 红外反射 反射率与角度的关系 Labsphere的反射率/透射率测量积分球可用于各种媒介的反射率和透射率测量。可提供两种积分球涂层:Spectraflect,在300-2400nm防范围具有高反射率;Infragold,设计工作在0.7um-20um。 RT积分球有5个1inch开口可容纳样品和9° 反射光束的结构。在球的顶部有一个0.5inch探测器口。镜面光束光阱用于去除镜面反射束的方法。RTC积分球则在积分球内增加了一个中心安装的样品架,用户可以针对一定角度测量反射率和透射率。探测器端口在底部。 RT积分球可以测量镜面反射9° /h结构和排除镜面反射9° /d结构。RTC结构除了以上功能外还可以测量可变角度入射情况下的反射率。 积分球的开口处采用刀刃形式有助于收集宽角度散射,阻挡效应可以最小化,允许探测器最大限度地看到球表面。探测口位于球的顶部和底部,并被挡板遮挡防止样品和参考口光束的直接照射。 RT--060-SF和RT-060-IG反射率透射率积分球 Labsphere 的 RT-060-XX 积分球具有五个1英寸直径的口来容纳样品和9° 双光束结构中参考光束,同样包括用于9° 单光束结构测量中的端口盖。与积分球一起的两个1英寸样品架用于安装样品和放射率透射率标准板。积分球顶部具有0.5英寸的探测口,探测罩限制探测视场范围。还包括一镜面光阱去除镜面反射光束。 积分球适合于镜面测量,包括非镜面反射测量,前散射和背散射测量,以及混浊或散射样品的透射率的测量。积分球的开口处采用刀刃形式有助于收集宽角度散射,阻挡效应可以最小化,允许有效的积分。为了保证高积分球效率,总开口面积应小于积分球表面积的5%。每个积分球拥有一个支架配件,由支杆底座和1/4-20支架组成,这样积分球的高度可以方便调节。 RTc-060-SF 和 RTc-060-IG 具有中心支架的反射率透射率积分球 增加了中心样品架,Labsphere RTc-060-XX 用户能够测量反射率与辐射入射角度的关系,一些情况下,还能测透射率与辐射入射角度的关系。 RTC-060-IG 积分球具有5个开口来容纳样品和参考光束:三个1英寸直径的口,两个1.25英寸直径的口。中心样品台安装在积分球的顶部,0.5英寸探测口在积分球底部。探测罩限制探测视场范围。RTC 系列积分球配件包括四个样品架:一个中心样品架,两个1.25英寸直径样品架和一个1英寸用于进一步灵活备用。中心样品架允许各种样品反射率与入射角度变化的测量。积分球包括颚式中心样品架,同时夹式和槽式中心样品架可供选择。颚式可以夹住1英寸*2英寸,最厚达0.38英寸的样品。夹式中心样品架设计用于薄膜或硬度不能承受颚式样品架的样品。夹式中心样品架可以夹住样品尺寸最大为1.50&rdquo x 2&rdquo x 0.125&rdquo 的样品。槽式样品架为12.5平方毫米容器,可以承装液体和粉末,用于测试吸收和散射特性。 系统指标 型号RT-060-SFRT-060-IGRTC-060-SFRTC-060-IG积分球直径6 inches6 inches6 inches6 inches积分球涂料SpectraflectInfragoldSpectraflectInfragold® 光谱范围250 - 2500 nm0.7 &mu m - 20 &mu m250 - 2500 nm0.7 &mu m - 20 &mu m探测口直径0.5 inch0.5 inch0.5 inch0.5 inch样品和参考口FiveFiveFiveFive样品和参考口直径(数量)1 inch (5)1 inch (5)1 inch (3)1.25 inch (2)1 inch (3)1.25 inch (2)积分球支架1/4 - 20 凸台,安装支杆和底座1/4 - 20 凸台,安装支杆和底座可调 H 型支架结构可调 H 型支架结构预定编号AS-02484-100AS-02485-100AS-02484-000AS-02485-000 可选配件 KI-120, Kohler Illuminator套件 AS-02509-100 反射率可选择的标准反射板 个人选择 SC 6000 辐射度计/光度计 系统控制 AS-02702-000 Labsphere 探测器配件 个人选择 CSMH-RTC-CLIP-SF, 夹式中心样品架 AS-02759-000 CSMH-RTC-CUV-SF, 槽式中心样品架 AS-02728-000 PA-100-74S, 连接积分球与OOI 74系列的准直镜头适配器 AS-02764-000
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  • 光催化反应器,三联光催化反应器,反射式三联光催化反应器,反射式恒温高通量光催化反应器,光催化反应器,产品名称:反射式三联光催化反应器产品类型:光催化反应釜反射式三联光催化反应器产品名称反射式三联光催化反应器 (基础型)反射式三联光催化反应器 (Pro专家型)制冷形式双半导体模块制冷压缩机制冷,直流变频压缩机, R134a环保制冷剂名义制冷量110W×2130-455W制冷消耗功率 (含风机)400W70-220W空载zui低制冷温度18℃10℃带载zui低制冷温度28℃15℃温度控制方式ON/OFF位式调节直流变频,制冷量无极调节恒温精度±1℃±0.2℃装置形式一体式主机+反应腔模块化, 反应模块可任意快拆快装替换搅拌转速0-1000rpm0-1000rpmLED灯电源输出4路预留,24V 8A4路预留,24V 8A总功率(含光源)600W400W反射式恒温高通量光催化反应器(基础型) 反射式三联光催化反应器1、创新性的采用多面反射式设计,将传统光化学反应单面照射改进为前部后部、下部三面照射,使得反应管内的溶液能够更均匀的接受光照;2、内置半导体制冷恒温系统,能够保证反应室内温度在三台Kess灯满功率照射时,温度不高于25℃,减少了光源的热效应对反应的影响,确保实验数据的准确可靠;3、内置磁力搅拌系统,搅拌转速0-1000pm连续可调4、可按需定制适配多种反应试管、Schlenk管、反应瓶的支架,可轻松实现多联高通量实验;5、这个催化装置是专为Kessel光源设计的,能解决传统直接照射式的光催化反应热效应大、照射不均的问题。反射式三联光催化装置(Pro专家型) 反射式三联光催化反应器1、主机外壳采用碳钢喷塑,反应腔体采用蓝色尼龙板,二者快拆式锁扣连接;2、采用模块化设计,反应模块可任意快拆快装替换;3、个性化需求。可根据实验需要,换装不同尺寸规格和照射形式的反应腔体,实现一机多用;4、采用直流变频压缩机,更好的控温精度和效果;5、磁力搅拌采用3个独立电机分别驱动,性能更可靠;6、压缩机的内置隐形设计,美观且小巧。
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  • 仪器简介:ZF-3紫外透射反射分析仪简介: 使用说明: (一)、分析观察样品 将电泳好的凝胶样品或薄层、纸层样品放在仪器中央,开启&ldquo 反射紫外灯&rdquo 电源,调节反射紫外灯架高度与角度,使样品发出的萤光最清晰明亮。通常反射紫外离样品越近,则萤光越强。 (二)、拍摄样品照片 (1)打开&ldquo 照明&rdquo 白炽灯,利用白炽灯照明,调节照相高度及相机镜头使样品成像清晰。在相机前装上近摄接圈与PCR滤色镜。然后关闭&ldquo 照明&rdquo 白炽灯。 (2)开启透射紫外灯电源,进行拍摄,应根据不同的样品确定不同的曝光时间,以清晰满意的底片。 (三)注意:如使用时不用暗箱,必须在暗室内操作。 我公司生产的紫外分析仪系列产品: ZF1-I多功能紫外分析仪 ZF1-Ⅱ型紫外分析仪 ZF-1紫外透射反射分析仪 ZF-2紫外透射反射分析仪 ZF-3紫外透射反射分析仪 ZF-5 型手提式紫外分析仪(手提式紫外分析仪) ZF-6型三用紫外分析仪(台灯式ZF-1三用紫外分析仪) ZF-7型暗箱式三用紫外分析仪(暗箱式三用紫外分析仪) ZF-8型暗箱式四用紫外分析仪(暗箱式四用紫外分析仪) ZFD型紫外透射分析仪 UV-A型手提暗箱式紫外分析仪技术参数:ZF-3紫外透射反射分析仪的技术参数: 1、电源:AC220V± 10%50HZ 2、功率透射:48W 64W 反射24W 照明40W 3、紫外滤色片尺寸透射:ZF-3 200× 150mm 反射200× 80mm主要特点:ZF-3紫外透射反射分析仪的主要特点: ZF系列紫外射反射分析仪(配暗箱)是最新研制成功的新一代分析仪器。 本产品具有灵敏度高、使用方便、特别采用302NM波长对样品的破坏作用更小,是紫外分析仪的更新换代产品,它可适用于DNA、RNA电泳凝胶样品的观察,可检测蛋白质,核甘酸等,在制药工业中检查激素生物碱、维生素等能产生萤光的药品质量,对薄层分析,各种同功酶,纸层分析进行观察分析和摄影,并可作为PCR技术的专用仪器。 ZF-3型紫外透射反射分析仪装有一组透射紫外光源和二组反射紫外光源,分别供观察、分析和摄影用。 紫外透射分四组,供用户选择:一组254nm;二组302nm;三组365nm;四组白炽灯;紫外反射有二组;一组254nm;二组365nm。
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  • 仪器简介:ZF-2紫外透射反射分析仪简介: 使用说明: (一)、分析观察样品 将电泳好的凝胶样品或薄层、纸层样品放在仪器中央,开启&ldquo 反射紫外灯&rdquo 电源,调节反射紫外灯架高度与角度,使样品发出的萤光最清晰明亮。通常反射紫外离样品越近,则萤光越强。 (二)、拍摄样品照片 (1)打开&ldquo 照明&rdquo 白炽灯,利用白炽灯照明,调节照相高度及相机镜头使样品成像清晰。在相机前装上近摄接圈与PCR滤色镜。然后关闭&ldquo 照明&rdquo 白炽灯。 (2)开启透射紫外灯电源,进行拍摄,应根据不同的样品确定不同的曝光时间,以清晰满意的底片。 (三)注意:如使用时不用暗箱,必须在暗室内操作。 我公司生产的紫外分析仪系列产品: ZF1-I多功能紫外分析仪 ZF1-Ⅱ型紫外分析仪 ZF-1紫外透射反射分析仪 ZF-2紫外透射反射分析仪 ZF-3紫外透射反射分析仪 ZF-5 型手提式紫外分析仪(手提式紫外分析仪) ZF-6型三用紫外分析仪(台灯式ZF-1三用紫外分析仪) ZF-7型暗箱式三用紫外分析仪(暗箱式三用紫外分析仪) ZF-8型暗箱式四用紫外分析仪(暗箱式四用紫外分析仪) ZFD型紫外透射分析仪 UV-A型手提暗箱式紫外分析仪技术参数:ZF-2紫外透射反射分析仪的技术参数: 1、电源:AC220V± 10%50HZ 2、功率透射:64W 照明40W 3、紫外滤色片尺寸透射:200× 150mm 4、外型尺寸 350× 260× 360 5、波长:302nm不锈钢面板,(配暗箱,附数码相机机架装置端口)。 主要特点:ZF-2紫外透射反射分析仪的主要特点: ZF系列紫外射反射分析仪(配暗箱)是最新研制成功的新一代分析仪器。 本产品具有灵敏度高、使用方便、特别采用302NM波长对样品的破坏作用更小,是紫外分析仪的更新换代产品,它可适用于DNA、RNA电泳凝胶样品的观察,可检测蛋白质,核甘酸等,在制药工业中检查激素生物碱、维生素等能产生萤光的药品质量,对薄层分析,各种同功酶,纸层分析进行观察分析和摄影,并可作为PCR技术的专用仪器。 本仪器装有一组透射紫外光源供观察、分析和摄影用。并专门设计了一只暗箱,用户不需要暗室,即可对样品进行观察分析,暗箱上备有专门的相机安装装置,暗箱观察室上装有防紫外线玻璃,它滤去95%以上的紫外线。
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  • 反射式空间光调制器产品介绍:反射式液晶光阀是LCD与CMOS集成电路有机结合的反射型新型显示技术,反射式液晶光阀作为新型SLM具有高对比度,高光效、高分辨率、省电等诸多优势。因为反射式液晶光阀技术借硅基CMOS集成电路技术,在单晶硅片上CMOS阵列取代a-SiTFT-LCD中玻璃基板上a-SiTFT阵列,而且可以周边驱动电路集成一体,甚至可以集成信息处理系统。反射式的空间光调制器不仅可以对振幅进行调制,而且可以实现纯相位调节。产品特点: 采用美国LCOS的液晶光阀具有优良的反射波前特性(每一片液晶光阀都通过干涉仪进行严格的检验)高光学效率(一般都能达到60%以上)开口率高(一般都能达到90%以上)高对比度(一般都能达到2000:1以上)高衍射效率灵活的系统配置安静、低振动操作 全固态器件结构即插即用简易安装安全的低电压操作有好的图形界面全用户编程 系统配置表: 根据客户需要选定适合的LCOS液晶光阀选择配套的驱动控制器高性能PBS(可选配件)连接组件:/1.5m串口电缆1.5m视频电缆基于Windows XP/Windows 2000系统下控制软件电源适配器:DC+4.5V~+5.5V/2A空间光调制器使用说明书,控制软件的数据光盘 型号参数一:型号RSLM-HD70-A/PRSLM-2K55-A/PRSLM-4K70-ARSLM-4K70-P调制类型振幅兼相位振幅兼相位振幅调制纯相位液晶类型反射式反射式反射式反射式灰度等级8位,256阶8位,256阶8位,256阶8位,256阶像素数1920×10801920×10804096×24004096×2400像元大小8.0μm6.4μm3.74μm3.74μm有效像面尺寸15.36mm×8.64mm12.29mm×6.91mm15.32mm×8.98mm15.32mm×8.98mm相位范围 2π 632mm 2π 632mm对比度>2000:1>1000:1>1000:1>1000:1填充因子>87%>93%>89%>89%帧频60Hz60Hz 120Hz 240Hz 480Hz60Hz 120Hz 240Hz 480Hz60Hz 120Hz 240Hz 480Hz使用温度-5°C-55°C-5°C-55°C-5°C-55°C-5°C-55°C衍射效率75% 550mm75% 550mm75% 550mm75% 550mm最大光强2w/cm22w/cm22w/cm22w/cm2光谱范围420nm-1100nm420nm-1100nm420nm-1100nm420nm-1100nm数据接口DVIHDMIHDMIHDMI 型号参数二:型号RSLM-HD70-VISRSLM-HD70-NIRRSLM-HD70-NIR2RSLM-HD70-TELCO调制类型纯相位调制纯相位调制纯相位调制纯相位调制液晶类型反射式反射式反射式反射式灰度等级8位,256阶8位,256阶8位,256阶8位,256阶像素数1920×10801920×10801920×10801920×1080像元大小8.0μm8.0μm8.0μm8.0μm有效像面尺寸15.36mm×8.64mm15.36mm×8.64mm15.36mm×8.64mm15.36mm×8.64mm相位范围2π2π405mm 7.7π2π543mm 4.9π633mm 3.7π850mm 2.7π1064mm 2π对比度 ≥2000:1填充因子>87%87%87%90%帧频60Hz60Hz60Hz60Hz响应时间25ms30ms30ms40ms衍射效率60%60%60%60%最大光强2W/cm22W/cm22W/cm22W/cm2光谱范围420nm-700nm1000nm-1064nm400nm-1100nm1550nm数据接口DVIDVIDVIDVI 关于空间光调制器的详细信息请咨询上海尖丰光电技术有限公司。
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  • 反射式血氧饱和度模拟器(SURPASS-A)主要特点1. 反射血氧饱和度模拟适用于反射式原理血氧传感器,是目前市场上唯一一款可以精准调节血氧饱和度数值且可以通过计量的模拟器;2. 模拟手指与主机直接相连,可以旋转,非常方便探头操作;3. 电磁兼容符合IEC60601-1-2最新版本要求,其中辐射骚扰符合 CLASS B 等级要求。主要功能可进行血氧饱和度模拟;可进行脉率模拟;预置病人状态模拟;可以对被测试仪器反应时间进行测试;可以模拟在不同灌注度下的血氧饱和度和脉率;可以测试被测仪器在不同干扰源下的性能;可以选择不同的R曲线。主要参数名称技术参数血氧饱和度测量范围35%~100%分辨率1%误差当血氧饱和度的测量范围在75%~100%,为±1%或±被测试仪器精度取大值;在74%~50%,为±3%或±被测试仪器精度取大值;小于50%无定义。脉率测量范围25bpm(次/分钟)~250bpm (次分辨率5bpm误差1%±1bpm灌注度测量范围测量范围:0.000%~20.000%分辨率分辨率:1.000%~20.000为1%;0.100%~0.900%为0.1%;0.000~0.075%为0.025%。病人状态预置24组状态,开机默认为8组,可通过设置运动等级来调整病人状态的组数。工作电压适配器DC 5V电池3.7V可充电锂电池,充放电不小于500次。电磁兼容辐射骚扰(RE)CLASS B辐射抗扰(RS)10V/米静电(ESD)空气8千伏,接触15千伏(注:非直接接触光学探头)其它符合YY0505:2012和IEC60601-1-2:2014
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  • 产品规格型号 : LabScan XE光学系統: 0°/45°反射式 15点环形侦测、双光束回授分光接收器:精密光栅分光系統,256点矩阵式矽光接收器光谱范围: 400...700nm 解析度3nm、带宽10nm光度范围: 0...150% 解析度0.003%再现性: ?E*0.09 @标准白板测口直径: ?44mm照明 ?50mm侦测 大/小测口自动双焦镜头(选配)标准光源: 氙气闪光灯(CIE D65)测量室/口:可向上/橫向测量或朝下测量(需选配支架)连接埠: RS232C电源供应: 100-240VAC产品简介  用途广的 LabScan.XE 分光色差仪,采用 0°/45° 反射式光学系统,与肉眼察物体原理相同,光学评价与实际感观为接近。适用于塑胶、纺织品、涂料、食品、纸业、化学、制药、建材...... 多种行业。不论液体、粉体、半透明或不透明固体之反射值均可测量。內建黑板、白板、绿板三色标准片,可全自动标准化校正,大幅提高色彩度。光源采用氙气闪光灯,搭配双光束光学系統,几乎永久无需保养。在实验室或生产线,配合 EasyMatch 色差分析软件,与Windows 系统完全相容,轻松完成品质检验或专业色彩分析。产品特色 0°/45° 系統,光学评价与肉眼接近同時考虑表面光泽度影响,测值更直径 50mm 大测口,纺织品测试准确配合样本特性,测口朝上或侧向均可测量不透明、半透明、固体、液体、粉体、糊状物... 各种样本均可测试双光束氙气闪光灯,几乎永久无需更换 (符合 D65 标准)內建标准片全自动标准化,度高无风扇、无空气芯,噪音低,不需保养可搭配喷墨印表机(HP/Epson),输出色系图形、分光反射率、任何荧幕画面EasyMatch 色差分析软件相容 Windows美国原装进口 (HunterLab 牌)
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  • 反射式积分球带支架 400-860-5168转6174
    反射率测量系统搭配的反射式积分球反射式积分球
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  • CDT离轴反射式平行光管Inframet生产的离轴反射式平行光管采用垂直结构,平行光管的焦平面位于反射镜垂直方向的上方。这种类型的平行光管实现了测试系统的简单化结构设计(仅需较小、较窄的光学平台)。而且,垂直结构的平行光管更为先进之处在于系统用于热像仪的测试时,垂直结构的黑体温度的均匀性要优于使用相同模块的水平结构。Inframet使用三个等级的离轴反射镜面: SR(标准分辨率)- 制造精度PV不低于λ/2在λ= 630nm。 HR(高分辨率)- 制造精度PV不低于λ/6在λ= 630nm(典型λ/10)。 UR(超高分辨率)-制造精度PV不低于λ/10在λ= 630nm。 SQ(极高分辨率)-制造精度PV不低于λ/14在λ= 630nm。Inframet采用典型的保护铝镀膜作为反射镜的镀膜材料,如果在可见光-近红外波段达到均匀的反射率,则保护铝镀膜可以作为次反射平面镜或者两面反射镜的镀膜材料。如果在远红外波段需要达到非常高的反射率则需要使用保护金作为辅助镜(或者两个反射镜)的材料。我们可以根据您所需口径和焦距精度等提供定制化平行光管,满足您的需求。
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  • 用于背光系统的耐用、超实惠漫反射片独特的属性Labsphere的Zenith漫反射片由聚四氟乙烯聚合物制成,具有独特的光学性能。薄片为各种光散射应用提供漫透射,并为各种背光应用提供漫反射和耐用性。该材料非常适合用作辐射测量和光度扩散以及一般背光、平板和显示器的应用。各种尺寸和厚度Zenith漫反射片的厚度为100 μm、250 μm、500 μm、1 mm和2 mm,在250 ~ 2500nm波长范围内的透射值约为4% ~ 50%。可根据客户要求定制尺寸和厚度。特点: 朗伯特性 耐久性、易清洗 高透射率,低反向散射特性应用: 辐射测量和光度扩散 普通背光照明 平板 显示器规格参数
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  • 产品介绍 空间光调制器(SLM)是一种对光的空间分布做特性调制的设备,其主要是利用电信号对光信号(光波的振幅、相位、偏振态甚至是波长)来做调制。空间光调制器是应用于光学、光电混合系统进行光互连、光学相关、光计算、模式识别、图像处理和显示技术等方面的关键器件。液晶空间光调制器具有效率高、能耗低、速度快、质量好的特点,在目前空间光调制器市场占据绝对的领导地位。LCOS为反射式的SLM,有高反射率、高光利用效率、小像素尺寸(大衍射角度)的优势,已被广泛应用在各相关领域。技术优势采用高稳定性LCOS芯片为核心光调制元件1080P高清大分辨率外形小巧,结构紧凑,便于集成高刷新率,高性价比适用于光场调控、全息投影、物理光学实验、AR设备开发、计算成像与相干衍射、投影成像与结构光等领域通用参数调制类型纯相位液晶类型反射式像素1920X1080像元尺寸6.37*6.37um相位范围>2.1π@650nm刷新率60Hz灰度等级8位,256阶光谱范围420~700nm靶面尺寸12.29mm*6.91mm填充因子93%反射率75%@532nm最大光强1-2W/cm² 数据接口HDMI品牌PLCTS产品实图实验搭建案列应用领域适用于光场调控,全息投影,物理光学实验室,AR设备开发,计算成像与相干衍射,投影成像与结构光等领域
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  • 反射式膜厚测量仪 400-860-5168转3181
    产品特点: ? 非接触式、不破坏样品的光干涉式膜厚计。? 高精度、高再现性测量紫外到近红外波长反射率光谱,分析多层薄膜厚度、光学常数(n:折射率,k消光系数)。? 宽阔的波长测量范围。(190nm-1100nm)? 薄膜到厚膜的膜厚测量范围。(1nm~250μm)? 对应显微镜下的微距测量口径。产品规格: 标准型厚膜专用型膜存测量范围1nm~40μm0.8μm~250μm波长测量范围190~1100nm750~850nm感光元件PDA 512ch(电子制冷)CCD 512ch(电子制冷)PDA 512ch(电子制冷)光源规格D2(紫外线)、12(可见光)、D2+12(紫外-可见光)12(可见光)电源规格AC 100V±10V 750VA(自动样品台规格)尺寸4810(H)×770(D)×714(W)mm(自动样品台规格之主体部分)重量约96kg(自动样品台规格之主体部分) 应用范围: FPD -LCD、TFT、OLED(有机EL)半导体、复合半导体 -矽半导体、半导体镭射、强诱电、介电常数材料资料储存 -DVD、磁头薄膜、磁性材料光学材料 -滤光片、抗反射膜平面显示器 -液晶显示器、膜膜电晶体、OLED薄膜 -AR膜其他 -建筑用材料测量范围: 玻璃上的二氧化钛膜厚、膜质分析
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  • 反射式膜厚测量仪 400-860-5168转1545
    产品特点: ? 非接触式、不破坏样品的光干涉式膜厚计。? 高精度、高再现性测量紫外到近红外波长反射率光谱,分析多层薄膜厚度、光学常数(n:折射率,k消光系数)。? 宽阔的波长测量范围。(190nm-1100nm)? 薄膜到厚膜的膜厚测量范围。(1nm~250μm)? 对应显微镜下的微距测量口径。产品规格: 标准型厚膜专用型膜存测量范围1nm~40μm0.8μm~250μm波长测量范围190~1100nm750~850nm感光元件PDA 512ch(电子制冷)CCD 512ch(电子制冷)PDA 512ch(电子制冷)光源规格D2(紫外线)、12(可见光)、D2+12(紫外-可见光)12(可见光)电源规格AC 100V±10V 750VA(自动样品台规格)尺寸4810(H)×770(D)×714(W)mm(自动样品台规格之主体部分)重量约96kg(自动样品台规格之主体部分) 应用范围: FPD -LCD、TFT、OLED(有机EL)半导体、复合半导体 -矽半导体、半导体镭射、强诱电、介电常数材料资料储存 -DVD、磁头薄膜、磁性材料光学材料 -滤光片、抗反射膜平面显示器 -液晶显示器、膜膜电晶体、OLED薄膜 -AR膜其他 -建筑用材料测量范围: 玻璃上的二氧化钛膜厚、膜质分析
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  • 仪器简介:CS型成像仪是在原薄层成像仪产品的基础上加以改进的,即可用于拍摄薄层样品 荧光斑点和荧光淬灭样板又可观测拍摄生化凝胶透射紫外线样品。该成像仪是吸 收国外同类产品的先进结构,将摄影仪和暗箱设计成一体化,使光学性能更完善, 操作更方便。如果配置彩色摄像系统或者数码相机,可联接电脑对图像进行处理 或直接进行多媒体教学。 该仪器设计紧凑,使用方便,选用高效节能电子整流器,一点即亮.平时还可以作为紫外线检测设备或者或资料翻拍仪,是进口同类产品的替代品,性比价高. 技术参数:紫外线灯: 254nm 2支 12W 220V 50HZ 365nm 2支 12W 220V 50HZ 312nm 5支 20W 220V 50HZ 日光灯 : GB 2支 12W 220V 50HZ 透紫外滤光片: 50×200mm 2片(用于反射光) 150×200mm 1片(用于透射光) 254nm 透光率≮68% 365nm 透光率≮86%主要特点:该成像仪是吸收国外同类产品的先进结构,将摄影仪和暗箱设计成一体化,使光学性能更完善,操作更方便,如果配置彩色摄像系统或者数码相机,可连接电脑对图象进行处理或者直接进行多媒体教学.
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  • 反射/透射率积分球应用领域:材料的反射率/透射率测量不透明物体的反射率测试 浑浊样品的透射率测试颜色属性测试反射系统设计红外反射反射率与角度的关系 Labsphere的反射/透射率积分球可用于各种媒介的反射率和透射率测量。积分球内部涂料有两种选择:Spectraflect涂料,在300 – 2400 nm波长范围内效果较好;Infragold涂料适用于波长0.7 - 20 μm范围。 RT积分球有5个1英寸开口,可容纳样品和9°反射光束,在球的顶部有一个0.5英寸探测器口,镜面光束光阱用于去除镜面反射光束。 RTC积分球在RT积分球内增加了一个中心安装的样品架,用户可以针对一定角度测量反射率和透射率。积分球有5个开口可调节样品,顶部的中心安装平台装有参考光束,积分球底部有一个0.5英寸的探测器端口。 RT积分球和RTC积分球均能做任何几何角度测量。RT积分球可以测量镜面反射的9°/h结构和排出镜面反射9°/d结构;RTC除上述功能外还可测量变角度入射情况下的反射率。 积分球的开口处采用刀刃结构有助于收集大角度散射,挡板采用最小化设计,使得探测器能够非常大程度地看到球内壁表面。探测器口位于球的顶部和底部,使用挡板遮挡防止样品和参考口光束直接照射。RT-060-SF及RT-060-IG反射/透射率测试积分球 Labsphere的RT-060-XX积分球有5个1英寸的开口容纳样品和9°双光束结构结构中参考光束,也包括用于9°单光束结构测量中的端盖。两个1英寸的样品支架用于安装样品和反射/透射率标准板。积分球顶部具有0.5英寸的探测口,探测罩用以限制探测器视场范围。镜面光阱去除镜面反射光束。 积分球适合于镜面测量,包括非镜面反射测量,前散射和背散射测量,以及混浊或散射样品的透射率的测量。积分球的开口处采用刀刃形式有助于收集宽角度散射,阻挡效应可以最小化,允许有效的积分。为了保证高积分球效率,总开口面积应小于积分球表面积的5%。每个积分球拥有一个支架配件,由支杆底座和1/4-20支架组成,方便调节积分球的高度。 RTC-060-SF 和 RTC-060-IG反射率透射率积分球增加了中心样品架,方便用户测量反射率与辐射入射角度的关系,一些情况下,还能测透射率与辐射入射角度的关系。 RTC-060-IG 积分球具有5个开口来容纳样品和参考光束:三个1英寸、两个1.25英寸的开口。中心样品台安装在积分球的顶部,0.5英寸探测口在积分球底部。探测罩用于限制探测视场范围。 RTC 系列积分球配件包括四个样品架: 一个中心样品架,两个1.25英寸直径样品架和一个1英寸用于进一步灵活备用。中心样品架允许各种样品反射率与入射角度变化的测量。积分球包括颚式中心样品架,同时夹式和槽式中心样品架可供选择。颚式可以夹住1英寸*2英寸,最厚达0.38英寸的样品。夹式中心样品架设计用于薄膜或硬度不能承受颚式样品架的样品。夹式中心样品架可以夹住样品尺寸最大为1.50"x 2"x 0.125”的样品。槽式样品架为12.5平方毫米容器,可以承装液体和粉末,用于测试吸收和散射特性。订购信息及规格
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  • BBMS-2000双向反射/透射空间分布测量系统可全方位分析测量材料表面的反射、透射特性,可测参数包括材料的双向透射分布(BTDF)、双向反射分布(BRDF)、反射比分布、透射比分布、总反射(TIR)、总散射(TIS)等,可广泛应用于金属、塑料、纸张、纺织品、玻璃、涂面、光学膜材料等诸多材料的表面光学特性的定量分析,其BRDF/BTDF数据可以导出至光学设计软件中,用于光学系统模拟设计。? 主要特点l 系统通过四轴精密旋转配合,可以实现空间内任意光照方向下的半球反射/透射分布测试;l 绝对法测试,不受样品的形态、光学性质的约束;l 测试光路及计算方法,完全符合ASTM E2387等标准要求。l 测试的BRDF/BTDF数据可以导出至Tracepro等光学设计软件中,用于辅助光学材料或系统的模拟、设计;l 高精度,高稳定度 ;2 接收光路长,接收立体角小,测量不确定度小2 激光光源,能量高、单色性好、准直度高;2 配备监视探测器,消除光源波动对测量的影响;2 探测器动态范围大,测试准确度高;2 机械转轴转动精度高,角度分辨率、重复性好。l 综合分析表面散射性能 2 双向反射分布函数BRDF2 双向透射分布函数BTDF2 反射比分布2 透射比分布2 总反射率TIR2 总散射率TISl 光源自由切换,波长覆盖紫外-可见-近红外范围,实现不同颜色光照下材料表面散射特性的测试,适用于有光谱选择性的样品; l 上位机多功能分析软件,提供多种BRDF/BTDF二维及三维分析图,并配有专用于BSDF分布数据查看软件,提供专业的BSDF数据分析;? 典型测量界面? ? 技术指标 测试类型In-plane/Out-of-plane BSDF测量参数BRDF、BTDF、反射比、透射比、TIR、TIS光源激光,覆盖可见-近红外范围(特殊可定制)光源天顶角t0°~80°光源方位角0°~360°探测器天顶角-85°~85°探测器方位角0°~180°角度分辨率0.01°角度重复精度0.1°动态测量范围? 典型应用:
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  • RT100透反射率测量仪支持透过率和反射率测量,给出光谱曲线,可用于测试样品的紫外到近红外波段(最宽可达200-2500nm)的透过率及反射率。采用一体式设计,样品仓可以完全闭合,把外界光的影响减到最低。软件简单易用,自动判断测量结果是否合格。RT100广泛地用于光学玻璃、薄膜、显示、触摸屏、手机盖板等行业。配备积分球,可用于具有毛糙表面的样品反射光谱和透射光谱测试,如聚光玻璃、毛玻璃等。仪器特点●灵活搭配的透/反射测量方案●极宽的光谱测量范围:200nm-2500nm;●简单、易操作、易更换样品做测试●可以支持带积分球测量模式和不带积分球测量模式● 采用高精度光谱测量技术,精度高、测量速度快、稳定性好;● 自带校正及标定功能,方便用户自行校零和定标;●软件 可以测量整段光谱曲线,自动获取6个光谱位置透过率反射率数值,可设阈值自动判定结果。应用领域●固态样品 ●液态样品 ●汽车零部件 ●光学元件 ●镀膜 ●滤光片 ●珠宝 ●涂料 ●特种玻璃 ●各类薄膜 ●手机、平板各类型玻璃 ●聚光玻璃、毛玻璃、镜片主要参数●电源及插头:能在220V±10%,50Hz供电条件下连续工作。仪器设备的插头应符合中国国家标准,否则应提供适合仪器插头的插座。●工作环境:10-35℃、相对湿度10-80%(无结露)●光谱范围:380-1050nm(最宽可达200-2500nm,可以根据客户的要求定制范围)。●样品台尺寸:195 x 160 mm (W x D)。●带封闭样品仓,减少外界光线对测量结果的影响。●光源:高性能卤素灯(可根据光谱范围和样品特性定制光源)。●RT100软件:可以测量整段光谱曲线,可以自动获取6个光谱位置的透过率、反射率数值,设定阈值自动判断测量合格与否。
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  • 测量各类薄膜、玻璃以及镜片等的可见光透射比、紫外线透射比、太阳光透射比、可见光反射比,及材料的光谱透射率/反射率曲线,并对材料的颜色特性进行分析,实现280nm-2500nm极宽的测量范围,满足GAT744-2013 标准要求。 核心光学设备为国家863(高技术研究发展计划)项目研究成果,获美国专利授权(专利号:US 7,978,324 B2),"国家首批自主创新产品","国家重点新产品"荣誉。经由院士领衔的权威专家组鉴定,获"国际领先"评价。主要特点采用远方高精度光谱测量技术,精度高、测量速度快、稳定性好采用背照式高精度阵列探测器和优质衍射光栅,并采用带通色轮校正(BWCT)等多项杂散光修正专利技术,具有极高的光谱测量分辨率、机低杂散光高性能准直光源,保证宽波段范围的测量条件自带校正及标定功能,方便用户自行校零和定标独特的紫外-可见波段的双光路设计,可对光源进行监控和自动补偿,减少光源变化带来的误差极宽的光谱测量范围:280nm-2500nm? 主要技术指标测量功能可见光透射比、紫外线透射比、太阳光透射比、可见光反射比,及材料的光谱透射率曲线、材料的光谱反射率曲线、材料的色空间、色差等颜色参数。波长范围280nm-2500nm;波长准确度280-800nm波段:±0.3nm;800-1600波段:±0.5nm;1600-2550波段:±3nm;半峰带宽280-800nm波段:3nm;800-1600波段:9nm;1600-2500波段:15nm;照明/接收条件反射 5°/5°,透射:0/0反射率范围0-200%,分辨率0.001%照明孔径Φ20mm? 典型应用:
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