粒度粒径分析仪

粒径分析仪美国MAS公司成立至今有30余年历史，专注于超声电声法原理颗粒度检测、 Zeta电位分析仪的研发生产。超声法原理测试样品的颗粒分布，是采用声波发生器发出一定频率和强度的超声波在样品中传播，由于不同大小粒径对声波的吸收、散射作用不同，导致声波衰减程度不同。根据颗粒大小和声波衰减之间的函数关系，得到颗粒的粒度特点：不稀释：快速、简易，极少或不需事前样品准备！坚固耐用，用途广泛。电声量测分析：水性… 非水性… 不透明… 粘性… 纳米颗粒… … 自动滴定很简单的IEP测量自主已混合、已抽打过气样品均匀性… 无颗粒沉降… … 非常适合实验室和工厂… 研发、质量控制和在线等地使用粒径分析仪ZA500，ZetaAcoustic，结合Zeta电位分析仪、声波、电声测量三合一很强，高的分辨率，免稀释 Zeta电位分析。MAS应用科学公司发明电动声波振幅（ESA）技术用于高百分比之固体 Zeta 表面测量。MAS将其独特的专业知识应用在 Zeta 电位和粒度分析仪器的设计，使其成为 MAS很强而有力的发明Zeta电位量测仪。使用ZA500的好处：※ 藉由结合电动和声学，二合一的测量中，进行高分辨率/准确度 Zeta 测量。※ 自动粒度校正（通过声学测量）精确的 Zeta 测量（1纳米到30微米）。※ 自动/无人值守的电位滴定和容量滴定，用于简单和很快的 Iso-Electric Point（IEP）测定、表面活性剂吸附效应和其他动态测量。※ 在测量过程中，适用于自主已混合和/或已抽打气样品，无需等待颗粒沉降无不良影响。※ Zeta倾角传感器允许在样品池或独立容器中进行测量。※ 坚固耐用，适用于大多数样品，包括纳米颗粒、水性、非水性、高粘性、低至高百分比固体（0.1至60%体积）和 0-14 ph 等。※ 同时测量酸碱度、电导率和温度。※ 免费终身咨询 Matec 的任何材料胶体专家… 无论是有关 ZetaZcoustic… 或任何其他胶体科学主题。下图显示了氧化铝（左）和二氧化钛样品的自动、无人值守电位滴定示例。它们的IEP位置很容易由 ZetaAcoustic 仪器确定。电声法原理测试样品的Zeta电位，在针对高浓度，高粘度的样品，如电池浆料、混悬剂、电子印刷材料、乳剂、油墨等样品，电声超声法粒度电位分析仪可直接进行原样检测，无须进行样品稀释，即可得到更精确真实的结果，避免了因稀释带来的误差和影响。对研发，生产起到关键的指导意义。

粒径在线检测仪 摘要:POU在线检测集原样进样检测、自动稀释等全自动检测功能于一身,为用户提供可方便、快捷、高效、可靠的粒径分析。粒径在线检测仪POU在线检测集原样进样检测、自动稀释等全自动检测功能于一身，为用户提供可方便、快捷、高效、可靠的粒径分析。POU在线检测系列最小可以测试计数到150nm，浓度高达10million个/mL的样品。可以满足高浓度slurry磨料浆在线测试要求，是PSS最新最全能性的颗粒计数器系列产品。粒径在线检测仪?仪器参数：粒径测量范围(可选)150nm – 2500μm分析方法单颗粒激光测量技术（SPOSPAT）可用溶剂水和绝大多数有机溶剂流速（稀释系统）60 – 180 mL/min分析软件（可选）Windows 运行环境，标准软件或符合 21 CFR Part 11 规范分析软件电压220 – 240 VAC，50Hz 或100 – 120 VAC，60Hz外形尺寸主机1（计数器）：20 cm *45 cm * 20cm；主机2（自动稀释系统）：25cm * 45 cm * 56cm；重量约30Kg粒径在线检测仪Particle Sizing System （美国PSS粒度仪公司）是一家专注于帮客 户解决粒度问题近40年的专业科技公司，公司总部位于美国佛罗里达州圣巴巴拉市，公司自1977年创 立以来，一直为颗粒检测分析领域提供技术领先的仪器设备。 公司总部位于加利福尼亚洲的圣巴巴拉，有5个应用中心或销售代表处 分布在世界各地，每个中心或代表处都配备应用/技术支持、销售和服务人员。此外，我们还有40多个 分销商或销售代理公司遍布在美国、欧洲及亚洲各地。 PSS生产的颗粒检测和分析仪器分别采用动态光散射技术（dynamic light scattering, DLS）和光阻法（Light obscuration or light extinction, 也有人称之 为“消光法"，）技术以及单颗粒（Single Particle Optical Sizing, SPOS）技 术，检测范围从纳米到微米级，既可以检测平均粒径，zeta电位值，又可以对产品中的颗粒进行计数 ，尤其对于其他光散射或者光衍射方法检测不到的极少数的大粒子（Large Particle Count, LPC）， 可以精准地检测出。目前PSS粒度仪是市场上唯一一家能够提供高分辨率的自动单颗粒技术的粒径分析 仪。 PSS的单颗粒（SPOS)技术，能对样品的颗粒数目进行量化， 打破了科技界以往通过光散射和光衍射方法只能检测均粒径分布的局限，不仅能检测颗粒大小，更能 对颗粒进行计数。这给了研究、生产和质控人员对样品中颗粒的大小、数目一个清晰明了的结果，大 大助力于其研发和生产。 PSS的团队由科学家和工程师组成，可以提供从实验室到生产流水线的 多种技术解决方案。如果您有粒度检测、分析或颗粒度问题困扰，欢迎随时来函来电垂询。

ZML-310膏剂粒度粒形分析仪，透皮乳膏粒度晶型分析是采用显微镜图像法测试粒径大小、颗粒形状及颗粒颜色的颗粒分析系统。设备由显微镜、高分辨率数字摄像机、分析软件、计算机等部分组成。广泛适用于API原料药，药物晶型分析、生物医药、磨料、电池、非金属矿、粉末冶金、石油能源、涂料、颜料、陶瓷、食品等域的各种粉体颗粒的粒度大小、形状特征观察和测量。　　工作原理是通过用高分辨率数字摄像机和光学显微镜，将颗粒图像拍摄下来并传输到计算机中，用我们的颗粒图像分析软件对颗粒图像进行分析，并通过显示器和打印机输出分析结果。该仪器具有直观、可视、准确、测试范围宽、操作简单、测量参数全面等特点。　　ZML-310型外用制剂粒度仪的技术参数　　1、准确性：＜3%。　　2、摄像机：1800万像素 3、粒径范围：200nm-3000μm　　4、粒度统计：体积、面积、颗粒。　　5、配置奥林巴斯显微镜，成像更加清晰。　　6、可以得到常规的平均粒径，D10，D50，D90等参数。　　7、软件自动进行统计样品颗粒，并对颗粒进行做粒度分布。　　8、粒径参数：等效面积圖、等效周长圆、等效短径、等效长径等。　　9、形状参数：圖度、球形度、凸起度、实积度、延伸度、长径比、长宽比、椭圆度。

结构原理ZML-310型透皮乳膏粒度晶型分析仪是采用显微镜图像法测试粒径大小、颗粒形状及颗粒颜色的颗粒分析系统。设备由显微镜、高分辨率数字摄像机、分析软件、计算机等部分组成。其工作原理是通过专用高分辨率数字摄像机和光学显微镜，将颗粒图像拍摄下来并传输到计算机中，用专门的颗粒图像分析软件对颗粒图像进行分析，并通过显示器和打印机输出分析结果。该仪器具有直观、可视、准确、测试范围宽、操作简单、测量参数全面等特点。能够同时测量颗粒粒度、形状及表面颜色的显微粒度分析仪器。透皮乳膏粒度晶型分析仪的适用领域透皮乳膏粒度晶型分析仪该仪器广泛适用于API原料药、半固体软膏、液体制剂、药物晶型分析、生物医药、食品等领域的各种颗粒的粒度大小、形状特征观察和测量。技术参数1.粒径范围：200nm-3000μm2.准确性：＜3%。3.粒径参数：等效面积圖、等效周长圆、等效短径、等效长径等。4.粒度统计：体积、面积、颗粒。5.形状参数：圖度、球形度、凸起度、实积度、延伸度、长径比、长宽比、椭圆度。6.摄像机：1800万像素。7.软件自动进行统计样品颗粒，并对颗粒进行做粒度分布。8.可以得到常规的平均粒径，D10，D50，D90等参数。9.配置奥林巴斯显微镜，成像更加清晰。

仪器简介：德国RETSCH TECHNOLOGY公司最新推出的CAMSIZER多功能粒径分析仪是全球唯一一台可以同时分析粒径大小、粒径分布、颗粒个数、球形度、透明度、面积等多参数的仪器。采用专利的双镜头设计，可以实时捕捉样品颗粒的图像并进行储存和处理，进样量大，分析具有代表性和重现性，同时具备在线功能。 传统的激光粒度仪由于取样量偏小，重现性差，样品不具备代表性，对于球形度差的样品无法得出准确结果；传统的筛分技术只能测出颗粒的大概大小，无法进行计数，并且分析过程漫长，CAMSIZER可以对颗粒大小和形状同时进行详细而准确的分析，并实时记录图像。它是由RETSCH TECHNOLOGY公司与JENOPTIK JENA公司（原德国蔡司ZEISS）合作研制的。 CAMSIZER可对所有干性、流动的粉状颗粒材料进行快速分析，如盐/糖、塑料、催化剂、研磨剂、碳制品、沙、煤炭、咖啡、耐火材料、食品、聚苯乙烯、玻璃、陶瓷、肥料、药物、金属粉末、标准品、水泥、矿石等。技术参数：测量范围：10um－－30mm 测量原理：数字成像技术 分析数据：颗粒大小、形状、透明度、个数、分布、球形度、面积等 数据处理：60 images/s，每一张大于780000 pixels 外形尺寸：（H x W x D）约 650 x 850 x 350 mm 重 量：40 Kg（不带PC） 测量时间：约2-3分钟（视样品性质和进样量） 符合标准：CE认证、FDA 21 CFR PART 11、其他标准 主要特点：1) 100% 高分辨率的双镜头 2) 样品处理量大，极具代表性和重现性 3) 实时图像显示 4) 粒径大小、粒度分布、颗粒计数、图像分析、球形度、透明度等多参数分析 5) 分析结果可与筛分拟对 6）多国语言、易维护 7）全自动和在线功能

透皮乳膏粒度晶型分析仪ZML310由光学显微镜、高分辨率CCD 摄像机、颗粒图像分析软件、计算机、打印机等部分组成。其工作原理是通过专用数字摄像机和光学显微镜，将颗粒图像拍摄下来并传输到计算机中，用专门的颗粒图像分析软件对颗粒图像进行分析，输出分析结果。该仪器具有直观、可视、准确、测试范围宽、操作简单等特点。透皮乳膏粒度晶型分析仪的技术参数　　1、准确性：＜3%。　　2、摄像机：1800万像素。　　3、粒径范围：200nm-3000μm　　4、粒度统计：体积、面积、颗粒。　　5、配置奥林巴斯显微镜，成像更加清晰。　　6、可以得到常规的平均粒径，D10，D50，D90等参数。　　7、软件自动进行统计样品颗粒，并对颗粒进行做粒度分布。　　8、粒径参数：等效面积圖、等效周长圆、等效短径、等效长径等。　　9、形状参数：圖度、球形度、凸起度、实积度、延伸度、长径比、长宽比、椭圆度。

FC200TC （高温物料）粒度粒形分析仪 粒度粒形分析仪将图像这一直观的观察测量方法与统计学相结合的新图像法颗粒粒度粒形表征不仅能够得到个别颗粒的直观信息，还能够得到大量样品的粒径和形貌的统计信息，从而帮助使用者全方位地表征样品FC200TC（高温物料）粒度粒形分析仪FC200系列是应用于悬浮液和乳液的全电脑控制粒度粒形分析仪。配置包括连接显微镜头的数字工业相机和背光系统。通过在流动池中的分析, 用户可以进行粒径测量，粒形分析及计数（颗粒数/毫升）。为了得到准确的颗粒计数，仪器内置特殊的泵系统，实现较佳的流速控制。未经稀释的乳液经过位于成像装置和光源之间的固定厚度的玻璃样品池单元。通过在流动池中的分析, 用户可以测定粒径及其分布，粒形及其分布及颗粒计数。粒径测量范围0.2μm-3mm。粒径和粒形参数定义近50个。FC200TC（高温物料）粒度粒形分析仪Occhio FC200S＋HR图像法粒度分析仪 ( 湿法) ，采用1000 万像素的照相机，拍摄分散在液体中的颗粒或液滴的高分辨率照片，可拍摄到粒径小于 200 nm 的颗粒，可以循环分散测定，进行粒度分布和粒形分布的分析。FC200M配置标准计量隔膜泵。其它搅拌分散或超声分散装置可选 FC200TC是针对高温下（控温可达140°C)物料的粒度粒形分析 对于放射性颗粒材料，有特殊粒度粒形分析仪(FC 200 BAG)供您选择。

500nano 系列 静态图像法粒度粒形分析仪 (干法)● 粒径范围：0.4 μm-2 mm，完全符合ISO-13322-1规范● 6.6兆像素的高分辨相机● 单波长蓝色背光照明消除了衍射现象的困扰● 平行光和远心镜头提高了颗粒图像的外观质量（轮廓清晰）● 创新的光-镜一体技术，对每个颗粒都能准确对焦● 采用像素值，获得较佳阈值● 采用高速相机避免了振动问题● 固定的相机和光源减少了维护成本，增加了可靠性● 专利真空分散系统，无污染，易清洁● 计算机控制的500nanoP的真空分散装置（见右图）● 测量过程通过软件SOP操作● 分析过程中全自动校准，全自动对焦

仪器简介：GSL-101BII激光颗粒分布测量仪 测量范围： 0.1-450 微米采样通道： 主阵列70+侧向阵列24道 电源电压: 220V 50Hz 仪器灵敏度：12位（A/D CONVERT）激光器类型：半导体 激光器波长：760nm激光器功率：5mW 激光器寿命：大于20000小时测试时间：单次测试时间小于：60 秒测试程序：中文Windows95/98/2000/NT/XP操作系统下运行，功能强大，操作简单，直观。测试程序可给出常规项目如粒度分布表、分布曲线、各种粒径、用户任意分级数据等结果，并可根据用户选择打印英文或彩色测试报告 测试对象 1.各种非金属粉：如重钙、轻钙、滑石粉、高岭土、石墨、硅灰石、水镁石、重晶石、云母粉、膨润土、硅藻土、黏土等。2.各种金属粉：如铝粉、锌粉、钼粉、钨粉、镁粉、铜粉以及稀土金属粉、合金粉等。3.其它粉体：如催化剂、水泥、磨料、医药、农药、食品、涂料、染料、荧光粉、河流泥沙、陶瓷原料、各种乳浊液等。 仪器特点：● 重复性好本仪器采用Furanhofer衍射及Mie散射理论,测试过程不受温度变化、介质黏度,试样密度及表面状态等诸多因素的影响,只要将待测样品均匀地展现于激光束中，即可获得准确的测试结果。而且区别于沉降法,由于不需要沉降过程，因此在一次测试中可以多次采样(5-20次任意设定)，有效的滤除了由于电噪声，样品分布不均等因素造成的影响，使仪器的测试重复性变好。● 测试范围宽由于采用了大尺寸光电探测阵列（70个通道）、侧向辅助光电探测阵列（12个通道）及其它相应技术，使 单透镜 测试范围达到0.1---450微米；并且由于本仪器使用过程中无须更换镜头及调整光学系统，提高了系统的稳定性，简化了操作过程。● 采用半导体激光发生器具有光参数稳定、效率高、寿命长、不怕振动等一系列优点，克服了传统气体激光器由于自然漏气，需定期更换的缺点。● 自动化程度高操作简单GSL-101BI型激光颗粒测量仪采用微机进行实时控制，自动完成数据采集、分析处理、结果保存、打印等功能,操作简单,自动化程度高。● 测试迅速由于无须沉降过程，使测试速度大幅度提高，在通常情况下，1分钟内即可完成一次样品测试。(注:不包括样品制备时间)。● 软件本仪器测试程序采用MSVC/C++6.0编制,在中文Windows95/98/ME/2000/NT/XP人机接口界面，操作直观简便,通俗易懂。数据输出内容丰富,并且可以输出英文测试报告,对于彩色打印机还可以输出彩色测试报告。● 采用了独特的机械搅拌装置具有搅拌力矩大、速度快、搅拌均匀等一系列优点。技术参数：液体中激光粒度测量分析仪 PCSLE20WN 整个系统采用稳定的激光发射和接受系统，粒径测量系统是以单位体积中的粒子个数和粒径大小来评定的，附有功能强大的软件，粒径测量范围在2~125微米之间。 仪器可以对样品100%测量，流率是70ml/min，溶液中的粒子在不失去粒径统计意义的情况下，可以有间隔的采样分析，但都提供最高精度的粒径分析。 特点 性能改进 实时定量检测和分析粒子的浓度和大小，对于污染立即反映出来 功能强大的软件使得工艺过程的控制非常的容易，通过报警设置，过程分析，采样器设置，在线帮助来实现 对于严格的的工艺过程控制来说，通过以单位体积中的粒子个数和粒径大小来评定可以提供更高的精度多功能性 测量的量程范围宽，用途广 可在线检测，也可和浓缩采样器连用 PCSLE20P可以和样品注射器连用 和各种各样的管路标准兼容连接 在线或批处理能力 RS-485数据传输接口使用简单 体积小，可连接于过程中的任何地方 软件灵活，提供多个可视窗口选项，显示实时数据和调用存储的数据 用户可以自己选择粒径的通道 技术特点 粒径灵敏度在2~~125微米15个用户可调整选择的粒径通道样品100%检测，无漏检在线采样检测，结构紧凑 应用 化工产品的质量控制 工艺过程浴液的监测 去离子水的检测 化工产品的输送 部件清洗液的检测技术参数 PCSLE20WN粒径范围 2~~125μm粒径通道 15个样品流率 70ml/min样品体积 70ml/min，100%检测单通道最大浓度 10000个/ml样品温度 10~50℃ 零记数过滤器 ＜50个/升最大压力 100Psi （0.675Mpa ， 约6个大气压）测试光源 激光二极管防潮表面材料 Teflon, 玻璃，不锈钢，BUNA-N规格 320mm（L）×110mm（W）×110mm（H）重量 3kg电源 85~250V，50~60Hz通讯 RS-485校准 所用材料来源于美国NIST使用环境 10~35℃ 无冷凝如有什么不清楚或不了解的地方，请致电 010-8241 3547 党先生主要特点：2002/2006/2008型激光粒度分析仪工作原理：本系列激光粒度分析仪采用全量程米氏散射理论，充分考虑到被测颗粒和分散介质的折射率等光学性质，根据激光照射在颗粒上产生的散射光能量反演出颗粒群的粒度大小和粒度分布规律。技术特点： 分析仪工作原理先进，硬件设计合理，产品设计符合国际技术标准ISO-13320，吸取了英、美、德等国家的粒度测试先进经验，产品一切指标均达到国内领先、国际先进水平, 已获得国家专利，专利号：ZL02269439.0。光源：采用He-Ne激光源，波长0.6328微米，波长短，线宽窄，稳定性好，激光电源及激光管的寿命大于15000小时。光电探测器：光电探测系统设计独特，主检测器一个，辅助检测器34个，呈非均匀性交叉三维扇形距阵排列，最大检测角达到1350。光路：采用一个量程设计，会聚光路独特，减少了傅立叶透镜组，使测量范围更宽，分辨率更高，误差降到了最小。循环系统：循环泵速触摸式按键连续调节，设置速度数字显示，可根据需要设置循环泵速，循环泵速0~5000转/分钟连续可调。超声分散内置：内置大功率超声器与主机一体，良好的屏蔽处理使超声分散和样品测试可同时进行，即使具有超强团聚性的颗粒也能够充分分散以获得真实的粒度分布数据。超声强度：采用100W大功率超声器，能够充分分散易团聚的颗粒。超声时间：超声时间触摸式按键连续调节，设置时间数字显示，超声时间0~10分钟连续可调, 可根据需要设置超声时间。搅拌系统：搅拌速度触摸式按键连续调节，设置速度数字显示，搅拌转速0~3000转/分钟连续可调，可根据需要（如颗粒大小和分散介质等）连续调节，既保证被测样品充分混合，又可避免因搅拌速度过快产生气泡造成的测试误差。样品池：样品池与主机一体，不锈钢材质，设计独特，呈圆形， 循环排液方便，不留尘垢，便于清洗。测试时间：循环、超声、搅拌和排液等操作键都在智能化触摸式操作面板上， 标准、量化的操作，有效的缩短了测试时间，测试数据过程制在1分钟内完成。数据处理：粒度分析仪颗粒粒度测量分析系统功能强大，测试数据可以做平均、统计、比较和模式转换等处理，具有微分分布、累积分布、标准分级、R-R分布、自由分级和按目分级等多种格式。在0.02~1000微米内默认分级120级，在量程范围内从1~120级可自定义分级。测试报告中有粒度分布图形和粒度数据图表，有D10、D50、D90、平均粒径和比表面积等特征参数，还有四个自定义参数，可根据需要输入。 重量比表面积与体积比表面积可以互换。支持中、英文格式测试报告打印，有打印预览功能，能够将粒度分布图形和粒度数据图表存成图片或PDF格式，便与WORD交互使用。页眉和页脚可根据需要进行修改。测试界面：测试软件界面友好，测试过程清晰可见，瞬时刷新，可视性强，可随时观察测试状况，了解仪器内部运行情况，分析所测数据的真实性、可靠性。根据样品的密度、异性、脆性、磁性、毒性、流动性、团聚性、溶解性和物理化学反应等理化特性，我们总结出了一套科学、系统和完整的分散测试方案，随着仪器提供给用户。我们既销售仪器，又提供分散测试方案。 硬件简介仪器外壳钢板加工，内外表面喷塑处理；光学支架合金铸造，不易变形；光学元器件国外定做，灵敏度高；探测器英国进口，超声换能器美国进口，电磁阀意大利进口，性能稳定；控制面版自行设计，操作方便。激光粒度分析仪易损配件硬件设计先进，性能稳定可靠，按照Q/01RZ01-2004标准生产，无易损配件, 仪器使用寿命在10年以上。技术参数：2002型激光粒度分析仪 RMB56000.002006型激光粒度分析仪 RMB128000.002008型激光粒度分析仪 RMB183000.00测量原理全量程米氏散射理论测量范围0.1~600μm0.05~800μm0.02~1200μm准确性误差＜3%重复性误差＜3%循环泵转速（0~5000rpm）, 连续可调超声分散时间0~10min， 连续可调搅拌器转速（0~3000rpm）, 连续可调探测器高精密硅探测器分散池圆形不锈钢材质，容积400ml软件颗粒粒度测量分析系统（for Windows）粒度分级微分分布，累计分布，R-R分布，标准分级，自定义分级和按目分级等电源要求220VAC， 50Hz 200W生产标准Q/01RZ01-2004外形规格1000mm×330mm×320mm重量38kg激光粒度分析仪标准配置：序号名称数量序号名称数量1激光粒度分析仪主机1台6标准颗粒 1瓶2使用说明书1 本7标定专用管1根3测试软件1张8样品匙1只4联机电缆1根9专用扳手1只5电源线1根

产品简介 欧奇奥粒度粒形分析仪 Scan700将图像这一直观的观察测量方法与统计学相结合的新图像法颗粒粒度粒形表征不仅能够得到个别颗粒的直观信息，还能够得到大量样品的粒径和形貌的统计信息，从而帮助使用者全方位地表征样品。 测试范围 测试范围：用于10μm~5cm颗粒粒径及形貌分析 产品功能 欧奇奥粒度粒形分析仪 Scan700分析参数：多达43个粒径形貌参数的统计结果，可全面了解样品总体的概况 ● 粒形参数：等效面积直径，筛分直径（内切圆直径），平均直径，Crofton直径，颗粒长度，颗粒宽度，颗粒大长度，体积 ● 粒形参数：ISO 9276-6 7 8规定参数包括ISO圆度 ,ISO钝度 ,ISO紧凑度 ,ISO线性度等 .延伸度,长宽比 ,圆度 ,凹度指数,平均灰度,灰度,椭圆宽度,椭圆长度 ,椭圆度,椭圆比,椭球延伸度,偏心率,实积度,钝度,粗糙度，球形度。 ● 高级粒形参数：磨损指数，晶化度，孔隙度，用户自定义 ● 数据存储：oph专用数据存储格式可存储：粒径分布，粒径粒形。百分数独立颗粒图像及灰度 ● 数据比较：可显示无上限多样品比较图表 ● 可显示图表：粒径分布图，粒径百分数，粒形百分数，平均粒形，2D散点分布图，3D散点分布图，样品图像百分比，样品图像，独立颗粒图像 ● 统计工具：形貌学和粒径过滤方式 ● 显微镜模式：有手动选项，可手动设置样品流速、实时观察颗粒并显示颗粒参数、存储所需颗粒图像 ● 外部数据分析：可输入、分析外部数据 应用领域 应用领域：纺织物、烟草等的纤维长度、宽度分析；石油、聚合物、咖啡、啤酒的泡沫分析（泡沫大小、形状、动力学和稳定性）；可进行建材、面包、食品等的大孔孔径和形状分析及颗粒计数应用实例：烟丝分析，面包分析，仿制药，玻璃基底分析

多功能颗粒度分析仪仪器介绍：多功能颗粒度分析仪可以用来测量颗粒粒度大小，形状特征，粒径分布，颗粒表面颜色等参数。产品由成像系统，转接头，数字摄像机，分析软件和计算机等组成。工作原理是通过专用高分辨率数字摄像机和光学显微镜，将颗粒图像拍摄下来并传输到计算机中，用专业的颗粒图像分析软件对颗粒图像进行分析，并通过显示器输出分析结果。多功能颗粒度分析仪是传统的显微镜观测功能和现代高科技图像处理功能的结合。技术参数 ：粒径范围200nm-3000μm 准确性＜3%粒径参数等效面积圆， 等效周长圆， 等效短径，等效长径等 粒度统计体积、面积、颗粒。摄像机分辨率2000万像素重要粒径参数D10、 D50 、D90 、D97软件分析自动统计分析并做粒度分布物镜 5X 10X 20X 40X产品特点：多功能颗粒度分析仪具有直观，可视，准确，测试范围宽，测量参数全面等特点分析软件：软件可以自动进行样品颗粒统计，并对颗粒做粒度分布。颗粒一键捕捉、分析。三秒完成测试。颗粒识别度＞99%。 测试过程：1）先将样品涂抹在显微镜载玻片上，用盖玻片轻轻按压盖上；2）准备好的玻片置于显微镜下观察，选择合适倍数的显微镜物镜；3）调节到合适的视野后利用多功能颗粒度分析仪的分析软件进行抓取图片，识别图片中的颗粒。分析软件可以自动快速分析出颗粒数量，给出D10、D50、D90等参数，识别视野中的颗粒并给出粒度分布，并可以按照不同的粒形进行过滤分析。4）保存并打印测试报告。

美国MAS多功能超声法粒度分析仪公司介绍美国MAS（Mass Applied Sciences）公司成立至今有30余年历史，是一家专注于超声电声法原理粒度及Zeta电位分析仪的研发和生产型企业。 公司研发的纳米粒度及Zeta电位仪系列产品，完美的解决了目前市面上光学方法无法克服的纳米粒度检测难题，如光学方法必须要对样品进行稀释 后测试其粒径和zeta电位以及对于复杂体系无法给出真实的粒度分布等 。目前，美国MAS多功能超声粒度分析仪仪系列主要由 ZETA-APS,APS-100,ZetaFinder ZF400,ZetaAcoustic ZA500,CHDF-3000/4000组成，可以为各行业提供专业的粒度和Zeta电位解决方案。 超声法系列粒度仪测试样品的原理是采用声波发生器发出一定频率和强度的超声波，由于不同粒径大小的颗粒对声波的吸收、散射作用不同， 导致声波衰减程度不同。从而通过颗粒的声衰减谱得到颗粒详细准确的粒度分布。典型应用：综合稳定水泥浆，陶瓷，化学机械研磨，煤浆，涂料，化妆品，环境保护禅选法矿物富集，食品工业，乳胶，微乳，混合分散体系，纳米粉，无水体系，油漆成像材料。主要特点：1）能分析多种分散物的混合体；2）无需依赖Double Layer模式，准确地判定等电点；3）可适用于高导电(highly conducting)体系；4）可排除杂质及对样品污染的干扰；5）可准确测量无水体系；6）Zeta电位测试采用多频电声测量技术，无需先测量粒度即可进行电位测量；7）样品的高浓度可达60%(体积比)，被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量；8）具有自动电位滴定功能；优于光学方法的技术优势：1)被测样品无需稀释；2)排除杂质及对样品污染的干扰；3)不需定标；4)能分析多种分散物的混合体；5)高精度；6)所检侧粒径范围款从5 nm至1000um美国MAS多功能超声法粒度分析仪优于electroactics方法的技术优势：1)无需定标；2)能测更宽的粒径范围；3)无需依赖Double Layer模式4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲；5)零表面电荷条件下也可测量粒径；6)可适用于无水体系；7)可适用于高导电(highly conducting)体系；优于微电泳方法的技术优势：1)无需稀释，固合量高达60%；2)可排除杂质及对样品污染的干扰；3)高精度(±0.1mv)；4)低表面电荷(可低至0. 1mv)；5)electrosmotic flow不影响测量；6)对流(convection)不影响测量；7)可准确测量无水体系；美国MAS多功能超声法粒度分析仪技术参数：1)所检测粒径范围宽：从5 nm至1000um；2)可测量参数：粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减；3)Zeta电位测量范围：+/-200 mv，低表面电荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv) 4)零表面电荷条件下也可测量粒径；5)允许样品浓度：0.1-60%(体积百分数)；6)样品体积：30-230ml；7)PH范围：0~14 8)电导率范围：0~10 s/m

Zephyr LDA动态粒度粒形分析仪 在机械和真空分散系统的配合下，ZEPHYR LDA可以提供快速和准确的粒径粒形分析。它可以替代手动筛分法分析。结合CALLISTO软件，可以在几分钟之内完成分析。Zephyr LDA动态粒度粒形分析仪动态干法分析 干法分析采用振动式进料装置，配合真空抽吸装置，使颗粒（粉体）样品下滑到管道并在抽吸系统中分散。线性气流可以保持所有颗粒都在焦平面内。具有远心镜头的高分辨相机可以得到高清颗粒图像。Zephyr LDA动态粒度粒形分析仪传统粒度分析的升级 ZEPHYR LDA采用高分辨率相机，使得其粒度报告可与其他粒径分析仪器做比较，例如筛分仪和激光衍射粒度分析仪。分析快速准确，结果可完全对应。 玻璃窗片自动清洁（免维护） 压缩空气自动清洁玻璃窗片，没有污染，无需要在分析之后清洁光路。Zephyr LDA动态粒度粒形分析仪湿法分析（选项） 可针对不同样品特性，选配湿法测量系统。湿法分析具有以下特点：● 粒径测量范围：1μm~3000μm，0.2μm~1mm（选配）● 具备粒子计数功能● 动力学分析模式： 可跟踪每一个单一颗粒的粒度变化信息 典型应用 食品（糖，咖啡，巧克力）、纤维、烟草、泥沙，金刚石，聚苯乙烯（PTFE)，陶瓷，肥料......

真理光学技术团队具有超过二十年的粒度表征及应用开发的经验，曾研发出商用激光粒度分析仪。喷雾颗粒的大小及其控制决定了许多产品的最终质量，如吸入给药过程中的药物输送，燃油喷雾，气溶胶，火箭发射时燃料的燃烧效率评估，能源化工行业及喷嘴研究等诸多应用。由于喷雾颗粒的高速运动，粒径范围宽及雾场的不规则，要求喷雾粒度分析系统具有高的适应性和高速衍射信号的处理能力。Spraylink超高速实时喷雾粒度分析仪专为应对这些挑战而设计，以实现对高速喷雾粒度分析仪进行准确的分析。Spraylink 高速喷雾粒度分析仪杰出性能包括：◆ 10KHz的数据采集速率，能够完成每秒10000次喷雾粒径测量，从而动态捕捉0.1毫秒时间间隔的颗粒粒度分布◆ 独特的透镜设计和光路系统优化，宽广的喷雾雾场测量范围◆ 无需更换透镜，即可覆盖0.1um–2080um的动态测量范围◆ 全自动智能光学对中◆ 独特的镜头吹扫保护装置◆ 用户自定义的光学导轨配置◆ zui新高浓度补偿分析技术◆ 灵活的多触发选项，实现不同应用的测量同步◆ 全金属外壳和支撑配合高精度光学导轨计，兼顾极高的稳定性和灵活性◆ IP65密封防水等级的发射和接收单元◆ 喷雾全过程喷雾粒度变化跟踪分析◆ 喷雾过程不同时刻喷雾粒度结果呈现，用于检查随不同时间喷雾颗粒大小变化的动态过程◆ 测量结束后喷雾粒度历史结果回放功能测量原理激光衍射粒径范围光学模型工作范围浓度范围检测系统光源激光安全光学对中系统数据采集速率测量速度0.1μm -2080μm，无需更换透镜完全米氏理论，包括高浓度补偿技术0.3μm时为150mm，7μm时为1800mmzui高遮光度：90%（取决于粒径范围）38单元非均匀交叉及面积补偿的检测器阵列波长638nm，20mW集成恒温及偏振空间滤波的高稳定固体激光器组件3B级激光产品智能全自动zui高10kHz，连续可调每秒10000次准确度Dv50优于+/-0.5% (NIST 可溯源乳胶标样)重复性测量触发方式外部设备同步Dv50优于+/-0.5% (NIST 可溯源乳胶标样)内部：透光率或光衍射信号；外部：TTL电平输入或开关触发TTL触发输出软件 计算机zui低要求Intel i5处理器，8G内存，250G硬盘，鼠标、键盘和19英寸平板显示器、USB2.0或以上接口操作平台Windows 7 或以上专业版操作环境密封等级IP65（适用于发射和接受系统）温度/湿度5℃-40℃，＜85%，无冷凝电源要求 重量和尺寸交流220V, 50/60Hz，标准接地主机系统重量28kg主机尺寸（含光学导轨）1100mm x 460mm x 538mm(LxWxH)

美国MAS超声法粒度检测仪公司介绍美国MAS（Mass Applied Sciences）公司成立至今有30余年历史，是一家专注于超声电声法原理粒度及Zeta电位分析仪的研发和生产型企业。 公司研发的纳米粒度及Zeta电位仪系列产品，完美的解决了目前市面上光学方法无法克服的纳米粒度检测难题，如光学方法必须要对样品进行稀释 后测试其粒径和zeta电位以及对于复杂体系无法给出真实的粒度分布等 。目前，美国MAS多功能超声粒度分析仪仪系列主要由 ZETA-APS,APS-100,ZetaFinder ZF400,ZetaAcoustic ZA500,CHDF-3000/4000组成，可以为各行业提供专业的粒度和Zeta电位解决方案。 超声法系列粒度仪测试样品的原理是采用声波发生器发出一定频率和强度的超声波，由于不同粒径大小的颗粒对声波的吸收、散射作用不同， 导致声波衰减程度不同。从而通过颗粒的声衰减谱得到颗粒详细准确的粒度分布。典型应用：综合稳定水泥浆，陶瓷，化学机械研磨，煤浆，涂料，化妆品，环境保护禅选法矿物富集，食品工业，乳胶，微乳，混合分散体系，纳米粉，无水体系，油漆成像材料。主要特点：1）能分析多种分散物的混合体；2）无需依赖Double Layer模式，准确地判定等电点；3）可适用于高导电(highly conducting)体系；4）可排除杂质及对样品污染的干扰；5）可准确测量无水体系；6）Zeta电位测试采用多频电声测量技术，无需先测量粒度即可进行电位测量；7）样品的高浓度可达60%(体积比)，被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量；8）具有自动电位滴定功能；优于光学方法的技术优势：1)被测样品无需稀释；2)排除杂质及对样品污染的干扰；3)不需定标；4)能分析多种分散物的混合体；5)高精度；6)所检侧粒径范围款从5 nm至1000um美国MAS超声法粒度检测仪优于electroactics方法的技术优势：1)无需定标；2)能测更宽的粒径范围；3)无需依赖Double Layer模式4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲；5)零表面电荷条件下也可测量粒径；6)可适用于无水体系；7)可适用于高导电(highly conducting)体系；优于微电泳方法的技术优势：1)无需稀释，固合量高达60%；2)可排除杂质及对样品污染的干扰；3)高精度(±0.1mv)；4)低表面电荷(可低至0. 1mv)；5)electrosmotic flow不影响测量；6)对流(convection)不影响测量；7)可准确测量无水体系；美国MAS超声法粒度检测仪技术参数：1)所检测粒径范围宽：从5 nm至1000um；2)可测量参数：粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减；3)Zeta电位测量范围：+/-200 mv，低表面电荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv) 4)零表面电荷条件下也可测量粒径；5)允许样品浓度：0.1-60%(体积百分数)；6)样品体积：30-230ml；7)PH范围：0~14 8)电导率范围：0~10 s/m

纳米流式颗粒成像分析仪仪让颗粒无处遁形设备名称：纳米流式颗粒成像分析仪仪器型号：YH-FIPS-10工作原理：图像法原理产品介绍： 随着科技不断进步，产品质量快速提升，各行各业对颗粒检测的要求也越来越高。而在实际生产过程中，往往 颗粒呈现出不规则形状。颗粒的形貌会影响到产品的稳定性，溶解性，流动性等。因此，颗粒分析不仅仅要做粒度 分布的检测，还需要得到颗粒的形貌这一关键信息。 FIPS 10 流式动态图像法粒度仪，是采用高速相机实时采集图片， 再进行颗粒分析的一种粒度仪。样品在流动过程中实时拍摄，能够采集到足够多的颗粒图片，使得测试结果具有代 表性和统计学意义。技术优势：√ 宽广的检测范围（0.2 μm-3 mm）、检测浓度可高达 1*107 个 /mL；√ 专业远心变倍镜头，兼容不同类型粒子测试，杜绝形貌畸变；√ 引入 FIPS 超分辨算法及 AI 智能算法等多种算法，确保数据准确性；√ 数据同时给出粒子形貌、尺寸分布等信息，以达到最“真”统计；√ 符合 21 CFR part 11 及 GMP 对数据完整性的要求。流式动态图像法粒度仪技术参数：型号 ：YH-FIPS-10检测范围： 0.2 μm-3 mm进样体积 ：最小 50μL 流速 20 μL/min-200 μL/min镜头类型 ：远心镜头放大倍率 ：0.75-9 倍可调NA 值： 0.1 Distortion0.02%VOF ：2600*2100@3.45 μmFrame ratio： 93 fps DOF 13 μm-300 μm光源 ：单色 LED 光源调焦功能： 电动调焦距粒子浓度： 1*107 个 /mL结果输出： 数量结果 (PSD, 浓度等 )，形貌结果（长径，短径，面积等）分析软件： 符合 21 CFR part 11 审计追踪要求。应用案例案例一:样品描述：不同浓度的标准粒子（5 μm） 测试结果：右图为不同浓度标准粒子测试得到的PSD 数据图，可以看到经过等比例稀释得到的不同浓度样品的测试结果具有很好的线性关系。案例二: 样品描述：标准粒子（2 μm） 测试结果：右图为2 μm标准粒子在不同流速下测试得 到的PSD数据图，可以看到样品在不同流 速下的测试结果具有很好的一致性，体现出该仪器不同测试条件下的数据稳定性。案例三:样品描述：亚微米标准粒子（0.495 μm、0.799 μm、0.994 μm）测试结果：下图为不同尺寸的亚微米粒子的PSD数据图， 表明此仪器能实现亚微米级粒子粒径分布的精准测量及颗粒的计数。案例四：样品描述: 生物蛋白药物测试结果：下图为该样品的粒径分布和颗粒累计分布图。 该药物的蛋白理论上为纳米级颗粒，但是从右 图双峰的粒径分布结果，可以得出该药物中蛋 白颗粒逐渐聚集长大的过程。同时，从大颗粒 的典型形貌图也可以得出蛋白质发生了聚集，且形态各异。说明该药物稳定性还需要进一步提高。案例五：典型颗粒形貌：样品描述: 纳米乳液测试结果：下图为纳米乳液的粒径分布图及累计分布图， 可以得到样品中包含三个尺寸的粒子，从样品 的部分颗粒形貌中可以观察到部分乳滴的融合， 这可以为该样品实际生产的品控提供一定建议。应用领域 ：FIPS流式动态图像法粒度仪不仅可以得到样品中的粒子浓度、不同尺寸粒子的比例分 布等详细的PSD信息，实现亚微米到微米级颗粒的计数功能，还可以得到样品的实际颗粒 形貌信息，以达样品颗粒的最真实统计。可广泛应用在生物医药、半导体、材料化工、食品卫生等多个领域。

全自动X光沉降粒度分析仪SediGraph III PLUS SediGraphⅢ Plus全自动X光沉降粒度分析仪 SediGraph使用沉降法从均相液体中分析不同大小的固体颗粒物。通过对X-射线的吸收测量可以直接检测分离固体颗粒物的质量浓度。测定一定密度颗粒在已知密度和粘度的液体中的沉降，即可以运用Stokes方程来计算颗粒的等效球直径。在这种情况下，报告中的粒径就是与测试颗粒具有相同沉降速度的等效球的直径。• 仪器与配件报价 • 联系我们 • 产品培训 久经考验的技术和可靠性 在过去的四十多年中，美国麦克仪器公司的SediGraph是全世界许多实验室粒度分析的标准仪器。无论是在恶劣的生产环境还是在专业的化验室，SediGraph凭借其卓越的可靠性得出精确的测量结果。粒径分布的测量采用沉降法，颗粒通过直接吸收X射线而被测量。根据Stockes定律，通过测量粒子在液体中的沉降速率，得出粒子粒径大小，粒径分析范围为0.1~300μm。 产品应用软件和数据报告应用笔记、文献和参考书目ASTM测试方法智能设计特色SediGraph III Plus 粒度分析仪先进的设计确保了测量的重复性和使用的便利性。使得仪器操作更加容易，日常维护更加简单。并且能够确保对同一样品，在任意一台SediGraph仪器上都能获得重复性极高的结果。• 简化泵系统，确保快速分析和易于维护• 降低噪声，提供更加安静的工作环境• 维护提醒装置，根据总测试量，提示用户进行定期维护• 电脑控制混合室温度，提高测试可重复性• Windows操作软件，以太网连接，可进行点击式选择菜单，联网工作，打印机选择，剪切和粘贴等操作• 多功能和交互式报告系统，能够提供多种类型的报告，例如颗粒沉降速度和粒度（以Phi为单位）多项功能完整的颗粒分析，能够确保对样品中的所有颗粒全部进行分析，包括粒径大于 300μm和小于0.1μm的部分能够与其他粒径测得的数据相结合，使数据报告范围可扩展至125,000μm (125mm)，在地质学方面具有很好的应用自下而上地扫描沉降室，能够准确的获取沉降颗粒的总数，同时最小化颗粒分离所需的时间全自动操作模式能够增加分析样品总数，并且能够减少人为操作步骤，以降低由人为操作造成的测量误差控温分析可确保在整个分析过程中液体的性质不发生任何变化，以获取精确的分析结果多种分析速度，可根据实际需要选择所需的速度和分辨率实时显示，能够监控当前分析的累积质量图，以便根据需求立即修正分析程序统计过程控制（SPC）报告能够跟踪过程性能，便于立即对变化做出响应多图叠加功能，能够对分析结果进行可视化比较，例如：与参考样品或基线叠加，或者将同一分析数据的两种不同类型结果图叠加数据比较图，能够提供两套数据组（不同于参考图）图形显示的数学差或某个数据点高于/低于误差范围的程度（指定图以外）能够使用同一台计算机同时控制两SediGraph，节约宝贵的实验室空间，方便数据存储

动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪原理当激光照射到分散于液体介质中的微小颗粒时，由于颗粒的布朗运动引起散射光的频率偏移，导致散射光信号随时间发生动态变化，该变化的大小与颗粒的布朗运动速度有关，而颗粒的布朗运动速度又取决于颗粒粒径的大小，颗粒大布朗运动速度低，反之颗粒小布朗运动速度高，因此动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪技术是分析样品颗粒的散射光强随时间的涨落规律，使用光子探测器在固定的角度采集散射光，通过相关器进行自相关运算得到相关函数，再经过数学反演获得颗粒粒径信息。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点1、高效的光路系统：采用固体激光器和一体化光纤技术集成的光路，充分满足空间相干性的要求，极大地提高了散射光信号的信噪比。2、高灵敏度光子探测器：采用计数型光电倍增管或雪崩光电二极管，对光子信号具有极高的灵敏度和信噪比； 采用边沿触发模式对光子进行计数，瞬间捕捉光子脉冲的变化。3、大动态范围高速光子相关器：采用高、低速通道搭配的结构设计光子相关器，有效解决了硬件资源与通道数量之间的矛盾，实现了大的动态范围，并保证了相关函数基线的稳定性。4、高精度温控系统：基于半导体制冷技术，采用自适应PID控制算法，使样品池温度控制精度达±0.1℃。5、数据筛选功能：引入分位数检测异常值的方法，鉴别受灰尘干扰的散射光数据，并剔除异常值，提高粒度测量结果的准确度。6、优化的反演算法：采用优拟合累积反演算法计算平均粒径及多分散系数，基于非负约束正则化算法反演颗粒粒度分布，测量结果的准确度和重复性都优于1%。纳米粒度及zeta电位分析仪测量纳米粒度及zeta电位分析仪是表征分散体系稳定性的重要指标zeta电位愈高，颗粒间的相互排斥力越大，胶体体系愈稳定， 因此通过电泳光散射法测量zeta电位可以预测胶体的稳定性。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪原理带电颗粒在电场力作用下向电极反方向做电泳运动，单位电场强度下的电泳速度定义为电泳迁移率。颗粒在电泳迁移时，会带着紧密吸附层和部分扩散层一起移动，与液体之间形成滑动面，滑动面与液体内部的电位差即为zeta电位。Zeta电位与电泳迁移率的关系遵循 Henry方程，通过测量颗粒在电场中的电泳迁移率就能得出颗粒的zeta电位。纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点1.利用光纤技术集成发射光路和接收光路，替代传统电泳光散射的分立光路，使参考光和散射光信号的传输不受灰尘和外界杂散光的干扰，有效地提高了信噪比和抗干扰能力。2.先对散射光信号进行频谱预分析，获取需要细化分析的频谱范围，然后在窄带范围内进行高分辨率的频谱细化分析，从而获得准确的散射光频移。3.基于双电层理论模型，求解颗粒的双电层厚度，获得准确的颗粒半径与双电层厚度的比值，再利用小二乘拟合算法获得精确的Henry函数表达式，进而有效提高了纳米粒度及zeta电位分析仪的计算精度。Henry函数的取值：当双电层厚度远远小于颗粒的半径，即ka1，Henry函数近似为1.5。双电层厚度远远大于颗粒半径时，即ka1，Henry函数近似为1.0。使用小二乘曲线拟合算法对Wiersema计算的精确Henry函数值进行拟合， 得到优化Henry函数表达式.强大易用的控制软件ZS-920系列纳米粒度及zeta电位分析仪的控制软件具有纳米颗粒粒度和zeta电位测量功能，一键式测量，自动调整散射光强， 无需用户干涉，自动优化光子相关器参数，以适应不同样品，让测量变得如此轻松。控制软件更具有标准化操作(SOP)功能，让不同实验室、不同实验员间的测量按照同一标准进行，测量结果更具有可比性。测量完成自动生成报表，以可视化的方式展示测量结果，让测量结果一目了然。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪的技术指标

PARIO Plus土壤粒径自动分析仪PARIO Plus土壤粒径自动分析仪在PARIO的基础上进一步提升，测量准确度和效率均大幅提升。PARIO Plus土壤粒径分析仪，对比传统的粒径分析方法PARIO具有明显优势。传统的比重计法（或吸管法）手工耗时24小时，费时费力易出错，激光粒度仪法，设备昂贵，耗时长，且存在方法性偏差。PARIO Plus设置好之后全程自动测量，仅需在测量结束时手动打开阀门。测量时长缩短至仅需2.5小时，估计误差低至±0.5%。PARIO Plus从繁杂的实验中解放科学家的双手，全身心投入科学问题的研究。测量原理基于斯托克斯定律（Stokes´ law）计算粒径分布, 其测量范围为63~2 μm。PARIO的测量方法基于成熟的比重计法或吸管法，采用压力传感器以10s间隔连续记录土壤悬浊液中特定位置的压力和温度变化，获得完整的土壤颗粒粒径分布曲线。PARIO Plus使用更准确的“扩展积分悬浮压力法”（ISP+）（Durner et al., 2017）。另外，基于斯托克斯定律的PARIO不需要进行土壤特性的传递函数校正，而几乎其它任何自动测量方法都要求进行这种校正，例如激光衍射法或图像分析法。主要特点ü 测量速度快 设置好后，仪器运行仅需2.5小时。ü 测量方法准确 估计误差低至± 0.5%，低于任何传统的粒径分析方法。ü 自动独立运行 PARIO允许无人值守，自动化操作，仅需在实验结束时手动打开阀门。避免人工读数和计算误差。ü 获得高精度的连续粒径分布曲线 与传统方法测得少数一些离散时间点数据不同，PARIO每10秒进行一次自动测量，并连续记录悬浮液的压力以及温度变化。ü 测量过程无扰动 不需要插入液体比重计，也不需要用移液管进行悬浮液的取样，进而减少了对沉降的扰动。ü 依据经典原理 根据斯托克斯定律（Stokes´ law）计算粒径分布，正好匹配传统实验前期准备工作流程。ü 黏粒含量直接测量获得ü 依据温度自动综合计算粒径分布ü 简单易用 为了您能节省更多时间，PARIO采用简便易用的软件解决方案，轻松实现数据查询、可视化操作、数据的计算及导出。技术指标粒径范围2 ~ 63 μm质量分数检测的近似误差PARIO Plus: ±0.5%；PARIO Classic: ±3.0%压力测量准确度： ±1.0 Pa；分辨率：±0.1 Pa典型颗粒质量25 ~ 50 g/ 1L悬浊液典型测量时长PARIO Plus: 2.5 h；PARIO Classic: 8.0 h测量间隔10 s黏粒含量估算根据抽取样品综合颗粒质量获得砂粒含量估算根据湿筛法测定结果得到供电需求USB 5 V/100 mA电脑兼容微软 Windows 10玻璃容器规格高：450.0 mm；内径：59.0 mm，外径：67.5 mm；体积：1,000 cm3材质：硼硅酸盐玻璃3.3PARIO 仪器高度：293.0 mm；直径：80.0 mm ；材质：POM塑胶原料和不锈钢悬浊液容积1000 mL工作温度最小：15℃；典型：20℃；最大：35℃测量中允许的最大温度变化±1.5 ℃需要额外测量的参数PARIO Classic: 有机质含量 (如进行了有机质去除)；砂粒含量(湿筛法)；总悬浊液中分散盐的质量PARIO Plus: 取样测量干物质总质量；砂粒含量(湿筛法)；总悬浊液中分散盐的质量缆线类型USB 2.0；500 mA用于接收端口符合标准生产制作遵循 ISO 9001:2015；EM ISO/IEC 17050:2010 (CE Mark)产地与厂家：美国METER公司

公司简介 Occhio（"眼睛"，意大利语）是从事图像法粒度粒形分析仪开发和制造的专业仪器公司，拥有强大硬件设计和颗粒图形统计处理能力。依托于大学的研发力量，欧奇奥在光电子和计算机辅助图像分析方面积累了丰富的经验，能够在几分钟内完成数万颗粒的图像采集、统计处理，为您快速提供准确的粒径粒形信息。欧盟各国卓越的多学科跨国工程师和员工团队使OCCHIO仪器能够为客户提供从产品可视化到统计过程控制的全套解决方案。无论是实验室仪器，还是"在线"成像分析解决方案，欧奇奥（OCCHIO）都是您在高级工程领域备受尊敬的合作伙伴。?如果您需要对颗粒的形貌有更准确的了解和研究，如果您需要通过形貌细分应用市场、需要根据颗粒的形貌微调生产工艺… 那么，欧奇奥（Occhio）图像法颗粒表征是您的不二选择。 欧奇奥骄傲地为您提供多达80种内置粒度、形貌和色彩分析参数，可以提供宏观、介观和微观三个层面的形貌信息，轻松地对数以百万计的颗粒进行多形貌参数的复合计算，充分体现代表性的样品组成，从而全面掌握样品特性。 产品概述 欧奇奥粒度粒形分析仪500nanoXY是一台粉体颗粒表征的全新的自动粒度粒形分析仪, 可以分析范围在0.2μm-3000μm之间的粉体颗粒粒径；也可以分析范围在0.8μm- 300μm的悬浮液和乳浊液。欧奇奥500NanoXY集成了真空分散装置及高分辨聚焦装置（1000万像素相机 + 特殊LED光源） 蓝光光源可以检测极小的颗粒。 分散方法 欧奇奥粒度粒形分析仪500nanoXY标准配置包括提供专有的样品分散方式。在无任何样品污染及损坏的情况下，真空分散可以在几秒钟内生成上完个单独的颗粒图像。通过全新自动X-Y池，系统可以自动分析所有颗粒的粒径和粒形。湿法 欧奇奥500NanoXY提供了个在湿法模式下实时分析的可能性。通过在流动池测量, 用户可以进行粒径测量，粒形分析及计数。为了得到准确的颗粒分析数据，仪器中有个特殊的泵来控制流动率。 颗粒分析软件 从2001年始，欧奇奥发布了全新的系统，可以分析所有的颗粒类型（粉末，悬浮液，乳状液以及泡沫）。这些新的系统都结合成了现在的全新CALLISTOTM软件，可以分析粒径测量，粒形分析以及颗粒计数。现在，以有超过80个粒度和颗粒形貌参数.... 分析参数 欧奇奥粒度粒形分析仪500nanoXY 粒径参数● 面积直径-体积直径● 内切圆直径-长度● 宽度-测地线长度-平均直径欧奇奥粒度粒形分析仪500nanoXY 粒形参数● Occhio长宽比和延伸度：延伸度＝（1－长宽比）/长宽比；延伸度即颗粒的宽度和长度之比。● ISO平直度：对于那些被拉得非常长的颗粒，平直度就是颗粒的最大直径和Feret长度之比。● ISO紧凑度和ISO圆度：紧凑度和圆度与颗粒和圆盘的相似程度有关。紧凑度比圆度更坚固。● ISO圆形度：颗粒（或其投影面积）与圆形相似的程度。● ISO实积度：实积度是颗粒的投影面积除以被凸包封闭的面积。● Occhio钝度：钝度指数代表了颗粒在磨损过程中的成熟度。● Occhio粗糙度：使颗粒表面光滑所需磨掉的样品量● 灰度：颗粒的平均灰度值。● Occhio孔隙度：孔径分布和孔隙率评估● 散点图：可以得到粒径参数对粒形数据的分布图。根据操作者所选的粒径分级，所有的图都和颗粒一致，操作者也可以在图中点击让所点颗粒可视化。● 显微镜模式：显示在散点图或现场图片中所选择颗粒的参数和图像。操作者可以在Bitmap格式下单独保存图片。（粒径&粒形，趋势图，EXCEL输出，与筛法相关性....）可以分析聚合物，薄膜，纤维等的表征信息。指 标模式500Nano XY粒径范围干法：0.2mm-3000mm湿法：0.8mm-300mm分析时间一般2到10分钟（基于样品性质）参数ISO9276-6：7：8规定参数+欧奇奥参数粒径：面积直径；ISO内切圆直径、平均直径；周长直径；内切圆直径；内切圆半径； 宽度；长度；椭圆长度；椭圆宽度；ISO最大长度；ISO测地线长度；粒形：欧奇奥钝度；欧奇奥圆度；欧奇奥粗糙度；延伸度；长宽比；椭圆长度；椭圆度；椭圆比；偏心率；ISO延伸度；ISO圆形度；实积度；长度；紧凑度；凸起度；灰度分散器专有真空分散器成像系统1000万像素；蓝光；自动对焦；放大倍数可调认证选项IQ.OQ,PQ电脑规格VISTA,7，,Intel Core i5-650 @3.2GHz,4MB cache 4 GB @1156MHz, HD500GB电源110-240 V 50/60Hz工作环境温度5.C-45.C，HR35-80%图像格式Bitmap数据存储欧奇奥二进制文件格式：包括所有粒径粒形分布，粒径百分比，每个颗粒的概述及灰度文件统计工具（数和量分布）采集信息（用SOP预览）；粒径分布；粒径百分比；粒形百分比；粒形分布；平均粒形分布；2D散点（完整的所选颗粒分布图）；3D散点图（包括动态图）；样品图像百分比；样品图像（BMP输出格式）；每个颗粒的ID卡（BMP输出模式）；粒径粒形渗透过程；原始数据输出（text格式）；表格分布输出（text格式）；表格分布和百分比输出（excel格式）；自动或自定义生成报告；完整图像输出（bmp格式）；单个颗粒图像输出（bmp格式）；数据和表格输出（bmp格式） 产品应用 欧奇奥粒度粒形分析仪500nanoXY应用广泛：干法：水泥，陶瓷，纤维，木材，玻璃，聚合物，石英粉，金刚石，碳化硅，磨料，石墨，催化剂， 咖啡，巧克力，仿制药，金属，晶体，调色剂，二氧化硅，氧化铝，药物，危险粉末等。湿法：胶乳，悬浊液，乳液，益生菌，藻类

喷雾颗粒的大小及其控制决定了许多产品的最终质量，如吸入给药过程中的药物输送，燃油喷雾，气溶胶，火箭发射时燃料的燃烧效率以及无人机喷洒农药效率评估，能源化工行业及喷嘴研究等诸多应用。由于喷雾颗粒的高速运动，粒径范围宽及雾场的不规则，要求喷雾粒度分析系统具有高的适应性和高速衍射信号的处理能力。Spraylink超高速实时喷雾粒度分析仪专为应对这些挑战而设计，以实现对喷雾粒度进行准确的分析。Spraylink的最高采样频率可达10kHz，系统使用最优化的高灵敏度检测和全息信号处理系统，并融合高浓度补偿技术，极大减少了在高浓度喷雾颗粒粒度的测量时多重衍射对结果的影响，可确保在高达90%的遮光度下准确测量雾滴颗粒的粒度分布。且无需更换透镜，粒径范围高达0.1μm -2080μm。Spraylink-E型仪器是Spraylink的普及版产品，采样速率为2000Hz。Spraylink 高速喷雾粒度分析仪杰出性能包括： ◆ 10kHz的数据采集速率，能够完成每秒10000次喷雾粒径测量，从而动态捕捉0.1毫秒时间间隔的颗粒粒度分布◆ 独特的透镜设计和光路系统优化，宽广的喷雾雾场测量范围◆ 无需更换透镜，即可覆盖0.1μm–2080μm的动态测量范围◆ 全自动智能光学对中◆ 可加配 独特的镜头吹扫保护装置◆ 用户自定义的光学导轨配置◆ 最新高浓度补偿分析技术◆ 灵活的多触发选项，实现不同应用的测量同步◆ 全金属外壳和支撑配合高精度光学导轨计，兼顾极高的稳定性和灵活性◆ IP65密封防水等级的发射和接收单元◆ 喷雾全过程喷雾粒度变化跟踪分析◆ 喷雾过程不同时刻喷雾粒度结果呈现，用于检查喷雾颗粒大小随时间变化的动态过程◆ 测量结束后喷雾粒度历史结果回放功能 项目性能指标或描述（右上角标“*”者仅适用于Spraylink-E型产品）测量原理激光衍射/静态散射光学模型完全米氏理论，包括高浓度补偿技术粒径范围0.1μm-2080μm，无需更换透镜工作范围0.3μm时为150mm，7μm时为1800mm浓度范围最高遮光度：90%（取决于粒径范围）检测系统非均匀交叉及面积补偿的检测器阵列光源波长638nm，20mW集成恒温及偏振空间滤波的高稳定固体激光器组件光学对中系统智能全自动数据采集速率最高10kHz（2 kHz*），连续可调，准确度Dv50优于+/-0.5% (NIST 可溯源乳胶标样)重复性Dv50优于+/-0.5% (NIST 可溯源乳胶标样)测量触发方式内部：透光率或光衍射信号；外部：TTL电平输入或开关触发外部设备同步TTL触发输出激光安全1类激光产品操作环境密封等级IP65（适用于发射和接受系统）光学系统重量28kg光学系统尺寸1100mm x 460mm x 538mm(LxWxH)，长度可根据用户需要调整

美国MAS 在线检测粒度分析仪应用领域：泥浆、油墨、油漆、颜料、陶瓷卡瓦、催化剂、乳液（包括石油相关产品）在线粒度测量，工业加工状态，不必稀释样品经硬件设计可全(24 hours/7 days) 候运作，无需移动部件实时控制的快速测量 Mass Applied Sciences（MAS）推出一款新型的声波传感器粒径测量，用于监测和控制湿泥浆/胶体产品，包括半导体化学机械抛光（CMP）泥浆、油墨、油漆、颜料、陶瓷卡瓦、催化剂、乳液（包括石油相关产品）、药品以及食品和生物胶体。这款声粒径传感器不必用到运动部件，可测量处于工艺过程状态的泥浆，不必稀释， 大型工业市场的必要需求。这款新型的声波传感器粒径测量可用在许多工业生产 如加工管道、化学反应器、瓷砖印刷设备、半导体 CMP 抛光、石油生产/加工、药品输送系统等，同时具有显著的经济效益。MAS 基礎实验室的声波传感器粒径仪器目前已用於业界和学术界。MAS 申请中的声波传感器粒径，提供声衰减光谱测量，无需稀释样品，也无需使用移动部件。典型基础实验室的声衰减仪器，使用高分辨率的移动台，量测样品中多个间隙处的未稀释衰减（可对增强的粒度分布数据，进行宽带声测量）。然而对于连续运作而言，不希望用到移动部件。MAS 的声传感器经由分离声波换能器，在声反射层上的多个步骤，成功连续运作并在测到的声衰减谱中，演算产出粒度的分布数据。下图显示的声反射粒度分析（AREPA）传感器。蓝点代表液体中流动的粒子。 图1Particle Size Data 粒度数据下图显示了来自在线粒度测量在线声学传感器（AREPA）的数据。所讨论的样品是日产化学水中二氧化硅，其标称平均粒径为 110 纳米。下面的数据与这个名义粒径吻合得很好1)提供的测量值2)粒度分布 平均粒径 粒度百分比温度3)衰减和声速光谱 4)可选的 pH 值和电导率

2021年产品推荐（解决方案）美国MAS多功能超声粒度分析仪美国MAS（Mass Applied Sciences）公司成立至今有30余年历史，是一家专注于超声电声法原理粒度及Zeta电位分析仪的研发和生产型企业。 公司研发的纳米粒度及Zeta电位仪系列产品，解决了目前市面上光学方法无法克服的纳米粒度检测难题，如光学方法必须要对样品进行稀释 后测试其粒径和zeta电位以及对于复杂体系无法给出真实的粒度分布等 。目前，美国MNS公司纳米粒度及Zeta电位分析仪系列主要由 ZETA-APS,APS-100,ZetaFinder ZF400,ZetaAcoustic ZA500,CHDF-3000/4000组成，可以为各行业提供专业的粒度和Zeta电位解决方案。 超声法系列粒度仪测试样品的原理是采用声波发生器发出一定频率和强度的超声波，由于不同粒径大小的颗粒对声波的吸收、散射作用不同， 导致声波衰减程度不同。从而通过颗粒的声衰减谱得到颗粒详细准确的粒度分布。产品特点：1)采用专门的电动声波振荡技术，该仪器可完成非凡的电动测量结果，从而避免了传统的微电泳技术的许多限制和局限。2)提供数据快速准确而不需要稀释样品，从而避免了稀释器材的使用和错误(样品稀释，Zeta电位将彻底改变) 3)该仪器可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标。样品在测量时甚至可以进行滴定操作；4)坚固的、多功能的、镀金的Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中；5)自动滴定法用于简单的IEP测量；6)样品可被强烈搅拌或混合，因此不会产生沉淀物；7)高频电场采用非常短的脉冲，因此样品测量时不会产生错误；8)可实时测量实际样品；9)不使用光学技术，因此可以在任何pH值下分析固体、不透明或半透明样品；10)可测量水溶液、非水溶液分散系，分散系浓度范围从0.1% ~60%。非常轻松就可测量1nm到50um的样品颗粒；11)该仪器操作非常简单。它提供电脑控制、自动测量，不须特别的样品池，样品可随时从任何现场或实验中获取，可直接实时获得理想的数据美国MAS多功能超声粒度分析仪技术参数：1)测量样品不需要稀释或样品准备，从而消除了操作失误和数据的不确定性，同时节省了时间；2)物有所值的谐振硬件设计；3)宽粒径测量范围：从1nm到30um；4)自动电位和容积测量用于简单快速的等电位（IEP）测定、表面活性剂的吸附效果和许多其他动态测定；5)由于机载样品混合和/或测量时的泵送能力，没有粒子沉降的不利影响；6)Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中，测量精确、重复性好，方便使用；7)可测量高粘度的样品，样品浓度可从0.1%到60%；8)可在0-14的pH值范围内进行测定；9)可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标；10)小样品容量10ml，没有大容量限制；11)微软支持的软件界面，带强大的数据管理功能；12)12个月的保质期和免费的技术咨询

SZ902纳米粒度分析仪产品介绍： SZ902纳米粒度分析仪是继在SZ901系列后推出的全新一款高性能动态光散射纳米粒度仪产品，加持了新研发的全自动聚焦技术，实现了对纳米样品的多角度测量，无需稀释即可对不同浓度纳米样品的粒度及Zeta电位快速测量，十分适合各种有机或无机纳米颗粒、乳液、高分子聚合物、胶束、病毒抗体及蛋白质等多种样品的粒度及Zeta电位研究级分析测试。主要特点： ◆包含经典90°、背向和前向动态光散射技术测量粒径，测量范围覆盖0.3nm–15μm ◆激光多普勒电泳技术用于Zeta电位分析，可准确预知分散体系的稳定性及颗粒团聚的倾向性 ◆加持自动恒温技术的最高功率可达50mW,波长638nm的固体激光光源，仪器即开即用 ◆余弦拟合相位分析法（CF-PALS）优于目前的频谱分析法（FFT）和传统的位相分析法（PALS） ◆激光光源与照明光及参考光的一体化及光纤分束技术 ◆信号光与参考光的光纤合束及干涉技术 ◆集成光纤技术的高灵敏度和极低暗电流(20cps)的光子检测器 ◆常规温度控制范围可达-15°C~120°C,精度±0.1°C ◆新一代高速数字相关器，动态范围大于10¹ ¹ ◆冷凝控制–干燥气体吹扫技术产品性能：测量原理动态光散射（DLS）、静态光散射（SLS）、电泳光散射（ELS）粒径测量角度90°,173°（高浓度），12°（Zeta电位）粒径测量范围0.3nm -15um*粒径测量最小样品量3ul*粒径测量最小样品浓度0.1mg/ml粒径测量最大样品浓度40%/wv检测点位置距入射点0~5mm可调检测点定位精度0.01mmZeta电位技术余弦拟合位相分析法（CF-PALS）适用Zeta电位测量的粒径任意范围，无明确限制迁移率范围1nm - 120μm*最大电导率270mS/cm电导率准确度±10%电极插入式平板电极、U型毛细管电极分子量范围340Da - 2x107Da温度控制范围-15°C - 120°C温度控制精度±0.1°C光源集成恒温系统及光纤耦合的最大功率50mW, 波长638nm固体激光器相关器高速数字相关器，自适应通道配置检测器高灵敏度APD样品池12mm比色皿、3μL毛细管超微量样品池、40μL微量样品池（多种可选）系统重量16kg外形尺寸365mm x 475mm x 180mm (LxWxH) 注：* 取决于样品及样品池选件

休辰水泥颗粒激光粒度分析仪XCLD-520原理：属于湿法基本型激光粒度分析仪，采用Mie式散射原理和汇聚光傅立叶变换光路。高密度探头及全量程无缝衔接测试方法，保证了测试结果的准确性和重复性。休辰水泥颗粒激光粒度分析仪XCLD-520技术特点湿法循环分散系统，保证颗粒保证测试过程中无颗粒沉积现象，测试排水后无废液积存现象，保证了第二次测试精度，使测试结果更真实可靠 同时XCLD-520加入了超声防干烧技术、超声功率可调技术、循环转速可调、光纤输出半导体激光器等重大改进。休辰水泥颗粒激光粒度分析仪XCLD-520技术参数：规格型号XCLD-520（标配）XCLD-520H（高配）（定制款）执行标准ISO 13320-1:1999；GB/T19077.1-2008测试范围0.1μm -600μm0.1μm -800μm探测器通道数6666准确性误差1%（国家标准样品D50值）重复性误差0.5%（国家标准样品D50值）免排气泡具备免排气泡设计，无气泡干扰数据更准确误操作保护仪器具备误操作自我保护功能，仪器对误操作不响应激光器参数进口光纤输出大功率激光器 λ= 650nm, p10mW分散方法超声频率：f=40KHz,功率：p=80W,时间：随意可调 具备超声防干烧循环、搅拌循环搅拌一体化设计，转速：100-33950rpm转速可调循环流量额定流量：0-10L/min可调 额定功率：25W样品池自行设计沸腾式样品池，分散效果更好，容量：190-600mL均可正常测试微量进样仪器可选配微量全自动测试装置,10毫升即可循环测试（选配）软件功能分析模式包括自由分布、R-R分布和对数正态分布、按目分级统计模式等，满足不同行业对被测样品粒度统计方式的不同要求统计方式体积分布和数量分布，以满足不同行业对于粒度分布的不同统计方式统计比较可针对多条测试结果进行统计比较分析，可明显对比不同批次样品、加工前后样品以及不同时间测试结果的差异，对工业原料质量控制具有很强的实际意义自行DIY显示模板用户自定义要显示的数据，根据粒径求百分比、根据百分比求粒径或根据粒径区间求百分比，以满足不同行业对粒度测试的表征方式。径距、一致性、区间累积等等测试报告测试报告可导出Word、Excel、图片（Bmp）和文本（Text）等多种形式的文档，满足在任何场合下查看测试报告以及科研文章中引用测试结果多语言支持中英文语言界面支持，还可根据用户要求嵌入其他语言界面。智能操作模式真正全自动无人干预操作，无人为因素干扰，您只需按提示加入待测样品即可，测试结果的重复性更好。操作模式电脑操作测试速度1min/次（不含样品分散时间）体积980mm*410mm*450mm重量35Kg休辰水泥颗粒激光粒度分析仪

粒度电声法Zeta电位分析仪典型应用：综合稳定水泥浆，陶瓷，化学机械研磨，煤浆，涂料，化妆品，环境保护禅选法矿物富集，食品工业，乳胶，微乳，混合分散体系，纳米粉，无水体系，油漆成像材料。主要特点：1）能分析多种分散物的混合体；2）无需依赖Double Layer模式，准确地判定等电点；3）可适用于高导电(highly conducting)体系；4）可排除杂质及对样品污染的干扰；5）可准确测量无水体系；6）Zeta电位测试采用多频电声测量技术，无需先测量粒度即可进行电位测量；7）样品的高浓度可达60%(体积比)，被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量；8）具有自动电位滴定功能；优于光学方法的技术优势：1)被测样品无需稀释；2)排除杂质及对样品污染的干扰；3)不需定标；4)能分析多种分散物的混合体；5)高精度；6)所检侧粒径范围款从5 nm至1000um粒度电声法Zeta电位分析仪优于electroactics方法的技术优势：1)无需定标；2)能测更宽的粒径范围；3)无需依赖Double Layer模式4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲；5)零表面电荷条件下也可测量粒径；6)可适用于无水体系；7)可适用于高导电(highly conducting)体系；优于微电泳方法的技术优势：1)无需稀释，固合量高达60%；2)可排除杂质及对样品污染的干扰；3)高精度(±0.1mv)；4)低表面电荷(可低至0. 1mv)；5)electrosmotic flow不影响测量；6)对流(convection)不影响测量；7)可准确测量无水体系；粒度电声法Zeta电位分析仪技术参数：1)所检测粒径范围宽：从5 nm至1000um；2)可测量参数：粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减；3)Zeta电位测量范围：+/-200 mv，低表面电荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv) 4)零表面电荷条件下也可测量粒径；5)允许样品浓度：0.1-60%(体积百分数)；6)样品体积：30-230ml；7)PH范围：0~14 8)电导率范围：0~10 s/m

美国MASZeta电位及粒度分析仪典型应用：综合稳定水泥浆，陶瓷，化学机械研磨，煤浆，涂料，化妆品，环境保护禅选法矿物富集，食品工业，乳胶，微乳，混合分散体系，纳米粉，无水体系，油漆成像材料。进口Zeta纳米分析仪主要特点：1）能分析多种分散物的混合体；2）无需依赖Double Layer模式，精确地判定等电点；3）可适用于高导电(highly conducting)体系；4）可排除杂质及对样品污染的干扰；5）可精确测量无水体系；6）Zeta电位测试采用多频电声测量技术，无需先测量粒度即可进行电位测量；7）样品的高浓度可达60%(体积比)，被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量；8）具有自动电位滴定功能；美国MASZeta电位及粒度分析仪优于光学方法的技术优势：1)被测样品无需稀释；2)排除杂质及对样品污染的干扰；3)不需定标；4)能分析多种分散物的混合体；5)高精度；6)所检侧粒径范围款从5 nm至1000um优于electroactics方法的技术优势：1)无需定标；2)能测更宽的粒径范围；3)无需依赖Double Layer模式4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲；5)零表面电荷条件下也可测量粒径；6)可适用于无水体系；7)可适用于高导电(highly conducting)体系；优于微电泳方法的技术优势：1)无需稀释，固合量高达60%；2)可排除杂质及对样品污染的干扰；3)高精度(±0.1mv)；4)低表面电荷(可低至0. 1mv)；5)electrosmotic flow不影响测量；6)对流(convection)不影响测量；7)可精确测量无水体系；进口Zeta纳米分析仪技术参数：1)所检测粒径范围宽：从5 nm至1000um；2)可测量参数：粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减；3)Zeta电位测量范围：+/-200 mv，低表面电荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv) 4)零表面电荷条件下也可测量粒径；5)允许样品浓度：0.1-60%(体积百分数)；6)样品体积：30-230ml；7)PH范围：0~14 8)电导率范围：0~10 s/m

流式动态图像法粒度粒形分析仪让颗粒无处遁形设备名称：流式动态图像法粒度仪仪器型号：YH-FIPS-10工作原理：图像法原理产品介绍： 随着科技不断进步，产品质量快速提升，各行各业对颗粒检测的要求也越来越高。而在实际生产过程中，往往 颗粒呈现出不规则形状。颗粒的形貌会影响到产品的稳定性，溶解性，流动性等。因此，颗粒分析不仅仅要做粒度 分布的检测，还需要得到颗粒的形貌这一关键信息。 FIPS 10 流式动态图像法粒度仪，是采用高速相机实时采集图片， 再进行颗粒分析的一种粒度仪。样品在流动过程中实时拍摄，能够采集到足够多的颗粒图片，使得测试结果具有代 表性和统计学意义。技术优势：√ 宽广的检测范围（0.2 μm-3 mm）、检测浓度可高达 1*107 个 /mL；√ 专业远心变倍镜头，兼容不同类型粒子测试，杜绝形貌畸变；√ 引入 FIPS 超分辨算法及 AI 智能算法等多种算法，确保数据准确性；√ 数据同时给出粒子形貌、尺寸分布等信息，以达到最“真”统计；√ 符合 21 CFR part 11 及 GMP 对数据完整性的要求。流式动态图像法粒度仪技术参数：型号 ：YH-FIPS-10检测范围： 0.2 μm-3 mm进样体积 ：最小 50μL 流速 20 μL/min-200 μL/min镜头类型 ：远心镜头放大倍率 ：0.75-9 倍可调NA 值： 0.1 Distortion0.02%VOF ：2600*2100@3.45 μmFrame ratio： 93 fps DOF 13 μm-300 μm光源 ：单色 LED 光源调焦功能： 电动调焦距粒子浓度： 1*107 个 /mL结果输出： 数量结果 (PSD, 浓度等 )，形貌结果（长径，短径，面积等）分析软件： 符合 21 CFR part 11 审计追踪要求。应用案例 案例一: 样品描述：不同浓度的标准粒子（5 μm） 测试结果：右图为不同浓度标准粒子测试得到的PSD 数据图，可以看到经过等比例稀释得到的不同浓度样品的测试结果具有很好的线性关系。案例二: 样品描述：标准粒子（2 μm） 测试结果：右图为2 μm标准粒子在不同流速下测试得 到的PSD数据图，可以看到样品在不同流 速下的测试结果具有很好的一致性，体现出该仪器不同测试条件下的数据稳定性。案例三: 样品描述：亚微米标准粒子（0.495 μm、0.799 μm、0.994 μm） 测试结果：下图为不同尺寸的亚微米粒子的PSD数据图， 表明此仪器能实现亚微米级粒子粒径分布的精准测量及颗粒的计数。案例四：样品描述: 生物蛋白药物 测试结果：下图为该样品的粒径分布和颗粒累计分布图。 该药物的蛋白理论上为纳米级颗粒，但是从右 图双峰的粒径分布结果，可以得出该药物中蛋 白颗粒逐渐聚集长大的过程。同时，从大颗粒 的典型形貌图也可以得出蛋白质发生了聚集，且形态各异。说明该药物稳定性还需要进一步提高。案例五：典型颗粒形貌：样品描述: 纳米乳液 测试结果：下图为纳米乳液的粒径分布图及累计分布图， 可以得到样品中包含三个尺寸的粒子，从样品 的部分颗粒形貌中可以观察到部分乳滴的融合， 这可以为该样品实际生产的品控提供一定建议。应用领域 ：FIPS流式动态图像法粒度仪不仅可以得到样品中的粒子浓度、不同尺寸粒子的比例分 布等详细的PSD信息，实现亚微米到微米级颗粒的计数功能，还可以得到样品的实际颗粒 形貌信息，以达样品颗粒的最真实统计。可广泛应用在生物医药、半导体、材料化工、食品卫生等多个领域。

透皮乳膏粒度晶型分析仪结构原理ZML-310型透皮乳膏粒度晶型分析仪是采用显微镜图像法测试粒径大小、颗粒形状及颗粒颜色的颗粒分析系统。设备由显微镜、高分辨率数字摄像机、分析软件、计算机等部分组成。其工作原理是通过专用高分辨率数字摄像机和光学显微镜，将颗粒图像拍摄下来并传输到计算机中，用专门的颗粒图像分析软件对颗粒图像进行分析，并通过显示器和打印机输出分析结果。该仪器具有直观、可视、准确、测试范围宽、操作简单、测量参数全面等特点。能够同时测量颗粒粒度、形状及表面颜色的显微粒度分析仪器。透皮乳膏粒度晶型分析仪的适用领域透皮乳膏粒度晶型分析仪该仪器广泛适用于API原料药、半固体软膏、液体制剂、药物晶型分析、生物医药、食品等领域的各种颗粒的粒度大小、形状特征观察和测量。透皮乳膏粒度晶型分析仪的技术参数1.粒径范围：200nm-3000μm2.准确性：＜3%。3.粒径参数：等效面积圖、等效周长圆、等效短径、等效长径等。4.粒度统计：体积、面积、颗粒。5.形状参数：圖度、球形度、凸起度、实积度、延伸度、长径比、长宽比、椭圆度。6.摄像机：1800万像素。7.软件自动进行统计样品颗粒，并对颗粒进行做粒度分布。8.可以得到常规的平均粒径，D10，D50，D90等参数。9.配置奥林巴斯显微镜，成像更加清晰。

仪器简介：激光粒度分析仪是通过测量颗粒群的衍射(散射)谱经计算机进行处理来分析其颗粒分布的。可用来测量各种固态颗粒、测量雾滴，气泡及任何二相悬浮颗粒状物质的粒度分布，测量运动颗粒群的粒度分布。它不受颗粒的物理、化学性质的限制。有超声、循环的样品分散系统，测量范围广，自动化程度高，操作方便，测试速度快，测量结果准确、可靠、重复性好。是石油化工、陶瓷、染料、水泥、煤粉、研磨材料、金属粉末、泥沙、矿石、雾滴、乳浊液等粒度分析的理想仪器。技术参数：主要技术指标 准 确 度：体积(重量)不确定范围达到GBW(E120009C)标准物质用于一般仪器鉴定规程的要求 测量速度：单次光学采样20微秒并行,处理时间少于1分钟 测量方式：静态、液态、液态循环 结果输出：打印，各级颗粒体积（重量）与颗粒数的直方图、百分比、累计百分比、D10粒径、D50粒径、D90粒径、峰值粒径、个数平均粒径、重量平均粒径、面积平均粒径、比表面积、拟合精度 型号 分数级 浓度要求 测量范围 特点 JL-9100型 32级 0.002%--0.2% 0.1-111.6um 激光衍射法 JL-9000型 32级 0.02%--1% 0.1-334.7um 适合（D501.um） JL-9200型 32级 0.02%--1% 0.1-334.7&mu m 具有自动制样装置 SKL-06型 32级 0.002%-0.2% 0.1-111.6 半导体激光器适合教学使用 SKL-07型 36级 0.002%-0.2% 0.1-334.7um 米氏散射理论,多量程颗粒测量