铁损分布测试仪

皮肤水分分布测试仪 MoistureMap MM200 MM200能够测试电磁场在皮肤表面的穿透深度，导电材料将使测试结果部位的点阵信号变暗，而非导电材料将使测试结果部位的点阵信号变亮。湿度增加导电性，就意味着点阵更暗，干燥皮肤意味着较亮的图像。与皮肤水分含量绝对值测试不同，MoistureMap MM200可以测试出给定的皮肤表面的水分分布图，应用于化妆品、药品、表面活性剂的功效评价，也可用于皮肤光老化、皮损和疤痕的研究。欢迎致电：010-62186640

单颗LED光强分布测试仪 Labsphere LSA 3000是一种自动的分布式光度计计，主要与Labsphere软件和LED测试及测量产品一起配合使用。用户可通过软件对LSA 3000待测装置(DUT)的旋转进程和空间辐射测量程序进行全面控制。LSA 3000能够完成从窄角到宽角的准确测量。该软件还允许用户根据所选角度来测量相对强度。通过与Labsphere光谱仪、光测量软件和I 1000或I 2000相配合，LSA 3000还可以用来将LED旋转到任意期望的极坐标上，并测量其光谱辐射强度、光强度、色度、色彩和显色性。同时，它也能测量光谱辐射强度、光强度、色度、色彩和显色性的远场半球空间分布。 特点准确并可重复的测量 光谱强度、光谱通量、空间分布和色彩的完整解决方案 便于测量各种不同类型的LED 两维扫描，覆盖整个发光区间 用户可选择角度步进间隔 测量过程符合国际认可标准 测量参数 LED光强空间分布 光谱特性空间分布 色度空间分布 应用领域LED远场空间特性描述 (标准，高亮度)

一、功能说明1 分布电压测量HB-VD30绝缘子分布电压测试仪采用抗干扰技术实现了对运行中绝缘子分布电压的测量，且仪器本身具高电压耐受能力。仪器检测发射机通过通用角度可调卡扣接头与绝缘操作杆连接，适用耐张、悬垂等不同角度的测量需求。2 远距离传输功能本检测仪由检测发射机和手持接收机两部分组成，测量时由手持发射机采集绝缘子两端分布电压信号，经模数转换变为数字信号经处理之后通过以无线方式传输给手持接收机，手持接收机接收到数字信号经计算处理最终得到测量结果并在屏幕显示。无线传输方式使得检测过程更加方便快捷。3 测试结果存储功能本仪器可将测试结果存入U盘，方便以后查询。进行测试时按照仪器提示依次输入杆塔号、回路号、相别、和串号。输入完毕开始进行测试，仪器自动根据测量结果统计每串片数。并按照绝缘子片号存储每片测量结果。4 历史数据查看及分析功能本仪器可在数据接收机端查看存入U盘的历史数据，并列出绝缘子串电压分布曲线。二、仪器结构该仪器由检测发射机、手持接收机和绝缘操作杆三部分组成（如上图）。使用时检测发射机与绝缘操作杆连接，手持操作杆尾端接触被测绝缘子，通过手持接收机控制进行测量。测量结果通过射频传输至接收机，接收机接收测量结果进行显示存储等操作。厂家直销固话：QQ:三、HB-VD30绝缘子分布电压测试仪的技术参数产品名称绝缘子分布电压检测测仪型 号HB-VD30适用范围35-1000kv高压输电线路盘型悬式绝缘子带电检测测量范围1-40KV测量误差±1%显示方式3.5寸触摸屏分析功能手持机具有浏览历史数据、曲线分析功能软件功能检测结果可上传专用云平台，云平台可对数据进行分类存储管理并以杆塔为单位生成测试报告电 源3.7V可充锂电池连续使用时间不小于8小时待机时间20小时使用工作条件环境温度：-25℃~+80℃相对湿度：≤75%大气压力：86KPa~106 KPa贮存条件环境温度：-40℃~+120℃相对湿度：≤90%大气压力：86KPa~106 KPa整机重量260克外形尺寸发射机：400×170×33mm接收机：215×101×71mm 执行标准Q/HDSLE001—2003绝缘杆标配6米（可根据需要配置）厂家直销：固话：QQ：

全自动电化学CV分布仪 CVP21 光伏太阳能领域的首选! 众多科研和半导体领域用户的的首选!上海瞬渺光电官方中国最佳全自动电化学CV分布仪光伏太阳能领域代理商！服务众多知名光伏企业！本设备适用于评估和控制在半导体生产中的外延过程并且以被使用在多种不同的材料上，　例如：Silicon, Germanium, III-V including III-Nitrides.CVP21的净室和模块化的系统设计结构使得本系统可以高效率，准确的测量半导体材料（结构，层）中的掺杂浓度分布．选用合适的电解液与材料接触，腐蚀，从而得到材料的掺杂浓度分布。电容值电压扫描和腐蚀过程由软件全自动控制CVP21的系统特点&bull 坚固可靠的模块化系统结构 ．光学，电子和化学部分相对独立．&bull 精确的测量电路模块&bull 强力的控制软件，系统操作，使用简便&bull 完善的售后服务体系特别推荐晶硅太阳能电池研究单位使用知名用户:(Shin-Etsu SEH or ISFH)In the field of solar cell research, the CVP21 system is currently being used at many research centres. It was first used in 1999 by the Fraunhofer Institute for Solar Energy Systems (ISE) in Freiburg, Germany, and since then it has been installed at the Institute for Molecules and Materials (IMM) in Nijmegen, The Netherlands, the RWE Space Solar Power GmbH in Heilbronn, Germany, the Hahn-Meitner-Institute (HMI) in Berlin, Germany, and the Institute for Solar Energy Research (ISFH) in Hamelin/Emmerthal, Germany.在德国和日本都有很多太阳能电池用户使用,鉴于商业保密需要不能公开。产品完美结合我们在电化学方分布测试方面超过３０年的经验和世界上最先进的电路系统。　全自动，　特别适用于新材料，　如氮化镓，　碳化硅材料，多晶硅等等。　有效检测:&bull 外延材料&bull 扩散&bull 离子注入适用材料: CVP21应用范围宽，可以用于绝大多数的半导体材料。IV族化合物半导体如：硅(Si)、锗(Ge)、碳化硅(SiC)等&hellip III-V族化合物半导体如：砷化镓(GaAs)、磷化铟(InP)、磷化镓(GaP)等&hellip 三元III-V族化合物半导体如：铝镓砷(AlGaAs)、镓铟磷(GaInP)、铝铟砷(AlInAs)等&hellip 四元III-V族化合物半导体如：铝镓铟磷(AlGaInP)等&hellip 氮化物如：氮化镓(GaN)、铝镓氮(AlGaN)、铟镓氮(InGaN)、铝铟氮(AlInN)等&hellip II-VI族化合物半导体如：氧化锌(ZnO)、碲化镉(CdTe)、汞镉碲(HgCdTe)等&hellip 其他不常见半导体材料(可以联系我们进行样品测量)。　载流子浓度测量范围:&bull 最大 1021/cm³ &bull 最小 1011/cm³ 深度解析度:&bull 最大无上限&bull 最小可至1 nm （或更低）模块化系统结构:&bull 拓扑型结构&bull 实时监控腐蚀过程&bull 适于微小样品及大尺寸的晶圆全自动化系统:&bull 精密的电路，电子系统&bull 强力的软件 金牌优质服务 提供免费样品测试并提供测试报告。 对用户承诺终身免费样品测试每月1次。 保修期：2年，终身维修。 电化学CV分布仪（CV测试仪）产品经理：Mike Zhai联系电话：手 机：邮 箱：

全自动电化学CV分布仪 CVP21 光伏太阳能领域的首选! 众多科研和半导体领域用户的的首选!上海瞬渺光电官方中国最佳全自动电化学CV分布仪光伏太阳能领域代理商！服务众多知名光伏企业！本设备适用于评估和控制在半导体生产中的外延过程并且以被使用在多种不同的材料上，　例如：Silicon, Germanium, III-V including III-Nitrides.CVP21的净室和模块化的系统设计结构使得本系统可以高效率，准确的测量半导体材料（结构，层）中的掺杂浓度分布．选用合适的电解液与材料接触，腐蚀，从而得到材料的掺杂浓度分布。电容值电压扫描和腐蚀过程由软件全自动控制CVP21的系统特点&bull 坚固可靠的模块化系统结构 ．光学，电子和化学部分相对独立．&bull 精确的测量电路模块&bull 强力的控制软件，系统操作，使用简便&bull 完善的售后服务体系特别推荐晶硅太阳能电池研究单位使用知名用户:(Shin-Etsu SEH or ISFH)In the field of solar cell research, the CVP21 system is currently being used at many research centres. It was first used in 1999 by the Fraunhofer Institute for Solar Energy Systems (ISE) in Freiburg, Germany, and since then it has been installed at the Institute for Molecules and Materials (IMM) in Nijmegen, The Netherlands, the RWE Space Solar Power GmbH in Heilbronn, Germany, the Hahn-Meitner-Institute (HMI) in Berlin, Germany, and the Institute for Solar Energy Research (ISFH) in Hamelin/Emmerthal, Germany.在德国和日本都有很多太阳能电池用户使用,鉴于商业保密需要不能公开。产品完美结合我们在电化学方分布测试方面超过３０年的经验和世界上最先进的电路系统。　全自动，　特别适用于新材料，　如氮化镓，　碳化硅材料，多晶硅等等。　有效检测:&bull 外延材料&bull 扩散&bull 离子注入适用材料: CVP21应用范围宽，可以用于绝大多数的半导体材料。IV族化合物半导体如：硅(Si)、锗(Ge)、碳化硅(SiC)等&hellip III-V族化合物半导体如：砷化镓(GaAs)、磷化铟(InP)、磷化镓(GaP)等&hellip 三元III-V族化合物半导体如：铝镓砷(AlGaAs)、镓铟磷(GaInP)、铝铟砷(AlInAs)等&hellip 四元III-V族化合物半导体如：铝镓铟磷(AlGaInP)等&hellip 氮化物如：氮化镓(GaN)、铝镓氮(AlGaN)、铟镓氮(InGaN)、铝铟氮(AlInN)等&hellip II-VI族化合物半导体如：氧化锌(ZnO)、碲化镉(CdTe)、汞镉碲(HgCdTe)等&hellip 其他不常见半导体材料(可以联系我们进行样品测量)。　载流子浓度测量范围:&bull 最大 1021/cm³ &bull 最小 1011/cm³ 深度解析度:&bull 最大无上限&bull 最小可至1 nm （或更低）模块化系统结构:&bull 拓扑型结构&bull 实时监控腐蚀过程&bull 适于微小样品及大尺寸的晶圆全自动化系统:&bull 精密的电路，电子系统&bull 强力的软件 金牌优质服务 提供免费样品测试并提供测试报告。 对用户承诺终身免费样品测试每月1次。 保修期：2年，终身维修。 电化学CV分布仪（CV测试仪）产品经理：Mike Zhai联系电话：手 机：邮 箱：

德国WEP公司的ECV（型号为CVP21）在太阳能光伏行业的应用非常普及，市场占有率甚至达95%以上，是光伏行业电池技术研究和发展的必要工具之一，知名的光伏企业都有使用。 WEP公司的ECV设备：CVP21（见图）1. ECV又名扩散浓度测试仪，结深测试仪等，即电化学CV法测扩散后的载流子浓度分布（见图）；2. 相比其他方法如SRP，SIMS等，ECV具有测量使用方便，价格低的优点；WEP公司的ECV具有独特技术可应用于测试电池片的绒面样片，这也是其被广泛使用的原因之一；4. CVP21所能测量的深度范围是nm---10um 5. 测量的载流子浓度范围在10e12cm-3 N 10e21cm-3之内都无需校准；6. 测量扩散样片时，样片是保持“Dry in”和“Dry out”，并无需做特别处理；7. 其所用到的化学试剂本地就能买到，价格低且用量很少买一次可以用好几年；8. 从CVP21所测得的数据能带给研发或工艺人员三方面的信息：一是表面浓度，二是浓度变化曲线，三是结深（见图）；9. 表面浓度对于选择和使用适合的浆料很有帮助，如粘合性，接触电阻等的匹配问题；10. 浓度分布曲线对掌握和改进扩散工艺提供依据；11. 结深的信息对电池工艺的总体把握来说是必须的，也是扩散工艺时常需要抽测的项目之一；12. 参考：测试出的几种扩散浓度分布曲线（见图）；13. 广泛的客户群：Q-CELL, NREL, ISFH, SHELL,ECN,RWE,HMI,SISE尚德，天合，晶澳，英利，交大泰阳，BYD，海润，晶科，吉阳，南玻，格林保尔… 仪器简介：电化学ECV,掺杂浓度检测（C-V Profiling）PN结深测试 电化学ECV可以用于太阳能电池、LED等产业，是化合物半导体材料研究或开发的主要工具之一。电化学ECV主要用于半导体材料的研究及开发，其原理是使用电化学电容-电压法来测量半导体材料的掺杂浓度分布。电化学ECV(CV-Profiler, C-V Profiler)也是分析或发展半导体光-电化学湿法蚀刻(PEC Etching)很好的选择。 本设备适用于在半导体生产中的外延过程的性能评估和过程控制，可以测试多种不同的材料，例如：硅, 锗, III-V 族和 III-N族材料等。CVP 21的模块化系统结构让测量半导体材料（结构，层）中的掺杂浓度分布变得高效、准确。选用合适的电解液与材料接触、腐蚀，从而得到材料的掺杂浓度分布。电容值电压扫描和腐蚀过程由软件全自动控制 。CVP21的系统特点： *坚固可靠的模块化系统结构 ．光学，电子和化学部分相对独立． *精确的测量电路模块 *强力的控制软件，系统操作，使用简便 *完善的售后服务体系 提供免费样品测试并提供测试报告。 保修期：2年，终身维修。 对用户承诺终身免费样品测试每月1次。技术参数： 我们在电化学方分布测试产品方面有超过３０年的经验和世界上较为先进的电路系统。全自动，特别适用于新材料，如氮化镓，碳化硅材料等。　 有效检测: 外延材料、扩散 、离子注入 适用材料: CVP21应用范围宽，可以用于绝大多数的半导体材料。 IV族化合物半导体如：硅(Si)、锗(Ge)、碳化硅(SiC)等 III-V族化合物半导体如：砷化镓(GaAs)、磷化铟(InP)、磷化镓(GaP)等 三元III-V族化合物半导体如：铝镓砷(AlGaAs)、镓铟磷(GaInP)、铝铟砷(AlInAs)等 四元III-V族化合物半导体如：铝镓铟磷(AlGaInP)等 氮化物如：氮化镓(GaN)、铝镓氮(AlGaN)、铟镓氮(InGaN)、铝铟氮(AlInN)等 II-VI族化合物半导体如：氧化锌(ZnO)、碲化镉(CdTe)、汞镉碲(HgCdTe)等 其他不常见半导体材料(可以联系我们进行样品测量)。 　 载流子浓度测量范围: *最大 1021/cm3； 最小 1011/cm3 深度解析度: 最大无上限；最小可至1 nm （或更低） 模块化系统结构: 拓扑型结构，实时监控腐蚀过程，适于微小样品及大尺寸的晶圆，全自动化系统。主要特点：CVP21电化学ECV是半导体载流子浓度分布完美的解决方案： 1， CVP21应用范围宽，可以用于绝大多数的半导体材料。 * IV族化合物半导体如：硅(Si)、锗(Ge)、碳化硅(SiC)等 * III-V族化合物半导体如：砷化镓(GaAs)、磷化铟(InP)、磷化镓(GaP)等 * 三元III-V族化合物半导体如：铝镓砷(AlGaAs)、镓铟磷(GaInP)、铝铟砷(AlInAs)等 * 四元III-V族化合物半导体如：铝镓铟磷(AlGaInP)等 * 氮化物如：氮化镓(GaN)、铝镓氮(AlGaN)、铟镓氮(InGaN)、铝铟氮(AlInN)等 * II-VI族化合物半导体如：氧化锌(ZnO)、碲化镉(CdTe)、汞镉碲(HgCdTe)等 * 其他不常见半导体材料(可以联系我们进行样品测量)。 2， CVP21可用于不同形态的样品：多层结构的薄膜材料、基底没有限制(基底导电或绝缘均可)、标准样品尺寸从4*2mm ~ 8英寸晶圆(更小尺寸样品请预先咨询我们)。 3， CVP21拥有很好的分辨率范围。 * 载流子浓度分辨率范围从 1012 cm-3 ~ 1021 cm-3 * 深度分辨率范围从1nm ~ 100um (依样品类型、样品质量决定) 4， CVP21是一套完整的电化学ECV测量系统。 * 系统可靠性高(仪器的电子、机械、光学、液体传动几个主要部分均经特殊设计) * 免校准的系统(完全自校准的电子系统，电缆电容均无须用户再次校准) * 易于使用(全用户管理软件优化，在实验室环境或生产环境均易于使用) * 照相机镜头控制(过程在线由彩色照相机镜头控制；每次测量后，镜头数据均可取出。) * 实验菜单(测量菜单预定义，优先权用户可以很容易修改或改进测量菜单) * Dry-In/Dry-Out: Auto-Load/Unload/Reload (电化学样品池自动装载/卸载/再装载，优先权用户易于修改，进行样品dry-in/dry-out处理。) 全自动电化学CV分布仪 CVP21光伏太阳能领域的优质选择! 众多科研和半导体领域用户的的心仪之选!赛伦科技（Saratoga Technology International） 为中国全自动电化学CV分布仪光伏太阳能领域知名代理商！服务众多知名光伏企业！本设备适用于评估和控制在半导体生产中的外延过程并且以被使用在多种不同的材料上，　例如：Silicon, Germanium, III-V including III-Nitrides.CVP21的净室和模块化的系统设计结构使得本系统可以高效率，准确的测量半导体材料（结构，层）中的掺杂浓度分布．选用合适的电解液与材料接触，腐蚀，从而得到材料的掺杂浓度分布。电容值电压扫描和腐蚀过程由软件全自动控制CVP21的系统特点- 坚固可靠的模块化系统结构 ．光学，电子和化学部分相对独立．- 精确的测量电路模块- 强力的控制软件，系统操作，使用简便- 完善的售后服务体系 全自动，　特别适用于新材料，　如氮化镓，　碳化硅材料，多晶硅等等。　有效检测:- 外延材料- 扩散- 离子注入适用材料: CVP21应用范围宽，可以用于绝大多数的半导体材料。IV族化合物半导体如：硅(Si)、锗(Ge)、碳化硅(SiC)等… III-V族化合物半导体如：砷化镓(GaAs)、磷化铟(InP)、磷化镓(GaP)等… 三元III-V族化合物半导体如：铝镓砷(AlGaAs)、镓铟磷(GaInP)、铝铟砷(AlInAs)等… 四元III-V族化合物半导体如：铝镓铟磷(AlGaInP)等… 氮化物如：氮化镓(GaN)、铝镓氮(AlGaN)、铟镓氮(InGaN)、铝铟氮(AlInN)等… II-VI族化合物半导体如：氧化锌(ZnO)、碲化镉(CdTe)、汞镉碲(HgCdTe)等… 其他不常见半导体材料(可以联系我们进行样品测量)。　载流子浓度测量范围:- 最大 1021/cm3?最小 1011/cm3深度解析度:- 最大无上限- 最小可至1 nm （或更低）模块化系统结构:- 拓扑型结构- 实时监控腐蚀过程- 适于微小样品及大尺寸的晶圆全自动化系统:- 精密的电路，电子系统- 强力的软件

医用超声雾化器雾粒直径分布测试仪 仪器介绍采用7寸威纶通液晶触控显示屏，中文菜单显示。公称规格、设定载荷、打印设定、测试、上行、下行、时间、标定。由键盘与触摸控制液晶显示屏上的菜单，机载打印测试结果。 执行标准： 满足YY0109-2013标准中相关条款设备制造。 设备参数测量方法:国产激光散射法0.3UM-25UM 通道：8个通道；流量：28.3L/min 百级室或者等效工作台（超净工作台）；操作界面：彩色触摸屏7寸，中英文切换控制系统：PLC；接头：15mm和22mm内置嵌入式打印机电源：220V 50HZ 配置：主机1台，扳手一把，电源线一根，说明书/合格证/保修卡/铭牌一套。

本系统采用固定探测器、旋转被测灯具的方法，来测量被测光源或灯具空间各个方向上的光强分布。主轴和灯具轴采用贵金属光纤点刷结构的导电滑环，可360度连续无回隙运转测量无须为防止绕线而来回旋转，永不绕线。根据测量灯具的要求，该系统可以配置为双立柱B-β测试方案或单立柱C-γ测试方案。 用于LED灯具（半导体照明） 、道路灯具、投光灯具、室内灯具、户外灯具等各种和LED、节能灯、荧光灯、白炽灯、HID灯等各种光源的空间光度分布（即配光曲线）的高精度测试；测试结果可以导出IESNA(95,2002)文件格式(*.ies)、CIE文件格式(*.cie)、欧洲Eulumdat(*.ldt)文件格式等多种格式，符合国际标准要求，可直接作为国际通用的照明设计软件的输入数据。主要参考标准：LM-79-2008 固态照明产品的电气和光度测量认定方法 GB/T9468-2008 灯具分布光度测量的一般要求 LB/T 001-2008 整体式LED 路灯的测量方法 GB/T 24824-2009 普通照明用LED模块测量方法 GB/T7002-2008 投光照明灯具光度测试 CIE 69 Methods of Characterizing Illuminance Meters and Luminance Meters；CIE 70-1987 The measurement of absolute luminous intensity distributions；CIE 121-1996 The photometry of goniophotometer of luminaries；CIE 84 Measurement of luminous flux；IESNA LM-75 Goniophotometer Types and Photometric Coordinates；技术支持特性：主轴和灯具轴采用贵金属光纤点刷结构的导电滑环，可360度连续无回隙运转测量无须为防止绕线而来回旋转，永不绕线；采用知名品牌的高转速、高转矩、低噪音、低振动的三相混合式步进电机；具有激光瞄准器，使被测灯具中心与旋转台旋转中心重合；垂直轴旋转范围：-180°～180°或0°～360°旋转；水平轴旋转范围：-180°～180°或0°～360°旋转；角度精度：0.1度，分辨率：0.01度；灯具尺寸：1.2×0.6米；灯具重量：30kg(含夹具) ；灯具供电测量采用4线制：2路10A导电滑环用于供电，2路2A用于测量电压；转台控制线和灯具供电线长度：6米，特殊要求可加长；光度参数：1、高精度恒温探头（恒温点35±1度，恒温精度±0.1度）；2、V(λ)修正精度：CIE标准级（f1’ 0.03） 3、照度测量范围：0.001 lx至200 klx , 5档自动量程 4、测试距离：2米到30米；5、高稳定带遮光光栅的探头支架，高底可调，上下和左右倾角可调；6、光度探头连接线长度：20米（特殊要求可加长）；暗房示意图： 丰富的软件功能：1、控制旋转台旋转，采集灯具的光强分布数据，计算灯具的光度数据及坐标系的转换；2、包括空间光强分布、任意截面上的光强分布曲线（可分别用直角坐标系或极坐标系显示）、空间等光强曲线、平面等照度分布曲线、亮度限制曲线、环带光通量、眩光等级、灯具效率、有效发光角、上射光通比、下射光通比、灯具总光通量、有效光通量、利用系数。3、 导出符合国际标准的灯具文件，可直接的导入照明设计软件，格式说明如下：*.HPG 虹谱光色HPG系列分布光度计测试数据文件格式；*.IES IESNA北美标准格式,包括95版和2002版 *.LDT EULUMDAT德国标准（欧洲）格试文件；*.LDT EULUMDAT德国标准（欧洲）格试文件；4、根据被测灯的类型，如路灯及室外灯、室内灯或投光灯等，输出相应的打印报告，可直接保存为PDF文件，便于交流存档等。HPG1800软件介绍及实景照：图相似

光强分布（光型）测试仪LSA3000-蓝菲光学 LSA 3000是一种自动的分布式光度计，主要与蓝菲光学（Labsphere）软件和LED测试及测量产品一起配合使用。用户可通过软件对LSA 3000待测装置(DUT)的旋转进程和空间辐射测量程序进行全面控制。LSA 3000能够完成从窄角到宽角的准确测量。该软件还允许用户根据所选角度来测量相对强度。 通过与Labsphere光谱仪、光测量软件和I 1000或I 2000相配合，LSA 3000还可以用来将LED旋转到任意期望的极坐标上，并测量其光谱辐射强度、光强度、色度、色彩和显色性。同时，它也能测量光谱辐射强度、光强度、色度、色彩和显色性的远场半球空间分布。特点准确并可重复的测量 光谱强度、光谱通量、空间分布和色彩的完整解决方案 便于测量各种不同类型的LED 两维扫描，覆盖整个发光区间 用户可选择角度步进间隔 测量过程符合国际认可标准 测量参数 LED光强空间分布 光谱特性空间分布 色度空间分布 应用领域LED远场空间特性描述 (标准，高亮度)

介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪/介质损耗测试仪 介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪/介质损耗测试仪：GDAT-A 介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪/介质损耗测试仪满足标准：GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法 二、介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪/介质损耗测试仪的技术指标 1．Q值测量 a．Q值测量范围：2～1023。 b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。 c．标称误差项 目 GDAT-A频率范围20kHz～10MHz；固有误差≤5％±满度值的2％；工作误差≤7％±满度值的2％；频率范围10MHz～60MHz；固有误差≤6％±满度值的2％；工作误差≤8％±满度值的2％。电感测量范围介电常数介质损耗试验仪电容测量14.5nH~8.14H1~ 460 项 目GDAT-A直接测量范围1～460pF主电容调节范围30～500pF，精准度150pF以上±1％ 150pF以下±1.5pF； 注：大于直接测量范围的电容测量见使用规则 4．介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪/介质损耗测试仪信号源频率覆盖范围项 目 GDAT-A： 频率范围10kHz～50MHz频率分段(虚拟)10～99.9999kHz100～999.999kHz1～9.99999MHz10～60MHz 频率指示误差3×10-5±1个字Q合格指示预置功能预置范围：5～1000。Q表正常工作条件环境温度：0℃～+40℃； 相对湿度80％电源220V±22V，50Hz±2.5Hz。消耗功率约25W；净重约7kg外型尺寸(l×b×h)mm：380×132×280 8．产品配置：a. 测试主机一台；b. 电感9只；c. 夹具一套 电感：线圈号 Q 值 测试频率 分布电容p 电感值 9100KHz 98 9.4 25mH8400KHz 13811.4 4.87mH7 400KHz 20216 0.99mH61MHz 196 13252μH52MHz 198 8.749.8μH4 4.5MHz 231 7 10μH 312MHz 1936.9 2.49μH2 12MHz 229 6.4 0.508μH1 25MHz，50MHz233，2110.9 0.125μH 介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪/介质损耗测试仪的详细资料： 一、 介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪/介质损耗测试仪概述介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε)，可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至最低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。介电常数介质损耗试验仪用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。感谢您耐心阅读我们的信息如果您对我们的介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪/介质损耗测试仪感兴趣或者有什么疑问欢迎您来电咨询 我们会有专业的工程师为您解决您的疑问！！ 北广公司其它绝缘材料检测仪器: BDJC-0-100KV 介电击穿试验仪 BDJC系列绝缘材料工频率介电击穿试验仪 BDJC系列电压介电强度试验仪器 BDJC系列 电压击穿试验仪 BDJC系列绝缘漆漆膜击穿强度试验仪 BDJC电容器纸工频电压击穿试验仪 EST-121 体积表面电阻率测定仪 GDAT-A介质损耗测试仪/介电常数测试仪 GDAT-C新型介电常数介质损耗测试仪 BDH 耐漏电起痕试验仪 BDH-B耐电弧试验仪 中国检测行业与验证服务的尖端者和智领者，帮助众多检测质检单位和学校教研单位提供一站式的全面质量解决方案。 注重每一个细节是北广公司对于每个客户的承诺 ， 也是北广公司一直追求的宗旨。北京北广精仪仪器设备有限公司

GDAT-C介电常数测试仪A/C高频Q表能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。该仪器广泛地用于科研机关、学校、工厂等单位。A/C高频Q表是北广精仪仪器设备有限公司最新研制的产品，它以DDS数字直接合成方式产生信号源，频率达60MHz /160MHz，信号源具有信号失真小、频率精确、信号幅度稳定的优点，更保证了测量精度的精确性。A主电容调节用传感器感应，电容读数精确,且频率值可设置。C主电容调节用步进马达控制，电容读数更加精确,频率值和电容值均可设置。A/C电容、电感、Q值、频率、量程都用数字显示，在某一频率下，只要能找到谐振点，都能直接读出电感、电容值，大大扩展了电感的测量范围，而不再是固定的几个频率下才能测出电感值的大小。A/C特有的谐振点频率自动搜索或电容自动搜索功能，能帮助你在使用时快速地找到被测量器件的谐振点，自动读出Q值和其它参数。Q值量程可手动或自动转换。介电常数c类数显Q表工作频率范围是10kHz～60MHz,是一种多功能、多用途、多量程数字化阻抗测试仪器。它是根据串联谐振原理，以电压比值刻度Q值的。它能测量高频电感器的Q值，电感量和分布电容量；电容器的电容量和损耗角。配以专用夹具BH916介质损耗装置还能对固态绝缘材料的高频介质损耗（tan&delta ）和介电常数(&epsilon )，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等进行测试。本Q表依照国家计量检定规程：&ldquo JJF1073-2000高频Q表校准规范&rdquo 执行。 1 特点：◎ 创新的自动Q值读取技术，使测Q分辨率至0.1Q。◎ DPLL合成发生1kHz～70MHz,测试信号。◎ 低至20nH残余电感，保证高频时直读Q值的误差较小。◎ 特制LCD屏菜单式显示多参数：Q值，测试频率，调谐状态等。◎ Q值量程自动/手动量程控制。◎ 数字化Q值预置，能提高批量测试的可靠性和速度。 2 主要技术指标：2.1 测试信号频率范围：1kHz～70MHz，数字合成，可数字设置或连续调节，五位有效数显。2.2 Q值测量范围：1～1000四位数显，分辨率0.1Q。分100、316、999三档，量程可自动切换。2.3 Q值固有误差：± 5%± 3% 满刻度值。2.4 有效电感测量范围：0.1µ H～1000mH。2.5 电感测量误差：&le 5%± 0.02µ H2.6 调谐电容特性：2.6.1可调电容范围：40pF～500 pF。2.6.2 精确度：± 1% 或0.5pF。2.6.3微调电容器：-3pF～0～+3pF，分辨率：0.2pF2.6.4残余电感值：约30nH。2.7 Q预置功能：Q预置范围：1～1000均可。被测件达到预置值后有&ldquo GO&rdquo 显示和蜂鸣声提示。不合格件则显示&ldquo NO GO&rdquo 。2.8 外形尺寸及重量：415× 180× 170（mm）,6.5kg。BH916 介质损耗测试装置（数显） BH916D介质损耗测试装置与C类Q表及电感器配用，能对绝缘材料进行高频介质损耗角正切值(tan&delta )和介电常数(&epsilon )的测试。它符合国标GB/T 1409-2006,GB/T 1693-2007,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。 本测试装置是由测微平板电容器组成，平板电容器一般用来夹被测样品，配用Q表作为指示仪器。绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放进平板电容器和不放进样品的Q值变化和厚度的刻度读数变化通过公式计算得到。同样，由平板电容器的刻度读数变化，通过公式计算得到介电常数。1工作特性1.1 平板电容器：1.1.1 极片尺寸： c类-38：&Phi 38mm. c类-50：&Phi 50mm. 1.1.2 极片间距可调范围和分辨率： &ge 8mm， ± 0.002mm1.2 夹具插头间距： 25mm± 1mm1.3夹具损耗角正切值 &le 2.5× 10-4附表二,LKI-1电感组典型测试数据线圈号 测试频率 Q值 分布电容p 电感值 9 100KHz 98 9.4 25mH 8 400KHz 138 11.4 4.87mH 7 400KHz 202 16 0.99mH 6 1MHz 196 13 252&mu H 5 2MHz 198 8.7 49.8&mu H 4 4.5MHz 231 7 10&mu H 3 12MHz 193 6.9 2.49&mu H 2 12MHz 229 6.4 0.508&mu H 1 25MHz 50MHz 233211 0.9 0.125&mu H北广部分产品一览表 产品名称产品型号备注电压击穿试验仪BDJC-10-100KV计算机控制/自动体积表面电阻率测试仪BEST-121液晶显示滑动摩擦磨损试验机M-200橡胶塑料，复合材料万能拉力试验机WDW金属，非金属材料介电常数介质损耗测试仪GDAT-A固体液体材料热变形维卡温度仪BWK-300计算机/液晶塑料球压痕硬度计BQY-96液晶熔体流动速率测定仪BRT-400A计算机海绵泡沫压陷硬度测定仪HMYX-2000计算机/液晶海绵泡沫落球回弹仪HMLQ-500液晶海绵泡沫疲劳冲击测定仪HMPL-2000液晶海绵拉伸强度试验机HMLS-1000液晶海绵压缩永久变形试验机HMYS-200自动海绵泡沫切割机HMQG-100自动水平垂直燃烧试验仪BRS-A自动耐电弧试验仪BDH-20KV计算机漏电起痕试验仪BLD-A高压，低压灼热丝试验仪BZR-A自动橡胶塑料低温脆性冲击试验机BCX-A 单式样，多试样万能制样机BWN-A橡胶塑料缺口制样机BQK-A机械哑铃制样机BYL-A自动氧指数仪BYZ-3自动导热系数仪BJB计算机 北广电性能及橡胶塑料常用仪器 万能材料试验机（电子万能，金属材料，非金属材料，管材，高低温，液压伺服万能试验机）电压击穿试验仪（介电击穿强度，固体绝缘材料电气介电强度试验机）体积表面电阻率测定仪（可测试固体液体膏体粉末材料） 碳素材料电阻率测试仪 电线电缆导体半导体材料电阻率测试仪 橡胶塑料滑动摩擦试验机（国标，非国标，可定制） 介电常数介质损耗测试仪（可测试固体液体） 学校专用介电常数介质损耗测试仪 高频介电常数介质损耗测试仪 工频介电常数介质损耗测试仪 绝缘材料耐电弧性能试验仪 液显热变形维卡软化点温度测定仪 计算机控制热变形维卡温度试验机 塑料球压痕硬度计 熔体流动速率测定仪/熔融指数仪 计算机控制马丁耐热试验仪 海绵泡沫检测仪器 海绵泡沫压陷硬度测定仪 海绵泡沫落球回弹仪 海绵泡沫疲劳冲击测定仪 海绵拉伸强度试验机 海绵压缩永久变形试验机 海绵泡沫切割机 海绵密度测定仪 氧指数测定仪 海绵泡沫阻燃性能试验箱 产品保修承诺： 1、设备保修两年，终身服务，两年内非人为损坏的零部件免费更换，保修期内接到用户邀请后， 最迟响应时间为2小时内，在与用户确认故障后，我公司会在48小时内派工程师到达现场进行免费服务，尽快查清故障所在位置和故障原因，并向用户及时报告故障的原因和排除办法 。 2、保修期内人为损坏的零部件按采购（加工）价格收费更换。 3、保修期外继续为用户提供优质技术服务，在接到用户维修邀请后3天内派工程师到达用户现场进行维修。并享有优惠购买零配件的待遇。　 4、传感器过载及整机电路超压损坏不在保修范围内。

全自动电化学CV分布仪 CVP21 光伏太阳能领域的首选! 众多科研和半导体领域用户的的首选!上海瞬渺光电官方中国最佳全自动电化学CV分布仪光伏太阳能领域代理商！服务众多知名光伏企业！本设备适用于评估和控制在半导体生产中的外延过程并且以被使用在多种不同的材料上，　例如：Silicon, Germanium, III-V including III-Nitrides.CVP21的净室和模块化的系统设计结构使得本系统可以高效率，准确的测量半导体材料（结构，层）中的掺杂浓度分布．选用合适的电解液与材料接触，腐蚀，从而得到材料的掺杂浓度分布。电容值电压扫描和腐蚀过程由软件全自动控制CVP21的系统特点&bull 坚固可靠的模块化系统结构 ．光学，电子和化学部分相对独立．&bull 精确的测量电路模块&bull 强力的控制软件，系统操作，使用简便&bull 完善的售后服务体系特别推荐晶硅太阳能电池研究单位使用知名用户:(Shin-Etsu SEH or ISFH)In the field of solar cell research, the CVP21 system is currently being used at many research centres. It was first used in 1999 by the Fraunhofer Institute for Solar Energy Systems (ISE) in Freiburg, Germany, and since then it has been installed at the Institute for Molecules and Materials (IMM) in Nijmegen, The Netherlands, the RWE Space Solar Power GmbH in Heilbronn, Germany, the Hahn-Meitner-Institute (HMI) in Berlin, Germany, and the Institute for Solar Energy Research (ISFH) in Hamelin/Emmerthal, Germany.在德国和日本都有很多太阳能电池用户使用,鉴于商业保密需要不能公开。产品完美结合我们在电化学方分布测试方面超过３０年的经验和世界上最先进的电路系统。　全自动，　特别适用于新材料，　如氮化镓，　碳化硅材料，多晶硅等等。　有效检测:&bull 外延材料&bull 扩散&bull 离子注入适用材料: CVP21应用范围宽，可以用于绝大多数的半导体材料。IV族化合物半导体如：硅(Si)、锗(Ge)、碳化硅(SiC)等…III-V族化合物半导体如：砷化镓(GaAs)、磷化铟(InP)、磷化镓(GaP)等…三元III-V族化合物半导体如：铝镓砷(AlGaAs)、镓铟磷(GaInP)、铝铟砷(AlInAs)等…四元III-V族化合物半导体如：铝镓铟磷(AlGaInP)等…氮化物如：氮化镓(GaN)、铝镓氮(AlGaN)、铟镓氮(InGaN)、铝铟氮(AlInN)等…II-VI族化合物半导体如：氧化锌(ZnO)、碲化镉(CdTe)、汞镉碲(HgCdTe)等…其他不常见半导体材料(可以联系我们进行样品测量)。　载流子浓度测量范围:&bull 最大 1021/cm³ &bull 最小 1011/cm³ 深度解析度:&bull 最大无上限&bull 最小可至1 nm （或更低）模块化系统结构:&bull 拓扑型结构&bull 实时监控腐蚀过程&bull 适于微小样品及大尺寸的晶圆全自动化系统:&bull 精密的电路，电子系统&bull 强力的软件

介质损耗测试仪/介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪满足标准：GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法 介质损耗测试仪/介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。 主要技术特性 :Q 值测量范围 2 ～ 1023 量程分档 30 、 100 、 300 、 1000 ，自动换档或手动换档固有误差≤ 5 ％ ± 满度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）≤6％ ± 满度值的2％（10MHz～160MHz）工作误差≤7％ ± 满度值的2％ （ 200kHz ～ 10MHz ）≤8％ ± 满度值的2％（10MHz～160MHz）电感测量范围 4.5nH ～ 140mH 电容直接测量范围1 ～ 200pF 主电容调节范围18 ～ 220pF 主电容调节准确度 100pF 以下 ± 1pF 100pF 以上 ± 1 ％ 信号源频率覆盖范围 100kHz ～ 160MHz 频率分段 （ 虚拟 ）100 ～ 999.999kHz ， 1 ～ 9.99999MHz, 10 ～ 99.9999MHz ， 100 ～ 160MHz频率指示误差3 × 10 -5 ± 1 个字 搭配了全新的介质损耗装置与GDAT系列q表搭配使用 概述BD916介质损耗测试装置与本公司生产的各款高频Q表配套，可用于测量绝缘材料的介电常数和介质损耗系数（损耗角正切值）。BD916介质损耗测试装置是BD916914的换代产品，它采用了数显微测量装置，因而读数方便，数据精确。测试装置由一个LCD数字显示微测量装置和一对间距可调的平板电容器极片组成。平板电容器极片用于夹持被测材料样品，微测量装置则显示被测材料样品的厚度。BD916介质损耗测试装置须配用Q表作为调谐指示仪器，通过被测材料样品放进平板电容器和不放进样品时的Q值变化，测得绝缘材料的损耗角正切值。从平板电容器平板间距的读值变化则可换算得到绝缘材料介电常数。 BD916介质损耗测试装置技术特性 ：平板电容器极片尺寸：Φ50mm/Φ38mm 可选 极片间距可调范围≥15mm 夹具插头间距25mm±0.01mm 夹具损耗正切值≤4×10-4 （1MHz） 测微杆分辨率0.001mm 电感：线圈号 测试频率 Q值 分布电容p 电感值 9100KHz 98 9.4 25mH8 400KHz138 11.4 4.87mH7400KHz 202 16 0.99mH6 1MHz 196 13 252μH5 2MHz198 8.7 49.8μH4 4.5MHz 231 7 10μH 3 12MHz 1936.9 2.49μH212MHz2296.40.508μH 125MHz，50MHz233，211 0.9 0.125μH 介质损耗测试仪/介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪作为最新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前国内最高的160MHz。GDAT高频 Q 表采用了多项技术：A.双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。 B.双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。 C.双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。 D.自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。 E.全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。 F.DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。 计算机自动修正技术和测试回路最优化 —使测试回路 残余电感减至最低，彻底根除 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。 感谢您耐心阅读我们的信息如果您对我们的介质损耗测试仪/介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪感兴趣或者有什么疑问欢迎您来电咨询 我们会有专业的工程师为您解决您的疑问！ 北广公司其它绝缘材料检测仪器: BDJC-0-100KV 介电击穿试验仪BDJC系列绝缘材料工频率介电击穿试验仪BDJC系列电压介电强度试验仪器BDJC系列 电压击穿试验仪 BDJC系列绝缘漆漆膜击穿强度试验仪BDJC电容器纸工频电压击穿试验仪BEST-121 体积表面电阻率测定仪 GDAT-A介质损耗测试仪/介电常数测试仪 GDAT-C新型介电常数介质损耗测试仪BDH 耐漏电起痕试验仪BDH-B耐电弧试验仪

A应该功能： 用于测量LED小型灯具（卤素灯、杯灯、射灯、球泡灯等）及单颗大功率LED的配光曲线、照度、光强数据、光束角、光通量等参数。仪器设计了光学暗箱及光栏，无需暗室。测试过程由计算机控制完成，操作简单、使用方便、性价比高。根据被测灯的类型，输出相应的打印报告，可直接保存为PDF文件，便于交流存档等。 测试结果可以导出IESNA(95,2002)文件格式(*.ies)、CIE文件格式(*.cie)、欧洲Eulumdat(*.ldt)文件格式等多种格式，符合国际标准要求，可直接作为国际通用的照明设计软件的输入数据。 B主要参数标准：LM-79-2008 固态照明产品的电气和光度测量认定方法 GB/T9468-2008灯具分布光度测量的一般要求 LB/T 001-2008整体式LED路灯的测量方法 GB/T 24824-2009普通照明用LED模块测量方法 GB/T7002-2008 投光照明灯具光度测试 CIE 69 Methods of Characterizing Illuminance Meters and Luminance Meters； CIE 70-1987 The measurement of absolute luminous intensity distributions；CIE 121-1996 The photometry of goniophotometer of luminaries； CIE 84 Measurement of luminous flux；IESNA LM-75 Goniophotometer Types and Photometric Coordinates； C性能参数：● 光照度测量范围：0.1lx～99999lx ● 光照度测量精度：一级；● 灯具工作转台可绕水平轴（垂直转动）和垂直轴（水平转动）转动；● 转动范围：-180°~+180° ● 间隔角度： ≥0.5°；●角度测量精度：+0.1°； ● 光电探测器V（λ）修正水平高，达到国家一级照度计要求；●可测试灯具外型尺寸：150（长）×150（宽）×110mm（厚度） ●仪器型号尺寸：145×75×85（mm）●IESNA文件格式输出，可由其它照明和灯具设计软件直接导出图相似

为了预测纤维增强产品的特性和力学性能，测定纤维的长度和分布是必要的。将纤维从混合材料中没有任何损坏的分离出来是首先最关键的步骤。FASEP方法已开发用于灰化材料，并且不损坏玻璃纤维。用水完全稀释纤维并倒入培养皿中。然后，使用完整培养皿采集图像的新方法。暗视场和透射光组合扫描解析一个大的图像，每个图像多达10000纤维。最终，得到理想的源图像用于数字图像分析。该方式使用全新、唯一的FASEP集群分离处理，确认纤维簇，并从中提取出单纤维，最终测量每一个分离纤维的长度。精巧的系统可测量所有长度的纤维（20-20000&mu m）在增强热塑性塑料中的FASEP纤维长度分布。

介电常数测试仪/介质损耗因数和电容率测试仪的详细描述：介电常数介质损耗试验仪满足标准：GBT1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法一、概述A型高频Q表和C型高频Q表主要区别 AC测试频率范围25kHz～60MHz100kHz～160MHz主调电容控制传感器步进马达电容搜索无有 A/C高频Q表能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。该仪器广泛地用于科研机关、学校、工厂等单位。A/C高频Q表是北广精仪仪器设备有限公司最新研制的产品，它以DDS数字直接合成方式产生信号源，频率达60MHz/160MHz，信号源具有信号失真小、频率精确、信号幅度稳定的优点，更保证了测量精度的精确性。A主电容调节用传感器感应，电容读数精确,且频率值可设置。C主电容调节用步进马达控制，电容读数更加精确,频率值和电容值均可设置。A/C电容、电感、Q值、频率、量程都用数字显示，在某一频率下，只要能找到谐振点，都能直接读出电感、电容值，大大扩展了电感的测量范围，而不再是固定的几个频率下才能测出电感值的大小。A/C特有的谐振点频率自动搜索或电容自动搜索功能，能帮助你在使用时快速地找到被测量器件的谐振点，自动读出Q值和其它参数。Q值量程可手动或自动转换。二、工作特性 1．Q值测量 a．Q值测量范围：2～1023； b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；c．标称误差 A频率范围25kHz～10MHz固有误差≤5％±满度值的2%工作误差≤7％±满度值的2%频率范围10MHz～60MHz固有误差≤6％±满度值的2%工作误差≤8％±满度值的2% 2．电感测量范围A14.5nH～8.14H3．电容测量 A直接测量范围1～460p主电容调节范围40～500pF准确度150pF以下±1.5pF；150pF以上±1% 注：大于直接测量范围的电容测量见使用方法。 4．信号源频率覆盖范围 A频率范围10kHz～60MHzCH110～99.9999kHzCH2100～999.999kHzCH31～9.99999MHzCH410～60MHz频率指示误差3×10-5±1个字 5．Q合格指示预置功能：预置范围：5～1000 6．Q表正常工作条件 a. 环境温度：0℃～+40℃； b．相对湿度：80％； c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。 7．其他 a．消耗功率：约25W； b．净重：约7kg； c.外型尺寸：（宽×高×深）mm：380×132×280。三、使用方法高频Q表是多用途的阻抗测量仪器，为了提高测量精度，除了使Q表测试回路本身残余参量尽可能地小，使耦合回路的频响尽可能地好之外，还要掌握正确的测试方法和残余参数修正方法。1．测试注意事项a．本仪器应水平安放；b．如果你需要较精确地测量，请接通电源后，预热30分钟；c．调节主调电容或主调电容数码开关时，当接近谐振点时请缓调；d．被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短，足够粗，并应接触良好、可靠，以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差；e．被测件不要直接搁在面板顶部，离顶部一公分以上，必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫；f．手不得靠近试件，以免人体感应影响造成测量误差，有屏蔽的试件，屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。2．高频线圈的Q值测量（基本测量法）四、维修1．新购仪器的检查新购的仪器最好能先用LKI-1电感组，将各个电感在各个不同频率测试Q值，把测试的情况，例使用的电感号、测试频率Q读数、电容读数等多次测得数及测试环境条件逐一详细记录，并把记录保存起来，以供以后维修时作参考。LKI-1电感组是专供测试时作辅助电感用的，不能把这些电感当作高精度的标准电感看待。随着测试环境条件不同，测得电感器Q值和分布电容可能略有不同。2．使用和保养高频Q表是比较精密的阻抗测量仪器，在合理使用和注意保养情况下，才能保证长期稳定和较高的测试精度。a．熟悉本说明书，正确地使用仪器；b．使仪器经常保持清洁、干燥；c．本仪器保用期为18个月，如发现机械故障或失去准确度，可以原封送回本厂，免费修理。 附表二 各Q值均值回路指示值 和测试回路平均残量修正系数表线圈号测试频率C修正系数1100kHz114 2400kHz135136131MHz134128.50.9642MHz154 4.5MHz1831931.0554.5MHz170 12MHz237236.21612MHz234 25MHz3052810.92725MHz2181700.7850MHz2572520.98Qe：标准有效Q值A型Q表在测试Q值时，已对测试回路的残量作了修正，故不再需要对Q值进行均值修正。◇主要特点：空洞共振腔适用于CCL/印刷线路板，薄膜等非破坏性低介电损耗材料量测。 印电路板主要由玻纤与环氧树脂组成的, 玻纤介电常数为5~6, 树脂大约是3, 由于树脂含量, 硬化程度, 溶剂残留等因素会造成介电特性的偏差, 传统测量方法样品制作不易, 尤其是薄膜样品( 小于 10 mil) 量测值偏低,。 ◇主要技术特性：介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε)，可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至最低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。五、仪器技术指标：☆Q值测量：a．Q值测量范围：5～999。 b．Q值量程分档：30、100、300、999、自动换档。c．标称误差频率范围：25kHz～10MHz； 固有误差：≤5％±满度值的2％；工作误差：≤7％±满度值的2％；频率范围：10MHz～50MHz； 固有误差：≤7％±满度值的2％；工作误差：≤10％±满度值的2％。☆电感测量：a．测量范围：0.1μH～1H。b．分 档：分七个量程。0.1～1μH， 1～10μH， 10～100μH， 0.1～lmH， 1～10mH， 10～100mH， 100 mH～1H。☆电容测量：a．测量范围：1～460pF(460pF以上的电容测量见使用规则)；b．电容量调节范围主调电容器：40～500pF； 准 确 度：150pF以下±1.5pF；150pF以上±1％；微调电容量：－3pF～0～＋3pF； 准 确 度：±0.2pF。☆振荡频率：a．振荡频率范围：25kHz～50MHz；b．频率分档25～74kHz， 74～213kHz， 213-700kHz， 700kHz～1.95MHz，1.95MHz～5.2MHz， 5.2MHz～17MHz， 17～50MHz。c．频率误差：2×10-4±1个字。☆Q合格指示预置功能，预置范围：5～999。☆仪器正常工作条件a. 环境温度：0℃～+40℃； b．相对湿度：80％； c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。 ☆试样尺寸圆片形：厚度2+0.5mm，直径为Φ30~40mm（ε12时），Φ25~35mm（ε=12~30时），Φ15~20mm（ε30时）☆其他a．消耗功率：约25W； b．净重：约7kg； c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。☆ Q合格指示预置功能预置范围：5～1000。六、仪器特点：☆接线简单（正接法两根线，反接可使用一根线），所有电缆线均有接地屏蔽，所以都能拖地使用，测量电压缓升、缓降，全自动测量，结果直读，无须换算。☆多种测量方式 可选择正/反接线、内/外标准电容器和内/外试验电压进行测量。正接线可测量高压介损。☆ 抗震性能 仪器可承受长途运输中强烈震动颠簸而不会损坏。☆ 抗干扰能力强 采用自动跟踪干扰抵偿电路，将矢量运算法与移相法结合，有效地消除强电场干扰对测量的影响，适用于500kV及其以下电站的现场试验。☆CVT测量 独特自激法测量CVT功能，不需外加任何设备，可完成不可拆头CVT的测量。一次接线（三根电缆，不用倒线），一个测量过程（大约1分钟），两个最终测量结果（C1和C2的介损及电容值）。测量过程中文显示，能实时监测自激电流值和试验电压（高压）值。能消除引线对测试的影响，测量结果准确可靠。☆ 安全措施（1）高压保护：试品短路、击穿或高压电流波动，能迅速切断高压输出。（2）CVT保护：设定自激电压的过流点，一旦超出设置的电流值，仪器自动退出测量，不会损坏设备。（3）接地检测：仪器有接地检测功能，未接地时不能升压测量。（4）防误操作：具备防误操作设计，能判别常见接线错误，安全报警。（5）防“容升”：测量大容量试品时会出现电压抬高的“容升”效应，仪器能自动跟踪输出电压，保持试验电压恒定。☆ VFD显示 采用新颖的大屏幕VFD点阵显示器，在严冬和盛夏都能清晰显示。全中文操作菜单，操作提示各种警告信息，直观明了，不需查阅说明书即可操作。☆打印 仪器附有微型打印机，以中文方式打印输出测量结果及状态。☆RS232 仪器具有RS232接口，与计算机连接便于数据的统计和处理及保存。☆可选购与计算机通信应用程序。介电常数介质损耗测试仪电感器：按测试频率要求，需要配置不同量的电感器。例如：在1MHz测试频率时，要配250μH电感器，在50MHz测试频率时，要配0.1μH电感器等。高频介质样品（选购件）：在现行高频介质材料检定系统中，检定部门为高频介质损耗测量仪提供的测量标准是高频标准介质样品。该样品由人工蓝宝石，石英玻璃，氧化铝陶瓷，聚四氟乙烯，环氧板等材料做成Φ50mm，厚1～2mm测试样品。用户可按需订购，以保证测试装置的重复性和准确性。 介电常数介质损耗测试仪特点： ◎ 本公司创新的自动Q值保持技术，使测Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005 。◎ 能对固体绝缘材料在10kHz～120MHz介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。◎ 调谐回路残余电感值低至8nH，保证100MHz的(tanδ)和(ε)的误差较小。◎ 特制LCD屏菜单式显示多参数：Q值，测试频率，调谐状态等。◎ Q值量程自动/手动量程控制。◎ DPLL合成发生1kHz～60MHz, 50kHz～160MHz测试信号。独立信号 源输出口，所以本机又是一台合成信号源。◎ 测试装置符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。介电常数和介质损耗测试仪工作频率范围是10kHz～160MHz,它能完成工作频率内材料的高频介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。本仪器中测试装置是由平板电容器和测微圆筒线性电容器组成，平板电容器一般用来夹被测样品，配用Q表作为指示仪器。绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的Q值变化和厚度的刻度读数通过公式计算得到。同样，由测微圆筒线性电容器的电容量读数变化，通过公式计算得到介电常数。

功能：可按照CIE127 A/B条件，IEC 61341标准相关要求测量LED器件、模块等的发光强度、空间光强分布曲线、中心光强、光束角、部分光通量等光度参数。性能指标：◆ 测试距离：316mm,100mm, 1000mm自由调整◆ 测试方式：Type C◆ 角度精度：0.05度◆ 严格Ｖ（λ）匹配的高性能Si探测器◆ 测量数据可以IES等国际标准文件格式导出，可应用于二次光学设计◆ RS-232C标准接口

漆膜介质损耗因数测试仪电感测量：a．测量范围：14.5nH~8.14H。b．分 档：分七个量程。 0.1～1μH， 1～10μH， 10～100μH， 0.1～lmH， 1～10mH， 10～100mH， 100 mH～1H。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。主要配置：a.测试主机一台；b.电感9只；c.夹具一 套漆膜介质损耗因数测试仪使用方法高频Q表是多用途的阻抗测量仪器，为了提高测量精度，除了使Q表测试回路本身残余参量尽可能地小，使耦合回路的频响尽可能地好之外，还要掌握正确的测试方法和残余参数修正方法。1．测试注意事项a．本仪器应水平安放；b．如果你需要较精确地测量，请接通电源后，预热30分钟；c．调节主调电容或主调电容数码开关时，当接近谐振点时请缓调；d．被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短，足够粗，并应接触良好、可靠，以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差；e．被测件不要直接搁在面板顶部，离顶部一公分以上，必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫；f．手不得靠近试件，以免人体感应影响造成测量误差，有屏蔽的试件，屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。2．高频线圈的Q值测量（基本测量法）电感：线圈号 测试频率 Q值 分布电容p 电感值 9 100KHz 98 9.4 25mH 8 400KHz 138 11.4 4.87mH 7 400KHz 202 16 0.99mH 6 1MHz 196 13 252μH 5 2MHz 198 8.7 49.8μH 4 4.5MHz 231 7 10μH 3 12MHz 193 6.9 2.49μH 2 12MHz 229 6.4 0.508μH 1 25MHz，50MHz 233，211 0.9 0.125μH 安全措施（1）高压保护：试品短路、击穿或高压电流波动，能迅速切断高压输出。（2）CVT保护：设定自激电压的过流点，一旦超出设置的电流值，仪器自动退出测量，不会损坏设备。（3）接地检测：仪器有接地检测功能，未接地时不能升压测量。（4）防误操作：具备防误操作设计，能判别常见接线错误，安全报警。（5）防“容升”：测量大容量试品时会出现电压抬高的“容升”效应，仪器能自动跟踪输出电压，保持试验电压恒定。高频电桥由于它不再是一个高压电桥，因此承受电压U1的臂能容易地引人可调元件 替代法在此适用 还应指出，带有分开的初级绕组的电桥允许电源和检测器互换位置。其平衡与在次级绕组中对应的安匝数的补偿相符.售后服务。1、保修期内非人为损坏的零部件免费更换，保修期内接到用户邀请后， 迟响应时间为4小时内，在与用户确认故障后，我公司会在48小时内派工程师到达现场进行免费服务，尽快查清故障所在位置和故障原因，并向用户及时报告故障的原因和排除办法。2、提供实时的远程诊断和维护服务。3、每年进行客户回访。4、保修期外继续为用户提供优质技术服务，在接到用户维修邀请后2天内派工程师到达用户现场进行维修。并享有优惠购买零配件的待遇。5、保修期内人为损坏的零部件按采购（加工）价格收费更换。6、软件升级：终生免费提供新版本控制软件。7、安装及调试合格后，自客户签字认可之日起，我方对于提供的产品免费保修三年。保修期满后，我方将继续跟踪服务，客户享受终生维修，负责及时提供必要的售后服务、技术咨询。8、提供适用、详细、全面的中文产品说明书和维修手册。9、产品交货期：尽量按用户要求，若有特殊要求，需提前完工的，我公司可特别组织生产、安装，力争满足用户需求。10、响应时间：保修期内，产品若发生故障，在接到贵公司报修后，24小时内帮客户解决问题。 11、服务体系：作为设备供应商本公司对本次招标所提供的产品提供保障体系： 当设备出现故障，必要时将派指定的专业技术员在规定时间内上门维修或寄修，产生的运费由本公司承担。12、产品价格承诺 1、在同等竞争条件下，我公司在不以降低产品技术性能、更改产品部件为代价的基础上，真诚以 优惠的价格提供给贵方。 2、在保修期内供方将免费维修和更换属质量原因造成的零部件损坏，保修期外零部件的损坏，提供的配件只收成本费，由需方人为因素造成的设备损坏，供方维修或提供的配件均按成本价计。 13、售后服务保证 公司实力保障：本公司有完善的售后服务体系 14、保修承诺：我司对本次协议供货有效期内所提供的所有产品保质期 ，有效期内所提供的产品，提供正常工作日全天侯服务，终身技术服务支持。 安全措施（1）高压保护：试品短路、击穿或高压电流波动，能迅速切断高压输出。（2）CVT保护：设定自激电压的过流点，一旦超出设置的电流值，仪器自动退出测量，不会损坏设备。（3）接地检测：仪器有接地检测功能，未接地时不能升压测量。（4）防误操作：具备防误操作设计，能判别常见接线错误，安全报警。（5）防“容升”：测量大容量试品时会出现电压抬高的“容升”效应，仪器能自动跟踪输出电压，保持试验电压恒定。

介质损耗因数正切值测试仪/介电常数测试仪满足标准：GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法介质损耗因数正切值测试仪/介电常数测试仪主要技术特性 Q 值测量范围 2 ～ 1023 ， 量程分档： 30 、 100 、 300 、 1000 ，自动换档或手动换档 固有误差 5 ％工作误差 2％ 电感测量范围 4.5nH ～ 140mH 电容直接测量范围 1 ～ 200pF 主电容调节范围 18 ～ 220pF 主电容调节准确度 1pF 信号源频率覆盖范围 100kHz ～ 160MHz 频率分段 （ 虚拟 ） 100 kHz ～ 160MHz 频率指示误差 1 个字 介质损耗因数正切值测试仪/介电常数测试仪电感： 线圈号 测试频率 Q值 分布电容p 电感值 9 100KHz 98 9.4 25mH 8 400KHz 138 11.4 4.87mH 7 400KHz 202 16 0.99mH 6 1MHz 196 13 252&mu H 5 2MHz 198 8.7 49.8&mu H 4 4.5MHz 231 7 10&mu H 3 12MHz 193 6.9 2.49&mu H 2 12MHz 229 6.4 0.508&mu H 1 25MHz，50MHz 233，211 0.9 0.125&mu H 介电常数介质损耗测试仪技术特性 平板电容器： 极片尺寸： 50mm/ 38mm 可选 　　　　　 极片间距可调范围： 15mm 2. 夹具插头间距：25mm 0.01mm 3. 夹具损耗正切值 10-4 （1MHz） 4．测微杆分辨率：0.001mm 搭配了全新的介质损耗装置与GDAT系列q表搭配使用介电常数介质损耗测试仪售后服务承诺： 售后服务及保修承诺：多年来，我公司一直生产研究电气试验设备，经研究、摸索、总结出一套完整的产品服务保障体系，向用户提供优质及时的售前、售中、售后服务为创造名牌，提高企业知名度，树立企业形象，我们本着“一切追求高质量，用户满意为宗旨”的精神，以“ 优惠的价格、 周到的服务、 可靠的产品质量”的原则向您郑重承诺： 一、产品质量承诺：1、我公司保证向需方提供的设备是原厂生产的，并且出厂资料配件齐全。为保持合同设备的正常运行和维护，我公司保证提供的技术资料和图纸是完整、清楚和正确的。2、产品的制造和检测均有质量记录和检测资料。3、对产品性能的检测，我们诚请用户亲临对产品进行全过程、全性能检查，待产品被确认合格后再装箱发货。 二、产品价格承诺：1、为了保证产品的高可靠性，系统的选材均选用国内或国际优质名牌产品。2、在同等竞争条件下，我公司在不以降低产品技术性能、更改产品部件为代价的基础上，真诚以 优惠的价格提供给贵方。三：安装调试及验收承诺：1、协助设备的安装，负责设备的运输、调试。2、设备按订货技术附件进行验收。终验收在买方进行，对用户提供的试样进行试验，并提供测试报告。3、安装调试同时，在仪器操作现场一次性免费培训操作人员2-3名，该操作人员应是由需方选派的长期稳定的员工，培训后能够对设备基本原理、软件使用、操作、维护事项理解和应用，使人员能够独立操作设备对样品进行检测、分析，同时能进行基本的维护。四、保修承诺：1、设备保修二年，终身服务，二年内非人为损坏的零部件免费更换，保修期内接到用户邀请后， 迟响应时间为2小时内，在与用户确认故障后，我公司会在48小时内派工程师到达现场进行 免费服务，尽快查清故障所在位置和故障原因，并向用户及时报告故障的原因和排除办法 。2、保修期内人为损坏的零部件按采购（加工）价格收费更换。3、保修期外继续为用户提供优质技术服务，在接到用户维修邀请后3天内派工程师到达用户现场进行维修。并享有优惠购买零配件的待遇。　4、传感器过载及整机电路超压损坏不在保修范围内。 五、保修： 1、设备保修两年，终身售后服务，一年内非人为损坏的零部件免费更换，保修期内接到用户邀请后， 迟响应时间为2小时内，在与用户确认故障后，我公司会在48小时内派工程师到达现场进行免费服务，尽快查清故障所在位置和故障原因，并向用户及时报告故障的原因和排除办法。 2、保修期内人为损坏的零部件按采购（加工）价格收费更换。 3、保修期外继续为用户提供优质技术服务，在接到用户维修邀请后3天内派工程师到达用户现场进行维修。并享有优惠购买零配件的待遇。　 4、传感器过载及整机电路超压损坏不在保修范围内。 六、售后管理： 我公司实现计算机化管理，实行客户定期电话回访制度，定期复查设备的工作情况，定期电话指导用户对设备进行保养和检测，以便设备正常运转，跟踪客户的设备使用情况，以便及时对设备进行维护感谢您耐心阅读我们的信息如果您对我们的介电常数介质损耗测试仪感兴趣或者有什么疑问欢迎您来电咨询 我们会有的工程师为您解决您的疑问！！ 标签：百度 介电常数测试仪 介电常数介质损耗测试仪 介质损耗因数测试仪

GDAT-C介电常数测试仪简介满足标准：GBT 1409-2006 测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法高频介质损耗测试系统由S916测试装置（夹具）、GDAT型高频Q表、数据采集和tanδ自动测量控件（装入GDAT）、及LKI-1型电感器组成，它依据国标GB/T 1409-2006、美标ASTM D150以及国际电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值（tanδ）和介电常数（ε）自动测量的最佳解决方案。 1、《BH916介质损耗装置》（测试夹具）是测试系统的核心检测部件，它由一个LCD数字显示的微测量装置和一对经精密加工的、间距可调的平板电容器极片组成。平板电容器极片用于夹持被测材料样品，微测量装置则显示被测材料样品的厚度。通过被测材料样品放进平板电容器和不放进样品时的Q值变化的量化，测得绝缘材料的损耗角正切值。从平板电容器平板间距的读值变化则可换算得到绝缘材料介电常数。BH916介质损耗测试装置是本公司最新研制的更新换代产品，精密的加工设计、精确的LCD数字读出、一键式清零功能，克服了机械刻度读数误差和圆筒形电容装置不可避免的测量误差。 2、基于串联谐振原理的《GDAT高频Q表》是测试系统的二次仪表，其数码化主调电容器的创新设计代表了行业的最高成就，随之带来了频率、电容双扫描GDAT的全新搜索功能。该表具有先进的人机界面，采用LCD液晶屏显示各测量因子：Q值、电感L、主调电容器C、测试频率F、谐振趋势指针等。高频信源采用直接数字合成,测试频率10KHz-60MH或200KHz-160MHz，频率精度高达1×10-6。国标GB/T 1409-2006规定了用Q表法来测定电工材料高频介质损耗角正切值（tanδ）和介电常数（ε），把被测材料作为平板电容的介质，与辅助电感等构成串联谐振因子引入Q表的测试回路，以获取最高的测试灵敏度。因而Q表法的测试结果更真实地反映了介质在高频工作状态下的特征。GDAT高频Q表的全数字化界面和微机控制使读数清晰稳定、操作简便。操作者能在任意点频率或电容值的条件下检测Q值甚至tanδ，无须关注量程和换算，彻底摒弃了传统Q表依赖面板上印制的辅助表格操作的落后状况，它无疑是电工材料高频介质损耗角正切值（tanδ）和介电常数（ε）测量的理想工具。 3、数据采集和tanδ自动测量控件（装入GDAT），实现了数据采集、数据分析和计算的微处理化，tanδ 测量结果的获得无须繁琐的人工处理，因而提高了数据的精确度和测量的同一性，是人工读值和人工计算无法比拟的。4、一个高品质因数（Q）的电感器是测量系统必不可少的辅助工具，关乎测试的灵敏度和精度，在系统中它与平板电容（BH916）构成了基于串联谐振的测试回路。本系统推荐的电感器为LKI-1电感组共由9个高性能电感器组成，以适配不同的检测频率。附表一,介质损耗测试系统主要性能参数一览表BH916测试装置 介电常数测试仪GDAT高频Q表 平板电容极片Φ50mm/Φ38mm可选频率范围20KHz-60MHz/200KHz-160MHz间距可调范围≥15mm频率指示误差3×10-5±1个字夹具插头间距25mm±0.01mm主电容调节范围30-500/18-220pF测微杆分辨率0.001mm主调电容误差1%或1pF夹具损耗角正切值≦4×10-4 （1MHz）Q测试范围2～1023 介电常数测试仪附表二,LKI-1电感组典型测试数据 线圈号测试频率Q值分布电容p电感值9100KHz989.425mH8400KHz13811.44.87mH7400KHz202160.99mH61MHz19613252μH52MHz1988.749.8μH44.5MHz231710μH312MHz1936.92.49μH212MHz2296.40.508μH125MHz50MHz2332110.90.125μH介电常数介质损耗（介质损耗角）测试仪 型号：GDAT-C一.介电常数测试仪主要特点：空洞共振腔适用于CCL/印刷线路板，薄膜等非破坏性低介电损耗材料量测。 印电路板主要由玻纤与环氧树脂组成的, 玻纤介电常数为5~6, 树脂大约是3, 由于树脂含量, 硬化程度, 溶剂残留等因素会造成介电特性的偏差, 传统测量方法样品制作不易, 尤其是薄膜样品（ 小于 10 mil） 量测值偏低,。 二.介电常数测试仪主要技术特性：介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至最低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。三.介电常数测试仪仪器技术指标：☆Q值测量：a．Q值测量范围：2～1023。 b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。c．标称误差 频率范围：20kHz～10MHz； 固有误差：≤5％±满度值的2％；工作误差：≤7％±满度值的2％； 频率范围：10MHz～60MHz； 固有误差：≤6％±满度值的2％；工作误差：≤8％±满度值的2％。☆电感测量：a．测量范围：14.5nH~8.14H。b．分 档：分七个量程。 0.1～1μH， 1～10μH， 10～100μH， 0.1～lmH， 1～10mH， 10～100mH， 100 mH～1H。☆电容测量：a．测量范围：1～460pF（460pF以上的电容测量见使用规则）；b．电容量调节范围 主调电容器：30～500pF； 准 确 度：150pF以下±1.5pF；150pF以上±1％； 注：大于直接测量范围的电容测量见使用规则☆振荡频率：a．振荡频率范围：10kHz～50MHz；b．频率分段（虚拟）10～99.9999kHz100～999.999kHz1～9.99999MHz10～60MHzc．频率误差：3×10-5±1个字。☆Q合格指示预置功能，预置范围：5～1000。☆仪器正常工作条件a. 环境温度：0℃～+40℃； b．相对湿度：80％； c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。 ☆其他a．消耗功率：约25W； b．净重：约7kg； c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。☆ Q合格指示预置功能预置范围：5～1000。四、介电常数测试仪主要配置：a.测试主机一台；b.电感9只；c.夹具一 套附表 电感组典型测试数据五.介电常数测试仪仪器特点：☆接线简单（正接法两根线，反接可使用一根线），所有电缆线均有接地屏蔽，所以都能拖地使用，测量电压缓升、缓降，全自动测量，结果直读，无须换算。☆多种测量方式 可选择正/反接线、内/外标准电容器和内/外试验电压进行测量。正接线可测量高压介损。☆ 抗震性能 仪器可承受长途运输中强烈震动颠簸而不会损坏。☆ 抗干扰能力强 采用自动跟踪干扰抵偿电路，将矢量运算法与移相法结合，有效地消除强电场干扰对测量的影响，适用于500kV及其以下电站的现场试验。☆CVT测量 独特自激法测量CVT功能，不需外加任何设备，可完成不可拆头CVT的测量。一次接线（三根电缆，不用倒线），一个测量过程（大约1分钟），两个最终测量结果（C1和C2的介损及电容值）。测量过程中文显示，能实时监测自激电流值和试验电压（高压）值。能消除引线对测试的影响，测量结果准确可靠。☆ 安全措施（1）高压保护：试品短路、击穿或高压电流波动，能迅速切断高压输出。（2）CVT保护：设定自激电压的过流点，一旦超出设置的电流值，仪器自动退出测量，不会损坏设备。（3）接地检测：仪器有接地检测功能，未接地时不能升压测量。（4）防误操作：具备防误操作设计，能判别常见接线错误，安全报警。（5）防“容升”：测量大容量试品时会出现电压抬高的“容升”效应，仪器能自动跟踪输出电压，保持试验电压恒定。☆ VFD显示 采用新颖的大屏幕VFD点阵显示器，在严冬和盛夏都能清晰显示。全中文操作菜单，操作提示各种警告信息，直观明了，不需查阅说明书即可操作。☆打印 仪器附有微型打印机，以中文方式打印输出测量结果及状态。☆RS232 仪器具有RS232接口，与计算机连接便于数据的统计和处理及保存。☆可选购与计算机通信应用程序。 介电常数测试仪介绍：一、 概述介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至最低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。二、介电常数测试仪技术指标 1．Q值测量 a．Q值测量范围：2～1023。 b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。 c．标称误差项 目GDAT-A频率范围20kHz～10MHz固有误差≤5％±满度值的2％工作误差≤7％±满度值的2％频率范围10MHz～60MHz固有误差≤6％±满度值的2％工作误差≤8％±满度值的2％ 2．电感测量范围：14.5nH~8.14H3．电容测量：1~ 460项 目GDAT-A直接测量范围1～460pF主电容调节范围准确度30～500pF150pF以下±1.5pF；150pF以上±1％ 注：大于直接测量范围的电容测量见使用规则 4．信号源频率覆盖范围项 目GDAT-A频率范围10kHz～50MHz频率分段（虚拟）10～99.9999kHz100～999.999kHz1～9.99999MHz10～60MHz 频率指示误差3×10-5±1个字 5．Q合格指示预置功能预置范围：5～1000。 6．Q表正常工作条件 a. 环境温度：0℃～+40℃b．相对湿度：80％； c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。7．其他 a．消耗功率：约25W； b．净重：约7kg； c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。8．产品配置：a.测试主机一台；b.电感9只；c.夹具一 套 附表 电感组典型测试数据线圈号测试频率Q值分布电容p电感值9100KHz989.425mH8400KHz13811.44.87mH7400KHz202160.99mH61MHz19613252μH52MHz1988.749.8μH44.5MHz231710μH312MHz1936.92.49μH212MHz2296.40.508μH125MHz50MHz2332110.90.125μH 产品名称：工频介电常数介质损耗测试仪型号：BDAT-B一、主要用于测量高压工业绝缘材料的介质损失角的正切值及电容量。其采用了西林电桥的经典线路。二、主要可以测量电容器，互感器，变压器，各种电工油及各种固体绝缘材料在工频高压下的介质损耗（ tg）和电容量（ Cx）以，其测量线路采用“正接法”即测量对地绝缘的试品。由于电桥内附有一个2500KV的高压电源及一台高压标准电容器，并将副桥和检流计与高压电桥有机的结合在一起，所以本电桥特别适应测量各类绝缘油和绝缘材料的介损（tg）及介电常数（ε）。 桥体本身带有5Kv/100pF标准电容,测量材料介损更为方便。桥体内附电位跟踪器及指另仪，外围接线及少。 桥体采用了多样化的介损测量线路。三、技术指标测量范围及误差 在Cn＝100pF R4＝3183.2（?）（即10K/π）时 测量项目 测量范围 测量误差 电容量Cx 40pF--20000pF ±0.5% Cx±2pF 介质损耗tg? 0～1 ±1.5％tg?x±0.0001 在Cn＝100pF R4＝318.3（?）（即1K/π）时 测量项目 测量范围 测量误差 电容量Cx 4pF--2000pF ±0.5% Cx±3pF 介质损耗tg? 0～0.1 ±1.5％tg?x±0.0001Ｃｘ＝Ｒ４×Ｃｎ／Ｒ３tg?＝ω?Ｒ４?Ｃ４电容量及介损显示精度： 电容量： ±0.5%×tgδx±0.0001。 介 损： ±0.5％tg?x±1×10-4高压电源技术特性电压输出：0～5000V/50Hz高压电流输出：0～10mA内置标准电容器 电容量为100pFtg小于5X10-5 QS37 型高压电桥1.概述：QS37 型西林电桥,主要用于测量高压工业绝缘材料的介质损失角的正切值及电容量。其采用了西林电桥的经典线路。主要可以测量电容器，互感器，变压器，各种电工油及各种固体绝缘材料在工频高压下的介质损耗（tg） 和电容量（ Cx）以，其测量线路采用“正接法”即测量对地绝缘的试品。电桥由桥体、指另仪、电位跟踪器组成，本电桥特别适应测量各类绝缘油和绝缘材料的介损（）及介电常数（ε）。2.技术指标：2.1 测量范围及误差本电桥的环境温度为 20±5℃，相对湿度为 30％－80％条件下，应满足下列表中的技术指示要求。在 Cn＝100pFR4＝3183.2（）（即 10K/π）时测量项目测量范围测量误差电容量 Cx40pF--20000pF±0.5% Cx±2pF介质损耗tg0～1±1.5％tg x士0.0001 在 Cn＝100pF R4＝318.3（）（即 1K/π）时测量项目测量范围测量误差电容量 Cx4pF--2000pF±0.5% Cx±3pF介质损耗tg0～0.1±1.5％tg x士0.0001

介质损耗因数测试仪低频信号源频率覆盖范围 AC频率范围10kHz～60MHz0.1～160MHzCH110～99.9999kHz0.1～0.999999MHzCH2100～999.999kHz1～9.99999MHzCH31～9.99999MHz10～99.9999MHzCH410～60MHz100～160MHz频率指示误差3×10-5±1个字介质损耗因数测试仪低频1. Q合格指示预置功能：预置范围：5～10002. Q表正常工作条件a. 环境温度：0℃～+40℃；b．相对湿度：80％；c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。7．其他a．消耗功率：约25W； b．净重：约7kg；c. 外型尺寸：（宽×高×深）mm：380×132×280。介质损耗因数测试仪低频A/C 型 Q 表的工作原理框图如图二所示。它以ATM128 单片机作为控制核心，实现对各种功能的控制。DDS 数字直接合成信号源为 Q 值测量提供了一个优质的高频信号。信号源输出一路送到程控衰减器和自动稳幅放大控制单元，该单元根据 CPU 的指令对信号衰减后送往信号激励放大器，同时对信号检波后送出一直流控制信号到压控信号源实现自动稳幅。信号激励部分输出送到一个宽带分压器， 由分压器馈给测试调谐回路一个恒定幅度的信号。当测试回路处于谐振状态时，在调谐电容 CT 两端的信号幅度将是分压器提供的信号幅度 Q 倍。在 CT 两端取得的调谐信号被信号放大单元适当放大后送到检波和数字取样单元，检波后送到控制中心 CPU 去进行数据处理。介质损耗因数测试仪低频特点：优化的测试电路设计使残值更小◆ 高频信号采用数码调谐器和频率锁定技术◆ LED 数字读出品质因数，手动/自动量程切换◆ 自动扫描被测件谐振点，标频单键设置和锁定，大大提高测试速度作为新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前国内高的160MHz。1 双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。2 双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。3 双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。4 自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。5 全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。6 DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。7 计算机自动修正技术和测试回路优化 —使测试回路 残余电感减至低，彻底 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。标准配置：高配Q表 一只 试验电极 一只 （c类）电感 一套（9只）电源线 一条说明书 一份合格证 一份保修卡 一份为什么介电常数越大，绝缘能力越强？因为物质的介电常数和频率相关，通常称为介电系数。介电常数又叫介质常数，介电系数或电容率，它是表示绝缘能力特性的一个系数。所以理论上来说，介电常数越大，绝缘性能就越好。注：这个性质不是绝对成立的。对于绝缘性不太好的材料(就是说不击穿的情况下,也可以有一定的导电性)和绝缘性很好的材料比较,这个结论是成立的。但对于两个绝缘体就不一定了。介电常数反映的是材料中电子的局域(local)特性,导电性是电子的全局(global)特征.不是一回事情的。补充：电介质经常是绝缘体。其例子包括瓷器(陶器)，云母，玻璃，塑料，和各种金属氧化物。有些液体和气体可以作为好的电介质材料。干空气是良好的电介质，并被用在可变电容器以及某些类型的传输线。蒸馏水如果保持没有杂质的话是好的电介质，其相对介电常数约为80。介质损耗因数测试仪低频电介质在外电场作用下，其内部会有发热现象，这说明有部分电能已转化为热能耗散掉，电介质在电场作用下，在单位时间内因发热而消耗的能量称为电介质的损耗功率，或简称介质损耗（diclectric loss）。介质损耗是应用于交流电场中电介质的重要品质指标之一。介质损耗不但消耗了电能，而且使元件发热影响其正常工作。如果介电损耗较大，甚至会引起介质的过热而绝缘破坏，所以从这种意义上讲，介质损耗越小越好。形式各种不同形式的损耗是综合起作用的。由于介质损耗的原因是多方面的，所以介质损耗的形式也是多种多样的。介电损耗主要有以下形式：1）漏导损耗实际使用中的绝缘材料都不是完善的理想的电介质，在外电场的作用下，总有一些带电粒子会发生移动而引起微弱的电流，这种微小电流称为漏导电流，漏导电流流经介质时使介质发热而损耗了电能。这种因电导而引起的介质损耗称为“漏导损耗”。由于实阿的电介质总存在一些缺陷，或多或少存在一些带电粒子或空位，因此介质不论在直流电场或交变电场作用下都会发生漏导损耗。在介质发生缓慢极化时（松弛极化、空间电荷极化等），带电粒子在电场力的影响下因克服热运动而引起的能量损耗。　　一些介质在电场极化时也会产生损耗，这种损耗一般称极化损耗。位移极化从建立极化到其稳定所需时间很短（约为10-16～10-12s），这在无线电频率（5×1012Hz 以下）范围均可认为是极短的，因此基本上不消耗能量。其他缓慢极化（例如松弛极化、空间电荷极化等）在外电场作用下，需经过较长时间（10-10s或更长）才达到稳定状态，因此会引起能量的损耗。若外加频率较低，介质中所有的极化都能完全跟上外电场变化，则不产生极化损耗。若外加频率较高时，介质中的极化跟不上外电场变化，于是产生极化损耗。 [2]3）电离损耗　　电离损耗（又称游离损耗）是由气体引起的，含有气孔的固体介质在外加电场强度超过气孔气体电离所需要的电场强度时，由于气体的电离吸收能量而造成指耗，这种损耗称为电离损耗。4）结构损耗在高频电场和低温下，有一类与介质内邻结构的紧密度密切相关的介质损耗称为结构损耗。这类损耗与温度关系不大，耗功随频率升高而增大。试验表明结构紧密的晶体成玻璃体的结构损耗都很小，但是当某此原因（如杂质的掺入、试样经淬火急冷的热处理等）使它的内部结构松散后。其结构耗就会大大升高。5）宏观结构不均勾性的介质损耗工程介质材料大多数是不均匀介质。例如陶瓷材料就是如此，它通常包含有晶相、玻璃相和气相，各相在介质中是统计分布口。由于各相的介电性不同，有可能在两相间积聚了较多的自由电荷使介质的电场分布不均匀，造成局部有较高的电场强度而引起了较高的损耗。但作为电介质整体来看，整个电介质的介质损耗必然介于损耗大的一相和损耗小的一相之间。表征：电介质在恒定电场作用下，介质损耗的功率为　　W=U2/R=（Ed）2S/ρd=σE2Sd定义单位体积的介质损耗为介质损耗率为ω=σE2在交变电场作用下，电位移D与电场强度E均变为复数矢量，此时介电常数也变成复数，其虚部就表示了电介质中能量损耗的大小。D，E，J之间的相位关系图D，E，J之间的相位关系图如图所示，从电路观点来看，电介质中的电流密度为J=dD/dt=d（εE）/dt=Jτ+iJe式中Jτ与E同相位。称为有功电流密度，导致能量损耗；Je，相比较E超前90°，称为无功电流密度。

QS37A介电常数介质损耗测试仪介质损耗及介电常数测试仪正常工作条件a. 环境温度：0℃～+40℃；b．相对湿度 lt 80％；c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。QS37A介电常数介质损耗测试仪频率范围 20kHz～10MHz；固有误差 ≤5％±满度值的2％；工作误差 ≤7％±满度值的2％；频率范围 10MHz～60MHz；固有误差 ≤6％±满度值的2％；工作误差 ≤8％±满度值的2％。QS37A介电常数介质损耗测试仪并能恒定较长时间，以便通过高压电桥对绝缘油进行介质损耗因素（tgδ）、相对介电常数（er）进行精密测量。本产品温度显示采用内外温同时显示，加热控制采用两片单片机分别对内、外加热器进行加热控制。控制过程采用PID模糊逻辑控制，能消减电网电压、环境温度变化等的影响，具有控温超调量小、控温速度快的优点。温度设置采用数字键盘输入方式，使设定误差真正达到零QS37A介电常数介质损耗测试仪结构采用了双层屏蔽。并通过辅桥的协助平衡，消减寄生参数对电桥平衡的影响。辅桥由电位自动电位跟踪机器与内层屏蔽（S）组成。自动跟踪机器由电子元器件组成。它在桥顶B处取一输入电压，通过放大后，在内屏蔽（S）产生一个与B电位相等的电压。当电桥在平衡时，A、B、S三点电位必然相等，从而达到自动跟踪的目的。本电桥在平衡过程中，辅桥采用自动电位跟踪，在主桥平衡过程的同时，辅桥也自动跟踪始终处于平衡的状态，用户只要对主桥平衡进行操作能得到可靠的所需数据。同时也有效的抑制了电压波动对平衡所带来的影响。在指零部分，采用了指针式电表指示，视觉直观，分辨清楚QS37A介电常数介质损耗测试仪介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε)，可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。　　使用方法　　高频Q表是多用途的阻抗测量仪器，为了提高测量精度，除了使Q表测试回路本身残余参量尽可能地小，使耦合回路的频响尽可能地好之外，还要掌握正确的测试方法和残余参数修正方法。　　1．测试注意事项　　a．本仪器应水平安放；　　b．如果你需要较精确地测量，请接通电源后，预热30分钟；　　c．调节主调电容或主调电容数码开关时，当接近谐振点时请缓调；　　d．被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短，足够粗，并应接触良好、可靠，以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差；　　e．被测件不要直接搁在面板顶部，离顶部一公分以上，必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫；　　f．手不得靠近试件，以免人体感应影响造成测量误差，有屏蔽的试件，屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。

仪器简介：医用贴剂保持力试验仪_膏药持粘仪_巴布膏持粘性测试仪 适用于压敏胶粘带、医用贴剂、不干胶标签、保护膜等产品进行持粘性测试试验。该仪器执行GB 4851、JIS Z0237、ASTM D3654等标准测试要求。了解详细信息，敬请致电济南兰光0531-85068566医用贴剂保持力试验仪_膏药持粘仪_巴布膏持粘性测试仪主要特点微电脑控制、LCD液晶显示薄膜按键、PVC操作面板自动计时、锁定医用贴剂保持力试验仪_膏药持粘仪_巴布膏持粘性测试仪测试原理把贴有胶粘试样的试验板垂直吊挂在试验架上，下端悬挂规定重量的砝码，用一定时间后试样粘脱的位移量，或试样完全脱离的时间来表征胶粘试样抵抗拉脱的能力。医用贴剂保持力试验仪_膏药持粘仪_巴布膏持粘性测试仪技术参数标准压辊：2000g±50g砝 码：1000g±10g（含加载板重量）试 验 板：60mm (L)×40mm (B)×1.5mm (D)计时范围：0～100h（标准配置）0～10000h（可选）工 位 数：6件外形尺寸：600mm (L)×240mm (B)×400mm (H)电 源：AC 220V 50Hz净 重：20kg

CZY-GY药典初粘性测试仪_贴剂初粘性仪_巴布膏初粘测试仪是一款按照中国药典黏附力测定法之规定设计制造的初粘性测试仪，适用于贴膏剂、贴剂等产品的初粘力测试。CZY-GY药典初粘性测试仪_贴剂初粘性仪_巴布膏初粘测试仪产品特点：采用滚球斜坡停止法的测试原理，测试试样的瞬间粘附性能完全按照国家标准设计的测试结构和钢球，确保了测试数据的高精准性测试倾斜角度可以按照用户的需求进行自由调整测试原理：采用滚球斜坡停止法，通过钢球和试样粘性面之间以微小压力发生短暂接触时，胶粘带对钢球的粘附作用来测试试样初粘性，根据试样能够粘住的最大球号钢球来评价其初粘性的大小。CZY-GY药典初粘性测试仪_贴剂初粘性仪_巴布膏初粘测试仪参照标准：中国药典2015版（黏附力测定法）、GB/T 4852测试应用：基础应用——适用于医用贴膏剂、贴剂等的初粘力测试CZY-GY药典初粘性测试仪_贴剂初粘性仪_巴布膏初粘测试仪技术参数：测试倾角：0～45°台面宽度：120 mm试区宽度：80 mm标准钢球：1/32英寸～2英寸（共46颗）外形尺寸：580 mm (L)×150 mm (W)×180 mm (H)净重：6 kg

介电常数介质损耗测试仪LJD-BLJD-B介电常数测试仪是我公司新一代通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器。介电常数测试仪以单片计算机作为仪器的控制、测量核心，真正实现了介质损耗及介电常数测试仪的数字化，电容、电感、Q值、信号源频率都在一个液晶屏上展示出来。在你操作时，再也不用去注意量程和换算单位。在任何频率下，只要能找到谐振点，都能直接读出电感、电容值，大大扩展了电感的测量范围，而不再是固定的几个频率下才能测出电感值的大小。介电常数测试仪采用DDS数字直接合成方式的内部信号源，具有信号失真小，频率精确、信号幅度稳定的优点，更保证了测量精度的精确性。介电常数测试仪还采用了标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程手动或自动转换，自动稳幅等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至最di，使得新表在使用时更为方便，测量值更为精确。 介电常数测试仪能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。该仪器广泛地用于科研机关、学校、工厂等单位。 二、工作特性1．Q值测量a．Q值测量范围：2～1023。b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。c．标称误差频率范围20kHz～10MHz；固有误差≤5％±满度值的2％；工作误差≤7％±满度值的2％；频率范围10MHz～60MHz； 固有误差≤6％±满度值的2％；工作误差≤8％±满度值的2％。2．电感测量范围：14.5nH~8.14H3．电容测量： 1~ 460直接测量范围 1～460pF主电容调节范围 准确度 30～500pF 150pF以下±1.5pF； 150pF以上±1％注：大于直接测量范围的电容测量见使用规则 4．信号源频率覆盖范围频率范围10kHz～50MHz频率分段（虚拟）10～99.9999kHz 100～999.999kHz 1～9.99999MHz 10～60MHz 频率指示误差3×10-5±1个字5．Q合格指示预置功能预置范围：5～1000。 6．介质损耗及介电常数测试仪正常工作条件a. 环境温度： 0℃～+40℃；b．相对湿度： 80％；c．电源： 220V±22V，50Hz±2.5Hz。7．其他a．消耗功率： 约25W；b．净重： 约7kg；c. 外型尺寸： （l×b×h）mm：380×132×280。

橡胶介质损耗因数测试仪先进的高频感应加热方式，加热均匀、速度快、控制方便. 采用全数字技术,智能自动化测量 大屏幕液晶显示,全中文菜单 ,测量结果可以打印输出.1.信号源: DDS数字合成信号 100KHZ-160MHZ2.信号源频率精度3×10-5 ±1个字,6位有效数3．Q值测量范围：1～10234．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；5．电感测量范围：1nH～140mH 自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能6．电容直接测量范围：1pF～25nF 7．主电容调节范围： 17～240pF 8．准确度 150pF以下±1pF；150pF以上±1% 9．信号源频率覆盖范围100kHz～160MHz10．合格指示预置功能范围：5～1000极片尺寸： 38mm极片间距可调范围：≥15mm夹具插头间距：25mm±0.01mm夹具损耗正切值≤4×10－4 （1MHz）测微杆分辨率：0.001mm介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至最低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。仪器遵从标准：GB/T 5594.4-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法　第4部分：介电常数和介质损耗角正切值测试方法。

塑料损耗指数测试仪 足标准：GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的方法塑料损耗指数测试仪~GDAT—A~ VFD显示 采用新颖的大屏幕VFD点阵显示器，在严冬和盛夏都能清晰显示。全中文操作菜单，操作提示各种警告信息，直观明了，不需查阅说明书即可操作。打印 仪器附有微型打印机，以中文方式打印输出测量结果及状态。RS232 仪器具有RS232接口，与计算机连接便于数据的统计和处理及保存。可选购与计算机通信应用程序。 塑料损耗指数测试仪~GDAT—A~ 电介质的用途 电介质一般被用在两个不同的方面:用作电气回路元件的支撑，并且使元件对地绝缘及元件之间相互绝缘 用作电容器介质。 技术参数：1．Q值测量范围：1—1023；2．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；3．电感测量范围：1nH—140mH；4．电容直接测量范围：1pF～25nF；5．主电容调节范围：17pF—240pF6．准确度?150pF以下±1pF；150pF以上±1%7．信号源频率覆盖范围100kHz—160MHz；8．合格指示预置功能范围：5～10009．环境温度：0℃～+40℃；10．消耗功率：约25W；电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。11.信号源:100KHZ-160MHZ12.提供厂家授权书原件及产品彩页。13.电感组LKI-1，分别有0.05uH?、0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH十个电感组成。14.?介质损耗测试夹具：A:4位数显式调节微杆；B:极片尺寸：Φ50mm?或Φ38mm（二选一）；C:夹具损耗正切值≤4×10－4?（1MHz）。15.液体杯直径48mm?深度7mm,可与S916下极片互换使用。16.夹具工作特性极片尺寸：??Φ50mm/Φ38mm可选；极片间距可调范围：≥15mm 夹具插头间距：25mm±0.01mm 夹具损耗正切值：≤4×10－4?（1MHz）；测微杆分辨率：≤0.001mm。17.配置：主机 一台电感 一套夹具 一套 主要技术特性：介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε)，可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至 低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。 低频电桥 一般为高压电桥，这不仅是由于灵敏度的缘故，也因为在低频下正是高电压技术特别对电介质损耗关注的问题。电容臂和测量臂两者的阻抗大小在数量级上相差很多，结果，绝大部分电压都施加在电容Cx和 C}上，使电压分配不平衡 上面给出的电桥平衡条件只是当低压元件对高压元件屏蔽时才成立。同时，屏蔽必须接地，以保证平衡稳定。如图A. 2所示。屏蔽与使用被保护的电容 C、和 C、是一致的，这个保护对于Ch来说是必不可少的。 由于选择不同的接地方法，实际上形成了两类电桥。 电极系统 1 加到试样上的电极 电极可选用 5.1.3中任意一种。如果不用保护环。而且试样上下的两个电极难以对齐时，其中一个电极应比另一个电极大些。已经加有电极的试样应放置在两个金属电极之间，这两个金属电极要比试样上的电极稍小些。对于平板形和圆柱形这两种不同电极结构的电容计算公式以及边缘电容近似计算的经验公式由表1给出. 对于介质损耗因数的测量，这种类型的电极在高频下不能满足要求，除非试样的表面和金属板都非常平整。图 1所示的电极系统也要求试样厚度均匀2 试样上不加电极 表面电导率很低的试样可以不加电极而将试样插人电极系统中测量，在这个电极系统中，试样的一侧或两侧有一个充满空气或液体的间隙。 平板电极或圆柱形电极结构的电容计算公式由表 3给出。 下面两种型式的电极装置特别合适2.1 空气填充测微计电极 当试样插人和不插人时，电容都能调节到同一个值 ，不需进行测量系统的电气校正就能测定电容率。电极系统中可包括保护电极.2.2 流体排出法 在电容率近似等于试样的电容率，而介质损耗因数可以忽略的一种液体内进行测量，这种测量与试样厚度测量的精度关系不大。当相继采用两种流体时，试样厚度和电极系统的尺寸可以从计算公式中消去 试样为与试验池电极直径相同的圆片，或对测微计电极来说，试样可以比电极小到足以使边缘效应忽略不计 在测微计电极中，为了忽略边缘效应，试样直径约比测微计电极直径小两倍的试样厚度。 维修1．新购仪器的检查新购的仪器 能先用LKI-1电感组，将各个电感在各个不同频率测试Q值，把测试的情况，例使用的电感号、测试频率Q读数、电容读数等多次测得数及测试环境条件逐一详细记录，并把记录保存起来，以供以后维修时作参考。LKI-1电感组是测试时作辅助电感用的，不能把这些电感当作高精度的标准电感看待。随着测试环境条件不同，测得电感器Q值和分布电容可能略有不同。2．使用和保养高频Q表是比较精密的阻抗测量仪器，在合理使用和注意保养情况下，才能保证长期稳定和较高的测试精度。a．熟悉本说明书，正确地使用仪器；b．使仪器经常保持清洁、干燥；c．本仪器保用期为18个月，如发现机械故障或失去准确度，可以原封送回本厂，免费修理。 试验步骤1 试样的制备 试样应从固体材料上截取，为了满足要求，应按相关的标准方法的要求来制备。 应精确地测量厚度，使偏差在士(0. 2%士。.005 mm)以内，测量点应均匀地分布在试样表面。必要时，应测其有效面积。2 条件处理 条件处理应按相关规范规定进行。3 测量 电气测量按本标准或所使用的仪器(电桥)制造商推荐的标准及相应的方法进行。 在 1 MHz或更高频率下，必须减小接线的电感对测量结果的影响。此时，可采用同轴接线系统(见图 1所示)，当用变电抗法测量时，应提供一个固定微调电容器。 试验报告 试验报告中应给出下列相关内容: 绝缘材料的型号名称及种类、供货形式、取样方法、试样的形状及尺寸和取样 日期(并注明试样厚度和试样在与电极接触的表面进行处理的情况) 试样条件处理的方法和处理时间 电极装置类型，若有加在试样上的电极应注明其类型 测量仪器 试验时的温度和相对湿度以及试样的温度 施加的电压 施加的频率 相对电容率ε(平均值) 介质损耗因数 tans(平均值) 试验 日期 相对电容率和介质损耗因数值以及由它们计算得到的值如损耗指数和损耗角，必要时，应给出与温度和频率的关系。

材料介电常数介质损耗测试仪HRJD技术参数：1．Q值测量a．Q值测量范围：2～1023。b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。c．标称误差 频率范围（100kHz～10MHz）： 频率范围（10MHz～160MHz）： 固有误差：≤5％±满度值的2% 固有误差：≤6％±满度值的2% 工作误差：≤7％±满度值的2% 工作误差：≤8％±满度值的2%2．电感测量范围：4.5nH~7.9mH3．电容测量：1~205 主电容调节范围：18～220pF 准确度：150pF以下±1.5pF； 150pF以上±1% 注：大于直接测量范围的电容测量见后页使用说明4. 信号源频率覆盖范围 频率范围CH1:0.1～0.999999MHz, CH2: 1～9.99999MHz, CH3:10～99.9999MHz, CH1 :100～160MHz,5．Q合格指示预置功能: 预置范围：5～1000。6．B-测试仪正常工作条件a. 环境温度：0℃～+40℃；b．相对湿度：80％；c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。存在界面极化时，自由离子的数目随电场下，只要电介质中不出现局部放电，电容率和介质损耗因数与电场强度无关.电容器安装运行海拔不超过1000米 使用周围空气温度于±3%电容器温度系数 ≤ 3×10-5 /℃电容器压力系数 ≤ 3×10-3Mpa电容器的损耗角正切值不大于 1×10-5 、2×10-5 、5×10-5 三档。电容器内充SF6气体。在20℃时 压力为0.4±0.1MpaRY2电极材料介电常数介质损耗测试仪HRJD电桥测量灵敏度 电桥在使用过程中，灵敏度直接影响电桥平稳衡的分辨程度，为保证测量准确度，希望电桥灵敏度达到一定的水平。通常情况下电桥灵敏度与测量电压，标准电容量成正比。 在下面的计算公式中，用户可根据实际情况估算出电桥灵敏度水平，在这个水平上的电容与介质损耗因数的微小变化都能够反应出来。 ΔC/C或Δtgδ=Ig/UωCn(1+Rg/R4+Cn/Cx)式中: U 为测量电压 伏特 (V) ω为角频率2πf=314(50Hz) Cn标准电容器容量 法拉(F) Ig通用指零仪的电流5×10-10 安培(A) Rg平衡指零仪内阻约1500 欧姆(Ω) R4桥臂R4阻值3183 欧姆(Ω) Cx被测试品电容值 法拉(pF)材料介电常数介质损耗测试仪HRJD特点：1 优化的测试电路设计使残值更小2 高频信号采用数码调谐器和频率锁定技术3 LED 数字读出品质因数，手动/自动量程切换4 自动扫描被测件谐振点，标频单键设置和锁定，大大提高测试速度材料介电常数介质损耗测试仪HRJD使用方法高频Q表是多用途的阻抗测量仪器，为了提高测量精度，除了使Q表测试回路本身残余参量尽可能地小，使耦合回路的频响尽可能地好之外，还要掌握正确的测试方法和残余参数修正方法。1．测试注意事项a．本仪器应水平安放；b．如果你需要较准确地测量，请接通电源后，预热30分钟；c．调节主调电容或主调电容数码开关时，当接近谐振点时请缓调；d．被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短，足够粗，并应接触良好、可靠，以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差；e．被测件不要直接搁在面板顶部，离顶部一公分以上，必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫；f．手不得靠近试件，以免人体感应影响造成测量误差，有屏蔽的试件，屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。计算公式Cx=R4× Cn / R3 R4[Ω] R3[Ω] Cn[pF] Cx[pF]tgδ=ωR4C4 R4[Ω] C4[F]当R4=10K/πtgδ=C4当R4=1K/πtgδ=0.1C4我们采取相对固定R4电阻，分别调节R3和C4使桥跟平衡，从而测得试品的电容值Cx和介质损耗tg。本电桥为了直读出损耗值，取电阻R4的阻值为角频率（f=50Hz）若干倍。正常工作条件a. 环境温度：0℃～+40℃；b．相对湿度：80％；c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。d．消耗功率：约25W；e．净重：约7kg；f. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。材料介电常数介质损耗测试仪HRJD特点：1 优化的测试电路设计使残值更小2 高频信号采用数码调谐器和频率锁定技术3 LED 数字读出品质因数，手动/自动量程切换4 自动扫描被测件谐振点，标频单键设置和锁定，大大提高测试速度使用方法高频Q表是多用途的阻抗测量仪器，为了提高测量精度，除了使Q表测试回路本身残余参量尽可能地小，使耦合回路的频响尽可能地好之外，还要掌握正确的测试方法和残余参数修正方法。1．测试注意事项a．本仪器应水平安放；b．如果你需要较精确地测量，请接通电源后，预热30分钟；c．调节主调电容或主调电容数码开关时，当接近谐振点时请缓调；d．被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短，足够粗，并应接触良好、可靠，以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差；e．被测件不要直接搁在面板顶部，离顶部一公分以上，必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫；f．手不得靠近试件，以免人体感应影响造成测量误差，有屏蔽的试件，屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。2．高频线圈的Q值测量（基本测量法）电感：线圈号 测试频率 Q值 分布电容p 电感值 9 100KHz 98 9.4 25mH 8 400KHz 138 11.4 4.87mH 7 400KHz 202 16 0.99mH 6 1MHz 196 13 252μH 5 2MHz 198 8.7 49.8μH 4 4.5MHz 231 7 10μH 3 12MHz 193 6.9 2.49μH 2 12MHz 229 6.4 0.508μH 1 25MHz，50MHz 233，211 0.9 0.125μH陶瓷材料的介质损耗主要来源于电导损耗、松弛质点的极化损耗和结构损耗。此外，表面气孔吸附水分、油污及灰尘等造成的表面电导也会引起较大的损耗。在结构紧密的陶瓷中，介质损耗主要来源于玻璃相。为了改善某些陶瓷的工艺性能，往往在配方中引人此易熔物质（如黏土），形成玻璃相，这样就使损耗增大。如滑石瓷、尖晶石瓷随黏土含量增大，介质损耗也增大。因面一般高频瓷，如氧化铝瓷、金红石等很少含有玻璃相。大多数电陶瓷的离子松弛极化损耗较大，主要的原因是：主晶相结构松散，生成了缺固济体、多品型转变等。漏导损耗实际使用中的绝缘材料都不是完善的理想的电介质，在外电场的作用下，总有一些带电粒子会发生移动而引起微弱的电流，这种微小电流称为漏导电流，漏导电流流经介质时使介质发热而损耗了电能。这种因电导而引起的介质损耗称为“漏导损耗”。由于实阿的电介质总存在一些缺陷，或多或少存在一些带电粒子或空位，因此介质不论在直流电场或交变电场作用下都会发生漏导损耗。介质损耗：绝缘材料在电场作用下，由于介质电导和介质极化的滞后效应，在其内部引起的能量损耗。也叫介质损失，简称介损。在交变电场作用下，电介质内流过的电流相量和电压相量之间的夹角（功率因数角Φ）的余角δ称为介质损耗角。

高频介电常数介质损耗测试仪一、概述 LJD-C介质损耗及介电常数测试仪能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。该仪器广泛地用于科研机关、学校、工厂等单位。LJD-C介质损耗及介电常数测试仪是中航鼎力公司 研制的产品。它以DDS数字直接合成方式产生信号源，频率达160MHz，信号源具有信号失真小，频率精确、信号幅度稳定的优点，更保证了测量精度的精确性，主电容调节用步进马达控制，频率和电容值可设置，电容、电感、Q值、频率、量程都用数字显示。在某一频率下，只要能找到谐振点，都能直接读出电感、电容值，大大扩展了电感的测量范围，而不再是固定的几个频率下才能测出电感值的大小。LJD-C特有的谐振点频率自动搜索或电容自动搜索功能，能帮助你在使用时快速地找到被测量器件的谐振点，自动读出Q值和其它参数。Q值量程可手动或自动转换。二、工作特性 1．Q值测量 a．Q值测量范围：2～1023。 b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。c．标称误差 频率范围（100kHz～10MHz）： 频率范围（10MHz～160MHz）： 固有误差：≤5％±满度值的2% 固有误差：≤6％±满度值的2% 工作误差：≤7％±满度值的2% 工作误差：≤8％±满度值的2% 2．电感测量范围：4.5nH~7.9mH3．电容测量：1~205 主电容调节范围：18～220pF准确度：150pF以下±1.5pF； 150pF以上±1% 注：大于直接测量范围的电容测量见后页使用说明 4．信号源频率覆盖范围 频率范围CH1:0.1～0.999999MHz, CH2: 1～9.99999MHz, CH3:10～99.9999MHz, CH1 :100～160MHz, 5．Q合格指示预置功能: 预置范围：5～1000。 6．-B测试仪正常工作条件 a. 环境温度：0℃～+40℃； b．相对湿度：80％； c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。 7．其他 a．消耗功率：约25W； b．净重：约7kg； c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。 三、工作原理 1．“Q”的定义 LJD-C测试仪是根据串联谐振原理设计，以谐振电压的比值来定位Q值。“Q”表示元件或系统的“品质因数”，其物理含义是在一个振荡周期内贮存的能量与损耗的能量之比。对于电抗元件(电感或电容)来说，即在测试频率上呈现的电抗与电阻之比。 或 … … … … … … … … … … … (1) 图 一在图（一）所示的串联谐振电路中，所加的信号电压为Ui，频率为f，在发生谐振时： 或 … … … … … … … … … … … … (2) 回路中电流 … … … … … … … … … … … … … … … … … (3)故电容两端的电压 … … … … … … … … … … … … … (4) 即谐振时电容上的电压与输入电压之比为Q。 -B测试仪就是按上述原理设计的。 2．-B测试仪整机工作原理（见图二）图 二 LJD-C型测试仪的工作原理框图如图二所示。它以ATM128单片计算机作为控制核心，实现对各种功能的控制。DDS数字直接合成信号源为Q值测量提供了一个优质的高频信号。信号源输出一路送到程控衰减器和自动稳幅放大控制单元，该单元根据CPU的指令对信号衰减后送往信号激励放大器，同时对信号检波后送出一直流控制信号到压控信号源实现自动稳幅。信号激励部分输出送到一个宽带分压器，由分压器馈给测试调谐回路一个恒定幅度的信号。当测试回路处于谐振状态时，在调谐电容CT两端的信号幅度将是分压器提供的信号幅度Q倍。在CT两端取得的调谐信号被信号放大单元适当放大后送到检波和数字取样单元，检波后送到控制中心CPU去进行数据处理。调谐电容有步进马达带动，根据不同电容值由CPU计算脉冲数去控制马达。电容值可预置并可电容搜索。 工作频率值、频段、主调电容器值、谐振电感值、Q值、Q值比较设置状态、Q值量程、手/自动状态、频率或电容搜索指示、Q值调谐指示带、，都显示液晶屏上，如图三所示。图 三整个显示屏共分为四行 行：左边 信号源频率指示，共6位 右边 信号源虚拟频段指示（1-4） 第二行：左边 调谐电容指示值，4位 右边 电感指示值，4位第三行：左边 Q值指示值 右边 Q值合格比较状态 第四行：左边 Q值量程，手动/自动切换指示/调谐点自动搜索指示右边上部 Q值量程范围指示 右边下部 Q值调谐光带指示 四、结构特性 LJD-C测试仪采用了较低的台式机箱，面板采用PC丝印面板，美观大方。 各主要功能单元，除了显示部分为了显示方便和调谐测试回路、放大单元为了减小分布参数，安装在面板上外，其余都安装在机内底板上。见图四面板示意图。 A．前面板各功能键说明： 四 LJD-C测试仪前面板和外形示意图1．工作频段选择/1按键，每按一次，切换至低一个频段工作；先按12键后,再按此键，功能为数字键1。2. 工作频段选择/2按键，每按一次，切换至高一个频段工作；先按12键后,再按此键，功能为数字键2。3．Q值低一档量程选择（手动方式时有效）/3按键；先按12键后,再按此键，功能为数字键3。4．Q值高一档量程选择（手动方式时有效）/4按键；先按12键后,再按此键，功能为数字键4。5．谐振点频率搜索/5按键，按此键显示屏第四行左部出现SWEEP时，表示仪器正工作在频率自动搜索被测量器件的谐振点，如需退出搜索，再按此键；先按12键后,再按此键，功能为数字键5。6．谐振点电容搜索/6按键，按此键后，电容指示不断在变化、步进马达发出轻微的声响时仪器正工作在电容自动搜索被测量器件的谐振点，如需退出搜索，再按此键；先按12键后,再按此键，功能为数字键6。7．Q值合格范围比较值设定/7按键，按此键后，显示屏第三行右部出现COMP字符，当Q合格时，显示OK，並同时鸣响蜂鸣器，Q不合格时，显示NO。设置Q值合格范围详细说明见后页。先按12键后,再按此键，功能为数字键7。8．Q值量程自动/手动控制方式选择/8按键，按此键后，显示屏第四行左部出现D对应的指示：AUTO（自动），MAN（手动）；先按12键后,再按此键，功能为数字键8。9．数字键9，先按12键后有效。10．数字键0，先按12键后有效。11．小数点键, 先按12键后有效。12．复合键频率/电容按键， 次按下（频率指示数在闪烁）为频率数输入，单位为MHz。例：要输入79.5MHz，按一次此键，频率指示数在闪烁，然后输入79.5，再按一下此键即可。第二次按下（电容指示数在闪烁）为电容数输入，数输入要满4位。例：要输入79.5P，按二次此键，电容指示数在闪烁，然后输入0795，要输入180.5P，输入1805，有效数后为0的，可以不输入0直接再按一下此键结束输入。13．频率调谐数码开关。14．电容调谐数码开关。15．电源开关。16．液晶显示屏。17．测试回路接线柱，AS28563A后边两个为电感接入端，前边两个为外接电容接入端。18．电感测试范围所对应频率范围表。B．后面板各功能键说明 图 五 LJD-C测试仪后面板示意图1．～220V电源输入三芯插座，内含保险丝0.5A／220V。2．信号源工作频率监测输出端（阻抗1kΩ）。五、使用方法高频LJD-C测试仪是多用途的阻抗测量仪器，为了提高测量精度，除了使-B测试仪测试回路本身残余参量尽可能地小，使耦合回路的频响尽可能地好之外，还要掌握正确的测试方法和残余参数修正方法。 1．测试注意事项a．本仪器应水平安放。b．如果你需要较精确地测量，请接通电源后，预热30分钟。c．调节主调电容数码开关时，当接近谐振点时请缓调。d．被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短，足够粗，并应接触良好、可靠，以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差。e．被测件不要直接搁在面板顶部，离顶部一公分以上，必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫。f．手不得靠近试件，以免人体感应影响造成测量误差，有屏蔽的试件，屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。2．高频线圈的Q值测量(基本测量法) A．直接法 a．将被测线圈接在“Lx”接线柱上； b．选择适当的工作频段和工作频率； c．先调调谐电容器到谐振点，即LJD-C测试仪读数达 ，此读数即为被测电感的有效Q值(Qe)，若需得到被测电感的真实Q值(Qt)，则应先测出线圈分布电容C0，然后照下式修正： C1是调谐电容器谐振时读数，如谐振时C1的读数很大，C0只占很小比例，则有效Q值(Qe)和真实Q值(QT)差别可以忽略。当Q值量程选择自动切换时，在调谐时，如遇量程自动转换，应停顿一下，待Q值稳定后，根据读数值变大或变小，确定继续调电容的方向。B．变容法a．照直读法“a-d”进行，记下谐振时电容读数C1和Q1；b．调节主调电容数码开关，使Q值二次指示均为Q1的0.707时，记下此时两次电容读数的差数ΔC。 倘要得到精确结果，则线圈的分布电容应加在C1之内，并应使主调电容作多次偏调，然后取其平均读数。测Q值较高的线圈时，Q值下降到0.707 Q1时，电容偏调很小，读数误差较大，这时可将主电容作较大偏调(10％以内)，记下偏调数ΔC和偏调后的Q值读数Q2，这时Q值表达式为： C. 变频法a．按直读法“a-d”进行，记下谐振时读数C1和Q1以及频率读数f0。b．改变信号源的频率使Q值二次指示为Q1的0.707(一次容性失谐，一次感性失谐)，记下此时二次频率读数差值Δf。这时回路的真实QT为： 考虑到线圈的分布电容时，线圈的有效Q值为： 变频法测量Q值一般表达式(未考虑分布电容)： 注：Δf是频率偏调数，Q1为谐振时-B测试仪读数，Q2是偏调后-B测试仪读数。3．高频线圈电感值的测量a．将被测线圈接在“Lx”接线柱上，接触要良好；b．根据线圈大约电感值，按所需选一个合适的频率以保证能谐振；c．如要得到真实电感数(LT)，必须先测得电感分布电容量C0，如分布电容较小的话，在调到谐振点后，记下主调电容C1，然后再将主调电容量调在“C1+C0”值上，这时度盘的电感读数乘以对应的倍数，就是所求真实电感读数，也可按以下公式计算求得： f被测电感小于1μH时，按上法测得电感值还应减去仪器中测试回路本身剩余电感“L0”(QBG-3D L0=26nH)。4．高频线圈分布电容C0的测量A．倍频率法如线圈的分布电容较大，可用此法作近似测试。将被测线圈按在“Lx”接线柱上，调调谐电容器到 电容数值，调讯号源频率到谐振，令谐振时频率和指示调谐电容分别是f1和C1。然后将讯号源频率调到f2(f2=n f1)，再调电容器度盘到谐振点，此时电容读数为C2，根据下式即可求出分布电容量(测量时微调电容到零)。 如取n=2，则为：C0=（C1－4C2）/ 3若取不同C1进行多次测量后取一个平均值，则测试结果将较为准确。 B．自然频率法(此法可获得较准确的结果) a．将被测线圈接在“Lx”接线柱上； b．将微调电容器度盘调至零，调谐电容器度盘调到 电容值C1； c．调讯号源频率，使回路谐振，该频率为f1； d．取下被测线圈，换上一个能在调谐电容器调节范围内和十倍于f1频率谐振的电感； e．讯号源调到10 f1位置，调节调谐电容器到谐振点； f．将被测线圈接在"Cx”两端，调节调谐电容器达谐振，此时视电容读数是增加还是减小。若增加，则应将振荡器频率调高些，若减小，则频率调低些。 g．再取下被测线圈，调节主调电容达到谐振； h．重复步骤“f”、“g”直到某一频率，被测线圈接上“Cx”两端和不接上均不改变谐振点，这一频率即为被测线圈的自然谐振频率f2，它的C0数值为：C0=C1 (f1／f2)2 注：测量中所需辅助线圈可由LKI-l电感组提供便利。 5．电容器容量的测量 A. 在测量范围内的小于主调电容量的电容器的测量a．选一个适当的谐振电感接到“Lx”的两端；b．将调谐电容器调到 值附近，令这个电容是C1，如未知电容是小数值的，C1应调到较小电容值附近，以便达到尽可能高的分辨率；c．调讯号源的频率，使测试回路谐振，令谐振器Q的读数为Q1；d．将被测电容接在“Cx”两端，调节调谐电容器，使测试电路再谐振，令新的调谐电容值为C2和指示Q值为Q2。被测电容的有效电容为 Cx= C1－C2电容器损耗角正切为 电容器的有效并联电阻为 C0为回路谐振电感的自身电容。B．大于调谐电容量的电容器用可替代法测量a. 取一只适当容量的标准电容量，其容量为C3，将它接在“Cx”接线柱上。b．按5A／a-c各测试步骤；c．取下标准电容器，将被测电容接到"Cx”接线柱，调节调谐电容器到谐振，此时主调电容量读数为C2，则Cx可由下式得到： Cx=C3+ C1－C26．Q合格范围预置功能使用Q合格范围预置功能特别适用于工厂需大批量测试某同一规格元件的Q值，当该元件Q值超过某一给定值或在一定范围内即为合格，这时液晶显示屏显示“OK”，仪器同时呜叫提醒，这样可减轻工人视力疲劳，同时大大加快了测试速度。Q合格范围预置的步骤（例150-170）：a．选择要求的测试频率；b．用一只合格元件或一只辅助线圈调谐主调电容，使Q值读数指示在所需预置Q值位置上；例150，按一下Q值设置键，使显示屏第三行显示“COMP OK”，同时仪器发出呜叫声，Q值大于150值，液晶屏第三行显示“COMP 150”。 c．再调谐主调电容，使Q值读数指示在所需预置Q值位置上；例170，再按一下Q值设置键，液晶屏第三行显示“COMP 170150”，此时Q合格范围预置功能的设置就结束了。d．换上要测试的器件，微调谐振电容至谐振点，如果该器件的Q值在设定范围内（例150-170），Q合格指示“comp OK”，同时仪器发出呜叫。如果该器件的Q值设定超出该范围，Q合格指示“comp NO”，如需取消已设置的合格值，只要再按一下设置键即可。7．谐振点频率自动搜索功能的使用如果你对电感元件无法确定它的数值时，你就可用该功能来帮你寻找出它的谐振频率点。步骤如下：a．把元件接以接线柱上；b．主调电容调到约中间位上；c．按一下频率搜索按键，显示屏左下部显示“FSWEEP”，仪器就进入搜索状态。仪器从 工作频率一直搜索到 工作频率，如果你的元件谐振点在频率覆盖区间内，搜索结束后，将会自动停在元件的谐振频率点附近。如果临时要退出搜索状态，可再按一次搜索键，仪器会退出搜索操作。8．谐振点电容自动搜索功能的使用如果你想在已知的频率找出被测量器件的谐振频率点时，你就可用该功能来帮你寻找出它的谐振点。步骤如下：a．把元件接以接线柱上；b．频率设置为所需的频率；c．按一下电容搜索按键，仪器就进入电容搜索状态，显示屏左下部显示“CSWEEP”，仪器从最小电容一直搜索到 电容，如果你的元件谐振点在电容覆盖区间内，搜索结束后，主电容将会自动停在元件的谐振频率点附近。 如果临时要退出搜索状态，可再按一次搜索键，仪器会退出搜索操作。9．频率调谐开关的使用。LJD-C的频率调谐采用了数码开关，它能辨别使用者的要求，来调节频率变化的速率(频率变化值／档)，在你快速调节该开关时，频率变化速率也加快。当你缓慢调节开关时，频率变化速率也慢下来。因此在调谐时接近所需的频率时，应放缓调节速度。当你调节的频率超出工作频段的频率时，仪器会自动选择低一个或高一个频段工作。六、维修1．新购仪器的检查新购的仪器 能先用LKI-2电感组，将各个电感在各个不同频率测试Q值，把测试的情况，例使用的电感号，测试频率Q读数，电容读数等多次测得数及测试环境条件逐一详细记录，并把记录保存起来，以供以后维修时作参考。LKI-2电感组是供测试时作辅助电感用的，不能把这些电感当作高精度的标准电感看待。随着测试环境条件不同，测得电感器Q值和分布电容可能略有不同。 2．使用和保养高频LJD-C测试仪是比较精密的阻抗测量仪器，在合理使用和注意保养情况下，才能保证长期稳定和较高的测试精度。a．熟悉本说明书，正确地使用仪器；b．使仪器经常保持清洁、干燥；c．本仪器保用期为18个月，如发现机械故障或失去准确度，可以原封送回本厂，免费修理。3．电感组 LKI-2电感组是供测试作辅助用的，它含有10个屏蔽罩屏蔽的电感。这些电感具有较高的Q值。各电感的电感量等数据如附表一。附表一 LKI-2电感组，LJD-C选配电感电感No电感量准确度%Q值≥分布电容约略值10250mH±55015pF925mH±57010pF85mH±510010pF71mH±510014pF6250μH±51509pF550μH±515012pF410μH±51507pF32.5μH±51507pF20.5μH0.05μH2005pF10.1μH0.05μH1005pF配 七、产品的交收检验1．检验环境要求a．环境温度：20℃±2℃ 相对湿度50％；b．供电电源：220V±10V 50Hz±1Hz；c．被检设备要预热30分钟以上。2．检验设备要求a. 设备应在计量后的有效使用期内；b. 检验设备应按仪器规定预热。3．Q值指示检验a．检验设备：BQG-2标准线圈一套；b．把标准Q值线圈接入LJD-C测试仪电感接线柱上；c．选择标准Q值线圈所规定的检定频率；d．LJD-C测试仪的Q值读数的相对误差应符合二.1.C条固有误差所规定。

FluidAI采用数字成像技术，可直接识别被测润滑油中的固体颗粒及其几何轮廓特征。基于其先进的磨粒人工智能识别算法，可准确地对监测设备的润滑油污染程度及设备自身的磨损状态(包含磨损原因分析及磨损程度)进行分析判断，并可以对润滑油中存在的干扰气泡，水滴或纤维物进行识别消除；对润滑油中颗粒进行自动识别并分类，可以对油中疲劳磨损颗粒、滑动磨损颗粒， 及切削磨损颗粒的数量及尺寸分布分析。检测原理：数字成像-铁谱分析法方法标准: 遵循对应的相关ASTM 标准检测池类型 : 内置进样泵，采用透射检测池进样量: ~100毫升测试时间：30秒磨损分类准确性: ＞80%统计分析校准默认方法: 工厂校准外部尺寸：41厘米*32厘米*17厘米（含便携箱）重量：约15公斤（含便携箱）