陶平整度综定仪

TZY陶瓷砖平整度、直角度、边直度综合测试仪 TZY型陶瓷砖综合测定仪是用于测定各种墙面砖、地面砖尺寸及形状特性之仪器，其所测参数包括面砖的边直度、直角度、平整度等几项指标。测定时，只需一次放置被测试件，便能迅速、准确地测出以上几项指标数据。本产品符合：GB/T3810.2-2016， ISO 10545-2-1995《陶瓷砖－尺寸和表面质量的检验》的要求。它是陶瓷砖生产厂家和质量检测部门理想的检测仪器。主要技术参数：1.测量精度：±0.1（mm）2.测量范围：60×60～600×600（mm），～800×800（mm），～1000×1000（mm）供客户选择注明：以上仪器要配套下面标准板才能使用，标准板尺寸与样品尺寸一对一，标准板价格另算陶瓷砖检测用标准板（铝合金材质）1000×1000、800×800、600×600、500×500、400×400、300×300、200×200、300×200、300×152、250×250、152×152、240×60（mm）可按客户要求订制各种规格。上述标准板精度优于0.1mm，有计量检测部门检定证书。主要特点：可选用数显表或连接计算机。

一、大规格陶瓷砖平整度测量仪简介:大规格陶瓷板表面平整度测量仪适用于大规格陶瓷板中心弯曲度、边弯曲度的自动测量。根据国家标准GB/T39156-2020 6.4 大规格陶瓷板技术要求及试验方法设计制造。计算机控制，配置高精度激光位移传感器。可以自动测量，自动保存并能打印结果报告。二、大规格陶瓷砖平整度测量仪技术参数:1、测量试样尺寸范围：600×600（mm）～1800×1200（mm）2、位移精度：±0.1mm3、基准平台规格： 2000×1400×800（mm）带水平尺4、基准平台精度：1 级5、轴滑台精度：1 级6、测量速度： 1～100mm/s； 7、移动方向：XY 轴移动控制8、驱动方式：步进电机9、仪器尺寸:2500mmx1400mmx880mm10、电源电压:220V 50Hz

一、大规格陶瓷板表面平整度测量仪简介:大规格陶瓷板表面平整度测量仪适用于大规格陶瓷板中心弯曲度、边弯曲度的自动测量。根据国家标准GB/T39156-2020 6.4 大规格陶瓷板技术要求及试验方法设计制造。计算机控制，配置高精度激光位移传感器。可以自动测量，自动保存并能打印结果报告。二、大规格陶瓷板表面平整度测量仪技术参数:1、测量试样尺寸范围：600×600（mm）～1800×1200（mm）2、位移精度：±0.1mm3、基准平台规格： 2000×1400×800（mm）带水平尺4、基准平台精度：1 级5、轴滑台精度：1 级6、测量速度： 1～100mm/s； 7、移动方向：XY 轴移动控制8、驱动方式：步进电机9、仪器尺寸:2500mmx1400mmx880mm10、电源电压:220V 50Hz

公路连续式八轮平整度仪是专业检测仪器，使用前务必仔细阅读说明书。并由专业实验人员操作，以避免操作不当引起的伤害。如需了解更多资料请与我公司客服人员联系。公路连续式八轮平整度仪由上海荣计达仪器科技有限公司提供，设备质保期一年，一年内产品如有质量问题，供方负责免费维修。如果因操作不当或者人为损坏，我公司亦应提供维修、更换服务，由此产生的费用我公司会酌情收取。公路连续式八轮平整度仪概述：该仪器在电子技术方面，采用了国内最为先进的微处理和大规模集成电路技术，提高了整机的集成度，减少了原仪器中许多不必要的接插件连接从而增加了系统工作的可靠性，使整机系统的各项性能更趋稳定，内部采用单CPU结构，负责显示、打印、计算、通信、采集数据等功能；采用中断方式采样数据，因而可连续进行测量，而不中断。一起自动计算距离，每测1000个点内存时，采样间距取0.1米，则可连续测25公里。公路连续式八轮平整度仪内含实时时钟，可显示时间和日期，并自动记录。显示器则采用了12寸触摸屏，蓝牙无线传输。控制器在车内，没有电池，控制器接在点烟器上，重型车架，可以设置，保存打印所有数据，可现实路面实时测量数据。公路连续式八轮平整度仪是目前国内的现代化路面平整度测量仪器，具有连续测量、自动运算、显示并打印路面平整度均方差的功能。因此本仪器和现行的三米直尺测量及其他同类测量仪器比较，不仅具有测量精度高、速度快、数据可靠、评定科学等优点，而且操作简单、工作可靠、同时大大降低了劳动强度，提高了工作效率和经济效益。适用于公路、城市道路、广场、机场跑道等路面的施工检查竣工验收和道路的养护，同时也可为教学、设计及科研单位提供可靠的路面分析资料，在国际沥青路面施工及验收规范(GBJ02－86)和交通部《养护技术规范》(JTJ073－85)重列出了此仪器为标准测量仪器。同时国家技术监督局批准该仪器为国家标准仪器、编号为(GB11816－89)。公路连续式八轮平整度仪技术功能：一、测量功能及精度1、可自动测定、运算、打印均方差。取样间距0.05m及0.1m两种，取样误差0.04mm，同一条件重复测试，其统计偏差小于0.2mm；2、由人工送数，可自动打印测试日期(　　年　　月　　日)及被测路段编号(道路号、里程桩号、取样、超差)每打印一次，小结序号自动加一。3、自动运算并打印被测路段的单项累计值H(单位：mm)。4、自动检测计算并打印被测路段长度值L(单位：m)误差小于1%。5、自动测定计算并打印正负超差数(K＋、K－)，超差标准使用可根据路面等级要求自行选定，限制在1－15范围内(mm)。6、可自动测定计算并打印测试速度值V(单位：km/h)。二、牵引方式及检测速度

WD4000晶圆平整度翘曲度测量设备采用白光光谱共焦多传感器和白光干涉显微测量双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立表面3D层析图像，实现Wafer厚度、翘曲度、平面度、线粗糙度、总体厚度变化(TTV)及分析反映表面质量的2D、3D参数。兼容不同材质不同粗糙度、可测量大翘曲wafer、测量晶圆双面数据更准确。产品技术1、使用光谱共焦对射技术测量晶圆Thickness、TTV、LTV、BOW、WARP、TIR、SORI等参数，同时生成Mapping图；2、采用白光干涉测量技术对Wafer表面进行非接触式扫描同时建立表面3D层析图像，显示2D剖面图和3D立体彩色视图，高效分析表面形貌、粗糙度及相关3D参数；3、WD4000晶圆平整度翘曲度测量设备基于白光干涉图的光谱分析仪，通过数值七点相移算法计算，达到亚纳米分辨率测量表面的局部高度，实现膜厚测量功能；4、红外传感器发出的探测光在Wafer不同表面反射并形成干涉，由此计算出两表面间的距离（即厚度），可适用于测量BondingWafer的多层厚度。该传感器可用于测量不同材料的厚度，包括碳化硅、蓝宝石、氮化镓、硅等。测量功能1、厚度测量模块：厚度、TTV(总体厚度变化)、LTV、BOW、WARP、TIR、SORI、平面度、等；2、显微形貌测量模块：粗糙度、平整度、微观几何轮廓、面积、体积等。3、提供调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能。其中调整位置包括图像校平、镜像等功能；纠正包括空间滤波、修描、尖峰去噪等功能；滤波包括去除外形、标准滤波、过滤频谱等功能；提取包括提取区域和提取剖面等功能。4、提供几何轮廓分析、粗糙度分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能。几何轮廓分析包括台阶高、距离、角度、曲率等特征测量和直线度、圆度形位公差评定等；粗糙度分析包括国际标准ISO4287的线粗糙度、ISO25178面粗糙度、ISO12781平整度等全参数；结构分析包括孔洞体积和波谷。产品优势1、非接触厚度、三维维纳形貌一体测量集成厚度测量模组和三维形貌、粗糙度测量模组，使用一台机器便可完成厚度、TTV、LTV、BOW、WARP、粗糙度、及三维形貌的测量。2、高精度厚度测量技术（1）采用高分辨率光谱共焦对射技术对Wafer进行高效扫描。（2）搭配多自由度的静电放电涂层真空吸盘，晶圆规格最大可支持至12寸。（3）采用Mapping跟随技术，可编程包含多点、线、面的自动测量。3、高精度三维形貌测量技术（1）采用光学白光干涉技术、精密Z向扫描模块和高精度3D重建算法，Z向分辨率高可到0.1nm；（2）隔振设计降低地面振动和空气声波振动噪声，获得高测量重复性。（3）机器视觉技术检测图像Mark点，虚拟夹具摆正样品，可对多点形貌进行自动化连续测量。4、大行程高速龙门结构平台（1）大行程龙门结构(400x400x75mm)，移动速度500mm/s。（2）高精度花岗岩基座和横梁，整体结构稳定、可靠。（3）关键运动机构采用高精度直线导轨导引、AC伺服直驱电机驱动，搭配分辨率0.1μm的光栅系统，保证设备的高精度、高效率。5、操作简单、轻松无忧（1）集成XYZ三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦等测量前准工作。（2）具备双重防撞设计，避免误操作导致的物镜与待测物因碰撞而发生的损坏情况。（3）具备电动物镜切换功能，让观察变得快速和简单。WD4000晶圆平整度翘曲度测量设备通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度，TTV，BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止晶圆产生划痕缺陷。部分技术规格品牌CHOTEST中图仪器型号WD4000系列测量参数厚度、TTV(总体厚度变化)、BOW、WARP、LTV、粗糙度等可测材料砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、 铌酸锂、蓝宝石、硅、碳化硅、氮化镓、玻璃、外延材料等厚度和翘曲度测量系统可测材料砷化镓 氮化镓 磷化 镓 锗 磷化铟 铌酸锂 蓝宝石 硅 碳化硅 玻璃等测量范围150μm~2000μm扫描方式Fullmap面扫、米字、自由多点测量参数厚度、TTV(总体厚度变 化)、LTV、BOW、WARP、平面度、线粗糙度三维显微形貌测量系统测量原理白光干涉干涉物镜10X(2.5X、5X、20X、50X,可选多个)可测样品反射率0.05%~100粗糙度RMS重复性0.005nm测量参数显微形貌 、线/面粗糙度、空间频率等三大类300余种参数膜厚测量系统测量范围90um(n= 1.5)景深1200um最小可测厚度0.4um红外干涉测量系统光源SLED测量范围37-1850um晶圆尺寸4"、6"、8"、12"晶圆载台防静电镂空真空吸盘载台X/Y/Z工作台行程400mm/400mm/75mm恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

平整度测量计简介设备可以对样品的平整度进行精确测量。技术参数 尺寸 ASTM D4543 花岗岩基尺寸 200mmx300mmx50mm 最大样品高度 300mm(12英寸) 精度 +/-0.0001英寸 分辨率 0.01mm(0.0005英寸) 重量 20Kg

概述烟用纸张平整度测量仪 SN-PZD300是一种用于检测 卷烟条盒包装纸平整度， 反映条盒纸上机适应性的 设备。 烟用纸张平整度测量仪给出与纸张平 整度相关的多个测量指标。测量速度快，可对纸张的平整度进行整体评 估。为企业检测烟用纸张的平整及翘边的程度，进而评估卷烟条盒包装时纸张的上机适应性提供有效的测试工具。技术参数 测量范围：500×500×300毫米 分辨率：0.01毫米 精度：0.1毫米

连续式路面平整度测定仪在电子技术方面，采用了国内为微处理和大规模集成电路技术，提高了整机的集成度，减少了原仪器中许多不必要的接插件连接从而增加了系统工作的可靠性，使整机系统的各项性能更趋稳定，内部采用单CPU结构，负责显示、打印、计算、通信、采集数据等功能；采用中断方式采样数据，因而可连续进行测量，而不中断。一起自动计算距离，每测1000个点内存时，采样间距取0.1米，则可连续测25公里。 连续式路面平整度测定仪内含实时时钟，可显示时间和日期，并自动记录。显示器则采用了汉字液晶显示的方法，即降低了功耗又使显示更加清晰；位移传感器采用了无温漂、时漂的电容式无接触线性测量系统，代替了传统的电感式位移传感器，精度更高、稳定性更好，电源采用6v7.2Ah胶体免维修电池，取代了传统的蓄电瓶；在机械方面，在保证测试精度、测试准确性和机架刚度的前提下，尽可能的减轻了仪器的重量，是仪器的运输及装卸更加方便灵活。 连续式路面平整度测定仪是目前国内好的现代化路面平整度测量仪器，具有连续测量、自动运算、显示并打印路面平整度均方差的功能。因此本仪器和现行的三米直尺测量及其他同类测量仪器比较，不仅具有测量精度高、速度快、数据可靠、评定科学等优点，而且操作简单、工作可靠、同时大大降低了劳动强度，提高了工作效率和经济效益。适用于公路、城市道路、广场、机场跑道等路面的施工检查竣工验收和道路的养护，同时也可为教学、设计及科研单位提供可靠的路面分析资料，在国际沥青路面施工及验收规范(GBJ02－86)和交通部《养护技术规范》(JTJ073－85)重列出了此仪器为标准测量仪器。同时**技术监督局批准该仪器为标准仪器、编号为(GB11816－89)。 连续式路面平整度测定仪技术功能：★测量功能及精度1、可自动测定、运算、打印均方差。取样间距0.05m及0.1m两种，取样误差0.04mm，同一条件重复测试，其统计偏差小于0.2mm；2、由人工送数，可自动打印测试日期(　　年　　月　　日)及被测路段编号(道路号、里程桩号、取样、超差)每打印一次，小结序号自动加一。3、自动运算并打印被测路段的单项累计值H(单位：mm)。4、自动检测计算并打印被测路段长度值L(单位：m)误差小于1%。5、自动测定计算并打印正负超差数(K＋、K－)，超差标准使用可根据路面等**要求自行选定，限制在1－15范围内(mm)。6、可自动测定计算并打印测试速度值V(单位：km/h)。★牵引方式及检测速度人力或机动车牵引，A小转弯半径5m，检测速度不超过12km/h，非检测情况(机架缩短，测量轮悬起)下牵引速度(25KM/H)。★工作环境温度：(-10℃－＋40℃)★电源及功耗：胶体免维修电池，6V7.2AH★外形尺寸：4061×800×600mm　　　伸长：4061mm；缩短：2350mm；★仪器重量：全机总重150kg，电子仪器箱3kg 连续式路面平整度测定仪操作方法：★测试车使用准备1、仪器测试车具有两种状态，一是存放运输状态，一是测量检测状态。在运输时，取下固定螺栓，将前伸缩方管及后家向中间缩进，在用螺拴固定，将测量轮悬起，拓开所有插头。测试检测状态时，取下固定螺栓，机架伸长**位，再用螺栓固定并放下测量轮使其紧贴地面。2、安装打印纸。见打印机使用说明书。3、接好各电缆线，连接电缆时要注意方向。★使用步骤1)设置参数如果参数不正确则对测试结果有影响，因此先必须正确设置参数，选择菜单下功能2设置，按［输入］键确认：显示格式：道路间隔里程增减桩号路幅超差表示道路号、里程号、超始桩号、极限超差值；采样间隔(5cm×2＝10cm)，极限超差值由人工设定，设置范围从00－99mm；采样间隔N01表示每5cm采次样，N02表示每10cm采次样，依此类推可输入不同采样间隔，一般情况下，按规范设置N02即每10cm采次样即可，递增为0，递减为1。用数字键输入各参数，每输入一个参数光标会自动移向下一个参数，若输入有误则只有重新选择设置参数输入数据，在整个数据输入完后才能退出设置参数，除非按［复位］键退出。 2)清除位移传感器 在检测之前，须使位移传感器显示为零，按清零键，即对传感器进行清零操作。 3)检测传感器 在检测之前，须确定位移传感器工作是否正常，选择菜单下功能3测试，按［输入］键确认，此时屏上会显示位移传感器的位移实时值； 4)清除文件 在测试过程中每1000个采样点自动存储为一个记录，可连续存储256个记录，为确保有足够的内存，每个测公路在测试前A好清除原来的纪录，选择菜单功能7删除，用［输入］键确认，屏上显示正在删除。 5)开始检测 以上三个步骤做完之后可进行检测，按［启动/停止］键则可开始工作，屏幕上有实时显示采样点数，当采满1000个点时，设置的桩号及里程号自动累加，同时计算结果也显示出来：R107-----K100-----M1000001-----X00---N01---F01T=000　　S＝0.0002V＝11.00　　P＝0.001 表示：路名　　　　　里程　　　　　桩号　采样点数　 　增减　　　　　间隔　　　　路 　记录总数　 　位移值 速度　　　 　平整度值 这些参数及计算结果自动保存为一个记录，按［启动/停止］键结束检测。这些参数的定义见《公路路基路面现场测试规程》(JTJ059－95)。 6)处理结果 试验完毕后，可进行打印结果，选择菜单下的6打印打印全部或部分已存记录结果，另外也可用菜单下的5显示功能显示已存记录，显示部分或全部。7)菜单功能1、时间　　修改时间　　　　　5、显示　　显示保存记录2、设置　　设置参数　　　　　6、打印　　打印部分或所有记录3、测试　　测试传感器　　　　7、删除　　删除所有记录4、背光　　背景光开关　　　　8、返回采用选择键移动光标，按［输入］键选择确定； 8)打印 A种：直接按［打印］键，可打印屏幕(显示什么打印什么)； 种：在菜单中选择打印，则打印部分或所有记录。 9)测试结束后，关掉电源，取下连接电缆，将仪器置于干燥阴凉处存放。 连续式路面平整度测定仪使用注意事项1、运输、转向、停放及其他非测量状态必须将测量轮悬起，避免不必要的磨损与冲撞； 2、测试速度必须保持在12km/h以内。路面情况不好，测速应相应减慢，以免机架颠簸太大影响测量精度。远距离运输应将测试仪器装在运输车厢内，短距离运输，可直接用机动车牵引，但速度应小于25km/h为宜，以避免速度过大，震动大损坏机件； 3、仪器箱交货时已经调试好，用户不得打开电器箱面板，更不能随便更换原件、焊线，以免损坏仪器，否则公司不予维修，如线路故障请与本公司联系。 连续式路面平整度测定仪维护及保养：1、仪器采用内部充电电池供电，充满后可连续使用20小时以上(若关掉背景光则可延长使用时间)； 2、每次使用之前，应充满电(一般充电八个小时左右)； 3、仪器在监控状态时，若电池不足会显示“请充电！”，此时应尽快充电，以免在工作中因电不够而中断。 4、仪器长期不使用，则每2－3个月应充电一次，确保电池不损坏。 5、平整度仪是精密电子仪器，如传感器、计算机、打印机等部件，切勿淋雨、受潮，不用时要妥善保管，定期通电，以免损坏； 6、机架上轴承和运动部分要经常加油润滑，防止生锈磨损。使用前后应检查连接螺栓是否紧固。在长途运输后尤其要认真检查； 7、测量轮的磨损会影响测量的精度，因此行驶足够里程后，要检查其直径及时更换。另外测量轮的标准直径为159.2mm； 8、仪器电缆线在使用时，因使用不当容易发生断路现象，此时可用万用表检查连线的通断，电缆连线的连线位置图见附页，排除故障时，断线一定要用熔电焊接牢靠，各线间不要接触，以免影响仪器的使用。 9、使用前与使用后位移传感器测杆须擦拭干净。连续式路面平整度测定仪常见故障排除：本仪器由机械和电子二部门组成，机械方面的故障，如发生转向不灵，轮胎漏气偏歪，个别零件损坏，都易于检查发现，而且一般公路使用部门具有修理能力，只要检查保养，不难及时处理。而电气部分，由于采用微型计算机，技术上较为复杂，一般简单故障使用单位应学会排除，疑难的故障应送到生产单位检修。连续式路面平整度测定仪装箱单：1、主机：1台；2、位移传感器：1只；3、光电距离传感器：1只；4、数显控制仪：1台；5、充电器：1只；6、位移传感器(1米)：1根；7、距离传感器(1米)：1根；8、说明书：份；9、合格证：1份；10、打印机说明书：1份。连续式路面平整度测定仪注意事项：1.使用本仪器之前先阅读使用说明书，必须每月充一次电，该机升**以后可与笔记本联网。2.不论主机、仪表或传感器上的接插件在连接时**先应对正位置再连接，不允许硬性连接，否则将损坏接插件。3.位移传感器的使用一定要调整好安装位置确保在传感器的线性测量范围间内使用。(此类传感器一般在侧杆活动范围的A大靠下40mm左右部分线性测量区间)4.使用微机管理操作，能分析出各路段的起伏曲线，一次可以打印多组试验结果。点击搜索：地坪平整度测试仪

一、超平地坪平整度测量仪RJD-6荣计达仪器概述超平地坪检测仪整体地坪现场验收通用方法相关要求进行研发生产。同时也满足美国ASTM E1155M标准。仪器由检测机架和平板电脑构成，组装维护方便；测试软件为全中文，符合国人使用习惯，简单易用；既可以直接读取当前测试的地坪剖面线的平整度FF和FL值，也可以对所有测试数据进行Excel数据表存档，便于后期分析。二、超平地坪平整度测量仪RJD-6荣计达仪器用途及规范 2.1用途地坪平整度包括地面的平整度和水平度，直接影响行驶其表面的叉车、货车以及其他货物装卸工具，平整度差的地面会使行驶车辆的抖动更大，操作人员更易产生疲劳，也会降低车辆的工作速度，影响工作效率。目前，国内地坪平整度检测主要有靠尺法和泼水观测法。靠尺法是采用2米或者3米靠尺和契形塞尺在地坪表面进行检测，具体做法是把靠尺放置在地坪表面然后找到靠尺和地面的最大间隙并用契形塞尺进行测试间隙的大小。这种方法既不科学也无法重复，同时测试效率低，费时费力；另外，这种方法由于采用了2m或者3m的靠尺，因此只能检测2m或者3m以内的地面平整度，基本不能检测更大范围的水平度。2.1规范地坪平整度F数值测试标准美国ASTM E1155M（地坪平整度FF和地坪水平度FL数值标准测试方法）F数值为美国混凝土协会(AmericanConcreteInstitute#117)及加拿大标准协会(CanadianStandardAssociation#A23.1)为规范及测量混凝土地坪平整及高差的标准。此规范包括两个F数值：FF为平整度，FL为高差值，平整度关系着地坪的隆起与凹陷；高差值关系着地坪的倾斜或高差。也就是说平整度FF表示地坪整体意义的起伏程度，水平度FL表示地坪整体意义的倾斜程度。愈高的F数值代表地坪的平整度愈佳。三、超平地坪平整度测量仪RJD-6荣计达仪器主要参数方向：Z向线性：±0.001%FS单步量程：300mm重复精度：0.1mm工作温度：0~+85通讯方式：WIFI无线连接液晶屏供电电压：DC12V主机供电电压：DC8.4V液晶屏：SEETEC WINCE高度：290mm材质：304不锈钢四、装箱单1、主机一台2、充电器一件3、平板电脑一台4、电脑充电器一件5、电脑数据线一件6、说明书一份7、合格证一份

MX 102-6 102-8 高分辨率晶圆厚度和平整度测量仪应用：适用于 100-150nm 及150–200mm 硅晶圆的高分辨率厚度和平整度 (TTV) 测量仪系列。适用于不同的厚度范围，几秒内即可完成测量，易于集成到自动机器人分拣系统中。MX102-6/8 非常适合研发、工艺鉴定以及厚度和平整度 (TTV) 的工艺控制，尤其是在磨削和研磨之后。一对电容式传感器对每个晶圆上的四个径向轮廓（45 度）进行采样，其中包含数百个局部厚度值。如果您的应用需要，也可以简单地增加四个标准扫描，以达到更高的测量覆盖范围。配备MX-NT 操作软件。测量类型：厚度、平整度(TTV)参数：晶圆尺寸：100mm, 125mm, 150mm, 200mm测量准确度：±0.1 µ m分辨率：10nm空间分辨率：1mm扫描次数：4次软件：MXNT

MX 1012 高分辨率晶圆厚度和平整度测量仪应用：适用于 200–300mm 硅晶圆的高分辨率厚度和平整度 (TTV) 测量仪。适用于不同的厚度范围，几秒内即可完成测量，易于集成到自动机器人分拣系统中。MX1012 非常适合研发、工艺鉴定以及厚度和平整度 (TTV) 的工艺控制，尤其是在磨削和研磨之后。一对电容式传感器对每个晶圆上的四个径向轮廓（45 度）进行采样，其中包含数百个局部厚度值。如果您的应用需要，也可以简单地增加四个标准扫描，以达到更高的测量覆盖范围。配备MX-NT 操作软件。测量类型：厚度、平整度(TTV)参数：晶圆尺寸：200mm, 300mm测量准确度：±0.1 µ m分辨率：10nm空间分辨率：1mm扫描次数：最多8次软件：MXNT

MX 1018高分辨率晶圆厚度和平整度测量仪应用：适用于 300–450mm 硅晶圆的高分辨率厚度和平整度 (TTV) 测量仪。适用于不同的厚度范围，几秒内即可完成测量，易于集成到自动机器人分拣系统中。MX1018非常适合研发、工艺鉴定以及厚度和平整度 (TTV) 的工艺控制，尤其是在磨削和研磨之后。一对电容式传感器对每个晶圆上的四个径向轮廓（45 度）进行采样，其中包含数百个局部厚度值。如果您的应用需要，也可以简单地增加四个标准扫描，以达到更高的测量覆盖范围。配备MX-NT 操作软件。测量类型：厚度、平整度(TTV)参数：晶圆尺寸：200mm, 450mm测量准确度：±0.3 µ m分辨率：10nm空间分辨率：1mm扫描次数：最多8次软件：MXNT

硅酸铝纤维板则是主要应用于窑炉、石油、化工等行业里的一种轻质耐高温的环保材料。它的主要原料是陶瓷纤维棉，我们现在的工艺是人工水涝，也就是常说的湿法板。它本身有一定的硬度和承重能力，但是并不像水泥板那样坚硬。真空成型之后，可以根据自己的需要进行简单的切割。硅酸铝陶瓷纤维板产品特点：除具有对应散状陶瓷纤维棉优良性能外，还具有优良的抗风蚀能力。1、具有优良的抗风蚀性能；2、低热容量，低热导率；3、尺寸精确，平整度好；4、非脆性材质，韧性好；5、可以连续化生产，纤维分布均匀，性能稳定；6、易切割安装，施工方便；7、耐压强度高、使用寿命长。硅酸铝陶瓷纤维板典型应用：（1）钢铁行业：各种热处理窑炉内衬、膨胀缝，背衬隔热、隔热片和铸模隔热，炼钢厂钢包、中间包、铁水包及精炼包背衬。（2）有色金属行业：中间包与流槽盖，铝厂电解还原槽耐火砖背衬。（3）陶瓷行业：轻质窑车结构与窑炉的热面衬体、窑炉各温度区分隔及挡火。（4）玻璃行业：熔池背衬隔热，烧嘴块。（5）窑炉建筑：热面耐火材料（替代毯），重质耐火材料的背衬，膨胀缝。（6）轻工业：工业与家用锅炉燃烧室的内衬。（7）石化行业：高温加热炉内衬的热面材料。（8）工艺玻璃等深加工产品成型的模具。（9）水泥建材行业窑炉的背衬保温绝热。

一、JMS真空手套箱概述：●采用国内最新技术，箱体为不锈钢材料。●真空手套箱箱体气体置换采用真空置换方式，即先对箱体抽真空然后充入保护性气体（如高纯氩气、氮气等），其特点是：气体置换速度快、用气量少，具有方便、快捷、经济、可靠等优点，但气体置换不彻底、不具有箱体氛围维持功能。因此多用于小型实验及对水氧含量在800PPM以上的小试中。●可供用户选择的规格型号及配置形式较多，并且可以按照用户要求订做。●规模化生产，交货周期短，标准单人箱可现货供应。●可按用户要求集成有机溶剂吸附器、冰箱、气压机、加热炉、显微投影系统，加装冷阱、低温浴槽、溶剂净化系统以及除尘系统、增压系统、真空炉等。●机械零件加工、箱体折弯焊接、整机组装全部在我司工厂完成。●真空手套箱已经广泛应用于锂电池研发及生产、物理化学研究、粉末冶金、原子核技术、特种焊接、OLED和PLED研究、催化剂研究、医药行业、材料处理、特种灯研发及生产、精细化工、金属有机、聚合材料等行业。●真空手套箱设计美观，结构紧凑，做工精细；设备运行稳定，可连续长期运转，操作简单，运行维护成本低。●真空手套箱主要由手套箱体（含全视窗钢化玻璃、铝制手套口、Φ200X670乳胶手套等）、大小过渡舱、照明、移动底架、集成抽、充气管路等组成。 二、JMS真空手套箱与其他厂商产品对照序号项次JMS真空手套箱其他厂商真空手套箱1视窗形式全视窗（手套口开在视窗钢化玻璃上，无观察死角）半视窗（手套口开在箱体上，视角较小） 2 视窗材料 钢化玻璃（耐腐蚀、易清洗）有机玻璃（易划伤、不耐腐蚀、易雾化）3手套口大小手套口直径Φ200mm手套口直径Φ145mm 4 手套 Φ200×670mm，厚度1.5mm,整体成型，专门定制Φ145×700mm,厚度1.0mm,两段粘接，劳保乳胶手套代用 5 视窗法兰框先用铣床对304不锈钢矩形钢铣削加工（JMS1、JMS2采用20×40不锈钢矩形钢，JMS3采用20×55不锈矩形钢），然后进行焊接，以保证视窗法兰框的强度、平整度及箱体的气密性3mm不锈钢板钣金加工，不能保证视窗法兰框的强度、平整度及箱体的气密性 6 管路 抽、充管路集成，使用时只需开关阀门即可，方便使用抽、充气管路不集成，使用时再插接管路，不仅使用不便，更易产生管路泄露7底架除JMS-1真空手套箱外均有移动底架，均无移动底架8气密性高气密性，24小时真空度下降小于0.005MPa有些厂商产品的气密性根本不过关 9 生产情况 较强的自加工能力，除标准件外，90%为自加工有些厂商无任何加工能力，全部为委托加工、甚至委托生产 三、JMS真空手套箱特点1、 箱体为不锈钢2、 视窗采用钢化玻璃全视窗，手套口开在视窗玻璃上，无观察死角。3、 视窗法兰框是机加工而成，有别于其他厂商的钣金加工，视窗在高 真空状态下可以承受大气压力而不变形，保证了箱体的气密性。4、 手套口直径为Φ200mm，手套为开模定制的乳胶手套，壁厚1.5mm， 有效防止水氧的分子级渗漏。5、 过渡舱门采用气弹簧平衡，开启方便。6、 箱体、过渡舱、手套口抽真空及充气管路集成，方便使用。 四、JMS系列真空手套箱性能指标项目性能指标耐真空度泄露率（气密性）过渡室-0.1MPa≤0.05VOL%/H （96小时真空度下降≤0.005MPa）箱体-0.1MPa≤0.05VOL%/H （12小时真空度下降≤0.005MPa）五、 JMS系列真空手套箱型号规格： 1、JMS-1：●箱体尺寸：650×500×500mm●过渡室尺寸：Φ200×350mm●台式安装●2个铝合金手套口

产品说明：金石陶瓷纤维板，学名硅酸铝板，是采用连续化生产、工艺水平先进的流水化生产线制成，生产出的陶瓷纤维板具有表面平整、尺寸精准、韧性好、可任意切割、保温效果优良等性能特点。陶瓷纤维板是采用连续化生产、工艺技术水平先进的流水化生产线制成。陶瓷纤维板具有表面平整、尺寸准确、韧性好、可任意切割、保温效果优良等性能特点。陶瓷纤维板根据温度区分，可广泛应用于工业窑炉背衬及低温窑炉的热面，是窑炉节能降耗、优质高产的重要保证因素之一。陶瓷纤维板的性能优势：1、低热容量、低热导率2、耐压强度高、使用寿命长3、非脆性材质，韧性好4、优良的热稳定性及抗热震性5、优良的吸音降噪性能6、尺寸准确，平整度好7、均质的结构，易于机械加工8、易于施工安装硅酸铝陶瓷纤维板典型应用：（1）钢铁行业：各种热处理窑炉内衬、膨胀缝，背衬隔热、隔热片和铸模隔热，炼钢厂钢包、中间包、铁水包及精炼包背衬。（2）有色金属行业：中间包与流槽盖，铝厂电解还原槽耐火砖背衬。（3）陶瓷行业：轻质窑车结构与窑炉的热面衬体、窑炉各温度区分隔及挡火。（4）玻璃行业：熔池背衬隔热，烧嘴块。（5）窑炉建筑：热面耐火材料（替代毯），重质耐火材料的背衬，膨胀缝。（6）轻工业：工业与家用锅炉燃烧室的内衬。（7）石化行业：高温加热炉内衬的热面材料。（8）工艺玻璃等深加工产品成型的模具。（9）水泥建材行业窑炉的背衬保温绝热。

陶瓷本身就是通过高温烧制出来的，所以它天生就具有耐高温的能力，但是在高温的烘烤之下却容易发生碎裂的情况。而在做成耐火陶瓷纤维板之后，也就完全避免了这个缺点，可以应用在各种行业当中。这种板材可以轻松承受超过1000℃的高温，如果参照具体数据的话，即便是等级比较低的产品，也能够达到1260℃的耐火能力，这个温度已经足以把钢铁融化了，然而这种板材依然可以大火当中保持坚挺。如果是密度更高的产品，则可以承受1400℃以上的高温，完全能够用在燃煤的锅炉当中。陶瓷纤维板即为硅酸铝纤维板，一种耐火材料。即使在加热后也保持良好的机械强度，是具有支撑强度的纤维隔热产品。陶瓷纤维板根据材质不同，可分为：普通型；标准型；高纯型；高铝型；含锆型；每种类型的陶瓷纤维板价格也不相同。特点：1、耐压强度高、使用寿命长；2、低热容量，低热导率；3、非脆性材质，韧性好；4、尺寸精确，平整度好；5、易切割安装，施工方便；　6、优良的抗风蚀性能；7、连续化生产，纤维分布均匀，性能稳定。硅酸铝陶瓷纤维板典型应用：（1）钢铁行业：各种热处理窑炉内衬、膨胀缝，背衬隔热、隔热片和铸模隔热，炼钢厂钢包、中间包、铁水包及精炼包背衬。（2）有色金属行业：中间包与流槽盖，铝厂电解还原槽耐火砖背衬。（3）陶瓷行业：轻质窑车结构与窑炉的热面衬体、窑炉各温度区分隔及挡火。（4）玻璃行业：熔池背衬隔热，烧嘴块。（5）窑炉建筑：热面耐火材料（替代毯），重质耐火材料的背衬，膨胀缝。（6）轻工业：工业与家用锅炉燃烧室的内衬。（7）石化行业：高温加热炉内衬的热面材料。（8）工艺玻璃等深加工产品成型的模具。（9）水泥建材行业窑炉的背衬保温绝热。

手动晶圆厚度测量仪 MX203系列产品简介：MX203系列手动晶圆厚度测量仪，用于测量直径为2寸、3寸、4寸、5寸、6寸、8寸、12寸晶圆的厚度、平整度TTV、弯曲度Bow、翘曲度Warp、应力等晶圆参数。测量原理：MX203系列采用电容测量原理，晶圆上下各有若干对平行的电容测厚传感器，通过测量电容器电容变化计算晶圆厚度，及晶圆上下表面距离电容器的距离，进而得到晶圆的厚度、平整度TTV、弯曲度Bow、翘曲度Warp、应力等晶圆参数。主要技术参数1）晶圆直径：50mm, 75mm, 100mm, 150mm, 200mm，300mm, 450mm2）厚度精度：±0.5 µ m3）分辨率：50 nm4）厚度范围：100-1000 µ m5）自动晶圆：手动应用： SIC, Si, GaN, GaAS, InP等半导体晶圆的高分辨率厚度，TTV，弯曲度和翘曲度，平整度，以及应力的测量。

半自动晶圆厚度测量仪 MX204系列产品简介：MX204系列半自动晶圆厚度测量仪，用于测量直径为2寸、3寸、4寸、5寸、6寸、8寸、12寸晶圆的厚度、平整度TTV、弯曲度Bow、翘曲度Warp、应力等晶圆参数。测量原理：MX204系列采用电容测量原理，晶圆上下各有若干对平行的电容测厚传感器，通过测量电容器电容变化计算晶圆厚度，及晶圆上下表面距离电容器的距离，进而得到晶圆的厚度、平整度TTV、弯曲度Bow、翘曲度Warp、应力等晶圆参数。主要技术参数1）晶圆直径：100mm, 125mm, 150mm, 200mm2）厚度精度：±0.5 µ m ~ ±1 µ m±1 µ m3）分辨率：75 nm ~ 1.0µ m4）厚度范围：100-1000 µ m5）自动晶圆：半自动应用： SIC, Si, GaN, GaAS, InP等半导体晶圆的高分辨率厚度，TTV，弯曲度和翘曲度，平整度，以及应力的测量。

一, 中红外法布里-珀罗F-P干涉仪( F-P标准具/多光束干涉仪 2.5-14um)法布里－珀罗干涉仪（英文：Fabry–Pérot interferometer），是一种由两块平行的玻璃板组成的多光束干涉仪。其中两块玻璃板相对的内表面都具有高反射率。当两块玻璃板间用固定长度的空心间隔物来间隔固定时，它也被称作法布里－珀罗标准具或直接简称为标准具。F-P(法布里-珀罗）标准具因为平板反射率高，多光束等倾斜干涉条纹极窄，所以是一种高分辨率的光谱仪器。可用于高分辨光谱学，和研究波长非常靠近的谱线，诸如元素的同位素光谱、光谱的超精细结构、光散射时微小的频移，原子移动引起的谱线多普勒位移，和谱线内部的结构形状；也可用作高分辨光学滤波器、构造精密波长计；在激光系统中它经常用于腔内压窄谱线或使激光系统单模运行，可作为宽带皮秒激光器中带宽控制以及调谐器件,分析、检测激光中的光谱（纵模、横模）成分.中红外法布里-珀罗F-P干涉仪( F-P标准具/多光束干涉仪 2.5-14um),中红外法布里-珀罗F-P干涉仪( F-P标准具/多光束干涉仪 2.5-14um)通用参数(F-P)干涉仪 标准具的FSR测量 技术参数产品特点适用于中红外平行度好端面平整度高表面质量好产品应用波长锁定器 波分复用电信网 手持光谱分析仪 光纤光栅传感系统 可调谐滤波器激光器 可调谐滤光片技术参数技术参数技术指标工作波段近红外1.3-2.0um，中红外2.5-14um直径25.4mm+/-0.05mm通光孔径22.9mm长度100mm+/-0.2mm平行度5-10 arc sec端面平整度中红外 1/4 lambda；近红外 1/10 lambda表面质量中红外80-50；近红外60-40管壳铜精细度(FSR)0.012cm-1二, ETALON热稳定透射式滤波器标准具 (1525-1565nm ,50GHz 精细度14)筱晓光子的热稳定滤波器基于先进的 ETALON 技术， 同时运用独te的光学及机械设计，采用先进的封装技术,保证该款滤波器的波长在极端环境条件下的稳定性,包括温度和湿度。我们拥有独te的Zhuan利技术，用以保证该滤波器在所有环境下波长的目标精度在 ITU + / -1.25GHz 以内可供选择。这款对准 ITU 过滤器可用于波分复用(WDM)系统信道监测和波长锁定。我们还有特殊的技术可供顾客选择特定波长对应精度。该款滤波器根据使用方式的不同分为透射式和反射式,独te的设计可以保证标准具精细度、通道间距和工作波长拥有较宽的选择范围。面向客户设计的热稳定滤波器可以很好的兼容于多种光谱应用，包括电信、波长参考和校准及光纤传感系统,测试计量、激光波长稳定控制。ETALON热稳定透射式滤波器标准具 (1525-1565nm ,50GHz 精细度14),ETALON热稳定透射式滤波器标准具 (1525-1565nm ,50GHz 精细度14)技术参数产品特点● 优良的热稳定性● 低插入损耗● 封装牢固● 光纤一端出纤易于盘纤产品应用● FBG 传感系统● 监控系统● 测试测量设备● 仪器仪表指标单位参数备注波长范围nm1525~1565可制定插入损耗dB3.0偏振相关损耗dB0.1偏振相关精度GHz+/-0.1通道间隔（FSR）GHz100可定制50G或200G热稳定性GHz≤+/-0.8精细度714可定制其他精细度带宽@3dBGHz≤16≤9对比度dB≥13≥18回波损耗dB≥20最大光功率mW500工作温度℃-5~70可定制更宽温度范围存储温度℃-40~85光纤类型N/ASMF-28e+尺寸（长x宽x高）mm30x21.5x8.5备注：*.有所指标皆为未不含接头指标，切仅在以上波长，偏振态和温度下确保有效 **.指标若有更改，恕不另行通知。测试光谱图

一、JMS真空手套箱概述：●采用国内最新技术，箱体为不锈钢材料。●真空手套箱箱体气体置换采用真空置换方式，即先对箱体抽真空然后充入保护性气体（如高纯氩气、氮气等），其特点是：气体置换速度快、用气量少，具有方便、快捷、经济、可靠等优点，但气体置换不彻底、不具有箱体氛围维持功能。因此多用于小型实验及对水氧含量在800PPM以上的小试中。●可供用户选择的规格型号及配置形式较多，并且可以按照用户要求订做。●规模化生产，交货周期短，标准单人箱可现货供应。●可按用户要求集成有机溶剂吸附器、冰箱、气压机、加热炉、显微投影系统，加装冷阱、低温浴槽、溶剂净化系统以及除尘系统、增压系统、真空炉等。●机械零件加工、箱体折弯焊接、整机组装全部在我司工厂完成。●真空手套箱已经广泛应用于锂电池研发及生产、物理化学研究、粉末冶金、原子核技术、特种焊接、OLED和PLED研究、催化剂研究、医药行业、材料处理、特种灯研发及生产、精细化工、金属有机、聚合材料等行业。●真空手套箱设计美观，结构紧凑，做工精细；设备运行稳定，可连续长期运转，操作简单，运行维护成本低。●真空手套箱主要由手套箱体（含全视窗钢化玻璃、铝制手套口、Φ200X670乳胶手套等）、大小过渡舱、照明、移动底架、集成抽、充气管路等组成。 二、JMS真空手套箱与其他厂商产品对照序号项次JMS真空手套箱其他厂商真空手套箱1视窗形式全视窗（手套口开在视窗钢化玻璃上，无观察死角）半视窗（手套口开在箱体上，视角较小） 2 视窗材料 钢化玻璃（耐腐蚀、易清洗）有机玻璃（易划伤、不耐腐蚀、易雾化）3手套口大小手套口直径Φ200mm手套口直径Φ145mm 4 手套 Φ200×670mm，厚度1.5mm,整体成型，专门定制Φ145×700mm,厚度1.0mm,两段粘接，劳保乳胶手套代用 5 视窗法兰框先用铣床对304不锈钢矩形钢铣削加工（JMS1、JMS2采用20×40不锈钢矩形钢，JMS3采用20×55不锈矩形钢），然后进行焊接，以保证视窗法兰框的强度、平整度及箱体的气密性3mm不锈钢板钣金加工，不能保证视窗法兰框的强度、平整度及箱体的气密性 6 管路 抽、充管路集成，使用时只需开关阀门即可，方便使用抽、充气管路不集成，使用时再插接管路，不仅使用不便，更易产生管路泄露7底架除JMS-1真空手套箱外均有移动底架，均无移动底架8气密性高气密性，24小时真空度下降小于0.005MPa有些厂商产品的气密性根本不过关 9 生产情况 较强的自加工能力，除标准件外，90%为自加工有些厂商无任何加工能力，全部为委托加工、甚至委托生产 三、JMS真空手套箱特点1、 箱体为不锈钢2、 视窗采用钢化玻璃全视窗，手套口开在视窗玻璃上，无观察死角。3、 视窗法兰框是机加工而成，有别于其他厂商的钣金加工，视窗在高 真空状态下可以承受大气压力而不变形，保证了箱体的气密性。4、 手套口直径为Φ200mm，手套为开模定制的乳胶手套，壁厚1.5mm， 有效防止水氧的分子级渗漏。5、 过渡舱门采用气弹簧平衡，开启方便。6、 箱体、过渡舱、手套口抽真空及充气管路集成，方便使用。 四、JMS系列真空手套箱性能指标项目性能指标耐真空度泄露率（气密性）过渡室-0.1MPa≤0.05VOL%/H （96小时真空度下降≤0.005MPa）箱体-0.1MPa≤0.05VOL%/H （12小时真空度下降≤0.005MPa）五、 JMS系列真空手套箱型号规格： JMS-2：●箱体尺寸：800×600×700mm●过渡室尺寸：Φ280×400mm●移动支架●2个铝合金手套口

一、JMS真空手套箱概述：●采用国内最新技术，箱体为不锈钢材料。●真空手套箱箱体气体置换采用真空置换方式，即先对箱体抽真空然后充入保护性气体（如高纯氩气、氮气等），其特点是：气体置换速度快、用气量少，具有方便、快捷、经济、可靠等优点，但气体置换不彻底、不具有箱体氛围维持功能。因此多用于小型实验及对水氧含量在800PPM以上的小试中。●可供用户选择的规格型号及配置形式较多，并且可以按照用户要求订做。●规模化生产，交货周期短，标准单人箱可现货供应。●可按用户要求集成有机溶剂吸附器、冰箱、气压机、加热炉、显微投影系统，加装冷阱、低温浴槽、溶剂净化系统以及除尘系统、增压系统、真空炉等。●机械零件加工、箱体折弯焊接、整机组装全部在我司工厂完成。●真空手套箱已经广泛应用于锂电池研发及生产、物理化学研究、粉末冶金、原子核技术、特种焊接、OLED和PLED研究、催化剂研究、医药行业、材料处理、特种灯研发及生产、精细化工、金属有机、聚合材料等行业。●真空手套箱设计美观，结构紧凑，做工精细；设备运行稳定，可连续长期运转，操作简单，运行维护成本低。●真空手套箱主要由手套箱体（含全视窗钢化玻璃、铝制手套口、Φ200X670乳胶手套等）、大小过渡舱、照明、移动底架、集成抽、充气管路等组成。 二、JMS真空手套箱与其他厂商产品对照序号项次JMS真空手套箱其他厂商真空手套箱1视窗形式全视窗（手套口开在视窗钢化玻璃上，无观察死角）半视窗（手套口开在箱体上，视角较小） 2 视窗材料 钢化玻璃（耐腐蚀、易清洗）有机玻璃（易划伤、不耐腐蚀、易雾化）3手套口大小手套口直径Φ200mm手套口直径Φ145mm 4 手套 Φ200×670mm，厚度1.5mm,整体成型，专门定制Φ145×700mm,厚度1.0mm,两段粘接，劳保乳胶手套代用 5 视窗法兰框先用铣床对304不锈钢矩形钢铣削加工（JMS1、JMS2采用20×40不锈钢矩形钢，JMS3采用20×55不锈矩形钢），然后进行焊接，以保证视窗法兰框的强度、平整度及箱体的气密性3mm不锈钢板钣金加工，不能保证视窗法兰框的强度、平整度及箱体的气密性 6 管路 抽、充管路集成，使用时只需开关阀门即可，方便使用抽、充气管路不集成，使用时再插接管路，不仅使用不便，更易产生管路泄露7底架除JMS-1真空手套箱外均有移动底架，均无移动底架8气密性高气密性，24小时真空度下降小于0.005MPa有些厂商产品的气密性根本不过关 9 生产情况 较强的自加工能力，除标准件外，90%为自加工有些厂商无任何加工能力，全部为委托加工、甚至委托生产 三、JMS真空手套箱特点1、 箱体为不锈钢2、 视窗采用钢化玻璃全视窗，手套口开在视窗玻璃上，无观察死角。3、 视窗法兰框是机加工而成，有别于其他厂商的钣金加工，视窗在高 真空状态下可以承受大气压力而不变形，保证了箱体的气密性。4、 手套口直径为Φ200mm，手套为开模定制的乳胶手套，壁厚1.5mm， 有效防止水氧的分子级渗漏。5、 过渡舱门采用气弹簧平衡，开启方便。6、 箱体、过渡舱、手套口抽真空及充气管路集成，方便使用。 四、JMS系列真空手套箱性能指标项目性能指标耐真空度泄露率（气密性）过渡室-0.1MPa≤0.05VOL%/H （96小时真空度下降≤0.005MPa）箱体-0.1MPa≤0.05VOL%/H （12小时真空度下降≤0.005MPa）五、 JMS系列真空手套箱型号规格： 1、JMS-1：●箱体尺寸：650×500×500mm●过渡室尺寸：Φ200×350mm●台式安装●2个铝合金手套口

中图仪器WD4000晶圆厚度晶圆翘曲度测量仪通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度，TTV，BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止晶圆产生划痕缺陷。WD4000晶圆厚度晶圆翘曲度测量仪采用高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立3DMapping图，实现晶圆厚度、TTV、LTV、Bow、Warp、TIR、SORI、等反应表面形貌的参数。可兼容不同材质不同粗糙度、可测量大翘曲wafer、测量晶圆双面数据更准确，可实现砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、铌酸锂、蓝宝石、硅、碳化硅、玻璃不同材质晶圆的量测。测量功能1、厚度测量模块：厚度、TTV(总体厚度变化)、LTV、BOW、WARP、TIR、SORI、平面度、等；2、显微形貌测量模块：粗糙度、平整度、微观几何轮廓、面积、体积等。3、提供调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能。其中调整位置包括图像校平、镜像等功能；纠正包括空间滤波、修描、尖峰去噪等功能；滤波包括去除外形、标准滤波、过滤频谱等功能；提取包括提取区域和提取剖面等功能。4、提供几何轮廓分析、粗糙度分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能。几何轮廓分析包括台阶高、距离、角度、曲率等特征测量和直线度、圆度形位公差评定等；粗糙度分析包括国际标准ISO4287的线粗糙度、ISO25178面粗糙度、ISO12781平整度等全参数；结构分析包括孔洞体积和波谷。WD4000晶圆厚度晶圆翘曲度测量仪可广泛应用于衬底制造、晶圆制造、及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、显示面板、MEMS器件等超精密加工行业。可测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的厚度、粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等，提供依据SEMI/ISO/ASME/EUR/GBT四大国内外标准共计300余种2D、3D参数作为评价标准。产品优势1、非接触厚度、三维维纳形貌一体测量集成厚度测量模组和三维形貌、粗糙度测量模组，使用一台机器便可完成厚度、TTV、LTV、BOW、WARP、粗糙度、及三维形貌的测量。2、高精度厚度测量技术（1）采用高分辨率光谱共焦对射技术对Wafer进行高效扫描。（2）搭配多自由度的静电放电涂层真空吸盘，晶圆规格最大可支持至12寸。（3）采用Mapping跟随技术，可编程包含多点、线、面的自动测量。3、高精度三维形貌测量技术（1）采用光学白光干涉技术、精密Z向扫描模块和高精度3D重建算法，Z向分辨率高可到0.1nm；（2）隔振设计降低地面振动和空气声波振动噪声，获得高测量重复性。（3）机器视觉技术检测图像Mark点，虚拟夹具摆正样品，可对多点形貌进行自动化连续测量。4、大行程高速龙门结构平台（1）大行程龙门结构(400x400x75mm)，移动速度500mm/s。（2）高精度花岗岩基座和横梁，整体结构稳定、可靠。（3）关键运动机构采用高精度直线导轨导引、AC伺服直驱电机驱动，搭配分辨率0.1μm的光栅系统，保证设备的高精度、高效率。5、操作简单、轻松无忧（1）集成XYZ三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦等测量前准工作。（2）具备双重防撞设计，避免误操作导致的物镜与待测物因碰撞而发生的损坏情况。（3）具备电动物镜切换功能，让观察变得快速和简单。应用场景1、无图晶圆厚度、翘曲度的测量通过非接触测量，将晶圆上下面的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度、粗糙度、总体厚度变化(TTV)，有效保护膜或图案的晶片的完整性。2、无图晶圆粗糙度测量Wafer减薄工序中粗磨和细磨后的硅片表面3D图像，用表面粗糙度Sa数值大小及多次测量数值的稳定性来反馈加工质量。在生产车间强噪声环境中测量的减薄硅片，细磨硅片粗糙度集中在5nm附近，以25次测量数据计算重复性为0.046987nm，测量稳定性良好。部分参数测量速度：最快15s测量范围：100μm~2000μm 测量精度：0.5um 重复性（σ）：0.2um探头分辨率：23nm扫描方式：Fullmap 面扫、米字、 自由多点测量参数：厚度、TTV(总体厚度变化)、BOW、WARP、LTV、粗糙度等可测材料：砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、 铌酸锂、蓝宝石、硅、碳化硅、氮化镓、玻璃、外延材料等恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

WD4000晶圆表面厚度翘曲度测量系统通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度，TTV，BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止晶圆产生划痕缺陷。兼容不同材质不同粗糙度、可测量大翘曲wafer、测量晶圆双面数据更准确。测量功能1、厚度测量模块：厚度、TTV(总体厚度变化)、LTV、BOW、WARP、TIR、SORI、平面度、等；2、显微形貌测量模块：粗糙度、平整度、微观几何轮廓、面积、体积等。3、提供调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能。其中调整位置包括图像校平、镜像等功能；纠正包括空间滤波、修描、尖峰去噪等功能；滤波包括去除外形、标准滤波、过滤频谱等功能；提取包括提取区域和提取剖面等功能。4、提供几何轮廓分析、粗糙度分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能。几何轮廓分析包括台阶高、距离、角度、曲率等特征测量和直线度、圆度形位公差评定等；粗糙度分析包括国际标准ISO4287的线粗糙度、ISO25178面粗糙度、ISO12781平整度等全参数；结构分析包括孔洞体积和波谷。产品优势1、非接触厚度、三维维纳形貌一体测量WD4000晶圆表面厚度翘曲度测量系统集成厚度测量模组和三维形貌、粗糙度测量模组，使用一台机器便可完成厚度、TTV、LTV、BOW、WARP、粗糙度、及三维形貌的测量。2、高精度厚度测量技术（1）采用高分辨率光谱共焦对射技术对Wafer进行高效扫描。（2）搭配多自由度的静电放电涂层真空吸盘，晶圆规格最大可支持至12寸。（3）采用Mapping跟随技术，可编程包含多点、线、面的自动测量。3、高精度三维形貌测量技术（1）采用光学白光干涉技术、精密Z向扫描模块和高精度3D重建算法，Z向分辨率高可到0.1nm；（2）隔振设计降低地面振动和空气声波振动噪声，获得高测量重复性。（3）机器视觉技术检测图像Mark点，虚拟夹具摆正样品，可对多点形貌进行自动化连续测量。4、大行程高速龙门结构平台（1）大行程龙门结构(400x400x75mm)，移动速度500mm/s。（2）高精度花岗岩基座和横梁，整体结构稳定、可靠。（3）关键运动机构采用高精度直线导轨导引、AC伺服直驱电机驱动，搭配分辨率0.1μm的光栅系统，保证设备的高精度、高效率。5、操作简单、轻松无忧（1）集成XYZ三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦等测量前准工作。（2）具备双重防撞设计，避免误操作导致的物镜与待测物因碰撞而发生的损坏情况。（3）具备电动物镜切换功能，让观察变得快速和简单。WD4000晶圆表面厚度翘曲度测量系统可实现砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、铌酸锂、蓝宝石、硅、碳化硅、玻璃不同材质晶圆的量测。广泛应用于衬底制造、晶圆制造、及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、显示面板、MEMS器件等超精密加工行业。测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的厚度、粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。应用场景1、无图晶圆厚度、翘曲度的测量通过非接触测量，将晶圆上下面的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度、粗糙度、总体厚度变化(TTV)，有效保护膜或图案的晶片的完整性。2、无图晶圆粗糙度测量Wafer减薄工序中粗磨和细磨后的硅片表面3D图像，用表面粗糙度Sa数值大小及多次测量数值的稳定性来反馈加工质量。在生产车间强噪声环境中测量的减薄硅片，细磨硅片粗糙度集中在5nm附近，以25次测量数据计算重复性为0.046987nm，测量稳定性良好。重点参数测量速度：最快15s测量范围：100μm~2000μm 测量精度：0.5um 重复性（σ）：0.2um探头分辨率：23nm扫描方式：Fullmap 面扫、米字、 自由多点测量参数：厚度、TTV(总体厚度变化)、BOW、WARP、LTV、粗糙度等可测材料：砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、 铌酸锂、蓝宝石、硅、碳化硅、氮化镓、玻璃、外延材料等

波动实验装置，YGP-6205 简介YGP-6205实验装置通过使用正弦波发生器驱动一个细绳振荡器，在拉伸的细绳中建立一个驻波模式。通过改变细绳振荡器中的驱动频率、细绳的长度、线密度和张力来研究对波速的影响。此外，用同一正弦波发生器驱动一个扬声器从而在一根共鸣管中形成驻波。通过改变驱动频率、管子的长度来研究波长和声速之间的关系。基于封闭、开放管的情况来研究波节、波腹和谐波的概念。特点实验装置设计形象直观，便于学生理解驻波的原理；采用振荡器驱动细绳，非常直观地观察波腹和波节；采用亚克力管作为共鸣管，透明直观；弦振动的线密度、长度和张力可变；共鸣管的驱动频率和管子长度可变；选配声音传感器升级数字化实验，可实时观测共鸣管不同位置的声音强度变化。实验内容测量弦的线密度和波速弦和共鸣管中的共振空气中的声速复摆实验，YGP-6222 简介复摆是一刚体绕固定的水平轴在重力的作用下作微小摆动的动力运动体系。复摆又称为物理摆。当摆动的角度较小时，摆动近似为谐振动。可通过摆动周期计算重力加速度。YGP-6222 复摆实验装置用多种不同的摆测量当地重力加速度，结合转动传感器，并利用计算机对测量数据进行分析，可在软件上实时观察摆动角度随时间的变化，充分利用数字化辅助教学，贴合最新的大学物理课程教学基本要求。特点测量精度高，采用无线转动传感器，USB2.0和蓝牙通讯，角分辨率0.18°。装置采用高密度材料制作的三角底座，底座稳固，同时设计带有水平泡，可直观的调节底座平整度，保证实验效果。安装方便，拆卸安装螺钉即能实现不同复摆附件之间的更换，并开始实验。实验内容a) 根据复摆的周期公式，采用解方程组的方式求出g值。b) 利用复摆的共轭性，采用软件作图，从而找寻到共轭点，进而求出g值。c) 利用最小二乘法，求出g值。d) 采用凯特摆测g值。e) 基于振荡周期的转动惯量测g值。f) 采用视频追踪法测g值。阻尼与受迫振动实验，YGP-6223简介物体在某一位置（这一位置称为平衡位置）附近来回往复的运动成为机械振动。在实际场景中，振动系统通常都处在气体或液体之中，它们受到周围介质对它的阻力。受阻力作用，振动的振幅会随时间逐渐衰减，以致振动不能持久。要维持持续的振动，外界必须对振子施加持续的周期性的外力，使其因阻尼而损失的能量得到不断的补充。振子在周期性外力作用下发生的振动叫受迫振动，并把周期性外力称为强迫力，或者驱动力。当受迫振动振幅达到最大时的现象称为共振。YGP-6223阻尼与受迫振动实验装置采用电机驱动弹簧带动圆盘摆动完美地演示了阻尼振动和受迫振动两个振动的过程和效果，该装置利用两个转动传感器记录驱动频率和摆动振幅，可以实现连续的数据采集和实时绘制实验数据曲线，绘制“振幅-频率”的关系曲线，得到共振频率，相位关系图等，极大方便了学生对实验原理的理解，使更加能够透彻的学习、理解和掌握实验。特点无线转动传感器，USB2.0和蓝牙通讯，角分辨率0.18°。双支杆固定加稳固的底座，装置稳定性强。电机驱动频率、振幅，磁阻尼大小均可调节，实验内容丰富，可探索性强。实验内容a) 观察振动角度随时间变化的关系，测量共振频率，并于理论值做对比b) 拟合阻尼振动曲线的波峰和波谷包络线，计算阻尼系数c) 谐振曲线测量，并分析磁阻尼对谐振曲线的影响d) 相位分析大振幅摆实验，YGP-6227简介本实验用的摆是一个物理摆，探索摆幅与周期的关系。软件能实时显示大振幅摆的角位移、角速度、角加速度图像，可以与小振幅摆的角位移、角速度、角加速度正弦运动图像作对比。特点测量精度高，采用无线转动传感器，USB2.0和蓝牙通讯，角分辨率0.18°。装置采用高密度材料制作的三角底座，底座稳固，同时设计带有水平泡，可直观的调节底座平整度，保证实验效果。分析软件功能丰富，具备数据表格显示、图表显示等功能，可以实时采集和分析实验数据，支持采样频率调节，软件能实时显示大振幅摆的角位移、角速度、角加速度图像。实验内容大振幅时角位置、角速度和角加速度曲线的曲线形态。小振幅时角位置、角速度和角加速度曲线的曲线形态。小振幅近似单摆周期测量。不同摆幅角的大振幅摆周期测量。变量g摆实验，YGP-6229简介本实验用的摆是一个物理摆，物理摆在小角度摆动时近似于简谐振动。通过不断调整摆与垂直方向的角度，让摆在相应平面内小角度震荡，这等效于降低了重力加速度，得到不同重力加速度条件下的摆动周期时间，并于理论值进行对比。特点测量精度高，采用无线转动传感器，USB2.0和蓝牙通讯，角分辨率0.18°。装置采用高密度材料制作的三角底座，底座稳固，同时设计带有水平泡，可直观的调节底座平整度，保证实验效果。可调角度夹具确保调节角度后装置维持稳定。实验内容a) 测量物理摆小角度摆动的周期时间。b) 调节摆与垂直方向的不同角度，分别测量小角度摆动的周期时间。c) 测量的周期时间与理论周期时间进行对比。更多精彩内容，请关注下方！

光学平台，厚度210 mm T1020C特性厚度：210 mm(8.3英寸)提供尺寸范围从3英尺 x 6英尺(1 m x 2 m)到4.8英尺 x 8英尺(1.5 m x 2.5 m)每张平台都经过单独优化、测试，发货时附带测试数据报告边缘小孔距平台边缘1/2英寸(12.5 mm)，使可用区域最大化顶板：任意1平方米(11平方英尺)区域内的表面平整度为±0.1 mm(±0.004英寸)5 mm的不锈钢顶板和底板，以及全钢侧板整个平台采用钢-钢接合，提高热稳定性Thorlabs厚度为210 mm(8.3英寸)的Nexus系列光学平台具有各种不同的长度和宽度，可从3英尺 x 6英尺(1 m x 2 m)到4.8英尺 x 8英尺(1.5 m x 2.5 m)的范围内选择。它们具有全钢结构和出色的稳定性，并且针对每种平台尺寸优化了宽带阻尼特性。厚度为5 mm的不锈钢顶板和底板经过哑光效果处理，顶板经过精密加工，在任意1平方米内的表面平整度为±0.1 mm。这些平台具有1/4英寸-20(M6)安装孔，孔的中心间距为1英寸(25 mm)，安装孔阵列与平台边缘的距离为1/2英寸(12.5 mm)。支脚选项我们的光学平台需要使用隔振支脚(另外购买)。我们提供可配置集成多种配件的主动刚性隔振工作台。我们也出售刚性平台支撑脚，以及附带主动或被动隔振器的支脚。我们还为地震区域提供耐震脚以保证实验室安全，以及其它光学平台配件。

中图仪器WD4000晶圆翘曲度厚度粗糙度表面形貌检测设备通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建。它采用的高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立3D Mapping图，能实现晶圆厚度、TTV、LTV、Bow、Warp、TIR、SORI、等反应表面形貌的参数。WD4000晶圆检测设备自动测量Wafer厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。1、使用光谱共焦对射技术测量晶圆Thickness、TTV、LTV、BOW、WARP、TIR、SORI等参数，同时生成Mapping图；2、采用白光干涉测量技术对Wafer表面进行非接触式扫描同时建立表面3D层析图像，显示2D剖面图和3D立体彩色视图，高效分析表面形貌、粗糙度及相关3D参数；3、基于白光干涉图的光谱分析仪，通过数值七点相移算法计算，达到亚纳米分辨率测量表面的局部高度，实现膜厚测量功能；4、红外传感器发出的探测光在Wafer不同表面反射并形成干涉，由此计算出两表面间的距离（即厚度），可适用于测量BondingWafer的多层厚度。该传感器可用于测量不同材料的厚度，包括碳化硅、蓝宝石、氮化镓、硅等。WD4000晶圆翘曲度厚度粗糙度表面形貌检测设备兼容不同材质不同粗糙度、可测量大翘曲wafer、测量晶圆双面数据更准确。广泛应用于衬底制造、晶圆制造、及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、显示面板、MEMS器件等超精密加工行业。可测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的厚度、粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。测量功能1、厚度测量模块：厚度、TTV(总体厚度变化)、LTV、BOW、WARP、TIR、SORI、平面度、等；2、显微形貌测量模块：粗糙度、平整度、微观几何轮廓、面积、体积等。3、提供调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能。其中调整位置包括图像校平、镜像等功能；纠正包括空间滤波、修描、尖峰去噪等功能；滤波包括去除外形、标准滤波、过滤频谱等功能；提取包括提取区域和提取剖面等功能。4、提供几何轮廓分析、粗糙度分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能。几何轮廓分析包括台阶高、距离、角度、曲率等特征测量和直线度、圆度形位公差评定等；粗糙度分析包括国际标准ISO4287的线粗糙度、ISO25178面粗糙度、ISO12781平整度等全参数；结构分析包括孔洞体积和波谷。产品优势1、非接触厚度、三维维纳形貌一体测量WD4000晶圆翘曲度厚度粗糙度表面形貌检测设备集成厚度测量模组和三维形貌、粗糙度测量模组，使用一台机器便可完成厚度、TTV、LTV、BOW、WARP、粗糙度、及三维形貌的测量。2、高精度厚度测量技术（1）采用高分辨率光谱共焦对射技术对Wafer进行高效扫描。（2）搭配多自由度的静电放电涂层真空吸盘，晶圆规格最大可支持至12寸。（3）采用Mapping跟随技术，可编程包含多点、线、面的自动测量。3、高精度三维形貌测量技术（1）采用光学白光干涉技术、精密Z向扫描模块和高精度3D重建算法，Z向分辨率高可到0.1nm；（2）隔振设计降低地面振动和空气声波振动噪声，获得高测量重复性。（3）机器视觉技术检测图像Mark点，虚拟夹具摆正样品，可对多点形貌进行自动化连续测量。4、大行程高速龙门结构平台（1）大行程龙门结构(400x400x75mm)，移动速度500mm/s。（2）高精度花岗岩基座和横梁，整体结构稳定、可靠。（3）关键运动机构采用高精度直线导轨导引、AC伺服直驱电机驱动，搭配分辨率0.1μm的光栅系统，保证设备的高精度、高效率。5、操作简单、轻松无忧（1）集成XYZ三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦等测量前准工作。（2）具备双重防撞设计，避免误操作导致的物镜与待测物因碰撞而发生的损坏情况。（3）具备电动物镜切换功能，让观察变得快速和简单。WD4000可实现砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、铌酸锂、蓝宝石、硅、碳化硅、玻璃不同材质晶圆的量测。部分技术规格品牌CHOTEST中图仪器型号WD4000系列测量参数厚度、TTV(总体厚度变化)、BOW、WARP、LTV、粗糙度等可测材料砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、 铌酸锂、蓝宝石、硅、碳化硅、氮化镓、玻璃、外延材料等厚度和翘曲度测量系统可测材料砷化镓 氮化镓 磷化 镓 锗 磷化铟 铌酸锂 蓝宝石 硅 碳化硅 玻璃等测量范围150μm~2000μm扫描方式Fullmap面扫、米字、自由多点测量参数厚度、TTV(总体厚度变 化)、LTV、BOW、WARP、平面度、线粗糙度三维显微形貌测量系统测量原理白光干涉干涉物镜10X(2.5X、5X、20X、50X,可选多个)可测样品反射率0.05%~100粗糙度RMS重复性0.005nm测量参数显微形貌 、线/面粗糙度、空间频率等三大类300余种参数膜厚测量系统测量范围90um(n= 1.5)景深1200um最小可测厚度0.4um红外干涉测量系统光源SLED测量范围37-1850um晶圆尺寸4"、6"、8"、12"晶圆载台防静电镂空真空吸盘载台X/Y/Z工作台行程400mm/400mm/75mm恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

主机介绍： l 该试验装置适用于4000mm(含4000mm)以下长度的双缝桥梁伸缩缝（装配公差）试验要求，钢板上通过4条滑轨及配套夹具形成一个活动框架，采用油缸加压实现夹紧，试验夹具以伸缩缝装置断面结构形式而定；l 应综甲资质复审第18项桥梁伸缩装置试验检测需求，本试验装置，可满足：①　装配公差试验所需的（完全压缩时）即：压缩量的试验需求②　公路桥梁伸缩装置通用技术条件（JT/T327-2016)_ueditor_page_break_tag_n 主要技术指标主要技术指标指标参数滑块有效伸缩距离0-160mm试验长度4000mm加载方式电动加载位移速率调节范围定速加载装置2组台架的平行度，垂直度及台面的平整度误差±1mm夹具160型80型试验空间调整机构伺服加载，低噪音升降丝杠传动

基本参数：型号MORPHO 3D粒径范围[μm]干法：500 ~10000分析时间 [分钟]1~3光学成像系统130万像素24位彩色相机（向前）；130万像素8位单色相机（侧向）光源400nm蓝光镜头类型定焦镜头操作软件Callisto 3D干法分散系统受控旋转振动分散+线性传输自动清洁真空模块选项-认证选项3Q验证（IQ，OQ，OQ）尺寸[mm]990*520*600重量[Kg]75.0应用领域：食品（糖，咖啡，巧克力）、纤维、烟草、泥沙，金刚石，聚苯乙烯（PTFE)，陶瓷，肥料等性能特点： 颗粒长度、宽度和厚度的三维测量，并进行彩色成像 粒度范围：500 μm – 10,000 μm 分析时间：1～3分钟 Callisto 3D彩色分析软件 一般的图像法粒度分析仪只能测量颗粒的平面信息即a、b方向数据；MORPHO 3D不仅可以测量颗粒a、b方向数据，而且可以测量颗粒的厚度即c方向数据（见图1）。粒度粒形分析仪该设计采用了两部呈90度角的相机由样品正上方和左侧采集数据的技术，以及欧奇奥皮带输送技术，实现了颗粒三维信息的真实获取，再结合欧奇奥公司的骄子（Callisto）3D彩色分析软件，粒度粒形分析仪可用于分析非球形颗粒如小球、谷物、药片、玉米、化肥、大米等的粒度及厚度；其彩色分析功能还可以呈现颗粒颜色，并根据颗粒的不同颜色分析每种颗粒群所占比例，特别是胶囊配方检验和仿制药配方研究。新型及独特的样品分散器能够将一个个颗粒完全分散开，从而保证颗粒之间无干扰采集数据；样品传送带可以将颗粒保持在同一位置，从而得到真实颗粒粒度及厚度即颗粒的三维数据。{图1 单个颗粒的投影面，及其长度（a）、宽度（b）和厚度（c）}a和b为颗粒投影面积的截面上相互垂直的长、短轴，c是与该平面垂直的轴。在静态图像法中:a和b可直接测量得到；c 不可测；投影面积 (A)可由a和b计算得到。表征颗粒长宽比的颗粒形貌参数包括： 延伸度（EL）－ 特指EL=b/a； 平整度（FL）－ 特指FL=c/a