探针弹力测试仪

四探针电阻率测试仪。XH-KDY-1BS 型四探针电阻率测试仪是严格按照硅材料电阻率测量的国际标准（ASTM F84）及国家标准设计制造，并针对目前常用的四探针电阻率测试仪存在的问题加以改进。整套仪器有如下特点：1、 配有双数字表： 一块数字表在测量显示硅片电阻率的同时，另一块数字表（以万分之几的精度）适时监测全过程中的电流变化，使操作更简便，测量更精确。数字电压表量程：0—199.99mV 灵敏度：10μV输入阻抗：1000ΜΩ基本误差±(0.04-0.05%读数+0.01%满度)2、可测电阻率范围：10—4 —1.9×104Ω·cm可测方块电阻范围：10—3 —1.9×105Ω/□。2、 设有电压表自动复零功能，当四探针头1、4 探针间未有测量电流流过时，电压表指零，只有1、4 探针接触到硅片，测量电流渡过单晶时，电压表才指示2、3 探针间的电压（即电阻率）值，避免空间杂散电波对测量的干扰。3、 流经硅料的测量电流由高度稳定（万分之五精度）的特制恒流源提供，不受气候条件的影响，整机测量精度10 万次），在绝缘电阻、电流容量方面留有更大的安全系数，提高了测试仪的可靠性和使用寿命。5、 加配软件配电脑使用，实现自动换向测量、求平均值，计算并打印电阻率最大值、最小值、最大百分变化率、平均百分变化率等内容。6、 四探针头采用国际上先进的红宝石轴套导向结构，使探针的游移率减小，测量重复性提高（国家知识产权局已于2005.02.02 授予专利权，专利号：ZL03274755.1）。

请问那个学校有四探针测试仪？最好是京津塘这边的，离的比较近，急需试验用！

ICT测试治具在使用的过程中通常需要用到探针来进行测试，探针是电测试的接触媒介，是一种高端精密型电子五金元器件。探针的选用主要是根据ict测试治具线路板的中心距和被测点的形状而定，PCB板上所要测试的点与点之间越近，选用探针的外径也就越细。http://www.guoluzaiju.com/uploadfile/2012/0522/25741337657617.JPG通常ICT测试治具所用的探针有很多的规格，针主要是由三个部份组成：一是针管，主要是以铜合金为材料外面镀金；二是弹簧，主要琴钢线和弹簧钢外面镀金；三是针头，主要是工具钢（SK）镀镍或者镀金，以上三个部分组装成一种探针。 在选择探针的过程中应该要考虑以下几个因素： 1、探针质量需要符合要求 在ICT测试中对于探针的质量也是有很大的要求的，也就是说若是探针的质量是存在问题的，那么不仅会造成测试结果存在问题，还会造成其他的问题出现，因此人们在选择测试治具探针的时候一定要做好全面的检查工作，要保证质量2、探针型号需要符合要求 针对于ICT测试中不同的情况，不同的测试距离对于探针的型号的要求就会有很大的不同，我们应该根据不同的线路板的中心距和被测点的形状来选择探针型号。以上就是为大家总结的有关ICT测试治具的探针选用的过程中应该注意些什么的介绍，希望可以帮到大家，本文出自：http://www.guoluzaiju.com/show-267-3378.html【捷甫电子,陈勇兵,0755-89494572 http://www.guoluzaiju.com/】公司专业生产、销售ICT在线测试仪（TR-518FE、TR-518FR、TR518FV）、ICT测试治具，功能（FCT）测试治具、DIP/SMT过炉治具（载具）、自动测试系统、成型设备、BGA测试治具，提供各种ICT测试仪的维修保养。公司专注于ICT测试仪和测试治具8年。

本单位欲购买双电测四探针测试仪器和霍尔效应仪器，做科研用。谁能提供一些厂家和型号?谢谢。

求助： 很久以前见过一个专卖二手测试仪器的网址，但是现在找不到了。请知道的朋友告诉一声。我想买一台二手的台阶仪（探针接触式）的。

请问各位行家，能谱仪探针在真空室里，而液氮罐在外面，那么液氮是怎么保护能谱仪探针的呢？

各位前辈，想问一下纺织品弹力测试的方法：LTD03以及弹力回复的问题。弹力回复在标准中是怎样规定的？怎样计算才是最标准的？谢谢。

各位专家各位朋友大家好！请教一下用电子探针测试碳纤维径向元素分布的问题（纤维直径20um左右，由于不是成品导电性不好）我的测试方法，是将纤维（直径20um左右）埋在树脂里制成金相，打磨抛光后，露出纤维截面，喷碳后，用导电胶粘在电子探针样品台上，在显微镜里观察纤维，但纤维总是飘动，且看不清，原因应该是导电不好或者是我的金相没有制备好。由于电子束难以聚集在纤维上，没能测出纤维截面上径向的氧元素分布。想请教一下你们是怎么做的呢？这个问题也困扰了我很久，期待大家的回复。

提供实验室整体解决方案......BRUKER探针 -AFM探针原子力显微镜AFM探针: 探针的工作模式：主要分为 扫描(接触)模式和轻敲模式探针的结构：悬臂梁+针尖探针针尖曲率半径Tip Radius：一般为10nm到几十nm。制作工艺：半导体工艺制作常见的探针类型：（1）、导电探针（电学）：金刚石镀层针尖，性能比较稳定（2）、压痕探针：金刚石探针针尖（分为套装和非套装的）（3）、氮化硅探针：接触式 （分为普通的和锐化的）（4）、磁性探针：应用于MFM，通过在普通tapping和contact模式的探针上镀Co、Fe[/siz

锅炉燃烧测试，需要高温探针，要耐高温材料的，起码1500摄氏度的。谁有这样的探针，帮忙介绍一下。

推拉力测试仪分为两种,一种是数显式推拉力测试仪,另外一种是指针式推拉力计　　推拉力计是由一个高精度的应变片式传感器及一个集成电路组成　　当力作用与传感器时,传感器会发生形变,从而使阻抗发生变化，同时使激励电压发生变化,输出一个变化的模拟信号。该信号经放大电路放大输出到模数转换器，转换成便于处理的数字信号输出到CPU运算控制,CPU根据键盘的命令以及程序设定将这种结果输出到显示器,直至显示这种结果。　　以推拉力计的工作原理是根据：胡克定律F=kx。写作： F=k.x　　其中：“F”，表现弹簧的弹力,而弹力是弹簧产生形变时对施力物的作用力。　　“x”，是弹簧伸长或缩短的长度，注意“x”是以弹簧没有形变时的长度为基准，即x=x'-x0或x=x0-x'。　　“k”，叫弹簧的劲度系数，它描写单位形变量时所发生弹力的大小，k值大，阐明形变单位长时须要的力大，或者说弹簧“硬”.k跟弹簧资料,是非,粗细等都有关系。k的国际单位是牛/米。　　假如将几个相同的数显推拉力测试仪串联或并联起来后,这个新的弹簧的劲度系数不再是本来的劲度系数.设两个劲度系数都是k的弹簧串联后的劲度系数为k1,则有F=k1·x，由于a点的弹力也为F，所以对弹簧1可写两个劲度系数都是k原长雷同的弹簧并联时的劲度系数为k2，则有F=k2·x 数变小，并联后的变大。　　数显推拉力测试仪,他用数显方法显示丈量到的力,读数就比弹簧机械式要方便我多了　　1.即使是在垂直向上拉,而且是静止的情况下,弹簧测力计的拉力与重力大小是相等的，然而，弹簧的拉力的方向确与重力的方向相反,而力是矢量单位,是有方向性的,所以弹2簧的拉力就是重力的说法不对。　　2.假如在垂直方向上,用弹簧测力计拉侧重物向上做加速活动时,推拉力计弹簧测力计的拉力大小大于重物的重力。　　3.其它情形略。

我是一个电子探针的新手,想找一些定量分析相关的资料,网上看到有一些电子探针分析的标准,可不知道哪里有卖的?各位,谢了!

四探针测试自制的金属银纳米线薄膜时，出现一个现象，随着探头压力的增加，电阻率发生相应的变化，应该是压力越大，电阻率越大。我测试硅片的时候就很稳定，不知道是什么原因造成的。大家有没有其他材料有这种情况呢

与乙酰胆碱酯酶活性位点结合的荧光探针有哪些 ?9-CHLORO-N-METHYLACRIDINIUM IODIDE这种物质可否做乙酰胆碱酯酶的荧光探针？它的相关性质有哪些？

请大家帮帮忙！很着急。如何校定探针悬臂的弹性系数？

与乙酰胆碱酯酶活性位点结合的荧光探针有哪些 ?谢谢！

AFM探针分类及各探针优缺点 　　AFM探针基本都是由MEMS技术加工 Si 或者 Si3N4来制备. 探针针尖半径一般为10到几十 nm。微悬臂通常由一个一般100~500μm长和大约500nm~5μm厚的硅片或氮化硅片制成。典型的硅微悬臂大约100μm长、10μm宽、数微米厚。 　　利用探针与样品之间各种不同的相互作用的力而开发了各种不同应用领域的显微镜，如AFM（范德法力），静电力显微镜EFM（静电力）磁力显微镜MFM（静磁力）侧向力显微镜LFM（探针侧向偏转力）等， 因此有对应不同种类显微镜的相应探针。 　　原子力显微镜的探针主要有以下几种： 　　（1）、 非接触/轻敲模式针尖以及接触模式探针：最常用的产品，分辨率高，使用寿命一般。使用过程中探针不断磨损，分辨率很容易下降。主要应用与表面形貌观察。 　　（2）、 导电探针：通过对普通探针镀10-50纳米厚的Pt（以及别的提高镀层结合力的金属，如Cr，Ti，Pt和Ir等）得到。导电探针应用于EFM，KFM，SCM等。导电探针分辨率比tapping和contact模式的探针差，使用时导电镀层容易脱落，导电性难以长期保持。导电针尖的新产品有碳纳米管针尖，金刚石镀层针尖，全金刚石针尖，全金属丝针尖，这些新技术克服了普通导电针尖的短寿命和分辨率不高的缺点。 　　（3）、磁性探针：应用于MFM，通过在普通tapping和contact模式的探针上镀Co、Fe等铁磁性层制备，分辨率比普通探针差，使用时导电镀层容易脱落。 　　（4）、大长径比探针：大长径比针尖是专为测量深的沟槽以及近似铅垂的侧面而设计生产的。特点：不太常用的产品，分辨率很高，使用寿命一般。技术参数：针尖高度 9μm；长径比5:1；针尖半径 10 nm。 　　（5）、类金刚石碳AFM探针/全金刚石探针：一种是在硅探针的针尖部分上加一层类金刚石碳膜，另外一种是全金刚石材料制备（价格很高）。这两种金刚石碳探针具有很大的耐久性，减少了针尖的磨损从而增加了使用寿命。 　　还有生物探针（分子功能化），力调制探针，压痕仪探针

大家好，我是新手，最近在准备实验的过程中遇到了一些问题，在网上一直找不到答案，特向各位请教。 最近在做一个测量弹性系数的实验，需要用到原子力显微镜的接触模式，同时对探针的弹性系数要求比较大，约为1~5N/m。接触式探针的弹性系数一般小于1N/m，不能满足实验要求，请问弹性系数较大的轻敲式探针可以用于AFM的接触模式吗？ 另外，厂家提供的探针弹性系数为一个范围值，需要怎样测定探针的准确弹性系数，可以用共振法测得共振频率，再结合探针的外形尺寸来测得弹性系数吗？

藏红T是荧光物质，请问它能否做乙酰胆碱酯酶的荧光探针呢？急用！谢谢好心人的帮忙

接地电阻测试仪广泛的使用于电力、邮电、铁路、石油、化工、通信、矿山等部门测量各种装置的接地电阻以及测量低电阻的导体阻值。在使用过程中偶尔会出现一些小问题。　　接地电阻测试仪注意事项如下几点：　　1、使用接地电阻测试仪的时候注意电流极插入土壤的位置，应使接地棒处于零电位的状态。　　2、测试宜选择土壤电阻率大的时候进行，如初冬或夏季干燥季节时进行。下雨之后和土壤吸收水分太多的时候，以及气候、温度、压力等急剧变化时不能测量。　　3.接地电阻测试仪的一些开关元件不能单独跨接在有源电路中作差模保护，为避免电源短路，必须串接限压元件。　　4.用作差模保护的直流高压发生器件，其限制电压必须小于被保护设备所能承受的最高安全电压。　　5、被测地极附近不能有杂散电流和已极化的土壤。　　6、接地线路要与被保护设备断开，以保证测量结果的准确性。　　7、探测针应该远离地下水管、电缆、铁路等较大金属体，其中电流极应远离10m以上，电压极应远离50m以上，如上述金属体与接地网没有连接时，可缩短距离1/2~1/3。　　8.流过直流高压发生器件的浪涌电流必须小于其脉冲峰值电流。压敏电阻应按其降额特性选择。　　9、当接地电阻测试仪的检流计灵敏度过高时，可将电位探针电压极插入土壤中浅一些，当检流计灵敏度不够时，可沿探针注水使其湿润。　　10、连接线应使用绝缘良好的导线，以免接地电阻测试仪有漏电现象。相关资料来源于：http://www.chem17.com/st176094/Article_140284.htmlhttp://simg.instrument.com.cn/bbs/images/brow/em09506.gif

[size=4][b]摘要：[/b]本文综述了各种荧光探针的结构特征荧光性质和与的作用方式, 主要涉及了6类化合物吖啶和菲啶类、菁类染料、荧光素和罗丹明类、噻嗪和恶嗪类染料、BOLIPY类染料以及其它类别的探针, 概述了DNA探针在生物分子分析方面的应用, 并展望了DNA荧光探针的发展趋势和应用前。[/size]

由科技部、国土资源部和中科院合资共建的国家大型科学仪器中心——北京离子探针中心，自2001年成立以来，经过几年的努力，已跻身世界著名地质年代学实验室行列。 为肯定该中心主任刘敦一的科学贡献，《美国科学杂志》（AmericanJournalofSciences）不久前出版专辑，祝贺刘敦一七十华诞。9月11日，国土资源部召开北京离子探针中心发展战略研讨会。国土资源部副部长汪民在会上讲话，科技部副部长刘燕华发来贺电，对该中心取得的成就给予高度肯定。北京离子探针中心成立7年来，奉行“开放、共享、高效”的方针，承担科技部、国土资源部、国家自然科学基金等20多个项目。 其进口的高分辨率二次离子探针质谱仪(SHRIMPⅡ)每天4小时、每周7天不间断运行，成为世界上运行效率最高的质谱仪，国内外科学家利用该仪器，获得了丰富的年代学数据和高水平的研究成果。特别是在国际上首创了通过互联网远程控制来进行高分辨率锆石铀—铅年龄测定工作的方法，得到国际地学专家的广泛赞誉。

大家做液相实验，轻敲模式下用的是什么探针，以前实验室一直用的是Vecco的那个NP-20的那个弹性系数0.58N/m的那个探针针，不过现在那个新的NP的针好像比以前的薄了不少，反正液相下的轻敲模式总是不稳定，大家分享一下经验

我实验室的是Veeco的4a系列的，发现探针那么精致的东西太容易坏了。 不知除了Veeco还有那些针，这种东东太专业了就不知去哪里买了，烦请知情者告知，谢谢！

[color=black][size=3][font=宋体]原子力显微镜的探针主要有以下几种：[/font][/size][/color][color=black][size=3][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]（[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]1[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]）、[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman] [/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]非接触[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]/[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]轻敲模式针尖以及接触模式探针：最常用的产品，分辨率高，使用寿命一般。使用过程中探针不断磨损，分辨率很容易下降。主要应用于表面形貌观察。[/font][/size][/color][color=black][size=3][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]（[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]2[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]）、[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman] [/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]导电探针：通过对普通探针镀[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]10-50[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]纳米厚的[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]Pt[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]（以及别的提高镀层结合力的金属，如[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]Cr[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]，[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]Ti[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]，[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]Pt[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]和[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]Ir[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]等）得到。导电探针应用于[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]EFM[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]，[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]KFM[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]，[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]SCM[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]等。导电探针分辨率比[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]tapping[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]和[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]contact[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]模式的探针差，使用时导电镀层容易脱落，导电性难以长期保持。导电针尖的新产品有碳纳米管针尖，金刚石镀层针尖，全金刚石针尖，全金属丝针尖，这些新技术克服了普通导电针尖的短寿命和分辨率不高的缺点。[/font][/size][/color][color=black][size=3][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]（[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]3[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]）、磁性探针：应用于[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]MFM[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]，通过在普通[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]tapping[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]和[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]contact[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]模式的探针上镀[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]Co[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]、[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]Fe[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]等铁磁性层制备，分辨率比普通探针差，使用时导电镀层容易脱落。[/font][/size][/color][color=black][size=3][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]（[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]4[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]）、大长径比探针：大长径比针尖是专为测量深的沟槽以及近似铅垂的侧面而设计生产的。特点：不太常用的产品，分辨率很高，使用寿命一般。技术参数：针尖高度[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]9μm[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]；长径比[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]5:1[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]；针尖半径[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]10nm[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]。[/font][/size][/color][color=black][size=3][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]（[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]5[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]）、类金刚石[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]AFM[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]探针[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman]/[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]全金刚石探针：一种是在硅探针的针尖部分上加一层类金刚石碳膜，另外一种是全金刚石材料制备（价格很高）。这两种金刚石碳探针具有很大的耐久性，减少了针尖的磨损从而增加了使用寿命。[/font][/size][/color][color=black][size=3][font=Times New Roman] [/font][/size][/color][color=black][size=3][font=宋体]还有生物探针（分子功能化），力调制探针，压痕仪探针[/font][/size][/color][color=black][size=3][/size][/color]

大家的原子力显微镜探针是在哪购买的？

大家都在使用原子力显微镜AFM，问一下，大家用的原子力显微镜探针都是在哪买的

探针压过细胞等生物样品以后，针尖总是会沾上一些脏东西，导致用于别处时会影响成像。在测定力曲线的时候也明显发现被污染的针尖带有粘性。在网上看到一篇讨论How can we wash functionalized AFM tip after coated it with chemical substance?，里面也给出了一些方法。比如Piranha solution。有几个问题想请教：请问关于Piranha solution，有使用过这种方法的朋友吗？效果如何？如何判断探针已经被洗干净了呢？如果是表面被修饰了某些化学物质的探针，该如何清洗使得能把污染物洗干净并且不破坏那些化学物质呢？各位通常都是用什么方法清洗探针的呢？非常感谢！