太阳子振分析仪

太阳能电池载流子特性分析系统用于太阳能电池瞬态光电性能测量测量（载流子迁移率测量，瞬态光电流测量、光电压测量、瞬态光电性能测量、强度调制光电压谱IMVS、强度调制光电流谱IMPS），对于光电器件微观机理研究提供了测试工具；多功能一体化高性能瞬态测试平台，不但可以测量器件的载流子迁移率、载流子寿命、载流子动力学过程、阻抗谱等，还可以对瞬态光电流谱TPC，瞬态光电压谱TPV、强度调制光电流谱IMPS、强度调制光电压谱IMVS等进行测量分析，全面分析器件中的载流子特性和瞬态过程。主要应用： * 无机半导体光电器件，有机半导体光电器件； * 有机太阳能电池OPV； * 钙钛矿太阳能电池Perovskite Solar Cell，钙钛矿LED； * 无机太阳能电池（例如：单晶硅、多晶硅、非晶硅等硅基太阳能电池）； * 染料敏化太阳能电池DSSC；主要测量功能 * 功率点MPP、FF、Voc、Isc、VS 光强，迁移率（I-V测试 & I-V-L测试，空间电荷限制电流SCLC法） * 载流子密度，载流子动力学过程（瞬态光电流法 TPC） * 载流子寿命，载流子符合动力学过程（瞬态光电压/瞬态开路电压法 TPV） * 载流子迁移率（暗注入瞬态法 DIT，单载流子器件&OLED） * 串联电阻，几何电容，RC时间（电压脉冲法 Pulse Voltage） * 参杂密度，电容率，串联电阻，载流子迁移率（暗态线性增加载流子瞬态法 Dark-CELIV） * 载流子迁移率，载流子密度（光照线性增加载流子瞬态法 Photo-CELIV） * 载流子复合过程，朗之万函数复合前因子（时间延迟线性增加载流子瞬态法 Delaytime-CELIV） * 不同工作点的载流子强度，载流子迁移率（注入线性增加载流子瞬态法 Injection-CELIV） * 几何电容，电容率（MIS线性增加载流子瞬态法 MIS-CELIV） * 陷阱强弱度，等效电路（阻抗谱测试 IS） * 迁移率，陷阱强弱度，电容，串联电阻（电容VS频率 C-f） * 内建电压，参杂浓度，注入势垒，几何电容（电容VS电压 C-V） * 陷阱分析（深能级瞬态谱DLTS） * 载流子传输时间分析（强度调制光电流谱 IMPS）； * 载流子复合时间、收集效率等分析（强度调制光光电压谱IMVS）； * 点亮电压（电流电压照度特性 I-V-L） * 发光寿命，载流子迁移率（瞬态电致发光法 TEL） *载流子迁移率（TEL瞬态电致发光，Photo-CELIV线性增压抽取载流子） *OLED/钙钛矿LED发光特性测量（发光器件测量）；测量技术： 1）IV/IVL特性：IV和IVL曲线是针对OLED和OPV标准的量测手法，通过曲线可以得到样品的电流电压特性关系、电流电压与光强的特性关系；*对于有机半导体材料可通过空间电荷限制电流SCLC分析Pmax、FF、Voc、Isc和迁移率等； 2）瞬态光电流（TPC）：研究载流子动力学过程和载流子密度等； 3）瞬态光电压（TPV）：研究载流子寿命和复合过程； 4) 双脉冲瞬态光电流（Double Transient Photocurrent）：分析电荷载流子俘获动态过程； 5) 暗注入瞬态法（Dark Injection）：对于单载流子器件和OLED，研究其载流子迁移率； 6) 电压脉冲法（Voltage Pulse）：串联电阻、几何电容和RC效应分析； 7) 暗态线性增压载流子瞬态法（Dark-CELIV）：参杂浓度、相对介电常数、串联电阻、电荷载流子迁移率测量； 8) 光照线性增压载流子瞬态法（Photo-CELIV）：提取有机太阳能电池片内载流子迁移率mobility，及载流子浓度分析等； 9) 时间延迟线性增压载流子瞬态法（Delaytime-CELIV）：复合动态过程分析和郎之万复合因子分析等； 10）注入线性增压载流子瞬态法（Injection-CELIV）：电荷载流子浓度和电荷载流子迁移率测量分析； 11）MIS-CELIV：几何电容和相对介电常数分析； 12）阻抗谱测量（Impedance Spectroscopy）：器件等效电路分析等； 13）电容频率测量法（C-f）: 迁移率、陷阱、几何电容和串联电阻测量； 14）电容电压测量法（C-V）：内建电压、参杂浓度和几何电容等测量； 15) 深能级瞬态谱（DLTS）：陷阱分析； 16）强度调制光电流谱（IMPS）：载流子传输时间分析； 17）强度调制光光电压谱（IMVS）：载流子复合时间、收集效率等分析； 18）瞬态电致发光测试（Transient Electroluminescence）：抽取OLED器件的载流子，磷光寿命测量；另外，我公司提供专业太阳能测试设备制造商为客户提供全套专业的设备： 1.太阳能电池光谱响应测试系统、IPCE测试系统、量子效率测试系统； 2.太阳能电池测量系统（光谱响应测试系统,IPCE测试系统,量子效率测试系统，I-V曲线测量系统），太阳能电池测试仪； 3.太阳能电池I-V曲线测量系统； 4.I-V 数据采集系统； 5.大面积太阳能模拟器/太阳光模拟器/全光谱太阳光模拟器； 6.太阳能电池分选机； 7.太阳能电池I-V测试仪； 8.分光辐射度计， 9.参考电池/标准电池， 10.太阳能模拟器均匀性图像分析系统； 11.有机太阳能电池载流子迁移率测量系统； 12.钙钛矿太阳能电池载流子迁移率测量系统； 13.太阳能电池少数载流子测量系统；

UV-2000S紫外线透过率分析仪 蓝菲光学的UV-2000S紫外线透过率分析仪将最XIN的电子元件及软件技术融合到行业认可的系统架构中，来获得精确的纺织物的UPF值、临界波长和UVA:UVB（长波紫外线：短波紫外线）比值，太阳防护用品SPF/UVA防晒指数分析。在产业需求迅猛发展的驱动下，为了达到简化对纺织物、太阳防护产品样品的研发和质量 控制，UV-2000S按照最XIN的国际认可的测试方法进行设计开发，UV-2000S替带蓝菲光学之前的 UV-1000S作为行业的新选择，不但用于实验室UPFSPF/UVA分析，而且可以用于产品的基本质量控制。 适用标准：GB/T 18830、AS/NZS 4399:2017、EN 13758-1:2006、AAT-CC 183-2016。 UV-2000S紫外线透过率分析仪能够快速测量250-450nm紫外线波段内纺织品样品和太阳防护用品的透过率。蓝菲光学的 Spectralon积分球采用了重新优化的闪烁氙灯作为 光源以提供良好的样品漫反射照明效果，从而减少积分时间。新型二极管阵列光谱仪配合新型先进的光纤、光学性能在系统级别进行优化，从而降低了杂散光，提高波长稳定性和闪烁的重复性。 高的闪烁频率减少了曝光的时间，使暗电流最小化，动态范围MAX化。使用耐日照光纤保证长时间的批量测试，较长的光纤可以滤除高阶模式，保证较纯净的光栅照明，从而改善杂散光表现。操作简单，可以通过点击按钮生成测试报告，报告包括如日期，时间，操作人姓名，样品信息和测试参数等必要信息。可以在个人电脑上查阅这些信息，还可以打印或者输出为文本格式进行进一步的数据分析处理。 特点l样品分析5秒内获得分析结果l自动计算光谱透射率、UPF、SPF、临界波长、关键波长和 VUA/UVB 的比值l完美的性能自检程序，测试过程中无臭氧发生l可以根据系统自带的方法如AS/NZ4399:19961, EN13758-1:2001 AAT-CCTM183-2000, GB/T18830 以及客户定义的方法自动计算 UPF 值l无样品替换误差，对样品的荧光误差不敏感；简单易用的菜单式应用软件 技术参数系统属性和性能波长范围： 250 to 450 nm*波长精度： ±1 nm宽带(FWHM)： 4 nm波长间隔（数据间隔）：1 nm光学构造：半球照明/0°视角（d/0）积分球材质：Spectralon积分球开口尺寸： 5%样品曝光面积：0.79 cm2光源： 闪烁式氙灯每测量周期的紫外线量： 0.2 J/cm2样品座：手动平台带操作台尺寸：11H x 22.6D x 12.3W In (27.9H x 56.6D x 31.2W cm)不带操作台尺寸： 11H x 12.6D x 12.3W in (27.9H 32.0D x 31.2W cm)* 所有的系统指标均基于290-400nm波长范围

Simoa HD-X Analyzer&trade 数字式单分子免疫阵列分析仪Simoa 数字式单分子免疫阵列分析仪产品特性：1.灵敏度高，在fg/ml级别，比传统方法高1000倍，反应体系小（50 fl）2.全自动化，自动化完成稀释、混合、孵育以及结果读出3.线性范围广，检测动态范围＞4个数量级4.多重检测，可同时完成多达10种不同的目标分子 5.自主研发，可进行实验的开发和优化 6.高精度，CV值低于10 %产品用途：Simoa&trade 可以直接对不同基质（包括血清、血浆、脑脊髓液、尿液和细胞提取物等）中单个蛋白分子进行高灵敏度检测，进一步推动癌症的早期检测，术后的监测和个性化用药。该技术目前应用于肿瘤、神经、感染性疾病、免疫炎症、生殖、眼科、心血管等。Simoa 数字式单分子免疫阵列分析仪工作原理：实验步骤：抗体偶联到磁珠上 → 与目的蛋白结合 → 目的蛋白与检测抗体结合并带有 酶标记→ 加酶反应底物→ 转移到Simoa光盘 → 封油 → CCD数字化解读应用领域：1.神经疾病研究 5.感染免疫领域2.肿瘤领域 6.免疫原性检测3.炎症领域 7.药物代谢动力学4.心血管领域 8.DNA & miRNA检测 Simoa采用经典的双抗加薪酶联免疫吸附测定法（ELISA）实现低含量的蛋白定量检测。Simoa HD-X高灵敏度的秘诀在所采用的Sony DADC技术光盘，每张光盘24个芯片，可检测24个样本。每个芯片约有238000个微孔，微孔体积约为50fL。每个微孔直径4.5 μm,深3.25 μm,而磁珠直径2.7 μm,因此每个微孔只能容纳一个磁珠。