太阳能式反射仪

太阳能模拟器氙灯介绍：太阳能模拟器氙灯是可以进行太阳光辐射模拟的氙灯，其克服了太阳光辐射受时间和气候影响。贺利氏可以提供多种类型的脉冲氙灯，具有高稳定性，高输出，长寿命等特点，同时可以应用于多种领域，满足不同客户的需求。

- C-Si太阳能电池测试.- Bus-Bar接触.- 太阳能电池I-V测试.- 太阳能电池EL成像.联系方式：025-84615783

太阳能电池硅片清洗花篮 品牌：瑞尼克型号：RNKHL加工定制：是用途：清洗别名：花篮、承载篮用于半导体硅片,晶片,玻璃,液晶屏等清洗、腐蚀设备的承载花篮，太阳能电池片花蓝、太阳能硅片花蓝_太阳能硅片承载器、光伏电池片花蓝、光伏硅片花蓝，用于太阳能电池硅片清洗设备中,用于承载方形太阳能电池硅片，材质为PTFE，本产品即在100℃以下的NaOH溶液、HCl溶液、HF等溶液中对硅片进行清洗、转换，且长期使用不变形、不污染硅片.特点：1.外观纯白色。2.耐高低温：可使用温度-200℃～＋250℃。3.耐腐蚀：耐强酸、强碱、王水和有机溶剂，且无溶出、吸附和析出现象。4.防污染：金属元素空白值低。5.绝缘性：不受环境及频率的影响，介质损耗小，击穿电压高。6.耐大气老化，耐辐照和较低的渗透性。7.自润滑性：具有塑料中小的摩擦系数。8.表面不粘性：是一种表面能小的固体材料。9.机械性质较软，具有非常低的表面能。聚四氟乙烯（PTFE）系列产品：培养皿、坩埚、试剂瓶、试管、镊子、药匙、烧瓶、烧杯、漏斗、容量瓶、蒸发皿、表面皿、阀门、接头、离心管等。

太阳能电池硅片清洗花篮PFA四氟清洗花篮 ITO、FTO导电玻璃、硅片PFA清洗架、F4硅片花篮品牌：瑞尼克型号：RNKHL加工定制：是 用途：清洗 别名：花篮、承载篮 用于半导体硅片,晶片,玻璃,液晶屏等清洗、腐蚀设备的承载花篮，太阳能电池片花蓝、太阳能硅片花蓝_太阳能硅片承载器、光伏电池片花蓝、光伏硅片花蓝，用于太阳能电池硅片清洗设备中,用于承载方形太阳能电池硅片，材质为PFA，本产品即在100℃以下的NaOH溶液、HCl溶液、HF等溶液中对硅片进行清洗、转换，且长期使用不变形、不污染硅片.目前的尺寸有，6寸25片、4寸25片，2寸25片的清洗花篮，单梁双梁提手，目前花篮形式有很多种，我公司也是可以定制方形，圆形晶片清洗花篮。

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贺利氏（Heraeus）太阳能模拟氙灯氙灯广泛应用于各个领域，迄今最多地运用在激光的光学汲取。每次脉冲的高光学功率要求使用最佳材质和设计以获得氙灯的较长寿命。按照客户要求，我们可以生产从30W到20KW得的各种特殊规格的氙灯及各种标准灯的替换产品。贺利氏拥有全世界唯一一条全自动氙灯生产线，制造出质量最好的氙灯，其寿命为全世界最长。联系方式联系人：许丹婷 地址：上海市桂林路406号5号楼2楼 [200233]电话：+86 21 33575347 传真：+86 21 33575333Email：info.hns@heraeus.com 公司网址：http://www.heraeus-noblelight.cn

PFA花篮花篮适用于半导体、多晶硅、新能源、新材料、太阳能等行业；一般用于太阳能硅片摆放，清洗，泡酸拿上来等。英特格6英寸晶圆盒晶圆运输盒（ entegris PFA carrier）6英寸PFA cassette 高帮进口PFA材质6英寸清洗花篮为最大晶圆片提供支撑和保护作用，A194-60MB 晶圆运输盒对晶圆加工中的常用化学品都是耐受的。包括酸（盐酸，硫酸，氢氟酸和硝酸），碱（氢氧化钠，氢氧化钾，氢氧化铵，过氧化氢），醇，酮，氯化溶剂和氟利昂。温度限制：高温晶圆高温硅片输入极限温度为290℃。连续使用极限温度120℃。晶圆容量：25片型号:A194-60MB

产品特点：10度近法线平行光入射，照射面积入射角均匀一致用于玻璃的反射率测试，满足GB/T 2680-1994《建筑玻璃 可见光透射比、太阳光直接透射比、太阳能总透射比、紫外线透射比及有关窗玻璃参数的测定》适用于其它反射或非反射材料的反射率测量高于样品腔版本可选，适合大样品测试

多功能翘曲度测量仪配件是孚光精仪公司进口的全球领先的翘曲度检测仪器，一套翘曲度测试仪器可以测量：热沉,晶圆(wafer),太阳能电池和硅片翘曲度,应力以及表面形貌。多功能翘曲度测量仪配件是特别为半导体晶圆（wafer)和太阳能电池（solar cell)的翘曲度（warp) 和弯曲度(bow)以及表面形貌(topography)的测量而设计，可以测量晶圆翘曲度（wafer warpage) 和晶圆表面形貌, 晶圆应力,硅片张力,太阳能电池量子效率，既适合科研单位使用，也适合工业客户大产品、高效率的晶圆翘曲度和表面形貌的检测的需要。我们还根据不同晶圆类型提供如下两种硅片翘曲度测量仪：1. 非反射型：适合晶圆表面覆盖晶圆保护膜/胶带（wafer tape)，图案化晶圆 /图样化晶圆（patterned wafer)，粗糙的晶圆的应用；2. 高反射型： 适合晶圆表面光滑 / 镜反射的应用。多功能翘曲度测量仪配件特点：× 适合不同尺寸的晶圆检测，从0.5’‘到12' ' 的直径；* 标准检测能力为： 每小时可检测2000个晶圆或更多太阳能电池；× 同时测量多个晶圆或太阳能电池；× 测量镀膜后的晶圆或solar cell * 分析太阳能电池或晶圆应力和张力；* 对晶圆表面进行图像分析；* 测量图案化晶圆或非图案化的晶圆；* 具有太阳能电池的量子效率测量选项供选择多功能翘曲度测量仪配件参数：× 翘曲度测量范围：1-20微米；* 重复精度： 百分之0.5 （1 sigma) * 给出结果：曲率半径,晶圆弯曲高度，翘曲度，测量日期和时间；* RMS粗糙度mapping: 0.5-20A （可选项）；* 光源：根据用户的应用而配备不同光源；* 探测器：高分辨率探测器阵列并配备亚像素软件；

天津能谱科技自主研发的ATRS-01万能衰减全反射附件样品无需前处理，简化了样品的制作过程，被广泛应用于各种固体和液体样品测试，如塑料、纤维、橡胶、涂料、粘合剂等高分子材料制品的表面成份分析。ATRS-01主要采用ZnSe晶体，具有硬度好透过率高可以满足各种常规样品的测试，同时可配合我公司生产iCAN 9傅立叶红外光谱仪进行使用，更方便快捷。衰减全反射技术 (ATR)是目前比较广泛的采样技术。ATR可以进行原位定性或定量测试，样品基本不需要制备，直接将样品放在ATR晶体上就可以进行测试。因此可以大大加快测试速度、提高测试效率。　　ATR的工作原理是红外光束进入折光指数较高的晶体中红外光束从晶体表面反射回来，但同时在样品中有一个衰减波区域，这部分红外光束有部分被样品吸收而反射出来到达检测器以获得样品的红外光谱的信息。全反射现象不完全是在两种介质的界面上进行，部分光束要进入到样品介质一段距离后才反射回来，透入到样品介质的光束，在样品的透光区，反射光能几乎等于入射光能，而在样品的吸收区，则有部分入射光被吸收。“全反射"是衰减的，其衰减程度与样品的吸收系数的大小有关。因此扫描整个中红外区即可得到一个非常类似于透光光谱的红外光谱，一般称为ATR光谱。衰减全反射中谱带的强度除了取决于样品本身的吸收性质以外，还和光线在样品表面反射的次数以及穿透样品的深度有关，一般来说，穿透越深，吸收越强。

雾度测量仪配件能够精确测量在玻璃或硅晶圆衬底上薄膜的总透过率和漫透过率，根据公式Haze(λ)=DT(λ)/TT(λ)从而获得雾度值，测量光谱范围为400-900nm。薄膜的总透过率，总反射率，漫透过率对于太阳能光伏制造非常重要，雾度测量仪配件通过三个光谱仪测量400-900nm范围内的光谱，不需要移动或改变任何部件，保证测量精度和使用寿命。雾度测量仪配件采用模块化设计，具有高度的可拓展性，充分满足不同客户的多种需要。例如，自动光学窗口可更换，简化操作，减少用户的人工干预操作。还有厚度和反射率测量模块可集成，从而满足客户测量薄膜厚度和折射率的需求。除此之外，还可以根据用户的预算情况配备自动扫描或手动扫描的机制，可以适合任何尺寸的样品，包括面积大于1平方米的玻璃板。

产品介绍：该光源符合ASTM(美国材料试验协会)实验室光源标准， “A”级光谱输出。所有产品在出厂前都进行了可溯源于NIST标准的校准.一年的保修期.终生免费电话技术服务.可延长保修期16S是一款即用型光电池测试光源。16S-300-002具备全光谱“A”级光谱输出（AM1.5）。16S-002配有垂直光束适配器可以将光束改变方向垂直向下照射。典型光斑尺寸2.25英寸，1太阳输出强度。用户可定制光斑大小。通过调节电源上的旋钮，输出光强可调节范围为80%-100%。通过Solar Light公司提供的衰减工具包，可对光强进行10%-100%调节。16S精确再现了全波段太阳光谱。符合最新的ASTM光源标准，许多需要G151和G155标准的ASTM标准可由16S-002达到。16S-002可依照ASTM标准E948-95 以及 G173对太阳能电池进行测试。技术参数：16S 150/300 Air mass 1.5 能量输出图(圆形光斑输出)输出光斑大小/形状输出面积300watt系统强度150watt系统强度50px圆形（水平或垂直输出)3.142平方厘米N/A4000w/m275px圆形（水平或垂直输出)7.068平方厘米4000w/m22000w/m2150px圆形(水平或垂直输出)28.27平方厘米1000w/m2500w/m2注意：垂直输出作为50px 和 75px型号的一个选项，不包括在标准50px和75px型号配置里。PMA2144日设强度计在超过4000 w/m2时会饱和，需要使用衰减滤光片。主要特点：150/300 watt 氙弧灯200 瓦 XPS200 电源 / 400 瓦 XPS400 电源AM1.5滤光器（NIST 可溯源，ASTM试验室光源标准）内置点火器 – 用于氙弧灯点火高性能光学器件（用于准直和均匀性控制）

几十年来一直用于PAFC和PEFC，具有高耐久性。其机械强度高、导电性和透气性适合用作燃料电池气体扩散层(GDL)应用程序。东丽纸- TGP-H PAN碳纤维制成的“TORAYCA”具有高强度和高模量。东丽碳纸中的纤维是通过碳元素而牢固地连接着。主要特点：1、高强度2、良好的透气性和较低的电阻率3、方便处理4、最小的电化学腐蚀配置参数：属性单位TGP-H-030TGP-H-060TGP-H-090TGP-H-120厚度mm0.110.190.280.37体积密度g/cm30.400.440.440.45孔隙度%80787878表面粗糙度μm8888透气性mlmm/(cm2hrmmAq)2500190017001500电阻率贯通面mΩcm80808080面内mΩcm-5.85.64.7热导率贯通面（室温）W/(mk)-1.71.71.7面内（室温）W/(mk)-212121面内（100℃）W/(mk)-232323热膨胀系数面内（25–100℃）×10-6/℃-0.8-0.8-0.8-0.8抗弯曲度MPa40404040弯曲模量GPa8101010抗拉强度N/cm-507090处理方式特氟龙处理尺寸400mm×400mm防湿性5%,10%,20%,30%,40%和50%的防湿

目标应用： 半导体薄膜（光刻胶） 玻璃减反膜测量 蓝宝石薄膜（光刻胶） ITO薄膜 太阳能薄膜玻璃 各种衬底上的各种膜厚 卷对卷柔性涂布 颜色测量 车灯镀膜厚度 其他需要测量膜厚的场合 阳极氧化厚度产品型号A3-SR-100 产品尺寸 W270*D217*（H90+H140）测试支架（配手动150X150毫米测量平台和硅片托盘）测试方式可见光,反射 波长范围380-1050纳米光源钨卤素灯(寿命10000小时) 光路和传感器光纤式(FILBER )+进口光谱仪 入射角0 度 (垂直入射) (0 DEGREE) 参考光样品硅片光斑大小LIGHT SPOTAbout 1 mm（标配，可以根据用户要求配置）样品大小SAMPLE SIZE150mm,配150X150毫米行程的工作台和6英寸硅片托盘 膜厚测量性能指标（THICKNESS SPECIFICATION）：产品型号A3-SR-100厚度测量 1Thickness15 nm - 100 um 折射率 1（厚度要求）N 100nm and up准确性 2 Accuracy 2 nm 或0. 5%精度 3precision0.1 nm1表内为典型数值, 实际上材料和待测结构也会影响性能2 使用硅片上的二氧化硅测量，实际上材料和待测结构也会影响性能3 使用硅片上的二氧化硅（500纳米）测量30次得出的1阶标准均方差,每次测量小于1秒.

少子寿命测试仪性能参数？ 测量原理 QSSPC（准稳态光电导） 少子寿命测量范围 100 ns-10 ms 测试模式：QSSPC,瞬态，寿命归一化分析 电阻率测量范围 3&ndash 600 (undoped) Ohms/sq. 注入范围：1013-1016cm-3 感测器范围 直径40-mm 测量样品规格 标准直径: 40&ndash 210 mm （或更小尺寸） 硅片厚度范围 10&ndash 2000 &mu m 外界环境温度 20° C&ndash 25° C 功率要求 测试仪: 40 W 电脑控制器：200W 光源：60W 通用电源电压 100&ndash 240 VAC 50/60 Hz -------------------------------------------------------------------------------- 少子寿命测试仪成功使用用户？ 江苏，上海，北京，浙江，西安，四川，河北，河南等地的硅料生产企业及半导体光伏拉晶企业等等。 一、采购项目名称：硅片少子寿命测试系统、溶剂净化系统等 二、采购代理机构 ：杭州求是招标代理有限公司 三、确定成交日期：2010年11月16日 四、本项目公告日期： 2010年11月4日、11月5日 五、项目成交单位： 硅片少子寿命测试系统(z9264)：上海瞬渺光电技术有限公司 -------------------------------------------------------------------------------- 相关资料下载 少子寿命测试仪一款功能强大的少子寿命测试仪，不仅适用于硅片少子寿命的测量，更适用于硅棒、硅芯、检磷棒、检硼棒、籽晶等多种不规则形状硅少子寿命的测量。少子测试量程从1&mu s到6000&mu s，硅料电阻率下限达0.1&Omega .cm(可扩展至0.01&Omega .cm)。测试过程全程动态曲线监控，少子寿命测量可灵敏地反映单晶体重金属污染及陷阱效应表面复合效应等缺陷情况，是原生多晶硅料及半导体及太阳能拉晶企业不可多得少子寿命测量仪器。 少子，即少数载流子，是半导体物理的概念。 它相对于多子而言。 　　半导体材料中有电子和空穴两种载流子。如果在半导体材料中某种载流子占少数，导电中起到次要作用，则称它为少子。如，在 N型半导体中,空穴是少数载流子，电子是多数载流子；在P型半导体中,空穴是多数载流子,电子是少数载流子。 　　多子和少子的形成:五价元素的原子有五个价电子，当它顶替晶格中的四价硅原子时，每个五价元素原子中的四个价电子与周围四个硅原子以共价键形式相结合，而余下的一个就不受共价键束缚，它在室温时所获得的热能足以便它挣脱原子核的吸引而变成自由电子。出于该电子不是共价键中的价电子，因而不会同时产生空穴。而对于每个五价元素原子，尽管它释放出一个自由电子后变成带一个电子电荷量的正离子，但它束缚在晶格中，不能象载流子那样起导电作用。这样，与本征激发浓度相比，N型半导体中自由电子浓度大大增加了，而空穴因与自由电子相遇而复合的机会增大，其浓度反而更小了。 　少子浓度主要由本征激发决定，所以受温度影响较大。 少数载流子寿命(简称少子寿命)是半导体晶体硅材料的一项重要参数,它对半导体器件的性能、晶体硅太阳能电池的光电转换效率都有重要的影响.分别介绍了常用的测量晶体硅和晶体硅太阳电池少子寿命的各种方法,包括微波光电导衰减法(MW-PCD),准稳态光电导方法(QSSPC),表面光电压(SPV),IR浓度载流子浓度成像(CDI),调制自由载流子吸收(MFCA)和光束(电子束)诱导电流(LBIC,EBLC) 少子寿命是描述半导体 材料特征方程的基本参数之一,对器件特性的精确描述起着重要作用,特别是对以PN结为基本结构的器件,额外载流子的产生与复合在PN结的状态转换过程中起着决定性的作用,因而少子寿命是决定PN结型器件工作特性的关键材料参数之一。 　　太阳电池的转换效率主要依赖于基区的少子寿命.少子寿命越长光照产生的过剩载流子越可能到达PN结,受PN结电场分离后对外产生光电流,同样由于暗电流的降低可增加太阳电池的开路电压,所以大部分生产商都在生产前检验原始材料的一些关键性参数,光伏工业生产中最常见的测试就是少子寿命的测试,通过对原始材料的寿命测量预测成品太阳电池的效率。 　　少子寿命测试仪采用微波光电导衰减法（ASTM国际标准-1535）的测试原理，提供低成本、快速、无接触、无损伤的少数载流子寿命的测试，主要是通过904nm波长的激光激发出硅片,硅棒或硅锭体内的非平衡载流子，再通过微波反射的探测手段来测试少数载流子引起的电导率的变化，从而判断该硅片,硅棒或硅锭的缺陷、沾污情况。该设备主要应用于硅棒，硅片的出厂、进厂检查，生产工艺过程的沾污检测等。特别是在太阳能领域，少子寿命将直接关系到成品电池的效率，是必备的检测手段。 　　少子寿命测量仪可测量半导体的少子寿命。少子寿命值反映了太阳电池表面和基体对光生载流子的复合程度，即反映了光生载流子的利用程度。少子寿命是半导体晶体硅材料的一项关键性参数，它对晶体硅太阳能电池的光电转换效率有重要的影响，可以说硅电池的转化效率和少子寿命成正向相关对应关系。 　　少子寿命测量仪采用微波光电导衰减法（SEMI国际标准-1535）的测试原理，即通过激光激发出硅体内的非平衡载流子，再通过微波反射的探测手段来测试少数载流子引起的电导率的变化，从而计算出少子寿命值，为半导体提供低成本、快速、无接触、无损伤的少数载流子寿命的测试。该仪器测量少子寿命的精度达到ns级，分辨率达1％，测试结果准确性好、重复性高，完全能满足太阳能级硅电池的少子寿命测试。目前该方法是最受市场接受的少子寿命测试方法 主要特点: 　　适应低电阻率样片的测试需要，最小样品电阻率可达0.1ohmcm 　　全自动操作及数据处理 　　对太阳能级硅片，测试前一般不需钝化处理 　　能够测试单晶或多晶硅棒、片或硅锭 　　可以选择测试样品上任意位置 　　能提供专利的表面化学钝化处理方法 　　对各道工序的样品均可进行质量监控： 　　硅棒、切片的出厂、进厂检查 　　扩散后的硅片 　　表面镀膜后的硅片以及成品电池常见问题： WT-2000与WCT-120测少子寿命的差异？ WCT用的是Quasi-Steady-State Photoconductance（QSSPC准稳态光电导）而WT2000是微波光电导。 WCT-120准稳态光电导法测少子寿命的原理？ WCT用的是Quasi-Steady-State Photoconductance（QSSPC准稳态光电导） 准稳态光电导衰减法（QSSPC）和微波光电导衰减法（MWPCD）的比较？ QSSPC方法优越于其他测试寿命方法的一个重要之处在于它能够在大范围光强变化区间内对过剩载流子进行绝对测量，同时可以结合 SRH模型，得出各种复合寿命，如体内缺陷复合中心引起的少子复合寿命、表面复合速度等随着载流子浓度的变化关系。 MWPCD方法测试的信号是一个微分信号，而QSSPC方法能够测试少子寿命的真实值，MWPCD在加偏置光的情况下，结合理论计算可以得出少子寿命随着过剩载流子的变化曲线，而QSSPC直接就能够测得过剩载流子浓度，因此可以直接得出少子寿命与过剩载流子浓度的关系曲线，并且得到PN结的暗饱和电流密度；MWPCD由于使用的脉冲激光的光斑可以做到几个到十几个，甚至更小的尺寸，在照射过程中，只有这个尺寸范围的区域才会被激发产生光生载流子，也就是得到的结果是局域区域的差额寿命值，这对于寿命分布不均匀的样品来说，结果并不具备代表性。

SA-Stage-RT透反射测量支架 关键词：反射/透射/漫反射光谱 1 产品简介SA-Stage-RT透反射测量支架是一个新型的，能满足透射和反射测量的采样支架。适用于分析如硅、金属、玻璃和塑料等一类的材料。SA-Stage-RT与如海光电的光纤光谱仪、光源、积分球有多种组合方式。可以同时满足客户对于反射光谱测量和透射光谱测量的需求。 2 产品功能示意图3 产品参数产品参数SA-Stage-RT底座尺寸φ150mm样品区域尺寸宽度＜100mm样品通光口径（透射测量）直径10mm调节高度~150mm（其他长度可以定制）准直镜波长范围200~2500nm台体材料阳极氧化铝反射积分球用于连接38毫米积分球（另外选配）用途专为透反射光纤测量而设计，能有效固定光纤，防止因抖动等人为因素影响检测效果

太阳能电池硅片清洗花篮PFA四氟清洗花篮 ITO、FTO导电玻璃、硅片PFA清洗架、F4硅片花篮 品牌：瑞尼克型号：RNKHL加工定制：是 用途：清洗 别名：花篮、承载篮 用于半导体硅片,晶片,玻璃,液晶屏等清洗、腐蚀设备的承载花篮，太阳能电池片花蓝、太阳能硅片花蓝_太阳能硅片承载器、光伏电池片花蓝、光伏硅片花蓝，用于太阳能电池硅片清洗设备中,用于承载方形太阳能电池硅片，材质为PFA，本产品即在100℃以下的NaOH溶液、HCl溶液、HF等溶液中对硅片进行清洗、转换，且长期使用不变形、不污染硅片.目前的尺寸有，6寸25片、4寸25片，2寸25片的清洗花篮，单梁双梁提手，目前花篮形式有很多种，我公司也是可以定制方形，圆形晶片清洗花篮。

反射模块可以测量样品的反射系数。配合根据干涉现象原理设计的反射模块，LabPro Plus软件的厚度模式能测量微米级薄膜的厚度。

激光晶圆划片机配件是专业为太阳能电池激光加工开发的小型太阳能电池激光划片机和晶圆切割机，它具有较小的尺寸，安装操作非常简单，比较适合小型的太阳能光伏产业用户和科研用户实验室使用。激光晶圆划片机配件使用了高精度的扫描振镜，可以加工5' ' 和6' ' 的晶圆硅片，太阳能电池激光划片机机配备的软件能够精确探测晶圆边缘,控制XYZ三维的光束定位，并监控激光功率等参数，为大学或科研院所提供了一种多功能,高精度的太阳能电池晶圆的加工设备,可以广泛用于晶圆激光打标,晶圆边缘隔离，晶圆背向接触烧结（Back contact laser fireing,BCLC)已经晶圆切割。激光晶圆划片机配件原理在制造晶体硅太阳能电池过程中通常使用p型晶圆，通过磷扩散形成n型层。这种n型层形成于太阳能电池表面，被称作发射极，当然此时也形成了p-n结。在对边缘未隔离之前，边缘电流会减少太阳能电池的效率。 现在通常使用激光晶圆划片机超快激光进行边缘隔离, 使用激光对距离上表面150-300微米的区域进行激光切割。太阳能电池激光划片机,这种切割深度不得小于发射极的深度(2-10微米）。我们在这套激光晶圆划片机配件中使用高精度的扫描振镜控制激光光束进行切割，并配备了一流的机械视图功能，可以实时探测到晶圆位置以及边缘隔离的精度, 配备的软件可以让用户在“科学研究“和”工业应用“两种模式下选择使用。

SP-230是一个短波辐射传感器，毫伏输出且具有很好的余弦相应，需要12伏电源给传感器加热到3摄氏度以上，在此温度偏移上可以避免霜冻形成而阻断光路。辐射传感器安装在高水平基座上减少雪覆盖的可能性，且传感器与基座采用绝缘隔离，以减少热量损失；外形设计采用全密封，头部为圆顶形，这样可使传感器完全防水和自洁。总的短波辐射在确定蒸发率、能量平衡、净辐射以及监测太阳能板能量方面很重要。技术参数：余弦相应：±1%（45°天顶角时） ±5%（75°天顶角时）长期漂移：每年不到2％绝对精度：±5%温度相应：0.1%℃光谱范围：380~1120nm重复性： ±1%输出： 0~350mv响应度： 0.2mV/W/㎡校准因数：5.0W/㎡/mV相应时间：小于1毫秒的时间内范围：180°电源要求：自供电工作电流：标准15mA运行环境：-25~+55°重量：70g 产地：美国

电话：13721010526 (VX同号)关于高硼硅玻璃高硼硅玻璃是一种耐高温、高硬度的特殊玻璃材料，高硼硅玻璃不易碎，常常用于太阳能、化工、医药包装等行业。主要由三氧化二硼和二氧化硅为主，添加了水玻璃砂、苏打水和地面石灰。高硼硅玻璃含硼量百分之十四，含硅量百分之八十，耐急度约能达到200~300摄氏度。高硼硅玻璃的耐火性能好，物理强度高，与普遍玻璃相比，无毒副作用，其机械性能，热稳定性能，抗水、抗碱、抗酸等性能大大提高。因此，可广泛用于化工、航天、军事、家庭、医院等各个领域，可制成灯具、餐具、标盘、望远镜片、洗衣机观察孔、微波炉盘、太阳能热水器等多种产品，具有良好的推广价值和社会效益。

关于高硼硅玻璃高硼硅玻璃是一种耐高温、高硬度的特殊玻璃材料，高硼硅玻璃不易碎，常常用于太阳能、化工、医药包装等行业。主要由三氧化二硼和二氧化硅为主，添加了水玻璃砂、苏打水和地面石灰。高硼硅玻璃含硼量百分之十四，含硅量百分之八十，耐急度约能达到200~300摄氏度。高硼硅玻璃的耐火性能好，物理强度高，与普遍玻璃相比，无毒副作用，其机械性能，热稳定性能，抗水、抗碱、抗酸等性能大大提高。因此，可广泛用于化工、航天、军事、家庭、医院等各个领域，可制成灯具、餐具、标盘、望远镜片、洗衣机观察孔、微波炉盘、太阳能热水器等多种产品，具有良好的推广价值和社会效益。

太阳能电池硅片清洗花篮PFA四氟清洗花篮 ITO、FTO导电玻璃、硅片PFA清洗架、F4硅片花篮 品牌：瑞尼克型号：RNKHL加工定制：是 用途：清洗 别名：花篮、承载篮 用于半导体硅片,晶片,玻璃,液晶屏等清洗、腐蚀设备的承载花篮，太阳能电池片花蓝、太阳能硅片花蓝_太阳能硅片承载器、光伏电池片花蓝、光伏硅片花蓝，用于太阳能电池硅片清洗设备中,用于承载方形太阳能电池硅片，材质为PFA，本产品即在100℃以下的NaOH溶液、HCl溶液、HF等溶液中对硅片进行清洗、转换，且长期使用不变形、不污染硅片.目前的尺寸有，6寸25片、4寸25片，2寸25片的清洗花篮，单梁双梁提手，目前花篮形式有很多种，我公司也是可以定制方形，圆形晶片清洗花篮。

反射式光纤探针结合scinco S-3150或者S-4100使用可以生成小的光感系统以测量固体表面的反射。

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关于土壤颗粒分析仪森林土壤颗粒组成(机械组成)的测定，目前常用的方法为吸管法和密度计法。吸管法操作比较复杂，但较精确 密度计法操作比较简单，适用于大批测定，精度略差，计算亦比较麻烦 因此，在选择测定方法时要考虑到测定要求。本标准采用美国制土壤颗粒分级标准。关于高硼硅玻璃高硼硅玻璃是一种耐高温、高硬度的特殊玻璃材料，高硼硅玻璃不易碎，常常用于太阳能、化工、医药包装等行业。主要由三氧化二硼和二氧化硅为主，添加了水玻璃砂、苏打水和地面石灰。高硼硅玻璃含硼量百分之十四，含硅量百分之八十，耐急度约能达到200~300摄氏度。高硼硅玻璃的耐火性能好，物理强度高，与普遍玻璃相比，无毒副作用，其机械性能，热稳定性能，抗水、抗碱、抗酸等性能大大提高。因此，可广泛用于化工、航天、军事、家庭、医院等各个领域，可制成灯具、餐具、标盘、望远镜片、洗衣机观察孔、微波炉盘、太阳能热水器等多种产品，具有良好的推广价值和社会效益。

宽带电解质反射镜：高宽带、高反射率，应用于低功率到高功率激光和固定或可变的 入射角。宽带电解质反射镜有两款不同类型的产品：MPQ 和TLM2。其中，MPQ覆盖主流的紫外和可见光波段的激光器波长，具有极高的反射率。TLM2：可调谐。能分别在450~2100nm波段实现连续激光和在780~1030nm实现短脉冲激光的高反射率。美国CVI laser optics 设计和生产紫外到近红外波段的高性能光学器件，主要应用在激光的光束调节和传输方面，在业内有很高的知名度。 美国CVI laser optics主要生产包括反射镜、球面镜，平面镜，偏振片，棱镜和波片。 还提供一系列用于超快激光应用的低色散和色散补偿光学元件。

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1)玻璃非球面透镜 非球面透镜可以解决目前球面镜片所带了的畸变和像差，也可以减少成像系统的体积，提高系统的整体成像质量。已被广泛应用于医疗设备、精密仪器、航空航天、国防科技等重要领域，代表了镜片发展的趋势。 可加工材料包括：融石英、微晶玻璃、碳化硅（陶瓷）、高分子聚合物 晶体材料（锗、硒化锌、氟化镁等） 可加工口径：1,000mm 加工面型精度可达：（P-V）1/20λ 加工表面粗糙度可达RMS：0.3nm 2)金属反射镜 大口径金属反射镜可实现各种光束收集、光束准直和光束聚焦，被广泛应用于天体观测光学装置、光谱检测、天文望远系统、瞄准仪、扩束镜、红外系统、聚光太阳能系统，投影系统以及发射/探测设备等领域。 目前的金属反射镜加工主要集中在6英寸（150mm）以内，我司加工口径达到20英寸（500mm），处于国内领先水平。 可加工材料包括：航空铝、铜、钢（镀镍）、合金 加工口径可达：500mm 加工面型精度可达:（P-V）1/4λ 加工表面粗糙度可达： 2nm 3)奇异光学 传统的光学加工仅能针对平面、球面、部分非球面进行相应面型加工，而奇异光学的发展突破了光学加工的瓶颈，可以针对不同光学表面面型进行高精度、高效率、大尺寸的加工，是目前光学零件的发展方向。 目前，我司生产的奇异光学元器件已被广泛应用于科学仪器、集成电路、天文望远等领域。产品具有大尺寸、高精度、面型复杂等特点。