太法珀罗干涉仪

总览法布里－珀罗干涉仪（英文：Fabry–Pérot interferometer），是一种由两块平行的玻璃板组成的多光束干涉仪。其中两块玻璃板相对的内表面都具有高反射率。当两块玻璃板间用固定长度的空心间隔物来间隔固定时，它也被称作法布里－珀罗标准具或直接简称为标准具。F-P(法布里-珀罗）标准具因为平板反射率高，多光束等倾斜干涉条纹极窄，所以是一种高分辨率的光谱仪器。可用于高分辨光谱学，和研究波长非常靠近的谱线，诸如元素的同位素光谱、光谱的超精细结构、光散射时微小的频移，原子移动引起的谱线多普勒位移，和谱线内部的结构形状；也可用作高分辨光学滤波器、构造精密波长计；在激光系统中它经常用于腔内压窄谱线或使激光系统单模运行，可作为宽带皮秒激光器中带宽控制以及调谐器件,分析、检测激光中的光谱（纵模、横模）成分. 技术参数产品特点 适用于中红外平行度好端面平整度高表面质量好产品应用波长锁定器 波分复用电信网 手持光谱分析仪 光纤光栅传感系统 可调谐滤波器激光器 可调谐滤光片技术参数 技术参数技术指标工作波段近红外1.3-2.0um，中红外2.5-14um直径25.4mm+/-0.05mm通光孔径22.9mm长度100mm+/-0.2mm平行度5-10 arc sec端面平整度中红外 1/4 lambda；近红外 1/10 lambda表面质量中红外80-50；近红外60-40管壳铜 精细度(FSR)0.012cm-1实验测试： 测试步骤：1，安装1532nm激光器，连接电源，USB线2，激光器输出连接到光纤准直器 3，用BNC转BNC线连接信号发生器到激光器驱动的低频调制端口4，用BNC转BNC线连接探测器到示波器的通道2端口5，打开激光器，打开信号发生器（三角波调制，频率1KHZ,电压幅值500mW）6，激光器发出的光通过标准具，打在探测器光敏面上，通过调整标准具的角度，在示波器上查看调制波形测试结果：

全光纤迈克逊干涉仪-MFI Michelson Fiber Interferometer产品介绍：量青光电提供的美国Optiphase公司全光纤迈克逊干涉仪（Fiber Michelson Interferometer）不但可以用来作为精密的测试测量仪器，还可以应用在精密的干涉传感系统。光纤干涉仪内部采用PZ1小尺寸光纤拉伸器（参见 PZ1光纤拉伸器产品资料），内置的PZT通过前面板的BNC连接器驱动。全 光纤迈克逊干涉仪标准产品的工作波长从1064nm到1550nm。每个光纤干涉仪都具有“零米”光路偏差的设计，用于方便用户根据不同的测试应用来改变 光路延迟长度。标准产品的延迟光纤长度为50米，我们能够根据用户的实际要求提供各种定制的光纤干涉仪，请联系我们的销售人员.产品参数：参数单位指标产品型号MFI-10-50MFI-13-50MFI-15-50工作波长nm106413101550调制常数rad/V2.52.01.6两臂光路失配长度（无延迟）m0m0m0m两臂光路失陪长度偏差cm+/-10cm+/-10cm+/-10cm调制器接口BNCBNCBNC光纤类型HI-1060（或指定）SMF-28eSMF-28e光路接口FC/APCFC/APC FC/APC最大功率承受能力mW250250250封装尺寸(长x宽x高)mm260x160x90260x160x90260x160x90重量kg~2.7~2.7~2.7可定制的延迟范围m0.5m ~1000m标准产品的延迟长度m50光纤连接器FC/APC产品应用：激光器相位噪声测试激光器频率噪声测试干涉型光纤传感系统模拟科研实验室应用应用列举：1. 激光器相位/频率噪声测试（1）被测试的激光器经过衰减器后输入到光纤干涉仪，干涉仪的光路失配（光路差）可以由用户选择采用或者控制延迟线圈（延迟线圈）来设定。OPD-4000解调输 出电压应用到PZ1光纤拉伸器的BNC接口上，作为PZ1光纤拉伸器的驱动电压。OPD-4000的相位解调输出可以选择数字信号输出或者模拟信号输出， 数字信号输出通过PC进行后续处理，模拟信号通过信号分析仪进行分析。2. 激光器相位/频率噪声测试（2）被测试的激光器经过衰减器后输入到光纤干涉仪，干涉仪的光路失配（光路差）可以由用户选择采用或者控制延迟线圈（延迟线圈）来设定。通过为PZ1型光纤拉伸 器BNC接口提供控制电压保持其处于正交偏置（Quadrature Bias）。输出光信号由光接收机接收处理，输出信号进一步处理。3.光纤干涉仪传感器模拟（3）输入光信号代表干涉型光纤传感器的光源。选择合适的延迟光纤线圈，延迟长度作为需要模拟的传感器的长度。输出光信号通过光接收器件到信号分析仪进行处理分析。订货信息:MFI-10-50： 1064nm光纤迈克逊干涉仪MFI-13-50： 1310nm光纤迈克逊干涉仪MFI-15-50： 1550nm光纤迈克逊干涉仪

852±1/ ±10 nm single-mode VCSEL850nmVCSEL激光器适用于干涉仪检测，VSEL激光器拥有价格低廉，线宽很窄以及可调波长范围宽的优势。在各类激光器中出类拔萃深受全球客户的青睐

2.5X Nikon CF IC Epi Plan TI Interferometry Objective2.5倍 尼康白光干涉镜头类型 Michelson放大率 2.5X数字孔径 NA 0.075工作距离 (mm) 10.3焦距 FL (mm) 80.0分辨能力 (μm) 3.7焦深(μm) 48.6视场，25直径视场目镜 (mm) 10视场，20直径视场目镜 (mm) 8视场, 2/3" 传感器 3.52 x 2.64mm视场, 1/2" 传感器 2.56 x 1.92mm支架 C-Mount安装螺纹 M27 x 0.75重量 (g) 440生产商 NikonRoHS 豁免 用于三维表面形貌仪，表面轮廓仪，白光干涉显微镜等测量设备的镜头。适用型号：MicroXAM系列，Newview7000系列，Newview8000系列，Wyko各型号，Contour Elite系列，ContourGT系列，Talysurf系列，SMARTWLI系列等几乎所有的白光干涉原理非接触式表面三维形貌测量仪。如果您购买设备后，发现市场不够大，或者发现放大倍数不够用，都可以联系我们，以远低于厂商售价的优惠价格拿到此类镜头产品。根据不完全统计，市场上在售的白光干涉型非接触形貌/轮廓测量设备，90%使用的是nikon原装干涉物镜。全球市场的几大重要厂家K公司，B公司，Z公司都是采用Nikon镜头。价格随时有波动，欢迎来电咨询。

50X Nikon CF IC Epi Plan DI Interferometry Objective50倍 尼康干涉物镜镜头类型 Mirau放大率 50X数字孔径 NA 0.55工作距离 (mm) 3.4焦距 FL (mm) 4.0分辨能力 (μm) 0.5焦深(μm) 0.9视场，25直径视场目镜 (mm) 0.5视场，20直径视场目镜 (mm) 0.22视场, 2/3" 传感器 0.18 x 0.13mm视场, 1/2" 传感器 0.13 x 0.10mm支架 C-Mount安装螺纹 RMS重量 (g) 150生产商 NikonRoHS 豁免用于三维表面形貌仪，表面轮廓仪，白光干涉显微镜等测量设备的镜头。适用型号：MicroXAM系列，Newview7000系列，Newview8000系列，Wyko各型号，Contour Elite系列，ContourGT系列，Talysurf系列，SMARTWLI系列等几乎所有的白光干涉原理非接触式表面三维形貌测量仪。如果您购买设备后，发现市场不够大，或者发现放大倍数不够用，都可以联系我们，以远低于厂商售价的优惠价格拿到此类镜头产品。根据不完全统计，市场上在售的白光干涉型非接触形貌/轮廓测量设备，90%使用的是nikon原装干涉物镜。全球市场的几大重要厂家K公司，B公司，Z公司都是采用Nikon镜头。价格会有所波动，欢迎来电咨询。

10X Nikon CF IC Epi Plan DI Interferometry Objective10倍 尼康干涉镜头 CF IC Epi Plan类型 Mirau放大率 10X数字孔径 NA 0.30工作距离 (mm) 7.4焦距 FL (mm) 20.0分辨能力 (μm) 0.92焦深(μm) 3.04视场，25直径视场目镜 (mm) 2.5视场，20直径视场目镜 (mm) 2视场, 2/3" 传感器 0.88 x 0.66mm视场, 1/2" 传感器 0.64 x 0.48mm支架 C-Mount安装螺纹 RMS重量 (g) 125生产商 NikonRoHS 符合标准用于三维表面形貌仪，表面轮廓仪，白光干涉显微镜等测量设备的镜头。适用型号：MicroXAM系列，Newview7000系列，Newview8000系列，Wyko各型号，Contour Elite系列，ContourGT系列，Talysurf系列，SMARTWLI系列等几乎所有的白光干涉原理非接触式表面三维形貌测量仪。如果您购买设备后，发现市场不够大，或者发现放大倍数不够用，都可以联系我们，以远低于厂商售价的优惠价格拿到此类镜头产品。根据不完全统计，市场上在售的白光干涉型非接触形貌/轮廓测量设备，90%使用的是nikon原装干涉物镜。全球市场的几大重要厂家K公司，B公司，Z公司都是采用Nikon镜头。欢迎来电咨询。

50X Nikon CF IC Epi Plan DI Interferometry Objective50倍 尼康干涉物镜镜头类型 Mirau放大率:100X数字孔径 NA:0.70焦深(μm):0.56视场, 1/2" 传感器:0.08 x 0.06mm视场, 2/3" 传感器:0.011 x 0.08mm 视场，20直径视场目镜 (mm) :0.2视场，25直径视场目镜 (mm) :0.25焦距 FL (mm):2.0 生产商:Nikon安装螺纹:RMS分辨能力 (μm):0.4类型:Mirau重量 (g):200.00工作距离 (mm):2.0 Regulatory ComplianceRoHS: 符合标准生产商 NikonRoHS 豁免用于三维表面形貌仪，表面轮廓仪，白光干涉显微镜等测量设备的镜头。适用型号：MicroXAM系列，Newview7000系列，Newview8000系列，Wyko各型号，Contour Elite系列，ContourGT系列，Talysurf系列，SMARTWLI系列等几乎所有的白光干涉原理非接触式表面三维形貌测量仪。如果您购买设备后，发现市场不够大，或者发现放大倍数不够用，都可以联系我们，以远低于厂商售价的优惠价格拿到此类镜头产品。根据不完全统计，市场上在售的白光干涉型非接触形貌/轮廓测量设备，90%使用的是nikon原装干涉物镜。全球市场的几大重要厂家K公司，B公司，Z公司都是采用Nikon镜头。价格会有所波动，欢迎来电咨询。

5X Nikon CF IC Epi Plan TI Interferometry Objective5倍 尼康白光干涉镜头类型 Michelson放大率:5X数字孔径 NA:0.13 焦深(μm):16.2视场, 1/2" 传感器:1.28 x 0.96mm视场, 2/3" 传感器:1.76 x 1.32mm 视场，20直径视场目镜 (mm) :2.2视场，25直径视场目镜 (mm) :5.00焦距 FL (mm):40.0 生产商:Nikon安装螺纹:RMS分辨能力 (μm):2.1重量 (g):280.00 工作距离 (mm):9.3 RoHS: 符合标准生产商 NikonRoHS 豁免 用于三维表面形貌仪，表面轮廓仪，白光干涉显微镜等测量设备的镜头。适用型号：MicroXAM系列，Newview7000系列，Newview8000系列，Wyko各型号，Contour Elite系列，ContourGT系列，Talysurf系列，SMARTWLI系列等几乎所有的白光干涉原理非接触式表面三维形貌测量仪。如果您购买设备后，发现市场不够大，或者发现放大倍数不够用，都可以联系我们，以远低于厂商售价的优惠价格拿到此类镜头产品。根据不完全统计，市场上在售的白光干涉型非接触形貌/轮廓测量设备，90%使用的是nikon原装干涉物镜。全球市场的几大重要厂家K公司，B公司，Z公司都是采用Nikon镜头。价格随时有波动，欢迎来电咨询。

可选的干涉滤光片本品用于341型旋光仪。建议由服务工程师进行安装。订货信息：波长部件编号302 nmB0094404325 nmB2100154405 nmB0062666

MEMS-FTIR（傅里叶转换红外光谱）光谱仪是一个紧凑的，低成本的傅里叶转换红外光谱仪，一个迈克尔逊干涉仪以及红外探测器都打包在一个小小的光谱仪中。通过USB连接到电脑上能够进行光谱测量以及吸光度测量。滨松MEMS-FTIR光谱仪能够广泛的应用于环境分析、食品分析、医疗等领域。MEMS干涉仪SEM图像：详细参数：

SPIP软件目前支持多种仪器的96种格式数据文件Image Metroogy 由Dr.Jan Friis J rgensen于1998年创立。Image Metrology是一所以客户为导向，不断发展的公司。公司位于离丹麦首都哥本哈根不远的城市。Image Metrology的主要产品，SPIP是可视化、修正，分析以及SPM数据报告方面的软件包。此软件包被SPM数据研究分析人员奉为标准。SPIP对于扫描电镜以及透射电镜、共聚焦显微镜、光学轮廓仪以及干涉仪等的图像分析也是很强大的。SPIP软件图像研究机构，在高新科技研发以及高校研究所运用。SPIP是专业的纳米以及微尺度图像处理的高科技软件公司，目前产品被应用于60多个国家的各个主要研究机构。SPIP95文件格式支持各种仪表类型,包括:SPM、AFM、扫描隧道显微镜、SEM、TEM、干涉仪共焦显微镜和光学显微镜,分析器。SPIP是一个模块化软件包，可提供包含14个具有特定功能的模块。SPIP应用，主要应用包括半导体检验、物理、化学、生物学、计量和纳米技术等方面。SPIP 三维图像处理软件：多年来，SPIP扫描探针图像处理软件，已成为纳米尺度的图像处理的实质意义的标准。SPIP图像处理软件是一个模块化的软件包，提供一个基本的软件模块和14个可选的用于特定的目的软件附件。是一个资申用户或刚刚学习图像分析的入门新手，使用SPIP图像处理软件，您只需点击几下鼠标即可获得您需要的分析结果。SPIP图像分析软件被用于，包括半导体物理，化学，生物学检验，计量，纳米技术等各种领域。您可从我们客户应用的经历获知更多应用领域。SPIP图形分析软件亦被用于学术研究和论文出版。在SPIP网站您可以看到824篇使用SPIP进行图形分析的论文列表。SPIP软件目前支持多种仪器的96种格式数据文件。包括： 扫描探针显微镜（SPM），原子力显微镜（AFM），扫描隧道显微镜（STM） 扫描电子显微镜（SEM），透射电子显微镜（TEM） 干涉仪 共焦显微镜 三维轮廓仪RoughnessPro——轮廓粗糙度 使用RoughnessPro您可以根据ISO标准来评估个别剖面及剖面集合的轮廓粗糙度。RoughnessPro——三维图像缝合 topoStitch是表面形貌图像缝合的简单及准确的方法。您可以从原子力显微镜（AFM），扫描探针显微镜（SPM），干涉仪（Profilers,），共焦显微镜及其他更多的设备上进行三维图像及表面形貌缝合。

傅里叶分束镜FTIR分束器/补偿器应用和操作原理傅里叶分束镜FTIR分束器/补偿器对用于傅里叶变换红外（FTIR）光谱仪中的迈克尔逊干涉仪方案。FTIR光谱仪通常基于迈克尔逊干涉仪，其中一个镜子是可移动的。两个反射镜位于干涉仪的两个臂上并且彼此垂直定向。分束器放置在直角的顶点，并相对于每个镜子以45°角定向。传递到分束器的光被分成两部分（理想地为50％/ 50％），它们进一步传播到两臂并从镜子反射。从分束器反射一次的光束（图中的上光束）也必须通过那里并通过倾斜的补偿板返回，以补偿另一个光束通过分束板而不是一个的事实。在一定距离上扫描可移动镜，产生到达检测器的两个光束的干涉图案。 图1迈克尔逊干涉仪作为FTIR光谱仪的一部分。 材料和光谱范围通过选择适当的分束器和补偿器材料，可以覆盖从可见光到远红外线的波长范围。材料选择包括以下材料：熔融石英（石英）（可见/近红外），CaF2，BaF2和ZnSe（近红外/中红外）。高电阻率FZ-Silicon也可用于远红外区域的分光镜。由于菲涅耳反射，它可以在非常宽的波长范围内用于~50％/ 50％的光束分裂而无需任何涂层。 分束器与材料的典型工作波长范围。Fused Silica可见光红外熔融石英0.4-1.1μm（25,000-9,000 cm -1）或0.65-3.0μm（15,000-3,300 cm -1）CaF2氟化钙0.65-8.5μm（15,000-1,200 cm -1）BaF2氟化钡0.65-12μm（15,000-850 cm -1）ZnSe硒化锌2-20μm（5,000-500 cm -1）HRFZ-Si高阻硅50-1000μm（200-10 cm -1） 规格和公差为了实现FTIR光谱仪的高分辨率，应该以非常高的精度生产分束器/补偿器对。特别是表面平整度，楔形公差和厚度匹配是非常重要的。可实现的规格：楔形公差，弧秒到+/- 10厚度匹配，μm到1最佳可能的规格取决于材料和参数组合。涂层 为了对准目的，涂层的组合图案可以施加在FTIR分束器/补偿器的表面上。可见光束的“窗口” - 取决于干涉仪的尺寸设计的特殊形状的可见区域与IR区域一起放置。典型的涂层图案如下图所示。部分区域涂层类型反射/透射分束器A 可根据要求提供其他涂层图案和涂层类型。屹持光电长期为FTIR光谱仪提供分束器/补偿器对（无涂层和涂层成品部件的基板），为欧洲，美国和远东地区的客户提供服务。产品规格：型号直径厚度BS-KBr-D50.8-T3.5 直径，mm到100表面平整度，λ为633 nm到1/10 部分反射R / T = 50％/ 50％@ 633nmB部分反射R / T =（50/50 +/- 10 ）％@7-14μm 或R / T =（50/50 +/- 20）％@2.5-14μmCARR 0。5％@ 633 nmDBBARR ave 4 ％@7-14μm 或R ave 5％@2.5-14μm补偿器AARR 0。5％@ 633 nmBBBARR ave 4 ％@7-14μm 或R ave 5％@2.5-14μmCARR 0。5％@ 633 nmDBBAR R ave 4 ％@7-14μm 或R ave 5％@2.5-14μm 图2和表3 ZnSe分束器/补偿器对的涂层图（例）。 图3 ZnSe分束器/补偿器对的典型透射曲线。 50.8mm3.5mmW-KBr-D50.8-T3.550.83.5mm下载傅里叶分束镜FTIR分束器/补偿器对数据表（PDF，221 KB）

表面形貌仪配件又称为光学形貌仪或三维形貌仪，它除了用于测量物件的表面形貌或表面轮廓外，具有测量晶圆翘曲度的功能,非常适合晶圆,太阳能电池和玻璃面板的翘曲度测量，应变测量以及表面形貌测量。 三维形貌仪主要配件应用 用于太阳能电池测量 用于半导体晶圆测量 用于镀膜玻璃的平整度（Flatness)测量 用于机械部件的计量 用于塑料,金属和其他复合型材料工件的测量 表面形貌仪配件特色 *除了表面形貌的测量，还可以测量张量和应力（简单）； *可测量晶圆的尺寸为0.5' ' 到12' ' , 最高可达45x45cm的尺寸，对于小于0.5' ' 的晶圆或样品，可配备微距镜头。 *测量晶圆或其他样品的表面形貌,粗糙度和翘曲度； *克服常见干涉仪在粗糙表面（油漆）表现不足的问题； *非接触式测量

中性密度滤光片 镀有金属涂层覆盖范围从紫外到红外标准尺寸为12.5mm、25mm和50mm 通光率具体参见各个型号主要用于宽带光谱的衰减器、作为光平衡应用的部分反射器和用作中性分束器金属涂层中性密度滤光片 OD值为阻挡效率，其计算公式如下：金属涂层中性密度滤光片能在宽波长范围内实现均匀衰减。Andover拥有定制的、最先进的设备，包括自动化涂层，玻璃抛光和制造设备。测试功能广泛，包括用于宽带光谱测量的自动分光光度计和用于窄带测量的超高分辨率分光光度计。光学测量实验室有计算机控制的可调谐干涉仪，用于传统激光干涉仪无法实现的波前测测量。Andover为各种应用制造滤光器和涂层，包括医疗仪器仪表，荧光研究，机器视觉，农业成像，地面和天文观测，电信，军事和民用监视系统以及防御瞄准系统

Andover拥有定制的、最先进的设备，包括自动化涂层，玻璃抛光和制造设备。测试功能广泛，包括用于宽带光谱测量的自动分光光度计和用于窄带测量的超高分辨率分光光度计。光学测量实验室有计算机控制的可调谐干涉仪，用于传统激光干涉仪无法实现的波前测测量。Andover为各种应用制造滤光器和涂层，包括医疗仪器仪表，荧光研究，机器视觉，农业成像，地面和天文观测，电信，军事和民用监视系统以及防御瞄准系统 带通滤光片Andover提供不同类型的带通滤光片，包括标准带通滤光片、高透过率带通滤波片、定制带通滤光片、硬涂层窄带滤光片和硬涂层宽带滤光片。 标准带通滤光片波长范围从194nm-2400，覆盖范围从紫外到红外。 标准带通滤光片通过带宽从1.5nm-300nm，滤波等级OD4，镜片标准尺寸12.5mm、25mm和50mm。

光纤拉伸器PZ1产品介绍：量青光电代理的美国Optiphase公司的PZ1型小封装光纤拉伸器是一种低成本的光纤盘绕压电陶瓷换能器（Piezo-electric）器件，作为一种性能出色的低成本相位调制器。在众多传感领域有非常重要的应用，典型的应用例如开环解调，干涉型传感器模拟，干涉仪系统的相位调制等等。PZ1型光纤拉伸器标准产品采用SMF-28e光纤或者Panda型偏振保持光纤，超高的性能价格比超过所有其他已知的竞争产品。坚固小巧的封装使得PZ1光纤拉伸器能够容易被集成到小尺寸的系统中，多种输出方式和连接器的选择方便用户使用。公司同时提供针对不同客户应用的定制型产品，例如特殊的封装要求，光纤类型，输出连接器方式，以及频率响应范围等等，请联系我们的销售人员获取更多的信息。产品应用：光纤干涉仪光纤激光器光纤传感干涉型光纤传感器光纤相位调制器产品特点：高性能封装小巧坚固可以定制订货信息:PZ1-STD：900um松套，不带连接器； PZ1-STD-FC/PC：900um松套带FC/PC连接器；PZ1-STD-FC/APC：900um松套带FC/APC连接器PZT-PM-1.5：保偏光纤拉伸器，900um松套不带连接器PZ1-PM-1.5-FC/PC：保偏光纤拉伸器，900um松套带FC/PC连接器PZ1-PM-1.5-FC/APC: 保偏光纤拉伸器，900um松套带FC/APC连接器可提供的订制产品：（1）更小的封装尺寸或者结构；（2）其它工作波长的单模光纤；（3）其它工作波长保偏光纤；（4）更宽的工作频率范围；（5）不同的连接器类型等等。

高速傅立叶变换红外光谱仪配件是顶级的红外光谱分析系统，用于识别分析有机材料,无机材料，是单光束光谱仪，具有极高的扫描速度快和精度，是用于工业，科学和质量控制领域的各种分析应用的重要工具。高速傅立叶变换红外光谱仪配件特点? 样品制备容易?可连接不同类型的配件以扩展功能，如采样卡；液体细胞；空气电池； ATR和其他? 维护简单?软件强大，?USB接口?样品室宽敞?CE认证?可选配件高速傅立叶变换红外光谱仪配件高稳定光学系统?组成光学平台的主要组件由铸铝加工而成。光学系统高度稳定，不需要调整，光程不需要维护。?精密机械，确保每个扫描的高度重复性。采用先进的设计理念设计光程和每个部件。? 系统的立体角反射光学系统，使操作简单，无需复杂的电子器件和额外的移动部件。此外，用户可更换光谱仪的许多组件，在仪器的使用寿命中节省时间。? 内部动态准直系统和可移动的反光镜驱动系统保持干涉仪的最佳状态。音圈驱动器和精密滑动，改善了系统在严峻条件下的工作的能力。? 光谱仪有一个干燥剂容器，干燥剂保护光束分离器等光学元件免受湿气破坏。高速傅立叶变换红外光谱仪FTIR7600软件包括下列功能： ?文件和编辑：打开，保存，打印，复制，粘贴，删除等和选项-自定义设置的光谱采集，显示，处理，保存和打印。?收集：配置测量参数（分辨率，平均值，范围...），实时显示不同模式和设置选项下的光谱结果，以及诊断组件的状态。?加工：光谱转换（A / T，日志，K-M...），光谱操作（删除，加，减，多道处理，规范...），和光谱校正。?分析：发现高峰期，贴标签，与库数据作比较，对光谱搜索定义设置，搜索库（选择库，添加新的库，制作，...），并显示结果。高速傅立叶变换红外光谱仪配件规格波数范围 7800 ~ 375 cm?1分辨率 1 cm?1信噪比 30000:1 （分辨率@4 cm-1；1分钟r扫描2100 cm?1以上)探测器 高性能 DLATGS分束器 涂层溴化钾光源 使用寿命长，稳定状态的红外发射器电子系统 24位A/D转换器 500 kHz, USB 2.0电源 110-220 V 交流电,，50-60 Hz尺寸大小 450 mm x 350 mm x 210 mm重量 14 kg

多功能纳米压痕仪配件通过扫描材料表面实现对材料力学性能的纳米尺度的高精度测量，精确给出硬度，弹性模量，杨氏模量等材料力学性能。 多功能纳米压痕仪配件特色最高位移测量能力可达300mkm, 最高负载科大100mN。实现静态压痕和动态压痕测量以及sclerometry测量具备原子力显微镜和纳米硬度测量仪的功能采用模块化设计，可广泛集成原子力显微镜，光学显微镜，激光干涉仪器等尖端材料表面测量仪器，为用户提供综合性材料微观力学测试方案。 多功能纳米压痕仪配件选型4D紧凑型多功能纳米压痕仪4D紧凑型是全球结构最为紧凑小巧的纳米硬度测试仪，它采用纳米压痕法测量材料硬度和弹性模量（杨氏模量），负载高达2N,广泛用于材料力学性能测量研究。也非常适合大学或研究单位的纳米压痕仪测量硬度的教学或演示教学。 4D标准型多功能纳米压痕仪4D标准型具有测量材料硬度，弹性模量和其它力学性能的功能。它采用静态和动态纳米压痕技术以及sclerometry方法测量材料性能。并且可以接触式或半接触式地测量材料表面形貌，采用光学显微镜高精度地对压头和样品进行精确互动性定位。多功能纳米压痕仪4D标准型还可以接入另外的传感器或测量模块，实现对材料表面进行其它测量。 4D+增强型多功能纳米压痕仪4D+增强型配置是全球功能最多的多功能纳米硬度测量仪器。它具有纳米压痕仪和原子力显微镜的功能，具备了所有的物理和力学性能测量能力。它具有原子力显微镜测量模块，能够以纳米级分辨率研究压痕后留下的表面痕迹和图像，并能够全自动测量，可以批量处理分析测量结果。

紧凑型(世界上最小的傅立叶变换红外光谱)● 独立的便携式系统● 100px-1高分辩率● Peltier冷却MCT探测器, 5000-830 厘米-1 (2 to 12 mm)● 嵌入式 DSP● USB 连接以太网● 性价比高 第三代Arcoptix 傅里叶变换红外光谱模块融入了鲁棒，紧凑的设计特性。固体基准激光器及其密封的自我补偿干涉仪将新一代傅里叶变换红外光谱的维护工作量降到最低。帕尔帖冷却MCT探测器保证了光谱仪的高灵敏度。 这些模块由带有一个有嵌入式数字信号处理器的内置微处理器来运行一个独立的操作系统。计算机通过以太网使用一个TCP / IP协议或USB接口是可靠的。 傅里叶变换红外光谱模块可集成适当的测量模块，如漫反射，衰减全反射,透射或怀特池。总之，紧凑，鲁棒的和高性价比的解决方案，可以体现在几乎所有的应用上 。● 紧凑型(世界上最小的傅立叶变换红外光谱)● 独立的便携式系统● 100px-1高分辩率● Peltier冷却MCT探测器, 5000-830 厘米-1 (2 to 12 mm)● 嵌入式 DSP● USB 连接以太网● 性价比高 Models of theFTIR-Rocket:The FTIR-Rocket spectrometers offers several configurations with standardtwo stage TE cooled IR photovolataic (Hg,Te, Cd)Zn detectors. Therefore, we supply a a choice of 2 standard instruments. On request we can fit the detector toyour needs.

产品简介屹持光电提供两种规格的THz分束镜单通分束镜：用于辐射只通过分光镜一次的光学方案 多通分束镜：用于干涉仪方案，光束需要多次通过分光镜 技术参数：单通分束镜多通分束镜材料HRFZ-SiHRFZ-Si元件类型平 - 平平 - 平最大尺寸直径可达 150 mm直径公差±0.1 mm厚度公差±0.1 mm± 0.01 mm通光孔径≥ 90%≥ 90%平行度arc.min 3arc.sec 5表面质量（scr/dig）60/40表面精度±0.01 mm1λ@633nm 常规型号单通分束镜型号直径尺寸厚度多通分束镜型号尺寸厚度W-HRFZ-Si-D25.4-T1 25.4 mm1 mmBS-HRFZ-Si-L40-H30-T3.5 40mm*30 mm3.5 mmW-HRFZ-Si-D38.1-T138.1 mm1 mmBS-HRFZ-Si-D50.8-T3.5 直径 50.8 mm3.5 mmW-HRFZ-Si-D50.8-T1 50.8 mm1 mm*其它尺寸规格可根据具体要求定制THz分光镜的材质是HRFZ-Si，这些分光镜在没有任何镀膜时可对很广的波长范围内透射/反射比大约为：54/46（%）。反射率、透射率曲线如图所示：

消球差透镜在单色光条件下使用，通过消除彗形像差和球面像差得到最小焦点尺寸。 消球差透镜优秀得衍射限制性能，应用在理想的非线性光学，激光束扩展和准直，干涉仪，材料处理和光纤耦合。消球差透镜波段266nm-1550nm，通光孔径大于90%。其中，LAI波段780nm-1550 nm，表面质量60-40，可以通过简单调整后焦点位置，校正球面像差，彗形像差，散光和球面色差，使其能在各种波长下使用。LAPQ波段266nm-1064nm，表面质量10-5，透镜材料UVFS，通过消除像差可以得到最小的焦点尺寸。

孚光精仪品牌的多功能纳米硬度计配件通过扫描材料表面实现对材料力学性能的纳米尺度的高精度测量，精确给出硬度，弹性模量，杨氏模量等材料力学性能。 多功能纳米硬度计配件特色具备原子力显微镜和纳米压痕仪的功能实现静态压痕和动态压痕测量以及测量最高位移测量能力可达300mkm, 最高负载科大100mN。采用模块化设计，可广泛集成原子力显微镜，光学显微镜，激光干涉仪器等尖端材料表面测量仪器，为用户提供综合性材料微观力学测试方案。 多功能纳米硬度计配件选型4D紧凑型纳米硬度计4D紧凑型是全球结构最为紧凑小巧的纳米硬度测试仪，它采用纳米压痕法测量材料硬度和弹性模量（杨氏模量），负载高达2N,广泛用于材料力学性能测量研究。也非常适合大学或研究单位的纳米压痕仪测量硬度的教学或演示教学。 4D标准型纳米硬度计4D标准型具有测量材料硬度，弹性模量和其它力学性能的功能。它采用静态和动态纳米压痕技术以及sclerometry方法测量材料性能。并且可以接触式或半接触式地测量材料表面形貌，采用光学显微镜高精度地对压头和样品进行精确互动性定位。纳米硬度计4D标准型还可以接入另外的传感器或测量模块，实现对材料表面进行其它测量。 4D+增强型纳米硬度计4D+增强型配置是全球功能最多的多功能纳米硬度测量仪器。它具有纳米压痕仪和原子力显微镜的功能，具备了所有的物理和力学性能测量能力。它具有原子力显微镜测量模块，能够以纳米级分辨率研究压痕后留下的表面痕迹和图像，并能够全自动测量，可以批量处理分析测量结果。

全光纤移相器是一种结构紧凑、操作简单、全光纤的宽带操作设备。对引脚施加电压，可以对通过该装置的相移进行可控的修改。移相器提供相位改变量高达50rad。没有在线接口，允许利用光纤的全功率处理能力，并提供几乎为零的额外损耗和PDL。 工作波长1530-1610nm通用参数产品特点：全光纤简单电流控制50rad 的相移量 低插入损耗?低驱动电压产品应用：干涉仪稳定器?干涉传感器?光纤相位控制技术参数参数单位指标 波长范围1nm1300 - 1610插入损耗2dB0.01总相移radians50 150 or on request时间常数（10%至90%）ms800 回波损耗dB70驱动电流mA0 - 65最高电压V0 - 5工作温度范围0C-5 to 70 储存温度-40 to +85光纤类型SMF28, PANDA输入和输出光纤的长度mm 1000规范说明1设备将在全波长范围内运行。也可定制其他波长范围。2损耗不包括连接器

酶标仪MB-IV-MB-IV型酶标检测仪，使用操作过程中按操作顺序由下拉式汉字菜单分层显示，操作简单可靠。本仪器具有强大的软件功能，适用于酶联免疫吸附试验(ELISA)，可用于肝炎（乙肝两对半等）、性病、艾滋病等多种疾病的检测。更为方便用户，专门提供 RS232接口，实现了本仪器与PC机的快速通讯。具有使用方便，灵敏度高，检测快速，性能稳定，线性好，体积小，携带方便等特点。酶标仪MB-IV-MB-IV型酶标检测仪，干涉滤光片，主要功能： ◆ 任意方式 ◆ S/N测量 ◆ N/S测量 ◆ 抑制率测量 ◆ 自定临界测量 ◆ 回归分析 ◆ 浓度测量酶标仪MB-IV-MB-IV型酶标检测仪，干涉滤光片，主要技术指标： ◆ 测量方式：单波长； ◆ 测量范围：0～2.200A； ◆ 线性范围：0～2.000A； ◆ 线性误差：全量程≦±0.03A； ◆ 分 辨 率：0.001A； ◆ 重 复 性：CV≦1%。酶标仪MB-IV-MB-IV型酶标检测仪，随机配备450nm,490nm干涉滤光片，根据用户要求可另配410-630nm的多种滤光片。适用于各种凹孔板。

所属类别：? 光学/激光测量设备 ?波前分析仪所属品牌：法国Phasics公司Phasics公司的所有产品都是建立于其波前测量专利技术之上，即4波横向剪切干涉技术。（4-Wave Lateral Shearing Interferometry）。在增强型改进型哈特曼掩模的基础之上，这种独特技术将超高分辨率和超大动态范围完美结合在了一起。任何应用下，其都能实现全面、简便、快速的测量。SID4: 一款紧凑型的波前传感器SID4波前传感器体积小巧，结合了传统的剪切干涉的优势，安装使用简单。我们的优势在于4波横向剪切干涉技术（基于改善后的哈特曼衍射遮挡板）。SID4是测量光束特性的必要工具，在光学测量方面有着许多应用。波长范围：350-1100nm分辨率高（160*120）消色差测量稳定性高对震动不敏感操作简单，Firewire IEEE 1394结构紧凑，体积小：可用笔记本电脑控制操作简单，Firewire IEEE 1394结构紧凑，体积小：可用笔记本电脑控制SID4 HR:高分辨率波前传感器SID4-高分辨率波前传感器可应用于光学测量领域。其可实现300x400个测量点的相位图，保证了高精度测量，可用于对各种光学器件的测量，如透镜，物镜，球面镜，微透镜特征测量等波长范围：400-1000nm高性能的相机，信噪比高实时测量，立即给出整个物体表面的信息（120000个测量点）曝光时间极短保证动态物体测量SID4 HR操作简单SID4 UV-HR: 高分辨紫外波前传感器PHASICS公司将 SID4的波前测量波长范围从190nm到400nm。SID UV-HR是一款适用于紫外波段的高分辨率波前传感器SID4 UV-HR非常适用于光学元件测量（例如印刷、半导体等等）和表面检测（半导体晶片检测…）。高分辨率（250*250）通光孔径大（8.0mm*8.0mm）覆盖紫外光谱灵敏度高（0.5um）优化信噪比SID4 NIR: 高分辨率红外波前传感器SID4 NIR是一款覆盖近红外范围（1.5um-1.6um）的高分辨率波前传感器。用于光学测量，SID4 NIR是测量红外物体和红外透镜像差、PSF、MTF和焦距及表面质量的理想工具。高分辨率（160*120）绝对测量快速测量对于振动不敏感性价比高SID4 DWIR: 高分辨、双波段红外波前传感器PHASICS推出了业界第一款高分辨率双波段红外波前传感器(from 3 μm to 5 μm and from 8 μm to 14 μm)SID4 DWIR光学测量：SID4 DWIR是测量红外物体特性（热成像和安全视觉）或红外透镜（CO2激光器）的理想工具，输出结果包括MTF，PSF，像差，表面质量和透镜焦距。光束测量：（CO2激光器，红外OPO激光光源等等）SID4 DWIR提供详尽的光束特性参数：像差，M2，光强分布，光束特性等）高分辨率（96*72）可实现绝对测量可覆盖中红外和远红外波段大数值孔径测量，无需额外中转透镜快速测量对振动不敏感可实现离轴测量性价比高 SID4软件介绍与SID4 波前传感器配套提供的是一款完整的电磁场分析软件，其集成了高分辨率的相位图与强度分布图测量光强分布和波前。借助Labview和C++ 可编程模块数据库（软件二次开发工具包），客户能够根据自身的需要编写各种相位测量与编译模块。adaptiveoptics loops将SID4 wavefront sensor结合自适应光学，选择最合适的应用。应为可变形镜和相位调制器都是可以提供的。减小任何一个光学系统的相差从来都不是简单的，利于激光光束和成像系统。传统的测量结果与Phasics的测量结果对比：

硅片TTV厚度测试仪配件是采用红外干涉技术的测量仪，能够精确给出衬底厚度和厚度变化 （TTV)，也能实时给出超薄晶圆的厚度（掩膜过程中的晶圆），非常适合晶圆的研磨、蚀刻、沉淀等应用。 硅片厚度测量仪配件采用的这种红外干涉技术具有独特优势，诸 多材料例如，Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃，石英以及其他聚合物在红外光束下都是透明的，非常容易测量，标准的测量空间分辨率可达50微米，更小的测量点也可以做到。硅片厚度测量仪配件采用非接触式测量方法，对晶圆的厚度和表面形貌进行测量，可广泛用于：MEMS， 晶圆，电子器件，膜厚，激光打标雕刻等工序或器件的测量，专业为掩膜，划线的晶圆，粘到蓝宝石或玻璃衬底上的晶圆等各种晶圆的厚度测量而设计，同时，硅片厚度测试仪还适合50-300mm 直径的晶圆的表面形貌测量。硅片厚度测试仪配件具有探针系统配件，使用该探针系统后，硅片TTV厚度测试仪可以高精度地测量图案化晶圆,带保护膜的晶圆, 键合晶圆和带凸点晶圆（植球晶圆），wafers with patterns, wafer tapes,wafer bump or bonded wafers 。 硅片TTV厚度测试仪配件直接而精确地测量晶圆衬底厚度和厚度变化TTV，同时该硅片厚度测量仪能够测量晶圆薄膜厚度，硅膜厚度（membrane thickness) 和凸点厚度（wafer pump height).，沟槽深度 （trench depth)。

这款亚纳秒激光器,亚纳秒调Q激光器是由孚光精仪进口销售,孚光精仪是中国领先而专业的进口激光器件服务商！提供的这款亚纳秒微片激光器先后被中科院上海光机所,浙江理工大学,山东大学,中国工程物理研究院等单位购买。孚光精仪精通光学,服务科学，欢迎垂询.这款微型亚纳秒激光器是半导体泵浦的亚纳秒调Q激光器（DPSSl),也是亚纳秒微片激光器，采用Nd:LSB晶体制造而成。亚纳秒激光器具有超高重复频率，高峰值功率和短脉宽等独特性能。这款亚纳秒调Q激光器产生的激光波长为531nm和1062nm. 由电源和激光头组成。其中亚纳秒微片激光器电源包括激光二极管驱动器（LD)，光纤连接的LD和内部脉冲产生器。亚纳秒激光器激光的重复频率可以有三种工作模式，从单脉冲到最大重复频率可调。亚纳秒激光器领域：* 亚纳秒激光器倍频产生器的泵浦源,光学参量振荡器OPO或光学参量放大器OPA(使用周期性计划的KTP或LiNbO3晶体）；* 亚纳秒调Q激光器低相干的白光干涉仪 * 亚纳秒微片激光器检测和测试系统 * 亚纳秒激光器光学相干层析 * 亚纳秒调Q激光器双光子显微镜 * 亚纳秒微片激光器荧光显微镜光源 亚纳秒激光器参数 型号 STA-01-1 STA-01-2 STA-01-3 STA-01-4 STA-01-5 STA-01CW 波长, nm 1062 1062 1062 1062 1062 1062 最大输出功率,mW 140100 120 125 65 0-200 脉冲能量,uJ 2 2 3 5 6.5 - 脉宽, ns 1 0.6 0.8 0.6 0.7 - 最大重复频率kHz 70 50 40 25 10 - 光束质量 M2 1.2 M2 1.2 M2 1.2 M2 1.2 M2 1.2 M2 1.2 脉冲结构 单纵模 单纵模 单纵模 单纵模 单纵模 单纵模 工作温度, 摄氏度 10 - 30 10 - 30 10 - 30 10 - 30 10 - 30 10 - 30 激光头尺寸: 径x长度, mm 25 x 44.5 25 x 44.5 25 x 44.5 25 x 44.5 25 x 44.5 25 x 44.5亚纳秒调Q激光器参数 波长 531 nm 平均功率 可达20 mW 脉冲能量 0.4-1.4 µ J 脉宽 2ns 重复频率 可达50 kHz 光束质量 M21.1 脉冲结构 单纵模 偏振比 100:1 工作温度 +10 to +30 C 激光头尺寸 直接 25 mm 长度 79 mm

离轴抛物面镜TYDEX的核心技术优势： TYDEX 镜面的制造工艺和传统工艺是不同的，它致力于为航空/防卫应用提供大批量的更廉价的镜片。传统的OAPs制造工艺是通过挖切磨制， 即从大的轴对称抛物面 （母镜）进行挖切一部分下来进行抛光。显然，这种整体加工、分体割切成型的面镜磨制方案耗时长，低产量是加工成本昂贵，同时在焦距和离轴距离的组合选择上有很多制约。另一项传统的方法是抛光盘技术，主要缺点是材料局限性、表面平整度和加工精度受很大限制。我们的OAP 工艺 采用的是电脑控制的点位修正抛光工艺，结合了常用的抛光手段的优点（表面光滑而且可以使用普通玻璃）和大抛光盘技术的优点（无需对整个抛物母镜进行抛光），又称为主动抛光盘技术。这是一种根据需要将抛光盘面实时地主动变形成偏轴非球面来磨制大口径非球面度高精度天文镜面的磨制技术。非球面表面的曲率不 仅各点不一致,而且同一点的径向与切向曲率也不相同。 每个研磨周期后，我们都用大型干涉仪对整个OAP镜进行测量，然后把 相关的信息反馈到计算机中，将修正过的抛光参数输入抛光机的控制单元。我们称这个工艺为润饰工艺，俄罗斯的工厂专门划出了10,000平方英尺用于这个工 艺的制造，而且有一批非常耐心而有经验的工程师一次又一次的测量和重复许多个润饰周期，直到镜面趋于完美。精确的镜面、有竞争力的价格！ 应用：光收集，照明，成像，大直径天文镜面、巨型天文光学/红外望远镜的分块子镜、 Dall-Kirkham和望远镜设计主要参数：询价离轴镜需提供的参数：Focal Length焦距，必须提供；Final Diameter外径，请提供尺寸和公差，也可由厂家推荐； Clear Aperture有效口径，请提供 ； Off Axis Distance离轴距离，用户或者提供光轴到镜子边缘的距离，或者提供光轴到镜子中心的距离，请注明清楚。 Surface Accuracy通常为λ/10 P-V，可以高达 λ/45 P-V Wavelength of Test 633nm Scratch/Dig (maximum)通常优于60/40，要求20/10可以达到 Chamfer 0.050 " x 45 degrees倒角Material：材料 Zerodur Coating：镀膜 关于俄罗斯Tydex公司： Tydex公司位于俄罗斯圣彼得堡,是世界上Golay Cell的唯一的原产商。Tydex公司还生产离轴抛物面镜，大口径天文光学器件等产品。

Superlum超辐射发光二极管（SLD）产品是基于单模光纤耦合的二极管模块，谱线分布从670nm到1610nm不同的波长范围。可以针对客户不同的应用（光纤陀螺，OCT，光器件测试，光学仿真等）能够制造带有冷凝和加热的不同模块。特别是为原子力显微镜提供自由空间输出的模块，也能为无影照明，白光干涉等其他光学测试测量提供帮助。还可以根据客户的特殊要求提供PM和MM类型尾纤的模块。